JPH11214580A - 高周波素子収納用パッケージ - Google Patents

高周波素子収納用パッケージ

Info

Publication number
JPH11214580A
JPH11214580A JP10009721A JP972198A JPH11214580A JP H11214580 A JPH11214580 A JP H11214580A JP 10009721 A JP10009721 A JP 10009721A JP 972198 A JP972198 A JP 972198A JP H11214580 A JPH11214580 A JP H11214580A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
transmission line
frequency transmission
frequency
package
dielectric
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP10009721A
Other languages
English (en)
Inventor
Kenji Kitazawa
謙治 北澤
Shinichi Koriyama
慎一 郡山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kyocera Corp
Original Assignee
Kyocera Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kyocera Corp filed Critical Kyocera Corp
Priority to JP10009721A priority Critical patent/JPH11214580A/ja
Publication of JPH11214580A publication Critical patent/JPH11214580A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48225Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • H01L2224/48227Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation connecting the wire to a bond pad of the item

Abstract

(57)【要約】 【課題】蓋体による特性インピーダンスの不整合などの
発生がなく、気密封止性および伝送特性に優れた高周波
素子収納用パッケージを提供する。 【解決手段】高周波素子2搭載部3を有するヒートシン
クなどの金属製基板1の表面に、高周波素子2を気密に
封止するキャビティ5を形成するように接合される蓋体
4の接合箇所と交差する表面に、誘電体基板7を埋め込
み、その基板7のキャビティ5内表面に高周波素子2と
接続されるマイクロストリップ線路10などの第1の高
周波伝送線路を形成し、キャビティ5外領域に誘電体導
波管11などの第2の高周波伝送線路を形成し、第1の
伝送線路と、第2伝送線路を電磁的に結合する。更に、
誘電体基板1のキャビティ外表面にマイクロストリップ
線路14等の第3の高周波伝送線路を形成し、第2の高
周波伝送線路と第3の高周波伝送線路とを電磁的に結合
させる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、主にマイクロ波及
びミリ波等の高周波の信号を伝達するための高周波伝送
線路を有する高周波素子収納用パッケージに関し、特に
高周波伝送線路における高周波信号の伝送特性を改善し
た高周波素子用パッケージに関するものである。
【0002】
【従来技術】近年、マイクロ波やミリ波等の高周波信号
を利用した通信システムの開発が盛んに行われている。
これらの機器に多種の高周波素子は用いられているが、
これらを防護するため高周波素子用のパッケージが用い
られている。従来、マイクロ波やミリ波を取り扱う高周
波素子を収納するためのパッケージは、図10に示すよ
うに、誘電体からなる絶縁基板40と蓋体41によりキ
ャビティ42が形成され、絶縁基板40の表面に高周波
素子43を実装することにより、高周波素子43はキャ
ビティ42内に気密に封止される。
【0003】また、絶縁基板40の表面には、高周波素
子43と外部の電気回路とを接続するための高周波伝送
線路44が設けられている。一般に、このような高周波
伝送線路44としては、マイクロストリップ線路やコプ
レーナ線路等が用いられている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ところが、図10の従
来の高周波素子収納用パッケージにおいては、マイクロ
ストリップ線路等の高周波伝送線路44が形成されてい
る絶縁基板40の一部上面に蓋体41の一部が直接当接
されているため、高周波伝送線路44は、蓋体41の当
接部とそれ以外の部分で実効誘電率が変化する結果、特
性インピーダンスの不整合による信号の反射損失や共振
等が誘発され、高周波信号の伝送特性が悪くなるという
欠点を有していた。
【0005】そこで、上述の欠点を解消するために、マ
イクロストリップ線路等の高周波伝送線路44を形成す
る導体路の線幅や導体路−グランド層間の距離を実効誘
電率の変化に対応させて調節し、高周波伝送線路44の
特性インピーダンスを全体に一定に保つことと、蓋体4
1の壁部の厚みを薄くして共振の誘発を抑えることが提
案されている。
【0006】しかしながら、高周波素子収納用パッケー
ジを組み立てるにあたって蓋体41を絶縁基板40上に
取り付けする際、蓋体41を絶縁基板40上の所定位置
に正確に位置合わせすることは難しく、数ミクロン程度
のわずかな位置ずれだけで特性インピーダンスの不整合
が発生してしまい、高周波伝送線路44において良好な
伝送特性は得られていなかった。
【0007】また、蓋体41の壁部の厚みを薄くする方
法では、蓋体自体の強度を損ねる虞があり、高周波素子
を気密に封止するというパッケージの信頼性を損ねる可
能性があった。
【0008】従って、本発明は、蓋体による特性インピ
ーダンスの不整合などの不具合が発生することがなく、
また、導体路の線幅や導体路−グランド層間の距離を調
節したり、キャップの壁部の厚みを薄くする必要がな
く、且つ気密封止性を損なうことなく優れた伝送特性を
有する高周波素子収納用パッケージを提供することを目
的とするものである。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明の高周波素子収納
用パッケージは、上記目的に対して案出されたもので、
高周波素子搭載部を有する金属製基板と、前記高周波素
子を気密に封止するキャビティを形成するように該金属
製基板の表面に接合された蓋体と、前記金属製基板の前
記蓋体の接合箇所と交差する表面に設けられた誘電体基
板と、該誘電体基板の前記キャビティ内表面に設けら
れ、前記高周波素子と接続される第1の高周波伝送線路
と、前記キャビティ外領域に設けられた第2の高周波伝
送線路とを具備してなり、前記第1の高周波伝送線路
と、前記第2の高周波伝送線路を電磁的に結合したこと
を特徴とするものである。
【0010】また、本発明の具体的な実施態様によれ
ば、前記金属製基板の前記誘電体基板を形成する箇所に
溝部を形成するとともに、前記誘電体基板内部にグラン
ド層を形成し、該誘電体基板を前記溝部内に設置するこ
とにより、前記グランド層と前記金属製基板の溝部壁を
導体壁とする誘電体導波管を第2の高周波伝送線路とし
て形成し、前記第1の高周波伝送線路と、前記第2の高
周波伝送線路とを、前記グランド層に形成したスロット
孔を介して電磁的に結合してなることを特徴とするもの
である。
【0011】また、本発明のさらに他の実施態様によれ
ば、前記金属製基板の前記誘電体基板を形成する箇所に
溝部を形成するとともに、前記誘電体基板の前記キャビ
ティと反対側表面にグランド層を形成し、該誘電体基板
を前記溝部を塞ぐ位置に設置することにより、前記グラ
ンド層と前記金属製基板の溝部壁を導体壁とする導波管
を第2の高周波伝送線路として形成し、前記第1の高周
波伝送線路と、前記第2の高周波伝送線路とを、前記グ
ランド層に形成したスロット孔を介して電磁的に結合し
てなることを特徴とするものである。
【0012】さらに、本発明によれば、上記の構成に加
えて、前記誘電体基板の前記第1の高周波伝送線路形成
面における前記キャビティ外領域に第3の高周波伝送線
路が形成されており、前記第2の高周波伝送線路と、前
記第3の高周波伝送線路とを電磁的に結合し、さらに前
記第2の高周波伝送線路と、前記第3の高周波伝送線路
とが、前記グランド層に形成した第2のスロット孔を介
して電磁的に結合してなることを特徴とするものであ
る。
【0013】なお、前記第1の高周波伝送線路あるいは
前記第3の高周波伝送線路は、マイクロストリップ線
路、コプレーナ線路、グランド付きコプレーナ線路のう
ちから選ばれる1種からなることを特徴とするものであ
る。
【0014】
【作用】本発明によれば、キャビティ内に収納される高
周波素子との信号の伝達を、金属製基板の蓋体接合部に
形成した誘電体基板による電磁的結合によって行うこと
により、気密封止性を損なうことがなく、高周波素子と
の信号の伝達を容易に行うことができる。
【0015】また、本発明のパッケージは、金属製基板
の所定箇所に誘電体基板を設置するとともに、その金属
基板の所定位置に蓋体を接合することにより、精度の高
い位置決め作業を必要とせず、従来のような蓋体を取り
付ける際の位置ずれによる伝送特性の劣化などが発生す
ることがないために、組み立てを容易に行うことができ
る結果、量産性をも高めることができる。
【0016】しかも、信号の伝達を担う誘電体基板を、
ヒートシンク等として併用される金属製基板内に形成す
ることにより、信号の伝送に対して外部電磁波による影
響や、電磁波の発生を抑制しパッケージとしての信頼性
を高めることができる。
【0017】
【発明の実施の形態】以下、本発明を図面を参照しなが
ら説明する。図1は、本発明の高周波素子収納用パッケ
ージAの一実施態様を説明するための概略断面図であ
り、図2は、図1のパッケージの平面図である。
【0018】図1および図2によれば、パッケージA
は、金属製基板1の中央部には、高周波素子2を搭載す
るための搭載部3が形成されている。高周波素子2は、
搭載部3に対して、導電性樹脂、ロウ材、半田等の接着
材を介して接着固定され、望ましくは、後述するグラン
ド層と電気的に接続されていることが望ましい。また、
金属製基板1の表面には、搭載部3に搭載された高周波
素子2を気密に封止するための蓋体4がロウ材などの導
電性接着剤によって接合固定される。図1のパッケージ
によれば、蓋体4は、金属製壁体4aと金属製蓋部4b
との接合体によって形成されているが、壁体4aと蓋部
4bは一体物であってもよい。そして、この蓋体4によ
って形成されたキャビティ5内に高周波素子2は気密に
封止される。
【0019】本発明のパッケージAによれば、金属製基
板1における蓋体4の接合部分と交差する部分には、凹
形状の溝部6が設けられ、その溝部6内には誘電体基板
7が収納されている。また、誘電体基板7のキャビティ
5内に位置する表面には、一端が高周波素子2と接続さ
れる導体路8が被着形成されており、また、誘電体基板
7の内部には、実質的に全面に導体層が施されたグラン
ド層9が形成されており、導体路8とグランド層9によ
りマイクロストリップ線路10が第1の高周波伝送線路
として形成されている。なお、誘電体基板7表面の導体
路8の両側に、グランド層(図示せず)を形成すること
により、グランド付きコプレーナ線路を第1の高周波伝
送線路として形成することもできる。
【0020】このように誘電体基板7を金属製基板1の
溝部6に収納することにより、誘電体基板7のグランド
層9と、金属製基板1の溝部6の内壁を導体壁とする、
断面が矩形状でその内部に誘電体が充填された、誘電体
導波管11がキャビティ5外領域の第2の高周波伝送線
路として形成されている。
【0021】そして、グランド層9の、マイクロストリ
ップ線路10の終端部と対峙する位置には、導体を有し
ない所定寸法の長孔からなるスロット孔12がマイクロ
ストリップ線路10の導体路8と平面的にみて直交する
ように形成されており、上記マイクロストリップ線路1
0からなる第1の高周波伝送線路と、誘電体導波管11
からなる第2の高周波伝送線路とは、そのスロット孔1
2を介して電磁的に結合されている。なお、図1のパッ
ケージにおいては、スロット孔12の長辺が誘電体導波
管11の線路方向と直角になるように形成されている。
【0022】一方、誘電体基板7の導体路8を形成した
同じ表面の、キャビティ5外領域に同様に導体路13が
形成されており、グランド層9とともに、マイクロスト
リップ線路14が第3の高周波伝送線路として形成され
ている。そして、グランド層9のマイクロストリップ線
路14の終端部と対峙する位置には、導体を有しない所
定寸法の長孔からなる第2のスロット孔15がマイクロ
ストリップ線路14の導体路13と平面的にみて直交す
るように形成されており、上記マイクロストリップ線路
14からなる第3の高周波伝送線路と、誘電体導波管1
1からなる第2の高周波伝送線路とは、そのスロット孔
15を介して電磁的に結合されている。
【0023】かかる構造によれば、高周波素子2は、マ
イクロストリップ線路10からなる第1の高周波伝送線
路、スロット孔12を介して第1の高周波伝送線路と電
磁的に結合された誘電体導波管11からなる第2の高周
波伝送線路、スロット孔15を介して第2の高周波伝送
線路と電磁結合されたマイクロストリップ線路14から
なる第3の高周波伝送線路に接続されており、これによ
り、第3の高周波伝送線路と高周波素子2とは、蓋体4
との接合部分をくぐり抜けるような信号の伝達経路が形
成される。
【0024】次に、図1および図2におけるスロット孔
15による高周波伝送線路と誘電体導波管との電磁結合
構造について、図3の(a)平面図および(b)断面図
をもとに説明する。かかる結合構造において、溝部6の
内壁と、誘電体基板7におけるグランド層9とを導体壁
とする誘電体導波管11の断面におけるm,nをm=2
nの関係にすると、導波管11の電界方向が上下方向と
なるTE10を主モードとして伝播する導波管と類似の
構造となる。従って、図3のマイクロストリップ線路1
0ではTEM波に近いモードが伝播する。よって、伝播
させる電磁波の波長をλとすると、マイクロストリップ
線路10のスロット孔12の中心から導体路8の先端ま
での突き出し長さaをλ/4程度、スロット孔12の長
辺長さbをλ/2程度、そして、スロット孔12の中心
部と誘電体導波管線路の端部との長さcをλ(2n−
1)/4(n:整数)程度すると、誘電体導波管11と
マイクロストリップ線路10とを電磁結合させることが
できる。なお、上記式中の波長λは、マイクロストリッ
プ線路、スロット孔、誘電体導波管のそれぞれの導波路
内の波長である。
【0025】なお、スロット孔15と導体路13との位
置関係も上記と同様に配置することにより、マイクロス
トリップ線路14(第3の高周波伝送線路)と導波管1
1とを電磁的に結合させることができる。なお、マイク
ロストリップ線路10、13の端部には、高周波素子2
や外部電気回路(図示せず)と接続するために、導体路
8,13の両側に図2、図3に示すような形状のグラン
ド層13’、8’を形成して、マイクロストリップ線路
からコプレーナ線路への変換部を形成することもでき
る。
【0026】また、他の電磁結合構造として同様に図4
に示す。図4の構造では、スロット孔12の長辺が誘電
体導波管11の線路方向に対して平行となるように形成
されたものであり、この場合、誘電体導波管11の断面
におけるm,nをn=2mの関係にすると、導体路8の
先端までの突き出し長さa、スロット孔12の長辺長さ
bを図3と同様に設定するとともに、スロット孔12と
誘電体導波管11の端部との長さcをλ(2n−1)/
4(n:整数)程度とすると、TE10モードの場合と
同様に良好な特性が得られる。
【0027】図5は、図1および図2のパッケージの組
み立て図である。図5によれば、金属製基板1の蓋体4
の接合箇所と交差する部分に設けられた溝部6に対し
て、マイクロストリップ線路10、14、スロット孔1
2、15を有するグランド層9された誘電体基板7を埋
め込み、金属製基板1に固定する。なお、固定には、メ
タライズ接着、樹脂接着などの方法により固定される。
【0028】溝部6は、誘電体基板7が埋め込まれた時
に、グランド層9と溝部6の内壁によって形成される誘
電体導波管として、前述したような所定の信号を伝送可
能な寸法に予め形成されている。
【0029】一方、溝部6に埋め込まれる誘電体基板7
は、例えば、誘電体シートを7a〜7cの積層した積層
体から構成され、基板7の最上層のシート7a表面に
は、第1の高周波伝送線路の導体路8と、第3の高周波
伝送線路の導体路13が形成されており、また、場合に
よってはその表面中央部に蓋部4bを接合するための導
体層や接着剤等が塗布される。
【0030】また、誘電体シート7aの裏面には、内層
としてスロット孔12および15を具備するグランド層
9が前述したような配置になるように被着形成されてい
る。
【0031】また、グランド層9の下面には、導波管1
1内の誘電体を形成するための誘電体シート7b、7c
が複数層積層されている。そして、その誘電体基板の導
波管形成部側面には、メタライズが形成されており、前
記溝部6に対して、Au−Si等のロウ材により接着固
定される。
【0032】なお、この誘電体基板7の誘電体シート7
a〜7cは、例えば、アルミナセラミックス、ガラスセ
ラミックス、窒化アルミニウムセラミックス、窒化珪素
セラミックス等の誘電体セラミックスや、有機樹脂、有
機樹脂−セラミックス複合材料から構成され、導体路
8、13およびグランド層9は、タングステン、モリブ
デン、銅、銀、金等の金属材料により形成される。
【0033】図5によれば、上記の構成からなる誘電体
基板7を溝部6内に収納して固定した後、壁体4aを誘
電体基板7と交差するように、ロウ材、あるいは導電性
接着剤などを用いて接着固定される。この時、誘電体基
板7の表面と、金属製基板1の壁体4aの固定位置は、
同一面となるようにすることが封止性を高める上で必要
である。その後、高周波素子2を金属製基板1の搭載部
3に搭載した後、蓋部4bを壁体4aに接合することに
より高周波素子2を封止することができる。
【0034】図6は、本発明のパッケージの他の実施態
様を説明するための平面図である。
【0035】図6によれば、図4で示したように、スロ
ット孔12の長辺を誘電体導波管11の線路方向に対し
て平行となるように形成された電磁結合構造を具備する
パッケージである。この場合、マイクロストリップ線路
10からスロット孔12を介して電磁的に結合した誘電
体導波管11がマイクロストリップ線路10に対して直
角方向に伸び、蓋体4の接合部を交差してキャビティ外
にて、誘電体基板7の表面に形成されたマイクロストリ
ップ線路14とスロット15を介して電磁的に結合され
ている。
【0036】なお、この場合においては、図7の組み立
て図に示すように、金属製基板1に形成した溝部6に対
して、マイクロストリップ線路10、14、スロット孔
12、15を有するグランド層9された誘電体基板7A
を埋め込み、金属製基板1に固定する。
【0037】そして、キャビティ外の領域においては、
所望により図7に示すように、金属製基板1の一部に切
り欠き部16を形成し、その切り欠き部16にマイクロ
ストリップ線路17が形成された誘電体基板7Bを接着
固定し、誘電体基板7Aのマイクロストリップ線路10
と誘電体基板7Bのマイクロストリップ線路17とをを
ワイヤボンディング又はリボンによって接続する。
【0038】図8は、さらに本発明の他の実施態様を説
明するための組み立て図である。図8によれば、金属製
基板1の溝部6に対して、表面に導体路8および導体路
13が形成されるとともに、反対側表面にグランド層9
が形成された誘電体基板18を溝部6を塞ぐように設置
する。これにより、グランド層9と金属製基板1の溝部
6内壁を導体壁とする導波管19が第2の高周波伝送線
路として形成されることになる。
【0039】そして、グランド層9の所定箇所に形成さ
れたスロット孔12、15によって、マイクロストリッ
プ線路10、14と、導波管19とはそれぞれ電磁的に
結合されることになる。このときのスロット孔、マイク
ロストリップ線路、導波管の断面形状は、図3あるいは
図4で説明したのと同様な構造とすることにより良好な
信号の伝達を行うことができる。
【0040】この場合、図7に示すように、金属製基板
1の溝部6に対する誘電体基板18の設置の際には、溝
部6の周囲に段差部20を形成することにより、誘電体
基板18の位置合わせを容易に行うことができる。
【0041】図1乃至図8に示した本発明のパッケージ
は、いずれもパッケージ内に形成した第3の高周波伝送
線路を経由して、外部電気回路と接続されるものである
が、本発明によれば、第3の高周波伝送線路は必ずしも
設けることなく、例えば、第2の高周波伝送線路として
形成した図1乃至図7の誘電体導波管11や、図8の導
波管19の溝部6の端部に位置する金属製基板1の側面
部を除去して、誘電体導波管11や導波管19を金属製
基板1の側面部から電磁的に開放させることにより、こ
の開放端と外部電気回路としての導波管あるいは誘電体
導波管とを直接接続することもできる。
【0042】次に、本発明の図6、図7のパッケージ構
造において、誘電体導波管11を経由したマイクロスト
リップ線路10と、マイクロストリップ線路14間の伝
送特性を評価した。なお、マイクロストリップ線路1
0、14を形成する誘電体基板としては、誘電率8.
9、誘電損失29.0×10-4(測定周波数60GH
z)の誘電体材料をもちい、導体として銅導体を形成
し、その表面に金メッキを施した。なお、導体路の線幅
は0.24mm、スロット孔の長辺長さを0.9mm、
導体路のスロット孔の中心からの突き出し長さを0.3
mmとした。このときの結果を図9に示す。図9より周
波数65GHzから75GHzの範囲において良好な特
性が得られた。
【0043】
【発明の効果】以上説明した通り、本発明の高周波素子
収納用パッケージは、キャビティ内部の伝送線路とキャ
ビティ外の伝送線路とを電磁的に結合させることによ
り、気密封止性を損なうことがなく、高周波素子との信
号の伝達を行うことができる。
【0044】しかも、蓋体を接合する際に、精度の高い
位置決め作業を何ら必要とせず、従来のような蓋体を取
り付ける際の位置ずれによる伝送特性の劣化などが発生
することがないために、組み立てを容易に行うことがで
きる結果、量産性をも高めることができる。しかも、信
号の伝達を担う誘電体基板を、ヒートシンク等として併
用される金属製基板内に形成することにより、信号の伝
送に対して外部電磁波による影響や、電磁波の発生を抑
制しパッケージとしての信頼性を高めることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の高周波素子収納用パッケージの一実施
態様を説明するための概略断面図である。
【図2】図1の高周波素子収納用パッケージの概略平面
図である。
【図3】マイクロストリップ線路と誘電体導波管との電
磁結合構造を説明するためのものであり、(a)は平面
図、(b)はX−X断面図である。
【図4】マイクロストリップ線路と誘電体導波管との他
の電磁結合構造を説明するためのものであり、(a)は
平面図、(b)はY−Y断面図である。
【図5】図1のパッケージの組み立て斜視図である。
【図6】本発明のパッケージの他の実施態様を説明する
ための平面図である。
【図7】図6のパッケージの組み立て斜視図である。
【図8】本発明のパッケージのさらに他の実施態様を説
明するための組み立て斜視図である。
【図9】本発明のパッケージにおける伝送特性を示す図
である。
【図10】従来の高周波素子収納用パッケージを説明す
るための概略断面図である。
【符号の説明】
A 高周波素子収納用パッケージ 1 金属製基板 2 高周波素子 3 搭載部 4 蓋体 4a 壁体 4b 蓋部 5 キャビティ 6 溝部 7,18 誘電体基板 8,13 導体路 9 グランド層 10,14,17 マイクロストリップ線路 11 誘電体導波管 12,15 スロット孔 16 切り欠き部 19 導波管 20 段差部

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】高周波素子搭載部を有する金属製基板と、
    前記高周波素子を気密に封止するキャビティを形成する
    ように該金属製基板の表面に接合された蓋体と、前記金
    属製基板の前記蓋体の接合箇所と交差する表面に設けら
    れた誘電体基板と、該誘電体基板の前記キャビティ内表
    面に設けられ、前記高周波素子と接続される第1の高周
    波伝送線路と、前記キャビティ外領域に設けられた第2
    の高周波伝送線路とを具備してなり、前記第1の高周波
    伝送線路と、前記第2の高周波伝送線路を電磁的に結合
    したことを特徴とする高周波素子収納用パッケージ。
  2. 【請求項2】前記金属製基板の前記誘電体基板を形成す
    る箇所に溝部を形成するとともに、前記誘電体基板内部
    にグランド層を形成し、該誘電体基板を前記溝部内に設
    置することにより、前記グランド層と前記金属製基板の
    溝部壁を導体壁とする誘電体導波管を第2の高周波伝送
    線路として形成し、前記第1の高周波伝送線路と、前記
    第2の高周波伝送線路とを、前記グランド層に形成した
    スロット孔を介して電磁的に結合してなることを特徴と
    する請求項1記載の高周波素子収納用パッケージ。
  3. 【請求項3】前記金属製基板の前記誘電体基板を形成す
    る箇所に溝部を形成するとともに、前記誘電体基板の前
    記キャビティと反対側表面にグランド層を形成し、該誘
    電体基板を前記溝部を塞ぐ位置に設置することにより、
    前記グランド層と前記金属製基板の溝部内壁を導体壁と
    する導波管を第2の高周波伝送線路として形成し、前記
    第1の高周波伝送線路と、前記第2の高周波伝送線路と
    を、前記グランド層に形成したスロット孔を介して電磁
    的に結合してなることを特徴とする請求項1記載の高周
    波素子収納用パッケージ。
  4. 【請求項4】前記誘電体基板の前記第1の高周波伝送線
    路形成面における前記キャビティ外領域に第3の高周波
    伝送線路が形成されており、前記第2の高周波伝送線路
    と、前記第3の高周波伝送線路とを電磁的に結合したこ
    とを特徴とする請求項1乃至請求項3のいずれか記載の
    高周波素子収納用パッケージ。
  5. 【請求項5】前記第2の高周波伝送線路と、前記第3の
    高周波伝送線路とが、前記グランド層に形成した第2の
    スロット孔を介して電磁的に結合してなることを特徴と
    する請求項4記載の高周波素子収納用パッケージ。
  6. 【請求項6】前記第1の高周波伝送線路が、マイクロス
    トリップ線路、コプレーナ線路、グランド付きコプレー
    ナ線路のうちから選ばれる1種である請求項1乃至請求
    項5のいずれか記載の高周波素子収納用パッケージ。
  7. 【請求項7】前記第3の高周波伝送線路が、マイクロス
    トリップ線路、コプレーナ線路、グランド付きコプレー
    ナ線路のうちから選ばれる1種である請求項4乃至請求
    項5のいずれか記載の高周波素子収納用パッケージ。
JP10009721A 1998-01-21 1998-01-21 高周波素子収納用パッケージ Pending JPH11214580A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10009721A JPH11214580A (ja) 1998-01-21 1998-01-21 高周波素子収納用パッケージ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10009721A JPH11214580A (ja) 1998-01-21 1998-01-21 高周波素子収納用パッケージ

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH11214580A true JPH11214580A (ja) 1999-08-06

Family

ID=11728171

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP10009721A Pending JPH11214580A (ja) 1998-01-21 1998-01-21 高周波素子収納用パッケージ

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH11214580A (ja)

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11345910A (ja) * 1999-04-28 1999-12-14 Kyocera Corp 高周波用配線基板の接続構造
CN100406897C (zh) * 2005-03-14 2008-07-30 中国科学院半导体研究所 测量光电子器件to封装座高频参数用的测试夹具
WO2008152852A1 (ja) * 2007-06-14 2008-12-18 Kyocera Corporation 直流阻止回路、ハイブリッド回路装置、送信器、受信器、送受信器およびレーダ装置
US7872876B2 (en) 2006-08-04 2011-01-18 Samsung Electronics Co., Ltd. Multi-layered printed circuit board
JPWO2011007507A1 (ja) * 2009-07-17 2012-12-20 日本電気株式会社 半導体パッケージ用基板および半導体パッケージ用基板の製造方法
JP2013126099A (ja) * 2011-12-14 2013-06-24 Sony Corp 導波路およびこれを備えたインターポーザ基板ならびにモジュールおよび電子機器
US9468089B2 (en) 2013-09-20 2016-10-11 Kabushiki Kaisha Toshiba EBG structure, semiconductor device, and circuit board
US9698482B2 (en) 2013-07-19 2017-07-04 Kabushiki Kaisha Toshiba Antenna device
US9848504B2 (en) 2014-08-25 2017-12-19 Kabushiki Kaisha Toshiba Electronic device having a housing for suppression of electromagnetic noise

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11345910A (ja) * 1999-04-28 1999-12-14 Kyocera Corp 高周波用配線基板の接続構造
CN100406897C (zh) * 2005-03-14 2008-07-30 中国科学院半导体研究所 测量光电子器件to封装座高频参数用的测试夹具
US7872876B2 (en) 2006-08-04 2011-01-18 Samsung Electronics Co., Ltd. Multi-layered printed circuit board
WO2008152852A1 (ja) * 2007-06-14 2008-12-18 Kyocera Corporation 直流阻止回路、ハイブリッド回路装置、送信器、受信器、送受信器およびレーダ装置
US8179304B2 (en) 2007-06-14 2012-05-15 Kyocera Corporation Direct-current blocking circuit, hybrid circuit device, transmitter, receiver, transmitter-receiver, and radar device
JP5171819B2 (ja) * 2007-06-14 2013-03-27 京セラ株式会社 直流阻止回路、ハイブリッド回路装置、送信器、受信器、送受信器およびレーダ装置
JPWO2011007507A1 (ja) * 2009-07-17 2012-12-20 日本電気株式会社 半導体パッケージ用基板および半導体パッケージ用基板の製造方法
JP2013126099A (ja) * 2011-12-14 2013-06-24 Sony Corp 導波路およびこれを備えたインターポーザ基板ならびにモジュールおよび電子機器
US9698482B2 (en) 2013-07-19 2017-07-04 Kabushiki Kaisha Toshiba Antenna device
US9468089B2 (en) 2013-09-20 2016-10-11 Kabushiki Kaisha Toshiba EBG structure, semiconductor device, and circuit board
US9848504B2 (en) 2014-08-25 2017-12-19 Kabushiki Kaisha Toshiba Electronic device having a housing for suppression of electromagnetic noise

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6239669B1 (en) High frequency package
JP3500268B2 (ja) 高周波用入出力端子ならびにそれを用いた高周波用半導体素子収納用パッケージ
EP0503200B1 (en) Package for microwave integrated circuit
US6483406B1 (en) High-frequency module using slot coupling
US8552304B2 (en) High-frequency circuit package and high-frequency circuit device
JP3209183B2 (ja) 高周波信号用集積回路パッケージ及びその製造方法
JPH11214580A (ja) 高周波素子収納用パッケージ
JP3537626B2 (ja) 高周波用パッケージ
JP3570887B2 (ja) 高周波用配線基板
JP3309056B2 (ja) 高周波素子収納用パッケージ
JP3462062B2 (ja) 高周波用伝送線路の接続構造および配線基板
JP3556470B2 (ja) 高周波用モジュール
JP3673491B2 (ja) 入出力端子および半導体素子収納用パッケージ
JP3181036B2 (ja) 高周波用パッケージの実装構造
JP4821391B2 (ja) 回路基板の接続構造
JP2002190541A (ja) 高周波回路用パッケージ
JP3211797B2 (ja) 高周波信号用集積回路パッケージ及びその製造方法
JP2005130406A (ja) 導波管部材および導波管ならびに高周波モジュール
JP2000164764A (ja) 高周波用配線基板の実装構造
JPH11163185A (ja) 高周波半導体素子用パッケージ
JP2002305262A (ja) 半導体素子実装用パッケージ
JP2000077553A (ja) 高周波用パッケージ
JP2001217331A (ja) 半導体素子収納用パッケージ
JPH11260948A (ja) 高周波用半導体パッケージの実装構造
JP2001189405A (ja) 高周波用入出力端子ならびに高周波用半導体素子収納用パッケージ