JP3537626B2 - 高周波用パッケージ - Google Patents

高周波用パッケージ

Info

Publication number
JP3537626B2
JP3537626B2 JP10490997A JP10490997A JP3537626B2 JP 3537626 B2 JP3537626 B2 JP 3537626B2 JP 10490997 A JP10490997 A JP 10490997A JP 10490997 A JP10490997 A JP 10490997A JP 3537626 B2 JP3537626 B2 JP 3537626B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
line
dielectric substrate
frequency
ground
coplanar
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP10490997A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH10303333A (ja
Inventor
謙治 北澤
慎一 郡山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kyocera Corp
Original Assignee
Kyocera Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kyocera Corp filed Critical Kyocera Corp
Priority to JP10490997A priority Critical patent/JP3537626B2/ja
Publication of JPH10303333A publication Critical patent/JPH10303333A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3537626B2 publication Critical patent/JP3537626B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48225Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • H01L2224/48227Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/161Cap
    • H01L2924/1615Shape
    • H01L2924/16195Flat cap [not enclosing an internal cavity]

Landscapes

  • Waveguides (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、高周波用素子(M
IC、MMIC等)を収納するための高周波用パッケー
ジに関するものであり、特に、高周波信号の特性劣化を
低減して高周波用素子と外部電気回路基板との信号の伝
送が可能な高周波用パッケージの改良に関するものであ
る。
【0002】
【従来技術】従来、マイクロ波やミリ波を取り扱う半導
体装置では、図8(a)(b)に示すように、誘電体材
料からなる誘電体基板40と蓋41により形成されたキ
ャビティ42内に高周波用素子43を搭載して気密に封
止されている。そして高周波信号の入出力および外部電
機回路基板への実装は、図8(a)に示されるように、
高周波用半導体素子43とワイヤボンディングリボン等
で接続された、ストリップ線路等の信号伝送線路44を
壁体45を通過してキャビティ42外に引き出し、これ
をさらに基板の側面を経由して底面に配設したパッケー
ジが特開昭61−168939号にて提案され、その
他、図8(b)に示すように、絶縁基板40の底面に信
号伝送線路46を形成し、この伝送線路46と半導体素
子43とをスル−ホ−ル47を通じて接続したパッケー
ジも提案されている。これらの半導体装置は、通常、伝
送線路46を外部電気回路基板の配線層と半田等によっ
て接続される。
【0003】また、パッケージ内に収納される高周波用
素子の入出力端子構造は、高周波信号を扱うために、信
号端子の両側にグランド端子を有するコプレーナ線路構
造からなる高周波用素子が一般的である。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図8
(a)のパッケージの場合、伝送線路44が壁体45を
通過する場合、壁体通過部で信号線路がマイクロストリ
ップ線路からストリップ線路へと変換されるため、信号
線路幅を狭くする必要がある。その結果、この通過部で
反射損、放射損が発生しやすいため高周波信号の特性劣
化が起こりやすくなるという問題がある。また、前記構
成の半導体装置を外部電気回路基板に実装する際、該半
導体装置の伝送線路44と外部電気回路基板の配線層を
金属製のワイヤーあるいはリボン等で接続するため、モ
ジュール製造時の量産が困難であり及び低コスト化に問
題があった。また、伝送線路44が基板の側面で曲折す
ることから、ミリ波帯で用いた場合、伝送線路が曲折す
ることにより反射が大きくなり信号を送受することが困
難となる。また、素子搭載面の側面に伝送線路を形成す
る関係上、半導体装置自体も必然的に大きくなるため回
路基板の小型化が困難であった。
【0005】これに対して、図8(b)は、スルーホー
ル47によって壁体を通過することなく、線路自体も曲
折されないために、信号の特性劣化は小さいが、伝送す
る信号の使用周波数が10GHz以上になるとスルーホ
ール47での透過損失が急激に大きくなるために、マイ
クロ波帯からミリ波帯領域の信号を特性劣化なく伝送す
ることが困難であった。
【0006】また、本発明者らは、先にキャビティ内に
高周波用素子と接続されるマイクロストリップ線路を形
成し、またキャビティ外にマイクロストリップ線路を形
成し、それらを電磁結合することにより、線路が誘電体
基板内を通過する際の損失を低減し、かつ外部電気回路
基板に表面実装が可能な高周波用パッケージを提案した
が、マイクロストリップ線路や線路終端部から漏れる電
磁波がキャビティ内に設けられた電源用信号線路や低周
波用伝送線路にノイズを与えたり、共振現象を引き起こ
す可能性があり、これらの妨害のない構造を検討する必
要があった。また、前記提案では、高周波用素子の入出
力端子構造がコプレーナ線路構造からなる場合において
は適用しにくいという問題があった。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明者等は、高周波用
パッケージとして、信号の特性の劣化が少なく、電源用
信号線路や低周波信号線路に妨害を与えない配線構造
と、入出力端子がコプレ−ナ線路構造で形成された高周
波用半導体素子との接続が可能な高周波用パッケージの
構造について検討を重ねた結果、高周波用素子の入出力
端子とをグランド付きコプレーナ線路によって接続する
とともに、外部電気回路基板と接続するための線路をマ
イクロストリップ線路によって構成し、このグランド付
きコプレーナ線路を一旦ストリップ線路に変換した後、
このストリップ線路とマイクロストリップ線路とを電磁
結合により接続することにより、上記目的が達成される
ことを見いだし、本発明に至った。
【0008】即ち、本発明の高周波用パッケージは、誘
電体材料からなる誘電体基板と、該誘電体基板と蓋体に
より形成され高周波用素子を収納するためのキャビティ
と、前記誘電体基板内に設けられた少なくとも1層のグ
ランド層と、該キャビティ内の前記誘電体基板の表面に
形成され前記高周波用素子と接続されたグランド付きコ
プレーナ線路と、前記誘電体基板の前記キャビティ領域
以外の誘電体基板表面に形成されたマイクロストリップ
線路とを少なくとも具備するものであり、前記グランド
付きコプレーナ線路を、変換部を介して前記誘電体基板
内に形成されたストリップ線路と接続し、そのストリッ
プ線路を前記マイクロストリップ線路と電磁的に結合し
たことを特徴とするものである。
【0009】なお、前記ストリップ線路の終端部の開放
端側近傍に、少なくとも1つ以上のビアホールを形成す
るとともに、前記終端部を前記マイクロストリップ線路
の終端部と、前記誘電体基板内に設けられたグランド層
に形成されたスロット孔を介して対峙する位置に配置す
ることにより、電磁的に結合したことを特徴とするもの
である。
【0010】また前記変換部は、信号線路と、その両
側に形成された一対のグランド層とからなるコプレーナ
線路と、該コプレーナ線路の上下面に形成されたグラン
ド層を具備する上下グランド付きコプレーナ線路からな
るもので、その長さが、伝送信号の波長λの1/4未満
であること、さらには、前記変換部において、前記信号
線路両側のグランド層が、前記上下面に形成されたグラ
ンド層と、ビアホールおよび/またはキャスタレーショ
ンによって電気的に接続されてなることを特徴とするも
のである。
【0011】即ち、本発明の高周波用パッケージは、誘
電体材料からなる誘電体基板と、該誘電体基板と蓋体に
より形成され高周波用素子を収納するためのキャビティ
と、前記誘電体基板内に設けられた少なくとも1層のグ
ランド層と、該キャビティ内の前記誘電体基板の表面に
形成され前記高周波用素子とコプレーナ線路構造で接続
されるグランド付きコプレーナ線路と、前記誘電体基板
の前記キャビティ領域以外の誘電体基板表面に形成され
たマイクロストリップ線路とを少なくとも具備するもの
であり、前記グランド付きコプレーナ線路を、変換部を
介して前記誘電体基板内に形成されたストリップ線路と
接続し、そのストリップ線路を前記マイクロストリップ
線路と電磁的に結合したことを特徴とするものである。
【0012】さらに、電磁的な結合構造としては、誘電
体基板内に設けたグランド層にスロット孔を形成し、ス
トリップ線路と、マイクロストリップ線路の終端部を線
路間に介在するグランド層に形成されたスロット孔を介
して対峙する位置に形成することにより電磁結合させる
ことにより、伝送線路間での信号の損失が少なく信号の
伝達が可能となる。
【0013】また、キャビティ内における伝送線路とし
て、グランド付コプレ−ナ線路を用いることにより、コ
プレ−ナ線路構造からなる高周波用半導体素子に対して
マイクロストリップ線路からなる高周波用パッケージよ
りも反射損が少なく接続することが可能となるととも
に、信号線路の両側にグランド層が形成された構造から
なるために、電磁波がもれることなく、その結果、電源
信号線路や低周波信号線路に妨害を及ぼす危険を回避す
ることができる。
【0014】さらに、キャビティ内のグランド付コプレ
−ナ線路を誘電体基板内でストリップ線路に変換するこ
とにより、これらの高周波用伝送線路からの放射を低減
し、電源信号線路や低周波信号線路に妨害を及ぼす危険
をも回避できる。
【0015】
【発明の実施の形態】本発明における高周波用パッケー
ジの一実施例を図1に示した。この図1の高周波用パッ
ケージは、その裏面に外部電気回路基板と直接接続でき
る伝送線路を具備し、外部電気回路基板に表面実装可能
なパッケージに係わるものである。図1によれば、高周
波用パッケージ1は、誘電体材料からなる誘電体基板2
と蓋体3によってキャビティ4が形成され、そのキャビ
ティ4内には、MMIC,MIC等の高周波用素子5が
搭載収納され、気密に封止されている。
【0016】誘電体基板2を構成する誘電体材料として
は、高周波信号の伝送効率を高める上で、低誘電損失の
材料からなることが望ましく、特に、誘電率が20以下
で、誘電損失が30×10-4以下(ともに測定周波数6
0GHz)のセラミックス、ガラスセラミックス、セラ
ミック金属複合材料、ガラス有機樹脂系複合材料等など
が望ましい。
【0017】蓋体3は、キャビティ4からの電磁波が外
部に漏洩するのを防止できる材料から構成され、セラミ
ックス、セラミック金属複合材料、ガラスセラミック
ス、金属等が使用できるが、これらの材料中に電磁波を
吸収させることのできるカーボン等の電磁波吸収物質を
分散させたり、蓋体の表面にこれらの電磁波吸収物質を
塗布することもできる。
【0018】図1の高周波用パッケージは、基本的に
は、配線層として、A,B,C,Dの4層から構成され
る。図2(a)は、配線層Aの配線図、図2(b)は、
配線層Bの配線図、図2(c)は、配線層Cの配線図、
図2(d)は、配線層Dの配線図である。
【0019】本発明によれば、上記のパッケージのキャ
ビティ4内において、図2(b)に示すように、高周波
用素子5に信号を伝送するための線路として、キャビテ
ィ4内の誘電体基板1表面に、配線層Bとして、伝送線
路7と、その両側に形成されたグランド層8によりコプ
レーナ線路9が形成されている。そして、このコプレー
ナ線路9の下層の配線層Cには、グランド層10がほぼ
一面に形成され、このグランド層10により、コプレー
ナ線路9は、グランド付きコプレーナ線路を形成してい
る。
【0020】また、この配線層Bには、高周波用素子5
に電力を供給するための電源用信号線路11が形成され
ている。このコプレーナ線路9および電源用信号線路1
1の一端は、高周波用素子5と、リボン、ワイヤ、TA
B(Tape Automated Bonding) 等によってそれぞれ電気
的に接続されている。
【0021】図2(b)において、点線で囲まれた領域
は、キャビティ4内にて露出した領域であり、それ以外
の領域は、図1に示すように、誘電体基板2内部に配設
されるものである。キャビティ4内の誘電体基板2表面
に形成されたコプレーナ線路9は、誘電体基板2内部に
設けられた変換部12を経由してストリップ線路13と
接続される。このストリップ線路13は、信号線路が、
その上層の配線層Aに形成されたグランド層14と、そ
の下層の配線層Cに形成されたグランド層10によって
上下から挟まれた構造からなる。
【0022】変換部12は、図2(b)に示すように、
前記グランド付きコプレーナ線路が、誘電体基板2内部
まで配置され、その上下には、配線層Aのグランド層1
4と配線層Cのグランド層10によって挟まれた構造か
らなり、これにより上下グランド付きコプレーナ線路を
形成している。なお、コプレーナ線路における信号線路
7の両側のグランド層8は、所定長さLをもって終端と
なるように形成され、その結果、信号線路7は、ストリ
ップ線路に変換されることになる。この変換部12にお
いて、信号線路7の両側のグランド層は、例えば、上下
のグランド層14、10とビアホール15によって電気
的に接続され、等電位に保たれている。この変換部12
の長さLは、伝送信号の波長λの1/4未満であること
が必要であり、波長λの1/4以上の長さでは、変換部
で共振が生じるため、伝送信号を劣化させてしまう。
【0023】なお、配線層Bにおいて、上記のコプレー
ナ線路9、変換部12、ストリップ線路13、電源用信
号線路11および高周波用素子5の周囲には、電磁波の
漏洩防止のためのグランド層16が設けられ、グランド
層16には、電位のばらつきを抑えるのと電磁波漏洩防
止のためのスルーホール17が多数内設され、グランド
層14、10と電気的に接続されている。
【0024】また、グランド層10が形成された配線層
Cのさらに下層には、誘電体基板2の底面における配線
層Dとして、図2(D)に示すように、パッケージを外
部電気回路基板(図示せず)に表面実装する場合の接続
部としての機能を兼ね備えた信号線路18が形成されて
いる。この線路は、配線層Cのグランド層10とともに
マイクロストリップ線路を形成している。
【0025】そして、配線層Bに形成されたストリップ
線路13と、誘電体基板2の底面に形成されたマイクロ
ストリップ線路18とは、配線層Cのグランド層10に
形成されたスロット孔19を介して、互いの終端部が平
面的にみてスロット孔19の中心から長さMの分、突出
する位置にそれぞれ対峙して配置することにより、電磁
的に結合され、損失のない信号の伝達が行われる。
【0026】また、電源用信号線路11の他端は、スル
ーホール20を通じてパッケージの底面まで導出され、
接続用端子21と接続されている。
【0027】さらに、配線層Bに設けられたストリップ
線路13の終端部からの電磁波の放射を防止するため
に、図3に示すように、ストリップ線路の終端部の開放
端側近傍に、配線層Aのグランド層14と配線層Cのグ
ランド層10とを電気的に接続する少なくとも1つ以上
のビアホール22を、望ましくは、終端部周辺に形成す
るのがよい。
【0028】この態様のパッケージにおいては、高周波
用素子5の下面には、グランド層10とこのグランド層
10に接続されたサーマルビア23が形成されて、底面
に形成された導体層24と接続され、高周波用素子5か
らの発熱を半導体装置の下面に放熱する構造となってい
る。
【0029】また、配線層Bにおける変換部12の他の
構造としては、図4(a)に示すように、変換部12に
おいて、コプレーナ線路における信号線路両側のグラン
ド層は、前記ビアホール以外に、誘電体基板2の壁面に
キャスタレ−ション25を形成し、等電位に導通をとっ
てもよい。また、ビアホール15とキャスタレーション
25を併用してもよい。
【0030】また、図4(b)に示すように、誘電体基
板2の壁面にキャスタレ−ション25を形成する際、伝
送線路の両側のグランド層側に切り欠き部26を形成す
ることにより、キャスタレーション形成時の導体インク
のにじみを防止することができる。
【0031】次に、図5は、本発明の他の実施態様を説
明するための断面図であり、誘電体基板2の上面に、ヒ
ートシンクが形成されたものである。説明において、図
1の態様と同一機能を有する箇所は、同一符号を付し
た。
【0032】図5のパッケージにおいては、誘電体基板
2、蓋体3およびヒートシンク27によってキャビティ
4が形成され、そのキャビティ4内において、ヒートシ
ンク27の表面に高周波用素子5が実装されており、高
周波用素子5から発生した熱が、直接ヒートシンクに伝
達され、放熱される構造からなる。
【0033】この図5のパッケージにおいては、誘電体
基板2には、基本的にE,F,G,Hの4層の配線層を
具備する。この図5の態様においては、配線層Eは、図
1の配線層Aに、配線層Fは配線層Bに、配線層Gは配
線層Cに、配線層Hは配線層Dにそれぞれ対応するもの
である。
【0034】配線層Eには、全面に導体層からなるグラ
ンド層14が形成されている。また、配線層Fには、グ
ランド層14とコプレーナ線路6とからなるグランド付
きコプレーナ線路、誘電体基板2内部に形成された変換
部12、そして、配線層Gとして形成されたグランド層
10と、配線層Eにおけるグランド層14によって信号
線路13が挟まれた構造からなるストリップ線路が形成
されている。
【0035】また、配線層Hには、図1の配線層Dと同
様に、信号線路18が外部電気回路基板との接続端子と
しての機能を兼ね備えて形成され、配線層Gにおけるグ
ランド層10をもってマイクロストリップ線路が形成さ
れている。そして、配線層Hのマイクロストリップ線路
18と、配線層Fにおけるストリップ線路とは、配線層
Gにおけるグランド層10に形成されたスロット孔19
を介して対峙させることにより、両者は電磁結合され
る。
【0036】その結果、高周波用素子5は、グランド付
きコプレーナ線路、変換部、ストリップ線路に接続さ
れ、電磁結合によってストリップ線路とマイクロストリ
ップ線路が接続されることになる。
【0037】なお、各配線層間は、図1〜図4で説明し
たのと同様にして、E,F,G,Hの各配線層間のグラ
ンド層間をビアホールおよび/またはキャスタレーショ
ン等によって電気的に接続することにより等電位とし
て、線路からの電磁波をもれや、電源用線路などへの影
響を低減することができる。また、図5の態様によれ
ば、ヒ−トシンクは誘電体基板2にろう付けされてお
り、ヒ−トシンクは、材質としては銅−モリブデン合
金、コバ−ル等のものが最適である。
【0038】図1の高周波用パッケージにおいて、例と
して誘電率8.8、誘電損失25.0×10-4(測定周
波数60GHz)の誘電体材料を用いて誘電体基板を作
製し、また、各線路、グランド層、ビアホールは、銅を
用いて形成した。なお、ストリップ線路と、マイクロス
トリップ線路とのスロット孔を介した電磁結合構造は、
60GHzの信号を用い、ストリップ線路の開放端長さ
(スロット孔の中心から終端部までの距離)が0.42
mm、マイクロストリップ線路の開放端長さ(スロット
孔の中心から終端部までの距離)が0.48mm、スロ
ット穴長0.85mm、スロット穴幅0.20mmとし
た。また、ストリップ線路の終端部の周辺には、0.5
mm間隔でビアホ−ル9本をグランド層14とグランド
層10を接続するように形成した。このときの配線基板
を図6に示す金属ブロック28に載置し、評価用変換基
板29とリボン30によって電気的に接続した後、伝送
特性をネットワ−クアナライザ−により測定した。その
結果を図7に示した。
【0039】また、ストリップ線路の終端部周辺にスル
−ホ−ルを全く形成しなかったものを図7(b)、変換
部の長さLを波長λ(60GHz )の3/10長さ
(0.49mm)に設計したものを図7(c)に示す。
【0040】この結果から、高周波信号を低損失で伝送
させるには、ストリップ線路の終端部の周辺にスル−ホ
−ルを形成した場合がよいことがわかる。
【0041】次に、比較例として、図8(b)に示した
従来の高周波用パッケージにおいて、誘電率9.6、誘
電損失18.0×10-4(測定周波数60GHz)の誘
電体材料と底面に形成された伝送線路間を径200μm
の銅導体からなるビアホ−ルで接続した半導体装置をネ
ットワ−クアナライザ−で同様に測定し図9にその結果
を示した。図9の結果から、ビアホ−ルにて伝送線路を
接続した場合、周波数が20GHz以上でS11:−1
0dB以上、S21:−30dB以下となることから高
周波信号を半導体素子に伝送することは不可能であるこ
とがわかった。
【0042】
【発明の効果】以上詳述した通り、本発明の高周波用パ
ッケージは、信号の特性の劣化が少なく、高周波信号線
路からの電磁波のもれなどによって電源用信号線路や低
周波信号線路に妨害を与えることなく、入出力端子がコ
プレ−ナ線路構造で形成された高周波用半導体素子と低
損失で接続することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の高周波用パッケージの一実施態様を説
明するための概略断面図である。
【図2】図1の高周波用パッケージの各配線層の配線図
であり、(a)は配線層A,(b)は配線層B、(c)
は配線層C、(d)は配線層Dをそれぞれ示す。
【図3】図1の高周波用パッケージにおけるストリップ
線路の終端部の好適な構造を説明するための平面図であ
る。
【図4】変換部において、キャスタレーションを形成し
た場合の構造を説明するための要部斜視図であり、
(a)はその一態様、(b)は他の態様である。
【図5】本発明の高周波用パッケージの他の態様を説明
するための概略断面図である。
【図6】本発明の実施例における伝送特性の測定方法を
説明するための図である。
【図7】本発明における高周波用パッケージの伝送特性
を示す図である。
【図8】従来の高周波用パッケージを説明するための図
であり、(a)はその一態様、(b)は他の態様であ
る。
【図9】従来の高周波用パッケージの伝送特性を示す図
である。
【符号の説明】
1 高周波用パッケージ 2 誘電体基板 3 蓋体 4 キャビティ 5 高周波用素子 10、14、16、8 グランド層 9 グランド付きコプレーナ線路 12 変換部 13 ストリップ線路 15 ビアホール 18 マイクロストリップ線路 19 スロット孔 22 ビアホール 25 キャスタレーション 26 切り欠き部

Claims (5)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】誘電体材料からなる誘電体基板と、該誘電
    体基板と蓋体により形成され高周波用素子を収納するた
    めのキャビティと、前記誘電体基板内に設けられた少な
    くとも1層のグランド層と、該キャビティ内の前記誘電
    体基板の表面に形成され前記高周波用素子とコプレーナ
    線路構造で接続されるグランド付きコプレーナ線路と、
    前記誘電体基板の前記キャビティ領域以外の誘電体基板
    表面に形成されたマイクロストリップ線路とを具備し、
    前記グランド付きコプレーナ線路を、変換部を介して前
    記誘電体基板内に形成されたストリップ線路と接続し、
    該ストリップ線路を、前記マイクロストリップ線路と電
    磁的に結合してなることを特徴とする高周波用パッケー
    ジ。
  2. 【請求項2】前記ストリップ線路の終端部の開放端側近
    傍に、少なくとも1つ以上のビアホールを形成するとと
    もに、前記終端部を前記マイクロストリップ線路の終端
    部と、前記誘電体基板内に設けられたグランド層に形成
    されたスロット孔を介して対峙する位置に配置すること
    により、前記ストリップ線路と前記マイクロストリップ
    線路とを電磁的に結合してなる請求項1記載の高周波用
    パッケージ。
  3. 【請求項3】前記変換部を、信号線路と、その両側に形
    成された一対のグランド層とからなるコプレーナ線路
    と、該コプレーナ線路の上下面に形成されたグランド層
    からなる上下グランド付きコプレーナ線路によって構成
    する請求項1または請求項2記載の高周波用パッケー
    ジ。
  4. 【請求項4】前記変換部の長さが、伝送信号の波長λの
    1/4未満である請求項1乃至請求項3のいずれか記載
    の高周波用パッケージ。
  5. 【請求項5】前記変換部において、前記信号線路両側の
    グランド層を、前記上下面に形成されたグランド層と、
    ビアホールおよび/またはキャスタレーションによって
    電気的に接続してなる請求項記載の高周波用パッケー
    ジ。
JP10490997A 1997-04-22 1997-04-22 高周波用パッケージ Expired - Fee Related JP3537626B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10490997A JP3537626B2 (ja) 1997-04-22 1997-04-22 高周波用パッケージ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10490997A JP3537626B2 (ja) 1997-04-22 1997-04-22 高周波用パッケージ

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH10303333A JPH10303333A (ja) 1998-11-13
JP3537626B2 true JP3537626B2 (ja) 2004-06-14

Family

ID=14393255

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP10490997A Expired - Fee Related JP3537626B2 (ja) 1997-04-22 1997-04-22 高周波用パッケージ

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3537626B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8455994B2 (en) 2002-01-31 2013-06-04 Imbera Electronics Oy Electronic module with feed through conductor between wiring patterns

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3556474B2 (ja) * 1998-06-30 2004-08-18 京セラ株式会社 高周波素子搭載基板の実装構造および高周波用モジュール構造
JP3725983B2 (ja) * 1998-12-17 2005-12-14 京セラ株式会社 高周波回路用パッケージ
JP3638479B2 (ja) * 1999-08-31 2005-04-13 京セラ株式会社 高周波用配線基板およびその接続構造
JP3346752B2 (ja) 1999-11-15 2002-11-18 日本電気株式会社 高周波パッケージ
JP3780503B2 (ja) * 2002-01-21 2006-05-31 京セラ株式会社 配線基板
JP4081284B2 (ja) 2002-03-14 2008-04-23 富士通株式会社 高周波集積回路モジュール
JP2004153367A (ja) 2002-10-29 2004-05-27 Tdk Corp 高周波モジュール、ならびにモード変換構造および方法
JP4653005B2 (ja) * 2006-04-17 2011-03-16 富士通株式会社 電子部品パッケージ
JP2009141242A (ja) * 2007-12-10 2009-06-25 Hitachi Kokusai Electric Inc 基板モジュール
JP5765174B2 (ja) * 2011-09-30 2015-08-19 富士通株式会社 電子装置
JP5600706B2 (ja) * 2012-05-25 2014-10-01 日本電信電話株式会社 積層型開口面アンテナ

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8455994B2 (en) 2002-01-31 2013-06-04 Imbera Electronics Oy Electronic module with feed through conductor between wiring patterns

Also Published As

Publication number Publication date
JPH10303333A (ja) 1998-11-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP1307078B1 (en) High frequency circuit module
US6483406B1 (en) High-frequency module using slot coupling
JPH10242716A (ja) 高周波用入出力端子ならびにそれを用いた高周波用半導体素子収納用パッケージ
JP3537626B2 (ja) 高周波用パッケージ
JP3457802B2 (ja) 高周波用半導体装置
JP2004153415A (ja) 高周波線路−導波管変換器
JP3305589B2 (ja) 高周波用半導体装置の実装構造
JP3217677B2 (ja) 高周波用半導体装置
JPH11214580A (ja) 高周波素子収納用パッケージ
JP3398282B2 (ja) 高周波用半導体装置
JP3140385B2 (ja) 高周波用半導体装置
JP3462062B2 (ja) 高周波用伝送線路の接続構造および配線基板
JP3556470B2 (ja) 高周波用モジュール
JP3071761B2 (ja) 高周波用半導体装置の実装構造
JP3704440B2 (ja) 高周波用配線基板の接続構造
JP3618046B2 (ja) 高周波回路用パッケージ
JP3181036B2 (ja) 高周波用パッケージの実装構造
JP3112253B2 (ja) 高周波用半導体装置
JP3145670B2 (ja) 高周波用半導体パッケージの実装構造
JP2004297465A (ja) 高周波用パッケージ
JP3426878B2 (ja) 配線基板の実装構造
JP3176337B2 (ja) 高周波用半導体パッケージの実装構造
JP3261094B2 (ja) 高周波用配線基板の実装構造
JP2000164764A (ja) 高周波用配線基板の実装構造
JP3638528B2 (ja) 半導体素子収納用パッケージ

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20031209

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20040209

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20040309

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20040317

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090326

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090326

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100326

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110326

Year of fee payment: 7

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees