JPH1126834A - Pzt薄膜バイモルフ形の平行平板構造体、及びその製造方法 - Google Patents
Pzt薄膜バイモルフ形の平行平板構造体、及びその製造方法Info
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- JPH1126834A JPH1126834A JP17959997A JP17959997A JPH1126834A JP H1126834 A JPH1126834 A JP H1126834A JP 17959997 A JP17959997 A JP 17959997A JP 17959997 A JP17959997 A JP 17959997A JP H1126834 A JPH1126834 A JP H1126834A
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- H10N30/00—Piezoelectric or electrostrictive devices
- H10N30/20—Piezoelectric or electrostrictive devices with electrical input and mechanical output, e.g. functioning as actuators or vibrators
- H10N30/204—Piezoelectric or electrostrictive devices with electrical input and mechanical output, e.g. functioning as actuators or vibrators using bending displacement, e.g. unimorph, bimorph or multimorph cantilever or membrane benders
- H10N30/2041—Beam type
- H10N30/2042—Cantilevers, i.e. having one fixed end
- H10N30/2043—Cantilevers, i.e. having one fixed end connected at their free ends, e.g. parallelogram type
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- H10N30/00—Piezoelectric or electrostrictive devices
- H10N30/01—Manufacture or treatment
- H10N30/07—Forming of piezoelectric or electrostrictive parts or bodies on an electrical element or another base
- H10N30/074—Forming of piezoelectric or electrostrictive parts or bodies on an electrical element or another base by depositing piezoelectric or electrostrictive layers, e.g. aerosol or screen printing
- H10N30/077—Forming of piezoelectric or electrostrictive parts or bodies on an electrical element or another base by depositing piezoelectric or electrostrictive layers, e.g. aerosol or screen printing by liquid phase deposition
Abstract
(57)【要約】
【課題】平行平板構造体をアクチュエータとして使用す
る場合、大きな変位を得ることができるPZT薄膜バイ
モルフ形の平行平板構造体を提供する。 【解決手段】平行平板構造体1は、一対のバイモルフ構
造体からなる圧電素子2を互いに相対させ、その上下両
端に対して角柱状の絶縁スペーサ3をそれぞれ挟んで互
いに固着した構成とされている。バイモルフ構造体から
なる圧電素子2は、チタンからなる平板状の基材4の両
側面に対して厚さ数十μmのPZT薄膜5が水熱法によ
り形成され、その両側面のPZT薄膜5上にはアルミニ
ウムからなる厚さ数μmの電極膜6が一対並んで形成さ
れている。基材4の厚みは20μmとされている。
る場合、大きな変位を得ることができるPZT薄膜バイ
モルフ形の平行平板構造体を提供する。 【解決手段】平行平板構造体1は、一対のバイモルフ構
造体からなる圧電素子2を互いに相対させ、その上下両
端に対して角柱状の絶縁スペーサ3をそれぞれ挟んで互
いに固着した構成とされている。バイモルフ構造体から
なる圧電素子2は、チタンからなる平板状の基材4の両
側面に対して厚さ数十μmのPZT薄膜5が水熱法によ
り形成され、その両側面のPZT薄膜5上にはアルミニ
ウムからなる厚さ数μmの電極膜6が一対並んで形成さ
れている。基材4の厚みは20μmとされている。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はPZT薄膜バイモルフ形
の平行平板構造体、及びその製造方法に関するものであ
る。
の平行平板構造体、及びその製造方法に関するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】従来から圧電素子としてバルクのPZT
(ジルコン・チタン酸鉛:チタン酸鉛,ジルコン酸鉛の
固溶体からなるセラミックス)素子を板状の基材の表裏
両面にそれぞれ設け、前記PZT素子の表面に電極を設
けたバイモルフ(Bimorph)構造体が知られてい
る。このバイモルフ構造体は、両PZT素子に対して電
圧を印加すると、一方のPZT素子が引き伸ばされ、他
方のPZT素子が圧縮されて、構造体の全体が変形しア
クチュエータとして利用される。
(ジルコン・チタン酸鉛:チタン酸鉛,ジルコン酸鉛の
固溶体からなるセラミックス)素子を板状の基材の表裏
両面にそれぞれ設け、前記PZT素子の表面に電極を設
けたバイモルフ(Bimorph)構造体が知られてい
る。このバイモルフ構造体は、両PZT素子に対して電
圧を印加すると、一方のPZT素子が引き伸ばされ、他
方のPZT素子が圧縮されて、構造体の全体が変形しア
クチュエータとして利用される。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】ところが、上記のよう
なバイモルフ構造体は、バルクのPZT素子を使用して
いるため、バルクそのものの薄形化が難しく、バイモル
フ構造体全体の小型化が難しい問題があった。さらに、
バルクのPZTを使用してバイモルフ構造を得ようとし
た場合、バルクを基材の表裏面にそれぞれ貼着する必要
があるため、貼着工程が多くなる問題があった。
なバイモルフ構造体は、バルクのPZT素子を使用して
いるため、バルクそのものの薄形化が難しく、バイモル
フ構造体全体の小型化が難しい問題があった。さらに、
バルクのPZTを使用してバイモルフ構造を得ようとし
た場合、バルクを基材の表裏面にそれぞれ貼着する必要
があるため、貼着工程が多くなる問題があった。
【0004】又、バイモルフ構造体を構成する場合、1
枚のバイモルフ構造体であると従来のバイモルフ構造体
は板状に形成されているため、変位時に変位方向以外の
力が加わると捩じれた状態で変位しやすく、正確な変位
ができない問題があった。
枚のバイモルフ構造体であると従来のバイモルフ構造体
は板状に形成されているため、変位時に変位方向以外の
力が加わると捩じれた状態で変位しやすく、正確な変位
ができない問題があった。
【0005】本発明は上記の課題を解消するためになさ
れたものであり、第1の目的は、PZT薄膜を有する圧
電素子にて平行平板構造体に構成し、PZT薄膜上に電
極を複数設けることにより、平行平板構造体をアクチュ
エータとして使用する場合、大きな変位を得ることがで
きるPZT薄膜バイモルフ形の平行平板構造体を提供す
ることにある。
れたものであり、第1の目的は、PZT薄膜を有する圧
電素子にて平行平板構造体に構成し、PZT薄膜上に電
極を複数設けることにより、平行平板構造体をアクチュ
エータとして使用する場合、大きな変位を得ることがで
きるPZT薄膜バイモルフ形の平行平板構造体を提供す
ることにある。
【0006】第2の目的は、容易に多数のバイモルフ構
造を得ることができ、かつ小型化が可能であり、捩じれ
に強いPZT薄膜バイモルフ形の平行平板構造体を提供
することにある。
造を得ることができ、かつ小型化が可能であり、捩じれ
に強いPZT薄膜バイモルフ形の平行平板構造体を提供
することにある。
【0007】第3の目的は、PZT薄膜バイモルフ形の
平行平板構造体を容易に得ることができる製造方法を提
供することにある。
平行平板構造体を容易に得ることができる製造方法を提
供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
めに、請求項1に記載の発明は、チタン基材の第1の側
面と、同第1の側面とは180度反対側に位置する第2
の側面とにPZT薄膜が形成され、前記各側面のPZT
薄膜上に複数個の電極がそれぞれ同方向に沿って並ぶよ
うに設けられた一対のPZT薄膜バイモルフ構造体が互
いにスペーサを介して、平行に連結されていることを特
徴とするPZT薄膜バイモルフ形の平行平板構造体をそ
の要旨としている。
めに、請求項1に記載の発明は、チタン基材の第1の側
面と、同第1の側面とは180度反対側に位置する第2
の側面とにPZT薄膜が形成され、前記各側面のPZT
薄膜上に複数個の電極がそれぞれ同方向に沿って並ぶよ
うに設けられた一対のPZT薄膜バイモルフ構造体が互
いにスペーサを介して、平行に連結されていることを特
徴とするPZT薄膜バイモルフ形の平行平板構造体をそ
の要旨としている。
【0009】請求項2の発明は、請求項1において、前
記各側面に設けられた電極の数は2個であるPZT薄膜
バイモルフ形の平行平板構造体をその要旨としている。
請求項3の発明は、水熱法により、チタン基材の第1の
側面と、第1の側面とは180度反対側に位置する第2
の側面とにPZT薄膜を形成する工程と、前記各側面上
のPZT薄膜上に対して、それぞれ複数の電極を同方向
に並ぶように形成し、PZT薄膜バイモルフ構造体を得
る工程と、前記PZT薄膜バイモルフ構造体を一対互い
に相対させ、両者をスペーサを介して、固定して平行平
板構造体を得る工程を含むことを特徴とするPZT薄膜
バイモルフ形の平行平板構造体の製造方法をその要旨と
している。
記各側面に設けられた電極の数は2個であるPZT薄膜
バイモルフ形の平行平板構造体をその要旨としている。
請求項3の発明は、水熱法により、チタン基材の第1の
側面と、第1の側面とは180度反対側に位置する第2
の側面とにPZT薄膜を形成する工程と、前記各側面上
のPZT薄膜上に対して、それぞれ複数の電極を同方向
に並ぶように形成し、PZT薄膜バイモルフ構造体を得
る工程と、前記PZT薄膜バイモルフ構造体を一対互い
に相対させ、両者をスペーサを介して、固定して平行平
板構造体を得る工程を含むことを特徴とするPZT薄膜
バイモルフ形の平行平板構造体の製造方法をその要旨と
している。
【0010】請求項4の発明は、請求項3において、前
記PZT薄膜バイモルフ構造体を得る工程は、前記チタ
ン基材の各側面上のPZT薄膜に対して同方向に向かう
電極の列を複数形成した上で、各列間を切断して複数の
PZT薄膜バイモルフ構造体を得る工程を含むことを特
徴とするPZT薄膜バイモルフ形の平行平板構造体の製
造方法をその要旨としている。
記PZT薄膜バイモルフ構造体を得る工程は、前記チタ
ン基材の各側面上のPZT薄膜に対して同方向に向かう
電極の列を複数形成した上で、各列間を切断して複数の
PZT薄膜バイモルフ構造体を得る工程を含むことを特
徴とするPZT薄膜バイモルフ形の平行平板構造体の製
造方法をその要旨としている。
【0011】請求項5の発明は、請求項3又は請求項4
において、前記水熱法は、硝酸鉛溶液、オキシ塩化ジル
コニウムを鉱化剤とともに攪拌し、加圧及び加熱して、
チタン基材の第1及び第2の側面上に種子結晶を得る工
程と、前記種子結晶を得た基材に対して、硝酸鉛溶液、
オキシ塩化ジルコニウム、四塩化チタンの溶液を鉱化剤
とともに攪拌し、加熱及び加圧して、チタン基材の第1
の側面と、第1の側面とは180度反対側に位置する第
2の側面のそれぞれに対してPZTの結晶成長を行い、
チタン基材の第1及び第2の側面上にPZT薄膜を形成
する工程とを含むことをその要旨としている。 (作用)請求項1に記載の発明によると、チタン基材の
第1及び第2の側面に形成されたPZT薄膜が薄いた
め、PZT薄膜バイモルフ構造体は、小型化が可能とな
り、平行平板構造体全体としても小型化が可能となる。
又、平行平板構造とされて剛性が付与されているため、
捩じれに対して強くなる。
において、前記水熱法は、硝酸鉛溶液、オキシ塩化ジル
コニウムを鉱化剤とともに攪拌し、加圧及び加熱して、
チタン基材の第1及び第2の側面上に種子結晶を得る工
程と、前記種子結晶を得た基材に対して、硝酸鉛溶液、
オキシ塩化ジルコニウム、四塩化チタンの溶液を鉱化剤
とともに攪拌し、加熱及び加圧して、チタン基材の第1
の側面と、第1の側面とは180度反対側に位置する第
2の側面のそれぞれに対してPZTの結晶成長を行い、
チタン基材の第1及び第2の側面上にPZT薄膜を形成
する工程とを含むことをその要旨としている。 (作用)請求項1に記載の発明によると、チタン基材の
第1及び第2の側面に形成されたPZT薄膜が薄いた
め、PZT薄膜バイモルフ構造体は、小型化が可能とな
り、平行平板構造体全体としても小型化が可能となる。
又、平行平板構造とされて剛性が付与されているため、
捩じれに対して強くなる。
【0012】平行平板構造体を変位させる場合、一方の
バイモルフ構造体の各側面において、隣接する電極に対
しては、互いに逆極性の電位を印加し、180度反対側
の側面に位置する電極に対しても逆極性の電位を印加す
る。又、他方のバイモルフ構造体においても、前記一方
のバイモルフ構造体と同様に電位を印加する。
バイモルフ構造体の各側面において、隣接する電極に対
しては、互いに逆極性の電位を印加し、180度反対側
の側面に位置する電極に対しても逆極性の電位を印加す
る。又、他方のバイモルフ構造体においても、前記一方
のバイモルフ構造体と同様に電位を印加する。
【0013】この結果、分極方向にプラス電位が印加さ
れた側のPZT薄膜は引き伸ばされ、分極方向にマイナ
ス電位が印加された側のPZT薄膜5は圧縮される。各
バイモルフ構造体は、互いに同様に電圧が印加されてい
るため、同一方向に変位する。そして、各バイモルフ構
造体において、各側面における隣接した電極には、逆極
性の電圧が印加されるため、異なる極性が印加されたP
ZT薄膜は、互いに逆方向に変位する。この結果、隣接
する電極が関与する領域のPZT薄膜が、逆方向に変位
するため、平行平板構造体は、S、又は逆S状に湾曲し
て変位することになる。
れた側のPZT薄膜は引き伸ばされ、分極方向にマイナ
ス電位が印加された側のPZT薄膜5は圧縮される。各
バイモルフ構造体は、互いに同様に電圧が印加されてい
るため、同一方向に変位する。そして、各バイモルフ構
造体において、各側面における隣接した電極には、逆極
性の電圧が印加されるため、異なる極性が印加されたP
ZT薄膜は、互いに逆方向に変位する。この結果、隣接
する電極が関与する領域のPZT薄膜が、逆方向に変位
するため、平行平板構造体は、S、又は逆S状に湾曲し
て変位することになる。
【0014】請求項2の発明によると、各側面に設けら
れた電極の数は2個とされるため、各側面における2個
のそれぞれの電極に関与するPZT薄膜において、それ
ぞれ逆極性の電位が印加されることにより、請求項1の
作用を得る。
れた電極の数は2個とされるため、各側面における2個
のそれぞれの電極に関与するPZT薄膜において、それ
ぞれ逆極性の電位が印加されることにより、請求項1の
作用を得る。
【0015】請求項3の発明によると、水熱法により、
チタン基材の第1及び第2の側面にPZT薄膜が形成さ
れ、その後、前記PZT薄膜に対して、それぞれ複数の
電極を同方向に並ぶよう形成されることにより、PZT
薄膜バイモルフ構造体となる。ここで、水熱法とは、加
熱・加圧下の水溶液から結晶を析出、成長させる方法を
いう。又、加圧とは、積極的に圧力を加える場合の他、
圧力容器内において、加熱により蒸気圧の圧力上昇を含
む趣旨である。なお、水熱法は、一般には、水熱合成法
と称するが、この明細書では水熱法という。
チタン基材の第1及び第2の側面にPZT薄膜が形成さ
れ、その後、前記PZT薄膜に対して、それぞれ複数の
電極を同方向に並ぶよう形成されることにより、PZT
薄膜バイモルフ構造体となる。ここで、水熱法とは、加
熱・加圧下の水溶液から結晶を析出、成長させる方法を
いう。又、加圧とは、積極的に圧力を加える場合の他、
圧力容器内において、加熱により蒸気圧の圧力上昇を含
む趣旨である。なお、水熱法は、一般には、水熱合成法
と称するが、この明細書では水熱法という。
【0016】そして、前記PZT薄膜バイモルフ構造体
が一対互いに相対されて、両者がスペーサを介して固定
されることにより平行平板構造体が得られる。請求項4
に記載の発明によると、請求項3におけるPZT薄膜バ
イモルフ構造体を得る工程は、前記チタン基材の各側面
上のPZT薄膜に対して同方向に向かう電極の列を複数
形成した上で、各列間を切断して複数のPZT薄膜バイ
モルフ構造体が得られる。
が一対互いに相対されて、両者がスペーサを介して固定
されることにより平行平板構造体が得られる。請求項4
に記載の発明によると、請求項3におけるPZT薄膜バ
イモルフ構造体を得る工程は、前記チタン基材の各側面
上のPZT薄膜に対して同方向に向かう電極の列を複数
形成した上で、各列間を切断して複数のPZT薄膜バイ
モルフ構造体が得られる。
【0017】請求項5に記載の発明によると、硝酸鉛溶
液、オキシ塩化ジルコニウムを鉱化剤とともに攪拌し、
加圧及び加熱して、チタン基材の第1及び第2の側面上
に種子結晶を得る。その後、前記種子結晶を得た基材に
対して、硝酸鉛溶液、オキシ塩化ジルコニウム、四塩化
チタンの溶液を鉱化剤とともに攪拌し、加熱及び加圧し
て、チタン基材の第1及び第2の側面のそれぞれに対し
てPZTの結晶成長を行うと、チタン基材の第1及び第
2の側面にPZT薄膜を得る。
液、オキシ塩化ジルコニウムを鉱化剤とともに攪拌し、
加圧及び加熱して、チタン基材の第1及び第2の側面上
に種子結晶を得る。その後、前記種子結晶を得た基材に
対して、硝酸鉛溶液、オキシ塩化ジルコニウム、四塩化
チタンの溶液を鉱化剤とともに攪拌し、加熱及び加圧し
て、チタン基材の第1及び第2の側面のそれぞれに対し
てPZTの結晶成長を行うと、チタン基材の第1及び第
2の側面にPZT薄膜を得る。
【0018】
【実施の形態】以下、本発明の実施形態を図1乃至図1
0を参照して説明する。図1はPZT薄膜バイモルフ形
の平行平板構造体の斜視図を示している。なお、上記図
面を含む各図面に図示されている各部材の厚みは、説明
の便宜上、実際のものより適宜拡大して図示されてい
る。
0を参照して説明する。図1はPZT薄膜バイモルフ形
の平行平板構造体の斜視図を示している。なお、上記図
面を含む各図面に図示されている各部材の厚みは、説明
の便宜上、実際のものより適宜拡大して図示されてい
る。
【0019】図1に示すように平行平板構造体1は、一
対のバイモルフ構造体からなる平板状の圧電素子2を互
いに相対させ、その上下両端に対して角柱状の絶縁スペ
ーサ3をそれぞれ挟んで互いに固着した構成とされてい
る。なお、絶縁スペーサ3としたのは、圧電素子2間の
短絡防止のためである。
対のバイモルフ構造体からなる平板状の圧電素子2を互
いに相対させ、その上下両端に対して角柱状の絶縁スペ
ーサ3をそれぞれ挟んで互いに固着した構成とされてい
る。なお、絶縁スペーサ3としたのは、圧電素子2間の
短絡防止のためである。
【0020】バイモルフ構造体からなる圧電素子2は、
厚みが均等に形成された平板状をなすチタンからなる基
材(チタン基材、以下、単に基材ということがある)4
の両側面に対して厚さ数十μmのPZT薄膜5が形成さ
れ、その表裏両面のPZT薄膜5上にはアルミニウムか
らなる厚さ数μmの電極膜6が上下方向に沿って並ぶよ
うに一対形成されている。基材4の厚みは20μmとさ
れている。前記チタン基材4の両側面は本発明における
第1の側面、及び第1の側面とは180度反対側に位置
する第2の側面に相当する。又、電極膜6は本発明の電
極に相当する。
厚みが均等に形成された平板状をなすチタンからなる基
材(チタン基材、以下、単に基材ということがある)4
の両側面に対して厚さ数十μmのPZT薄膜5が形成さ
れ、その表裏両面のPZT薄膜5上にはアルミニウムか
らなる厚さ数μmの電極膜6が上下方向に沿って並ぶよ
うに一対形成されている。基材4の厚みは20μmとさ
れている。前記チタン基材4の両側面は本発明における
第1の側面、及び第1の側面とは180度反対側に位置
する第2の側面に相当する。又、電極膜6は本発明の電
極に相当する。
【0021】図1(a),(b)には、上記のように構
成されたPZT薄膜バイモルフ形の平行平板構造体1を
アクチュエータとして使用する場合の電気回路を示して
いる。
成されたPZT薄膜バイモルフ形の平行平板構造体1を
アクチュエータとして使用する場合の電気回路を示して
いる。
【0022】図1(a)は、PZT薄膜5の分極が方向
αの場合であり、直流電源B1,B2をそれぞれ直列に
接続して、直流電源B1のプラス端子を、図1(a)に
おいて各圧電素子2下部における左側の側面の電極膜6
に接続し、直流電源B2のマイナス端子を各圧電素子2
下部における右側の側面の電極膜6に接続し、直流電源
B1,B2の中間接続点をチタン基材4に接続してい
る。これは、チタン基材4の両面側に形成されるPZT
薄膜5のそれぞれに、均一に電界を印加するためであ
り、PZT薄膜5の膜厚が均一であれば、直流電源B
1,B2の中間接続点を基材4に接続する必要はない。
なお、直流電源B1,B2は同電圧を各電極膜6を介し
てPZT薄膜5に印加するようになっている。
αの場合であり、直流電源B1,B2をそれぞれ直列に
接続して、直流電源B1のプラス端子を、図1(a)に
おいて各圧電素子2下部における左側の側面の電極膜6
に接続し、直流電源B2のマイナス端子を各圧電素子2
下部における右側の側面の電極膜6に接続し、直流電源
B1,B2の中間接続点をチタン基材4に接続してい
る。これは、チタン基材4の両面側に形成されるPZT
薄膜5のそれぞれに、均一に電界を印加するためであ
り、PZT薄膜5の膜厚が均一であれば、直流電源B
1,B2の中間接続点を基材4に接続する必要はない。
なお、直流電源B1,B2は同電圧を各電極膜6を介し
てPZT薄膜5に印加するようになっている。
【0023】又、直流電源B3,B4をそれぞれ直列に
接続して、直流電源B4のプラス端子を、図1(a)に
おいて各圧電素子2上部における右側の側面の電極膜6
に接続し、直流電源B3のマイナス端子を各圧電素子2
上部における左側の側面の電極膜6に接続し、直流電源
B3,B4の中間接続点を基材4に接続している。これ
は、チタン基材4の両面側に形成されるPZT薄膜5の
それぞれに、均一に電界を印加するためであり、PZT
薄膜5の膜厚が均一であれば、直流電源B3,B4の中
間接続点を基材4に接続する必要はない。なお、前記直
流電源B1〜B4の印加電圧は同一とされている。
接続して、直流電源B4のプラス端子を、図1(a)に
おいて各圧電素子2上部における右側の側面の電極膜6
に接続し、直流電源B3のマイナス端子を各圧電素子2
上部における左側の側面の電極膜6に接続し、直流電源
B3,B4の中間接続点を基材4に接続している。これ
は、チタン基材4の両面側に形成されるPZT薄膜5の
それぞれに、均一に電界を印加するためであり、PZT
薄膜5の膜厚が均一であれば、直流電源B3,B4の中
間接続点を基材4に接続する必要はない。なお、前記直
流電源B1〜B4の印加電圧は同一とされている。
【0024】そして、上記の平行平板構造体1の下端を
図示しない台等に固定した状態で、図1(a)に示すよ
うに一対の圧電素子2の同一方向側に位置する下部側面
に対し電極膜6を介して同極性の電圧を印加し、又、上
部側面に対し電極膜6を介して、逆極性の電圧を印加す
ると、分極方向にプラス電位が印加された側のPZT薄
膜は引き伸ばされ、分極方向にマイナス電位が印加され
た側のPZT薄膜5は圧縮される。
図示しない台等に固定した状態で、図1(a)に示すよ
うに一対の圧電素子2の同一方向側に位置する下部側面
に対し電極膜6を介して同極性の電圧を印加し、又、上
部側面に対し電極膜6を介して、逆極性の電圧を印加す
ると、分極方向にプラス電位が印加された側のPZT薄
膜は引き伸ばされ、分極方向にマイナス電位が印加され
た側のPZT薄膜5は圧縮される。
【0025】この結果、図2(a)に示すように平行平
板構造体1は、下部が左側に湾曲し、上部が右側に湾曲
して、変位する。又、図1(a)とは逆極性の電圧を各
側面の上下両部の電極膜6を介して印加した場合には、
前記とは反対側に位置する分極方向にプラス電位に印加
された側のPZT薄膜5(図1(a)において、各圧電
素子2の上部右側並びに下部左側)は引き伸ばされ、分
極方向にマイナス電位が印加された側のPZT薄膜5
(図1(a)において、各圧電素子2の上部左側並びに
下部右側)は圧縮される。
板構造体1は、下部が左側に湾曲し、上部が右側に湾曲
して、変位する。又、図1(a)とは逆極性の電圧を各
側面の上下両部の電極膜6を介して印加した場合には、
前記とは反対側に位置する分極方向にプラス電位に印加
された側のPZT薄膜5(図1(a)において、各圧電
素子2の上部右側並びに下部左側)は引き伸ばされ、分
極方向にマイナス電位が印加された側のPZT薄膜5
(図1(a)において、各圧電素子2の上部左側並びに
下部右側)は圧縮される。
【0026】この結果、図2(b)に示すように平行平
板構造体1は、下部が右側に湾曲し、上部が左側に湾曲
して、変位する。なお、図2(a),(b)において
は、電極膜6は省略して図示しており、PZT薄膜5に
おいて、圧縮している部分5aを左下がりのハッチング
にて示し、引き伸ばされている部分5bを右下がりのハ
ッチングにて示している。
板構造体1は、下部が右側に湾曲し、上部が左側に湾曲
して、変位する。なお、図2(a),(b)において
は、電極膜6は省略して図示しており、PZT薄膜5に
おいて、圧縮している部分5aを左下がりのハッチング
にて示し、引き伸ばされている部分5bを右下がりのハ
ッチングにて示している。
【0027】図1(b)は、PZT薄膜5の分極が方向
βの場合であり、直流電源B5のマイナス端子を基材4
に接続し、プラス端子を各圧電素子2の左右の下部側面
の電極膜6に接続している。図1(b)に示すように一
対の圧電素子2の両側面に位置する電極膜6を介してプ
ラス電位を印加すると下部右側のPZT薄膜5は引き伸
ばされ、左側のPZT薄膜5は圧縮される(図1(b)
においては、左側へ変形する)。そして、図2(a)に
示すように平行平板構造体1は、下部が左側に湾曲し、
上部が右側に湾曲して、変位する。
βの場合であり、直流電源B5のマイナス端子を基材4
に接続し、プラス端子を各圧電素子2の左右の下部側面
の電極膜6に接続している。図1(b)に示すように一
対の圧電素子2の両側面に位置する電極膜6を介してプ
ラス電位を印加すると下部右側のPZT薄膜5は引き伸
ばされ、左側のPZT薄膜5は圧縮される(図1(b)
においては、左側へ変形する)。そして、図2(a)に
示すように平行平板構造体1は、下部が左側に湾曲し、
上部が右側に湾曲して、変位する。
【0028】又、図1(b)とは、逆極性の電圧を印加
した場合には、前記と反対方向の右側に変形する。この
結果、図2(b)に示すように平行平板構造体1は、下
部が右側に湾曲し、上部が左側に湾曲して、変位する。
した場合には、前記と反対方向の右側に変形する。この
結果、図2(b)に示すように平行平板構造体1は、下
部が右側に湾曲し、上部が左側に湾曲して、変位する。
【0029】このPZT薄膜5の分極が方向βの場合
は、図1(a)の1/2の電圧で、同じ量の変位が得ら
れる。次に、上記平行平板構造体1の製造方法を図3乃
至図10を参照して説明する。
は、図1(a)の1/2の電圧で、同じ量の変位が得ら
れる。次に、上記平行平板構造体1の製造方法を図3乃
至図10を参照して説明する。
【0030】図4は、基材4Aを示している。チタンか
らなる基材4Aは、厚みが均等に形成された平板状をな
しており、前記基材4の複数個分の面積を有している。
まず、この基材4Aを酸等で、クリーニングし、予め、
一端側(図1において、基端となる側)を合成樹脂、又
は、スパッタリングや真空蒸着等の物理的成膜法にてチ
タン以外の金属等にて、被覆してマスクMを形成し、次
に水熱法で、PZT薄膜5を両面に形成する。
らなる基材4Aは、厚みが均等に形成された平板状をな
しており、前記基材4の複数個分の面積を有している。
まず、この基材4Aを酸等で、クリーニングし、予め、
一端側(図1において、基端となる側)を合成樹脂、又
は、スパッタリングや真空蒸着等の物理的成膜法にてチ
タン以外の金属等にて、被覆してマスクMを形成し、次
に水熱法で、PZT薄膜5を両面に形成する。
【0031】この水熱法は2つの段階からなっている。 (第1段階)基材4A、原材料としてのオキシ塩化ジル
コニウム(ZrOC2 ・8H2 O)と硝酸塩(Pb(N
O3 )2 )の水溶液、及びKOH(8N)溶液をテフロ
ン瓶(図示しない)に投入し、攪拌する。なお、PZT
薄膜5の圧電性は、PZT薄膜5におけるチタン酸鉛,
ジルコン酸鉛の構成組成比によって決まるため、後にで
きあがるPZT薄膜5の圧電性に応じてオキシ塩化ジル
コニウムと硝酸塩とのモル比を決めればよい。
コニウム(ZrOC2 ・8H2 O)と硝酸塩(Pb(N
O3 )2 )の水溶液、及びKOH(8N)溶液をテフロ
ン瓶(図示しない)に投入し、攪拌する。なお、PZT
薄膜5の圧電性は、PZT薄膜5におけるチタン酸鉛,
ジルコン酸鉛の構成組成比によって決まるため、後にで
きあがるPZT薄膜5の圧電性に応じてオキシ塩化ジル
コニウムと硝酸塩とのモル比を決めればよい。
【0032】次に、図示しない圧力容器内において、基
材4Aを上方に配置し、オキシ塩化ジルコニウム(Zr
OC2 ・8H2 O)、硝酸塩(Pb(NO3 )2 )の水
溶液、及びKOH(8N)溶液を攪拌しながら、加熱・
加圧する。なお、ここでいう加圧とは、加熱された溶液
の蒸気圧よる加圧のことである。温度条件は150℃
で、48時間この状態を継続する。なお、攪拌は、30
0rpmで行う。
材4Aを上方に配置し、オキシ塩化ジルコニウム(Zr
OC2 ・8H2 O)、硝酸塩(Pb(NO3 )2 )の水
溶液、及びKOH(8N)溶液を攪拌しながら、加熱・
加圧する。なお、ここでいう加圧とは、加熱された溶液
の蒸気圧よる加圧のことである。温度条件は150℃
で、48時間この状態を継続する。なお、攪拌は、30
0rpmで行う。
【0033】この結果、過飽和状態で、基材4Aの平板
状の両側面にPZTの種子結晶(核)が形成される。上
記時間の経過後、基材4Aを圧力容器から取り出し、水
洗・乾燥する。
状の両側面にPZTの種子結晶(核)が形成される。上
記時間の経過後、基材4Aを圧力容器から取り出し、水
洗・乾燥する。
【0034】(第2段階)次に、種子結晶が核付けされ
た基材4A、原材料としてのオキシ塩化ジルコニウム
(ZrOC2 ・8H2 O)と硝酸塩(Pb(N
O3 )2 )の水溶液、四塩化チタン(TiCl4 )及び
KOH(4N)溶液をテフロン瓶(図示しない)に投入
し、攪拌する。なお、PZT薄膜5の圧電性は、PZT
におけるチタン酸鉛,ジルコン酸鉛の構成組成比によっ
て決まるため、後にできあがるPZTの圧電性に応じて
オキシ塩化ジルコニウムと硝酸塩とのモル比を決めれば
よい。
た基材4A、原材料としてのオキシ塩化ジルコニウム
(ZrOC2 ・8H2 O)と硝酸塩(Pb(N
O3 )2 )の水溶液、四塩化チタン(TiCl4 )及び
KOH(4N)溶液をテフロン瓶(図示しない)に投入
し、攪拌する。なお、PZT薄膜5の圧電性は、PZT
におけるチタン酸鉛,ジルコン酸鉛の構成組成比によっ
て決まるため、後にできあがるPZTの圧電性に応じて
オキシ塩化ジルコニウムと硝酸塩とのモル比を決めれば
よい。
【0035】次に、図示しない圧力容器内において、基
材4Aを上方に配置し、オキシ塩化ジルコニウム(Zr
OC2 ・8H2 O)、硝酸塩(Pb(NO3 )2 )の水
溶液、四塩化チタン(TiCl4 )及びKOH(4N)
溶液を攪拌しながら、加熱・加圧する。なお、ここでい
う加圧とは、加熱された溶液の蒸気圧よる加圧のことで
ある。温度条件は120℃で、48時間この状態を継続
する。なお、攪拌は、300rpmで行う。
材4Aを上方に配置し、オキシ塩化ジルコニウム(Zr
OC2 ・8H2 O)、硝酸塩(Pb(NO3 )2 )の水
溶液、四塩化チタン(TiCl4 )及びKOH(4N)
溶液を攪拌しながら、加熱・加圧する。なお、ここでい
う加圧とは、加熱された溶液の蒸気圧よる加圧のことで
ある。温度条件は120℃で、48時間この状態を継続
する。なお、攪拌は、300rpmで行う。
【0036】この結果、過飽和状態で、基材4Aの平板
状の両側面にPZT薄膜5が所定厚み(この実施形態で
は数十μm)で形成される(図4参照)。上記時間の経
過後、基材4Aを圧力容器から取り出し、水洗・乾燥す
る。この後、マスクMを除去する。
状の両側面にPZT薄膜5が所定厚み(この実施形態で
は数十μm)で形成される(図4参照)。上記時間の経
過後、基材4Aを圧力容器から取り出し、水洗・乾燥す
る。この後、マスクMを除去する。
【0037】次に、図5に示すように、PZT薄膜5を
含む、基材4Aの両側面に電極膜6Aをスパッタリング
や真空蒸着等の物理的成膜法により形成する。そして、
基材4Aに対して複数個分(この実施形態では3個分)
の圧電素子2が取れるようにその表裏両面をパターニン
グし、不必要な電極膜6Aの部分を除去する(図6及び
図7参照)。この結果、この実施形態では、図7に示す
ようにチタン基材4Aの両側面のPZT薄膜5上に複数
個の電極膜6がそれぞれA矢印方向に沿って3列並ぶよ
うに設けられる。そして、各列は、2個の同一面積を有
する同一形状の電極膜6から構成される。図7におい
て、チタン基板4の両側面に設けられた各電極膜6は、
それぞれチタン基板4Aを挟んで相対するように配置さ
れる。
含む、基材4Aの両側面に電極膜6Aをスパッタリング
や真空蒸着等の物理的成膜法により形成する。そして、
基材4Aに対して複数個分(この実施形態では3個分)
の圧電素子2が取れるようにその表裏両面をパターニン
グし、不必要な電極膜6Aの部分を除去する(図6及び
図7参照)。この結果、この実施形態では、図7に示す
ようにチタン基材4Aの両側面のPZT薄膜5上に複数
個の電極膜6がそれぞれA矢印方向に沿って3列並ぶよ
うに設けられる。そして、各列は、2個の同一面積を有
する同一形状の電極膜6から構成される。図7におい
て、チタン基板4の両側面に設けられた各電極膜6は、
それぞれチタン基板4Aを挟んで相対するように配置さ
れる。
【0038】又、図8に示すようにチタン基材4Aの不
要な部分を除去する。続いて、図8に示すようにPZT
薄膜5、電極膜6を備えた一対の基材4Aを互いに相対
させ、その両端間において、合成樹脂からなる角柱状の
絶縁スペーサ3を介して互いに固着し、平行平板構造体
1Aとする。この平行平板構造体1Aは、単一の平行平
板構造体が互いに連結された構成となっている。なお、
絶縁スペーサ3は、硬化時に剛性の高い接着剤にて基材
4Aを固着する(図9参照)。
要な部分を除去する。続いて、図8に示すようにPZT
薄膜5、電極膜6を備えた一対の基材4Aを互いに相対
させ、その両端間において、合成樹脂からなる角柱状の
絶縁スペーサ3を介して互いに固着し、平行平板構造体
1Aとする。この平行平板構造体1Aは、単一の平行平
板構造体が互いに連結された構成となっている。なお、
絶縁スペーサ3は、硬化時に剛性の高い接着剤にて基材
4Aを固着する(図9参照)。
【0039】次に、図9の平行平板構造体1Aにおい
て、電極膜6の列間に位置する点線箇所にて切断し、図
10に示すように単一の平行平板構造体1に分離する。
なお、この切断は、放電加工、或いはレーザカットにて
行う。
て、電極膜6の列間に位置する点線箇所にて切断し、図
10に示すように単一の平行平板構造体1に分離する。
なお、この切断は、放電加工、或いはレーザカットにて
行う。
【0040】さて、本実施形態によると、次のような作
用効果を奏する。 (1)上記したように、この実施形態では、一対の圧電
素子2の同一方向側に位置する下部側面に対し電極膜6
を介して同極性の電圧を印加し、又、上部側面に対し電
極膜6を介して、逆極性の電圧を印加すると、平行平板
構造体1は図2(a)、又は図2(b)に示すように変
位する。この変位モードを以下、平行平板作動モードと
いう。
用効果を奏する。 (1)上記したように、この実施形態では、一対の圧電
素子2の同一方向側に位置する下部側面に対し電極膜6
を介して同極性の電圧を印加し、又、上部側面に対し電
極膜6を介して、逆極性の電圧を印加すると、平行平板
構造体1は図2(a)、又は図2(b)に示すように変
位する。この変位モードを以下、平行平板作動モードと
いう。
【0041】図11は、比較例を示している。本実施形
態と異なり、比較例の平行平板構造体21は、チタン基
材1の各側面において、電極膜26が1つの電極膜とし
て構成されているところが、異なっている。なお、本実
施形態と同一構成については、同一符号を付す。そし
て、この比較例の平行平板構造体21に対しては、図1
1に示すように、直流電源B1,B2をそれぞれ直列に
接続して、直流電源B1のプラス端子を、図11におい
て各圧電素子2における左側の側面の電極膜26に接続
し、直流電源B2のマイナス端子を各圧電素子2におけ
る右側の側面の電極膜6に接続し、直流電源B1,B2
の中間接続点をチタン基材4に接続している。なお、こ
の比較例では、PZT薄膜5の分極は、図1(a)と同
様とする。
態と異なり、比較例の平行平板構造体21は、チタン基
材1の各側面において、電極膜26が1つの電極膜とし
て構成されているところが、異なっている。なお、本実
施形態と同一構成については、同一符号を付す。そし
て、この比較例の平行平板構造体21に対しては、図1
1に示すように、直流電源B1,B2をそれぞれ直列に
接続して、直流電源B1のプラス端子を、図11におい
て各圧電素子2における左側の側面の電極膜26に接続
し、直流電源B2のマイナス端子を各圧電素子2におけ
る右側の側面の電極膜6に接続し、直流電源B1,B2
の中間接続点をチタン基材4に接続している。なお、こ
の比較例では、PZT薄膜5の分極は、図1(a)と同
様とする。
【0042】そして、上記の平行平板構造体21の下端
を図示しない台等に固定した状態で、図11に示すよう
に一対の圧電素子2の同一方向側に位置する側面に対し
電極膜26を介して同極性の電圧を印加すると、分極方
向にプラス電位が印加された側のPZT薄膜は引き伸ば
され、分極方向にマイナス電位が印加された側のPZT
薄膜5は圧縮される。(図11においては、左方へ変位
する)。
を図示しない台等に固定した状態で、図11に示すよう
に一対の圧電素子2の同一方向側に位置する側面に対し
電極膜26を介して同極性の電圧を印加すると、分極方
向にプラス電位が印加された側のPZT薄膜は引き伸ば
され、分極方向にマイナス電位が印加された側のPZT
薄膜5は圧縮される。(図11においては、左方へ変位
する)。
【0043】又、図11とは逆極性の電圧を各側面の電
極膜6を介して印加した場合には、前記とは反対側に位
置するプラス電位側に印加された側面(図11におい
て、各圧電素子2の右側面)のPZT薄膜5は圧縮さ
れ、マイナス電位に印加された側面(図11において、
各圧電素子2の左側面)のPZT薄膜5は引き伸ばされ
る(図11においては、右方へ変位する)。
極膜6を介して印加した場合には、前記とは反対側に位
置するプラス電位側に印加された側面(図11におい
て、各圧電素子2の右側面)のPZT薄膜5は圧縮さ
れ、マイナス電位に印加された側面(図11において、
各圧電素子2の左側面)のPZT薄膜5は引き伸ばされ
る(図11においては、右方へ変位する)。
【0044】図12は、比較例の電極膜26等を省略し
て示した模式図である。同図において、平行平板構造体
21は、全体が右側に湾曲した状態を示しており、PZ
T薄膜5の圧縮している部分5を左下がりのハッチング
にて示し、引き伸ばされている部分を右下がりのハッチ
ングにて示している。
て示した模式図である。同図において、平行平板構造体
21は、全体が右側に湾曲した状態を示しており、PZ
T薄膜5の圧縮している部分5を左下がりのハッチング
にて示し、引き伸ばされている部分を右下がりのハッチ
ングにて示している。
【0045】本実施形態の平行平板構造体1と、比較例
の平行平板構造体21とは、同電位を電極膜6,26
に、印加した場合、その変位量が異なる理由を図13及
び図14を参照して説明する。
の平行平板構造体21とは、同電位を電極膜6,26
に、印加した場合、その変位量が異なる理由を図13及
び図14を参照して説明する。
【0046】図14において、自由端側の絶縁スペーサ
3が無かった時の電圧印加時の変位をaとする。これに
対し、絶縁スペーサ3を取付けると、圧電素子2の変位
が絶縁スペーサ3により妨げられ、その変位はc(c<
a)となる。図13においては、電極が2分割されてい
るため、固定側の圧電素子における変位はa/2とな
り、さらに自由端側の圧電素子は固定側の圧電素子と同
様の変位をするため、その変位はa/2となり、図13
における変位はaとなる。
3が無かった時の電圧印加時の変位をaとする。これに
対し、絶縁スペーサ3を取付けると、圧電素子2の変位
が絶縁スペーサ3により妨げられ、その変位はc(c<
a)となる。図13においては、電極が2分割されてい
るため、固定側の圧電素子における変位はa/2とな
り、さらに自由端側の圧電素子は固定側の圧電素子と同
様の変位をするため、その変位はa/2となり、図13
における変位はaとなる。
【0047】従って、本実施形態の平行平板構造体1の
方が変位量が大きくなる。 (2) 本実施形態では、基材4の両側面に形成された
PZT薄膜5は、数十μmとして薄く形成しているた
め、PZT薄膜バイモルフ構造体としての圧電素子2
を、小型化することができる。このため、PZT薄膜形
の平行平板構造体1としても小型化が可能となる。
方が変位量が大きくなる。 (2) 本実施形態では、基材4の両側面に形成された
PZT薄膜5は、数十μmとして薄く形成しているた
め、PZT薄膜バイモルフ構造体としての圧電素子2
を、小型化することができる。このため、PZT薄膜形
の平行平板構造体1としても小型化が可能となる。
【0048】(3) 本実施形態では、一対のバイモル
フ構造体からなる圧電素子2を互いに相対させて、平行
平板構造としているため、捩じれに対して強くすること
ができる。
フ構造体からなる圧電素子2を互いに相対させて、平行
平板構造としているため、捩じれに対して強くすること
ができる。
【0049】(4) 本実施形態では、水熱法により、
複数個分の基材4の面積を有する基材4Aの両側面にP
ZT薄膜5を形成し、その後、基材4Aの両側面に対し
て、電極膜6を形成した。この結果、一度に複数個の基
材4に対してPZT薄膜5及び電極膜6を形成できるた
め、一度に多くのバイモルフ構造体を形成することがで
きる。
複数個分の基材4の面積を有する基材4Aの両側面にP
ZT薄膜5を形成し、その後、基材4Aの両側面に対し
て、電極膜6を形成した。この結果、一度に複数個の基
材4に対してPZT薄膜5及び電極膜6を形成できるた
め、一度に多くのバイモルフ構造体を形成することがで
きる。
【0050】(5) 本実施形態では、水熱法により、
基材4Aの両側面にPZT薄膜5を形成し、その後、前
記PZT薄膜5を形成した基材4Aの両側面に対して、
それぞれ複数の電極膜6を形成し、互いに隣接した電極
6間を切断すると、複数のPZT薄膜バイモルフ構造体
を得ることができる。そして、これらのバイモルフ構造
体を一対互いに相対させてスペーサを介して固着するこ
とにより、容易に平行平板構造体1を形成することがで
きる。又、PZT薄膜5、電極膜6はそれぞれ一度に形
成するため、平行平板構造体1を均質なものとすること
ができる。
基材4Aの両側面にPZT薄膜5を形成し、その後、前
記PZT薄膜5を形成した基材4Aの両側面に対して、
それぞれ複数の電極膜6を形成し、互いに隣接した電極
6間を切断すると、複数のPZT薄膜バイモルフ構造体
を得ることができる。そして、これらのバイモルフ構造
体を一対互いに相対させてスペーサを介して固着するこ
とにより、容易に平行平板構造体1を形成することがで
きる。又、PZT薄膜5、電極膜6はそれぞれ一度に形
成するため、平行平板構造体1を均質なものとすること
ができる。
【0051】本発明の実施形態は、上記実施形態以外に
次のように変更することも可能である。 (1) 前記実施形態では、絶縁スペーサ3としたが、
圧電素子2間において、短絡の虞がないように形成した
場合には、金属製スペーサのように非絶縁性のスペーサ
にて構成してもよい。この場合、圧電素子2に対する固
着は溶接等により行う。
次のように変更することも可能である。 (1) 前記実施形態では、絶縁スペーサ3としたが、
圧電素子2間において、短絡の虞がないように形成した
場合には、金属製スペーサのように非絶縁性のスペーサ
にて構成してもよい。この場合、圧電素子2に対する固
着は溶接等により行う。
【0052】(2) 前記実施形態では、電極膜6をア
ルミニウムで形成したが、Au(金)にて形成してもよ
く、又、他の金属にて形成してもよい。 (3) 前記実施形態では、電極膜6、PZT薄膜5、
基材4の厚みをそれぞれ所定数値としたが、上記数値に
限定されるものではなく、必要に応じて、上記以外の数
値としてもよい。
ルミニウムで形成したが、Au(金)にて形成してもよ
く、又、他の金属にて形成してもよい。 (3) 前記実施形態では、電極膜6、PZT薄膜5、
基材4の厚みをそれぞれ所定数値としたが、上記数値に
限定されるものではなく、必要に応じて、上記以外の数
値としてもよい。
【0053】(4) 前記実施形態では、3個のバイモ
ルフ構造体を基材4Aから採るようにしたが、この個数
には限定されるものではなく、2個、或いは4個以上の
ものを一度に形成するようにしてもよい。なお、勿論1
個のバイモルフ構造体を製造することも可能である。
ルフ構造体を基材4Aから採るようにしたが、この個数
には限定されるものではなく、2個、或いは4個以上の
ものを一度に形成するようにしてもよい。なお、勿論1
個のバイモルフ構造体を製造することも可能である。
【0054】ここで、特許請求の範囲に記載された技術
的思想のほかに、前述した実施形態によって把握される
技術的思想をその効果とともに以下に挙げる。 (1) 請求項1又請求項2において、PZT薄膜は、
水熱法により形成されていることを特徴とするPZT薄
膜バイモルフ形の平行平板構造体。こうすることによ
り、均質なPZT薄膜を容易に得ることができる。
的思想のほかに、前述した実施形態によって把握される
技術的思想をその効果とともに以下に挙げる。 (1) 請求項1又請求項2において、PZT薄膜は、
水熱法により形成されていることを特徴とするPZT薄
膜バイモルフ形の平行平板構造体。こうすることによ
り、均質なPZT薄膜を容易に得ることができる。
【0055】(2) 請求項3乃至請求項5のいずれか
において、PZT薄膜を形成する工程の前に、予めチタ
ン基材の所定部分には、マスクを施したPZT薄膜バイ
モルフ構造体の製造方法。こうすることにより、マスク
された部分には、PZT薄膜を形成できないようにする
ことができる。
において、PZT薄膜を形成する工程の前に、予めチタ
ン基材の所定部分には、マスクを施したPZT薄膜バイ
モルフ構造体の製造方法。こうすることにより、マスク
された部分には、PZT薄膜を形成できないようにする
ことができる。
【0056】
【発明の効果】以上詳述したように、請求項1又は請求
項2の発明によれば、PZT薄膜を有する圧電素子にて
平行平板構造体に構成し、PZT薄膜上に電極を複数設
けることにより、平行平板構造体をアクチュエータとし
て使用する場合、大きな変位を得ることができる効果を
奏する。又、容易に多数のバイモルフ構造を得ることが
でき、かつ小型化が可能であり、捩じれに強くすること
ができる。
項2の発明によれば、PZT薄膜を有する圧電素子にて
平行平板構造体に構成し、PZT薄膜上に電極を複数設
けることにより、平行平板構造体をアクチュエータとし
て使用する場合、大きな変位を得ることができる効果を
奏する。又、容易に多数のバイモルフ構造を得ることが
でき、かつ小型化が可能であり、捩じれに強くすること
ができる。
【0057】請求項3乃至請求項5の発明によれば、P
ZT薄膜バイモルフ形の平行平板構造体を容易に得るこ
とができる。
ZT薄膜バイモルフ形の平行平板構造体を容易に得るこ
とができる。
【図1】PZT薄膜バイモルフ形の平行平板構造体の斜
視図。
視図。
【図2】実施形態における平行平板構造体の作用を示す
説明図。
説明図。
【図3】基材の断面図。
【図4】PZT薄膜にて被覆した状態の基材の断面図。
【図5】電極膜を形成した基材の断面図。
【図6】電極膜をパターンニングして形成された圧電素
子の断面図。
子の断面図。
【図7】同じく圧電素子の斜視図。
【図8】平行平板構造体の組付け方法を示す分解斜視
図。
図。
【図9】平行平板構造体を組付けた状態の斜視図。
【図10】PZT薄膜バイモルフ形の平行平板構造体の
斜視図。
斜視図。
【図11】比較例のPZT薄膜バイモルフ構造体の斜視
図。
図。
【図12】比較例の作用の説明図。
【図13】平行平板構造体の平行平板作動モード時の説
明図。
明図。
【図14】平行平板構造体の単純湾曲作動モードの説明
図。
図。
1…平行平板構造体、2…圧電素子(バイモルフ構造体
ワ構成する。)、3…絶縁スペーサ(スペーサを較正す
る。)、4,4A…チタン基材、5…PZT薄膜、6…
電極膜(電極を構成する。)。
ワ構成する。)、3…絶縁スペーサ(スペーサを較正す
る。)、4,4A…チタン基材、5…PZT薄膜、6…
電極膜(電極を構成する。)。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 新井 史人 名古屋市千種区青柳町6丁目5番地の1 メイツ千種青柳501 (72)発明者 糸魚川 貢一 愛知県丹羽郡大口町大字豊田字野田1番地 株式会社東海理化電機製作所内 (72)発明者 岩田 仁 愛知県丹羽郡大口町大字豊田字野田1番地 株式会社東海理化電機製作所内
Claims (5)
- 【請求項1】 チタン基材の第1の側面と、同第1の側
面とは180度反対側に位置する第2の側面とにPZT
薄膜が形成され、前記各側面のPZT薄膜上に複数個の
電極がそれぞれ同方向に沿って並ぶように設けられた一
対のPZT薄膜バイモルフ構造体が互いにスペーサを介
して、平行に連結されていることを特徴とするPZT薄
膜バイモルフ形の平行平板構造体。 - 【請求項2】 前記各側面に設けられた電極の数は2個
である請求項1に記載のPZT薄膜バイモルフ形の平行
平板構造体。 - 【請求項3】 水熱法により、チタン基材の第1の側面
と、第1の側面とは180度反対側に位置する第2の側
面とにPZT薄膜を形成する工程と、 前記各側面上のPZT薄膜上に対して、それぞれ複数の
電極を同方向に並ぶように形成し、PZT薄膜バイモル
フ構造体を得る工程と、 前記PZT薄膜バイモルフ構造体を一対互いに相対さ
せ、両者をスペーサを介して、固定して平行平板構造体
を得る工程を含むことを特徴とするPZT薄膜バイモル
フ形の平行平板構造体の製造方法。 - 【請求項4】 請求項3において、前記PZT薄膜バイ
モルフ構造体を得る工程は、前記チタン基材の各側面上
のPZT薄膜に対して同方向に向かう電極の列を複数形
成した上で、各列間を切断して複数のPZT薄膜バイモ
ルフ構造体を得る工程を含むことを特徴とするPZT薄
膜バイモルフ形の平行平板構造体の製造方法。 - 【請求項5】 前記水熱法は、 硝酸鉛溶液、オキシ塩化ジルコニウムを鉱化剤とともに
攪拌し、加圧及び加熱して、チタン基材の第1及び第2
の側面上に種子結晶を得る工程と、 前記種子結晶を得た基材に対して、硝酸鉛溶液、オキシ
塩化ジルコニウム、四塩化チタンの溶液を鉱化剤ととも
に攪拌し、加熱及び加圧して、チタン基材の第1の側面
と、第1の側面とは180度反対側に位置する第2の側
面のそれぞれに対してPZTの結晶成長を行い、チタン
基材の第1及び第2の側面上にPZT薄膜を形成する工
程とを含むことを特徴とする請求項3又は請求項4に記
載のPZT薄膜バイモルフ形の平行平板構造体の製造方
法。
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US09/380,014 US6262516B1 (en) | 1997-07-04 | 1998-07-01 | Parallel plate structure provided with PZT thin-film bimorph and method of fabrication thereof |
EP98929811A EP1020937A4 (en) | 1997-07-04 | 1998-07-02 | PARALLEL PLANAR STRUCTURE WITH DIMENPHIC THIN-FILM ELEMENTS OF PZT AND METHOD FOR THE PRODUCTION THEREOF |
PCT/JP1998/002991 WO1999001901A1 (fr) | 1997-07-04 | 1998-07-02 | Structure plan parallele avec elements dimorphes a couche mince de pzt et son procede de fabrication |
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---|---|---|---|
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WO (1) | WO1999001901A1 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2013088866A1 (ja) * | 2011-12-13 | 2013-06-20 | 株式会社村田製作所 | 積層型アクチュエータ |
Families Citing this family (51)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6376971B1 (en) * | 1997-02-07 | 2002-04-23 | Sri International | Electroactive polymer electrodes |
US6545384B1 (en) * | 1997-02-07 | 2003-04-08 | Sri International | Electroactive polymer devices |
JPH1126834A (ja) | 1997-07-04 | 1999-01-29 | Toshio Fukuda | Pzt薄膜バイモルフ形の平行平板構造体、及びその製造方法 |
US6715192B2 (en) | 1998-12-28 | 2004-04-06 | Ngk Insulators, Ltd. | Method for manufacturing a piezoelectric/electrostrictive device |
US6329740B1 (en) | 1998-12-28 | 2001-12-11 | Ngk Insulators, Ltd. | Piezoelectric/electrostrictive device and production method thereof |
US6335586B1 (en) | 1998-12-28 | 2002-01-01 | Ngk Insulators, Ltd. | Piezoelectric/electrostrictive device and production method thereof |
JP3845543B2 (ja) * | 1999-10-01 | 2006-11-15 | 日本碍子株式会社 | 圧電/電歪デバイス及びその製造方法 |
EP1089353B1 (en) * | 1999-10-01 | 2006-11-08 | Ngk Insulators, Ltd. | Piezoelectric/electrostrictive device |
EP1089355B1 (en) * | 1999-10-01 | 2006-11-22 | Ngk Insulators, Ltd. | Piezoelectric/electrostrictive device |
EP1089359B1 (en) * | 1999-10-01 | 2007-05-16 | Ngk Insulators, Ltd. | Piezoelectric/electrostrictive device and method for producing the same |
JP4058223B2 (ja) * | 1999-10-01 | 2008-03-05 | 日本碍子株式会社 | 圧電/電歪デバイス及びその製造方法 |
US6570297B1 (en) * | 1999-10-01 | 2003-05-27 | Ngk Insulators, Ltd. | Piezoelectric/electrostrictive device |
US6498419B1 (en) * | 1999-10-01 | 2002-12-24 | Ngk Insulators, Ltd. | Piezoelectric/electrostrictive device having mutually opposing end surfaces and method of manufacturing the same |
US6915547B2 (en) | 1999-10-01 | 2005-07-12 | Ngk Insulators, Ltd. | Piezoelectric/electrostrictive device and method of manufacturing same |
US7164221B1 (en) * | 1999-10-01 | 2007-01-16 | Ngk Insulators, Ltd. | Piezoelectric/electrostrictive device and method of manufacturing same |
JP3466548B2 (ja) * | 1999-10-01 | 2003-11-10 | 日本碍子株式会社 | 圧電/電歪デバイス |
US6351056B1 (en) * | 1999-10-01 | 2002-02-26 | Ngk Insulators, Ltd. | Piezoelectric/electrostrictive device having mutually opposing thin plate portions |
EP1139450A4 (en) | 1999-10-01 | 2007-04-04 | Ngk Insulators Ltd | PIEZOELECTRIC / ELECTROSTRICTIVE DEVICE |
JP3965515B2 (ja) * | 1999-10-01 | 2007-08-29 | 日本碍子株式会社 | 圧電/電歪デバイス及びその製造方法 |
WO2001026167A1 (fr) * | 1999-10-01 | 2001-04-12 | Ngk Insulators, Ltd. | Dispositif piezo-electrique / electrostrictif et procede de fabrication correspondant |
JP3845544B2 (ja) | 1999-10-01 | 2006-11-15 | 日本碍子株式会社 | 圧電/電歪デバイス及びその製造方法 |
JP3436727B2 (ja) | 1999-10-01 | 2003-08-18 | 日本碍子株式会社 | 圧電/電歪デバイス及びその製造方法 |
US6404109B1 (en) | 1999-10-01 | 2002-06-11 | Ngk Insulators, Ltd. | Piezoelectric/electrostrictive device having increased strength |
US6455981B1 (en) * | 1999-10-01 | 2002-09-24 | Ngk Insulators, Ltd. | Piezoelectric/electrostrictive device and method of manufacturing same |
US6525448B1 (en) | 1999-10-01 | 2003-02-25 | Ngk Insulators Ltd | Piezoelectric/electrostrictive device |
JP3466550B2 (ja) * | 1999-10-01 | 2003-11-10 | 日本碍子株式会社 | 圧電/電歪デバイス |
JP3466551B2 (ja) | 1999-10-01 | 2003-11-10 | 日本碍子株式会社 | 圧電/電歪デバイス |
JP3436735B2 (ja) * | 1999-10-01 | 2003-08-18 | 日本碍子株式会社 | 圧電/電歪デバイス及びその製造方法 |
US6452309B1 (en) * | 1999-10-01 | 2002-09-17 | Ngk Insulators, Ltd. | Piezoelectric/electrostrictive device |
MY128744A (en) | 2000-02-01 | 2007-02-28 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Head support machanism and thin film piezolectric actuator |
WO2001097296A1 (fr) * | 2000-06-16 | 2001-12-20 | Ngk Insulators, Ltd. | Dispositif piezoelectrique/electrostrictif et son procede de fabrication |
JP4007767B2 (ja) * | 2001-01-18 | 2007-11-14 | 日本碍子株式会社 | 圧電/電歪デバイスおよびその製造方法 |
US7345406B2 (en) | 2001-01-18 | 2008-03-18 | Ngk Insulators, Ltd. | Piezoelectric/electrostrictive device |
JP4033643B2 (ja) * | 2001-06-18 | 2008-01-16 | 日本碍子株式会社 | 圧電/電歪デバイスおよびその製造方法 |
WO2003105131A1 (en) * | 2002-06-05 | 2003-12-18 | Sae Magnetics (H.K.) Ltd. | A system and method for preventing operational and manufacturing imperfections in piezoelectric micro-actuators |
US7089635B2 (en) | 2003-02-25 | 2006-08-15 | Palo Alto Research Center, Incorporated | Methods to make piezoelectric ceramic thick film arrays and elements |
US6964201B2 (en) * | 2003-02-25 | 2005-11-15 | Palo Alto Research Center Incorporated | Large dimension, flexible piezoelectric ceramic tapes |
US6895645B2 (en) * | 2003-02-25 | 2005-05-24 | Palo Alto Research Center Incorporated | Methods to make bimorph MEMS devices |
US7239064B1 (en) | 2004-10-15 | 2007-07-03 | Morgan Research Corporation | Resettable latching MEMS temperature sensor apparatus and method |
WO2006046672A1 (ja) * | 2004-10-26 | 2006-05-04 | Koichi Hirama | 複合共振回路及び同回路を使用した発振回路 |
KR100747459B1 (ko) * | 2005-10-21 | 2007-08-09 | 엘지전자 주식회사 | 모듈의 충돌 방지가 보장되는 멀티태스킹 방법 및 이동단말기 |
JP2007158276A (ja) * | 2005-12-08 | 2007-06-21 | Ngk Insulators Ltd | 圧電/電歪デバイス及び圧電/電歪デバイスの駆動方法 |
EP2174360A4 (en) | 2007-06-29 | 2013-12-11 | Artificial Muscle Inc | CONVERTER WITH ELECTROACTIVE POLYMER FOR SENSOR REVIEW APPLICATIONS |
EP2239793A1 (de) | 2009-04-11 | 2010-10-13 | Bayer MaterialScience AG | Elektrisch schaltbarer Polymerfilmaufbau und dessen Verwendung |
KR20140008416A (ko) | 2011-03-01 | 2014-01-21 | 바이엘 인텔렉쳐 프로퍼티 게엠베하 | 변형가능한 중합체 장치 및 필름을 제조하기 위한 자동화 제조 방법 |
US9195058B2 (en) | 2011-03-22 | 2015-11-24 | Parker-Hannifin Corporation | Electroactive polymer actuator lenticular system |
WO2013142552A1 (en) | 2012-03-21 | 2013-09-26 | Bayer Materialscience Ag | Roll-to-roll manufacturing processes for producing self-healing electroactive polymer devices |
WO2013192143A1 (en) | 2012-06-18 | 2013-12-27 | Bayer Intellectual Property Gmbh | Stretch frame for stretching process |
US9590193B2 (en) | 2012-10-24 | 2017-03-07 | Parker-Hannifin Corporation | Polymer diode |
WO2017139891A1 (en) * | 2016-02-17 | 2017-08-24 | Dalhousie University | Piezoelectric inertial actuator |
DE102016216215A1 (de) * | 2016-08-29 | 2018-03-01 | Robert Bosch Gmbh | Mikromechanisches Bauteil und Herstellungsverfahren für ein mikromechanisches Bauteil |
Family Cites Families (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59111060A (ja) | 1982-12-08 | 1984-06-27 | インペリアル・ケミカル・インダストリ−ズ・ピ−エルシ− | 沈降力場流動分別装置 |
JPS59229733A (ja) | 1983-06-10 | 1984-12-24 | Sharp Corp | 回転磁気ヘツド装置 |
JPS62146426A (ja) | 1985-12-20 | 1987-06-30 | Asahi Optical Co Ltd | 磁気ヘツド変位装置 |
JPS6364640A (ja) * | 1986-09-06 | 1988-03-23 | Olympus Optical Co Ltd | アクチユエ−タ |
US5166571A (en) * | 1987-08-28 | 1992-11-24 | Nec Home Electronics, Ltd. | Vibration gyro having an H-shaped vibrator |
JP2942870B2 (ja) | 1990-07-06 | 1999-08-30 | 三菱レイヨン株式会社 | ゴムアスファルト系防水用組成物 |
JP3106639B2 (ja) | 1991-10-25 | 2000-11-06 | 宇部興産株式会社 | 圧電素子及びその製造方法 |
EP0591885B1 (en) * | 1992-10-06 | 1998-01-28 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Piezoelectric head actuator |
US5708320A (en) * | 1994-10-28 | 1998-01-13 | Alps Electric Co., Ltd | Vibratory gyroscope |
JPH08293631A (ja) | 1995-04-24 | 1996-11-05 | Tokin Corp | 圧電バイモルフ |
JP3407515B2 (ja) * | 1995-11-22 | 2003-05-19 | 東海ゴム工業株式会社 | 圧電素子の製造方法 |
JPH111387A (ja) * | 1997-06-12 | 1999-01-06 | Toshio Fukuda | Pzt薄膜バイモルフ構造体、pzt薄膜バイモルフ形の平行平板構造体、及びその製造方法 |
JPH1126834A (ja) | 1997-07-04 | 1999-01-29 | Toshio Fukuda | Pzt薄膜バイモルフ形の平行平板構造体、及びその製造方法 |
-
1997
- 1997-07-04 JP JP17959997A patent/JPH1126834A/ja active Pending
-
1998
- 1998-07-01 US US09/380,014 patent/US6262516B1/en not_active Expired - Fee Related
- 1998-07-02 EP EP98929811A patent/EP1020937A4/en not_active Withdrawn
- 1998-07-02 WO PCT/JP1998/002991 patent/WO1999001901A1/ja not_active Application Discontinuation
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2013088866A1 (ja) * | 2011-12-13 | 2013-06-20 | 株式会社村田製作所 | 積層型アクチュエータ |
JP5618013B2 (ja) * | 2011-12-13 | 2014-11-05 | 株式会社村田製作所 | 積層型アクチュエータ |
JPWO2013088866A1 (ja) * | 2011-12-13 | 2015-04-27 | 株式会社村田製作所 | 積層型アクチュエータ |
US9390876B2 (en) | 2011-12-13 | 2016-07-12 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Laminate-type actuator |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP1020937A1 (en) | 2000-07-19 |
EP1020937A4 (en) | 2002-07-17 |
US6262516B1 (en) | 2001-07-17 |
WO1999001901A1 (fr) | 1999-01-14 |
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---|---|---|
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