JPH11242886A - 半導体集積回路 - Google Patents

半導体集積回路

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JPH11242886A
JPH11242886A JP10159115A JP15911598A JPH11242886A JP H11242886 A JPH11242886 A JP H11242886A JP 10159115 A JP10159115 A JP 10159115A JP 15911598 A JP15911598 A JP 15911598A JP H11242886 A JPH11242886 A JP H11242886A
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JP
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transistor
potential
bit line
transistors
mode
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JP10159115A
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English (en)
Inventor
Koji Arai
浩二 新居
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Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/41Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming static cells with positive feedback, i.e. cells not needing refreshing or charge regeneration, e.g. bistable multivibrator or Schmitt trigger
    • G11C11/413Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing, timing or power reduction
    • G11C11/417Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing, timing or power reduction for memory cells of the field-effect type
    • G11C11/419Read-write [R-W] circuits

Abstract

(57)【要約】 【課題】 ビット線の電位を変換するための電位変換回
路内の消費電力を低減できる半導体集積回路を得る。 【解決手段】 本願に係る半導体集積回路は、ビット線
BL1及びビット線BL2と、これらに接続されたプリ
チャージ回路PCC、電位変換回路SA及びメモリセル
MCを備えている。電位変換回路SAは、高電位V2,
グランド電位GND間にはトランジスタT3,T4,T
6の電流経路とトランジスタT3,T5,T9の電流経
路とがある。トランジスタT3,T4,T6,T9のゲ
ート電極はモード信号PCを受け、トランジスタT4,
T5のゲート電極はビット線BL1,BL2に接続され
ている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、CMOSスタティ
ックRAM等の半導体集積回路に関し、特に消費電力の
低減が図れる半導体集積回路に関する。
【0002】
【従来の技術】図9は従来の半導体集積回路を説明する
ための回路図である。図9に示す内容は、特開平5−3
25566号公報に詳しく記載されている。図9におい
て、BL1及びBL2はビット線、MC0はビット線B
L1,BL2に接続されたメモリセル、PCC0はビッ
ト線BL1,BL2に接続され、モード信号PCBに応
じてビット線BL1,BL2に対してプリチャージを行
うためのプリチャージ回路、SA0はビット線BL1,
BL2に接続され、ビット線BL1,BL2の電位を増
幅変換して出力するための電位変換回路(ここではセン
スアンプ)である。
【0003】プリチャージ回路PCC0は、PMOSの
トランジスタT1,T2を含み、V1はプリチャージ用
電位である。
【0004】メモリセルMC0はNMOSのトランジス
タT10,T11を含み、ノードN1,N2の電位はデ
ータを示し、どちらか一方が”H”レベルであり、他方
が”L”レベルである。
【0005】電位変換回路SA0は、PMOSのトラン
ジスタT4,T5、NMOSのトランジスタT6〜T
9,T31,T32を含み、GNDはグランド電位、V
2はグランド電位GNDと比較して高い高電位である。
【0006】モード信号PCとモード信号PCBとは互
いに相補的である。
【0007】図10は図9に示す回路の動作を示すタイ
ミングチャートである。時刻t10では、モード信号P
C、モード信号PCB、ワード線WLの電位、ノードN
1の電位及びノードN2の電位のそれぞれが”H”レベ
ル、”L”レベル、”L”レベル、”L”レベル、”
H”レベルである。時刻t11では、モード信号PCが
立ち下がり、モード信号PCBが立ち上がる。時刻t1
2では、ワード線WLの電位が立ち上がる。時刻t13
では、モード信号PCが立ち上がり、モード信号PCB
が立ち下がり、ワード線WLの電位が立ち下がる。時刻
t11〜t13のようにモード信号PCが立ち下がって
いる期間は読み出しモード、それ以外の期間はプリチャ
ージモードと称される。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】図9に示す回路構成で
は、プリチャージモードを開始する時刻t13の直前で
は、トランジスタT4,T6,T31,T7はそれぞれ
オン,オフ,オフ,オフである。読み出しモードからプ
リチャージモードへ移行する過渡状態では、まず、モー
ド信号PCが立ち上がるためトランジスタT6がオフか
らオンになる。同時に、トランジスタT1がオフからオ
ンになるためビット線BL1はプリチャージされる。ビ
ット線BL1の電位は上昇するが、ビット線BL1の容
量(メモリセルMC0の容量を含む)は特に大きいた
め、ビット線BL1の電位の上昇は緩やかである。
【0009】その後の時刻t14でビット線BL1の電
位がトランジスタT31の閾値電圧になって、トランジ
スタT31がオフからオンになる。その後の時刻t15
でビット線BL1の電位がトランジスタT4の閾値電圧
になって、トランジスタT4がオンからオフになる。し
たがって、時刻t14〜t15ではトランジスタT4,
T6,T31が同時にオンしているため、これらのトラ
ンジスタを介して高電位V2からグランド電位GNDへ
電流が流れる。
【0010】このように、図9に示す回路では、電位変
換回路内に電流が流れる期間がビット線の電位の変化に
依存して長くなるため消費電力が大きい。
【0011】また、電位変換回路に関わる技術には、他
に特開平6−12879号公報に記載のものがある。こ
の技術は2つのセンスアンプを含み、図9に示す電位変
換回路に比べて、素子数が多いためリーク電流等が発生
し易くなり、消費電力が大きい。
【0012】以上のように、従来では、電位変換回路内
の消費電力が大きいという問題点がある。
【0013】本発明は、この問題点を解決するためにな
されたものであり、ビット線の電位を変換するための電
位変換回路内の消費電力を低減できる半導体集積回路を
得ることを目的とする。
【0014】
【課題を解決するための手段】本発明の請求項1に係る
課題解決手段は、少なくとも1本のビット線と、前記ビ
ット線に接続された少なくとも1つのメモリセルと、前
記ビット線に接続され、前記ビット線をプリチャージす
るための少なくとも1つのプリチャージ回路と、前記ビ
ット線に接続され、前記ビット線の電位を変換するため
の電位変換回路とを備え、前記電位変換回路は第1電
位,第2電位間に順次に直列に接続された第1ないし第
3トランジスタを含み、前記電位変換回路の出力は、前
記第2及び第3トランジスタの接続点であり、前記第1
トランジスタは、この制御電極にモード信号を受け、前
記モード信号が所定モードを示すか否かに応じてオフ、
オンし、前記第2トランジスタの制御電極は前記ビット
線に接続され、前記第3トランジスタは、この制御電極
に前記モード信号を受け、前記モード信号が前記所定モ
ードを示すか否かに応じてオン、オフし、前記プリチャ
ージ回路は、前記モード信号を受け、前記モード信号が
前記所定モードであるときだけ前記第2トランジスタが
オフする電位に前記ビット線をプリチャージする。
【0015】本発明の請求項2に係る課題解決手段にお
いて、前記プリチャージ回路は、前記モード信号を受け
る制御電極、プリチャージ用電位を受ける第1電流電
極、前記ビット線に接続された第2電流電極を有する第
4トランジスタを含む。
【0016】本発明の請求項3に係る課題解決手段にお
いて、前記プリチャージ回路は、前記第1電流電極,前
記プリチャージ用電位間に接続されたダイオード接続の
第5トランジスタをさらに含む。
【0017】本発明の請求項4に係る課題解決手段にお
いて、前記ビット線は第1及び第2のビット線を含み、
前記メモリセルは前記第1のビット線に接続された第1
のメモリセルと前記第2のビット線に接続された第2の
メモリセルとを含み、前記第2トランジスタは、前記第
1及び第3トランジスタの間に互いに並列に接続され
た、前記第1のビット線に接続された制御電極を有する
第1ビット線用第2トランジスタと、前記第2のビット
線に接続された制御電極を有する第2ビット線用第2ト
ランジスタとを含み、前記所定モードは、第1の所定モ
ードあるいは第2の所定モードのどちらかであり、前記
プリチャージ回路は、前記第1のビット線に接続された
第1のプリチャージ回路と前記第2のビット線に接続さ
れた第2のプリチャージ回路とを含み、前記第1のプリ
チャージ回路は前記第1の所定モードであるときだけ前
記第1ビット線用第2トランジスタがオフする電位に前
記第1のビット線をプリチャージし、前記第2のプリチ
ャージ回路は前記第2の所定モードであるときだけ前記
第2ビット線用第2トランジスタがオフする電位に前記
第2のビット線をプリチャージする。
【0018】本発明の請求項5に係る課題解決手段にお
いて、前記第1トランジスタは、前記第1電位と前記第
1ビット線用第2トランジスタとの間に接続された第1
ビット線用第1トランジスタと、前記第1電位と前記第
2ビット線用第2トランジスタとの間に接続された第2
ビット線用第1トランジスタとを含み、前記第1ビット
線用第1トランジスタは、前記モード信号が前記第1の
所定モードを示すか否かに応じてオン、オフし、前記第
2ビット線用第1トランジスタは、前記モード信号が前
記第2の所定モードを示すか否かに応じてオン、オフす
る。
【0019】本発明の請求項6に係る課題解決手段にお
いて、前記第3トランジスタは、前記第2トランジスタ
と前記第2電位との間に互いに直列に接続された第1ビ
ット線用第3トランジスタと第2ビット線用第3トラン
ジスタとを含み、前記第1ビット線用第3トランジスタ
は、前記モード信号が前記第1の所定モードを示すか否
かに応じてオン、オフし、前記第2ビット線用第3トラ
ンジスタは、前記モード信号が前記第2の所定モードを
示すか否かに応じてオン、オフする。
【0020】本発明の請求項7に係る課題解決手段にお
いて、前記メモリセルは前記ビット線に出力するデータ
を保持し、前記モード信号が前記所定モードと異なるモ
ードを示すときにおいて、前記データが前記第2トラン
ジスタがオフする電位であるか否かに応じて、前記ビッ
ト線を前記第2トランジスタがオフする電位に選択的に
接続するビット線電位保持回路をさらに備え、前記電位
変換回路は、前記第2及び第3トランジスタの接続点
と、前記第2電位との間に接続され、前記モード信号が
前記所定モードと異なるモードを示すときにおいて、前
記データが前記第2トランジスタがオフする電位である
か否かに応じて、オン、オフする第6トランジスタをさ
らに含む。
【0021】
【発明の実施の形態】実施の形態1.図1は本発明の実
施の形態1における半導体集積回路を説明するための回
路図である。図1において、BL1及びBL2はビット
線、MCはビット線BL1,BL2に接続されたメモリ
セル、PCCはビット線BL1,BL2に接続され、モ
ード信号(プリチャージ信号)PCBに応じてビット線
BL1,BL2に対してプリチャージを行うためのプリ
チャージ回路、SAはSAはビット線BL1,BL2に
接続され、ビット線BL1,BL2の電位を増幅変換し
て出力するための電位変換回路(ここではセンスアン
プ)である。
【0022】プリチャージ回路PCCは、トランジスタ
T1,T2を含む。トランジスタT1は、ソース電極
(第1電流電極)がプリチャージ用電位V1を受け、ゲ
ート電極(制御電極)がモード信号PCBを受け、ドレ
イン電極(第2電流電極)がビット線BL1に接続され
ている。トランジスタT2は、ソース電極がプリチャー
ジ用電位V1を受け、ゲート電極がモード信号PCBを
受け、ドレイン電極がビット線BL2に接続されてい
る。
【0023】メモリセルMCはNMOSのトランジスタ
T10,T11を含み、ノードN1,N2の電位はデー
タを示し、どちらか一方が”H”レベルであり、他方
が”L”レベルである。
【0024】電位変換回路SAは、トランジスタT3〜
T9を含む。トランジスタT3は、ソース電極が高電位
V2を受け、ゲート電極がモード信号PCを受け、ドレ
イン電極がトランジスタT4,T5のそれぞれのソース
電極に接続されている。出力配線OUT1には、トラン
ジスタT4,T6,T7のそれぞれのドレイン電極、ト
ランジスタT8のゲート電極が接続されている。出力配
線OUT2には、トランジスタT5,T8,T9のそれ
ぞれのドレイン電極、トランジスタT7のゲート電極が
接続されている。トランジスタT6〜T9のそれぞれの
ソース電極はグランド電位GNDに接続されている。ビ
ット線BL1はトランジスタT4のゲート電極に接続さ
れている。ビット線BL2はトランジスタT5のゲート
電極に接続されている。トランジスタT6及びトランジ
スタT9のそれぞれのゲート電極はモード信号PCを受
ける。モード信号PCとモード信号PCBとは互いに相
補的である。
【0025】図1では、トランジスタT1〜T5はPM
OSのトランジスタ、トランジスタT6〜T11はNM
OSのトランジスタである。また、第1トランジスタが
トランジスタT3であり、第2トランジスタがトランジ
スタT4,T5であり、第3トランジスタがトランジス
タT6,T9であり、第4トランジスタがトランジスタ
T1,T2であり、第1電位が高電位V2であり、第2
電位がグランド電位GNDである。
【0026】なお、高電位V2とプリチャージ用電位V
1は同じでもよく共に半導体集積回路の電源(VDD)
電位であってもよい。
【0027】図2及び図3は図1に示す回路の動作を示
すタイミングチャートである。時刻t1〜t5のように
モード信号PCが立ち下がっている期間は読み出しモー
ド、それ以外の期間はプリチャージモードと称される。
【0028】まず初期状態として時刻t0では、モード
信号PC、モード信号PCB、ワード線WLの電位、ノ
ードN1の電位及びノードN2の電位のそれぞれが”
H”レベル、”L”レベル、”L”レベル、”L”レベ
ル、”H”レベルの場合を考える。
【0029】時刻t0では、トランジスタT1,T2は
モード信号PCBが”L”レベルであるため共にオンで
ある。モード信号PCが”H”レベルであるためトラン
ジスタT3はオフであり、トランジスタT6,T9はオ
ンである。トランジスタT10,T11はワード線WL
の電位が”L”レベルであるため共にオフである。トラ
ンジスタT1がオン、トランジスタT10がオフである
ため、ビット線BL1の電位はプリチャージによって”
H”レベルである。トランジスタT2がオン、トランジ
スタT11がオフであるため、ビット線BL2の電位は
プリチャージによって”H”レベルである。
【0030】トランジスタT4,T5はビット線BL
1,BL2の電位が”H”レベルであるため共にオフで
ある。トランジスタT6,T9が共にオンであるため、
出力配線OUT1の電位と出力配線OUT2との電位は
プリチャージされて共に”L”レベルである。トランジ
スタT7,T8は出力配線OUT2,OUT1の電位
が”L”レベルであるため共にオフである。
【0031】以上のプリチャージモードでは、トランジ
スタT3がオフであるため、プリチャージ用電位V1と
グランド電位GNDとの間には電流が流れない。
【0032】次に読み出しモードについて説明する。読
み出しモードは、時刻t1で開始される。時刻t1で
は、モード信号PCBが立ち上がると同時にモード信号
PCが立ち下がる。この後、トランジスタT1,T2の
それぞれは、モード信号PCBが”H”レベルになると
ともにオフする。トランジスタT3,T6,T9のそれ
ぞれはモード信号PCが”L”レベルになるとともにオ
ン、オフ、オフする。
【0033】ビット線BL1,BL2は、トランジスタ
T1,T2のオフによってプリチャージ用電位V1から
開放されているが、”H”レベルの電位を保持してい
る。よって、トランジスタT4,T5のそれぞれはオフ
のままである。
【0034】その後の時刻t2でワード線WLの電位が
立ち上がる。この後、トランジスタT10,T11のそ
れぞれはワード線WLの電位が”H”レベルになるとと
もにオンする。ノードN1の電位が”L”レベルである
ため、ビット線BL1の電位は徐々に下がる。一方、ノ
ードN2の電位が”H”レベルであるため、ビット線B
L2の電位については”H”レベルのままである。
【0035】その後の時刻t3でビット線BL1の電位
がトランジスタT4の閾値電圧になって、トランジスタ
T4がオンする。トランジスタT3,T4,T6,T7
はそれぞれオン、オン、オフ、オフであるため、出力配
線OUT1の電位は”H”レベルへ上昇する。
【0036】その後の時刻t4で出力配線OUT1の電
位がトランジスタT8の閾値電圧になって、トランジス
タT8がオンする。トランジスタT5,T8はそれぞれ
オフ、オンであるため、出力配線OUT2の電位は”
L”レベルのままである。
【0037】このように、プリチャージモードから読み
出しモードに移る過渡状態では、まず、トランジスタT
3,T6,T9は、モード信号PCに即座に応答してそ
れぞれのオン/オフが切り替わり、その後、トランジス
タT4,T5のいずれか一方がオフからオンに変わる。
したがって、トランジスタT3,T6,T9が過渡的に
一瞬同時にオンしたとしても、トランジスタT4,T5
はオフのままであるため、プリチャージ用電位V1とグ
ランド電位GNDとの間には電流が流れない。
【0038】その後、出力配線OUT1の電位は完全
に”H”レベルの定常状態になる。そして、出力配線O
UT1,OUT2に接続された図示しない回路が出力配
線OUT1の電位の”H”レベル、出力配線OUT2の
電位の”L”レベルをデータとして取り込む。
【0039】次に再びプリチャージモードに移る。プリ
チャージモードは時刻t5で開始される。時刻t5で
は、モード信号PCBが立ち下がると同時にモード信号
PCが立ち上がる。この後、トランジスタT1,T2の
それぞれはモード信号PCBが”L”レベルになるとと
もにオンする。トランジスタT3,T6,T9のそれぞ
れは、モード信号PCが”H”レベルになるとともにオ
フ、オン、オンする。また、モード信号PC,PCBが
変化すると同時にワード線WLの電位は立ち下がる。ワ
ード線WLの電位が”L”レベルになるとともにトラン
ジスタT10,T11は共にオフする。トランジスタT
1がオン、トランジスタT10がオフであるため、ビッ
ト線BL1がプリチャージされて、ビット線BL1の電
位は”H”レベルへ徐々に上昇する。一方、ビット線B
L2の電位は”H”レベルのままである。
【0040】その後の時刻t6でビット線BL1の電位
がトランジスタT4の閾値電圧になって、トランジスタ
T4がオフする。トランジスタT4,T6のそれぞれは
オフ、オンであるため、出力配線OUT1の電位は”
L”レベルへ下降する。その後の時刻t7で出力配線O
UT1の電位がトランジスタT8の閾値電圧になって、
トランジスタT8がオフする。トランジスタT5,T9
のそれぞれはオフ、オンであり、出力配線OUT2の電
位は”L”レベルのままである。
【0041】このように、読み出しモードからプリチャ
ージモードに移る過渡状態では、まず、トランジスタT
3,T6,T9は、モード信号PCに即座に応答してそ
れぞれのオン/オフが切り替わり、その後、トランジス
タT4がオンからオフに変わる。トランジスタT5はオ
フのままである。したがって、トランジスタT3,T6
が過渡的に一瞬同時にオンし、トランジスタT4はオン
し、トランジスタT5はオフのままであるため、高電位
V2とグランド電位GNDとの間にトランジスタT3,
T4,T6のみを介して一瞬電流が流れる。この電流が
流れる期間はモード信号PCの変化に依存し、ビット線
BL1の電位の変化に依存しない。
【0042】ノードN1の電位及びノードN2の電位の
それぞれが”H”レベル、”L”レベルの場合の動作に
ついては図1に示す回路の対称性から以上の説明と同様
にして考えることができるので省略する。
【0043】このように、電位変換回路SAはビット線
BL1,BL2の電位を高電位V2又はグランド電位G
NDに変換して出力配線OUT1,OUT2に出力す
る。
【0044】また、全ての期間を通じて高電位V2から
グランド電位GNDへ電流が流れる期間は、読み出しモ
ードからプリチャージモードに移る過渡状態のみであ
る。しかも、この期間は従来と比較してビット線BL
1,BL2の電位に依存しないため短い。
【0045】さらに、トランジスタT7,T8は、出力
配線OUT1,OUT2の電位を固定するという作用を
奏す。例えば、図3に示す時刻t4〜t5では出力配線
OUT2は、トランジスタT5,T9が共にオフによっ
てフローティング状態になるはずだが、トランジスタT
8の作用によってグランド電位GNDに固定される。し
たがって、電位変換回路SAの作用、すなわち、ビット
線の電位を高電位V2又はグランド電位GND変換する
という作用に関しては、トランジスタT7,T8は必ず
しも必要ない。
【0046】実施の形態1の効果は次の通りである。す
なわち、電位変換回路SA内の高電位V2からグランド
電位GNDへ電流が流れる期間が従来と比較して短いた
め、電位変換回路SAの消費電力は低減する。
【0047】また、実施の形態1では、図9に示す回路
や特開平6−12879号公報に開示の技術と比較し
て、素子数が少なく、レイアウト面積を削減できる。
【0048】また、電位変換回路SA内には、高電位V
2からグランド電位GNDへ電流が流れる経路として、
順次に直列に接続されたトランジスタT3,T4,T6
からなる経路と、順次に直列に接続されたトランジスタ
T3,T5,T9からなる経路とがあるが、この2つの
経路に同時に電流が流れることはない。なぜなら、トラ
ンジスタT4,T5は同時にオンするときがないからで
ある。したがって、高電位V2からグランド電位GND
へ流れる電流は同時に複数の経路を流れず1本の経路を
流れるため、この電流の量は小さい。よって、電位変換
回路SAの消費電力は低減する。
【0049】さらに、読み出しモードからプリチャージ
モードに移る過渡状態において、トランジスタT3,T
6,T9のそれぞれのオン/オフが切り替わり(図3の
時刻t5)、その後、トランジスタT4若しくはT5の
オン/オフが切り替わる際(時刻t6)に電位変換回路
SA内に電流が流れることを説明した。トランジスタT
3,T6,T9のオン/オフの切り替わり時点からトラ
ンジスタT4若しくはT5のオン/オフの切り替わり時
点までの期間は、製造プロセスのバラツキや設計段階で
定めたトランジスタの能力等によって長いものもあれば
短いものもある。そこで、可能な限りプリチャージ回路
PCCの動作を高速にして、トランジスタT4若しくは
T5のオン/オフの切り替わり時点をトランジスタT
3,T6,T9のオン/オフの切り替わり時点に近づけ
る。これによって、トランジスタT3,T6,T9のオ
ン/オフが切り替わる途中で、T4又はT5がオフして
電位変換回路SA内に電流が流れなくなる半導体集積回
路が製造され得る。したがって、プリチャージ回路PC
Cは、図示する以外の内部構成のものでもよいが、やは
りトランジスタT1,T2のみという単純な構成にする
ことによって動作を高速にすることが望ましい。
【0050】実施の形態2.図4は本発明の実施の形態
2における半導体集積回路を説明するための回路図であ
る。図4に示す回路は、主として図1に示す回路と同様
であるが、極性を反対にしたものである。すなわち、図
4において、T1〜T5はNMOSのトランジスタ、T
6〜T11はPMOSのトランジスタ、トランジスタT
1,T2,T3のそれぞれのソースの電位はグランド電
位GNDであり、トランジスタT6,T7,T8,T9
のそれぞれのソースの電位は高電位V2である。
【0051】図4では、第1トランジスタがトランジス
タT3であり、第2トランジスタがトランジスタT4,
T5であり、第3トランジスタがトランジスタT6,T
9であり、第4トランジスタがトランジスタT1,T2
であり、第2電位が高電位V2であり、第1電位がグラ
ンド電位GNDである。
【0052】図4に示す回路の動作については、図5及
び図6に示す通りであり、極性が反対のため実施の形態
1の説明と同様にして考えることができるので詳しい説
明を省略する。
【0053】実施の形態2の効果は実施の形態1と同様
である。
【0054】なお、実施の形態1,2において、ワード
線WLの電位が変化する時刻t2とモード信号PC,P
CBが変化する時刻t1とを同じにしてもよい。この場
合、時刻t1から時刻t2までの期間がないため、半導
体集積回路の動作が高速になる。
【0055】さらに、図7,図8はそれぞれ本発明の実
施の形態1,2における半導体集積回路の変形例を示す
回路図である。図7及び図8に示す回路は、プリチャー
ジ用電位V1とトランジスタT1,T2との間にそれぞ
れダイオード接続の第5トランジスタであるトランジス
タT12,T13を設けたものである。トランジスタT
12,T13を設けることで、ワード線WLの電位が変
化する時刻t2でのビット線BL1,BL2の電位をト
ランジスタT4,T5の閾値電圧に近づける。これによ
って、時刻t2からトランジスタT4又はT5がオンす
る時刻t3までの期間が短くなるため、半導体集積回路
の動作が高速になる。
【0056】実施の形態3.図11は本発明の実施の形
態3における半導体集積回路を説明するための回路図で
ある。図11において、PLはビット線電位保持回路、
その他は図1と同様である。
【0057】ビット線電位保持回路PLは、図11では
PMOSのトランジスタT14,T15を含む。トラン
ジスタT14は、ソース電極がプリチャージ電位V1を
受け、ゲート電極がビット線BL2に接続され、ドレイ
ン電極がビット線BL1に接続されている。トランジス
タT15は、ソース電極がプリチャージ電位V1を受
け、ゲート電極がビット線BL1に接続され、ドレイン
電極がビット線BL2に接続されている。なお、第6ト
ランジスタがトランジスタT7,T8である。
【0058】次に動作について図2及び図3を用いて説
明する。まず、時刻t0では、実施の形態1で説明した
ように、ビット線BL1,BL2の電位は共に”H”レ
ベルのため、トランジスタT14,T15は共にオフで
ある。
【0059】その後、時刻t1で読み出しモードが開始
され、トランジスタT1,T2が共にオフし、時刻t2
でワード線WLの電位が立ち上がり、トランジスタT1
0,T11が共にオンして、ビット線BL1は”L”レ
ベルのノードN1に接続され、ビット線BL2は”H”
レベルのノードN2に接続される。ビット線BL1の電
位は、徐々に下がり、ビット線BL1の電位がトランジ
スタT15の閾値電圧になって、トランジスタT15は
トランジスタT4と同様に時刻t3でオンする。これに
よって、ビット線BL2は、トランジスタT15を介し
てプリチャージ用電位V1に接続される。その後、トラ
ンジスタT15はトランジスタT4と同様に時刻t6で
オフする。
【0060】以上の説明は、読み出しモードにおいてノ
ードN2のデータが”H”レベル、つまり、トランジス
タT5がオフする電位の場合であるが、逆に、ノードN
2のデータが”L”レベル、つまり、トランジスタT5
がオンする電位の場合は、ビット線電位保持回路PL
は、ビット線BL2をトランジスタT15を介してプリ
チャージ用電位V1に接続しない。
【0061】また、読み出しモードにおいて、トランジ
スタT8は、ノードN2のデータがトランジスタT5が
オフする電位(”H”レベル)のとき、出力配線OUT
2の電位を”L”レベルに固定するためにオンし、そう
でないときオフする。読み出しモードにおいて、トラン
ジスタT7も、ノードN1のデータがトランジスタT4
がオフする電位(”H”レベル)のとき、出力配線OU
T1の電位を”L”レベルに固定するためにオンし、そ
うでないときオフする。
【0062】実施の形態3の効果は次の通りである。ま
ず、実施の形態1の図1に示す回路では、時刻t2付近
から時刻t5付近の間において、ビット線BL2は、プ
リチャージ用電位V1から開放され、かつトランジスタ
T11を介して”H”レベルのノードN2に接続されて
いるが、ビット線BL2の電位は”L”レベルに下降
し、トランジスタT5がオンする可能性がある。例え
ば、トランジスタT11のバックゲート効果によってノ
ードN2の”H”レベルの電位がビット線BL2に伝達
しにくい場合、ビット線BL2からリーク電流等が流れ
出ることによってビット線BL2の電位が下降し、トラ
ンジスタT5が弱く導通する。さらに、図7に示す回路
については、ビット線BL2の電位は時刻t2では既に
トランジスタT5の閾値電圧に近いためトランジスタT
5は導通しやすい。したがって、時刻t4から時刻t5
付近までにおいて、トランジスタT3,T5,T8が同
時にオンし、これらのトランジスタを介して高電位V2
からグランド電位GNDへ電流が流れる場合がある。
【0063】しかし、図11に示す回路では、時刻t3
から時刻t6までは、ビット線BL2がトランジスタT
15を介してプリチャージ用電位V1に接続されるの
で、トランジスタT5はオフを保つことができる。した
がって、時刻t4から時刻t5付近までにおいて、トラ
ンジスタT3,T5,T8が同時にオンすることが防止
され、高電位V2からグランド電位GNDへ電流が流れ
ない。よって、電位変換回路SAの消費電力はさらに低
減する。
【0064】このように、図11に示す回路に限らず、
ビット線電位保持回路PLは、読み出しモードにおい
て、メモリセルMCのデータが”H”レベル、つまり、
第2トランジスタ(T4,T5)がオフする電位である
か否かに応じて、ビット線(BL1,BL2)を第2ト
ランジスタがオフする電位(V1)に接続するか否かを
行うように構成すればよい。このように構成すれば、読
み出しモードにおいてメモリセルMCのデータが第2ト
ランジスタをオフする電位のとき、第2トランジスタを
より確実にオフさせて、第1,第2,第6トランジスタ
が同時にオンすることを防止することで、電位変換回路
SAの消費電力を低減する。
【0065】なお、ビット線電位保持回路PLは、図1
1に示すように構成することで、容易に実現できる。
【0066】また、実施の形態3は、図11では図1に
示す回路に適用した場合を示すが、その他の実施の形態
1や実施の形態2で説明した内容に適用してもよい。
【0067】実施の形態4.図12及び図13は本発明
の実施の形態4における半導体集積回路を説明するため
の回路図である。図12に示す回路100の内部の構成
を図13に示す。
【0068】図12及び図13において、BL1a及び
BL2aはそれぞれビット線BL1及びBL2から分離
されたビット線、MCaはビット線BL1a,BL2a
に接続されたメモリセル、PCCaはビット線BL1
a,BL2aに接続され、モード信号PCBaに応じて
ビット線BL1a,BL2aに対してプリチャージを行
うためのプリチャージ回路、その他は実施の形態1と同
様である。
【0069】プリチャージ回路PCCaは、プリチャー
ジ回路PCCと同じ構成である。つまり、プリチャージ
回路PCCaのトランジスタT1は、ソース電極がプリ
チャージ用電位V1を受け、ゲート電極がモード信号P
CBaを受け、ドレイン電極がビット線BL1aに接続
されている。プリチャージ回路PCCaのトランジスタ
T2は、ソース電極がプリチャージ用電位V1を受け、
ゲート電極がモード信号PCBaを受け、ドレイン電極
がビット線BL2aに接続されている。
【0070】メモリセルMCaは、メモリセルMCと同
じ構成である。メモリセルMCaも、NMOSのトラン
ジスタT10,T11を含み、ノードN1,N2の電位
はデータを示し、どちらか一方が”H”レベルであり、
他方が”L”レベルである。
【0071】電位変換回路SAは、さらにトランジスタ
T3a,T4a,T5a,T6a,T9aを含む。トラ
ンジスタT3aは、ソース電極が高電位V2を受け、ゲ
ート電極がモード信号PCaを受け、ドレイン電極がト
ランジスタT4a,T5aのそれぞれのソース電極に接
続されている。出力配線OUT1には、トランジスタT
4aのドレイン電極がさらに接続されている。出力配線
OUT2には、トランジスタT5aのドレイン電極がさ
らに接続されている。トランジスタT4aのゲート電極
はビット線BL1aに接続されている。トランジスタT
5aのゲート電極はビット線BL2aに接続されてい
る。トランジスタT6とグランド電位GNDとの間に
は、トランジスタT6aが介在し、トランジスタT6a
のソース電極はグランド電位GNDに接続され、トラン
ジスタT6aのドレイン電極はトランジスタT6のソー
ス電極に接続され、トランジスタT6aのゲート電極は
モード信号PCaを受ける。トランジスタT9とグラン
ド電位GNDとの間には、トランジスタT9aが介在
し、トランジスタT9aのソース電極はグランド電位G
NDに接続され、トランジスタT9aのドレイン電極は
トランジスタT9のソース電極に接続され、トランジス
タT9aのゲート電極はモード信号PCaを受ける。
【0072】図12及び図13に示す回路のその他の構
成は、図1と同様である。
【0073】図12及び図13では、第1のビット線が
ビット線BL1,BL2である。第2のビット線がビッ
ト線BL1a,BL2aである。第1のメモリセルがメ
モリセルMCである。第2のメモリセルがメモリセルM
Caである。第1トランジスタがトランジスタT3,T
3aである。第1トランジスタと第3トランジスタT6
との間には互いに並列に接続されたトランジスタT4,
T4aがあり、第1ビット線用第2トランジスタがトラ
ンジスタT4であり、第2ビット線用第2トランジスタ
がトランジスタT4aである。第1トランジスタと第3
トランジスタT9との間には互いに並列に接続されたト
ランジスタT5,T5aがあり、第1ビット線用第2ト
ランジスタがトランジスタT5であり、第2ビット線用
第2トランジスタがトランジスタT5aである。第1の
プリチャージ回路がプリチャージ回路PCCである。第
2のプリチャージ回路がプリチャージ回路PCCaであ
る。第1の所定モードは、トランジスタT4,T5がオ
フする電位にビット線BL1,BL2をプリチャージす
るモードである。第2の所定モードは、トランジスタT
4a,T5aがオフする電位にビット線BL1a,BL
2aをプリチャージするモードである。
【0074】さらに、図12及び図13では、第1ビッ
ト線用第1トランジスタがトランジスタT3である。第
2ビット線用第1トランジスタがトランジスタT3aで
ある。第1ビット線用第3トランジスタがトランジスタ
T6,T9である。第2ビット線用第3トランジスタが
トランジスタT6a,T9aである。
【0075】次に動作について説明する。メモリセルM
Cから出力配線OUT1,OUT2へデータを読み出す
場合は、まず、モード信号PCaを”H”レベルにする
ことによって、高電位V2がトランジスタT3a,T4
a,T5aを介して出力配線OUT1,OUT2に影響
を与えないようにする。すなわち、トランジスタT3
a,T4a,T5aをイネーブルにする。これによっ
て、図12に示す電位変換回路SAは図1に示す電位変
換回路SAと等価になる。この状態で、モード信号P
C,PCBを読み出しモード、すなわち、モード信号P
Cを”L”レベル、モード信号PCBを”H”レベルに
した後、ワード線WLの電位を”H”レベルにすれば、
実施の形態1と同様にトランジスタT3,T4,T5,
T7,T8によって、メモリセルMCから出力配線OU
T1,OUT2へデータを読み出すことができる。
【0076】一方、メモリセルMCaから出力配線OU
T1,OUT2へデータを読み出す場合は、まず、モー
ド信号PCを”H”レベルにすることによって、高電位
V2がトランジスタT3,T4,T5を介して出力配線
OUT1,OUT2に影響を与えないようにする。すな
わち、トランジスタT3,T4,T5をイネーブルにす
る。この状態で、モード信号PCa,PCBaを読み出
しモード、すなわち、モード信号PCaを”L”レベ
ル、モード信号PCBaを”H”レベルにした後、ワー
ド線WLaを”H”レベルにすれば、トランジスタT3
a、T4a、T5a、T7、T8によって、メモリセル
MCaから出力配線OUT1,OUT2へデータを読み
出すことができる。
【0077】また、メモリセルMC,MCaのどちらか
らもデータを読み出さない場合、つまり、プリチャージ
モードの場合は、モード信号PCB,PCBaを共に”
L”レベル、モード信号PC,PCaを共に”H”レベ
ルにしておけば、電位変換回路SAにおいて高電位V2
からグランド電位GNDへ電流が流れない。
【0078】さらに、メモリセルMC,MCaの一方か
らデータを読み出している場合は、モード信号PC,P
Caのどちらか一方が”L”レベルであり、トランジス
タT6,T6aの一方及びトランジスタT9,T9aの
一方がオフし、トランジスタT6,T6a,T9,T9
aによって出力配線OUT1,OUT2の電位が”L”
レベルにリセットされることはないので、出力配線OU
T1,OUT2には、読み出した正しいデータがラッチ
される。
【0079】なお、図12及び図13ではワード線WL
aをワード線WLに結線しない場合を示しているが、ワ
ード線WLaをワード線WLに結線してもよい。また、
図12及び図13ではプリチャージ信号PCBaが伝搬
する配線を、プリチャージ信号PCBが伝搬する配線に
結線しない場合を示しているが、プリチャージ信号PC
Baが伝搬する配線を、プリチャージ信号PCBが伝搬
する配線に結線してもよい。
【0080】ワード線WLaがワード線WLに結線さ
れ、プリチャージ信号PCBaが伝搬する配線をプリチ
ャージ信号PCBが伝搬する配線に結線する場合は、つ
まり、カラムの数が2の場合である。この場合、例えば
図14に示すように、2つのカラムのどちらかを選択す
るためのカラム選択信号CS、プリチャージ信号PC
B、NAND回路G1,G2及びインバータG3を用い
て、プリチャージ信号PC,PCaを生成すればよい。
【0081】なお、実施の形態4は、図12及び図13
では図1に示す回路に適用した場合を示すが、その他の
実施の形態1や実施の形態2で説明した内容に適用して
もよい。さらに、図12及び図13では1つの電位変換
回路SAにビット線BL1,BL2の組とビット線BL
1a,BL2aの組との2組のビット線が接続される場
合を示すが、3組以上のビット線を1つの電位変換回路
SAに接続してもよい。
【0082】さらに、トランジスタT6,T6aは、ト
ランジスタT4a,T4の接続点とグランド電位GND
との間に互いに直列に接続されていればよく、トランジ
スタT6,T6aを互いに交換してもよい。トランジス
タT9,T9aについても、互いに交換してもよい。
【0083】実施の形態4の効果は、実施の形態1と同
様に、電位変換回路SA内の高電位V2からグランド電
位GNDへ電流が流れる期間が短いため、電位変換回路
SAの消費電力は低減する。
【0084】また、ビット線BL1,BL2からビット
線BL1a,BL2aを分離することによって、各ビッ
ト線BL1,BL2,BL1a,BL2aの容量が小さ
くなるので、動作の高速化及び消費電力の低減が図れ
る。
【0085】さらに、メモリセルMC,MCaからデー
タを読み出すのに1つの電位変換回路SAを共用してい
るため、レイアウト面積を削減できる。
【0086】実施の形態5.図15は本発明の実施の形
態5における半導体集積回路を説明するための回路図で
ある。図15に示す回路は、図12及び図13に示す回
路からトランジスタT3a、T6a、T9aを省略した
ものである。
【0087】図15に示す電位変換回路SAにおいて、
トランジスタT3のドレイン電極はトランジスタT4,
T4a,T5,T5aのそれぞれのソース電極に接続さ
れている。トランジスタT6のソース電極はグランド電
位GNDへ接続される。トランジスタT9のソース電極
はグランド電位GNDへ接続される。その他は図12及
び図13に示す回路と同様である。
【0088】次に動作について説明する。まず、メモリ
セルMC,MCaのどちらからもデータを読み出さない
場合、つまり、プリチャージモードの場合は、モード信
号PCB,PCBaを共に”L”レベル、モード信号P
Cを”H”レベル、ワード線WL,WLaを共に”L”
レベルにする。これによって、ビット線BL1,BL
2,BL1a,BL2aの電位は全て”H”レベルにプ
リチャージされ、トランジスタT3,T4,T4a,T
5,T5aは全てオフし、電位変換回路SAにおいて高
電位V2からグランド電位GNDへ電流が流れない。
【0089】次に、メモリセルMCから出力配線OUT
1,OUT2へデータを読み出す場合は、まず、プリチ
ャージ信号PCBaとワード線WLaの電位とを共に”
L”レベルを保つことによって、トランジスタT4a,
T5aがオフであることを維持する。つまり、トランジ
スタT4a,T5aがイネーブルの状態を維持する。こ
れによって、図15に示す電位変換回路SAは図1に示
す電位変換回路SAと等価になる。この状態を保ちなが
ら、モード信号PC,PCBを読み出しモード、すなわ
ち、モード信号PCを”L”レベル、モード信号PCB
を”H”レベルにした後、ワード線WLの電位を”H”
レベルにすれば、実施の形態1と同様にトランジスタT
3,T4,T5,T7,T8によって、メモリセルMC
から出力配線OUT1,OUT2へデータを読み出すこ
とができる。
【0090】一方、メモリセルMCaから出力配線OU
T1,OUT2へデータを読み出す場合は、まず、プリ
チャージ信号PCBとワード線WLの電位とを共に”
L”レベルを保つことによって、トランジスタT4,T
5がオフであることを維持する。つまり、トランジスタ
T4,T5がイネーブルの状態を維持する。この状態を
保ちながら、モード信号PC,PCBaを読み出しモー
ド、すなわち、モード信号PCを”L”レベル、モード
信号PCBaを”H”レベルにした後、ワード線WLa
の電位を”H”レベルにすれば、トランジスタT3、T
4a、T5a、T7、T8によって、メモリセルMCa
から出力配線OUT1,OUT2へデータを読み出すこ
とができる。
【0091】実施の形態5の効果は、実施の形態4の効
果に加えて、トランジスタを省略して構成できるので、
レイアウト面積を削減できる。
【0092】なお、実施の形態5は、図15では図12
及び図13に示す回路に適用した場合を示すが、その他
の実施の形態4で説明した内容に適用してもよい。
【0093】実施の形態6.実施の形態6は、実施の形
態4又は5と実施の形態3との組み合わせである。図1
6は本発明の実施の形態6における半導体集積回路を説
明するための回路図である。図16に示す回路200の
内部の構成を図17に示す。図16及び図17に示す回
路は、図11に示すビット線電位保持回路PLと、ビッ
ト線電位保持回路PLと同じ内部構成のビット線電位保
持回路PLaとを図15及び図13に示す回路に加えた
ものである。ビット線電位保持回路PLaは、PMOS
のトランジスタT14,T15を含む。ビット線電位保
持回路PLaにおいて、トランジスタT14は、ソース
電極がプリチャージ電位V1を受け、ゲート電極がビッ
ト線BL2aに接続され、ドレイン電極がビット線BL
1aに接続されている。また、同回路PLaにおいて、
トランジスタT15は、ソース電極がプリチャージ電位
V1を受け、ゲート電極がビット線BL1aに接続さ
れ、ドレイン電極がビット線BL2aに接続されてい
る。
【0094】なお、実施の形態6は、図16及び図17
では図15及び図13に示す内容と図11に示す内容と
を組み合わせた場合を示すが、その他の実施の形態5又
は4で説明した内容と実施の形態3で説明した内容とを
組み合わせてもよい。
【0095】変形例.図7,8に示す変形例は実施の形
態3〜6に適用してもよい。
【0096】さらに、メモリセルMCは図示する構成以
外でもよい。
【0097】
【発明の効果】本発明請求項1による作用・効果は次の
通りである。第2トランジスタは、ビット線及びメモリ
セルの影響によって、第1,第3トランジスタと比較し
て、モード信号に対して即座に応答しない。ビット線の
電位は、モード信号が所定モードを示しているときは、
プリチャージ回路によって第2トランジスタがオフする
電位にプリチャージされ、モード信号が所定モードと異
なるモードを示しているときは、メモリセルに依存す
る。
【0098】モード信号が所定モードを示しているとき
は、第2,第3トランジスタがそれぞれオフ、オンであ
るため、電位変換回路の出力は第2電位にプリチャージ
され、第1電位と第2電位との間に電流が流れない。次
に、モード信号が所定モードから異なるモードを示す過
渡状態では、まず、第1及び第3トランジスタはモード
信号に即座に応答してそれぞれのオン/オフが切り替る
が、その際、第2トランジスタはモード信号に対して即
座に応答しないためオフのままである。したがって、こ
の過渡状態では、第1電位と第2電位との間に電流が流
れない。次に、モード信号が所定モードと異なるモード
を示しているときは、第1及び第3トランジスタについ
てはそれぞれオン、オフである。一方、第2トランジス
タについてはメモリセルに依存してオン又はオフであ
る。ここで、第2トランジスタがオフのときは電位変換
回路の出力は第2電位のままであるが、第2トランジス
タがオンのときは第1電位になる。次に、モード信号が
異なるモードから所定モードを示す過渡状態では、ま
ず、第1及び第3トランジスタはモード信号に即座に応
答してそれぞれのオン/オフが切り替わる。この際、第
2トランジスタがオフのままのときは第1電位,第2電
位間に電流は流れない。一方、第2トランジスタがオン
のときは第1電位,第2電位間に電流は流れるが、この
電流が流れる期間はモード信号の変化に依存し、ビット
線の電位の変化に依存しないため短い。
【0099】以上のように、本発明請求項1では、第1
電位,第2電位間に電流が流れる期間が短く、電位変換
回路のビット線の電位を変換するという機能は、上述の
ように最低限第1ないし第3トランジスタによって保た
れるため、素子数及び消費電力を低減できるという効果
を奏す。したがって、この効果は素子数の多い特開平6
−12879号公報に開示の技術と比べて優れている。
【0100】本発明請求項2による効果は次の通りであ
る。すなわち、請求項1において、モード信号が異なる
モードから所定モードを示す過渡状態のとき、第1電
位,第2電位間に電流が流れるが、モード信号を受ける
第4トランジスタによってビット線をプリチャージする
ことで、プリチャージ回路の動作が高速になり、第1な
いし第3トランジスタが同時にオンする期間を短くする
ことが可能になる。よって、消費電力をさらに低減でき
るという効果を奏す。
【0101】本発明請求項3による効果は次の通りであ
る。すなわち、第5トランジスタを備えることによっ
て、プリチャージされたビット線の電位が第2トランジ
スタの閾値電圧に近づくため、半導体集積回路の動作が
高速になるという効果を奏す。
【0102】本発明請求項4による効果は次の通りであ
る。すなわち、ビット線を分けることによって、動作の
高速化及び消費電力の低減が図れる。
【0103】本発明請求項5による効果は次の通りであ
る。すなわち、第1のトランジスタが第1ビット線用第
1トランジスタと第2ビット線用第1トランジスタとを
含むことによって、例えば第1及び第2のメモリセルに
接続されるワード線を結線しても、消費電力を低減する
ことが可能になる。
【0104】本発明請求項6による効果は次の通りであ
る。すなわち、第1及び第2のメモリセルの一方からデ
ータを読み出している場合は、第1ビット線用第3トラ
ンジスタ及び第2ビット専用第3トランジスタのどちら
か一方がオフするので、電位変換回路は、読み出した正
しいデータを出力できる。
【0105】本発明請求項7による効果は次の通りであ
る。すなわち、ビット線電位保持回路を備えたことによ
って、所定モードと異なるモードにおいてメモリセルの
データが第2トランジスタをオフする電位のとき、第2
トランジスタをより確実にオフさせて、第1,第2,第
6トランジスタが同時にオンすることを防止すること
で、電位変換回路の消費電力を低減する。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の実施の形態1における半導体集積回
路を説明するための回路図である。
【図2】 本発明の実施の形態1における半導体集積回
路の動作を示すタイミングチャートである。
【図3】 本発明の実施の形態1における半導体集積回
路の動作を示すタイミングチャートである。
【図4】 本発明の実施の形態2における半導体集積回
路を説明するための回路図である。
【図5】 本発明の実施の形態2における半導体集積回
路の動作を示すタイミングチャートである。
【図6】 本発明の実施の形態2における半導体集積回
路の動作を示すタイミングチャートである。
【図7】 本発明の実施の形態1における半導体集積回
路の変形例を示す回路図である。
【図8】 本発明の実施の形態2における半導体集積回
路の変形例を示す回路図である。
【図9】 従来の半導体集積回路の主要部を示す回路図
である。
【図10】 従来の半導体集積回路の動作を示すタイミ
ングチャートである。
【図11】 本発明の実施の形態3における半導体集積
回路を説明するための回路図である。
【図12】 本発明の実施の形態4における半導体集積
回路を説明するための回路図である。
【図13】 本発明の実施の形態4における半導体集積
回路を説明するための回路図である。
【図14】 本発明の実施の形態4におけるプリチャー
ジ信号を生成するための回路図である。
【図15】 本発明の実施の形態5における半導体集積
回路を説明するための回路図である。
【図16】 本発明の実施の形態6における半導体集積
回路を説明するための回路図である。
【図17】 本発明の実施の形態6における半導体集積
回路を説明するための回路図である。
【符号の説明】
PCC プリチャージ回路、BL1,BL2 ビット
線、MC メモリセル、SA 電位変換回路。

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 少なくとも1本のビット線と、 前記ビット線に接続された少なくとも1つのメモリセル
    と、 前記ビット線に接続され、前記ビット線をプリチャージ
    するための少なくとも1つのプリチャージ回路と、 前記ビット線に接続され、前記ビット線の電位を変換す
    るための電位変換回路と、を備え、 前記電位変換回路は第1電位,第2電位間に順次に直列
    に接続された第1ないし第3トランジスタを含み、 前記電位変換回路の出力は、前記第2及び第3トランジ
    スタの接続点であり、 前記第1トランジスタは、この制御電極にモード信号を
    受け、前記モード信号が所定モードを示すか否かに応じ
    てオフ、オンし、 前記第2トランジスタの制御電極は前記ビット線に接続
    され、 前記第3トランジスタは、この制御電極に前記モード信
    号を受け、前記モード信号が前記所定モードを示すか否
    かに応じてオン、オフし、 前記プリチャージ回路は、前記モード信号を受け、前記
    モード信号が前記所定モードであるときだけ前記第2ト
    ランジスタがオフする電位に前記ビット線をプリチャー
    ジする半導体集積回路。
  2. 【請求項2】 前記プリチャージ回路は、 前記モード信号を受ける制御電極、プリチャージ用電位
    を受ける第1電流電極、前記ビット線に接続された第2
    電流電極を有する第4トランジスタを含む請求項1記載
    の半導体集積回路。
  3. 【請求項3】 前記プリチャージ回路は、 前記第1電流電極,前記プリチャージ用電位間に接続さ
    れたダイオード接続の第5トランジスタをさらに含む請
    求項2記載の半導体集積回路。
  4. 【請求項4】 前記ビット線は第1及び第2のビット線
    を含み、 前記メモリセルは前記第1のビット線に接続された第1
    のメモリセルと前記第2のビット線に接続された第2の
    メモリセルとを含み、 前記第2トランジスタは、前記第1及び第3トランジス
    タの間に互いに並列に接続された、前記第1のビット線
    に接続された制御電極を有する第1ビット線用第2トラ
    ンジスタと、前記第2のビット線に接続された制御電極
    を有する第2ビット線用第2トランジスタとを含み、 前記所定モードは、第1の所定モードあるいは第2の所
    定モードのどちらかであり、 前記プリチャージ回路は、前記第1のビット線に接続さ
    れた第1のプリチャージ回路と前記第2のビット線に接
    続された第2のプリチャージ回路とを含み、 前記第1のプリチャージ回路は前記第1の所定モードで
    あるときだけ前記第1ビット線用第2トランジスタがオ
    フする電位に前記第1のビット線をプリチャージし、 前記第2のプリチャージ回路は前記第2の所定モードで
    あるときだけ前記第2ビット線用第2トランジスタがオ
    フする電位に前記第2のビット線をプリチャージする請
    求項1記載の半導体集積回路。
  5. 【請求項5】 前記第1トランジスタは、 前記第1電位と前記第1ビット線用第2トランジスタと
    の間に接続された第1ビット線用第1トランジスタと、 前記第1電位と前記第2ビット線用第2トランジスタと
    の間に接続された第2ビット線用第1トランジスタと、 を含み、 前記第1ビット線用第1トランジスタは、前記モード信
    号が前記第1の所定モードを示すか否かに応じてオン、
    オフし、 前記第2ビット線用第1トランジスタは、前記モード信
    号が前記第2の所定モードを示すか否かに応じてオン、
    オフする請求項4記載の半導体集積回路。
  6. 【請求項6】 前記第3トランジスタは、 前記第2トランジスタと前記第2電位との間に互いに直
    列に接続された第1ビット線用第3トランジスタと第2
    ビット線用第3トランジスタとを含み、 前記第1ビット線用第3トランジスタは、前記モード信
    号が前記第1の所定モードを示すか否かに応じてオン、
    オフし、 前記第2ビット線用第3トランジスタは、前記モード信
    号が前記第2の所定モードを示すか否かに応じてオン、
    オフする請求項5記載の半導体集積回路。
  7. 【請求項7】 前記メモリセルは前記ビット線に出力す
    るデータを保持し、 前記モード信号が前記所定モードと異なるモードを示す
    ときにおいて、前記データが前記第2トランジスタがオ
    フする電位であるか否かに応じて、前記ビット線を前記
    第2トランジスタがオフする電位に選択的に接続するビ
    ット線電位保持回路をさらに備え、 前記電位変換回路は、前記第2及び第3トランジスタの
    接続点と、前記第2電位との間に接続され、前記モード
    信号が前記所定モードと異なるモードを示すときにおい
    て、前記データが前記第2トランジスタがオフする電位
    であるか否かに応じて、オン、オフする第6トランジス
    タをさらに含む請求項1記載の半導体集積回路。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6724026B2 (en) * 2002-09-19 2004-04-20 Infineon Technologies Aktiengesellschaft Memory architecture with memory cell groups
US8982609B2 (en) * 2010-10-27 2015-03-17 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Memory having read assist device and method of operating the same
CN112863570A (zh) * 2019-11-27 2021-05-28 长鑫存储技术有限公司 读写转换电路及其驱动方法、存储器

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6196587A (ja) * 1984-10-17 1986-05-15 Toshiba Corp センスアンプ回路
JP2888701B2 (ja) * 1992-05-18 1999-05-10 三菱電機株式会社 センスアンプ回路
JP3154821B2 (ja) * 1992-06-26 2001-04-09 株式会社 沖マイクロデザイン 半導体集積回路装置
JP3606951B2 (ja) * 1995-06-26 2005-01-05 株式会社ルネサステクノロジ 半導体記憶装置
US5796665A (en) * 1997-10-17 1998-08-18 Vanguard International Semiconductor Corporation Semiconductor memory device with improved read signal generation of data lines and assisted precharge to mid-level

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