JPH11176158A - ラッチ回路、データ出力回路及びこれを有する半導体装置 - Google Patents

ラッチ回路、データ出力回路及びこれを有する半導体装置

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JPH11176158A
JPH11176158A JP9340082A JP34008297A JPH11176158A JP H11176158 A JPH11176158 A JP H11176158A JP 9340082 A JP9340082 A JP 9340082A JP 34008297 A JP34008297 A JP 34008297A JP H11176158 A JPH11176158 A JP H11176158A
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JP9340082A
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Koichi Nishimura
幸一 西村
Shusaku Yamaguchi
秀策 山口
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Fujitsu Ltd
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Fujitsu Ltd
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1006Data managing, e.g. manipulating data before writing or reading out, data bus switches or control circuits therefor

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Abstract

(57)【要約】 【課題】 回路遅延を小さくして高速動作が行えるラッ
チ回路、データ出力回路及びデータ出力回路を有する半
導体装置を提供することを目的とする。 【解決手段】 Nビットのパラレルデータが入力する入
力端子に並列に接続された複数のNビット構成のデータ
ラッチ回路と、該データラッチ回路を順番にデータ入力
状態とし、前記パラレルデータを所定の順番で前記複数
のデータラッチ回路に入力させるデータ入力制御回路
と、前記データラッチ回路にラッチされたデータを、ラ
ッチされた順番でかつMビット(N≧M)の出力端子に
異なるタイミングで出力させるデータ出力制御回路とを
有する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、受け取ったデータ
を所定のタイミングで出力するラッチ機能を有するデー
タ出力回路に関し、更にこのようなデータ出力回路を有
するメモリデバイス等の半導体装置に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、マイクロプロセッサの高速化に伴
い、メモリデバイス等の半導体装置においても高速化が
要求されており、パイプライン技術を取り入れた半導体
装置の開発が盛んに行われている。パイプライン技術と
は、デバイス内でシリアルに行われる一連の処理(メモ
リでは、アドレスの取り込み、アドレスのデコード、セ
ルからのデータの読み出し、出力回路へのデータの転
送、データの出力)を分割して、第1の命令に対する第
1の処理を実行後に、第1の命令に対する第2の処理を
開始すると共に、第2の命令に対する第1の処理を開始
することで、実行的に命令処理速度を向上させる技術で
ある。
【0003】通常、パイプライン技術は、シリアルに実
行されるべき複数の処理をそれぞれの処理時間が同じに
なるように分割し、分割された処理を実行する処理回路
の出力側にラッチ回路を設けることで実現することがで
きるが、半導体装置ではそれぞれの処理時間が同じとな
る位置にラッチ回路を設けることが困難である場合が多
い。
【0004】そこで、メモリデバイス等の半導体装置に
おいては、論理回路の伝搬を利用してパイプを構成し、
出力回路の近辺にデータラッチ回路を備えることで、デ
ータ出力のレイテンシ、すなわち、リードコマンドの入
力から何クロック目でデータを出力するかを制御するウ
ェーブパイプラインと呼ばれるパイプライン方式を採用
することが多い。MPUの高速化に対応してウェーブパ
イプライン動作を高速で動作させるためには、ラッチ機
能とパラレル・シリアル変換機能を有するデータ出力回
路の遅延が問題となる。
【0005】
【従来の技術】図8は、シンクロナスDRAM装置(以
下、SDRAM装置)のデータ出力回路の従来構成を示
す回路図である。図示するデータ出力回路は、ラッチ回
路を構成するポインタ形式のFiFoメモリ10、パラ
レル・シリアル変換回路(以下、PS変換回路という)
20及び出力部30を有する。FiFoメモリ10はメ
モリコア部(図示を省略してある)からのデータバスに
接続されたデータ入力端子MDB0、MDB1、MDB
2及びMDB3に接続され、パラレル形式の入力データ
をラッチして、ラッチした順番にPS変換回路20に出
力する。PS変換回路20は、4ビットのパラレルデー
タを2つのシリアルデータ列に変換して(4:2のパラ
レル・シリアル変換)、出力部30に出力する。出力部
30は、2つのシリアルデータ列を1つのシリアルデー
タ列に変換する(2:1のパラレル・シリアル変換)。
【0006】FiFoメモリ10は、4つのデータラッ
チ回路DLAT0〜DLAT4と、入力ポインタ11と
出力ポインタ12とを有する。各データラッチ回路は、
入力ポインタ11で制御される4つのMOSトランジス
タで構成される入力トランスファゲート、ラッチ素子La
tch0〜Latch3、及び出力ポインタ12で制御される4つ
のMOSトランジスタで構成される出力トランスファゲ
ートを有する。
【0007】PS変換回路20は、ラッチ素子Latch00
〜Latch30 、Latch22 、Latch32 、トランジスタで構成
されるトランスファゲート及びこれらを制御するパラレ
ル・シリアルポインタ(以下、PSポインタという)2
1を具備する。出力部30は、ラッチ素子Latch0、Latc
h1、出力クロック発生器31、出力バッファ32、出力
トランジスタ33及びデータ出力端子DQを有する。
【0008】図9は、図8に示すデータ出力回路の動作
を示すタイミング図である。まず、リードコマンドを外
部から受け、メモリコア部から読み出されたデータ”
0”〜”19”は、Dパルス信号に同期してデータバス
を転送し、データ入力端子MDB0〜MDB3を介して
FiFoメモリ10に与えられる。入力されたデータ
は、入力ポインタ11からの制御信号pi0〜pi3に
応答して、データラッチ回路DLAT0〜DLAT3の
Latch0〜Latch3にラッチされる。なお、図9では、デー
タラッチ回路DLAT0のLatch0をDLAT0_L0と
示してある。例えば制御信号pi0に応答して、データ
ラッチ回路DLAT0のラッチ素子DLAT0_L0
(Latch0)〜DLAT3_L3(Latch3)はそれぞれ、
入力データ”0”〜”3”をラッチする。そして、出力
ポインタ12の制御信号po1〜po3に応答して、ラ
ッチされたデータはFout0〜Fout3に出力され
る。
【0009】PS変換回路20のPSポインタ21が出
力する制御信号ps0に応答して、データFout0〜
Fout3はそれぞれラッチ素子Latch00 〜Latch30 に
入力される。そして、制御信号ps1によってラッチ素
子Latch00 のデータがPSout0に出力される。制御
信号ps2によってラッチ素子Latch10 のデータがPS
out1に出力され、ラッチ素子Latch20 とLatch30 の
データがそれぞれラッチ素子Latch22 とLatch32 に転送
される。制御信号ps3によって、ラッチ素子Latch22
のデータがPSout0に出力される。制御信号ps0
によってラッチ素子Latch 32のデータがPSout1
に出力される。そして、ラッチ素子Latch00 〜Latch30
に次のデータが入力される。
【0010】この結果、出力PSout0はデータ”
0”、”2”、”4”・・・のデータ列となり、出力P
Sout1はデータ”1”、”3”、”5”・・・のデ
ータ列となる。すなわち、Fout0〜Fout3のパ
ラレルデータは、PSout0、PSout1のように
2つのシリアルデータ列に変換される。すなわち、4:
2のパラレル・シリアル変換が行われる。そして、出力
部30の出力タイミングを制御する2つのトランスファ
ゲートで、出力クロック発生器31が出力する相補関係
にある出力タイミング・クロックoclk0とoclk
1によって、2:1のパラレル・シリアル変換が行われ
る。このようにして得られたシリアルデータは、出力バ
ッファ32及び出力トランジスタ33を介して、データ
出力端子DQに出力される。なお、出力クロック発生器
31は、外部から供給される出力イネーブル信号OEと
クロック信号CLKとから、出力タイミング・クロック
oclk0とoclk1を生成する。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来のデータ出力回路は、FiFoメモリ10とPS変換
回路20とが個別に形成されているので回路遅延が大き
く、高速動作が行えないという問題点がある。従って、
本発明は従来技術の問題点を解決し、回路遅延を小さく
して高速動作が行えるラッチ回路、データ出力回路及び
データ出力回路を有する半導体装置を提供することを目
的とする。
【0012】
【課題を解決するための手段】請求項1に記載の発明
は、Nビットのパラレルデータが入力する入力端子に並
列に接続された複数のNビット構成のデータラッチ回路
と、該データラッチ回路を順番にデータ入力状態とし、
前記パラレルデータを所定の順番で前記複数のデータラ
ッチ回路に入力させるデータ入力制御回路と、前記デー
タラッチ回路にラッチされたデータを、ラッチされた順
番でかつMビット(N≧M)の出力端子に異なるタイミ
ングで出力させるデータ出力制御回路とを有することを
特徴とするラッチ回路である。データの出力タイミング
を上記の通り制御することで、N:Mのパラレル・シリ
アル変換を、小さな回路遅延をで高速動作に行える。
【0013】請求項2に記載の発明は、請求項1におい
て、前記データ出力制御回路は、N個の整数倍で、かつ
相互に位相の異なるデータ出力タイミング信号を生成し
て、対応するデータラッチ回路に供給し、各データラッ
チ回路は対応するデータ出力タイミング信号に応答して
ラッチしたデータを出力することを特徴とする。データ
の出力タイミングを規定する一例である。
【0014】請求項3に記載の発明は、ラッチ回路と出
力部とを有し、前記ラッチ回路は、Nビットのパラレル
データが入力する入力端子に並列に接続された複数のN
ビット構成のデータラッチ回路と、該データラッチ回路
を順番にデータ入力状態とし、前記パラレルデータを所
定の順番で前記複数のデータラッチ回路に入力させるデ
ータ入力制御回路と、ラッチされたデータを前記データ
ラッチ回路にラッチされた順番でかつMビット(N≧
M)の出力端子に異なるタイミングで出力させるデータ
出力制御回路とを有し、前記出力部はMビットの出力端
子に出力されるMビットパラレルのデータをシリアルデ
ータに変換することを特徴とするデータ出力回路であ
る。データの出力タイミングを上記の通り制御すること
で、データの出力タイミングを上記の通り制御すること
で、N:Mのパラレル・シリアル変換を、小さな回路遅
延をで高速動作に行える。
【0015】請求項4に記載の発明は、請求項3に記載
の前記出力部が、パラレルデータをデータラッチ回路に
供給する際の転送クロック信号よりも高い周波数でかつ
相補関係にある2つのクロック信号で、Mビットの出力
端子に出力されたデータを選択してシリアルデータに変
換することを特徴とする。データの出力タイミングを規
定する一例である。
【0016】請求項5に記載の発明は、請求項3に記載
の前記出力部が、パラレルデータをデータラッチ回路に
供給する際の転送クロック信号よりも高い周波数でかつ
異なる位相の複数のクロック信号で、Mビットの出力端
子に出力されたデータを選択してシリアルデータに変換
することを特徴とする。データの出力タイミングを規定
する一例である。
【0017】請求項6に記載の発明は、請求項4又は請
求項5に記載の前記クロック信号が、前記転送クロック
の2倍の速度であることを特徴とする。データの出力タ
イミングを規定する一例である。請求項7に記載の発明
は、メモリコア部と、これからパラレルに読み出された
Nビットのリードデータを入力する入力端子と、該リー
ドデータをシリアルに変換してシリアルデータを出力す
るデータ出力回路とを有し、該データ出力回路はラッチ
回路と出力部とを有し、前記ラッチ回路は、Nビットの
リードデータが入力する前記入力端子に並列に接続され
た複数のNビット構成のデータラッチ回路と、該データ
ラッチ回路を順番にデータ入力状態とし、前記リードデ
ータを所定の順番で前記複数のデータラッチ回路に入力
させるデータ入力制御回路と、ラッチされたリードデー
タを前記データラッチ回路にラッチされた順番でかつM
ビット(N≧M)の出力端子に異なるタイミングで出力
させるデータ出力制御回路とを有し、前記出力部はMビ
ットの出力端子に出力されるMビットパラレルのデータ
をシリアルデータに変換することを特徴とする半導体装
置である。データの出力タイミングを上記の通り制御す
ることで、N:Mのパラレル・シリアル変換を、小さな
回路遅延をで高速動作に行える。
【0018】請求項8に記載の発明は、請求項7に記載
の前記出力部が、パラレルデータをデータラッチ回路に
供給する際の転送クロック信号よりも高い周波数でかつ
相補関係にある2つのクロック信号を外部から供給され
るクロック信号から生成し、該2つのクロック信号に応
じてMビットの出力端子に出力されたデータを選択して
シリアルデータに変換することを特徴とする。データの
出力タイミングを規定する一例であり、外部からのクロ
ック信号に同期してデータを出力できる。
【0019】請求項9に記載の発明は、請求項7に記載
の前記出力部が、パラレルデータをデータラッチ回路に
供給する際の転送クロック信号よりも高い周波数でかつ
異なる位相の複数のクロック信号を外部から供給される
クロック信号から生成し、該複数のクロック信号に応じ
てMビットの出力端子に出力されたデータを選択してシ
リアルデータに変換することを特徴とする。
【0020】請求項10に記載の発明は、請求項8又は
9に記載の前記転送クロック信号が、半導体装置内部で
生成したものであることを特徴とする。転送クロック信
号の生成の一例を規定するものである。
【0021】
【発明の実施の形態】図1は、本発明の第1の実施例に
よるラッチ回路を有するデータ出力回路を示す回路図で
ある。図1中、前述した構成要素と同一のものには同一
の参照番号を付けてある。図示するデータ出力回路は、
パラレル・シリアル変換機能を有するラッチ回路である
FiFoメモリ40と、出力部50とを有する。FiF
oメモリ40は、4:2のパラレル・シリアル変換機能
を有する。これを実現するために、FiFoメモリ40
は、前述した入力ポインタ11及びデータラッチ回路D
LAT0〜DLAT3に加え、2つの出力ポインタ13
及び14を有する。2つの出力ポインタ13、14は、
データラッチ回路DLAT0〜DLAT3にラッチされ
たデータを、ラッチされた順番でかつ2つの出力端子q
mpx0、qmpx1に異なるタイミングで出力させる
ように制御信号を発生する。
【0022】なお、請求項に記載のデータ入力制御回路
が入力ポインタ11に相当し、データ出力制御回路が出
力ポインタ13と14に相当する。具体的には、出力ポ
インタ13は、出力タイミング・クロックoclk0か
ら、制御信号po00、po02、po10、po1
2、po20、po22、po30、po32を生成す
る。また、出力ポインタ14は出力タイミング・クロッ
クoclk1から、制御信号po01、po03、po
11、po13、po21、po23、po31、po
33を出力する。制御信号po00とpo02はそれぞ
れ、データラッチ回路DLAT0のlatch0とLatch2の出
力側トランスファゲートを制御し、制御信号po01と
po03はそれぞれ、データラッチ回路DLAT0のLa
tch 1とlatch3の出力側トランスファゲートを制御す
る。他の制御信号も同様に、出力側トランスファゲート
を制御する。
【0023】各データラッチ回路DLAT0〜DLAT
3のLatch0とLatch 2 の出力はそれぞれの出力側トラン
スファゲートを介して接続されqmix0を構成し、La
tch1とLatch3の出力はそれぞれの出力側トランスファゲ
ートを介して接続されqmix1を構成する。出力部5
0は、2つのトランスファゲート、出力クロック発生器
31、出力バッファ32、出力トランジスタ33及びデ
ータ出力端子DQを有する。出力部50は、従来の出力
部30にある2つのラッチ素子Latch0、Latch1を具備し
ない。出力部50は、2:1のパラレル・シリアル変換
を行う。
【0024】図2は、図1に示す各ラッチ素子Latch0〜
Latch3の一構成例を示す図である。図示するように、各
ラッチ素子Latch0〜Latch3は2つのインバータからな
る。次に、図1に示すデータ出力回路の動作を、図3に
示すタイミング図を参照して説明する。まず、リードコ
マンドを外部から受け、図1での図示を省略するメモリ
コア部から読み出されたデータ”0”〜”19”は、D
パルス信号に同期してデータバスを転送し、データ入力
端子MDB0〜MDB3を介してFiFoメモリ40に
与えられる。入力されたデータは、入力ポインタ11か
らの制御信号pi0〜pi3に応答して、データラッチ
回路DLAT0〜DLAT3のLatch0〜Latch3にラッチ
される。なお、図3では図9と同様に、データラッチ回
路DLAT0のLatch0をDLAT0_L0と示してあ
る。例えば制御信号pi0に応答して、データラッチ回
路DLAT0のラッチ素子DLAT0_L0(Latch0)
〜DLAT3_L3(Latch3)はそれぞれ、入力デー
タ”0”〜”3”をラッチする。ここまでの動作は、前
述した従来技術の動作と同じである。
【0025】出力ポインタ13は、図3に示すように、
異なるタイミングで順番に制御信号po00、po0
2、po10、po12、po20、po22、po3
0、po32を出力する。これにより、出力qmix0
には、”0”、”2”、”4”、・・・のデータ列が得
られる。出力ポインタ14は、図3に示すように、異な
るタイミングで順番に制御信号po01、po03、p
o11、po13、po21、po23、po31、p
o33を出力する。これにより、出力qmix1には”
1”、”3”、”5”・・・のデータ列が得られる。い
ま、パラレル入力データの数をNとすると、図1の構成
ではN=4であり、また、FiFoメモリ40の出力数
はM=2なので、N>Mである。
【0026】データ列qmix0は、出力クロック発生
器31が出力する出力タイミング・クロックoclk0
で出力バッファ32に与えられ、データ列qmix1
は、出力タイミング・クロックoclk1で出力バッフ
ァ32に与えられる。これらの出力タイミング・クロッ
クoclk0、oclk1は相補関係にあり、Dパルス
信号の周期の1/2の周期をもつ。出力バッファ32に
与えられたシリアルデータ”0”、”1”、”2”・・
・は、出力トランジスタ32を介してデータ出力端子D
Qに出力される。
【0027】図3と図9とを対比させると分かるよう
に、図3でデータ出力端子DQにデータ”0”が現われ
るタイミングは、図9でのタイミングよりも早い。すな
わち、これは、ラッチ回路であるFiFoメモリ40の
出力タイミングを制御することでFiFoメモリ40に
パラレル・シリアル変換機能を持たせ、従来のPS変換
回路20を省略したためである。すなわち、データMD
B0〜MDB3からデータ出力端子DQまでにデータが
通る素子数は、図1に示す構成の方が図8に示す構成よ
りも少ない。
【0028】図4は、本発明の第2の実施例によるデー
タ出力回路を示す回路図である。図4中、前述した構成
要素には同一の参照番号を付けてある。図4に示すデー
タ出力回路は、FiFoメモリ60と出力部70とを有
する。この構成は、出力部70で4:1のパラレル・シ
リアル変換を行うことを特徴とする。従って、FiFo
部60は第1の実施例のような4:2のパラレル・シリ
アル変換を行わないが、出力部70で行うパラレル・シ
リアル変換が可能なように、ラッチしたデータの出力タ
イミングを決めている。この出力タイミングを決めるの
が、図4に示す4つの出力ポインタ15、16、17及
び18である。FiFoメモリ60の出力qmix0、
qmix1、qmix2及びqmix3は、出力部70
に出力される。
【0029】出力部70の4つのトランスファゲート
は、FiFoメモリ60からの出力qmix0、qmi
x1、qmix2及びqmix3を受け取る。4つのト
ランスファゲートは、出力クロック発生器34が出力す
る出力タイミング・クロックoclk0、oclk1、
oclk2及びoclk3で制御される。この制御によ
り、4:1のパラレル・シリアル変換が実現できる。ト
ランスファゲートを通ったシリアルデータは、出力バッ
ファ35及び出力トランジスタ33を介して、データ出
力端子DQに出力される。
【0030】図4に示すデータ出力回路の動作は、図5
に示すタイミング図の通りである。入力データがデータ
ラッチ回路DLAT0〜DLAT3にラッチされるまで
の動作は、第1の実施例と同様である。出力ポインタ1
5は、図5に示すように制御信号po00、po10、
po20及びpo30を発生する。例えば制御信号po
10の立ち上がりエッジは制御信号po00の立ち下が
りエッジに一致する。同様に、出力ポインタ16は制御
信号po01、po11、po21及びpo31を発生
する。制御信号po01は、制御信号po00よりも多
少遅れて立ち上がる。同様に、出力ポインタ17は制御
信号po02、po12、po22及びpo32を発生
する。制御信号po02は、制御信号po01よりも多
少遅れて立ち上がる(正確には、CLKの周期の1/
2)。同様に、出力ポインタ18は制御信号po03p
o13、po23及びpo33を発生する。制御信号p
o03は、制御信号po02よりも多少遅れて立ち上が
る。いま、パラレル入力データの数をNとすると、図1
の構成ではN=4であり、また、FiFoメモリ40の
出力数をMとすると、N=Mである。
【0031】制御信号po00、po01、po02及
びpo03は、データラッチ回路DLAT0の出力側ト
ランスファゲートを制御する。制御信号po10、po
11、po12及びpo13は、データラッチ回路DL
AT1の出力側トランスファゲートを制御する。制御信
号po20、po21、po22及びpo23は、デー
タラッチ回路DLAT2の出力側トランスファゲートを
制御する。制御信号po30、po31、po32及び
po33は、データラッチ回路DLAT3の出力側トラ
ンスファゲートを制御する。これにより、FiFoメモ
リ60の4つの出力qmix0〜qmix3には、図5
に示すようなデータ列となる。
【0032】出力クロック発生器34は、外部からの出
力イネーブル信号OE及びクロック信号CLKから、図
5に示すような出力タイミング・クロックoclk0〜
oclk3を発生する。クロックoclk3の立ち下が
りエッジは、クロックoclk0の立ち上がりエッジに
相当する。これらの出力タイミング・クロックにより、
出力qmix0〜qmix3は図5に示すように、出力
バッファ35及び出力トランジスタ33を介してデータ
出力端子DQに出力される。
【0033】図5と図9とを対比させると分かるよう
に、図5でデータ出力端子DQにデータ”0”が現われ
るタイミングは、図9でのタイミングよりも早い。すな
わち、これは、ラッチ回路であるFiFoメモリ60の
出力タイミングを制御し、出力部70にパラレル・シリ
アル変換機能を持たせ、従来のPS変換回路20を省略
したためである。すなわち、データMDB0〜MDB3
からデータ出力端子DQまでにデータが通る素子数は、
図4に示す構成の方が図8に示す構成よりも少ない。
【0034】次に、本発明のデータ出力回路を具備する
半導体記憶装置の一例であるSDRAMデバイスの全体
構成を示すブロック図である。SDRAMデバイスは複
数のバンク111(BANK−0)、112(BANK
−1)を有する。図6では便宜上2つのバンクを示して
いるが、実際はこれ以上のバンク(例えば4つのバン
ク)を具備している。なお、説明の都合上、SDRAM
デバイスは2つのバンク111、112を有しているも
のとする。
【0035】各バンク111、112はDRAMコアを
構成する。 更に、SDRAMデバイスはクロックバッ
ファ113、コマンドデコーダ114、アドレスバッフ
ァ/レジスタ&バンクセレクト115、入出力データバ
ッファ116、制御信号ラッチ回路117、118、モ
ードレジスタ119、コラムアドレスカウンタ120、
121及びFiFoメモリ112を有する。入出力デー
タバッファ116は、データ入力バッファ116aとデ
ータ出力バッファ116bとを有する。
【0036】クロックバッファ113は内部クロック生
成回路113aと出力タイミング制御回路113bとを
有し、同期用に外部から供給されるクロック信号CLK
と、SDRAMデバイスにクロック信号CLKを取り込
むべきかどうかのクロックイネーブル信号CKEを受け
取る。内部クロック生成回路113aは、内部動作に必
要な内部クロック信号を発生し、ブロック114、11
5及びデータ入力バッファ116aに出力する。出力タ
イミング制御回路113bは、外部からのクロック信号
CLKに同期して、データ出力が可能となるように制御
されたクロック信号をデータ出力バッファ116bに出
力する。図1及び図4の出力クロック発生器31及び3
4が受け取るクロック信号CLKは、出力タイミング制
御回路113bが出力するクロック信号である。なお、
出力タイミングクロック制御信号113bは、例えばD
LL回路(Delay Locked Loop)回路
で構成できる。
【0037】コマンドデコーダ114はチップセレクト
信号/CS、ローアドレスストローブ信号/RAS、コ
ラムアドレスストローブ信号/CAS、及びライトイネ
ーブル信号/WEをデコードし、これらで定義される種
々のコマンドをデコードして、対応する制御信号を生成
する。そして、制御信号は制御信号ラッチ回路117、
118及びモードレジスタ119に与えられる。
【0038】アドレスバッファ/デコーダ&バンクセレ
クト115はアドレス信号A0〜A11を一時記憶した
後デコードし、デコードされた信号をモードレジスタ1
19、バンク111、112、コラムアドレスカウンタ
120、121に出力する。アドレス信号A11はバン
ク選択用である。入出力データバッファ/レジスタ11
6はデータの入出力を制御するもので、外部からの入力
データDQMはデータ入力バッファ116aを介してD
RAMコア111、112に供給される。データ出力バ
ッファ116bは、図1及び図4に示す出力部50及び
70に相当する。また、FiFoメモリ112は、図1
及び図4に示すFiFoメモリ40及び60に相当す
る。
【0039】モードレジスタ119は、デコードされた
所定のコマンド及びアドレス信号を受け取り、バースト
モード等の所定の動作モードをリセットする。バースト
モードでは、所定数のデータビットが記憶され、選択さ
れたメモリセルに書き込まれる。バーストモードを実現
するために、モードレジスタ119はコラムアドレスカ
ウンタ120、121のカウント動作を制御する。コラ
ムアドレスカウンタ120、121はデコードされたア
ドレス信号をカウントし、コラムアドレスを生成する。
モードレジスタ119によりバーストモードが指定され
た時には、コラムアドレスカウンタ120、121はコ
ラムアドレスが間欠的に出力されるようにカウント動作
を変更する。
【0040】DRAMコア111、112は、メモリセ
ルアレイ、ローアドレスデコーダ、コラムアドレスデコ
ーダ、センスアンプ等を具備したものである。図7は、
DRAMコア111、112内部構成のうち、図1及び
図4に示すデータ出力回路に関連した部分の構成を示す
図である。データバス駆動回路60−0、60−1、・
・・、60−3は、メモリコア部(図示を省略する)か
ら出力される4ビットのリードデータDT0、DT1、
・・・、DT3の各ビットに対応して設けられている。
RD0、RD1、・・・、RD3は、データバス駆動回
路60−0〜60−3が駆動するデータバスである。メ
モリコア部から出力されたリードデータRD0〜RD3
はそれぞれ、単線のデータバスRD0〜RD3を介して
前述のデータ入力端子MDB0〜MDB3に伝送され
る。
【0041】データバス駆動回路活性化信号発生回路6
1は、データバス駆動回路活性化信号DRVによりデー
タバス駆動回路60−0〜60−3の活性、非活性を制
御する。データバス駆動回路60−0〜60−3は、同
一回路構成であり、データバス駆動回路60−0におい
て、N0はメモリコア部から出力されるデータDT0が
印加されるノードである。
【0042】データバス駆動回路60−0はNANDゲ
ート62、インバータ63、NORゲート64、pMO
Sトランジスタ65及びnMOSトランジスタ67から
構成される。pMOSトランジスタ65のソースは電源
電圧VCCに接続され、nMOSトランジスタ67のソ
ースは接地されている。DRV=Lレベルの場合、NA
NDゲート62の出力=Hレベル、pMOSトランジス
タ65=OFF、インバータ63の出力=Hレベル、N
ORゲート64の出力=Lレベル、nMOSトランジス
タ67=OFFとなり、データバス駆動回路60−0の
出力端はハイ・インピーダンス状態となる。これに対し
て、DRV=Hレベルの場合には、NANDゲート62
はリードデータDT0に対してインバータとして機能す
るとともに、インバータ63の出力=Lレベルとなるの
で、NORゲート64はリードデータDT0に対してイ
ンバータとして機能することになる。
【0043】ここに、リードデータDT0=Hレベルの
場合には、NANDゲート62の出力=Lレベル、pM
OSトランジスタ65=ON、NORゲート64の出力
=Lレベル、nMOSトランジスタ67=OFFとな
り、データバスRD0はHレベルとされる。これに対
し、リードデータDT0=Lレベルの場合には、NAN
Dゲート62の出力=Hレベル、pMOSトランジスタ
65=OFF、NORゲート64の出力Hレベル、nM
OSトランジスタ67=ONとなり、データバスRD0
はLレベルとなる。
【0044】データバス状態遷移モニタ信号生成回路6
8は、データバス駆動回路活性化信号DRVを入力し
て、データバスRD0、RD1、・・・、RD3の状態
遷移のタイミングを示すデータバス状態遷移モニタ信
号、すなわち前述のDパルス信号を生成する。Dパスル
信号は、信号線69を通り、入力ポインタ11へ出力さ
れる。回路68は、NANDゲート70、NORゲート
71、pMOSトランジスタ72、nMOSトランジス
タ73を有する。DRV=Lレベルの場合には、NAN
Dゲート70の出力=Hレベル、pMOSトランジスタ
72=OFF、NORゲート71の出力=Hレベル、n
MOSトランジスタ73=ONとなり、Dパルス信号=
Lレベルとなる。これに対して、DRV=Hレベルとさ
れる場合には、NANDゲート70=Lレベル、pMO
Sトランジスタ72=ON、NORゲート71の出力=
Lレベル、nMOSトランジスタ73=OFFとなり、
Dパルス信号=Hレベルとなる。
【0045】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
回路遅延を小さくして高速動作が行えるラッチ回路、デ
ータ出力回路及びデータ出力回路を有する半導体装置を
提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施例によるデータ出力回路の
構成を示す回路図である。
【図2】図1中に示されるラッチ素子の一構成例を示す
回路図である。
【図3】図1に示すデータ出力回路の動作を示すタイミ
ング図である。
【図4】本発明の第2の実施例によるデータ出力回路の
構成を示す回路図である。
【図5】図4に示すデータ出力回路の動作を示すタイミ
ング図である。
【図6】本発明のデータ出力回路を具備する半導体記憶
装置の一構成例を示すブロック図である。
【図7】図6中に示されるDRAMコア内部のデータ出
力経路に関連する部分の構成例を示す回路図である。
【図8】従来のデータ出力回路を示す回路図である。
【図9】図8に示すデータ出力回路の動作を示すタイミ
ング図である。
【符号の説明】
11 入力ポインタ 13、14 出力ポインタ 15、16、17、18 出力ポインタ 31、34 出力クロック発生器 32、35 出力バッファ 33 出力トランジスタ 40、60 FiFoメモリ(ラッチ回路) 50、70 出力部

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 Nビットのパラレルデータが入力する入
    力端子に並列に接続された複数のNビット構成のデータ
    ラッチ回路と、 該データラッチ回路を順番にデータ入力状態とし、前記
    パラレルデータを所定の順番で前記複数のデータラッチ
    回路に入力させるデータ入力制御回路と、 前記データラッチ回路にラッチされたデータを、ラッチ
    された順番でかつMビット(N≧M)の出力端子に異な
    るタイミングで出力させるデータ出力制御回路とを有す
    ることを特徴とするラッチ回路。
  2. 【請求項2】 前記データ出力制御回路は、N個の整数
    倍で、かつ相互に位相の異なるデータ出力タイミング信
    号を生成して、対応するデータラッチ回路に供給し、 各データラッチ回路は対応するデータ出力タイミング信
    号に応答してラッチしたデータを出力することを特徴と
    する請求項1記載のラッチ回路。
  3. 【請求項3】 ラッチ回路と出力部とを有し、 前記ラッチ回路は、Nビットのパラレルデータが入力す
    る入力端子に並列に接続された複数のNビット構成のデ
    ータラッチ回路と、該データラッチ回路を順番にデータ
    入力状態とし、前記パラレルデータを所定の順番で前記
    複数のデータラッチ回路に入力させるデータ入力制御回
    路と、ラッチされたデータを前記データラッチ回路にラ
    ッチされた順番でかつMビット(N≧M)の出力端子に
    異なるタイミングで出力させるデータ出力制御回路とを
    有し、 前記出力部はMビットの出力端子に出力されるMビット
    パラレルのデータをシリアルデータに変換することを特
    徴とするデータ出力回路。
  4. 【請求項4】 前記出力部は、パラレルデータをデータ
    ラッチ回路に供給する際の転送クロック信号よりも高い
    周波数でかつ相補関係にある2つのクロック信号で、M
    ビットの出力端子に出力されたデータを選択してシリア
    ルデータに変換することを特徴とする請求項3記載のデ
    ータ出力回路。
  5. 【請求項5】 前記出力部は、パラレルデータをデータ
    ラッチ回路に供給する際の転送クロック信号よりも高い
    周波数でかつ異なる位相の複数のクロック信号で、Mビ
    ットの出力端子に出力されたデータを選択してシリアル
    データに変換することを特徴とする請求項3記載のデー
    タ出力回路。
  6. 【請求項6】 前記クロック信号は、前記転送クロック
    の2倍の速度であることを特徴とする請求項4又は請求
    項5に記載のデータ出力回路。
  7. 【請求項7】 メモリコア部と、 これからパラレルに読み出されたNビットのリードデー
    タを入力する入力端子と、 該リードデータをシリアルに変換してシリアルデータを
    出力するデータ出力回路とを有し、 該データ出力回路はラッチ回路と出力部とを有し、 前記ラッチ回路は、Nビットのリードデータが入力する
    前記入力端子に並列に接続された複数のNビット構成の
    データラッチ回路と、該データラッチ回路を順番にデー
    タ入力状態とし、前記リードデータを所定の順番で前記
    複数のデータラッチ回路に入力させるデータ入力制御回
    路と、ラッチされたリードデータを前記データラッチ回
    路にラッチされた順番でかつMビット(N≧M)の出力
    端子に異なるタイミングで出力させるデータ出力制御回
    路とを有し、 前記出力部はMビットの出力端子に出力されるMビット
    パラレルのデータをシリアルデータに変換することを特
    徴とする半導体装置。
  8. 【請求項8】 前記出力部は、パラレルデータをデータ
    ラッチ回路に供給する際の転送クロック信号よりも高い
    周波数でかつ相補関係にある2つのクロック信号を外部
    から供給されるクロック信号から生成し、該2つのクロ
    ック信号に応じてMビットの出力端子に出力されたデー
    タを選択してシリアルデータに変換することを特徴とす
    る請求項7記載の半導体装置。
  9. 【請求項9】 前記出力部は、パラレルデータをデータ
    ラッチ回路に供給する際の転送クロック信号よりも高い
    周波数でかつ異なる位相の複数のクロック信号を外部か
    ら供給されるクロック信号から生成し、該複数のクロッ
    ク信号に応じてMビットの出力端子に出力されたデータ
    を選択してシリアルデータに変換することを特徴とする
    請求項7記載の半導体装置。
  10. 【請求項10】 前記転送クロック信号は半導体装置内
    部で生成したものであることを特徴とする請求項8又は
    9に記載の半導体装置。
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US09/100,038 US5999458A (en) 1997-12-10 1998-06-19 Latch circuit, data output circuit and semiconductor device having the circuits
KR1019980024815A KR100292773B1 (ko) 1997-12-10 1998-06-29 래치회로,데이터출력회로및이것을구비한반도체장치

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Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002510118A (ja) * 1998-04-01 2002-04-02 モサイド・テクノロジーズ・インコーポレーテッド 半導体メモリ非同期式パイプライン
KR100401512B1 (ko) * 2001-06-27 2003-10-17 주식회사 하이닉스반도체 디큐 마스크 셋업/홀드 시간 조절 회로
US6720802B2 (en) 2001-12-07 2004-04-13 Hynix Semiconductor Inc Data output buffer
US6965532B2 (en) 2003-04-29 2005-11-15 Hynix Semiconductor Apparatus and method for controlling data output of a semiconductor memory device
JP2006127726A (ja) * 2004-10-29 2006-05-18 Hynix Semiconductor Inc 半導体記憶素子
JP2007018692A (ja) * 2005-07-05 2007-01-25 Samsung Electronics Co Ltd データ入力及びデータ出力制御装置及び方法
JP2007080410A (ja) * 2005-09-15 2007-03-29 Toppan Printing Co Ltd 半導体メモリ
JP2007080415A (ja) * 2005-09-15 2007-03-29 Toppan Printing Co Ltd 半導体メモリ
JP2007095253A (ja) * 2005-09-29 2007-04-12 Hynix Semiconductor Inc 半導体メモリ素子
JP2010176839A (ja) * 1998-04-01 2010-08-12 Mosaid Technol Inc 半導体メモリ非同期式パイプライン

Families Citing this family (34)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7006634B1 (en) * 2000-09-28 2006-02-28 Cisco Technology, Inc. Hardware-based encryption/decryption employing dual ported key storage
US6873707B1 (en) * 2000-09-28 2005-03-29 Cisco Technology, Inc. Hardware-based encryption/decryption employing cycle stealing
US6556494B2 (en) 2001-03-14 2003-04-29 Micron Technology, Inc. High frequency range four bit prefetch output data path
US6515914B2 (en) * 2001-03-21 2003-02-04 Micron Technology, Inc. Memory device and method having data path with multiple prefetch I/O configurations
KR100518534B1 (ko) * 2002-07-08 2005-10-04 삼성전자주식회사 동작속도를 향상시키기 위한 개선된 구조를 가지는 반도체메모리 장치
US6931479B2 (en) * 2003-03-04 2005-08-16 Micron Technology, Inc. Method and apparatus for multi-functional inputs of a memory device
US20050102476A1 (en) * 2003-11-12 2005-05-12 Infineon Technologies North America Corp. Random access memory with optional column address strobe latency of one
CN100395740C (zh) * 2004-11-03 2008-06-18 明基电通股份有限公司 通用型串行传输系统、打印机及其控制方法
JP4600825B2 (ja) * 2005-09-16 2010-12-22 エルピーダメモリ株式会社 半導体記憶装置
WO2007125519A2 (en) * 2006-05-03 2007-11-08 Nxp B.V. Latency optimized resynchronization solution for ddr/ddr2 sdram read path
JP4400601B2 (ja) * 2006-08-21 2010-01-20 エルピーダメモリ株式会社 レイテンシカウンタ
JP5666077B2 (ja) * 2007-07-04 2015-02-12 ピーエスフォー ルクスコ エスエイアールエルPS4 Luxco S.a.r.l. アドレスカウンタ及びこれを有する半導体記憶装置、並びに、データ処理システム
JP2009020932A (ja) * 2007-07-10 2009-01-29 Elpida Memory Inc レイテンシカウンタ及びこれを備える半導体記憶装置、並びに、データ処理システム
JP2011060355A (ja) * 2009-09-08 2011-03-24 Elpida Memory Inc レイテンシカウンタ及びこれを備える半導体記憶装置、並びに、データ処理システム
US9053768B2 (en) 2013-03-14 2015-06-09 Gsi Technology, Inc. Systems and methods of pipelined output latching involving synchronous memory arrays
KR102200489B1 (ko) * 2014-05-30 2021-01-11 삼성전자주식회사 비휘발성 메모리 장치 및 그것을 포함하는 저장 장치
KR20170112631A (ko) * 2016-04-01 2017-10-12 에스케이하이닉스 주식회사 반도체장치 및 반도체시스템
US10860320B1 (en) 2016-12-06 2020-12-08 Gsi Technology, Inc. Orthogonal data transposition system and method during data transfers to/from a processing array
US10860318B2 (en) 2016-12-06 2020-12-08 Gsi Technology, Inc. Computational memory cell and processing array device using memory cells
US10770133B1 (en) 2016-12-06 2020-09-08 Gsi Technology, Inc. Read and write data processing circuits and methods associated with computational memory cells that provides write inhibits and read bit line pre-charge inhibits
US10249362B2 (en) 2016-12-06 2019-04-02 Gsi Technology, Inc. Computational memory cell and processing array device using the memory cells for XOR and XNOR computations
US10943648B1 (en) 2016-12-06 2021-03-09 Gsi Technology, Inc. Ultra low VDD memory cell with ratioless write port
US11227653B1 (en) 2016-12-06 2022-01-18 Gsi Technology, Inc. Storage array circuits and methods for computational memory cells
US10847213B1 (en) 2016-12-06 2020-11-24 Gsi Technology, Inc. Write data processing circuits and methods associated with computational memory cells
US10891076B1 (en) 2016-12-06 2021-01-12 Gsi Technology, Inc. Results processing circuits and methods associated with computational memory cells
US10777262B1 (en) 2016-12-06 2020-09-15 Gsi Technology, Inc. Read data processing circuits and methods associated memory cells
US10847212B1 (en) 2016-12-06 2020-11-24 Gsi Technology, Inc. Read and write data processing circuits and methods associated with computational memory cells using two read multiplexers
US10854284B1 (en) 2016-12-06 2020-12-01 Gsi Technology, Inc. Computational memory cell and processing array device with ratioless write port
US10146719B2 (en) 2017-03-24 2018-12-04 Micron Technology, Inc. Semiconductor layered device with data bus
US10664432B2 (en) 2018-05-23 2020-05-26 Micron Technology, Inc. Semiconductor layered device with data bus inversion
US10964702B2 (en) * 2018-10-17 2021-03-30 Micron Technology, Inc. Semiconductor device with first-in-first-out circuit
US10877731B1 (en) 2019-06-18 2020-12-29 Gsi Technology, Inc. Processing array device that performs one cycle full adder operation and bit line read/write logic features
US10958272B2 (en) 2019-06-18 2021-03-23 Gsi Technology, Inc. Computational memory cell and processing array device using complementary exclusive or memory cells
US10930341B1 (en) 2019-06-18 2021-02-23 Gsi Technology, Inc. Processing array device that performs one cycle full adder operation and bit line read/write logic features

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR950010918B1 (ko) * 1993-12-01 1995-09-25 재단법인한국전자통신연구소 클럭의 위상차 정렬을 위한 비트동기 회로
US5606532A (en) * 1995-03-17 1997-02-25 Atmel Corporation EEPROM array with flash-like core
KR970004813A (ko) * 1995-06-29 1997-01-29 김주용 직렬/병렬 데이타 변환회로

Cited By (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010176839A (ja) * 1998-04-01 2010-08-12 Mosaid Technol Inc 半導体メモリ非同期式パイプライン
JP2002510118A (ja) * 1998-04-01 2002-04-02 モサイド・テクノロジーズ・インコーポレーテッド 半導体メモリ非同期式パイプライン
US9548088B2 (en) 1998-04-01 2017-01-17 Conversant Intellectual Property Management Inc. Semiconductor memory asynchronous pipeline
US8601231B2 (en) 1998-04-01 2013-12-03 Mosaid Technologies Incorporated Semiconductor memory asynchronous pipeline
US8122218B2 (en) 1998-04-01 2012-02-21 Mosaid Technologies Incorporated Semiconductor memory asynchronous pipeline
US8078821B2 (en) 1998-04-01 2011-12-13 Mosaid Technologies Incorporated Semiconductor memory asynchronous pipeline
US7865685B2 (en) 1998-04-01 2011-01-04 Mosaid Technologies Incorporated Semiconductor memory asynchronous pipeline
KR100401512B1 (ko) * 2001-06-27 2003-10-17 주식회사 하이닉스반도체 디큐 마스크 셋업/홀드 시간 조절 회로
US6720802B2 (en) 2001-12-07 2004-04-13 Hynix Semiconductor Inc Data output buffer
US6965532B2 (en) 2003-04-29 2005-11-15 Hynix Semiconductor Apparatus and method for controlling data output of a semiconductor memory device
JP2006127726A (ja) * 2004-10-29 2006-05-18 Hynix Semiconductor Inc 半導体記憶素子
JP2007018692A (ja) * 2005-07-05 2007-01-25 Samsung Electronics Co Ltd データ入力及びデータ出力制御装置及び方法
JP2007080415A (ja) * 2005-09-15 2007-03-29 Toppan Printing Co Ltd 半導体メモリ
JP2007080410A (ja) * 2005-09-15 2007-03-29 Toppan Printing Co Ltd 半導体メモリ
JP2007095253A (ja) * 2005-09-29 2007-04-12 Hynix Semiconductor Inc 半導体メモリ素子

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