JPH11100577A - 液晶の配向方法、液晶素子の製造方法、該製造方法により得られる液晶素子、液晶装置 - Google Patents

液晶の配向方法、液晶素子の製造方法、該製造方法により得られる液晶素子、液晶装置

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JPH11100577A
JPH11100577A JP10209028A JP20902898A JPH11100577A JP H11100577 A JPH11100577 A JP H11100577A JP 10209028 A JP10209028 A JP 10209028A JP 20902898 A JP20902898 A JP 20902898A JP H11100577 A JPH11100577 A JP H11100577A
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Yasushi Asao
恭史 浅尾
Masahiro Terada
匡宏 寺田
Koichi Sato
公一 佐藤
Koji Noguchi
幸治 野口
Yukio Haniyu
由起夫 羽生
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 スメクチック液晶素子において、特性の異な
る領域の混在による配向むらを抑制し、駆動マージンを
向上する。 【解決手段】 スメクチックA相より高温側の相よりス
メクチックA相に降温した後、スメクチックA相のスメ
クチック層間隔が増加する温度範囲において、昇温・降
温工程を1回以上行なった後にスメクチックA相より低
温側にまで降温する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、フラットパネルデ
ィスプレイ、プロジェクションディスプレイ、プリンタ
ー等に用いられるライトバルブに使用される液晶素子及
び該液晶素子を用いた液晶装置とその製造方法に関し、
さらには、該液晶素子における液晶の配向方法に関す
る。
【0002】
【従来の技術】従来、広範に用いられている液晶素子と
して、例えばエム・シャット(M.Schadt)とダ
ブリュ・ヘルフリッヒ(W.Helfrich)著、ア
プライド・フィジックス・レターズ(Applied
Physics Letters)第18巻、第4号
(1971年2月15日発行)第127〜128頁にお
いて示されたツイステッドネマチック(Twisted
Nematic)液晶を用いたものが知られている。
【0003】また、代表的な液晶素子の構成として知ら
れているものに、単純マトリクスタイプの液晶素子があ
る。このタイプは、素子作製が容易であり、コスト面で
優位性がある。しかしながら、画素密度を高くしたマト
リクス電極構造を用いた時分割駆動の時、クロストーク
が発生するという問題点があるため、画素数が制限され
ていた。また、応答速度が10ミリ秒以上と遅いため、
ディスプレイとしての用途が制限されていた。
【0004】近年、上記のような単純マトリクスタイプ
の素子に対して、TFT(薄膜トランジスタ)タイプと
言われる液晶素子の開発が行なわれている。このタイプ
は一つ一つの画素にトランジスタを付設するため、クロ
ストークや応答速度の問題は解決される反面、大面積に
なればなるほど不良画素なく液晶素子を作製することが
困難になり、作製できたとしても、多大なコストを発生
する。
【0005】このような従来型の液晶素子の問題点を改
善するものとして、双安定性を示す液晶を用いた素子が
クラーク(Clark)及びラガウォル(Lagerw
all)により提案されている(特開昭56−1072
16号公報、米国特許第4367924号明細書)。こ
の双安定性を示す液晶としては、一般にカイラルスメク
チック液晶の一つである、カイラルスメクチックC(S
mC* )相を有する強誘電性液晶が用いられている。こ
の強誘電性液晶は、自発分極により反転スイッチングを
行なうため、非常に早い応答速度が得られる上にメモリ
性のある双安定状態を発現させることができる。さらに
視野角特性も優れていることから、高速、高精細、大面
積の表示素子或いはライトバルブとして適していると考
えられる。
【0006】一方、カイラルスメクチック液晶を用いた
液晶素子においては、例えば「強誘電性液晶の構造と物
性(コロナ社、福田敦夫、竹添秀男著、1990年)に
記載されているように、ジグザグ状の配向欠陥が発生し
てコントラストを著しく低下させるという問題が有っ
た。この欠陥は上下基板間に担持された強誘電性液晶の
層状構造が2種類のシェブロン構造を形成しており、そ
の層構造の折れ曲がり角度(層の傾斜角δ)がかなり大
きいことに起因している。最近、このような問題を持つ
シェブロン構造を解消し、ブックシェルフといわれる層
状構造、或いはそれに近い構造を現出させ、高コントラ
ストな良好な液晶素子を実現しようという動きがある。
例えばブックシェルフ或いはそれに近い構造を現出する
液晶材料としてパーフルオロエーテル側鎖を持つ液晶性
化合物(米国特許第5262082号公報、国際出願特
許WO93/22396号、1993年第4回強誘電液
晶国際会議、P−46,マーク・ディ・ラドクリフ(M
arc D.Radcliffe)等)が開示されてい
る。この液晶は、電場等の外部場を用いずともブックシ
ェルフに近い層傾き角の小さな構造を現出することがで
きる。
【0007】上述のパーフルオロエーテル側鎖を持つ液
晶化合物がブックシェルフ構造を呈する理由として、低
温側になるに従って液晶分子間隔が増加するという特性
を有しているためであると考えられる。即ち、一般にカ
イラルスメクチック液晶素子において、高温における液
体状態(等方相状態)から冷却過程を経て液晶分子を配
向させる際には、スメクチックA(SmA)相において
層構造を形成し、SmC* 相〔またはカイラルスメクチ
ックCA(SmCA * )相〕へと相転移することによって
液晶分子が層法線方向から傾く。この時、液晶分子が層
法線方向から傾いた分だけ層間隔が短くなってしまうこ
とから、体積収縮を補償するためにシェブロン構造をと
らざるをえなくなる。一方、パーフルオロエーテル側鎖
を持つ液晶化合物は、低温側になるに従って液晶分子間
隔が増加するという特性を有しているため、SmC*
(またはSmCA *相)へと相転移することによって液晶
分子が層法線方向から傾いたとしても、SmC* 相(ま
たはSmCA *相)における層間隔はSmA相における層
間隔に近い値をとることができる。そのために、電場な
どの外部場を用いずとも自発的にブックシェルフ或いは
それに近い層傾き角の小さな構造を現出させることがで
きるのである。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、本発明
者等が観察したところ、上記のような分子間隔が低温側
で長くなる液晶材料では、SmC* 相(またはSmCA *
相)において、見かけのチルト角や情報信号電圧による
分子の揺らぎ等の素子特性の異なる領域が無秩序に分布
している配向状態を呈してしまうことがわかった。ここ
で、便宜上、相対的に見かけのチルト角が大きく情報信
号電圧による分子の揺らぎ量が少ない領域をP1領域、
相対的に見かけのチルト角が小さく情報信号電圧による
分子の揺らぎ量が多い領域をP2領域、と呼ぶ。
【0009】上記のような特性の異なる領域が現出する
理由として、詳細な検討を重ねた結果、次のようなこと
が原因であると考えられる。
【0010】即ち、分子間隔が低温側ほど長くなる液晶
材料では、通常SmC* 相(またはSmCA 相)だけで
なく、SmA相においても分子間隔が低温側ほど長くな
るという特性を有している。つまり、高温側の相(等方
相またはネマチック相、或いはコレステリック相)から
SmA相へと相転移することによってブックシェルフ或
いはそれに近い層傾き角の小さな構造が形成される。そ
の後、さらに冷却すると分子間隔を伸ばそうとする力が
働くが、液晶素子の層法線方向の長さ、即ち(層ピッ
チ)×(層数)(層ピッチとは、素子内で最初にスメク
チック相が発生したときのスメクチック層間隙)は一定
であるため、冷却によって分子間隔が伸びる分だけ、系
全体が圧縮力を受ける形となる。
【0011】一方、この圧縮は本来全ての層に対して均
一にかかるべきであるが、セルや温度等のむらによって
強く圧縮される部分とそれほど強く圧縮されない部分と
いう圧縮むらを生じてしまう。即ち、SmA相における
層圧縮むらがSmC* 相(またはSmCA 相)における
素子特性のむらとなって現れてしまうのである。
【0012】上記のような素子特性の異なるP1及びP
2領域が連続して変化している場合には、実用上特に問
題とはならないが、2領域が不連続的に(急激に)変化
している場合にはこれらの領域の境界部分が欠陥とな
り、コントラストの低下や異常反転ドメイン発生の原因
となり、駆動マージン低下の原因となってしまう。
【0013】本発明の目的は、スメクチック液晶、特に
カイラルスメクチック液晶を用いた液晶素子において、
SmA相における降温時の層圧縮むらを緩和し、SmA
相より低温側のスメクチック相、特にSmC* 相(また
はSmCA *相)における素子特性のむらの発生を抑制
し、広い駆動マージンを実現し、良好な表示装置を提供
することにある。
【0014】
【課題を解決するための手段】本発明の第一は、スメク
チックA相において降温時にスメクチック液晶層間隔が
増加する温度範囲を有するスメクチック液晶を一対の電
極基板間に挟持してなる液晶素子において、上記液晶
に、スメクチックA相の温度範囲内で且つ上記スメクチ
ック液晶層間隔が増加する温度範囲の少なくとも一部を
含む温度範囲で1サイクル以上の昇温及び降温処理を施
した後、所定の温度まで降温することを特徴とする液晶
の配向方法である。
【0015】また本発明の第二は、スメクチックA相に
おいて降温時にスメクチック液晶層間隔が増加する温度
範囲を有するスメクチック液晶を一対の電極基板間に挟
持してなる液晶素子の製造方法であって、セルに等方相
の液晶を注入した後降温し、スメクチックA相の温度範
囲内で且つ上記スメクチック液晶層間隔が増加する温度
範囲の少なくとも一部を含む温度範囲で1サイクル以上
の昇温及び降温処理を施した後、所定の温度まで降温す
る工程を有することを特徴とする液晶素子の製造方法で
ある。
【0016】さらに本発明の第三は、上記製造方法によ
って製造されたことを特徴とする液晶素子であり、第四
は、該液晶素子とその駆動手段とを有することを特徴と
する液晶装置である。
【0017】本発明の液晶の配向方法では、SmA相に
おいて特定の層間隔の温度特性を有する液晶に対し、当
該SmA相で1サイクル以上の降温、昇温処理を行うこ
とで、自発的にブックシェルフ或いはそれに近い層傾き
角の小さな構造を示す液晶材料に特有の、SmA相にお
ける層圧縮むらに起因する配向むらを解消、または緩和
させ、これによって駆動マージンを向上させたことに特
徴を有する。即ち本発明においては、液晶の冷却による
層間隔の増加によって生じた層圧縮むらを再昇温するこ
とによって均一化している。これは、昇温することによ
って液晶の粘性が下がり、液晶素子内の圧力に場所むら
がある状態から本来安定であると思われる均一に圧力を
受けた構造へと液晶分子の再配列が起こるためであると
考えられる。圧縮むらが緩和された液晶素子において
は、素子特性のむらが抑制され、広い駆動マージンが得
られる。
【0018】本発明に用いる液晶材料では、SmA相で
の昇温過程において層間隔が減少する。このため、Sm
A相において昇温することにより層構造はブックシェル
フ構造からシェブロン構造へと変化することになる。こ
の時取り得るシェブロン構造は、セル厚方向の中央部に
て折れ曲がる通常のシェブロン構造や、面内において折
れ曲がる面内シェブロン構造、或いはそれらの複合系が
考えられる。本発明の液晶素子では、SmA相における
昇温時において、しばしば上述の面内にシェブロン構造
に起因する層法線方向へのストライプテクスチャーが観
測される。このSmA相における昇温時において観測さ
れるストライプテクスチャーは、降温過程において再び
消えてしまうか、或いはわずかに痕跡が残る程度であ
り、SmA相より低温側の相、特にSmC* 相(または
SmCA *相)における実用特性にはほとんど影響を及ぼ
さない。
【0019】
【発明の実施の形態】以下、図1に示す本発明の配向処
理に適する液晶素子の一実施形態について詳細に説明す
る。尚、図1は断面模式図であり、図中、1a,1bは
基板、2a,2bは電極、3,4は配向制御層、5は液
晶である。
【0020】同図に示す液晶素子においては、ガラス、
プラスチック等からなる一対の基板1a、1bが対向し
て配置されており、各基板上には所定のパターン形状の
電極2a、2bがそれぞれ形成されている。これらの電
極は、例えばIn2 O、SnO2 或いはITO(Ind
ium Tin Oxide)等の透明導電膜が用いら
れる。また、本実施形態においては、電極2a、2bは
それぞれストライプ状に形成され、互いに実質的に直交
するように配置され、マトリクス電極を構成している。
本発明においては、一方の電極2を金属等で形成して反
射型の液晶素子とすることもできる。さらに、本発明に
おいて電極構造は上記単純マトリクス構造に限られるも
のではない。
【0021】図6は、単純マトリクス構造で電極を配置
した場合の一例の平面図である。同図において、素子
(パネル)61には、一方の基板に設けられた走査電極
群62(例えば図1に示す電極2bに相当)の走査線
(S1〜Sm)と他方の基板に設けられた情報電極群63
(図1における電極2aに相当)のデータ線(I1
n)とが互いに交差して配線され、走査線とデータ線
との間には液晶(図1に示す液晶5)が配置されてい
る。そして、走査線とデータ線の各交差部が一表示単位
である画素となり、走査線とデータ線から電圧が印加さ
れて液晶の駆動がなされる。
【0022】電極2a、2b上には必要に応じて配向制
御層3、4がそれぞれ形成される。配向制御層3、4は
いずれか一方のみであっても良く、また、同じ膜或いは
異なる膜の組み合わせであっても良い。本実施形態で
は、後述するコレステリック相を持たない液晶を用いた
場合に好適な、配向制御層3、4を互いに異なる膜で形
成した場合の好ましい形態について述べる。
【0023】配向制御層3及び4の一方は、好ましくは
体積抵抗値が1.0×104 〜1.0×1010Ωcmの
範囲にある層である。かかる層としては、例えば、必要
に応じて多結晶または非晶質金属酸化物からなる膜、多
結晶または非晶質半導体からなる膜、及び微粒子(導電
性微粒子)をバインダー中に分散させた膜が用いられ
る。上記多結晶または非晶質金属酸化物、多結晶または
非晶質半導体からなる膜、及び微粒子には必要に応じて
導電性制御不純物が添加されていても良く、導電性が調
整されている。
【0024】前記多結晶または非晶質金属酸化物からな
る膜として、例えば、ZnO、CdO、ZnCdOx
のIIB族元素の酸化物からなる膜、GeO2 、SnO
2 、GeSnOx 、TiO2 、ZrO2 、TiZrOx
等のIVA族元素、IVB族元素の酸化物からなる膜が
挙げられる。
【0025】前記多結晶または非晶質半導体からなる膜
としては、Si、SiC等のIVB族半導体の膜が挙げ
られる。
【0026】また、微粒子としては、例えば、上記II
B族元素の酸化物、IVA族元素の酸化物、IVB族元
素の酸化物、IVB族の半導体の微粒子が用いられる。
【0027】必要に応じて、上記多結晶または非晶質金
属酸化物、多結晶または非晶質半導体や微粒子に添加さ
れる導電性制御不純物としては、次のものが挙げられ
る。IIB族元素の酸化物に対してドープする導電性制
御不純物には、例えばn型不純物(ドナー/電子導電を
高める不純物)としてIIIB族元素であるB、Al、
Ga、In等が、p型不純物(アクセプタ/ホール伝導
度を高める不純物)としてIA族、IB族元素であるC
u、Ag、Au、Li等が用いられる。またIVB族元
素の酸化物、半導体にドープする導電性制御不純物に
は、例えば、n型不純物としてVB族元素であるP、A
s、Sb、Biが、p型不純物としてIIIB族元素で
あるB、Al、Ga、In等がそれぞれ用いられる。
【0028】このような導電性制御不純物については、
当該不純物が添加された材料を含む配向制御層を有する
基板側の表面電位が正の場合はドナーを、負の場合はア
クセプタを用いる。不純物の添加濃度については、材料
(微粒子、不純物の材料の組み合わせ)の種類、結晶状
態(結晶欠陥密度の多寡)に応じて設定されるが、不純
物が添加された状態での材料の自由電子或いは自由正孔
の濃度が1.0×1011〜1.0×1014atm/cm
3 程度となるようにすることが好ましい。不純物を添加
する母体の材料として多結晶または非晶質の材料を用い
る場合は、不純物の添加効率を考慮して、1.0×10
17〜1.0×1020atm/cm3 (母体材料に対して
0.01〜1%程度)を実際の添加量とする。
【0029】前記微粒子を分散させるバインダーとなる
材料としては、例えば、SiOx 、TiOx 、ZrO
x 、その他の酸化物溶融母材、シロキサンポリマー等が
用いられる。
【0030】配向制御層3及び4の他方は、一軸配向処
理がなされたものである。膜厚は100Å以下、好まし
くは70Å以下、特に好ましくは50Åとする。
【0031】上記一軸配向処理が施される配向制御層
は、例えば、有機物の膜を溶液塗布等により形成した
後、その膜表面をビロード、布、紙等の繊維状材料で摺
擦(ラビング処理)することにより得ることができる。
かかる配向制御層に用いる材料としては、ポリビニルア
ルコール、ポリイミド、ポリイミドアミド、ポリエステ
ル、ポリアミド、ポリエステルイミド、ポリパラキシレ
ン、ポリカーボネート、ポリビニルアセタール、ポリビ
ニルクロライド、ポリスチレン、ポリシロキサン、セル
ロース樹脂、メラミン樹脂、ウレア樹脂、アクリル樹脂
等の有機材料が挙げられる。また、SiO等の酸化物或
いは窒化物を基板に対して斜め方向から蒸着して成膜
し、一軸配向規制力を付与する斜方蒸着法により形成す
ることもできる。
【0032】上記一軸配向処理が施される配向制御層と
して、下記一般式Pで表わされる繰り返し単位を有する
ポリイミド膜を用いることが特に好ましい。
【0033】
【化5】
【0034】また、これらのポリイミドの具体的構造と
しては例えば以下の繰り返し単位構造が挙げられる。
【0035】
【化6】
【0036】
【化7】
【0037】本実施形態の液晶素子においては、基板1
a、1bはその周縁部においてシール材(不図示)を介
して貼り合わされ、また該シール材で規定された領域内
でスペーサービーズ(不図示)を介して対向し、そのセ
ルギャップが形成されている。セルギャップは例えば強
誘電性液晶を用いる場合、約1〜5μm程度の範囲に設
定する。また基板間の接着性を高める目的でスペーサー
に加えて接着性のビーズを基板間に分散しても良い。
【0038】本発明において用いられる液晶5は、スメ
クチック液晶であり、SmA相において降温時に層間隔
の増加する液晶が用いられる。好ましくはカイラルスメ
クチック相を示し、上記のような層間隙の特性を有する
液晶が用いられる。よって、強誘電性液晶に限らず、同
様の特性を有する反強誘電性液晶においても本発明の効
果を得ることができる。特に、本発明は、SmA相にお
いて降温時に1%以上10%以下層間隔が増加する液
晶、より好ましくはSmA相の全温度範囲で層間隙が増
加し、その増加程度が1%以上10%以下である液晶に
適用される。尚、ここで言う1%以上10%以下の層間
隙の増加とは、SmA相において測定し得る層間隙のう
ち、最も高温側での層間隙を100%とした場合に対す
る層間隙の変化を言う。
【0039】さらに、ブックシェルフ或いはそれに近い
層傾き角の小さい構造(例えば傾き角3%以下)を有す
る液晶を用いることが好ましい。
【0040】特に、本発明において用いられる液晶とし
ては、コレステリック相を持たない液晶が挙げられる。
また、コレステリック相を持たない液晶を用いた場合に
は、等方相−スメクチック相転移でバトネが徐々に発生
しながら配向状態を形成するが、上記したような、異な
る配向制御膜の組み合わせでセルを構成しておくと、一
方の基板からバトネが発生し始め、他方の基板側へ成長
していくという状態を現出し、良好な均一配向を実現し
易い。
【0041】さらに本発明において用いる液晶として
は、好ましくはフルオロカーボン末端部分及び炭化水素
末端部分を有し、該両末端部分が中心核によって結合さ
れ、スメクチック中間相又は潜在的スメクチック中間相
を持つフッ素含有液晶化合物を含有する液晶組成物が望
ましい。
【0042】前記フッ素含有液晶化合物としては、フル
オロカーボン末端部分が、−D1−Cxa2xa−Xで表わ
される基、(但し、上記式中xaは1〜20であり、X
は−H又は−Fを表わし、D1は、−CO−O−(C
2ra−、−O−(CH2ra−、−(CH2ra−、
−O−SO2−、−SO2−、−SO2−(CH2ra−、
−O−(CH2ra−O−(CH2rb−、−(CH2
ra−N(Cpa2pa+1)−SO2−、又は−(CH2ra
−N(Cpa2pa+1)−CO−を表わす。ra及びrb
は、独立に1〜20であり、paは0〜4である。)、
或いは、−D2−(Cxb2xb−O)za−Cya2ya+1
表わされる基、(但し、上記式中xbはそれぞれの(C
xb2xb−O)に独立に1〜10であり、yaは、1〜
10であり、zaは1〜10であり、D2は、−CO−
O−Crc2rc、−O−Crc2rc−、−Crc2rc−、
−O−(Csa2sa−O)ta−Crd2rd−、−O−SO
2−、−SO2−、−SO2−Crc2rc−、−Crc2rc
−N(Cpb2pb+1)−SO2−、−Crc2rc−N(C
pb2pb+1)−CO−、単結合から選ばれ、rc及びr
dはそれぞれ独立に1〜20であり、saはそれぞれの
(Csa2sa−O)に独立に1〜10であり、taは1
〜6であり、pbは0〜4である。)であるような化合
物を用いることができる。
【0043】特に好ましくは、下記一般式(I)、或い
は(II)で表わされるフッ素含有液晶化合物を用いる
ことができる。
【0044】
【化8】 を表わす。
【0045】ga、ha、iaは独立に0〜3の整数
(但し、ga+ha+iaは少なくとも2である)を表
わす。
【0046】夫々のL1とL2は独立に、単結合、−CO
−O−、−O−CO−、−COS−、−S−CO−、−
CO−Se−、−Se−CO−、−CO−Te−、−T
e−CO−、−CH2CH2−、−CH=CH−、−C≡
C−、−CH=N−、−N=CH−、−CH2−O−、
−O−CH2−、−CO−又は−O−を表わす。
【0047】夫々のX1、Y1、Z1はA1、A2、A3の置
換基であり、独立に−H、−Cl、−F、−Br、−
I、−OH、−OCH3、−CH3、−CN、又は−NO
2を表わし、夫々のja、ma、naは独立に0〜4の
整数を表わす。
【0048】J1は、−CO−O−(CH2ra−、−O
−(CH2ra−、−(CH2ra−、−O−SO2−、
−SO2−、−SO2−(CH2ra−、−O−(CH2
ra−O−(CH2rb−、−(CH2ra−N(Cpa
2pa+1)−SO2−、又は−(CH2ra−N(Cpa
2pa+1)−CO−を表わす。ra及びrbは、独立に1
〜20であり、paは0〜4である。
【0049】R1は、−O−Cqa2qa−O−Cqb
2qb+1、−Cqa2qa−O−Cqb2qb+1、−Cqa2qa
3、−O−Cqa2qa−R3、−CO−O−Cqa2qa
3、又は−O−CO−Cqa2qa−R3を表わし、直鎖
状、分岐状のいずれであっても良い(但し、R3は、−
O−CO−Cqb2qb+1、−CO−O−Cqb2qb+1、−
H、−Cl、−F、−CF3、−NO2、−CNを表わ
し、qa及びqbは独立に1〜20である)。
【0050】R2はCxa2xa−Xを表わす(Xは−H又
は−Fを表わし、xaは1〜20の整数である)。
【0051】
【化9】 を表わす。
【0052】gb、hb、ibはそれぞれ独立に0〜3
の整数(但し、gb+hb+ibは少なくとも2であ
る)を表わす。
【0053】夫々のL3、L4は独立に、単結合、−CO
−O−、−O−CO−、−CO−S−、−S−CO−、
−CO−Se−、−Se−CO−、−CO−Te−、−
Te−CO−、−(CH2CH2ka−(kaは1〜
4)、−CH=CH−、−C≡C−、−CH=N−、−
N=CH−、−CH2−O−、−O−CH2−、−CO−
又は−O−を表わす。
【0054】夫々のX2、Y2、Z2はA4、A5、A6の置
換基であり、独立に−H、−Cl、−F、−Br、−
I、−OH、−OCH3、−CH3、−CF3、−O−C
3、−CN、又は−NO2を表わし、夫々のjb、m
b、nbは独立に0〜4の整数を表わす。
【0055】J2は、−CO−O−Crc2rc−、−O−
rc2rc−、−Crc2rc−、−O−(Csa2sa
O)ta−Crd2rd−、−O−SO2−、−SO2−、−
SO2−Crc2rc−、−Crc2rc−N(Cpb2pb+1
−SO2−、−Crc2rc−N(Cpb2pb+1)−CO−
であり、rc及びrdは独立に1〜20であり、saは
それぞれの(Csa2sa−O)に独立に1〜10であ
り、taは1〜6であり、pbは0〜4である。
【0056】R4は、−O−(Cqc2qc−O)wa−Cqd
2qd+1、−(Cqc2qc−O)wa−Cqd2qd+1、−C
qc2qc−R6、−O−Cqc2qc−R6、−CO−O−C
qc2qc−R6、又は−O−CO−Cqc2qc−R6を表わ
し、直鎖状、分岐状のいずれであっても良い(但し、R
6は−O−CO−Cqd2qd+1、−CO−O−Cqd
2qd+1、−Cl、−F、−CF3、−NO2、−CN、又
は−Hを表わし、qc及びqdは独立に1〜20の整
数、waは1〜10の整数である)。
【0057】R5は、(Cxb2xb−O)za−Cya
2ya+1で表わされる(但し、上記式中xbはそれぞれの
(Cxb2xb−O)に独立に1〜10であり、yaは1
〜10であり、zaは1〜10である)。
【0058】上記一般式(I)で表わされる化合物は、
特開平2−142753号公報、米国特許第5,08
2,587号に記載の方法によって得ることができる。
かかる化合物の具体例を以下に列挙する。
【0059】
【化10】
【0060】
【化11】
【0061】
【化12】
【0062】
【化13】
【0063】
【化14】
【0064】
【化15】
【0065】
【化16】
【0066】
【化17】
【0067】
【化18】
【0068】
【化19】
【0069】
【化20】
【0070】
【化21】
【0071】上記一般式(II)で表わされる化合物
は、国際公開WO93/22396、特表平7−506
368号公報に記載の方法によって得ることができる。
かかる化合物の具体例を以下に列挙する。
【0072】
【化22】
【0073】
【化23】
【0074】
【化24】
【0075】
【化25】
【0076】
【化26】
【0077】本発明に用いられるカイラルスメクチック
液晶中には、その他の化合物、例えば染料、顔料、酸化
防止剤、紫外線吸収剤等の添加物を含有させることが可
能である。
【0078】本発明の液晶素子の構成は上記実施形態の
構成に限られるものではなく、従来の液晶素子、特にカ
イラルスメクチック液晶素子に適用された構成であれ
ば、適宜応用することができる。
【0079】本発明では、液晶素子を構成する一方の基
板にTFTやMIM等のスイッチングデバイスを設けた
アクティブマトリクス基板を用いることもできる。特
に、カイラルスメクチック相を呈する液晶5の材料や他
の素子構成を調整し、液晶分子が印加電圧の大きさや極
性に応じノンメモリーでスイッチングを行なうように
し、素子に対して階調信号を供給する駆動回路を設け、
振幅変調によるアクティブマトリクス駆動を行ないアナ
ログ階調表示を行なう液晶装置を実現することもでき
る。
【0080】図11、12を参照してこのような液晶素
子とこれを用いた装置を説明する。
【0081】上記液晶装置は、スイッチング素子及び画
素電極を有するアクティブマトリクス基板と、共通電極
を有する基板との間に液晶を挟持した素子(パネル部
分)と、該素子を駆動する駆動手段から構成されてい
る。
【0082】図11は、液晶装置における素子と駆動手
段の基本構成(平面構造)例を、一方の基板(アクティ
ブマトリクス基板)の構成を中心に模式的に示したもの
である。
【0083】図11に示す構成では、液晶素子に相当す
る10において、駆動手段である走査信号ドライバ11
に連結した走査線に相当する図面上水平方向のゲート線
、G…と、駆動手段である情報信号ドライバ12
に連結した情報信号線に相当する図面上縦方向のソース
線S、S…が互いに絶縁された状態で直交するよう
に設けられており、その各交点の画素に対応してスイッ
チング素子に相当する薄膜トランジスタ(TFT)14
及び画素電極15が設けられている(同図では簡略化の
ため5×5画素の領域のみを示す)。尚、スイッチング
素子として、TFTの他、MIM(Metal−Ins
ulator−Metal)素子を用いることもでき
る。ゲート線G、G…はTFT14のゲート電極
(図示せず)に接続され、ソース線S、S…はTF
T14のソース電極(図示せず)に接続され、画素電極
15はTFT14のドレイン電極(図示せず)に接続さ
れている。かかる構成において、走査信号ドライバ11
によりゲート線G、G…が例えば線順次に走査選択
されてゲート電圧が供給され、このゲート線の走査選択
に同期して情報信号ドライバ12から、各画素に書き込
む情報に応じた情報信号電圧がソース線S、S…に
供給され、TFT14を介して各画素電極に印加され
る。
【0084】図12は、図11に示すようなパネル構成
における各画素部分(1ビット分)の断面構造の一例を
示す。同図に示す構造では、TFT14及び画素電極1
5を備えるアクティブマトリクス基板20と共通電極4
2を備えた対向基板40間に、自発分極を有する液晶層
が挟持され、液晶容量(Clc)31が構成されてい
る。
【0085】アクティブマトリクス基板20について
は、TFT14としてアモルファスSiTFTを用いた
例が示されている。
【0086】尚、本発明は、この例に限定されるもので
はなく、poly−SiTFT等他のタイプのTFTを
用いても良く、また、二端子型のスイッチング素子など
を用いるタイプでも良い。
【0087】TFT14はガラス等からなる基板21上
に形成され、図11に示すゲート線G、G…に接続
したゲート電極22上に窒化シリコン(SiN)等の
材料からなる絶縁膜(ゲート絶縁膜)23を介してa−
Si層24上に、それぞれna−Si層25、26を
介してソース電極27、ドレイン電極28が互いに離間
して設けられている。ソース電極27は図11に示すソ
ース線S、S…に接続し、ドレイン電極28はIT
O膜等の透明導電膜からなる画素電極15に接続してい
る。また、TFT14におけるITO膜等の透明導電膜
からなる画素電極15に接続している。また、TFT1
4におけるa−Si層24上をチャネル保護膜29が被
覆している。このTFT14は、該当するゲート線が走
査選択された期間においてゲート電極22にゲートパル
スが印加されオン状態となる。
【0088】さらに、アクティブマトリクス基板20に
おいては、画素電極15と、該電極のガラス基板側に設
けられた保持容量電極30により絶縁膜23(ゲート電
極22上の絶縁膜と連続的に設けられた膜)を挟持した
構造により保持容量(C)32が液晶層49と並列の
形で設けられている。保持容量電極はその面積が大きい
場合、開口率が低下するため、ITO膜等の透明導電膜
により形成される。
【0089】アクティブマトリクス基板20のTFT1
4及び画素電極15上には液晶の配向状態を制御するた
めの配向制御層43aが設けられている。
【0090】一方、対向基板40では、ガラス基板41
上に、全面同様の厚みで共通電極42、及び液晶の配向
状態を制御するための配向制御層43bが積層されてい
る。
【0091】配向制御層43a、43bについては、図
1に示す素子における配向制御層3、4で用いる材料、
処理を適用することができる。
【0092】尚、上記セル構造は、互いに偏光軸が直交
した関係にある一対の偏光板間に挟持されている(図示
せず)。
【0093】その他の部材(スペーサーや接着性ビー
ズ)についても、図1に示す素子と同様のものを用いる
ことができる。
【0094】上記構造のパネルの画素部分において、液
晶層49としては、上述した図1に示す型の素子の液晶
5に用いるカイラルスメクチック相を呈する強誘電性を
示す液晶、あるいは反強誘電性を示す液晶が用いられ
る。特に好ましくは、上述したように、液晶材料の組成
或いは素子の構成を適宜選択することで、一対のクロス
ニコル偏光板間で電圧無印加の状態で液晶の配向軸を一
方の偏光軸にそろえ、スタティック駆動でのDC矩形波
電圧を加えた場合、印加電圧−透過率特性が図13に示
すような無閾値特性で印加電圧値に応じた連続的な透過
率の変化を呈するように液晶層を設定する。このような
設定により印加電圧に応じた階調表示が可能になる。
【0095】本発明においては、例えば上記実施形態の
構成のセルに等方相まで加熱した液晶を注入し、SmA
相より高温側の相からSmA相に降温し、該相におい
て、或いは、必要に応じて室温等のSmA相より低温側
の相にある液晶を昇温して、SmA相より高温側の相ま
で昇温し、この高温側の相からSmA相に降温して該S
mA相において、特定の昇温、降温工程を施す。即ち、
SmA相の温度範囲において、スメクチック層間隔が増
加する温度範囲を少なくとも一部含む温度範囲(上限及
び下限)を設定し、SmA相より高温側の相、例えば等
方相から該下限まで降温した後、一端上記上限まで昇温
してから再び該下限まで降温する工程を1サイクル以上
行なった後、SmA相より低温側の相、例えばSmC*
相(またはSmCA *相)まで降温する。具体的には、S
mA相内で層間隔が1%以上、好ましくは10%以下変
化する範囲で昇温するような設定で処理を行なうことが
好ましい。具体的な温度巾として、15℃以上、昇温、
降温の速度が0.1〜10℃/minとすることが好ま
しい。温度範囲の上限は温度サイクル工程の配向制御に
ついての効果と処理の操作性を考慮して、降温時のSm
A相より高温側の相→SmA相の相転移温度より0.5
〜10℃低い範囲内にすること、また、下限はSmA相
→SmA相より低温側の相の相転移温度(降温時)より
0.5〜10℃高い範囲内にすることがより好ましい。
【0096】さらに本発明においては、SmA相より低
温側の相、特にSmC* 相(またはSmCA *相)まで降
温した際に、該SmC* 相(またはSmCA *相)におい
て電圧を印加することによりさらに均一な配向を得るこ
とができる。この電圧印加工程としては、好ましくは、
0.1〜100Hzで0.1V〜10Vの矩形波または
三角波の交流電界を印加するものである。
【0097】本発明において、スメクチック層構造の特
性については下記X線回折法によって解析した。
【0098】基本的には、クラークやラガーウォルによ
って行なわれた方法〔ジャパンディスプレイ(Japa
n Display)’86,Sep.30〜Oct.
2,1986.456〜458〕によりスメクチック層
の層間隔d及び傾斜角δを求めた。測定装置は回転陰極
方式X線発生部を有するX線回折装置(MACサイエン
ス社製)に自動温度制御装置を装着したものを用い、測
定用の液晶セルは熱容量を小さくし、ガラス基板へのX
線の吸収を低減させるため、基板にはコーニング社製マ
イクロシート(80μm厚)を用いた。
【0099】先ず、層間隔dは試料としてバルク液晶
(セルに注入する液晶組成物)をガラス基板に5mm角
で表面が平滑になるように塗布したものを用い、通常の
粉末X線回折法により得られたピークをブラッグ(Br
agg)の回折条件式に当てはめて求めた。
【0100】測定温度は、回折面の平滑性を増すために
各々の液晶組成物が等方性液体状態になる温度にした後
に3℃、変移点(等方相→SmA相)近傍では1℃毎に
温度を降下させて、回折ピークが得られなくなる温度ま
で測定を行なった。実験に用いた自動温度制御装置は各
温度で約±0.3℃の制御精度を示した。
【0101】次に、セル内に形成されたスメクチック層
構造(層傾斜角δ)を、先に求めた層間隔に相当する回
折角2θにX線検出器を合わせてセルをθスキャンし、
前記文献に示された方法により求めた。
【0102】上記X線回折装置の設定条件は、分析線と
して銅のκα線を用い、X線出力=45KV×30mA
=13.5KW、発散スリット:0.5°、走査スリッ
ト:0.5°、受光スリット:0.15mm、走査速
度:8°/minで、照射面積はセル治具とスリットに
よって決まり、8.0×1.8mm2 で測定用のセル厚
は2.0μmである。尚、バックグラウンド除去にはS
onneveld法を用いた。
【0103】本発明によるスメクチック層構造の変化の
一例として、図2に等方相から徐冷したのみの液晶のX
線回折の結果を、図3に同じ液晶を本発明の方法によっ
て配向させた場合のX線回折の結果を模式的に示す。通
常の徐冷のみの場合には、傾斜角δがほぼ0°のブック
シェルフ構造と傾斜角δが小さいブックシェルフ構造に
近いシェブロン構造(同図では5〜6°程度)が混在し
た結果となっているのに対し、本発明の配向方法を経た
場合には、ブックシェルフ領域が存在せずシェブロン構
造のみとなる。即ち、δの分布が少なくなり、層構造が
均一化されていることがわかる。
【0104】本発明の液晶素子は種々の機能を持った液
晶装置に用いることができるが、その最も適した例が、
該素子を表示パネル部に使用し、図4、5に示した走査
線アドレス情報を持つ画像情報からなるデータフォーマ
ット及びSYN信号による通信同期手段をとることによ
り、液晶表示装置を実現する。図中の符号は、101が
液晶表示装置、102がグラフィックコントローラ、1
03が表示パネル、104が走査線駆動回路、105が
情報線駆動回路、106がデコーダ、107が走査線信
号発生回路、108がシフトレジスタ、109がライン
メモリ、110が情報信号発生回路、111が駆動制御
回路、112がGCPU、113がホストCPU、11
4がVRAMである。
【0105】画像情報の発生は本体装置のグラフィック
コントローラ102にて行なわれ、図4及び図5に示し
た信号伝達手段に従って表示パネル103へと転送され
る。グラフィックコントローラ102はGCPU(中央
演算装置)112及びVRAM(画像情報格納用メモ
リ)114を核にホストCPU113と液晶表示装置1
01間の画像情報の管理や通信を司っている。尚、該表
示パネルの裏面には、光源が配置されている。
【0106】本発明の表示装置は、表示媒体である液晶
素子の配向むらが抑制されて後述する駆動マージンが広
いため、優れた駆動特性を発揮し、高精細、高速、大面
積の表示画像を得ることができる。
【0107】本発明の液晶素子の駆動法としては、例え
ば、単純マトリクスタイプの駆動として特開昭59−1
93426号公報、同59−193427号公報、同6
0−156046号公報、同60−156047号公報
に記載の駆動法を用いることができる。
【0108】以下、図面を参照して、本発明の液晶素子
におけるマトリクス駆動とその際に重要となる駆動特性
について説明する。
【0109】図7、図8は、図6に示すマトリクス電極
構造において採用される駆動法(マルチプレックス駆
動)の波形の一例である。
【0110】図7に示す駆動波形は、走査線側を基準に
して、+側の極性で黒表示させるような設定とし、黒表
示側をリセット方向とした、リセット書き込み型の波形
である。図中S0 は走査線に印加する走査信号波形を、
1 はデータ線に印加する情報信号波形(白表示波形)
を、I2 はデータ線に印加する情報信号波形(黒表示波
形)をそれぞれ表わしている。また、図中(S0 −I
1 )と(S0 −I2 )は選択された画素に印加される電
圧波形で、電圧(S0 −I1 )が印加された画素は白表
示状態となり、電圧(S0 −I2 )が印加された画素は
黒表示状態となる(前述したようにリセットを黒表示側
とする)。
【0111】図8における(S2 −I0 )と(S3 −I
0 )は、図7に示す駆動波形で、例えば同一データ線上
で連続する4画素に「白、白、黒、黒」表示を行なった
時の第2番目の画素と第3番目の画素に印加される時系
列波形である。
【0112】図7、図8に示す駆動波形では、選択され
た走査線上の画素に印加される書き込みパルス幅Δtに
対し、1ラインクリアのリセットパルスが(5/2)Δ
tに設定され、また書き込みパルスの後にリセットパル
ス側を補助するパルスが(1/2)Δt存在している。
このため、図7、図8で示される駆動波形では、1ライ
ン走査期間(1H)は4Δtとなる。ただし、図8のよ
うに走査波形を1ライン毎に重なり合う時間を設けずに
走査する他に、2以上の走査線(例えば隣接する走査
線)の走査波形を出力に重なり合う時間を設け(例え
ば、2Δt分)実用上の1ライン走査時間(1H)を短
く(例えば、2Δtに)することも可能である。
【0113】図7、図8に示した駆動波形の各パラメー
タ、走査信号電圧VS 、情報信号電圧VI 、駆動電圧V
op=VS +VI 、バイアス比=VI /(VS +VI )、
Δtの値は使用する液晶材料のスイッチング特性によっ
て決定される。
【0114】図9は、図7で示した駆動波形を用いて、
上述のバイアス比を1/3.4に固定し、また駆動電圧
opを20Vで一定にし、パルス幅Δtを変化させた際
の、該当画素における駆動波形印加後(選択印加後)の
最終的な透過率Tの変化を示したものである。
【0115】同図において、実線は白表示波形(S0
1 )(黒消去(リセット)、白書き込み)、波線は黒
表示波形(S0 −I2 )(黒消去(リセット)、黒保
持)が印加された場合の透過率である。
【0116】実線の白表示波形(S0 −I1 )を印加す
る場合では、該当画素の波形が印加される前状態が黒表
示状態になっており、Δt1 以上のパルス幅で完全に白
表示状態への書き込みができるようになっており、Δt
2 より大きなΔtでは、再び白表示状態への書き込みが
できなくなっている(図7に示した白表示波形(S0
1 )のWのパルスに後続する逆極性の補助パルスの印
加により再度黒表示状態となるため)。
【0117】また、波線の黒表示波形(S0 −I2 )で
は、該当画素の波形が印加される前状態が反対の白表示
状態となっており、Δt3 以上のパルス幅で完全に黒表
示状態へのリセット及び保持が実現されており、Δt4
より大きなΔtでは、黒表示状態の保持ができなくなっ
ている(図7に示した黒表示波形(S0 −I2 )のBパ
ルスに後続する逆極性の保持パルスの印加自体で白表示
状態となる)。
【0118】通常、Δt3 <Δt1 なので、Δt1 を閾
値パルス幅と呼び、Δt2 かΔt4の小さい方(図9の
場合にはΔt4 )をクロストークパルス幅と呼ぶ(Δt
2 を白クロストークパルス幅、Δt4 を黒クロストーク
パルス幅とも呼ぶ)。
【0119】閾値パルス幅とクロストークパルス幅の間
のパルス幅を持った駆動波形によりマトリクス駆動がな
され、白表示波形(図7の白表示波形(S0 −I1 ))
による確実な白表示、及び黒表示波形(図7の黒表示波
形(S0 −I2 ))による確実な黒表示が可能となり、
情報信号の極性の差だけで白及び黒の良好な画像表示が
できる。
【0120】上述のバイアス比を大きくすることによ
り、Δt2 やΔt4 のクロストークパルス幅の値を大き
くすることは可能であるが、バイアス比を増すことは情
報信号の幅を大きくすることを意味し、画質的にはちら
つきの増大、コントラストの低下を招き好ましくない。
本発明者等の検討によれば、バイアス比は1/3〜1/
5程度が適当であった。
【0121】このような駆動特性に関して、駆動条件の
設定にどの程度の余裕があるかについての特性を駆動マ
ージンと呼ぶが、これを定量的に評価するための指標と
して、上述の閾値パルス幅Δt1 とクロストークパルス
幅Δt4 (場合によってはΔt2 )の値の中心値からの
幅を比率で表わすパラメータ[M2]を用いることがで
きる。
【0122】 M2=(Δt4 −Δt1 )/(Δt4 +Δt1
【0123】ある一定温度において、上述のように情報
信号の2通りの向きによって選択画素に黒及び白の2状
態を書き込むことが可能であり、また非選択画素はその
黒または白の状態を保持することが可能である駆動マー
ジンは、液晶材料及び素子構成によって差があり、特有
なものである。また、環境温度の変化によってもそれら
駆動マージンは異なるため、実際の液晶表示装置では、
液晶材料、素子構成や環境温度に対して最適な駆動条件
を設定しておく必要がある。上記の駆動マージンパラメ
ータM2が大きいほど表示素子としては当然有利であ
る。
【0124】尚、図9に示す駆動特性(駆動マージン)
の評価については、駆動電圧Vopを固定し、パルス幅Δ
tを変化させたが、反対にパルス幅Δtを固定し、駆動
電圧Vopを変化させても良いし、両方のパラメータを変
化させても良い。
【0125】次に、図12、14、15を参照して前述
した図11、12に示すアクティブマトリクス基板を用
いた素子の一般的なアクティブマトリクス駆動について
述べる。
【0126】図15(a)は、一画素に着目した際に、
当該画素に接続する走査線となる一ゲート線に印加され
る電圧を示す。上記構造の液晶装置では、ゲート線
、G…が例えば線順次で選択され、一ゲート線に
は選択期間Tonにおいて所定のゲート電圧Vが印加
され、ゲート電極22に電圧Vが加わりTFT14が
オン状態となる。他のゲート線が選択されている期間に
相当する非選択期間Toff(即ちフレーム期間)には
ゲート電極22に電圧が加わらずTFT14は高抵抗状
態(オフ状態)となり、Toff毎に所定の同一のゲー
ト線が選択されてゲート電極22にゲート電圧Vが印
加される。
【0127】図15(b)は、当該画素の情報信号線
(ソース線)に印加される電圧Vを示す。図15
(a)で示すように選択期間Tonでゲート電極22に
ゲート電圧が印加された際、これに同期して当該画素に
接続する情報信号線となるソース線S、S…からソ
ース電極27に、当該画素に書き込まれる情報、例えば
用いる液晶の図13に示すような電圧−透過率特性を基
に当該画素で得ようとする光学状態又は表示情報(透過
率)に応じたレベルのソース電圧(情報信号電圧)V
(基準電位を共通電極42の電位Vとする)が印加さ
れる。
【0128】この時、TFT14がオン状態であるた
め、上記ソース電極27に印加される電圧Vがドレイ
ン電極28を介して画素電極15に印加され、液晶容量
(Clc)31及び保持容量(C)32の充電がなさ
れ、画素電極の電位が情報信号電圧Vになる。続い
て、当該画素の属するゲート線の非選択期間Toff
おいてTFT14は高抵抗(オフ状態)となるため、こ
の期間理想的には、液晶セル(液晶容量Clc)31及
び保持容量(C)32では選択期間Tonで充電され
た電荷が蓄積された状態を維持し、電圧Vが保持され
る。そして、当該画素における液晶層49に1フレーム
期間を通して電圧Vが印加され、当該画素ではこの電
圧値に応じた光学状態が得られる、或いは情報が表示さ
れる。特に、情報信号電圧Vを画像情報に応じて制御
することで、図13の電圧−透過率特性に沿って連続的
に変化する透過率による階調表示がなされる。
【0129】尚、ソース電圧(信号電圧)Vは、図1
5(b)に示すよう例えばフレーム毎等の所定の周期で
極性を反転して印加し、液晶層49にはフレーム毎に反
転した電圧が印加されるようにすることが好ましい。こ
うして液晶層49に実際に印加される電圧が非対称とな
らないようにして液晶の劣化を防止する。
【0130】図15(c)は、自発分極を有する液晶を
駆動する場合に、当該画素の液晶容量及び保持容量に実
際に保持され液晶層49に印加される電圧値V
pixを、図15(d)は当該画素での液晶の実際の光
学応答を模式的に示す。
【0131】液晶層49は、上述したような自発分極を
有するスメクチック液晶等の液晶材料から構成されてい
るので、選択期間Tonにおいて所定の電圧Vが印加
された際に自発分極を反転させてスイッチングを行なう
ため、液晶容量(Clc)31及び保持容量(C)3
2に充電される電荷は自発分極の反転量に応じて消費さ
れる。この時、自発分極を有する液晶の応答速度が選択
期間Ton内にスイッチングが完了するような充分に速
いものであれば、この消費分を含めて当該画素の液晶容
量(Clc)31及び保持容量(C)32に、電圧V
を保持させるだけの電荷が充電される。そして、続く
非選択期間Toffではさらなる液晶のスイッチングは
生じないので、先の選択期間Tonで充電された電荷量
はさらに消耗されることなく、非選択期間Toffにわ
たって当該画素の容量に電圧Vが保持され、電圧V
に応じた所望の光学状態が得られる、或いは所望の情報
が表示される。
【0132】
【実施例】以下、本発明を実施例に沿って詳細に説明す
る。
【0133】[実施例1、比較例1]基板としてガラス
基板を用い、それぞれ一般的なDCスパッタ装置により
ITOターゲットを用い、パワー1W/cm2 、スパッ
タガスとしてAr:90SCCM,O2 :10SCCM
を流し、2.5分間の放電により、700Å厚のITO
膜を堆積した。通常の湿式エッチングにより該ITO膜
を1cm×1cmの四角形状にパターニングし、電極と
した。
【0134】一方の電極基板上には、SiOx の重合体
からなるラダー型ポリシロキサン母材中に、アンチモン
ドープのSnOx の酸化物超微粒子(粒径100Å)
(母材:超微粒子=50:50(重量比))を分散した
エタノール溶液(固型分5%)を、1000rpm、1
0secのスピン条件で塗布し、厚さ1500Åの膜を
成膜した。この後、200℃、60分の焼成を行なっ
て、配向制御層Aを形成した。
【0135】他方の電極基板には、NMP(N−メチル
ピロリドン)及びnBC(n−ブチルセロソルブ)の混
合液(2:1)で希釈(0.5重量%)した下記繰り返
し単位を有するポリイミドを500rpm,15sec
及び1500rpm,30secの条件でスピンコート
し、これを200℃で60分間焼成して、厚さ50Åの
ポリイミド膜を形成した。この後、1000rpm、押
し込み量0.4mm、送りスピード50mm/sec、
片方向2回のラビング処理を上記ポリイミド膜に施し
て、配向制御層Bを形成した。
【0136】
【化27】
【0137】続いて、上記配向制御層B上に、2.4μ
m径のSiO2 微粒子含有溶液をスピンコートの後加熱
して分散固着させ、引き続き、東レ社製接着粒子(粒径
約5μm)溶液をスピンコート、加熱し、分散固着させ
た。
【0138】一方、配向制御層A上には、印刷機を用い
てシール材を所望の位置に塗布し、これを90℃で5分
間プリベークした。
【0139】上記2枚の基板を貼り合わせ、プレス機を
用いて50gf/cm2 の圧力で圧着した。さらに同じ
圧力をエアークッションにて加えた状態で、150℃、
90分の加熱を行ない、シール材を硬化させた。
【0140】この後、上記作業で作製された空セルを、
通常のロードロック式の真空室内に入れ、1.0×10
-3Pa程度まで真空引きした後、1.0Pa程度の真空
中で85℃に加熱した液晶貯留槽に注入口を付けるよう
に浸し、液晶を素子内に注入して液晶素子を作製した。
尚、本実施例では下記液晶化合物(a)〜(e)を用い
て液晶組成物FLC−1を調整し、これを使用した。ま
た、このセルを互いに偏光軸が直交した一対の偏光板間
に配置した。
【0141】
【化28】
【0142】尚、上記液晶組成物FLC−1の自発分極
(Ps)は、K.ミヤサト他「三角波による強誘電性液
晶の自発分極の直接測定方法」(日本応用物理学会誌、
22、10号(661)1983、”Direct M
ethod with Triangular Wav
es for Measuring Spontane
ous Polarization in Ferro
electric Liquid Crystal”,
as described by K.Miyasat
o et al.(Jap.J.Appl.Phys.
22.No.10,L661(1983)))によって
測定した。
【0143】上記液晶組成物FLC−1の層間隔を所定
の温度ごとに前述の方法により測定した。その温度依存
性を表1に示す。
【0144】
【表1】
【0145】上記液晶組成物FLC−1は、SmA相で
の降温により約4%の層間隔増加が起こっている。
【0146】本実施例では、上記液晶素子に対し、下記
の条件で処理を施した。 80℃→50℃(−1℃/min) 50℃→70℃(1℃/min) 70℃→30℃(−1℃/min) また、同じ構成の液晶素子について下記の条件で徐冷
し、比較例1とした。 80℃→30℃(−1℃/min)
【0147】以上の工程で作製した液晶素子について、
上記処理で最後に30℃に降温する過程でのSmA→S
mC* の相転移の様子を観察した。一般にこのSmA→
SmC* 相転移は必ずしもセルの全面で同時に起こるわ
けではなく、セル内の何らかのむらを反映して相転移温
度にもばらつきを生じる。即ち、SmA→SmC* 相転
移には相転移の初期から完全に相転移が完了するまで数
℃の温度幅を有することになる。この相転移に有する温
度幅のことをAC混在幅と定義する。このAC混在幅に
関して、上記実施例1の液晶素子は1.0℃程度であっ
たのに対し、比較例1の液晶素子は3.5℃であった。
これにより、本発明によって液晶素子の液晶の配向むら
が改善され、表示品位の向上が図られたことがわかっ
た。
【0148】次いで、前述したような方法で、図7、8
に示す駆動波形を用い(VOP=20V、バイアス比=1
/3.4、デューティ比=1/1000相当で、単一画
素において白・黒を表示)駆動マージンを測定した。実
施例1は駆動マージンを示すパラメータM2が0.3で
あったのに対し、比較例1は前記したP1領域とP2領
域との配向むらが存在し、これら2領域の境界部分の欠
陥が異常反転ドメインの角となり、M2が0.2となっ
た。これにより、本発明においては配向むらが抑制され
たことで駆動マージンの広い素子が得られることがわか
った。
【0149】[実施例2、3、比較例2]実施例1と同
じ構成の液晶素子について以下の3種類の処理を施し
た。
【0150】実施例2: 80℃→50℃(−1℃/min) 50℃→70℃(1℃/min) 70℃→50℃(−1℃/min) 50℃→30℃(−1℃/min) 但し50℃→70℃→50℃を3回繰り返し。
【0151】実施例3:実施例2と同様の温度処理、及
び、50℃→30℃において、40℃以下(40℃〜3
0℃の範囲で)にて(SmC*相の温度領域内で)±1
V、1Hzの電圧を印加した。
【0152】比較例2:比較例1と同様。
【0153】以上の液晶素子について、閾値パルス幅近
傍において黒表示状態から白を書き込む際のVT特性の
測定を行なった。VT特性の測定は、図10に示した波
形を用いて、リセットパルス幅Tr を100μsec、
リセット電圧Vr を20V、書き込みパルス幅Tw を2
0μsecで一定とし、書き込み電圧Vw を0Vから徐
々に大きく変化させながら、パルス印加後800mse
c後の透過光強度Tを測定した。この時、白表示状態の
光強度を100%、黒表示状態の光強度を0%と規格し
た時、透過光強度が5%となる電圧値をV5 、95%と
なる電圧値をV95とし、これらの比(V95/V5 )をγ
と定義した。このγに関して、実施例2の液晶素子は
1.1程度、実施例3は1.08程度であったのに対
し、比較例2の素子は1.2であった。これにより、本
発明によれば、閾値反転むらの少ない液晶素子が得られ
ることがわかった。また、徐冷工程中のカイラルスメク
チック相での電圧印加によって、さらに素子特性のむら
の少ない素子が得られることが示された。
【0154】[実施例4、比較例3]ITO膜を100
μm幅のストライプ状にパターニングして、100μm
のITO巾と10μmのスペースで交互に構成された単
純マトリクス構造とする以外は実施例1と同様にして液
晶素子を作製し、実施例1同様の温度処理(実施例4)
及び比較例1と同様の温度処理(比較例3)をそれぞれ
施した。
【0155】これらの液晶素子(偏光軸が直交する一対
の偏光板間にセルを配置)について前述した図7、8に
示す駆動波形(VOP=20V、バイアス比=1/3.
3、デューティ比=1/1000)を用いてマトリクス
駆動を行い、駆動マージンを測定したところ、駆動マー
ジンを表わすパラメータM2は実施例4では0.25で
あったのに対し、比較例3の素子ではP1領域とP2領
域の配向むらが存在し、これら2領域の境界部分の欠陥
が異常反転ドメインの核となったため、M2は0.16
であった。よって、本発明によれば配向むらが防止され
て、駆動マージンの広い液晶素子が得られることがわか
った。
【0156】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
スメクチック液晶を用いた液晶素子において、配向むら
が抑制され、その結果駆動マージンが広い液晶素子が得
られ、表示特性に優れた、高精細、高速、大面積の表示
装置を構成することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の液晶素子の一実施形態の断面模式図で
ある。
【図2】従来の液晶素子のスメクチック層構造を示すX
線回折の結果を示す図である。
【図3】本発明の液晶素子のスメクチック層構造を示す
X線回折の結果を示す図である。
【図4】本発明の液晶素子を備えた液晶表示装置とグラ
フィックコントローラを示すブロック図である。
【図5】液晶表示装置とグラフィックコントローラとの
間の画像情報通信タイミングチャートを示す図である。
【図6】マトリクス電極を配置した液晶パネルの平面図
である。
【図7】本発明の液晶素子の駆動に用いられる駆動波形
の一例を示す図である。
【図8】本発明の液晶素子の駆動に用いられる駆動波形
の一例を示す図である。
【図9】図7の駆動波形を用いた場合のパルス幅Δtと
透過率Tの関係を示した図である。
【図10】本発明の実施例においてVT特性を測定する
際に用いた駆動波形である。
【図11】本発明の液晶装置に用いる液晶パネルの構成
を模式的に示す図である。
【図12】本発明の液晶装置に用いる液晶パネルの1画
素の構成の一例を示す断面図である。
【図13】本発明の液晶装置における液晶層に矩形波電
圧を印加した場合の電圧−透過率特性の一例を示す図で
ある。
【図14】本発明の液晶装置における液晶パネルの等価
回路を示す回路図である。
【図15】本発明の液晶装置におけるアクティブマトリ
クス駆動における走査電圧、情報信号電圧、画素に印加
される電圧、当該画素での光学応答を示す図である。
【符号の説明】
1a,1b 基板 2a,2b 電極 3,4 配向制御層 10 パネル部 11 走査信号線ドライバ 12 情報信号線ドライバ 14 TFT 15 画素電極 20 アクティブマトリクス基板 21 基板 22 ゲート電極 23 絶縁膜 24 a−Si層 25,26 na−si層 27 ソース電極 28 ドレイン電極 29 チャネル保護膜 30 保持容量電極 31 液晶容量 32 保持容量 40 対向基板 41 基板 42 共通電極 43a,43b 配向制御層 49 液晶層 50 液晶の自発分極 61 表示パネル 62 走査電極群 63 情報電極群 101 液晶表示装置 102 グラフィックコントローラ 103 表示パネル 104 走査線駆動回路 105 情報線駆動回路 106 デコーダ 107 走査線信号発生回路 108 シフトレジスタ 109 ラインメモリ 110 情報信号発生回路 111 駆動制御回路 112 GCPU 113 ホストCPU 114 VRAM
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 野口 幸治 東京都大田区下丸子3丁目30番2号 キヤ ノン株式会社内 (72)発明者 羽生 由起夫 東京都大田区下丸子3丁目30番2号 キヤ ノン株式会社内

Claims (32)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 スメクチックA相において降温時にスメ
    クチック液晶層間隔が増加する温度範囲を有するスメク
    チック液晶を一対の電極基板間に挟持してなる液晶素子
    において、上記液晶に、スメクチックA相の温度範囲内
    で且つ上記スメクチック液晶層間隔が増加する温度範囲
    の少なくとも一部を含む温度範囲で1サイクル以上の昇
    温及び降温処理を施した後、所定の温度まで降温するこ
    とを特徴とする液晶の配向方法。
  2. 【請求項2】 上記液晶がカイラルスメクチック相を有
    し、さらに、降温時にカイラルスメクチック相において
    上記液晶に電圧を印加する請求項1記載の液晶の配向方
    法。
  3. 【請求項3】 上記液晶がスメクチックA相において降
    温時に1%以上層間隔が増加する請求項1または2記載
    の液晶の配向方法。
  4. 【請求項4】 上記液晶がブックシェルフ或いはそれに
    近い層傾き角の小さな構造を有する請求項1記載の液晶
    の配向方法。
  5. 【請求項5】 上記液晶がコレステリック相を持たない
    請求項1記載の液晶の配向方法。
  6. 【請求項6】 前記液晶が、カイラルスメクチック相を
    有し、フルオロカーボン末端部分及び炭化水素末端部分
    を有し、該両末端部分が中心核によって結合され、スメ
    クチック中間相又は潜在的スメクチック中間相を持つフ
    ッ素含有液晶化合物を含有する液晶組成物である請求項
    5記載の液晶の配向方法。
  7. 【請求項7】 前記フッ素含有液晶化合物におけるフル
    オロカーボン末端部分が、−D1−Cxa2xa−Xで表わ
    される基である請求項6記載の液晶の配向方法。(但
    し、上記式中xaは1〜20であり、Xは−H又は−F
    を表わし、D1は、−CO−O−(CH2ra−、−O−
    (CH2ra−、−(CH2ra−、−O−SO2−、−
    SO2−、−SO2−(CH2ra−、−O−(CH2ra
    −O−(CH2rb−、−(CH2ra−N(Cpa
    2pa+1)−SO2−、又は−(CH2ra−N(Cpa
    2pa+1)−CO−を表わす。ra及びrbは、独立に1
    〜20であり、paは0〜4である。)
  8. 【請求項8】 前記フッ素含有液晶化合物におけるフル
    オロカーボン末端部分が、−D2−(Cxb2xb−O)za
    −Cya2ya+1で表わされる基である請求項6記載の液
    晶の配向方法。(但し、上記式中xbはそれぞれの(C
    xb2xb−O)に独立に1〜10であり、yaは、1〜
    10であり、zaは1〜10であり、D2は、−CO−
    O−Crc2rc−、−O−Crc2rc−、−Crc
    2rc−、−O−(Csa2sa−O)ta−Crd2rd−、−
    O−SO2−、−SO2−、−SO2−Crc2rc−、−C
    rc2rc−N(Cpb2pb+1)−SO2−、−Crc2rc
    N(Cpb2pb+1)−CO−、単結合から選ばれ、rc
    及びrdはそれぞれ独立に1〜20であり、saはそれ
    ぞれの(Csa2sa−O)に独立に1〜10であり、t
    aは1〜6であり、pbは0〜4である。)
  9. 【請求項9】 前記フッ素含有液晶化合物が、下記一般
    式(I)で表わされる請求項6記載の液晶の配向方法。 【化1】 を表わす。ga、ha、iaは独立に0〜3の整数(但
    し、ga+ha+iaは少なくとも2である)を表わ
    す。夫々のL1とL2は独立に、単結合、−CO−O−、
    −O−CO−、−COS−、−S−CO−、−CO−S
    e−、−Se−CO−、−CO−Te−、−Te−CO
    −、−CH2CH2−、−CH=CH−、−C≡C−、−
    CH=N−、−N=CH−、−CH2−O−、−O−C
    2−、−CO−又は−O−を表わす。夫々のX1
    1、Z1はA1、A2、A3の置換基であり、独立に−
    H、−Cl、−F、−Br、−I、−OH、−OC
    3、−CH3、−CN、又は−NO2を表わし、夫々の
    ja、ma、naは独立に0〜4の整数を表わす。J1
    は、−CO−O−(CH2ra−、−O−(CH2
    ra−、−(CH2ra−、−O−SO2−、−SO2−、
    −SO2−(CH2ra−、−O−(CH2ra−O−
    (CH2rb−、−(CH2ra−N(Cpa2pa+1)−
    SO2−、又は−(CH2ra−N(Cpa2pa+1)−C
    O−を表わす。ra及びrbは、独立に1〜20であ
    り、paは0〜4である。R1は、−O−Cqa2qa−O
    −Cqb2qb+1、−Cqa2qa−O−Cqb2qb+1、−C
    qa2qa−R3、−O−Cqa2qa−R3、−CO−O−C
    qa2qa−R3、又は−O−CO−Cqa2qa−R3を表わ
    し、直鎖状、分岐状のいずれであっても良い(但し、R
    3は、−O−CO−Cqb2qb+1、−CO−O−Cqb
    2qb+1、−H、−Cl、−F、−CF3、−NO2、−C
    Nを表わし、qa及びqbは独立に1〜20である)。
    2はCxa2xa−Xを表わす(Xは−H又は−Fを表わ
    し、xaは1〜20の整数である)。〕
  10. 【請求項10】 前記フッ素含有液晶化合物が、下記一
    般式(II)で表わされる請求項6記載の液晶の配向方
    法。 【化2】 を表わす。gb、hb、ibはそれぞれ独立に0〜3の
    整数(但し、gb+hb+ibは少なくとも2である)
    を表わす。夫々のL3、L4は独立に、単結合、−CO−
    O−、−O−CO−、−CO−S−、−S−CO−、−
    CO−Se−、−Se−CO−、−CO−Te−、−T
    e−CO−、−(CH2CH2ka−(kaは1〜4)、
    −CH=CH−、−C≡C−、−CH=N−、−N=C
    H−、−CH2−O−、−O−CH2−、−CO−又は−
    O−を表わす。夫々のX2、Y2、Z2はA4、A5、A6
    置換基であり、独立に−H、−Cl、−F、−Br、−
    I、−OH、−OCH3、−CH3、−CF3、−OC
    3、−CN、又は−NO2を表わし、夫々のjb、m
    b、nbは独立に0〜4の整数を表わす。J2は、−C
    O−O−Crc2rc−、−O−Crc2rc−、−Crc
    2rc−、−O−(Csa2sa−O)ta−Crd2rd−、−
    O−SO2−、−SO2−、−SO2−Crc2rc−、−C
    rc2rc−N(Cpb2pb+1)−SO2−、−Crc2rc
    N(Cpb2pb+1)−CO−であり、rc及びrdは独
    立に1〜20であり、saはそれぞれの(Csa2sa
    O)に独立に1〜10であり、taは1〜6であり、p
    bは0〜4である。R4は、−O−(Cqc2qc−O)wa
    −Cqd2qd+1、−(Cqc2qc−O)wa−C
    qd2qd+1、−Cqc2qc−R6、−O−Cqc2qc
    6、−CO−O−Cqc2qc−R6、又は−O−CO−
    qc2qc−R6を表わし、直鎖状、分岐状のいずれであ
    っても良い(但し、R6は−O−CO−Cqd2qd+1、−
    CO−O−Cqd2qd+1、−Cl、−F、−CF3、−N
    2、−CN、又は−Hを表わし、qc及びqdは独立
    に1〜20の整数、waは1〜10の整数である)。R
    5は、(Cxb2xb−O)za−Cya2ya+1で表わされる
    (但し、上記式中xbはそれぞれの(Cxb2xb−O)
    に独立に1〜10であり、yaは1〜10であり、za
    は1〜10である)。〕
  11. 【請求項11】 上記液晶が強誘電性液晶である請求項
    1記載の液晶の配向方法。
  12. 【請求項12】 上記液晶が反強誘電性液晶である請求
    項1記載の液晶の配向方法。
  13. 【請求項13】 前記液晶素子が複数の画素を有し、一
    対の基板の一方が各画素に対応したスイッチング素子を
    備えたアクティブマトリクス基板である請求項1記載の
    液晶の配向方法。
  14. 【請求項14】 スメクチックA相において降温時にス
    メクチック液晶層間隔が増加する温度範囲を有するスメ
    クチック液晶を一対の電極基板間に挟持してなる液晶素
    子の製造方法であって、セルに等方相の液晶を注入した
    後降温し、スメクチックA相の温度範囲内で且つ上記ス
    メクチック液晶層間隔が増加する温度範囲の少なくとも
    一部を含む温度範囲で1サイクル以上の昇温及び降温処
    理を施した後、所定の温度まで降温する工程を有するこ
    とを特徴とする液晶素子の製造方法。
  15. 【請求項15】 上記一対の電極基板の少なくとも一方
    の液晶と接する面に配向制御層を設けた請求項14記載
    の液晶素子の製造方法。
  16. 【請求項16】 上記一対の電極基板のそれぞれの液晶
    と接する面に配向制御層を設けた請求項15記載の液晶
    素子の製造方法。
  17. 【請求項17】 上記一対の電極基板の液晶と接する面
    に互いに異なる配向制御層を設けた請求項16記載の液
    晶素子の製造方法。
  18. 【請求項18】 上記一対の電極基板の液晶と接する面
    に同じ配向制御層を設けた請求項16記載の液晶素子の
    製造方法。
  19. 【請求項19】 上記液晶がカイラルスメクチック相を
    有し、さらに、降温時にカイラルスメクチック相におい
    て上記液晶に電圧を印加する工程を有する請求項14記
    載の液晶素子の製造方法。
  20. 【請求項20】 上記液晶がスメクチックA相において
    降温時に1%以上層間隔が増加する請求項14記載の液
    晶素子の製造方法。
  21. 【請求項21】 上記液晶がブックシェルフ或いはそれ
    に近い層傾き角の小さな構造を有する請求項14記載の
    液晶素子の製造方法。
  22. 【請求項22】 上記液晶がコレステリック相を持たな
    い請求項14記載の液晶素子の製造方法。
  23. 【請求項23】 前記液晶が、カイラルスメクチック相
    を有し、フルオロカーボン末端部分及び炭化水素末端部
    分を有し、該両末端部分が中心核によって結合され、ス
    メクチック中間相又は潜在的スメクチック中間相を持つ
    フッ素含有液晶化合物を含有する液晶組成物である請求
    項22記載の液晶素子の製造方法。
  24. 【請求項24】 前記フッ素含有液晶化合物におけるフ
    ルオロカーボン末端部分が、−D1−Cxa2xa−Xで表
    わされる基である請求項23記載の液晶素子の製造方
    法。(但し、上記式中xaは1〜20であり、Xは−H
    又は−Fを表わし、D1は、−CO−O−(CH2
    ra−、−O−(CH2ra−、−(CH2ra−、−O−
    SO2−、−SO2−、−SO2−(CH2ra−、−O−
    (CH2ra−O−(CH2rb−、−(CH2ra−N
    (Cpa2pa+1)−SO2−、又は−(CH2ra−N
    (Cpa2pa+1)−CO−を表わす。ra及びrbは、
    独立に1〜20であり、paは0〜4である。)
  25. 【請求項25】 前記フッ素含有液晶化合物におけるフ
    ルオロカーボン末端部分が、−D2−(Cxb2xb−O)
    za−Cya2ya+1で表わされる基である請求項23記載
    の液晶素子の製造方法。(但し、上記式中xbはそれぞ
    れの(Cxb2xb−O)に独立に1〜10であり、ya
    は、1〜10であり、zaは1〜10であり、D2は、
    −CO−O−Crc2rc−、−O−Crc2rc−、−Crc
    2rc−、−O−(Csa2sa−O)ta−Crd2rd−、
    −O−SO2−、−SO2−、−SO2−Crc2rc−、−
    rc2rc−N(Cpb2pb+1)−SO2−、−Crc2rc
    −N(Cpb2pb+1)−CO−、単結合から選ばれ、r
    c及びrdはそれぞれ独立に1〜20であり、saはそ
    れぞれの(Csa2sa−O)に独立に1〜10であり、
    taは1〜6であり、pbは0〜4である。)
  26. 【請求項26】 前記フッ素含有液晶化合物が、下記一
    般式(I)で表わされる請求項23記載の液晶素子の製
    造方法。 【化3】 を表わす。ga、ha、iaは独立に0〜3の整数(但
    し、ga+ha+iaは少なくとも2である)を表わ
    す。夫々のL1とL2は独立に、単結合、−CO−O−、
    −O−CO−、−COS−、−S−CO−、−CO−S
    e−、−Se−CO−、−CO−Te−、−Te−CO
    −、−CH2CH2−、−CH=CH−、−C≡C−、−
    CH=N−、−N=CH−、−CH2−O−、−O−C
    2−、−CO−又は−O−を表わす。夫々のX1
    1、Z1はA1、A2、A3の置換基であり、独立に−
    H、−Cl、−F、−Br、−I、−OH、−OC
    3、−CH3、−CN、又は−NO2を表わし、夫々の
    ja、ma、naは独立に0〜4の整数を表わす。J1
    は、−CO−O−(CH2ra−、−O−(CH2
    ra−、−(CH2ra−、−O−SO2−、−SO2−、
    −SO2−(CH2ra−、−O−(CH2ra−O−
    (CH2rb−、−(CH2ra−N(Cpa2pa+1)−
    SO2−、又は−(CH2ra−N(Cpa2pa+1)−C
    O−を表わす。ra及びrbは、独立に1〜20であ
    り、paは0〜4である。R1は、−O−Cqa2qa−O
    −Cqb2qb+1、−Cqa2qa−O−Cqb2qb+1、−C
    qa2qa−R3、−O−Cqa2qa−R3、−CO−O−C
    qa2qa−R3、又は−O−CO−Cqa2qa−R3を表わ
    し、直鎖状、分岐状のいずれであっても良い(但し、R
    3は、−O−CO−Cqb2qb+1、−CO−O−Cqb
    2qb+1、−H、−Cl、−F、−CF3、−NO2、−C
    Nを表わし、qa及びqbは独立に1〜20である)。
    2はCxa2xa−Xを表わす(Xは−H又は−Fを表わ
    し、xaは1〜20の整数である)。〕
  27. 【請求項27】 前記フッ素含有液晶化合物が、下記一
    般式(II)で表わされる請求項23記載の液晶素子の
    製造方法。 【化4】 を表わす。gb、hb、ibはそれぞれ独立に0〜3の
    整数(但し、gb+hb+ibは少なくとも2である)
    を表わす。夫々のL3、L4は独立に、単結合、−CO−
    O−、−O−CO−、−CO−S−、−S−CO−、−
    CO−Se−、−Se−CO−、−CO−Te−、−T
    e−CO−、−(CH2CH2ka−(kaは1〜4)、
    −CH=CH−、−C≡C−、−CH=N−、−N=C
    H−、−CH2−O−、−O−CH2−、−CO−又は−
    O−を表わす。夫々のX2、Y2、Z2はA4、A5、A6
    置換基であり、独立に−H、−Cl、−F、−Br、−
    I、−OH、−OCH3、−CH3、−CF3、−OC
    3、−CN、又は−NO2を表わし、夫々のjb、m
    b、nbは独立に0〜4の整数を表わす。J2は、−C
    O−O−Crc2rc−、−O−Crc2rc−、−Crc
    2rc−、−O−(Csa2sa−O)ta−Crd2rd−、−
    O−SO2−、−SO2−、−SO2−Crc2rc−、−C
    rc2rc−N(Cpb2pb+1)−SO2−、−Crc2rc
    N(Cpb2pb+1)−CO−であり、rc及びrdは独
    立に1〜20であり、saはそれぞれの(Csa2sa
    O)に独立に1〜10であり、taは1〜6であり、p
    bは0〜4である。R4は、−O−(Cqc2qc−O)wa
    −Cqd2qd+1、−(Cqc2qc−O)wa−C
    qd2qd+1、−Cqc2qc−R6、−O−Cqc2qc
    6、−CO−O−Cqc2qc−R6、又は−O−CO−
    qc2qc−R6を表わし、直鎖状、分岐状のいずれであ
    っても良い(但し、R6は−O−CO−Cqd2qd+1、−
    CO−O−Cqd2qd+1、−Cl、−F、−CF3、−N
    2、−CN、又は−Hを表わし、qc及びqdは独立
    に1〜20の整数、waは1〜10の整数である)。R
    5は、(Cxb2xb−O)za−Cya2ya+1で表わされる
    (但し、上記式中xbはそれぞれの(Cxb2xb−O)
    に独立に1〜10であり、yaは1〜10であり、za
    は1〜10である)。〕
  28. 【請求項28】 上記液晶が強誘電性液晶である請求項
    14記載の液晶素子の製造方法。
  29. 【請求項29】 上記液晶が反強誘電性液晶である請求
    項14記載の液晶素子の製造方法。
  30. 【請求項30】 前記液晶素子が複数の画素を有し、一
    対の基板の一方が各画素に対応したスイッチング素子を
    備えたアクティブマトリクス基板である請求項14記載
    の液晶素子の製造方法。
  31. 【請求項31】 請求項14記載の製造方法によって製
    造されたことを特徴とする液晶素子。
  32. 【請求項32】 請求項31記載の液晶素子と、該液晶
    素子の駆動手段とを有することを特徴とする液晶装置。
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