JPH1074777A - リードフレーム搬送方法及び搬送装置 - Google Patents

リードフレーム搬送方法及び搬送装置

Info

Publication number
JPH1074777A
JPH1074777A JP24723896A JP24723896A JPH1074777A JP H1074777 A JPH1074777 A JP H1074777A JP 24723896 A JP24723896 A JP 24723896A JP 24723896 A JP24723896 A JP 24723896A JP H1074777 A JPH1074777 A JP H1074777A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
lead frame
loader
bonding
claw
feed claw
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP24723896A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3354052B2 (ja
Inventor
Toru Mochida
亨 持田
Masayuki Seguro
正行 背黒
Yoshimitsu Terakado
義光 寺門
Shigeru Shiozawa
茂 塩澤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shinkawa Ltd
Original Assignee
Shinkawa Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shinkawa Ltd filed Critical Shinkawa Ltd
Priority to JP24723896A priority Critical patent/JP3354052B2/ja
Priority to TW086110202A priority patent/TW340968B/zh
Priority to KR1019970039271A priority patent/KR100273836B1/ko
Priority to US08/919,666 priority patent/US5975835A/en
Publication of JPH1074777A publication Critical patent/JPH1074777A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3354052B2 publication Critical patent/JP3354052B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L24/85Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/50Assembly of semiconductor devices using processes or apparatus not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326, e.g. sealing of a cap to a base of a container
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/677Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
    • H01L21/67703Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations between different workstations
    • H01L21/67721Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations between different workstations the substrates to be conveyed not being semiconductor wafers or large planar substrates, e.g. chips, lead frames
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies
    • H01L24/78Apparatus for connecting with wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48245Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • H01L2224/48247Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
    • H01L2224/78Apparatus for connecting with wire connectors
    • H01L2224/786Means for supplying the connector to be connected in the bonding apparatus
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
    • H01L2224/78Apparatus for connecting with wire connectors
    • H01L2224/7865Means for transporting the components to be connected
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
    • H01L2224/78Apparatus for connecting with wire connectors
    • H01L2224/787Means for aligning
    • H01L2224/78703Mechanical holding means
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
    • H01L2224/78Apparatus for connecting with wire connectors
    • H01L2224/789Means for monitoring the connection process
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/85Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
    • H01L2224/851Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector the connector being supplied to the parts to be connected in the bonding apparatus
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L24/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/00014Technical content checked by a classifier the subject-matter covered by the group, the symbol of which is combined with the symbol of this group, being disclosed without further technical details
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01005Boron [B]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01006Carbon [C]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01015Phosphorus [P]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01019Potassium [K]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01033Arsenic [As]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01039Yttrium [Y]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01082Lead [Pb]

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Wire Bonding (AREA)
  • Reciprocating Conveyors (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Control Of Conveyors (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】ローダ側送り爪が磨耗しなく、このため長期間
使用してもリードフレームの位置ずれが発生しない。ま
たローダ側マガジンやガイドレール等のガタ等があって
もリードフレームの位置ずれは発生しなく、更にヒータ
の熱による変形やローダ側送り爪の掴み直しによるリー
ドフレームの位置ずれが発生しても、ボンディング位置
へのリードフレームの送りずれが発生しない。 【解決手段】ボンディング位置7の近傍でローダ側マガ
ジン20A側に設けられた位置決めセンサ40でリード
フレーム1(1A、1B・・・)の先端を検出して位置
決めを行い、位置決め後にリードフレーム1を送り爪5
でチャックした状態でリードフレーム1の最初のボンデ
ィング部分2Aをボンディング位置7まで搬送する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、ワイヤボンディン
グ装置及びダイボンディング装置等のボンディング装置
において、ローダ側マガジンから供給されたリードフレ
ームをフレームフィーダの送り爪でチャックして搬送す
るリードフレーム搬送方法及び搬送装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来のボンディング装置を図3により説
明する。リードフレーム1を搬送するフレームフィーダ
3は、リードフレーム1をガイドするガイド溝4aを有
するガイドレール4と、ローダ側送り爪5及びアンロー
ダ側送り爪6とを有し、ローダ側及びアンローダ側送り
爪5、6はそれぞれ一対の上爪5a、6a及び下爪5
b、6bよりなっている。そして、ローダ側及びアンロ
ーダ側送り爪5、6は、図示しない爪開閉手段で開閉さ
せられ、また図示しない爪移動手段でガイドレール4に
沿って移動させられる。なお、この種のフレームフィー
ダ3として、例えば特公昭63−56122号公報及び
特開平4−346446号公報に示すものが挙げられ
る。
【0003】ガイドレール4の側方には、ボンディング
位置7に対応してワイヤボンディング装置、ダイボンデ
ィング装置等のボンディング装置10が配設されてい
る。ボンディング装置10は、XY方向に駆動されるX
Yテーブル11を有し、XYテーブル11上にはボンデ
ィングヘッド12が搭載されており、ボンディングヘッ
ド12にはテレビカメラ13が取付けられたカメラホル
ダ14が固定されている。またボンディングヘッド12
には、ボンディングツール15が取付けられたボンディ
ングアーム16が上下動可能に設けられている。ここ
で、テレビカメラ13はボンディング位置7の上方に位
置しており、ボンディングツール15はテレビカメラ1
3に対してY1だけオフセットして配設されている。ま
たボンディングアーム16は図示しないZ(上下)駆動
用モータによって上下動させられる。なお、この種のボ
ンディング装置10として、例えば特開平5−2755
02号公報に示すものが挙げられる。
【0004】ガイドレール4の両側には、ローダ側マガ
ジン20A及びアンローダ側マガジン20Bが配置され
ており、ローダ側及びアンローダ側マガジン20A、2
0Bは、それぞれローダ側エレベータ装置21A及びア
ンローダ側エレベータ装置21Bによって上下駆動させ
られるマガジンホルダ22に位置決め載置される。ロー
ダ側マガジン20A内のリードフレーム1は、フレーム
プッシャ23によってガイドレール4のガイド溝4aに
押し出される。なお、この種のエレベータ装置21A、
21Bを備えたものとして、例えば特公昭63−561
22号公報、特公平1−32127号公報及び特公平2
−4486号公報に示すものが挙げられる。図3におい
て、24はフレームプッシャ23によって押し出された
リードフレーム1を検知するホトセンサを示す。
【0005】次に従来のフレームフィーダ部の送り動作
基本概要を図4により説明する。図4に示すリードフレ
ーム1(1A、1B・・・)には、複数個(図示の場合
は5個)の半導体チップ(以下ICという)2A〜2E
が搭載されている。図4(a)の状態よりフレームプッ
シャ23(図3(b)参照)は、ホトセンサ24がリー
ドフレーム1Aを感知するまで低速でリードフレーム1
Aの押し出し動作を行う。この場合、ローダ側送り爪5
は開いた状態にあり、この位置のローダ側送り爪5は送
り爪原点Aとなっている。ホトセンサ24がリードフレ
ーム1Aを感知すると、フレームプッシャ23の低速で
の押し出し動作は終了する。次にフレームプッシャ23
はローダ側送り爪5がリードフレーム1Aをチャックで
きる図4(b)の位置までリードフレーム1Aを押し出
す。次にローダ側送り爪5が閉じてリードフレーム1A
をチャックし、図4(c)に示すように、ローダ側送り
爪5は頭出し(位置決め)動作のため、計算された頭出
し位置にリードフレーム1Aを送る。
【0006】そして、次に説明する頭出し動作が行われ
る。以下、特公昭63−56122号公報に示すフレー
ムフィーダによる頭出し動作について説明する。ローダ
側送り爪5が開いてリードフレーム1Aを開放し、ロー
ダ側送り爪5は図4(d)に示すように矢印30方向に
僅かに移動する。この時のローダ側送り爪5の右端位置
をB点とする。次にローダ側送り爪5が閉じた後に矢印
31方向に移動してリードフレーム1Aの先端をローダ
側送り爪5で押し戻し、図4(e)に示すようにリード
フレーム1Aの先端を頭出しする。そして、ローダ側送
り爪5リードフレーム1Aと干渉しないように、ローダ
側送り爪5は再び矢印32方向に僅かに移動した後に開
き、その後、矢印33方向に移動し、図4(f)に示す
ように送り爪原点Aに戻る。
【0007】次にリードフレーム1Aのピッチ送り動作
が行われる。ローダ側送り爪5は閉じてリードフレーム
1Aをチャックし、図4(g)に示すようにピッチ量分
送り動作をする。続いてローダ側送り爪5は開いて図4
(h)に示すように送り爪原点Aに戻る。次にローダ側
送り爪5は閉じてリードフレーム1Aをチャックし、図
4(i)に示すようにIC2Aがボンディング位置7に
来るように送り動作をする。送り動作完了後、図示しな
いウインドウクランパにてリードフレーム1Aをクラン
プする。この状態で、図3に示すテレビカメラ13でI
C2Aのボンディング点の検出が行われ、補正されたボ
ンディング点にボンディング装置10のボンディングツ
ール15でボンディングされる。この間に、ローダ側送
り爪5は図4(j)に示すように送り爪原点Aに戻る。
【0008】IC2Aへのボンディング完了後、ウイン
ドウクランパは開き、ローダ側送り爪5によってIC2
Bをボンディング位置7に送る動作が行われる。即ち、
図4(j)の状態でローダ側送り爪5は閉じてリードフ
レーム1Aをチャックし、図4(k)に示すように1I
Cピッチ分送り動作をする。その後、前記したと同様に
ウインドウクランパにてリードフレーム1Aをクランプ
し、IC2Bへのボンディングが行われる。またアンロ
ーダ側送り爪6は開いた状態で図4(l)に示すように
送り爪原点Aに戻る。前記したIC2Bの送り動作と同
じ送り動作を行って、図4(m)に示すようにIC2C
をボンディング位置7に送り、また前記と同様の動作に
よってIC2Cへのボンディングが行われる。なお、説
明は省略したが、ローダ側送り爪5が開閉及び往復動し
てリードフレーム1Aを送る時、アンローダ側送り爪6
も同様の動作を行っている。
【0009】図4(n)に示すように、ローダ側送り爪
5が開いた状態で送り爪原点Aに戻る。この時、リード
フレーム1Aの後端は送り爪原点Aよりボンディング位
置7側に位置している。またアンローダ側送り爪6は、
開いた状態でリードフレーム1Aをチャックできる状態
にある。IC2Cへのボンディング中に、図4(o)に
示すように、次にリードフレーム1Bがローダ側送り爪
5でチャックできる位置まで送り出す。この動作は、図
4(a)(b)の動作と同じである。
【0010】IC2Cへのボンディングが完了し、ウイ
ンドウクランパが開くと、アンローダ側送り爪6が閉じ
てリードフレーム1Aをチャックし、図4(p)に示す
ように、リードフレーム1AのIC2Dをボンディング
位置7に送る。この場合、リードフレーム1Aの終端が
B点を越えていないので、ローダ側送り爪5によるリー
ドフレーム1Bの送り動作は行われない。これは、次の
リードフレーム1Bがその前のリードフレーム1Aに干
渉するのを避けるためである。即ち、ローダ側送り爪5
は開放したまま往復動する。リードフレーム1AがB点
を越えた時、初めてリードフレーム1Bへの搬送が可能
となり、リードフレーム1Bに対して図4(b)以降の
動作が行われる。図4(q)に示すように、アンローダ
側送り爪6は開いた状態で該送り爪6の原点位置に戻
り、IC2Dへのボンディングが終了すると、アンロー
ダ側送り爪6はIC2Eをボンディング位置7に送る動
作をする。以後、リードフレーム1BのIC2A、2B
・・・を順次ボンディング位置7に送り、その度にボン
ディング動作が行われる。
【0011】このように、ローダ側マガジン20Aから
供給されたリードフレーム1の先端面をローダ側送り爪
5の端面で押して位置決め(頭出し)を行い、その後、
ボンディング位置7までローダ側送り爪5を何回か開閉
させて掴み換えながらリードフレーム1を搬送してい
る。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】リードフレーム1の位
置決めは、ローダ側送り爪5の端面で押して行うので、
図5に示すように長期間使用しているとローダ側送り爪
5の一部が磨耗35し、位置決め時の位置ずれが生じ
る。また図6(a)に示すように幅広のリードフレーム
1の場合における弛み、図6(c)に示すようにローダ
側マガジン20A毎の寸法誤差やローダ側マガジン20
Aと該ローダ側マガジン20Aを保持するマガジンホル
ダのガタによるリードフレーム1の変形、またガイドレ
ール4の幅のガタや幅調整の違いによるリードフレーム
1の変形等により、図6(a)(b)に示すように、リ
ードフレーム1がローダ側送り爪5の端面8a、8bの
ように当たり、どこに当たるかが不確定になり、リード
フレーム1の位置決め時に位置ずれが発生することがあ
った。また図6(d)に示すように、リードフレーム1
の端面の形状により、リードフレーム1の端面のどの部
分にローダ側送り爪5の端面が当たるか不確定なため、
位置ずれが発生することがあった。なお、図6(c)
(d)において、2点鎖線は正常時、実線は異常時を示
す。
【0013】またリードフレーム1の位置決めを行った
後、ボンディング位置7までローダ側送り爪5で掴み直
しながら搬送するために、前記した図6の説明で述べた
リードフレーム1の変形や、リードフレーム1を加熱す
るヒータの熱によるリードフレーム1の変形、膨張によ
るリードフレーム1の変形等により、図7(a)の状態
よりローダ側送り爪5が閉じると、図7(b)に示すよ
うに掴み直しの度にリードフレーム1の先端の位置ずれ
Cが発生し、ボンディング位置7まで搬送する間にリー
ドフレーム1の送りずれが発生する。
【0014】本発明の第1の課題は、ローダ側送り爪が
磨耗しなく、このため長期間使用してもリードフレーム
の位置ずれが発生しないリードフレーム搬送方法及び搬
送装置を提供することにある。本発明の第2の課題は、
ローダ側マガジンやガイドレール等のガタ等があっても
リードフレームの位置ずれは発生しなく、またヒータの
熱による変形やローダ側送り爪の掴み直しによるリード
フレームの位置ずれが発生しても、ボンディング位置へ
のリードフレームの送りずれが発生しないリードフレー
ム搬送方法及び搬送装置を提供することにある。
【0015】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
の本発明の方法は、ローダ側マガジンから供給されたリ
ードフレームをフレームフィーダの送り爪でチャックし
て搬送するリードフレーム搬送方法において、ボンディ
ング位置の近傍でリードフレームを送り爪でチャック
し、ローダ側マガジン側に設けられた位置決めセンサで
リードフレームの先端を検出して位置決めを行い、位置
決め後にリードフレームを送り爪でチャックした状態で
リードフレームの最初のボンディング部分をボンディン
グ位置まで搬送することを特徴とする。
【0016】上記課題を解決するための本発明の装置
は、ローダ側マガジンから供給されたリードフレームを
フレームフィーダの送り爪でチャックして搬送するリー
ドフレーム搬送装置において、リードフレームを検出す
るためにボンディング位置の近傍でリードフレームを送
り爪でチャックし、ローダ側マガジン側に設けられた位
置決めセンサと、この位置決めセンサでリードフレーム
の先端を検出して該リードフレームを位置決めした後
に、前記送り爪でチャックした状態でリードフレームの
最初のボンディング部分をボンディング位置まで搬送す
る制御手段とを有することを特徴とする。
【0017】
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態を図1及び図
2により説明する。なお、図3と同じ又は相当部材には
同一符号を付し、その説明を省略する。図1に示すよう
に、ボンディング位置7の近傍でローダ側マガジン20
A側には、リードフレーム1を検出するための位置決め
センサ40が配設されている。ここで、ボンディング位
置7から位置決めセンサ40までの距離は、ローダ側送
り爪5の1回の移動量以内に設定されている。これは、
後記するように、位置決めセンサ40で位置決めされた
リードフレーム1の最初のボンディング部分を1回でボ
ンディング位置7に送るためである。位置決めセンサ4
0はユニット化されており、ガイドレール4の外側に固
定されたセンサホルダ41には、投光器42及び受光器
43が固定されている。投光器42は、下方から上方に
垂直に配設され、先端はガイドレール4のガイド溝4a
の下方に位置している。受光器43は、ガイドレール4
の上方に水平に配設され、投光器42に対向した下面が
受光窓となっている。なお、受光器43は、前記した投
射型に限定されなく、反射型であってもよい。
【0018】次にフレームフィーダ部の送り動作基本概
要を図2により説明する。図2(a)の状態よりフレー
ムプッシャ23(図3(b)参照)は、ホトセンサ24
がリードフレーム1Aを感知するまで低速でリードフレ
ーム1Aの押し出し動作を行う。この場合、ローダ側送
り爪5は開いた状態にあり、この位置のローダ側送り爪
5は送り爪原点Aとなっている。ホトセンサ24がリー
ドフレーム1Aを感知すると、フレームプッシャ23の
低速での押し出し動作は終了する。次にフレームプッシ
ャ23はローダ側送り爪5がリードフレーム1Aをチャ
ックできる図2(b)の位置までリードフレーム1Aを
押し出す。
【0019】次にリードフレーム1Aが位置決めセンサ
40の近傍に来るまでリードフレーム1Aのピッチ量分
送り動作を間欠的に行う。この工程を図2(b)乃至図
2(f)に示す。即ち、図2(b)の状態でローダ側送
り爪5が閉じてリードフレーム1Aをチャックし、図2
(c)に示すように、ローダ側送り爪5はリードフレー
ム1Aのピッチ量分送り動作をする。次にローダ側送り
爪5は開いた後、図2(d)に示すように送り爪原点A
に戻る。続いてローダ側送り爪5が閉じてリードフレー
ム1Aをチャックする。次に図2(e)に示すようにロ
ーダ側送り爪5はリードフレーム1Aのピッチ量分送り
動作をする。次にローダ側送り爪5は開いて図2(f)
に示すように送り爪原点Aに戻る。続いてローダ側送り
爪5が閉じてリードフレーム1Aをチャックする。
【0020】次に位置決めセンサ40の手前約2mmの
位置にリードフレーム1Aの先端が来るまで送り動作を
する。図2(f)の状態から前記と同様にピッチ量分送
り動作をさせると、リードフレーム1Aの先端面が位置
決めセンサ40の手前約2mmの位置を越えてしまうの
で、ピッチ量分の送り動作は行わず、図2(g)に示す
ように、位置決めセンサ40の手前約2mmの位置まで
リードフレーム1Aを送る。次にローダ側送り爪5は開
いて、図2(h)に示すように送り爪原点Aに戻る。続
いてローダ側送り爪5は閉じてリードフレーム1Aをチ
ャックする。次に図2(i)に示すように位置決めセン
サ40がリードフレーム1Aの先端を感知するまで送り
動作を行う。この送り動作は、図示しない送り爪移動用
モータに、例えば2パルスづつパルスを与え、ローダ側
送り爪5を10μmづつ送り動作を続ける。
【0021】次に図2(j)に示すように、ローダ側送
り爪5でリードフレーム1Aをチャックした状態のまま
IC2Aがボンディング位置7に来るように送り動作を
する。この時の送り動作量は、位置決めセンサ40から
ボンディング位置7までの距離にリードフレーム1Aの
先端からIC2Aの中心までの距離を加えた値である。
次に従来と同様に、送り動作完了後、図示しないウイン
ドウクランパにてリードフレーム1Aをクランプする。
この状態で、図3に示すテレビカメラ13でIC2Aの
ボンディング点の検出が行われ、補正されたボンディン
グ点にボンディング装置10のボンディングツール15
でボンディングされる。この間に、ローダ側送り爪5は
図2(k)に示すように送り爪原点Aに戻る。
【0022】IC2Aへのボンディング完了後、ウイン
ドウクランパは開き、ローダ側送り爪5によってIC2
Bをボンディング位置7に送る動作が行われる。即ち、
図2(k)の状態でローダ側送り爪5は閉じてリードフ
レーム1Aをチャックし、図2(l)に示すように1I
Cピッチ分送り動作をする。その後、前記したと同様に
ウインドウクランパにてリードフレーム1Aをクランプ
し、IC2Bへのボンディングが行われる。またアンロ
ーダ側送り爪6は開いた状態で図2(m)に示すように
送り爪原点Aに戻る。前記したIC2Bの送り動作と同
じ送り動作を行って、図2(n)に示すようにIC2C
をボンディング位置7に送り、また前記と同様の動作に
よってIC2Cへのボンディングが行われる。なお、説
明は省略したが、ローダ側送り爪5が開閉及び往復動し
てリードフレーム1Aを送る時、アンローダ側送り爪6
も同様の動作を行っている。
【0023】図2(o)に示すように、ローダ側送り爪
5が開いた状態で送り爪原点Aに戻る。この時、リード
フレーム1Aの後端は送り爪原点Aよりボンディング位
置7側に位置している。またアンローダ側送り爪6は、
開いた状態でリードフレーム1Aをチャックできる状態
にある。IC2Cへのボンディング中に、図2(p)に
示すように、次にリードフレーム1Bがローダ側送り爪
5でチャックできる位置まで送り出す。この動作は、図
4(a)(b)の動作と同じである。
【0024】即ち、図2(j)から図2(p)までの動
作は、図4(i)から図4(o)までの動作と同じであ
る。IC2Cへのボンディングが完了し、ウインドウク
ランパが開くと、アンローダ側送り爪6は閉じてリード
フレーム1Aをチャックし、図2(q)に示すように、
リードフレーム1AのIC2Dをボンディング位置7に
送る。またローダ側送り爪5は閉じて次のリードフレー
ム1Bをチャックし、ピッチ量分送る。この場合におけ
るローダ側送り爪5の動作は、図2(b)から図1
(j)までの動作と同じである。
【0025】このように、ボンディング位置7の近傍で
ローダ側マガジン20A側には、位置決めセンサ40が
設けられ、ローダ側マガジン20Aから供給されたリー
ドフレーム1をフレームフィーダ3のローダ側送り爪5
で間欠的に送る。そして、リードフレーム1の先端を位
置決めセンサ40で検出して位置決めする。即ち、ロー
ダ側送り爪5ではリードフレーム1の位置決めを行わな
いので、ローダ側送り爪5の磨耗が発生しなく、長期間
使用してもリードフレーム1の位置ずれは生じない。
【0026】位置決め後は、ローダ側送り爪5でリード
フレーム1をチャックしたまま開かないで、1回の移動
量でリードフレーム1の最初のボンディング部分(IC
2A)をボンディング位置7に搬送する。即ち、ボンデ
ィング位置7直前で位置決めを行った後は、リードフレ
ーム1を掴み直すことなく1回でボンディング位置7ま
で搬送するので、ローダ側マガジン20Aやガイドレー
ル4のガタ等によるずれがあってもリードフレーム1の
位置ずれは発生しない。またボンディング位置7直前ま
でのヒータの熱による変形や掴み直しによるリードフレ
ーム1のずれが発生しても送りずれは生じない。
【0027】
【発明の効果】本発明によれば、ボンディング位置の近
傍でローダ側マガジン側に設けられた位置決めセンサで
リードフレームの先端を検出して位置決めを行い、位置
決め後にリードフレームを送り爪でチャックした状態で
リードフレームの最初のボンディング部分をボンディン
グ位置まで搬送するので、ローダ側送り爪の磨耗が発生
しなく、長期間使用してもリードフレームの位置ずれが
発生しない。またローダ側マガジンやガイドレール等の
ガタ等があってもリードフレームの位置ずれは発生しな
く、更にヒータの熱による変形やローダ側送り爪の掴み
直しによるリードフレームの位置ずれが発生しても、ボ
ンディング位置へのリードフレームの送りずれが発生し
ない。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のリードフレーム搬送装置の一の実施の
形態を示し、(a)は概略構成平面図、(b)は位置決
めセンサ部分の拡大平面図、(c)は(b)のA−A線
断面図である。
【図2】本発明のリードフレーム搬送方法の一の実施の
形態を示す工程図である。
【図3】従来のリードフレーム搬送装置の概略構成を示
し、(a)は平面図、(b)は正面図である。
【図4】従来のリードフレーム搬送方法を示す工程図で
ある。
【図5】ローダ側送り爪によるリードフレームの位置決
めを示す説明図である。
【図6】(a)乃至(d)はリードフレームがローダ側
送り爪端面に当たる位置が不確定になる状態を示す説明
図である。
【図7】リードフレームの変形によるリードフレームの
位置ずれを示し、(a)はローダ側送り爪が閉じる前の
説明図、(b)はローダ側送り爪が閉じた後の説明図で
ある。
【符号の説明】
1、1A、1B リードフレーム 3 フレームフィーダ 5 ローダ側送り爪 6 アンローダ側送り爪 20A ローダ側マガジン 40 位置決めセンサ
フロントページの続き (72)発明者 塩澤 茂 東京都武蔵村山市伊奈平2丁目51番地の1 株式会社新川内

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ローダ側マガジンから供給されたリード
    フレームをフレームフィーダの送り爪でチャックして搬
    送するリードフレーム搬送方法において、ボンディング
    位置の近傍でリードフレームを送り爪でチャックし、ロ
    ーダ側マガジン側に設けられた位置決めセンサでリード
    フレームの先端を検出して位置決めを行い、位置決め後
    にリードフレームを送り爪でチャックした状態でリード
    フレームの最初のボンディング部分をボンディング位置
    まで搬送することを特徴とするリードフレーム搬送方
    法。
  2. 【請求項2】 ローダ側マガジンから供給されたリード
    フレームをフレームフィーダの送り爪でチャックして搬
    送するリードフレーム搬送装置において、リードフレー
    ムを検出するためにボンディング位置の近傍でリードフ
    レームを送り爪でチャックし、ローダ側マガジン側に設
    けられた位置決めセンサと、この位置決めセンサでリー
    ドフレームの先端を検出して該リードフレームを位置決
    めした後に、前記送り爪でチャックした状態でリードフ
    レームの最初のボンディング部分をボンディング位置ま
    で搬送する制御手段とを有することを特徴とするリード
    フレーム搬送装置。
  3. 【請求項3】 前記ボンディング位置から前記位置決め
    センサまでの距離は、前記送り爪の1回の移動量以内で
    あることを特徴とする請求項1記載のリードフレーム搬
    送方法。
  4. 【請求項4】 前記ボンディング位置から前記位置決め
    センサまでの距離は、前記送り爪の1回の移動量以内で
    あることを特徴とする請求項2記載のリードフレーム搬
    送装置。
JP24723896A 1996-08-29 1996-08-29 リードフレーム搬送方法及び搬送装置 Expired - Fee Related JP3354052B2 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP24723896A JP3354052B2 (ja) 1996-08-29 1996-08-29 リードフレーム搬送方法及び搬送装置
TW086110202A TW340968B (en) 1996-08-29 1997-07-18 Carrying method of lead cells and the carrier
KR1019970039271A KR100273836B1 (ko) 1996-08-29 1997-08-19 리드프레임반송방법및반송장치
US08/919,666 US5975835A (en) 1996-08-29 1997-08-28 Lead frame conveying method and conveying apparatus

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP24723896A JP3354052B2 (ja) 1996-08-29 1996-08-29 リードフレーム搬送方法及び搬送装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH1074777A true JPH1074777A (ja) 1998-03-17
JP3354052B2 JP3354052B2 (ja) 2002-12-09

Family

ID=17160515

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP24723896A Expired - Fee Related JP3354052B2 (ja) 1996-08-29 1996-08-29 リードフレーム搬送方法及び搬送装置

Country Status (4)

Country Link
US (1) US5975835A (ja)
JP (1) JP3354052B2 (ja)
KR (1) KR100273836B1 (ja)
TW (1) TW340968B (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100506801B1 (ko) * 1998-05-26 2005-11-03 삼성전자주식회사 리드프레임을 식별할 수 있는 리드프레임 공급장치
EP1679155A1 (en) 2005-01-06 2006-07-12 TDK Corporation Method and apparatus for conveying workpieces
JP2014127642A (ja) * 2012-12-27 2014-07-07 Fuji Mach Mfg Co Ltd 部品装着方法

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4046391B2 (ja) * 1997-11-28 2008-02-13 松下電器産業株式会社 プリント基板の搬送装置および搬送方法
TW490564B (en) * 1999-02-01 2002-06-11 Mirae Corp A carrier handling apparatus for module IC handler, and method thereof
US6783316B2 (en) * 2001-06-26 2004-08-31 Asm Assembly Automation Limited Apparatus and method for testing semiconductor devices
US10541223B2 (en) * 2017-05-05 2020-01-21 Kulicke And Soffa Industries, Inc. Methods of operating a wire bonding machine to improve clamping of a substrate, and wire bonding machines
CN111566804B (zh) * 2018-01-09 2023-10-24 库利克和索夫工业公司 包括夹持系统的焊线机的操作系统及方法

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4010840A (en) * 1974-05-31 1977-03-08 General Battery Corporation Automatic air leak testing apparatus for multiple chambered containers
JPS62105811A (ja) * 1985-10-31 1987-05-16 Mazda Motor Corp 板状部材の位置決め搬送装置
JPH069426B2 (ja) * 1986-08-25 1994-02-02 三菱電機株式会社 保護継電器の点検装置
JPS6432127A (en) * 1987-07-28 1989-02-02 Nippon Ceramic Kk Support for infrared detecting element
JPH024486A (ja) * 1988-06-23 1990-01-09 Fuji Valve Co Ltd ワークの異材選別装置
JP2890333B2 (ja) * 1991-05-24 1999-05-10 株式会社新川 リードフレームの搬送装置
JP3245445B2 (ja) * 1992-03-26 2002-01-15 株式会社新川 ワイヤボンデイング装置
US5562382A (en) * 1994-07-18 1996-10-08 Kaijo Corporation Substrate transport apparatus and substrate transport path adjustment method

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100506801B1 (ko) * 1998-05-26 2005-11-03 삼성전자주식회사 리드프레임을 식별할 수 있는 리드프레임 공급장치
EP1679155A1 (en) 2005-01-06 2006-07-12 TDK Corporation Method and apparatus for conveying workpieces
JP2014127642A (ja) * 2012-12-27 2014-07-07 Fuji Mach Mfg Co Ltd 部品装着方法

Also Published As

Publication number Publication date
KR100273836B1 (ko) 2001-01-15
JP3354052B2 (ja) 2002-12-09
TW340968B (en) 1998-09-21
US5975835A (en) 1999-11-02
KR19980018747A (ko) 1998-06-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3354052B2 (ja) リードフレーム搬送方法及び搬送装置
JPH0770550B2 (ja) 半導体フレームの搬送装置および搬送方法
JPH0964148A (ja) ウェーハリングの供給・返送装置
US5208464A (en) Device for detecting errors in top/bottom/front/back orientation of a lead frame
KR100312744B1 (ko) 씨에스피용 박막필름의 이송 및 클램프 장치
US5951283A (en) Substrate transporting device
JP3330913B2 (ja) リードフレーム供給機構
JP3015243B2 (ja) 2以上のボンディングヘッドを有するボンディング装置
JPH0831849A (ja) チップのボンディング方法
JPH07176552A (ja) ダイボンディング装置
JP2627023B2 (ja) ボンディング装置におけるフレーム搬送装置
JP2806722B2 (ja) 基板搬送装置
JPH0543181B2 (ja)
EP1507284A2 (en) Apparatus and method for indexing and severing film
JP2837474B2 (ja) 画像認識部品装着装置
KR910007418B1 (ko) 칩 이송장치의 픽럽 방법
JP2751550B2 (ja) 半導体チップのボンディング装置
JPH03256921A (ja) ワーク切出し装置
JPH01239864A (ja) 基板搬送装置
JPS61290727A (ja) リ−ドフレ−ム搬送装置
JPH03170252A (ja) 部品搬送装置
JPH02283042A (ja) ダイボンディング装置
JPH03227029A (ja) ダイボンディング装置
JP2510600Y2 (ja) テ―プボンディング装置
JPH06244245A (ja) 半導体素子接合装置

Legal Events

Date Code Title Description
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20020902

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080927

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090927

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100927

Year of fee payment: 8

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees