JPH0933557A - 回転率センサ - Google Patents
回転率センサInfo
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- JPH0933557A JPH0933557A JP8191072A JP19107296A JPH0933557A JP H0933557 A JPH0933557 A JP H0933557A JP 8191072 A JP8191072 A JP 8191072A JP 19107296 A JP19107296 A JP 19107296A JP H0933557 A JPH0933557 A JP H0933557A
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Abstract
ッパを設けることによって制限し、それによってセンサ
の運転の信頼性及びセンサの強靭性を高めることができ
るようにする。 【解決手段】 このため振動子(4)の変位を制限する
ストッパが、多層基板(10)から組織パターン加工さ
れている。
Description
概念に基く回転率センサに関する。
書によれば、多層基板から構成されている回転率センサ
が公知である。この多層基板は、上方珪素層と下方珪素
層とを有し、これらの珪素層の間に絶縁作用を有する犠
牲層が設けられている。多層基板から振動子が組織パタ
ーン加工されており、該振動子は振動ビームに懸吊され
ている。振動子上には加速度センサが設けられており、
該加速度センサは、振動軸線に対し垂直に発生する可能
性のあるコリオリ加速度を測定することができるように
構成されている。
書によって既に公知である回転率センサの場合には、振
動子は多層基板から組織パターン加工されている。更に
該明細書によれば、特に静電駆動装置、電磁駆動装置及
び熱機械駆動装置による、この種の振動子を励振するた
めの多数の励振方法が公知である。
信頼性及びセンサの強靭性を高めることである。
振動子の変位がストッパによって制限されていることに
より解決された。特にストッパの使用によってセンサの
感度を、大きな直線加速装置に比較して小さくすること
ができる。
て、請求項1で述べた回転率センサの別の有利な構成が
可能である。
することができるので、有利にはこの種の変位を制限す
る平行ストッパが設けられている。センサを製造する際
のエッチング時間を短縮するため、下方珪素層の肉厚を
振動子の下で削減しておくと有利である。この場合振動
方向に対し垂直な振動子の変位を制限するためにはスト
ッパが設けられており、該ストッパは、下方の珪素層1
から組織パターン加工されているか、又は付加的なプレ
ート上に設けられている。下方珪素層1の肉厚が予め充
分に薄く選択されている場合には、プレート上にセンサ
を組み付けることによって変位の制限を達成することが
できる。その際プレートと振動子との間の間隔は、結合
層を適当な肉厚にすることによって特に簡単に調節可能
である。回転率センサはカバーによって汚染から保護さ
れており、それによって上方への振動子の変位が制限さ
れている。
次にこれを詳しく説明する。
を有する多層基板10が図示されている。両珪素層1,
3の間には絶縁作用を有する犠牲層2が配置されてい
る。下方珪素層1は一般的に珪素ウェーハであり、該珪
素ウェーハ上には、例えば酸化珪素、窒化珪素又はガラ
スから成る犠牲層2が装着されている。更に犠牲層2上
には、プラズマからの析出又は別の珪素ウェーハのボン
ディングによって上方の珪素層3が形成されている。そ
れぞれの製造方法に応じて上方の珪素層3は、多結晶の
珪素材料、単結晶の珪素材料又は多結晶及び単結晶の珪
素材料の混合体から成っている。多層基板10の背面側
には切欠き7が加工されており、該切欠き7によって下
方珪素層1の肉厚を区分的に減少させることができる。
下方の珪素層1を貫通して溝を加工しようとする場合に
は、下方珪素層1の肉厚を減少することによってエッチ
ング時間を短縮することができる。
マスク8が装着されている。この第1エッチングマスク
8は、図3及び図4で詳しく説明される、加速度センサ
のための組織構造体を有している。次いで、エッチング
マスク8の組織構造体がエッチング加工されるエッチン
グステップが実施される。それによって形成された溝は
犠牲層2にまで到達する。第1エッチングマスク8のた
めの材料としては、フォトラック又は適当に組織パター
ン化された酸化珪素層又は窒化珪素層を使用することが
できる。
プで第2のエッチングマスク9が装着される。この第2
のエッチングマスク9によって、エッチング溝を多層基
板10内に加工するのに使用される組織構造体が規定さ
れる。該エッチング溝は上方珪素層3、犠牲層2及び下
方珪素層1を貫通している。予め加工された切欠き7に
よってこれに必要なエッチング時間を減少させることが
できる。続いてエッチングマスク9を除去する。次の方
法ステップで犠牲層2のエッチングを行う。犠牲層2の
このエッチングステップは等方的に行われるので、上方
珪素層3と下方珪素層1との間に配置されている犠牲層
2の領域もエッチングされ、その結果上方珪素層3内に
装着された組織構造体のアンダエッチングも行うことが
できるようになる。しかしこのエッチングは短時間の間
だけ行われるので、側方への広がりの小さい組織構造体
がアンダエッチングされるだけである。
多層基板10が示されている。製造方法によって、多数
の異なった領域を備えたセンサ部材を製造することがで
きる。フレーム11は層3,2及び1の元の肉厚を有し
ていて、センサを保持するのに特に良好に適している。
動ビーム5のX方向の寸法は、Y方向の寸法に比較して
相対的に小さな寸法である。従ってこの振動ビーム5は
X方向に特に容易に変位することができる一方で、Y方
向においては比較的剛性に構成されている。更に、上方
珪素層3から形成された振動ビーム5の上方領域は、機
械的に不動であるが犠牲層2によって絶縁されていて、
下方層1から組織パターン加工された下方部分に結合さ
れている。
に結合された振動子4が組織パターン加工されている。
この振動子4は、第1珪素層1から組織パターン加工さ
れている下方プレート14を有している。振動子4の上
方珪素層3は固着部23を有し、該固着部23は、絶縁
作用を有する犠牲層2によって振動子4の下方プレート
14に不動に結合されている。
平面図で明らかなように、運動可能な中央ビーム22乃
至運動可能な電極21が組織パターン加工されている。
中央ビーム22は、固着部23に固定されている撓みば
ね24に懸吊されている。この撓みばね24はZ方向に
は比較的狭く形成されており、このため中央ビーム22
及び運動可能な電極21が加速度によってZ方向に移動
できるようになっている。これによって、運動可能な電
極21と、固着部23によって振動子4の下方プレート
に剛性的に結合されている不動な電極20との間のキャ
パシタンスが変化する。つまり固着部23、中央ビーム
22の撓みばね24、運動可能な電極21及び不動な電
極20が、Z方向の加速度を測定する加速度センサ25
を形成している。
子4の上方珪素層3から組織パターン加工されていて、
固着部23乃至固着部23のグループが相互に電気的に
絶縁されうるように構成されている。撓みばね24を懸
吊するためには1つのグループの固着部23が設けられ
ている。更に不動な電極20のために、それぞれ相互に
絶縁された2つの固着部23が設けられている。図3に
図示されているように、これらの固着部23は振動子4
の上方珪素層3に直接結合されており、このため不動な
電極20の電気信号が振動ビーム5を介してフレーム1
1に導かれるようになっている。フレーム11上では上
方珪素層3から接触領域12が組織パターン加工されて
いる。該接触領域12は振動ビーム5の上方珪素層3に
結合されている。つまり接触領域12では、不動な電極
20に発生する電気信号が取り出される。この構成によ
って、加速度センサ25のプレートコンデンサにおける
キャパシタンスの変化を測定することができる。図4に
は不動な電極20の接触部だけが図示されている。勿論
同様な形式で撓みバー24の固着部23の接触も行われ
る。これにより電気信号が運動可能な電極21から取り
出し可能である。しかし図面を見易くする観点から、こ
のことは図4には図示されていない。
たセンサの概略横断面が示されている。しかしこの場合
個々の寸法は相互に比例して図示されていない。例えば
図3に図示された固着領域23の幅は極端に短縮されて
いる。
許出願第19504151号明細書によって既に公知で
あるセンサにほぼ相当している。
運転のためには振動子4がX方向に振動させられる。こ
の種の振動のための駆動手段は、例えばヨーロッパ特許
第539393号明細書によって公知である。例として
図4には、振動子4上に、取り付けられた磁気材料の領
域30だけが図示されている。強度が時間的に変化する
外方の磁場によって、振動子4の振動が励起される。
る。次いでY軸線を中心とした回転が行われ、このため
Z方向にはコリオリ加速が与えられる。このコリオリ加
速は、加速度センサ25によって検出され、かつY軸を
中心とした回転のための尺度である。
れているので、外方の直線的な加速によって極めて容易
にX方向に変位することができる。X方向におけるこの
加速が極めて大きい場合には、振動ビーム5の機械的な
強度が凌駕されて、センサが破壊されるおそれがある。
このことを阻止するため、平行ストッパ41及び42が
フレーム11及び振動子4から組織パターン加工されて
いる。ストッパ41及び42は平行ストッパと呼ばれて
いる。それは、該ストッパ41,42が振動子4の変位
を個々の珪素層に対し平行に制限しているからである。
図4では振動子4のストッパ42は、下方プレート14
に適当な形態を与えることによって形成されている。つ
まりストッパ42は下方珪素層1だけから組織パターン
加工されている。フレーム11のストッパ41は、下方
珪素層1からもまた上方珪素層3からも組織パターン加
工されている。この実施例ではフレーム11は、振動子
4の2つのストッパ42の間に配置されている1つのス
トッパ41しか有していない。この代りに、ストッパ4
1,42を任意に多重配置することも勿論可能である。
例が図示されており、該回転率センサは、ストッパの形
態を除いては既に図3で示した公知の回転率センサに一
致している。同一の対象物には、図3及び図4の場合と
同一の符号が使用されている。しかし図3とは異なって
振動子4に下方ストッパ43が設けられており、該スト
ッパ43によって負のY方向における振動子4の変位が
制限されている。回転率センサのフレーム11は、結合
層33を介して支持プレート32に結合されている。こ
の種の支持プレート32は、例えば珪素、ガラス又はそ
の他の材料から成っている。しかし熱膨脹係数が小さい
という観点からは珪素が優れている。結合層33の材料
としては、酸化珪素、窒化珪素、ガラス、接着剤又はは
んだが適している。下方のストッパ43は、切欠き7が
ほぼ撓みビーム5の下方にだけ設けられ、振動子4の下
方プレート14と一緒になってストッパ43が元の下方
珪素層1の肉厚を有するようにすることによって、形成
可能である。下方ストッパ43と支持プレート32との
間の間隔は、結合層33の肉厚を適当に選択することに
よって、又は下方ストッパ43を規定されたように局部
的に後退エッチングすることによって調節可能である。
この例ではY方向における振動子4の変位はカバー31
によって制限されている。このカバー31は多数の材
料、例えばセラミック又は金属から製造可能であるが、
適した膨脹係数の観点から珪素が優れている。
レート32によって回転率センサを密封することができ
るように気密中空室が形成されている。この様な形式で
センサ部材は、不都合で有害な環境因子から特に良好に
保護されている。
にほぼ一致する別の実施例が示されている。図5との相
違点は、下方ストッパ43が支持プレート32から組織
パターン加工されているか、乃至は支持プレート32上
に装着されているという点である。この形態の場合に
は、振動子4と下方ストッパ43との間の間隔を結合層
33の肉厚とは無関係に選択することができる。しかし
この場合には、下方ストッパ43の高さを極めて精密な
仕上公差に維持する必要がある。
率センサを製造する別の方法が述べられている。この方
法では、珪素ウェーハ50から出発する。該珪素ウェー
ハ50上には絶縁分離層51が、更に該絶縁分離層51
上に珪素層1が装着されている。この種の珪素ウェーハ
は、絶縁分離された回路を製作するための所謂SOIウ
ェーハとして入手可能である。その場合珪素層1は、回
転率センサを製造するための下方珪素層として使用され
る。その後で析出又は熱的な酸化によって珪素層1の上
側に絶縁分離層2を形成する。この場合析出によっては
多結晶性の珪素層3が析出される。この珪素ウェーハ5
0は典型的な形式で数100μmの肉厚を有している。
絶縁分離層51は典型的には0.5μmと2μmとの間
の肉厚を、珪素層1は50μmと100μmとの間の肉
厚を、絶縁作用を有する犠牲層2は典型的には0.5μ
mと2μmとの間の肉厚を、上方珪素層3は典型的には
10μmと50μmとの間の肉厚をそれぞれ有してい
る。背面側から切欠き60が、珪素ウェーハ50内を延
びてエッチング加工されており、該切欠き60は絶縁分
離層51にまで達している。図7には2つの切欠き60
が示されており、これらの切欠き60の間にはブロック
61が配置されている。専門家には、任意の数の切欠き
60を利用することができることも、例えば1つだけの
大きな切欠き60を設けそれによってブロック61を省
くことができることも、明らかであろう。次に等方性エ
ッチングステップを行って絶縁分離層51をエッチング
する。その際等方性に基いて側方においても制御された
アンダエッチングが行われ、該エッチングの大きさはエ
ッチング率及びエッチング時間によって制御可能であ
る。次に上方層1,2,3において、図1から図3まで
に既に説明したのと同じ様な、回転率センサのための製
造ステップを実施する。しかし珪素層1の肉厚は予め所
望の寸法に選択されているので、この場合には下方珪素
層1の背面側に切欠き7を設けることを省くことができ
る。更に幅の広い珪素ウェーハ50によって回転率セン
サの安定性を高めることができるので、フレーム11を
より薄く構成することも可能である。その際珪素ウェー
ハ50によっては下方のストッパを形成することもでき
る。
を更に縮小しようとする希望がある場合には、これを同
じ様に実施することができる。このことは図8に示され
ている。この例では下方珪素層1のエッチングを等方エ
ッチングプロセスで行う場合、エッチング媒体は切欠き
60を通して供給される。この種の等方エッチングプロ
セスの場合においても、下方珪素層1の残余の肉厚を高
い精度で調節することができる。
の公知の製作ステップで製造された回転率センサの概略
横断面が図示されている。この場合下方への振動子4の
変位は下方の珪素プレート50によって制限され、上方
への振動子4の変位はカバー31によって制限されてい
る。
図である。
図である。
である。
る。
た図である。
図である。
した図である。
ンサを示した図である。
Claims (9)
- 【請求項1】 多層基板から成る回転率センサであっ
て、下方の珪素層(1)上には絶縁作用を有する犠牲層
(2)が、該犠牲層(2)上には上方の珪素層(3)が
それぞれ装着されており、多層基板から振動ビーム
(5)に懸吊された振動子(4)が組織パターン加工さ
れており、振動子(4)を励振して第1の方向の振動を
発生させるための手段が設けられており、振動子(4)
の上には加速度センサ(25)が配置されている形式の
ものにおいて、 多層基板(10)から、振動子(4)の変位を制限する
ストッパ(41,42,43)が組織パターン加工され
ていることを特徴とする回転率センサ。 - 【請求項2】 振動子(4)が多層基板(10)に対し
平行に振動し、振動子(4)がフレーム(11)によっ
て取り囲まれており、ストッパが平行ストッパ(41,
42)としてフレーム(11)及び振動子(4)に設け
られていて、振動子(4)の変位が基板(10)に対し
平行に制限されうるようになっていることを特徴とす
る、請求項1記載の回転率センサ。 - 【請求項3】 振動子(4)の下で下方珪素層(1)の
肉厚が減少していて、該個所には下方ストッパ(43)
が設けられており、該ストッパ(43)によって振動方
向に対して垂直な振動子(4)の変位が制限されている
ことを特徴とする、請求項1又は2記載の回転率セン
サ。 - 【請求項4】 前記下方ストッパ(43)が下方珪素層
(1)から組織パターン加工されていることを特徴とす
る、請求項3記載の回転率センサ。 - 【請求項5】 前記フレーム(11)の下方珪素層
(1)が別のプレート(32,50)上に固定されてい
ることを特徴とする、請求項3記載の回転率センサ。 - 【請求項6】 前記別のプレートが、下方ストッパ(4
3)を有する支持プレート(32)として構成されてい
ることを特徴とする、請求項5記載の回転率センサ。 - 【請求項7】 前記別のプレートが珪素ウェーハ(5
0)によって形成され、該珪素ウェーハ(50)には少
くとも1つの切欠き(60)がエッチング加工されてい
ることを特徴とする、請求項5記載の回転率センサ。 - 【請求項8】 振動子(4)が第1珪素層(1)の肉厚
内に下方プレート(14)を有し、前記フレーム(1
1)が該フレームの下方珪素層(1)で絶縁層(51)
によって珪素ウェーハ(50)に結合されており、該絶
縁層(51)が振動子(4)及び撓みビーム(5)の下
方で取り除かれていることを特徴とする、請求項1又は
2記載の回転率センサ。 - 【請求項9】 前記フレーム(11)の上側にはカバー
(31)が設けられていることを特徴とする、請求項1
から8までのいずれか1項記載の回転率センサ。
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