JPH09199295A - プラズマを発生する方法および装置 - Google Patents

プラズマを発生する方法および装置

Info

Publication number
JPH09199295A
JPH09199295A JP8302771A JP30277196A JPH09199295A JP H09199295 A JPH09199295 A JP H09199295A JP 8302771 A JP8302771 A JP 8302771A JP 30277196 A JP30277196 A JP 30277196A JP H09199295 A JPH09199295 A JP H09199295A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
plasma
coil
shield
chamber
antenna
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP8302771A
Other languages
English (en)
Inventor
Ivo Raaijmakers
ラーエイマケルス イーヴォ
Bradley O Stimson
オー スティムソン ブラッドリー
John Forster
フォースター ジョン
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Applied Materials Inc
Original Assignee
Applied Materials Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Applied Materials Inc filed Critical Applied Materials Inc
Publication of JPH09199295A publication Critical patent/JPH09199295A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/18Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic System or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
    • H01L21/30Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
    • H01L21/302Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to change their surface-physical characteristics or shape, e.g. etching, polishing, cutting
    • H01L21/306Chemical or electrical treatment, e.g. electrolytic etching
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/32009Arrangements for generation of plasma specially adapted for examination or treatment of objects, e.g. plasma sources
    • H01J37/32082Radio frequency generated discharge
    • H01J37/321Radio frequency generated discharge the radio frequency energy being inductively coupled to the plasma
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/32009Arrangements for generation of plasma specially adapted for examination or treatment of objects, e.g. plasma sources
    • H01J37/32082Radio frequency generated discharge
    • H01J37/32137Radio frequency generated discharge controlling of the discharge by modulation of energy
    • H01J37/32155Frequency modulation
    • H01J37/32165Plural frequencies
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/32431Constructional details of the reactor
    • H01J37/32458Vessel
    • H01J37/32477Vessel characterised by the means for protecting vessels or internal parts, e.g. coatings

Abstract

(57)【要約】 【課題】 電磁エネルギを誘導結合することによってプ
ラズマを生成する方法および装置を提供する。 【解決手段】 一つの実施例では、第1および第2アン
テナコイル(104,106)を、プラズマ閉じ込め領
域の周りに配置する。第1および第2アンテナコイル
は、プラズマ閉じ込め領域の長手軸方向に沿って比較的
間隔(L)を開けられる。電流が、第1および第2アン
テナコイルに流れる。位相シフト調節ネットワーク(1
16)が、第1アンテナの電流の位相と第2アンテナの
電流の位相のずれを生成する。位相のずれは、プラズマ
中にヘリコン波を発するために必要な位相のずれに相当
する。別の実施例では、チャンバシールドが、導電性材
料より作られ、シールドがRFアンテナとして機能する
ようにRF源に結合される。シールドは、シールドを囲
むコイルに直列に結合され、結果としてフラックス密度
を上げる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、プラズマ発生器に
関し、特に半導体装置の製造工程中にプラズマを発生す
る方法および装置に関する。
【0002】
【従来の技術】低圧高周波(RF)で生成されるプラズ
マが、表面処理、堆積およびエッチングプロセスなどの
半導体装置製造工程で用いられるエネルギの高いイオン
および活性原子の発生に使いやすいソースとなってき
た。例えば、スパッタ堆積プロセスを利用して材料を半
導体ウェハ上に堆積するために、プラズマが、負にバイ
アスされたスパッタターゲット材料の近傍で作られる。
プラズマ内に作られるイオンは、ターゲットの表面に衝
突し、ターゲットから材料を取り除く、すなわち「スパ
ッタ」する。スパッタされた材料は、それから半導体ウ
ェハの表面上に運ばれ、堆積される。スパッタされた材
料は、ターゲットから基板まで、直線経路で動き、基板
の表面に斜めとなる角度で堆積される。結果として、幅
に対する深さの高いアスペクト比のトレンチ又はホール
を有する半導体装置のエッチングされたトレンチおよび
ホールに堆積された材料が、それらの上に架橋し、堆積
層中に望ましくない空洞を形成する。そのような空洞の
形成を阻止するためには、スパッタされた材料が、プラ
ズマにより十分に電離される場合には、基板を負に帯電
し、ほぼ垂直に向けられた電界を基板の近傍に生じさせ
ることによって、スパッタされた材料が、ターゲットと
基板の間でほぼ垂直な経路に「平行化」されることがで
きる。しかしながら、低密度のプラズマによりスパッタ
された材料は、通常は過多の空洞の形成を避けるには不
十分な1%より小さい電離度を有する場合がある。従っ
て、堆積層中に望ましくない空洞を形成する割合を低減
するために、プラズマ密度を上げて、スパッタされた材
料の電離度を大きくすることが望ましい。本明細書で
は、用語「密プラズマ」が、電子とイオンの高い密度を
有するプラズマを示す。
【0003】容量結合、誘導結合および波加熱などのR
F電界にプラズマを励起する様々な技術が知られてい
る。標準的な誘導結合プラズマ(ICP)発生器におい
て、プラズマを囲むコイルを流れるRF電流が、プラズ
マ中に電磁電流を誘導する。これらの電流はオーミック
加熱により導電性プラズマを加熱し、定常状態におかれ
る。米国特許第 4,362,632号に例えば示されるように、
コイルを流れる電流が、コイルに結合されたRF発生器
により、インピーダンス適合ネットワークを通って供給
され、コイルが変圧器の一次巻線の役割をする。プラズ
マは、変圧器の単巻きの二次巻線として作用する。プラ
ズマ放電を形成するこの既知の装置は、様々な不利益を
有する。特に、プラズマのパワー吸収が、プラズマの外
縁から表皮深さの数倍(典型的には数cm)の領域に通常
は局所的に集中し、プラズマの内部は一般に、プラズマ
の外縁よりもパワーを吸収しない。結果として、プラズ
マの励起は不均一なものとなり、エッチングまたは堆積
が不均一なものとなる。
【0004】米国特許第 4,362,623号に示されるヘリカ
ルコイルを用いた従来の誘導結合プラズマ(ICP)発
生器において、コイルアンテナの各巻から放射される電
磁エネルギが、同位相であることを認識されたい。ま
た、電界は、ほぼ純粋な誘導性モードにおいてプラズマ
と結合される。密度は、≦1011〜1012cm-3に通常
は制限される。対照的に、波加熱(ヘリコンおよびEC
R放電)を用いて励起されたプラズマが、数1013cm
-3の高い密度に励起されることができ、波加熱が、より
密なプラズマが要求される場合に好ましい。そのような
ヘリコン波は、放電を通じて非常に均一に吸収される。
ヘリコン波は、適切に形成されたアンテナにより、弱く
磁化された(典型的にB<500 ガウス)プラズマにおい
て励起される。その最も単純な形態では、ヘリコンm=
0モードが、2つのコイル巻線により励起され、各巻線
の電流が反対を向いている。
【0005】ヘリコン波を利用して高密度のプラズマを
生成する既知の装置は、例えばキャンベル(Campbell)等
による米国特許第 4,990,229号に示されており、これ
は、プラズマの効率的な生成が、用いられるアンテナの
構成に大きく依存することを教示する。言い換えると、
ヘリコン波結合を最大にするためには、非常に特別で、
ある場合には複雑で大きなアンテナ構成が必要となるこ
とがある。米国特許第 4,990,229号の図2は、m=0の
ヘリコンモードを励起するために用いられる2つのルー
プアンテナを示す。2つのループ間の距離が、m=0の
ヘリコン分散の関係に適合するように調整されると信じ
られている。すなわち、
【0006】
【数1】 ここでeは、電子電荷であり、μ0 は、誘電率であり、
ωc は、電子サイクロトロン振動数(eB0 /me )で
あり、ωp は、プラズマ周波数√(e2 0 /ε
0 e )であり、me は、電子の質量であり、kz =2
π/λz は、軸方向の波数であり、aは、プラズマ半径
であり、Lは、ループ間の距離であり、n0 は、プラズ
マ密度であり、ω=2πfは、励起角周波数であり、B
0 は、軸磁界であり、ε0 は、真空誘電率である。
【0007】特定の状態(ω、n0 、B0 、a)に対し
て、ヘリコン波の効果的な結合用のアンテナのループ間
の距離Lが、このばらつきの関係により一定にされる。
z<<3.83/aと近似すると、数式(1)は、
【0008】
【数2】 と書き換えられ、典型的な状態(B0 /n0 =5×10
-10 ,f=13.6MHz 、a=15cm)に対して、λz =75cm
が得られる。2つのループ間の距離が、m=0ヘリコン
モードの効率的な結合に対しておよそ40cmに制限される
ことを意味する。このことにより、ほぼ均一なリアクタ
のアスペクト比が作られる。TFTガラス又はシリコン
ウェハのような大きなサイズの基板に対して、このこと
は、不便なほど大きいリアクタとなる。また、ターゲッ
トとウェハの間隔は、効率的にウェハ上に均一な膜を形
成するのがより困難となるチャンバ径にほぼ等しくな
る。ヘリコン波を発するのに必要な電磁界の生成に要求
される別の形状の複雑なアンテナ構造が、米国特許第
4,990,229号の図3および5に例示されている。従来の
システムにおいては、ヘリコン波長に影響を与え、効率
的に結合する様々な変数が別の拘束により定められるた
め、そのような複雑で、大きくなることがある形状が必
要であると考えられている。アンテナの形状は、適切な
電磁界を達成するために、ある程度容易に変更できる数
少ない変数の1つである。波エネルギを電子ガスに効率
的に結合することと、柔軟な形状の両方を実現するため
に、kzまたはλz を独立して制御できることが望まし
い。
【0009】米国特許第 5,146,137号が、ヘリコン波を
用いた様々なプラズマ発生装置について開示する。これ
らの波は、プラズマを閉込める石英チャンバを囲む4つ
又はそれ以上のプレート状電極を用いる1つの装置にお
いて発生される。この電極は、位相シフタを通って電圧
源に結合され、90°の位相回転をもつ高周波容量結合
電圧を生成する。別の装置において、4つ又はそれ以上
のトロイダルコイルが、電圧源に結合されて、電磁エネ
ルギをチャンバに誘導結合する。この文献の電極および
コイルは、比較的に複雑なように思われる。物理気相成
長チャンバのような多くの堆積チャンバにおいて、チャ
ンバ壁がしばしばステンレス鋼のような導電性金属で形
成される。チャンバ壁が導電性であり、導電性チャンバ
壁が、アンテナから放射する電磁エネルギを阻止又は実
質的に弱めるため、チャンバ自身の中にアンテナコイル
すなわち電極を配置する必要がある場合がある。結果と
して、コイルは、堆積フラックスおよびエネルギの高い
プラズマ粒子に直接曝されることになる。これは、ウェ
ハ上に堆積する膜を汚染する可能性のある原因となり、
望ましくない。コイルを保護するために、セラミックの
ような非導電材料からシールドが生成されることもでき
る。しかしながら、多くの堆積工程が、製造される電子
装置上にアルミニウムのような導電性材料を堆積させ
る。導電性材料がセラミックシールドをコーティングす
るため、それはやがて導電性となり、電磁線のプラズマ
への透過を実質的に弱めることになる。
【0010】
【発明の概要】本発明は、チャンバ内にプラズマを発生
し、実際の目的に対して上述の制限を取り除く方法およ
び装置を改良することを目的とする。これらの及び別の
目的および利点が、本発明の一態様に従って、プラズマ
発生装置によって達成され、このプラズマ発生装置は、
プラズマ発生領域の周りの第1アンテナコイルから磁化
されたプラズマに電磁エネルギを誘導結合し、プラズマ
発生領域の周りの別の第2アンテナコイルからプラズマ
に電磁エネルギを誘導結合し、第1および第2のコイル
を通る電流(又はそれらに与えられる電圧)が、好まし
くは1/4 πから7/4 πの間の所定の位相のずれを有す
る。適切な設定の下では、2つのアンテナコイルにより
生成される電磁界における位相のずれは、磁化されたプ
ラズマにおいてヘリコン波を発することができる。この
ような装置は多くの利点を有する。例えば、以下に詳細
に説明されるように、このプラズマ発生装置が、プラズ
マ発生器用のアンテナの設計を、実質的に単純化させ、
実質的により低いアスペクト比をもつようにさせる。特
に、チャンバシールド自身をプラズマ発生器用のアンテ
ナとして使用できるため、それによってシステム設計を
単純化できるとされてきた。
【0011】本発明の別の態様において、第1および第
2コイルの電流の間の位相のずれが、例えば位相シフト
ネットワークによって電気的に変化させられる。結果と
して、チャンバが優れた設計をされ、堆積効率、エッチ
ング速度および堆積速度の均一性などのファクタを最適
化する。(多くの従来の設計がそうであったように、)
チャンバ設計は、アンテナのループ間の間隔が、特定の
アンテナ設計に対しておよそ1/2 λz であるという要求
によっては制限されない。例えば、コイル間の間隔に悪
影響を与えるかもしれないが、チャンバの高さが、実質
的に低くされることができる。コイル間の位相のずれを
電気的に変化することによって、特定の波長のヘリコン
波を発するのに必要な位相のずれが、コイルの間隔の変
化にかかわらず、容易に得ることができる。従って、実
質的にπよりも小さい位相のずれを小さくすることによ
って、コイル距離よりも実質的に大きい半波長を有する
波を発することができる。
【0012】本発明の別の態様において、チャンバシー
ルドにプラズマを発生するRFアンテナが、シールドを
囲むコイルに直列に結合された導電性シールドを含む。
そのような装置は、外部コイルから導電性シールドを通
ってチャンバ内部に結合されるRFパワーの減衰を小さ
くすることが分かった。
【0013】
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態が、図面を参
照して以下に説明されている。図1および2を参照する
と、本発明の第1の態様のプラズマ発生器が、真空チャ
ンバ101内にほぼ円筒状のプラズマチャンバ100を
含み、(磁力線102により表される)ほぼ均一な軸方
向の磁界が、プラズマを通過する。この磁界は、例えば
チャンバ軸と同軸のヘルムホルツコイル(図示せず)に
より生成されてもよい。少なくとも2つの同軸アンテナ
コイル104と106が、チャンバ100の周囲に間隔
を開けて配置される。2つのアンテナコイル104と1
06は、チャンバ100の軸に沿った距離“L”だけ離
されている。各アンテナコイルが、少なくとも1つの実
質的に完全な巻きを有し、各アンテナコイルは、電磁エ
ネルギを放射できる。
【0014】第1アンテナコイル102が、第1増幅器
および整合ネットワーク108に結合される。第2アン
テナコイル106が、第2増幅器および整合ネットワー
ク112に結合される。第1および第2のRF増幅器1
08と112が、単一のRF発生器114に電気的に結
合している。しかしながら、第1増幅器108は、位相
シフト調節ネットワーク116を通じて発生器114に
結合され、第1アンテナコイル104内の電流と第2ア
ンテナコイル106内の電流が、互いに関連して位相を
シフトさせる。真空チャンバ101は、プラズマ先駆物
質ガスがチャンバ内に入る前に、ポンプ210により排
気される。所望の状況になるまで、プラズマを磁化し、
第1アンテナコイル104と第2アンテナコイル106
の間の適切な位相のずれを実現することによって、ヘリ
コン波が発せられる。例えば、図2に示される実施の形
態において、第1アンテナコイル104と第2アンテナ
コイル106の間の距離Lの4倍に等しい波長λを有す
るヘリコン波をチャンバ100内に発するのが望まし
い。このようなヘリコン波は、コイルを流れる電流(又
は、コイルに与えられる電圧)の間にπ/2の位相のず
れを実現することによって効率的に発せられる。
【0015】一般に、距離Lの間隔を開けた2つのコイ
ル及び所望の波長λz に対して、位相のずれΔφが、 Δφ=L/λ2 ・2π として割り当てられるのが好ましい。そのために、第1
のアンテナコイル104と第2のアンテナコイル106
の間の特定の間隔Lに対して、本発明の一態様に従うプ
ラズマ発生器が、位相のずれを調整するため、第1およ
び第2のアンテナコイルから発せられた放射が、波長λ
のヘリコン波を発するのに適している。言い換えると、
プラズマ発生器の位相シフト調節ネットワーク116
が、特定の幾何的構成すなわちアンテナコイルの間隔に
対する位相のずれによって、波長を適切に調整し、すな
わち電子的に同調できるようにする。結果として、プラ
ズマ発生器が、プラズマチャンバのハードウェアの設
計、特に幾何学的な設計およびアンテナコイルの配置に
おける柔軟性を高める。本発明のこれらの態様に従う
と、効果的なヘリコン波を発することが、アンテナコイ
ルの形状および配置に主として依存するものではない。
結果的に、ヘリコン波長およびプラズマチャンバのハー
ドウェアが、別の要素(例えば、周波数、プラズマ特
性、チャンバサイズおよび磁界)により最適にされ、位
相のずれが、コイル間の距離とは独立して、波長を調整
するように電子的に同調される。
【0016】図2に示されるように、チャンバ100
が、コイル104と106の間のシールド118と、チ
ャンバ100の壁(図示せず)とを備え、チャンバ壁
を、ターゲットから半導体ウェハ128上にスパッタさ
れる材料から保護する。しかしながら、コイルが、堆積
フラックスおよびプラズマのエネルギの高い粒子に曝さ
れるため、コイルがウェハ128上に堆積される膜の汚
染源となる。コイルをチャンバ壁と同様に保護するため
に、シールド構造が、コイルとチャンバ壁との間ではな
く、コイルとプラズマとの間に配置される。アンテナシ
ールド構造が、プラズマチャンバ内に配置された2つ又
はそれ以上の円筒状金属リングを有してもよい。アンテ
ナに隣接するシールド部が、1つ又はそれ以上のスロッ
トを含み、アンテナにより放射される電磁エネルギが、
シールドを通って、プラズマを励起するためにチャンバ
の内部に導かれる。これらのシールドは、アンテナおよ
びプラズマチャンバ壁を、スパッタリング中または別の
堆積プロセス中に金属堆積から保護する作用をする。
【0017】本発明の一態様に従ったプラズマ発生器で
は、アンテナ構造の形状を単純にして、シールド自身が
アンテナコイルとして使用できるようにし、シールドが
二重の機能を実行するようにする。さらに、シールドを
通るエネルギ伝達に予め必要とされるスロットが、大部
分取り除かれることができ、それによってシールドの設
計を実質的に単純化することができる。例えば、シール
ドは、本発明に従って単に単一のスロット又はシールド
の周囲における不連続性を与えることによって、アンテ
ナコイルの内部に形成されることができ、それによって
別に閉じた金属リングにギャップを達成する。このよう
な周囲にスロットを有する円筒シールドが、2つの別個
の端部を有する開ループを形成する。リードが、増幅器
とグランドストラップから、ループの各端部に取り付け
られ、アンテナコイルがそれによって形成される。
【0018】図3と4を参照すると、本発明の別の実施
例によるプラズマチャンバ100Aが例示されている。
示されるように、この実施例の上方コイル104Aは、
コイルシールド104Aの2つの間隔を開けた端部12
1、123の間に形成される単一の垂直スロット120
を除いては、連続した閉じ金属シールドリングを形成す
るほぼ円筒形状の壁119を有する。RF発生器114
(図1)の出力が、位相調節ネットワーク116と整合
回路108(図1)を介して、コイルシールド104A
のスロット120の端部121上の接続点A1に結合さ
れる。スロット120の別の端部123の接続点B1
が、グランドストラップ125(図3)によりグランド
に(直接か又はコンデンサを通じて)接続される。この
コイルシールド104Aが、RFエネルギをRF発生器
からプラズマチャンバ100Aの内部に放射するアンテ
ナと、堆積される材料から堆積チャンバの内部を保護す
るシールドとして作用する。
【0019】第2の下方コイルシールド106Aは、全
体としてボールの形状であって、ほぼ円筒形状であって
垂直向きの壁122を備え、例えばウェハ128などの
アイテムを支持するチャック126を囲む全体的に環状
の床壁124(図4)を備える。コイルシールド106
Aが、下方コイルシールド106の2つの端部132、
134を分ける単一のスロット130を有する。コイル
シールド106Aは、2つの端部132、134で2つ
の接続点A2、B2を各々有し、それらは、第1コイル
シールド104Aと同様の方法で、対応する整合回路1
12の出力およびグランドに各々結合される。図4は、
PVD(物理気相成長)システムの真空チャンバ140
に備えられるプラズマチャンバ100Aを示す。本発明
のプラズマ発生器が、例証の目的でPVDシステムに関
して示されているが、本発明によるプラズマ発生器は、
プラズマエッチング、化学蒸着法(CVD)および様々
な表面処理プロセスなどの別の全てのプラズマ利用半導
体製造プロセスで使用するのに適していることを理解さ
れたい。
【0020】真空チャンバ140は、上方環状フランジ
144を含んだチャンバ壁142を備える。プラズマチ
ャンバ100Aが、真空チャンバ壁フランジ144に係
合するアダプタリング146により支持される。上方コ
イルシールド壁119が、プラズマチャンバ100Aの
内部に面する表面148を画定する。ターゲット150
からスパッタされた堆積材料が、意図されるようにウェ
ハ128上に堆積されるが、それは同じくコイルシール
ド104Aの内部表面148上にも堆積される。下方コ
イルシールド106Aの垂直壁122および床壁124
が、ターゲット150からスパッタされた材料を堆積さ
れた内部表面152を同様に有する。クランプリング1
54が、ウェハをチャックにクランプし、下方コイルシ
ールド106とチャック126の間のギャップを覆う。
従って、図4からは、コイルシールド104Aと106
Aが、クランプリング154とともに、真空チャンバ1
40の内部を、プラズマチャンバ100Aにおいてウェ
ハ128上に堆積された堆積材料から保護することが分
かる。
【0021】上方コイルシールド104Aが、アダプタ
リング146上のセラミックリング184に複数の締付
けねじ162により締めつけられる水平方向に延びる外
部フランジ部材160を備える。シールドの一端119
で、コイルシールドが、(図4に示されるように)短絡
ストラップ161を通じてアダプタリング146に接地
される。別の端部(121、図2)が、セラミックフィ
ードスルー(図示せず)を通じて、RF増幅器および整
合回路108に結合される。図4に示される実施例にお
いて、コイルシールド104Aと106Aのスロット1
20および130が、ほぼ同じ方位角である。図4の横
断面図は、またスロット130の一側部を画定するコイ
ルシールド106Aの端部132を示す。従って、図4
に示されるコイルシールド106Aの端部132が、コ
イルシールド106Aに接続点A2を与える。接続点A
2が、アダプタリング146を通過するRFフィードス
ルー170を備え、図4に示された172で、コイルシ
ールド106Aの端部132に結合される。RFフィー
ドスルー170が、セラミックのような絶縁材料からな
る絶縁チューブ174によって、アダプタリング146
から電気的に絶縁される。RF発生器114から(図1
の位相シフトネットワーク116および整合回路108
を介して)第1コイルシールド104Aの間の接続点A
1が、接続点A2に対するRFフィードスルー170と
同様のRFフィードスルーで構成される。
【0022】下方コイルシールド106Aが、複数の締
付けねじ182により絶縁リング184に締めつける上
方フランジ180を備える。絶縁リング184が、上方
コイルシールド104Aおよびアダプタリング146か
ら下方コイルシールド106Aを絶縁する。アダプタリ
ング146が、絶縁リング184を支持するシェルフ1
88を備え、絶縁リング184が、上方コイルシールド
104Aおよび下方コイルシールド106Aの両方を支
持する。真空チャンバ140外部の周りのヘルムホルツ
コイル190が、プラズマチャンバ100Aを通じて磁
界を提供する。ターゲット150が絶縁リング192に
よって支持され、絶縁リング192は、アダプタリング
146のシェルフ194と、上方コイルシールド104
Aのフランジ部材160上面により形成されるグルーブ
内に位置される。絶縁リング192が、ターゲットをア
ダプタリング146と上方コイルシールド104Aから
絶縁する。ターゲット、アダプタおよびセラミックリン
グ192が、Oリングを与えられ、チャンバフランジ1
44とターゲット150から真空密な組立体を提供する
ために表面をシールする。
【0023】図4に示されるように、上方コイルシール
ド104Aおよび下方コイルシールド106Aとが、軸
方向に重なっており、プラズマ先駆物質ガスがプラズマ
チャンバ100Aの内部に入るギャップ198を画定す
るように間隔を開けられている。RF発生器114(図
1)からのRFエネルギが、コイルシールド104Aお
よび106Aから放射される。コイルシールド104A
によりプラズマチャンバ100A内部に放射されたRF
エネルギが、下方コイルシールド106Aにより放射さ
れたRFエネルギから所定の量だけ位相をシフトされ、
ヘリコン波が、プラズマチャンバ100A内で生成さ
れ、維持される。このヘリコン波のために、プラズマの
エネルギ分散は、より均一なものとなり、プラズマ密度
は増加する。結果として、ターゲット150又は半導体
ウェハ128に衝突するプラズマイオンフラックスは、
より高く、より均一に分散され、ターゲット150から
射出されたターゲット材料が、より素早く、そしてウェ
ハ材料128上により均一に堆積される。より高いプラ
ズマ密度は、ターゲットからスパッタされた材料をイオ
ン化するのに有益である。結果として、スパッタされた
材料は、ウェハ128近くの平行化電界(図示せず)と
の反応性が高まり、ウェハ128に対する金属フラック
スの垂直性を非常に向上させる。結果として、微細な特
徴がより均一にコーティングされ、高いアスペクト比の
ホールおよびトレンチが、ボイドをほとんど形成せず、
または全く形成せずに充填される。平行電界は、ウェハ
及び/又は台座を、RF供給151(図1)を伴うプラ
ズマに対して電気的に負にバイアスすることによって誘
導され、マッチングネットワークを通じて台座にHF−
RF信号(例えば13.6Hz)を与える。これらの技術は、
当業者に知られている。
【0024】図3に示す実施例において、磁石構造10
01が、ターゲット後方に配置される。この磁石は、タ
ーゲットの腐食特性を定めるものであり、均一な膜厚さ
すなわちウェハ128を与えるように最適にされる。磁
石構造1001は、ターゲット上の所望の腐食特性を与
えるよう設計された複数の構成のうちの1つを有する。
例えば、構造1001は、スパッタリング中にターゲッ
トの背面を横切って動く1又はそれ以上の磁石を含んで
もよい。RF電力がコイルシールドに加えられずに、D
Cによる負のバイアスのみがターゲット150に加えら
れると、チャンバ100Aが、本出願の譲受人であるア
プライドマテリアル社により製造されたEndulaPVDシ
ステムに現在備えられている従来のPVDチャンバと非
常に似ていることを理解すべきである。
【0025】図1に例示された実施例において、単一の
位相シフト調節ネットワークだけが、一対のアンテナと
単一のRF発生器の組み合わせにおいて例示されてい
る。本発明の代わりの実施例において、1つ以上の位相
シフタが用いられ、対応する2つ以上のアンテナコイル
と関連する増幅器も用いられる。上述のように、本発明
の1実施例に従ったプラズマ発生器が、高い密度のプラ
ズマを発生する堆積または別の処理チャンバの設計を実
質的に単純化する。RF発生器のアンテナコイルとして
チャンバのシールドを利用することによって、別のアン
テナ構造および関連する絶縁部材に対する必要性が取り
除かれる。さらに、アンテナの特定の大きさおよび形状
に対する要求が実質的に緩和されるため、チャンバは非
常にコンパクトなものとなる。図4に示されるように、
上方コイルシールド104および下方コイルシールド1
06は、その間隔を非常に密にし、軸方向に重なりさえ
する。この非常に密な間隔にも関わらず、コイルシール
ド104と106に発生する電流間の位相のずれを適切
に選択することによって、ヘリコン波が、RF発生器1
14の周波数と位相のずれにより定められる波長λを有
して発せられる。
【0026】例示された実施例において、チャンバ壁1
42は(半径方向に測定された)16インチ(40.6cm)の幅
を有するが、6〜25インチ(15.2cm-63.5cm) の幅で優れ
た結果が得られると予期される。ウェハからターゲット
までの間隔は、好ましくはおよそ2インチ(5.08cm)であ
るが、 1.5から8インチ(3.81cm-20.3cm) までの範囲を
とることができる。発生器114の周波数は、好ましく
は13.6MHz であるが、例えば1MHzから100MHzまでの範囲
で変化可能であると思われる。様々な先駆物質ガスは、
Ar,H2 ,O2 またはNF3 ,CF4 および他の多く
の反応性ガスを含んでプラズマを発生するために利用さ
れる。様々な先駆物質ガス圧は、0.1-50mTの圧力である
のが最適である。イオンPVDに対して、10-20mT 辺り
の圧力は、スパッタされた材料を最良にイオン化するた
めに好ましい。同様に、磁界の強さは、20から1000ガウ
スまで変化するが、およそ200 から500 ガウスの磁界強
さが好ましい。位相のずれは、ヘリコン波のカップリン
グを最適にするように調整されるべきであるが、最適な
性能に対して、それはほぼ1/4 πから7/4 πの範囲であ
る。
【0027】コイルシールドが、アルミニウムとステン
レス鋼を含んだ様々な導電性材料から製造される。スロ
ット120および130は、図5において同じ方位角で
ほぼ整列して示されているが、コイルシールドのスロッ
トは、整列される必要がなく、図3に示されるように相
関的な角度であってよい。この点について説明された実
施例のコイル104、106および104aおよび10
6aが、単一巻きコイルとして各々示される。しかしな
がら、各コイルが多重巻きコイルで実施されてもよいこ
とに気付かれたい。コイルにより誘導されるフラックス
が、コイルの巻き数の二乗に比例するため、コイルの巻
き数を多くすることは有益である。本発明の別の実施例
に従うと、コイルシールドが、ヘリカルコイルと直列に
結合され、コイルシールドが、複数の巻きを有するRF
アンテナコイルの1巻きとなる。図5は、本発明の別の
実施例であって、同軸アンテナコイル204と206の
各々が、コイルシールドを囲む多重巻きヘリカルコイル
に直列に電気的に接続されるコイルシールドを備えるこ
とを除いては図1のプラズマ発生器に似たプラズマ発生
器を示す。この装置は、図6を参照すると容易に理解さ
れ、図6は、多重巻きヘリカルコイル204bに接続さ
れるコイルシールド204aを含むコイル204の電気
的な接続を図式的に示したものである。ヘリカルコイル
204bの一端が、第1の増幅器と整合ネットワーク1
08(図5)の出力のようなRF源に結合され、その入
力は、位相シフト調節ネットワーク116を通じてRF
発生器114に結合される。図3のコイルシールド10
4のようなコイルシールド204aは、二端221と2
23を画定するスロット220を有する。ヘリカルコイ
ル204bが、コイルシールドコイル204aの端部2
23でコイルシールド204aと接続する。コイルシー
ルド204aの他端221が、好ましくはコンデンサを
通じて接地される。図5によく示されるように、ヘリカ
ルコイル204bは、取り付けられるとき、コイルシー
ルド204aを囲むように位置される。ヘリカルコイル
204bの巻きは、コイルシールド204aから間隔を
開けて絶縁され、その周りに巻き付けられて、ヘリカル
コイル204bを通る電流の循環が、コイルシールド2
04aを通る電流と同じ円方向を回る。結果として、ヘ
リカルコイル204bにより誘導される磁界が、コイル
シールド204aにより誘導される磁界と同位相とな
る。第2のコイル206が、コイルシールド206aを
囲むヘリカルコイル206bに直列して結合されるコイ
ルシールド206aにより同様に構成される。ヘリカル
コイル206bの巻きは、コイルシールド206aの巻
きと同位相で同様に巻き付けられる。
【0028】このような装置が多くの利点を有すること
が見出されてきた。例えば、ヘリカルコイルにより放射
されるRFパワーは、関連するコイルシールドを通っ
て、チャンバ内部に効果的に結合される。コイルシール
ドにより生じる減衰は、実質的に少なくされる。同時
に、コイルシールドは、ヘリカルコイル及びチャンバ内
部の別の部分が、スパッタリングを含む様々な半導体プ
ロセスによりコーティングされたり、損傷を受けたりす
ることから保護する。更に、各コイルが複数の巻きを有
するために、チャンバ内部に所望のフラックスレベルを
生成するのに必要なパワーが、単一巻きのコイルと比較
して実質的に少なくされることができる。例えばコンポ
ーネントにかかるストレスが増えると、より高い電流支
持容量を有するコンポーネントを使用する必要が生じる
ため、高いパワーレベルは、ある用途に対して適切では
ない。
【0029】本発明の一態様に従うと、直列に結合され
たコイルシールドとコイルを備えるRFアンテナは、高
密度プラズマでヘリカル波を発する必要のある装置より
も、半導体処理装置において使用されることができる。
例えば、図7は、ヘリコン波を使用せずに充分な高密度
プラズマを生成することが確認されたRFアンテナを1
つだけ利用するチャンバ400を示す。高密度を生成す
るRFアンテナは、コイルシールド304aを囲むヘリ
カルコイル304bに直列に電気的に結合されているコ
イルシールド304aを備える。コイルシールド304
aは、ウェハ(図示せず)の頂部よりも下方まで延びて
いることを除けば、図4のコイルシールド104に非常
に近似しており、それは、この環境では、チャンバが1
つのコイルシールド、すなわちコイルシールド304a
しか備えていないからである。クランプリング154の
短絡を終了させる水平環状リップ410が、コイルシー
ルド304aの底部にある。ヘリコン波を発する前述の
実施例における第2のコイルシールドの代わりに、図7
の実施例は、クランプリング154とコイルシールド3
04aの環状リップ410の間のチャンバを保護するほ
ぼ環状形状の接地された下方シールド420を備える。
下方シールド420は、コイルシールド304aから間
隔を開けられ、チャンバグランドに接地される。
【0030】例示された実施例において、ヘリカルコイ
ル304bは、コイルシールド304aを囲む3つのヘ
リカル巻きに巻き付けられるリボン形状の銅線で形成さ
れる。ヘリカルコイル304bは、セラミック組立体4
34の内部セラミック部材430と外部セラミック部材
432の間に支持される。セラミック組立体434は、
ヘリカルコイル304bを、チャンバ及びコイルシール
ド304aから絶縁する。下方シールド410は、下方
シールド420を支持する外部セラミック部材432に
より受け取られるリップ440を有する。図7の実施例
において、コイルシールド304aの二端を分けるスロ
ット450が、図7によく示されるように、絶縁性のセ
ラミック隔離絶縁器454によりコイルシールド304
aから離されるカバー部材452により覆われる。カバ
ー部材452は、スロット450を、スパッタされる材
料からシールドする。スパッタされた材料が、スロット
すなわちスロットにわたるブリッジングを通って、スロ
ットの二端を短絡する導電性通路を形成させないように
することが重要である。前述した実施例のシールドのス
ロットが、関連するスロットの前部または後部のいずれ
かに同様のカバー部材を有することが好ましい。コイル
シールド304aの一端が、コンデンサ464により接
地結合される。コイルシールド304aの他端463
が、前述のようにヘリカルコイル304bの一端に結合
される。コイルシールド304aがヘリカルコイル30
4bに電気的に結合され、コイルシールド304aを流
れる電流が、ヘリカルコイル304bを流れる電流と同
じ円方向に流れるため、コイルシールド304aとヘリ
カルコイル304bの磁界が同位相となる。
【0031】図7の実施例のチャンバ400が、チャン
バグランドに結合されるソースアダプタ部材470を更
に備える。DC戻しリング472が、ソースアダプタリ
ング470に隣接し、また接地結合される。コイルシー
ルド304aは、セラミック組立体434の内部セラミ
ック部材432により支持され、DC戻しシールド47
2とソースアダプタ470から絶縁リング474により
絶縁される。図7に示されるように、コイルシールド3
04aが、高いRFエネルギを発するRFアンテナの一
部であって、高密度プラズマを生成するために、コイル
シールド304aは、望ましくないアークを防ぐため
に、全ての導電性コンポーネントから離される。プラズ
マを生成するためのRFアンテナの一部または全部とし
てコイルシールドを利用する別の利点として、コイルシ
ールドに与えられるRF電位が、先駆物質ガスに容量結
合され、プラズマ生成の開始を補助する。しかしなが
ら、RF電位は、チャンバのターゲットとともに、コイ
ルシールド自身をスパッタする。従って、コイルシール
ドからスパッタされる材料によりウェハが汚染されるの
を防ぐために、ウェハが処理のためにチャンバに運び込
まれる前に、チャンバが、RFエネルギを利用せずにタ
ーゲットのスパッタリングを開始することによって予め
調整されることが好ましい。この方法によると、ターゲ
ット材料は、スパッタされ、コイルシールド上に充分な
厚さを堆積されることができ、ウェハがチャンバ内にあ
るときに、コイルシールドの下層材料がスパッタされる
ことを防ぐ。代わりに、ターゲット材料が導電性材料か
ら作られ、1種類だけの材料がスパッタされる場合に
は、コイルシールドがスパッタされるターゲットと同じ
材料から製造されてもよい。
【0032】本発明の別の態様によると、コイルシール
ドのスパッタリングは、直列共振点がコイルシールド3
04aの垂直壁の中心線480で又はその近くで作られ
るように回路コンポーネントを選択することによって少
なくされることができる。この共振状況は、コイルシー
ルド304aの一端461を接地するコンデンサ464
(図8)の容量を調整することによって達成されるのが
好ましい。好適な実施例において、コンデンサ464の
容量は、コンデンサ464の容量が調整されている間、
コイルシールド304aの壁の頂部および底部で電圧を
測定することによって経験的に定められる。コイルシー
ルド304aの頂部および底部での電圧が、位相が 180
°ずれ、大きさが実質的に等しいものであれば、共振点
すなわち最小電圧電位の点が、中心480がRFグラン
ドで維持可能となるようにコイルシールド304aの壁
の中心180で作られる。このような装置は、コイルシ
ールドのスパッタリングを対応的に減らすと思われるコ
イルシールド304aに印加される電圧の大きさを最小
にする。例えば、およそ4メガヘルツのRF周波数でお
よそ4〜5マイクロヘンリーのインダクタンスを有する
アンテナに対して、およそ0.025 マイクロファラドの容
量が最適であると思われている。これらの値は、様々な
コンポーネントの特定の形状に依存して当然のことでは
あるが変化する。
【0033】コイルシールドが、上述のようにスパッタ
されるターゲット材料と同じ材料で生成されるのでなけ
れば、ステンレス鋼のような高い導電性材料で生成され
るのが好ましい。別の材料が使用されてもよい。コイル
シールド材料は、しかしながら、高い導電性材料であっ
て、コイルシールドからウェハ上にスパッタされた材料
が落ちるのを減らすため、スパッタされる材料の熱膨張
係数に非常に近い熱膨張係数を有する材料であるべきで
ある。さらに、単純化のため、コイルシールド304a
が、シールド壁の頂部および底部を除いて全体として平
らな環状形状を有する壁部材として示されてきた。しか
しながら、コイルシールド304aおよびヘリカルコイ
ル304bの比較的小さいアスペクト比のために、コイ
ルシールド304aの近くの磁束線が、曲面を有すると
期待される。従って、コイルシールド内でロスを作る渦
電流が少なくされ、システム性能が、磁束線の曲率に非
常に適合する全体として凹面(すなわち内方の湾曲)の
横断面を有するコイルシールド304aの壁を曲げるこ
とによって改良される。
【0034】特に、磁界は、コイルシールドを含むコイ
ルの巻線を流れる電流により作られる。チャンバ内部の
特定の点での全磁界は、コイルのアスペクト比(高さ対
幅)とコイルの巻きの間隔を含んだコイルの形状の関数
である。完全なソレノイドに対しては、磁界は、コイル
の中心軸に平行となる。しかしながら、例示された実施
例のコイルの低いアスペクト比のために、磁束線が、シ
ールドコイルの近くでいくらか曲げられると思われる。
導電性シールドに交わる磁束線は、渦表面電流を作り、
交わっている磁界と反対の磁界を誘導し、少なくともシ
ールドに交わっている磁界の部分を事実上キャンセルす
る。導電性シールドが抵抗を有するため、渦電流は、パ
ワーを消費し、ロスを生成する。先駆物質ガスを含むチ
ャンバ内に誘導されるRF磁界は、先駆物質ガスの原子
と衝突して先駆物質ガスをイオン化する自由電子を励起
する。イオン化された先駆物質ガスから解放された電子
は、先駆物質ガスの別の原子と衝突し続け、先駆物質を
急速にイオン化して自由電子およびイオン化したガスの
密なプラズマを作り出す電子なだれの状況を作り出す。
【0035】続いてプラズマを通過するスパッタ材料の
中性原子が、励起した自由電子と激突して、イオン化さ
れる。上述のように、スパッタされた材料との衝突を容
易にして、スパッタされた材料を可能な限り多くイオン
化するのが望ましい。磁界を効率的に生成するために、
渦電流によるロスは、最小にされるべきである。従っ
て、磁束線が望ましくない渦電流のロスを低減する場合
に、コイルシールドが適切に曲率に適合するように湾曲
するのが好ましい。チャンバ400が、別の実施例に関
連して上述の材料および寸法と同様の材料および寸法
で、特定の用途に対して適切に変更されて形成される。
例示された実施例のコイル304bは、1/8 インチ(3.1
8mm)の耐久性の高い銅リボンで、3/8インチ(9.53mm)の
3巻きのヘリカルコイルに形成される。しかしながら、
別の高い導電性材料および形状が用いられてもよい。例
えば、特に水冷が望ましい場合には、中空の銅チューブ
が利用されてもよい。RF発生器114、整合回路10
8および112、位相調節ネットワーク116および調
整可能コンデンサ464は、当業者によく知られるコン
ポーネントである。例えば、整合回路およびアンテナに
最高に周波数整合するための「周波数乱調」に対する容
量を有するENI Genesis シリーズなどのRF発生器が適
している。
【0036】当然のことであるが、様々な形態の本発明
の変更が、当業者に明らかであり、慣例の機械的および
電子的な設計的事項を検討しただけで、いくつかの変更
が明らかとなる。別の実施例も可能であって、それらの
特定の設計は、特定の用途による。本発明の範囲は、こ
の特別な実施例に限定するものではなく、特許請求の範
囲およびそれに均等なものによってのみ定められるべき
である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一つの実施例によるプラズマ発生装置
を図式的に表す。
【図2】二つのコイル巻線がシールド内に取りつけられ
た本発明の実施例によるPVDチャンバの部分横断斜視
図である。
【図3】シールドをコイル巻線として使用するPVDチ
ャンバの分解図である。
【図4】図3に示された真空チャンバに取り付けられる
PVDチャンバの横断面図である。
【図5】各アンテナが、別のコイルに直列に結合される
コイルシールドを備える本発明の別の実施例によるプラ
ズマ発生装置を図式的に示す。
【図6】図5のアンテナを図式的に電気的に表す。
【図7】コイルがシールドに直列に結合される本発明の
別の実施例によるPVDチャンバの部分横断斜視図であ
る。
【図8】電気的な接続を有する図7に示されたシールド
のスロットの横断面図である。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H01L 21/3065 H01L 21/302 A (72)発明者 ブラッドリー オー スティムソン アメリカ合衆国 カリフォルニア州 95126 サン ホセ ハンチェット アベ ニュー 1257 (72)発明者 ジョン フォースター アメリカ合衆国 カリフォルニア州 94103 サン フランシスコ ハーラム ストリート 41

Claims (40)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 半導体製造チャンバ内の磁化されたプラ
    ズマに、電磁エネルギを結合することによってヘリコン
    波を発する装置であって、 長手方向に軸を有し、その周りに周を有するプラズマ生
    成領域を形成するプラズマチャンバと、 プラズマ生成領域の周の周りのコイル状の第1アンテナ
    と、 プラズマ生成領域の周の周りのコイル状の第2アンテナ
    とを備え、 前記第1アンテナコイルと前記第2アンテナコイルは、
    プラズマ生成領域の長手軸に沿って間隔を開け、電気的
    に互いに絶縁されており、 また、第1アンテナコイルに位相を有する電流を、第2
    アンテナコイルに位相を有する電流を流す手段と、 第1アンテナコイルを流れる電流の位相と第2アンテナ
    コイルを流れる電流の位相のずれを生成する手段であっ
    て、その位相のずれは、所望の波長を有するヘリコン波
    をプラズマ内に発するのに必要な位相のずれに対応す
    る、位相のずれを生成する手段と、 プラズマに、軸方向に実質的に一様な磁界を生成する手
    段とを備える装置。
  2. 【請求項2】 前記第1および第2アンテナコイルの少
    なくとも1つが、プラズマチャンバを金属の堆積から保
    護するシールドを有する請求項1に記載の装置。
  3. 【請求項3】 前記位相のずれを生成する手段が、第1
    アンテナコイルに流れる電流の位相と、第2アンテナコ
    イルに流れる電流の位相の間のずれを変化させる手段を
    有する請求項1に記載の装置。
  4. 【請求項4】 前記第1および第2アンテナコイルの少
    なくとも1つが、堆積材料からチャンバ壁の少なくとも
    一部を保護するチャンバ内に位置する第1導電性シール
    ドを有し、コイルが前記シールドに電気的に直列に結合
    されることを特徴とする請求項1に記載の装置。
  5. 【請求項5】 壁を有する半導体処理チャンバ用のRF
    アンテナであって、 チャンバ壁の少なくとも一部を堆積材料から保護する、
    チャンバ内に位置する第1導電性シールドと、 前記シールドに電気的に直列に結合されるコイルとを備
    えるRFアンテナ。
  6. 【請求項6】 前記コイルが導電性シールドを取り囲む
    請求項5に記載のRFアンテナ。
  7. 【請求項7】 前記コイルが、複数の巻きを有するヘリ
    カルコイルである請求項5に記載のRFアンテナ。
  8. 【請求項8】 前記コイルおよび前記シールドが、それ
    ぞれ電流の流れ方向を定め、前記コイルは前記シールド
    に直列に結合し、それぞれの電流の流れ方向が同じにな
    ることを特徴とする請求項5に記載のRFアンテナ。
  9. 【請求項9】 電磁エネルギをプラズマに結合すること
    によってプラズマ内にヘリコン波を発する装置であっ
    て、 チャンバ壁を有するチャンバと、 チャンバ内に軸方向の磁界を生成する手段と、 チャンバ壁の少なくとも一部を堆積材料から保護する、
    チャンバ内に位置する第1導電性シールドと、 前記第1導電性シールドに結合され、前記第1導電性シ
    ールドから第1RF信号を放射する第1RF源と、 チャンバ壁の少なくとも一部を堆積材料から保護する、
    チャンバ内に配置される第2導電性シールドと、 前記第2導電性シールドに結合され、前記第2導電性シ
    ールドから第2RF信号を放射する第2RF源とを備え
    る装置。
  10. 【請求項10】 前記第1RF源と前記第1導電性シー
    ルドに直列に結合され、前記第1RF信号と同位相のR
    F信号を放射する第1アンテナコイルを備える請求項9
    に記載の装置。
  11. 【請求項11】 前記第2RF源と前記第2導電性シー
    ルドに直列に結合され、前記第2RF信号と同位相のR
    F信号を放射する第2アンテナコイルを備える請求項1
    0に記載の装置。
  12. 【請求項12】 前記第1RF信号および前記第2RF
    信号が、プラズマに誘導結合されることを特徴とする請
    求項9に記載の装置。
  13. 【請求項13】 前記チャンバが長手軸を有し、前記第
    1および第2シールドが、チャンバの長手軸に沿って間
    隔を開けて位置することを特徴とする請求項9に記載の
    装置。
  14. 【請求項14】 前記第1および第2シールドにより放
    射された前記第1および第2RF信号が、プラズマに所
    望の波長λz のヘリコン波を発するために必要な所定の
    位相のずれを有する請求項9に記載の装置。
  15. 【請求項15】 前記第1シールドにより放射された前
    記第1RF信号と前記第2シールドにより放射された前
    記第2RF信号の間の位相をシフトする可変位相シフタ
    を備える請求項9に記載の装置。
  16. 【請求項16】 前記第1および第2シールドの各々
    が、材料の堆積を防ぐために、チャンバ内部に面するほ
    ぼ円筒形状の表面を有することを特徴とする請求項9に
    記載の装置。
  17. 【請求項17】 ほぼディスク形状のチャックを備え、
    前記第2シールドが、前記チャックの周囲を取り囲むほ
    ぼ環状の表面を有することを特徴とする請求項9に記載
    の装置。
  18. 【請求項18】 チャックと、該チャックおよび前記第
    2シールドの周囲をカバーするカバーリングを備える請
    求項9に記載の装置。
  19. 【請求項19】 前記第1シールド近傍のターゲット
    と、前記第1シールドから該ターゲットを絶縁する絶縁
    リングを備える請求項9に記載の装置。
  20. 【請求項20】 ターゲット後方の磁界源と、プラズマ
    に対してターゲットを負にバイアスするパワー供給源と
    を備える請求項9に記載の装置。
  21. 【請求項21】 プラズマに対して負にバイアスされる
    チャックを備える請求項9に記載の装置。
  22. 【請求項22】 半導体製造チャンバ内でプラズマを発
    生する方法であって、 チャンバ内に軸方向の磁界を生成し、 プラズマ生成領域の周の周りの第1導電性シールドか
    ら、電磁エネルギをプラズマに結合し、 プラズマ生成領域の周の周りの第2導電性シールドか
    ら、電磁エネルギをプラズマに結合し、 前記第1および第2導電性シールドからの前記電磁エネ
    ルギは、所定の位相のずれを有することを特徴とする方
    法。
  23. 【請求項23】 電磁エネルギが、プラズマに誘導結合
    されることを特徴とする請求項22に記載の方法。
  24. 【請求項24】 位相のずれが0である請求項23に記
    載の方法。
  25. 【請求項25】 軸方向の磁界が0である請求項24に
    記載の方法。
  26. 【請求項26】 前記第1および第2導電性シールドか
    らの電磁エネルギの間の位相のずれを変化させる請求項
    22に記載の方法。
  27. 【請求項27】 半導体製造チャンバ内のプラズマにヘ
    リコン波を発する方法であって、 プラズマに軸方向の磁界を生成し、 プラズマ生成領域の周の周りの第1アンテナコイルから
    電磁エネルギをプラズマに結合し、 プラズマ生成領域の周の周りの別の第2アンテナコイル
    から電磁エネルギをプラズマに結合し、 前記第1および第2アンテナコイルからの前記電磁エネ
    ルギが、所定の位相のずれを有することを特徴とする方
    法。
  28. 【請求項28】 所定の位相のずれが、プラズマ内で波
    長λz のヘリコン波を発するように選択されることを特
    徴とする請求項27に記載の方法。
  29. 【請求項29】 電磁エネルギが、プラズマに誘導結合
    される請求項27に記載の方法。
  30. 【請求項30】 位相のずれが0である請求項27に記
    載の方法。
  31. 【請求項31】 前記第1および第2アンテナコイルか
    らの電磁エネルギの間の位相のずれを変化させる請求項
    27に記載の方法。
  32. 【請求項32】 半導体製造チャンバ内のプラズマにヘ
    リコン波を発する方法であって、 プラズマに軸方向の磁界を生成し、 チャンバ内に位置する第1導電性シールドからプラズマ
    にRF信号を放射して、堆積材料からチャンバ壁の少な
    くとも一部を保護し、 チャンバ内に位置する第2導電性シールドからプラズマ
    にRF信号を放射して、堆積材料からチャンバ壁の少な
    くとも一部を保護し、 前記第1および第2RF信号が、プラズマにヘリコン波
    を発するために必要な位相のずれを有することを特徴と
    する方法。
  33. 【請求項33】 第1導電性シールドを取り囲み、また
    それに直列に接続するコイルから、プラズマにRF信号
    を放射する請求項32に記載の方法。
  34. 【請求項34】 第2導電性シールドを取り囲み、また
    それに直列に接続するコイルから、プラズマにRF信号
    を放射する請求項33に記載の方法。
  35. 【請求項35】 第1および第2RF信号の位相のずれ
    を変化させる請求項34に記載の方法。
  36. 【請求項36】 半導体製造チャンバ内のプラズマに、
    電磁エネルギを誘導結合することによってヘリコン波を
    発する方法であって、 周および長手軸を有するプラズマ生成領域を形成するプ
    ラズマチャンバを提供し、 プラズマに軸方向の磁界を生成し、 プラズマ生成領域の周の周りに第1アンテナコイルを形
    成し、 プラズマ生成領域の周の周りに第2アンテナコイルを形
    成し、 プラズマ生成領域の長手軸に沿って、第1アンテナコイ
    ルと第2アンテナコイルを間隔を開けて配置し、 第1アンテナコイルと第2アンテナコイルにそれぞれ位
    相を有する電流を流し、 第1アンテナコイルの電流の位相と第2アンテナコイル
    の電流の位相のずれを形成し、 その位相のずれは、プラズマにヘリコン波を発するのに
    必要な位相のずれに対応することを特徴とする方法。
  37. 【請求項37】 壁を有する半導体処理チャンバ用のプ
    ラズマ発生器であって、 チャンバ壁の少なくとも一部を堆積材料から保護するた
    めに、チャンバ内に位置する導電性シールド壁と、 シールド壁に結合されるRF源を備えるプラズマ発生
    器。
  38. 【請求項38】 RF源とシールド壁に直列に結合さ
    れ、シールド壁を取り囲んでいるコイルを備える請求項
    37に記載のプラズマ発生器。
  39. 【請求項39】 コイルが磁束線を生成し、シールド壁
    が、磁束線の曲率に一致する曲面を有することを特徴と
    する請求項38に記載のプラズマ発生器。
  40. 【請求項40】 シールド壁に直列に結合され、シール
    ド壁のインダクタンスと直列共振するために所定の容量
    を有するコンデンサを備え、シールド壁の中央にRFグ
    ランドを形成することを特徴とする請求項37に記載の
    プラズマ発生器。
JP8302771A 1995-11-15 1996-11-14 プラズマを発生する方法および装置 Withdrawn JPH09199295A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US08/559,345 US6264812B1 (en) 1995-11-15 1995-11-15 Method and apparatus for generating a plasma
US08/559345 1995-11-15

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH09199295A true JPH09199295A (ja) 1997-07-31

Family

ID=24233249

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP8302771A Withdrawn JPH09199295A (ja) 1995-11-15 1996-11-14 プラズマを発生する方法および装置

Country Status (4)

Country Link
US (3) US6264812B1 (ja)
EP (2) EP0774886A1 (ja)
JP (1) JPH09199295A (ja)
KR (1) KR100430465B1 (ja)

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002510841A (ja) * 1998-03-31 2002-04-09 ラム リサーチ コーポレーション 並列アンテナ・トランスフォーマー・カップルド・プラズマ発生システム
JP2002534795A (ja) * 1999-01-07 2002-10-15 ローベルト ボツシユ ゲゼルシヤフト ミツト ベシユレンクテル ハフツング プラズマエッチング装置
JP2005503658A (ja) * 2001-09-14 2005-02-03 ラム リサーチ コーポレーション プラズマ処理装置コイル
US7520246B2 (en) 2000-06-23 2009-04-21 Mitsubishi Heavy Industries, Ltd. Power supply antenna and power supply method
KR101248927B1 (ko) * 2006-01-26 2013-03-29 주성엔지니어링(주) 광학식 열원을 포함하는 기판처리장치 및 이를 이용한 저온폴리 실리콘의 증착 방법
KR101301641B1 (ko) * 2012-11-29 2013-08-29 주성엔지니어링(주) 기판처리장치
JP2014500574A (ja) * 2010-10-20 2014-01-09 ラム リサーチ コーポレーション プラズマの点火及び維持の方法と装置
KR20210054457A (ko) * 2019-11-05 2021-05-13 도쿄엘렉트론가부시키가이샤 플라스마 처리 장치 및 플라스마 처리 방법

Families Citing this family (112)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6264812B1 (en) * 1995-11-15 2001-07-24 Applied Materials, Inc. Method and apparatus for generating a plasma
US6254746B1 (en) 1996-05-09 2001-07-03 Applied Materials, Inc. Recessed coil for generating a plasma
US6368469B1 (en) 1996-05-09 2002-04-09 Applied Materials, Inc. Coils for generating a plasma and for sputtering
KR100489918B1 (ko) * 1996-05-09 2005-08-04 어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드 플라즈마발생및스퍼터링용코일
US6888040B1 (en) * 1996-06-28 2005-05-03 Lam Research Corporation Method and apparatus for abatement of reaction products from a vacuum processing chamber
US6254737B1 (en) 1996-10-08 2001-07-03 Applied Materials, Inc. Active shield for generating a plasma for sputtering
US6190513B1 (en) 1997-05-14 2001-02-20 Applied Materials, Inc. Darkspace shield for improved RF transmission in inductively coupled plasma sources for sputter deposition
TW358964B (en) 1996-11-21 1999-05-21 Applied Materials Inc Method and apparatus for improving sidewall coverage during sputtering in a chamber having an inductively coupled plasma
US6103070A (en) * 1997-05-14 2000-08-15 Applied Materials, Inc. Powered shield source for high density plasma
US6361661B2 (en) * 1997-05-16 2002-03-26 Applies Materials, Inc. Hybrid coil design for ionized deposition
US6579426B1 (en) 1997-05-16 2003-06-17 Applied Materials, Inc. Use of variable impedance to control coil sputter distribution
US6178920B1 (en) * 1997-06-05 2001-01-30 Applied Materials, Inc. Plasma reactor with internal inductive antenna capable of generating helicon wave
US6375810B2 (en) 1997-08-07 2002-04-23 Applied Materials, Inc. Plasma vapor deposition with coil sputtering
US6345588B1 (en) 1997-08-07 2002-02-12 Applied Materials, Inc. Use of variable RF generator to control coil voltage distribution
US6235169B1 (en) 1997-08-07 2001-05-22 Applied Materials, Inc. Modulated power for ionized metal plasma deposition
TW396384B (en) * 1997-08-07 2000-07-01 Applied Materials Inc Modulated power for ionized metal plasma deposition
DE19737244A1 (de) * 1997-08-27 1999-03-04 Harald Tobies Vorrichtung und Verfahren zur Regelung der Phasenlage von Hochfrequenzelektroden bei Plasmaprozessen
US6565717B1 (en) 1997-09-15 2003-05-20 Applied Materials, Inc. Apparatus for sputtering ionized material in a medium to high density plasma
US6023038A (en) * 1997-09-16 2000-02-08 Applied Materials, Inc. Resistive heating of powered coil to reduce transient heating/start up effects multiple loadlock system
DE19801366B4 (de) * 1998-01-16 2008-07-03 Applied Materials Gmbh & Co. Kg Vorrichtung zur Erzeugung von Plasma
US6660134B1 (en) * 1998-07-10 2003-12-09 Applied Materials, Inc. Feedthrough overlap coil
US6132566A (en) * 1998-07-30 2000-10-17 Applied Materials, Inc. Apparatus and method for sputtering ionized material in a plasma
US6231725B1 (en) 1998-08-04 2001-05-15 Applied Materials, Inc. Apparatus for sputtering material onto a workpiece with the aid of a plasma
US6238528B1 (en) * 1998-10-13 2001-05-29 Applied Materials, Inc. Plasma density modulator for improved plasma density uniformity and thickness uniformity in an ionized metal plasma source
GB2343992B (en) * 1998-11-20 2001-06-20 Michael John Thwaites High density plasmas
US6558504B1 (en) * 1998-12-21 2003-05-06 Research Triangle Institute Plasma processing system and method
US6239553B1 (en) * 1999-04-22 2001-05-29 Applied Materials, Inc. RF plasma source for material processing
US6409890B1 (en) 1999-07-27 2002-06-25 Applied Materials, Inc. Method and apparatus for forming a uniform layer on a workpiece during sputtering
US6463873B1 (en) 2000-04-04 2002-10-15 Plasma Quest Limited High density plasmas
US6779481B2 (en) * 2000-04-27 2004-08-24 Tokyo Electron Limited Electrical coupling between chamber parts in electronic device processing equipment
US6554979B2 (en) * 2000-06-05 2003-04-29 Applied Materials, Inc. Method and apparatus for bias deposition in a modulating electric field
US6304036B1 (en) 2000-08-08 2001-10-16 Archimedes Technology Group, Inc. System and method for initiating plasma production
US6356025B1 (en) * 2000-10-03 2002-03-12 Archimedes Technology Group, Inc. Shielded rf antenna
US6363624B1 (en) 2000-11-21 2002-04-02 Applied Materials, Inc. Apparatus for cleaning a semiconductor process chamber
KR100440736B1 (ko) * 2001-02-19 2004-07-15 오범환 동축 병렬 안테나형 플라즈마 소스의 국소 인덕턴스직접조절 장치 및 방법
KR100444189B1 (ko) * 2001-03-19 2004-08-18 주성엔지니어링(주) 유도결합 플라즈마 소스의 임피던스 정합 회로
KR200253559Y1 (ko) * 2001-07-30 2001-11-22 주식회사 플라즈마트 회전방향으로 균일한 플라즈마 밀도를 발생시키는유도결합형 플라즈마 발생장치의 안테나구조
US6652713B2 (en) * 2001-08-09 2003-11-25 Applied Materials, Inc. Pedestal with integral shield
US7100532B2 (en) * 2001-10-09 2006-09-05 Plasma Control Systems, Llc Plasma production device and method and RF driver circuit with adjustable duty cycle
US7084832B2 (en) * 2001-10-09 2006-08-01 Plasma Control Systems, Llc Plasma production device and method and RF driver circuit with adjustable duty cycle
US7132996B2 (en) * 2001-10-09 2006-11-07 Plasma Control Systems Llc Plasma production device and method and RF driver circuit
US6503824B1 (en) 2001-10-12 2003-01-07 Mosel Vitelic, Inc. Forming conductive layers on insulators by physical vapor deposition
US6780086B2 (en) 2001-10-12 2004-08-24 Mosel Vitelic, Inc. Determining an endpoint in a polishing process
AU2002236273A1 (en) * 2002-03-08 2003-09-22 Tokyo Electron Limited Plasma device
US6783629B2 (en) 2002-03-11 2004-08-31 Yuri Glukhoy Plasma treatment apparatus with improved uniformity of treatment and method for improving uniformity of plasma treatment
US7513971B2 (en) * 2002-03-18 2009-04-07 Applied Materials, Inc. Flat style coil for improved precision etch uniformity
WO2003096766A1 (en) * 2002-05-08 2003-11-20 Dana Corporation Plasma control using phase and/or frequency of multiple radiation sources
US7067439B2 (en) 2002-06-14 2006-06-27 Applied Materials, Inc. ALD metal oxide deposition process using direct oxidation
KR100486712B1 (ko) * 2002-09-04 2005-05-03 삼성전자주식회사 복층 코일 안테나를 구비한 유도결합 플라즈마 발생장치
AU2003303538A1 (en) * 2002-12-30 2004-07-29 Northeastern University Low power plasma generator
US6724148B1 (en) * 2003-01-31 2004-04-20 Advanced Energy Industries, Inc. Mechanism for minimizing ion bombardment energy in a plasma chamber
CA2529794A1 (en) * 2003-06-19 2004-12-29 Plasma Control Systems Llc Plasma production device and method and rf driver circuit with adjustable duty cycle
US20050205211A1 (en) * 2004-03-22 2005-09-22 Vikram Singh Plasma immersion ion implantion apparatus and method
US8119210B2 (en) 2004-05-21 2012-02-21 Applied Materials, Inc. Formation of a silicon oxynitride layer on a high-k dielectric material
US7527713B2 (en) * 2004-05-26 2009-05-05 Applied Materials, Inc. Variable quadruple electromagnet array in plasma processing
US7686926B2 (en) * 2004-05-26 2010-03-30 Applied Materials, Inc. Multi-step process for forming a metal barrier in a sputter reactor
US20060005767A1 (en) * 2004-06-28 2006-01-12 Applied Materials, Inc. Chamber component having knurled surface
US7534301B2 (en) * 2004-09-21 2009-05-19 Applied Materials, Inc. RF grounding of cathode in process chamber
US20060109195A1 (en) * 2004-11-22 2006-05-25 Tihiro Ohkawa Shielded antenna
US7922881B2 (en) * 2005-02-28 2011-04-12 Tosoh Smd, Inc. Sputtering target with an insulating ring and a gap between the ring and the target
WO2007002455A2 (en) * 2005-06-23 2007-01-04 The Regents Of The University Of California Helicon plasma source with permanent magnets
US8179050B2 (en) * 2005-06-23 2012-05-15 The Regents Of The University Of California Helicon plasma source with permanent magnets
US8617672B2 (en) 2005-07-13 2013-12-31 Applied Materials, Inc. Localized surface annealing of components for substrate processing chambers
KR100774521B1 (ko) * 2005-07-19 2007-11-08 주식회사 디엠에스 다중 안테나 코일군이 구비된 유도결합 플라즈마 반응장치
US8182661B2 (en) 2005-07-27 2012-05-22 Applied Materials, Inc. Controllable target cooling
US7678710B2 (en) 2006-03-09 2010-03-16 Applied Materials, Inc. Method and apparatus for fabricating a high dielectric constant transistor gate using a low energy plasma system
US7837838B2 (en) 2006-03-09 2010-11-23 Applied Materials, Inc. Method of fabricating a high dielectric constant transistor gate using a low energy plasma apparatus
US7645710B2 (en) 2006-03-09 2010-01-12 Applied Materials, Inc. Method and apparatus for fabricating a high dielectric constant transistor gate using a low energy plasma system
KR100786537B1 (ko) 2006-03-29 2007-12-18 장근구 반도체 기판 공정 챔버에 사용되는 다중 플라즈마 발생소스
US20080006523A1 (en) 2006-06-26 2008-01-10 Akihiro Hosokawa Cooled pvd shield
TWI435376B (zh) 2006-09-26 2014-04-21 Applied Materials Inc 用於缺陷鈍化之高k閘極堆疊的氟電漿處理
US8381677B2 (en) * 2006-12-20 2013-02-26 Applied Materials, Inc. Prevention of film deposition on PECVD process chamber wall
US7981262B2 (en) 2007-01-29 2011-07-19 Applied Materials, Inc. Process kit for substrate processing chamber
US20080257263A1 (en) * 2007-04-23 2008-10-23 Applied Materials, Inc. Cooling shield for substrate processing chamber
US7942969B2 (en) 2007-05-30 2011-05-17 Applied Materials, Inc. Substrate cleaning chamber and components
KR100915613B1 (ko) * 2007-06-26 2009-09-07 삼성전자주식회사 펄스 플라즈마 매칭시스템 및 그 방법
KR101166988B1 (ko) * 2007-12-25 2012-07-24 어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드 플라즈마 챔버의 전극에 대한 비대칭 rf 구동
JP2011514441A (ja) * 2008-01-30 2011-05-06 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド 表面波開始プラズマ放電源の予備イオン化のためのシステム及び方法
JP5749020B2 (ja) * 2008-01-31 2015-07-15 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッドApplied Materials,Incorporated Rf電力をプラズマチャンバに結合するための装置
WO2011123124A1 (en) 2010-03-31 2011-10-06 Colorado State University Research Foundation Liquid-gas interface plasma device
EP2297377B1 (en) 2008-05-30 2017-12-27 Colorado State University Research Foundation Plasma-based chemical source device and method of use thereof
US8575843B2 (en) 2008-05-30 2013-11-05 Colorado State University Research Foundation System, method and apparatus for generating plasma
US8994270B2 (en) 2008-05-30 2015-03-31 Colorado State University Research Foundation System and methods for plasma application
TWI527930B (zh) * 2009-02-04 2016-04-01 應用材料股份有限公司 用於電漿製程的接地回流路徑
CN102365906B (zh) * 2009-02-13 2016-02-03 应用材料公司 用于等离子体腔室电极的rf总线与rf回流总线
CN102471877A (zh) * 2009-07-17 2012-05-23 株式会社爱发科 成膜装置以及成膜方法
US9039864B2 (en) * 2009-09-29 2015-05-26 Applied Materials, Inc. Off-center ground return for RF-powered showerhead
US8222822B2 (en) * 2009-10-27 2012-07-17 Tyco Healthcare Group Lp Inductively-coupled plasma device
EP2552340A4 (en) 2010-03-31 2015-10-14 Univ Colorado State Res Found PLASMA DEVICE WITH LIQUID GAS INTERFACE
US20150125622A1 (en) * 2010-04-01 2015-05-07 The Trustees of Columbia University in HIe City of Systems and methods for high and ultra-high vacuum physical vapor deposition with in-situ magnetic field
KR20120004040A (ko) * 2010-07-06 2012-01-12 삼성전자주식회사 플라즈마 발생장치
US8884178B2 (en) * 2010-10-20 2014-11-11 Lam Research Corporation Methods and apparatus for igniting and sustaining plasma
US20140252953A1 (en) * 2011-09-28 2014-09-11 Mapper Lithography Ip B.V. Plasma generator
US9230779B2 (en) * 2012-03-19 2016-01-05 Lam Research Corporation Methods and apparatus for correcting for non-uniformity in a plasma processing system
US8647485B2 (en) * 2012-03-30 2014-02-11 Applied Materials, Inc. Process kit shield for plasma enhanced processing chamber
US9532826B2 (en) 2013-03-06 2017-01-03 Covidien Lp System and method for sinus surgery
US9555145B2 (en) 2013-03-13 2017-01-31 Covidien Lp System and method for biofilm remediation
US9565747B2 (en) * 2013-03-14 2017-02-07 Perkinelmer Health Sciences, Inc. Asymmetric induction devices and systems and methods using them
CN105474362B (zh) 2013-08-16 2018-05-25 应用材料公司 用于高温低压力环境的细长的容性耦合的等离子体源
US9462669B2 (en) * 2013-10-03 2016-10-04 Daniel Prater Plasma confinement device
US9960021B2 (en) * 2013-12-18 2018-05-01 Applied Materials, Inc. Physical vapor deposition (PVD) target having low friction pads
US9336997B2 (en) 2014-03-17 2016-05-10 Applied Materials, Inc. RF multi-feed structure to improve plasma uniformity
EP2960684A1 (de) * 2014-06-26 2015-12-30 Ampass-explorer Corp. Antennenanordnung
US10332725B2 (en) * 2015-03-30 2019-06-25 Lam Research Corporation Systems and methods for reversing RF current polarity at one output of a multiple output RF matching network
US10582604B2 (en) 2016-08-26 2020-03-03 Daniel Prater Device and method for the heating and confinement of plasma
CN110023961A (zh) * 2016-12-01 2019-07-16 艾利丹尼森零售信息服务公司 不同尺寸元件布局的混合结构方法以优化晶圆的面积使用
CN108631047A (zh) * 2018-03-23 2018-10-09 四川大学 阻断式感容耦合螺旋等离子体天线
GB201806783D0 (en) 2018-04-25 2018-06-06 Spts Technologies Ltd A plasma generating arrangement
US11532455B2 (en) * 2018-12-31 2022-12-20 En2Core Technology, Inc. Plasma generating apparatus and method for operating same
GB2599394B (en) * 2020-09-30 2024-01-03 Dyson Technology Ltd Method and apparatus for sputter deposition
US11776793B2 (en) 2020-11-13 2023-10-03 Applied Materials, Inc. Plasma source with ceramic electrode plate
KR20220107521A (ko) * 2021-01-25 2022-08-02 (주) 엔피홀딩스 반응기, 이를 포함하는 공정 처리 장치 및 반응기 제조 방법

Family Cites Families (90)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1765850A1 (de) 1967-11-10 1971-10-28 Euratom Verfahren und Vorrichtung zum Aufbringen von duennen Schichten
US3594301A (en) 1968-11-22 1971-07-20 Gen Electric Sputter coating apparatus
DE1905058C3 (de) 1969-02-01 1973-10-04 Leybold-Heraeus Gmbh & Co, Kg, 5000 Koeln-Bayental Vorrichtung für die Beschichtung von Werkstücken durch Hochfrequenz-Plasmazerstäubung von Werkstoffen im Vakuum
US3763031A (en) 1970-10-01 1973-10-02 Cogar Corp Rf sputtering apparatus
US4362632A (en) 1974-08-02 1982-12-07 Lfe Corporation Gas discharge apparatus
WO1980001363A1 (en) 1978-12-29 1980-07-10 Ncr Co Lpcvd systems having in situ plasma cleaning
US4277321A (en) 1979-04-23 1981-07-07 Bell Telephone Laboratories, Incorporated Treating multilayer printed wiring boards
JPS5922787B2 (ja) 1979-09-25 1984-05-29 株式会社リコー 蒸着膜作成方法
US4336118A (en) 1980-03-21 1982-06-22 Battelle Memorial Institute Methods for making deposited films with improved microstructures
JPS59190363A (ja) 1983-04-11 1984-10-29 Orient Watch Co Ltd 金属薄膜の形成方法
JPS6023929U (ja) 1983-07-22 1985-02-19 アルプス電気株式会社 磁気駆動装置
US4865712A (en) 1984-05-17 1989-09-12 Varian Associates, Inc. Apparatus for manufacturing planarized aluminum films
US4661228A (en) 1984-05-17 1987-04-28 Varian Associates, Inc. Apparatus and method for manufacturing planarized aluminum films
EP0169744A3 (en) 1984-07-26 1987-06-10 United Kingdom Atomic Energy Authority Ion source
JPH0740468B2 (ja) 1984-12-11 1995-05-01 株式会社日立製作所 高周波プラズマ発生装置
JPS61190070A (ja) 1985-02-20 1986-08-23 Hitachi Ltd スパツタ装置
US4810935A (en) 1985-05-03 1989-03-07 The Australian National University Method and apparatus for producing large volume magnetoplasmas
US4626312A (en) 1985-06-24 1986-12-02 The Perkin-Elmer Corporation Plasma etching system for minimizing stray electrical discharges
GB8629634D0 (en) 1986-12-11 1987-01-21 Dobson C D Reactive ion & sputter etching
JPS63246814A (ja) 1987-04-02 1988-10-13 Matsushita Electric Ind Co Ltd 薄膜形成装置
US4792732A (en) 1987-06-12 1988-12-20 United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force Radio frequency plasma generator
JP2602276B2 (ja) 1987-06-30 1997-04-23 株式会社日立製作所 スパツタリング方法とその装置
US5175608A (en) 1987-06-30 1992-12-29 Hitachi, Ltd. Method of and apparatus for sputtering, and integrated circuit device
KR920003789B1 (ko) 1988-02-08 1992-05-14 니뽄 덴신 덴와 가부시끼가이샤 플라즈마 스퍼터링을 이용한 박막 형성 장치 및 이온원
US4842703A (en) 1988-02-23 1989-06-27 Eaton Corporation Magnetron cathode and method for sputter coating
JP2859632B2 (ja) 1988-04-14 1999-02-17 キヤノン株式会社 成膜装置及び成膜方法
US4871421A (en) 1988-09-15 1989-10-03 Lam Research Corporation Split-phase driver for plasma etch system
JP2544192B2 (ja) 1988-11-21 1996-10-16 アネルバ株式会社 薄膜堆積装置
US4925542A (en) 1988-12-08 1990-05-15 Trw Inc. Plasma plating apparatus and method
US4918031A (en) 1988-12-28 1990-04-17 American Telephone And Telegraph Company,At&T Bell Laboratories Processes depending on plasma generation using a helical resonator
GB8905075D0 (en) 1989-03-06 1989-04-19 Nordiko Ltd Electrode assembly and apparatus
US5135629A (en) 1989-06-12 1992-08-04 Nippon Mining Co., Ltd. Thin film deposition system
US5429070A (en) 1989-06-13 1995-07-04 Plasma & Materials Technologies, Inc. High density plasma deposition and etching apparatus
US5421891A (en) 1989-06-13 1995-06-06 Plasma & Materials Technologies, Inc. High density plasma deposition and etching apparatus
US4990229A (en) 1989-06-13 1991-02-05 Plasma & Materials Technologies, Inc. High density plasma deposition and etching apparatus
US5122251A (en) 1989-06-13 1992-06-16 Plasma & Materials Technologies, Inc. High density plasma deposition and etching apparatus
US5091049A (en) 1989-06-13 1992-02-25 Plasma & Materials Technologies, Inc. High density plasma deposition and etching apparatus
US5234560A (en) 1989-08-14 1993-08-10 Hauzer Holdings Bv Method and device for sputtering of films
US4948458A (en) 1989-08-14 1990-08-14 Lam Research Corporation Method and apparatus for producing magnetically-coupled planar plasma
DE3942964A1 (de) * 1989-12-23 1991-06-27 Leybold Ag Einrichtung fuer die erzeugung eines plasmas
JPH07122136B2 (ja) 1990-05-10 1995-12-25 株式会社日立製作所 イオンビームスパッタ装置および運転方法
US5304279A (en) 1990-08-10 1994-04-19 International Business Machines Corporation Radio frequency induction/multipole plasma processing tool
US5178739A (en) 1990-10-31 1993-01-12 International Business Machines Corporation Apparatus for depositing material into high aspect ratio holes
WO1992007969A1 (en) 1990-10-31 1992-05-14 International Business Machines Corporation Apparatus for depositing material into high aspect ratio holes
US5206516A (en) 1991-04-29 1993-04-27 International Business Machines Corporation Low energy, steered ion beam deposition system having high current at low pressure
KR100255703B1 (ko) 1991-06-27 2000-05-01 조셉 제이. 스위니 전자기 rf연결부를 사용하는 플라즈마 처리기 및 방법
US5234529A (en) 1991-10-10 1993-08-10 Johnson Wayne L Plasma generating apparatus employing capacitive shielding and process for using such apparatus
US5280154A (en) 1992-01-30 1994-01-18 International Business Machines Corporation Radio frequency induction plasma processing system utilizing a uniform field coil
US5368685A (en) 1992-03-24 1994-11-29 Hitachi, Ltd. Dry etching apparatus and method
US5225740A (en) 1992-03-26 1993-07-06 General Atomics Method and apparatus for producing high density plasma using whistler mode excitation
US5361016A (en) 1992-03-26 1994-11-01 General Atomics High density plasma formation using whistler mode excitation in a reduced cross-sectional area formation tube
US5231334A (en) 1992-04-15 1993-07-27 Texas Instruments Incorporated Plasma source and method of manufacturing
US5241245A (en) 1992-05-06 1993-08-31 International Business Machines Corporation Optimized helical resonator for plasma processing
US5397962A (en) 1992-06-29 1995-03-14 Texas Instruments Incorporated Source and method for generating high-density plasma with inductive power coupling
JP3688726B2 (ja) 1992-07-17 2005-08-31 株式会社東芝 半導体装置の製造方法
US5404079A (en) 1992-08-13 1995-04-04 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Plasma generating apparatus
US5312717A (en) 1992-09-24 1994-05-17 International Business Machines Corporation Residue free vertical pattern transfer with top surface imaging resists
DE4235064A1 (de) 1992-10-17 1994-04-21 Leybold Ag Vorrichtung zum Erzeugen eines Plasmas mittels Kathodenzerstäubung
US5346578A (en) 1992-11-04 1994-09-13 Novellus Systems, Inc. Induction plasma source
DE4241927C2 (de) 1992-12-11 1994-09-22 Max Planck Gesellschaft Zur Anordnung in einem Vakuumgefäß geeignete selbsttragende isolierte Elektrodenanordnung, insbesondere Antennenspule für einen Hochfrequenz-Plasmagenerator
CA2153795A1 (en) 1993-01-15 1994-07-21 Peter A. Sieck Cylindrical magnetron shield structure
US5433812A (en) 1993-01-19 1995-07-18 International Business Machines Corporation Apparatus for enhanced inductive coupling to plasmas with reduced sputter contamination
US5366585A (en) 1993-01-28 1994-11-22 Applied Materials, Inc. Method and apparatus for protection of conductive surfaces in a plasma processing reactor
JP3224443B2 (ja) 1993-02-08 2001-10-29 靖浩 堀池 ヘリコン波プラズマ処理装置
JP3271359B2 (ja) 1993-02-25 2002-04-02 ソニー株式会社 ドライエッチング方法
TW249313B (ja) 1993-03-06 1995-06-11 Tokyo Electron Co
US5401350A (en) 1993-03-08 1995-03-28 Lsi Logic Corporation Coil configurations for improved uniformity in inductively coupled plasma systems
JP3252518B2 (ja) 1993-03-19 2002-02-04 ソニー株式会社 ドライエッチング方法
US5487785A (en) 1993-03-26 1996-01-30 Tokyo Electron Kabushiki Kaisha Plasma treatment apparatus
JP3174981B2 (ja) 1993-03-26 2001-06-11 東京エレクトロン株式会社 ヘリコン波プラズマ処理装置
US5430355A (en) 1993-07-30 1995-07-04 Texas Instruments Incorporated RF induction plasma source for plasma processing
US5418431A (en) 1993-08-27 1995-05-23 Hughes Aircraft Company RF plasma source and antenna therefor
JP3290777B2 (ja) 1993-09-10 2002-06-10 株式会社東芝 誘導結合型高周波放電方法および誘導結合型高周波放電装置
US5431799A (en) * 1993-10-29 1995-07-11 Applied Materials, Inc. Collimation hardware with RF bias rings to enhance sputter and/or substrate cavity ion generation efficiency
WO1995015672A1 (en) 1993-12-01 1995-06-08 Wisconsin Alumni Research Foundation Method and apparatus for planar plasma processing
US5639357A (en) 1994-05-12 1997-06-17 Applied Materials Synchronous modulation bias sputter method and apparatus for complete planarization of metal films
US5540824A (en) 1994-07-18 1996-07-30 Applied Materials Plasma reactor with multi-section RF coil and isolated conducting lid
US5753044A (en) 1995-02-15 1998-05-19 Applied Materials, Inc. RF plasma reactor with hybrid conductor and multi-radius dome ceiling
JP2770753B2 (ja) 1994-09-16 1998-07-02 日本電気株式会社 プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法
US5503676A (en) 1994-09-19 1996-04-02 Lam Research Corporation Apparatus and method for magnetron in-situ cleaning of plasma reaction chamber
JPH07176399A (ja) 1994-10-24 1995-07-14 Tokyo Electron Ltd プラズマ処理装置
JP2657170B2 (ja) 1994-10-24 1997-09-24 東京エレクトロン株式会社 プラズマ処理装置
US5569363A (en) * 1994-10-25 1996-10-29 Sony Corporation Inductively coupled plasma sputter chamber with conductive material sputtering capabilities
JP3483327B2 (ja) 1994-11-29 2004-01-06 アネルバ株式会社 プラズマ処理方法
JPH08288259A (ja) 1995-04-18 1996-11-01 Sony Corp ヘリコン波プラズマ装置およびこれを用いたドライエッチング方法
US5690795A (en) * 1995-06-05 1997-11-25 Applied Materials, Inc. Screwless shield assembly for vacuum processing chambers
US5573595A (en) 1995-09-29 1996-11-12 Lam Research Corporation Methods and apparatus for generating plasma
US6264812B1 (en) 1995-11-15 2001-07-24 Applied Materials, Inc. Method and apparatus for generating a plasma
US5763851A (en) 1995-11-27 1998-06-09 Applied Materials, Inc. Slotted RF coil shield for plasma deposition system
US5800688A (en) 1997-04-21 1998-09-01 Tokyo Electron Limited Apparatus for ionized sputtering

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002510841A (ja) * 1998-03-31 2002-04-09 ラム リサーチ コーポレーション 並列アンテナ・トランスフォーマー・カップルド・プラズマ発生システム
JP2002534795A (ja) * 1999-01-07 2002-10-15 ローベルト ボツシユ ゲゼルシヤフト ミツト ベシユレンクテル ハフツング プラズマエッチング装置
US7520246B2 (en) 2000-06-23 2009-04-21 Mitsubishi Heavy Industries, Ltd. Power supply antenna and power supply method
JP2005503658A (ja) * 2001-09-14 2005-02-03 ラム リサーチ コーポレーション プラズマ処理装置コイル
JP4880873B2 (ja) * 2001-09-14 2012-02-22 ラム リサーチ コーポレーション プラズマ処理装置コイル及びプラズマ処理装置
KR101248927B1 (ko) * 2006-01-26 2013-03-29 주성엔지니어링(주) 광학식 열원을 포함하는 기판처리장치 및 이를 이용한 저온폴리 실리콘의 증착 방법
JP2014500574A (ja) * 2010-10-20 2014-01-09 ラム リサーチ コーポレーション プラズマの点火及び維持の方法と装置
JP2017054824A (ja) * 2010-10-20 2017-03-16 ラム リサーチ コーポレーションLam Research Corporation プラズマの点火及び維持の方法と装置
KR101301641B1 (ko) * 2012-11-29 2013-08-29 주성엔지니어링(주) 기판처리장치
KR20210054457A (ko) * 2019-11-05 2021-05-13 도쿄엘렉트론가부시키가이샤 플라스마 처리 장치 및 플라스마 처리 방법
US11967485B2 (en) 2019-11-05 2024-04-23 Tokyo Electron Limited Plasma processing apparatus and plasma processing method

Also Published As

Publication number Publication date
EP1058489A2 (en) 2000-12-06
EP0774886A1 (en) 1997-05-21
KR970030455A (ko) 1997-06-26
US6297595B1 (en) 2001-10-02
KR100430465B1 (ko) 2004-09-04
US6228229B1 (en) 2001-05-08
US6264812B1 (en) 2001-07-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6264812B1 (en) Method and apparatus for generating a plasma
US6190513B1 (en) Darkspace shield for improved RF transmission in inductively coupled plasma sources for sputter deposition
EP0836218B1 (en) Active shield for generating a plasma for sputtering
US6679981B1 (en) Inductive plasma loop enhancing magnetron sputtering
JP4553992B2 (ja) プラズマの発生及びスパッタのためのコイル
US6523493B1 (en) Ring-shaped high-density plasma source and method
US5944902A (en) Plasma source for HDP-CVD chamber
US7426900B2 (en) Integrated electrostatic inductive coupling for plasma processing
US6417626B1 (en) Immersed inductively—coupled plasma source
US6514390B1 (en) Method to eliminate coil sputtering in an ICP source
US8398832B2 (en) Coils for generating a plasma and for sputtering
US6231725B1 (en) Apparatus for sputtering material onto a workpiece with the aid of a plasma
US5975014A (en) Coaxial resonant multi-port microwave applicator for an ECR plasma source
US6824658B2 (en) Partial turn coil for generating a plasma
WO2000022648A1 (en) Ionized metal plasma source, comprising a centrally arranged additional rf coil
JPH11135438A (ja) 半導体プラズマ処理装置
EP0841683A2 (en) Active shield for generating a plasma for sputtering
JPH11106912A (ja) 高密度プラズマのための、電力を付与されたシールド源
US6409890B1 (en) Method and apparatus for forming a uniform layer on a workpiece during sputtering

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20040203