JPH08215997A - 生産ライン追跡・品質管理システムおよび品質管理方法 - Google Patents

生産ライン追跡・品質管理システムおよび品質管理方法

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JPH08215997A
JPH08215997A JP16813095A JP16813095A JPH08215997A JP H08215997 A JPH08215997 A JP H08215997A JP 16813095 A JP16813095 A JP 16813095A JP 16813095 A JP16813095 A JP 16813095A JP H08215997 A JPH08215997 A JP H08215997A
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Abstract

(57)【要約】 （修正有） 【目的】 コンタクトレンズ製造設備において一または
それ以上のコンタクトレンズ半型またはこれを補足す
る。またはそれ以上の第二コンタクトレンズ半型を載せ
る一連のパレットから成る生産ライン追跡・品質管理シ
ステムを得る。 【構成】 各パレットには、独自の識別コードが含まれ
る。コンタクトレンズ製造処理を実時間監視する制御装
置が設けられている。制御装置はさらに、またはそれ以
上の処理装置において監視された処理条件値を連続的に
受け取りながら、各装置において各パレットの独自のコ
ードを識別する追跡装置を備えている。処理条件が所定
範囲外である場合には、制御装置が、識別された各パレ
ットについて、拒絶フラグの形の処理状況情報をメモリ
記憶のために生成し、または処理条件が所定範囲内であ
るとを示す許容フラグを生成する。処理装置に出入りす
る際にパレットが識別されて各パレットの状況が検査さ
れると、処理状況情報は更新される。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、一般的には、眼科コン
タクトレンズを生産するためのコンタクトレンズ製造設
備に関するものであり、詳しくは、この製造設備の様々
な製造装置において生産ラインパレット搬送システムの
パレット上を搬送される間に製造された良品および不良
品のコンタクトレンズを識別および追跡する品質管理バ
ーコード追跡システムおよび品質管理方法に関するもの
である。
【０００２】
【従来の技術】ヒドロゲルコンタクトレンズの直接成形
は、Larsen（ラーセン）の米国特許第4,495,313号、Lar
sen et al. （ラーセンら）の米国特許第 4,680,336
号、Larsen（ラーセン）の米国特許第 4,565,348号、La
rsen et al. （ラーセンら）の米国特許第 4,640,489号
に開示されている。これらの開示内容はすべて、参考と
して本特許出願に取り入れられている。本質的に、これ
らの参照文献には、コンタクトレンズの自動生産方法が
開示されており、この方法では、それぞれ後曲面（上
方）半型と前曲面（下方）半型の間にモノマーをサンド
イッチして、各レンズを形成する。モノマーを重合する
ことによりレンズが形成され、次にこのレンズは型部か
ら取り外されて、さらに処理を受け、消費者が使用でき
るように包装されることになる。
【０００３】モノマーは、モノマー充填・型組立装置で
サンドイッチされる。この装置では、重合可能なモノマ
ーが最初に前曲面半型に充填され、次に後曲面半型が前
曲面半型の上に載置されて、コンタクトレンズの型アセ
ンブリの完成品が製造される。型アセンブリパレットつ
まり支持システムにより、コンタクトレンズ型アセンブ
リの完成品をさらに、次の処理のために生産設備内の他
の装置まで搬送し、最終的に、重合されたコンタクトレ
ンズの完成品が製造される。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、眼科
コンタクトレンズを高い生産量で製造する完全自動化コ
ンタクトレンズ生産設備において、コンタクトレンズの
前曲面半型と後曲面半型と型アセンブリを自動的に追跡
する生産ラインパレットシステムに、追跡・品質管理シ
ステムを組み込むことである。
【０００５】本発明のさらなる目的は、処理装置におい
てコンタクトレンズの半型と型アセンブリを自動的に追
跡する生産ラインパレットシステムに、追跡・品質管理
システムを組み込むことである。処理装置には、コンタ
クトレンズ生産設備に設けられたコンタクトレンズの充
填・予備硬化・重合・型外し・水和の各装置が含まれる
が、これらに限定されるわけではない。
【０００６】本発明の別の目的は、コンタクトレンズ生
産設備において前曲面コンタクトレンズ半型と後曲面コ
ンタクトレンズ半型とコンタクトレンズ型アセンブリを
搬送する搬送パレット列とコンベヤシステムが設けられ
た生産ライン追跡・品質管理システムを、生産ラインパ
レットシステムに設けることである。各搬送パレット
は、品質管理を強化するため、一つのアセンブリまたは
処理装置から他の装置へと製品を追跡できる独自の識別
バーコードを備えている。
【０００７】本発明のさらなる目的は、生産ラインパレ
ットシステムにおいて良品コンタクトレンズと不良品コ
ンタクトレンズ（「製品」）を搬送するパレットを識別
および追跡するためにコンタクトレンズ生産設備内の様
々な箇所に設けられたバーコード読み取り装置を含む、
コンピュータまたはプログラマブル論理制御装置の形の
制御手段を、生産ライン追跡・品質管理システムに組み
込むことである。
【０００８】本発明のさらに別の目的は、コンタクトレ
ンズ生産設備において、各搬送パレットの処理条件状況
を表すデータや情報を受け取るための記憶装置を含む制
御手段を、生産ライン追跡・品質管理システムに組み込
むことである。
【０００９】本発明のさらに他の目的は、搬送パレット
で行われた操作、パレットに生じた重要な出来事、特定
の識別されたパレットＩＤを持つ出来事が生じた時間を
関連付ける手段を、生産ライン追跡・品質管理システム
に組み込むことである。
【００１０】本発明のまた別の目的は、各搬送パレット
上を搬送される前曲面半型と後曲面半型とコンタクトレ
ンズ型アセンブリの生産状況が、規定の処理パラメータ
の許容範囲内であるか、または特定の処理パラメータの
許容範囲を越えているかどうかを判断する制御手段を、
生産ライン追跡・品質管理システムに組み込むことであ
る。
【００１１】本発明の別の目的は、特定の搬送パレット
上を搬送される前曲面半型、後曲面半型、および／また
はコンタクトレンズ型アセンブリが規定の許容範囲外の
条件下で処理されたと判断された場合に、この特定パレ
ットを不合格とする処理を開始する制御手段を備えた、
生産ライン追跡・品質管理システムを提供することであ
る。
【００１２】
【課題を解決するための手段】上記の目的は、コンタク
トレンズ生産設備において、一またはそれ以上の第一コ
ンタクトレンズ半型と補足的な第二コンタクトレンズ半
型のいずれかを搬送するためのパレット列から成る生産
ライン追跡・品質管理システムにより、達成される。各
パレットは、識別と追跡を目的とした独自の識別コード
を備え、一またはそれ以上の処理装置を含むコンタクト
レンズ生産設備において、コンベヤ手段上を搬送され
る。制御手段は、またはそれ以上の処理装置において、
コンタクトレンズ生産プロセスの実時間監視を行うもの
で、設備内の様々な装置において各パレット独自のコー
ドを識別する追跡手段を含んでいる。この制御手段は、
各装置を搬送される搬送パレットのそれぞれについて、
各装置における処理パラメータ値を受け取り、この処理
パラメータが範囲外である場合に、不合格信号を発す
る。
【００１３】本発明の他の長所および利点は、添付図面
に関して記載され、本発明の好適な実施例が明記された
以下の実施例を検討することにより、明らかとなるだろ
う。
【００１４】
【実施例】図１には、本発明の品質管理・生産ライン追
跡システム１１を備えたコンタクトレンズ生産設備に設
けられた、生産ラインパレットシステム１０の概略図が
図示されている。パレットシステム１０の動作の詳細
は、本発明と同じ譲受人に譲渡された"Contact Lens Pr
oduction Line Pallet System"（コンタクトレンズ生産
ラインパレットシステム）という名称の同時係属特許出
願U.S.S.N.08/257,786（代理人事件整理番号 #9001）に
記載されている。その開示内容は、本出願に参考として
取り入れられている。一般的に、パレット搬送システム
１０を備えたコンタクトレンズ製造設備は、熱可塑性の
前曲面コンタクトレンズ半型と後曲面コンタクトレンズ
半型をそれぞれ製造するための射出成形組立装置２０と
３０を含む、隣接して設けられた様々な装置から成って
いる。前曲面射出成形組立装置２０は、一度に８個まで
の前曲面半型を、この装置２０から第一パレットコンベ
ヤ２７の付近に位置するパレット１２ａまで搬送するた
めのロボット装置２２を含んでいる。そして、後曲面射
出成形組立装置３０は、一度に８個までの後曲面半型
を、第二パレットコンベヤ２９の付近に位置するパレッ
ト１２ｂ内を搬送するための装置２４を含んでいる。第
一パレットコンベヤ２７と第二パレットコンベヤ２９は
ともに、その一部が低酸素ケースで覆われている。補足
的な後曲面コンタクトレンズ半型を含むパレット１２ｂ
の付近に設けられた、前曲面コンタクトレンズ半型を後
曲面コンタクトレンズ半型と同数だけ含むパレット１２
ａを、連続パレットコンベヤ３２に配置するための連続
装置４０も、充填・型組立装置５０へとパレット１２ａ
と１２ｂを交互にかつ連続的に搬送するために設けられ
ている。充填・型組立装置５０は、一般的に、各パレッ
ト１２ａに載置された前曲面レンズ型部のそれぞれの凹
部でコンタクトレンズを形成するために、重合可能な化
合物（モノマー混合物）を真空環境で付着させるための
第一装置５３と、後で充填装置５０の下流側に位置する
型分離装置において、後曲面半型とこれに関連する余分
なモノマーリングつまり「ＨＥＭＡリング」とを前曲面
半型から取り外し易くするために、前曲面の環状縁部に
沿って界面活性剤を付着させるための第二装置５６と、
各後曲面レンズ半型をパレット１２ｂから取り上げて、
これを搬送パレット１２ａ上の対応する前曲面レンズ半
型に位置合わせして載置する、各コンタクトレンズ型組
立品を組み立てるための第三装置５９を含んでいる。パ
レット１２ｂからの各後曲面レンズ半型をコンベヤパレ
ット１２ａ上の対応する前曲面レンズ半型に同時に載置
する操作は、真空環境で行われる。さらに、図１から分
かるように、第二パレット１２ｂから後曲面レンズ半型
が取り除かれた後、射出成形アセンブリ３０から新たな
後曲面レンズ半型の組を受け取るために、パレット再循
環ラムアセンブリ３５により、空の後曲面パレット１２
ｂが元の後曲面供給コンベヤ２９に押し戻される。
【００１５】図１に示されているように、完成された型
組立品が載置されているパレット１２ａは、充填・型組
立装置５０から出て、予備硬化室６５までコンベヤ３２
ｃ上を搬送される。この予備硬化室６５では、各型組立
品に含まれているモノマー溶液が部分的に硬化されて粘
性のゲル状となり、コンタクトレンズの縁部を形成する
とともに、半型どうしの中心のずれを防ぐために、前曲
面レンズ半型と後曲面レンズ半型に所定の圧力がかけら
れる。
【００１６】予備硬化が行われたレンズを載せたパレッ
トは、予備硬化室６５を出た後、コンベヤ３２ｃ上を重
合装置７５まで搬送される。この重合装置７５では、各
型組立品に入っている予備硬化済のレンズがＵＶ乾燥器
で完全に重合されて、コンタクトレンズ半加工品が作ら
れる。図１に見られるように、型組立品が重合される際
に重合室での滞在時間が長くなるように、連続パレット
コンベヤ３２ｃは二つのコンベヤ３１ａと３１ｂに分か
れている。型組立品を載せた一定量のパレットが、コン
ベヤ３２ｃから二つのコンベヤ３１ａと３１ｂのそれぞ
れに導かれるように、押圧装置４５が使用される。
【００１７】重合装置７５において、各型組立品の重合
可能化合物が重合されてコンタクトレンズ半加工品が形
成された後、パレットは、乾燥器から出た型組立品の温
度調整を行う型外し緩衝部分７６を通過し、二重移動ビ
ーム１８９に沿って、パレットシステム１０の後端まで
移動する。ここには、型組立品の後曲面レンズ半型を前
曲面レンズ半型から自動的に分離して、重合されたコン
タクトレンズを露出させ、下流側の水和装置８９に搬送
する型分離装置９０が設けられている。型外し処理の
後、押圧アセンブリ２１０により、水和アセンブリ８９
までパレットを搬送する往復移送パレット装置３３５へ
と、パレット１２ａの列が押圧される。各コンタクトレ
ンズが包装の前に水和されるように、水化アセンブリ８
９では、重合されたコンタクトレンズを中に有している
前曲面レンズ型部が、同時に各パレットから取り出され
て、適当な水和室（図示されていない）内に載置され
る。続いて空のパレットが移送装置３３５によりコンベ
ヤ３１ｆに戻され、ここで押圧装置３２２により空の第
一パレットはコンベヤ２７まで移送される。パレットは
移送された後、射出成形アセンブリ２０から前曲面レン
ズ半型の新しいバッチを受け取ることになる。
【００１８】レンズ製品の半型を搬送するための生産ラ
インパレット１２ａの上面図が、図２（ａ）に示されて
いる。パレット１２ａと１２ｂは、前曲面コンタクトレ
ンズ半型と後曲面コンタクトレンズ半型のいずれでも収
容できるという点で、互換性を持っていることを理解す
べきである。生産ラインパレット１２ａ、１２ｂは、ア
ルミニウム製で、幅は６０ｍｍ以下、長さは１２０ｍｍ
以下である。別の実施例では、パレット１２ａはステン
レス鋼から成り、幅９０ｍｍ、長さ１６０ｍｍである。
図２（ａ）から分かるように、コンタクトレンズの所望
の最終形状である１組の補足的な前曲面半型と後曲面半
型から成る、それぞれのコンタクトレンズ型組立品１３
９を収容するために、各パレット１２ａ、１２ｂには複
数の凹所が形成されている。図２（ｂ）には、各型組立
品１３９がパレットの凹所１３０ｂに収容された状態が
図示されている。コンタクトレンズを製造するには、充
填・型組立装置５０において、ある量の、一般的には約
７０ｍｇ前後の重合可能な化合物を、パレットの凹所１
３０ｂに設けられた各前曲面（凹状）半型１３１に載置
する。望ましい量は、重合が行われる際の副産物の生成
や、重合の後で水が交換される際に希釈剤が用いられた
場合には、希釈剤や副産物の生成を考慮に入れたうえ
で、所望のレンズの寸法（直径や厚さなど）に基づいて
決められる。次に、第一半型と第二半型が、それぞれの
回転軸が同一線上にあり、それぞれのフランジ１３１ａ
と１３３ａが平行となるように並んだ状態で、後曲面
（凸状）半型１３３を重合可能化合物１３２の上に載置
する。半型１３１は、前曲面半型の環状フランジ１３１
ａを受けてこれを支持する環状凹所１３０ａ内を搬送さ
れる。パレット１２ａと１２ｂには、凹所１３０ｂに加
えて、収容された前曲面半型１３１の三角タブ部１３１
ｃが所定角度を持つ位置となるようにこれを収容するた
めの、中心に向かう複数の凹所１３０ｃが設けられてい
る。凹所１３０ｃは、各凹所内に位置する半型の通常の
移動が、＋／−０．１ｍｍ以内となるように設計されて
いる。第二の後曲面半型１３３の三角タブ１３３ｃは、
二つの半型の回転軸が同一線上となるように、前曲面タ
ブ１３１ｃと重複している。
【００１９】図２（ａ）に図示されているように、各パ
レット１２ａ（１２ｂ）の表面上の中心付近には、独自
のバーコード識別子１３５が設けられている。このバー
コード識別子１３５は、後で詳細に説明するように、取
扱、追跡、品質管理を行う設備内の各箇所に設置された
バーコードスキャナ１１０−１１９（図１）で走査され
るものである。また、パレット１２ａ（１２ｂ）には、
後でさらに詳しく説明するが、パレット表面でのコンタ
クトレンズ生産プロセスの実時間検査を可能にするため
に、ファイバー光学ボアスコープおよびこれと同類の検
査装置が挿入される盲穴１２８ａ，１２８ｂが形成され
ている。
【００２０】図１のように、生産ライン追跡・品質管理
システム１１には、制御装置１００が含まれる。制御装
置１００としては、コンピュータや１またはそれ以上の
プログラマブル論理制御装置（ＰＬＣ）が考えられる。
後でさらに詳細に説明するように、制御手段１００に
は、コンタクトレンズの処理条件を実時間監視するため
のセンサ装置が、複数含まれる。センサ装置は、製造設
備の特定装置においてパレットに載置された半型や型組
立品に施される処理を制御するコンピュータやＰＬＣに
よって受け取られる処理条件情報を、この特定装置にお
いて生成する。次にそれぞれのＰＬＣがこの情報を処理
して、補正処置のための適当な制御信号を生成したり、
および／または他の種類の介入や修正が必要なことを示
すエラーフラグを生成する。
【００２１】図１に示された好適な実施例では、制御手
段１００は、コンタクトレンズ製造設備内において生産
ラインパレットシステム１０の追跡および制御を行うた
めの、少なくとも２台のＰＬＣと、これに関連した回路
要素およびソフトウェアから構成される。制御装置１０
０の第一ＰＬＣ１０２ａは、射出成形装置２０、３０か
ら充填／成形組立装置まで、パレットの搬送を制御およ
び追跡する。制御装置１００の第二ＰＬＣ１０２ｂは、
予備硬化、ＵＶ重合、型分離装置において、パレット搬
送の品質管理を行うとともに、これを追跡する。制御装
置１００の第三ＰＬＣ１０２ｃは、次の処理のためにコ
ンタクトレンズがパレットから取り出される水和アセン
ブリにおいて、パレットの識別を保持するために、設け
られている。本発明と同じ譲受人に譲渡された"Automat
ed Methodand Apparatusfor Hydrating Soft Contact L
enses"（水和ソフトコンタクトレンズの自動化方法と装
置）の名称の同時継続出願U.S.S.N.08/258,996（代理人
事件整理番号 #8998）に記載されているように、水和、
後水和、レンズ検査、包装の各装置の様々な面を制御す
るために、別のＰＬＣ（図示せず）が追加されている。
この出願の開示内容は、本出願と、本発明と同じ譲受人
に譲渡された"Automated Apparatusand Methodfor Pack
aging Products" （製品包装用自動化装置と方法）とい
う名称のU.S.S.N.08/257,791（代理人事件整理番号 #90
05）に、参考として取り入れられている。U.S.S.N.08/2
57,791の開示内容もまた、本出願に参考として取り入れ
られている。各ＰＬＣがＴＩシステム５４５（Texas In
struments ）で、バックプレインまたは直列リンク（図
示せず）を介してＰＬＣと通信するためのＴＩ３８６／
ＡＴＭ共処理装置モジュールを含むことが望ましい。好
適な実施例では、後で詳細に説明するように、ＰＬＣ１
０２ｂは、バーコードスキャナ解読器から成る星形接続
点ネットワークに接続された３８６／ＡＴＭモジュール
を備えている。
【００２２】図１から分かるように、各ＰＬＣ１０２
ａ，ｂ，ｃにはそれぞれ、記憶装置１０４ａ，ｂ，ｃが
設けられている。記憶装置は、各ＰＬＣが時間情報およ
び処理条件状況情報の形のデータにアクセスしたりこれ
を処理するのに適したアドレス指定能力と記憶能力を持
っている。すなわち、処理条件状況情報は、特定のコン
タクトレンズ「製品」の合否に関する情報、つまりコン
タクトレンズ半型やコンタクトレンズ型組立品が載置さ
れている特定のパレットに関する特定時点までの処理条
件が、指定された範囲および許容範囲に従って実施され
ているかどうかに関する情報から成る。この情報は、特
定のパレットに載置された製品が合格品か不良品かを判
断するのに用いられる。あるパレットに載置された製品
が不良品である、つまり処理規定パラメータから外れて
いると判断された場合には、パレットシステム１０に設
けられた適切な手段により、このパレットが不合格とな
る。各パレットの時間情報は、各パレットについて処理
条件状況が最後に更新された特定の時点、つまりパレッ
トが特定のバーコードスキャナを通過した時点から成
る。各パレットが特定の処理または事象を受ける、例え
ば特定の処理装置に入ったりこれから出たりする時間
は、後で特に詳細に述べる方法で、記憶装置内の時間情
報項目を用いて、ＰＬＣにより計算される。多様なＰＬ
Ｃを備えた制御手段１００には、パレット時間（タイム
スタンプ）情報を判断するための、１０秒の解像度を持
つ、つまり１０秒毎に増加する主クロック（図示せず）
を含んでいる。主クロックは、ロットの切り換え（後で
説明する）毎に、またはプログラムのダウンロードの後
で、−３２０００にリセットされ、主クロックがリセッ
トされる前の主クロックの最大値は＋３２７６７であ
る。これにより、このシステムでは、主クロックが再度
初期化されるまで、全体として１７９時間かかる。パレ
ットのクロックを管理するとともに時間を確実に変更す
るために、このソフトウェアは、パレットの主クロック
上の数値（秒）を表す値ＰＡＬＬ ＳＥＣ ＴＩＣと、
主クロックが最後にリセットされてからのパレットのク
ロック時間を表すＰＡＬＬ ＣＬＯＣＫを定めている。
【００２３】図１から分かるように、生産ライン追跡・
品質管理システム１１は、図１で部品１１０−１１９と
して示された、生産設備において戦略的箇所に設けられ
たバーコードスキャナ装置を備えている。各バーコード
スキャナ装置１１０−１１９としては、 のScan
star Inc. で製造されているScanstarのモデルＮｏ．１
１０で製造されたバーコードレーザースキャナが適して
おり、コンタクトレンズ半型または型組立品が載置され
た各パレットの識別を行う。すなわち、図１に示された
位置に設けられた各バーコードスキャナは、パレット固
有の識別バーコードを走査して、下を通過する各パレッ
トを識別するのである。後で詳細に説明するように、識
別されたパレットに関連した記憶場所の処理状況情報お
よび／またはタイムスタンプ情報を更新するために、好
適な実施例では整数である、識別されたパレットに対応
するデータがＰＬＣにインプットされるように、Scanst
arのモデルＮｏ．２４０（図示せず）などの解読器が、
各バーコードスキャナに設けられている。各バーコード
スキャナの解読器は、好ましくは星形形状にネットワー
ク連結されている。
【００２４】各ＰＬＣ記憶装置（１０４ａ，ｂ，ｃ）の
記憶機構の好適な実施例は、図３に図示されている。と
りわけ、各パレットには、少なくとも３つの記憶場所が
与えられている。つまり、各パレットに関する処理条件
状況情報データを格納しており、今後はＰＡＬＬ ＳＴ
ＡＴＵＳと呼ぶ記憶場所と、各パレットに関する時間情
報データ（タイムスタンプ）を格納しており、今後はＰ
ＡＬＬ ＴＩＭＥと呼ぶ記憶場所と、パレット識別番号
を格納するための第三の記憶場所、すなわちアレイ用の
ポインタ１６０である。これは、ＰＡＬＬ ＩＤ ＮＵ
Ｍと呼ぶ。ＰＡＬＬ ＳＴＡＴＵＳ情報を含む連続的な
記憶場所１７０のブロックと、ＰＡＬＬＴＩＭＥ情報を
含む連続的な記憶場所１８０のブロックを有するアレイ
または索引テーブルとして、記憶装置を構成することが
好ましい。図３に示したように、各ブロック１７０，１
８０の特定の記憶場所１５５，１５６は、パレットの識
別番号ＰＡＬＬ ＩＤ ＮＵＭがポインタ１６０である
アレイタイプに基づいてアクセスできる。特定の装置に
位置するパレットのＩＤ番号（ＰＡＬＬＥＴ ＩＤ）を
持つＳＴＡＴＩＯＮ ＮＵＭ情報を含む、第三の連続的
な記憶場所１９０のアレイブロック１９０が設けられる
ことが好ましい。ＳＴＡＴＩＯＮ ＮＵＭアレイには、
ＰＬＣで制御される装置と同じ数の要素のみが必要であ
る。ＰＡＬＬ ＳＴＡＴＵＳブロック１７０とＰＡＬＬ
ＴＩＭＥブロック１８０には、ラインのうち、特定の
ＰＬＣで制御される部分に位置するパレットと同じ数の
要素のみが必要である。図３のように、定常状態操作の
間、システム１０に存在するパレットの最大数より多い
部品が、１から４００までの番号を付けられている。
【００２５】プロセス条件状況記憶ブロック１７０の各
場所１５５は、システム内の識別された各パレットのあ
る時点での状況に関するＰＡＬＬ ＳＴＡＴＵＳ情報を
記憶するための、１６ビットのアドレス可能レジスタか
ら成る。同様に、タイムスタンプ記憶ブロック１８０の
各場所１５６は、識別された各パレットが特定のバーコ
ードスキャナを通過する時間に関するＰＡＬＬ ＴＩＭ
Ｅ情報を記憶するための、１６ビットのアドレス可能レ
ジスタから成る。ＰＡＬＬ ＳＴＡＴＵＳ情報は、識別
されたパレットに載置された製品の状況が合格品かどう
かを示す正（＋）の整数と、識別されたパレットに載置
された製品の状況が不良品かどうかを示す負（−）の整
数のいずれかから成ることが好ましい。しかし、合格品
対不良品に関連するものならいかなる案でもよいことは
理解できよう。ＰＡＬＬ ＳＴＡＴＵＳ記憶場所１５５
の不良品対合格品のこの連関により、ＰＬＣは、レンズ
生産設備の特定装置で識別されたパレットに操作を行う
べきかどうかを決定できる。識別されたパレットの状況
が負であれば、それ以上の操作は行われず、不合格装置
に達するまで、負の状況が持続する。不合格（負の状
況）に関する最初の原因のみが記憶されること、および
パレットがシステムから除去される前に同じパレットに
ついて連続的に受け取られた不良品の結果はすべて無視
されることは、述べておかなければならない。
【００２６】状況・タイムスタンプ１８２情報は、特定
装置に含まれるパレットに関するパレット状況情報を持
つ１６ビットのレジスタである、ソフトウェア駆動シフ
トレジスタに入力される。シフトレジスタは、主に、ガ
ス抜き装置や硬化装置のような緩衝部分において、パレ
ットを追跡するのに、使用される。後で詳細に説明する
ように、各シフトレジスタは、特定パレットに関するパ
レット番号と状況情報を有している。パレット自体がシ
ステムのある部分を進む際に、これらのレジスタ内のデ
ータが次のレジスタにシフトされる。これについては、
後で詳述する。
【００２７】本発明と同じ譲受人に譲渡された"Compute
r Programfor Quality Control" （品質管理用コンピュ
ータプログラム）という名称の同時係属特許出願U.S.S.
N.08/257,800 （代理人事件整理番号#9015）にさらに詳
しく説明されているように、データ獲得システム（図示
せず）では、特定の処理動作について各ＰＬＣから発せ
られたアラーム信号により集められたそれぞれの処理パ
ラメータ値とともに、不合格コード（負のＰＡＬＬ Ｓ
ＴＡＴＵＳ値）を集め、識別されたパレットが存在する
様々な処理装置における処理パラメータと処理条件を連
関させるセルスーパバイザに、この情報をインプットす
る。その結果、レンズ製造システムの最も問題の多い部
分を強調した図が作成される。このデータ獲得・スーパ
バイザプログラムによって、品質向上と処理の最適化を
目的として、製品・処理情報とコンタクトレンズの品質
情報の間の相互関連が明らかになる。
【００２８】以下では、本発明の生産ライン追跡・品質
管理システムのバーコード追跡機能に関する説明を行
う。
【００２９】制御システム１００、特にＰＬＣ１０２
ａ，ｂ，ｃによって、Ｏ2 露出時間、光度、温度などの
一またはそれ以上の処理条件パラメータに関する許容範
囲外で特定のパレットが処理されたと判断されると、制
御システム１００は、この許容範囲外条件の特定パレッ
トを製造設備内の次の処理装置でさらに処理すべきかど
うかを判断する。さらに、特定パレットを不合格である
と見なすべきかどうかも判断される。
【００３０】生産追跡・品質管理システムでチェックさ
れる最初の処理条件は、射出成形アセンブリ２０，３０
から前曲面半型と後曲面半型のそれぞれが出てから、パ
レット１２ａ，１２ｂがそれぞれロボットアセンブリ２
２，２４から半型を受け取り、半型が窒素緩衝装置に入
るまでの、前曲面半型または後曲面半型の大気（酸素）
露出時間である。
【００３１】図５は、前曲面型部と後曲面型部を、各コ
ンタクトレンズ射出成形アセンブリ２０，３０からパレ
ットシステムの各パレット１２ａ，１２ｂまで搬送する
ための、ロボット装置２２，２４の詳細図である。各射
出成形アセンブリ２０，３０の詳しい説明は、本出願と
同じ譲受人に譲渡された"Low Oxygen Moldingof SoftCo
ntact Lenses" （ソフトコンタクトレンズの低酸素成
形）という名称の同時係属出願U.S.S.N.08/257,802（代
理人事件整理番号 #8997）に記されている。この出願の
開示内容は、参考として本出願に取り入れられている。
各ロボット装置２２，２４の詳細な説明は、本出願と同
じ譲受人に譲渡された"Apparatusfor Removingand Tran
sporting ArticlesfromM olds"（製品を型から取り外し
て搬送する装置）という名称の同時係属出願U.S.S.N.08
/258,267（代理人事件整理番号#9002 ）に記されてい
る。この出願の開示内容も、参考として本出願に取り入
れられている。さらに図５において、各コンタクトレン
ズ射出成形アセンブリ２０，３０は、それ独自のＰＬＣ
１０２ｄ，１０２ｅにより、制御される。ＰＬＣはそれ
ぞれ、各アセンブリで行われる処理に関わるとともにこ
れを管理し、後で詳細に説明するパレット追跡・品質管
理プロセスを開始させる。
【００３２】一般的に、ロボット装置２２には、射出成
形アセンブリ２０から一回分（バッチ）の前曲面レンズ
型部を取り出すとともに、この製品を第一位置まで移送
するための第一ロボットアセンブリ１５が設けられてい
る。アセンブリ１７は、第一位置においてアセンブリ１
５から前曲面レンズ型部を受け取るために設けられたも
のである。ロボットアセンブリ１６は、アセンブリ１７
から前曲面レンズ型部を受け取るとともに、この製品を
第二位置から変換装置３８の変換ヘッド３８ａまで移送
するために、設けられている。変換装置３８は、ロボッ
トアセンブリ１６で運ばれてきた前曲面レンズ型部の方
向を変換するものである。この変換が必要なのは、ロボ
ットアセンブリ１６が非光学（凸）面で前曲面型部を扱
っており、アセンブリ２２から前曲面型部を受け取るに
は、クランプ手段３７ａ，ｂにより瞬間的に休止するパ
レット１２ａに各型部の非光学面が載置されるように、
方向を変換しなければならないからである。図５から分
かるように、一組のクランプ爪３７ａ，ｂ（破線で示
す）から成るクランプ機構３７は、変換ヘッド３８ａに
よって前曲面半型が空のパレット１２ａ上に載置される
ように、このパレットを適宜クランプしてその動作を停
止させるように、コンベヤ２７の反対側に位置してい
る。射出成形アセンブリからコンベヤ２７上のパレット
１２ａへ、前曲面レンズ半型を変換させる処理は、大気
環境で行われることに言及しておかなければならない。
【００３３】上述した"Low Oxygen Moldingof Soft Con
tact Lenses"（ソフトコンタクトレンズの低酸素成形）
という名称の同時係属出願（代理人事件整理番号（ #89
97）に詳細に説明されているように、過度の酸素への露
出によるレンズ型の劣化を避けるため、コンタクトレン
ズ処理の間、前曲面型部を低酸素環境に移送しなければ
ならない。従って、図５に見られるように、ロボットア
センブリから各パレット１２ａに前曲面半型を連続して
移送した直後に、パレットは、クランプ機構３７ａ，ｂ
から外されて、窒素ガスカバー４６へと移送される。
【００３４】図４（ａ）に示した生産ラインパレット追
跡・品質管理を開始するには、図４（ａ）ではステップ
３４１と表されているように、前曲面レンズ半型の第一
バッチが射出成形アセンブリ２０から出されてロボット
アセンブリ２２に移送される前に、ＰＬＣ１０２ｄが第
一タイマー（タイマーＡ）を開始させる。前曲面レンズ
型部の第二バッチが射出成形アセンブリ２０から出され
てロボットアセンブリ２２へと移送される前に、第二タ
イマーが始動されるとともに準備が行われる。これは、
図４（ｂ）ではステップ３４１’と表されている。いつ
いかなる時でも、２組の前曲面（または後曲面）半型
が、射出成形アセンブリと窒素緩衝カバーの間で空気に
露出されるため、二つのタイマー（従って２つの制御ル
ープ）が用いられる。すなわち、ステップ３４３で第一
組の前曲面型部が射出成形アセンブリ２０から出た際
に、ＰＬＣ１０２ｄにより第一ストップウオッチタイマ
ーを始動させて（ステップ３４５）、この第１組の酸素
露出のタイミングを開始させる。この第一タイマーデー
タは、２ビットの記憶場所であるフリップフロップポイ
ンタレジスタにより指定された別のＰＬＣタイムレジス
タ（図示せず）に記憶される。半型の移送は進行し、ス
テップ３４８で、前曲面レンズ型部の第一バッチがパレ
ット１２ａに載置される。パレットに載置された後、タ
イマーが停止し、ここまでＯ２ＡＩＲＭＡＸと示されて
いる最長酸素露出時間を判断するために、ステップ３４
９で第一ストップウオッチタイマーの数値が評価され
る。好適な実施例では、この最長空気露出時間は、１２
秒以下である。一方、第一組の前曲面半型がパレット１
２ａまで移送される間に、第二組の前曲面半型が射出成
形アセンブリ２０から出される。すると、ＰＬＣ１０２
ｄは（ステップ３４５’で）第二ストップウオッチタイ
マーを始動させて、ステップ３４３’で第二組の前曲面
半型が射出成形アセンブリ２０から出される際に、この
第二組の酸素露出のタイミングを開始する。このタイム
スタンプは、別のＰＬＣタイムレジスタ（図示せず）に
位置する第二タイマーレジスタに記憶される。（第一組
の曲面が第一パレットに載置された後に）、この第一組
について時間の比較が行われると、次に、ステップ３４
９で第二組の曲面について時間の追跡を行うため、フリ
ップフロップポインタ（図示せず）が第二タイマーを指
定する。これにより、射出成形アセンブリ２０から出さ
れた次の組の半型についての露出時間を評価できるよう
に、第一タイマーがリセットされて、初期化される。第
一タイマーで計測した結果、１２秒の露出時間を超過す
ると、エラーフラグが生成されて、パレットが識別され
るまで一時的に記憶される。
【００３５】ステップ３４８’で第二組の前曲面を受け
取るように位置決めされた第二パレットコンベヤに、第
二組の曲面が載置された後、ステップ３４９’で、第二
ストップウオッチタイマーが停止して、第二組の曲面の
最長酸素露出時間を判断するために、第二ストップウオ
ッチタイマーの数値が評価される。この最長空気露出時
間は、やはり１２秒以下でなければならない。この後、
次の組の半型について露出時間を評価できるように、第
二タイマーがリセットされ、初期化が行われる。１２秒
の露出時間が超過すると、エラ−フラグが生成され、パ
レットが識別されるまで一時的に記憶される。
【００３６】第一組の前曲面がパレット１２ａまで移送
された直後、ＰＬＣ１０２ａに設けられた第三タイマー
（図示せず）が作動して、パレットに載置された時間を
記録する。次に、窒素ケース４６までパレットを搬送で
きるように、クランプ機構３７ａ，ｂが解除される。図
５のバーコード走査装置１１１が、次に、パレットのバ
ーコード１３５を走査してパレットを識別し、識別され
たパレットが窒素トンネル４６に入った時間を記録する
ためＰＡＬＬ ＩＤ ＮＵＭに対応する記憶場所にアド
レスする。ＰＬＣは、次のように、窒素トンネル４６に
入った識別済パレット１２ａについて、タイムスタンプ
値をＰＡＬＬ ＴＩＭＥアレイ１８０に書き込む。 PALL TIME PALL ID NUM := PALL CLOCK ; 次に、第三タイマーで記録された時間とバーコードスキ
ャナ１１１の第一タイムスタンプの間の時間差が３秒以
下であるか、そして、エラーフラグレジスタ（ＰＬＣ１
０２ｄにあるが図示せず）に記憶されているように、パ
レットの露出時間が１２秒を越えると前もって決定され
ているかどうかについて、ＰＬＣ１０２ａによる判断が
行われる。露出時間が上記の範囲内であるとＰＬＣが判
断すれば、この第一パレット（例えばパレット番号１）
の操作状況は良であり、ＰＬＣは、次のように、ＰＡＬ
Ｌ ＳＴＡＴＵＳアレイ１７０のある場所に処理条件デ
ータを入力する。 ＰＡＬＬ ＯＫ ＣＯＤＥが、パレット状況が良である
ことを示す１６ビットワードの場合。図３のように、記
憶場所ＰＡＬＬ ＳＴＡＴＵＳ〔１〕におけるＰＡＬＬ
ＳＴＡＴＵＳデータは、前曲面レンズ半型の空気露出
時間が１５秒未満であることを示すプラス１の値であ
る。同様に、ＰＬＣが露出時間が上述の範囲内でないと
判断した場合には、この第一パレット（例えばパレット
番号１）の操作状況は不良と見なされ、ＰＬＣは、次の
ようにＰＡＬＬ ＳＴＡＴＵＳ記憶アレイ１７０に数値
を入力する。 PALL STATUS PALL ID NUM := -1; 特定のパレットに対応するＰＡＬＬ ＳＴＡＴＵＳ記憶
アレイ１７０の処理条件状況データに−１の値を入れる
ことは、前曲面レンズ半型の空気露出時間が１５秒以上
であり、このパレットを不合格にすべきであることを示
している。このシステムに入る前曲面レンズ半型を受け
取るパレット１２ａ列のそれぞれについて、このプロセ
スが繰り返される。後で詳細に説明するように、射出成
形アセンブリ３０から出される後曲面レンズ半型につい
ても、全く同じプロセスが実施されることに注意してほ
しい。
【００３７】前曲面レンズ半型に関して前に説明したよ
うに、図５に図示された装置３０は、後曲面レンズ半型
のバッチを取り出すとともにこの半型を第一位置まで移
送するための第一ロボットアセンブリ２５を備えてい
る。アセンブリ２８は第一位置のロボットアセンブリ２
５から後曲面レンズ半型を受け取るとともに、この半型
を第一位置から第二位置に移送するためのものである。
ロボットアセンブリ２６は、第二位置のアセンブリ２８
から後曲面レンズ半型を受け取るとともに、第二位置か
ら、後曲面レンズ半型をアセンブリ２４から受け取るた
めに瞬間的に停止する後曲面レンズパレット１２ｂを搬
送する後曲面供給コンベヤ２９沿いの所定位置まで、こ
の半型を移送するために設けられている。射出成形アセ
ンブリからコンベヤ上のパレット１２ａまで後曲面半型
を移送するプロセスは、大気環境において、行われる。
【００３８】後曲面レンズ半型を受け取る各パレット１
２ｂは、前曲面型アセンブリの移送の際に、搬送コンベ
ヤベルト２９上で瞬間的に停止する。図５から分かるよ
うに、後曲面半型がロボットアセンブリ２６によってパ
レット上に載置される間、空のパレット１２ｂのコンベ
ヤ２９上での移動を停止させるように、一組のクランプ
爪３６ａ，ｂから成るクランプ機構３６が、適宜このパ
レットをクランプする位置に設けられている。クランプ
機構３６，３７の動作は、"Contactlens Production Li
ne Pallet System" （コンタクトレンズ生産ラインパレ
ットシステム）という名称の上述の同時係属特許出願U.
S.S.N.08/257,786に、詳しく説明されている。すでに説
明したが、図５のように、レンズ型の劣化を避けるた
め、ロボットからパレットへと半型が移送された直後
に、後曲面レンズ半型が載置されている各パレット１２
ｂはクランプ機構３６ａ，ｂから外されて、窒素ガスケ
ース４６へと搬送される。
【００３９】図４（ａ）と（ｂ）について前に説明した
ように、生産ラインパレット追跡・品質管理を開始する
には、後曲面レンズ半型の第一バッチが射出成形アセン
ブリ３０から出てロボットアセンブリ２４へと移送され
た時に、ＰＬＣ１０２ｅが第一タイマーを始動させ、後
曲面レンズ半型の第二バッチが射出成形アセンブリ３０
から出てロボットアセンブリ２４へと移送された時に、
第二タイマーを始動させる。いつでも、二組の後曲面半
型のみが射出成形アセンブリと窒素緩衝ケースの間で空
気に露出されるので、二つのタイマーが使用される。す
なわち、後曲面半型の第一組が射出成形アセンブリ３０
から出る際に、この第一組の酸素露出のタイミングを開
始するための第一ストップウオッチタイマー（図示せ
ず）をＰＬＣ１０２ｅが始動させる。この第一タイマー
のデータは、好適な実施例では、２ビットのブールレジ
スタであるフリップフロップポインタによりポイントさ
れた、別のＰＬＣタイムレジスタ（図示せず）に記憶さ
れる。半型の移送は進行し、パレット１２ｂに後曲面レ
ンズ型部の第一バッチが載置される。パレットへの載置
が終了すると、タイマーが停止し、それまでの最長酸素
露出時間を判断するために、第一ストップウオッチタイ
マーの数値が評価される。好適な実施例では、この最長
空気露出時間は１２秒以下でなければならない。一方、
第一組の後曲面がパレット１２ｂに移送される間に、第
二組の後曲面が射出成形アセンブリ３０から出る。第二
組の後曲面半型が射出成形アセンブリ３０から出た際
に、この第二組の酸素露出のタイミングを開始するため
に、第二ストップウオッチタイマー（図示せず）がＰＬ
Ｃ１０２ｅによって始動される。このタイムスタンプは
第二タイマーレジスタ（図示せず）に記憶される。（第
一パレットに載置された後に）第一組の後曲面について
時間の比較が行われた後、フリップフロップポインタ
（図示せず）が、第二組の後曲面について時間の追跡を
行うように第二タイマーに指示する。これにより第一タ
イマーがリセットして、射出成形アセンブリ３０から出
てくる次の組の半型について露出時間を評価できるよう
に、初期化される。第一タイマーで計測した結果、１２
秒の露出時間が超過すると、エラーフラグが生成され、
パレットが識別されるまで一時的に記憶される。
【００４０】第二組の後曲面を受け取るように位置決め
された第二パレットに第二組の後曲面が載置されると、
第二ストップウオッチタイマーが停止し、第二組の後曲
面について最長酸素露出時間を判断するために、第二ス
トップウオッチタイマーの数値が評価される。最長空気
露出時間は、やはり１２秒以下でなければならない。次
に第二タイマーがリセットされ、次の組の半型について
露出時間の評価を行えるように、初期化される。１２秒
の露出時間を超過すると、エラーフラグが生成されて、
パレットが識別されるまで一時的に記憶される。
【００４１】第一組の後曲面半型がパレット１２ｂへ移
送された直後、ＰＬＣ１０２ａに設けられた第三タイマ
ーが、パレットに載置された時間を記録するために作動
する。次に、窒素ケース４６へパレットを搬送できるよ
うに、クランプ機構３６ａ，ｂが解除される。図５のバ
ーコード走査装置１１０が次に、パレットのバーコード
１３５を走査してパレットを識別し、識別されたパレッ
トが窒素トンネル４６に入った時間を記録するため、Ｐ
ＡＬＬ ＩＤ ＮＵＭに対応する記憶場所をアドレスす
る。ＰＬＣは、次のように、窒素トンネル４６に入る各
識別済パレット１２ｂについて、タイムスタンプ値をＰ
ＡＬＬ ＴＩＭＥアレイ１８０に書き込む。 ＰＬＣ１０２ａは次に、第三タイマーで記録された時間
とバーコードスキャナ１１０の第一タイムスタンプの間
の時間差が３秒以下かどうかを判断し、エラーフラグレ
ジスタ（図示せず）に記録されたようにパレットの露出
時間が１２秒を越えると前もって判断されている場合に
は、露出時間が上記の範囲内であるとＰＬＣが判断する
と、パレット（例えばパレット番号２）の運転状況は良
となり、ＰＬＣは処理条件データを、次のようにＰＡＬ
Ｌ ＳＴＡＴＵＳアレイ１７０内のある場所に入力す
る。 これは、ＰＡＬＬ ＯＫ ＣＯＤＥが、パレット状況が
良であることを示す１６ビットのワードの場合である。
図３にみられるように、記憶場所ＰＡＬＬ ＳＴＡＴＵ
Ｓ〔１〕におけるＰＡＬＬ ＳＴＡＴＵＳデータは、後
曲面レンズ半型の空気露出時間が１５秒未満であること
を示す＋２１の値である。同じように、露出時間が上述
の範囲内であるとＰＬＣが判断した場合は、パレットの
操作状況は不良であると見なされ、ＰＬＣは、次のよう
にＰＡＬＬＥＴ ＳＴＡＴＵＳ記憶アレイ１７０のある
場所に数値を入力する。 PALL STATUS PALL ID NUM := -21 ; 特定のパレットに対応するＰＡＬＬ ＳＴＡＴＵＳ記憶
アレイの処理条件状況データに２１の数値が入力される
のは、後曲面レンズ半型の空気露出時間が１２秒を越え
ること、そしてパレットを不合格とすべきであることを
示している。システムに入る前曲面レンズ半型を受け取
ったパレット列１２ｂのそれぞれについて、このプロセ
スが繰り返される。このプロセス全体は、射出成形アセ
ンブリ３０から出た後曲面レンズ半型の各組についても
繰り返されることに、注意してほしい。
【００４２】本発明の生産追跡・品質管理システムで監
視される次の処理条件は、窒素ケース４６から成るガス
抜き（窒素緩衝）装置で生ずるものである。ガス抜き処
理は、前に露出が行われた前曲面レンズ半型および後曲
面レンズ半型から酸素のパージングを最大限に行うこと
で、完了する。酸所露出時間が約１２秒から１５秒の場
合には、窒素トンネル４６で最低３分間処理する必要が
ある。このパージング時間は、幾何学的で、酸素露出時
間が３０秒以上の場合、窒素トンネルで３０分間処理す
る必要がある。Ｎ2 のガス抜き時間は、モノマー充填・
型組立装置５０に入る時点で検査される。ここでは、バ
ーコードスキャナ１１２が、装置５０に入る各パレット
１２ａ，ｂを識別して、識別された各パレット１２ａ，
１２ｂがモノマー充填装置に入る時間に対応するタイム
スタンプ値を生成するようにＰＬＣに通知する。ＰＬＣ
は、モノマー充填・型組立装置５０に入る識別済の各パ
レットに対応する記憶アレイ１８０のＰＡＬＬ ＴＩＭ
Ｅ〔ＰＡＬＬ ＩＤ ＮＵＭ〕の場所に、タイムスタン
プ値を書き込み、前の第一タイムスタンプ値（窒素トン
ネルに入る時間を示す）と最近のタイムスタンプ値（モ
ノマー充填装置に入る時間を示す）の時間差が３秒以上
であるかどうかについて、判断を行う。ＰＬＣは、次の
ように、各パレットについてバーコード走査の間の時間
差の計算を行う。
【００４３】窒素充満ケース４６内における各パレット
の移送時間つまりＰＡＬＬ ＴＩＭＥ−ＤＩＦが３秒を
越えるとＰＬＣが判断した場合には、パレットの操作状
況は良で、充填／型組立モジュール５０に入るようにパ
レットが解除され、ＰＬＣは次のように、ＰＡＬＬＥＴ
ＳＴＡＴＵＳアレイ１７０内のある場所に処理条件デ
ータを入力する。 PALLOKCODE:=+2 PALLSTATUSPALLIDNUM: =PALLOKCODE; ここにおいて、ＰＡＬＬ ＯＫ ＣＯＤＥ：＝＋２は、
前曲面半型が載置されているパレット１２ａは良である
ことを示している。窒素ケース内のパレット移送時間が
上記の範囲内に含まれないと、ＰＬＣが判断した場合
は、３秒経過するまでパレットが窒素ケースの中に保持
される。これを行うのは、図８、図９に示した、パージ
ング時間が３秒に達するまで窒素緩衝装置内にパレット
を保持するための、上流側のクランプ爪１５３ａ，ｂで
ある。
【００４４】窒素ケース４６内において、一つ（または
それ以上）の処理条件の不備、例えば、Ｏ2 ガスの濃度
レベルが許容範囲を越える場合が生じることがある。緩
衝装置内のＯ2 ガス濃度が高いというような不備は、窒
素緩衝装置内のパレットの流れ全体に影響を与えるの
で、すべてのパレットを識別して、記憶アレイ１７０に
不良としてマークしなければならない。
【００４５】図６に見られるように、ケース４６内の酸
素レベルを常に監視するとともに、トンネルケース内の
酸素濃度が約０．３％から０．５％の許容範囲外にある
場合にＰＬＣ１０２ａに信号を発するために、ＰＬＣ１
０２ａとインターフェースする酸素センサ１２１ａから
１２１ｆが、ケース４２内の様々な箇所に設けられてい
る。ケース内のＯ2 レベルがこの範囲内の場合には、充
填装置５０に入る際にバーコードスキャナ１１２で識別
された各パレットについて、パレットが良であることを
示す処理条件状況ＰＡＬＬ ＳＴＡＴＵＳ〔ＰＡＬＬ
ＩＤ ＮＵＭ〕が、ＰＬＣにより更新される。
【００４６】いついかなる時でも、酸素濃度が０．５％
の限度を越えた場合には、その時点で緩衝装置内にある
各パレットの操作状況は、許容範囲外の状況であること
を示すものでなければならない。さらに、このような出
来事により、介入が必要なことを示すアラームつまり警
告信号が起動されなければならない。ＰＬＣ１０２ａは
次に、連続して窒素緩衝装置に入った特定のパレット
が、許容範囲外条件が生じた時点でこの緩衝装置内にあ
ることを示す＋１と＋２１の値について記憶アレイ１７
０を走査して、各状況を不良（−’ｉｖｅ整数）状況に
変更する。すなわち、例えば＋１状況（前曲面）を持つ
各ＰＡＬＬ ＩＤ ＮＵＭについて−１値を入力し、＋
２１状況（後曲面）を持つ各ＰＡＬＬ ＩＤ ＮＵＭに
ついて−２１値を、パレットが良でないため不合格とす
べきであることを示す処理条件状況アレイ１７０に入力
することにより、ＰＬＣが、処理条件状況ＰＡＬＬ Ｓ
ＴＡＴＵＳ〔ＰＡＬＬ ＩＤ ＮＵＭ〕記憶を更新する
のである。
【００４７】"Contact Lens Production Line Pallet S
ystem"（コンタクトレンズ生産ラインパレットシステ
ム）の名称の上述の同時係属特許出願U.S.S.N.08/257,7
86により詳細に説明されているように、後曲面コンタク
トレンズ半型が載置されたパレット１２ａの付近にあ
り、後曲面コンタクトレンズと同数の前曲面コンタクト
レンズ半型が載置されているパレット１２ａを、Ｎ2 ケ
ース４６に全体が覆われた連続パレットコンベヤ３２に
載せるために、連続装置４０が設けられている（図
１）。その目的は、コンタクトレンズ型組立処理のため
に、後曲面半型を載せたパレット１２ｂを最初に、そし
てその直後に前曲面半型を載せたパレット１２ａを、と
いうように、両パレットを交互にかつ連続的に充填・型
組立装置５０へと搬送することである。
【００４８】図５と図７から分かるように、各供給コン
ベヤ２７，２９の各端部２７ａ，２９ａに位置する二重
クロス押圧装置４０は、主の連続コンベヤ３２にパレッ
トを入れるためにトラック１４３に沿って各供給コンベ
ヤ２８，２９からパレットを同時に押圧するための第一
アーム１４１と第二アーム１４２を備えている。図５に
示したように、第一アーム１４１と第二アーム１４２
は、図５の最初の位置から延出位置（図示せず）まで、
トラック１４７に沿って二重矢印で示した方向にスライ
ド可能な取り付け手段１４５上に、平行に設けられてい
る。取り付け手段１４５と第一および第二アーム１４
１，１４２を、水平に位置するパレットの面より上で垂
直方向に持ち上げ、近接して位置するパレット１２ａ，
１２ｂをコンベヤ３２まで押圧してモノマー充填装置ま
で窒素ケース４６内を搬送した後、トラック１４７上の
最初の位置までアームを往復させるために、空気で作動
するリフト手段１４８が設けられている。
【００４９】図７から分かるように、前曲面レンズ半型
が載ったパレット１２ａと後曲面レンズ半型が載ったパ
レット１２ｂがそれぞれ正しい位置にあり、二重クロス
押圧装置４０により正しく配列されていることを確認す
るために、適切な近接センサ１２３ａ，ｂ，ｃ，１２４
ａ，ｂがトラック１４３沿いに位置している。クロス押
圧装置４０により、配列されて順番に位置した状態で、
パレットがモノマー充填・型組立装置５０へ交互に搬送
されるように、近接センサ１２３ａ，ｂ，ｃ、１２４
ａ，ｂがパレットの正しい位置を確認する。近接センサ
１２３ａ，ｂ，ｃ、１２４ａ，ｂは、本質的に冗長であ
り、いずれかのセンサにより順序の誤りが識別される
と、即座にオペレータに通知され、Ｎ2 緩衝装置内のＦ
Ｃ（前曲面半型）／ＢＣ（後曲面半型）パレットの順序
が間違っていることが判明するのである。
【００５０】パレットの配列の誤りが発見されると、Ｐ
ＬＣは、パレットが良であることを示すために、バーコ
ードスキャナ１１２で識別されたパレットについて処理
条件状況ＰＡＬＬ ＳＴＡＴＵＳ〔ＰＡＬＬ ＩＤ Ｎ
ＵＭ〕記憶１７０を更新する。バーコードスキャナ１１
１，１１０で前に記録された前曲面および後曲面のパレ
ットに関する状況が、バーコードスキャナ１１２で走査
された際に、識別されたパレットの配列が誤っているか
どうかを、ＰＬＣが判断する。
【００５１】"Contact Lens Production Line Pallet S
ystem"（コンタクトレンズ生産ラインパレットシステ
ム）という名称の同時係属特許出願U.S.S.N.08/257,786
に説明されているように、前曲面レンズ半型と後曲面レ
ンズ半型を載せたパレット１２ａ，ｂの各組が、パレッ
トを充填装置５０に入れるため前方向の移動が行われる
第二連続装置５５に到達する。
【００５２】図８および図９には、充填・型組立装置５
０のモノマー充填装置５３に、コンベヤ３２からのパレ
ットを一度に二つずつ交互にかつ連続的に移送ための、
精密パレット処理装置５５が図示されている。すなわ
ち、コンベヤ３２上の交互のパレット１２ｂ，１２ａの
前方移動は、図９のように、一組のクランプ爪１５１
ａ，ｂにより、最初に終了する。第一パレットの動きが
停止すると、交互に連続するパレット１２ａ，ｂがその
後ろに積み重ねられる。
【００５３】ＰＬＣ１０２ａに制御されると、次に、静
止状態のクランプ爪１５１ａ，ｂが外れて、バーコード
スキャナ１１２による追跡が可能となる。爪１５１ａ，
ｂが外れた後、パレットは上流側の一組のクランプ爪１
５３ａ，１５３ｂへと正確に搬送される。図９から分か
るように、ここで、最初のパレット１２ｂをクランプす
ることにより、パレットの前方移動が再び終了する。こ
れによりバーコードスキャナ１１２は各パレットを識別
する。その結果、パレットが充填・型組立装置に入る前
に、Ｎ2 緩衝時間が３分を越えるかどうかをＰＬＣが正
確に判断してＢＣ／ＦＣの配列を確認できるように、識
別された各パレットについて記憶アレイ１８０のＰＡＬ
Ｌ ＴＩＭＥ〔ＰＡＬＬ ＩＤ ＮＵＭ〕場所のそれぞ
れに、新しいタイムスタンプ値が、ＰＬＣにより入力さ
れる。このようにして、前曲面レンズ半型を載せた各パ
レット１２ａがモノマー充填の準備ができているかどう
か、そして型組立の準備ができているかどうかを、ＰＬ
Ｃが確認する。
【００５４】充填装置に入る各パレットについて状況検
査が終了すると、後曲面レンズ半型を載せた第二パレッ
ト１２ｂと前曲面レンズ半型を載せた第二パレット１２
ａが、ラム１５４の押圧器１５４ａの前方において”
Ａ”として示された位置｛１｝に並ぶように、ＰＬＣの
正確な制御に基づいて、クランプ爪１５３ａ，ｂが連続
的に開閉する。次に、ＰＬＣの正確な制御に基づき、空
気シリンダ装置１５８によって駆動されるラム１５４が
適宜作動して、ラム１５７のラムヘッド１５７ａと並ぶ
とともに図８に位置”Ｃ”として示されている位置
｛２｝へと、矢印”Ｂ”で示された方向にパレットの長
さに等しい距離だけ、スライド板３２ａに沿ってパレッ
ト１２ａ，ｂを押圧する。適当な手段（図示せず）によ
って駆動されるサーボモータであるラム１５７が適宜作
動して、モノマー充填装置５３での処理のためにパレッ
トの幅±０．１ｍｍにほぼ等しい距離だけ矢印”Ｄ”で
示された方向にトラック３２ｂに沿ってパレット１２
ａ，１２ｂを押圧する。ＰＬＣの制御下で、１２のパレ
ットが充填装置・型組立アセンブリでの処理のため、こ
こに連続的に入っていく。パレットが充填アセンブリ５
０内にある際にエラーが発生した場合には、ＰＬＣがシ
フトレジスタ制御によりパレットを追跡できるように、
これらの処理のタイミングは正確であることを理解して
いただきたい。これについては、後で詳細に説明する。
【００５５】充填・型組立アセンブリ５０内でのパレッ
ト状況情報の追跡は、一連のシフトレジスタにより行わ
れる。図８から分かるように、処理のためにパレットを
配置するための｛１｝，｛２｝，．．．｛１１｝で示さ
れた指標位置が１１箇所設けられており、各位置におけ
るパレットの状況とパレットＩＤ情報を記憶するため
に、シフトレジスタが各位置に設けられている。押圧ア
センブリ１５４，１５７により充填・型アセンブリ装置
５０内で交代するパレットに指標が付けられると、対応
するシフトレジスタに含まれたパレット状況とパレット
ＩＤ情報が、次のレジスタ位置にシフトされる。ｉ＝
１，２，．．．１１の場合の変数ＳＴＡＴＵＳ ＢＡＳ
Ｅ〔ｉ〕とＩＤＢＡＳＥ〔ｉ〕には、後曲面半型を載せ
たパレット１２ｂの状況とパレットＩＤ情報が含まれて
いる。ｊ＝１，２，．．．１１の場合の変数ＳＴＡＴＵ
Ｓ ＦＲＯＮＴ〔ｊ〕とＩＤ ＦＲＯＮＴ〔ｊ〕は、前
曲面半型を載せたパレット１２ａの状況とパレットＩＤ
情報をそれぞれ含んでいる。
【００５６】操作時には、交互に移送されるパレットの
それぞれが窒素緩衝装置に存在し、図８で位置｛１｝と
記された場所に入ると、バーコードスキャナ１１２で更
新されたパレット状況とパレットＩＤ情報が第一シフト
レジスタに入力される。例えば、後曲面半型を載せたパ
レットについては、状況情報がＳＴＡＴＵＳ ＢＡＳＥ
〔１〕変数に入力されるとともに、パレットＩＤ番号が
ＩＤ ＢＡＳＥ〔１〕に入力される。次に連続する前曲
面半型を載せたパレットが位置｛１｝に入ると、バーコ
ードスキャナ１１２からの状況情報がＳＴＡＴＵＳ Ｆ
ＲＯＮＴ〔１〕変数に入力されるとともに、パレットＩ
Ｄ番号がＩＤ ＦＲＯＮＴ〔１〕に入力される。前曲面
半型を載せたパレットが位置｛１｝に入る前に、押圧器
１５４が後曲面半型のパレット１２ｂを｛２｝の位置に
置き、インデックス位置｛１｝についてシフトレジスタ
に記憶された状況とパレットＩＤ情報が、シフトレジス
タ位置番号｛２｝に割り当てられる。例えば、 STATUS BASE2 := STATUS BASE1 ; ID BASE2 := ID BASE1; 位置｛１｝と｛２｝は、窒素緩衝装置の出口と充填・型
組立アセンブリ装置５０への入口を、物理的に分けてい
る。図８の位置｛２｝では、８個の半型がすべて特定の
パレットにあることを検知するために、８個の光電セン
サ（図示せず）が設けられている。半型が存在しないと
検知されると、ＳＴＡＴＵＳ ＢＡＳＥ〔２〕（前曲面
半型が載置されたパレットについてＳＴＡＴＵＳ ＦＲ
ＯＮＴ〔２〕）に含まれる情報が、特定の後曲面半型ま
たは前曲面半型を載せたパレットが不良であることを示
す負の状況番号で更新される。この状況は、連続するレ
ジスタ位置にシフトされ、不良品のパレットが充填・型
組立アセンブリ装置を通過する際にパレットとともに残
る。
【００５７】次に進むと、最初の後曲面半型を載せたパ
レットが、押圧器１５７によって、図８で｛３｝と付け
られたアイドル位置に置かれた後、第一前曲面半型を載
せたパレットが位置｛２｝に置かれる。両パレットにつ
いてのパレット状況情報とパレットＩＤ情報は、次のよ
うに変換される。 ID FARONT2 := ID FRONT1 ; STATUS FRONT2 := STATUS FRONT1; ID BASE3 := ID BASE2; STATUS BASE3 := STATUS BASE2;
【００５８】ラム押圧器１５７によって、図８の位置
｛３｝に後曲面を載せたパレットが配置されると、８個
の半型すべてが正確に腔内に位置しているかどうかを確
認する分散検査を行うために、レーザアセンブリ１２２
ａ，ｂが設けられている。半型の位置が正しくないと、
ＳＴＡＴＵＳ ＢＡＳＥ〔３〕またはＳＴＡＴＵＳ Ｆ
ＲＮＴ〔３〕に含まれる情報が、特定の後曲面または前
曲面半型パレットが不良であることを示す負の状況番
号、例えば−６により更新される。さもなければ、処理
条件状況は、パレットが良であるためシフトレジスタを
更新することを示している。このため、状況とパレット
ＩＤはシフトレジスタの内の場所に維持されており、状
況／ＩＤ／記憶は、パレットの合格／不合格の決定がシ
フトレジスタの内容に基づいて各パレットについて行わ
れる場合、最初に不合格となった装置まで追跡されるた
め、記憶アレイ１７０の処理条件を更新する必要はな
い。窒素緩衝装置に存在するすべてのパレットが、許容
条件外であるため不良であると見なされると、すべての
シフトレジスタに不良状況条件が含まれ、各パレットは
充填・型アセンブリ装置での次の処理を受けることな
く、その後、生産ラインから排除される。
【００５９】モノマー充填装置 すでに簡単に説明したが、さらに図１０において、装置
５０の分量・充填機器５３の一部である精密分量ノズル
１８５を用いて、パレット１２ａに載置された前曲面半
型のそれぞれに、重合可能なヒドロゲルまたはモノマー
を、所定量、充填する。モノマーと前曲面半型の間にガ
スが溜まるのを防ぐために、交互のパレット１２ａに載
った前曲面半型のそれぞれに、真空状態でモノマーを充
填する。
【００６０】本発明と同じ譲受人に譲渡され、本発明に
参考として取り入れられている"Methodand Apparatusfo
r Contact Lens Mold Fillingand Assembly"（コンタク
トレンズ型充填・アセンブリの方法と装置）という名称
の同時係属特許出願U.S.S.N.04/258,264（代理人事件整
理番号 #9004）にさらに詳細に説明されているように、
モノマーが比較的高圧の分量ノズルから前曲面半型の周
囲の不活性雰囲気Ｎ2または真空状態で噴射される際
に、溶解したガスが気泡を形成するので、モノマー内の
溶解ガスを確実に取り除くため、最初に、重合可能なモ
ノマー混合物からガス抜きする。さらに、前曲面半型の
凹所に噴射する前に、モノマー溶液の酸素含有量を監視
する。型部の凹所にすべて確実に充填するとともに、成
形が不完全となるのを防ぐために、前曲面半型のそれぞ
れに重合可能なヒドロゲルまたはモノマーを約６０μｌ
付着させる。
【００６１】図１０のように、各パレットの周囲に気密
シールを形成する真空シールアセンブリ１８３に設けら
れた真空ポンプ１８６により作られた真空状態におい
て、モノマーの充填が行われる。余分なモノマーは、前
曲面半型および後曲面半型の組立最終段階で、型部の凹
所から取り除かれる。
【００６２】図８で位置｛４｝に示されている塗布装置
５３では、特定の処理が許容範囲外であったり何らかの
理由で失敗した場合には、この位置における前（または
後）曲面半型パレットについてのシフトレジスタ情報が
更新される。例えば、図１０から分かるように、モノマ
ー噴射ポンプ１８２が故障したり、許容範囲外の割合で
噴射を行った場合、モノマー容器１８４が空だったり低
レベルである場合、モノマー塗布時間が許容限界である
４秒以内でない場合、Ｏ2 センサ１８８で検知されたモ
ノマー内のＯ2 濃度レベルが、５．０ｐｐｍを越えたり
３．５ｐｐｍを下回る場合、真空ポンプ１８６で作られ
た充填アセンブリ内の真空状態が圧力センサ１８７で検
知された許容限度内でない場合には、後で不合格とすべ
き不良のパレット１２ａが存在することを示す、シフト
レジスタＳＴＡＴＵＳ ＦＲＯＮＴ〔４〕に入力するた
めに、特定のエラーに関する不の状況整数が、ＰＬＣ１
０２ａにより生成される。後曲面半型を載せたパレット
１２ｂは位置｛４｝まで搬送されるが、ここで処理され
るのではないことに注意してほしい。しかし、パレット
ＩＤと状況情報は、やはりＳＴＡＴＵＳ ＢＡＳＥ
〔４〕にシフトされる。
【００６３】次の位置についてだが、最初の後曲面半型
パレットは位置｛５｝にあり、この位置はアイドル位置
である。パレット状況とパレットＩＤデータは次のよう
にシフトされる。 ID BASE5 := ID BASE4 STATUS BASE5 := STATUS BASE4 同じように、前曲面半型パレットが位置｛５｝まで搬送
されると、前曲面状況データが次のようにシフトされ
る。 ID FRONT5 := ID FRONT4 STATUS FRONT5 := STATUS FRONT4 同様に、位置｛６｝はアイドル位置なので、前曲面パレ
ットおよび後曲面パレットの状況とパレットＩＤデータ
は、次のようにシフトされる。 ID BASE6 := ID BASE5 STATUS BASE6 := STATUS BASE5 ID FRONT6 := ID FRONT5 STATUS FRONT6 := STATUS FRONT5
【００６４】充填・型アセンブリ装置５０の次のパレッ
トインデックスは、図８に位置｛７｝で示された、界面
活性剤がＦＣに施されるスタンプ装置５６である。前曲
面レンズ半型と後曲面レンズ半型のパレット状況および
パレットＩＤデータは、最初に、以下のように更新され
る。 ID BASE7 := ID BASE6 STATUS BASE7 : =STATUS BASE6 ID FRONT7 := ID FRONT6 STATUS FRONT7 := STATUS FRONT6
【００６５】充填・型アセンブリ装置の次のインデック
スは、図８に位置｛８｝で示されたタブ配列部分であ
る。パレット状況とパレットＩＤデータは次のようにシ
フトされる。 ID BASE8 := ID BASE7 STATUS BASE8 := STATUS BASE7 ID FRONT8 := ID FRONT7 STATUS FRONT8 := STATUS FRONT7
【００６６】上記の処理場所のいずれかで、許容範囲外
の状態が生じる場合は、パレットＩＤとパレット状況デ
ータがすでにシフトされた後であることを述べておかな
ければならない。許容範囲外のパレット状況情報は、こ
の許容範囲外の状態が起きた場所に対応すインデックス
におけるシフトレジスタＳＴＡＴＵＳ ＦＲＯＮＴまた
はＳＴＡＴＵＳ ＢＡＳＥに即座に入る。
【００６７】型組立装置 前に述べたように、最終的に所望のレンズ形状となる補
足的な前曲面半型１３１と後曲面半型１３３を用いて、
モノマー混合物（（図２（ｂ）を直接成形する。続い
て、前曲面半型１３１が重合可能混合物１３２で充填さ
れる充填装置５０での塗布ステップの後、この前曲面半
型１３１は、二つの半型の間に気泡が入り込まないよう
に真空状態で後曲面半型１３３に覆われる。次に後曲面
半型は、レンズの完成品が正しく配列されて歪みが生じ
ないように、凹状の前半型の周縁に載せられる。前曲面
半型と後曲面半型の両側から延出するタブ１３１ｃ，１
３３ｃは、扱いやすくするため、そして重合の後に半型
を梃子で分離し易くするため、図２（ｂ）のような相対
的位置にあることが望ましい。
【００６８】アセンブリ装置５９の操作は、"Methodand
Apparatusfor Contat LensMold Fillingand Assembly"
（コンタクトレンズ型充填アセンブリの方法と装置）と
いう名称の上記の同時係属特許出願U.S.S.N.08/258,264
（代理人事件整理番号 #9004）に詳細に説明されてい
る。ここでは簡潔に述べると、図１１と図１２におい
て、真空ハウジング２７２内を往復するように設けられ
た一連の往復ピストン２７１は、ともに主ハウジング２
７３に支持されるとともにこの中で浮いた状態である。
３つの部材２７１，２７２，２７３の往復回数は様々だ
が、ともに連動し、下に設けられたパレット１２ａ，１
２ｂのうちいずれかとも連動している。
【００６９】操作時には、後曲面半型を載せたパレット
１２ｂが、往復ピストン２７１の下のコンベヤ３２ｂ上
を移動する。パレットが所定位置に達すると、サーボモ
ータ２７７とクロス部材２７８と往復管２７４，２７５
によって、アセンブリモジュール５９が下方向に往復し
て、真空マニホールドハウジングと主ハウジング２７３
を下に引く。真空マニホールドハウジング２７２は、ば
ね（図示せず）によって下向きの位置にバイアスがかけ
られ、各往復ピストン２７１において真空マニホールド
（図示せず）により真空状態となると、往復ピストン２
７１は、パレット１２ｂ上の後曲面半型１３１と当接す
るように下方向にバイアスされる。
【００７０】アセンブリモジュールが移動範囲の最下部
に達すると、各後曲面半型が、往復ピストン２７１内が
真空であるために、後曲面半型パレット１２ｂから取り
出される。次に、空のパレット１２ｂをアセンブリモジ
ュールからコンベヤ３２ｂに沿って移送するため、そし
て充填モジュール５３でそれぞれモノマーが充填された
前曲面半型が載置された新しいパレット１２ａの位置決
めを行うために、アセンブリモジュール５９全体が、
約．２５秒で上方向に往復する。２本のテーパ状位置決
めピンによって、パレット１２ａは正確にピストンと位
置決めされた位置へと進む。この位置決めピン３０６の
うち一本は図示されているが、図２（ａ）のように、パ
レット１２ａ，ｂに形成された位置決め盲穴１２９ａ，
１２９ｂと共働するものである。ピン３０６のテーパ形
状は、半型を正確に組み立てるために±．１ｍｍ以内で
パレットと位置決めするのに十分なものである。
【００７１】真空マニホールドハウジング２７２と主ハ
ウジング２７３を周囲シール３１０がパレット１２ｂの
外周１４０と接触するまで下方向に往復させることによ
り、組立サイクルが開始する。周囲シールと接触する
と、往復クロスヘッド２７８の付近の近接スイッチによ
り、真空スイッチが作動する。この往復クロスヘッド２
７８は、真空マニホールドハウジング２７２とプラット
ホーム２７６の間に形成された室からガスを抜くため
に、真空管３１１および往復駆動管２７４の内部と連通
した第二真空源を作動させる。
【００７２】２本の往復駆動管２７４，２７５内での真
空吸引は、少し異なっていることに注意すべきである。
つまり、後曲面半型にモノマーが充填され前曲面半型と
重ねられるまで後曲面半型が往復ピストン２７１に確実
に保持されるように、管２７５内での真空吸引の程度
は、管２７４内での吸引より少し大きいのである。好適
な実施例では、往復ピストン２７１内での真空吸引が３
から５ミリバールの範囲となる。
【００７３】真空マニホールドハウジング２７２内が真
空状態となると、真空マニホールドハウジング２７２の
往復運動が停止し、パレット１２ｂに対して静止状態と
なる。しかし、二つの半型が組み立てられる際に半型の
凹所への充填が行われるため、後曲面半型がモノマーに
接触した後でゆっくりと上に上がるように、上部の主ハ
ウジング２７３は下方向の往復を継続する。ハウジング
周囲に残った真空状態により、周囲のＮ2 の圧力下で組
立が行われる場合に較べて、二つの曲面半型の組立は迅
速に実行される。真空下で組み立てられると、充填速度
は毎秒５ｍｍの高速に達するのに対して、真空でない
と、レンズ完成品の品質に影響してこれを損なうことに
なるモノマーの不要な撹拌が生じたり気泡が生成される
ため、毎秒１ｍｍを越える速度は期待できない。さら
に、真空下で組立および密封を行うため、真空室から出
た後、型アセンブリが大気圧により相互にクランプされ
ることになる。
【００７４】一組のボアスコープハウジング２８３と２
８４により、検査と品質管理のためにアセンブリの空所
に挿入されるボアスコープ２９１とファイバー光学プロ
ーブ２９２に届く。使用時以外には、ボアスコープハウ
ジング２８３，２８４は、アセンブリのハウジング内が
真空状態となるように、ブラインドで閉じられている。
さらに、真空でない場合には、半型どうしの間、または
モノマーと後曲面半型の間に窒素が閉じ込められて、気
泡やたまりが生じて、結果的にレンズが不合格となるこ
ともある。
【００７５】後曲面半型を前曲面半型にしっかりと固定
するとともに、前曲面半型の上に形成されたナイフリン
グ１３６（図２（ｂ））上に曲面の凸部を置いて、レン
ズブランク１３２のモノマーをＨＥＭＡリング１３２ａ
のモノマーと分離するためには、約０．３ｋｇＦのクラ
ンプ圧力が必要である。半型を載置した後、真空管３０
４のバルブを開くと、各往復ピストン２７１内の真空状
態が破られる。その直後、所定のクランプ時間だけ所定
のクランプ圧力が加えられた後、真空管３１１のバルブ
を開かれると、真空マニホールドハウジングとパレット
１２ａの間の真空状態が破られる。一般的にこの時間
は．５から３秒だが、１．５秒が望ましい。クランプ圧
力はレンズあたり．５から２ｋｇｍの範囲だが、レンズ
当たり１ｋｇｍが適している。その後、駆動モータ２７
７が作動して、サーボモータ２７７によってアセンブリ
モジュール５９全体が上方に持ち上げられ、新しい後曲
面型部を取り上げるとともに、新しい操作サイクルを開
始するために、リセットされる。
【００７６】図８の位置｛９｝で示されたアセンブリ装
置５９では、特定の処理が許容範囲外であったり、何ら
かの理由で実施されない場合には、その位置における前
（後）曲面パレットに関するシフトレジスタの情報が更
新される。例えば、型アセンブリ装置におけるＰＬＣセ
ンサの位置の概略を示した図１２に見られるように、ピ
ストン２７１を真空状態とする真空ポンプ２９３ａが作
動せず、後曲面半型が取り上げられないと、ＰＬＣは、
訂正または調整が必要なことを示す信号を発する。同じ
ように、圧力センサ２２５ａで計測されたアセンブリ真
空室の圧力が１から７ミリバールでない場合や、後曲面
レンズ型部が約０．３ｋｇの制御圧力でこれに対応する
前曲面レンズ型部の上に載置されない場合、またサーボ
モータ２７７が秒速０．２−１ｍｍしい割合アセンブリ
を持ち上げない場合には、後で拒絶すべき不良のＦＣパ
レット１２ａがあることを示すシフトレジスタＳＴＡＴ
ＵＳ ＦＲＯＮＴ
〔９〕に入力するため、ＰＬＣ１０２
ａが特定のエラーに関する負の整数を発する。同様に、
ＢＣを載せたパレット１２ｂに関してエラーが生ずるこ
ともあり、シフトレジスタＳＴＡＴＵＳ ＢＡＳＥ
〔９〕において状況が更新される。
【００７７】ロット変換モード 多様な度数のコンタクトレンズを生産する必要があるた
め、射出成形アセンブリ２０で製造された新しい度数を
持つ曲面、例えば前曲面レンズ型部が、上記の方法でパ
レット１２ａまで搬送される。定常動作を維持するとと
もに中断を最小限に押さえるため、処理すべき新しい前
曲面レンズ型部が適切な装置に入るように、この装置に
フラグを出す。例えば、新しい組の前曲面レンズ型部に
ついて、窒素ケース内の搬送時間を変更する必要があっ
たり、新しいロットの前曲面レンズ型部に付着されるモ
ノマー化合物の量を変更しなければならない場合もあ
る。前に述べたように、ロットを変更する度に主クロッ
クをリセットする。
【００７８】不合格パレット 図８と図１３は、ともに、充填・型組立装置５０の出口
において、特定のパレットを自動的に不合格とする装置
を図示したものである。後曲面レンズ型部を搬送してき
たパレット１２ｂは、装置５０の型組立モジュール５９
から出た後、空になり、射出成形装置３０から新しい組
の後曲面レンズ型部を取り上げるために、供給コンベヤ
２９に戻る。交互に連続するパレットが充填・型組立装
置５０を通過し、各パレットがこの装置５０に入った際
に、タイムスタンプ情報がこのパレットの記憶装置に入
力され、そこでの操作の正確なタイミングが行われる
と、ＰＬＣは、空のパレット１２ｂに関するパレット不
合格をいつ開始すべきかを判断できる。すなわち、図８
と図１３から分かるように、往復ラム１５５を有するラ
ムアセンブリ３５とラムヘッド１５６が、コンベヤ２９
ｂ沿いの”Ｅ”と示された位置（図８）から、矢印”
Ｆ”の方向に、空のパレットを押圧するのである。ここ
で、後曲面レンズ型部取り出し点まで戻すために、後曲
面供給コンベヤ２９がパレット１２ｂを取り上げる。
【００７９】さらに、型組立品を載せた各パレット１２
ａは図８の位置｛１１｝で示された位置にインデックス
されるので、パレットＩＤとパレット状況データは、前
の位置｛１０｝、つまりＩＤ ＦＲＯＮＴ〔１１〕：＝
ＩＤ ＦＲＯＮＴ〔１０〕、ＳＴＡＴＵＳ ＦＲＯＮＴ
〔１１〕：＝ＳＴＡＴＵＳ ＦＲＯＮＴ〔１０〕からシ
フトされる。次に、変数ＳＴＡＴＵＳ ＦＲＯＮＴ〔１
１〕が、不合格パレットであることを示す負の数である
かどうかについて、ＰＬＣが判断を行う。もしそうなら
ば、図８に見られる第二往復ラム１５５’とラムヘッド
１５６’が、不合格の型アセンブリまたは前曲面レンズ
半型を載せたパレット１２ａを、矢印”Ｆ”の方向に、
コンベヤ２７ｂに沿って、前曲面供給コンベヤ２７へと
押圧する。これが行われるのは、射出成形アセンブリ装
置から充填・型組立装置５０までの処理の間に、エラー
が生じたと、生産ライン品質管理システムが判断した場
合である。位置｛１１｝のシフトレジスタの処理条件状
況を検査することにより、ＰＬＣは、特定の処理条件に
ついてエラーが発生したことを知る。
【００８０】コンタクトレンズ生産ライン設備には、型
アセンブリが循環したり、前曲面供給コンベヤ２７上に
ある間に、不合格となったパレット１２ａから型アセン
ブリを取り除くための吸引管装置（図示せず）が含まれ
る。
【００８１】図１から分かるように、空のパレット１２
ｂが循環して、不合格のパレットが拒絶されると、生産
設備のＵＶ予備硬化装置６５、ＵＶ重合装置７５、型外
し装置９０を通過するパレット１２ａを追跡するため
に、関連する記憶装置１０４ｂを備えた新しいＰＬＣ１
０２ｂが用意される。ＵＶ予備硬化装置に入る前に、型
組立品を載せたパレット１２ａはバーコードスキャナ１
１３の下を通過し、ここで、それぞれについてＰＡＬＬ
ＴＩＭＥとＰＡＬＬ ＳＴＡＴＵＳ情報をＰＬＣ１０
２ｂが更新できるように、パレット１２ａの識別が行わ
れる。この時点で、バーコードスキャナ１１２で読み取
られた各ＰＡＬＬ ＩＤ ＮＵＭはポインタとして用い
られ、これに対応するＰＡＬＬ ＳＴＡＴアレイ１７０
のＰＬＣ記憶場所に入力するために、状況データＳＴＡ
ＴＵＳ ＦＲＯＮＴ〔１１〕状況条件（ＩＤ ＦＲＯＮ
Ｔ〔１１〕）を、スキャナ１１３で識別された各パレッ
トＩＤに一致させる。ＵＶ予備硬化において、ＰＬＣ１
０２ｂが制御を引き継ぐため、ＰＬＣ１０２ｂ記憶装置
についてのアレイの記憶場所に、パレット状況情報が入
力される。さらに、識別された各パレットについてのＰ
ＡＬＬ ＳＴＡＴＵＳ情報は、予備硬化装置に入る時点
でこのパレットが合格品であることを示している。
【００８２】図１に見られるように、８個のコンタクト
レンズ型アセンブリを載せた各パレット１２ａは、余分
なモノマーを型部分から取り除くとともに型のフランジ
１３１ａと１３３ａを配列して半型を正しく並べるため
の予備硬化ステップで、前曲面半型と後曲面半型がとも
にクランプされる予備硬化アセンブリに入る前に、コン
ベヤ３２ｃ上の充填・型組立装置５０を出る。圧力を受
けて半型がクランプされると、次に重合可能な混合物
が、望ましくは、ＵＶランプからの光化学作用を持つ光
線で露光される。一般的に、光化学作用を持つ光線を３
０秒照射して、半型は約４０秒間クランプされる。予備
硬化ステップが終了すると、混合物全体に重合化を行う
ことにより、重合混合物により部分的に重合化されたゲ
ルが生成される。予備硬化ステップに引き続いて、モノ
マーと溶媒の混合物がＵＶ乾燥器７５で硬化され、これ
によりモノマーの重合が完了する。このように光化学作
用を持つ可視光線または紫外線を放射することにより、
所望の最終形状のヒドロゲルレンズで重合・溶剤混合物
が生成される。
【００８３】ＵＶ予備硬化・重合装置 図１に示したように、また、"Contact Lens Production
Line Pallet System"（コンタクトレンズ生産ラインパ
レットシステム）という名称の同時係属特許出願U.S.S.
N.08/257,786にさらに詳細に説明されているように、予
備硬化アセンブリ６５（図１）のバッチ処理のために複
数のパレットを一まとまりにする積み重ね装置へと、複
数の型を載せたパレットがコンベヤ３２ｃにより搬送さ
れる。積み重ね装置には、コンベヤ３２ｃ上の所定位置
でリードパレットを停止させるとともに９６までの型ア
センブリを載せた１２個のパレットが３０秒から６０秒
という長い間にバッチ形式で予備硬化装置６５で処理で
きるように、制御手段１００により速度指定された保持
機構が含まれる。
【００８４】図１４は、予備硬化装置６５の一実施例の
側面図である。図１４から分かるように、予備硬化装置
は、送り込みコンベヤ３２ｃから、複数のコンタクトレ
ンズ半型を載せた複数のパレットを受け取る。送り込み
コンベヤ３２ｃはパレット１２ａと型アセンブリ１３９
を低酸素環境へと搬送する。この環境は、ケース１２６
を窒素ガスで加圧することで、得られる。重合に先立っ
て、モノマーは、レンズ完成品の品質低下につながる酸
素による酸化を受けやすい。図１５から分かるように、
予備硬化装置６５内の酸素濃度のパーセント（０．０％
から０．５％が望ましい）を監視するために、適当なセ
ンサ１７５が設けられている。
【００８５】図１５は、の予備硬化装置６５の予備硬化
アセンブリ６９の一部を示す概略図である。本発明と同
じ譲受人に譲渡された"Mold Clampingand Precureofa P
olymerizable Hydrogel"（重合可能ヒドロゲルの型クラ
ンプと予備硬化）という名称の同時係属特許出願U.S.S.
N.08/257,792 （代理人事件整理番号#9007）にさらに詳
細に説明されているように、中間支持ビーム３２１ａと
往復支持のためにジャーナル軸受された往復シャフト部
材３２２ａを上下させる空気シリンダ３２０ａにより、
コンタクトレンズの型を載せたパレットに嵌合するよう
に、アセンブリ６９が上下する。
【００８６】アセンブリ６９には垂直往復作動部材が多
数設けられており、これらのうち最初のものが、エアシ
リンダ３２０ａと往復ビーム３２１ａからの動作に応答
する。予備硬化装置６９が矢印Ａの方向に下がると、複
数の環状クランプ手段３１０が、パレット１２ａに含ま
れる半型のそれぞれの上部環状フランジ１３３ａと係合
する。複数の環状クランプ手段３１０は、この装置の往
復プラットホーム３１上に設けられるとともに、これと
ともに移動し、図１８の矢印Ｂの方向に第二の往復運動
をするために弾性的に設けられている。
【００８７】図１８に示されているように、空気ばねか
コイルばねであるばね３１２（略図が図示されている）
によって、クランプ手段３１０がフレーム３１１内でバ
イアスされている。装置が下がると、ばね手段３１２で
決定される力で、クランプ手段が第一および第二半型に
係合するとともにこれをクランプする。各ばね３１２で
与えられる力を監視するために、センサ手段１７１が設
けられている。センサのうち一つだけは、図１５に図示
されている。理想を言えば、硬化の力は、３００ｍＢａ
ｒから５００ｍＢａｒの圧力である。空気ばねを使用す
る場合は、エアシリンダ（図示せず）で与えられる圧力
の量により、力が決定され、別のセンサ（図示せず）が
設けられている。例として、図１８にはクランプ手段３
１０が４つの部材として図示されているが、図１５の実
施例ではクランプ手段が９６あり、半型のそれぞれにつ
いてクランプ手段が一つずつ用意されている。
【００８８】クランプ装置の上に位置しているのは、光
化学作用を持つ複数の光源３１４で、これはＵＶランプ
が望ましい。半型をクランプするためにクランプ手段が
半型と嵌合すると、エアシリンダ３１６によってシャッ
タ機構３１５が開き、光化学作用を持つ光源３１４によ
り、各型アセンブリ１３９において重合可能化合物の重
合が開始される。複数の開口部３１３が形成されたシャ
ッタ３１５は、露出通路３１７を開閉するために、図１
５に矢印Ｃで示されたｘ軸沿いに往復する。
【００８９】エアシリンダ３２０ａが往復運動の下方位
置へと動かされる時間によってクランプ時間を制御する
とともに、シャッタ３１５とエアシリンダ３１６の動作
を介して露出時間を制御して型への照射量を制御するＰ
ＬＣ１０２ｂにより、予備硬化装置６９の動作が制御さ
れる。ランプ３１４を型１３９に対して上下すること
で、強度を手動で調節できる。
【００９０】センサ手段１７１で計測されるように、ク
ランプ手段により加えられる力の量は、約０．５ｋｇか
ら２．０ｋｇｆまで変化可能で、出時間の間、第二凸状
半型のフランジ１３３ａを第一凹状半型のフランジ１３
１ａに平行に保持するのに用いられる。クランプの重量
は、ＰＬＣ１０２ｂにより、１０から６０秒間かけられ
るが、一般的には４０秒間である。約１０秒間重量がか
かった後、ＵＶランプ３１４から光化学作用を持つ光線
が組み立てられた型と重合可能モノマーに照射される。
一般的に、ＵＶ光源の光度は２から４ｍＷ／Cm2 で、こ
の光度の光線は１０から５０秒間照射されるが、好適な
実施例では、３０秒間照射される。それぞれのＵＶ光線
の光度と露出時間を監視するとともに、許容範囲外の状
況についてＰＬＣ１０２ｂに通知するために、適当なセ
ンサ１７２，１７３が設けられている。５から６０秒間
の露出時間で１０から１５０ｍＷ／Cm2 の範囲のパルス
およびサイクル高光度ＵＶなど、様々な光度や露出時間
が可能である。
【００９１】照射時間の最後には、図１５に示したよう
に、シャッタ３１５を右に往復させて閉じ、押圧ロッド
３２２ａによって予備硬化アセンブリ６９を上方に持ち
上げるようにシリンダ３２０ａを起動させて、シャッタ
３１５の重量が取り除かれる。アセンブリ６９が持ち上
げられると、バッチ押圧アーム（図示せず）が型とパレ
ットを予備硬化手段から出せるように、クランプ手段３
１０が型とパレットから離れて持ち上げられる。予備硬
化時間としては、システム内の温度は３０から５０℃ま
で考えられ、ＰＬＣ１０２ｂとインターフェースするセ
ンサ１７４で監視される。
【００９２】予備硬化処理の終了時には、モノマーはイ
ニシエーションを通過し、ある程度重合されている。処
理の結果生じるレンズは、レンズのうち最も薄い部分、
つまり縁部が本体より高い程度重合されたゲル状態であ
る。
【００９３】予備硬化アセンブリ６５内でのパレット状
況情報の追跡は、ｉ＝１，２，．．１２の場合、ＰＡＬ
Ｌ ＩＤ ＩＮ〔ｉ〕、ＰＡＬＬ ＩＤ ＰＲ〔ｉ〕、
ＰＡ．ＬＬ ＩＤ ＵＶ〔ｉ〕という３つのアレイに形
作られ、積み重ねられた１２のパレット（ＰＡＬＬ Ｉ
Ｄ ＩＮ〔ｉ〕）と予備硬化装置で処理されたバッチ
（ＰＡＬＬ ＩＤ ＰＲ〔ｉ〕）を表す一連のシフトレ
ジスタにより、行われる１２のレジスタＰＡＬＬ ＩＤ
ＩＮ〔ｉ〕のそれぞれに記憶された情報は、バーコー
ドスキャナ１１３で読み込まれるのと同時にＰＡＬＬ
ＩＤ ＩＮ〔ｉ〕に入力されたパレットＩＤ情報であ
る。シフトレジスタをパレットＩＤ情報に正しくロード
するためのポインタ（図示せず）は、１２のパレットの
各組の最初について１に初期化され、それぞれのＢＣＲ
１１３を正確に読み込んだ後、ポインタは１だけ増加さ
れる。"ContactLens Production Line Pallet System"
（コンタクトレンズ生産ラインパレットシステム）とい
う名称の上記の同時係属特許出願U.S.S.N.08/257,786
（代理人事件整理番号 #9001）に詳細に説明されている
ように、型アセンブリを載せた１２のパレット１２ａ
は、バッチ状態でサーボモータ（図示せず）によって予
備硬化装置６５に搬送されるので、パレットＩＤデータ
は、ＰＡＬＬ ＩＤ ＩＮからＰＡＬＬ ＡＩＤ ＰＲ
までストレートブロック指定によって、またはループ内
でパレットＩＤデータがシフトされる。つまり、 ＰＡＬＬ ＳＴＡＴＵＳアレイ１７０はすべてのパレッ
ト状況情報を持っていることを、理解すべきである。
【００９４】図１５に見られるように、アセンブリにお
けるＵＶ予備硬化の力、ＵＶ光線の活性化、ＵＶ光線の
露光時間、ＵＶ予備硬化温度、酸素レベルのそれぞれを
監視するために、予備硬化アセンブリ６９内の様々な箇
所にセンサ１７１から１７５が取り付けられている。予
備硬化装置６５内を搬送される際には、１２のパレット
が予備硬化装置にある間に、また１２のパレットが積み
重ねられる間に検出された、何らかの許容範囲外の状況
は、その時点で予備硬化装置内にあると識別された１２
のパレットに関連しているとともに、パレットの合計が
２４となるように積み重ねられた１２のパレットにも関
連している。センサ１７１から１７５は、予備硬化処理
条件が許容範囲内にあるかどうかを判断するように、Ｐ
ＬＣに信号を送る。処理条件がこれらの範囲内にあれ
ば、予備硬化装置の出口においてＰＡＬＬ ＩＤ ＰＲ
〔ｉ〕アレイで識別された１２のパレットのそれぞれに
ついて、パレットが良であることを示す処理条件状況Ｐ
ＡＬＬ ＳＴＡＴＵＳ〔ＰＡＬＬ ＩＤ ＮＵＭ〕が、
ＰＬＣにより更新される。例えば、予備硬化装置から出
たパレットが良であることを示す＋３の整数値がアレイ
１７０の場所に入る。
【００９５】許容範囲外の状況、例えばＵＶ電球の故障
や最長ＵＶ照射時間の超過などが生じた時点に予備硬化
装置６５に存在するパレットのアイデンティティをＰＬ
Ｃは知っているので、ＰＬＣはセンサ１７１−１７５で
検知されたレベルが許容範囲にない場合には、ＰＡＬＬ
ＩＤ ＰＲ〔ｉ〕で識別された１２のパレットのそれ
ぞれについて処理条件状況ＰＡＬＬ ＳＴＡＴＵＳ〔Ｐ
ＡＬＬ ＩＤ ＮＵＭ〕記憶アレイ１７０を、即座に更
新する。ＰＬＣはまた、例えば酸素レベルが許容範囲を
越えた場合などに、ＰＡＬＬ ＩＤ ＰＲ〔ｉ〕で識別
された１２のパレットに加えて、ＰＡＬＬ ＩＤ ＩＮ
〔ｉ〕で識別された１２のパレットのそれぞれについて
処理条件状況ＰＡＬＬ ＳＴＡＴＵＳ〔ＰＡＬＬ ＩＤ
ＮＵＭ〕記憶アレイ１７０を更新する。予備硬化装置
で不合格だとして拒絶されたこれらのパレットについ
て、例えば−４の整数値がアレイ１７０内の対応する場
所に入力される。
【００９６】予備硬化装置６５を出た後、８個のコンタ
クトレンズ型アセンブリを載せた各パレット１２ａは、
図１のように、コンベヤトラック３１ａ，ｂ上のＵＶ重
合アセンブリ７５に入る。１２のパレットから成る組が
ＵＶ予備硬化装置から出てＵＶ重合装置７５にシフトさ
れると、パレットＩＤデータもＰＡＬＬ ＩＤ ＰＲ
〔ｉ〕からＰＡＬＬ ＩＤ ＵＶ〔ｉ〕へと、ストレー
トブロック指定によりシフトされる。すなわち、 PALL ID UVi:=PALL ID PRi for i=1,...12. ＰＡＬＬ ＩＤ ＵＶ〔ｉ〕で指定された、予備硬化装
置内の各パレットについてのパレットＩＤデータ、パレ
ット状況情報、タイムスタンプ情報は、ＰＡＬＬＩＤ
ＰＲ〔ｉ〕情報がＰＡＬＬ ＩＤ ＵＶ〔ｉ〕にシフト
される度に、アレイ１８０とアレイ１７０にそれぞれ入
る。これは、バーコードスキャナにより、パレットがＵ
Ｖ硬化乾燥器に入ったと、ＰＬＣが検知しないからであ
る。このように、パレットＩＤ情報がアレイ１７０／１
８０へのポインタとして、また特定パレットがＵＶ硬化
乾燥機に入った時点についての表示器として機能するの
で、ＵＶ乾燥器内での追跡が可能となる。前に述べたよ
うに、エラーなしで予備硬化装置を出る各パレットは、
ＰＡＬＬ ＳＴＡＴＵＳアレイ１７０に＋３のパレット
状況条件を持っている。
【００９７】図１６は、ＵＶ重合乾燥器の平面図であ
る。図２（ｂ）に示した形状で、モノマーが塗布された
凹所をそれぞれ持つポリスチレン製の各型アセンブリ１
３９は、図１のように、２本のコンベヤ３１ａ，ｂ上を
各パレット１２ａ上に配列されて、重合トンネル７５内
を搬送される。図１６のように、ＵＶ重合アセンブリ７
５は、横に並べられた一連の６個のハウジングから成
る。参照番号２１４はここで説明するように、紫外線を
照射する光源のハウジング全体を指す。ハウジング２１
４はコンベア３１ａ、３１ｂの上に、当該コンベアの通
路に架橋するようにして置かれる。ハウジング２１４
は、一体成形されるか、図１６にユニット２１５，２１
６，２１７，２１８，２１９，２２０として示したよう
に横に配列された幾つかの別々の部分から構成される。
【００９８】図１７は、１６のユニット２１５−２２０
の下面を示している。この下面は、紫外線を照射するた
めの市販タイプの長形の電球２３２が１個以上取り付け
られた平坦な水平面２３１を持つ。図１７には、数列の
型アセンブリがコンベヤ上で長手方向軸に平行に、つま
り型アセンブリの進行方向に平行に、横に並んでいる場
合に使用するのに適した配列となった多数の電球が図示
されている。図１７のように、最初のハウジング以降の
各ハウジングは、長手方向に配列された紫外線照射電球
を備えている。一つのハウジングに取り付けられた各電
球は、基本的に隣のハウジングまたは両隣のハウジング
の電球と同一線上にある。すべての電球は、同じ平面と
なるように各ハウジングに固定されているのである。パ
レットの平面から電球の平面までの垂直距離は、型組立
品を照射する電球を備えた第一ハウジング２１６の場
合、約２５ｍｍから約８０ｍｍでなければならない。続
いて進行するハウジング２１６−２２０の電球への垂直
距離は、約５０ｍｍから約５５ｍｍでなければならな
い。
【００９９】紫外線照射電球のないものも含めて、６個
のハウジングすべての下部スペースのそれぞれに、過熱
空気が管で送られる。パレットを各ハウジングの下に保
持するのに適した温度は、最初の２個のハウジングにつ
いては約４９℃から約６４℃、他の４個のハウジングで
は約４９℃から約５９℃である。
【０１００】ある型組立品が第一ハウジング２１６下に
最初に入った瞬間から最後のハウジング２２０から出る
までに経過した合計時間が、約３００秒から約４４０秒
となるように、パレットの進行速度は十分高いことが望
ましい。
【０１０１】このような動作により、紫外線の光度の強
弱を繰り返すサイクルが、５回、型組立品に施される。
各サイクルでは、紫外線の光度は、約０から約３−３．
５mW／まで上がり、再び０に戻る。電球は基本的に同じ
長さで、パレットは一定速度で移動するので、各サイク
ルは基本的に同じ時間で終了する。
【０１０２】装置７５内のＵＶ光線の光度と温度を監視
するため、ＰＬＣ１０２ｂとインターフェースする適当
なセンサが、各ハウジングに設けられている。１８１
ａ，ｂと記されたこのような２個のセンサが、図１７の
ハウジング２１５に設けられている。
【０１０３】前に述べたように、ＵＶ重合装置７５内を
搬送される間、パレット状況アレイ１７０は、いついか
なる時でも、装置内にあると識別されたパレットのみに
関連するパレットＩＤ情報を記憶している。センサ１８
１ａ，１８１ｂは、各ＵＶ重合処理条件が上記の許容範
囲内であるかどうかを判断するため、ＰＬＣ１０２ｂに
継続して信号を送る。処理条件が範囲内の場合は、ＰＬ
ＣはパレットがＵＶ乾燥器内にある（または、予備硬化
装置に正しく収容されている）ことを示す状況コードを
持つ各パレットについて、このパレットが良であること
を示すため、処理条件状況ＰＡＬＬ ＳＴＡＴＵＳ〔Ｐ
ＡＬＬ ＩＤ ＮＵＭ〕、アレイ１７０を更新する。処
理条件が限度内にない場合には、ＰＬＣが、ＵＶ予備硬
化乾燥器内にあるとしてアレイ１７０で識別された各パ
レットについて、このパレットを不合格品として拒絶す
べきであることを示す負の整数で、処理条件状況ＰＡＬ
ＬＳＴＡＴＵＳ〔ＰＡＬＬ ＩＤ ＮＵＭ〕を更新す
る。
【０１０４】トンネルを出ると、各パレットはバーコー
ドスキャナ１１４，１１５のそれぞれで識別され、それ
ぞれのパレット状況が更新される。さらに、ＵＶ重合ト
ンネル７５を出る各パレットについて、ＰＬＣ１０２ｂ
がタイムスタンプを入力する。前のタイムスタンプ値が
バーコードスキャナ１１３により出されると、ＵＶ予備
硬化装置６５とＵＶ重合装置７５内の各パレット１２ａ
の合計搬送時間と最長ＵＶ照射時間を、ＰＬＣ１０２ｂ
が直ちに判断する。この情報があれば、各アセンブリ内
の搬送時間が許容範囲内であるかどうかも判断できる。
搬送時間が許容範囲内でないと判断されると、アレイ１
７０内で識別された各パレットのＰＡＬＬ ＳＴＡＴＵ
Ｓ情報が、コンベヤ３１ａ，ｂに機械的故障や誤作動が
あったこと、また搬送されているパレット１２ａは不良
でありそれ以上処理を行うべきでないことを示すよう
に、更新される。重合処理が終了すると、第一の、つま
り前曲面半型内にあり、続いてこれから取り出されるコ
ンタクトレンズを取り出す型出し過程において、２個の
半型が分離される。前曲面半型および後曲面半型は一回
の成形に使用され、その後は廃棄または処分されること
を述べておかなければならない。
【０１０５】型出し装置 図１８に図示されているように、型アセンブリ内で重合
されたコンタクトレンズを載せたパレットは、上述のよ
うに２本のコンベヤ３１ａ，ｂに沿って重合乾燥器から
出て、型出しアセンブリ９０に入る。パレットはコンベ
ヤ３１ａ，ｂから搬送されて、二重移動ビーム１８９の
往復移送キャリア２８２ａ，ｂ沿いに位置する。その動
作については、「コンタクトレンズ生産ラインパレット
システム」（Contact Lens Production Line Pallet Sy
stem）という名称の同時係属米国特許出願第 08/757,78
6 号に詳細に説明されている。一般的に、往復キャリア
ビームは、パレットの各切り込み（図示せず）と係合す
る各ガイドトラックの一組の追跡ガイドレールまたは肩
部（図示せず）に沿って、パレット１２ａをそれぞれ前
進させる。組になった肩部と、パレットの各ガイドレー
ルの切り込みにより、型出し装置内でキャリアビームに
よりパレットが前進される際にパレットの正確な位置決
めが可能となり、さらに型組立品１３９が外される際に
パレット１２ａの垂直方向の移動が防止できる。
【０１０６】型外しに先立って、図２１に見られるよう
に、各パレット１２ａに保持されている各コンタクトレ
ンズ型組立品１３９が各レンズ型の凹所に正しく位置し
ているかどうかについて、ＰＬＣ１０２ｂが判断する。
この判断は、パレットの後曲面の直上を走査する重点・
アセンブリレーザーに似たレーザーセンサ（図示せず）
を用いて、型アセンブリの後曲面の中心のずれを検出
し、通常位置の所定の限度＋／−０．１ｋｇ以内で各型
アセンブリが凹所に位置していることを確認する中心ず
れ検査により、行う。付加的検査として、各型アセンブ
リを視覚的に調査するために、スコーププローブ２９
１，２９２を盲穴に挿入することもできる。特定のレン
ズ型組立品の中心がずれている、つまり型組立品のレン
ズ半型の配置がずれていると判断されると、後で詳細に
説明するように、この特定場所に関するシフトレジスタ
の状況を、特定のＰＬＣが更新する。
【０１０７】すでに詳細に説明した好適な実施例では、
二重移動ビームの移送キャリアは、コンタクトレンズ型
組立品を型外し装置まで移送し、この装置では、前曲面
半型のフランジ部分と後曲面半型のフランジ部分がグリ
ップされ、全く反対方向に、つまり梃子で動かす角度に
それぞれ引き離される。都合のよいことに、コンタクト
レンズ型組立品は、重合された製品を半型の表面から分
離しやすくするために、最初に適度に過熱される。本発
明に参考として組み込まれた、本発明と同じ譲受人に譲
渡された「型分離装置」（Mold Separation Apparatus
）という名称の同時係属米国特許出願第 08/258,557号
（代理人事件整理番号#9006 ）に詳細に説明されている
ように、型外し装置９０には、蒸気やレーザーエネルギ
ーなど、型アセンブリの各半型の重複しているフランジ
部分の間の間隙に挿入される一組の梃子爪によって前曲
面半型から後曲面半型を梃子で分離する前に、コンタク
トレンズ型アセンブリの後曲面レンズ型部に正確な熱量
を加える手段が設けられている。
【０１０８】図１９（ａ）と１９（ｂ）から分かるよう
に、ケース２８０に覆われた型外しアセンブリ９０は、
２個の蒸気放出アセンブリ２２７ａ，２２７ｂを搭載し
た往復ビーム２２６を備えている。このアセンブリ２２
７ａ，２２７ｂは、二重移動ビーム１８９の各搬送キャ
リア２８２ａ，２８２ｂによって搬送されてきたパレッ
ト１２ａのそれぞれに一つずつ設けられている。蒸気放
出アセンブリは、それぞれ、分配マニホールドと蒸気熱
源（図示せず）に接続された８本の蒸気ヘッドノズル
（全体として２６０の参照符号）を備えているため、パ
レット上の型組立品のそれぞれに同時に蒸気を施すこと
ができる。過熱するために、往復ビーム２２６は図１９
（ａ）の”Ａ”の位置から図１９（ｂ））の”Ａ”の位
置まで伸長し、その結果、ＰＬＣ１０２ｂの制御条件下
で蒸気を当てるため、蒸気ヘッドアセンブリ２２７ｂが
各型アセンブリに嵌合する。図１９（ｂ）には、パレッ
ト１２Ａと正確に嵌合している蒸気ヘッドノズルのみ
が、図示されている。さらに、図１９（ａ）から分かる
ように、型外し装置のケース２８０の温度を計測するた
め、ＰＬＣとインターフェースした適当なセンサ２８１
が設けられている。このケースは、７０℃から８０℃の
範囲の温度に維持されることが望ましい。
【０１０９】詳細な正面図が図２０に示されている蒸気
放出アセンブリ２２７ａは、カバーアセンブリ２５０を
備えた取り付けヘッドアセンブリ２６７と、蒸気取り込
みバルブ２６６から８個の各蒸気ノズルアセンブリ２６
０へと蒸気を分配するためにカバーアセンブリ２５０の
直下に設けられた蒸気分配マニホールド２３０と、蒸気
の衝突時に後曲面レンズ型の表面に送られる蒸気を取り
除いたり、その圧力を調節するために、蒸気分配マニホ
ールド２３０の直下に設けられた凝縮マニホールド２４
０と、蒸気放出ノズル２６０と蒸気取り込みバルブ２６
６のそれぞれを装置内に保持するための保持板２６１か
ら成る。また、図２０には、アセンブリ２６７内に位置
するとともに、蒸気マニホールド２３０と凝縮マニホー
ルド３４０と嵌合して共働する蒸気取り込みバルブ２６
６が図示されている。蒸気取り込みバルブ２６６は、空
間を介して蒸気取り込みパイプ２７０と連通しており、
蒸気分配マニホールド２３０に加圧蒸気を供給するため
のものである。さらに、蒸気を抜くとともに、蒸気放出
時に後曲面レンズ型の表面に加えられる蒸気圧を調節す
るために、適当な配管２８７を介して真空源（図示せ
ず）が凝縮マニホールド２４０の入力側２８６に接続さ
れている。
【０１１０】図２０の正面図に描かれたカバーアセンブ
リ２５０は、適当なヒータケーブル２５６ａ，ｂに接続
されたヒータカートリッジ入力２５３ａ，ｂを収容して
いる。図２０から分かるように、適当なセンサ２８８
ａ，ｂがカートリッジヒータ２５３ａ，ｂにそれぞれ接
続され、各蒸気放出装置の温度がＰＬＣ１０２ｂで監視
および調節されるように、ＰＬＣとインターフェースさ
れている。好適な実施例では、蒸気熱は１００℃から１
３０℃の温度範囲に調節され、約０．４秒から０．６秒
の時間、放出される。蒸気の温度が１２０℃を越える
と、ＰＬＣ１０２ｂは修正措置を取り、後曲面レンズ型
部に１２０℃を越える温度の蒸気が当たっているならば
特定のパレットが不合格であることを示す。図１９
（ｃ）に見られるように、蒸気放出アセンブリ２２７
ａ，ｂとその蒸気ノズル２６０が各レンズ型部の後曲面
に蒸気を放出している間、矢印で示したように梃子具の
セット２６５ａが延びて、パレット１２ａの一面に載置
された４個のレンズ型部のそれぞれの前曲面及び後曲面
の間の間隙に挿入される。同様に、梃子具のセット２６
５ｂが延びて、パレット１２ａの反対の面に載置された
４個のレンズ型部のそれぞれの前曲面および後曲面の間
隙に挿入される。
【０１１１】図１９（ｃ）にも図示されているが、梃子
具２６５ａ，ｂの各セットは、梃子具の底のセットのフ
ィンガ２３５がレンズ型部の前曲面の周辺環状縁部１３
１ｃをパレットの面に固定され、梃子具の上部のセット
のフィンガ２３６が空気駆動手段（図示せず）によって
後曲面レンズ半型と前曲面レンズ半型をコンタクトレン
ズの、または半型のいずれかの完全性を損なわないよう
に、垂直方向に分離する（図１９（ｅ））ように、挿入
される。
【０１１２】次に、図１９（ｄ）に見られるように、正
確に制御された量の蒸気を放出した後、吸引カップアセ
ンブリユニット２９０ｂが図のようにパレット１２ａと
並ぶように、各蒸気ヘッド後退アセンブリ２５２ａ，ｂ
（図１９（ｂ））によって、蒸気放出アセンブリ２２７
ａ，ｂとその蒸気ノズル２６０が後退する。図１９
（ａ）と図１９（ｂ）から分かるように、各吸引カップ
アセンブリ２９０ａ，ｂは往復運動できるようにビーム
２２６に取り付けられており、蒸気放出アセンブリ２２
７ａ，ｂが後退した際に、パレット上の対応する型アセ
ンブリと正確に嵌合するため、それぞれ８個の吸引カッ
プ（全体に２８５の参照番号）を備えている。
【０１１３】図１９（ｅ）の型分離過程の間、吸引カッ
プアセンブリ２９０ｂの真空吸引が行われ、フィンガ２
３６を有する梃子具の上部セットは、空気駆動手段（図
示せず）により梃子具２３５の下部セットから分離さ
れ、各レンズ型部の後曲面１３３の周縁は、コンタクト
レンズが保持された前曲面１３１から離れるようにバイ
アスされて、梃子フィンガ２３５の下セットにより固定
される。このようにして後曲面レンズ半型１３３は、前
曲面レンズ半型から効率的に取り外されるとともに、各
吸引カップ２８５に保持されるのである。
【０１１４】図示していないが、現在８個までの前曲面
レンズとコンタクトレンズを載せた各パレット１２ａが
各コンベヤ経路沿いに移動できるように、処分のため吸
引カップ２８５が対応する後曲面半型を保持する間、梃
子フィンガ２３５，２３６の上部セットおよび下部セッ
トは、最終的に、図１９（ｅ）の矢印で示された反対の
向きに水平方向に後退する。すなわち、吸引カップアセ
ンブリ２９０ｂは最初の位置に後退し、取り外された後
曲面レンズ型部を離すように、その中は真空でなくな
る。分離された後曲面型部は、後退位置において瓶に落
下し、処分のため、真空管（図示せず）で排出される。
【０１１５】型外し時間、つまり蒸気またはレーザー熱
が後曲面に施される時間を監視するとともに、型アセン
ブリの過熱とこの型アセンブリからの後曲面半型の除去
の間の時間（好適な実施例では約２秒）を監視するため
のセンサをさらに備えたＰＬＣ１０２ｂの正確な制御下
で、型外し処理が行われる。さらに、型外しの後、各後
曲面半型が型アセンブリ１３９から取り外されたかどう
かを確認するとともに、後曲面半型が取り外された後に
ＨＥＭＡリング１３２ａが残っていないことを確認する
ため、上述の方法で、レーザー検知が再び開始される。
ＰＬＣの判断結果に関するあらゆる情報は、それが発生
した正確な位置において各パレットの特定のシフトレジ
スタに記憶される。その後で、パレットがバーコードス
キャナ１６に達すると状況・時間アレイ１７０，１８０
が更新され、シフトレジスタに記憶された状況とアレイ
１７０に記憶された前の状況が結合される。
【０１１６】型外し装置内の追跡は、ｉ＝１，．．．８
の場合のＳＴＡＴＵＳ Ａ〔ｉ〕とＳＴＡＴＵＳ Ｂ
〔ｉ〕という一組のシフトレジスタソフトウェアアレイ
により行われ、図１８に示した型外し装置内でそれぞれ
Ａ，Ｂで示された二重移動ビームレール沿いの物理的位
置を表す。すなわち、いつでも型外し装置内の処理につ
いてインデックスされた合計８個のパレットが存在す
る。アレイに記憶されたデータは、各パレットの処理の
際の状況情報を表し、各インデックスは、ゼロ状況
（０）を持つものとして初期化される。パレットが入る
前には、バーコードスキャナがないので、型外し装置内
のいかなるパレットに関するパレットＩＤ情報も分から
ない。
【０１１７】型外し装置内の処理がうまく行くと、特定
パレットを表すシフトレジスタが、が同一単位で計れる
（commensurate）状況で更新されるとともに、パレット
が進むにつれて状況データが次のインデックスにシフト
される。このように、指定が行われる。ＳＴＡＴＵＳ
Ａ〔ｉ〕：＝すべての位置に関するＳＴＡＴＵＳ ａ
〔ｉ−Ｉ〕，ｉ＝２，．．．９。同様に、移動ビームＢ
で処理されているパレットについては、すべての位置に
関するＳＴＡＴＵＳ Ｂ〔ｉ〕：＝ＳＴＡＴＵＳＢ〔ｉ
−Ｉ〕，ｉ＝２，．．．９となる。例えば、移動ビーム
Ａ上のパレットについてはパレット上で正しい処理が最
後に実施された後、ＳＴＡＵＳ Ａ〔８〕がＳＴＡＴＵ
Ｓ 〔７〕からデータを受け取る。型外し装置ですべて
の処理がうまく行くと、状況情報ＳＴＡＴＵＳ Ａ
〔８〕とＳＴＡＴＵＳ 〔８〕には、パレットは良で、
水和装置へ搬送すべきであることを示す独自の正の数が
入る。
【０１１８】最後の処理が終了し、型外し装置からパレ
ットが出ると、各パレットはバーコード読み取り装置１
１６で操作され、ＳＴＡＴＵＳ Ａ〔８〕とＳＴＡＴＵ
ＳＢ〔８〕にあるパレット状況データは、バーコードス
キャナで識別されたようにＰＡＬＬ ＩＤ ＮＵＭと組
み合わせられる。図１８に見られる適当な近接センサ２
８９により、移動ビームレールＡ（ＳＴＡＴＵＳ Ａ）
からのパレットが型外し装置から最初に出たことが確認
され、スキャナ１１６で識別される。このように、レジ
スタＳＴＡＴＵＳ Ａ〔８〕に記憶された独自の状況情
報は、すでにバーコードスキャナ１１６にあるパレット
状況情報と組み合わせられる。同じように、レジスタＳ
ＴＡＴＵＳ Ｂ〔８〕に記憶された状況情報は、バーコ
ードスキャナ１１６で識別されたパレットＩＤについ
て、すでにパレット状況アレイ１７０にあるパレット状
況情報と組み合わせられる。
【０１１９】ＳＴＡＴＵＳ Ａ〔８〕とＳＴＡＴＵＳ
Ｂ〔８〕に記憶された処理条件状況情報が、例えば、良
のパレットの型外し緩衝装置の温度、蒸気熱温度、蒸気
熱放出から後曲面取り外しまでの時間が許容範囲内であ
ることを示している場合、また型外し処理自体がうまく
行われた場合、つまり後曲面型部がすべて取り除かれ、
型アセンブリの中心が外れておらず、ＨＥＭＡリングが
ないという場合には、ＰＬＣ１０２ｂが、バーコードス
キャナ１１６で識別された各パレットについて処理条件
状況ＰＡＬＬ ＳＴＡＴＵＳ〔ＰＡＬＬ ＩＤ ＮＵ
Ｍ〕（アレイ１７０）を更新する（＋（正）の数）。処
理条件が範囲内でない場合には、ＰＬＣがバーコードス
キャナ１１６で識別された各パレットについて、このパ
レットを不合格品として拒絶すべきであることを示す処
理条件状況ＰＡＬＬＳＴＡＴＵＳ〔ＰＡＬＬ ＩＤ Ｎ
ＵＭ〕を更新する。
【０１２０】さらに、ＰＬＣ１０２ｂは、型外し装置９
０を出る各パレットについて、タイムスタンプを（アレ
イ１８０に）入力する。バーコードスキャナ１１４と１
１５で発生された前のタイムスタンプ値があれば、ＰＬ
Ｃは型外し緩衝装置内の全体経過時間を判断し、これが
許容範囲内にあるか検査する。移送時間が許容範囲内で
ないならば、バーコードスキャナ１１６で識別された各
パレットのＰＡＬＬＳＴＡＴＵＳ情報が、機械的故障や
コンベヤ３１ａ，ｂの誤作動があったこと、またこれに
より輸送されるパレット１２ａは不良で拒絶すべきこと
を示すように、更新される。
【０１２１】図１８に詳細に示されているように、バー
コードスキャナ１１７は、コンベヤ３１ｄ上の型外し装
置を出る各パレットを識別し、何らかのパレットを不合
格品として拒絶しなければならないか、またＰＬＣ１０
２ｃが制御処理を行う水和アセンブリ８９に搬送してよ
いかを判断するため、ＰＬＣ１０２ｂが、識別された各
パレットについての処理条件検査を実施する。
【０１２２】水和装置 型外し装置９０で型アセンブリが分離されると、露出さ
れた重合コンタクトレンズを含む前曲面半型を載せた各
パレットは、次に、図１に概略図が、そして図１８に詳
細図が示された水和アセンブリ８９に搬送される。図１
８から分かるように、水和室８９へ移送するために、二
重移動ビーム１８９の各移送キャリア１８２ａ，ｂから
コンベヤ３１ｄまでのパレット１２ａの動きを翻訳する
ために、後退可能アーム２０２ａ，ｂを備えた二重押圧
器２０２が設けられている。各パレットは最初に上流側
クランプ爪２０７ａ，ｂの間にクランプされ、ここでパ
レットが不良としてフラグを出すかどうかを判断するた
め、バーコードスキャナ１１７によってパレットを適切
に検出する。特定パレットが上の理由で不良であること
をＰＡＬＬ ＳＴＡＴＵＳ情報が示していれば、図１８
に見られるような適当な押圧アセンブリ８０によって、
この特定パレットとその中身がコンベヤ３１ｄから循環
コンベヤ３１ｅへと搬送される。クランプ爪２０７ａ，
ｂは拒絶されたパレットを離し、押圧アーム８０が拒絶
されたパレットを循環コンベヤ３１ｅに押圧する。拒絶
パレットは、前曲面供給コンベヤ２７へとコンベヤ上を
戻される。上述のように、本発明のコンタクトレンズ生
産ライン設備には、前曲面供給コンベヤ２７に戻される
間、またはこのコンベヤ上にある間に拒絶されたパレッ
ト１２ａに載せられたすべての型アセンブリを取り除く
ための吸引ガス抜き装置（図示せず）が含まれる。
【０１２３】型外しされたコンタクトレンズアセンブリ
を載せたパレットが拒絶されなければ、水和処理へと移
送されることになり、水和アセンブリ８９（図１）に移
送するために、移送押圧アセンブリ２０６へと、ペアの
状態でコンベヤ３１ｄで運ばれる。移送押圧器２０６に
入る前に、上流側のクランプ爪２０９ａ，ｂが、二番目
のパレットが最初のパレットの上に積み重ねられるよう
に、一時的に最初のパレットをクランプする。
【０１２４】ＰＬＣ１０２ｃで制御されると、クランプ
されたパレットは、１２ａ，１２ａ’と示された２個の
パレットが図１８のように移送押圧器２０６の往復可能
な押圧アーム２１０と並ぶように、前に搬送される。次
に、駆動手段２１１により、押圧アーム２１０に２個の
パレットを移送装置３３５へと押圧させる。すなわち、
パレットを２組まで収容できる、平板部３３９を持つパ
レット３３６を、それぞれ水和室８９へと移送するので
ある。最初の組のパレットが平板部３３９上に載せられ
ると、２個のパレットから成る第２組を押圧アーム２１
０が最初の位置（図１８）まで往復する。次に押圧アー
ム２１０が、２個のパレットから成る第２組を移送押圧
器３３６の板３３９上へ入れ、第１組のパレットに板の
上を進ませる。図２２（ａ）は、一度に２個のパレット
の割合で、押圧アーム２１０に押圧された４個のパレッ
トを載せた移送パレット３３６の平板部分３３９を示し
ている。
【０１２５】図１８に見られるように、移送パレット３
３６は、トラック３３８ａ，ｂ上を水平方向に往復運動
するように取り付けられている。定常操作では、適当な
駆動手段（図示せず）により、移送パレット３３６と４
個のパレットを載せた平板３３９が、重合コンタクトレ
ンズを含む前曲面型アセンブリの水和室への移送が効率
的に行われる図２２（ｂ）に”Ｂ”と記された矢印の水
和アセンブリ移送点に達するまで、図２２（ａ）の矢印
で示した方向にトラック３３８ａ，ｂを横切って水和室
アセンブリ８９へと移動できる。成形済コンタクトレン
ズを含む前曲面半型の移送については、本発明と同じ譲
受人に譲渡された「ソフトコンタクトレンズの自動水和
方法と装置」（Automated method and Apparatus for H
ydratingSoft Contact Lenses）という名称の上記の同
時係属米国特許出願第08/258,556，号（代理人事件整理
番号 #8998）に説明されている。移送パレット３３６が
移送点に達すると、水和アセンブリ８９の真空把持マト
リックス（図示せず）が作動して、一度に４８個の前曲
面レンズ型部を、移送パレット３３６上の４個のパレッ
トから取り出して、これを脱イオンウォーターバスに設
けられた適当な受け取り装置へと移送する。空のパレッ
ト１２ａを載せた移送パレット３３６と平板３３９が、
今度は、図２２（ｃ）に矢印”Ｃ”で示した方向に、ト
ラック３３８ａ，ｂ沿いに往復して最初の位置まで戻
る。前曲面型部を載せて入ってきた新しいパレットの組
が押圧アーム２１０により平板へと押圧されると、空の
パレットが板３３９から戻りコンベヤ３１ｆへと取り除
かれる。すなわち、押圧アーム２１０が、平板部３３９
上の新しいパレット１２ａの最初の組を押して、２個の
空のパレットの最初の組を平板部３３９から出し、前曲
面取り出し点まで循環させるためにコンベヤ３１ｆと接
触するのである。同じように、押圧アーム２１０が、板
３３９上の新しいパレット１２ａの二番目の組を押し
て、２個の空のパレットの最初の組を板３３９から出
し、前曲面取り出し点まで循環させるためにコンベヤ３
１ｆと接触するのである。図１８に図示されているよう
に、空のパレットを一度に２個まで曲面取り上げ点まで
戻すために、戻りコンベヤ３１ｆは前曲面供給コンベヤ
２７と連結している。往復押圧アーム３２４を持つ適当
な押圧手段３２２がパレットを供給コンベヤ２７へと押
し、ここでパレットは、上述した方法で８個の前曲面レ
ンズ半型の新しい組を受け取るため、前曲面射出成形ア
センブリ２０へ搬送される。
【０１２６】図１のように、水和装置８９に入る識別さ
れた各パレット１２ａについてタイムスタンプ情報の入
力を開始するため、バーコードスキャナ１１８，１１９
が設けられている。新しいタイムスタンプ情報は、パレ
ットが水和装置へと物理的に受け渡される際にＰＬＣ１
０２ｃ（バーコードスキャナ１１７）によって、パレッ
トについて出された前のタイムスタンプ値と比較され
る。ＰＬＣはこれにより、型アセンブリの型外しから水
和装置へのレンズの移送までの時間が２０から４０秒の
間かどうかを判断する。バーコードスキャナ１１８，１
１９はまた、不合格品（負の状況）であるのにまだ拒絶
されていないパレットについて冗長検査を行う。
【０１２７】本発明を好適な実施例について詳しく図示
し、説明したが、形式および詳細における以上の記載内
容および他の変更は、以下の添付クレームの範囲のみに
限定される本発明の趣旨および範囲から逸脱しなけれ
ば、これを行えることは、当該技術分野の熟練者には理
解できるだろう。
【０１２８】本発明の具体的な実施態様は、次の通りで
ある。 （１）前記制御装置が、前記一連のパレットの各パレッ
トに対応する前記処理状況情報とを記憶するための独自
の記憶場所を持つメモリ記憶手段を含み、この所持状況
情報はさらに、受け取った前記処理条件が所定範囲内で
ある場合に、識別されたパレットが別の装置での次の処
理を受けられることを示すフラグをさらに含む請求項１
記載の生産ライン追跡・品質管理システム。 （２）前記制御装置により、前記コンベヤ手段が、拒絶
フラグの形の処理状況情報を持つ識別済の各パレットを
明確に拒絶して、次の処理から取り除くことができる請
求項１記載の生産ライン追跡・品質管理システム。 （３）前記設備の一またはそれ以上の処理装置のそれぞ
れにおいて前記追跡手段により各パレットが識別された
特定の時間を示すタイムスタンプ情報を、前記制御装置
が生成し、このタイムスタンプ情報がさらに、識別され
た各パレットに対応する独自の記憶場所に記憶される上
記実施態様（１）記載の生産ライン追跡・品質管理シス
テム。 （４）前記コンタクトレンズ生産設備が、前記一連のパ
レット上の一またはそれ以上の第一コンタクトレンズ半
型に充填するための第一手段と、前記一連のパレットの
うち別のパレット上の一またはそれ以上補足的な第二コ
ンタクトレンズ半型に充填するための第二手段を含み、
前記第一および補足的な第二半型のそれぞれのパレット
上での充填の時間に対応する初期タイムスタンプ値が、
前記制御手段により生成される前記実施態様（３）記載
の生産ライン追跡管理システム。 （５）前記一またはそれ以上の第一コンタクトレンズ半
型およびこれを補足する前記一またはそれ以上の第二コ
ンタクトレンズ半型が、大気環境において、前記一連の
パレットのそれぞれの上で充填される前記実施態様
（４）記載の生産ライン追跡管理システム。 （６）第一およびこれを補足する第二コンタクトレンズ
半型を載せた前記パレットのそれぞれが、前記生産設備
の前記処理装置のうち別の装置へと移送されるため、低
酸素環境へと搬送され、この低酸素環境が窒素ガスを含
む窒素緩衝ケースを含み、このケースには、所定数のパ
レットが常に存在する前記実施態様（４）記載の生産ラ
イン追跡管理システム。 （７）前記コンベヤ装置上のパレットを前記ケースへの
入口で前記第一追跡手段が識別して、これにより、前記
一連のパレットのそれぞれが前記ケースに入った時間に
対応する第一タイムスタンプ値から成るタイムスタンプ
情報を前記制御装置が生成することができ、このタイム
スタンプ値は、識別された各パレットに対応する前記独
自の記憶場所に記憶される前記実施態様（６）記載の生
産ライン追跡管理システム。 （８）前記第一およびこれを補足する第二コンタクトレ
ンズ半型を載せている識別済各パレットに載置された第
一およびこれを補足する第二コンタクトレンズ半型に関
する酸素露出時間を判断する計算手段が前記制御手段に
含まれ、識別された各パレットに関する前記酸素露出時
間は、前記初期タイムスタンプ値と識別された各パレッ
トの前記第一スタンプ値データの時間差から成る上記実
施態様（７）記載の生産ライン追跡管理システム。 （９）識別された各パレットについての前記第一および
これを補足する第二コンタクトレンズ半型の酸素露出時
間が所定範囲より長いかどうかを判断するための手段が
前記制御手段に含まれ、この制御手段はさらに、各パレ
ットについて計算された第一およびこれを補足する第二
コンタクトレンズ半型の酸素露出時間が所定範囲より長
い場合に、フラグを生成する上記実施態様（８）記載の
生産ライン追跡管理システム。 （１０）前記コンタクトレンズ半型の酸素露出時間の前
記所定範囲の値が約１５秒である上記実施態様（９）記
載の生産ライン追跡・品質管理システム。 （１１）前記設備の処理装置内で所定数の識別済パレッ
トをいつでも追跡するための第二追跡手段が前記制御装
置に含まれ、この所定数のパレットに対応するデータを
記憶するための独自の記憶場所を持つシフトレジスタ手
段がこの第二追跡手段に含まれる上記実施態様（６）記
載の生産ライン追跡・品質管理装置。 （１２）前記ケース内の酸素濃度を監視するとともに、
前記ケース内の酸素含有量が所定範囲内であることを前
記制御装置が検査できるようにするための酸素センサ手
段が、前記制御手段に含まれる上記実施態様（１１）記
載の生産ライン追跡・品質管理装置。 （１３）前記ケース内の前記酸素含有量が予め決められ
た範囲を越える場合に前記ケース内に位置する所定数の
パレットのそれぞれに対応する前記独自の記憶場所に記
憶するための拒絶フラグが前記制御装置により生成され
る上記実施態様（１２）記載の生産ライン追跡・品質管
理装置。 （１４）前記所定範囲が約０．３％から約０．５％の酸
素濃度である上記実施態様（１２）記載の生産ライン追
跡・品質管理装置。 （１５）モノマー充填装置が前記コンタクトレンズ製造
設備に含まれるとともに、このモノマー充填装置の入口
において前記コンベヤ上のパレットを前記第一追跡手段
が識別し、この第一追跡手段により、前記一連のパレッ
トのうち各パレットが前記窒素緩衝ケースにあって前記
モノマー充填装置に入る時間に対応する第二タイムスタ
ンプ値を、前記制御装置が生成できる上記実施態様
（８）記載の生産ライン追跡・品質管理装置。 （１６）前記ケース内を搬送される各パレットについて
の窒素緩衝露出時間を前記制御装置が計算し、識別され
た各パレットについての前記窒素緩衝時間が、識別され
た各パレットについての前記第二タイムスタンプ値と前
記第一タイムスタンプ値データの時間差から成る上記実
施態様（１５）記載の生産ライン追跡・品質管理装置。 （１７）識別された各パレットについての前記第一およ
び補足的な第二コンタクトレンズ半型の窒素緩衝露出時
間が所定範囲を下回るかどうかを前記制御装置が判断
し、各パレットについての計算された前記第一および補
足的な第二コンタクトレンズ半型の窒素緩衝露出時間が
前記所定範囲を下回ると判断された場合に前記制御装置
がフラグを生成する上記実施態様（１６）記載の生産ラ
イン追跡・品質管理装置。 （１８）前記コンタクトレンズ半型の露出時間の所定範
囲値が約３．０分である上記実施態様項（１７）記載の
生産ライン追跡・品質管理装置。 （１９）前記第一コンタクトレンズ半型を載せたパレッ
トを前記補足的な第二レンズ半型を載せたパレットの付
近に配置するともに、前記モノマー充填装置に移送する
ために、第一コンタクトレンズ半型を載せたパレットと
ともに補足的な第二コンタクトレンズ半型を載せたパレ
ットを交互に前記コンベヤ手段上で搬送するための、前
記コンベヤ手段の付近に設けられた手段が、前記製造設
備にさらに含まれる上記実施態様（１５）記載の生産ラ
イン追跡・品質管理装置。 （２０）前記モノマー塗布装置が、この装置へと交互に
搬送された一連のパレットに載せられた各前曲面レンズ
半型に所定量の重合化合物を付着させる手段を含む上記
実施態様（１９）記載の生産ライン追跡・品質管理装
置。 （２１）前記処理条件値が所定範囲内である場合に、識
別されたパレットが次の前記一またはそれ以上の装置で
別の処理を受けられることを示す許容フラグを生成する
過程を過程（ｃ）がさらに含む請求項２記載のコンタク
トレンズ生産設備のための品質管理方法。 （２２）前記設備が前記一連のパレットを前記設備内で
搬送するためのコンベヤ手段を含む請求項２記載のコン
タクトレンズ製造設備のための品質管理方法において、
この方法はさらに、所定の拒絶点において前記コンベヤ
手段が前記パレットを取り除けるようにすることで、拒
絶フラグの形の処理状況情報を持つ特定のパレットを拒
絶する過程を含む。 （２３）前記一連のパレットのうち識別された各パレッ
トに対応する前記処理状況情報を、前記各パレットに対
応する独自の記憶場所を持つメモリ記憶手段に記憶する
過程をさらに含む請求項２記載のコンタクトレンズ製造
設備のための品質管理方法。 （２４）前記設備内の前記一またはそれ以上の処理装置
において前記追跡手段により各パレットが識別された特
定の時間を示すタイムスタンプ情報を生成するととも
に、識別された前記パレットのそれぞれに対応する前記
独自の記憶場所に前記タイムスタンプ情報を記憶する過
程をさらに含む、請求項２記載のコンタクトレンズ製造
設備のための品質管理方法。 （２５）いかなる時でも前記設備の処理装置内にある所
定数の識別済パレットを追跡するとともに、この所定数
のパレットに対応するデータを記憶するための独自の記
憶場所を持つシフトレジスタアレイに、このパレットの
それぞれのアイデンティティーを記憶する請求項２記載
のコンタクトレンズ製造設備のための品質管理方法。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の生産ライン追跡・品質管理システムを
組み込んだコンタクトレンズ生産ラインパレットシステ
ムの概略上面図である。
【図２】図２（ａ）は本発明の生産ラインパレット１２
ａ（１２ｂ）の上面図である。図２（ｂ）は生産ライン
パレット１２ａの凹所に位置する補足的な第一および第
二半型１３１，１３３から成るコンタクトレンズ型アセ
ンブリ１３９の詳細図である。
【図３】本発明の生産ライン追跡システムの各パレット
について、処理条件情報を記憶するアレイ１７０と、タ
イムスタンプ情報を記憶するためのアレイ１８０を含
む、制御システムの記憶機構の図である。
【図４】前曲面と後曲面がそれぞれ射出成形アセンブリ
から出た後の酸素露出時間を判断するための制御ループ
図である。
【図５】前曲面型部と後曲面型部をそれぞれの射出成形
アセンブリ２０，３０から移送するためのロボット装置
２２，２４の詳細図であるとともに、連続コンベヤ３２
上でインターリーブ式に搬送するために、後曲面を載せ
たパレット１２ｂの付近に前曲面を載せたパレット１２
ａを配置するための連続装置４０の図である。
【図６】窒素ケース４６内の酸素濃度を監視するための
酸素センサの配置を詳細に示した図である。
【図７】窒素緩衝ケース内でのパレットの正確な配列を
検査するための近接センサの配置を詳細に示した図であ
る。
【図８】パレットをコンベヤ３２から充填・型組立装置
５０へと搬送するための装置５５の図である。
【図９】モノマー充填装置５３に入る前にパレットを配
列および追跡するための装置５５に関する概略図であ
る。
【図１０】製造設備の充填・型組立装置５０のモノマー
充填装置５３の概略図である。
【図１１】図１１（ａ）は充填・型組立装置５０の型ア
センブリモジュール５９の一部断面側面図である。図１
１（ｂ）は往復アセンブリのための真空の供給を図示し
たアセンブリ装置５９の一部断面概略図である。
【図１２】ＰＬＣとインターフェースされた様々なセン
サの配置を示すアセンブリ装置５９に関する概略図であ
る。
【図１３】充填・型組立装置５０を出た後、空のパレッ
トを循環させるとともに不良パレットを拒絶するための
装置の概略図である。
【図１４】窒素ガスケース１２６が図示されたＵＶ予備
硬化装置６５の側面図である。
【図１５】ＵＶ予備硬化処理を監視するためのセンサ１
７１−１７５が図示された早期硬化アセンブリ６９の詳
細図である。
【図１６】本発明を実施する際に用いられる、コンベヤ
とハウジングを備えたＵＶ硬化トンネルの上面図であ
る。
【図１７】図１６のハウジングの下面を示した図であ
る。
【図１８】二重コンベヤ３１ａ，ｂから型外しアセンブ
リまでパレットを移送するための順序と、重合レンズを
載せた前曲面半型を水和室へ移送するための移送装置３
３５へとパレットをコンベヤ３１ａから移送するための
手段が図示された、生産ラインパレットシステムの後端
の平面図である。
【図１９】図１９（ａ）は型外し装置９０の正面図であ
る。図１９（ｂ）は型アセンブリを載せたパレット１２
ａに蒸気熱を加える蒸気熱アセンブリの正面図である。
図１９（ｃ）は型部と係合する蒸気ノズルと型のフラン
ジと係合する梃子フィンガを備えた装置の図である。図
１９（ｄ）は蒸気ノズルの後退と吸引カップアセンブリ
の嵌合を示す図である。図１９（ｅ）は後曲面型部を前
曲面型部および成形済レンズから取り外すためにアセン
ブリを上方に梃子原理で移動させる状態を示す図であ
る。
【図２０】蒸気熱放出アセンブリ２２７ａの一つの詳細
図である。
【図２１】パレット表面を見るためにパレットの盲穴１
２８ａ，１２８ｂに挿入されるボアスコープのファイバ
光学プローブ２９１，２９２の詳細図である。
【図２２】図２２（ａ）〜（ｃ）は重合済コンタクトレ
ンズを載せたパレットを水和装置８９へ搬送するための
順序を示す図である。
【手続補正書】
【提出日】平成７年１１月２４日
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正内容】
【書類名】 明細書
【発明の名称】 生産ライン追跡・品質管理システムお
よび品質管理方法
【特許請求の範囲】
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、一般的には、眼科コン
タクトレンズを生産するためのコンタクトレンズ製造設
備に関するものであり、詳しくは、この製造設備の様々
な製造装置において生産ラインパレット搬送システムの
パレット上を搬送される間に製造された良品および不良
品のコンタクトレンズを識別および追跡する品質管理バ
ーコード追跡システムおよび品質管理方法に関するもの
である。
【０００２】
【従来の技術】ヒドロゲルコンタクトレンズの直接成形
は、Larsen（ラーセン）の米国特許第4,495,313号、Lar
sen et al. （ラーセンら）の米国特許第 4,680,336
号、Larsen（ラーセン）の米国特許第 4,565,348号、La
rsen et al. （ラーセンら）の米国特許第 4,640,489号
に開示されている。これらの開示内容はすべて、参考と
して本特許出願に取り入れられている。本質的に、これ
らの参照文献には、コンタクトレンズの自動生産方法が
開示されており、この方法では、それぞれ後曲面（上
方）半型と前曲面（下方）半型の間にモノマーをサンド
イッチして、各レンズを形成する。モノマーを重合する
ことによりレンズが形成され、次にこのレンズは型部か
ら取り外されて、さらに処理を受け、消費者が使用でき
るように包装されることになる。
【０００３】モノマーは、モノマー充填・型組立装置で
サンドイッチされる。この装置では、重合可能なモノマ
ーが最初に前曲面半型に充填され、次に後曲面半型が前
曲面半型の上に載置されて、コンタクトレンズの型アセ
ンブリの完成品が製造される。型アセンブリパレットつ
まり支持システムにより、コンタクトレンズ型アセンブ
リの完成品をさらに、次の処理のために生産設備内の他
の装置まで搬送し、最終的に、重合されたコンタクトレ
ンズの完成品が製造される。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、眼科
コンタクトレンズを高い生産量で製造する完全自動化コ
ンタクトレンズ生産設備において、コンタクトレンズの
前曲面半型と後曲面半型と型アセンブリを自動的に追跡
する生産ラインパレットシステムに、追跡・品質管理シ
ステムを組み込むことである。
【０００５】本発明のさらなる目的は、処理装置におい
てコンタクトレンズの半型と型アセンブリを自動的に追
跡する生産ラインパレットシステムに、追跡・品質管理
システムを組み込むことである。処理装置には、コンタ
クトレンズ生産設備に設けられたコンタクトレンズの充
填・予備硬化・重合・型外し・水和の各装置が含まれる
が、これらに限定されるわけではない。
【０００６】本発明の別の目的は、コンタクトレンズ生
産設備において前曲面コンタクトレンズ半型と後曲面コ
ンタクトレンズ半型とコンタクトレンズ型アセンブリを
搬送する搬送パレット列とコンベヤシステムが設けられ
た生産ライン追跡・品質管理システムを、生産ラインパ
レットシステムに設けることである。各搬送パレット
は、品質管理を強化するため、一つのアセンブリまたは
処理装置から他の装置へと製品を追跡できる独自の識別
バーコードを備えている。
【０００７】本発明のさらなる目的は、生産ラインパレ
ットシステムにおいて良品コンタクトレンズと不良品コ
ンタクトレンズ（「製品」）を搬送するパレットを識別
および追跡するためにコンタクトレンズ生産設備内の様
々な箇所に設けられたバーコード読み取り装置を含む、
コンピュータまたはプログラマブル論理制御装置の形の
制御手段を、生産ライン追跡・品質管理システムに組み
込むことである。
【０００８】本発明のさらに別の目的は、コンタクトレ
ンズ生産設備において、各搬送パレットの処理条件状況
を表すデータや情報を受け取るための記憶装置を含む制
御手段を、生産ライン追跡・品質管理システムに組み込
むことである。
【０００９】本発明のさらに他の目的は、搬送パレット
で行われた操作、パレットに生じた重要な出来事、特定
の識別されたパレットＩＤを持つ出来事が生じた時間を
関連付ける手段を、生産ライン追跡・品質管理システム
に組み込むことである。
【００１０】本発明のまた別の目的は、各搬送パレット
上を搬送される前曲面半型と後曲面半型とコンタクトレ
ンズ型アセンブリの生産状況が、規定の処理パラメータ
の許容範囲内であるか、または特定の処理パラメータの
許容範囲を越えているかどうかを判断する制御手段を、
生産ライン追跡・品質管理システムに組み込むことであ
る。
【００１１】本発明の別の目的は、特定の搬送パレット
上を搬送される前曲面半型、後曲面半型、および／また
はコンタクトレンズ型アセンブリが規定の許容範囲外の
条件下で処理されたと判断された場合に、この特定パレ
ットを不合格とする処理を開始する制御手段を備えた、
生産ライン追跡・品質管理システムを提供することであ
る。
【００１２】
【課題を解決するための手段】上記の目的は、コンタク
トレンズ生産設備において、一またはそれ以上の第一コ
ンタクトレンズ半型と補足的な第二コンタクトレンズ半
型のいずれかを搬送するためのパレット列から成る生産
ライン追跡・品質管理システムにより、達成される。各
パレットは、識別と追跡を目的とした独自の識別コード
を備え、一またはそれ以上の処理装置を含むコンタクト
レンズ生産設備において、コンベヤ手段上を搬送され
る。制御手段は、またはそれ以上の処理装置において、
コンタクトレンズ生産プロセスの実時間監視を行うもの
で、設備内の様々な装置において各パレット独自のコー
ドを識別する追跡手段を含んでいる。この制御手段は、
各装置を搬送される搬送パレットのそれぞれについて、
各装置における処理パラメータ値を受け取り、この処理
パラメータが範囲外である場合に、不合格信号を発す
る。
【００１３】本発明の他の長所および利点は、添付図面
に関して記載され、本発明の好適な実施例が明記された
以下の実施例を検討することにより、明らかとなるだろ
う。
【００１４】
【実施例】図１には、本発明の品質管理・生産ライン追
跡システム１１を備えたコンタクトレンズ生産設備に設
けられた、生産ラインパレットシステム１０の概略図が
図示されている。パレットシステム１０の動作の詳細
は、本発明と同じ譲受人に譲渡された"Contact Lens Pr
oduction Line Pallet System"（コンタクトレンズ生産
ラインパレットシステム）という名称の同時係属特許出
願U.S.S.N.08/257,786（代理人事件整理番号 #9001）に
記載されている。その開示内容は、本出願に参考として
取り入れられている。一般的に、パレット搬送システム
１０を備えたコンタクトレンズ製造設備は、熱可塑性の
前曲面コンタクトレンズ半型と後曲面コンタクトレンズ
半型をそれぞれ製造するための射出成形組立装置２０と
３０を含む、隣接して設けられた様々な装置から成って
いる。前曲面射出成形組立装置２０は、一度に８個まで
の前曲面半型を、この装置２０から第一パレットコンベ
ヤ２７の付近に位置するパレット１２ａまで搬送するた
めのロボット装置２２を含んでいる。そして、後曲面射
出成形組立装置３０は、一度に８個までの後曲面半型
を、第二パレットコンベヤ２９の付近に位置するパレッ
ト１２ｂ内を搬送するための装置２４を含んでいる。第
一パレットコンベヤ２７と第二パレットコンベヤ２９は
ともに、その一部が低酸素ケースで覆われている。補足
的な後曲面コンタクトレンズ半型を含むパレット１２ｂ
の付近に設けられた、前曲面コンタクトレンズ半型を後
曲面コンタクトレンズ半型と同数だけ含むパレット１２
ａを、連続パレットコンベヤ３２に配置するための連続
装置４０も、充填・型組立装置５０へとパレット１２ａ
と１２ｂを交互にかつ連続的に搬送するために設けられ
ている。充填・型組立装置５０は、一般的に、各パレッ
ト１２ａに載置された前曲面レンズ型部のそれぞれの凹
部でコンタクトレンズを形成するために、重合可能な化
合物（モノマー混合物）を真空環境で付着させるための
第一装置５３と、後で充填装置５０の下流側に位置する
型分離装置において、後曲面半型とこれに関連する余分
なモノマーリングつまり「ＨＥＭＡリング」とを前曲面
半型から取り外し易くするために、前曲面の環状縁部に
沿って界面活性剤を付着させるための第二装置５６と、
各後曲面レンズ半型をパレット１２ｂから取り上げて、
これを搬送パレット１２ａ上の対応する前曲面レンズ半
型に位置合わせして載置する、各コンタクトレンズ型組
立品を組み立てるための第三装置５９を含んでいる。パ
レット１２ｂからの各後曲面レンズ半型をコンベヤパレ
ット１２ａ上の対応する前曲面レンズ半型に同時に載置
する操作は、真空環境で行われる。さらに、図１から分
かるように、第二パレット１２ｂから後曲面レンズ半型
が取り除かれた後、射出成形アセンブリ３０から新たな
後曲面レンズ半型の組を受け取るために、パレット再循
環ラムアセンブリ３５により、空の後曲面パレット１２
ｂが元の後曲面供給コンベヤ２９に押し戻される。
【００１５】図１に示されているように、完成された型
組立品が載置されているパレット１２ａは、充填・型組
立装置５０から出て、予備硬化室６５までコンベヤ３２
ｃ上を搬送される。この予備硬化室６５では、各型組立
品に含まれているモノマー溶液が部分的に硬化されて粘
性のゲル状となり、コンタクトレンズの縁部を形成する
とともに、半型どうしの中心のずれを防ぐために、前曲
面レンズ半型と後曲面レンズ半型に所定の圧力がかけら
れる。
【００１６】予備硬化が行われたレンズを載せたパレッ
トは、予備硬化室６５を出た後、コンベヤ３２ｃ上を重
合装置７５まで搬送される。この重合装置７５では、各
型組立品に入っている予備硬化済のレンズがＵＶ乾燥器
で完全に重合されて、コンタクトレンズ半加工品が作ら
れる。図１に見られるように、型組立品が重合される際
に重合室での滞在時間が長くなるように、連続パレット
コンベヤ３２ｃは二つのコンベヤ３１ａと３１ｂに分か
れている。型組立品を載せた一定量のパレットが、コン
ベヤ３２ｃから二つのコンベヤ３１ａと３１ｂのそれぞ
れに導かれるように、押圧装置４５が使用される。
【００１７】重合装置７５において、各型組立品の重合
可能化合物が重合されてコンタクトレンズ半加工品が形
成された後、パレットは、乾燥器から出た型組立品の温
度調整を行う型外し緩衝部分７６を通過し、二重移動ビ
ーム１８９に沿って、パレットシステム１０の後端まで
移動する。ここには、型組立品の後曲面レンズ半型を前
曲面レンズ半型から自動的に分離して、重合されたコン
タクトレンズを露出させ、下流側の水和装置８９に搬送
する型分離装置９０が設けられている。型外し処理の
後、押圧アセンブリ２１０により、水和アセンブリ８９
までパレットを搬送する往復移送パレット装置３３５へ
と、パレット１２ａの列が押圧される。各コンタクトレ
ンズが包装の前に水和されるように、水化アセンブリ８
９では、重合されたコンタクトレンズを中に有している
前曲面レンズ型部が、同時に各パレットから取り出され
て、適当な水和室（図示されていない）内に載置され
る。続いて空のパレットが移送装置３３５によりコンベ
ヤ３１ｆに戻され、ここで押圧装置３２２により空の第
一パレットはコンベヤ２７まで移送される。パレットは
移送された後、射出成形アセンブリ２０から前曲面レン
ズ半型の新しいバッチを受け取ることになる。
【００１８】レンズ製品の半型を搬送するための生産ラ
インパレット１２ａの上面図が、図２（ａ）に示されて
いる。パレット１２ａと１２ｂは、前曲面コンタクトレ
ンズ半型と後曲面コンタクトレンズ半型のいずれでも収
容できるという点で、互換性を持っていることを理解す
べきである。生産ラインパレット１２ａ、１２ｂは、ア
ルミニウム製で、幅は６０ｍｍ以下、長さは１２０ｍｍ
以下である。別の実施例では、パレット１２ａはステン
レス鋼から成り、幅９０ｍｍ、長さ１６０ｍｍである。
図２（ａ）から分かるように、コンタクトレンズの所望
の最終形状である１組の補足的な前曲面半型と後曲面半
型から成る、それぞれのコンタクトレンズ型組立品１３
９を収容するために、各パレット１２ａ、１２ｂには複
数の凹所が形成されている。図２（ｂ）には、各型組立
品１３９がパレットの凹所１３０ｂに収容された状態が
図示されている。コンタクトレンズを製造するには、充
填・型組立装置５０において、ある量の、一般的には約
７０ｍｇ前後の重合可能な化合物を、パレットの凹所１
３０ｂに設けられた各前曲面（凹状）半型１３１に載置
する。望ましい量は、重合が行われる際の副産物の生成
や、重合の後で水が交換される際に希釈剤が用いられた
場合には、希釈剤や副産物の生成を考慮に入れたうえ
で、所望のレンズの寸法（直径や厚さなど）に基づいて
決められる。次に、第一半型と第二半型が、それぞれの
回転軸が同一線上にあり、それぞれのフランジ１３１ａ
と１３３ａが平行となるように並んだ状態で、後曲面
（凸状）半型１３３を重合可能化合物１３２の上に載置
する。半型１３１は、前曲面半型の環状フランジ１３１
ａを受けてこれを支持する環状凹所１３０ａ内を搬送さ
れる。パレット１２ａと１２ｂには、凹所１３０ｂに加
えて、収容された前曲面半型１３１の三角タブ部１３１
ｃが所定角度を持つ位置となるようにこれを収容するた
めの、中心に向かう複数の凹所１３０ｃが設けられてい
る。凹所１３０ｃは、各凹所内に位置する半型の通常の
移動が、＋／−０．１ｍｍ以内となるように設計されて
いる。第二の後曲面半型１３３の三角タブ１３３ｃは、
二つの半型の回転軸が同一線上となるように、前曲面タ
ブ１３１ｃと重複している。
【００１９】図２（ａ）に図示されているように、各パ
レット１２ａ（１２ｂ）の表面上の中心付近には、独自
のバーコード識別子１３５が設けられている。このバー
コード識別子１３５は、後で詳細に説明するように、取
扱、追跡、品質管理を行う設備内の各箇所に設置された
バーコードスキャナ１１０−１１９（図１）で走査され
るものである。また、パレット１２ａ（１２ｂ）には、
後でさらに詳しく説明するが、パレット表面でのコンタ
クトレンズ生産プロセスの実時間検査を可能にするため
に、ファイバー光学ボアスコープおよびこれと同類の検
査装置が挿入される盲穴１２８ａ，１２８ｂが形成され
ている。
【００２０】図１のように、生産ライン追跡・品質管理
システム１１には、制御装置１００が含まれる。制御装
置１００としては、コンピュータや１またはそれ以上の
プログラマブル論理制御装置（ＰＬＣ）が考えられる。
後でさらに詳細に説明するように、制御手段１００に
は、コンタクトレンズの処理条件を実時間監視するため
のセンサ装置が、複数含まれる。センサ装置は、製造設
備の特定装置においてパレットに載置された半型や型組
立品に施される処理を制御するコンピュータやＰＬＣに
よって受け取られる処理条件情報を、この特定装置にお
いて生成する。次にそれぞれのＰＬＣがこの情報を処理
して、補正処置のための適当な制御信号を生成したり、
および／または他の種類の介入や修正が必要なことを示
すエラーフラグを生成する。
【００２１】図１に示された好適な実施例では、制御手
段１００は、コンタクトレンズ製造設備内において生産
ラインパレットシステム１０の追跡および制御を行うた
めの、少なくとも２台のＰＬＣと、これに関連した回路
要素およびソフトウェアから構成される。制御装置１０
０の第一ＰＬＣ１０２ａは、射出成形装置２０、３０か
ら充填／成形組立装置まで、パレットの搬送を制御およ
び追跡する。制御装置１００の第二ＰＬＣ１０２ｂは、
予備硬化、ＵＶ重合、型分離装置において、パレット搬
送の品質管理を行うとともに、これを追跡する。制御装
置１００の第三ＰＬＣ１０２ｃは、次の処理のためにコ
ンタクトレンズがパレットから取り出される水和アセン
ブリにおいて、パレットの識別を保持するために、設け
られている。本発明と同じ譲受人に譲渡された"Automat
ed Methodand Apparatusfor Hydrating Soft Contact L
enses"（水和ソフトコンタクトレンズの自動化方法と装
置）の名称の同時継続出願U.S.S.N.08/258,996（代理人
事件整理番号 #8998）に記載されているように、水和、
後水和、レンズ検査、包装の各装置の様々な面を制御す
るために、別のＰＬＣ（図示せず）が追加されている。
この出願の開示内容は、本出願と、本発明と同じ譲受人
に譲渡された"Automated Apparatusand Methodfor Pack
aging Products" （製品包装用自動化装置と方法）とい
う名称のU.S.S.N.08/257,791（代理人事件整理番号 #90
05）に、参考として取り入れられている。U.S.S.N.08/2
57,791の開示内容もまた、本出願に参考として取り入れ
られている。各ＰＬＣがＴＩシステム５４５（Texas In
struments ）で、バックプレインまたは直列リンク（図
示せず）を介してＰＬＣと通信するためのＴＩ３８６／
ＡＴＭ共処理装置モジュールを含むことが望ましい。好
適な実施例では、後で詳細に説明するように、ＰＬＣ１
０２ｂは、バーコードスキャナ解読器から成る星形接続
点ネットワークに接続された３８６／ＡＴＭモジュール
を備えている。
【００２２】図１から分かるように、各ＰＬＣ１０２
ａ，ｂ，ｃにはそれぞれ、記憶装置１０４ａ，ｂ，ｃが
設けられている。記憶装置は、各ＰＬＣが時間情報およ
び処理条件状況情報の形のデータにアクセスしたりこれ
を処理するのに適したアドレス指定能力と記憶能力を持
っている。すなわち、処理条件状況情報は、特定のコン
タクトレンズ「製品」の合否に関する情報、つまりコン
タクトレンズ半型やコンタクトレンズ型組立品が載置さ
れている特定のパレットに関する特定時点までの処理条
件が、指定された範囲および許容範囲に従って実施され
ているかどうかに関する情報から成る。この情報は、特
定のパレットに載置された製品が合格品か不良品かを判
断するのに用いられる。あるパレットに載置された製品
が不良品である、つまり処理規定パラメータから外れて
いると判断された場合には、パレットシステム１０に設
けられた適切な手段により、このパレットが不合格とな
る。各パレットの時間情報は、各パレットについて処理
条件状況が最後に更新された特定の時点、つまりパレッ
トが特定のバーコードスキャナを通過した時点から成
る。各パレットが特定の処理または事象を受ける、例え
ば特定の処理装置に入ったりこれから出たりする時間
は、後で特に詳細に述べる方法で、記憶装置内の時間情
報項目を用いて、ＰＬＣにより計算される。多様なＰＬ
Ｃを備えた制御手段１００には、パレット時間（タイム
スタンプ）情報を判断するための、１０秒の解像度を持
つ、つまり１０秒毎に増加する主クロック（図示せず）
を含んでいる。主クロックは、ロットの切り換え（後で
説明する）毎に、またはプログラムのダウンロードの後
で、−３２０００にリセットされ、主クロックがリセッ
トされる前の主クロックの最大値は＋３２７６７であ
る。これにより、このシステムでは、主クロックが再度
初期化されるまで、全体として１７９時間かかる。パレ
ットのクロックを管理するとともに時間を確実に変更す
るために、このソフトウェアは、パレットの主クロック
上の数値（秒）を表す値ＰＡＬＬ ＳＥＣ ＴＩＣと、
主クロックが最後にリセットされてからのパレットのク
ロック時間を表すＰＡＬＬ ＣＬＯＣＫを定めている。
【００２３】図１から分かるように、生産ライン追跡・
品質管理システム１１は、図１で部品１１０−１１９と
して示された、生産設備において戦略的箇所に設けられ
たバーコードスキャナ装置を備えている。各バーコード
スキャナ装置１１０−１１９としては、 のScan
star Inc. で製造されているScanstarのモデルＮｏ．１
１０で製造されたバーコードレーザースキャナが適して
おり、コンタクトレンズ半型または型組立品が載置され
た各パレットの識別を行う。すなわち、図１に示された
位置に設けられた各バーコードスキャナは、パレット固
有の識別バーコードを走査して、下を通過する各パレッ
トを識別するのである。後で詳細に説明するように、識
別されたパレットに関連した記憶場所の処理状況情報お
よび／またはタイムスタンプ情報を更新するために、好
適な実施例では整数である、識別されたパレットに対応
するデータがＰＬＣにインプットされるように、Scanst
arのモデルＮｏ．２４０（図示せず）などの解読器が、
各バーコードスキャナに設けられている。各バーコード
スキャナの解読器は、好ましくは星形形状にネットワー
ク連結されている。
【００２４】各ＰＬＣ記憶装置（１０４ａ，ｂ，ｃ）の
記憶機構の好適な実施例は、図３に図示されている。と
りわけ、各パレットには、少なくとも３つの記憶場所が
与えられている。つまり、各パレットに関する処理条件
状況情報データを格納しており、今後はＰＡＬＬ ＳＴ
ＡＴＵＳと呼ぶ記憶場所と、各パレットに関する時間情
報データ（タイムスタンプ）を格納しており、今後はＰ
ＡＬＬ ＴＩＭＥと呼ぶ記憶場所と、パレット識別番号
を格納するための第三の記憶場所、すなわちアレイ用の
ポインタ１６０である。これは、ＰＡＬＬ ＩＤ ＮＵ
Ｍと呼ぶ。ＰＡＬＬ ＳＴＡＴＵＳ情報を含む連続的な
記憶場所１７０のブロックと、ＰＡＬＬＴＩＭＥ情報を
含む連続的な記憶場所１８０のブロックを有するアレイ
または索引テーブルとして、記憶装置を構成することが
好ましい。図３に示したように、各ブロック１７０，１
８０の特定の記憶場所１５５，１５６は、パレットの識
別番号ＰＡＬＬ ＩＤ ＮＵＭがポインタ１６０である
アレイタイプに基づいてアクセスできる。特定の装置に
位置するパレットのＩＤ番号（ＰＡＬＬＥＴ ＩＤ）を
持つＳＴＡＴＩＯＮ ＮＵＭ情報を含む、第三の連続的
な記憶場所１９０のアレイブロック１９０が設けられる
ことが好ましい。ＳＴＡＴＩＯＮ ＮＵＭアレイには、
ＰＬＣで制御される装置と同じ数の要素のみが必要であ
る。ＰＡＬＬ ＳＴＡＴＵＳブロック１７０とＰＡＬＬ
ＴＩＭＥブロック１８０には、ラインのうち、特定の
ＰＬＣで制御される部分に位置するパレットと同じ数の
要素のみが必要である。図３のように、定常状態操作の
間、システム１０に存在するパレットの最大数より多い
部品が、１から４００までの番号を付けられている。
【００２５】プロセス条件状況記憶ブロック１７０の各
場所１５５は、システム内の識別された各パレットのあ
る時点での状況に関するＰＡＬＬ ＳＴＡＴＵＳ情報を
記憶するための、１６ビットのアドレス可能レジスタか
ら成る。同様に、タイムスタンプ記憶ブロック１８０の
各場所１５６は、識別された各パレットが特定のバーコ
ードスキャナを通過する時間に関するＰＡＬＬ ＴＩＭ
Ｅ情報を記憶するための、１６ビットのアドレス可能レ
ジスタから成る。ＰＡＬＬ ＳＴＡＴＵＳ情報は、識別
されたパレットに載置された製品の状況が合格品かどう
かを示す正（＋）の整数と、識別されたパレットに載置
された製品の状況が不良品かどうかを示す負（−）の整
数のいずれかから成ることが好ましい。しかし、合格品
対不良品に関連するものならいかなる案でもよいことは
理解できよう。ＰＡＬＬ ＳＴＡＴＵＳ記憶場所１５５
の不良品対合格品のこの関連により、ＰＬＣは、レンズ
生産設備の特定装置で識別されたパレットに操作を行う
べきかどうかを決定できる。識別されたパレットの状況
が負であれば、それ以上の操作は行われず、不合格装置
に達するまで、負の状況が持続する。不合格（負の状
況）に関する最初の原因のみが記憶されること、および
パレットがシステムから除去される前に同じパレットに
ついて連続的に受け取られた不良品の結果はすべて無視
されることは、述べておかなければならない。
【００２６】状況・タイムスタンプ１８２情報は、特定
装置に含まれるパレットに関するパレット状況情報を持
つ１６ビットのレジスタである、ソフトウェア駆動シフ
トレジスタに入力される。シフトレジスタは、主に、ガ
ス抜き装置や硬化装置のような緩衝部分において、パレ
ットを追跡するのに、使用される。後で詳細に説明する
ように、各シフトレジスタは、特定パレットに関するパ
レット番号と状況情報を有している。パレット自体がシ
ステムのある部分を進む際に、これらのレジスタ内のデ
ータが次のレジスタにシフトされる。これについては、
後で詳述する。
【００２７】本発明と同じ譲受人に譲渡された"Compute
r Program for Quality Control"（品質管理用コンピュ
ータプログラム）という名称の同時係属特許出願U.S.S.
N.08/257,800 （代理人事件整理番号#9015）にさらに詳
しく説明されているように、データ獲得システム（図示
せず）では、特定の処理動作について各ＰＬＣから発せ
られたアラーム信号により集められたそれぞれの処理パ
ラメータ値とともに、不合格コード（負のＰＡＬＬ Ｓ
ＴＡＴＵＳ値）を集め、識別されたパレットが存在する
様々な処理装置における処理パラメータと処理条件を連
関させるセルスーパバイザに、この情報をインプットす
る。その結果、レンズ製造システムの最も問題の多い部
分を強調した図が作成される。このデータ獲得・スーパ
バイザプログラムによって、品質向上と処理の最適化を
目的として、製品・処理情報とコンタクトレンズの品質
情報の間の相互関連が明らかになる。
【００２８】以下では、本発明の生産ライン追跡・品質
管理システムのバーコード追跡機能に関する説明を行
う。
【００２９】制御システム１００、特にＰＬＣ１０２
ａ，ｂ，ｃによって、Ｏ2 露出時間、光度、温度などの
一またはそれ以上の処理条件パラメータに関する許容範
囲外で特定のパレットが処理されたと判断されると、制
御システム１００は、この許容範囲外条件の特定パレッ
トを製造設備内の次の処理装置でさらに処理すべきかど
うかを判断する。さらに、特定パレットを不合格である
と見なすべきかどうかも判断される。
【００３０】生産追跡・品質管理システムでチェックさ
れる最初の処理条件は、射出成形アセンブリ２０，３０
から前曲面半型と後曲面半型のそれぞれが出てから、パ
レット１２ａ，１２ｂがそれぞれロボットアセンブリ２
２，２４から半型を受け取り、半型が窒素緩衝装置に入
るまでの、前曲面半型または後曲面半型の大気（酸素）
露出時間である。
【００３１】図６は、前曲面型部と後曲面型部を、各コ
ンタクトレンズ射出成形アセンブリ２０，３０からパレ
ットシステムの各パレット１２ａ，１２ｂまで搬送する
ための、ロボット装置２２，２４の詳細図である。各射
出成形アセンブリ２０，３０の詳しい説明は、本出願と
同じ譲受人に譲渡された"Low Oxygen Molding of Soft
Contact Lenses" （ソフトコンタクトレンズの低酸素成
形）という名称の同時係属出願U.S.S.N.08/257,802（代
理人事件整理番号 #8997）に記されている。この出願の
開示内容は、参考として本出願に取り入れられている。
各ロボット装置２２，２４の詳細な説明は、本出願と同
じ譲受人に譲渡された"Apparatus for Removing and Tr
ansporting Articles from Molds"（製品を型から取り
外して搬送する装置）という名称の同時係属出願U.S.S.
N.08/258,267（代理人事件整理番号#9002 ）に記されて
いる。この出願の開示内容も、参考として本出願に取り
入れられている。さらに図６において、各コンタクトレ
ンズ射出成形アセンブリ２０，３０は、それ独自のＰＬ
Ｃ１０２ｄ，１０２ｅにより、制御される。ＰＬＣはそ
れぞれ、各アセンブリで行われる処理に関わるとともに
これを管理し、後で詳細に説明するパレット追跡・品質
管理プロセスを開始させる。
【００３２】一般的に、ロボット装置２２には、射出成
形アセンブリ２０から一回分（バッチ）の前曲面レンズ
型部を取り出すとともに、この製品を第一位置まで移送
するための第一ロボットアセンブリ１５が設けられてい
る。アセンブリ１７は、第一位置においてアセンブリ１
５から前曲面レンズ型部を受け取るために設けられたも
のである。ロボットアセンブリ１６は、アセンブリ１７
から前曲面レンズ型部を受け取るとともに、この製品を
第二位置から変換装置３８の変換ヘッド３８ａまで移送
するために、設けられている。変換装置３８は、ロボッ
トアセンブリ１６で運ばれてきた前曲面レンズ型部の方
向を変換するものである。この変換が必要なのは、ロボ
ットアセンブリ１６が非光学（凸）面で前曲面型部を扱
っており、アセンブリ２２から前曲面型部を受け取るに
は、クランプ手段３７ａ，ｂにより瞬間的に休止するパ
レット１２ａに各型部の非光学面が載置されるように、
方向を変換しなければならないからである。図６から分
かるように、一組のクランプ爪３７ａ，ｂ（破線で示
す）から成るクランプ機構３７は、変換ヘッド３８ａに
よって前曲面半型が空のパレット１２ａ上に載置される
ように、このパレットを適宜クランプしてその動作を停
止させるように、コンベヤ２７の反対側に位置してい
る。射出成形アセンブリからコンベヤ２７上のパレット
１２ａへ、前曲面レンズ半型を変換させる処理は、大気
環境で行われることに言及しておかなければならない。
【００３３】上述した"Low Oxygen Molding of Soft Co
ntact Lenses"（ソフトコンタクトレンズの低酸素成
形）という名称の同時係属出願（代理人事件整理番号
（ #8997）に詳細に説明されているように、過度の酸素
への露出によるレンズ型の劣化を避けるため、コンタク
トレンズ処理の間、前曲面型部を低酸素環境に移送しな
ければならない。従って、図６に見られるように、ロボ
ットアセンブリから各パレット１２ａに前曲面半型を連
続して移送した直後に、パレットは、クランプ機構３７
ａ，ｂから外されて、窒素ガスカバー４６へと移送され
る。
【００３４】図４に示した生産ラインパレット追跡・品
質管理を開始するには、図４ではステップ３４１と表さ
れているように、前曲面レンズ半型の第一バッチが射出
成形アセンブリ２０から出されてロボットアセンブリ２
２に移送される前に、ＰＬＣ１０２ｄが第一タイマー
（タイマーＡ）を開始させる。前曲面レンズ型部の第二
バッチが射出成形アセンブリ２０から出されてロボット
アセンブリ２２へと移送される前に、第二タイマーが始
動されるとともに準備が行われる。これは、図５ではス
テップ３４１’と表されている。いついかなる時でも、
２組の前曲面（または後曲面）半型が、射出成形アセン
ブリと窒素緩衝カバーの間で空気に露出されるため、二
つのタイマー（従って２つの制御ループ）が用いられ
る。すなわち、ステップ３４３で第一組の前曲面型部が
射出成形アセンブリ２０から出た際に、ＰＬＣ１０２ｄ
により第一ストップウオッチタイマーを始動させて（ス
テップ３４５）、この第１組の酸素露出のタイミングを
開始させる。この第一タイマーデータは、２ビットの記
憶場所であるフリップフロップポインタレジスタにより
指定された別のＰＬＣタイムレジスタ（図示せず）に記
憶される。半型の移送は進行し、ステップ３４８で、前
曲面レンズ型部の第一バッチがパレット１２ａに載置さ
れる。パレットに載置された後、タイマーが停止し、こ
こまでＯ２ＡＩＲＭＡＸと示されている最長酸素露出時
間を判断するために、ステップ３４９で第一ストップウ
オッチタイマーの数値が評価される。好適な実施例で
は、この最長空気露出時間は、１２秒以下である。一
方、第一組の前曲面半型がパレット１２ａまで移送され
る間に、第二組の前曲面半型が射出成形アセンブリ２０
から出される。すると、ＰＬＣ１０２ｄは（ステップ３
４５’で）第二ストップウオッチタイマーを始動させ
て、ステップ３４３’で第二組の前曲面半型が射出成形
アセンブリ２０から出される際に、この第二組の酸素露
出のタイミングを開始する。このタイムスタンプは、別
のＰＬＣタイムレジスタ（図示せず）に位置する第二タ
イマーレジスタに記憶される。（第一組の曲面が第一パ
レットに載置された後に）、この第一組について時間の
比較が行われると、次に、ステップ３４９で第二組の曲
面について時間の追跡を行うため、フリップフロップポ
インタ（図示せず）が第二タイマーを指定する。これに
より、射出成形アセンブリ２０から出された次の組の半
型についての露出時間を評価できるように、第一タイマ
ーがリセットされて、初期化される。第一タイマーで計
測した結果、１２秒の露出時間を超過すると、エラーフ
ラグが生成されて、パレットが識別されるまで一時的に
記憶される。
【００３５】ステップ３４８’で第二組の前曲面を受け
取るように位置決めされた第二パレットコンベヤに、第
二組の曲面が載置された後、ステップ３４９’で、第二
ストップウオッチタイマーが停止して、第二組の曲面の
最長酸素露出時間を判断するために、第二ストップウオ
ッチタイマーの数値が評価される。この最長空気露出時
間は、やはり１２秒以下でなければならない。この後、
次の組の半型について露出時間を評価できるように、第
二タイマーがリセットされ、初期化が行われる。１２秒
の露出時間が超過すると、エラーフラグが生成され、パ
レットが識別されるまで一時的に記憶される。
【００３６】第一組の前曲面がパレット１２ａまで移送
された直後、ＰＬＣ１０２ａに設けられた第三タイマー
（図示せず）が作動して、パレットに載置された時間を
記録する。次に、窒素ケース４６までパレットを搬送で
きるように、クランプ機構３７ａ，ｂが解除される。図
６のバーコード走査装置１１１が、次に、パレットのバ
ーコード１３５を走査してパレットを識別し、識別され
たパレットが窒素トンネル４６に入った時間を記録する
ためＰＡＬＬ ＩＤ ＮＵＭに対応する記憶場所にアド
レスする。ＰＬＣは、次のように、窒素トンネル４６に
入った識別済パレット１２ａについて、タイムスタンプ
値をＰＡＬＬ ＴＩＭＥアレイ１８０に書き込む。 PALL TIME PALL ID NUM := PALL CLOCK ; 次に、第三タイマーで記録された時間とバーコードスキ
ャナ１１１の第一タイムスタンプの間の時間差が３秒以
下であるか、そして、エラーフラグレジスタ（ＰＬＣ１
０２ｄにあるが図示せず）に記憶されているように、パ
レットの露出時間が１２秒を越えると前もって決定され
ているかどうかについて、ＰＬＣ１０２ａによる判断が
行われる。露出時間が上記の範囲内であるとＰＬＣが判
断すれば、この第一パレット（例えばパレット番号１）
の操作状況は良であり、ＰＬＣは、次のように、ＰＡＬ
Ｌ ＳＴＡＴＵＳアレイ１７０のある場所に処理条件デ
ータを入力する。 ＰＡＬＬ ＯＫ ＣＯＤＥが、パレット状況が良である
ことを示す１６ビットワードの場合。図３のように、記
憶場所ＰＡＬＬ ＳＴＡＴＵＳ〔１〕におけるＰＡＬＬ
ＳＴＡＴＵＳデータは、前曲面レンズ半型の空気露出
時間が１５秒未満であることを示すプラス１の値であ
る。同様に、ＰＬＣが露出時間が上述の範囲内でないと
判断した場合には、この第一パレット（例えばパレット
番号１）の操作状況は不良と見なされ、ＰＬＣは、次の
ようにＰＡＬＬ ＳＴＡＴＵＳ記憶アレイ１７０に数値
を入力する。 PALL STATUS PALL ID NUM := -1; 特定のパレットに対応するＰＡＬＬ ＳＴＡＴＵＳ記憶
アレイ１７０の処理条件状況データに−１の値を入れる
ことは、前曲面レンズ半型の空気露出時間が１５秒以上
であり、このパレットを不合格にすべきであることを示
している。このシステムに入る前曲面レンズ半型を受け
取るパレット１２ａ列のそれぞれについて、このプロセ
スが繰り返される。後で詳細に説明するように、射出成
形アセンブリ３０から出される後曲面レンズ半型につい
ても、全く同じプロセスが実施されることに注意してほ
しい。
【００３７】前曲面レンズ半型に関して前に説明したよ
うに、図６に図示された装置３０は、後曲面レンズ半型
のバッチを取り出すとともにこの半型を第一位置まで移
送するための第一ロボットアセンブリ２５を備えてい
る。アセンブリ２８は第一位置のロボットアセンブリ２
５から後曲面レンズ半型を受け取るとともに、この半型
を第一位置から第二位置に移送するためのものである。
ロボットアセンブリ２６は、第二位置のアセンブリ２８
から後曲面レンズ半型を受け取るとともに、第二位置か
ら、後曲面レンズ半型をアセンブリ２４から受け取るた
めに瞬間的に停止する後曲面レンズパレット１２ｂを搬
送する後曲面供給コンベヤ２９沿いの所定位置まで、こ
の半型を移送するために設けられている。射出成形アセ
ンブリからコンベヤ上のパレット１２ａまで後曲面半型
を移送するプロセスは、大気環境において、行われる。
【００３８】後曲面レンズ半型を受け取る各パレット１
２ｂは、前曲面型アセンブリの移送の際に、搬送コンベ
ヤベルト２９上で瞬間的に停止する。図６から分かるよ
うに、後曲面半型がロボットアセンブリ２６によってパ
レット上に載置される間、空のパレット１２ｂのコンベ
ヤ２９上での移動を停止させるように、一組のクランプ
爪３６ａ，ｂから成るクランプ機構３６が、適宜このパ
レットをクランプする位置に設けられている。クランプ
機構３６，３７の動作は、"Contactlens Production Li
ne Pallet System" （コンタクトレンズ生産ラインパレ
ットシステム）という名称の上述の同時係属特許出願U.
S.S.N.08/257,786に、詳しく説明されている。すでに説
明したが、図６のように、レンズ型の劣化を避けるた
め、ロボットからパレットへと半型が移送された直後
に、後曲面レンズ半型が載置されている各パレット１２
ｂはクランプ機構３６ａ，ｂから外されて、窒素ガスケ
ース４６へと搬送される。
【００３９】図４と図５について前に説明したように、
生産ラインパレット追跡・品質管理を開始するには、後
曲面レンズ半型の第一バッチが射出成形アセンブリ３０
から出てロボットアセンブリ２４へと移送された時に、
ＰＬＣ１０２ｅが第一タイマーを始動させ、後曲面レン
ズ半型の第二バッチが射出成形アセンブリ３０から出て
ロボットアセンブリ２４へと移送された時に、第二タイ
マーを始動させる。いつでも、二組の後曲面半型のみが
射出成形アセンブリと窒素緩衝ケースの間で空気に露出
されるので、二つのタイマーが使用される。すなわち、
後曲面半型の第一組が射出成形アセンブリ３０から出る
際に、この第一組の酸素露出のタイミングを開始するた
めの第一ストップウオッチタイマー（図示せず）をＰＬ
Ｃ１０２ｅが始動させる。この第一タイマーのデータ
は、好適な実施例では、２ビットのブールレジスタであ
るフリップフロップポインタによりポイントされた、別
のＰＬＣタイムレジスタ（図示せず）に記憶される。半
型の移送は進行し、パレット１２ｂに後曲面レンズ型部
の第一バッチが載置される。パレットへの載置が終了す
ると、タイマーが停止し、それまでの最長酸素露出時間
を判断するために、第一ストップウオッチタイマーの数
値が評価される。好適な実施例では、この最長空気露出
時間は１２秒以下でなければならない。一方、第一組の
後曲面がパレット１２ｂに移送される間に、第二組の後
曲面が射出成形アセンブリ３０から出る。第二組の後曲
面半型が射出成形アセンブリ３０から出た際に、この第
二組の酸素露出のタイミングを開始するために、第二ス
トップウオッチタイマー（図示せず）がＰＬＣ１０２ｅ
によって始動される。このタイムスタンプは第二タイマ
ーレジスタ（図示せず）に記憶される。（第一パレット
に載置された後に）第一組の後曲面について時間の比較
が行われた後、フリップフロップポインタ（図示せず）
が、第二組の後曲面について時間の追跡を行うように第
二タイマーに指示する。これにより第一タイマーがリセ
ットして、射出成形アセンブリ３０から出てくる次の組
の半型について露出時間を評価できるように、初期化さ
れる。第一タイマーで計測した結果、１２秒の露出時間
が超過すると、エラーフラグが生成され、パレットが識
別されるまで一時的に記憶される。
【００４０】第二組の後曲面を受け取るように位置決め
された第二パレットに第二組の後曲面が載置されると、
第二ストップウオッチタイマーが停止し、第二組の後曲
面について最長酸素露出時間を判断するために、第二ス
トップウオッチタイマーの数値が評価される。最長空気
露出時間は、やはり１２秒以下でなければならない。次
に第二タイマーがリセットされ、次の組の半型について
露出時間の評価を行えるように、初期化される。１２秒
の露出時間を超過すると、エラーフラグが生成されて、
パレットが識別されるまで一時的に記憶される。
【００４１】第一組の後曲面半型がパレット１２ｂへ移
送された直後、ＰＬＣ１０２ａに設けられた第三タイマ
ーが、パレットに載置された時間を記録するために作動
する。次に、窒素ケース４６へパレットを搬送できるよ
うに、クランプ機構３６ａ，ｂが解除される。図６のバ
ーコード走査装置１１０が次に、パレットのバーコード
１３５を走査してパレットを識別し、識別されたパレッ
トが窒素トンネル４６に入った時間を記録するため、Ｐ
ＡＬＬ ＩＤ ＮＵＭに対応する記憶場所をアドレスす
る。ＰＬＣは、次のように、窒素トンネル４６に入る各
識別済パレット１２ｂについて、タイムスタンプ値をＰ
ＡＬＬ ＴＩＭＥアレイ１８０に書き込む。 ＰＬＣ１０２ａは次に、第三タイマーで記録された時間
とバーコードスキャナ１１０の第一タイムスタンプの間
の時間差が３秒以下かどうかを判断し、エラーフラグレ
ジスタ（図示せず）に記録されたようにパレットの露出
時間が１２秒を越えると前もって判断されている場合に
は、露出時間が上記の範囲内であるとＰＬＣが判断する
と、パレット（例えばパレット番号２）の運転状況は良
となり、ＰＬＣは処理条件データを、次のようにＰＡＬ
Ｌ ＳＴＡＴＵＳアレイ１７０内のある場所に入力す
る。 これは、ＰＡＬＬ ＯＫ ＣＯＤＥが、パレット状況が
良であることを示す１６ビットのワードの場合である。
図３にみられるように、記憶場所ＰＡＬＬ ＳＴＡＴＵ
Ｓ〔１〕におけるＰＡＬＬ ＳＴＡＴＵＳデータは、後
曲面レンズ半型の空気露出時間が１５秒未満であること
を示す＋２１の値である。同じように、露出時間が上述
の範囲内であるとＰＬＣが判断した場合は、パレットの
操作状況は不良であると見なされ、ＰＬＣは、次のよう
にＰＡＬＬＥＴ ＳＴＡＴＵＳ記憶アレイ１７０のある
場所に数値を入力する。 PALL STATUS PALL ID NUM := -21 ; 特定のパレットに対応するＰＡＬＬ ＳＴＡＴＵＳ記憶
アレイの処理条件状況データに２１の数値が入力される
のは、後曲面レンズ半型の空気露出時間が１２秒を越え
ること、そしてパレットを不合格とすべきであることを
示している。システムに入る前曲面レンズ半型を受け取
ったパレット列１２ｂのそれぞれについて、このプロセ
スが繰り返される。 このプロセス全体は、射出成形アセ
ンブリ３０から出た後曲面レンズ半型の各組についても
繰り返されることに、注意してほしい。
【００４２】本発明の生産追跡・品質管理システムで監
視される次の処理条件は、窒素ケース４６から成るガス
抜き（窒素緩衝）装置で生ずるものである。ガス抜き処
理は、前に露出が行われた前曲面レンズ半型および後曲
面レンズ半型から酸素のパージングを最大限に行うこと
で、完了する。酸素露出時間が約１２秒から１５秒の場
合には、窒素トンネル４６で最低３分間処理する必要が
ある。このパージング時間は、幾何学的で、酸素露出時
間が３０秒以上の場合、窒素トンネルで３０分間処理す
る必要がある。Ｎ2 のガス抜き時間は、モノマー充填・
型組立装置５０に入る時点で検査される。ここでは、バ
ーコードスキャナ１１２が、装置５０に入る各パレット
１２ａ，ｂを識別して、識別された各パレット１２ａ，
１２ｂがモノマー充填装置に入る時間に対応するタイム
スタンプ値を生成するようにＰＬＣに通知する。ＰＬＣ
は、モノマー充填・型組立装置５０に入る識別済の各パ
レットに対応する記憶アレイ１８０のＰＡＬＬ ＴＩＭ
Ｅ〔ＰＡＬＬ ＩＤ ＮＵＭ〕の場所に、タイムスタン
プ値を書き込み、前の第一タイムスタンプ値（窒素トン
ネルに入る時間を示す）と最近のタイムスタンプ値（モ
ノマー充填装置に入る時間を示す）の時間差が３秒以上
であるかどうかについて、判断を行う。ＰＬＣは、次の
ように、各パレットについてバーコード走査の間の時間
差の計算を行う。
【００４３】窒素充満ケース４６内における各パレット
の移送時間つまりＰＡＬＬ ＴＩＭＥ−ＤＩＦが３秒を
越えるとＰＬＣが判断した場合には、パレットの操作状
況は良で、充填／型組立モジュール５０に入るようにパ
レットが解除され、ＰＬＣは次のように、ＰＡＬＬＥＴ
ＳＴＡＴＵＳアレイ１７０内のある場所に処理条件デ
ータを入力する。 PALLOKCODE:=+2 PALLSTATUSPALLIDNUM: =PALLOKCODE; ここにおいて、ＰＡＬＬ ＯＫ ＣＯＤＥ：＝＋２は、
前曲面半型が載置されているパレット１２ａは良である
ことを示している。窒素ケース内のパレット移送時間が
上記の範囲内に含まれないと、ＰＬＣが判断した場合
は、３秒経過するまでパレットが窒素ケースの中に保持
される。これを行うのは、図９、図１０に示した、パー
ジング時間が３秒に達するまで窒素緩衝装置内にパレッ
トを保持するための、上流側のクランプ爪１５３ａ，ｂ
である。
【００４４】窒素ケース４６内において、一つ（または
それ以上）の処理条件の不備、例えば、Ｏ2 ガスの濃度
レベルが許容範囲を越える場合が生じることがある。緩
衝装置内のＯ2 ガス濃度が高いというような不備は、窒
素緩衝装置内のパレットの流れ全体に影響を与えるの
で、すべてのパレットを識別して、記憶アレイ１７０に
不良としてマークしなければならない。
【００４５】図７に見られるように、ケース４６内の酸
素レベルを常に監視するとともに、トンネルケース内の
酸素濃度が約０．３％から０．５％の許容範囲外にある
場合にＰＬＣ１０２ａに信号を発するために、ＰＬＣ１
０２ａとインターフェースする酸素センサ１２１ａから
１２１ｆが、ケース４２内の様々な箇所に設けられてい
る。ケース内のＯ2 レベルがこの範囲内の場合には、充
填装置５０に入る際にバーコードスキャナ１１２で識別
された各パレットについて、パレットが良であることを
示す処理条件状況ＰＡＬＬ ＳＴＡＴＵＳ〔ＰＡＬＬ
ＩＤ ＮＵＭ〕が、ＰＬＣにより更新される。
【００４６】いついかなる時でも、酸素濃度が０．５％
の限度を越えた場合には、その時点で緩衝装置内にある
各パレットの操作状況は、許容範囲外の状況であること
を示すものでなければならない。さらに、このような出
来事により、介入が必要なことを示すアラームつまり警
告信号が起動されなければならない。ＰＬＣ１０２ａは
次に、連続して窒素緩衝装置に入った特定のパレット
が、許容範囲外条件が生じた時点でこの緩衝装置内にあ
ることを示す＋１と＋２１の値について記憶アレイ１７
０を走査して、各状況を不良（−’ｉｖｅ整数）状況に
変更する。すなわち、例えば＋１状況（前曲面）を持つ
各ＰＡＬＬ ＩＤ ＮＵＭについて−１値を入力し、＋
２１状況（後曲面）を持つ各ＰＡＬＬ ＩＤ ＮＵＭに
ついて−２１値を、パレットが良でないため不合格とす
べきであることを示す処理条件状況アレイ１７０に入力
することにより、ＰＬＣが、処理条件状況ＰＡＬＬ Ｓ
ＴＡＴＵＳ〔ＰＡＬＬ ＩＤ ＮＵＭ〕記憶を更新する
のである。
【００４７】"Contact Lens Production Line Pallet S
ystem"（コンタクトレンズ生産ラインパレットシステ
ム）の名称の上述の同時係属特許出願U.S.S.N.08/257,7
86により詳細に説明されているように、後曲面コンタク
トレンズ半型が載置されたパレット１２ａの付近にあ
り、後曲面コンタクトレンズと同数の前曲面コンタクト
レンズ半型が載置されているパレット１２ａを、Ｎ2 ケ
ース４６に全体が覆われた連続パレットコンベヤ３２に
載せるために、連続装置４０が設けられている（図
１）。その目的は、コンタクトレンズ型組立処理のため
に、後曲面半型を載せたパレット１２ｂを最初に、そし
てその直後に前曲面半型を載せたパレット１２ａを、と
いうように、両パレットを交互にかつ連続的に充填・型
組立装置５０へと搬送することである。
【００４８】図６と図８から分かるように、各供給コン
ベヤ２７，２９の各端部２７ａ，２９ａに位置する二重
クロス押圧装置４０は、主の連続コンベヤ３２にパレッ
トを入れるためにトラック１４３に沿って各供給コンベ
ヤ２８，２９からパレットを同時に押圧するための第一
アーム１４１と第二アーム１４２を備えている。図６に
示したように、第一アーム１４１と第二アーム１４２
は、図６の最初の位置から延出位置（図示せず）まで、
トラック１４７に沿って二重矢印で示した方向にスライ
ド可能な取り付け手段１４５上に、平行に設けられてい
る。取り付け手段１４５と第一および第二アーム１４
１，１４２を、水平に位置するパレットの面より上で垂
直方向に持ち上げ、近接して位置するパレット１２ａ，
１２ｂをコンベヤ３２まで押圧してモノマー充填装置ま
で窒素ケース４６内を搬送した後、トラック１４７上の
最初の位置までアームを往復させるために、空気で作動
するリフト手段１４８が設けられている。
【００４９】図８から分かるように、前曲面レンズ半型
が載ったパレット１２ａと後曲面レンズ半型が載ったパ
レット１２ｂがそれぞれ正しい位置にあり、二重クロス
押圧装置４０により正しく配列されていることを確認す
るために、適切な近接センサ１２３ａ，ｂ，ｃ，１２４
ａ，ｂがトラック１４３沿いに位置している。クロス押
圧装置４０により、配列されて順番に位置した状態で、
パレットがモノマー充填・型組立装置５０へ交互に搬送
されるように、近接センサ１２３ａ，ｂ，ｃ、１２４
ａ，ｂがパレットの正しい位置を確認する。近接センサ
１２３ａ，ｂ，ｃ、１２４ａ，ｂは、本質的に冗長であ
り、いずれかのセンサにより順序の誤りが識別される
と、即座にオペレータに通知され、Ｎ2 緩衝装置内のＦ
Ｃ（前曲面半型）／ＢＣ（後曲面半型）パレットの順序
が間違っていることが判明するのである。
【００５０】パレットの配列の誤りが発見されると、Ｐ
ＬＣは、パレットが良であることを示すために、バーコ
ードスキャナ１１２で識別されたパレットについて処理
条件状況ＰＡＬＬ ＳＴＡＴＵＳ〔ＰＡＬＬ ＩＤ Ｎ
ＵＭ〕記憶１７０を更新する。バーコードスキャナ１１
１，１１０で前に記録された前曲面および後曲面のパレ
ットに関する状況が、バーコードスキャナ１１２で走査
された際に、識別されたパレットの配列が誤っているか
どうかを、ＰＬＣが判断する。
【００５１】"Contact Lens Production Line Pallet S
ystem"（コンタクトレンズ生産ラインパレットシステ
ム）という名称の同時係属特許出願U.S.S.N.08/257,786
に説明されているように、前曲面レンズ半型と後曲面レ
ンズ半型を載せたパレット１２ａ，ｂの各組が、パレッ
トを充填装置５０に入れるため前方向の移動が行われる
第二連続装置５５に到達する。
【００５２】図９および図１０には、充填・型組立装置
５０のモノマー充填装置５３に、コンベヤ３２からのパ
レットを一度に二つずつ交互にかつ連続的に移送ため
の、精密パレット処理装置５５が図示されている。すな
わち、コンベヤ３２上の交互のパレット１２ｂ，１２ａ
の前方移動は、図１０のように、一組のクランプ爪１５
１ａ，ｂにより、最初に終了する。第一パレットの動き
が停止すると、交互に連続するパレット１２ａ，ｂがそ
の後ろに積み重ねられる。
【００５３】ＰＬＣ１０２ａに制御されると、次に、静
止状態のクランプ爪１５１ａ，ｂが外れて、バーコード
スキャナ１１２による追跡が可能となる。爪１５１ａ，
ｂが外れた後、パレットは上流側の一組のクランプ爪１
５３ａ，１５３ｂへと正確に搬送される。図１０から分
かるように、ここで、最初のパレット１２ｂをクランプ
することにより、パレットの前方移動が再び終了する。
これによりバーコードスキャナ１１２は各パレットを識
別する。その結果、パレットが充填・型組立装置に入る
前に、Ｎ2 緩衝時間が３分を越えるかどうかをＰＬＣが
正確に判断してＢＣ／ＦＣの配列を確認できるように、
識別された各パレットについて記憶アレイ１８０のＰＡ
ＬＬ ＴＩＭＥ〔ＰＡＬＬ ＩＤ ＮＵＭ〕場所のそれ
ぞれに、新しいタイムスタンプ値が、ＰＬＣにより入力
される。このようにして、前曲面レンズ半型を載せた各
パレット１２ａがモノマー充填の準備ができているかど
うか、そして型組立の準備ができているかどうかを、Ｐ
ＬＣが確認する。
【００５４】充填装置に入る各パレットについて状況検
査が終了すると、後曲面レンズ半型を載せた第二パレッ
ト１２ｂと前曲面レンズ半型を載せた第二パレット１２
ａが、ラム１５４の押圧器１５４ａの前方において”
Ａ”として示された位置｛１｝に並ぶように、ＰＬＣの
正確な制御に基づいて、クランプ爪１５３ａ，ｂが連続
的に開閉する。次に、ＰＬＣの正確な制御に基づき、空
気シリンダ装置１５８によって駆動されるラム１５４が
適宜作動して、ラム１５７のラムヘッド１５７ａと並ぶ
とともに図９に位置”Ｃ”として示されている位置
｛２｝へと、矢印”Ｂ”で示された方向にパレットの長
さに等しい距離だけ、スライド板３２ａに沿ってパレッ
ト１２ａ，ｂを押圧する。適当な手段（図示せず）によ
って駆動されるサーボモータであるラム１５７が適宜作
動して、モノマー充填装置５３での処理のためにパレッ
トの幅±０．１ｍｍにほぼ等しい距離だけ矢印”Ｄ”で
示された方向にトラック３２ｂに沿ってパレット１２
ａ，１２ｂを押圧する。ＰＬＣの制御下で、１２のパレ
ットが充填装置・型組立アセンブリでの処理のため、こ
こに連続的に入っていく。パレットが充填アセンブリ５
０内にある際にエラーが発生した場合には、ＰＬＣがシ
フトレジスタ制御によりパレットを追跡できるように、
これらの処理のタイミングは正確であることを理解して
いただきたい。これについては、後で詳細に説明する。
【００５５】充填・型組立アセンブリ５０内でのパレッ
ト状況情報の追跡は、一連のシフトレジスタにより行わ
れる。図９から分かるように、処理のためにパレットを
配置するための｛１｝，｛２｝，．．．｛１１｝で示さ
れた指標位置が１１箇所設けられており、各位置におけ
るパレットの状況とパレットＩＤ情報を記憶するため
に、シフトレジスタが各位置に設けられている。押圧ア
センブリ１５４，１５７により充填・型アセンブリ装置
５０内で交代するパレットに指標が付けられると、対応
するシフトレジスタに含まれたパレット状況とパレット
ＩＤ情報が、次のレジスタ位置にシフトされる。ｉ＝
１，２，．．．１１の場合の変数ＳＴＡＴＵＳ ＢＡＳ
Ｅ〔ｉ〕とＩＤ ＢＡＳＥ〔ｉ〕には、後曲面半型を載
せたパレット１２ｂの状況とパレットＩＤ情報が含まれ
ている。ｊ＝１，２，．．．１１の場合の変数ＳＴＡＴ
ＵＳ ＦＲＯＮＴ〔ｊ〕とＩＤ ＦＲＯＮＴ〔ｊ〕は、
前曲面半型を載せたパレット１２ａの状況とパレットＩ
Ｄ情報をそれぞれ含んでいる。
【００５６】操作時には、交互に移送されるパレットの
それぞれが窒素緩衝装置に存在し、図９で位置｛１｝と
記された場所に入ると、バーコードスキャナ１１２で更
新されたパレット状況とパレットＩＤ情報が第一シフト
レジスタに入力される。例えば、後曲面半型を載せたパ
レットについては、状況情報がＳＴＡＴＵＳ ＢＡＳＥ
〔１〕変数に入力されるとともに、パレットＩＤ番号が
ＩＤ ＢＡＳＥ〔１〕に入力される。次に連続する前曲
面半型を載せたパレットが位置｛１｝に入ると、バーコ
ードスキャナ１１２からの状況情報がＳＴＡＴＵＳ Ｆ
ＲＯＮＴ〔１〕変数に入力されるとともに、パレットＩ
Ｄ番号がＩＤ ＦＲＯＮＴ〔１〕に入力される。前曲面
半型を載せたパレットが位置｛１｝に入る前に、押圧器
１５４が後曲面半型のパレット１２ｂを｛２｝の位置に
置き、インデックス位置｛１｝についてシフトレジスタ
に記憶された状況とパレットＩＤ情報が、シフトレジス
タ位置番号｛２｝に割り当てられる。例えば、 STATUS BASE2 := STATUS BASE1 ; ID BASE2 := ID BASE1; 位置｛１｝と｛２｝は、窒素緩衝装置の出口と充填・型
組立アセンブリ装置５０への入口を、物理的に分けてい
る。図９の位置｛２｝では、８個の半型がすべて特定の
パレットにあることを検知するために、８個の光電セン
サ（図示せず）が設けられている。半型が存在しないと
検知されると、ＳＴＡＴＵＳ ＢＡＳＥ〔２〕（前曲面
半型が載置されたパレットについてＳＴＡＴＵＳ ＦＲ
ＯＮＴ〔２〕）に含まれる情報が、特定の後曲面半型ま
たは前曲面半型を載せたパレットが不良であることを示
す負の状況番号で更新される。この状況は、連続するレ
ジスタ位置にシフトされ、不良品のパレットが充填・型
組立アセンブリ装置を通過する際にパレットとともに残
る。
【００５７】次に進むと、最初の後曲面半型を載せたパ
レットが、押圧器１５７によって、図９で｛３｝と付け
られたアイドル位置に置かれた後、第一前曲面半型を載
せたパレットが位置｛２｝に置かれる。両パレットにつ
いてのパレット状況情報とパレットＩＤ情報は、次のよ
うに変換される。 ID FARONT2 := ID FRONT1 ; STATUS FRONT2 := STATUS FRONT1; ID BASE3 := ID BASE2; STATUS BASE3 := STATUS BASE2;
【００５８】ラム押圧器１５７によって、図９の位置
｛３｝に後曲面を載せたパレットが配置されると、８個
の半型すべてが正確に腔内に位置しているかどうかを確
認する分散検査を行うために、レーザアセンブリ１２２
ａ，ｂが設けられている。半型の位置が正しくないと、
ＳＴＡＴＵＳ ＢＡＳＥ〔３〕またはＳＴＡＴＵＳ Ｆ
ＲＯＮＴ〔３〕に含まれる情報が、特定の後曲面または
前曲面半型パレットが不良であることを示す負の状況番
号、例えば−６により更新される。さもなければ、処理
条件状況は、パレットが良であるためシフトレジスタを
更新することを示している。このため、状況とパレット
ＩＤはシフトレジスタの内の場所に維持されており、状
況／ＩＤ／記憶は、パレットの合格／不合格の決定がシ
フトレジスタの内容に基づいて各パレットについて行わ
れる場合、最初に不合格となった装置まで追跡されるた
め、記憶アレイ１７０の処理条件を更新する必要はな
い。窒素緩衝装置に存在するすべてのパレットが、許容
条件外であるため不良であると見なされると、すべての
シフトレジスタに不良状況条件が含まれ、各パレットは
充填・型アセンブリ装置での次の処理を受けることな
く、その後、生産ラインから排除される。
【００５９】モノマー充填装置 すでに簡単に説明したが、さらに図１１において、装置
５０の分量・充填機器５３の一部である精密分量ノズル
１８５を用いて、パレット１２ａに載置された前曲面半
型のそれぞれに、重合可能なヒドロゲルまたはモノマー
を、所定量、充填する。モノマーと前曲面半型の間にガ
スが溜まるのを防ぐために、交互のパレット１２ａに載
った前曲面半型のそれぞれに、真空状態でモノマーを充
填する。
【００６０】本発明と同じ譲受人に譲渡され、本発明に
参考として取り入れられている"Method and Apparatus
for Contact Lens Mold Filling and Assembly"（コン
タクトレンズ型充填・アセンブリの方法と装置）という
名称の同時係属特許出願U.S.S.N.04/258,264（代理人事
件整理番号 #9004）にさらに詳細に説明されているよう
に、モノマーが比較的高圧の分量ノズルから前曲面半型
の周囲の不活性雰囲気Ｎ2 または真空状態で噴射される
際に、溶解したガスが気泡を形成するので、モノマー内
の溶解ガスを確実に取り除くため、最初に、重合可能な
モノマー混合物からガス抜きする。さらに、前曲面半型
の凹所に噴射する前に、モノマー溶液の酸素含有量を監
視する。型部の凹所にすべて確実に充填するとともに、
成形が不完全となるのを防ぐために、前曲面半型のそれ
ぞれに重合可能なヒドロゲルまたはモノマーを約６０μ
ｌ付着させる。
【００６１】図１１のように、各パレットの周囲に気密
シールを形成する真空シールアセンブリ１８３に設けら
れた真空ポンプ１８６により作られた真空状態におい
て、モノマーの充填が行われる。余分なモノマーは、前
曲面半型および後曲面半型の組立最終段階で、型部の凹
所から取り除かれる。
【００６２】図９で位置｛４｝に示されている塗布装置
５３では、特定の処理が許容範囲外であったり何らかの
理由で失敗した場合には、この位置における前（または
後）曲面半型パレットについてのシフトレジスタ情報が
更新される。例えば、図１１から分かるように、モノマ
ー噴射ポンプ１８２が故障したり、許容範囲外の割合で
噴射を行った場合、モノマー容器１８４が空だったり低
レベルである場合、モノマー塗布時間が許容限界である
４秒以内でない場合、Ｏ2 センサ１８８で検知されたモ
ノマー内のＯ2 濃度レベルが、５．０ｐｐｍを越えたり
３．５ｐｐｍを下回る場合、真空ポンプ１８６で作られ
た充填アセンブリ内の真空状態が圧力センサ１８７で検
知された許容限度内でない場合には、後で不合格とすべ
き不良のパレット１２ａが存在することを示す、シフト
レジスタＳＴＡＴＵＳ ＦＲＯＮＴ〔４〕に入力するた
めに、特定のエラーに関する不の状況整数が、ＰＬＣ１
０２ａにより生成される。後曲面半型を載せたパレット
１２ｂは位置｛４｝まで搬送されるが、ここで処理され
るのではないことに注意してほしい。しかし、パレット
ＩＤと状況情報は、やはりＳＴＡＴＵＳ ＢＡＳＥ
〔４〕にシフトされる。
【００６３】次の位置についてだが、最初の後曲面半型
パレットは位置｛５｝にあり、この位置はアイドル位置
である。パレット状況とパレットＩＤデータは次のよう
にシフトされる。 ID BASE5 := ID BASE4 STATUS BASE5 := STATUS BASE4 同じように、前曲面半型パレットが位置｛５｝まで搬送
されると、前曲面状況データが次のようにシフトされ
る。 ID FRONT5 := ID FRONT4 STATUS FRONT5 := STATUS FRONT4 同様に、位置｛６｝はアイドル位置なので、前曲面パレ
ットおよび後曲面パレットの状況とパレットＩＤデータ
は、次のようにシフトされる。 ID BASE6 := ID BASE5 STATUS BASE6 := STATUS BASE5 ID FRONT6 := ID FRONT5 STATUS FRONT6 := STATUS FRONT5
【００６４】充填・型アセンブリ装置５０の次のパレッ
トインデックスは、図９に位置｛７｝で示された、界面
活性剤がＦＣに施されるスタンプ装置５６である。前曲
面レンズ半型と後曲面レンズ半型のパレット状況および
パレットＩＤデータは、最初に、以下のように更新され
る。 ID BASE7 := ID BASE6 STATUS BASE7 : =STATUS BASE6 ID FRONT7 := ID FRONT6 STATUS FRONT7 := STATUS FRONT6
【００６５】充填・型アセンブリ装置の次のインデック
スは、図９に位置｛８｝で示されたタブ配列部分であ
る。パレット状況とパレットＩＤデータは次のようにシ
フトされる。 ID BASE8 := ID BASE7 STATUS BASE8 := STATUS BASE7 ID FRONT8 := ID FRONT7 STATUS FRONT8 := STATUS FRONT7
【００６６】上記の処理場所のいずれかで、許容範囲外
の状態が生じる場合は、パレットＩＤとパレット状況デ
ータがすでにシフトされた後であることを述べておかな
ければならない。許容範囲外のパレット状況情報は、こ
の許容範囲外の状態が起きた場所に対応すインデックス
におけるシフトレジスタＳＴＡＴＵＳ ＦＲＯＮＴまた
はＳＴＡＴＵＳ ＢＡＳＥに即座に入る。
【００６７】型組立装置 前に述べたように、最終的に所望のレンズ形状となる補
足的な前曲面半型１３１と後曲面半型１３３を用いて、
モノマー混合物（（図２（ｂ）を直接成形する。続い
て、前曲面半型１３１が重合可能混合物１３２で充填さ
れる充填装置５０での塗布ステップの後、この前曲面半
型１３１は、二つの半型の間に気泡が入り込まないよう
に真空状態で後曲面半型１３３に覆われる。次に後曲面
半型は、レンズの完成品が正しく配列されて歪みが生じ
ないように、凹状の前半型の周縁に載せられる。前曲面
半型と後曲面半型の両側から延出するタブ１３１ｃ，１
３３ｃは、扱いやすくするため、そして重合の後に半型
を梃子で分離し易くするため、図２（ｂ）のような相対
的位置にあることが望ましい。
【００６８】アセンブリ装置５９の操作は、"Method an
d Apparatus for Contat Lens MoldFilling and Assemb
ly"（コンタクトレンズ型充填アセンブリの方法と装
置）という名称の上記の同時係属特許出願U.S.S.N.08/2
58,264（代理人事件整理番号 #9004）に詳細に説明され
ている。ここでは簡潔に述べると、図１２,１３および
１４において、真空ハウジング２７２内を往復するよう
に設けられた一連の往復ピストン２７１は、ともに主ハ
ウジング２７３に支持されるとともにこの中で浮いた状
態である。３つの部材２７１，２７２，２７３の往復回
数は様々だが、ともに連動し、下に設けられたパレット
１２ａ，１２ｂのうちいずれかとも連動している。
【００６９】操作時には、後曲面半型を載せたパレット
１２ｂが、往復ピストン２７１の下のコンベヤ３２ｂ上
を移動する。パレットが所定位置に達すると、サーボモ
ータ２７７とクロス部材２７８と往復管２７４，２７５
によって、アセンブリモジュール５９が下方向に往復し
て、真空マニホールドハウジングと主ハウジング２７３
を下に引く。真空マニホールドハウジング２７２は、ば
ね（図示せず）によって下向きの位置にバイアスがかけ
られ、各往復ピストン２７１において真空マニホールド
（図示せず）により真空状態となると、往復ピストン２
７１は、パレット１２ｂ上の後曲面半型１３１と当接す
るように下方向にバイアスされる。
【００７０】アセンブリモジュールが移動範囲の最下部
に達すると、各後曲面半型が、往復ピストン２７１内が
真空であるために、後曲面半型パレット１２ｂから取り
出される。次に、空のパレット１２ｂをアセンブリモジ
ュールからコンベヤ３２ｂに沿って移送するため、そし
て充填モジュール５３でそれぞれモノマーが充填された
前曲面半型が載置された新しいパレット１２ａの位置決
めを行うために、アセンブリモジュール５９全体が、
約．２５秒で上方向に往復する。２本のテーパ状位置決
めピンによって、パレット１２ａは正確にピストンと位
置決めされた位置へと進む。この位置決めピン３０６の
うち一本は図示されているが、図２（ａ）のように、パ
レット１２ａ，ｂに形成された位置決め盲穴１２９ａ，
１２９ｂと共働するものである。ピン３０６のテーパ形
状は、半型を正確に組み立てるために±．１ｍｍ以内で
パレットと位置決めするのに十分なものである。
【００７１】真空マニホールドハウジング２７２と主ハ
ウジング２７３を周囲シール３１０がパレット１２ｂの
外周１４０と接触するまで下方向に往復させることによ
り、組立サイクルが開始する。周囲シールと接触する
と、往復クロスヘッド２７８の付近の近接スイッチによ
り、真空スイッチが作動する。この往復クロスヘッド２
７８は、真空マニホールドハウジング２７２とプラット
ホーム２７６の間に形成された室からガスを抜くため
に、真空管３１１および往復駆動管２７４の内部と連通
した第二真空源を作動させる。
【００７２】２本の往復駆動管２７４，２７５内での真
空吸引は、少し異なっていることに注意すべきである。
つまり、後曲面半型にモノマーが充填され前曲面半型と
重ねられるまで後曲面半型が往復ピストン２７１に確実
に保持されるように、管２７５内での真空吸引の程度
は、管２７４内での吸引より少し大きいのである。好適
な実施例では、往復ピストン２７１内での真空吸引が３
から５ミリバールの範囲となる。
【００７３】真空マニホールドハウジング２７２内が真
空状態となると、真空マニホールドハウジング２７２の
往復運動が停止し、パレット１２ｂに対して静止状態と
なる。しかし、二つの半型が組み立てられる際に半型の
凹所への充填が行われるため、後曲面半型がモノマーに
接触した後でゆっくりと上に上がるように、上部の主ハ
ウジング２７３は下方向の往復を継続する。ハウジング
周囲に残った真空状態により、周囲のＮ2 の圧力下で組
立が行われる場合に較べて、二つの曲面半型の組立は迅
速に実行される。真空下で組み立てられると、充填速度
は毎秒５ｍｍの高速に達するのに対して、真空でない
と、レンズ完成品の品質に影響してこれを損なうことに
なるモノマーの不要な撹拌が生じたり気泡が生成される
ため、毎秒１ｍｍを越える速度は期待できない。さら
に、真空下で組立および密封を行うため、真空室から出
た後、型アセンブリが大気圧により相互にクランプされ
ることになる。
【００７４】一組のボアスコープハウジング２８３と２
８４により、検査と品質管理のためにアセンブリの空所
に挿入されるボアスコープ２９１とファイバー光学プロ
ーブ２９２に届く。使用時以外には、ボアスコープハウ
ジング２８３，２８４は、アセンブリのハウジング内が
真空状態となるように、ブラインドで閉じられている。
さらに、真空でない場合には、半型どうしの間、または
モノマーと後曲面半型の間に窒素が閉じ込められて、気
泡やたまりが生じて、結果的にレンズが不合格となるこ
ともある。
【００７５】後曲面半型を前曲面半型にしっかりと固定
するとともに、前曲面半型の上に形成されたナイフリン
グ１３６（図２（ｂ））上に曲面の凸部を置いて、レン
ズブランク１３２のモノマーをＨＥＭＡリング１３２ａ
のモノマーと分離するためには、約０．３ｋｇＦのクラ
ンプ圧力が必要である。半型を載置した後、真空管３０
４のバルブを開くと、各往復ピストン２７１内の真空状
態が破られる。その直後、所定のクランプ時間だけ所定
のクランプ圧力が加えられた後、真空管３１１のバルブ
を開かれると、真空マニホールドハウジングとパレット
１２ａの間の真空状態が破られる。一般的にこの時間
は．５から３秒だが、１．５秒が望ましい。クランプ圧
力はレンズあたり．５から２ｋｇｍの範囲だが、レンズ
当たり１ｋｇｍが適している。その後、駆動モータ２７
７が作動して、サーボモータ２７７によってアセンブリ
モジュール５９全体が上方に持ち上げられ、新しい後曲
面型部を取り上げるとともに、新しい操作サイクルを開
始するために、リセットされる。
【００７６】図９の位置｛９｝で示されたアセンブリ装
置５９では、特定の処理が許容範囲外であったり、何ら
かの理由で実施されない場合には、その位置における前
（後）曲面パレットに関するシフトレジスタの情報が更
新される。例えば、型アセンブリ装置におけるＰＬＣセ
ンサの位置の概略を示した図１４に見られるように、ピ
ストン２７１を真空状態とする真空ポンプ２９３ａが作
動せず、後曲面半型が取り上げられないと、ＰＬＣは、
訂正または調整が必要なことを示す信号を発する。同じ
ように、圧力センサ２２５ａで計測されたアセンブリ真
空室の圧力が１から７ミリバールでない場合や、後曲面
レンズ型部が約０．３ｋｇの制御圧力でこれに対応する
前曲面レンズ型部の上に載置されない場合、またサーボ
モータ２７７が秒速０．２−１ｍｍしい割合アセンブリ
を持ち上げない場合には、後で拒絶すべき不良のＦＣパ
レット１２ａがあることを示すシフトレジスタＳＴＡＴ
ＵＳ ＦＲＯＮＴ
〔９〕に入力するため、ＰＬＣ１０２
ａが特定のエラーに関する負の整数を発する。同様に、
ＢＣを載せたパレット１２ｂに関してエラーが生ずるこ
ともあり、シフトレジスタＳＴＡＴＵＳ ＢＡＳＥ
〔９〕において状況が更新される。
【００７７】ロット変換モード 多様な度数のコンタクトレンズを生産する必要があるた
め、射出成形アセンブリ２０で製造された新しい度数を
持つ曲面、例えば前曲面レンズ型部が、上記の方法でパ
レット１２ａまで搬送される。定常動作を維持するとと
もに中断を最小限に押さえるため、処理すべき新しい前
曲面レンズ型部が適切な装置に入るように、この装置に
フラグを出す。例えば、新しい組の前曲面レンズ型部に
ついて、窒素ケース内の搬送時間を変更する必要があっ
たり、新しいロットの前曲面レンズ型部に付着されるモ
ノマー化合物の量を変更しなければならない場合もあ
る。前に述べたように、ロットを変更する度に主クロッ
クをリセットする。
【００７８】不合格パレット図９ と図１５は、ともに、充填・型組立装置５０の出口
において、特定のパレットを自動的に不合格とする装置
を図示したものである。後曲面レンズ型部を搬送してき
たパレット１２ｂは、装置５０の型組立モジュール５９
から出た後、空になり、射出成形装置３０から新しい組
の後曲面レンズ型部を取り上げるために、供給コンベヤ
２９に戻る。交互に連続するパレットが充填・型組立装
置５０を通過し、各パレットがこの装置５０に入った際
に、タイムスタンプ情報がこのパレットの記憶装置に入
力され、そこでの操作の正確なタイミングが行われる
と、ＰＬＣは、空のパレット１２ｂに関するパレット不
合格をいつ開始すべきかを判断できる。すなわち、図９
と図１５から分かるように、往復ラム１５５を有するラ
ムアセンブリ３５とラムヘッド１５６が、コンベヤ２９
ｂ沿いの”Ｅ”と示された位置（図９）から、矢印”
Ｆ”の方向に、空のパレットを押圧するのである。ここ
で、後曲面レンズ型部取り出し点まで戻すために、後曲
面供給コンベヤ２９がパレット１２ｂを取り上げる。
【００７９】さらに、型組立品を載せた各パレット１２
ａは図９の位置｛１１｝で示された位置にインデックス
されるので、パレットＩＤとパレット状況データは、前
の位置｛１０｝、つまりＩＤ ＦＲＯＮＴ〔１１〕：＝
ＩＤ ＦＲＯＮＴ〔１０〕、ＳＴＡＴＵＳ ＦＲＯＮＴ
〔１１〕：＝ＳＴＡＴＵＳ ＦＲＯＮＴ〔１０〕からシ
フトされる。次に、変数ＳＴＡＴＵＳ ＦＲＯＮＴ〔１
１〕が、不合格パレットであることを示す負の数である
かどうかについて、ＰＬＣが判断を行う。もしそうなら
ば、図９に見られる第二往復ラム１５５’とラムヘッド
１５６’が、不合格の型アセンブリまたは前曲面レンズ
半型を載せたパレット１２ａを、矢印”Ｆ”の方向に、
コンベヤ２７ｂに沿って、前曲面供給コンベヤ２７へと
押圧する。これが行われるのは、射出成形アセンブリ装
置から充填・型組立装置５０までの処理の間に、エラー
が生じたと、生産ライン品質管理システムが判断した場
合である。位置｛１１｝のシフトレジスタの処理条件状
況を検査することにより、ＰＬＣは、特定の処理条件に
ついてエラーが発生したことを知る。
【００８０】コンタクトレンズ生産ライン設備には、型
アセンブリが循環したり、前曲面供給コンベヤ２７上に
ある間に、不合格となったパレット１２ａから型アセン
ブリを取り除くための吸引管装置（図示せず）が含まれ
る。
【００８１】図１から分かるように、空のパレット１２
ｂが循環して、不合格のパレットが拒絶されると、生産
設備のＵＶ予備硬化装置６５、ＵＶ重合装置７５、型外
し装置９０を通過するパレット１２ａを追跡するため
に、関連する記憶装置１０４ｂを備えた新しいＰＬＣ１
０２ｂが用意される。ＵＶ予備硬化装置に入る前に、型
組立品を載せたパレット１２ａはバーコードスキャナ１
１３の下を通過し、ここで、それぞれについてＰＡＬＬ
ＴＩＭＥとＰＡＬＬ ＳＴＡＴＵＳ情報をＰＬＣ１０
２ｂが更新できるように、パレット１２ａの識別が行わ
れる。この時点で、バーコードスキャナ１１２で読み取
られた各ＰＡＬＬ ＩＤ ＮＵＭはポインタとして用い
られ、これに対応するＰＡＬＬ ＳＴＡＴアレイ１７０
のＰＬＣ記憶場所に入力するために、状況データＳＴＡ
ＴＵＳ ＦＲＯＮＴ〔１１〕状況条件（ＩＤ ＦＲＯＮ
Ｔ〔１１〕）を、スキャナ１１３で識別された各パレッ
トＩＤに一致させる。ＵＶ予備硬化において、ＰＬＣ１
０２ｂが制御を引き継ぐため、ＰＬＣ１０２ｂ記憶装置
についてのアレイの記憶場所に、パレット状況情報が入
力される。さらに、識別された各パレットについてのＰ
ＡＬＬ ＳＴＡＴＵＳ情報は、予備硬化装置に入る時点
でこのパレットが合格品であることを示している。
【００８２】図１に見られるように、８個のコンタクト
レンズ型アセンブリを載せた各パレット１２ａは、余分
なモノマーを型部分から取り除くとともに型のフランジ
１３１ａと１３３ａを配列して半型を正しく並べるため
の予備硬化ステップで、前曲面半型と後曲面半型がとも
にクランプされる予備硬化アセンブリに入る前に、コン
ベヤ３２ｃ上の充填・型組立装置５０を出る。圧力を受
けて半型がクランプされると、次に重合可能な混合物
が、望ましくは、ＵＶランプからの光化学作用を持つ光
線で露光される。一般的に、光化学作用を持つ光線を３
０秒照射して、半型は約４０秒間クランプされる。予備
硬化ステップが終了すると、混合物全体に重合化を行う
ことにより、重合混合物により部分的に重合化されたゲ
ルが生成される。予備硬化ステップに引き続いて、モノ
マーと溶媒の混合物がＵＶ乾燥器７５で硬化され、これ
によりモノマーの重合が完了する。このように光化学作
用を持つ可視光線または紫外線を放射することにより、
所望の最終形状のヒドロゲルレンズで重合・溶剤混合物
が生成される。
【００８３】ＵＶ予備硬化・重合装置 図１に示したように、また、"Contact Lens Production
Line Pallet System"（コンタクトレンズ生産ラインパ
レットシステム）という名称の同時係属特許出願U.S.S.
N.08/257,786にさらに詳細に説明されているように、予
備硬化アセンブリ６５（図１）のバッチ処理のために複
数のパレットを一まとまりにする積み重ね装置へと、複
数の型を載せたパレットがコンベヤ３２ｃにより搬送さ
れる。積み重ね装置には、コンベヤ３２ｃ上の所定位置
でリードパレットを停止させるとともに９６までの型ア
センブリを載せた１２個のパレットが３０秒から６０秒
という長い間にバッチ形式で予備硬化装置６５で処理で
きるように、制御手段１００により速度指定された保持
機構が含まれる。
【００８４】図１６は、予備硬化装置６５の一実施例の
側面図である。図１６から分かるように、予備硬化装置
は、送り込みコンベヤ３２ｃから、複数のコンタクトレ
ンズ半型を載せた複数のパレットを受け取る。送り込み
コンベヤ３２ｃはパレット１２ａと型アセンブリ１３９
を低酸素環境へと搬送する。この環境は、ケース１２６
を窒素ガスで加圧することで、得られる。重合に先立っ
て、モノマーは、レンズ完成品の品質低下につながる酸
素による酸化を受けやすい。図１７から分かるように、
予備硬化装置６５内の酸素濃度のパーセント（０．０％
から０．５％が望ましい）を監視するために、適当なセ
ンサ１７５が設けられている。
【００８５】図１７は、予備硬化装置６５の予備硬化ア
センブリ６９の一部を示す概略図である。本発明と同じ
譲受人に譲渡された"Mold Clamping and Precure of a
Polymerizable Hydrogel"（重合可能ヒドロゲルの型ク
ランプと予備硬化）という名称の同時係属特許出願U.S.
S.N.08/257,792 （代理人事件整理番号#9007）にさらに
詳細に説明されているように、中間支持ビーム３２１ａ
と往復支持のためにジャーナル軸受された往復シャフト
部材３２２ａを上下させる空気シリンダ３２０ａによ
り、コンタクトレンズの型を載せたパレットに嵌合する
ように、アセンブリ６９が上下する。
【００８６】アセンブリ６９には垂直往復作動部材が多
数設けられており、これらのうち最初のものが、エアシ
リンダ３２０ａと往復ビーム３２１ａからの動作に応答
する。予備硬化装置６９が矢印Ａの方向に下がると、複
数の環状クランプ手段３１０が、パレット１２ａに含ま
れる半型のそれぞれの上部環状フランジ１３３ａと係合
する。複数の環状クランプ手段３１０は、この装置の往
復プラットホーム３１上に設けられるとともに、これと
ともに移動し、図２０の矢印Ｂの方向に第二の往復運動
をするために弾性的に設けられている。
【００８７】図２０に示されているように、空気ばねか
コイルばねであるばね３１２（略図が図示されている）
によって、クランプ手段３１０がフレーム３１１内でバ
イアスされている。装置が下がると、ばね手段３１２で
決定される力で、クランプ手段が第一および第二半型に
係合するとともにこれをクランプする。各ばね３１２で
与えられる力を監視するために、センサ手段１７１が設
けられている。センサのうち一つだけは、図１７に図示
されている。理想を言えば、硬化の力は、３００ｍＢａ
ｒから５００ｍＢａｒの圧力である。空気ばねを使用す
る場合は、エアシリンダ（図示せず）で与えられる圧力
の量により、力が決定され、別のセンサ（図示せず）が
設けられている。例として、図２０にはクランプ手段３
１０が４つの部材として図示されているが、図１７の実
施例ではクランプ手段が９６あり、半型のそれぞれにつ
いてクランプ手段が一つずつ用意されている。
【００８８】クランプ装置の上に位置しているのは、光
化学作用を持つ複数の光源３１４で、これはＵＶランプ
が望ましい。半型をクランプするためにクランプ手段が
半型と嵌合すると、エアシリンダ３１６によってシャッ
タ機構３１５が開き、光化学作用を持つ光源３１４によ
り、各型アセンブリ１３９において重合可能化合物の重
合が開始される。複数の開口部３１３が形成されたシャ
ッタ３１５は、露出通路３１７を開閉するために、図１
７に矢印Ｃで示されたｘ軸沿いに往復する。
【００８９】エアシリンダ３２０ａが往復運動の下方位
置へと動かされる時間によってクランプ時間を制御する
とともに、シャッタ３１５とエアシリンダ３１６の動作
を介して露出時間を制御して型への照射量を制御するＰ
ＬＣ１０２ｂにより、予備硬化装置６９の動作が制御さ
れる。ランプ３１４を型１３９に対して上下すること
で、強度を手動で調節できる。
【００９０】センサ手段１７１で計測されるように、ク
ランプ手段により加えられる力の量は、約０．５ｋｇか
ら２．０ｋｇｆまで変化可能で、露出時間の間、第二凸
状半型のフランジ１３３ａを第一凹状半型のフランジ１
３１ａに平行に保持するのに用いられる。クランプの重
量は、ＰＬＣ１０２ｂにより、１０から６０秒間かけら
れるが、一般的には４０秒間である。約１０秒間重量が
かかった後、ＵＶランプ３１４から光化学作用を持つ光
線が組み立てられた型と重合可能モノマーに照射され
る。一般的に、ＵＶ光源の光度は２から４ｍＷ／Cm2
で、この光度の光線は１０から５０秒間照射されるが、
好適な実施例では、３０秒間照射される。それぞれのＵ
Ｖ光線の光度と露出時間を監視するとともに、許容範囲
外の状況についてＰＬＣ１０２ｂに通知するために、適
当なセンサ１７２，１７３が設けられている。５から６
０秒間の露出時間で１０から１５０ｍＷ／Cm2 の範囲の
パルスおよびサイクル高光度ＵＶなど、様々な光度や露
出時間が可能である。
【００９１】照射時間の最後には、図１７に示したよう
に、シャッタ３１５を右に往復させて閉じ、押圧ロッド
３２２ａによって予備硬化アセンブリ６９を上方に持ち
上げるようにシリンダ３２０ａを起動させて、シャッタ
３１５の重量が取り除かれる。アセンブリ６９が持ち上
げられると、バッチ押圧アーム（図示せず）が型とパレ
ットを予備硬化手段から出せるように、クランプ手段３
１０が型とパレットから離れて持ち上げられる。予備硬
化時間としては、システム内の温度は３０から５０℃ま
で考えられ、ＰＬＣ１０２ｂとインターフェースするセ
ンサ１７４で監視される。
【００９２】予備硬化処理の終了時には、モノマーはイ
ニシエーションを通過し、ある程度重合されている。処
理の結果生じるレンズは、レンズのうち最も薄い部分、
つまり縁部が本体より高い程度重合されたゲル状態であ
る。
【００９３】予備硬化アセンブリ６５内でのパレット状
況情報の追跡は、ｉ＝１，２，．．１２の場合、ＰＡＬ
Ｌ ＩＤ ＩＮ〔ｉ〕、ＰＡＬＬ ＩＤ ＰＲ〔ｉ〕、
ＰＡ．ＬＬ ＩＤ ＵＶ〔ｉ〕という３つのアレイに形
作られ、積み重ねられた１２のパレット（ＰＡＬＬ Ｉ
Ｄ ＩＮ〔ｉ〕）と予備硬化装置で処理されたバッチ
（ＰＡＬＬ ＩＤ ＰＲ〔ｉ〕）を表す一連のシフトレ
ジスタにより、行われる１２のレジスタＰＡＬＬ ＩＤ
ＩＮ〔ｉ〕のそれぞれに記憶された情報は、バーコー
ドスキャナ１１３で読み込まれるのと同時にＰＡＬＬ
ＩＤ ＩＮ〔ｉ〕に入力されたパレットＩＤ情報であ
る。シフトレジスタをパレットＩＤ情報に正しくロード
するためのポインタ（図示せず）は、１２のパレットの
各組の最初について１に初期化され、それぞれのＢＣＲ
１１３を正確に読み込んだ後、ポインタは１だけ増加さ
れる。"Contact Lens Production Line Pallet Syste
m"（コンタクトレンズ生産ラインパレットシステム）と
いう名称の上記の同時係属特許出願U.S.S.N.08/257,786
（代理人事件整理番号 #9001）に詳細に説明されている
ように、型アセンブリを載せた１２のパレット１２ａ
は、バッチ状態でサーボモータ（図示せず）によって予
備硬化装置６５に搬送されるので、パレットＩＤデータ
は、ＰＡＬＬ ＩＤ ＩＮからＰＡＬＬ ＡＩＤ ＰＲ
までストレートブロック指定によって、またはループ内
でパレットＩＤデータがシフトされる。つまり、 ＰＡＬＬ ＳＴＡＴＵＳアレイ１７０はすべてのパレッ
ト状況情報を持っていることを、理解すべきである。
【００９４】図１７に見られるように、アセンブリにお
けるＵＶ予備硬化の力、ＵＶ光線の活性化、ＵＶ光線の
露光時間、ＵＶ予備硬化温度、酸素レベルのそれぞれを
監視するために、予備硬化アセンブリ６９内の様々な箇
所にセンサ１７１から１７５が取り付けられている。予
備硬化装置６５内を搬送される際には、１２のパレット
が予備硬化装置にある間に、また１２のパレットが積み
重ねられる間に検出された、何らかの許容範囲外の状況
は、その時点で予備硬化装置内にあると識別された１２
のパレットに関連しているとともに、パレットの合計が
２４となるように積み重ねられた１２のパレットにも関
連している。センサ１７１から１７５は、予備硬化処理
条件が許容範囲内にあるかどうかを判断するように、Ｐ
ＬＣに信号を送る。処理条件がこれらの範囲内にあれ
ば、予備硬化装置の出口においてＰＡＬＬ ＩＤ ＰＲ
〔ｉ〕アレイで識別された１２のパレットのそれぞれに
ついて、パレットが良であることを示す処理条件状況Ｐ
ＡＬＬ ＳＴＡＴＵＳ〔ＰＡＬＬ ＩＤ ＮＵＭ〕が、
ＰＬＣにより更新される。例えば、予備硬化装置から出
たパレットが良であることを示す＋３の整数値がアレイ
１７０の場所に入る。
【００９５】許容範囲外の状況、例えばＵＶ電球の故障
や最長ＵＶ照射時間の超過などが生じた時点に予備硬化
装置６５に存在するパレットのアイデンティティをＰＬ
Ｃは知っているので、ＰＬＣはセンサ１７１−１７５で
検知されたレベルが許容範囲にない場合には、ＰＡＬＬ
ＩＤ ＰＲ〔ｉ〕で識別された１２のパレットのそれ
ぞれについて処理条件状況ＰＡＬＬ ＳＴＡＴＵＳ〔Ｐ
ＡＬＬ ＩＤ ＮＵＭ〕記憶アレイ１７０を、即座に更
新する。ＰＬＣはまた、例えば酸素レベルが許容範囲を
越えた場合などに、ＰＡＬＬ ＩＤ ＰＲ〔ｉ〕で識別
された１２のパレットに加えて、ＰＡＬＬ ＩＤ ＩＮ
〔ｉ〕で識別された１２のパレットのそれぞれについて
処理条件状況ＰＡＬＬ ＳＴＡＴＵＳ〔ＰＡＬＬ ＩＤ
ＮＵＭ〕記憶アレイ１７０を更新する。予備硬化装置
で不合格だとして拒絶されたこれらのパレットについ
て、例えば−４の整数値がアレイ１７０内の対応する場
所に入力される。
【００９６】予備硬化装置６５を出た後、８個のコンタ
クトレンズ型アセンブリを載せた各パレット１２ａは、
図１のように、コンベヤトラック３１ａ，ｂ上のＵＶ重
合アセンブリ７５に入る。１２のパレットから成る組が
ＵＶ予備硬化装置から出てＵＶ重合装置７５にシフトさ
れると、パレットＩＤデータもＰＡＬＬ ＩＤ ＰＲ
〔ｉ〕からＰＡＬＬ ＩＤ ＵＶ〔ｉ〕へと、ストレー
トブロック指定によりシフトされる。すなわち、 PALL ID UVi:=PALL ID PRi for i=1,...12. ＰＡＬＬ ＩＤ ＵＶ〔ｉ〕で指定された、予備硬化装
置内の各パレットについてのパレットＩＤデータ、パレ
ット状況情報、タイムスタンプ情報は、ＰＡＬＬＩＤ
ＰＲ〔ｉ〕情報がＰＡＬＬ ＩＤ ＵＶ〔ｉ〕にシフト
される度に、アレイ１８０とアレイ１７０にそれぞれ入
る。これは、バーコードスキャナにより、パレットがＵ
Ｖ硬化乾燥器に入ったと、ＰＬＣが検知しないからであ
る。このように、パレットＩＤ情報がアレイ１７０／１
８０へのポインタとして、また特定パレットがＵＶ硬化
乾燥機に入った時点についての表示器として機能するの
で、ＵＶ乾燥器内での追跡が可能となる。前に述べたよ
うに、エラーなしで予備硬化装置を出る各パレットは、
ＰＡＬＬ ＳＴＡＴＵＳアレイ１７０に＋３のパレット
状況条件を持っている。
【００９７】図１８は、ＵＶ重合乾燥器の平面図であ
る。図２（ｂ）に示した形状で、モノマーが塗布された
凹所をそれぞれ持つポリスチレン製の各型アセンブリ１
３９は、図１のように、２本のコンベヤ３１ａ，ｂ上を
各パレット１２ａ上に配列されて、重合トンネル７５内
を搬送される。図１８のように、ＵＶ重合アセンブリ７
５は、横に並べられた一連の６個のハウジングから成
る。参照番号２１４はここで説明するように、紫外線を
照射する光源のハウジング全体を指す。ハウジング２１
４はコンベア３１ａ、３１ｂの上に、当該コンベアの通
路に架橋するようにして置かれる。ハウジング２１４
は、一体成形されるか、図１８にユニット２１５，２１
６，２１７，２１８，２１９，２２０として示したよう
に横に配列された幾つかの別々の部分から構成される。
【００９８】図１９は、１６のユニット２１５−２２０
の下面を示している。この下面は、紫外線を照射するた
めの市販タイプの長形の電球２３２が１個以上取り付け
られた平坦な水平面２３１を持つ。図１９には、数列の
型アセンブリがコンベヤ上で長手方向軸に平行に、つま
り型アセンブリの進行方向に平行に、横に並んでいる場
合に使用するのに適した配列となった多数の電球が図示
されている。図１９のように、最初のハウジング以降の
各ハウジングは、長手方向に配列された紫外線照射電球
を備えている。一つのハウジングに取り付けられた各電
球は、基本的に隣のハウジングまたは両隣のハウジング
の電球と同一線上にある。すべての電球は、同じ平面と
なるように各ハウジングに固定されているのである。パ
レットの平面から電球の平面までの垂直距離は、型組立
品を照射する電球を備えた第一ハウジング２１６の場
合、約２５ｍｍから約８０ｍｍでなければならない。続
いて進行するハウジング２１６−２２０の電球への垂直
距離は、約５０ｍｍから約５５ｍｍでなければならな
い。
【００９９】紫外線照射電球のないものも含めて、６個
のハウジングすべての下部スペースのそれぞれに、過熱
空気が管で送られる。パレットを各ハウジングの下に保
持するのに適した温度は、最初の２個のハウジングにつ
いては約４９℃から約６４℃、他の４個のハウジングで
は約４９℃から約５９℃である。
【０１００】ある型組立品が第一ハウジング２１６下に
最初に入った瞬間から最後のハウジング２２０から出る
までに経過した合計時間が、約３００秒から約４４０秒
となるように、パレットの進行速度は十分高いことが望
ましい。
【０１０１】このような動作により、紫外線の光度の強
弱を繰り返すサイクルが、５回、型組立品に施される。
各サイクルでは、紫外線の光度は、約０から約３−３．
５mW／まで上がり、再び０に戻る。電球は基本的に同じ
長さで、パレットは一定速度で移動するので、各サイク
ルは基本的に同じ時間で終了する。
【０１０２】装置７５内のＵＶ光線の光度と温度を監視
するため、ＰＬＣ１０２ｂとインターフェースする適当
なセンサが、各ハウジングに設けられている。１８１
ａ，ｂと記されたこのような２個のセンサが、図１９の
ハウジング２１５に設けられている。
【０１０３】前に述べたように、ＵＶ重合装置７５内を
搬送される間、パレット状況アレイ１７０は、いついか
なる時でも、装置内にあると識別されたパレットのみに
関連するパレットＩＤ情報を記憶している。センサ１８
１ａ，１８１ｂは、各ＵＶ重合処理条件が上記の許容範
囲内であるかどうかを判断するため、ＰＬＣ１０２ｂに
継続して信号を送る。処理条件が範囲内の場合は、ＰＬ
ＣはパレットがＵＶ乾燥器内にある（または、予備硬化
装置に正しく収容されている）ことを示す状況コードを
持つ各パレットについて、このパレットが良であること
を示すため、処理条件状況ＰＡＬＬ ＳＴＡＴＵＳ〔Ｐ
ＡＬＬ ＩＤ ＮＵＭ〕、アレイ１７０を更新する。処
理条件が限度内にない場合には、ＰＬＣが、ＵＶ予備硬
化乾燥器内にあるとしてアレイ１７０で識別された各パ
レットについて、このパレットを不合格品として拒絶す
べきであることを示す負の整数で、処理条件状況ＰＡＬ
ＬＳＴＡＴＵＳ〔ＰＡＬＬ ＩＤ ＮＵＭ〕を更新す
る。
【０１０４】トンネルを出ると、各パレットはバーコー
ドスキャナ１１４，１１５のそれぞれで識別され、それ
ぞれのパレット状況が更新される。さらに、ＵＶ重合ト
ンネル７５を出る各パレットについて、ＰＬＣ１０２ｂ
がタイムスタンプを入力する。前のタイムスタンプ値が
バーコードスキャナ１１３により出されると、ＵＶ予備
硬化装置６５とＵＶ重合装置７５内の各パレット１２ａ
の合計搬送時間と最長ＵＶ照射時間を、ＰＬＣ１０２ｂ
が直ちに判断する。この情報があれば、各アセンブリ内
の搬送時間が許容範囲内であるかどうかも判断できる。
搬送時間が許容範囲内でないと判断されると、アレイ１
７０内で識別された各パレットのＰＡＬＬ ＳＴＡＴＵ
Ｓ情報が、コンベヤ３１ａ，ｂに機械的故障や誤作動が
あったこと、また搬送されているパレット１２ａは不良
でありそれ以上処理を行うべきでないことを示すよう
に、更新される。重合処理が終了すると、第一の、つま
り前曲面半型内にあり、続いてこれから取り出されるコ
ンタクトレンズを取り出す型出し過程において、２個の
半型が分離される。前曲面半型および後曲面半型は一回
の成形に使用され、その後は廃棄または処分されること
を述べておかなければならない。
【０１０５】型出し装置図２０ に図示されているように、型アセンブリ内で重合
されたコンタクトレンズを載せたパレットは、上述のよ
うに２本のコンベヤ３１ａ，ｂに沿って重合乾燥器から
出て、型出しアセンブリ９０に入る。パレットはコンベ
ヤ３１ａ，ｂから搬送されて、二重移動ビーム１８９の
往復移送キャリア２８２ａ，ｂ沿いに位置する。その動
作については、「コンタクトレンズ生産ラインパレット
システム」（Contact Lens Production Line Pallet Sy
stem）という名称の同時係属米国特許出願第 08/757,78
6 号に詳細に説明されている。一般的に、往復キャリア
ビームは、パレットの各切り込み（図示せず）と係合す
る各ガイドトラックの一組の追跡ガイドレールまたは肩
部（図示せず）に沿って、パレット１２ａをそれぞれ前
進させる。組になった肩部と、パレットの各ガイドレー
ルの切り込みにより、型出し装置内でキャリアビームに
よりパレットが前進される際にパレットの正確な位置決
めが可能となり、さらに型組立品１３９が外される際に
パレット１２ａの垂直方向の移動が防止できる。
【０１０６】型外しに先立って、図２７に見られるよう
に、各パレット１２ａに保持されている各コンタクトレ
ンズ型組立品１３９が各レンズ型の凹所に正しく位置し
ているかどうかについて、ＰＬＣ１０２ｂが判断する。
この判断は、パレットの後曲面の直上を走査する重点・
アセンブリレーザーに似たレーザーセンサ（図示せず）
を用いて、型アセンブリの後曲面の中心のずれを検出
し、通常位置の所定の限度＋／−０．１ｋｇ以内で各型
アセンブリが凹所に位置していることを確認する中心ず
れ検査により、行う。付加的検査として、各型アセンブ
リを視覚的に調査するために、スコーププローブ２９
１，２９２を盲穴に挿入することもできる。特定のレン
ズ型組立品の中心がずれている、つまり型組立品のレン
ズ半型の配置がずれていると判断されると、後で詳細に
説明するように、この特定場所に関するシフトレジスタ
の状況を、特定のＰＬＣが更新する。
【０１０７】すでに詳細に説明した好適な実施例では、
二重移動ビームの移送キャリアは、コンタクトレンズ型
組立品を型外し装置まで移送し、この装置では、前曲面
半型のフランジ部分と後曲面半型のフランジ部分がグリ
ップされ、全く反対方向に、つまり梃子で動かす角度に
それぞれ引き離される。都合のよいことに、コンタクト
レンズ型組立品は、重合された製品を半型の表面から分
離しやすくするために、最初に適度に過熱される。本発
明に参考として組み込まれた、本発明と同じ譲受人に譲
渡された「型分離装置」（Mold Separation Apparatus
）という名称の同時係属米国特許出願第 08/258,557号
（代理人事件整理番号#9006 ）に詳細に説明されている
ように、型外し装置９０には、蒸気やレーザーエネルギ
ーなど、型アセンブリの各半型の重複しているフランジ
部分の間の間隙に挿入される一組の梃子爪によって前曲
面半型から後曲面半型を梃子で分離する前に、コンタク
トレンズ型アセンブリの後曲面レンズ型部に正確な熱量
を加える手段が設けられている。
【０１０８】図２１と２２から分かるように、ケース２
８０に覆われた型外しアセンブリ９０は、２個の蒸気放
出アセンブリ２２７ａ，２２７ｂを搭載した往復ビーム
２２６を備えている。このアセンブリ２２７ａ，２２７
ｂは、二重移動ビーム１８９の各搬送キャリア２８２
ａ，２８２ｂによって搬送されてきたパレット１２ａの
それぞれに一つずつ設けられている。蒸気放出アセンブ
リは、それぞれ、分配マニホールドと蒸気熱源（図示せ
ず）に接続された８本の蒸気ヘッドノズル（全体として
２６０の参照符号）を備えているため、パレット上の型
組立品のそれぞれに同時に蒸気を施すことができる。過
熱するために、往復ビーム２２６は図２１の”Ａ”の位
置から図２２の”Ａ”の位置まで伸長し、その結果、Ｐ
ＬＣ１０２ｂの制御条件下で蒸気を当てるため、蒸気ヘ
ッドアセンブリ２２７ｂが各型アセンブリに嵌合する。
図２２には、パレット１２Ａと正確に嵌合している蒸気
ヘッドノズルのみが、図示されている。さらに、図２１
から分かるように、型外し装置のケース２８０の温度を
計測するため、ＰＬＣとインターフェースした適当なセ
ンサ２８１が設けられている。このケースは、７０℃か
ら８０℃の範囲の温度に維持されることが望ましい。
【０１０９】詳細な正面図が図２６に示されている蒸気
放出アセンブリ２２７ａは、カバーアセンブリ２５０を
備えた取り付けヘッドアセンブリ２６７と、蒸気取り込
みバルブ２６６から８個の各蒸気ノズルアセンブリ２６
０へと蒸気を分配するためにカバーアセンブリ２５０の
直下に設けられた蒸気分配マニホールド２３０と、蒸気
の衝突時に後曲面レンズ型の表面に送られる蒸気を取り
除いたり、その圧力を調節するために、蒸気分配マニホ
ールド２３０の直下に設けられた凝縮マニホールド２４
０と、蒸気放出ノズル２６０と蒸気取り込みバルブ２６
６のそれぞれを装置内に保持するための保持板２６１か
ら成る。また、図２６には、アセンブリ２６７内に位置
するとともに、蒸気マニホールド２３０と凝縮マニホー
ルド３４０と嵌合して共働する蒸気取り込みバルブ２６
６が図示されている。蒸気取り込みバルブ２６６は、空
間を介して蒸気取り込みパイプ２７０と連通しており、
蒸気分配マニホールド２３０に加圧蒸気を供給するため
のものである。さらに、蒸気を抜くとともに、蒸気放出
時に後曲面レンズ型の表面に加えられる蒸気圧を調節す
るために、適当な配管２８７を介して真空源（図示せ
ず）が凝縮マニホールド２４０の入力側２８６に接続さ
れている。
【０１１０】図２６の正面図に描かれたカバーアセンブ
リ２５０は、適当なヒータケーブル２５６ａ，ｂに接続
されたヒータカートリッジ入力２５３ａ，ｂを収容して
いる。図２６から分かるように、適当なセンサ２８８
ａ，ｂがカートリッジヒータ２５３ａ，ｂにそれぞれ接
続され、各蒸気放出装置の温度がＰＬＣ１０２ｂで監視
および調節されるように、ＰＬＣとインターフェースさ
れている。好適な実施例では、蒸気熱は１００℃から１
３０℃の温度範囲に調節され、約０．４秒から０．６秒
の時間、放出される。蒸気の温度が１２０℃を越える
と、ＰＬＣ１０２ｂは修正措置を取り、後曲面レンズ型
部に１２０℃を越える温度の蒸気が当たっているならば
特定のパレットが不合格であることを示す。図２３に見
られるように、蒸気放出アセンブリ２２７ａ，ｂとその
蒸気ノズル２６０が各レンズ型部の後曲面に蒸気を放出
している間、矢印で示したように梃子具のセット２６５
ａが延びて、パレット１２ａの一面に載置された４個の
レンズ型部のそれぞれの前曲面及び後曲面の間の間隙に
挿入される。同様に、梃子具のセット２６５ｂが延び
て、パレット１２ａの反対の面に載置された４個のレン
ズ型部のそれぞれの前曲面および後曲面の間隙に挿入さ
れる。
【０１１１】図２３にも図示されているが、梃子具２６
５ａ，ｂの各セットは、梃子具の底のセットのフィンガ
２３５がレンズ型部の前曲面の周辺環状縁部１３１ｃを
パレットの面に固定され、梃子具の上部のセットのフィ
ンガ２３６が空気駆動手段（図示せず）によって後曲面
レンズ半型と前曲面レンズ半型をコンタクトレンズの、
または半型のいずれかの完全性を損なわないように、垂
直方向に分離する（図２５）ように、挿入される。
【０１１２】次に、図２４に見られるように、正確に制
御された量の蒸気を放出した後、吸引カップアセンブリ
ユニット２９０ｂが図のようにパレット１２ａと並ぶよ
うに、各蒸気ヘッド後退アセンブリ２５２ａ，ｂ（図２
２）によって、蒸気放出アセンブリ２２７ａ，ｂとその
蒸気ノズル２６０が後退する。図２１と図２２から分か
るように、各吸引カップアセンブリ２９０ａ，ｂは往復
運動できるようにビーム２２６に取り付けられており、
蒸気放出アセンブリ２２７ａ，ｂが後退した際に、パレ
ット上の対応する型アセンブリと正確に嵌合するため、
それぞれ８個の吸引カップ（全体に２８５の参照番号）
を備えている。
【０１１３】図２５の型分離過程の間、吸引カップアセ
ンブリ２９０ｂの真空吸引が行われ、フィンガ２３６を
有する梃子具の上部セットは、空気駆動手段（図示せ
ず）により梃子具２３５の下部セットから分離され、各
レンズ型部の後曲面１３３の周縁は、コンタクトレンズ
が保持された前曲面１３１から離れるようにバイアスさ
れて、梃子フィンガ２３５の下セットにより固定され
る。このようにして後曲面レンズ半型１３３は、前曲面
レンズ半型から効率的に取り外されるとともに、各吸引
カップ２８５に保持されるのである。
【０１１４】図示していないが、現在８個までの前曲面
レンズとコンタクトレンズを載せた各パレット１２ａが
各コンベヤ経路沿いに移動できるように、処分のため吸
引カップ２８５が対応する後曲面半型を保持する間、梃
子フィンガ２３５，２３６の上部セットおよび下部セッ
トは、最終的に、図２５の矢印で示された反対の向きに
水平方向に後退する。すなわち、吸引カップアセンブリ
２９０ｂは最初の位置に後退し、取り外された後曲面レ
ンズ型部を離すように、その中は真空でなくなる。分離
された後曲面型部は、後退位置において瓶に落下し、処
分のため、真空管（図示せず）で排出される。
【０１１５】型外し時間、つまり蒸気またはレーザー熱
が後曲面に施される時間を監視するとともに、型アセン
ブリの過熱とこの型アセンブリからの後曲面半型の除去
の間の時間（好適な実施例では約２秒）を監視するため
のセンサをさらに備えたＰＬＣ１０２ｂの正確な制御下
で、型外し処理が行われる。さらに、型外しの後、各後
曲面半型が型アセンブリ１３９から取り外されたかどう
かを確認するとともに、後曲面半型が取り外された後に
ＨＥＭＡリング１３２ａが残っていないことを確認する
ため、上述の方法で、レーザー検知が再び開始される。
ＰＬＣの判断結果に関するあらゆる情報は、それが発生
した正確な位置において各パレットの特定のシフトレジ
スタに記憶される。その後で、パレットがバーコードス
キャナ１６に達すると状況・時間アレイ１７０，１８０
が更新され、シフトレジスタに記憶された状況とアレイ
１７０に記憶された前の状況が結合される。
【０１１６】型外し装置内の追跡は、ｉ＝１，．．．８
の場合のＳＴＡＴＵＳ Ａ〔ｉ〕とＳＴＡＴＵＳ Ｂ
〔ｉ〕という一組のシフトレジスタソフトウェアアレイ
により行われ、図２０に示した型外し装置内でそれぞれ
Ａ，Ｂで示された二重移動ビームレール沿いの物理的位
置を表す。すなわち、いつでも型外し装置内の処理につ
いてインデックスされた合計８個のパレットが存在す
る。アレイに記憶されたデータは、各パレットの処理の
際の状況情報を表し、各インデックスは、ゼロ状況
（０）を持つものとして初期化される。パレットが入る
前には、バーコードスキャナがないので、型外し装置内
のいかなるパレットに関するパレットＩＤ情報も分から
ない。
【０１１７】型外し装置内の処理がうまく行くと、特定
パレットを表すシフトレジスタが、が同一単位で計れる
（commensurate）状況で更新されるとともに、パレット
が進むにつれて状況データが次のインデックスにシフト
される。このように、指定が行われる。ＳＴＡＴＵＳ
Ａ〔ｉ〕：＝すべての位置に関するＳＴＡＴＵＳ Ａ
〔ｉ−Ｉ〕，ｉ＝２，．．．９。同様に、移動ビームＢ
で処理されているパレットについては、すべての位置に
関するＳＴＡＴＵＳ Ｂ〔ｉ〕：＝ＳＴＡＴＵＳＢ〔ｉ
−Ｉ〕，ｉ＝２，．．．９となる。例えば、移動ビーム
Ａ上のパレットについてはパレット上で正しい処理が最
後に実施された後、ＳＴＡＵＳ Ａ〔８〕がＳＴＡＴＵ
Ｓ Ａ〔７〕からデータを受け取る。型外し装置ですべ
ての処理がうまく行くと、状況情報ＳＴＡＴＵＳ Ａ
〔８〕とＳＴＡＴＵＳ Ｂ〔８〕には、パレットは良
で、水和装置へ搬送すべきであることを示す独自の正の
数が入る。
【０１１８】最後の処理が終了し、型外し装置からパレ
ットが出ると、各パレットはバーコード読み取り装置１
１６で操作され、ＳＴＡＴＵＳ Ａ〔８〕とＳＴＡＴＵ
ＳＢ〔８〕にあるパレット状況データは、バーコードス
キャナで識別されたようにＰＡＬＬ ＩＤ ＮＵＭと組
み合わせられる。図２０に見られる適当な近接センサ２
８９により、移動ビームレールＡ（ＳＴＡＴＵＳ Ａ）
からのパレットが型外し装置から最初に出たことが確認
され、スキャナ１１６で識別される。このように、レジ
スタＳＴＡＴＵＳ Ａ〔８〕に記憶された独自の状況情
報は、すでにバーコードスキャナ１１６にあるパレット
状況情報と組み合わせられる。同じように、レジスタＳ
ＴＡＴＵＳ Ｂ〔８〕に記憶された状況情報は、バーコ
ードスキャナ１１６で識別されたパレットＩＤについ
て、すでにパレット状況アレイ１７０にあるパレット状
況情報と組み合わせられる。
【０１１９】ＳＴＡＴＵＳ Ａ〔８〕とＳＴＡＴＵＳ
Ｂ〔８〕に記憶された処理条件状況情報が、例えば、良
のパレットの型外し緩衝装置の温度、蒸気熱温度、蒸気
熱放出から後曲面取り外しまでの時間が許容範囲内であ
ることを示している場合、また型外し処理自体がうまく
行われた場合、つまり後曲面型部がすべて取り除かれ、
型アセンブリの中心が外れておらず、ＨＥＭＡリングが
ないという場合には、ＰＬＣ１０２ｂが、バーコードス
キャナ１１６で識別された各パレットについて処理条件
状況ＰＡＬＬ ＳＴＡＴＵＳ〔ＰＡＬＬ ＩＤ ＮＵ
Ｍ〕（アレイ１７０）を更新する（＋（正）の数）。処
理条件が範囲内でない場合には、ＰＬＣがバーコードス
キャナ１１６で識別された各パレットについて、このパ
レットを不合格品として拒絶すべきであることを示す処
理条件状況ＰＡＬＬ ＳＴＡＴＵＳ〔ＰＡＬＬ ＩＤ
ＮＵＭ〕を更新する。
【０１２０】さらに、ＰＬＣ１０２ｂは、型外し装置９
０を出る各パレットについて、タイムスタンプを（アレ
イ１８０に）入力する。バーコードスキャナ１１４と１
１５で発生された前のタイムスタンプ値があれば、ＰＬ
Ｃは型外し緩衝装置内の全体経過時間を判断し、これが
許容範囲内にあるか検査する。移送時間が許容範囲内で
ないならば、バーコードスキャナ１１６で識別された各
パレットのＰＡＬＬ ＳＴＡＴＵＳ情報が、機械的故障や
コンベヤ３１ａ，ｂの誤作動があったこと、またこれに
より輸送されるパレット１２ａは不良で拒絶すべきこと
を示すように、更新される。
【０１２１】図２０に詳細に示されているように、バー
コードスキャナ１１７は、コンベヤ３１ｄ上の型外し装
置を出る各パレットを識別し、何らかのパレットを不合
格品として拒絶しなければならないか、またＰＬＣ１０
２ｃが制御処理を行う水和アセンブリ８９に搬送してよ
いかを判断するため、ＰＬＣ１０２ｂが、識別された各
パレットについての処理条件検査を実施する。
【０１２２】水和装置 型外し装置９０で型アセンブリが分離されると、露出さ
れた重合コンタクトレンズを含む前曲面半型を載せた各
パレットは、次に、図１に概略図が、そして図２０に詳
細図が示された水和アセンブリ８９に搬送される。図２
０から分かるように、水和室８９へ移送するために、二
重移動ビーム１８９の各移送キャリア１８２ａ，ｂから
コンベヤ３１ｄまでのパレット１２ａの動きを翻訳する
ために、後退可能アーム２０２ａ，ｂを備えた二重押圧
器２０２が設けられている。各パレットは最初に上流側
クランプ爪２０７ａ，ｂの間にクランプされ、ここでパ
レットが不良としてフラグを出すかどうかを判断するた
め、バーコードスキャナ１１７によってパレットを適切
に検出する。特定パレットが上の理由で不良であること
をＰＡＬＬ ＳＴＡＴＵＳ情報が示していれば、図２０
に見られるような適当な押圧アセンブリ８０によって、
この特定パレットとその中身がコンベヤ３１ｄから循環
コンベヤ３１ｅへと搬送される。クランプ爪２０７ａ，
ｂは拒絶されたパレットを離し、押圧アーム８０が拒絶
されたパレットを循環コンベヤ３１ｅに押圧する。拒絶
パレットは、前曲面供給コンベヤ２７へとコンベヤ上を
戻される。上述のように、本発明のコンタクトレンズ生
産ライン設備には、前曲面供給コンベヤ２７に戻される
間、またはこのコンベヤ上にある間に拒絶されたパレッ
ト１２ａに載せられたすべての型アセンブリを取り除く
ための吸引ガス抜き装置（図示せず）が含まれる。
【０１２３】型外しされたコンタクトレンズアセンブリ
を載せたパレットが拒絶されなければ、水和処理へと移
送されることになり、水和アセンブリ８９（図１）に移
送するために、移送押圧アセンブリ２０６へと、ペアの
状態でコンベヤ３１ｄで運ばれる。移送押圧器２０６に
入る前に、上流側のクランプ爪２０９ａ，ｂが、二番目
のパレットが最初のパレットの上に積み重ねられるよう
に、一時的に最初のパレットをクランプする。
【０１２４】ＰＬＣ１０２ｃで制御されると、クランプ
されたパレットは、１２ａ，１２ａ’と示された２個の
パレットが図２０のように移送押圧器２０６の往復可能
な押圧アーム２１０と並ぶように、前に搬送される。次
に、駆動手段２１１により、押圧アーム２１０に２個の
パレットを移送装置３３５へと押圧させる。すなわち、
パレットを２組まで収容できる、平板部３３９を持つパ
レット３３６を、それぞれ水和室８９へと移送するので
ある。最初の組のパレットが平板部３３９上に載せられ
ると、２個のパレットから成る第２組を押圧アーム２１
０が最初の位置（図２０）まで往復する。次に押圧アー
ム２１０が、２個のパレットから成る第２組を移送押圧
器３３６の板３３９上へ入れ、第１組のパレットに板の
上を進ませる。図２８は、一度に２個のパレットの割合
で、押圧アーム２１０に押圧された４個のパレットを載
せた移送パレット３３６の平板部分３３９を示してい
る。
【０１２５】図２０に見られるように、移送パレット３
３６は、トラック３３８ａ，ｂ上を水平方向に往復運動
するように取り付けられている。定常操作では、適当な
駆動手段（図示せず）により、移送パレット３３６と４
個のパレットを載せた平板３３９が、重合コンタクトレ
ンズを含む前曲面型アセンブリの水和室への移送が効率
的に行われる図２９に”Ｂ”と記された矢印の水和アセ
ンブリ移送点に達するまで、図２８の矢印で示した方向
にトラック３３８ａ，ｂを横切って水和室アセンブリ８
９へと移動できる。成形済コンタクトレンズを含む前曲
面半型の移送については、本発明と同じ譲受人に譲渡さ
れた「ソフトコンタクトレンズの自動水和方法と装置」
（Automated method and Apparatus for Hydrating Sof
t Contact Lenses）という名称の上記の同時係属米国特
許出願第08/258,556，号（代理人事件整理番号 #8998）
に説明されている。移送パレット３３６が移送点に達す
ると、水和アセンブリ８９の真空把持マトリックス（図
示せず）が作動して、一度に４８個の前曲面レンズ型部
を、移送パレット３３６上の４個のパレットから取り出
して、これを脱イオンウォーターバスに設けられた適当
な受け取り装置へと移送する。空のパレット１２ａを載
せた移送パレット３３６と平板３３９が、今度は、図３
０に矢印”Ｃ”で示した方向に、トラック３３８ａ，ｂ
沿いに往復して最初の位置まで戻る。前曲面型部を載せ
て入ってきた新しいパレットの組が押圧アーム２１０に
より平板へと押圧されると、空のパレットが板３３９か
ら戻りコンベヤ３１ｆへと取り除かれる。すなわち、押
圧アーム２１０が、平板部３３９上の新しいパレット１
２ａの最初の組を押して、２個の空のパレットの最初の
組を平板部３３９から出し、前曲面取り出し点まで循環
させるためにコンベヤ３１ｆと接触するのである。同じ
ように、押圧アーム２１０が、板３３９上の新しいパレ
ット１２ａの二番目の組を押して、２個の空のパレット
の最初の組を板３３９から出し、前曲面取り出し点まで
循環させるためにコンベヤ３１ｆと接触するのである。
図２０に図示されているように、空のパレットを一度に
２個まで曲面取り上げ点まで戻すために、戻りコンベヤ
３１ｆは前曲面供給コンベヤ２７と連結している。往復
押圧アーム３２４を持つ適当な押圧手段３２２がパレッ
トを供給コンベヤ２７へと押し、ここでパレットは、上
述した方法で８個の前曲面レンズ半型の新しい組を受け
取るため、前曲面射出成形アセンブリ２０へ搬送され
る。
【０１２６】図１のように、水和装置８９に入る識別さ
れた各パレット１２ａについてタイムスタンプ情報の入
力を開始するため、バーコードスキャナ１１８，１１９
が設けられている。新しいタイムスタンプ情報は、パレ
ットが水和装置へと物理的に受け渡される際にＰＬＣ１
０２ｃ（バーコードスキャナ１１７）によって、パレッ
トについて出された前のタイムスタンプ値と比較され
る。ＰＬＣはこれにより、型アセンブリの型外しから水
和装置へのレンズの移送までの時間が２０から４０秒の
間かどうかを判断する。バーコードスキャナ１１８，１
１９はまた、不合格品（負の状況）であるのにまだ拒絶
されていないパレットについて冗長検査を行う。
【０１２７】本発明を好適な実施例について詳しく図示
し、説明したが、形式および詳細における以上の記載内
容および他の変更は、以下の添付クレームの範囲のみに
限定される本発明の趣旨および範囲から逸脱しなけれ
ば、これを行えることは、当該技術分野の熟練者には理
解できるだろう。
【０１２８】本発明の具体的な実施態様は、次の通りで
ある。 （１）前記制御装置が、前記一連のパレットの各パレッ
トに対応する前記処理状況情報とを記憶するための独自
の記憶場所を持つメモリ記憶手段を含み、この所持状況
情報はさらに、受け取った前記処理条件が所定範囲内で
ある場合に、識別されたパレットが別の装置での次の処
理を受けられることを示すフラグをさらに含む請求項１
記載の生産ライン追跡・品質管理システム。 （２）前記制御装置により、前記コンベヤ手段が、拒絶
フラグの形の処理状況情報を持つ識別済の各パレットを
明確に拒絶して、次の処理から取り除くことができる請
求項１記載の生産ライン追跡・品質管理システム。 （３）前記設備の一またはそれ以上の処理装置のそれぞ
れにおいて前記追跡手段により各パレットが識別された
特定の時間を示すタイムスタンプ情報を、前記制御装置
が生成し、このタイムスタンプ情報がさらに、識別され
た各パレットに対応する独自の記憶場所に記憶される上
記実施態様（１）記載の生産ライン追跡・品質管理シス
テム。 （４）前記コンタクトレンズ生産設備が、前記一連のパ
レット上の一またはそれ以上の第一コンタクトレンズ半
型に充填するための第一手段と、前記一連のパレットの
うち別のパレット上の一またはそれ以上補足的な第二コ
ンタクトレンズ半型に充填するための第二手段を含み、
前記第一および補足的な第二半型のそれぞれのパレット
上での充填の時間に対応する初期タイムスタンプ値が、
前記制御手段により生成される前記実施態様（３）記載
の生産ライン追跡管理システム。 （５）前記一またはそれ以上の第一コンタクトレンズ半
型およびこれを補足する前記一またはそれ以上の第二コ
ンタクトレンズ半型が、大気環境において、前記一連の
パレットのそれぞれの上で充填される前記実施態様
（４）記載の生産ライン追跡管理システム。 （６）第一およびこれを補足する第二コンタクトレンズ
半型を載せた前記パレットのそれぞれが、前記生産設備
の前記処理装置のうち別の装置へと移送されるため、低
酸素環境へと搬送され、この低酸素環境が窒素ガスを含
む窒素緩衝ケースを含み、このケースには、所定数のパ
レットが常に存在する前記実施態様（４）記載の生産ラ
イン追跡管理システム。 （７）前記コンベヤ装置上のパレットを前記ケースへの
入口で前記第一追跡手段が識別して、これにより、前記
一連のパレットのそれぞれが前記ケースに入った時間に
対応する第一タイムスタンプ値から成るタイムスタンプ
情報を前記制御装置が生成することができ、このタイム
スタンプ値は、識別された各パレットに対応する前記独
自の記憶場所に記憶される前記実施態様（６）記載の生
産ライン追跡管理システム。 （８）前記第一およびこれを補足する第二コンタクトレ
ンズ半型を載せている識別済各パレットに載置された第
一およびこれを補足する第二コンタクトレンズ半型に関
する酸素露出時間を判断する計算手段が前記制御手段に
含まれ、識別された各パレットに関する前記酸素露出時
間は、前記初期タイムスタンプ値と識別された各パレッ
トの前記第一スタンプ値データの時間差から成る上記実
施態様（７）記載の生産ライン追跡管理システム。 （９）識別された各パレットについての前記第一および
これを補足する第二コンタクトレンズ半型の酸素露出時
間が所定範囲より長いかどうかを判断するための手段が
前記制御手段に含まれ、この制御手段はさらに、各パレ
ットについて計算された第一およびこれを補足する第二
コンタクトレンズ半型の酸素露出時間が所定範囲より長
い場合に、フラグを生成する上記実施態様（８）記載の
生産ライン追跡管理システム。 （１０）前記コンタクトレンズ半型の酸素露出時間の前
記所定範囲の値が約１５秒である上記実施態様（９）記
載の生産ライン追跡・品質管理システム。 （１１）前記設備の処理装置内で所定数の識別済パレッ
トをいつでも追跡するための第二追跡手段が前記制御装
置に含まれ、この所定数のパレットに対応するデータを
記憶するための独自の記憶場所を持つシフトレジスタ手
段がこの第二追跡手段に含まれる上記実施態様（６）記
載の生産ライン追跡・品質管理装置。 （１２）前記ケース内の酸素濃度を監視するとともに、
前記ケース内の酸素含有量が所定範囲内であることを前
記制御装置が検査できるようにするための酸素センサ手
段が、前記制御手段に含まれる上記実施態様（１１）記
載の生産ライン追跡・品質管理装置。 （１３）前記ケース内の前記酸素含有量が予め決められ
た範囲を越える場合に前記ケース内に位置する所定数の
パレットのそれぞれに対応する前記独自の記憶場所に記
憶するための拒絶フラグが前記制御装置により生成され
る上記実施態様（１２）記載の生産ライン追跡・品質管
理装置。 （１４）前記所定範囲が約０．３％から約０．５％の酸
素濃度である上記実施態様（１２）記載の生産ライン追
跡・品質管理装置。 （１５）モノマー充填装置が前記コンタクトレンズ製造
設備に含まれるとともに、このモノマー充填装置の入口
において前記コンベヤ上のパレットを前記第一追跡手段
が識別し、この第一追跡手段により、前記一連のパレッ
トのうち各パレットが前記窒素緩衝ケースにあって前記
モノマー充填装置に入る時間に対応する第二タイムスタ
ンプ値を、前記制御装置が生成できる上記実施態様
（８）記載の生産ライン追跡・品質管理装置。 （１６）前記ケース内を搬送される各パレットについて
の窒素緩衝露出時間を前記制御装置が計算し、識別され
た各パレットについての前記窒素緩衝時間が、識別され
た各パレットについての前記第二タイムスタンプ値と前
記第一タイムスタンプ値データの時間差から成る上記実
施態様（１５）記載の生産ライン追跡・品質管理装置。 （１７）識別された各パレットについての前記第一およ
び補足的な第二コンタクトレンズ半型の窒素緩衝露出時
間が所定範囲を下回るかどうかを前記制御装置が判断
し、各パレットについての計算された前記第一および補
足的な第二コンタクトレンズ半型の窒素緩衝露出時間が
前記所定範囲を下回ると判断された場合に前記制御装置
がフラグを生成する上記実施態様（１６）記載の生産ラ
イン追跡・品質管理装置。 （１８）前記コンタクトレンズ半型の露出時間の所定範
囲値が約３．０分である上記実施態様項（１７）記載の
生産ライン追跡・品質管理装置。 （１９）前記第一コンタクトレンズ半型を載せたパレッ
トを前記補足的な第二レンズ半型を載せたパレットの付
近に配置するともに、前記モノマー充填装置に移送する
ために、第一コンタクトレンズ半型を載せたパレットと
ともに補足的な第二コンタクトレンズ半型を載せたパレ
ットを交互に前記コンベヤ手段上で搬送するための、前
記コンベヤ手段の付近に設けられた手段が、前記製造設
備にさらに含まれる上記実施態様（１５）記載の生産ラ
イン追跡・品質管理装置。 （２０）前記モノマー塗布装置が、この装置へと交互に
搬送された一連のパレットに載せられた各前曲面レンズ
半型に所定量の重合化合物を付着させる手段を含む上記
実施態様（１９）記載の生産ライン追跡・品質管理装
置。 （２１）前記処理条件値が所定範囲内である場合に、識
別されたパレットが次の前記一またはそれ以上の装置で
別の処理を受けられることを示す許容フラグを生成する
過程を過程（ｃ）がさらに含む請求項２記載のコンタク
トレンズ生産設備のための品質管理方法。 （２２）前記設備が前記一連のパレットを前記設備内で
搬送するためのコンベヤ手段を含む請求項２記載のコン
タクトレンズ製造設備のための品質管理方法において、
この方法はさらに、所定の拒絶点において前記コンベヤ
手段が前記パレットを取り除けるようにすることで、拒
絶フラグの形の処理状況情報を持つ特定のパレットを拒
絶する過程を含む。 （２３）前記一連のパレットのうち識別された各パレッ
トに対応する前記処理状況情報を、前記各パレットに対
応する独自の記憶場所を持つメモリ記憶手段に記憶する
過程をさらに含む請求項２記載のコンタクトレンズ製造
設備のための品質管理方法。 （２４）前記設備内の前記一またはそれ以上の処理装置
において前記追跡手段により各パレットが識別された特
定の時間を示すタイムスタンプ情報を生成するととも
に、識別された前記パレットのそれぞれに対応する前記
独自の記憶場所に前記タイムスタンプ情報を記憶する過
程をさらに含む、請求項２記載のコンタクトレンズ製造
設備のための品質管理方法。 （２５）いかなる時でも前記設備の処理装置内にある所
定数の識別済パレットを追跡するとともに、この所定数
のパレットに対応するデータを記憶するための独自の記
憶場所を持つシフトレジスタアレイに、このパレットの
それぞれのアイデンティティーを記憶する請求項２記載
のコンタクトレンズ製造設備のための品質管理方法。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の生産ライン追跡・品質管理システムを
組み込んだコンタクトレンズ生産ラインパレットシステ
ムの概略上面図である。
【図２】図２（ａ）は本発明の生産ラインパレット１２
ａ（１２ｂ）の上面図である。図２（ｂ）は生産ライン
パレット１２ａの凹所に位置する補足的な第一および第
二半型１３１，１３３から成るコンタクトレンズ型アセ
ンブリ１３９の詳細図である。
【図３】本発明の生産ライン追跡システムの各パレット
について、処理条件情報を記憶するアレイ１７０と、タ
イムスタンプ情報を記憶するためのアレイ１８０を含
む、制御システムの記憶機構の図である。
【図４】前曲面と後曲面がそれぞれ射出成形アセンブリ
から出た後の酸素露出時間を判断するための制御ループ
図である。
【図５】前曲面と後曲面がそれぞれ射出成形アセンブリ
から出た後の酸素露出時間を判断するための制御ループ
図である。
【図６】前曲面型部と後曲面型部をそれぞれの射出成形
アセンブリ２０，３０から移送するためのロボット装置
２２，２４の詳細図であるとともに、連続コンベヤ３２
上でインターリーブ式に搬送するために、後曲面を載せ
たパレット１２ｂの付近に前曲面を載せたパレット１２
ａを配置するための連続装置４０の図である。
【図７】窒素ケース４６内の酸素濃度を監視するための
酸素センサの配置を詳細に示した図である。
【図８】窒素緩衝ケース内でのパレットの正確な配列を
検査するための近接センサの配置を詳細に示した図であ
る。
【図９】パレットをコンベヤ３２から充填・型組立装置
５０へと搬送するための装置５５の図である。
【図１０】モノマー充填装置５３に入る前にパレットを
配列および追跡するための装置５５に関する概略図であ
る。
【図１１】製造設備の充填・型組立装置５０のモノマー
充填装置５３の概略図である。
【図１２】充填・型組立装置５０の型アセンブリモジュ
ール５９の一部断面側面図である。
【図１３】往復アセンブリのための真空の供給を図示し
たアセンブリ装置５９の一部断面概略図である。
【図１４】ＰＬＣとインターフェースされた様々なセン
サの配置を示すアセンブリ装置５９に関する概略図であ
る。
【図１５】充填・型組立装置５０を出た後、空のパレッ
トを循環させるとともに不良パレットを拒絶するための
装置の概略図である。
【図１６】窒素ガスケース１２６が図示されたＵＶ予備
硬化装置６５の側面図である。
【図１７】ＵＶ予備硬化処理を監視するためのセンサ１
７１−１７５が図示された早期硬化アセンブリ６９の詳
細図である。
【図１８】本発明を実施する際に用いられる、コンベヤ
とハウジングを備えたＵＶ硬化トンネルの上面図であ
る。
【図１９】図１８のハウジングの下面を示した図であ
る。
【図２０】二重コンベヤ３１ａ，ｂから型外しアセンブ
リまでパレットを移送するための順序と、重合レンズを
載せた前曲面半型を水和室へ移送するための移送装置３
３５へとパレットをコンベヤ３１ａから移送するための
手段が図示された、生産ラインパレットシステムの後端
の平面図である。
【図２１】型外し装置９０の正面図である。
【図２２】型アセンブリを載せたパレット１２ａに蒸気
熱を加える蒸気熱アセンブリの正面図である。
【図２３】型部と係合する蒸気ノズルと型のフランジと
係合する梃子フィンガを備えた装置の図である。
【図２４】蒸気ノズルの後退と吸引カップアセンブリの
嵌合を示す図である。
【図２５】後曲面型部を前曲面型部および成形済レンズ
から取り外すためにアセンブリを上方に梃子原理で移動
させる状態を示す図である。
【図２６】蒸気熱放出アセンブリ２２７ａの一つの詳細
図である。
【図２７】パレット表面を見るためにパレットの盲穴１
２８ａ，１２８ｂに挿入されるボアスコープのファイバ
光学プローブ２９１，２９２の詳細図である。
【図２８】重合済コンタクトレンズを載せたパレットを
水和装置８９へ搬送するための順序を示す図である。
【図２９】重合済コンタクトレンズを載せたパレットを
水和装置８９へ搬送するための順序を示す図である。
【図３０】重合済コンタクトレンズを載せたパレットを
水和装置８９へ搬送するための順序を示す図である。
【手続補正２】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】全図
【補正方法】変更
【補正内容】
【図２】
【図４】
【図１０】
【図１１】
【図１】
【図１７】
【図３】
【図５】
【図１９】
【図２３】
【図６】
【図７】
【図９】
【図８】
【図１２】
【図１３】
【図１４】
【図１６】
【図２２】
【図１５】
【図１８】
【図２１】
【図２４】
【図２５】
【図２７】
【図２０】
【図２６】
【図２８】
【図２９】
【図３０】
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｇ０７Ｃ 3/14 Ｇ０６Ｆ 15/21 Ｒ (72)発明者 ジョン・マーク・レッパー アメリカ合衆国、32257 フロリダ州、ジ ャクソンビル、ウエスト、ハント・バリ ー・ドライブ 8991 (72)発明者 ラヴィ・サンカー・サンカ アメリカ合衆国、32256 フロリダ州、ジ ャクソンビル、ノース、ヘザー・グレン・ ドライブ 10322 (72)発明者 クレイグ・ウィリアム・ウォーカー アメリカ合衆国、32224 フロリダ州、ジ ャクソンビル、ハント・クラブ・ロード 3746 (72)発明者 ダニエル・ツゥ−ファン・ウォン アメリカ合衆国、32225 フロリダ州、ジ ャクソンビル、ナイト・ホーク・コート 13753

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】（ａ）コンタクトレンズ製造設備におい
    て、一またはそれ以上の第一コンタクトレンズ半型また
    は一またはそれ以上の補足的な第二コンタクトレンズ半
    型を搬送するためのもので、それぞれ独自の識別番号を
    含むパレット列と、 （ｂ）一またはそれ以上の処理装置を含む前記コンタク
    トレンズ製造設備において、前記パレット列を搬送する
    ためのコンベヤ装置と、 （ｃ）前記一またはそれ以上の処理装置においてコンタ
    クトレンズの製造プロセスを実時間監視するために設け
    られ、前記設備の一またはそれ以上の処理装置において
    前記パレットのそれぞれの前記独自の識別コードを識別
    するための第一追跡手段を各処理装置における処理条件
    値を受け取って、この処理条件が所定範囲外の場合に識
    別済の各パレットに関する処理状況情報を拒絶フラグの
    形で生成する制御装置と、から成る、生産ライン追跡・
    品質管理システム。
  2. 【請求項２】またはそれ以上の処理装置を含むととも
    に、生産設備内をコンタクトレンズ型製品を搬送するた
    めの独自の識別コードを持つパレット列を含むコンタク
    トレンズ製造設備に関する品質管理方法であって、この
    方法は、 （ａ）前記設備の前記またはそれ以上の処理装置におい
    て、追跡手段によって前記各パレットの前記独自のコー
    ドを識別する過程と、 （ｂ）前記一またはそれ以上の処理装置においてコンタ
    クトレンズ製造プロセスを監視するとともに、この一ま
    たはそれ以上の装置における処理条件値を制御装置に伝
    達する過程と、 （ｃ）前記装置における前記処理条件が所定範囲外であ
    る場合に、識別された各パレットに関する処理状況情報
    を拒絶フラグの形で生成する過程とから成る。
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