JP3714994B2 - 生産ライン追跡・品質管理システムおよび品質管理方法 - Google Patents
生産ライン追跡・品質管理システムおよび品質管理方法 Download PDFInfo
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Description
【産業上の利用分野】
本発明は、一般的には、眼科コンタクトレンズを生産するためのコンタクトレンズ製造設備に関するものであり、詳しくは、この製造設備の様々な製造装置において生産ラインパレット搬送システムのパレット上を搬送される間に製造された良品および不良品のコンタクトレンズを識別および追跡する品質管理バーコード追跡システムおよび品質管理方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
ヒドロゲルコンタクトレンズの直接成形は、Larsen(ラーセン)の米国特許第 4,495,313号、Larsen et al. (ラーセンら)の米国特許第 4,680,336号、Larsen(ラーセン)の米国特許第 4,565,348号、Larsen et al. (ラーセンら)の米国特許第 4,640,489号に開示されている。これらの開示内容はすべて、参考として本特許出願に取り入れられている。本質的に、これらの参照文献には、コンタクトレンズの自動生産方法が開示されており、この方法では、それぞれ後曲面(上方)半型と前曲面(下方)半型の間にモノマーをサンドイッチして、各レンズを形成する。モノマーを重合することによりレンズが形成され、次にこのレンズは型部から取り外されて、さらに処理を受け、消費者が使用できるように包装されることになる。
【0003】
モノマーは、モノマー充填・型組立装置でサンドイッチされる。この装置では、重合可能なモノマーが最初に前曲面半型に充填され、次に後曲面半型が前曲面半型の上に載置されて、コンタクトレンズの型アセンブリの完成品が製造される。型アセンブリパレットつまり支持システムにより、コンタクトレンズ型アセンブリの完成品をさらに、次の処理のために生産設備内の他の装置まで搬送し、最終的に、重合されたコンタクトレンズの完成品が製造される。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
本発明の目的は、眼科コンタクトレンズを高い生産量で製造する完全自動化コンタクトレンズ生産設備において、コンタクトレンズの前曲面半型と後曲面半型と型アセンブリを自動的に追跡する生産ラインパレットシステムに、追跡・品質管理システムを組み込むことである。
【0005】
本発明のさらなる目的は、処理装置においてコンタクトレンズの半型と型アセンブリを自動的に追跡する生産ラインパレットシステムに、追跡・品質管理システムを組み込むことである。処理装置には、コンタクトレンズ生産設備に設けられたコンタクトレンズの充填・予備硬化・重合・型外し・水和の各装置が含まれるが、これらに限定されるわけではない。
【0006】
本発明の別の目的は、コンタクトレンズ生産設備において前曲面コンタクトレンズ半型と後曲面コンタクトレンズ半型とコンタクトレンズ型アセンブリを搬送する搬送パレット列とコンベヤシステムが設けられた生産ライン追跡・品質管理システムを、生産ラインパレットシステムに設けることである。各搬送パレットは、品質管理を強化するため、一つのアセンブリまたは処理装置から他の装置へと製品を追跡できる独自の識別バーコードを備えている。
【0007】
本発明のさらなる目的は、生産ラインパレットシステムにおいて良品コンタクトレンズと不良品コンタクトレンズ(「製品」)を搬送するパレットを識別および追跡するためにコンタクトレンズ生産設備内の様々な箇所に設けられたバーコード読み取り装置を含む、コンピュータまたはプログラマブル論理制御装置の形の制御手段を、生産ライン追跡・品質管理システムに組み込むことである。
【0008】
本発明のさらに別の目的は、コンタクトレンズ生産設備において、各搬送パレットの処理条件状況を表すデータや情報を受け取るための記憶装置を含む制御手段を、生産ライン追跡・品質管理システムに組み込むことである。
【0009】
本発明のさらに他の目的は、搬送パレットで行われた操作、パレットに生じた重要な出来事、特定の識別されたパレットIDを持つ出来事が生じた時間を関連付ける手段を、生産ライン追跡・品質管理システムに組み込むことである。
【0010】
本発明のまた別の目的は、各搬送パレット上を搬送される前曲面半型と後曲面半型とコンタクトレンズ型アセンブリの生産状況が、規定の処理パラメータの許容範囲内であるか、または特定の処理パラメータの許容範囲を越えているかどうかを判断する制御手段を、生産ライン追跡・品質管理システムに組み込むことである。
【0011】
本発明の別の目的は、特定の搬送パレット上を搬送される前曲面半型、後曲面半型、および/またはコンタクトレンズ型アセンブリが規定の許容範囲外の条件下で処理されたと判断された場合に、この特定パレットを不合格とする処理を開始する制御手段を備えた、生産ライン追跡・品質管理システムを提供することである。
【0012】
【課題を解決するための手段】
上記の目的は、コンタクトレンズ生産設備において、一またはそれ以上の第一コンタクトレンズ半型と補足的な第二コンタクトレンズ半型のいずれかを搬送するためのパレット列から成る生産ライン追跡・品質管理システムにより、達成される。各パレットは、識別と追跡を目的とした独自の識別コードを備え、一またはそれ以上の処理装置を含むコンタクトレンズ生産設備において、コンベヤ手段上を搬送される。制御手段は、一またはそれ以上の処理装置において、コンタクトレンズ生産プロセスの実時間監視を行うもので、設備内の様々な装置において各パレット独自のコードを識別する追跡手段を含んでいる。この制御手段は、各装置を搬送される搬送パレットのそれぞれについて、各装置における処理パラメータ値を受け取り、この処理パラメータが範囲外である場合に、不合格信号を発する。
【0013】
本発明の他の長所および利点は、添付図面に関して記載され、本発明の好適な実施例が明記された以下の実施例を検討することにより、明らかとなるだろう。
【0014】
【実施例】
図1には、本発明の品質管理・生産ライン追跡システム11を備えたコンタクトレンズ生産設備に設けられた、生産ラインパレットシステム10の概略図が図示されている。パレットシステム10の動作の詳細は、本発明と同じ譲受人に譲渡された"Contact Lens Production Line Pallet System"(コンタクトレンズ生産ラインパレットシステム)という名称の同時係属特許出願U.S.S.N.08/257,786(代理人事件整理番号 #9001)に記載されている。その開示内容は、本出願に参考として取り入れられている。一般的に、パレット搬送システム10を備えたコンタクトレンズ製造設備は、熱可塑性の前曲面コンタクトレンズ半型と後曲面コンタクトレンズ半型をそれぞれ製造するための射出成形組立装置20と30を含む、隣接して設けられた様々な装置から成っている。前曲面射出成形組立装置20は、一度に8個までの前曲面半型を、この装置20から第一パレットコンベヤ27の付近に位置するパレット12aまで搬送するためのロボット装置22を含んでいる。そして、後曲面射出成形組立装置30は、一度に8個までの後曲面半型を、第二パレットコンベヤ29の付近に位置するパレット12b内を搬送するための装置24を含んでいる。第一パレットコンベヤ27と第二パレットコンベヤ29はともに、その一部が低酸素ケースで覆われている。補足的な後曲面コンタクトレンズ半型を含むパレット12bの付近に設けられた、前曲面コンタクトレンズ半型を後曲面コンタクトレンズ半型と同数だけ含むパレット12aを、連続パレットコンベヤ32に配置するための連続装置40も、充填・型組立装置50へとパレット12aと12bを交互にかつ連続的に搬送するために設けられている。充填・型組立装置50は、一般的に、各パレット12aに載置された前曲面レンズ型部のそれぞれの凹部でコンタクトレンズを形成するために、重合可能な化合物(モノマー混合物)を真空環境で付着させるための第一装置53と、後で充填装置50の下流側に位置する型分離装置において、後曲面半型とこれに関連する余分なモノマーリングつまり「HEMAリング」とを前曲面半型から取り外し易くするために、前曲面の環状縁部に沿って界面活性剤を付着させるための第二装置56と、各後曲面レンズ半型をパレット12bから取り上げて、これを搬送パレット12a上の対応する前曲面レンズ半型に位置合わせして載置する、各コンタクトレンズ型組立品を組み立てるための第三装置59を含んでいる。パレット12bからの各後曲面レンズ半型をコンベヤパレット12a上の対応する前曲面レンズ半型に同時に載置する操作は、真空環境で行われる。さらに、図1から分かるように、第二パレット12bから後曲面レンズ半型が取り除かれた後、射出成形アセンブリ30から新たな後曲面レンズ半型の組を受け取るために、パレット再循環ラムアセンブリ35により、空の後曲面パレット12bが元の後曲面供給コンベヤ29に押し戻される。
【0015】
図1に示されているように、完成された型組立品が載置されているパレット12aは、充填・型組立装置50から出て、予備硬化室65までコンベヤ32c上を搬送される。この予備硬化室65では、各型組立品に含まれているモノマー溶液が部分的に硬化されて粘性のゲル状となり、コンタクトレンズの縁部を形成するとともに、半型どうしの中心のずれを防ぐために、前曲面レンズ半型と後曲面レンズ半型に所定の圧力がかけられる。
【0016】
予備硬化が行われたレンズを載せたパレットは、予備硬化室65を出た後、コンベヤ32c上を重合装置75まで搬送される。この重合装置75では、各型組立品に入っている予備硬化済のレンズがUV乾燥器で完全に重合されて、コンタクトレンズ半加工品が作られる。図1に見られるように、型組立品が重合される際に重合室での滞在時間が長くなるように、連続パレットコンベヤ32cは二つのコンベヤ31aと31bに分かれている。型組立品を載せた一定量のパレットが、コンベヤ32cから二つのコンベヤ31aと31bのそれぞれに導かれるように、押圧装置45が使用される。
【0017】
重合装置75において、各型組立品の重合可能化合物が重合されてコンタクトレンズ半加工品が形成された後、パレットは、乾燥器から出た型組立品の温度調整を行う型外し緩衝部分76を通過し、二重移動ビーム189に沿って、パレットシステム10の後端まで移動する。ここには、型組立品の後曲面レンズ半型を前曲面レンズ半型から自動的に分離して、重合されたコンタクトレンズを露出させ、下流側の水和装置89に搬送する型分離装置90が設けられている。型外し処理の後、押圧アセンブリ210により、水和アセンブリ89までパレットを搬送する往復移送パレット装置335へと、パレット12aの列が押圧される。各コンタクトレンズが包装の前に水和されるように、水化アセンブリ89では、重合されたコンタクトレンズを中に有している前曲面レンズ型部が、同時に各パレットから取り出されて、適当な水和室(図示されていない)内に載置される。続いて空のパレットが移送装置335によりコンベヤ31fに戻され、ここで押圧装置322により空の第一パレットはコンベヤ27まで移送される。パレットは移送された後、射出成形アセンブリ20から前曲面レンズ半型の新しいバッチを受け取ることになる。
【0018】
レンズ製品の半型を搬送するための生産ラインパレット12aの上面図が、図2(a)に示されている。パレット12aと12bは、前曲面コンタクトレンズ半型と後曲面コンタクトレンズ半型のいずれでも収容できるという点で、互換性を持っていることを理解すべきである。生産ラインパレット12a、12bは、アルミニウム製で、幅は60mm以下、長さは120mm以下である。別の実施例では、パレット12aはステンレス鋼から成り、幅90mm、長さ160mmである。図2(a)から分かるように、コンタクトレンズの所望の最終形状である1組の補足的な前曲面半型と後曲面半型から成る、それぞれのコンタクトレンズ型組立品139を収容するために、各パレット12a、12bには複数の凹所が形成されている。図2(b)には、各型組立品139がパレットの凹所130bに収容された状態が図示されている。コンタクトレンズを製造するには、充填・型組立装置50において、ある量の、一般的には約70mg前後の重合可能な化合物を、パレットの凹所130bに設けられた各前曲面(凹状)半型131に載置する。望ましい量は、重合が行われる際の副産物の生成や、重合の後で水が交換される際に希釈剤が用いられた場合には、希釈剤や副産物の生成を考慮に入れたうえで、所望のレンズの寸法(直径や厚さなど)に基づいて決められる。次に、第一半型と第二半型が、それぞれの回転軸が同一線上にあり、それぞれのフランジ131aと133aが平行となるように並んだ状態で、後曲面(凸状)半型133を重合可能化合物132の上に載置する。半型131は、前曲面半型の環状フランジ131aを受けてこれを支持する環状凹所130a内を搬送される。パレット12aと12bには、凹所130bに加えて、収容された前曲面半型131の三角タブ部131cが所定角度を持つ位置となるようにこれを収容するための、中心に向かう複数の凹所130cが設けられている。凹所130cは、各凹所内に位置する半型の通常の移動が、+/−0.1mm以内となるように設計されている。第二の後曲面半型133の三角タブ133cは、二つの半型の回転軸が同一線上となるように、前曲面タブ131cと重複している。
【0019】
図2(a)に図示されているように、各パレット12a(12b)の表面上の中心付近には、独自のバーコード識別子135が設けられている。このバーコード識別子135は、後で詳細に説明するように、取扱、追跡、品質管理を行う設備内の各箇所に設置されたバーコードスキャナ110−119(図1)で走査されるものである。また、パレット12a(12b)には、後でさらに詳しく説明するが、パレット表面でのコンタクトレンズ生産プロセスの実時間検査を可能にするために、ファイバー光学ボアスコープおよびこれと同類の検査装置が挿入される盲穴128a,128bが形成されている。
【0020】
図1のように、生産ライン追跡・品質管理システム11には、制御装置100が含まれる。制御装置100としては、コンピュータや1またはそれ以上のプログラマブル論理制御装置(PLC)が考えられる。後でさらに詳細に説明するように、制御手段100には、コンタクトレンズの処理条件を実時間監視するためのセンサ装置が、複数含まれる。センサ装置は、製造設備の特定装置においてパレットに載置された半型や型組立品に施される処理を制御するコンピュータやPLCによって受け取られる処理条件情報を、この特定装置において生成する。次にそれぞれのPLCがこの情報を処理して、補正処置のための適当な制御信号を生成したり、および/または他の種類の介入や修正が必要なことを示すエラーフラグを生成する。
【0021】
図1に示された好適な実施例では、制御手段100は、コンタクトレンズ製造設備内において生産ラインパレットシステム10の追跡および制御を行うための、少なくとも2台のPLCと、これに関連した回路要素およびソフトウェアから構成される。制御装置100の第一PLC102aは、射出成形装置20、30から充填/成形組立装置まで、パレットの搬送を制御および追跡する。制御装置100の第二PLC102bは、予備硬化、UV重合、型分離装置において、パレット搬送の品質管理を行うとともに、これを追跡する。制御装置100の第三PLC102cは、次の処理のためにコンタクトレンズがパレットから取り出される水和アセンブリにおいて、パレットの識別を保持するために、設けられている。本発明と同じ譲受人に譲渡された"Automated Method and Apparatus for Hydrating Soft Contact Lenses"(水和ソフトコンタクトレンズの自動化方法と装置)の名称の同時継続出願U.S.S.N.08/258,996(代理人事件整理番号 #8998)に記載されているように、水和、後水和、レンズ検査、包装の各装置の様々な面を制御するために、別のPLC(図示せず)が追加されている。この出願の開示内容は、本出願と、本発明と同じ譲受人に譲渡された"Automated Apparatus and Method for Packaging Products" (製品包装用自動化装置と方法)という名称のU.S.S.N.08/257,791(代理人事件整理番号 #9005)に、参考として取り入れられている。U.S.S.N.08/257,791の開示内容もまた、本出願に参考として取り入れられている。各PLCがTIシステム545(Texas Instruments )で、バックプレインまたは直列リンク(図示せず)を介してPLCと通信するためのTI386/ATM共処理装置モジュールを含むことが望ましい。好適な実施例では、後で詳細に説明するように、PLC102bは、バーコードスキャナ解読器から成る星形接続点ネットワークに接続された386/ATMモジュールを備えている。
【0022】
図1から分かるように、各PLC102a,b,cにはそれぞれ、記憶装置104a,b,cが設けられている。記憶装置は、各PLCが時間情報および処理条件状況情報の形のデータにアクセスしたりこれを処理するのに適したアドレス指定能力と記憶能力を持っている。すなわち、処理条件状況情報は、特定のコンタクトレンズ「製品」の合否に関する情報、つまりコンタクトレンズ半型やコンタクトレンズ型組立品が載置されている特定のパレットに関する特定時点までの処理条件が、指定された範囲および許容範囲に従って実施されているかどうかに関する情報から成る。この情報は、特定のパレットに載置された製品が合格品か不良品かを判断するのに用いられる。あるパレットに載置された製品が不良品である、つまり処理規定パラメータから外れていると判断された場合には、パレットシステム10に設けられた適切な手段により、このパレットが不合格となる。各パレットの時間情報は、各パレットについて処理条件状況が最後に更新された特定の時点、つまりパレットが特定のバーコードスキャナを通過した時点から成る。各パレットが特定の処理または事象を受ける、例えば特定の処理装置に入ったりこれから出たりする時間は、後で特に詳細に述べる方法で、記憶装置内の時間情報項目を用いて、PLCにより計算される。多様なPLCを備えた制御手段100には、パレット時間(タイムスタンプ)情報を判断するための、10秒の解像度を持つ、つまり10秒毎に増加する主クロック(図示せず)を含んでいる。主クロックは、ロットの切り換え(後で説明する)毎に、またはプログラムのダウンロードの後で、−32000にリセットされ、主クロックがリセットされる前の主クロックの最大値は+32767である。これにより、このシステムでは、主クロックが再度初期化されるまで、全体として179時間かかる。パレットのクロックを管理するとともに時間を確実に変更するために、このソフトウェアは、パレットの主クロック上の数値(秒)を表す値PALL SEC TICと、主クロックが最後にリセットされてからのパレットのクロック時間を表すPALL CLOCKを定めている。
【0023】
図1から分かるように、生産ライン追跡・品質管理システム11は、図1で部品110−119として示された、生産設備において戦略的箇所に設けられたバーコードスキャナ装置を備えている。各バーコードスキャナ装置110−119としては、 のScanstar Inc. で製造されているScanstarのモデルNo.110で製造されたバーコードレーザースキャナが適しており、コンタクトレンズ半型または型組立品が載置された各パレットの識別を行う。すなわち、図1に示された位置に設けられた各バーコードスキャナは、パレット固有の識別バーコードを走査して、下を通過する各パレットを識別するのである。後で詳細に説明するように、識別されたパレットに関連した記憶場所の処理状況情報および/またはタイムスタンプ情報を更新するために、好適な実施例では整数である、識別されたパレットに対応するデータがPLCにインプットされるように、ScanstarのモデルNo.240(図示せず)などの解読器が、各バーコードスキャナに設けられている。各バーコードスキャナの解読器は、好ましくは星形形状にネットワーク連結されている。
【0024】
各PLC記憶装置(104a,b,c)の記憶機構の好適な実施例は、図3に図示されている。とりわけ、各パレットには、少なくとも3つの記憶場所が与えられている。つまり、各パレットに関する処理条件状況情報データを格納しており、今後はPALL STATUSと呼ぶ記憶場所と、各パレットに関する時間情報データ(タイムスタンプ)を格納しており、今後はPALL TIMEと呼ぶ記憶場所と、パレット識別番号を格納するための第三の記憶場所、すなわちアレイ用のポインタ160である。これは、PALL ID NUMと呼ぶ。PALL STATUS情報を含む連続的な記憶場所170のブロックと、PALLTIME情報を含む連続的な記憶場所180のブロックを有するアレイまたは索引テーブルとして、記憶装置を構成することが好ましい。図3に示したように、各ブロック170,180の特定の記憶場所155,156は、パレットの識別番号PALL ID NUMがポインタ160であるアレイタイプに基づいてアクセスできる。特定の装置に位置するパレットのID番号(PALLET ID)を持つSTATION NUM情報を含む、第三の連続的な記憶場所190のアレイブロック190が設けられることが好ましい。STATION NUMアレイには、PLCで制御される装置と同じ数の要素のみが必要である。PALL STATUSブロック170とPALL TIMEブロック180には、ラインのうち、特定のPLCで制御される部分に位置するパレットと同じ数の要素のみが必要である。図3のように、定常状態操作の間、システム10に存在するパレットの最大数より多い部品が、1から400までの番号を付けられている。
【0025】
プロセス条件状況記憶ブロック170の各場所155は、システム内の識別された各パレットのある時点での状況に関するPALL STATUS情報を記憶するための、16ビットのアドレス可能レジスタから成る。同様に、タイムスタンプ記憶ブロック180の各場所156は、識別された各パレットが特定のバーコードスキャナを通過する時間に関するPALL TIME情報を記憶するための、16ビットのアドレス可能レジスタから成る。PALL STATUS情報は、識別されたパレットに載置された製品の状況が合格品かどうかを示す正(+)の整数と、識別されたパレットに載置された製品の状況が不良品かどうかを示す負(−)の整数のいずれかから成ることが好ましい。しかし、合格品対不良品に関連するものならいかなる案でもよいことは理解できよう。PALL STATUS記憶場所155の不良品対合格品のこの関連により、PLCは、レンズ生産設備の特定装置で識別されたパレットに操作を行うべきかどうかを決定できる。識別されたパレットの状況が負であれば、それ以上の操作は行われず、不合格装置に達するまで、負の状況が持続する。不合格(負の状況)に関する最初の原因のみが記憶されること、およびパレットがシステムから除去される前に同じパレットについて連続的に受け取られた不良品の結果はすべて無視されることは、述べておかなければならない。
【0026】
状況・タイムスタンプ182情報は、特定装置に含まれるパレットに関するパレット状況情報を持つ16ビットのレジスタである、ソフトウェア駆動シフトレジスタに入力される。シフトレジスタは、主に、ガス抜き装置や硬化装置のような緩衝部分において、パレットを追跡するのに、使用される。後で詳細に説明するように、各シフトレジスタは、特定パレットに関するパレット番号と状況情報を有している。パレット自体がシステムのある部分を進む際に、これらのレジスタ内のデータが次のレジスタにシフトされる。これについては、後で詳述する。
【0027】
本発明と同じ譲受人に譲渡された"Computer Program for Quality Control" (品質管理用コンピュータプログラム)という名称の同時係属特許出願U.S.S.N.08/257,800 (代理人事件整理番号#9015)にさらに詳しく説明されているように、データ獲得システム(図示せず)では、特定の処理動作について各PLCから発せられたアラーム信号により集められたそれぞれの処理パラメータ値とともに、不合格コード(負のPALL STATUS値)を集め、識別されたパレットが存在する様々な処理装置における処理パラメータと処理条件を連関させるセルスーパバイザに、この情報をインプットする。その結果、レンズ製造システムの最も問題の多い部分を強調した図が作成される。このデータ獲得・スーパバイザプログラムによって、品質向上と処理の最適化を目的として、製品・処理情報とコンタクトレンズの品質情報の間の相互関連が明らかになる。
【0028】
以下では、本発明の生産ライン追跡・品質管理システムのバーコード追跡機能に関する説明を行う。
【0029】
制御システム100、特にPLC102a,b,cによって、O2 露出時間、光度、温度などの一またはそれ以上の処理条件パラメータに関する許容範囲外で特定のパレットが処理されたと判断されると、制御システム100は、この許容範囲外条件の特定パレットを製造設備内の次の処理装置でさらに処理すべきかどうかを判断する。さらに、特定パレットを不合格であると見なすべきかどうかも判断される。
【0030】
生産追跡・品質管理システムでチェックされる最初の処理条件は、射出成形アセンブリ20,30から前曲面半型と後曲面半型のそれぞれが出てから、パレット12a,12bがそれぞれロボットアセンブリ22,24から半型を受け取り、半型が窒素緩衝装置に入るまでの、前曲面半型または後曲面半型の大気(酸素)露出時間である。
【0031】
図6は、前曲面型部と後曲面型部を、各コンタクトレンズ射出成形アセンブリ20,30からパレットシステムの各パレット12a,12bまで搬送するための、ロボット装置22,24の詳細図である。各射出成形アセンブリ20,30の詳しい説明は、本出願と同じ譲受人に譲渡された"Low Oxygen Molding of Soft Contact Lenses" (ソフトコンタクトレンズの低酸素成形)という名称の同時係属出願U.S.S.N.08/257,802(代理人事件整理番号 #8997)に記されている。この出願の開示内容は、参考として本出願に取り入れられている。各ロボット装置22,24の詳細な説明は、本出願と同じ譲受人に譲渡された"Apparatus for Removing and Transporting Articles from Molds"(製品を型から取り外して搬送する装置)という名称の同時係属出願U.S.S.N.08/258,267(代理人事件整理番号#9002 )に記されている。この出願の開示内容も、参考として本出願に取り入れられている。さらに図6において、各コンタクトレンズ射出成形アセンブリ20,30は、それ独自のPLC102d,102eにより、制御される。PLCはそれぞれ、各アセンブリで行われる処理に関わるとともにこれを管理し、後で詳細に説明するパレット追跡・品質管理プロセスを開始させる。
【0032】
一般的に、ロボット装置22には、射出成形アセンブリ20から一回分(バッチ)の前曲面レンズ型部を取り出すとともに、この製品を第一位置まで移送するための第一ロボットアセンブリ15が設けられている。アセンブリ17は、第一位置においてアセンブリ15から前曲面レンズ型部を受け取るために設けられたものである。ロボットアセンブリ16は、アセンブリ17から前曲面レンズ型部を受け取るとともに、この製品を第二位置から変換装置38の変換ヘッド38aまで移送するために、設けられている。変換装置38は、ロボットアセンブリ16で運ばれてきた前曲面レンズ型部の方向を変換するものである。この変換が必要なのは、ロボットアセンブリ16が非光学(凸)面で前曲面型部を扱っており、アセンブリ22から前曲面型部を受け取るには、クランプ手段37a,bにより瞬間的に休止するパレット12aに各型部の非光学面が載置されるように、方向を変換しなければならないからである。図6から分かるように、一組のクランプ爪37a,b(破線で示す)から成るクランプ機構37は、変換ヘッド38aによって前曲面半型が空のパレット12a上に載置されるように、このパレットを適宜クランプしてその動作を停止させるように、コンベヤ27の反対側に位置している。射出成形アセンブリからコンベヤ27上のパレット12aへ、前曲面レンズ半型を変換させる処理は、大気環境で行われることに言及しておかなければならない。
【0033】
上述した"Low Oxygen Molding of Soft Contact Lenses"(ソフトコンタクトレンズの低酸素成形)という名称の同時係属出願(代理人事件整理番号( #8997)に詳細に説明されているように、過度の酸素への露出によるレンズ型の劣化を避けるため、コンタクトレンズ処理の間、前曲面型部を低酸素環境に移送しなければならない。従って、図6に見られるように、ロボットアセンブリから各パレット12aに前曲面半型を連続して移送した直後に、パレットは、クランプ機構37a,bから外されて、窒素ガスカバー46へと移送される。
【0034】
図4に示した生産ラインパレット追跡・品質管理を開始するには、図4ではステップ341と表されているように、前曲面レンズ半型の第一バッチが射出成形アセンブリ20から出されてロボットアセンブリ22に移送される前に、PLC102dが第一タイマー(タイマーA)を開始させる。前曲面レンズ型部の第二バッチが射出成形アセンブリ20から出されてロボットアセンブリ22へと移送される前に、第二タイマーが始動されるとともに準備が行われる。これは、図5ではステップ341’と表されている。いついかなる時でも、2組の前曲面(または後曲面)半型が、射出成形アセンブリと窒素緩衝カバーの間で空気に露出されるため、二つのタイマー(従って2つの制御ループ)が用いられる。すなわち、ステップ343で第一組の前曲面型部が射出成形アセンブリ20から出た際に、PLC102dにより第一ストップウオッチタイマーを始動させて(ステップ345)、この第1組の酸素露出のタイミングを開始させる。この第一タイマーデータは、2ビットの記憶場所であるフリップフロップポインタレジスタにより指定された別のPLCタイムレジスタ(図示せず)に記憶される。半型の移送は進行し、ステップ348で、前曲面レンズ型部の第一バッチがパレット12aに載置される。パレットに載置された後、タイマーが停止し、ここまでO2AIRMAXと示されている最長酸素露出時間を判断するために、ステップ349で第一ストップウオッチタイマーの数値が評価される。好適な実施例では、この最長空気露出時間は、12秒以下である。一方、第一組の前曲面半型がパレット12aまで移送される間に、第二組の前曲面半型が射出成形アセンブリ20から出される。すると、PLC102dは(ステップ345’で)第二ストップウオッチタイマーを始動させて、ステップ343’で第二組の前曲面半型が射出成形アセンブリ20から出される際に、この第二組の酸素露出のタイミングを開始する。このタイムスタンプは、別のPLCタイムレジスタ(図示せず)に位置する第二タイマーレジスタに記憶される。(第一組の曲面が第一パレットに載置された後に)、この第一組について時間の比較が行われると、次に、ステップ349で第二組の曲面について時間の追跡を行うため、フリップフロップポインタ(図示せず)が第二タイマーを指定する。これにより、射出成形アセンブリ20から出された次の組の半型についての露出時間を評価できるように、第一タイマーがリセットされて、初期化される。第一タイマーで計測した結果、12秒の露出時間を超過すると、エラーフラグが生成されて、パレットが識別されるまで一時的に記憶される。
【0035】
ステップ348’で第二組の前曲面を受け取るように位置決めされた第二パレットコンベヤに、第二組の曲面が載置された後、ステップ349’で、第二ストップウオッチタイマーが停止して、第二組の曲面の最長酸素露出時間を判断するために、第二ストップウオッチタイマーの数値が評価される。この最長空気露出時間は、やはり12秒以下でなければならない。この後、次の組の半型について露出時間を評価できるように、第二タイマーがリセットされ、初期化が行われる。12秒の露出時間が超過すると、エラーフラグが生成され、パレットが識別されるまで一時的に記憶される。
【0036】
第一組の前曲面がパレット12aまで移送された直後、PLC102aに設けられた第三タイマー(図示せず)が作動して、パレットに載置された時間を記録する。次に、窒素ケース46までパレットを搬送できるように、クランプ機構37a,bが解除される。図6のバーコード走査装置111が、次に、パレットのバーコード135を走査してパレットを識別し、識別されたパレットが窒素トンネル46に入った時間を記録するためPALL ID NUMに対応する記憶場所にアドレスする。PLCは、次のように、窒素トンネル46に入った識別済パレット12aについて、タイムスタンプ値をPALL TIMEアレイ180に書き込む。
PALL TIME PALL ID NUM := PALL CLOCK ;
次に、第三タイマーで記録された時間とバーコードスキャナ111の第一タイムスタンプの間の時間差が3秒以下であるか、そして、エラーフラグレジスタ(PLC102dにあるが図示せず)に記憶されているように、パレットの露出時間が12秒を越えると前もって決定されているかどうかについて、PLC102aによる判断が行われる。露出時間が上記の範囲内であるとPLCが判断すれば、この第一パレット(例えばパレット番号1)の操作状況は良であり、PLCは、次のように、PALL STATUSアレイ170のある場所に処理条件データを入力する。
PALL OK CODEが、パレット状況が良であることを示す16ビットワードの場合。図3のように、記憶場所PALL STATUS〔1〕におけるPALL STATUSデータは、前曲面レンズ半型の空気露出時間が15秒未満であることを示すプラス1の値である。同様に、PLCが露出時間が上述の範囲内でないと判断した場合には、この第一パレット(例えばパレット番号1)の操作状況は不良と見なされ、PLCは、次のようにPALL STATUS記憶アレイ170に数値を入力する。
PALL STATUS PALL ID NUM := -1;
特定のパレットに対応するPALL STATUS記憶アレイ170の処理条件状況データに−1の値を入れることは、前曲面レンズ半型の空気露出時間が15秒以上であり、このパレットを不合格にすべきであることを示している。このシステムに入る前曲面レンズ半型を受け取るパレット12a列のそれぞれについて、このプロセスが繰り返される。後で詳細に説明するように、射出成形アセンブリ30から出される後曲面レンズ半型についても、全く同じプロセスが実施されることに注意してほしい。
【0037】
前曲面レンズ半型に関して前に説明したように、図6に図示された装置30は、後曲面レンズ半型のバッチを取り出すとともにこの半型を第一位置まで移送するための第一ロボットアセンブリ25を備えている。アセンブリ28は第一位置のロボットアセンブリ25から後曲面レンズ半型を受け取るとともに、この半型を第一位置から第二位置に移送するためのものである。ロボットアセンブリ26は、第二位置のアセンブリ28から後曲面レンズ半型を受け取るとともに、第二位置から、後曲面レンズ半型をアセンブリ24から受け取るために瞬間的に停止する後曲面レンズパレット12bを搬送する後曲面供給コンベヤ29沿いの所定位置まで、この半型を移送するために設けられている。射出成形アセンブリからコンベヤ上のパレット12aまで後曲面半型を移送するプロセスは、大気環境において、行われる。
【0038】
後曲面レンズ半型を受け取る各パレット12bは、前曲面型アセンブリの移送の際に、搬送コンベヤベルト29上で瞬間的に停止する。図6から分かるように、後曲面半型がロボットアセンブリ26によってパレット上に載置される間、空のパレット12bのコンベヤ29上での移動を停止させるように、一組のクランプ爪36a,bから成るクランプ機構36が、適宜このパレットをクランプする位置に設けられている。クランプ機構36,37の動作は、"Contact lens Production Line Pallet System" (コンタクトレンズ生産ラインパレットシステム)という名称の上述の同時係属特許出願U.S.S.N.08/257,786に、詳しく説明されている。すでに説明したが、図6のように、レンズ型の劣化を避けるため、ロボットからパレットへと半型が移送された直後に、後曲面レンズ半型が載置されている各パレット12bはクランプ機構36a,bから外されて、窒素ガスケース46へと搬送される。
【0039】
図4と図5について前に説明したように、生産ラインパレット追跡・品質管理を開始するには、後曲面レンズ半型の第一バッチが射出成形アセンブリ30から出てロボットアセンブリ24へと移送された時に、PLC102eが第一タイマーを始動させ、後曲面レンズ半型の第二バッチが射出成形アセンブリ30から出てロボットアセンブリ24へと移送された時に、第二タイマーを始動させる。いつでも、二組の後曲面半型のみが射出成形アセンブリと窒素緩衝ケースの間で空気に露出されるので、二つのタイマーが使用される。すなわち、後曲面半型の第一組が射出成形アセンブリ30から出る際に、この第一組の酸素露出のタイミングを開始するための第一ストップウオッチタイマー(図示せず)をPLC102eが始動させる。この第一タイマーのデータは、好適な実施例では、2ビットのブールレジスタであるフリップフロップポインタによりポイントされた、別のPLCタイムレジスタ(図示せず)に記憶される。半型の移送は進行し、パレット12bに後曲面レンズ型部の第一バッチが載置される。パレットへの載置が終了すると、タイマーが停止し、それまでの最長酸素露出時間を判断するために、第一ストップウオッチタイマーの数値が評価される。好適な実施例では、この最長空気露出時間は12秒以下でなければならない。一方、第一組の後曲面がパレット12bに移送される間に、第二組の後曲面が射出成形アセンブリ30から出る。第二組の後曲面半型が射出成形アセンブリ30から出た際に、この第二組の酸素露出のタイミングを開始するために、第二ストップウオッチタイマー(図示せず)がPLC102eによって始動される。このタイムスタンプは第二タイマーレジスタ(図示せず)に記憶される。(第一パレットに載置された後に)第一組の後曲面について時間の比較が行われた後、フリップフロップポインタ(図示せず)が、第二組の後曲面について時間の追跡を行うように第二タイマーに指示する。これにより第一タイマーがリセットして、射出成形アセンブリ30から出てくる次の組の半型について露出時間を評価できるように、初期化される。第一タイマーで計測した結果、12秒の露出時間が超過すると、エラーフラグが生成され、パレットが識別されるまで一時的に記憶される。
【0040】
第二組の後曲面を受け取るように位置決めされた第二パレットに第二組の後曲面が載置されると、第二ストップウオッチタイマーが停止し、第二組の後曲面について最長酸素露出時間を判断するために、第二ストップウオッチタイマーの数値が評価される。最長空気露出時間は、やはり12秒以下でなければならない。次に第二タイマーがリセットされ、次の組の半型について露出時間の評価を行えるように、初期化される。12秒の露出時間を超過すると、エラーフラグが生成されて、パレットが識別されるまで一時的に記憶される。
【0041】
第一組の後曲面半型がパレット12bへ移送された直後、PLC102aに設けられた第三タイマーが、パレットに載置された時間を記録するために作動する。次に、窒素ケース46へパレットを搬送できるように、クランプ機構36a,bが解除される。図6のバーコード走査装置110が次に、パレットのバーコード135を走査してパレットを識別し、識別されたパレットが窒素トンネル46に入った時間を記録するため、PALL ID NUMに対応する記憶場所をアドレスする。PLCは、次のように、窒素トンネル46に入る各識別済パレット12bについて、タイムスタンプ値をPALL TIMEアレイ180に書き込む。
PALL TIME PALL ID NUM := PALL CLOCK ;
PLC102aは次に、第三タイマーで記録された時間とバーコードスキャナ110の第一タイムスタンプの間の時間差が3秒以下かどうかを判断し、エラーフラグレジスタ(図示せず)に記録されたようにパレットの露出時間が12秒を越えると前もって判断されている場合には、露出時間が上記の範囲内であるとPLCが判断すると、パレット(例えばパレット番号2)の運転状況は良となり、PLCは処理条件データを、次のようにPALL STATUSアレイ170内のある場所に入力する。
PALL OK CODE := +21
PALL STATUS PALL ID NUM :
=PALLOKCODE ;
これは、PALL OK CODEが、パレット状況が良であることを示す16ビットのワードの場合である。図3にみられるように、記憶場所PALL STATUS〔1〕におけるPALL STATUSデータは、後曲面レンズ半型の空気露出時間が15秒未満であることを示す+21の値である。同じように、露出時間が上述の範囲内であるとPLCが判断した場合は、パレットの操作状況は不良であると見なされ、PLCは、次のようにPALLET STATUS記憶アレイ170のある場所に数値を入力する。
PALL STATUS PALL ID NUM := -21 ;
特定のパレットに対応するPALL STATUS記憶アレイの処理条件状況データに21の数値が入力されるのは、後曲面レンズ半型の空気露出時間が12秒を越えること、そしてパレットを不合格とすべきであることを示している。システムに入る前曲面レンズ半型を受け取ったパレット列12bのそれぞれについて、このプロセスが繰り返される。
このプロセス全体は、射出成形アセンブリ30から出た後曲面レンズ半型の各組についても繰り返されることに、注意してほしい。
【0042】
本発明の生産追跡・品質管理システムで監視される次の処理条件は、窒素ケース46から成るガス抜き(窒素緩衝)装置で生ずるものである。ガス抜き処理は、前に露出が行われた前曲面レンズ半型および後曲面レンズ半型から酸素のパージングを最大限に行うことで、完了する。酸素露出時間が約12秒から15秒の場合には、窒素トンネル46で最低3分間処理する必要がある。このパージング時間は、幾何学的で、酸素露出時間が30秒以上の場合、窒素トンネルで30分間処理する必要がある。N2 のガス抜き時間は、モノマー充填・型組立装置50に入る時点で検査される。ここでは、バーコードスキャナ112が、装置50に入る各パレット12a,bを識別して、識別された各パレット12a,12bがモノマー充填装置に入る時間に対応するタイムスタンプ値を生成するようにPLCに通知する。PLCは、モノマー充填・型組立装置50に入る識別済の各パレットに対応する記憶アレイ180のPALL TIME〔PALL ID NUM〕の場所に、タイムスタンプ値を書き込み、前の第一タイムスタンプ値(窒素トンネルに入る時間を示す)と最近のタイムスタンプ値(モノマー充填装置に入る時間を示す)の時間差が3秒以上であるかどうかについて、判断を行う。PLCは、次のように、各パレットについてバーコード走査の間の時間差の計算を行う。
【0043】
窒素充満ケース46内における各パレットの移送時間つまりPALL TIME−DIFが3秒を越えるとPLCが判断した場合には、パレットの操作状況は良で、充填/型組立モジュール50に入るようにパレットが解除され、PLCは次のように、PALLET STATUSアレイ170内のある場所に処理条件データを入力する。
PALLOKCODE:=+2
PALLSTATUSPALLIDNUM:
=PALLOKCODE;
ここにおいて、PALL OK CODE:=+2は、前曲面半型が載置されているパレット12aは良であることを示している。窒素ケース内のパレット移送時間が上記の範囲内に含まれないと、PLCが判断した場合は、3秒経過するまでパレットが窒素ケースの中に保持される。これを行うのは、図9、図10に示した、パージング時間が3秒に達するまで窒素緩衝装置内にパレットを保持するための、上流側のクランプ爪153a,bである。
【0044】
窒素ケース46内において、一つ(またはそれ以上)の処理条件の不備、例えば、O2 ガスの濃度レベルが許容範囲を越える場合が生じることがある。緩衝装置内のO2 ガス濃度が高いというような不備は、窒素緩衝装置内のパレットの流れ全体に影響を与えるので、すべてのパレットを識別して、記憶アレイ170に不良としてマークしなければならない。
【0045】
図7に見られるように、ケース46内の酸素レベルを常に監視するとともに、トンネルケース内の酸素濃度が約0.3%から0.5%の許容範囲外にある場合にPLC102aに信号を発するために、PLC102aとインターフェースする酸素センサ121aから121fが、ケース42内の様々な箇所に設けられている。ケース内のO2 レベルがこの範囲内の場合には、充填装置50に入る際にバーコードスキャナ112で識別された各パレットについて、パレットが良であることを示す処理条件状況PALL STATUS〔PALL ID NUM〕が、PLCにより更新される。
【0046】
いついかなる時でも、酸素濃度が0.5%の限度を越えた場合には、その時点で緩衝装置内にある各パレットの操作状況は、許容範囲外の状況であることを示すものでなければならない。さらに、このような出来事により、介入が必要なことを示すアラームつまり警告信号が起動されなければならない。PLC102aは次に、連続して窒素緩衝装置に入った特定のパレットが、許容範囲外条件が生じた時点でこの緩衝装置内にあることを示す+1と+21の値について記憶アレイ170を走査して、各状況を不良(−’ive整数)状況に変更する。すなわち、例えば+1状況(前曲面)を持つ各PALL ID NUMについて−1値を入力し、+21状況(後曲面)を持つ各PALL ID NUMについて−21値を、パレットが良でないため不合格とすべきであることを示す処理条件状況アレイ170に入力することにより、PLCが、処理条件状況PALL STATUS〔PALL ID NUM〕記憶を更新するのである。
【0047】
"Contact Lens Production Line Pallet System"(コンタクトレンズ生産ラインパレットシステム)の名称の上述の同時係属特許出願U.S.S.N.08/257,786により詳細に説明されているように、後曲面コンタクトレンズ半型が載置されたパレット12aの付近にあり、後曲面コンタクトレンズと同数の前曲面コンタクトレンズ半型が載置されているパレット12aを、N2 ケース46に全体が覆われた連続パレットコンベヤ32に載せるために、連続装置40が設けられている(図1)。その目的は、コンタクトレンズ型組立処理のために、後曲面半型を載せたパレット12bを最初に、そしてその直後に前曲面半型を載せたパレット12aを、というように、両パレットを交互にかつ連続的に充填・型組立装置50へと搬送することである。
【0048】
図6と図8から分かるように、各供給コンベヤ27,29の各端部27a,29aに位置する二重クロス押圧装置40は、主の連続コンベヤ32にパレットを入れるためにトラック143に沿って各供給コンベヤ28,29からパレットを同時に押圧するための第一アーム141と第二アーム142を備えている。図6に示したように、第一アーム141と第二アーム142は、図6の最初の位置から延出位置(図示せず)まで、トラック147に沿って二重矢印で示した方向にスライド可能な取り付け手段145上に、平行に設けられている。取り付け手段145と第一および第二アーム141,142を、水平に位置するパレットの面より上で垂直方向に持ち上げ、近接して位置するパレット12a,12bをコンベヤ32まで押圧してモノマー充填装置まで窒素ケース46内を搬送した後、トラック147上の最初の位置までアームを往復させるために、空気で作動するリフト手段148が設けられている。
【0049】
図8から分かるように、前曲面レンズ半型が載ったパレット12aと後曲面レンズ半型が載ったパレット12bがそれぞれ正しい位置にあり、二重クロス押圧装置40により正しく配列されていることを確認するために、適切な近接センサ123a,b,c,124a,bがトラック143沿いに位置している。クロス押圧装置40により、配列されて順番に位置した状態で、パレットがモノマー充填・型組立装置50へ交互に搬送されるように、近接センサ123a,b,c、124a,bがパレットの正しい位置を確認する。近接センサ123a,b,c、124a,bは、本質的に冗長であり、いずれかのセンサにより順序の誤りが識別されると、即座にオペレータに通知され、N2 緩衝装置内のFC(前曲面半型)/BC(後曲面半型)パレットの順序が間違っていることが判明するのである。
【0050】
パレットの配列の誤りが発見されると、PLCは、パレットが良であることを示すために、バーコードスキャナ112で識別されたパレットについて処理条件状況PALL STATUS〔PALL ID NUM〕記憶170を更新する。バーコードスキャナ111,110で前に記録された前曲面および後曲面のパレットに関する状況が、バーコードスキャナ112で走査された際に、識別されたパレットの配列が誤っているかどうかを、PLCが判断する。
【0051】
"Contact Lens Production Line Pallet System"(コンタクトレンズ生産ラインパレットシステム)という名称の同時係属特許出願U.S.S.N.08/257,786に説明されているように、前曲面レンズ半型と後曲面レンズ半型を載せたパレット12a,bの各組が、パレットを充填装置50に入れるため前方向の移動が行われる第二連続装置55に到達する。
【0052】
図9および図10には、充填・型組立装置50のモノマー充填装置53に、コンベヤ32からのパレットを一度に二つずつ交互にかつ連続的に移送ための、精密パレット処理装置55が図示されている。すなわち、コンベヤ32上の交互のパレット12b,12aの前方移動は、図10のように、一組のクランプ爪151a,bにより、最初に終了する。第一パレットの動きが停止すると、交互に連続するパレット12a,bがその後ろに積み重ねられる。
【0053】
PLC102aに制御されると、次に、静止状態のクランプ爪151a,bが外れて、バーコードスキャナ112による追跡が可能となる。爪151a,bが外れた後、パレットは上流側の一組のクランプ爪153a,153bへと正確に搬送される。図10から分かるように、ここで、最初のパレット12bをクランプすることにより、パレットの前方移動が再び終了する。これによりバーコードスキャナ112は各パレットを識別する。その結果、パレットが充填・型組立装置に入る前に、N2 緩衝時間が3分を越えるかどうかをPLCが正確に判断してBC/FCの配列を確認できるように、識別された各パレットについて記憶アレイ180のPALL TIME〔PALL ID NUM〕場所のそれぞれに、新しいタイムスタンプ値が、PLCにより入力される。このようにして、前曲面レンズ半型を載せた各パレット12aがモノマー充填の準備ができているかどうか、そして型組立の準備ができているかどうかを、PLCが確認する。
【0054】
充填装置に入る各パレットについて状況検査が終了すると、後曲面レンズ半型を載せた第二パレット12bと前曲面レンズ半型を載せた第二パレット12aが、ラム154の押圧器154aの前方において”A”として示された位置{1}に並ぶように、PLCの正確な制御に基づいて、クランプ爪153a,bが連続的に開閉する。次に、PLCの正確な制御に基づき、空気シリンダ装置158によって駆動されるラム154が適宜作動して、ラム157のラムヘッド157aと並ぶとともに図9に位置”C”として示されている位置{2}へと、矢印”B”で示された方向にパレットの長さに等しい距離だけ、スライド板32aに沿ってパレット12a,bを押圧する。適当な手段(図示せず)によって駆動されるサーボモータであるラム157が適宜作動して、モノマー充填装置53での処理のためにパレットの幅±0.1mmにほぼ等しい距離だけ矢印”D”で示された方向にトラック32bに沿ってパレット12a,12bを押圧する。PLCの制御下で、12のパレットが充填装置・型組立アセンブリでの処理のため、ここに連続的に入っていく。パレットが充填アセンブリ50内にある際にエラーが発生した場合には、PLCがシフトレジスタ制御によりパレットを追跡できるように、これらの処理のタイミングは正確であることを理解していただきたい。これについては、後で詳細に説明する。
【0055】
充填・型組立アセンブリ50内でのパレット状況情報の追跡は、一連のシフトレジスタにより行われる。図9から分かるように、処理のためにパレットを配置するための{1},{2},...{11}で示された指標位置が11箇所設けられており、各位置におけるパレットの状況とパレットID情報を記憶するために、シフトレジスタが各位置に設けられている。押圧アセンブリ154,157により充填・型アセンブリ装置50内で交代するパレットに指標が付けられると、対応するシフトレジスタに含まれたパレット状況とパレットID情報が、次のレジスタ位置にシフトされる。i=1,2,...11の場合の変数STATUS BASE〔i〕とID BASE〔i〕には、後曲面半型を載せたパレット12bの状況とパレットID情報が含まれている。j=1,2,...11の場合の変数STATUS FRONT〔j〕とID FRONT〔j〕は、前曲面半型を載せたパレット12aの状況とパレットID情報をそれぞれ含んでいる。
【0056】
操作時には、交互に移送されるパレットのそれぞれが窒素緩衝装置に存在し、図9で位置{1}と記された場所に入ると、バーコードスキャナ112で更新されたパレット状況とパレットID情報が第一シフトレジスタに入力される。例えば、後曲面半型を載せたパレットについては、状況情報がSTATUS BASE〔1〕変数に入力されるとともに、パレットID番号がID BASE〔1〕に入力される。次に連続する前曲面半型を載せたパレットが位置{1}に入ると、バーコードスキャナ112からの状況情報がSTATUS FRONT〔1〕変数に入力されるとともに、パレットID番号がID FRONT〔1〕に入力される。前曲面半型を載せたパレットが位置{1}に入る前に、押圧器154が後曲面半型のパレット12bを{2}の位置に置き、インデックス位置{1}についてシフトレジスタに記憶された状況とパレットID情報が、シフトレジスタ位置番号{2}に割り当てられる。例えば、
STATUS BASE2 := STATUS BASE1 ;
ID BASE2 := ID BASE1;
位置{1}と{2}は、窒素緩衝装置の出口と充填・型組立アセンブリ装置50への入口を、物理的に分けている。図9の位置{2}では、8個の半型がすべて特定のパレットにあることを検知するために、8個の光電センサ(図示せず)が設けられている。半型が存在しないと検知されると、STATUS BASE〔2〕(前曲面半型が載置されたパレットについてSTATUS FRONT〔2〕)に含まれる情報が、特定の後曲面半型または前曲面半型を載せたパレットが不良であることを示す負の状況番号で更新される。この状況は、連続するレジスタ位置にシフトされ、不良品のパレットが充填・型組立アセンブリ装置を通過する際にパレットとともに残る。
【0057】
次に進むと、最初の後曲面半型を載せたパレットが、押圧器157によって、図9で{3}と付けられたアイドル位置に置かれた後、第一前曲面半型を載せたパレットが位置{2}に置かれる。両パレットについてのパレット状況情報とパレットID情報は、次のように変換される。
ID FARONT2 := ID FRONT1 ;
STATUS FRONT2 := STATUS FRONT1;
ID BASE3 := ID BASE2;
STATUS BASE3 := STATUS BASE2;
【0058】
ラム押圧器157によって、図9の位置{3}に後曲面を載せたパレットが配置されると、8個の半型すべてが正確に腔内に位置しているかどうかを確認する分散検査を行うために、レーザアセンブリ122a,bが設けられている。半型の位置が正しくないと、STATUS BASE〔3〕またはSTATUS FRONT〔3〕に含まれる情報が、特定の後曲面または前曲面半型パレットが不良であることを示す負の状況番号、例えば−6により更新される。さもなければ、処理条件状況は、パレットが良であるためシフトレジスタを更新することを示している。このため、状況とパレットIDはシフトレジスタの内の場所に維持されており、状況/ID/記憶は、パレットの合格/不合格の決定がシフトレジスタの内容に基づいて各パレットについて行われる場合、最初に不合格となった装置まで追跡されるため、記憶アレイ170の処理条件を更新する必要はない。窒素緩衝装置に存在するすべてのパレットが、許容条件外であるため不良であると見なされると、すべてのシフトレジスタに不良状況条件が含まれ、各パレットは充填・型アセンブリ装置での次の処理を受けることなく、その後、生産ラインから排除される。
【0059】
モノマー充填装置
すでに簡単に説明したが、さらに図11において、装置50の分量・充填機器53の一部である精密分量ノズル185を用いて、パレット12aに載置された前曲面半型のそれぞれに、重合可能なヒドロゲルまたはモノマーを、所定量、充填する。モノマーと前曲面半型の間にガスが溜まるのを防ぐために、交互のパレット12aに載った前曲面半型のそれぞれに、真空状態でモノマーを充填する。
【0060】
本発明と同じ譲受人に譲渡され、本発明に参考として取り入れられている"Method and Apparatus for Contact Lens Mold Filling and Assembly"(コンタクトレンズ型充填・アセンブリの方法と装置)という名称の同時係属特許出願U.S.S.N.04/258,264(代理人事件整理番号 #9004)にさらに詳細に説明されているように、モノマーが比較的高圧の分量ノズルから前曲面半型の周囲の不活性雰囲気N2 または真空状態で噴射される際に、溶解したガスが気泡を形成するので、モノマー内の溶解ガスを確実に取り除くため、最初に、重合可能なモノマー混合物からガス抜きする。さらに、前曲面半型の凹所に噴射する前に、モノマー溶液の酸素含有量を監視する。型部の凹所にすべて確実に充填するとともに、成形が不完全となるのを防ぐために、前曲面半型のそれぞれに重合可能なヒドロゲルまたはモノマーを約60μl付着させる。
【0061】
図11のように、各パレットの周囲に気密シールを形成する真空シールアセンブリ183に設けられた真空ポンプ186により作られた真空状態において、モノマーの充填が行われる。余分なモノマーは、前曲面半型および後曲面半型の組立最終段階で、型部の凹所から取り除かれる。
【0062】
図9で位置{4}に示されている塗布装置53では、特定の処理が許容範囲外であったり何らかの理由で失敗した場合には、この位置における前(または後)曲面半型パレットについてのシフトレジスタ情報が更新される。例えば、図11から分かるように、モノマー噴射ポンプ182が故障したり、許容範囲外の割合で噴射を行った場合、モノマー容器184が空だったり低レベルである場合、モノマー塗布時間が許容限界である4秒以内でない場合、O2 センサ188で検知されたモノマー内のO2 濃度レベルが、5.0ppmを越えたり3.5ppmを下回る場合、真空ポンプ186で作られた充填アセンブリ内の真空状態が圧力センサ187で検知された許容限度内でない場合には、後で不合格とすべき不良のパレット12aが存在することを示す、シフトレジスタSTATUS FRONT〔4〕に入力するために、特定のエラーに関する不の状況整数が、PLC102aにより生成される。後曲面半型を載せたパレット12bは位置{4}まで搬送されるが、ここで処理されるのではないことに注意してほしい。しかし、パレットIDと状況情報は、やはりSTATUS BASE〔4〕にシフトされる。
【0063】
次の位置についてだが、最初の後曲面半型パレットは位置{5}にあり、この位置はアイドル位置である。パレット状況とパレットIDデータは次のようにシフトされる。
ID BASE5 := ID BASE4
STATUS BASE5 := STATUS BASE4
同じように、前曲面半型パレットが位置{5}まで搬送されると、前曲面状況データが次のようにシフトされる。
ID FRONT5 := ID FRONT4
STATUS FRONT5 := STATUS FRONT4
同様に、位置{6}はアイドル位置なので、前曲面パレットおよび後曲面パレットの状況とパレットIDデータは、次のようにシフトされる。
ID BASE6 := ID BASE5
STATUS BASE6 := STATUS BASE5
ID FRONT6 := ID FRONT5
STATUS FRONT6 := STATUS FRONT5
【0064】
充填・型アセンブリ装置50の次のパレットインデックスは、図9に位置{7}で示された、界面活性剤がFCに施されるスタンプ装置56である。前曲面レンズ半型と後曲面レンズ半型のパレット状況およびパレットIDデータは、最初に、以下のように更新される。
ID BASE7 := ID BASE6
STATUS BASE7 : =STATUS BASE6
ID FRONT7 := ID FRONT6
STATUS FRONT7 := STATUS FRONT6
【0065】
充填・型アセンブリ装置の次のインデックスは、図9に位置{8}で示されたタブ配列部分である。パレット状況とパレットIDデータは次のようにシフトされる。
ID BASE8 := ID BASE7
STATUS BASE8 := STATUS BASE7
ID FRONT8 := ID FRONT7
STATUS FRONT8 := STATUS FRONT7
【0066】
上記の処理場所のいずれかで、許容範囲外の状態が生じる場合は、パレットIDとパレット状況データがすでにシフトされた後であることを述べておかなければならない。許容範囲外のパレット状況情報は、この許容範囲外の状態が起きた場所に対応すインデックスにおけるシフトレジスタSTATUS FRONTまたはSTATUS BASEに即座に入る。
【0067】
型組立装置
前に述べたように、最終的に所望のレンズ形状となる補足的な前曲面半型131と後曲面半型133を用いて、モノマー混合物((図2(b)を直接成形する。続いて、前曲面半型131が重合可能混合物132で充填される充填装置50での塗布ステップの後、この前曲面半型131は、二つの半型の間に気泡が入り込まないように真空状態で後曲面半型133に覆われる。次に後曲面半型は、レンズの完成品が正しく配列されて歪みが生じないように、凹状の前半型の周縁に載せられる。前曲面半型と後曲面半型の両側から延出するタブ131c,133cは、扱いやすくするため、そして重合の後に半型を梃子で分離し易くするため、図2(b)のような相対的位置にあることが望ましい。
【0068】
アセンブリ装置59の操作は、"Method and Apparatus for Contact Lens Mold Filling and Assembly"(コンタクトレンズ型充填アセンブリの方法と装置)という名称の上記の同時係属特許出願U.S.S.N.08/258,264(代理人事件整理番号 #9004)に詳細に説明されている。ここでは簡潔に述べると、図12,13および14において、真空ハウジング272内を往復するように設けられた一連の往復ピストン271は、ともに主ハウジング273に支持されるとともにこの中で浮いた状態である。3つの部材271,272,273の往復回数は様々だが、ともに連動し、下に設けられたパレット12a,12bのうちいずれかとも連動している。
【0069】
操作時には、後曲面半型を載せたパレット12bが、往復ピストン271の下のコンベヤ32b上を移動する。パレットが所定位置に達すると、サーボモータ277とクロス部材278と往復管274,275によって、アセンブリモジュール59が下方向に往復して、真空マニホールドハウジングと主ハウジング273を下に引く。真空マニホールドハウジング272は、ばね(図示せず)によって下向きの位置にバイアスがかけられ、各往復ピストン271において真空マニホールド(図示せず)により真空状態となると、往復ピストン271は、パレット12b上の後曲面半型131と当接するように下方向にバイアスされる。
【0070】
アセンブリモジュールが移動範囲の最下部に達すると、各後曲面半型が、往復ピストン271内が真空であるために、後曲面半型パレット12bから取り出される。次に、空のパレット12bをアセンブリモジュールからコンベヤ32bに沿って移送するため、そして充填モジュール53でそれぞれモノマーが充填された前曲面半型が載置された新しいパレット12aの位置決めを行うために、アセンブリモジュール59全体が、約.25秒で上方向に往復する。2本のテーパ状位置決めピンによって、パレット12aは正確にピストンと位置決めされた位置へと進む。この位置決めピン306のうち一本は図示されているが、図2(a)のように、パレット12a,bに形成された位置決め盲穴129a,129bと共働するものである。ピン306のテーパ形状は、半型を正確に組み立てるために±.1mm以内でパレットと位置決めするのに十分なものである。
【0071】
真空マニホールドハウジング272と主ハウジング273を周囲シール310がパレット12bの外周140と接触するまで下方向に往復させることにより、組立サイクルが開始する。周囲シールと接触すると、往復クロスヘッド278の付近の近接スイッチにより、真空スイッチが作動する。この往復クロスヘッド278は、真空マニホールドハウジング272とプラットホーム276の間に形成された室からガスを抜くために、真空管311および往復駆動管274の内部と連通した第二真空源を作動させる。
【0072】
2本の往復駆動管274,275内での真空吸引は、少し異なっていることに注意すべきである。つまり、後曲面半型にモノマーが充填され前曲面半型と重ねられるまで後曲面半型が往復ピストン271に確実に保持されるように、管275内での真空吸引の程度は、管274内での吸引より少し大きいのである。好適な実施例では、往復ピストン271内での真空吸引が3から5ミリバールの範囲となる。
【0073】
真空マニホールドハウジング272内が真空状態となると、真空マニホールドハウジング272の往復運動が停止し、パレット12bに対して静止状態となる。しかし、二つの半型が組み立てられる際に半型の凹所への充填が行われるため、後曲面半型がモノマーに接触した後でゆっくりと上に上がるように、上部の主ハウジング273は下方向の往復を継続する。ハウジング周囲に残った真空状態により、周囲のN2 の圧力下で組立が行われる場合に較べて、二つの曲面半型の組立は迅速に実行される。真空下で組み立てられると、充填速度は毎秒5mmの高速に達するのに対して、真空でないと、レンズ完成品の品質に影響してこれを損なうことになるモノマーの不要な撹拌が生じたり気泡が生成されるため、毎秒1mmを越える速度は期待できない。さらに、真空下で組立および密封を行うため、真空室から出た後、型アセンブリが大気圧により相互にクランプされることになる。
【0074】
一組のボアスコープハウジング283と284により、検査と品質管理のためにアセンブリの空所に挿入されるボアスコープ291とファイバー光学プローブ292に届く。使用時以外には、ボアスコープハウジング283,284は、アセンブリのハウジング内が真空状態となるように、ブラインドで閉じられている。さらに、真空でない場合には、半型どうしの間、またはモノマーと後曲面半型の間に窒素が閉じ込められて、気泡やたまりが生じて、結果的にレンズが不合格となることもある。
【0075】
後曲面半型を前曲面半型にしっかりと固定するとともに、前曲面半型の上に形成されたナイフリング136(図2(b))上に曲面の凸部を置いて、レンズブランク132のモノマーをHEMAリング132aのモノマーと分離するためには、約0.3kgFのクランプ圧力が必要である。半型を載置した後、真空管304のバルブを開くと、各往復ピストン271内の真空状態が破られる。その直後、所定のクランプ時間だけ所定のクランプ圧力が加えられた後、真空管311のバルブを開かれると、真空マニホールドハウジングとパレット12aの間の真空状態が破られる。一般的にこの時間は.5から3秒だが、1.5秒が望ましい。クランプ圧力はレンズあたり.5から2kgmの範囲だが、レンズ当たり1kgmが適している。その後、駆動モータ277が作動して、サーボモータ277によってアセンブリモジュール59全体が上方に持ち上げられ、新しい後曲面型部を取り上げるとともに、新しい操作サイクルを開始するために、リセットされる。
【0076】
図9の位置{9}で示されたアセンブリ装置59では、特定の処理が許容範囲外であったり、何らかの理由で実施されない場合には、その位置における前(後)曲面パレットに関するシフトレジスタの情報が更新される。例えば、型アセンブリ装置におけるPLCセンサの位置の概略を示した図14に見られるように、ピストン271を真空状態とする真空ポンプ293aが作動せず、後曲面半型が取り上げられないと、PLCは、訂正または調整が必要なことを示す信号を発する。同じように、圧力センサ225aで計測されたアセンブリ真空室の圧力が1から7ミリバールでない場合や、後曲面レンズ型部が約0.3kgの制御圧力でこれに対応する前曲面レンズ型部の上に載置されない場合、またサーボモータ277が秒速0.2−1mmしい割合アセンブリを持ち上げない場合には、後で拒絶すべき不良のFCパレット12aがあることを示すシフトレジスタSTATUS FRONT〔9〕に入力するため、PLC102aが特定のエラーに関する負の整数を発する。同様に、BCを載せたパレット12bに関してエラーが生ずることもあり、シフトレジスタSTATUS BASE〔9〕において状況が更新される。
【0077】
ロット変換モード
多様な度数のコンタクトレンズを生産する必要があるため、射出成形アセンブリ20で製造された新しい度数を持つ曲面、例えば前曲面レンズ型部が、上記の方法でパレット12aまで搬送される。定常動作を維持するとともに中断を最小限に押さえるため、処理すべき新しい前曲面レンズ型部が適切な装置に入るように、この装置にフラグを出す。例えば、新しい組の前曲面レンズ型部について、窒素ケース内の搬送時間を変更する必要があったり、新しいロットの前曲面レンズ型部に付着されるモノマー化合物の量を変更しなければならない場合もある。前に述べたように、ロットを変更する度に主クロックをリセットする。
【0078】
不合格パレット
図9と図15は、ともに、充填・型組立装置50の出口において、特定のパレットを自動的に不合格とする装置を図示したものである。後曲面レンズ型部を搬送してきたパレット12bは、装置50の型組立モジュール59から出た後、空になり、射出成形装置30から新しい組の後曲面レンズ型部を取り上げるために、供給コンベヤ29に戻る。交互に連続するパレットが充填・型組立装置50を通過し、各パレットがこの装置50に入った際に、タイムスタンプ情報がこのパレットの記憶装置に入力され、そこでの操作の正確なタイミングが行われると、PLCは、空のパレット12bに関するパレット不合格をいつ開始すべきかを判断できる。すなわち、図9と図15から分かるように、往復ラム155を有するラムアセンブリ35とラムヘッド156が、コンベヤ29b沿いの”E”と示された位置(図9)から、矢印”F”の方向に、空のパレットを押圧するのである。ここで、後曲面レンズ型部取り出し点まで戻すために、後曲面供給コンベヤ29がパレット12bを取り上げる。
【0079】
さらに、型組立品を載せた各パレット12aは図9の位置{11}で示された位置にインデックスされるので、パレットIDとパレット状況データは、前の位置{10}、つまりID FRONT〔11〕:=ID FRONT〔10〕、STATUS FRONT〔11〕:=STATUS FRONT〔10〕からシフトされる。次に、変数STATUS FRONT〔11〕が、不合格パレットであることを示す負の数であるかどうかについて、PLCが判断を行う。もしそうならば、図9に見られる第二往復ラム155’とラムヘッド156’が、不合格の型アセンブリまたは前曲面レンズ半型を載せたパレット12aを、矢印”F”の方向に、コンベヤ27bに沿って、前曲面供給コンベヤ27へと押圧する。これが行われるのは、射出成形アセンブリ装置から充填・型組立装置50までの処理の間に、エラーが生じたと、生産ライン品質管理システムが判断した場合である。位置{11}のシフトレジスタの処理条件状況を検査することにより、PLCは、特定の処理条件についてエラーが発生したことを知る。
【0080】
コンタクトレンズ生産ライン設備には、型アセンブリが循環したり、前曲面供給コンベヤ27上にある間に、不合格となったパレット12aから型アセンブリを取り除くための吸引管装置(図示せず)が含まれる。
【0081】
図1から分かるように、空のパレット12bが循環して、不合格のパレットが拒絶されると、生産設備のUV予備硬化装置65、UV重合装置75、型外し装置90を通過するパレット12aを追跡するために、関連する記憶装置104bを備えた新しいPLC102bが用意される。UV予備硬化装置に入る前に、型組立品を載せたパレット12aはバーコードスキャナ113の下を通過し、ここで、それぞれについてPALL TIMEとPALL STATUS情報をPLC102bが更新できるように、パレット12aの識別が行われる。この時点で、バーコードスキャナ112で読み取られた各PALL ID NUMはポインタとして用いられ、これに対応するPALL STATアレイ170のPLC記憶場所に入力するために、状況データSTATUS FRONT〔11〕状況条件(ID FRONT〔11〕)を、スキャナ113で識別された各パレットIDに一致させる。UV予備硬化において、PLC102bが制御を引き継ぐため、PLC102b記憶装置についてのアレイの記憶場所に、パレット状況情報が入力される。さらに、識別された各パレットについてのPALL STATUS情報は、予備硬化装置に入る時点でこのパレットが合格品であることを示している。
【0082】
図1に見られるように、8個のコンタクトレンズ型アセンブリを載せた各パレット12aは、余分なモノマーを型部分から取り除くとともに型のフランジ131aと133aを配列して半型を正しく並べるための予備硬化ステップで、前曲面半型と後曲面半型がともにクランプされる予備硬化アセンブリに入る前に、コンベヤ32c上の充填・型組立装置50を出る。圧力を受けて半型がクランプされると、次に重合可能な混合物が、望ましくは、UVランプからの光化学作用を持つ光線で露光される。一般的に、光化学作用を持つ光線を30秒照射して、半型は約40秒間クランプされる。予備硬化ステップが終了すると、混合物全体に重合化を行うことにより、重合混合物により部分的に重合化されたゲルが生成される。予備硬化ステップに引き続いて、モノマーと溶媒の混合物がUV乾燥器75で硬化され、これによりモノマーの重合が完了する。このように光化学作用を持つ可視光線または紫外線を放射することにより、所望の最終形状のヒドロゲルレンズで重合・溶剤混合物が生成される。
【0083】
UV予備硬化・重合装置
図1に示したように、また、"Contact Lens Production Line Pallet System"(コンタクトレンズ生産ラインパレットシステム)という名称の同時係属特許出願U.S.S.N.08/257,786にさらに詳細に説明されているように、予備硬化アセンブリ65(図1)のバッチ処理のために複数のパレットを一まとまりにする積み重ね装置へと、複数の型を載せたパレットがコンベヤ32cにより搬送される。積み重ね装置には、コンベヤ32c上の所定位置でリードパレットを停止させるとともに96までの型アセンブリを載せた12個のパレットが30秒から60秒という長い間にバッチ形式で予備硬化装置65で処理できるように、制御手段100により速度指定された保持機構が含まれる。
【0084】
図16は、予備硬化装置65の一実施例の側面図である。図16から分かるように、予備硬化装置は、送り込みコンベヤ32cから、複数のコンタクトレンズ半型を載せた複数のパレットを受け取る。送り込みコンベヤ32cはパレット12aと型アセンブリ139を低酸素環境へと搬送する。この環境は、ケース126を窒素ガスで加圧することで、得られる。重合に先立って、モノマーは、レンズ完成品の品質低下につながる酸素による酸化を受けやすい。図17から分かるように、予備硬化装置65内の酸素濃度のパーセント(0.0%から0.5%が望ましい)を監視するために、適当なセンサ175が設けられている。
【0085】
図17は、予備硬化装置65の予備硬化アセンブリ69の一部を示す概略図である。本発明と同じ譲受人に譲渡された"Mold Clamping and Precure of a Polymerizable Hydrogel"(重合可能ヒドロゲルの型クランプと予備硬化)という名称の同時係属特許出願U.S.S.N.08/257,792 (代理人事件整理番号#9007)にさらに詳細に説明されているように、中間支持ビーム321aと往復支持のためにジャーナル軸受された往復シャフト部材322aを上下させる空気シリンダ320aにより、コンタクトレンズの型を載せたパレットに嵌合するように、アセンブリ69が上下する。
【0086】
アセンブリ69には垂直往復作動部材が多数設けられており、これらのうち最初のものが、エアシリンダ320aと往復ビーム321aからの動作に応答する。予備硬化装置69が矢印Aの方向に下がると、複数の環状クランプ手段310が、パレット12aに含まれる半型のそれぞれの上部環状フランジ133aと係合する。複数の環状クランプ手段310は、この装置の往復プラットホーム31上に設けられるとともに、これとともに移動し、図20の矢印Bの方向に第二の往復運動をするために弾性的に設けられている。
【0087】
図20に示されているように、空気ばねかコイルばねであるばね312(略図が図示されている)によって、クランプ手段310がフレーム311内でバイアスされている。装置が下がると、ばね手段312で決定される力で、クランプ手段が第一および第二半型に係合するとともにこれをクランプする。各ばね312で与えられる力を監視するために、センサ手段171が設けられている。センサのうち一つだけは、図17に図示されている。理想を言えば、硬化の力は、300mBarから500mBarの圧力である。空気ばねを使用する場合は、エアシリンダ(図示せず)で与えられる圧力の量により、力が決定され、別のセンサ(図示せず)が設けられている。例として、図20にはクランプ手段310が4つの部材として図示されているが、図17の実施例ではクランプ手段が96あり、半型のそれぞれについてクランプ手段が一つずつ用意されている。
【0088】
クランプ装置の上に位置しているのは、光化学作用を持つ複数の光源314で、これはUVランプが望ましい。半型をクランプするためにクランプ手段が半型と嵌合すると、エアシリンダ316によってシャッタ機構315が開き、光化学作用を持つ光源314により、各型アセンブリ139において重合可能化合物の重合が開始される。複数の開口部313が形成されたシャッタ315は、露出通路317を開閉するために、図17に矢印Cで示されたx軸沿いに往復する。
【0089】
エアシリンダ320aが往復運動の下方位置へと動かされる時間によってクランプ時間を制御するとともに、シャッタ315とエアシリンダ316の動作を介して露出時間を制御して型への照射量を制御するPLC102bにより、予備硬化装置69の動作が制御される。ランプ314を型139に対して上下することで、強度を手動で調節できる。
【0090】
センサ手段171で計測されるように、クランプ手段により加えられる力の量は、約0.5kgから2.0kgfまで変化可能で、露出時間の間、第二凸状半型のフランジ133aを第一凹状半型のフランジ131aに平行に保持するのに用いられる。クランプの重量は、PLC102bにより、10から60秒間かけられるが、一般的には40秒間である。約10秒間重量がかかった後、UVランプ314から光化学作用を持つ光線が組み立てられた型と重合可能モノマーに照射される。一般的に、UV光源の光度は2から4mW/Cm2 で、この光度の光線は10から50秒間照射されるが、好適な実施例では、30秒間照射される。それぞれのUV光線の光度と露出時間を監視するとともに、許容範囲外の状況についてPLC102bに通知するために、適当なセンサ172,173が設けられている。5から60秒間の露出時間で10から150mW/Cm2 の範囲のパルスおよびサイクル高光度UVなど、様々な光度や露出時間が可能である。
【0091】
照射時間の最後には、図17に示したように、シャッタ315を右に往復させて閉じ、押圧ロッド322aによって予備硬化アセンブリ69を上方に持ち上げるようにシリンダ320aを起動させて、シャッタ315の重量が取り除かれる。アセンブリ69が持ち上げられると、バッチ押圧アーム(図示せず)が型とパレットを予備硬化手段から出せるように、クランプ手段310が型とパレットから離れて持ち上げられる。予備硬化時間としては、システム内の温度は30から50℃まで考えられ、PLC102bとインターフェースするセンサ174で監視される。
【0092】
予備硬化処理の終了時には、モノマーはイニシエーションを通過し、ある程度重合されている。処理の結果生じるレンズは、レンズのうち最も薄い部分、つまり縁部が本体より高い程度重合されたゲル状態である。
【0093】
予備硬化アセンブリ65内でのパレット状況情報の追跡は、i=1,2,..12の場合、PALL ID IN〔i〕、PALL ID PR〔i〕、PA.LL ID UV〔i〕という3つのアレイに形作られ、積み重ねられた12のパレット(PALL ID IN〔i〕)と予備硬化装置で処理されたバッチ(PALL ID PR〔i〕)を表す一連のシフトレジスタにより、行われる12のレジスタPALL ID IN〔i〕のそれぞれに記憶された情報は、バーコードスキャナ113で読み込まれるのと同時にPALL ID IN〔i〕に入力されたパレットID情報である。シフトレジスタをパレットID情報に正しくロードするためのポインタ(図示せず)は、12のパレットの各組の最初について1に初期化され、それぞれのBCR113を正確に読み込んだ後、ポインタは1だけ増加される。"Contact Lens Production Line Pallet System"(コンタクトレンズ生産ラインパレットシステム)という名称の上記の同時係属特許出願U.S.S.N.08/257,786(代理人事件整理番号 #9001)に詳細に説明されているように、型アセンブリを載せた12のパレット12aは、バッチ状態でサーボモータ(図示せず)によって予備硬化装置65に搬送されるので、パレットIDデータは、PALL ID INからPALL AID PRまでストレートブロック指定によって、またはループ内でパレットIDデータがシフトされる。
つまり、
PALL ID PRi := PALL ID INi for i = 1,...12;
PALL STATUSアレイ170はすべてのパレット状況情報を持っていることを、理解すべきである。
【0094】
図17に見られるように、アセンブリにおけるUV予備硬化の力、UV光線の活性化、UV光線の露光時間、UV予備硬化温度、酸素レベルのそれぞれを監視するために、予備硬化アセンブリ69内の様々な箇所にセンサ171から175が取り付けられている。予備硬化装置65内を搬送される際には、12のパレットが予備硬化装置にある間に、また12のパレットが積み重ねられる間に検出された、何らかの許容範囲外の状況は、その時点で予備硬化装置内にあると識別された12のパレットに関連しているとともに、パレットの合計が24となるように積み重ねられた12のパレットにも関連している。センサ171から175は、予備硬化処理条件が許容範囲内にあるかどうかを判断するように、PLCに信号を送る。処理条件がこれらの範囲内にあれば、予備硬化装置の出口においてPALL ID PR〔i〕アレイで識別された12のパレットのそれぞれについて、パレットが良であることを示す処理条件状況PALL STATUS〔PALL ID NUM〕が、PLCにより更新される。例えば、予備硬化装置から出たパレットが良であることを示す+3の整数値がアレイ170の場所に入る。
【0095】
許容範囲外の状況、例えばUV電球の故障や最長UV照射時間の超過などが生じた時点に予備硬化装置65に存在するパレットのアイデンティティをPLCは知っているので、PLCはセンサ171−175で検知されたレベルが許容範囲にない場合には、PALL ID PR〔i〕で識別された12のパレットのそれぞれについて処理条件状況PALL STATUS〔PALL ID NUM〕記憶アレイ170を、即座に更新する。PLCはまた、例えば酸素レベルが許容範囲を越えた場合などに、PALL ID PR〔i〕で識別された12のパレットに加えて、PALL ID IN〔i〕で識別された12のパレットのそれぞれについて処理条件状況PALL STATUS〔PALL ID NUM〕記憶アレイ170を更新する。予備硬化装置で不合格だとして拒絶されたこれらのパレットについて、例えば−4の整数値がアレイ170内の対応する場所に入力される。
【0096】
予備硬化装置65を出た後、8個のコンタクトレンズ型アセンブリを載せた各パレット12aは、図1のように、コンベヤトラック31a,b上のUV重合アセンブリ75に入る。12のパレットから成る組がUV予備硬化装置から出てUV重合装置75にシフトされると、パレットIDデータもPALL ID PR〔i〕からPALL ID UV〔i〕へと、ストレートブロック指定によりシフトされる。すなわち、
PALL ID UVi:=PALL ID PRi for i=1,...12.
PALL ID UV〔i〕で指定された、予備硬化装置内の各パレットについてのパレットIDデータ、パレット状況情報、タイムスタンプ情報は、PALLID PR〔i〕情報がPALL ID UV〔i〕にシフトされる度に、アレイ180とアレイ170にそれぞれ入る。これは、バーコードスキャナにより、パレットがUV硬化乾燥器に入ったと、PLCが検知しないからである。このように、パレットID情報がアレイ170/180へのポインタとして、また特定パレットがUV硬化乾燥機に入った時点についての表示器として機能するので、UV乾燥器内での追跡が可能となる。前に述べたように、エラーなしで予備硬化装置を出る各パレットは、PALL STATUSアレイ170に+3のパレット状況条件を持っている。
【0097】
図18は、UV重合乾燥器の平面図である。図2(b)に示した形状で、モノマーが塗布された凹所をそれぞれ持つポリスチレン製の各型アセンブリ139は、図1のように、2本のコンベヤ31a,b上を各パレット12a上に配列されて、重合トンネル75内を搬送される。図18のように、UV重合アセンブリ75は、横に並べられた一連の6個のハウジングから成る。参照番号214はここで説明するように、紫外線を照射する光源のハウジング全体を指す。ハウジング214はコンベア31a、31bの上に、当該コンベアの通路に架橋するようにして置かれる。ハウジング214は、一体成形されるか、図18にユニット215,216,217,218,219,220として示したように横に配列された幾つかの別々の部分から構成される。
【0098】
図19は、16のユニット215−220の下面を示している。この下面は、紫外線を照射するための市販タイプの長形の電球232が1個以上取り付けられた平坦な水平面231を持つ。図19には、数列の型アセンブリがコンベヤ上で長手方向軸に平行に、つまり型アセンブリの進行方向に平行に、横に並んでいる場合に使用するのに適した配列となった多数の電球が図示されている。図19のように、最初のハウジング以降の各ハウジングは、長手方向に配列された紫外線照射電球を備えている。一つのハウジングに取り付けられた各電球は、基本的に隣のハウジングまたは両隣のハウジングの電球と同一線上にある。すべての電球は、同じ平面となるように各ハウジングに固定されているのである。パレットの平面から電球の平面までの垂直距離は、型組立品を照射する電球を備えた第一ハウジング216の場合、約25mmから約80mmでなければならない。続いて進行するハウジング216−220の電球への垂直距離は、約50mmから約55mmでなければならない。
【0099】
紫外線照射電球のないものも含めて、6個のハウジングすべての下部スペースのそれぞれに、過熱空気が管で送られる。パレットを各ハウジングの下に保持するのに適した温度は、最初の2個のハウジングについては約49℃から約64℃、他の4個のハウジングでは約49℃から約59℃である。
【0100】
ある型組立品が第一ハウジング216下に最初に入った瞬間から最後のハウジング220から出るまでに経過した合計時間が、約300秒から約440秒となるように、パレットの進行速度は十分高いことが望ましい。
【0101】
このような動作により、紫外線の光度の強弱を繰り返すサイクルが、5回、型組立品に施される。各サイクルでは、紫外線の光度は、約0から約3−3.5mW/まで上がり、再び0に戻る。電球は基本的に同じ長さで、パレットは一定速度で移動するので、各サイクルは基本的に同じ時間で終了する。
【0102】
装置75内のUV光線の光度と温度を監視するため、PLC102bとインターフェースする適当なセンサが、各ハウジングに設けられている。181a,bと記されたこのような2個のセンサが、図19のハウジング215に設けられている。
【0103】
前に述べたように、UV重合装置75内を搬送される間、パレット状況アレイ170は、いついかなる時でも、装置内にあると識別されたパレットのみに関連するパレットID情報を記憶している。センサ181a,181bは、各UV重合処理条件が上記の許容範囲内であるかどうかを判断するため、PLC102bに継続して信号を送る。処理条件が範囲内の場合は、PLCはパレットがUV乾燥器内にある(または、予備硬化装置に正しく収容されている)ことを示す状況コードを持つ各パレットについて、このパレットが良であることを示すため、処理条件状況PALL STATUS〔PALL ID NUM〕、アレイ170を更新する。処理条件が限度内にない場合には、PLCが、UV予備硬化乾燥器内にあるとしてアレイ170で識別された各パレットについて、このパレットを不合格品として拒絶すべきであることを示す負の整数で、処理条件状況PALL
STATUS〔PALL ID NUM〕を更新する。
【0104】
トンネルを出ると、各パレットはバーコードスキャナ114,115のそれぞれで識別され、それぞれのパレット状況が更新される。さらに、UV重合トンネル75を出る各パレットについて、PLC102bがタイムスタンプを入力する。前のタイムスタンプ値がバーコードスキャナ113により出されると、UV予備硬化装置65とUV重合装置75内の各パレット12aの合計搬送時間と最長UV照射時間を、PLC102bが直ちに判断する。この情報があれば、各アセンブリ内の搬送時間が許容範囲内であるかどうかも判断できる。搬送時間が許容範囲内でないと判断されると、アレイ170内で識別された各パレットのPALL STATUS情報が、コンベヤ31a,bに機械的故障や誤作動があったこと、また搬送されているパレット12aは不良でありそれ以上処理を行うべきでないことを示すように、更新される。重合処理が終了すると、第一の、つまり前曲面半型内にあり、続いてこれから取り出されるコンタクトレンズを取り出す型出し過程において、2個の半型が分離される。前曲面半型および後曲面半型は一回の成形に使用され、その後は廃棄または処分されることを述べておかなければならない。
【0105】
型出し装置
図20に図示されているように、型アセンブリ内で重合されたコンタクトレンズを載せたパレットは、上述のように2本のコンベヤ31a,bに沿って重合乾燥器から出て、型出しアセンブリ90に入る。パレットはコンベヤ31a,bから搬送されて、二重移動ビーム189の往復移送キャリア282a,b沿いに位置する。その動作については、「コンタクトレンズ生産ラインパレットシステム」(Contact Lens Production Line Pallet System)という名称の同時係属米国特許出願第 08/757,786 号に詳細に説明されている。一般的に、往復キャリアビームは、パレットの各切り込み(図示せず)と係合する各ガイドトラックの一組の追跡ガイドレールまたは肩部(図示せず)に沿って、パレット12aをそれぞれ前進させる。組になった肩部と、パレットの各ガイドレールの切り込みにより、型出し装置内でキャリアビームによりパレットが前進される際にパレットの正確な位置決めが可能となり、さらに型組立品139が外される際にパレット12aの垂直方向の移動が防止できる。
【0106】
型外しに先立って、図27に見られるように、各パレット12aに保持されている各コンタクトレンズ型組立品139が各レンズ型の凹所に正しく位置しているかどうかについて、PLC102bが判断する。この判断は、パレットの後曲面の直上を走査する重点・アセンブリレーザーに似たレーザーセンサ(図示せず)を用いて、型アセンブリの後曲面の中心のずれを検出し、通常位置の所定の限度+/−0.1kg以内で各型アセンブリが凹所に位置していることを確認する中心ずれ検査により、行う。付加的検査として、各型アセンブリを視覚的に調査するために、スコーププローブ291,292を盲穴に挿入することもできる。特定のレンズ型組立品の中心がずれている、つまり型組立品のレンズ半型の配置がずれていると判断されると、後で詳細に説明するように、この特定場所に関するシフトレジスタの状況を、特定のPLCが更新する。
【0107】
すでに詳細に説明した好適な実施例では、二重移動ビームの移送キャリアは、コンタクトレンズ型組立品を型外し装置まで移送し、この装置では、前曲面半型のフランジ部分と後曲面半型のフランジ部分がグリップされ、全く反対方向に、つまり梃子で動かす角度にそれぞれ引き離される。都合のよいことに、コンタクトレンズ型組立品は、重合された製品を半型の表面から分離しやすくするために、最初に適度に過熱される。本発明に参考として組み込まれた、本発明と同じ譲受人に譲渡された「型分離装置」(Mold Separation Apparatus )という名称の同時係属米国特許出願第 08/258,557号(代理人事件整理番号#9006 )に詳細に説明されているように、型外し装置90には、蒸気やレーザーエネルギーなど、型アセンブリの各半型の重複しているフランジ部分の間の間隙に挿入される一組の梃子爪によって前曲面半型から後曲面半型を梃子で分離する前に、コンタクトレンズ型アセンブリの後曲面レンズ型部に正確な熱量を加える手段が設けられている。
【0108】
図21と22から分かるように、ケース280に覆われた型外しアセンブリ90は、2個の蒸気放出アセンブリ227a,227bを搭載した往復ビーム226を備えている。このアセンブリ227a,227bは、二重移動ビーム189の各搬送キャリア282a,282bによって搬送されてきたパレット12aのそれぞれに一つずつ設けられている。蒸気放出アセンブリは、それぞれ、分配マニホールドと蒸気熱源(図示せず)に接続された8本の蒸気ヘッドノズル(全体として260の参照符号)を備えているため、パレット上の型組立品のそれぞれに同時に蒸気を施すことができる。過熱するために、往復ビーム226は図21の”A”の位置から図22の”A”の位置まで伸長し、その結果、PLC102bの制御条件下で蒸気を当てるため、蒸気ヘッドアセンブリ227bが各型アセンブリに嵌合する。図22には、パレット12Aと正確に嵌合している蒸気ヘッドノズルのみが、図示されている。さらに、図21から分かるように、型外し装置のケース280の温度を計測するため、PLCとインターフェースした適当なセンサ281が設けられている。このケースは、70℃から80℃の範囲の温度に維持されることが望ましい。
【0109】
詳細な正面図が図26に示されている蒸気放出アセンブリ227aは、カバーアセンブリ250を備えた取り付けヘッドアセンブリ267と、蒸気取り込みバルブ266から8個の各蒸気ノズルアセンブリ260へと蒸気を分配するためにカバーアセンブリ250の直下に設けられた蒸気分配マニホールド230と、蒸気の衝突時に後曲面レンズ型の表面に送られる蒸気を取り除いたり、その圧力を調節するために、蒸気分配マニホールド230の直下に設けられた凝縮マニホールド240と、蒸気放出ノズル260と蒸気取り込みバルブ266のそれぞれを装置内に保持するための保持板261から成る。また、図26には、アセンブリ267内に位置するとともに、蒸気マニホールド230と凝縮マニホールド340と嵌合して共働する蒸気取り込みバルブ266が図示されている。蒸気取り込みバルブ266は、空間を介して蒸気取り込みパイプ270と連通しており、蒸気分配マニホールド230に加圧蒸気を供給するためのものである。さらに、蒸気を抜くとともに、蒸気放出時に後曲面レンズ型の表面に加えられる蒸気圧を調節するために、適当な配管287を介して真空源(図示せず)が凝縮マニホールド240の入力側286に接続されている。
【0110】
図26の正面図に描かれたカバーアセンブリ250は、適当なヒータケーブル256a,bに接続されたヒータカートリッジ入力253a,bを収容している。図26から分かるように、適当なセンサ288a,bがカートリッジヒータ253a,bにそれぞれ接続され、各蒸気放出装置の温度がPLC102bで監視および調節されるように、PLCとインターフェースされている。好適な実施例では、蒸気熱は100℃から130℃の温度範囲に調節され、約0.4秒から0.6秒の時間、放出される。蒸気の温度が120℃を越えると、PLC102bは修正措置を取り、後曲面レンズ型部に120℃を越える温度の蒸気が当たっているならば特定のパレットが不合格であることを示す。図23に見られるように、蒸気放出アセンブリ227a,bとその蒸気ノズル260が各レンズ型部の後曲面に蒸気を放出している間、矢印で示したように梃子具のセット265aが延びて、パレット12aの一面に載置された4個のレンズ型部のそれぞれの前曲面及び後曲面の間の間隙に挿入される。同様に、梃子具のセット265bが延びて、パレット12aの反対の面に載置された4個のレンズ型部のそれぞれの前曲面および後曲面の間隙に挿入される。
【0111】
図23にも図示されているが、梃子具265a,bの各セットは、梃子具の底のセットのフィンガ235がレンズ型部の前曲面の周辺環状縁部131cをパレットの面に固定され、梃子具の上部のセットのフィンガ236が空気駆動手段(図示せず)によって後曲面レンズ半型と前曲面レンズ半型をコンタクトレンズの、または半型のいずれかの完全性を損なわないように、垂直方向に分離する(図25)ように、挿入される。
【0112】
次に、図24に見られるように、正確に制御された量の蒸気を放出した後、吸引カップアセンブリユニット290bが図のようにパレット12aと並ぶように、各蒸気ヘッド後退アセンブリ252a,b(図22)によって、蒸気放出アセンブリ227a,bとその蒸気ノズル260が後退する。図21と図22から分かるように、各吸引カップアセンブリ290a,bは往復運動できるようにビーム226に取り付けられており、蒸気放出アセンブリ227a,bが後退した際に、パレット上の対応する型アセンブリと正確に嵌合するため、それぞれ8個の吸引カップ(全体に285の参照番号)を備えている。
【0113】
図25の型分離過程の間、吸引カップアセンブリ290bの真空吸引が行われ、フィンガ236を有する梃子具の上部セットは、空気駆動手段(図示せず)により梃子具235の下部セットから分離され、各レンズ型部の後曲面133の周縁は、コンタクトレンズが保持された前曲面131から離れるようにバイアスされて、梃子フィンガ235の下セットにより固定される。このようにして後曲面レンズ半型133は、前曲面レンズ半型から効率的に取り外されるとともに、各吸引カップ285に保持されるのである。
【0114】
図示していないが、現在8個までの前曲面レンズとコンタクトレンズを載せた各パレット12aが各コンベヤ経路沿いに移動できるように、処分のため吸引カップ285が対応する後曲面半型を保持する間、梃子フィンガ235,236の上部セットおよび下部セットは、最終的に、図25の矢印で示された反対の向きに水平方向に後退する。すなわち、吸引カップアセンブリ290bは最初の位置に後退し、取り外された後曲面レンズ型部を離すように、その中は真空でなくなる。分離された後曲面型部は、後退位置において瓶に落下し、処分のため、真空管(図示せず)で排出される。
【0115】
型外し時間、つまり蒸気またはレーザー熱が後曲面に施される時間を監視するとともに、型アセンブリの過熱とこの型アセンブリからの後曲面半型の除去の間の時間(好適な実施例では約2秒)を監視するためのセンサをさらに備えたPLC102bの正確な制御下で、型外し処理が行われる。さらに、型外しの後、各後曲面半型が型アセンブリ139から取り外されたかどうかを確認するとともに、後曲面半型が取り外された後にHEMAリング132aが残っていないことを確認するため、上述の方法で、レーザー検知が再び開始される。PLCの判断結果に関するあらゆる情報は、それが発生した正確な位置において各パレットの特定のシフトレジスタに記憶される。その後で、パレットがバーコードスキャナ16に達すると状況・時間アレイ170,180が更新され、シフトレジスタに記憶された状況とアレイ170に記憶された前の状況が結合される。
【0116】
型外し装置内の追跡は、i=1,...8の場合のSTATUS A〔i〕とSTATUS B〔i〕という一組のシフトレジスタソフトウェアアレイにより行われ、図20に示した型外し装置内でそれぞれA,Bで示された二重移動ビームレール沿いの物理的位置を表す。すなわち、いつでも型外し装置内の処理についてインデックスされた合計8個のパレットが存在する。アレイに記憶されたデータは、各パレットの処理の際の状況情報を表し、各インデックスは、ゼロ状況(0)を持つものとして初期化される。パレットが入る前には、バーコードスキャナがないので、型外し装置内のいかなるパレットに関するパレットID情報も分からない。
【0117】
型外し装置内の処理がうまく行くと、特定パレットを表すシフトレジスタが、が同一単位で計れる(commensurate)状況で更新されるとともに、パレットが進むにつれて状況データが次のインデックスにシフトされる。このように、指定が行われる。STATUS A〔i〕:=すべての位置に関するSTATUS A〔i−I〕,i=2,...9。同様に、移動ビームBで処理されているパレットについては、すべての位置に関するSTATUS B〔i〕:=STATUSB〔i−I〕,i=2,...9となる。例えば、移動ビームA上のパレットについてはパレット上で正しい処理が最後に実施された後、STAUS A〔8〕がSTATUS A〔7〕からデータを受け取る。型外し装置ですべての処理がうまく行くと、状況情報STATUS A〔8〕とSTATUS B〔8〕には、パレットは良で、水和装置へ搬送すべきであることを示す独自の正の数が入る。
【0118】
最後の処理が終了し、型外し装置からパレットが出ると、各パレットはバーコード読み取り装置116で操作され、STATUS A〔8〕とSTATUS B〔8〕にあるパレット状況データは、バーコードスキャナで識別されたようにPALL ID NUMと組み合わせられる。図20に見られる適当な近接センサ289により、移動ビームレールA(STATUS A)からのパレットが型外し装置から最初に出たことが確認され、スキャナ116で識別される。このように、レジスタSTATUS A〔8〕に記憶された独自の状況情報は、すでにバーコードスキャナ116にあるパレット状況情報と組み合わせられる。同じように、レジスタSTATUS B〔8〕に記憶された状況情報は、バーコードスキャナ116で識別されたパレットIDについて、すでにパレット状況アレイ170にあるパレット状況情報と組み合わせられる。
【0119】
STATUS A〔8〕とSTATUS B〔8〕に記憶された処理条件状況情報が、例えば、良のパレットの型外し緩衝装置の温度、蒸気熱温度、蒸気熱放出から後曲面取り外しまでの時間が許容範囲内であることを示している場合、また型外し処理自体がうまく行われた場合、つまり後曲面型部がすべて取り除かれ、型アセンブリの中心が外れておらず、HEMAリングがないという場合には、PLC102bが、バーコードスキャナ116で識別された各パレットについて処理条件状況PALL STATUS〔PALL ID NUM〕(アレイ170)を更新する(+(正)の数)。処理条件が範囲内でない場合には、PLCがバーコードスキャナ116で識別された各パレットについて、このパレットを不合格品として拒絶すべきであることを示す処理条件状況PALL STATUS〔PALL ID NUM〕を更新する。
【0120】
さらに、PLC102bは、型外し装置90を出る各パレットについて、タイムスタンプを(アレイ180に)入力する。バーコードスキャナ114と115で発生された前のタイムスタンプ値があれば、PLCは型外し緩衝装置内の全体経過時間を判断し、これが許容範囲内にあるか検査する。移送時間が許容範囲内でないならば、バーコードスキャナ116で識別された各パレットのPALL STATUS情報が、機械的故障やコンベヤ31a,bの誤作動があったこと、またこれにより輸送されるパレット12aは不良で拒絶すべきことを示すように、更新される。
【0121】
図20に詳細に示されているように、バーコードスキャナ117は、コンベヤ31d上の型外し装置を出る各パレットを識別し、何らかのパレットを不合格品として拒絶しなければならないか、またPLC102cが制御処理を行う水和アセンブリ89に搬送してよいかを判断するため、PLC102bが、識別された各パレットについての処理条件検査を実施する。
【0122】
水和装置
型外し装置90で型アセンブリが分離されると、露出された重合コンタクトレンズを含む前曲面半型を載せた各パレットは、次に、図1に概略図が、そして図20に詳細図が示された水和アセンブリ89に搬送される。図20から分かるように、水和室89へ移送するために、二重移動ビーム189の各移送キャリア182a,bからコンベヤ31dまでのパレット12aの動きを翻訳するために、後退可能アーム202a,bを備えた二重押圧器202が設けられている。各パレットは最初に上流側クランプ爪207a,bの間にクランプされ、ここでパレットが不良としてフラグを出すかどうかを判断するため、バーコードスキャナ117によってパレットを適切に検出する。特定パレットが上の理由で不良であることをPALL STATUS情報が示していれば、図20に見られるような適当な押圧アセンブリ80によって、この特定パレットとその中身がコンベヤ31dから循環コンベヤ31eへと搬送される。クランプ爪207a,bは拒絶されたパレットを離し、押圧アーム80が拒絶されたパレットを循環コンベヤ31eに押圧する。拒絶パレットは、前曲面供給コンベヤ27へとコンベヤ上を戻される。上述のように、本発明のコンタクトレンズ生産ライン設備には、前曲面供給コンベヤ27に戻される間、またはこのコンベヤ上にある間に拒絶されたパレット12aに載せられたすべての型アセンブリを取り除くための吸引ガス抜き装置(図示せず)が含まれる。
【0123】
型外しされたコンタクトレンズアセンブリを載せたパレットが拒絶されなければ、水和処理へと移送されることになり、水和アセンブリ89(図1)に移送するために、移送押圧アセンブリ206へと、ペアの状態でコンベヤ31dで運ばれる。移送押圧器206に入る前に、上流側のクランプ爪209a,bが、二番目のパレットが最初のパレットの上に積み重ねられるように、一時的に最初のパレットをクランプする。
【0124】
PLC102cで制御されると、クランプされたパレットは、12a,12a’と示された2個のパレットが図20のように移送押圧器206の往復可能な押圧アーム210と並ぶように、前に搬送される。次に、駆動手段211により、押圧アーム210に2個のパレットを移送装置335へと押圧させる。すなわち、パレットを2組まで収容できる、平板部339を持つパレット336を、それぞれ水和室89へと移送するのである。最初の組のパレットが平板部339上に載せられると、2個のパレットから成る第2組を押圧アーム210が最初の位置(図20)まで往復する。次に押圧アーム210が、2個のパレットから成る第2組を移送押圧器336の板339上へ入れ、第1組のパレットに板の上を進ませる。図28は、一度に2個のパレットの割合で、押圧アーム210に押圧された4個のパレットを載せた移送パレット336の平板部分339を示している。
【0125】
図20に見られるように、移送パレット336は、トラック338a,b上を水平方向に往復運動するように取り付けられている。定常操作では、適当な駆動手段(図示せず)により、移送パレット336と4個のパレットを載せた平板339が、重合コンタクトレンズを含む前曲面型アセンブリの水和室への移送が効率的に行われる図29に”B”と記された矢印の水和アセンブリ移送点に達するまで、図28の矢印で示した方向にトラック338a,bを横切って水和室アセンブリ89へと移動できる。成形済コンタクトレンズを含む前曲面半型の移送については、本発明と同じ譲受人に譲渡された「ソフトコンタクトレンズの自動水和方法と装置」(Automated method and Apparatus for Hydrating Soft Contact Lenses)という名称の上記の同時係属米国特許出願第08/258,556,号(代理人事件整理番号 #8998)に説明されている。移送パレット336が移送点に達すると、水和アセンブリ89の真空把持マトリックス(図示せず)が作動して、一度に48個の前曲面レンズ型部を、移送パレット336上の4個のパレットから取り出して、これを脱イオンウォーターバスに設けられた適当な受け取り装置へと移送する。空のパレット12aを載せた移送パレット336と平板339が、今度は、図30に矢印”C”で示した方向に、トラック338a,b沿いに往復して最初の位置まで戻る。前曲面型部を載せて入ってきた新しいパレットの組が押圧アーム210により平板へと押圧されると、空のパレットが板339から戻りコンベヤ31fへと取り除かれる。すなわち、押圧アーム210が、平板部339上の新しいパレット12aの最初の組を押して、2個の空のパレットの最初の組を平板部339から出し、前曲面取り出し点まで循環させるためにコンベヤ31fと接触するのである。同じように、押圧アーム210が、板339上の新しいパレット12aの二番目の組を押して、2個の空のパレットの最初の組を板339から出し、前曲面取り出し点まで循環させるためにコンベヤ31fと接触するのである。図20に図示されているように、空のパレットを一度に2個まで曲面取り上げ点まで戻すために、戻りコンベヤ31fは前曲面供給コンベヤ27と連結している。往復押圧アーム324を持つ適当な押圧手段322がパレットを供給コンベヤ27へと押し、ここでパレットは、上述した方法で8個の前曲面レンズ半型の新しい組を受け取るため、前曲面射出成形アセンブリ20へ搬送される。
【0126】
図1のように、水和装置89に入る識別された各パレット12aについてタイムスタンプ情報の入力を開始するため、バーコードスキャナ118,119が設けられている。新しいタイムスタンプ情報は、パレットが水和装置へと物理的に受け渡される際にPLC102c(バーコードスキャナ117)によって、パレットについて出された前のタイムスタンプ値と比較される。PLCはこれにより、型アセンブリの型外しから水和装置へのレンズの移送までの時間が20から40秒の間かどうかを判断する。バーコードスキャナ118,119はまた、不合格品(負の状況)であるのにまだ拒絶されていないパレットについて冗長検査を行う。
【0127】
本発明を好適な実施例について詳しく図示し、説明したが、形式および詳細における以上の記載内容および他の変更は、以下の添付クレームの範囲のみに限定される本発明の趣旨および範囲から逸脱しなければ、これを行えることは、当該技術分野の熟練者には理解できるだろう。
【0128】
本発明の具体的な実施態様は、次の通りである。
<A> (a)コンタクトレンズ製造設備において、一またはそれ以上の第一コンタクトレンズ半型または一またはそれ以上の補足的な第二コンタクトレンズ半型を搬送するためのもので、それぞれ独自の識別番号を含むパレット列と、
(b)一またはそれ以上の処理装置を含む前記コンタクトレンズ製造設備において、前記パレット列を搬送するためのコンベヤ装置と、
(c)前記一またはそれ以上の処理装置においてコンタクトレンズの製造プロセスを実時間監視するために設けられ、前記設備の一またはそれ以上の処理装置において前記パレットのそれぞれの前記独自の識別コードを識別するための第一追跡手段を各処理装置における処理条件値を受け取って、この処理条件が所定範囲外の場合に識別済の各パレットに関する処理状況情報を拒絶フラグの形で生成する制御装置と、
から成る、生産ライン追跡・品質管理システム。
(1)前記制御装置が、前記一連のパレットの各パレットに対応する前記処理状況情報を記憶するための独自の記憶場所を持つメモリ記憶手段を含み、この所持状況情報はさらに、受け取った前記処理条件が所定範囲内である場合に、識別されたパレットが別の装置での次の処理を受けられることを示すフラグをさらに含む前記実施態様<A>記載の生産ライン追跡・品質管理システム。
(2)前記制御装置により、前記コンベヤ手段が、拒絶フラグの形の処理状況情報を持つ識別済の各パレットを明確に拒絶して、次の処理から取り除くことができる前記実施態様<A>記載の生産ライン追跡・品質管理システム。
(3)前記設備の一またはそれ以上の処理装置のそれぞれにおいて前記追跡手段により各パレットが識別された特定の時間を示すタイムスタンプ情報を、前記制御装置が生成し、このタイムスタンプ情報がさらに、識別された各パレットに対応する独自の記憶場所に記憶される上記実施態様(1)記載の生産ライン追跡・品質管理システム。
(4)前記コンタクトレンズ生産設備が、前記一連のパレット上の一またはそれ以上の第一コンタクトレンズ半型に充填するための第一手段と、前記一連のパレットのうち別のパレット上の一またはそれ以上補足的な第二コンタクトレンズ半型に充填するための第二手段を含み、前記第一および補足的な第二半型のそれぞれのパレット上での充填の時間に対応する初期タイムスタンプ値が、前記制御手段により生成される前記実施態様(3)記載の生産ライン追跡管理システム。
(5)前記一またはそれ以上の第一コンタクトレンズ半型およびこれを補足する前記一またはそれ以上の第二コンタクトレンズ半型が、大気環境において、前記一連のパレットのそれぞれの上で充填される前記実施態様(4)記載の生産ライン追跡管理システム。
(6)第一およびこれを補足する第二コンタクトレンズ半型を載せた前記パレットのそれぞれが、前記生産設備の前記処理装置のうち別の装置へと移送されるため、低酸素環境へと搬送され、この低酸素環境が窒素ガスを含む窒素緩衝ケースを含み、このケースには、所定数のパレットが常に存在する前記実施態様(4)記載の生産ライン追跡管理システム。
(7)前記コンベヤ装置上のパレットを前記ケースへの入口で前記第一追跡手段が識別して、これにより、前記一連のパレットのそれぞれが前記ケースに入った時間に対応する第一タイムスタンプ値から成るタイムスタンプ情報を前記制御装置が生成することができ、このタイムスタンプ値は、識別された各パレットに対応する前記独自の記憶場所に記憶される前記実施態様(6)記載の生産ライン追跡管理システム。
(8)前記第一およびこれを補足する第二コンタクトレンズ半型を載せている識別済各パレットに載置された第一およびこれを補足する第二コンタクトレンズ半型に関する酸素露出時間を判断する計算手段が前記制御手段に含まれ、識別された各パレットに関する前記酸素露出時間は、前記初期タイムスタンプ値と識別された各パレットの前記第一スタンプ値データの時間差から成る上記実施態様(7)記載の生産ライン追跡管理システム。
(9)識別された各パレットについての前記第一およびこれを補足する第二コンタクトレンズ半型の酸素露出時間が所定範囲より長いかどうかを判断するための手段が前記制御手段に含まれ、この制御手段はさらに、各パレットについて計算された第一およびこれを補足する第二コンタクトレンズ半型の酸素露出時間が所定範囲より長い場合に、フラグを生成する上記実施態様(8)記載の生産ライン追跡管理システム。
(10)前記コンタクトレンズ半型の酸素露出時間の前記所定範囲の値が約15秒である上記実施態様(9)記載の生産ライン追跡・品質管理システム。
(11)前記設備の処理装置内で所定数の識別済パレットをいつでも追跡するための第二追跡手段が前記制御装置に含まれ、この所定数のパレットに対応するデータを記憶するための独自の記憶場所を持つシフトレジスタ手段がこの第二追跡手段に含まれる上記実施態様(6)記載の生産ライン追跡・品質管理装置。
(12)前記ケース内の酸素濃度を監視するとともに、前記ケース内の酸素含有量が所定範囲内であることを前記制御装置が検査できるようにするための酸素センサ手段が、前記制御手段に含まれる上記実施態様(11)記載の生産ライン追跡・品質管理装置。
(13)前記ケース内の前記酸素含有量が予め決められた範囲を越える場合に前記ケース内に位置する所定数のパレットのそれぞれに対応する前記独自の記憶場所に記憶するための拒絶フラグが前記制御装置により生成される上記実施態様(12)記載の生産ライン追跡・品質管理装置。
(14)前記所定範囲が約0.3%から約0.5%の酸素濃度である上記実施態様(12)記載の生産ライン追跡・品質管理装置。
(15)モノマー充填装置が前記コンタクトレンズ製造設備に含まれるとともに、このモノマー充填装置の入口において前記コンベヤ上のパレットを前記第一追跡手段が識別し、この第一追跡手段により、前記一連のパレットのうち各パレットが前記窒素緩衝ケースにあって前記モノマー充填装置に入る時間に対応する第二タイムスタンプ値を、前記制御装置が生成できる上記実施態様(8)記載の生産ライン追跡・品質管理装置。
(16)前記ケース内を搬送される各パレットについての窒素緩衝露出時間を前記制御装置が計算し、識別された各パレットについての前記窒素緩衝時間が、識別された各パレットについての前記第二タイムスタンプ値と前記第一タイムスタンプ値データの時間差から成る上記実施態様(15)記載の生産ライン追跡・品質管理装置。
(17)識別された各パレットについての前記第一および補足的な第二コンタクトレンズ半型の窒素緩衝露出時間が所定範囲を下回るかどうかを前記制御装置が判断し、各パレットについての計算された前記第一および補足的な第二コンタクトレンズ半型の窒素緩衝露出時間が前記所定範囲を下回ると判断された場合に前記制御装置がフラグを生成する上記実施態様(16)記載の生産ライン追跡・品質管理装置。
(18)前記コンタクトレンズ半型の露出時間の所定範囲値が約3.0分である上記実施態様項(17)記載の生産ライン追跡・品質管理装置。
(19)前記第一コンタクトレンズ半型を載せたパレットを前記補足的な第二レンズ半型を載せたパレットの付近に配置するともに、前記モノマー充填装置に移送するために、第一コンタクトレンズ半型を載せたパレットとともに補足的な第二コンタクトレンズ半型を載せたパレットを交互に前記コンベヤ手段上で搬送するための、前記コンベヤ手段の付近に設けられた手段が、前記製造設備にさらに含まれる上記実施態様(15)記載の生産ライン追跡・品質管理装置。
(20)前記モノマー塗布装置が、この装置へと交互に搬送された一連のパレットに載せられた各前曲面レンズ半型に所定量の重合化合物を付着させる手段を含む上記実施態様(19)記載の生産ライン追跡・品質管理装置。
<B> 一またはそれ以上の処理装置を含むとともに、生産設備内をコンタクトレンズ型製品を搬送するための独自の識別コードを持つパレット列を含むコンタクトレンズ製造設備に関する品質管理方法であって、この方法は、
(a)前記設備の前記一またはそれ以上の処理装置において、追跡手段によって前記各パレットの前記独自のコードを識別する過程と、
(b)前記一またはそれ以上の処理装置においてコンタクトレンズ製造プロセスを監視 するとともに、この一またはそれ以上の装置における処理条件値を制御装置に伝達する過程と、
(c)前記装置における前記処理条件が所定範囲外である場合に、識別された各パレットに関する処理状況情報を拒絶フラグの形で生成する過程と、
から成る。
(21)前記処理条件値が所定範囲内である場合に、識別されたパレットが次の前記一またはそれ以上の装置で別の処理を受けられることを示す許容フラグを生成する過程を過程(c)がさらに含む前記実施態様<B>記載のコンタクトレンズ生産設備のための品質管理方法。
(22)前記設備が前記一連のパレットを前記設備内で搬送するためのコンベヤ手段を含む前記実施態様<B>記載のコンタクトレンズ製造設備のための品質管理方法において、この方法はさらに、所定の拒絶点において前記コンベヤ手段が前記パレットを取り除けるようにすることで、拒絶フラグの形の処理状況情報を持つ特定のパレットを拒絶する過程を含む。
(23)前記一連のパレットのうち識別された各パレットに対応する前記処理状況情報を、前記各パレットに対応する独自の記憶場所を持つメモリ記憶手段に記憶する過程をさらに含む前記実施態様<B>記載のコンタクトレンズ製造設備のための品質管理方法。
(24)前記設備内の前記一またはそれ以上の処理装置において前記追跡手段により各パレットが識別された特定の時間を示すタイムスタンプ情報を生成するとともに、識別された前記パレットのそれぞれに対応する前記独自の記憶場所に前記タイムスタンプ情報を記憶する過程をさらに含む、前記実施態様<B>記載のコンタクトレンズ製造設備のための品質管理方法。
(25)いかなる時でも前記設備の処理装置内にある所定数の識別済パレットを追跡するとともに、この所定数のパレットに対応するデータを記憶するための独自の記憶場所を持つシフトレジスタアレイに、このパレットのそれぞれのアイデンティティーを記憶する前記実施態様<B>記載のコンタクトレンズ製造設備のための品質管理方法。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の生産ライン追跡・品質管理システムを組み込んだコンタクトレンズ生産ラインパレットシステムの概略上面図である。
【図2】図2(a)は本発明の生産ラインパレット12a(12b)の上面図である。図2(b)は生産ラインパレット12aの凹所に位置する補足的な第一および第二半型131,133から成るコンタクトレンズ型アセンブリ139の詳細図である。
【図3】本発明の生産ライン追跡システムの各パレットについて、処理条件情報を記憶するアレイ170と、タイムスタンプ情報を記憶するためのアレイ180を含む、制御システムの記憶機構の図である。
【図4】前曲面と後曲面がそれぞれ射出成形アセンブリから出た後の酸素露出時間を判断するための制御ループ図である。
【図5】前曲面と後曲面がそれぞれ射出成形アセンブリから出た後の酸素露出時間を判断するための制御ループ図である。
【図6】前曲面型部と後曲面型部をそれぞれの射出成形アセンブリ20,30から移送するためのロボット装置22,24の詳細図であるとともに、連続コンベヤ32上でインターリーブ式に搬送するために、後曲面を載せたパレット12bの付近に前曲面を載せたパレット12aを配置するための連続装置40の図である。
【図7】窒素ケース46内の酸素濃度を監視するための酸素センサの配置を詳細に示した図である。
【図8】窒素緩衝ケース内でのパレットの正確な配列を検査するための近接センサの配置を詳細に示した図である。
【図9】パレットをコンベヤ32から充填・型組立装置50へと搬送するための装置55の図である。
【図10】モノマー充填装置53に入る前にパレットを配列および追跡するための装置55に関する概略図である。
【図11】製造設備の充填・型組立装置50のモノマー充填装置53の概略図である。
【図12】充填・型組立装置50の型アセンブリモジュール59の一部断面側面図である。
【図13】往復アセンブリのための真空の供給を図示したアセンブリ装置59の一部断面概略図である。
【図14】PLCとインターフェースされた様々なセンサの配置を示すアセンブリ装置59に関する概略図である。
【図15】充填・型組立装置50を出た後、空のパレットを循環させるとともに不良パレットを拒絶するための装置の概略図である。
【図16】窒素ガスケース126が図示されたUV予備硬化装置65の側面図である。
【図17】UV予備硬化処理を監視するためのセンサ171−175が図示された早期硬化アセンブリ69の詳細図である。
【図18】本発明を実施する際に用いられる、コンベヤとハウジングを備えたUV硬化トンネルの上面図である。
【図19】図18のハウジングの下面を示した図である。
【図20】二重コンベヤ31a,bから型外しアセンブリまでパレットを移送するための順序と、重合レンズを載せた前曲面半型を水和室へ移送するための移送装置335へとパレットをコンベヤ31aから移送するための手段が図示された、生産ラインパレットシステムの後端の平面図である。
【図21】型外し装置90の正面図である。
【図22】型アセンブリを載せたパレット12aに蒸気熱を加える蒸気熱アセンブリの正面図である。
【図23】型部と係合する蒸気ノズルと型のフランジと係合する梃子フィンガを備えた装置の図である。
【図24】蒸気ノズルの後退と吸引カップアセンブリの嵌合を示す図である。
【図25】後曲面型部を前曲面型部および成形済レンズから取り外すためにアセンブリを上方に梃子原理で移動させる状態を示す図である。
【図26】蒸気熱放出アセンブリ227aの一つの詳細図である。
【図27】パレット表面を見るためにパレットの盲穴128a,128bに挿入されるボアスコープのファイバ光学プローブ291,292の詳細図である。
【図28】重合済コンタクトレンズを載せたパレットを水和装置89へ搬送するための順序を示す図である。
【図29】重合済コンタクトレンズを載せたパレットを水和装置89へ搬送するための順序を示す図である。
【図30】重合済コンタクトレンズを載せたパレットを水和装置89へ搬送するための順序を示す図である。
Claims (27)
- 生産ライン追跡・品質管理システムであって、
(a)コンベヤ装置と、
(b)前記コンベヤ装置に載置されて製造設備内を搬送されるパレット列であって、当該各パレットは個々の識別コードを備える、パレット列と、
(c)前記パレットに載置されて搬送される複数のコンタクトレンズ半型であって、当該半型の品質は複数の選択された処理ステーションにおける生産ラインのプロセス・パラメータにより影響を受ける、複数のコンタクトレンズ半型と、
(d)前記複数の選択された処理ステーションのそれぞれのプロセス制御データを通知する通知手段と、
(e)前記選択された処理ステーションのそれぞれからの前記プロセス制御データを実時間監視するために設けられた制御装置と、を具備する品質管理システムであって、
前記制御装置は、前記プロセス制御データが所定範囲外の場合に拒絶フラグの形で各パレットに関するプロセス状況情報を生成し、
前記制御装置は、さらに、前記選択された処理ステーションのいずれかにおいてプロセス制御データが所定範囲外の場合に、前記各パレットの前記個々の識別コードと前記フラグとを製造設備の全域にわたって追跡する、生産ライン追跡・品質管理システム。 - 請求項1に記載の生産ライン追跡・品質管理システムであって、
前記制御装置は、前記一連のパレットの各パレットに対応する前記処理状況情報を記憶するための個々の記憶場所を持つメモリ記憶手段を備え、
前記処理状況情報は、受け取った前記処理条件が所定範囲内である場合に、識別されたパレットが別の装置での次の処理を受けられることを示すフラグをさらに含む、生産ライン追跡・品質管理システム。 - 請求項1に記載の生産ライン追跡・品質管理システムであって、
前記制御装置は、拒絶フラグの形の処理状況情報を持つ識別済の各パレットを、前記コンベヤ手段が、明確に拒絶し、後続の処理から取り除くことを可能にする、生産ライン追跡・品質管理システム。 - 請求項2に記載の生産ライン追跡・品質管理システムであって、
前記制御装置は、前記設備の一またはそれ以上の処理ステーションのそれぞれにおいて前記追跡手段により各パレットが識別された特定の時間を示すタイムスタンプ情報を生成し、このタイムスタンプ情報は、識別された各パレットに対応する前記個々の記憶場所に追加して記憶される、生産ライン追跡・品質管理システム。 - 請求項4に記載の生産ライン追跡・品質管理システムであって、
前記コンタクトレンズ製造設備は、前記一連のパレット上に一またはそれ以上の第一コンタクトレンズ半型を置く第一手段と、前記一連のパレットのうち別のパレット上に一またはそれ以上の補足的な第二コンタクトレンズ半型を置く第二手段を具備し、
前記制御装置は、前記第一半型および補足的な第二半型のそれぞれのパレット上への載置の時間に対応する初期タイムスタンプ値を生成する、生産ライン追跡・管理システム。 - 請求項5に記載の生産ライン追跡・品質管理システムであって、
前記一またはそれ以上の第一コンタクトレンズ半型および前記一またはそれ以上の補足的な第二コンタクトレンズ半型が、大気環境において、前記一連のパレットのそれぞれの上に載置される、生産ライン追跡・管理システム。 - 請求項5に記載の生産ライン追跡・品質管理システムであって、
第一コンタクトレンズ半型および補足的な第二コンタクトレンズ半型を載せた前記パレットのそれぞれは、低酸素環境において前記製造設備の前記処理ステーションのうち別のステーションへと移送されるため、低酸素環境に運ばれ、
前記低酸素環境は、窒素ガスが入った窒素緩衝ケースを備え、このケース内には、所定数のパレットが常に存在する、生産ライン追跡・管理システム。 - 請求項7に記載の生産ライン追跡・品質管理システムであって、
前記第一追跡手段は、前記コンベヤ装置上のパレットを前記ケースへの入口で識別し、前記一連のパレットのそれぞれが前記ケースに入った時間に対応する第一タイムスタンプ値を含むタイムスタンプ情報を前記制御装置が生成することを可能とし、前記タイムスタンプ値のそれぞれは、前記識別された各パレットに対応する前記個々の記憶場所に記憶される、生産ライン追跡・管理システム。 - 請求項8に記載の生産ライン追跡・品質管理システムであって、
前記制御装置は、前記第一コンタクトレンズ半型および補足的な第二コンタクトレンズ半型を載せている識別された各パレットに載置された第一コンタクトレンズ半型および補足的な第二コンタクトレンズ半型の酸素露出時間を決定する計算手段を備え、
識別された各パレットに関する前記酸素露出時間は、識別された各パレットの、前記初期タイムスタンプ値と前記第一スタンプ値の時間差である、生産ライン追跡・管理システム。 - 請求項9に記載の生産ライン追跡・品質管理システムであって、
前記制御装置は、識別された各パレットについての前記第一コンタクトレンズ半型および補足的な第二コンタクトレンズ半型の酸素露出時間が所定限度より長いかどうかを判断するための手段を備え、
前記制御装置はさらに、各パレットについて計算された第一コンタクトレンズ半型および補足的な第二コンタクトレンズ半型の酸素露出時間が前記所定限度より長い場合に、フラグを生成する、生産ライン追跡・管理システム。 - 請求項10に記載の生産ライン追跡・品質管理システムであって、
前記コンタクトレンズ半型の酸素露出時間の前記所定限度の値が約15秒である、生産ライン追跡・品質管理システム。 - 請求項7に記載の生産ライン追跡・品質管理システムであって、
前記制御装置は、前記設備の処理ステーション内で所定数の識別されたパレットをいつでも追跡するための第二追跡手段をさらに備え、
前記第二追跡手段は、前記所定数のパレットに対応するデータを記憶するための個々の記憶場所を持つシフトレジスタ手段を備える、生産ライン追跡・品質管理装置。 - 請求項12に記載の生産ライン追跡・品質管理システムであって、
前記制御装置は、前記ケース内の酸素濃度を監視するとともに、前記ケース内の酸素含有量が所定範囲内であることを前記制御装置が確認することを可能とする、酸素センサ手段をさらに備える、生産ライン追跡・品質管理装置。 - 請求項13に記載の生産ライン追跡・品質管理システムであって、
前記制御装置は、前記ケース内の前記酸素含有量が所定限度を越えた場合に、前記ケース内に位置する所定数のパレットのそれぞれに対応する前記個々の記憶場所に記憶させるための拒絶フラグを生成する、生産ライン追跡・品質管理装置。 - 請求項13に記載の生産ライン追跡・品質管理システムであって、
前記所定範囲は、0.3%から0.5%の酸素濃度である、生産ライン追跡・品質管理装置。 - 請求項9に記載の生産ライン追跡・品質管理システムであって、
前記コンタクトレンズ製造設備は、モノマー充填装置を備え、
前記第一追跡手段は、前記モノマー充填装置の入口において前記コンベヤ上のパレットを識別し、前記一連のパレットのうち各パレットが前記窒素緩衝ケースを出て前記モノマー充填装置に入る時間に対応する第二タイムスタンプ値を前記制御装置に生成可能とさせる、生産ライン追跡・品質管理装置。 - 請求項4に記載の生産ライン追跡・品質管理システムであって、
前記制御装置は、前記ケース内を搬送される各パレットについての窒素緩衝露出時間を計算し、
識別された各パレットについての前記窒素緩衝時間は、識別された各パレットについての前記第二タイムスタンプ値と前記第一タイムスタンプ値の時間差である、生産ライン追跡・品質管理装置。 - 請求項17に記載の生産ライン追跡・品質管理システムであって、
前記制御装置は、識別された各パレットについての前記第一コンタクトレンズ半型および補足的な第二コンタクトレンズ半型の窒素緩衝露出時間が所定限度を下回るかどうかを判断し、各パレットについての計算された前記第一コンタクトレンズ半型および補足的な第二コンタクトレンズ半型の窒素緩衝露出時間が前記所定限度を下回ると判断された場合にフラグを生成する、生産ライン追跡・品質管理装置。 - 請求項18に記載の生産ライン追跡・品質管理システムであって、
前記コンタクトレンズ半型の露出時間の所定限度値が3.0分である、生産ライン追跡・品質管理装置。 - 請求項16に記載の生産ライン追跡・品質管理システムであって、
前記コンベヤ手段の付近に設けられ、前記第一コンタクトレンズ半型を載せたパレットを前記補足的な第二レンズ半型を載せたパレットの付近に配置するともに、前記モノマー充填装置に移送するために、第一コンタクトレンズ半型を載せたパレットとともに補足的な第二コンタクトレンズ半型を載せたパレットを交互に前記コンベヤ手段に載せて搬送する、手段を、前記製造設備がさらに備える、生産ライン追跡・品質管理装置。 - 請求項20に記載の生産ライン追跡・品質管理システムであって、
前記モノマー充填装置は、この装置へと交互に搬送された一連のパレットに載せられた各前曲面レンズ半型に所定量の重合化合物を堆積させる手段を含む、生産ライン追跡・品質管理装置。 - コンタクトレンズ製造設備における品質管理方法であって、当該製造設備は、コンベヤ装置と、処理を監視するセンサを持つ一またはそれ以上の選択された処理ステーションと、追跡手段を含む複数の制御部を持ち前記各部を制御する制御装置とを備えるとともに、前記コンベヤ装置に載置されて前記製造設備内を搬送される個々の識別コードを持つパレット列を備える、品質管理方法であって、
(a)前記設備の前記一またはそれ以上の処理ステーションにおいて、前記追跡手段によって前記各パレットの前記個々のコードを識別する過程と、
(b)前記センサによって前記一またはそれ以上の処理ステーションにおいてコンタクトレンズ製造プロセスを監視するとともに、この一またはそれ以上のステーションにおける処理条件値を制御装置に伝達する過程と、
(c)前記複数の処理ステーションのそれぞれのプロセス制御データを前記制御装置が実時間でモニタする過程と、
(d)前記ステーションにおける前記処理条件が所定限度外である場合に、識別された各パレットに関する処理状況情報を拒絶フラグの形で前記制御装置が生成し、それによって当該パレットの内容物が基準を満たさないことを示す過程と、
(e)選択された処理ステーションのいずれかで前記プロセス制御データが限度外である場合には、製造設備全体にわたって前記個々のパレットコードと拒絶フラグとを前記制御装置が追跡する過程と、を具備する品質管理方法。 - 請求項22に記載の品質管理方法であって、
前記(c)過程は、前記処理条件値が所定範囲内である場合に、識別されたパレットが後続の前記一またはそれ以上のステーションでさらなる処理を受けるのに好適であることを示す許容フラグを生成する過程をさらに含む、品質管理方法。 - 請求項22に記載の品質管理方法であって、
拒絶フラグの形の処理状況情報を持つ特定のパレットを、所定の拒絶点において前記コンベヤ手段が取り除けるようにすることで、拒絶する過程を含む、品質管理方法。 - 請求項22に記載の品質管理方法であって、
前記一連のパレットのうち識別された各パレットに対応する前記処理状況情報を、前記各パレットに対応する個々の記憶場所を持つメモリ記憶手段に記憶する過程をさらに含む、品質管理方法。 - 請求項22に記載の品質管理方法であって、
前記設備内の前記一またはそれ以上の処理ステーションにおいて前記追跡手段により各パレットが識別された特定の時間を示すタイムスタンプ情報を生成するとともに、識別された前記パレットのそれぞれに対応する前記個々の記憶場所に前記タイムスタンプ情報を記憶する過程をさらに含む、品質管理方法。 - 請求項22に記載の品質管理方法であって、
いかなる時でも前記設備の処理ステーション内にある所定数の識別されたパレットを追跡するとともに、この所定数のパレットに対応するデータを記憶するための個々の記憶場所を持つシフトレジスタアレイに、このパレットのそれぞれのアイデンティティーを記憶する、品質管理方法。
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