JPH08181349A - 超格子アバランシェフォトダイオード - Google Patents
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Abstract
ク電流がホットキャリア化して表面保護膜に注入・蓄積
されるのを防止し、素子の長寿命化を図る。 【構成】 n+ 型InP基板201、n+ 型InPバッ
ファ層202、n- 型InPバッファ層203、n+ 型
InP電界緩和層204、アンドープInAlGaAs
/InAlAs超格子増倍層205、p+ 型InP電界
緩和層206、p- 型InGaAs光吸収層207、p
型InPキャップ層208、p+ 型InGaAsコンタ
クト層209を積層したものにおいて、n+ 型InP電
界緩和層204を、メサ中央部で厚くメサ周辺部で薄く
なるようにする。
Description
ンシェフォトダイオードに関し、とくにメサ構造のアバ
ランシェフォトダイオードに関するものである。
ムを構成するには、高速応答性、低暗電流、かつ高信頼
性を有する半導体受光素子が不可欠である。このため、
近年シリカ系ファイバの低損失波長域である1.3〜
1.6μm帯に適応できるInP/InGaAs系アバ
ランシェフォトダイオード(APD)やpinフォトダ
イオード(pinPD)の高速化・高感度化に対する研
究・開発が活発となっている。現在、InP/InGa
As系APDでは、利得帯域幅(GB)積が80GHz
程度、最大帯域幅が8GHz程度の高速・高信頼性の素
子が実用化されている。
ンシェ増倍層であるInPのイオン化率比β/αが2程
度と小さいため(α:電子のイオン化率、β:正孔のイ
オン化率)、GB積の最大値が80GHz程度に制限さ
れ、また過剰雑音指数X(イオン化率が小さいほと大き
くなる)が0.7と大きくなり、高速化、低雑音高感度
化には限界がある。これは他のバルクのIII −V族化合
物半導体をアバランシェ増倍層に用いた場合も同様であ
り、高GB積化(高速応答特性)・低雑音化を達成する
にはイオン化率比α/βを人工的に増大させる必要があ
る。
ライド・フィジックス・レターズ(Appl. Phys. Lett.
)、40(1)巻、pp.38−40、1982年に
おいて超格子による伝導帯エネルギー不連続量ΔEcを
電子の衝突イオン化に利用してイオン化率比α/βを人
工的に増大させる構造を提案し、実際にGaAs/Ga
AlAs系超格子でイオン化率比α/βの増大(バルク
GaAsでのα/β=2に対して超格子でα/β=8)
を確認した。
ォンタム・エレクトロニクス(J.Quantum.Electron.
)、28(6)巻、pp.1419−1423、19
92年で長距離光通信に用いられる波長1.3〜1.6
μm帯に受光感度を有するInGaAsP/InAlA
s系超格子を用いて同様の構造を形成し、やはりイオン
化率比α/βの増大(バルクInGaAsでの2に対し
て超格子層で10)を報告した。その素子構造を図7に
示す。
1上に、n+ 型InPバッファ層602、n- 型InG
aAsP/InAlAs超格子増倍層603、p+ 型I
nP電界緩和層604、p- 型InGaAs光吸収層6
05、p型InPキャップ層606、p+ 型InGaA
sコンタクト層607を順次成長させた後、エピタキシ
ャル成長層をメサ状に加工する。表面をSiNパッシベ
ーション膜610で被覆した後、凹部をポリイミド膜6
11で埋める。p+ 型InGaAsコンタクト層607
上のSiNパッシベーション膜610にコンタクトホー
ルを開孔し、p+ 型InGaAs層コンタクト層607
にオーミックに接触するp側電極609を形成し、また
基板裏面にn+ 型InP基板601にオーミックに接触
するn側電極608を形成する。
が0.39eVと価電子帯不連続量ΔEvの0.03e
Vより大きく、井戸層に入ったときバンド不連続により
獲得するエネルギーが電子の方が正孔より大きく、これ
によって電子がイオン化しきい値エネルギーに達しやす
くなることで電子イオン化率が増大し、イオン化率比α
/βの増大とそれによる低雑音化が図られている。
pp.261−264、1991年で報告した超格子A
PDでは、メサ部の半導体層が図7に示した従来例とほ
ぼ同様のエピタキシャル構造を有しており、そしてメサ
構造の半導体層の表面を直接ポリイミド膜で被覆してい
る。
示した構造のアバランシェフォトダイオードでは、高温
信頼性試験においてあるいは通常の通電ドライブによ
り、メサ部の超格子増倍層603、電界緩和層604、
光吸収層605とパッシベーション膜との界面およびそ
の近傍に存在する界面準位や欠陥が増殖するため、経時
的にリーク電流が増大し、実用的な増倍率領域(10〜
20)において暗電流が0.8〜数μAオーダ程度以上
となり、この暗電流による雑音増加がイオン化率比改善
による低雑音効果を打ち消してしまうという欠点を有す
る。
て起こる。図7に示す従来のメサ構造では、メサ部の超
格子増倍層603、電界緩和層604、光吸収層605
とパッシベーション膜との界面には、2×1012cm-2
/eV以上の界面準位が存在する。この界面準位は通常
の半導体/パッシベーション膜界面のダングリングボン
ド、メサ形成後に生成した半導体自然酸化膜/半導体界
面のダングリングボンド、さらには表面欠陥に起因する
もの等が挙げられる。
(603、604、605)中で禁制帯幅の小さなp-
型InGaAs光吸収層605中にはパッシベーション
膜界面のダングリングボンドに起因する準位が、また自
然酸化されやすいアルミニウム原子を含む超格子増倍層
603中では自然酸化膜との界面のダングリングボンド
に起因する準位がより多く存在すると考えられる。
ンシェブレークダウンが生じる高電界が印加される。そ
の値は増倍層で約500から600kV/cm、InG
aAs光吸収層では約100から200kV/cmであ
る。メサ部の表面には、素子動作時に上記の界面準位を
介する表面リーク暗電流が発生するが、このリーク電流
が上記の高電界によりホットキャリア化し、パッシベー
ション膜に注入され蓄積される。このことにより、界面
の劣化が進行し、また表面ポテンシャルが変化してリー
ク電流をさらに増大させる。
暗電流の増加は、バンドギャップの小さい半導体すなわ
ちInGaAs光吸収層605/パッシベーション膜界
面でより顕著であり、従来メサ型超格子アバランシェフ
ォトダイオードの経時的暗電流増加の主要原因となって
いる。さらに、暗電流の増加速度はホットキャリア注入
のエネルギー、すなわちInGaAs光吸収層605の
電界強度に大きく依存し、電界強度が100kV/cm
以下の場合素子寿命は室温で105 から107時間とな
るのに対して、100から150kV/cm以上の場合
には素子寿命は104 時間以下となる。したがって、受
光素子の長寿命化を達成するには、InGaAs光吸収
層605の電界強度を100kV/cm以下に設定しな
ければならない。
605の電界強度を低く設定すると、増倍率が小さいバ
イアス領域において周波数応答特性が低下し、高速応答
の得られるダイナミックレンジが極端に小さくなるとい
う新たな問題が発生する。
あって、その目的は、第1に、高速応答のダイナミック
レンジを低下させることなくメサ側壁に露出している光
吸収層における電界強度を低下させうるようにすること
であり、第2に、素子表面でのダングリングボンドに起
因する界面準位を減少させることである。
ため、本発明によれば、第1導電型の半導体基板上に、
第1導電型バッファ層、第1導電型電界緩和層、i型も
しくは低不純物濃度第1導電型の超格子増倍層、第2導
電型電界緩和層、低不純物濃度の第2導電型光吸収層が
この順に積層されているメサ型の超格子アバランシェフ
ォトダイオードにおいて、前記第1導電型電界緩和層の
層厚がメサ周辺部で薄く中央部で厚くなされていること
を特徴とする超格子アバランシェフォトダイオード、が
提供される。そして、好ましくは、メサ構造の外周部が
不純物ドープにより第2導電型化される。
ードは、例えば図1に示すように構成される。図1にお
いて、101は高不純物濃度第1導電型半導体基板、1
02は高不純物濃度第1導電型バッファ層、103は第
1導電型バッファ層、104は第1導電型電界緩和層、
105はアンドープ超格子増倍層、106は第2導電型
電界緩和層、107は低不純物濃度第2導電型光吸収
層、108は第2導電型キャップ層、109は第2導電
型コンタクト層、110は第1導電型側電極、111は
第2導電型側電極、112は反射防止膜、113は表面
パッシベーション膜である。本発明による半導体受光素
子において、特徴的な点は、第1導電型電界緩和層10
4が中央部で厚く、周辺部で薄くなっている点である。
の動作時における電界強度分布を示す。(a)はメサ周
辺部での、また(b)は中央部での状態をそれぞれ示し
ている。p・n接合(通常、超格子増倍層105−第2
導電型電界緩和層106間に形成される)から基板側へ
延びる空乏層は、中央部では高不純物濃度の第1導電型
電界緩和層104が厚いためこの領域までで止まる。こ
れに対し、第1導電型電界緩和層の薄いメサ周辺部で
は、この第1導電型電界緩和層104を越えて第1導電
型バッファ層103にまで延びる。
周辺部では電界が緩和され、最大電界強度が中央部の6
00kV/cm程度から300〜500kV/cm程度
以下に大幅に低減される。ここで、第1導電型電界緩和
層による電界緩和量を適当に設定することにより、ブレ
ークダウン近傍のバイアス状態ににおいて、光吸収層に
印加される電界強度を、メサ中央部で約150kV/c
m、メサ周辺部で約100〜50kV/cmにすること
ができる。
での電界強度を高速応答のダイナミックレンジが大きく
とれるような高い値に保ちながら、メサ表面では暗電流
増加の速度が小さくなる臨界の電界強度(約100kV
/cm)以下にすることができる。よって、本発明によ
れば、光吸収層のメサ周辺部でのホットキャリアの注入
が減少して界面の劣化が抑制されるため、信頼性が高
く、かつ高速応答性に優れダイナミックレンジの広い半
導体受光素子を提供することができる。
層によって被覆する実施例によれば、半導体層とパッシ
ベーション膜との界面でのダングリングボンドに起因す
る界面準位を低減することができるため、リーク電流を
減少させることができるとともに、素子の劣化をさらに
抑制することができる。
て説明する。 [第1の実施例]図3は、本発明の第1の実施例を示す
断面図である。この実施例の半導体受光素子は以下のよ
うに作製される。n+ 型InP基板201上に、ガスソ
ース分子線成長法(ガスソースMBE)を用いて、厚さ
0.2μmのn+ 型InPバッファ層202、キャリア
濃度が1×1016cm-3で膜厚が0.2μmのn- 型I
nPバッファ層203、キャリア濃度が2×1018cm
-3で膜厚が0.1μmのn+ 型InP電界緩和層204
の一部を順次成長させる。
ラフィとウェットエッチングの手法を用いて直径20μ
mの円形領域を残してn+ 型InP電界緩和層204を
エッチング除去する。次に、基板を硫化アンモニウム、
水素ラジカルビームあるいはアミノ基を有しエッチング
性を示すV族ガスで処理して表面の炭素や酸化膜を除去
する。続いて、ガスソース分子線成長法を用いて、この
基板に再成長を以下の層順で行う。
-3で膜厚が0.02μmのn+ 型InP電界緩和層20
4、InPに格子に整合する、キャリア濃度が1×10
15cm-3以下のアンドープInAlGaAs/InAl
As超格子増倍層205を0.23μmの層厚に、キャ
リア濃度が7×1017cm-3のp+ 型InP電界緩和層
206を0.05μmの厚さに、キャリア濃度が1×1
015cm-3のp- 型InGaAs光吸収層207を1μ
mの層厚に、キャリア濃度が5×1015cm-3のp型I
nPキャップ層208を0.5μmの層厚に、キャリア
濃度が1×10 19cm-3のp+ 型InGaAsコンタク
ト層209を0.1μmの層厚に順次成長させる。
チングの手法を用いて、上記の電界緩和層204に形成
した直径20μmの円形領域と同心円となるように、円
形30μmのメサ領域を残してエピタキシャル成長層を
基板までエッチング除去した。このウェハに表面パッシ
ベーション膜213を形成し、電極形成領域のパッシベ
ーション膜を除去した後、p+ 型InGaAsコンタク
ト層209上にAuZnを用いてp側電極211を形成
し、またn+ 型InP基板201上にAuGeNiを用
いてn側電極210を形成する。最後に、裏面研磨を行
ってから反射防止膜212をSiN膜で形成する。
光素子と、図7に示した従来構造の受光素子(但し、パ
ッシベーション膜については、SiN膜に代えポリイミ
ド膜を用いたものについても試験を行った)とについ
て、その高速応答性と暗電流特性と素子信頼性に関し比
較を行った。高速応答特性については両者の差はなく、
ともにGB積120GHz程度の高速性が確認され、ま
た、暗電流の初期値についても本実施例の素子は従来例
とほぼ同程度の値が得られた(同一メサ直径で比較)。
しかし、素子信頼性に関しては、雰囲気温度:200
℃、逆方向電流:100μAのバイアス条件で1000
時間通電を行う信頼性試験後では、従来例においては暗
電流の増加が観測されたが、本実施例のものではほとん
ど観測されなかった。
実施例を示す断面図である。この実施例の半導体受光素
子は以下のように作製される。n+ 型InP基板301
上に、ガスソース分子線成長法を用いて、厚さ0.2μ
mのn+ 型InPバッファ層302、キャリア濃度が1
×1016cm-3で膜厚が0.2μmのn- 型InPバッ
ファ層303を順次成長させる。このウェハに対して、
通常のフォトリソグラフィとイオン注入(あるいは熱拡
散)の手法用いて直径20μmの円形領域にSiを注入
し、表面より深さが0.2μmで不純物濃度が1×10
18cm-3以上となる拡散層を選択的に形成して、n- 型
InPバッファ層303中に第2n+ 型InP電界緩和
層304′を形成する。
カルビームあるいはアミノ基を有しエッチング性を示す
V族ガスで処理して表面の汚れを除去する。続いて、ガ
スソース分子線成長法を用いて、この基板に再成長を以
下の層順で行う。すなわち、キャリア濃度が1×1018
cm-3のn+ 型InP電界緩和層304を0.02μm
の層厚に、InPに格子に整合する、キャリア濃度が1
×1015cm-3以下のアンドープn- 型InAlGaA
s/InAlAs超格子増倍層305を0.23μmの
層厚に、キャリア濃度が7×1017cm-3のp+ 型In
P電界緩和層306を0.05μmの厚さに、キャリア
濃度が1×1015cm-3のp- 型InGaAs光吸収層
307を1μmの層厚に、キャリア濃度が5×1015c
m-3のp型InPキャップ層308を0.5μmの層厚
に、キャリア濃度が1×1019cm-3のp+ 型InGa
Asコンタクト層309を0.1μmの層厚に順次成長
させる。
チングの手法を用いて、n- 型InP型バッファ層30
3内に形成した直径20μmの第2n+ 型InP電界緩
和層304′と同心円となるように、円形30μmのメ
サ領域を残してエピタキシャル成長層を基板までエッチ
ング除去した。このウェハに表面パッシベーション膜3
13を形成し、電極形成領域のパッシベーション膜を除
去した後、p+ 型InGaAsコンタクト層309上に
AuZnを用いてp側電極311を形成し、またn+ 型
InP基板301上にAuGeNiを用いてn側電極3
10を形成する。最後に、裏面研磨を行ってから反射防
止膜312をSiN膜で形成する。
光素子について、その高速応答性と暗電流特性と素子信
頼性に関し試験を行ったところ、第1の実施例の場合と
同様の、高速特性、初期値の暗電流特性が得られ、ま
た、同様の条件の信頼性試験でも素子の劣化はほとんど
認められなかった。
実施例を示す断面図である。この実施例の半導体受光素
子は以下のように作製される。n+ 型InP基板401
上に、ガスソース分子線成長法を用いて、厚さ0.2μ
mのn+ 型InPバッファ層402、キャリア濃度が1
×1016cm-3で厚さ0.2μmのn- 型InPバッフ
ァ層403、キャリア濃度が2×1018cm-3で0.1
μm厚さのn+ 型InP電界緩和層404の一部を順次
成長させる。このウェハに対して、通常のフォトリソグ
ラフィとイオン注入(あるいは熱拡散)の手法を用いて
直径20μmの円形領域を除く領域にFe乃至Coを導
入し、表面より深さ0.2μmまでの領域に高抵抗層4
14を形成する。
カルビームあるいはアミノ基を有しエッチング性を示す
V族ガスで処理して表面の炭素や酸化膜を除去する。続
いて、ガスソース分子線成長法を用いて、この基板に再
成長を以下の層順で行う。すなわち、キャリア濃度が1
×1018cm-3のn+ 型InP電界緩和層404を0.
02μmの層厚に、InPに格子に整合する、キャリア
濃度が1×1015cm-3以下のアンドープInAlGa
As/InAlAs超格子増倍層405を0.23μm
の層厚に、キャリア濃度が7×1017cm-3のp+ 型I
nP電界緩和層406を0.05μm厚さに、キャリア
濃度が1×1015cm-3のp- 型InGaAs光吸収層
407を1μmの層厚に、キャリア濃度が5×1015c
m-3のp型InPキャップ層408を0.5μmの層厚
に、キャリア濃度が1×1019cm-3のp+ 型InGa
Asコンタクト層409を0.1μmの層厚に順次成長
させる。
チングの手法を用いて、上記の電界緩和層404に形成
した直径20μmの円形領域と同心円となるように、直
径30μmの円形のメサ領域を残してエピタキシャル成
長層を基板までエッチング除去した。このウェハに表面
パッシベーション膜413を形成し、電極形成領域のパ
ッシベーション膜を除去した後、p+ 型InGaAsコ
ンタクト層409上にAuZnを用いてp側電極411
を形成し、またn+ 型InP基板401上にAuGeN
iを用いてn側電極410を形成する。最後に、裏面研
磨を行ってから反射防止膜412をSiN膜で形成す
る。
光素子について、その高速応答性と暗電流特性と素子信
頼性に関し試験を行ったところ、第1の実施例の場合と
同様の、高速特性、初期値の暗電流特性が得られ、ま
た、同様の条件の信頼性試験でも素子の劣化はほとんど
観測されなかった。
実施例を示す断面図である。この実施例の半導体受光素
子は以下のように作製される。n+ 型InP基板501
上に、ガスソース分子線成長法を用いて、厚さ0.2μ
mのn+ 型InPバッファ層502、キャリア濃度が1
×1016cm-3で1.2μm厚さのn- 型InPバッフ
ァ層503を順次成長させる。このウェハに対して、通
常のフォトリソグラフィとイオン注入(あるいは熱拡
散)の手法を用いて直径20μmの円形領域にSiを注
入し、表面より深さ0.2μmで不純物濃度1×1018
cm-3以上となるように選択的に拡散層を形成して、n
- 型InPバッファ層503の表面領域内に第2n+ 型
InP電界緩和層504′形成する。
カルビームあるいはアミノ基を有しエッチング性を示す
V族ガスで処理して表面の炭素や酸化膜を除去する。続
いて、ガスソース分子線成長法を用いて、この基板に再
成長を以下の層順で行う。すなわち、キャリア濃度が1
×1018cm-3で0.02μm厚さのn+ 型InP電界
緩和層504、InPに格子に整合する、キャリア濃度
が1×1015cm-3以下のアンドープInAlGaAs
/InAlAs超格子増倍層505を0.23μmの層
厚に、キャリア濃度が7×1017cm-3のp+ 型InP
電界緩和層506を0.05μmの厚さに、キャリア濃
度が1×1015cm-3のp- 型InGaAs光吸収層5
07を1μmの厚さに、キャリア濃度が5×1015cm
-3のp型InPキャップ層508を0.5μm厚に、キ
ャリア濃度が1×1019cm-3のp+ 型InGaAsコ
ンタクト層509を0.1μm厚に順次成長させる。
ソグラフィとウェットエッチングの手法を用いてこのS
iO2 をパターニングして、第2n+ 型InP電界緩和
層504′と同心円の直径26μmの円形パターンを囲
んでリング状の開口を有する拡散マスクを形成し、この
マスクを介して、Znを熱拡散して表面から2.1μm
の深さに、すなわちn- 型InPバッファ層503の上
部から0.2μmまでの深さにまで到達するp+ 型拡散
層514を形成した。その後、このSiO2 拡散マスク
を除去する。
チングの手法を用いて、上記の直径20μmの電界緩和
層504′の円形領域と同心円となるように、円形30
μmのメサ領域を残して電界緩和層504上のエピタキ
シャル成長層をエッチング除去した。このウェハに表面
パッシベーション膜513を形成し、電極形成領域のパ
ッシベーション膜を除去した後、p+ 型InGaAsコ
ンタクト層509上にAuZnを用いてp側電極511
を形成し、またn+ 型InP電界緩和層504上にAu
GeNiを用いてn側電極510を形成する。最後に、
裏面研磨を行ってから反射防止膜512をSiN膜で形
成する。
光素子について、その高速応答性と暗電流特性と素子信
頼性に関し試験を行ったところ、第1の実施例の場合と
同様のGB積120GHz程度の高速性が確認された。
また、暗電流の初期値は他の実施例の場合よりも低く、
そして、上記と同様の条件の信頼性試験を経過した後も
暗電流の増加はほとんど観測されなかった。
いて説明したが、本願発明はこれら実施例に限定される
ものではなく、特許請求の範囲に記載された範囲内にお
いて適宜の変更が可能である。例えば、実施例では、超
格子増倍層をInPに格子に整合するInAlAs/I
nAlGaAsにて構成していたが、これに代えInG
aAs/InAlAs超格子やInGaAsP/InA
lAs超格子を用いてもよい。また、実施例では増倍層
をアンドープとしたが、n型不純物を低濃度にドープす
るようにしてもよい。また、実施例では、裏面光入射型
の受光素子について説明したが、本発明は表面入射型の
受光素子についても適用が可能なものである。また、実
施例で用いていたガスソース分子線成長法に代え、有機
金属気相成長(MOCVD)法等他のエピタキシャル成
長方法を採用することができる。
光素子は、超格子増倍層の両側に電界緩和層を介在さ
せ、その内の基板側の電界緩和層をメサ中央部で厚く、
周辺部で薄くなるようにしたものであるので、中央部で
の電界強度を低下させることなくメサ周辺部での電界強
度を低下させることができる。したがって、本発明によ
れば、メサ外周部の半導体層表面に流れるリーク電流が
ホットキャリア化するのを抑制することができ、ホット
キャリアの注入による界面の劣化を防止することができ
る。
する実施例によれば、素子表面におけるダングリングボ
ンドによる界面準位を低減することができるため、初期
の暗電流を減少させることができ、素子の劣化をさらに
抑制することができる。
1.6μm帯に受光感度を有し、高イオン化率比α/β
で低雑音・高速応答・高ダイナミックレンジ特性を有す
るアバランシェフォトダイオードにおいて、表面リーク
暗電流の低減と、信頼性向上を達成することができる。
の断面図。
よびメサ中央部での電界強度分布図。
図。
図。
図。
図。
ベーション膜 201、301、401、501、601 n+ 型In
P基板 202、302、402、502、602 n+ 型In
Pバッファ層 203、303、403、503 n- 型InPバッフ
ァ層 204、304、404、504 n+ 型InP電界緩
和層 304′、504′ 第2n+ 型InP電界緩和層 205、305、405、505 アンドープInAl
GaAs/InAlAs超格子増倍層 206、306、406、506、604 p+ 型In
P電界緩和層 207、307、407、507、605 p- 型In
GaAs光吸収層 208、308、408、508、606 p型InP
キャップ層 209、309、409、509、607 p+ 型In
GaAsコンタクト層 210、310、410、510、608 n側電極 211、311、411、511、609 p側電極 414 高抵抗半導体層 514 p+ 型拡散層 603 n- 型InGaAsP/InAlAs超格子増
倍層 610 SiNパッシベーション膜 611 ポリイミド膜
Claims (4)
- 【請求項1】 第1導電型の半導体基板上に、第1導電
型バッファ層、第1導電型電界緩和層、i型もしくは低
不純物濃度第1導電型の超格子増倍層、第2導電型電界
緩和層、低不純物濃度の第2導電型光吸収層がこの順に
積層されているメサ型の超格子アバランシェフォトダイ
オードにおいて、 前記第1導電型電界緩和層の層厚がメサ周辺部で薄く中
央部で厚くなされていることを特徴とする超格子アバラ
ンシェフォトダイオード。 - 【請求項2】 メサ構造の外周部が不純物ドープにより
第2導電型化されていることを特徴とする請求項1記載
の超格子アバランシェフォトダイオード。 - 【請求項3】 前記半導体基板の裏面に反射防止膜が形
成され、基板裏面より光が入射されることを特徴とする
請求項1記載の超格子アバランシェフォトダイオード。 - 【請求項4】 前記第2導電型光吸収層上に、コンタク
ト層またはキャップ層およびコンタクト層が形成されて
いることを特徴とする請求項1記載の超格子アバランシ
ェフォトダイオード。
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