JPH08110366A - 表面実装型電子部品の測定治具 - Google Patents
表面実装型電子部品の測定治具Info
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- JPH08110366A JPH08110366A JP24550294A JP24550294A JPH08110366A JP H08110366 A JPH08110366 A JP H08110366A JP 24550294 A JP24550294 A JP 24550294A JP 24550294 A JP24550294 A JP 24550294A JP H08110366 A JPH08110366 A JP H08110366A
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- Japan
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- rubber sheet
- anisotropic conductive
- electronic component
- conductive rubber
- plate
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 外部電極の間隔が小さい表面実装型電子部品
の電気特性を高周波領域でも安定して正確に測定するこ
とができる測定治具を得る。 【構成】 導電性プレート３の上面に導通方向が厚み方
向である異方性導電ゴムシート２０を載置している。導
電性プレート３には段付き穴３ａ，３ｂが設けられてお
り、この穴３ａ，３ｂに同軸ケーブル１０，１１が挿入
されている。同軸ケーブル１０，１１の芯線１２，１３
の先端は導電性プレート３の上面から若干突出し、異方
性導電ゴムシート２０に接触している。導電性プレート
３はケーブルホルダ６，７を介して同軸ケーブル１０，
１１のシールド線１６，１７に電気的に接続され、接地
されている。
の電気特性を高周波領域でも安定して正確に測定するこ
とができる測定治具を得る。 【構成】 導電性プレート３の上面に導通方向が厚み方
向である異方性導電ゴムシート２０を載置している。導
電性プレート３には段付き穴３ａ，３ｂが設けられてお
り、この穴３ａ，３ｂに同軸ケーブル１０，１１が挿入
されている。同軸ケーブル１０，１１の芯線１２，１３
の先端は導電性プレート３の上面から若干突出し、異方
性導電ゴムシート２０に接触している。導電性プレート
３はケーブルホルダ６，７を介して同軸ケーブル１０，
１１のシールド線１６，１７に電気的に接続され、接地
されている。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、表面実装型電子部品の
測定治具、特に、表面実装型電子部品の電気特性を測定
するための治具に関する。
測定治具、特に、表面実装型電子部品の電気特性を測定
するための治具に関する。
【０００２】
【従来の技術と課題】従来、この種の測定治具として、
電子部品の外部電極に対応させて印刷配線板にコンタク
トプローブを配設したものが知られている。しかしなが
ら、この測定治具は、外部電極の間隔が小さくなった場
合、特別に細くしたコンタクトプローブを使用しなけれ
ばならないため、コンタクトプローブの配設に高度な技
術が要求されると共に、コンタクトプローブ自身の機械
的強度も弱く、寿命が短いという問題があった。
電子部品の外部電極に対応させて印刷配線板にコンタク
トプローブを配設したものが知られている。しかしなが
ら、この測定治具は、外部電極の間隔が小さくなった場
合、特別に細くしたコンタクトプローブを使用しなけれ
ばならないため、コンタクトプローブの配設に高度な技
術が要求されると共に、コンタクトプローブ自身の機械
的強度も弱く、寿命が短いという問題があった。
【０００３】この問題を解消するものとして、特開昭６
０−１９６６７７号公報記載の測定治具が知られてい
る。この測定治具は電極パターンを表面に設けた印刷配
線板に異方性導電ゴムシートを載置したものである。し
かしながら、この測定治具は、高周波領域の電気特性の
測定が不安定で、正確な測定ができないという問題があ
った。印刷配線板に設けた電極パターンの電気特性が高
周波領域で不安定になるからである。
０−１９６６７７号公報記載の測定治具が知られてい
る。この測定治具は電極パターンを表面に設けた印刷配
線板に異方性導電ゴムシートを載置したものである。し
かしながら、この測定治具は、高周波領域の電気特性の
測定が不安定で、正確な測定ができないという問題があ
った。印刷配線板に設けた電極パターンの電気特性が高
周波領域で不安定になるからである。
【０００４】そこで、本発明の課題は、外部電極の間隔
が小さい表面実装型電子部品の電気特性を高周波領域で
も安定して正確に測定することができる測定治具を提供
することにある。
が小さい表面実装型電子部品の電気特性を高周波領域で
も安定して正確に測定することができる測定治具を提供
することにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段と作用】以上の課題を解決
するため、本発明に係る表面実装型電子部品の測定治具
は、（ａ）導電性プレートを備えたケースと、（ｂ）前
記導電性プレートに設けた同軸ケーブル用穴に芯線端部
が貫通した同軸ケーブルと、（ｃ）前記導電性プレート
面に載置された、導通方向が厚み方向である異方性導電
ゴムシートとを備え、（ｄ）前記同軸ケーブルの芯線端
部が前記異方性導電ゴムシートの所定の部分に接触して
いること、を特徴とする。
するため、本発明に係る表面実装型電子部品の測定治具
は、（ａ）導電性プレートを備えたケースと、（ｂ）前
記導電性プレートに設けた同軸ケーブル用穴に芯線端部
が貫通した同軸ケーブルと、（ｃ）前記導電性プレート
面に載置された、導通方向が厚み方向である異方性導電
ゴムシートとを備え、（ｄ）前記同軸ケーブルの芯線端
部が前記異方性導電ゴムシートの所定の部分に接触して
いること、を特徴とする。
【０００６】以上の構成において、導電性プレートは接
地され、この導電性プレート面に接触している部分の異
方性導電ゴムシートの表面はグランドに電気的に接続さ
れた状態となる。一方、同軸ケーブルの芯線端部が接触
している部分の異方性導電ゴムシートの表面は同軸ケー
ブルの芯線に電気的に接続された状態となる。そして、
被測定物である表面実装型電子部品が異方性導電ゴムシ
ート上にセットされると、同軸ケーブルの芯線端部は異
方性導電ゴムシートを介して被測定電子部品の入出力電
極に電気的に接続される。一方、接地された導電性プレ
ートは、異方性導電ゴムシートを介して被測定電子部品
のグランド電極に電気的に接続される。
地され、この導電性プレート面に接触している部分の異
方性導電ゴムシートの表面はグランドに電気的に接続さ
れた状態となる。一方、同軸ケーブルの芯線端部が接触
している部分の異方性導電ゴムシートの表面は同軸ケー
ブルの芯線に電気的に接続された状態となる。そして、
被測定物である表面実装型電子部品が異方性導電ゴムシ
ート上にセットされると、同軸ケーブルの芯線端部は異
方性導電ゴムシートを介して被測定電子部品の入出力電
極に電気的に接続される。一方、接地された導電性プレ
ートは、異方性導電ゴムシートを介して被測定電子部品
のグランド電極に電気的に接続される。
【０００７】
【実施例】以下、本発明に係る表面実装型電子部品の測
定治具の一実施例について添付図面を参照して説明す
る。図１ないし図３に示すように、表面実装型電子部品
の測定治具は、ケース１と、同軸ケーブル１０，１１
と、異方性導電ゴムシート２０にて構成されている。
定治具の一実施例について添付図面を参照して説明す
る。図１ないし図３に示すように、表面実装型電子部品
の測定治具は、ケース１と、同軸ケーブル１０，１１
と、異方性導電ゴムシート２０にて構成されている。
【０００８】ケース１は略箱形状をしており、筒状本体
２と、この筒状本体２の上部端部に接合された導電性プ
レート３にて構成されている。導電性プレート３は中央
部に同軸ケーブル１０，１１用の穴３ａ，３ｂが設けら
れている（図４参照）。穴３ａ，３ｂは上部の径より下
部の径の方が太い段付き形状をしており、径の太い部分
に金属製の筒状ケーブルホルダ６，７が挿入されてい
る。このケーブルホルダ６，７は同軸ケーブル１０，１
１を導電性プレート３に取り付け易くするためのもので
ある。ケーブルホルダ６，７は全周が半田付けされ、半
田１８にて堅固に導電性プレート３に固定されると共に
電気的に接続されている。導電性プレート３はアルミ、
銅、ステンレス等の金属からなり、表面には金めっき処
理が施されている。
２と、この筒状本体２の上部端部に接合された導電性プ
レート３にて構成されている。導電性プレート３は中央
部に同軸ケーブル１０，１１用の穴３ａ，３ｂが設けら
れている（図４参照）。穴３ａ，３ｂは上部の径より下
部の径の方が太い段付き形状をしており、径の太い部分
に金属製の筒状ケーブルホルダ６，７が挿入されてい
る。このケーブルホルダ６，７は同軸ケーブル１０，１
１を導電性プレート３に取り付け易くするためのもので
ある。ケーブルホルダ６，７は全周が半田付けされ、半
田１８にて堅固に導電性プレート３に固定されると共に
電気的に接続されている。導電性プレート３はアルミ、
銅、ステンレス等の金属からなり、表面には金めっき処
理が施されている。
【０００９】筒状本体２は、その左右側壁面に高周波同
軸コネクタ８，９を取り付けている。このコネクタ８，
９に、図示しない測定器からの測定リード線が接続され
ることになる。筒状本体２の底部には測定治具固定用プ
レート５が設けられており、測定器に測定治具が容易に
着脱できるように工夫されている。筒状本体２の材料と
しては、金属あるいは樹脂等が用いられる。
軸コネクタ８，９を取り付けている。このコネクタ８，
９に、図示しない測定器からの測定リード線が接続され
ることになる。筒状本体２の底部には測定治具固定用プ
レート５が設けられており、測定器に測定治具が容易に
着脱できるように工夫されている。筒状本体２の材料と
しては、金属あるいは樹脂等が用いられる。
【００１０】同軸ケーブル１０，１１は、一方の端部が
ケーブルホールダ６，７に圧入され、他方がコネクタ
８，９に電気的に接続されている。図４に示すように、
ケーブルホルダ６，７に圧入された同軸ケーブル１０，
１１の端部は、芯線１２，１３のみが導電性プレート３
に電気的に接触することなく穴３ａ，３ｂを貫通し、そ
の先端が導電性プレート３の上面より若干突出してい
る。同軸ケーブル１０，１１の芯線１２，１３を被覆し
た絶縁性充填材１４，１５の外周面を覆うシールド線１
６，１７はそれぞれ全周が半田付けされ、半田１９にて
堅固にケーブルホルダ６，７に固定されると共に電気的
に接続されている。同軸ケーブル１０，１１としては、
高周波特性が優れたセミリジッド同軸ケーブル等を使用
するのが好ましい。
ケーブルホールダ６，７に圧入され、他方がコネクタ
８，９に電気的に接続されている。図４に示すように、
ケーブルホルダ６，７に圧入された同軸ケーブル１０，
１１の端部は、芯線１２，１３のみが導電性プレート３
に電気的に接触することなく穴３ａ，３ｂを貫通し、そ
の先端が導電性プレート３の上面より若干突出してい
る。同軸ケーブル１０，１１の芯線１２，１３を被覆し
た絶縁性充填材１４，１５の外周面を覆うシールド線１
６，１７はそれぞれ全周が半田付けされ、半田１９にて
堅固にケーブルホルダ６，７に固定されると共に電気的
に接続されている。同軸ケーブル１０，１１としては、
高周波特性が優れたセミリジッド同軸ケーブル等を使用
するのが好ましい。
【００１１】異方性導電ゴムシート２０は導電性プレー
ト３の上面中央部に載置されている。異方性導電ゴムシ
ート２０の導通方向はシートの厚み方向である。この異
方性導電ゴムシート２０は、絶縁性材料でできた位置決
めプレート２４と導電性プレート３の間に挟持されてい
る。異方性導電ゴムシート２０の下面には導電性プレー
ト３の表面から突出した芯線１２，１３の端部が圧接
し、電気的に接続している。さらに、穴３ａ，３ｂを残
して導電性プレート３の上面に異方性導電ゴムシート２
０が密着している。
ト３の上面中央部に載置されている。異方性導電ゴムシ
ート２０の導通方向はシートの厚み方向である。この異
方性導電ゴムシート２０は、絶縁性材料でできた位置決
めプレート２４と導電性プレート３の間に挟持されてい
る。異方性導電ゴムシート２０の下面には導電性プレー
ト３の表面から突出した芯線１２，１３の端部が圧接
し、電気的に接続している。さらに、穴３ａ，３ｂを残
して導電性プレート３の上面に異方性導電ゴムシート２
０が密着している。
【００１２】位置決めプレート２４の中央部には、被測
定物である電子部品のサイズに合わせた穴２４ａが、電
子部品の入出力外部電極と芯線１２，１３の先端が対向
するように設けられている。この穴２４ａに電子部品を
セットすると、電子部品の入出力外部電極と芯線１２，
１３の先端が異方性導電ゴムシート２０を介して電気的
に導通する。これらの部品３，２０，２４は端面を基準
にして精度良く組み立てられる。従って、部品３，２
０，２４を寸法精度良く製作することにより、測定精度
が一定の測定治具を量産することができる。
定物である電子部品のサイズに合わせた穴２４ａが、電
子部品の入出力外部電極と芯線１２，１３の先端が対向
するように設けられている。この穴２４ａに電子部品を
セットすると、電子部品の入出力外部電極と芯線１２，
１３の先端が異方性導電ゴムシート２０を介して電気的
に導通する。これらの部品３，２０，２４は端面を基準
にして精度良く組み立てられる。従って、部品３，２
０，２４を寸法精度良く製作することにより、測定精度
が一定の測定治具を量産することができる。
【００１３】次に、この測定治具を使用して表面実装型
電子部品３０を測定する方法について図４を参照して説
明する。被測定電子部品３０を位置決めプレートの穴２
４ａに挿入した後、適度の圧力で電子部品３０を押さえ
る。電子部品３０の入出力外部電極３１，３２やグラン
ド外部電極３３は異方性導電ゴムシート２０に面接触
し、電子部品３０にかかった圧力が均一に異方性導電ゴ
ムシート２０にかかる。従って、従来のコンタクトプロ
ーブを使用した測定治具（電子部品の外部電極とコンタ
クトプローブは点接触であった）と比較して寿命が１０
〜２０倍程度長くなった。
電子部品３０を測定する方法について図４を参照して説
明する。被測定電子部品３０を位置決めプレートの穴２
４ａに挿入した後、適度の圧力で電子部品３０を押さえ
る。電子部品３０の入出力外部電極３１，３２やグラン
ド外部電極３３は異方性導電ゴムシート２０に面接触
し、電子部品３０にかかった圧力が均一に異方性導電ゴ
ムシート２０にかかる。従って、従来のコンタクトプロ
ーブを使用した測定治具（電子部品の外部電極とコンタ
クトプローブは点接触であった）と比較して寿命が１０
〜２０倍程度長くなった。
【００１４】電子部品３０が適度の圧力で押圧される
と、電子部品３０の入出力外部電極３１，３２と芯線１
２，１３がそれぞれ異方性導電ゴムシート２０を介して
電気的に接続されると共に、電子部品３０のグランド外
部電極３３が異方性導電ゴムシート２０を介してそれぞ
れ導電性プレート３に安定した状態で電気的に接続され
る。導電性プレート３はケーブルホルダ６，７及び同軸
ケーブル１０，１１のシールド線１６，１７を介して接
地されているので、グランド外部電極３３はグランドに
電気的に接続される。このとき、導電性プレート３に接
触した部分の異方性導電ゴムシート２０の表面は全てグ
ランド面となるため、電子部品３０のグランド外部電極
３３はその配置や数量に関係なく、異方性導電ゴムシー
ト２０を介してグランドに接続される。
と、電子部品３０の入出力外部電極３１，３２と芯線１
２，１３がそれぞれ異方性導電ゴムシート２０を介して
電気的に接続されると共に、電子部品３０のグランド外
部電極３３が異方性導電ゴムシート２０を介してそれぞ
れ導電性プレート３に安定した状態で電気的に接続され
る。導電性プレート３はケーブルホルダ６，７及び同軸
ケーブル１０，１１のシールド線１６，１７を介して接
地されているので、グランド外部電極３３はグランドに
電気的に接続される。このとき、導電性プレート３に接
触した部分の異方性導電ゴムシート２０の表面は全てグ
ランド面となるため、電子部品３０のグランド外部電極
３３はその配置や数量に関係なく、異方性導電ゴムシー
ト２０を介してグランドに接続される。
【００１５】以上の測定治具は、高周波特性の優れた同
軸ケーブル１０，１１を高周波信号の伝送線路として使
用し、その同軸ケーブル１０，１１の芯線１２，１３を
直接に異方性導電ゴムシート２０に接触させる構造を採
用しているので、高周波領域でも安定して正確に電子部
品の電気特性を測定することができる。具体的に、表面
弾性波を利用した圧電部品の高周波特性を測定すると、
従来の測定治具と比較してボトムレベルが１０〜２０ｄ
Ｂ以上改善された。
軸ケーブル１０，１１を高周波信号の伝送線路として使
用し、その同軸ケーブル１０，１１の芯線１２，１３を
直接に異方性導電ゴムシート２０に接触させる構造を採
用しているので、高周波領域でも安定して正確に電子部
品の電気特性を測定することができる。具体的に、表面
弾性波を利用した圧電部品の高周波特性を測定すると、
従来の測定治具と比較してボトムレベルが１０〜２０ｄ
Ｂ以上改善された。
【００１６】なお、本発明に係る表面実装型電子部品の
測定治具は前記実施例に限定するものではなく、その要
旨の範囲内で種々に変形することができる。特に、同軸
ケーブルの引回し位置やケースへの固定は種々の仕様の
ものが選択される。
測定治具は前記実施例に限定するものではなく、その要
旨の範囲内で種々に変形することができる。特に、同軸
ケーブルの引回し位置やケースへの固定は種々の仕様の
ものが選択される。
【００１７】
【発明の効果】以上の説明で明らかなように、本発明に
よれば、高周波特性の優れた同軸ケーブルの芯線を直接
に異方性導電ゴムシートに接触させる構造としたので、
高周波領域でも安定して正確に電子部品の電気特性を測
定することができる。また、被測定電子部品の外部電極
が異方性導電ゴムシートに均一に面接触するので、従来
の測定治具と比較して長寿命となる。さらに、異方性導
電ゴムシートの表面に広面積のグランド面が形成される
ため、入出力外部電極の配置が同じ電子部品であれば、
グランド外部電極の配置が異なっていても同一の測定治
具を使用して測定することができる。
よれば、高周波特性の優れた同軸ケーブルの芯線を直接
に異方性導電ゴムシートに接触させる構造としたので、
高周波領域でも安定して正確に電子部品の電気特性を測
定することができる。また、被測定電子部品の外部電極
が異方性導電ゴムシートに均一に面接触するので、従来
の測定治具と比較して長寿命となる。さらに、異方性導
電ゴムシートの表面に広面積のグランド面が形成される
ため、入出力外部電極の配置が同じ電子部品であれば、
グランド外部電極の配置が異なっていても同一の測定治
具を使用して測定することができる。
【図１】本発明に係る表面実装型電子部品の測定治具の
一実施例を示す平面図。
一実施例を示す平面図。
【図２】図１に示した測定治具の正面図。
【図３】図１に示した測定治具の斜視図。
【図４】図１に示した測定治具の一部拡大断面図。
１…ケース ３…導電性プレート ３ａ，３ｂ…同軸ケーブル用穴 １０，１１…同軸ケーブル １２，１３…芯線 ２０…異方性導電ゴムシート
Claims (1)
- 【請求項１】 導電性プレートを備えたケースと、 前記導電性プレートに設けた同軸ケーブル用穴に芯線端
部が貫通した同軸ケーブルと、 前記導電性プレート面に載置された、導通方向が厚み方
向である異方性導電ゴムシートとを備え、 前記同軸ケーブルの芯線端部が前記異方性導電ゴムシー
トの所定の部分に接触していること、 を特徴とする表面実装型電子部品の測定治具。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24550294A JPH08110366A (ja) | 1994-10-11 | 1994-10-11 | 表面実装型電子部品の測定治具 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24550294A JPH08110366A (ja) | 1994-10-11 | 1994-10-11 | 表面実装型電子部品の測定治具 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08110366A true JPH08110366A (ja) | 1996-04-30 |
Family
ID=17134628
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24550294A Pending JPH08110366A (ja) | 1994-10-11 | 1994-10-11 | 表面実装型電子部品の測定治具 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08110366A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2003001223A2 (en) * | 2001-06-20 | 2003-01-03 | Formfactor, Inc. | High density planar electrical interface |
| WO2004021018A1 (ja) * | 2002-08-27 | 2004-03-11 | Jsr Corporation | 異方導電性シートおよびインピーダンス測定用プローブ |
| JP2007085801A (ja) * | 2005-09-20 | 2007-04-05 | Epson Toyocom Corp | 高周波デバイスの測定治具 |
| US7235978B2 (en) | 2005-09-07 | 2007-06-26 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Device for measuring impedance of electronic component |
| JP2012511142A (ja) * | 2008-12-05 | 2012-05-17 | フーバー ＋ スーナー アーゲー | コンピュータチップ用の試験アダプタ |
-
1994
- 1994-10-11 JP JP24550294A patent/JPH08110366A/ja active Pending
Cited By (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2003001223A2 (en) * | 2001-06-20 | 2003-01-03 | Formfactor, Inc. | High density planar electrical interface |
| WO2003001223A3 (en) * | 2001-06-20 | 2003-05-30 | Formfactor Inc | High density planar electrical interface |
| US7335057B2 (en) | 2001-06-20 | 2008-02-26 | Formfactor, Inc. | High density planar electrical interface |
| US7699616B2 (en) | 2001-06-20 | 2010-04-20 | Formfactor, Inc. | High density planar electrical interface |
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| EP1544625A1 (en) * | 2002-08-27 | 2005-06-22 | JSR Corporation | Anisotropic, conductive sheet and impedance measuring probe |
| EP1544625A4 (en) * | 2002-08-27 | 2005-10-12 | Jsr Corp | ANISOTROPIC AND CONDUCTIVE SHEET AND IMPEDANCE MEASURING PROBE |
| US7071722B2 (en) | 2002-08-27 | 2006-07-04 | Jsr Corporation | Anisotropic, conductive sheet and impedance measuring probe |
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| JP2012511142A (ja) * | 2008-12-05 | 2012-05-17 | フーバー ＋ スーナー アーゲー | コンピュータチップ用の試験アダプタ |
| US8920046B2 (en) | 2008-12-05 | 2014-12-30 | Huber + Suhner Ag | Test adapter for computer chips |
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