JP2012511142A - コンピュータチップ用の試験アダプタ - Google Patents
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Abstract
【選択図】 図1
Description
Claims (10)
- 試験されるべきチップを試験装置に作動可能に接続するための試験アダプタ(1)であって、ベースプレート(8)と、試験されるべき前記チップと個数および配置に関して適合されている接触要素(9)を有するコンタクト配列(3)を備えるカバープレート(2)と、前記ベースプレート(8)と前記カバープレート(2)との間に配置されおよび試験されるべき前記チップに適合されている複数の個別コネクタ(5)を前記カバープレート(2)に対して角度をなして配置された形で有する側面(4)とを備える、試験アダプタ(1)。
- 前記カバープレート(2)と前記ベースプレート(8)が、構造支持要素(7)によって作動可能に接続されることを特徴とする、請求項1に記載の試験アダプタ(1)。
- 前記コンタクト配列(3)の前記接触要素(9)と前記個別コネクタ(5)が、同軸線路および/または光線路(11)によって互いに作動可能に接続されることを特徴とする、請求項1または2に記載の試験アダプタ(1)。
- 前記同軸および/または光線路(11)が、少なくとも対になってほぼ同じ長さを有することを特徴とする、請求項3に記載の試験アダプタ(1)。
- 複数の個別コネクタ(5)が、多極コネクタ(6)の形で組み合わされることを特徴とする、請求項1〜4のいずれか一項に記載の試験アダプタ(1)。
- 前記コンタクト配列(3)がセグメント様構造を有し、各セグメントの前記接触要素(9)が側壁(4)の前記個別コネクタ(5)に割り当てられることを特徴とする、請求項1〜5のいずれか一項に記載の試験アダプタ(1)。
- 前記個別コネクタ(5)が、同軸構造および/または光学構造を有することを特徴とする、請求項1〜6のいずれか一項に記載の試験アダプタ(1)。
- 平行六面体または立方体の構造を有することを特徴とする、請求項1〜7のいずれか一項に記載の試験アダプタ(1)。
- 前記カバープレート(2)が、中間プレートおよび/またはチップをセンタリングするための手段を有することを特徴とする、請求項1〜8のいずれか一項に記載の試験アダプタ(1)。
- 前記カバープレート(2)が、前記コンタクト領域(3)の前記接触要素(9)に対してチップをセンタリングおよび/または押圧する働きをするセンタリングおよび/または保持フレームを有することを特徴とする、請求項1〜9のいずれか一項に記載の試験アダプタ(1)。
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