JP3174928B2 - 電気的計測器のプローブ装置 - Google Patents
電気的計測器のプローブ装置Info
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- JP3174928B2 JP3174928B2 JP14643593A JP14643593A JP3174928B2 JP 3174928 B2 JP3174928 B2 JP 3174928B2 JP 14643593 A JP14643593 A JP 14643593A JP 14643593 A JP14643593 A JP 14643593A JP 3174928 B2 JP3174928 B2 JP 3174928B2
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- Japan
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- electrode member
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- probe device
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、液体等の特性を抵抗値
を用いて測定する電気的計測器のプローブ装置に関する
ものである。
を用いて測定する電気的計測器のプローブ装置に関する
ものである。
【０００２】
【従来の技術】従来の電気的計測器のプローブ装置は、
例えば、図５に示すように絶縁材で形成されたホールド
部材（以下、ホルダ−と称する）１の内部を貫通し全体
を良電導材でメッキされた電極部材（以下、プローブピ
ンと称する）２，３が設けられている。プローブピン
２，３の端面２ａおよび３ａがホルダー１の端面１ａと
同一面に揃えられた（端面２ａおよび３ａの面積のみを
基準として測定する）プローブ装置が設けられ、プロー
ブピン２，３の他端２ｂ，３ｂが図示を省略した計測用
の回路部に接続されているという構成が採用されてい
た。
例えば、図５に示すように絶縁材で形成されたホールド
部材（以下、ホルダ−と称する）１の内部を貫通し全体
を良電導材でメッキされた電極部材（以下、プローブピ
ンと称する）２，３が設けられている。プローブピン
２，３の端面２ａおよび３ａがホルダー１の端面１ａと
同一面に揃えられた（端面２ａおよび３ａの面積のみを
基準として測定する）プローブ装置が設けられ、プロー
ブピン２，３の他端２ｂ，３ｂが図示を省略した計測用
の回路部に接続されているという構成が採用されてい
た。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】従来のものは、前述の
ように試料が広範囲の性質の液体（以下、試液と称す
る）を対象としているのでプローブピン２，３は、耐蝕
性が要求され黄銅棒全体を比較的厚い金メッキしたもの
をホルダー１にインサート成形で固定されている。しか
しホルダー１の成形後の収縮によってプローブピン２，
３の端面２ａ、３ａに対してホルダー１の端面１ａが後
退して図４に示すようにプローブピン２，３の円筒部２
ｅ，３ｅ（図は、プローブピン２を示してある）が突出
て試液との接触面積が増加してしまい基準値に対して誤
差の要因となっていた。また成形後の内部応力の残留に
よってプローブピン２，３とホルダー１との密着性が低
下し僅かな隙間が生じて試液が侵入してしまい、これも
また試液との接触面積が増加し同じく誤差の要因となっ
ていた。
ように試料が広範囲の性質の液体（以下、試液と称す
る）を対象としているのでプローブピン２，３は、耐蝕
性が要求され黄銅棒全体を比較的厚い金メッキしたもの
をホルダー１にインサート成形で固定されている。しか
しホルダー１の成形後の収縮によってプローブピン２，
３の端面２ａ、３ａに対してホルダー１の端面１ａが後
退して図４に示すようにプローブピン２，３の円筒部２
ｅ，３ｅ（図は、プローブピン２を示してある）が突出
て試液との接触面積が増加してしまい基準値に対して誤
差の要因となっていた。また成形後の内部応力の残留に
よってプローブピン２，３とホルダー１との密着性が低
下し僅かな隙間が生じて試液が侵入してしまい、これも
また試液との接触面積が増加し同じく誤差の要因となっ
ていた。
【０００４】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明では、電気的絶縁材で形成されたホールド部
材と、ホールド部材に保持された電極部材と、電極部材
に接続される計測用の回路部とで構成され、ホールド部
材の試液と接触する面に電極部材の端面を配置したプロ
ーブ装置において、電極部材にはホールド部材と接する
部分に予め絶縁被膜を形成（例えば、エポキシ系の熱硬
化性塗料を焼き付けて固着させる）してホールド部材に
インサート成形で固定した後に試液と接触する面を研削
（絶縁被膜を除去する）してホールド部材と同一面（絶
縁被膜が形成されているので測定の基準は端面の面積の
みとなる、従って電極部材は突出ていても測定には影響
しないが取り扱い等によって絶縁被膜が破損する危険が
あるのでホールド部材と同一面にする）としてから良電
導体をメッキ（金メッキであれば素材の黄銅への拡散を
防止するためにニッケルメッキを先に行う）する。した
がってホールド部材の成形後の内部応力の残留による変
形によって電極部材とホールド部材との密着性が低下し
て隙間が生じても電極部材の外周は絶縁被膜で保護され
ているので試液が電極部材の端面のみに接する、よって
試液との接触面が変化することがないのでので安定した
測定を行うことができる。
に、本発明では、電気的絶縁材で形成されたホールド部
材と、ホールド部材に保持された電極部材と、電極部材
に接続される計測用の回路部とで構成され、ホールド部
材の試液と接触する面に電極部材の端面を配置したプロ
ーブ装置において、電極部材にはホールド部材と接する
部分に予め絶縁被膜を形成（例えば、エポキシ系の熱硬
化性塗料を焼き付けて固着させる）してホールド部材に
インサート成形で固定した後に試液と接触する面を研削
（絶縁被膜を除去する）してホールド部材と同一面（絶
縁被膜が形成されているので測定の基準は端面の面積の
みとなる、従って電極部材は突出ていても測定には影響
しないが取り扱い等によって絶縁被膜が破損する危険が
あるのでホールド部材と同一面にする）としてから良電
導体をメッキ（金メッキであれば素材の黄銅への拡散を
防止するためにニッケルメッキを先に行う）する。した
がってホールド部材の成形後の内部応力の残留による変
形によって電極部材とホールド部材との密着性が低下し
て隙間が生じても電極部材の外周は絶縁被膜で保護され
ているので試液が電極部材の端面のみに接する、よって
試液との接触面が変化することがないのでので安定した
測定を行うことができる。
【０００５】また、前述したホールド部材の成形収縮に
よる電極部材の突出し部が大きいと研削量が増加するの
で突出量を必要最小量にするために電極部材の試液と接
触する端面の近傍にホールド部材との位置決め部分（溝
または突起）を設けてホールド部材の試液と接触する面
側では成形収縮による移動がおこらないようにしてあ
る。
よる電極部材の突出し部が大きいと研削量が増加するの
で突出量を必要最小量にするために電極部材の試液と接
触する端面の近傍にホールド部材との位置決め部分（溝
または突起）を設けてホールド部材の試液と接触する面
側では成形収縮による移動がおこらないようにしてあ
る。
【０００６】
【実施例】以下、本発明の詳細を添付図に示した好適な
実施例にそって説明する。図１は、本発明のプローブ装
置の斜視図を示してある、１はホルダーで試液と接する
面１ａを有しプローブピン２，３を保持している。プロ
ーブピン２，３には試液と接する面２ａ，３ａ、図示を
省略した計測用の回路と接続される接続部２ｂ，３ｂが
設けてある。
実施例にそって説明する。図１は、本発明のプローブ装
置の斜視図を示してある、１はホルダーで試液と接する
面１ａを有しプローブピン２，３を保持している。プロ
ーブピン２，３には試液と接する面２ａ，３ａ、図示を
省略した計測用の回路と接続される接続部２ｂ，３ｂが
設けてある。
【０００７】図２は、本発明のプローブピン２を代表し
て示した斜視図で、絶縁被膜２ｃおよびホルダー１との
位置決め溝２ｄが設けてある。他の符号は図１と同じな
ので説明を省略する。
て示した斜視図で、絶縁被膜２ｃおよびホルダー１との
位置決め溝２ｄが設けてある。他の符号は図１と同じな
ので説明を省略する。
【０００８】図３は、本発明のプローブピン２を代表し
て示した断面図で、ホルダー１のキャビティー４と収縮
後の状態を示し、プローブピン２に位置決め溝２ｃを設
けてあるのでプローブピン２がホルダー１の試液と接す
る面１ａ側の収縮は小さく面１ａより僅かに突出してい
る。よって、成形後のプローブピン２の研削量が適度に
確保されている。他の符号は図１と同じなので説明を省
略する。
て示した断面図で、ホルダー１のキャビティー４と収縮
後の状態を示し、プローブピン２に位置決め溝２ｃを設
けてあるのでプローブピン２がホルダー１の試液と接す
る面１ａ側の収縮は小さく面１ａより僅かに突出してい
る。よって、成形後のプローブピン２の研削量が適度に
確保されている。他の符号は図１と同じなので説明を省
略する。
【０００９】図４は、従来例でホルダー１のキャビティ
ー４と収縮後のホルダーを示している。プローブピン２
に位置決め部がないので、プローブピン２とホルダー１
の試液と接する面１ａからプローブピン２の先端近傍の
外周部２ｅが突出しているのでプローブピン２試液との
接触面積が外周部２ｅ分増加してしまう。またこれを取
り除くための研削量が増大してしまっている。他の符号
は図１と同じなので説明を省略する。
ー４と収縮後のホルダーを示している。プローブピン２
に位置決め部がないので、プローブピン２とホルダー１
の試液と接する面１ａからプローブピン２の先端近傍の
外周部２ｅが突出しているのでプローブピン２試液との
接触面積が外周部２ｅ分増加してしまう。またこれを取
り除くための研削量が増大してしまっている。他の符号
は図１と同じなので説明を省略する。
【００１０】
【発明の効果】本発明の構成によれば、プローブピンは
試液と接する面以外を絶縁被膜で覆われているので、ホ
ルダーが成形収縮および残留応力等で変形してプローブ
ピンとの間に隙間を生じて試液が侵入しても試液と接す
るプローブピンの面積が変化しないので安定した測定値
が得られる。また、プローブピンにホルダーの位置決め
部をプローブピンが試液と接する面の近傍に設けてある
ので試液と接する面側の成形収縮率は小さく、プローブ
ピンが必要以上に突出すことがないので適度な研削量を
得ることができる。さらに、プローブピンをインサート
した後に試液と接する面を研削して良導電材をメッキす
るのでメッキ材の使用量が少なく、時間も短く経済的で
ある。よって精度よく安定した測定ができ、かつ経済的
なプローブ装置を提供することができる。なお、本発明
は、上記実施例に限定されるものではなく、本発明の概
念内で変更して実施することができる。
試液と接する面以外を絶縁被膜で覆われているので、ホ
ルダーが成形収縮および残留応力等で変形してプローブ
ピンとの間に隙間を生じて試液が侵入しても試液と接す
るプローブピンの面積が変化しないので安定した測定値
が得られる。また、プローブピンにホルダーの位置決め
部をプローブピンが試液と接する面の近傍に設けてある
ので試液と接する面側の成形収縮率は小さく、プローブ
ピンが必要以上に突出すことがないので適度な研削量を
得ることができる。さらに、プローブピンをインサート
した後に試液と接する面を研削して良導電材をメッキす
るのでメッキ材の使用量が少なく、時間も短く経済的で
ある。よって精度よく安定した測定ができ、かつ経済的
なプローブ装置を提供することができる。なお、本発明
は、上記実施例に限定されるものではなく、本発明の概
念内で変更して実施することができる。
【図１】本発明の実施例を示す斜視図である。
【図２】本発明の実施例を示す部分斜視図である。
【図３】本発明の実施例を示す断面図である。
【図４】従来例を示す断面図である。
【図５】従来例を示す斜視図である。
【符号の説明】 １ ホルダー（ホールド部材） ２，３ プローブピン（電極部材） ２ｃ 絶縁被膜 ４ キャビティー
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01N 27/00 - 27/24 G01R 27/00 - 27/32
Claims (5)
- 【請求項１】 電気的絶縁材で形成されたホールド部材
と、前記ホールド部材に保持された試料と接触する面に
電極端面を配置した電極部材と、前記電極部材に接続さ
れる計測用の回路部とで構成されたプローブ装置におい
て、前記電極部材には前記ホールド部材と接する部分に
絶縁被膜を設けたことを特徴とする電気的計測器のプロ
ーブ装置。 - 【請求項２】 前記絶縁被膜に、絶縁性の塗料を用いた
ことを特徴とする請求項１記載の電気的計測器のプロー
ブ装置。 - 【請求項３】 前記電極部材は、前記ホールド部材にイ
ンサート成形後に前記端面が研削されていることを特徴
とする請求項１記載の電気的計測器のプローブ装置。 - 【請求項４】 前記電極部材の前記端面には、研削後に
良電導材がメッキされることを特徴とする請求項１記載
の電気的計測器のプローブ装置。 - 【請求項５】 前記電極部材の前記端面に近い外周部に
前記ホールド部材との位置決め部を設けたことを特徴と
する請求項１記載の電気的計測器のプローブ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14643593A JP3174928B2 (ja) | 1993-06-17 | 1993-06-17 | 電気的計測器のプローブ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14643593A JP3174928B2 (ja) | 1993-06-17 | 1993-06-17 | 電気的計測器のプローブ装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH075198A JPH075198A (ja) | 1995-01-10 |
| JP3174928B2 true JP3174928B2 (ja) | 2001-06-11 |
Family
ID=15407606
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14643593A Expired - Fee Related JP3174928B2 (ja) | 1993-06-17 | 1993-06-17 | 電気的計測器のプローブ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3174928B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001056309A (ja) * | 1999-08-20 | 2001-02-27 | Tic Keisokuki Kogyo Kk | 導電率検出電極およびそれを用いた導電率測定装置 |
-
1993
- 1993-06-17 JP JP14643593A patent/JP3174928B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH075198A (ja) | 1995-01-10 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |