JPH0729505Y2 - 論理波形発生装置 - Google Patents

論理波形発生装置

Info

Publication number
JPH0729505Y2
JPH0729505Y2 JP1986110084U JP11008486U JPH0729505Y2 JP H0729505 Y2 JPH0729505 Y2 JP H0729505Y2 JP 1986110084 U JP1986110084 U JP 1986110084U JP 11008486 U JP11008486 U JP 11008486U JP H0729505 Y2 JPH0729505 Y2 JP H0729505Y2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
data
circuit
clock
logic
logical
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP1986110084U
Other languages
English (en)
Other versions
JPS6317477U (ja
Inventor
英典 小野寺
寛 塚原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Advantest Corp
Original Assignee
Advantest Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Advantest Corp filed Critical Advantest Corp
Priority to JP1986110084U priority Critical patent/JPH0729505Y2/ja
Publication of JPS6317477U publication Critical patent/JPS6317477U/ja
Application granted granted Critical
Publication of JPH0729505Y2 publication Critical patent/JPH0729505Y2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
  • Pulse Circuits (AREA)
  • Synchronisation In Digital Transmission Systems (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 「産業上の利用分野」 この考案は例えば半導体集積回路素子を試験するICテス
ト装置に利用することができる論理波形発生装置に関す
る。
「従来技術」 本出願人は「特公昭59-44648号公報」において論理波形
発生装置を提案した。この論理波形発生装置はクロック
を基準として位相及びパルス幅を変更した論理波形を生
成する装置であって、この生成した論理波形は論理回路
で構成される半導体集積回路を試験する際に試験波形と
して利用される。
即ち論理回路の試験において被試験論理回路の複数の端
子に各種の異なる論理波形を同時に与え、これら論理波
形間の位相を変化させたときに、被試験論理回路の出力
がどのように変化するかを試験する場合がある。
この試験のために基準位相に対し各種の位相を持つ論理
波形を発生する必要がある。
「特公昭59-44648号公報」に開示した論理波形発生装置
は第4図に示すような構成となっている。
つまり二つのD形フリップフロップ12A,12Bとシフトレ
ジスタ25とによって構成され、被験体の端子に「1」か
「0」の何れの論理を与えるかを決める入力論理信号を
その1タイムスロットずつ位相の異なるn個(nは2以
上の整数)の空間に分割し、且つnタイムスロットの有
効期間を有する論理波形に変換する論理波形分割回路10
0と、 二つのシフトレジスタ27,28によって構成され、これら
二つのシフトレジスタ27,28に供給される複数のクロッ
クをそれぞれ1タイムスロットずつ位相がずれたnタイ
ムスロットを周期とするn個のクロック信号に空間分割
するクロック分割回路200と、 ゲート31,32,33,34によって構成された分割回路100で空
間分割された各論理波形によってクロック分割回路200
で空間分割されたクロック信号の対応する位相のものを
取出す論理回路300と、 オアゲート35と36によって構成され論理回路300で取出
されたクロック信号を対応するクロックについてそれぞ
れ時間的に合成する合成回路400と、 ゲート37〜44によって構成される波形モード設定手段50
0と、 ゲート53,54及びゲート55,56によって構成され波形モー
ド設定手段500から取出される論理波形データとクロッ
クとの一致をとる第1、第2データ取出手段600A,600B
と、 これら第1、第2データ取出手段600A,600Bの出力によ
りセット及びリセットされて論理波形を生成するフリッ
プフロップ59とによって構成される。
データ端子11から第5図Aに示す所望する論理波形デー
タが入力され、端子13からクロック(第5図B)はシフ
トレジスタ25の初段及び次段出力として第5図C及びD
に示すように空間分割される。
これらクロックによって入力端子11の2m番タイムスロッ
トデータは第5図Eに示すようにフリップフロップ12A
に2タイムスロット保持され、2m+1番タイムスロット
データは第5図Fに示すようにフリップフロップ12Bに
2タイムスロット保持される。
また端子16,26のクロック群(第5図G,H)も同様に2m番
タイムスロット及び2m+1番タイムスロットに空間分割
され、クロックは2m番タイムスロットではゲート31,32
で第5図Eのデータにより、2m+1番タイムスロットで
はゲート33,34で第5図Fのデータによりそれぞれ制御
され、ゲート31,33から第5図I,Jに示す出力が、またゲ
ート32,34から第5図K,Lに示す出力がそれぞれ得られ
る。
ゲート31,33の出力は合成回路400を構成するオアゲート
35で、またゲート32,34の出力は同じく合成回路400を構
成するオアゲート36でそれぞれ合成される。
ゲート35の出力は波形モード設定手段500を構成するア
ンドゲート37,38に、また反転出力が波形モード設定手
段500を構成するアンドゲート39,40にそれぞれ供給さ
れ、ゲート36の出力はアンドゲート41,42にそれぞれ供
給される。また反転出力はゲート43,44にそれぞれ供給
される。ゲート37〜44には端子群45〜52の選択信号がそ
れぞれ供給され、ゲート37,39,41,43の一つと、ゲート3
8,40,42,44の何れか一つがそれぞれ選択され出力する波
形を設定する。
ゲート37と39の出力をアンドゲート53に、またゲート41
と43の出力をアンドゲート54にそれぞれ供給する。
またゲート38と40の出力をアンドゲート55に、ゲート42
と44の出力をアンドゲート56にそれぞれ供給する。
ゲート53と55には端子16のクロックが遅延回路57を通じ
て供給し、ゲート54と56には端子26のクロックが遅延回
路58を通じて供給される。
遅延回路57,58はシフトレジスタ27,28ゲート31〜44と53
〜56における遅れ分の遅延時間に選定される。
第1データ取出手段600Aを構成するゲート53,54の出力
によりフリップフロップ59がセットされ、第2データ取
出手段600Bを構成するゲート55,56の出力によりフリッ
プフロップ59がリセットされ、フリップフロップ59のQ
出力は出力端子23に供給される。
ここでRZ(Return to Zero)波形を選択したとすると端
子45及び51を高レベルとしてゲート37及び42が選択され
る。2m番タイムスロットに注目し、入力データが論理
「1」であればゲート31,32はクロックを通過させる
(第5図I,Kの2m,2m′)このときゲート33,34はクロッ
クが与えられていないからその出力は「0」論理であ
る。ゲート31の出力はゲート35,37を通過し、更にゲー
ト53で対応するクロックを通過させ、フリップフロップ
59をセットする。
ゲート32の出力はゲート36,42を通過し、ゲート56で対
応するクロックを通過させフリップフロップ59をリセッ
トする。
従って第5図Mに示すようなRZ波形を発生し、もし入力
データが「0」であればゲート31,32の出力は共に
「0」論理であり、フリップフロップ59の出力も「0」
論理に保持されたままである。
2m+1番タイムスロットではフリップフロップ12A,ゲー
ト31,32に代わってフリップフロップ12B,ゲート33,34が
同様に動作する。
この回路構成によればフリップフロップ12A,12Bの各出
力データの有効範囲は2タイムスロットであり、クロッ
ク端子16,26のクロック群の設定も2タイムスロット−t
s-th(tsはフリップフロップのセットアップ時間、th
フリップフロップのホールド時間)の間変化させること
ができる。
一般には論理波形の有効範囲をnT1(nは空間分割数、T
1は1タイムスロットの時間)とすることができ、クロ
ック群の設定範囲はフリップフロップ59のセット、リセ
ットの最小パルス幅をTSRとすると、nT1-TSRとなる。従
って装置を高速化した場合でもnの値を最適に選定すれ
ばクロック群の設定範囲を所望する値にすることができ
る。
「考案が解決しようとする問題点」 先に提案した論理波形発生装置は確かに位相の設定範囲
を拡張できる点で優れている。
然るに技術の進展に伴って被験体となるICの中で1タイ
ムスロット内で複数の論理波形を要求するものが出て来
た。この要求を満たすべく、従来の回路において1タイ
ムスロット内に端子16及び26のそれぞれに複数のクロッ
クパルスを与えたとすると論理回路300における信号の
取出関係(以下ではインターリーブと称す)が正常に行
われなくなる欠点がある。
つまり1タイムスロット内で論理回路300を構成するゲ
ートが複数回動作するため例えば2m番タイムスロット内
に他の例えば2m+1番タイムスロットの論理波形データ
が取出されてしまい、この2m+1番タイムスロットの論
理によって決まる波形が出力されることになり入力端子
11より入る論理波形データに従って出力端子23に出て来
る波形を正常に制御することができない不都合が生じ
る。
「問題点を解決するための手段」 この考案では上記した論理波形発生装置において、クロ
ック分割回路のクロック入力端子と、第1、第2データ
取出手段を構成するゲートへのクロック入力端子とを切
離し、第1、第2データ取出手段を構成するゲートとク
ロック分割回路に供給するクロックとを別々に供給し、
各回路へのクロックの供給数を一致させる構造としたも
のである。
このようにすることによってインターリーブの状態を狂
わせることなく、所望の個数の論理波形を発生させるこ
とができる。
「実施例」 第1図にこの考案の一実施例を示す。図中第4図と対応
する部分には同一符号を付して示す。
この考案においては第1、第2データ取出手段600Aと60
0Bを構成するゲート53〜56のクロック供給端子をクロッ
ク分割回路16Aと26Aから切離し、別に独立してクロック
入力端子16Bと26Bに接続した構成としたものである。
この考案の構成においてクロック分割回路200のクロッ
ク入力端子16A,26Aには第2図G1とH1に示すように1タ
イムスロット内で1個ずつの合計で2個の第1クロック
パルスを与える。この2個の第1クロックパルスによっ
てクロック分割回路200は従来と同様に1タイムスロッ
ト内で動作し、論理回路300を構成するゲート31〜34を
1タイムスロット内において1回の動作に制限すること
ができる。この結果インターリーブの状態が狂うことは
なく、入力された論理波形データの順序に従ってクロッ
クの取出しが実行される。
これに対し第1、第2データ取出手段600Aと600Bのゲー
ト53と55及び54と56にはクロック入力端子16Bと26Bから
第2図G2とH2に示すように1タイムスロット内に発生さ
せる論理波形の数に相当する数の第2クロックを入力す
る。この例では1タイムスロット内に3個の論理波形を
出力させる場合を示す。
このクロックの入力によって入力される論理波形データ
がm1番目のタイムスロットで「1」論理であればフリッ
プフロップ59は第2クロックG2とH2によって3回セット
とリセットを繰返し、出力端子23に第2図Mに示すよう
に3個の論理波形を出力することができる。
2番目のタイムスロットm2では入力論理波形データは
「1」論理であるが、入力端子16Bと26Bに供給する第2
クロックG2とH2を無にすれば出力端子23の出力も無にす
ることができる。
更に次のタイムスロットm3では入力論理波形データが
「0」論理であるため第2クロックG2とH2が存在しても
出力端子23は無信号とすることができる。
第4番目のタイムスロットm4では入力論理波形データが
「0」論理であり、また第2クロックG2,H2も無である
から出力端子23も無信号とすることができる。
第5番目のタイムスロットm5では入力論理波形データが
「1」論理となり、また第2クロックG2とH2も存在する
から出力端子23に所望の数の論理波形を出力することが
できる。従って第1、第2データ取出手段600Aと600Bに
供給する第2クロックの数を所望の数に選定することに
よって1タイムスロット内で所望の数の論理波形を発生
させることができる。
このようにこの考案によればクロック分割回路200と第
1、第2データ取出手段600Aと600Bに供給するクロック
を第1クロックG1,H1と第2クロックG2,H2の別系統に
し、第1、第2データ取出手段600Aと600Bに供給する第
2クロックの数を所望の数に選定することによって1タ
イムスロット内に所望の数の論理波形を入力論理波形デ
ータの論理値に従って出力することができる。
更に第1、第2データ取出手段600Aと600Bに供給する第
2クロックをクロック分割回路200のクロック入力系統
と分けたから選択手段600Aと600Bに供給する第2クロッ
クを必要に応じて停止させることができる。
このために第2クロックの有無によっても論理波形の発
生と非発生を制御することができる。
第3図にこの考案の他の実施例を示す。この例ではクロ
ック分割回路200と論理回路300の代わりにゲート群700
とマルチプレクサ801,802,803,804を設け、このゲート
群700とマルチプレクサ801〜804によってデータ選択手
段を構成し、クロックG1とH1に同期して論理波形データ
を選択する。その選択して取出した論理波形データを第
1、第2データ取出手段600Aと600Bに供給するように構
成した場合を示す。
つまりマルチプレクサ801〜804はクロック入力端子Cに
クロックが入力される毎に入力端子AとBの信号を切替
えて出力端子Qに出力する動作を行う。
ゲート群700は入力端子DまたはE及びFまたはGのそ
れぞれの何れか一方にH論理を与え、出力する波形のモ
ードを設定する。ゲート群700と論理波形データ分割回
路100との間に設けた回路900は出力する波形の極性を選
択するために設けられた回路である。
この第3図の回路構成によっても第1図と同様の動作を
行うことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの考案の一実施例を示すブロック図、第2図
はこの考案の動作を説明するための波形図、第3図はこ
の考案の変形実施例を示すブロック図、第4図は従来の
論理波形発生装置を説明するためのブロック図、第5図
はその動作を説明するための波形図である。 100:論理波形データ分割回路、300,801〜804:データ選
択手段、600A:第1データ取出手段、600B:第2データ取
出手段、59:フリップフロップ回路。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】A.入力論理データをその1タイムスロット
    ずつ位相の異なるn個(nは2以上の整数)の空間に分
    割し、且つnタイムスロットの有効期間を有する論理デ
    ータに変換するデータ分割回路100と、 B.複数のクロックをそれぞれ1タイムスロットずつ位相
    がずれたnタイムスロットを周期とするn個のクロック
    信号に空間分割するクロック分割回路200と、 C.上記空間分割された各クロック信号によって上記空間
    分割された論理データの対応する位相のものを取出す論
    理回路300と、 D.この論理回路で取出された論理データを対応する位相
    を持つ論理データについてそれぞれ時間的に合成する合
    成回路400と、 E.この合成回路の出力から所望の論理データを選択する
    波形モード設定手段500と、 F.上記1タイムスロット毎に出力したい波形の数に対応
    した数のクロックが与えられ、このクロックと上記波形
    モード設定手段で取出した論理データの論理値との一致
    をとる第1、第2データ取出手段と、 G.これら第1、第2データ取出手段の一致出力により、
    それぞれセット、リセットされて論理波形を生成するフ
    リップフロップと、 によって構成した論理波形発生装置。
JP1986110084U 1986-07-18 1986-07-18 論理波形発生装置 Expired - Lifetime JPH0729505Y2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1986110084U JPH0729505Y2 (ja) 1986-07-18 1986-07-18 論理波形発生装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1986110084U JPH0729505Y2 (ja) 1986-07-18 1986-07-18 論理波形発生装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS6317477U JPS6317477U (ja) 1988-02-05
JPH0729505Y2 true JPH0729505Y2 (ja) 1995-07-05

Family

ID=30988779

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1986110084U Expired - Lifetime JPH0729505Y2 (ja) 1986-07-18 1986-07-18 論理波形発生装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0729505Y2 (ja)

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5944648A (ja) * 1982-09-07 1984-03-13 Sansou Seisakusho:Kk デオキシリボ核酸の塩基配列決定方法
JPS60185425A (ja) * 1984-03-05 1985-09-20 Hitachi Ltd 論理波形生成回路

Also Published As

Publication number Publication date
JPS6317477U (ja) 1988-02-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US3818354A (en) Pulse frequency dividing circuit
JP2638281B2 (ja) スキャンパス回路
US4876704A (en) Logic integrated circuit for scan path system
JP2846428B2 (ja) 論理比較回路
US5245311A (en) Logical comparison circuit for an IC tester
JPH0729505Y2 (ja) 論理波形発生装置
TW490568B (en) Timing generation circuit for semiconductor test system
JPH10133768A (ja) クロックシステム、半導体装置、半導体装置のテスト方法、及びcad装置
US7129764B2 (en) System and method for local generation of a ratio clock
JPS5944648B2 (ja) 論理波形発生装置
JP2632512B2 (ja) 半導体集積回路
JP3104604B2 (ja) タイミング発生回路
JPS63254823A (ja) D形フリップフロップを使用した分周回路
JPH01206718A (ja) 乱数発生器
JP3159269B2 (ja) 特定用途向け集積回路
JP3329081B2 (ja) Dutの良否判定回路
JPH0477134A (ja) 多重信号分離回路
JPS609286B2 (ja) タイミング信号発生回路
JPH0641967B2 (ja) 論理波形生成装置
JP2841360B2 (ja) タイミング・ジエネレータ
JP2004347537A (ja) 半導体集積回路
JPH04215079A (ja) タイミング発生器
JP3104603B2 (ja) タイミング発生回路
JP2539956Y2 (ja) テスターのタイミング発生回路
JP3514020B2 (ja) レート発生器