JPH07230959A - 被処理体近傍空間の気流の制御方法及び減圧装置 - Google Patents

被処理体近傍空間の気流の制御方法及び減圧装置

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JPH07230959A
JPH07230959A JP4510094A JP4510094A JPH07230959A JP H07230959 A JPH07230959 A JP H07230959A JP 4510094 A JP4510094 A JP 4510094A JP 4510094 A JP4510094 A JP 4510094A JP H07230959 A JPH07230959 A JP H07230959A
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space
wafer
air
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JP4510094A
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Mitsuaki Komino
光明 小美野
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Tokyo Electron Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 搬送アームなどの搬送手段をその内部に備え
た真空予備室内での気流を制御して、パーティクルの巻
き上げ等を防止し、搬送手段上の平板状の被処理体のコ
ンタミネーションを防止する。 【構成】 被処理体であるウエハWを保持する搬送アー
ム61の保持部62に、気流吹出し口65を設け、この
気流吹出し口65から吹き出される気流によって、ウエ
ハW上に層流Lを形成する。層流LはウエハW上のパー
ティクルを吹き落とし、またエア・バリアとなって他の
パーティクルの飛来、付着を防止する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、被処理体近傍空間の気
流の制御方法、及び当該気流の制御方法を応用した減圧
装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】例えば半導体の製造プロセスにおいて
は、半導体ウエハ(以下、「ウエハ」という)表面に対
してエッチング処理、成膜処理などの各種処理が行われ
ているが、これらの処理は所定の減圧度に調整可能な処
理室内で行われている。ところが被処理体であるウエハ
の処理毎にその都度減圧するのでは、時間がかかり、し
かもパーティクルなどの巻き込みが発生してウエハを汚
染することがあるので、前記各種処理を行う装置には、
ロードロック室と呼ばれる真空予備室がゲートバルブを
介して前記処理室に並設されている。
【0003】このロードロック室は、例えば真空ポンプ
に通ずる排気口を有しており、この排気口を通じて所定
の減圧雰囲気にまで減圧自在となるように構成され、さ
らにこのロードロック室内にはウエハを搬送するための
搬送アームなどが設けられており、処理室と同一減圧度
にまで減圧した後、ゲートバルブを介して、被処理体で
あるウエハをこの搬送アームによって処理室との間で搬
送するようになっている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ところで今日では、半
導体デバイスの高集積化に伴い、ウエハに対するパーテ
ィクルの付着が、その大きさ、付着数ともより厳格に要
求されている。例えば8インチウエハにおいては、パー
ティクルの粒径が0.05μm以上、付着数が3個以下
というようなレベルにまで必要となってきている。
【0005】これに対処するため、製造プロセスについ
てはコンタミネーションの発生防止に関して、種々の提
案がなされているが、例えば前記したロードロック室な
ど処理室以外の部分については、特に気流の制御面から
パーティクルフリーに対しての手段がなかった。即ち従
来のロードロック室は、単に例えば底面に設けた排気口
から室内を真空引きするだけの構成となっており、その
ため、例えば排気時において室内はもちろんのこと、被
処理体であるウエハ近傍に気流の乱れが生じ、その結果
既にこのロードロック室内に存在していたパーティクル
などを舞上げてしまい、ウエハに付着させてしまうな
ど、コンタミネーションの原因となっていた。
【0006】一方これに対し、例えばロードロック室内
にガスをパージするため、適宜のパージガスを供給する
ことも考えられるが、単純にロードロック室内にパージ
ガスを供給するだけでは、やはりウエハ近傍に気流の乱
れを発生させ、パーティクルを舞上げてコンタミネーシ
ョンの原因となってしまう。この点、気流の乱れのみに
ついていえば、パージガスの供給量、風速などを抑えれ
ることにより、ある程度これを改善させることができる
が、そうすると、目的圧力にまで到達するのに時間がか
かってしまい、スループットの低下は否めない。
【0007】本発明はかかる点に鑑みてなされたもので
あり、従来顧慮されていたなかった、被処理体近傍の気
流を制御して、ウエハに対する各種パーティクルの付着
を防止して、コンタミネーションの低減を図ることを目
的とするものである。また本発明では、さらに各種パー
ティクルのパージを図りつつしかもパージや所定の減圧
度に達するまでの時間を短縮させて、結果としてスルー
プットを向上させることもその目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め、まず請求項1によれば、略平板状の被処理体の近傍
空間の気流を制御する方法であって、前記被処理体の一
端部近傍に配置した気流吹出し口から、対向する他端部
に向けて、この被処理体に沿って平行な層流(laminar
flow)を被処理体の上面に形成させることを特徴とす
る、被処理体近傍空間の気流の制御方法が提供される。
【0009】この場合、請求項2に記載したように、前
記被処理体を挟んで前記気流吹出し口と対向する位置に
気流吸込口を設けてもよい。
【0010】請求項3によれば、排気口を具備し、この
排気口から特定空間内の気体を排気可能な如く構成され
た当該特定空間内に、被処理体を搬送する搬送手段を具
備した減圧装置であって、前記被処理体に沿って平行な
層流を被処理体の上面に形成する気流吹出し口を前記搬
送手段に設けたことを特徴とする、減圧装置が提供され
る。
【0011】ここでいう排気口を具備し、この排気口か
ら特定空間内の気体を排気可能な如く構成された当該特
定空間とは、例えば所定の減圧度に調整自在に構成され
ている既述の処理室やロードロック室を始めとして、そ
の他各種処理装置が収容されている空間、例えばクリー
ンルームなどであってもよい。また被処理体を搬送する
搬送手段としては、処理室やロードロック室内に設置さ
れる搬送アームなどの搬送手段や、その他クリーンルー
ム内を走行して被処理体を搬送する、例えば搬送ロボッ
トであってもよい。
【0012】この場合も請求項4に記載したように、前
記被処理体を挟んで前記気流吹出し口と対向する位置に
気流吸込口を設けてもよい。
【0013】さらに請求項5のように、前記空間内にパ
ージガスを供給する給気口を、前記排気口と対向する位
置に設け、さらにこれら給気口と排気口とを結ぶ空間内
に、前記搬送手段を位置させないように構成した減圧装
置としてもよく、またこの場合、この給気口を、請求項
6に記載したように、略ノズル形状としてもよい。
【0014】そして請求項7に記載したように、前記空
間内に供給される給気量と、この空間内から排出される
排気量とを、個別に独立して調整可能なように構成して
もよい。この場合、前記空間内に供給される給気量と
は、給気口を有する場合には、前記気流吹出し口と給気
口から供給される吹出量とがあり、また排気量とは、気
流吸込口がある場合には、排気口と当該気流吸込口から
の吸込量とがある。
【0015】また前記減圧装置を、請求項8に記載した
ように、被処理体に対して所定の処理を施す如く構成さ
れた処理室に並設される、ロードロック室として構成し
てもよい。
【0016】
【作用】請求項1によれば、被処理体の上面に、この被
処理体に沿って層流が他端部に向けて形成されているか
ら、被処理体表面の気流に乱れはない。しかもこの層流
は被処理体の一端部に配置した気流吹出し口から供給さ
れる気流によって形成されているから、例えば清浄空気
を供給することにより、被処理体表面は常に清浄な気流
で覆われ、塵埃などのパーティクルが被処理体表面に付
着することが防止できる。
【0017】請求項2のように、前記被処理体を挟んで
気流吹出し口と対向する位置に気流吸込口を設けた場合
には、層流の形成が容易であり、しかも層流を形成した
気流は直ちに回収されるので、層流を形成した気流自体
がパーティクルを巻き上げるおそれはない。
【0018】請求項3によれば、請求項1と同様、搬送
対象となる被処理体の表面に、層流が形成されているの
で、前記空間内に存在する塵埃などのパーティクルが、
当該被処理体表面に付着することが防止できる。またこ
の層流を形成する気流吹出し口は、搬送手段に設けられ
ているから、搬送手段が適宜移動して空間内における位
置関係が変化するものであっても、被処理体に対する層
流を維持させることが可能になる。
【0019】請求項4によれば、請求項2と同様、層流
の形成が容易であり、しかも層流を形成した気流自体が
前記空間内のパーティクルを巻き上げるおそれはない。
【0020】請求項5によれば、被処理体の上面に形成
される層流とは別個に、給気口と排気口との間に気流が
前記空間内に形成されるので、この気流の風量、風速、
給気量と排気量を適宜調整することにより、当該気流の
周囲の気体を誘引して排気口に搬送することが可能とな
る。従って前記空間内の塵埃などのパーティクルを効果
的に空間内から排出させることができる。しかもこれら
給気口と排気口とを結ぶ空間内には、前記搬送手段が位
置していないので、給気口と排気口との間に形成される
気流は前記空間内の気流を乱してパーティクルを乱舞さ
せることはない。
【0021】請求項6によれば、給気口が略ノズル形状
をなしているので、ベンチュリー(venturi)効果が得
られ、請求項5に記載した周囲の気体の誘引、搬送作用
がさらに向上する。
【0022】そして請求項7に記載したように、前記空
間内に供給される給気量と、この空間内から排出される
排気量とを、個別に独立して調整可能なように構成した
場合には、パージ速度、パージ程度並びに減圧速度並び
に減圧度を自在に調整することが可能になる。例えば給
気量と排気量とを同一に設定すれば、空間内圧力は一定
に維持され、排気量を多くすれば、空間内は次第に減圧
されていく。しかも減圧中においても、被処理体の表面
に依然として層流を形成させておくことも可能である。
また気流吹出し口、給気口、及び気流吸込口、排気口か
らの各給気量、排気量をさらに個別に調整する如く構成
すれば、空間内の状況に応じたより精細な調整、制御が
可能になる。
【0023】請求項8によれば、被処理体に処理を施す
処理室に並設されたロードロック室において、請求項3
〜請求項7の各作用効果が得られるものである。
【0024】
【実施例】以下、本発明の実施例を添付図面に基づき説
明すると、図1は本実施例が用いられたプラズマエッチ
ング装置1の断面を模式的に示しており、このプラズマ
エッチング装置1は、電極板が平行に対向した所謂平行
平板型RIE装置として構成されている。
【0025】このプラズマエッチング装置1は、例えば
表面が酸化アルマイト処理された矩形状の処理容器2を
有しており、この処理容器2は接地されている。またこ
の処理容器2内に形成される処理室内の底部には、セラ
ミックスなどの絶縁板3を介して、被処理体、例えば半
導体ウエハ(以下、「ウエハ」という)Wを載置するた
めの略円柱状のサセプタ支持台4が収容され、さらにこ
のサセプタ支持台4の上部には、下部電極を構成するサ
セプタ5が設けられている。
【0026】前記サセプタ支持台4の内部には、冷媒室
6が設けられており、この冷媒室6には、例えば液体窒
素などの温度調節用の冷媒が冷媒導入管7を介して導入
可能であり、導入された冷媒はこの冷媒室6内を循環
し、その間生ずる冷熱は冷媒室6から前記サセプタ5を
介して前記ウエハWに対して伝熱され、このウエハWの
処理面を所望する温度まで冷却することが可能である。
なお冷媒として、例えば前記したような液体窒素を用い
た場合、その核沸騰により生じた窒素ガスは冷媒排出管
8より処理容器2外へと排出されるようになっている。
【0027】前記サセプタ5には、処理容器2外部に設
置されている高周波電源11からの高周波電力、例えば
13.56MHzの高周波電力が、整合器12、ブロッ
キングコンデンサ13を介して、印加されるようになっ
ている。このサセプタ5の上面中央部は凸状の円板状に
成形され、その上にウエハWと略同形の静電チャック2
1が設けられている。この静電チャック21は、2枚の
高分子ポリイミド・フィルムによって導電層22が挟持
された構成を有しており、この導電層22に対して、処
理容器2外部に設置されている直流高圧電源23から、
例えば1.5kVの直流高電圧を印加することによっ
て、この静電チャック21上面に載置されたウエハW
は、クーロン力よってその位置で吸着保持されるように
なっている。
【0028】前記サセプタ5の上端周縁部には、静電チ
ャック21上に載置されたウエハWを囲むように、環状
のフォーカスリング25が配置されている。このフォー
カスリング25は反応性イオンを引き寄せない絶縁性の
材質からなり、プラズマよって発生した反応性イオン
を、その内側のウエハWにだけ効果的に入射せしめるよ
うに構成されている。
【0029】前記サセプタ5の上方には、このサセプタ
5と平行に対向して、これより約15〜20mm程度離
間させた位置に、接地線30によって接地された上部電
極31が、絶縁材32を介して、処理容器2の上部に支
持されている。この上部電極31は、前記サセプタ5と
の対向面に、多数の拡散孔33を有する、例えばSiC
又はアモルファスカーボンからなる電極板34と、この
電極板34と平行に位置して、両者間に中空部35を形
成する例えば表面が酸化アルマイト処理されたアルミニ
ウムからなる支持板36とを有している。
【0030】前記上部電極31における支持板36の中
央には、ガス導入口37が設けられ、さらにこのガス導
入口37には、ガス導入管38が接続されている。この
ガス導入管38には、図1に示したように、ガス供給管
41、42が接続されており、前記ガス供給管41に
は、バルブ43、マスフローコントローラ44を介し
て、処理ガス供給源45が接続されている。本実施例に
おいては、処理ガスとして例えばCF4が用意されてい
る。他方他のガス供給管42には、バルブ46、マスフ
ローコントローラ47を介してパージガス供給源48が
接続されている。本実施例ではパージガスとして例えば
2が供給されるように構成されている。
【0031】前記処理容器2の下部には排気管51が接
続されており、この処理容器2とゲートバルブ52を介
して隣接しているロードロック室53の排気管54共
々、対応するバルブ55、56を介してターボ分子ポン
プなどの排気手段57に通じており、処理容器2、ロー
ドロック室53共、所定の減圧雰囲気まで真空引きでき
るように構成されている。
【0032】そして前記ロードロック室53内には、搬
送手段となる搬送アーム61が設けられている。この搬
送アーム61は、図2、図3に示した構造を有してお
り、自体の上面に載置されるウエハWを保持する保持部
62と、この保持部62を回転駆動自在に支持している
回転シャフト63とによって構成される。
【0033】前記保持部62の前縁には、ウエハWのオ
リフラ部を係止する係止部64が形成されており、この
係止部64の高さは、保持されたウエハWの上面と面一
となるように設定されている。また前記保持部62の後
方には、図2、図3、図4に示したように、保持したウ
エハWを挟んで前記係止部64側に向けられた気流吹出
し口65を多数有する気流形成部材66を備えた気流形
成部67が設けられている。
【0034】本実施例においては図4に示したように、
気流形成部材66として平板状のものを使用し、これに
多数の透孔を穿設して気流吹出し口65としているが、
もちろんこれに限らず、例えば図5に示したように多孔
質の部材をそのまま気流形成部材66’として用いても
よい。この場合には多孔質の部材における多数の孔がそ
のまま気流吹出し口を形成する。さらに多孔質の部材と
して例えばULPAフィルタをそのまま用いたり、前記
気流形成部材66にULPAフィルタを併用したりして
もよく、その場合には、清浄空気を気流吹出し口から吹
き出させることが可能である。
【0035】さらに気流形成部材も、前記したような平
板状のものに限らず、図6に示したように、その吹出し
面が被処理体であるウエハWの円弧の曲率と適合した円
弧形を有する気流形成部材68としてもよい。
【0036】前記保持部62、気流形成部67、及び回
転シャフト63内には、気流形成部材66の気流吹出し
口65と通ずる流路69が形成されており、さらにこの
流路69には、ガス供給管70が接続されている。そし
てこのガス供給管70は、バルブ71、マスフローコン
トローラ72を介して既述のパージガス供給源48に接
続されている。
【0037】従って、前記パージガス供給源48からガ
ス供給管70を通じてN2が供給されると、図2に示し
たように、気流形成部材66の各気流吹出し口65から
吹き出され、保持部62上面に保持されたウエハWの表
面に沿って、N2による層流Lが形成される。
【0038】一方前記ロードロック室53底部に設けら
れた排気管54は、排気口54aを形成しているが、こ
の排気口54aに対向するロードロック室53上部に
は、給気口75aを形成する給気管75が接続されてい
る。そしてこの給気管75は、バルブ76、マスフロー
コントローラ77を介して、前出パージガス供給源48
に接続されている。
【0039】なお本発明の作用効果を十分に得るために
は、前記排気口54aの面積を大きくとることが好まし
く、そのため例えば図3に示したように複数(図示の例
では3つ)の排気口54aを形成してもよく、これに対
応する給気口75aも同一数形成してもよい。
【0040】前記ロードロック室53内の減圧度は、圧
力センサ78によって検知されるようになっており、こ
の圧力センサ78によって検知された信号はコントロー
ラ79に入力される。そしてこのコントローラ79は、
前記信号に基づいて、既述の排気手段57に通ずる排気
管54に介在しているバルブ56、並びにパージガス供
給源48に接続されているガス供給管70のバルブ7
1、マスフローコントローラ72、及び給気管75のバ
ルブ76、マスフローコントローラ77を夫々独立して
あるいは、連動して制御可能なように構成されている。
【0041】本実施例が使用されたプラズマエッチング
装置1は以上のように構成されており、次にその動作等
について説明すると、まず被処理体であるウエハWは、
カセットチャンバ(図示せず)から、ゲートバルブ(図
示せず)を通って搬送アーム61によってまずロードロ
ック室53内に搬入される。そしてこのロードロック室
53内は、処理容器2内の減圧度と同一になるまで、排
気管54から排気されていく。
【0042】この時搬送アーム61の保持部62上に保
持されているウエハWの表面には、ガス供給管70から
供給されるN2が、気流形成部材66の各気流吹出し口
65から吹き出され、層流LとなってウエハWの表面を
覆っている。従って、前記ロードロック室53内への搬
入動作やカセットチャンバ内への搬入動作によってウエ
ハW表面上に付着していた塵埃などは吹き落とされ、排
気管54の排気口54aからロードロック室53外部へ
と排出される。また前記層流Lは、ウエハW表面を覆う
一種のエア・バリアを形成するので、既にロードロック
室53内に存在していた塵埃などのパーティクルが、ウ
エハW表面に付着することはなく、排気管54の排気口
54aからロードロック室53外部へと排出される。
【0043】この場合、ロードロック室53上部の給気
口75aからさらにパージガス供給源48のN2をロー
ドロック室53内に供給するようにすれば、ロードロッ
ク室53内に存在していた塵埃などのパーティクルは、
給気口75aと排気口54aとの間で形成されるN2
気流によって誘引され、そのまま排気口54aへと搬送
される。従って、ロードロック室53内のパーティクル
のパージを迅速に実施することが可能である。なおかか
る作用に鑑みれば、前記層流LとこのN2のいわば誘引
・搬送気流とは、なるべく距離を隔てて形成されること
が好ましい。
【0044】そしてそのようにロードロック室53内を
パージしつつ所定の減圧度にまで達する時間を早くする
には、例えば排気管54からの排気量をより多くするこ
とによって実現でき、かかる動作はコントローラ79に
よって自動的に制御することが可能である。
【0045】以上のようにしてロードロック室53内が
所定の減圧度に設定された後、ゲートバルブ52が開放
され、ウエハWは搬送アーム61によって処理容器2内
へと搬入され、静電チャック21上に載置される。そし
て高圧直流電源23の印加によって前記ウエハWは、こ
の静電チャック21上に吸着保持される。その後搬送ア
ーム61がロードロック室53内へ後退したのち、処理
容器2内は排気手段57によって真空引きされていく。
【0046】他方バルブ43が開放されて、マスフロー
コントローラ44によってその流量が調整されつつ、処
理ガス供給源45からCF4ガスが処理容器2内に供給
され、この処理容器2内の圧力が例えば10mTorr
に設定、維持された後、高周波電源11が作動して、サ
セプタ5に高周波が印加されると、このサセプタ5と上
部電極31との間でプラズマが生起され、ウエハWに対
して所定のエッチングが施されるのである。
【0047】この間ロードロック室53内に待避した前
記搬送アーム61では、保持部62上に気流形成部材6
6の各気流吹出し口65からN2を吹き出させて、表面
を清浄化させてもよく、例えば処理容器が複数存在する
いわゆる、マルチチャンバタイプの装置においては、他
の処理容器に搬送するウエハの表面を清浄化しつつ、前
記と同様な手順、作用によって再度ロードロック室53
内をパージしつつ、減圧していってもよい。
【0048】なお前記実施例における搬送手段たる搬送
アーム61は、特に被処理体であるウエハを待機保持さ
せるためのバッファ機構を具備していなかったが、近年
スループットのさらなる向上化を意図した新しいマルチ
チャンバタイプの装置が開発されつつある。この種の新
しいマルチチャンバタイプの装置においては、処理容器
からの搬出入の無駄を省いたりするため、搬送アームに
バッファ機構が付設されている。また一般的にこの種の
バッファ機構に保持される被処理体は上下平行に位置し
ている。かかる環境に鑑みれば、本発明は、このような
バッファ機構に対しても容易に適用でき、バッファ機構
に保持された被処理体の表面にも、層流を形成するよう
にすれば、バッファ機構に保持された被処理体に対する
パーティクルの付着も同時に防止できる。
【0049】次に他の実施例について説明すれば、図7
は、前出実施例における搬送アーム61の保持部62
に、さらに気流吸込口81を付加した搬送アーム61’
の縦断面を示している。なお同図中前記実施例と同一番
号で引用される部材は、前記実施例と同一部材を示して
いる。この搬送アーム61’においては、前記気流吹出
し口65と対向するように係止部64の略上方後部に気
流吸込口81を設け、さらに保持部62、回転シャフト
63内に、この気流吸込口81と通ずる専用の流路82
を形成し、この流路と接続される排気管83を、バルブ
84を介して前出排気手段57に接続した構成をとって
いる。そしてこのバルブ84の開閉制御を前出コントロ
ーラ79で行うようにしたものである。かかる搬送アー
ム61’を使用した場合には、保持部62上に保持され
たウエハWの表面の層流の形成が容易であり、またこの
層流の回収は気流吸込口81を通じて別個になされてい
るので、前記のロードロック室53底部の排気管54a
からの排気の直接の影響を受けない。
【0050】また図8に示したのは、排気口54aに対
向してロードロック室53の上部に設ける給気口を、ノ
ズル形状の給気口75bとした例である。即ち給気管7
5の先端を延設してロードロック室53内にまで延ば
し、その端部を先細りとなるテーパ形状とし、その先端
にノズル形状の給気口75bを構成したものである。か
かる給気口75bを用いてロードロック室53内にパー
ジガスを供給すると、給気口75bからの吹出し流によ
ってベンチュリー効果が得られ、周囲の気体の誘引、搬
送作用がさらに向上する。従って、前出実施例における
給気口75aの場合よりも、さらにパージ時間を短縮さ
せることが可能になっている。もちろんこの場合にも、
かかる形状の給気口75bを複数設置してもよい。
【0051】なお前出実施例は、いわゆる平行平板型の
プラズマエッチング装置に並設されるロードロック室に
適用した例であったが、本発明はこれに限らず、他のエ
ッチング装置、例えばマグネトロンRIE装置、ECR
エッチング装置のロードロック室に対しても適用可能で
あり、さらには処理容器自体にも適用することが可能で
ある。また被処理体自体も既述の如き半導体ウエハに限
らず、例えばLCD基板であっても全く同様な効果が得
られる。
【0052】
【発明の効果】請求項1によれば、処理体表面を常に清
浄な気流で覆うことが可能になり、塵埃などのパーティ
クルの付着を防止することが可能である。
【0053】請求項2によれば、前記請求項1の効果を
得るための層流の形成が容易であり、しかもこの層流を
形成した気流自体がパーティクルを巻き上げるおそれは
ない。
【0054】請求項3によれば、搬送手段を有する空間
内にあるパーティクルが被処理体へ付着させることを防
止できる。また前記搬送手段が移動した場合であって
も、前記効果をもたらす層流をそのまま維持させること
が可能である。
【0055】請求項4によれば、請求項3の効果に加え
て、層流の形成が容易で、しかも層流を形成した気流自
体が前記空間内のパーティクルを巻き上げないという効
果が得られる。
【0056】請求項5によれば、前記空間内の塵埃など
のパーティクルをより効果的に空間内から排出させるこ
とができ、スループットも向上する。また被処理体への
パーティクル付着の可能性がより低下し、空間内のコン
タミネーションを効果的に防止できる。
【0057】請求項6によれば、請求項5よりもさらに
効率よくパーティクルを前記空間外へ排出させることが
可能であり、スループットをさらに向上させることが可
能である。
【0058】請求項7によれば、前記空間内のパージ速
度、パージ程度並びに減圧速度並びに減圧度を自在に調
整することが可能になる。
【0059】請求項8によれば、被処理体に処理を施す
処理室に並設されたロードロック室において、請求項3
〜請求項7の各作用効果が得られるものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例にかかるロードロック室を用い
たプラズマエッチング装置の縦断面を模式的に示した説
明図である。
【図2】本発明の実施例における搬送アームの要部断面
図である。
【図3】本発明の実施例にかかるロードロック室を用い
たプラズマエッチング装置の平面を模式的に示した説明
図である。
【図4】本発明の実施例における搬送アームに使用され
た気流形成部材の正面図である。
【図5】本発明の実施例における搬送アームに使用可能
な他の気流形成部材の正面図である。
【図6】本発明の実施例における搬送アームに使用可能
な他の形状の気流形成部材の平面図である。
【図7】本発明の他の実施例における搬送アームの要部
断面図である。
【図8】本発明の他の実施例におけるロードロック室の
給気口を示す縦断面の説明図である。
【符号の説明】
1 プラズマエッチング装置 2 処理容器 48 パージガス供給源 53 ロートロック室 54 排気管 54a 排気口 61 搬送アーム 62 保持部 65 気流吹出し口 66 気流形成部材 75 給気管 75a 給気口 W ウエハ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H01L 21/306 21/31

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 略平板状の被処理体の近傍空間の気流を
    制御する方法であって、前記被処理体の一端部近傍に配
    置した気流吹出し口から、対向する他端部に向けて、こ
    の被処理体に沿って平行な層流を被処理体の上面に形成
    させることを特徴とする、被処理体近傍空間の気流の制
    御方法。
  2. 【請求項2】 前記被処理体を挟んで前記気流吹出し口
    と対向する位置に気流吸込口を設けたことを特徴とす
    る、請求項1に記載の被処理体近傍空間の気流の制御方
    法。
  3. 【請求項3】 排気口を具備し、この排気口から特定空
    間内の気体を排気可能な如く構成された当該特定空間内
    に、被処理体を搬送する搬送手段を具備した減圧装置で
    あって、 前記被処理体に沿って平行な層流を被処理体の上面に形
    成する気流吹出し口を前記搬送手段に設けたことを特徴
    とする、減圧装置。
  4. 【請求項4】 前記被処理体を挟んで前記気流吹出し口
    と対向する位置に気流吸込口を設けたことを特徴とす
    る、請求項3に記載の被処理体の減圧装置。
  5. 【請求項5】 前記空間内にパージガスを供給する給気
    口を、前記排気口と対向する位置に設け、さらにこれら
    給気口と排気口とを結ぶ空間内に、前記搬送手段を位置
    させないことを特徴とする、請求項3又は4に記載の減
    圧装置。
  6. 【請求項6】 前記給気口を略ノズル形状としたことを
    特徴とする、請求項3、4又は5に記載の減圧装置。
  7. 【請求項7】 前記空間内に供給される給気量と、この
    空間内から排出される排気量とを、個別に制御する如く
    構成したことを特徴とする、請求項3、4、5又は6に
    記載の減圧装置。
  8. 【請求項8】 前記減圧装置が、前記被処理体に対して
    所定の処理を施す如く構成された処理室に並設される、
    ロードロック室として構成されていることを特徴とす
    る、請求項3、4、5、6又は7に記載の減圧装置。
JP4510094A 1994-02-17 1994-02-17 被処理体近傍空間の気流の制御方法及び減圧装置 Withdrawn JPH07230959A (ja)

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