JPH07227690A - はんだ合金及びターゲット構造体 - Google Patents

はんだ合金及びターゲット構造体

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JPH07227690A
JPH07227690A JP2284594A JP2284594A JPH07227690A JP H07227690 A JPH07227690 A JP H07227690A JP 2284594 A JP2284594 A JP 2284594A JP 2284594 A JP2284594 A JP 2284594A JP H07227690 A JPH07227690 A JP H07227690A
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JP
Japan
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solder
backing plate
solder alloy
sputtering target
target
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Application number
JP2284594A
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English (en)
Inventor
Susumu Nakagama
晋 中釜
Atsushi Hayashi
篤 林
Fuminori Watanabe
文範 渡辺
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AGC Inc
Original Assignee
Asahi Glass Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【構成】Inが30〜60wt%と、Snが30〜60
wt%と、及びZnが0.1〜10wt%とからなるは
んだ合金2及び該はんだ合金を用いて接合されるスパッ
タリングターゲット。 【効果】スパッタリングターゲットとバッキングプレー
トが低温で接合可能となり、バッキングプレートの反り
の低減、ターゲットの割れの防止ができるとともに下地
層のCuの酸化が大幅に低減できるため接合性が改善さ
れる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、はんだ合金及びターゲ
ット構造体に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、Inを主成分とするはんだは、主
にスパッタリング用ターゲットのボンディング材とし
て、一部、電子機器や電装部品などのはんだとして、耐
熱性の乏しい部品の接合、ジョセフソン素子の接合等に
利用されてきた。
【0003】Inはんだは主にスパッタリングターゲッ
トとCu製バッキングプレートとのろう材として使用さ
れているがInの融点である156℃付近ではCuの酸
化が激しくInとCuの濡れ性を悪化させる一因となっ
ていた。また、装置の大型化、あるいは、水冷管がろう
材にて接合されバッキングプレート等のバッキングプレ
ートの大型化、複雑形状化に伴い、Cuと被覆層との熱
膨張差や、ろう材とCuとの熱膨張差や、Cu自身の加
熱、冷却温度むらなどの要因によるバッキングプレート
の反りが問題となってくる。
【0004】また、InとCuとスパッタリングターゲ
ットの3つの間の熱膨張差により、室温へ冷却後、残留
応力が発生し、これがスパッタリング時のターゲットの
割れやバッキングプレートの反りの原因となり、大きな
問題となっていた。
【0005】さらに、はんだは、一般に溶融状態で使用
されるため、使用時の雰囲気中に含まれる酸素、及び、
はんだ自身に含まれる酸素と反応して大量の酸化物を生
成するため、はんだの接合性、利用効率等の点から多く
の問題を起こす要因となってきた。
【0006】そこで特開昭62−230493号公報な
どで難酸化性のはんだも提案されているが、融点が20
0℃以上の高温となり、熱膨張差低減の効果はさほど期
待できない。また、電子機器や電装部品などのはんだと
して利用する場合も、各素材の熱膨張率のミスマッチ等
が原因となり、はんだ部位の信頼性が乏しくトラブルの
原因となるため、この点からも低融点かつ難酸化性のは
んだへの関心が高まってきている。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、従来技術が
有していた前述の欠点を解消しようとするものであり、
低融点化が図られた、また、はんだの溶融時における酸
化物の発生が抑制された、さらには、はんだの濡れ性等
のはんだ付け性が改善されたはんだ合金を提供すること
を目的とするものである。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明は、前述の課題を
解決すべくなされたものであり、Inが30〜60wt
%と、Snが30〜60wt%と、及びZnが0.1〜
10wt%とからなるはんだ合金を提供するものであ
る。
【0009】本発明におけるはんだ合金は、Inが48
〜52wt%と、Snが46〜50wt%と、及びZn
が0.5〜2wt%の組成が好ましく、特に、Inが5
0wt%と、Snが48wt%と、及びZnが2wt%
の組成が好ましい。これは、Inが50wt%と、Sn
が48wt%と、Znが2wt%の組成付近で3成分の
共晶となることによる。なお、本明細書におけるwt%
及び酸化増量とは次式で示される。 wt%=(各成分の重量/各成分の合計重量)×100 酸化増量(wt%)=((酸化後のはんだ重量−酸化前
のはんだ重量)/酸化前のはんだ重量)×100 酸化後のはんだ重量(g)とは、はんだを所定の温度で
空気中で加熱して得られるはんだ合金、及び、生成され
るはんだ合金の酸化物との合計の実測重量であり、酸化
前のはんだ重量(g)とは、室温でのはんだの実測の重
量である。
【0010】
【作用】本発明のはんだ合金は、In−Sn−Zn共晶
組成付近であるため、融点が100〜130℃になり、
通常のスパッタリングターゲットのボンディング用はん
だ(In)に比較して50℃前後低く、はんだ付け作業
温度も下げることができる。また、この作業温度でのは
んだの酸化増量は通常のスパッタリングターゲットのボ
ンディング用はんだに比較して1/3以下に減少する。
【0011】これによりスパッタリングターゲットとバ
ッキングプレートの間のボンディング層に残留する酸化
膜による接合不良箇所を大幅に減少させることができ
る。すなわち、ボンディング層の信頼性が大幅に向上す
るため、製品歩留まりが著しく改善される。また、作業
温度の低減は、作業環境を改善させることができる。こ
れらは、In−Sn−Znの共晶組成において、特に顕
著な効果が認められる。
【0012】
【実施例】以下に、本発明の実施例を説明する。
【0013】なお、本発明のはんだ合金は、金属Inと
金属Sn及び金属Znを各々所定の重量比で真空雰囲気
下、350℃にて溶解させ、均一な溶融合金にした後、
鋳型に流し込んで冷却したものである。
【0014】[実施例1〜3及び比較例1〜3]本発明
により得られたはんだ合金3種類と、比較例1として金
属In、比較例2として金属In−Sn共晶はんだ、及
び比較例3として特開平2−197396号公報で提案
されているはんだを用いてITO(In23 −SnO
2 )スパッタリングターゲット(1250×210×1
0mm)とCu製バッキングプレート(1280×24
0×6mm)とのボンディングを行った。ボンディング
は各はんだにつき50回行った。その模式図を図1に示
す。ボンディングした際の作業温度は、各はんだ合金の
融点よりもそれぞれ30℃高い温度とした。
【0015】ボンディングしたスパッタリングターゲッ
トは室温まで30分で冷却後、ボンディング後のターゲ
ットの割れの有無、バッキングプレートの反り及びター
ゲットとバッキングプレートの接合状況を調べた。その
結果を表1に示す。
【0016】なお、各はんだの組成、融点、作業温度時
のはんだの酸化増量は表1に示す通りである。また、表
1において割れとは、50回のボンディングによりター
ゲットの割れた回数のことである。バッキングプレート
の反り(以下、反りと記す)は、バッキングプレートの
長手方向(1280mm)において、1mm以上の凹凸
のあるものを示し、また、ターゲットとバッキングプレ
ートの接合不良(以下、接合不良と記す)は、ボンディ
ング層部に10cm2 以上酸化膜の残留しているものを
示し、それぞれの回数を示している。
【0017】
【表1】
【0018】
【発明の効果】本発明のIn、Sn、及びZnとからな
るはんだを用いることにより、スパッタリングターゲッ
トとバッキングプレートが低温で接合可能となり、これ
によりスパッタリングターゲットとバッキングプレート
との接合時の加熱温度が通常用いられるInに比べ大幅
に低下するため、バッキングプレートの加熱による反り
が大幅に低減できる。
【0019】また、接合時の加熱温度の低温化により加
熱、冷却時のターゲットの割れが防止できる。また、バ
ッキングプレートまたはスパッタリングターゲットの下
地層等に用いられているCuの酸化が大幅に低減できる
ためCuとはんだとの濡れ性が空気中でも大幅に改善さ
れ、接合性が改善される。
【0020】また、はんだ自体の酸化物の生成量もIn
と比較して大幅に減少し、また、バッキングプレートと
スパッタリングターゲットとの熱膨張差によるミスマッ
チが原因となるスパッタリングターゲットの残留応力が
低減でき、スパッタリングターゲットの割れが防止でき
る。
【0021】さらに、150℃以上で酸化するスパッタ
リングターゲットの接合にも非常に有効となる。これは
スパッタリングターゲットにとどまらず樹脂と金属、樹
脂とセラミックス、樹脂同士の接合にも有効となる。特
に、導電性を持たせたいもの同士の接合には非常に有効
となる。
【0022】また、はんだ自体としては、はんだの溶融
時の酸化が抑制されるため、歩留まりが向上し、また、
ターゲットとバッキングプレートのボンディングに通常
用いられるようなIn含有量(50%程度)にできるた
め、コスト低減に対して非常に有効である。
【0023】また、電子機器や電装部品などのはんだと
して利用する場合、各素材の熱膨張差によるミスマッチ
等を抑制でき、かつ強度もIn単体と比較して2倍以上
大きいため、はんだの接合の信頼性が向上し、部品の歩
留まり向上に大きく貢献する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例に係るボンディングされたI
TOスパッタリングターゲットと銅製バッキングプレー
トの断面図
【符号の説明】
1:ITOスパッタリングターゲット 2:はんだ合金 3:Cu製バッキングプレート

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】Inが30〜60wt%と、Snが30〜
    60wt%と、及びZnが0.1〜10wt%とからな
    るはんだ合金。
  2. 【請求項2】Inが48〜52wt%と、Snが46〜
    50wt%と、及びZnが0.5〜2wt%とからなる
    請求項1のはんだ合金。
  3. 【請求項3】Inが50wt%と、Snが48wt%
    と、及びZnが2wt%とからなる請求項2のはんだ合
    金。
  4. 【請求項4】スパッタリングターゲットとバッキングプ
    レートとを請求項1〜3いずれか1項のはんだ合金によ
    り接合してなるターゲット構造体。
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