JP3643008B2 - はんだ付け方法 - Google Patents

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は電子回路基板のはんだ付けに用いるはんだ付け方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
近年の実装技術において、電子部品の小型化、高密度実装化が急速に進んでいる。それに伴い、はんだ材料の狭ピッチ対応、高信頼性化等の高機能化への要求が急速に高まっている。また、環境への関心が高まる中、電子回路基板などの産業廃棄物の処理についても法的に規制をしようとする動きがある。
【0003】
以下に上述した従来のはんだ材料の一例について図面を参照にしながら説明する。図2は従来のはんだ材料の合金組織及び従来のはんだ材料と銅ランドとの接合界面での金属組成を示すものである。図2において、1はα固溶体でSnリッチ相である。2はβ固溶体でPbリッチ相である。3は金属間化合物であり、その組成はCu3 Snである。4は金属間化合物であり、その組成はCu6 Sn5 である。5はCuランドである。
【0004】
以上のような従来のはんだ合金はその金属組成がSnとPbの共晶合金であり、その構成成分としてSnを63重量%及びPbを37重量%からなるもので183℃に共晶点をもつものであった。また、その合金組織はα固溶体1とβ固溶体2がラメラ状となっていた。また、はんだ/銅ランド接合界面においては金属間化合物3及び4が形成されていた。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、環境保護の立場から、はんだ材料(Sn−Pb合金)中に含まれ有毒物質である鉛の規制が国際的に急速に進みつつある。従来のはんだ材料によりはんだ付けされたプリント回路基板の廃棄物が酸性雨にさらされると、有害物質である鉛が大量に溶出するので、その毒性により人体が神経障害等の悪影響を受けるという問題点を有していた。また、従来のはんだ材料はその合金組織がラメラ状となっており、高温環境下にさらされると、その組織の肥大化が生じ、はんだに応力がかかるとその組織界面ですべりが生じ、はんだクラックが生じるという問題点を有していた。さらに、はんだ付け時及び高温環境下において、はんだ/銅ランド接合界面に二層の硬く、脆い金属間化合物が成長するので接合界面でクラックが生じるという問題点を有していた。
【0006】
本発明は上記問題点に鑑み、はんだ材料中に鉛を含まないようにするとともに、その合金組織を微細化し、また、はんだ/銅ランド接合界面で金属間化合物の成長を抑制することで高温環境下で経時変化が少なく高温疲労特性に優れたはんだ付け方法を提供することを目的とする。
【0007】
【0008】
【課題を解決するための手段】
本発明のはんだ付け方法は、Agを2.5〜4.0重量%、Biを5〜18重量%、Cuを0.1〜0.7重量%、Inを0.1〜1.5重量%含み残部がSnであるSn−Ag−Bi−Cu−In系のはんだ合金を用いたはんだ付けの凝固過程において、前記はんだ合金を急冷凝固させ金属間化合物を微細分散させることを特徴とする。
【0009】
【0010】
本発明によれば、Snを主成分とするはんだに関し、Agを少量添加することで微細な合金組織を持つ耐熱疲労特性に優れた合金を得ることができる。またBiを少量添加することで融点を下げ、及び濡れ性を改善することができる。またCuを少量添加することではんだ/銅ランド接合界面での金属間化合物の成長を抑制することができる。また、Inを少量添加することで合金の伸び特性及び耐熱疲労特性を改善することができる。
【0011】
本発明において、はんだ合金の組成を上述のように限定した理由を説明する。Agは耐熱疲労特性を改善させるが、その添加量が2.5重量%よりも少なくなれば耐熱疲労特性を改善させる効果が十分ではない。また220℃以下の融点を確保するために4.0重量%以下としなければならない。それを越えて添加すると融点は急激に上昇してしまうので好ましくない。よって、Agの好適な添加量は2.5〜4.0重量%である。
【0012】
Biは融点を下げ、濡れ性を改善するが、添加量が5重量%よりも少なければその効果は十分ではない。また、18重量%を越えるとはんだ付け強度が得られなくなるので好ましくない。よって、Biの添加量は5〜18重量%が好適である。
【0013】
Cuは高温特性を改善し、はんだ/銅ランド接合界面の金属間化合物の形成を抑制させる効果があるが、0.1重量%よりも少ない添加ではその効果は現れず、0.7重量%を越えて添加すると硬く、脆くなる。よって、Cuの好適な添加量は0.1〜0.7重量%である。
【0014】
Inは伸び特性、濡れ性及び耐熱疲労特性を改善させる効果があるが、0.1重量%より少ない添加ではその効果は現れず、1.5重量%を越えて添加すると合金の機械的強度を劣化させる。そのため、Inの好適な添加量は0.1〜1.5重量%である。
【0015】
本発明のはんだ付け方法における急冷法としては、冷風吹付けが好適であり、その冷却速度は5〜15℃/秒、特に10℃/秒前後が好適である。
【0016】
本発明によれば、急冷凝固によってAg3 Sn、Cu3 Sn、CuSn5 の金属間化合物の成長を抑制して、これらを微細分散させることができるので、機械的強度、耐熱疲労特性の向上を図ることができる。
【0017】
【発明の実施の形態】
本発明の実施の形態を、表1に示す参考例、実施例1、2及び比較例1、2に基き具体的に説明する。
【0018】
表1は参考例、実施例1、2、比較例1、2のはんだ合金について、その組成(重量%)、融点、濡れ性、接合強度、及び熱衝撃特性を示したものである。
【0019】
【表1】
Figure 0003643008
【0020】
融点は、それぞれのはんだ合金を熱分析により測定した。
【0021】
また、濡れ性、接合強度、熱衝撃試験は、それぞれのはんだ合金を大気用RMAタイプのクリームはんだにしたものを作製しそれを用いて行った。
【0022】
濡れ性については、0.5mmピッチのOFPを実装後、その1リードあたりのピーリング強度を測定した。
【0023】
熱衝撃試験は、気相式熱衝撃試験機により、試験条件:−40℃(30分)〜常温(5分)〜80℃(30分)、500サイクルで行い、クラックの有無で評価した。
【0024】
上記はんだ合金をクリームはんだにする場合、フラックスの種類は特に限定されることはなく、大気リフロー対応、窒素リフロー対応、RA、RMA等のフラックスの使用が可能であった。好ましくは、活性力があり、かつ比較的耐腐食性にも優れる大気用RMAタイプのフラックスが適していた。
【0025】
なお、比較例1はSn96.5重量%、Ag3.5重量%のはんだ合金であり、比較例2はSn63重量%、Pb37重量%のはんだ合金である。
【0026】
(参考例)
参考例のはんだ合金は、Sn90.5重量%、Ag3.5重量%、Bi6重量%の三成分はんだ合金である。
【0027】
このはんだ合金を大気用RMAのフラックスを用いてクリームはんだとし、その融点、濡れ性、接合強度、熱衝撃試験を行った。その結果は表1に示すとおりである。又はんだの引張り強度試験を行った結果、8.3kgf/mm2 であり、比較例2が6.5kgf/mm2 であったことに比較すると、強度向上が顕著であった。
【0028】
次にはんだ付け時の凝固過程において、急冷凝固させると、図1に示すように金属間化合物(Ag3 Sn)6の成長が抑制され、これを微細分散させることができ、更に機械的強度の上昇、耐熱疲労特性の向上を図ることができた。またはんだ/銅ランド接合界面での金属間化合物の成長を抑制することができた。なお、急冷凝固においては、冷風吹付け法を用い、約10℃/秒の冷却速度ではんだ付け部を冷却した。
【0029】
(実施例
実施例のはんだ合金は、Sn85.5重量%、Ag3重量%、Bi10重量%、Cu0.5重量%、In1重量%の五成分はんだ合金である。
【0030】
各試験結果は表1に示すとおりであるが、参考例に比較し、融点の低下、接合強度の向上を図ることができた。
【0031】
この実施例のはんだ合金についても、はんだ付け時に急冷凝固させた。その結果更に機械的強度の上昇、耐熱疲労特性の向上を図ることができた。
【0032】
(実施例
実施例のはんだ合金は、Sn80.5重量%、Ag3重量%、Bi15重量%、Cu0.5重量%、In1重量%の五成分はんだ合金である。
【0033】
実施例は実施例に比較して、Biの含有量を増やしたものであるが、その結果表1に示すように、融点を低下させることに格別の効果があった。
【0034】
この実施例のはんだ合金についても、はんだ付け時に急冷凝固させた。その結果更に機械的強度の上昇、耐熱疲労特性の向上を図ることができた。
【0035】
【発明の効果】
以上から明らかなように本発明は、Snを主成分とするはんだに関し、Agを少量添加することで微細な合金組織を持ち、組織変化を少なくすることが可能で、耐熱疲労特性に優れた合金を得ることができる。さらに、Biを少量添加することで融点を下げ、及び濡れ性を改善することができる。また、Cuを少量添加することではんだ/銅ランド接合界面での金属間化合物の成長を抑制することができるので接合強度を改善することができる。また、Inを少量添加することで合金の伸び特性を改善して耐熱疲労特性を改善することができる。
【0036】
また、はんだ付けの冷却過程において急冷凝固させることではんだ合金組織を微細化し、かつはんだ/銅ランド接合界面の金属間化合物の成長を抑制することができるために機械的強度及び耐熱疲労特性に優れたはんだ合金を得ることができる。
【0037】
また、その組成に有毒物質である鉛を含んでいないはんだを提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の実施形態におけるはんだ合金の組織を示す図。
【図2】 従来のはんだ材料の合金組織及びはんだ/銅ランド接合界面での金属組成を示す図。

Claims (3)

  1. Agを2.5〜4.0重量%、Biを5〜18重量%、Cuを0.1〜0.7重量%、Inを0.1〜1.5重量%含み残部がSnであるSn−Ag−Bi−Cu−In系のはんだ合金を用いたはんだ付けの凝固過程において、前記はんだ合金を急冷凝固させ金属間化合物を微細分散させるはんだ付け方法。
  2. 銅ランドにはんだ付けするに際し、Agを2.5〜4.0重量%、Biを5〜18重量%、Cuを0.1〜0.7重量%、Inを0.1〜1.5重量%含み残部がSnであるSn−Ag−Bi−Cu−In系のはんだ合金を用いたはんだ付けの凝固過程において、前記はんだ合金を急冷凝固させ金属間化合物を微細分散させるはんだ付け方法。
  3. はんだ合金を、冷風吹付けにより5〜15℃/秒の冷却速度で急冷凝固させる請求項1または2記載のはんだ付け方法。
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