JPH07214458A - フィードバック式加工条件補正装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】加工機と測定機との間に複数の加工後ワークが
待機させられ、最新の加工条件の影響が直ちには測定値
に現れない加工システムにおいて使用され、蓄積した過
去の複数の測定値をフィードバックすることによって次
に加工されるべきワークの加工条件の補正値を決定し、
その後測定値の蓄積を無蓄積状態から再開する自動補正
と作業者からの指令に基づく手動補正とが可能な装置に
おいて、測定値の蓄積開始から補正値決定までの各回の
自動補正期間内において、最新の加工条件での測定値を
精度よく予測して補正値を精度よく決定する。 【構成】各回の自動補正期間（図では四角形の枠）内に
おいて、前回の自動補正値Ｕi-1 が測定値に現れる（図
では実線グラフの段差）前は測定値にその自動補正値Ｕ
i-1 と手動補正値Ｕ’との和を加算し、現れた後は手動
補正値Ｕ’のみを加算することにより、最新の加工条件
下での測定値を精度よく予測する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、加工されたワークの寸
法誤差に関連する情報をフィードバックすることによ
り、次に加工されるべきワークの加工条件を補正するフ
ィードバック式加工条件補正装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】上記フィードバック式加工条件補正装置
（以下、単に「補正装置」ともいう）は一般に、(a) 複
数のワークの各々を順に加工する加工機と、(b) 外部か
ら供給される補正値に基づいて加工機の加工条件を決定
し、その決定した加工条件に従って加工機を制御する加
工機制御手段と、(c) 加工機により加工された複数のワ
ークの各々の寸法を順に測定する測定機とを備える加工
システムにおいて使用され、(d) 測定機による測定値に
基づき、加工機により次に加工されるべきワークに対応
する補正値を決定する補正値決定手段と、(e) 決定され
た補正値を加工機制御手段に供給する補正値供給手段と
を含むように構成される。

【０００３】加工機により加工されたワークが直ちに測
定機によって測定される形式の加工システムにおいて
は、最新の補正値の影響を受けた加工条件の下に加工さ
れたワークが直ちに測定機によって測定され、最新の補
正値の影響が直ちに実際の測定値に現れるから、最新の
補正値の適否を迅速に判断することができる。したがっ
て、この形式の加工システムにおいて上記の補正装置を
使用する場合には、加工条件の補正値の精度を比較的簡
単に向上させ得る。しかし、加工システムには、加工機
と測定機との間にその測定機による測定を待つワークが
存在する形式も存在し、このむだ時間存在式の加工シス
テムにおいては、最新の補正値の影響を受けたワークが
直ちには測定機によって測定されず、最新の補正値の影
響がむだ時間の経過後にはじめて実際の測定値に現れ
る。そのため、このむだ時間存在式の加工システムにお
いて上記の補正装置を使用する場合には、加工条件の補
正値を精度よく決定することが比較的困難である。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】このような事情を背景
とし、本出願人はこのむだ時間存在式の加工システムで
の使用に最適な補正装置を研究中である。その結果、本
出願人は先に次のような補正装置を提案した。それは、
(a) 測定機による測定値を逐次蓄積し、蓄積された測定
値の数が設定複数個以上となったときに、それら蓄積さ
れた最新の設定複数個の測定値に基づき、前記加工機に
より次に加工されるべきワークの加工条件の補正値を決
定し、各回の補正値の決定時期以後に、測定値の蓄積を
無蓄積状態から再開し、その再開時期から、前回の補正
値の影響を実際に受けた加工条件に従って加工された少
なくとも１個のワークのうち最初に測定機により測定さ
れることとなる先頭補正対象ワークより１回だけ先に加
工されたワークについてその測定が終了する時期までの
間は、その測定機によりワークが測定されるごとに、実
際の各測定値と前回の補正値とに基づき、それら各ワー
クがその前回の補正値の影響を受けた加工条件に従って
加工されたと仮定した場合にそれら各ワークについて測
定される値を予測し、その予測した測定値を実際の測定
値とみなして蓄積し、蓄積された最新の設定複数個の測
定値に基づいて今回の補正値を決定する補正値決定手段
と、(b) その補正値決定手段により決定された複数の補
正値をそれぞれ順に前記加工機制御手段に供給する補正
値供給手段とを含む補正装置である。

【０００５】ここに、補正値決定手段は、ある回の測定
値の蓄積開始から補正値決定までの一回の自動補正期間
内のある時期に必ず、最新の補正値である前回の補正値
の影響を受けた先頭補正対象ワークが測定機に測定され
るという仮定を採用されている。したがって、図３８に
概念的に表すように、ある回の自動補正期間（図におい
て四角形の枠で示す。他の自動補正期間についても同
じ）が終了してその回の補正値Ｕが決定された後に別の
自動補正期間が開始されれば、その別の自動補正期間に
おいては、その中途で前回の補正値Ｕi-1 の影響が実際
の測定値に現れる（図において実線グラフが段階的に変
化することで示す）。したがって、その別の自動補正期
間においては、測定値の蓄積開始から前回の補正値Ｕi-
1 の影響が実際の測定値に現れるまでの期間は、実際の
各測定値に前回の補正値Ｕi-1 を加算することによって
最新の加工条件の下での測定値の予測が行われて測定値
の蓄積が行われ、一方、前回の補正値Ｕi-1 の影響が実
際の測定値に現れた時期から今回の補正値Ｕi が決定さ
れるまでの期間は、実際の測定値がそのまま蓄積され
る。そして、それら双方の期間において蓄積された設定
複数個の測定値に基づいて今回の補正値Ｕi が決定され
る。なお、この提案装置に係る発明は本出願人の特願平
４−３５８２４９号として出願中である。

【０００６】この提案装置においては、補正値決定手段
による補正値決定に作業者の介入を必要としないが、例
えば加工機の加工具（例えば、研削砥石等）を交換する
場合などには、ワークの品質維持等のため作業者の介入
が必要とされる。

【０００７】加工具交換等の場合にも、加工条件の自動
補正によってワークの実寸法はしだいに目標寸法に近づ
き、やがては目標寸法に収束する。しかし、むだ時間存
在式の加工システムでは、加工具交換等の影響を受けた
ワークを直ちに測定機で測定することができないため、
加工具交換等の影響を最初に受けたワークが測定機に到
達するまでの間に、実寸法が許容範囲を超えて使用に適
しないワークが発生するおそれがある。そこで、加工具
交換等など、測定値に比較的大きな変化を生じさせる事
象が発生した場合には、加工機と測定機との間（望まし
くは、加工機にできる限り近い位置）にワークの加工精
度等の加工品質を必要に応じて確認するチェックステー
ションを設け、そこでの確認結果に基づいて加工条件を
作業者が手動で強制的に補正することが望ましい。チェ
ックステーションの配置態様の一例を図３９に概念的に
表す。図においてチェックステーションを「ＣＫ」で表
す。

【０００８】そのような事情を背景にし、提案装置にお
ける補正値決定手段が上述の自動補正のみならず作業者
からの指令に応じて手動補正値を決定する手動補正をも
実行可能とするため、本出願人はその提案装置を次のよ
うに改良した。図４０に概念的に示すように、ある回の
自動補正期間内に作業者から手動補正指令が出されたな
らば、直ちにその自動補正を中止して手動補正指令に基
づく手動補正値Ｕ’を加工機制御手段に供給し、その
後、新たに自動補正を開始するように改良したのであ
る。その新たな自動補正においては、中止された前回の
自動補正において蓄積された測定値を無視して無蓄積状
態から測定値の蓄積が開始されるとともに、実際の各測
定値に最新の補正値である手動補正値Ｕ’を加算するこ
とにより、その手動補正値Ｕ’の影響を受けた加工条件
の下でワークが加工されたと仮定した場合に測定される
寸法が予測され、その予測後の測定値が蓄積され、蓄積
された設定複数個の測定値に基づいて今回の自動補正値
Ｕi が決定される。

【０００９】この改良装置では、手動補正直後の自動補
正においては、中止された自動補正の直前の自動補正に
係る自動補正値Ｕi-2 （前々回の補正値）の影響を全く
考慮することなく、手動補正値Ｕ’（前回の補正値）の
み考慮して測定値の予測が行われる。しかし、図４１に
概念的に示すように、新たな自動補正（図において中央
の四角形の枠で表す）において、手動補正値Ｕ’の影響
のみならず自動補正値Ｕi-2 の影響も実際の測定値に現
れない期間が存在する場合がある。そのため、この場合
には、その現れない期間内では、手動補正値Ｕ’しか考
慮されることなく測定値の予測が行われてしまい、予測
後の測定値の中に、最新の加工条件（手動補正値Ｕ’お
よび自動補正値Ｕi-2 双方の影響を受けたもの）の下で
の真の値からやや大きく外れた測定値が存在することに
なり、測定値の予測精度が低下し、ひいては今回の自動
補正値Ｕi の決定精度が低下する。

【００１０】以上の説明から明らかなように、この改良
装置においては、自動補正期間の途中で手動補正指令が
出された場合には、蓄積された複数の測定値の中に真の
値からやや大きく外れたものが存在し、自動補正値の決
定精度が低下してしまう場合があるという問題があるの
である。

【００１１】なお、この測定値の予測精度低下という問
題は、自動補正中に手動補正が行われた場合のみなら
ず、手動補正を続けて行う場合にも発生し得る。さら
に、自動補正を続けて行う場合にも発生し得る。前記の
説明では、続けて行われる自動補正においては、先の自
動補正値の影響が必ず後の自動補正期間内に実際の測定
値に現れると仮定されていたが、そのような仮定が常に
成立するとは限らないからである。

【００１２】それらの事情を背景とし、請求項１の発明
は、各回の自動補正期間内に実際の測定値に影響が現れ
る過去の補正値の数は１個とは限らず２個以上の場合も
あるという事実を考慮して測定値の予測を行い、蓄積さ
れた複数の測定値すべてが正しいものとなるようにする
ことにより、自動補正値の精度向上を課題としてなされ
たものである。

【００１３】また、請求項２の発明は、その請求項１の
発明において、手動補正前に蓄積された測定値を有効に
利用して次の自動補正値を決定し、手動補正後に早期に
次の自動補正値を決定可能とすることにより、ワークの
加工精度向上を課題としてなされたものである。

【００１４】

【課題を解決するための手段】それぞれの課題を解決す
るために、請求項１の発明は、図３６に構成ブロック図
で概念的に示すように、前記加工機１，加工機制御手段
２および測定機３を備えるとともに加工機１と測定機３
との間に待機ワークが存在する加工システムにおいて使
用され、前記補正値決定手段４と前記補正値供給手段５
とを含むフィードバック式加工条件補正装置において、
その補正値決定手段４を、測定機３による測定値を蓄積
し、蓄積した複数の測定値に基づき、加工機１により次
に加工されるべきワークの前記加工条件の補正値を決定
し、その測定値の蓄積開始から補正値決定までの期間を
一回の自動補正期間とする自動補正と、作業者から手動
補正指令が出されれば直ちにその手動補正指令に基づい
て今回の補正値を決定する手動補正とを実行可能なもの
とし、かつ、その自動補正を、各回の自動補正期間内に
測定機３により測定された各測定値に前回の補正値を加
算することにより、測定機３により測定された複数のワ
ークがその前回の補正値の影響を受けた最新の加工条件
の下で加工されたと仮定した場合に測定機３により測定
されることとなる複数の測定値を予測して蓄積し、蓄積
した複数の測定値に基づいて今回の補正値を決定する状
態と、実際の各測定値に前回の補正値と前々回の補正値
との和を加算することにより、最新の加工条件の下での
複数の測定値を予測して蓄積し、蓄積した複数の測定値
に基づいて今回の補正値を決定する状態とに変更可能な
ものとしたことを特徴とする。

【００１５】なお、上記において、実際の各測定値に加
算される「補正値」は、自動補正値のみならず手動補正
値をも含む概念である。

【００１６】また、上記において、前回の補正値を加算
する「状態」（以下、第一の状態という）と、前回の補
正値と前々回の補正値との和を加算する「状態」（以
下、第二の状態という）とはそれぞれ、各回の自動補正
期間内のある期間に第一の状態、別の期間に第二の状態
というように、同じ自動補正期間内において互いに異な
る期間に実現することも、ある種類の自動補正期間の全
体において第一の状態、別の種類の自動補正期間の全体
において第二の状態というように、互いに異なる自動補
正期間の間で実現することもできる。

【００１７】また、請求項２の発明は、その請求項１の
発明における補正値決定手段を、作業者から手動補正指
令が出されてもそのときに実行されていた自動補正を強
制的に終了させずに続行し、その手動補正後に蓄積され
る測定値のみならず手動補正前に蓄積される測定値にも
基づいて新たな自動補正値を決定するものとしたことを
特徴とする。

【００１８】

【作用】請求項１の発明に係るフィードバック式加工条
件補正装置においては、各回の自動補正期間内における
実際の各測定値に影響が現れる過去の補正値の数は必ず
１個とは限らず２個以上の場合もあるという事実を考慮
し、最新の加工条件下での測定値の予測規則、すなわち
補正値の決定規則が少なくとも２種類用意されている。
具体的には、各回の自動補正期間内に測定機３により測
定された各測定値に前回の補正値を加算することによ
り、測定機３により測定された複数のワークがその前回
の補正値の影響を受けた最新の加工条件の下で加工され
たと仮定した場合に測定機３により測定されることとな
る複数の測定値が予測されて蓄積され、蓄積された複数
の測定値に基づいて今回の補正値が決定される状態と、
実際の各測定値に前回の補正値と前々回の補正値との和
を加算することにより、最新の加工条件の下での複数の
測定値が予測されて蓄積され、蓄積された複数の測定値
に基づいて今回の補正値が決定される状態とが実現可能
とされているのである。

【００１９】この請求項１の発明は例えば、手動補正が
行われるとそのときに実行されていた自動補正を強制的
に終了させ、手動補正後に新たに自動補正を開始し、そ
こにおいて測定値の蓄積を無蓄積状態から開始する態様
で実施することができる。

【００２０】この態様においては、例えば、図３７の上
側に概念的に示すように、手動補正後の自動補正期間
（図において中央の四角形の枠で表す）において、先に
前々回の自動補正値Ｕi-2 （強制的に終了させられた自
動補正を前回の自動補正とした場合にそれの直前に行わ
れた自動補正）の影響が、後に手動補正値Ｕ’（前回の
補正値）の影響がそれぞれ実際の測定値に現れる第一の
場合と、同図の下側に示すように、強制的に終了させら
れた自動補正期間内において自動補正値Ｕi-2 の影響が
実際の測定値に現れ、新たな自動補正期間において手動
補正値Ｕ’の影響が実際の測定値に現れる第二の場合と
がある。

【００２１】そして、上記第一の場合、すなわち手動補
正後に自動補正値Ｕi-2 の影響が実際の測定値に現れる
場合には、図３７の上側に示すように、今回の自動補正
期間の当初から自動補正値Ｕi-2 の影響が測定値に現れ
るまでの期間における各測定値については、それに自動
補正値Ｕi-2 と手動補正値Ｕ’との和が加算されること
によって測定値の予測が行われる。この予測が請求項１
の発明における「実際の各測定値に前回の補正値と前々
回の補正値との和を加算することによる予測」の一例で
ある。また、自動補正値Ｕi-2 の影響が実際の測定値に
現れてから今回の自動補正値Ｕ’が決定されるまでの期
間における各測定値については、それに手動補正値Ｕ’
のみが加算されることによって測定値の予測が行われ
る。この予測が請求項１の発明における「実際の各測定
値に前回の補正値を加算することによる予測」の一例で
ある。手動補正値Ｕ’の影響が実際の測定値に現れてか
らは、実際の測定値がそのまま蓄積される。

【００２２】これに対し、上記第二の場合、すなわち手
動補正前に自動補正値Ｕi-2 の影響が実際の測定値に現
れる場合には、同図の下側に示すように、今回の自動補
正期間の当初から手動補正値Ｕ’の影響が実際の測定値
に現れるまでの期間における各測定値については、それ
に手動補正値Ｕ’のみが加算されることによって測定値
の予測が行われる。この予測が請求項１の発明における
「実際の各測定値に前回の補正値を加算することによる
予測」の一例である。手動補正値Ｕ’の影響が実際の測
定値に現れてからは、実際の測定値がそのまま蓄積され
る。

【００２３】しかしながら、この態様には次のような問
題がある。すなわち、この態様によれば、手動補正前に
蓄積された測定値が無視される分だけ、次回の補正値決
定が遅れてしまうという問題があるのである。さらに、
手動補正直後の自動補正はその手動補正値の是正機能を
有するため、次回の自動補正が遅れることは結局、手動
補正値の是正が遅れてしまうことを意味するという問題
もある。

【００２４】そこで、この問題を解決する請求項１の発
明の別の実施態様として請求項２の発明がなされたので
あり、この請求項２の発明は、手動補正が行われても自
動補正を強制的に終了させずに続行し、その手動補正後
に蓄積される測定値のみならず手動補正前に蓄積される
測定値をも利用して補正値を決定する。

【００２５】この請求項２の発明においては、例えば、
図１の上側に概念的に示すように、手動補正後におい
て、先に前回の自動補正値Ｕi-1 の影響、後に手動補正
値Ｕ’の影響がそれぞれ実際の測定値に現れる第一の場
合と、同図の下側に概念的に示すように、手動補正前に
自動補正値Ｕi-1 の影響、手動補正後に手動補正値Ｕ’
の影響がそれぞれ実際の測定値に現れる第二の場合とが
ある。

【００２６】そして、この請求項２の発明においては、
それら二つの場合のいずれにおいても、同図に示すよう
に、今回の自動補正期間の当初から自動補正値Ｕi-1
（手動補正値を前回の補正とした場合における前々回の
補正値）の影響が実際の測定値に現れるまでの期間にお
ける各測定値については、それに自動補正値Ｕi-1 と手
動補正値Ｕ’との和が加算されることによって測定値の
予測が行われる。この予測が請求項１の発明における
「実際の各測定値に前回の補正値と前々回の補正値との
和を加算することによる予測」の一例である。また、自
動補正値Ｕi-1 の影響が実際の測定値に現れてから今回
の自動補正値Ｕi が決定されるまでの期間における各測
定値については、それに手動補正値Ｕ’のみが加算され
ることによって測定値の予測が行われる。この予測が請
求項１の発明における「実際の各測定値に前回の補正値
を加算することによる予測」の一例である。手動補正値
Ｕ’の影響が実際の測定値に現れてからは、実際の測定
値がそのまま蓄積される。

【００２７】したがって、この請求項２の発明によれ
ば、手動補正前に蓄積された測定値を無駄に捨てずに有
効に利用可能となって、次に自動補正値が決定されるま
でにかかる時間を短縮し得る。

【００２８】

【発明の効果】したがって、請求項１または２の各発明
によれば、各測定値についての予測が、過去の少なくと
も１個の補正値のうち影響が各測定値に現れていないも
のの数を考慮して行われるから、蓄積された測定値が最
新の加工条件下で予測される真の値に精度よく一致する
こととなり、これを用いて決定される自動補正値の精度
を容易に向上させ得るという効果が得られる。

【００２９】特に、請求項２の発明によれば、手動補正
後に新たに自動補正値が決定されるまでにかかる時間が
短縮され、自動補正を頻繁に行うことが可能となり、ワ
ークの加工精度を容易に向上させ得るという効果も得ら
れる。

【００３０】

【発明の望ましい態様】以下に請求項１または２の発明
の望ましい態様のいくつかを列挙する。 (1) 請求項１の発明であって、それの補正値決定手段４
が、手動補正を行うと直ちに自動補正を強制的に終了さ
せ、その手動補正後に新たに自動補正を開始し、その新
たな自動補正期間において無蓄積状態から測定値の蓄積
を開始し、その新たな自動補正の期間において、先に前
々回の自動補正（強制的に終了させられた自動補正の直
前の自動補正）に係る自動補正値Ｕi-2 （手動補正値
Ｕ’を前回の補正値とした場合における前々回の補正
値）の影響、後に手動補正値Ｕ’（前回の補正値）の影
響がそれぞれ実際の測定値に現れる場合には、今回の自
動補正期間の当初から自動補正値Ｕi-2 の影響が測定値
に現れるまでの期間における各測定値については、それ
に自動補正値Ｕi-2 と手動補正値Ｕ’との和を加算する
ことによって最新の加工条件下での測定値を予測して蓄
積し、自動補正値Ｕi-2 の影響が実際の測定値に現れて
から今回の自動補正値Ｕ’が決定されるまでの期間にお
ける各測定値については、それに手動補正値Ｕ’のみを
加算することによって最新の加工条件下での測定値を予
測して蓄積し、手動補正値Ｕ’の影響が実際の測定値に
現れた後の期間における各測定値については、そのまま
蓄積するもの。

【００３１】(2) 請求項２の発明であって、それの補正
値決定手段４が、手動補正に後続する自動補正期間にお
いて、先に前回の自動補正に係る自動補正値Ｕi-1
（（手動補正値Ｕ’を前回の補正値とした場合における
前々回の自動補正値）の影響、後に手動補正値Ｕ’（前
回の補正値）の影響がそれぞれ実際の測定値に現れる場
合には、今回の自動補正期間の当初から自動補正値Ｕi-
1 の影響が実際の測定値に現れるまでの期間における各
測定値については、それに自動補正値Ｕi-1 と手動補正
値Ｕ’との和を加算することによって最新の加工条件下
での測定値を予測して蓄積し、自動補正値Ｕi-1 の影響
が実際の測定値に現れてから今回の自動補正値Ｕi が決
定されるまでの期間における各測定値については、それ
に手動補正値Ｕ’のみを加算することによって最新の加
工条件下での測定値を予測して蓄積し、手動補正値Ｕ’
の影響が実際の測定値に現れた後の期間における各測定
値については、そのまま蓄積するもの。

【００３２】(3) (1) ，(2) ，請求項１または２の発明
であって、それの補正値決定手段４が、自動補正中に手
動補正が行われた場合には、その手動補正に後続する自
動補正において、先の自動補正に係る自動補正値の影響
と手動補正に係る手動補正値の影響のみが必ずそれらの
順に実際の各測定値に現れると仮定し、前々回の補正値
の影響が実際の測定値に現れないまでの期間における各
測定値については、それに前々回の補正値と前回の補正
値との和を加算することによって最新の加工条件下での
測定値を予測し、前々回の補正値の影響は実際の測定値
に現れたが前回の補正値の影響は現れない期間における
各測定値については、それに前回の補正値のみを加算す
ることによって最新の加工条件下での測定値を予測する
もの。

【００３３】(4) (1) 〜(2) ，請求項１または２の発明
であって、それの補正値決定手段４が、各回の自動補正
期間において、測定値の蓄積数が設定複数個に達するま
で測定値を予測なしでそのまま蓄積し、蓄積数が設定複
数個に達したときに蓄積された設定複数個の測定値の各
々について、過去の複数の補正値の各々の影響が実際の
測定値に現れている状況を判定し、前々回の補正値の影
響が実際の測定値に現れない期間における各測定値につ
いては、それに前々回の補正値と前回の補正値との和を
加算することによって最新の加工条件下での測定値を予
測し、前々回の補正値の影響は実際の測定値に現れたが
前回の補正値の影響は現れない期間における各測定値に
ついては、それに前回の補正値のみを加算することによ
って最新の加工条件下での測定値を予測するもの。

【００３４】なお、前回の補正値の影響および前々回の
補正値の影響のみならず３回以上前の補正値の影響も実
際の各測定値に現れない場合も考えられ、この場合に
は、実際の各測定値に影響が現れない３個以上の補正値
の和を実際の各測定値に加算することもできる。

【００３５】(5) (1) 〜(4) ，請求項１または２の発明
であって、図３５に構成ブロック図で概念的に示すよう
に、 前記加工機１が、それの加工中にワークの寸法
を測定するインプロセス測定機１２を備えた加工機１０
であり、 前記加工機制御手段２が、インプロセス測
定機１２により測定された加工中測定値が定寸点（加工
終了時期を規定する寸法値）に達したときに加工機１０
による加工を終了させるとともに、その定寸点が外部か
らの補正値Ｕに応じて補正される定寸装置１４であり、
前記測定機３が、加工後のワークの寸法を測定する
ポストプロセス測定機４４であり、 前記補正値決定
手段４および補正値供給手段５が、前記ポストプロセス
測定機４４と前記定寸装置１４とにそれぞれ接続され、
少なくともワークの加工寸法の目標値Ａ₀ とポストプロ
セス測定機４４による加工後測定値Ｘとの誤差値Ｒに基
づいて定寸点の自動補正値Ｕを決定し、また、作業者か
らの指令に応じて定寸点の手動補正値Ｕ’を決定し、決
定した自動補正値Ｕおよび手動補正値Ｕ’を前記定寸装
置１４に供給する制御装置２０であるもの。

【００３６】(6) (1) 〜(5) ，請求項１または２の発明
であって、それの補正値決定手段４が、自動補正の際
に、測定値とワークの加工寸法の目標値との差である誤
差値のみならずそれの変化傾向（誤差値が、測定機によ
り測定されたワークの数の増加につれて変化する傾向）
にも基づいて補正値を決定するもの。

【００３７】(7) (1) 〜(6) ，請求項１または２の発明
であって、それの補正値決定手段４が、自動補正の際
に、測定値とワークの加工寸法の目標値との差である誤
差値およびそれの変化傾向のみならずその変化傾向の変
化傾向にも基づいて補正値を決定するもの。

【００３８】

【実施例】以下、請求項１または２の各発明を図示の実
施例であるフィードバック式の定寸点補正装置に基づい
て具体的に説明する。

【００３９】この定寸点補正装置は、自動車のエンジン
のクランクシャフトを加工すべきワークとし、それに予
め形成されている複数のジャーナル面の各々を加工部位
として円筒研削する加工システムと共に使用される。こ
こにクランクシャフトとは、図２に示すように、互いに
同軸的に並んだ７個の外周円筒面（以下、単に「円筒
面」という）であるジャーナル面を有するワークであ
る。

【００４０】加工システムは、具体的には、図３に示す
ように、加工ライン，加工機１０，２個のインプロセス
測定機１２（図には１個として示す），定寸装置１４，
モータコントローラ１５，全数測定機１６，ワーク数カ
ウンタ１８，制御装置２０，補助記憶装置２２等から構
成されており、以下、それら要素について個々に説明す
る。

【００４１】加工ラインは、図において矢印付きの太い
実線で表されており、複数のワークが一列に並んで上流
側から下流側に向かって（図において左側から右側に向
かって）搬送されるものである。

【００４２】加工機１０は、クランクシャフトの７個の
ジャーナル面の各々に対し、加工具としての円形状の砥
石により、円筒研削を行うものである。具体的には、図
４に示すように、複数の砥石が同軸的に並んだ砥石群３
０とクランクシャフトとを接触回転させることにより、
７個のジャーナル面すべてに対して同時に円筒研削を行
うマルチ研削盤である。以下、その構成を簡単に説明す
る。

【００４３】加工機１０は、ワークのためのワークテー
ブル３２を備えている。このワークテーブル３２は加工
機１０の図示しない主フレームに取り付けられている。
ワークテーブル３２には、ワークをそれの軸線回りに回
転可能に保持する保持装置（図示しない）とその保持さ
れたワークを回転させるワークモータ３４とが設けられ
ている。

【００４４】加工機１０はさらに、砥石群３０のための
前進・後退テーブル３６とスイングテーブル３８とを備
えている。前進・後退テーブル３６は前記主フレーム
に、前記ワークテーブル３２に保持されているワークに
対する直角な方向における往復運動が可能な状態で取り
付けられている。一方、スイングテーブル３８は、その
前進・後退テーブル３６に、砥石軸線（図において一点
鎖線で示す）上にそれに直交する状態で設定されたスイ
ング軸線（図において紙面に直角な方向に延びる直線）
を中心としたスイングが可能（右回転も左回転も可能）
な状態で取り付けられている。前進・後退テーブル３６
の前進・後退は主フレームに固定の前進・後退モータ４
０により、スイングテーブル３８のスイングは前進・後
退テーブル３６に固定のスイングモータ４２によりそれ
ぞれ実現される。

【００４５】すなわち、この加工機１０においては、砥
石軸線とワークの回転軸線との成す角度（以下、「切込
み角」という）がスイングモータ４２により調整可能な
のである。

【００４６】前記２個のインプロセス測定機１２はこの
加工機１０に取り付けられている。それらインプロセス
測定機１２はそれぞれ、図２に示すように、１個の円筒
面を外周両側から挟む一対の測定子を有し、電気マイク
ロメータ方式によりその円筒面の直径を測定するもので
ある。それらインプロセス測定機１２は、７個のジャー
ナル面について個々に用意されているわけではなく、同
図に示すように、両端のジャーナル面、すなわち第１ジ
ャーナル面と第７ジャーナル面（以下、「２個の端円筒
面」ともいう）についてのみ用意されている。

【００４７】前記定寸装置１４は、図４に示すように、
それらインプロセス測定機１２にそれぞれ接続されてい
る。定寸装置１４は、ＣＰＵ，ＲＯＭ，ＲＡＭおよびバ
スを含むコンピュータを主体として構成されていて、図
３５に構成ブロック図で概念的に示すように、加工機１
０による研削中、２個の端円筒面のそれぞれの直径を各
インプロセス測定機１２を介して監視し、それら各端円
筒面における残存切込み量（最終寸法に到達するまでに
切り込むことが必要な量）が各設定量（各端円筒面ごと
に存在する）に到達したときにはその旨の信号（以下、
「設定量到達信号」という）を、各最終寸法すなわち各
定寸点（各端円筒面ごとに存在する）に到達したときに
はその旨の信号（以下、「定寸点到達信号」という）を
前記モータコントローラ１５に各端円筒面に関連付けて
それぞれ出力する。

【００４８】定寸装置１４はまた、各定寸点の補正が可
能に設計されている。具体的には、前記制御装置２０か
ら各補正値Ｕ（各端円筒面ごとに存在する）が供給され
れば、現在の各定寸点にその各補正値Ｕを加算すること
によって現在の各定寸点を変更し、供給されなければ現
在の各定寸点をそのままに維持するように設計されてい
る。すなわち、定寸装置１４は、制御装置２０により定
寸点が自動補正されるようになっているのである。

【００４９】定寸装置１４には図３に示すように、キー
ボード５０が接続されており、そのキーボード５０が作
業者により操作されると、定寸装置１４は、その操作に
応じた手動補正値だけ現在の定寸点を変更する手動補正
を行うようにも設計されている。定寸装置１４はまた、
最新の手動補正値と定寸点とをそれぞれ自身のＲＡＭに
記憶するとともに、自発的に制御装置２０に送信する。
ただし、制御装置２０は定寸装置１４からの最新の手動
補正値と現在の定寸点とを常に受信するわけではないた
め、定寸装置１４は制御装置２０が受信を許すときに限
って送信を行うことになる。

【００５０】前記モータコントローラ１５は図４に示す
ように、それら定寸装置１４，前進・後退モータ４０等
に接続されている。モータコントローラ１５は、作業者
からの指令や定寸装置１４からの信号等に基づき、前進
・後退モータ４０等を制御する。

【００５１】ところで、加工機１０は、粗研，精研，ス
パークアウト等のいくつかの段階を順に経て一回の円筒
研削を終了する。粗研は、前記残存切込み量が前記設定
量に達するまで実行され、精研は、直径が前記定寸点に
達するまで実行される。定寸装置１４から各端円筒面ご
とに供給されるべき２個の設定量到達信号はその供給時
期が一致しないのが普通であり、モータコントローラ１
５は、粗研段階では、信号供給時期の不一致量に応じて
前進・後退モータ４０およびスイングモータ４２を制御
し、これにより、前記切込み角を適正に制御する。ま
た、精研においては、それに先立つ粗研において切込み
角が適正となっているはずであるから、モータコントロ
ーラ１５は、前進・後退モータ４０のみを運転させるこ
とにより、砥石群３０のワークへの切込みを続行し、２
個の端円筒面のいずれかについてでも定寸点到達信号が
供給されれば、前進・後退モータ４０を停止させ、スパ
ークアウトを行った後に、前進・後退モータ４０を逆回
転させることにより砥石群３０をワークから後退させ
る。なお、精研段階でも切込み角を制御するようにする
こともできる。

【００５２】前記全数測定機１６は、図３に示すよう
に、加工ラインの、加工機１０の下流側に配置されてい
る。全数測定機１６は、１個のワークにおける円筒面の
数と同数のポストプロセス測定機４４を有し、前記イン
プロセス測定機１２と同じ方式により、加工機１０から
搬出されたワークすべてについて順に、円筒面すべてに
ついて個々に直径を測定する。この全数測定機１６が前
記制御装置２０の入力側に接続されている。

【００５３】前記ワーク数カウンタ１８は、同図に示す
ように、加工ライン上において加工機１０と全数測定機
１６との間にその全数測定機１６による測定を待つ待機
ワークの数を測定するものである。ワーク数カウンタ１
８は、加工機１０からのワークの搬出を検出する第１セ
ンサ（例えば、リミットスイッチ等）４６と、全数測定
機１６へのワークの搬入を検出する第２センサ（例え
ば、リミットスイッチ等）４８とに接続されていて、第
１センサ４６によりワーク搬出が検出されるごとに待機
ワーク数のカウント値を１ずつ加算し、一方、第２セン
サ４８によりワーク搬入が検出されるごとにそのカウン
ト値を１ずつ減算し、これにより、待機ワーク数の現在
値を測定する。

【００５４】前記制御装置２０は、ＣＰＵ，ＲＯＭ，Ｒ
ＡＭおよびバスを含むコンピュータを主体として構成さ
れており、そのＲＯＭにおいて定寸点補正ルーチンを予
め記憶させられている。また、この制御装置２０は、前
記補助記憶装置２２にも接続されていて、全数測定機１
６から入力された測定値Ｘ，それに基づいて決定した補
正値Ｕ等をすべて保存するように設計されている。一連
の加工の終了後に作業者がその加工状況を診断する際な
どに使用するためである。

【００５５】上記定寸点補正ルーチンの主要部が図５〜
１０にフローチャートで表されており、それら図に基づ
いて制御装置２０の構成を説明するが、まず、概略的に
説明する。

【００５６】この制御装置２０は、図３５に構成ブロッ
ク図で概念的に示すように、全数測定機１６のポストプ
ロセス測定機４４による測定値Ｘをフィードバックする
ことにより、加工機１０により次に加工されるべきワー
クについての定寸点の補正値Ｕを決定するものである。
この加工システムにおいては、加工機１０と全数測定機
１６との間にその全数測定機１６による寸法測定を待つ
ワークが存在することを許容するように設計されてい
る。そのため、この制御装置２０は、補正値Ｕが入力信
号、寸法情報が出力信号であるとともにそれら入力信号
と出力信号との間にむだ時間ＭＳが存在する制御システ
ムを想定し、フィードバック式で定寸点を補正する。す
なわち、本実施例においては、定寸点が請求項１の発明
における「加工条件」の一態様なのである。

【００５７】この制御装置２０における処理の流れを、
簡単に説明すれば、図１１に示すようになる。

【００５８】まず、第１ステップとして、全数測定機１
６から測定値Ｘが入力され、続いて、第２ステップとし
て、その測定値Ｘから隣接間ばらつきを除去するため
に、今回までに取得された測定値Ｘに対して移動平均値
Ｐが算出される。コンピュータのＲＡＭには、測定値Ｘ
等が蓄積される演算データメモリ（図示しない）が設け
られており、それに蓄積されている測定値Ｘに基づいて
移動平均値Ｐが算出される。

【００５９】次に、第３ステップとして、その移動平均
値Ｐに対して両端直径補正（後に詳述する）が行われ、
さらに、第４ステップとして、その両端直径補正が行わ
れた移動平均値Ｐ（これも演算データメモリに蓄積され
る）に基づき、その移動平均値Ｐとワークの加工寸法の
目標値Ａ₀ との差である誤差値Ｒと、その誤差値Ｒの微
分値Ｔおよび２回微分値Ｄとがそれぞれ寸法情報として
算出される。その後、第５ステップとして、それら寸法
情報とワーク数カウンタ１８により測定された待機ワー
ク数（前記むだ時間ＭＳに相当する）とに基づき、ファ
ジィ推論を用いて補正値Ｕを演算するファジィ演算が行
われる。続いて、第６ステップとして、その演算された
補正値Ｕが、それの連続性が考慮されることによって補
正される。その後、第７ステップとして、その補正され
た補正値Ｕが、定寸装置１４との関係において設定され
た不感帯内にあるか否かが判定され、不感帯内になけれ
ば、第８ステップとして、その補正値Ｕが定寸装置１４
に送信される。

【００６０】また、この制御装置２０においては、全数
測定機１６によりワークが測定されるごとに今回の補正
値Ｕを決定する連続的補正ではなく、間欠的に決定する
間欠的補正が採用されている。また、補正値Ｕが間欠的
に補正されるに伴って、演算データメモリも間欠的にク
リアされる。

【００６１】なお、この制御装置２０には、ワークの７
個のジャーナル面すべてについて個々に測定値Ｘが入力
されるが、基本的には、第１ジャーナル面および第７ジ
ャーナル面のそれぞれの測定値Ｘ、すなわち、各端円筒
面の測定値Ｘに基づいて、前記定寸装置１４における各
端円筒面に対応する補正値Ｕがそれぞれ決定される。

【００６２】以上、この制御装置２０の全体の流れを簡
単に説明したが、以下、この流れにおける各概念につい
て個々に詳しく説明する。

【００６３】まず、移動平均値Ｐの算出（図１１の第２
ステップ）について説明する。測定値Ｘは全数測定機１
６により時系列データとして取得され、多くの隣接間ば
らつきを含んでいる。そこで、本実施例においては、隣
接間ばらつきを除去してワークの真の寸法を推定するた
めに、今回の測定値Ｘおよび前回までに取得された最新
の少なくとも１個の測定値Ｘにつき、重み付きの移動平
均値Ｐが算出され、それが測定値Ｘの真の値として使用
される。

【００６４】この移動平均値Ｐは原則として、次のよう
にして算出される。すなわち、今回までに取得された最
新のＫ（２以上の固定値）個の測定値Ｘに基づき、次式
（Ｋ＝５の場合）で表される如き計算式を用いて今回の
移動平均値Ｐ_i が算出されるのである。

【００６５】

【数１】

【００６６】ここに「ｉ」は、全数測定機１６により測
定されたワークの数（以下、「測定ワーク数」という）
を表す。

【００６７】また、「ｂ_i-4 」〜「ｂ_i 」が、今回の移
動平均値Ｐ_i の算出に必要な測定値Ｘの数（＝Ｋ）と同
数の重み係数である。

【００６８】これら複数の重み係数ｂの各々の値は、原
変動である測定値Ｘの中から除去すべき成分波（すなわ
ち、前記隣接間ばらつきを表す成分波）の周波数との関
係において決定されるが、例えば、加工機１０と全数測
定機１６との間に存在する待機ワークの数が０である
か、または０でなくてもそれがほとんど変化しない場合
のように、移動平均によって測定値Ｘの中から除去すべ
き成分波の周波数がほとんど変化しない場合には、各重
み係数ｂの値を例えば次のようにして決定することがで
きる。

【００６９】まず、原変動の中から除去すべきｓ個の成
分波の各々の角振動数をω₁ ，ω₂，・・・，ω_j ，・
・・，ω_s とし、次式を作る。

【００７０】

【数２】

【００７１】そして、この式の係数１，ａ_s-1 ，・・
・，ａ₀ ，・・・，ａ_s-1 ，１のうち１〜ａ₀ をそれぞ
れ、重み係数ｂ_i-s ，ｂ_i-(s-1),・・・，ｂ_i に決定す
るのである。

【００７２】一方、上記の場合とは異なり、待機ワーク
の数が常に安定することを保証されない場合には、移動
平均によって測定値Ｘの中から除去すべき成分波の周波
数がやや変化することを避け得ない。そのため、この場
合には、各重み係数ｂの値を例えば次のようにして決定
することが望ましい。すなわち、各重み係数ｂの値を例
えば図１２にグラフで表すように、各重み係数ｂが乗じ
られる測定値Ｘが最新の測定値Ｘに対して新しいもので
あるほど、ほぼ比例的に増加するように決定すればよい
のである。このようにすれば、測定値Ｘの中から比較的
広い範囲に及ぶ短周期の成分波が除去されて移動平均値
Ｐが算出されることになる。

【００７３】この場合、各重み係数ｂの値は、待機ワー
ク数の標準的な変化状況を想定し、その想定した変化状
況の下で最適な唯一の大きさに固定して決定することが
できる。例えば、前述の、ｂ_i-4 ，ｂ_i-3 ，ｂ_i-2 ，ｂ
_i-1 およびｂ_i をそれぞれ、１，２，３，４および５に
固定することができるのである。しかし、このように各
重み係数ｂの値を固定した場合には、測定値Ｘの振動レ
ベル（すなわち、測定値Ｘが測定ワーク数ｉの増加につ
れて周期的に変動するときのその変動のレベル）が高い
ときには移動平均値Ｐも振動して真の値に十分には近い
ものとならず、また、測定値Ｘの振動レベルが低いとき
には移動平均値Ｐが測定値Ｘの変化に対して十分に迅速
に応答しないという事態が生ずるおそれがある。

【００７４】このような事情を背景として、本実施例に
おいては、各重み係数ｂの値が可変とされて測定値Ｘの
振動レベルに自動的に適応するようになっている。

【００７５】具体的には、各重み係数ｂの前回値を用い
て今回の移動平均値Ｐの暫定値が算出され、その際に用
いた複数の測定値Ｘの各々とその今回の移動平均値Ｐの
暫定値との差の和が算出され、それが測定値Ｘの振動レ
ベル（各重み係数ｂの前回値との関係における相対的な
振動レベル）に決定され、その決定された振動レベルが
許容値Ａ以下であれば、その今回の移動平均値Ｐの暫定
値が最終値に決定される。一方、許容値Ａより大きい場
合には、各重み係数ｂが、例えば図１３にグラフで概念
的に示すように、最高レベルと最低レベルとの間におい
て一定量ずつ増加・減少させられ、振動レベルが許容値
Ａ以下となる各重み係数ｂの値が各重み係数ｂの今回値
に決定され、その今回値を用いて算出された移動平均値
Ｐが今回の移動平均値Ｐの最終値に決定される。したが
って、測定値Ｘの振動レベルが高い場合には、重み係数
ｂの分布を表す直線の勾配が緩やかとなり、測定値Ｘの
今回値が移動平均値Ｐに及ぼす影響が、測定値Ｘの過去
値がその移動平均値Ｐに及ぼす影響より軽減され、その
結果、測定値Ｘの今回値によって移動平均値Ｐが顕著に
変化し難くなるのである。一方、測定値Ｘの振動レベル
が低い場合には、重み係数ｂの分布を表す直線の勾配が
急になり、測定値Ｘの今回値が移動平均値Ｐに及ぼす影
響が、測定値Ｘの過去値がその移動平均値Ｐに及ぼす影
響より増加し、その結果、測定値Ｘの今回値によって移
動平均値Ｐが顕著に変化し易くなるのである。

【００７６】ただし、各重み係数ｂの値が最低レベルと
最高レベルとの間全域において変更されたにもかかわら
ず振動レベルが許容値Ａ以下となる各重み係数ｂの値が
得られない場合がある。この場合には、各重み係数ｂの
値が変更されるごとに取得された複数の振動レベルのう
ちの最小値に対応する各重み係数ｂの値が各重み係数ｂ
の今回値に決定され、その今回値を用いて算出された移
動平均値Ｐが今回の移動平均値Ｐの最終値に決定され
る。

【００７７】以上、移動平均値Ｐの原則的な算出手法に
ついて説明したが、この原則を貫くときは、演算データ
メモリに蓄積されている測定値Ｘの数がＫ個に達しない
間は、移動平均値Ｐを算出することができず、図１４に
示すように、これを用いて算出されるべき誤差値Ｒも微
分値Ｔも算出することができないこととなり、ひいて
は、新たな補正値Ｕを決定することができない時間が長
くなってしまう。なお、この図は、左側から右側に向か
うにつれて測定ワーク数ｉが増加することとして表され
ている。後述の図１５および図１６についても同様であ
る。

【００７８】そこで、本実施例においては、今回までに
取得された測定値Ｘの数がＫ個に達しない場合には、例
外として、達する場合とは異なる特別の規則に従って、
移動平均値Ｐが算出される。

【００７９】その特別の規則には置換型移動平均値算出
規則と可変型移動平均値算出規則とがある。以下、詳し
く説明する。

【００８０】まず、置換型移動平均値算出規則は、図１
４に示すように、存在する予定のＫ個の移動平均値Ｐの
うち実際には存在しないものの各々を、各移動平均値Ｐ
が取得されるべき回と同じ回に取得された測定値Ｘその
もので置換するという規則である。これは、同じ回に取
得される測定値Ｘと移動平均値Ｐとは本来互いに近似す
るという性質を利用するものであって、この規則に従っ
て移動平均値Ｐを算出することを置換型移動平均値算出
という。

【００８１】この置換型移動平均値算出においては、各
回の移動平均値Ｐの置換が行われた時期が、その後にお
いてはじめて原則通りに移動平均値Ｐが算出された時期
から少し前であるか、かなり前であるかを問わず、移動
平均値Ｐを測定値Ｘで置換することによって仮想的に取
得することは可能である。しかし、この場合には、次の
ような問題がある。すなわち、１個の微分値Ｔを算出す
るのに使用されるＬ個の移動平均値Ｐにおいて仮想的に
算出された移動平均値Ｐが占める割合が多いほど、その
微分値Ｔの精度が低下し、ひいては補正値Ｕの精度も低
下するおそれがあるという問題があるのである。

【００８２】この問題を解決するためには、１個の微分
値Ｔを算出するのに使用される仮想的な移動平均値Ｐの
数を制限すればよい。同図の例は、そのような制限が付
された例であって、この場合には、最新の正規の移動平
均値Ｐより過去に３回の間に限り（すなわち、置換制限
数Ｚが３個）、仮想的な移動平均値Ｐの算出が許容され
ている。このように制限を付された場合には、たとえ置
換型移動平均値算出をしても、演算データメモリに蓄積
されている測定値Ｘの数が少ない間は、移動平均値Ｐを
算出することができない。

【００８３】一方、可変型移動平均値算出規則は、測定
値Ｘの数（Ｋより小さい数）の各々について個別に重み
付き移動平均値計算式を用意し、使用可能な測定値Ｘの
数（すなわち、演算データメモリに蓄積されている測定
値Ｘの数）に合致する計算式を選択し、それを用いて移
動平均値Ｐを取得するという規則である（図１６参
照）。この規則に従って移動平均値Ｐを算出することを
可変型移動平均値算出という。ここに個別に用意される
重み付き移動平均値計算式には例えば次のようなものを
選ぶことができる。

【００８４】

【数３】

【００８５】この例においては、演算データメモリに蓄
積されている測定値Ｘの数が１個であっても、移動平均
値Ｐの算出が可能である。したがって、この例において
は、演算データメモリに蓄積されている測定値Ｘの数が
少ないから移動平均値Ｐを算出することはできないとい
う事態は起こらない。

【００８６】なお、本実施例においては、以上のような
移動平均値Ｐの特別な手法による算出（以下、「特別移
動平均値算出」という）の実行の許否が作業者によって
指令され、さらに、その特別移動平均値算出が指令され
る場合には、その種類の選択も作業者からの指令に応じ
て行われるようになっている。すなわち、特別移動平均
値算出指令が出されている場合には必ず、置換型移動平
均値算出指令と可変型移動平均値算出指令とのいずれか
が出されるようになっているのである。

【００８７】次に、両端直径補正（図１１の第３ステッ
プ）について説明する。この制御装置２０が接続される
加工システムにおいては、前述のように、ワークの全円
筒面のうちの２個の端円筒面の直径にのみ基づいて砥石
群３０が作動させられる。そのため、２個の端円筒面の
測定値Ｘのみを考慮し、それ以外の円筒面の測定値Ｘを
考慮しないで定寸点を補正する場合には、各円筒面の加
工精度がそれの全体において十分に均一にならない場合
がある。

【００８８】そこで、本実施例においては、この問題を
解決するために次のような技術が採用されている。すな
わち、図１７にグラフで概念的に示すように、ワークに
おける各円筒面の軸方向位置（図に「１Ｊ」〜「７Ｊ」
で表す）と各円筒面の直径（すなわち、移動平均値Ｐ）
とが比例関係にあると仮定し、２個の端円筒面の測定値
Ｘをそれぞれ補正するという両端直径補正という技術が
採用されているのである。

【００８９】この両端直径補正の一具体例は、次のよう
である。すなわち、両端直径補正計算式として、

【００９０】

【数４】

【００９１】なる式が採用され、これを用いることによ
り、各端円筒面の移動平均値Ｐの修正値が算出されるの
である。ただし、 ｘ：ジャーナル面の番号（第１ジャーナル面から第７ジ
ャーナル面に向かって１から７まで付されている） ｘ′：７個のｘの値の平均値 ｙ：ｘの各値における移動平均値Ｐの修正値 Ｐ：ｘの各値における移動平均値Ｐの計算値 Ｐ′：７個の移動平均値Ｐの計算値の平均値

【００９２】具体的には、第１ジャーナル面について
は、上記式の「ｘ」に１を代入することによって、移動
平均値Ｐの修正値ｙ₁ が取得され、また、第７ジャーナ
ル面については、「ｘ」に７を代入することによって、
移動平均値Ｐの修正値ｙ₇ が取得される。

【００９３】なお、本実施例においては、この両端直径
補正の実行の許否も作業者によって指令されるようにな
っている。

【００９４】また、本実施例においては、移動平均値Ｐ
に対して両端直径補正が行われるようになっているが、
移動平均値Ｐの基礎となる測定値Ｘそのものに対して両
端直径補正を行うこともできる。

【００９５】次に、寸法情報取得（図１１の第４ステッ
プ）について説明する。ワークについて取得する寸法情
報には、前述のように、誤差値Ｒのみならず、それの微
分値Ｔおよび２回微分値Ｄもある。誤差値Ｒは「寸法誤
差」の一態様であり、微分値Ｔは「寸法誤差の変化傾
向」の一態様であり、２回微分値Ｄは「変化傾向の変化
傾向」の一態様である。

【００９６】このように、誤差値Ｒ以外のパラメータに
も基づいて補正値Ｕを決定することとしたのは、誤差値
Ｒのみに基づいて補正値Ｕを決定する場合より、それの
微分値Ｔまたは２回微分値Ｄにも基づいて補正値Ｕを決
定する場合の方が、加工機１０の実際の状態をより正確
に推定することができ、定寸点の補正精度が向上するか
らである。なお、誤差値Ｒのみならず微分値Ｔにも基づ
いて補正値Ｕを決定する技術は、本出願人の特願平４−
６１３０５号として出願されており、また、さらに２回
微分値Ｄにも基づいて補正値Ｕを決定する技術は、本出
願人の特願平４−２３５４０２号として出願されてい
る。

【００９７】ここで、微分値Ｔの算出について説明す
る。微分値Ｔは、図１８にグラフで概念的に示すよう
に、原則として、今回取得された誤差値Ｒおよび前回ま
でに取得された最新の少なくとも１個の誤差値Ｒから成
るＬ（２以上の固定値）個の誤差値Ｒが測定ワーク数ｉ
の増加に対してほぼ比例すると仮定し、それらＬ個の誤
差値Ｒが適合する１次回帰線を特定し、それの勾配を微
分値Ｔ（１次回帰線の傾きをθラジアンとした場合のta
n θに一致する）として取得される。具体的には、１次
回帰線の式として、例えば、

【００９８】

【数５】

【００９９】なる式が採用される。ただし、 ｘ：測定ワーク数ｉの値 ｘ′：Ｌ個のｘの値の平均値 ｙ：ｘの各値における誤差値Ｒの真の値 Ｒ：ｘの各値における誤差値Ｒの計算値 Ｒ′：Ｌ個の誤差値Ｒの計算値の平均値 そして、

【０１００】

【数６】

【０１０１】の値が、微分値Ｔとなる。しかし、この原
則を貫くと、移動平均値Ｐの算出の場合と同様に、演算
データメモリに蓄積されている誤差値Ｒの数がＬ個に達
しない場合には、微分値Ｔを算出することができない。

【０１０２】そこで、本実施例においては、移動平均値
Ｐの算出の場合に準じて、移動平均値Ｐの数（Ｌより小
さい数）の各々について個別に１次回帰線の式を用意
し、使用可能な誤差値Ｒの数（すなわち、演算データメ
モリに蓄積されている誤差値Ｒの数）に合致する式を選
択し、それを用いて微分値Ｔを取得するという技術が採
用されている。

【０１０３】なお、本実施例においては、可変型微分値
算出の実行の許否も作業者によって指令されるようにな
っている。

【０１０４】次に、２回微分値Ｄの算出について説明す
る。２回微分値Ｄは微分値Ｔと同様にして算出される。
すなわち、今回までに取得された最新のＱ（２以上の固
定値）個の微分値Ｔが測定ワーク数ｉの増加に対してほ
ぼ比例すると仮定し、それらＱ個の微分値Ｔが適合する
１次回帰線を特定し、それの勾配を２回微分値Ｄ（１次
回帰線の傾きをθラジアンとした場合のtanθに一致す
る）として取得するのである。

【０１０５】なお、本実施例においては、２回微分値Ｄ
の使用の許否も作業者によって指令されるようになって
いる。

【０１０６】また、本実施例においては、この２回微分
値Ｄについては、微分値Ｔに係る可変型微分値算出に相
当する技術は採用されていないが、採用することはもち
ろん可能である。

【０１０７】次に、ファジィ演算（図１１の第５ステッ
プ）について説明するが、このファジィ演算において
は、むだ時間考慮型補正およびファジィ推論なる技術が
採用されているため、それら技術について個々に詳しく
説明する。

【０１０８】まず、むだ時間考慮型補正について説明す
る。全数測定機１６による測定を待つ待機ワークの数が
変動する場合には、その待機ワークの数に応じて補正値
Ｕの決定規則を変更することが望ましい。そこで、本実
施例においては、その待機ワークの数をむだ時間ＭＳと
して測定し、それに応じて補正値Ｕの決定規則（具体的
には、後述のファジィルール）を変更し、その変更した
決定規則に従って補正値Ｕを決定するむだ時間考慮型補
正が採用されている。

【０１０９】なお、本実施例においては、このむだ時間
考慮型補正の実行の許否も作業者によって指令されるよ
うになっている。

【０１１０】次に、ファジィ推論について説明する。本
実施例においては、ファジィ演算の方式が３種類存在す
る。すなわち、誤差値Ｒおよび微分値Ｔのみをそれぞ
れ入力変数としたファジィ推論による第１の方式と、
誤差値Ｒ，微分値Ｔおよび２回微分値Ｄをそれぞれ入
力変数としたファジィ推論による第２の方式と、 誤
差値Ｒ，微分値Ｔおよびむだ時間ＭＳをそれぞれ入力変
数としたファジィ推論による第３の方式とが存在するの
である。なお、第１の方式の一具体例は本出願人の特願
平４−６１３０５号明細書に既に開示され、第２の方式
の一具体例は本出願人の特願平４−２３５４０２号明細
書に既に開示され、第３の方式の一具体例は本出願人の
特願平４−１５８７８７号明細書に既に開示されてい
る。

【０１１１】そして、本実施例においては、前記２回微
分値使用指令が出された場合には第２の方式、前記むだ
時間考慮型補正指令が出された場合には第３の方式、そ
れら指令のいずれも出されなかった場合には第１の方式
がそれぞれ選択される。

【０１１２】以下、それら３種類の方式の、本実施例に
おける具体的な内容について説明するが、それら方式は
基本的な思想が共通するため、第１の方式、すなわち、
誤差値Ｒおよび微分値Ｔのみをそれぞれ入力変数とした
ファジィ推論により補正値Ｕを演算する方式を例にと
り、代表的に説明する。

【０１１３】制御装置２０のＲＯＭにはファジィ推論の
ためのデータも予め記憶させられている。ファジィ推論
のためのデータとは具体的に、(a) 推論プログラム，
(b) 誤差値Ｒ，微分値Ｔおよび補正値Ｕの各々に関する
複数のメンバーシップ関数，(c) それら誤差値Ｒ，微分
値Ｔおよび補正値Ｕ相互の関係を規定する複数のファジ
ィルール等である。

【０１１４】誤差値Ｒについては、それが負から正に向
かって増加するにつれて『ＮＢ』，『ＮＭ』，『Ｎ
Ｓ』，『ＺＯ』，『ＰＳ』，『ＰＭ』および『ＰＢ』に
順に変化する７個のファジィラベルが用意されており、
それぞれのメンバーシップ関数は図１９にグラフで表さ
れるようになっている。

【０１１５】微分値Ｔについては、それが負から正に向
かって増加するにつれて『ＮＢ』，『ＮＳ』，『Ｚ
Ｏ』，『ＰＳ』および『ＰＢ』に順に変化する５個のフ
ァジィラベルが用意されており、それぞれのメンバーシ
ップ関数は図２０にグラフで表されるようになってい
る。

【０１１６】補正値Ｕについては、それが負から正に向
かって増加するにつれて『ＮＢ』，『ＮＭ』，『Ｎ
Ｓ』，『ＺＯ』，『ＰＳ』，『ＰＭ』および『ＰＢ』に
順に変化する７個のファジィラベルが用意されており、
それぞれのメンバーシップ関数は図２１にグラフで表さ
れるようになっている。なお、補正値Ｕが増加すれば定
寸点が高くなってクランクシャフトのジャーナル部が大
径化され、逆に、補正値Ｕが減少すれば定寸点が低くな
ってジャーナル部が小径化されることになる。

【０１１７】複数のファジィルールから成るファジィル
ール群は本来、１種類で足りるのであるが、本実施例に
おいては、２種類用意されている。以下、その理由を説
明する。

【０１１８】測定値Ｘが安定し、それの振動レベルが低
い状態では、誤差値Ｒおよび微分値Ｔに対して補正値Ｕ
が敏感に応答するように補正値Ｕを決定することが、ワ
ークの寸法精度向上にとって望ましい。しかし、このよ
うな状態のみを想定してファジィルール群の内容を設定
した場合には、加工機１０の振動等が原因となって、測
定値Ｘが不安定となり、それの振動レベルが高くなった
状態では、補正値Ｕが定寸装置１４に送信されるとかえ
って測定値Ｘの振動レベルが増加し、ワークの寸法精度
が低下してしまうことがある。そこで、本実施例におい
ては、測定値Ｘの振動レベルが低い状態で使用され、誤
差値Ｒおよび微分値Ｔに対して敏感に応答するように補
正値Ｕを決定するための積極的なファジィルール群と、
測定値Ｘの振動レベルが高い状態で使用され、誤差値Ｒ
および微分値Ｔに対して鈍感に応答するように補正値Ｕ
を決定するための消極的なファジィルール群とがそれぞ
れ用意されているのである。

【０１１９】積極的なファジィルール群の内容を表１
に、消極的なファジィルール群の内容を表２にそれぞれ
示す。

【０１２０】

【表１】

【表２】

【０１２１】積極的なファジィルールの一例は、表１か
ら明らかなように、 If Ｒ＝ＮＢ and Ｔ＝ＮＳ then Ｕ＝ＰＢ であり、また、消極的なファジィルールの一例は、表２
から明らかなように、 If Ｒ＝ＮＢ and Ｔ＝ＮＳ then Ｕ＝ＰＳ である。これらの例からも明らかなように、積極的なフ
ァジィルール群と消極的なファジィルール群は、誤差値
Ｒと微分値Ｔが共通であっても、補正値Ｕが積極的なフ
ァジィルール群における方が消極的なファジィルール群
におけるより増加する傾向があるように設計されている
のである。

【０１２２】なお、本実施例においては、制御装置２０
の初期状態では、それら積極的なファジィルール群と消
極的なファジィルール群とのうち積極的なファジィルー
ル群が選択されるように設計されている。

【０１２３】また、本実施例においては、前回のファジ
ィ推論において積極的なファジィルール群が使用され、
かつ、今回の測定値Ｘの振動レベルが高いために、今回
のファジィ推論において消極的なファジィルール群が使
用され、その消極的なファジィルール群の使用により今
回の測定値Ｘの振動レベルが低くなった場合には、再び
積極的なファジィルール群が使用されるようにも設計さ
れている。再び積極的なファジィルール群が使用される
と、直ちに測定値Ｘの振動レベルも再び高くなってしま
うおそれがある。しかし、消極的なファジィルール群の
使用する期間を長くすることは、測定値Ｘの真の値の変
化に対する補正値Ｕの応答速度がやや遅くなり、ワーク
の寸法精度が低下することにつながるから、消極的なフ
ァジィルール群の使用期間をできる限り短くし、ワーク
の寸法精度を向上させるのである。

【０１２４】さらにまた、本実施例においては、測定値
Ｘの振動レベルが高いか否かの判定は、各ファジィルー
ル群における複数のファジィルールのうち、微分値Ｔが
『ＮＢ』であるときと『ＰＢ』であるときとにそれぞれ
対応するもの（以下、これらを「異常時用ファジィルー
ル」という）が適合する頻度に基づいて行われるように
なっている。具体的には、ファジィ演算の実行回数を表
す判定回数カウンタの値が２以上の設定値Ｂより大きく
なるごとに、ファジィ演算において上記異常時用ファジ
ィルールが適合した回数を表す異常回数カウンタの値が
設定値Ｃより大きいか否かが判定され、大きいときに測
定値Ｘの振動レベルが高いと判定される。なお、判定回
数カウンタも異常回数カウンタもＲＡＭに設けられてい
る。また、判定回数カウンタは、その値が設定値Ｂより
大きくなったときに０にリセットされる。また、異常回
数カウンタは、判定回数カウンタのリセットと同時に０
にリセットされる。

【０１２５】以上、ファジィルール群を２種類設けた理
由およびそれらファジィルール群の相違点について説明
したが、それらファジィルール群の設計思想は基本的に
は共通するものであり、以下、その共通点について説明
する。

【０１２６】各ファジィルール群は、誤差値Ｒのファジ
ィラベルが増加する（以下、単に「誤差値Ｒが増加す
る」という。他のファジィ変数についても同じとする）
につれて補正値Ｕが減少するのは勿論、微分値Ｔが増加
するにつれて補正値Ｕが減少するように設計されてい
る。

【０１２７】そして、このことは具体的に、例えば表１
のファジィルール表において次のように現れている。す
なわち、例えば、微分値Ｔが『ＮＳ』である場合には、
誤差値Ｒが増加するにつれて補正値Ｕが『ＰＢ』，『Ｐ
Ｍ』，『ＰＳ』，『ＺＯ』，『ＺＯ』，『ＮＳ』および
『ＮＭ』の順に減少し、また、誤差値Ｒが『ＮＭ』であ
る場合には、微分値Ｔが『ＮＳ』，『ＺＯ』および『Ｐ
Ｓ』の順に増加するにつれて補正値Ｕが『ＰＭ』，『Ｐ
Ｍ』，『ＰＳ』と減少するのである。

【０１２８】インプロセス測定機１２は何らかの事情で
故障することがあり、この場合にはそれの測定精度が急
にかつ大きく低下し、ワークの寸法精度も急に大きく低
下することになる。それにもかかわらずインプロセス測
定機１２が正常であるとして補正値Ｕを決定すると、ワ
ークの実際の寸法精度が許容公差範囲から逸脱してしま
う恐れがある。

【０１２９】このような事情に鑑み、各ファジィルール
群は、全数測定機１６による測定値Ｘが急に減少してか
なり小さくなった場合と、急に増加してかなり大きくな
った場合とにはそれぞれ、補正量Ｕが十分に０に近づく
ようにも設計されている。このようにすれば、インプロ
セス測定機１２が故障した場合には、それからの出力信
号が無視されて前回までの定寸点が今回も適当であると
して加工が行われるから、インプロセス測定機１２の故
障の影響をそれほど強く受けることなくワークの寸法精
度を高く維持することが可能となる。

【０１３０】このことは具体的に、例えば表１のファジ
ィルール表において次のように現れている。すなわち、
誤差値Ｒが『ＮＢ』または『ＮＭ』であり、かつ、微分
値Ｔが『ＮＢ』である場合と、誤差値Ｒが『ＰＭ』また
は『ＰＢ』であり、かつ、微分値Ｔが『ＰＢ』である場
合とにはそれぞれ、補正値Ｕが『ＺＯ』となっているの
である。

【０１３１】次に、連続性考慮（図１１の第６ステッ
プ）について説明する。前述のように、測定ワーク数ｉ
の増加につれてワークの寸法誤差がほぼ比例的に増加す
るのが一般的であるため、定寸点の補正値Ｕに連続性を
持たせること、すなわち、加工の進行につれて滑らかに
変化させることがワークの寸法ばらつきを抑制するのに
望ましい。

【０１３２】そこで、本実施例においては、その事実に
着目し、図２２にグラフで概念的に示すように、まず、
連続性を無視して補正値Ｕが決定され、それが暫定値
（以下、「暫定補正値Ｕ」という。なお、後述の暫定補
正値Ｕ_P とは異なる）とされ、今回までに取得された最
新のＭ（２以上の固定値）個の暫定補正値Ｕが測定ワー
ク数ｉの増加に対してほぼ比例すると仮定され、それら
Ｍ個の暫定補正値Ｕについて前記の場合と同様な１次回
帰線の式が特定される。そして、その式を用いて現在の
補正値Ｕの真の値が推定され、それが補正値Ｕの最終値
（以下、「最終補正値Ｕ^* 」という。なお、後述の最終
補正値Ｕ_F とは異なる）とされる。なお、この技術は、
本出願人の特願平４−６１３０６号として出願されてい
る。

【０１３３】具体的には、１次回帰線の式として、例え
ば、

【０１３４】

【数７】

【０１３５】なる式が採用される。ただし、 ｘ：測定ワーク数ｉの値 ｘ′：Ｍ個のｘの値の平均値 ｙ：ｘの各値における暫定補正値Ｕの真の値 Ｕ：ｘの各値における暫定補正値Ｕの計算値 Ｕ′：Ｍ個の暫定補正値Ｕの計算値の平均値

【０１３６】そして、上記式の「ｘ」に今回の測定ワー
ク数ｉの値を代入すれば、今回の最終補正値Ｕ^* が取得
されることになる。

【０１３７】なお、本実施例においては、この連続性考
慮型補正の実行の許否も作業者によって指令されるよう
になっている。

【０１３８】また、作業者からその連続性考慮型補正指
令が出された場合（ただし、前記２回微分値使用指令は
出されていない場合）に測定値Ｘから最終補正値Ｕ^* が
取得されるまでの過程を代表的に、図２３に概念的に図
示する。この図は、それの左側から右側に向かうにつれ
て、測定ワーク数ｉの値が増加することとして表されて
いる。図から明らかなように、演算データメモリへの測
定値Ｘの蓄積を無蓄積状態から開始する場合には、（Ｋ
＋Ｌ＋Ｍ−２）個の測定値Ｘが蓄積されたときに初めて
１個の最終補正値Ｕ^* が取得されることになるであり、
これが後述の、測定値Ｘの蓄積に係る「設定複数個」の
一態様なのである。

【０１３９】次に、不感帯考慮（図１１の第７ステッ
プ）について説明する。最終補正値Ｕ^* の送信について
は、定寸装置１４との関係における不感帯が設定され、
各回に決定した最終補正値Ｕ^* がその不感帯内にある場
合には、その最終補正値Ｕ^* の定寸装置１４への送信が
省略される。この様子を図２４にグラフで概念的に示
す。なお、補正値Ｕに不感帯を設定するという技術は、
本出願人の特願平４−２７８１４６号として出願されて
いる。

【０１４０】次に、間欠的補正について詳しく説明す
る。定寸点補正に際し、全数測定機１６によりワークの
寸法が測定されるごとに、加工機１０により次に加工さ
れるべきワークの定寸点の補正値Ｕを決定する連続的補
正なる補正手法を採用することができる。しかし、この
連続的補正を採用する場合には次のような問題がある。
すなわち、全数測定機１６により測定されるワークすべ
てについて個々に補正値Ｕを決定しなければならないた
め、制御装置２０に大きな負担がかかってしまうという
問題があるのである。

【０１４１】この問題を解決するため、本実施例におい
ては、間欠的補正なる補正手法が採用されている。

【０１４２】この間欠的補正を図２５にグラフで概念的
に示す。このグラフは、加工機１０と全数測定機１６と
の間に複数の待機ワークが存在する場合に取得されるも
のであり、このグラフにおいて「測定おくれ」とは、加
工機１０と全数測定機１６との間の待機ワークの数に相
当する。また、「Ｕi-1 」は前回の補正値を、「Ｕi」
は今回の補正値をそれぞれ表している。したがって、前
回の補正値Ｕi-1 の影響は測定おくれの後にはじめて寸
法誤差に現れ、また、同様に、今回の補正値Ｕi の影響
も測定おくれの後にはじめて寸法誤差に現れることとな
る。また、このグラフは、複数のワークを順に、互いに
同じ定寸点の下で加工した場合にはそれら各ワークの寸
法誤差が測定ワーク数ｉの増加に対してほぼ比例的に増
加すると仮定した場合に取得されるものでもある。な
お、寸法誤差が増加する原因には例えば、加工機１０の
加工具としての砥石の摩耗が考えられる。また、以上の
事情は以下のグラフにおいても同様である。

【０１４３】この間欠的補正を実施する方式として本出
願人は２つの態様を案出した。以下、それら各方式につ
いて詳しく説明する。

【０１４４】 間欠的補正の第１の方式 この定寸点補正装置は、前述のように、加工機１０と全
数測定機１６との間にワークが存在することを許容する
加工システムと共に使用されるべきものであるから、前
回の補正値Ｕの影響を受けた定寸点の下で加工されたワ
ークがその直後に全数測定機１６により測定されるとは
限らず、いくつか別のワークの測定を経た後にはじめて
測定される場合もある。したがって、前回の補正値Ｕの
影響を直接に今回の補正値Ｕに反映させることが必要で
ある場合には、前回の補正値Ｕの影響を受けた定寸点の
下で加工された少なくとも１個のワークが全数測定機１
６により測定されるごとに、今回の補正値Ｕを決定する
ことが望ましい。

【０１４５】このような事情を背景として、第１の方式
は、図２６にグラフで概念的に示すように、全数測定機
１６による測定値Ｘを逐次蓄積し、蓄積された測定値Ｘ
の数が設定複数個以上となったときに、それら蓄積され
た最新の設定複数個の測定値Ｘに基づいて今回の補正値
Ｕ_i を決定し、その今回の補正値Ｕ_i の影響を受けた定
寸点の下で加工された少なくとも１個のワークうち最初
に全数測定機１６により測定されることとなる先頭補正
対象ワークがその測定を終了する時期以後に（例えば、
その測定の終了直後に）、それの測定値Ｘの蓄積を無蓄
積状態から再開するものとされている。

【０１４６】この方式は例えば、前回の補正値Ｕi-1 を
決定して定寸装置１４に送信してから、今回の補正値Ｕ
i を決定して定寸装置１４に送信するまでの中間期間で
ある補正間隔期間は、補正値Ｕを決定せず、定寸装置１
４における定寸点が同じ値に維持されるような態様とし
て実施することができる。しかし、この実施態様では次
のような問題が生ずる。すなわち、各回の補正の実行時
期が、測定値Ｘの実際の変動とは無関係に、測定値Ｘの
蓄積数によって一義的に決まってしまい、各回の補正が
本当に必要な時期に実行されないという問題が生ずるの
である。

【０１４７】この問題を解決するためには、前述のよう
に、補正値Ｕの送信につき、定寸装置１４との関係にお
いて不感帯を設定し、決定された補正値Ｕが実質的に０
である場合には、その補正値Ｕの定寸装置１４への送信
を行わず、演算データメモリをクリアすることなく、新
たな測定値Ｘの取得を待って、補正値Ｕの決定をやり直
せばよい。このようにすれば、各回の補正が本当に必要
な時期にタイムリーに実行されることになる。

【０１４８】しかし、このようにしただけでは、その各
回の補正の終了後に測定値Ｘに予定外の変化が生じた場
合には、その変化に迅速に対応して定寸点を補正するこ
とはできない。各回の補正の終了後に測定値Ｘに予定外
の変化が発生した場合には、その予定外の変化は演算デ
ータメモリに蓄積されて次回の補正値Ｕに反映されるの
であって、このように次回の補正まで待たなければその
予定外の変化に対応して定寸点を補正することができな
いのである。そのため、各回の補正の終了後に測定値Ｘ
に予定外の変化が生じた場合には、ワークの寸法誤差が
十分には０に近づかないという問題がある。

【０１４９】この問題を解決するためには前記第１の方
式を次のような態様で実施すればよい。すなわち、図２
７にグラフで概念的に示すように、一回の間欠的補正
を、前記態様における間欠的補正（例えば、図２６にお
いて「Ｕ_i 」を決定すること）である主補正に後続して
補助補正を行うものとすることにより、主補正の終了後
に測定値Ｘに発生する予定外の変化に、補助補正により
迅速に対応して定寸点を補正する態様で実施すればよい
のである。

【０１５０】ここに「主補正」とは、全数測定機１６に
よる測定値Ｘを逐次蓄積し、蓄積された測定値Ｘの数が
設定複数個以上となったときに、それら蓄積された最新
の設定複数個の測定値Ｘに基づいて今回の暫定補正値Ｕ
_P を決定し、それを最終補正値Ｕ_F とするものである。

【０１５１】また、「補助補正」とは、その主補正の終
了後にも測定値Ｘの蓄積を続行し、その主補正の終了後
から（例えば、その主補正の終了直後から）、その主補
正の影響を受けた定寸点の下で加工された少なくとも１
個のワークのうち最初に全数測定機１６により測定され
ることとなる先頭補正対象ワークより１回だけ先に加工
されたワークについてその測定が終了する時期以前まで
（例えば、その測定の終了時期まで）、その全数測定機
１６によりワークが測定されるごとに、蓄積された最新
の設定複数個の測定値Ｘに基づき、主補正におけると同
じ規則に従って各回の暫定補正値Ｕ_P を決定し、その決
定した各回の暫定補正値Ｕ_P から前回の暫定補正値Ｕ_P
を引いたものを各回の最終補正値Ｕ_F に決定するもので
ある。

【０１５２】この補助補正においては、主補正における
と同様な規則に従って決定された補正値Ｕである暫定補
正値Ｕ_P がそのまま定寸装置１４に送信されず、前回の
暫定補正値Ｕ_P からの差として供給されるようになって
いるが、以下、この理由を説明する。

【０１５３】補助補正においては、本来であれば、それ
に先立って行われる主補正の影響を受けたワークの測定
値Ｘに基づいて最終補正値Ｕ_F が決定されるべきであ
る。しかし、主補正の影響を受けたワークが、加工直後
に全数測定機１６により測定されるとは限らず、いくつ
か別のワークの測定を経た後にはじめて測定される場合
もある。そこで、本実施例においては、主補正の影響が
重複して、次に加工されるべきワークに対応する定寸点
に反映されてしまわないように、主補正に係る先頭補正
対象ワークより１回だけ先に加工されたワークについて
測定が終了する時期以前まで、各回の測定値Ｘに基づい
て主補正におけると同じ規則に従って決定した補正値Ｕ
が暫定補正値Ｕ_P とされ、それから主補正の最終補正値
Ｕ_F の影響が除去されたものが最終補正値Ｕ_F とされて
いる。以上、主補正と補助補正との関係について説明し
たが、補助補正におけるある回とその次の回との関係に
ついても同様である。

【０１５４】これら主補正と補助補正とを行う態様にお
いては、補助補正をそれの属するある回の間欠的補正の
終了時期まで、すなわち次回の主補正の開始直前まで必
ず実行することができる。しかし、この場合には、制御
装置２０自身にやや大きな負担がかかるという問題が生
ずる。

【０１５５】この問題を解決するためには、補助補正の
実行回数を制限すればよい。すなわち、一連の補助補正
における最終補正値Ｕ_F の決定回数を測定し、その測定
した決定回数が設定値に達したときにその一連の補助補
正を終了すればよいのである。しかし、この対策では、
補助補正の終了時期が主補正の終了時期との関係におい
て固定されてしまい、補助補正の実行時期が、主補正の
終了後における測定値Ｘの予定外の変化に対応するのに
最適になるとは限らないという問題がある。

【０１５６】この問題を解決するためには、補助補正を
次のような態様で実施すればよい。すなわち、補助補正
における最終補正値Ｕ_F にも、主補正における最終補正
値Ｕ _F と同様に、定寸装置１４との関係における不感帯
を設け、一連の補助補正の当初において決定した最終補
正値Ｕ_F がその不感帯内にある場合には、その最終補正
値Ｕ_F を定寸装置１４に送信せず、事実上その一連の補
助補正の実行を開始せず、その後決定された最終補正値
Ｕ_F が不感帯から外れた場合に初めて、その最終補正値
Ｕ_F を送信し、その一連の補助補正の実行を開始する態
様で実施すればよいのである。

【０１５７】しかし、以上のようにしただけでは、主補
正および補助補正の実行時期が測定値Ｘの変動時期に十
分には合致せず、主補正および補助補正が本当に必要な
時期に実行されないことがある。このような事態を回避
するためには、補助補正を次のような態様で実施すれば
よい。すなわち、一連の補助補正における最終補正値Ｕ
_F の決定回数が設定値に達したときに、主補正およびそ
の一連の補助補正のうち少なくともその一連の補助補正
において決定された複数の最終補正値Ｕ_F の和が実質的
に０でない場合には、その一連の補助補正を終了する
が、実質的に０である場合には、少なくとも今回の補助
補正の実行時期が適当ではなかったと推定されるから、
今回の補助補正を続行するとともに最終補正値Ｕ_F の決
定回数の測定を０から再開する態様で実施すればよいの
である。

【０１５８】そして、本実施例においては、補正値決定
の方式として、主補正のみで補助補正を行わない方式
と、主補正のみならず補助補正をも行う方式とのいずれ
かが作業者の指令に応じて選択されるようになってい
る。すなわち、補助補正指令が出されれば後者の方式が
選択され、出されなければ前者の方式が選択されるよう
になっているのである。

【０１５９】また、本実施例においては、その補助補正
の方式として、補助補正の続行を行う方式と、行わない
方式とのいずれかが作業者の指令に応じて選択されるよ
うにもなっている。

【０１６０】さらにまた、本実施例においては、その補
助補正の続行方式として、続行されるべき補助補正の初
回の最終補正値Ｕ_F について不感帯を考慮して補助補正
を続行する方式（以下、「補助補正再開方式」という）
と、不感帯を考慮しないで続行する方式（以下、「補助
補正延長方式」という）とのいずれかが作業者の指令に
応じて選択されるようにもなっている。前者の方式を選
択するための指令を「補助補正再開指令」といい、後者
の方式を選択するための指令を「補助補正延長指令」と
いい、それら指令のいずれも出されていない場合には、
補助補正の続行許可指令が出されていないと判断される
ようになっている。

【０１６１】 間欠的補正の第２の方式 間欠的補正を上述の第１の方式で実施する場合には、加
工機１０と全数測定機１６との間に待機ワークが存在す
るときには、今回の補正値Ｕの決定直後から測定値Ｘの
蓄積を開始することができない。そのため、今回の補正
値Ｕの決定時期から次回の補正値Ｕの決定時期までにか
かる時間（以下、「補正間隔時間」という）は、図２６
に示すように、その今回の補正値Ｕに係る先頭補正対象
ワークが全数測定機１６に到達する測定おくれ時間（加
工機１０と全数測定機１６との間に存在する待機ワーク
の数に相当する）と、その後測定値Ｘの蓄積が開始され
て設定複数個の測定値Ｘが蓄積されるまでの必要蓄積数
時間との和となる。そのため、加工機１０と全数測定機
１６との間に多くの待機ワークが存在することを避け得
ないような場合には、補正間隔時間が長くなることを避
け得ない。

【０１６２】この第２の方式はこの問題を解決するため
に案出されたものであって、図２８にグラフで概念的に
示すように、測定値の蓄積開始から補正値Ｕの決定まで
の期間が一回の自動補正期間とされ、各回の自動補正期
間において、前回の補正値Ｕi-1 に係る先頭補正対象ワ
ークについての全数測定機１６による測定が必ず行われ
ると仮定され、前回の補正値Ｕi-1 に係る先頭補正対象
ワークより１回だけ先に加工されたワークについてその
測定が終了する時期近傍（その時期ちょうど、少し前、
または少し後）までの期間は、全数測定機１６によりワ
ークが測定されるごとに、各回の実際の測定値Ｘに前回
の補正値Ｕi-1 を加算することにより、それら各ワーク
が前回の補正値Ｕi-1 の影響を受けた定寸点の下で加工
されたと仮定した場合にそれら各ワークについて測定さ
れる値を予測し、その予測した測定値Ｘを実際の測定値
Ｘとみなして蓄積する。実際の測定値Ｘを前回の補正値
Ｕi-1 だけ平行にシフトするデータシフト処理が採用さ
れているのであり、シフト量を前回の補正値Ｕi-1 に決
定するのである。また、前回の補正値Ｕi-1 に係る先頭
補正対象ワークの測定が終了した後には、測定値Ｘの予
測が不要であるため、シフト量が０とされ、実際の測定
値Ｘがそのまま蓄積される。なお、シフト量の決定は図
３０のルーチンにより実行されるが、このルーチンにつ
いては後に詳述する。

【０１６３】この第２の方式もまた、前記第１の方式の
場合と同様に、一回の間欠的補正が主補正と回数制限付
きかつ続行可能な補助補正とを含み（これを図２９にグ
ラフで概念的に示す）、かつ、主補正および補助補正に
ついて不感帯なる概念が採用され、かつ、補助補正の続
行方式の選択が可能な態様として実施されている。そし
て、本実施例においては、作業者の指令に応じて第１の
方式と第２の方式との択一も可能とされている。具体的
には、作業者がデータシフト処理を許可するか否かを指
令し、許可した場合にはデータシフト処理が、許可しな
い場合に第１の方式が選択されるようになっている。

【０１６４】なお、本実施例においては、演算データメ
モリが第一の間欠的補正用と第二の間欠的補正用とにつ
いてそれぞれ設けられている。それぞれの内容をクリア
する時期が互いに異なるからであり、このことについて
は後に詳述する。

【０１６５】次に制御装置２０による自動補正と定寸装
置１４による手動補正との関係について説明する。

【０１６６】制御装置２０は、定寸装置１４による手動
補正が行われた場合には、手動補正を自動補正より優先
させる。具体的には、測定値の蓄積開始から自動補正値
Ｕの決定を経てその送信までの自動補正期間内におい
て、全数測定機１６により測定された測定値Ｘがすべて
制御装置２０に供給されて全数測定機１６に測定値Ｘが
残存しない測定値不存在時（図５のＳ１０および２０参
照）と、自動補正値Ｕを決定した直後であって定寸装置
１６への送信前（図９のＳ６７，７６および８３参照）
とにおいてそれぞれ、手動補正の有無が確認され、手動
補正があった場合には自動補正値Ｕの送信なしで手動補
正値が送信される。

【０１６７】本実施例においては、自動補正期間の途中
で手動補正が行われたからといってその自動補正期間を
中止して新たな自動補正期間を開始させるのではなく、
途中で手動補正が行われた自動補正期間内においてその
手動補正の前に蓄積された測定値Ｘを有効に利用して自
動補正値を決定するようになっている。

【０１６８】また、本実施例においては、途中で手動補
正が行われた自動補正期間内における測定値Ｘの実際の
時間的推移として２つの場合が仮定されている。いずれ
の場合においても、前回の自動補正値Ｕi-1 の影響が必
ず今回の自動補正期間内に実際の測定値Ｘに現れると仮
定されているが、第一の場合は、図１の上側に示すよう
に、手動補正後に前回の自動補正値Ｕi-1 の影響が実際
の測定値Ｘに現れ、続いて手動補正値Ｕ’の影響が実際
の測定値Ｘに現れるものであり、第二の場合は、同図の
下側に示すように、手動補正前に前回の自動補正値Ｕi-
1 の影響が実際の測定値Ｘに現れ、続いて手動補正値
Ｕ’の影響が実際の測定値Ｘに現れるものである。

【０１６９】そして、本実施例においては、自動補正期
間中に手動補正指令が出された場合には、その直後に、
それまでに蓄積されていた測定値Ｘに対する修正が行わ
れる。すなわち、データシフト処理指令が出されている
場合に、今回の自動補正期間中に手動補正指令が出され
るか否かを問わず、手動補正指令が出されない場合と同
じ手法で測定値Ｘの修正すなわち最新の加工条件下での
測定値Ｘの予測が行われ、実際に手動補正指令があった
場合には、それまでに蓄積された測定値Ｘ（予測後のも
の）に対してさらに修正を加えることにより、当初から
実際の測定値Ｘを前回の自動補正値Ｕi-1 と手動補正値
Ｕ’との和の下に修正して蓄積した場合と同じ状況を事
後的に造り出すのである。

【０１７０】具体的には、上記第一の場合には、図１の
上側に示すように、今回の自動補正期間内の手動補正の
直後において、手動補正までに蓄積された測定値Ｘ（予
測後のもの）の各々に手動補正値Ｕ’が加算される。先
に蓄積された測定値Ｘは実際の測定値Ｘに前回の自動補
正値Ｕi-1 が加算されているから、結局、先に蓄積され
た測定値Ｘに手動補正値Ｕ’を加算することは、実際の
測定値Ｘに手動補正値Ｕ’と前回の自動補正値Ｕi-1 と
の和を加算したのと同じことを意味する。

【０１７１】一方、上記第二の場合にも、同図の下側に
示すように、今回の自動補正期間内の手動補正の直後に
おいて、手動補正までに蓄積された測定値Ｘ（予測後の
もの）の各々に手動補正値Ｕ’が加算される。ただし、
前回の自動補正値Ｕi-1 が実際の測定値Ｘに現れていな
い期間に蓄積された測定値Ｘに手動補正値Ｕ’を加算す
ることは、実際の測定値Ｘに前回の自動補正値Ｕi-1 と
手動補正値Ｕ’との和を加算することを意味するのに対
し、前回の自動補正値Ｕi-1 が実際の測定値Ｘに現れる
期間に蓄積された測定値Ｘに手動補正値Ｕ’を加算する
ことは、実際の測定値Ｘに手動補正値Ｕ’との和を加算
することを意味することになる。

【０１７２】また、この測定値Ｘの修正に伴い、既に蓄
積されている移動平均値Ｐ，微分値Ｔおよび２回微分値
Ｄの修正も行われる。それらの処理を実行するための蓄
積値修正ルーチンが図３１にフローチャートで表されて
いる。

【０１７３】さらに、上記の測定値Ｘの修正が行われた
後の自動補正期間においては、以下のようにしてデータ
シフト処理が続行される。

【０１７４】すなわち、上記第一の場合には、図１の上
側に示すように、手動補正の直後から前回の自動補正値
Ｕi-1 の影響が実際の測定値Ｘに現れるまでの期間は、
実際の測定値Ｘに前回の自動補正値Ｕi-1 と手動補正値
Ｕ’との和を加算することによって最新の加工条件下で
の測定値Ｘの予測が行われて蓄積され、前回の自動補正
値Ｕi-1 の影響が実際の測定値Ｘに現れてから手動補正
値Ｕ’の影響が実際の測定値Ｘに現れるまでの期間は、
実際の測定値Ｘに手動補正値Ｕ’のみを加算することに
よって最新の加工条件下での測定値Ｘの予測が行われて
蓄積されるのである。手動補正値Ｕ’の影響が実際の測
定値Ｘに現れた後は、実際の測定値Ｘがそのまま蓄積さ
れる。

【０１７５】これに対し、上記第二の場合には、同図の
下側に示すように、手動補正の直後から手動補正値Ｕ’
の影響が実際の測定値Ｘに現れるまでの期間は、実際の
測定値に手動補正値Ｕ’のみを加算することによって最
新の加工条件下での測定値Ｘの予測が行われて蓄積さ
れ、手動補正値Ｕ’の影響が実際の測定値Ｘに現れた後
は、実際の測定値Ｘがそのまま蓄積されるのである。

【０１７６】なお、手動補正後のデータシフト処理にお
けるシフト量の決定も、図３０のルーチンによって実行
される。

【０１７７】ここで、演算データメモリのクリア時期に
ついて説明する。第一の間欠的補正用の演算データメモ
リについては、手動補正値および自動補正値をそれぞれ
送信するごとにクリアされ、さらに、最新の補正値の送
信時期からその補正値の影響を実際に受けた先頭補正対
象ワークの測定が終了するまでの間、すなわちワーク待
ちフラグがＯＮである間に逐次クリアされる。一方、第
二の間欠的補正用の演算データメモリについては、手動
補正値の送信時には、その送信ごとにではなく最初の手
動補正値を送信したときのみクリアされ、また、自動補
正値の送信時には、送信ごとにクリアされる。ワーク待
ちフラグがＯＮである期間でもクリアされることはな
い。

【０１７８】なお、インプロセス測定機１２において使
用により摩耗した前記一対の測定子を新品と交換する際
や定期的に、目標寸法通りに仕上げられたマスタワーク
を用いて定寸装置１６の定寸点のゼロ調整（例えば、イ
ンプロセス測定機１２がそのマスタワークを測定したと
きにちょうど定寸装置１６が前記定寸点到達信号を出力
するように定寸装置１６の電気的特性を調整すること）
が行われるのが一般的である。また、このゼロ調整の前
後で、加工機１０により加工されたワークの寸法の変化
傾向が異なるのが一般的である。一方、このゼロ調整の
際には、その後いくつかのワークについて加工機１０に
よる加工が試行され、その結果が前記チェックステーシ
ョンで確認され、その結果に基づいて定寸点が手動補正
されるのが一般的である。それらの事情を背景とし、本
実施例においては、第一の間欠的補正用の演算データメ
モリについては、手動補正が行われるごとにクリアし、
その手動補正の影響が実際の測定値に最初に現れるま
で、自動補正が中断されるようになっている。

【０１７９】しかし、手動補正ごとに演算データメモリ
のクリアを行うこととしても、ゼロ調整ごとに必ず手動
補正が行われるとは限らない。上記試行における結果が
良好であって、手動補正の必要がない場合もあるからで
ある。したがって、定寸装置１６から制御装置２０へ、
手動補正に関する情報のみならず定寸点のゼロ調整に関
する情報も送信されるようにし、制御装置２０が、ゼロ
調整が行われたが手動補正が行われない場合にも確実に
演算データメモリをクリアするようにして、自動補正値
の精度を向上させることが望ましい。

【０１８０】以上、制御装置２０による定寸点補正の内
容を概略的に説明したが、以下、定寸点補正ルーチンを
表す図５〜１０のフローチャートに基づき、具体的に説
明する。

【０１８１】まず、図５のステップＳ１（以下、単に
「Ｓ１」で表す。他のステップについても同じとする）
において、補助記憶装置２２から数値や指令がパラメー
タとして入力される。ここに「数値」とは、前述の、移
動平均値Ｐに係る重み係数ｂの初期値，置換制限数Ｚ，
補助補正制限数Ｓ等を意味し、また、「指令」とは、前
述の、特別移動平均値算出指令等を意味する。

【０１８２】続いて、Ｓ２において、定寸装置１４が最
新の手動補正値および定寸点を制御装置２０に送信する
機能（以下、「手動補正値送信機能」という）を有して
いるか否かが判定される。ここに、手動補正値送信機能
を有する場合とは、定寸装置１４が、作業者によりキー
ボード５０を介して定寸装置１４に入力された手動補正
値およびそれを反映した定寸点を自身のＲＡＭに記憶す
るのみならず、制御装置２０に自発的に送信するように
設計されている場合をいい、一方、手動補正値送信機能
を有しない場合とは、定寸装置１４は、入力された手動
補正値およびそれを反映した定寸点を自身のＲＡＭに記
憶するのみで、制御装置２０に自発的に送信するように
は設計されていない場合をいう。

【０１８３】定寸装置１４は前述のように、この手動補
正値送信機能を有しているため、このＳ２の判定はＹＥ
Ｓ（図において「Ｙ」で表す。他のステップについても
同じとする。）となる。したがって、Ｓ３に移行し、こ
こにおいて、制御装置２０が、定寸装置１４からの最新
の定寸点を表す信号の受信を許可する受信許可状態とな
り、最新の定寸点が受信される。受信された最新の定寸
点は制御装置２０のＲＡＭに記憶されるとともに、補助
記憶装置２２に保存される。

【０１８４】その後、Ｓ４において、定寸装置１４のＲ
ＡＭのフラグの状態から手動補正があったか否かが判定
される。手動補正がなかったと仮定すれば、判定がＮＯ
となり、直ちにＳ８に移行するが、あったと仮定すれ
ば、判定がＹＥＳとなり、Ｓ５において、制御装置２０
が、定寸装置１４からの最新の手動補正値を表す信号の
受信を許可する受信許可状態となり、その最新の手動補
正値が受信される。受信された最新の手動補正値は、制
御装置２０のＲＡＭに記憶され、さらに補助記憶装置２
２に保存される。その後、Ｓ６において、第一および第
二の間欠的補正用の演算データメモリ双方がクリアされ
る。手動補正と共に演算データメモリに蓄積されている
データがすべて消去されるのである。その後、Ｓ８に移
行する。

【０１８５】以上、Ｓ２の判定がＹＥＳとなる場合につ
いて説明したが、仮に定寸装置１４が手動補正値送信機
能を有していないと仮定すれば、判定がＮＯ（図におい
て「Ｎ」で表す。他のステップについても同じとする）
となり、Ｓ７において、制御装置２０が、定寸装置１４
のＲＡＭから最新の定寸点を読み込んで制御装置２０の
ＲＡＭに記憶する状態となり、さらに、その最新の定寸
点が補助記憶装置２２に保存される。

【０１８６】ここで、制御装置２０が定寸装置１４にお
ける最新の手動補正値と定寸点とをそれぞれ監視する目
的について説明する。

【０１８７】まず、制御装置２０が最新の定寸点を監視
する目的について説明する。制御装置２０は、定寸装置
１４の定寸点の補正値（現在の定寸点を変動させる量）
を自動的に決定し、その決定した補正値に従って定寸装
置１４は自身の定寸点を補正することになる。しかし、
定寸点が取り得る範囲には制限があり、それを超える定
寸点が決定された場合には、定寸装置１４の作動が停止
させられる。そこで、本実施例においては、定寸装置１
４の最新の定寸点を逐次監視し、自動的に決定した補正
値でその定寸点が補正されるとそれの許容範囲を超えて
しまう場合には、その自動補正値の定寸装置１４への送
信が禁止されるようになっている。このように、定寸装
置１４の事情を考慮しない一方的な自動補正によって定
寸装置１４の定寸点が許容範囲を超えることを防止する
ために、制御装置２０は定寸装置１４における最新の定
寸点を監視するのである。なお、定寸装置１４において
定寸点が許容範囲を超えることとなる場合に、自動補正
値の送信を禁止するとともに、定寸点が許容範囲を超え
た旨を作業者に警告する処理は、図示しない別のルーチ
ンの実行によって実現される。

【０１８８】次に、制御装置２０が最新の手動補正値を
監視する目的について説明する。制御装置２０は、前述
のように、作業者により前記データシフト処理の使用を
許可するデータシフト処理指令が出された場合には、全
数測定機１６による最新の測定値Ｘに基づき、加工機１
０により加工されたが未だ全数測定機１６により測定さ
れてはいない各ワークが最新の補正値の影響を受けた定
寸点の下で加工されたと仮定した場合にそれら各ワーク
について測定される値を予測する。この際、定寸装置１
４の定寸点が制御装置２０により自動補正されている場
合には、全数測定機１６による最新の測定値Ｘに最新の
自動補正値を加算することによって上記予測が行われ、
これに対して、定寸装置１４自身により手動補正されて
いる場合には、最新の測定値Ｘに最新の手動補正値を加
算することによって上記予測が行われる。このように、
制御装置２０が定寸装置１４における手動補正値の影響
を考慮して測定値Ｘの予測を行うために、定寸装置１４
における最新の手動補正値を監視する必要があるのであ
る。

【０１８９】定寸装置１４が手動補正値送信機能を有し
ている場合も有していない場合もその後、Ｓ８におい
て、全数測定機１６により測定された測定値Ｘであって
未だ全数測定機１６から制御装置２０に送信されていな
いものの有無が判定される。今回は、そのような測定値
Ｘはないと仮定すれば、判定がＮＯとなり、Ｓ９に移行
する。

【０１９０】このＳ９においては、前記Ｓ２と同様にし
て、定寸装置１４が手動補正値送信機能を有しているか
否かが判定される。定寸装置１４は手動補正値送信機能
を有しているから、判定がＹＥＳとなり、Ｓ１０におい
て、前記Ｓ４と同様にして、定寸装置１４において手動
補正があったか否かが判定される。

【０１９１】今回は手動補正がなかったと仮定すれば、
判定がＮＯとなり、Ｓ１１において、制御装置２０に接
続されているキーボード（図示しない）が作業者により
操作されたか否か、すなわち、作業者によるキー入力の
有無が判定される。無ければ判定がＮＯとなって直ちに
Ｓ８に戻るが、有れば判定がＹＥＳとなり、Ｓ１２にお
いて、そのキーボードからデータが入力され、Ｓ１３に
おいて、そのデータに応じて前記パラメータが変更さ
れ、さらに、その変更されたパラメータが補助記憶装置
２２に保存され、その後、Ｓ１４において、前記双方の
演算データメモリがクリアされ、その後、Ｓ８に戻る。

【０１９２】これに対して、今回は手動補正があったと
仮定すれば、Ｓ１０の判定がＹＥＳとなり、Ｓ１５にお
いて、前記Ｓ５と同様にして定寸装置１４から最新の手
動補正値が受信されて記憶され、続いて、Ｓ１６におい
て、後述のワーク待ちフラグがＯＮされ、Ｓ１７におい
て、第一の間欠的補正用（すなわち、前記データシフト
処理を行わない間欠的補正用）の演算データメモリのみ
がクリアされる。その後、Ｓ１４０に移行する。

【０１９３】このＳ１４０は、手動補正前に蓄積された
測定値Ｘ，移動平均値Ｐ，微分値Ｔおよび２回微分値Ｄ
のそれぞれの修正のためのステップである。これの詳細
を図３１にフローチャートで表す。まず、Ｓ５０１にお
いて、第二の間欠的補正用の演算データメモリに既にデ
ータが蓄積されているか否かが判定される。今回は全く
蓄積されていないと仮定すれば、判定がＮＯとなり、直
ちにＳ８に戻る。蓄積されている場合については後に詳
述する。

【０１９４】これに対して、定寸装置１４が手動補正値
送信機能を有していないと仮定すれば、Ｓ９の判定がＮ
Ｏとなり、Ｓ１８において、定寸装置１４から最新の定
寸点が読み込まれ、それがＲＡＭに記憶されるととも
に、補助記憶装置２２に保存され、その後、Ｓ１９にお
いて、補助記憶装置２２から前回の定寸点が入力され
る。その後、Ｓ２０において、今回の定寸点が前回の定
寸点から変更されているか否かが判定される。すなわ
ち、手動補正値送信機能のない定寸装置において手動補
正が行われたか否かが、定寸点の変化状況から判定され
るのである。今回は定寸点の変更はないと仮定すれば、
判定がＮＯとなり、直ちにＳ１１に移行するが、定寸点
の変更があったと仮定すれば、Ｓ２０の判定がＹＥＳと
なり、Ｓ２１において、ワーク待ちフラグがＯＮされ、
Ｓ２２において、第一の間欠的補正用の演算データメモ
リのみがクリアされ、その後、前記Ｓ１４０に移行す
る。

【０１９５】以上、全数測定機１６において送信すべき
測定値Ｘがない場合について説明したが、あった場合に
は、Ｓ８の判定がＹＥＳとなり、Ｓ２３において、その
測定値Ｘが全数測定機１６から入力される。測定値Ｘ
は、７個のジャーナル面すべてについて個々に入力され
る。その測定値Ｘは前記双方の演算データメモリに蓄積
されるとともに補助記憶装置２２に保存され、その後、
図４のＳ２４に移行する。

【０１９６】このＳ２４においては、前記パラメータの
値に基づき、作業者によりデータシフト処理指令が出さ
れているか否かが判定される。以下、まず、データシフ
ト処理指令が出されていない場合について説明する。

【０１９７】この場合、Ｓ２４の判定がＮＯとなり、Ｓ
２５において、ワーク待ちフラグがＯＮであるか否かが
判定される。

【０１９８】このワーク待ちフラグは、定寸装置１４に
おける定寸点であって最新の手動補正値または自動補正
値の影響を受けたものの下で加工された少なくとも１個
のワークのうち先頭のものである先頭補正対象ワークが
全数測定機１６により測定されたか、それともその測定
を待っているのかを監視するためのものである。このワ
ーク待ちフラグは、ＯＦＦでその先頭補正対象ワークが
測定を終了したこと、すなわちワーク待ち状態にないこ
とを示し、一方、ＯＮで先頭補正対象ワークが測定を終
了しないこと、すなわちワーク待ち状態にあることを示
す。このワーク待ちフラグはＲＡＭに設けられており、
コンピュータの電源の投入に伴ってＯＮされ、図示しな
い別のルーチンの実行により、その先頭補正対象ワーク
が全数測定機１６による測定を終了するごとに、ＯＦＦ
される。また、本ルーチンの実行により、手動補正が行
われるごとに、および各回の間欠的補正が終了するごと
に、ＯＮされる。今回はワーク待ちフラグがＯＮではな
いと仮定すれば、Ｓ２５の判定がＮＯとなり、Ｓ２６に
移行する。

【０１９９】このＳ２６においては、第一の間欠的補正
用の演算データメモリから過去の測定値Ｘが入力され
る。その後、Ｓ２７において、今回の移動平均値Ｐの算
出の可否が判定される。演算データメモリに蓄積されて
いる測定値Ｘの数がＫ個以上であるか否かが判定される
のである。今回は、蓄積されている測定値Ｘの数がＫ個
以上ではないと仮定すれば、判定がＮＯとなり、Ｓ２８
において、特別移動平均値算出指令の有無が判定され
る。無ければ判定がＮＯとなり、直ちにＳ８に戻る。し
たがって、本ルーチンの今回の実行においては、結局、
自動補正値が０とされることになる。

【０２００】これに対して、特別移動平均値算出指令が
有れば、Ｓ２８の判定がＹＥＳとなり、Ｓ２９におい
て、可変型移動平均値算出指令の有無が判定される。無
ければ判定がＮＯとなり、Ｓ３０に移行する。なお、可
変型移動平均値算出指令と置換型移動平均値算出指令と
は択一される指令であるから、可変型移動平均値算出指
令が無ければ必ず置換型移動平均値算出指令が有ること
になる。

【０２０１】このＳ３０においては、置換型移動平均値
算出の可否が判定される。具体的には、演算データメモ
リに蓄積されている測定値Ｘの数がＫ（原則通り移動平
均値Ｐを算出するのに必要な測定値Ｘの数）−Ｚ（置換
制限数）より小さいか否かが判定され、そうであれば、
置換型移動平均値算出が不可能である（正確には、禁止
されている）と判定され、そうでなければ可能である
（正確には、許可されている）と判定される。不可能で
あればＳ８に戻るが、本ルーチンの実行（Ｓ８以下のス
テップの実行）が何回も繰り返されるうちに可能となれ
ば、判定がＹＥＳとなり、Ｓ３１において、今回の測定
値Ｘがそのまま今回の移動平均値Ｐとされ、Ｓ３２にお
いて、それが第一の間欠的補正用の演算データメモリに
蓄積されるとともに、補助記憶装置２２に保存される。
その後、Ｓ３７に移行する。

【０２０２】これに対して、可変型移動平均値算出指令
が有れば、Ｓ２９の判定がＹＥＳとなり、Ｓ３３におい
て、前記可変型移動平均値算出手法により移動平均値Ｐ
が算出され、Ｓ３４において、それが第一の間欠的補正
用の演算データメモリに蓄積されるとともに、補助記憶
装置２２に保存される。その後、Ｓ３７に移行する。

【０２０３】その後、本ルーチンの実行が何回も繰り返
されるうちに、第一の間欠的補正用の演算データメモリ
に蓄積されている測定値Ｘの数がＫ個以上となったと仮
定すれば、Ｓ２７の判定がＹＥＳとなり、Ｓ３５におい
て、移動平均値Ｐが原則通り算出される。

【０２０４】ここで、このＳ３５の詳細を図３２のフロ
ーチャートに基づいて説明する。

【０２０５】まず、Ｓ２０１において、ＲＡＭから各重
み係数ｂの値が読み込まれ、次に、Ｓ２０２において、
その読み込んだ各重み係数ｂの値の下に、演算データメ
モリに蓄積されている複数の測定値Ｘに基づき、前述の
重み付き移動平均値算出式を用いることにより、移動平
均値Ｐが算出される。

【０２０６】その後、Ｓ２０３において、蓄積されてい
る複数の測定値Ｘ（上記移動平均値Ｐの算出に用いたも
の）の各々と上記算出された移動平均値Ｐとの差の和
が、測定値Ｘの振動レベルに決定される。このステップ
においてはさらに、上記各重み係数ｂの値と移動平均値
Ｐと振動レベルとが互いに関連付けてＲＡＭに記憶され
る。その後、Ｓ２０４において、その決定された振動レ
ベルが許容値Ａより大きいか否かが判定される。今回は
大きくないと仮定すれば、判定がＮＯとなり、Ｓ２０５
において、上記Ｓ２０２の今回の実行により算出された
移動平均値Ｐが今回の移動平均値Ｐに決定され、その
後、Ｓ２０６において、上記各重み係数ｂの値が各重み
係数ｂの今回値とされ、次回の移動平均値Ｐの算出に備
えてＲＡＭに記憶される。以上でこのＳ３５の一回の実
行が終了する。

【０２０７】これに対して、Ｓ２０３において決定され
た振動レベルが許容値Ａより大きいと仮定すれば、Ｓ２
０４の判定がＹＥＳとなり、Ｓ２０７において、各重み
係数ｂの値が一定の規則に従って変更される。その後、
Ｓ２０８において、その変更が各重み係数ｂの最高レベ
ルと最低レベルとの間全域にわたって行われたか否か、
すなわち、変更が終了したか否かが判定される。今回
は、終了していないと仮定すれば、判定がＮＯとなり、
Ｓ２０２に戻る。

【０２０８】その後、このＳ２０２以下のステップにお
いて、前回とは異なる各重み係数ｂの値の下に、前回と
同じ複数の測定値Ｘに基づき、移動平均値Ｐが算出され
るとともに、今回の振動レベルも算出される。Ｓ２０２
〜２０８の実行は、振動レベルが許容値Ａ以下となる重
み係数ｂの値が取得され、Ｓ２０４の判定がＮＯとなる
ことによって終了する場合と、振動レベルが許容値Ａ以
下となることなく変更が終了し、Ｓ２０８の判定がＹＥ
Ｓとなることによって終了する場合とがある。前者の場
合には、前記の場合と同様に、Ｓ２０５以下のステップ
が実行される。

【０２０９】一方、後者の場合、すなわち、Ｓ２０８が
ＹＥＳとなることによってＳ２０２〜２０８の実行が終
了する場合には、Ｓ２０９において、ＲＡＭに記憶され
ている複数の振動レベル（Ｓ２０２〜２０８の複数回の
実行により取得されたもの）のうち最小のものが検索さ
れ、その最小の振動レベルに対応する移動平均値ＰがＲ
ＡＭから読み込まれ、それが今回の移動平均値Ｐに決定
される。その後、Ｓ２０６において、その移動平均値Ｐ
に対応する各重み係数ｂの値がＲＡＭから読み込まれ、
各重み係数ｂの今回値として次回の移動平均値Ｐの算出
に備えてＲＡＭに記憶される。

【０２１０】以上のようにしてＳ３５が実行されたなら
ば、図６のＳ３６において、決定された今回の移動平均
値Ｐが第一の間欠的補正用の演算データメモリに蓄積さ
れるとともに、補助記憶装置２２に保存される。その
後、Ｓ３７に移行する。

【０２１１】このＳ３７においては、両端直径補正指令
の有無が判定され、無ければ判定がＮＯとなり、直ちに
図７のＳ３９に移行するが、有れば判定がＹＥＳとな
り、Ｓ３８において、前記２個の端円筒面の移動平均値
Ｐについて前記両端直径補正が行われ、その結果に応じ
て、演算データメモリの内容が変更される。その後、図
７のＳ３９に移行する。

【０２１２】このＳ３９においては、今回の移動平均値
Ｐから、ワークの寸法の目標値Ａ₀を引いた値が今回の
誤差値Ｒとされ、続いて、Ｓ４０において、それが演算
データメモリに蓄積されるとともに、補助記憶装置２２
に保存される。

【０２１３】その後、Ｓ４１において、微分値Ｔの算出
の可否が判定される。第一の間欠的補正用の演算データ
メモリに蓄積されている移動平均値Ｐの数がＬ個以上で
あるか否かが判定されるのである。今回は、移動平均値
Ｐの数が不足していると仮定すれば、判定がＮＯとな
り、Ｓ４２に移行する。このＳ４２においては、可変型
微分値算出指令の有無が判定され、無ければ判定がＮＯ
となり、直ちにＳ８に戻って、本ルーチンの今回の実行
が終了するが、有れば判定がＹＥＳとなり、Ｓ４３にお
いて、演算データメモリに蓄積されている移動平均値Ｐ
が２個以上であるか否か、すなわち、前記可変型微分値
算出が可能であるか否かが判定され、可能でなければ判
定がＮＯとなり、直ちにＳ８に戻るが、可能であれば判
定がＹＥＳとなり、Ｓ４４において、可変型微分値算出
手法により今回の微分値Ｔが算出され、Ｓ４５におい
て、それが演算データメモリに蓄積されるとともに、補
助記憶装置２２に保存される。その後、Ｓ４８に移行す
る。

【０２１４】その後、本ルーチンの実行が何回も繰り返
されるうちに、第一の間欠的補正用の演算データメモリ
に蓄積されている移動平均値Ｐの数がＬ個以上となった
と仮定すれば、Ｓ４１の判定がＹＥＳとなり、Ｓ４６に
おいて、微分値Ｔが原則通り算出され、Ｓ４７におい
て、それが演算データメモリに蓄積されるとともに、補
助記憶装置２２に保存される。その後、Ｓ４８に移行す
る。

【０２１５】このＳ４８においては、２回微分値使用指
令の有無が判定され、有れば判定がＹＥＳとなり、Ｓ４
９において、２回微分値Ｄの算出の可否が判定される。
第一の間欠的補正用の演算データメモリに蓄積されてい
る微分値Ｔの数がＱ個以上であるか否かが判定されるの
である。今回は、蓄積されている微分値Ｔの数がＱ個以
上ではないと仮定すれば、判定がＮＯとなり、直ちにＳ
８に戻って、本ルーチンの今回の実行が終了する。本ル
ーチンの実行が何回も繰り返されるうちに、演算データ
メモリに蓄積されている微分値Ｔの数がＱ個以上となっ
たと仮定すれば、Ｓ４９の判定がＹＥＳとなり、Ｓ５０
において、前述のようにして２回微分値Ｄが算出され、
Ｓ５１において、それが演算データメモリに蓄積される
とともに、補助記憶装置２２に保存される。その後、Ｓ
５５に移行する。

【０２１６】これに対して、２回微分値使用指令が無け
れば、Ｓ４８の判定がＮＯとなり、Ｓ５２において、む
だ時間考慮型補正指令の有無が判定される。無ければ判
定がＮＯとなり、直ちにＳ５５に移行するが、有れば判
定がＹＥＳとなり、Ｓ５３において、ワーク数カウンタ
１８からむだ時間ＭＳが入力され、Ｓ５４において、そ
れが第一の間欠的補正用の演算データメモリに蓄積され
るとともに、補助記憶装置２２に保存される。その後、
Ｓ５５に移行する。

【０２１７】このＳ５５の詳細を図３３のフローチャー
トに基づいて説明する。まず、Ｓ３０１において、ＲＡ
Ｍから異常フラグが読み込まれる。この異常フラグは、
ＲＡＭに設けられていて、ＯＦＦで測定値Ｘの振動レベ
ルが低いことを示し、ＯＮでその振動レベルが高いこと
を示す。コンピュータの電源投入に伴ってＯＦＦされ、
その後は、後述のＳ６５または７０の実行により、変更
される。次に、Ｓ３０２において、その異常フラグがＯ
Ｎされているか否かが判定される。今回はＯＮされては
いないと仮定すれば、判定がＮＯとなり、Ｓ３０３にお
いて、積極的なファジィルール群（図において「積極的
ルール」で表す）を用いたファジィ演算により暫定補正
値Ｕが算出される。以上でこのＳ５５の一回の実行が終
了する。

【０２１８】これに対して、今回は、異常フラグがＯＮ
されていると仮定すれば、Ｓ３０２の判定がＹＥＳとな
り、Ｓ３０４において、消極的なファジィルール群（図
において「消極的ルール」で表す）を用いたファジィ演
算により暫定補正値Ｕが算出される。以上でこのＳ５５
の一回の実行が終了する。

【０２１９】なお、本実施例においては、異常フラグが
ＯＦＦからＯＮになれば直ちに、使用するファジィルー
ル群が積極的なものから消極的なものに変更され、逆に
ＯＮからＯＦＦになれば直ちに、消極的なものから積極
的なものに変更されるようになっていたが、そのファジ
ィルール群の変更にヒステリシス特性を与えることがで
きる。すなわち、例えば、異常フラグがＯＦＦからＯＮ
になっても直ちには、使用するファジィルール群が積極
的なものから消極的なものに変更されず、その後異常フ
ラグがＯＮであることが設定回数連続したときに初め
て、変更されるようにすることができるのである。この
ようにすれば、ファジィルール群の頻繁な変更により測
定値Ｘがハンチングして不安定となる事態が良好に回避
される。

【０２２０】以上のようにしてＳ５５が実行されたなら
ば、図７のＳ５６において、算出された暫定補正値Ｕが
第一の間欠的補正用の演算データメモリに蓄積されると
ともに、補助記憶装置２２に保存される。その後、図８
のＳ５７に移行する。

【０２２１】このＳ５７においては、連続性考慮型補正
指令の有無が判定され、無ければ判定がＮＯとなり、Ｓ
５８において、暫定暫定値Ｕがそのまま最終補正値Ｕ^*
とされ、Ｓ５９において、それが補助記憶装置２２に保
存される。これに対して、連続性考慮型補正指令が有れ
ば、Ｓ５７の判定がＹＥＳとなり、Ｓ６０において、連
続性考慮型補正の可否が判定される。第一の間欠的補正
用の演算データメモリに蓄積されている暫定補正値Ｕの
数がＭ個以上であるか否かが判定されるのである。今回
は、蓄積されている暫定補正値Ｕの数がＭ個以上ではな
いと仮定すれば、判定がＮＯとなり、直ちにＳ８に戻
り、本ルーチンの今回の実行が終了する。その後、本ル
ーチンの実行が何回も繰り返されるうちに、演算データ
メモリに蓄積されている暫定補正値Ｕの数がＭ個以上と
なったと仮定すれば、Ｓ６０の判定がＹＥＳとなり、Ｓ
６１において、演算データメモリに蓄積されている最新
のＭ個の暫定補正値Ｕに基づき、前述のようにして最終
補正値Ｕ^* が算出される。その後、Ｓ６２において、そ
れが演算データメモリに蓄積されるとともに、補助記憶
装置２２に保存される。

【０２２２】Ｓ５９または６２の実行が終了すれば、図
９のＳ６３において、補助補正指令の有無が判定され
る。今回は無いと仮定すれば判定がＮＯとなり、Ｓ６４
において、今回の最終補正値Ｕ^* を定寸装置１４に送信
すべきか否か、すなわち、その最終補正値Ｕ^* が不感帯
から外れているか否かが判定される。今回は不感帯内に
あると仮定すれば、判定がＮＯとなり、Ｓ６５におい
て、前記ファジィ演算において適合したファジィルール
が補助記憶装置２２に保存される。その後、直ちにＳ８
に戻って、本ルーチンの今回の実行が終了する。

【０２２３】これに対して、最終補正値Ｕ^* が不感帯か
ら外れていると仮定すれば、Ｓ６４の判定がＹＥＳとな
り、Ｓ６６において、定寸装置１４が手動補正値送信機
能を有しているか否かが判定される。有しているから判
定がＹＥＳとなり、Ｓ６７においてその定寸装置１４に
おける手動補正の有無が判定され、なければ判定がＮＯ
となり、Ｓ６８において、最終補正値Ｕ^* が定寸装置１
４に送信され、それが補助記憶装置２２に保存される。
その後、Ｓ６９において、補助補正指令が有るか否かが
判定される。今回は無いと仮定されているから、判定が
ＮＯとなり、Ｓ７０において、前記Ｓ６５と同様に、適
合したファジィルールが補助記憶装置２２に保存され
る。

【０２２４】ここで、それらＳ６５および７０の詳細を
図３４のフローチャートに基づいて説明する。

【０２２５】まず、Ｓ４０１において、ＲＡＭから前記
異常回数カウンタの現在値が読み込まれる。次に、Ｓ４
０２において、図７のＳ５５の今回の実行によるファジ
ィ演算において適合したファジィルール（図において
「適合ルール」で表す）が前記異常時用ファジィルール
（図において「異常時用ルール」で表す）であるか否か
が判定される。今回は、異常時用ファジィルールが適合
してはいないと仮定すれば、判定がＮＯとなり、直ち
に、Ｓ４０４に移行するが、今回は、異常時用ファジィ
ルールが適合したと仮定すれば、判定がＹＥＳとなり、
Ｓ４０３において、異常回数カウンタの値が１だけイン
クリメントされた後に、Ｓ４０４に移行する。このＳ４
０４においては、ＲＡＭから前記判定回数カウンタの現
在値が読み込まれ、その後、Ｓ４０５において、その判
定回数カウンタの値が１だけインクリメントされる。そ
の後、Ｓ４０６において、判定回数カウンタの現在値が
設定値Ｂより大きいか否かが判定される。今回は、大き
くはないと仮定すれば、判定がＮＯとなり、Ｓ４０７に
おいて、判定回数カウンタおよび異常回数カウンタの各
最新値がＲＡＭに記憶させられ、その後、Ｓ４０８にお
いて、適合したファジィルールが補助記憶装置２２に保
存される。

【０２２６】その後、同図のルーチンの実行が何回も繰
り返された結果、判定回数カウンタの現在値が設定値Ｂ
より大きくなると、Ｓ４０６の判定がＹＥＳとなり、Ｓ
４０９において、異常回数カウンタの現在値が設定値Ｃ
より大きいか否かが判定される。今回は、大きくはない
と仮定すれば、判定がＮＯとなり、Ｓ４１０において、
異常フラグがＯＦＦされ（すなわち、異常フラグがＯＮ
からＯＦＦに変更されるか、またはＯＦＦに維持さ
れ）、その後、Ｓ４１１において、それら判定回数カウ
ンタの値も異常回数カウンタの値も０にリセットされ
る。その後、前記Ｓ４０７以下のステップに移行する。
これに対して、異常回数カウンタの現在値が設定値Ｃよ
り大きいと仮定すれば、Ｓ４０９の判定がＹＥＳとな
り、Ｓ４１２において、異常フラグがＯＮされ（すなわ
ち、異常フラグがＯＦＦからＯＮに変更されるか、また
はＯＮに維持され）、その後、前記Ｓ４１１以下のステ
ップに移行する。

【０２２７】以上、定寸装置１４において手動補正がな
かった場合について説明したが、手動補正があったと仮
定すれば、図９のＳ６７の判定がＹＥＳとなり、Ｓ７１
において、定寸装置１４からの最新の手動補正値および
定寸点が受信されて記憶され、Ｓ７２において、ワーク
待ちフラグがＯＮされ、Ｓ７３において、第一の間欠的
補正用の演算データメモリのみがクリアされ、その後、
Ｓ１５０に移行する。

【０２２８】Ｓ１５０は前記Ｓ１４０と同じルーチンで
あり、その詳細が図３１に示されている。まず、Ｓ５０
１において、第二の間欠的補正用の演算データメモリに
測定値Ｘが蓄積されているか否かが判定される。今回は
蓄積されているから、判定がＮＯとなり、Ｓ５０２に移
行する。このＳ５０２においては、データシフト処理指
令が出されているか否かが判定され、今回は出されてい
ないと仮定されているから、判定がＮＯとなり、直ちに
Ｓ８に移行する。

【０２２９】また、定寸装置１４が手動補正値送信機能
を有してはいないと仮定すれば、Ｓ６６の判定がＮＯと
なり、Ｓ７４において、定寸装置１４から最新の定寸点
が読み込まれ、それがＲＡＭに記憶されるとともに、補
助記憶装置２２に保存され、Ｓ７５において、ＲＡＭか
ら前回の定寸点が読み込まれる。その後、Ｓ７６におい
て、その前回の定寸点と最新の定寸点とから、定寸点の
変更があったか否かが判定され、すなわち、手動補正値
送信機能を有していない定寸装置において手動補正があ
ったか否かが判定され、変更がなければ判定がＮＯとな
り、前記Ｓ６８に移行するが、あれば判定がＹＥＳとな
り、Ｓ７７において、ワーク待ちフラグがＯＮされ、Ｓ
７８において、第一の間欠的補正用の演算データメモリ
のみがクリアされ、その後、前記Ｓ１５０に移行し、こ
のＳ１５０が前記の場合と同様に実行され、直ちにＳ８
に移行する。

【０２３０】これに対して、補助補正指令があると仮定
すれば、Ｓ６３の判定がＹＥＳとなり、Ｓ７９におい
て、補助補正の実行中であるか否かが判定される。補助
補正の実行回数を表す補助補正カウンタの値が１以上で
あるか否かが判定されるのである。今回は０であると仮
定すれば、判定がＮＯとなり、前記Ｓ６４以下のステッ
プ群に移行して前記主補正が行われる。このステップ群
のうちＳ６９においては、補助補正指令があるか否かが
判定され、今回はあると仮定されているから、判定がＹ
ＥＳとなり、Ｓ８０において、補助補正カウンタの値が
１だけインクリメントされることになる。

【０２３１】これに対して、現在補助補正の実行中であ
って、補助補正カウンタの値が０ではないと仮定すれ
ば、Ｓ７９の判定がＹＥＳとなり、Ｓ８１以下のステッ
プ群に移行して補助補正が行われる。Ｓ８１において
は、今回の最終補正値Ｕ^* から前回の最終補正値Ｕ^* を
引いた値が今回の送信値とされる。ここに、今回の最終
補正値Ｕ^* は、前記今回の暫定補正値Ｕ_P に相当し、前
回の最終補正値Ｕ^* は、前記前回の暫定補正値Ｕ_P に相
当し、今回の送信値は、前記今回の最終補正値Ｕ_Fに相
当している。その後、Ｓ８２においては、定寸装置１４
が手動補正値送信機能を有しているか否かが判定され
る。定寸装置１４は手動補正値送信機能を有しているか
ら判定がＹＥＳとなり、Ｓ８３において、その定寸装置
１４における手動補正の有無が判定され、なかったと仮
定すれば、判定がＮＯとなり、Ｓ８４において、その送
信値が定寸装置１４に送信される。補助補正が行われる
のである。その後、Ｓ８５において、その送信値が補助
記憶装置２２に保存され、Ｓ８６において、補助補正カ
ウンタがインクリメントされ、その後、前記Ｓ７０に移
行する。一方、手動補正があったと仮定すれば、Ｓ８３
の判定がＹＥＳとなり、Ｓ８７において定寸装置１４か
らの手動補正値が受信され、Ｓ８８において、ワーク待
ちフラグがＯＮされ、Ｓ８９において、第一の間欠的補
正用の演算データメモリのみがクリアされ、その後、前
記Ｓ１５０に移行し、このＳ１５０が前記の場合と同様
に実行され、直ちにＳ８に移行する。

【０２３２】これに対して、定寸装置１４が手動補正値
送信機能を有してはいないと仮定すれば、Ｓ８２の判定
がＮＯとなり、前記Ｓ７４以下のステップ群に移行し
て、自動補正の許否が判定され、許可されればその自動
補正値が定寸装置１４に送信されることになる。また、
この場合、Ｓ６９の判定がＹＥＳとなり、Ｓ８０におい
て、補助補正カウンタがインクリメントされる。

【０２３３】Ｓ７０の実行が終了すると、図１０のＳ９
０において、補助補正指令の有無が判定される。今回は
無いと仮定すれば、判定がＮＯとなり、Ｓ９１におい
て、ワーク待ちフラグがＯＮされ、Ｓ９２において、前
記双方の演算データメモリがともにクリアされ、その
後、Ｓ９３において、データシフト処理指令の有無が判
定される。今回はないと仮定されているから、判定がＮ
Ｏとなり、直ちにＳ８に戻る。

【０２３４】これに対して、今回は補助補正指令がある
と仮定すれば、Ｓ９０の判定がＹＥＳとなり、Ｓ９４に
おいて、今回の補助補正を終了させるべきであるか否か
が判定される。具体的には、補助補正カウンタの現在値
が設定値（図５のＳ１において補助記憶装置２２から入
力されたもの）以上となったか否かが判定される。今回
はそうではないと仮定すれば、判定がＮＯとなり、直ち
にＳ８に戻る。

【０２３５】その後、本ルーチンの実行が何回も繰り返
されるうちに、補助補正カウンタの現在値が設定値以上
となったと仮定すれば、Ｓ９４の判定がＹＥＳとなり、
Ｓ９５において、今回の補助補正およびそれに先行する
主補正のうち少なくともその今回の補助補正において定
寸装置１４に送信された補正値すべての和（以下、「合
計補正値」という）が算出される。その後、Ｓ９６にお
いて、その合計補正値が０であるか否か、すなわち、少
なくとも今回の補助補正が本当に必要な時期に行われな
かったと推定されるから今回の補助補正を続行する必要
があるか否かが判定される。今回はその必要がないと仮
定すれば、判定がＮＯとなり、Ｓ９７において、ワーク
待ちフラグがＯＮされ、Ｓ９８において、前記双方の演
算データメモリがともにクリアされ、Ｓ９９において、
データシフト処理指令の有無が判定される。今回はない
と仮定されているから、判定がＮＯとなり、直ちにＳ８
に戻る。

【０２３６】これに対して、今回の補助補正を続行する
必要があると仮定すれば、Ｓ９６の判定がＹＥＳとな
り、Ｓ１００において、補助補正再開指令の有無が判定
される。今回は補助補正再開指令ではなく、補助補正延
長指令があると仮定すれば、判定がＮＯとなり、Ｓ１０
１において、補助補正カウンタの値が１とされ、その
後、Ｓ８に戻る。したがって、本ルーチンの次回の実行
時には、補助補正カウンタの現在値が０ではないため、
図９のＳ７９の判定がＮＯとなり、Ｓ６４に移行するこ
とになる。

【０２３７】これに対し、今回は補助補正延長指令では
なく、補助補正再開指令が有ると仮定すれば、図１０の
Ｓ１００の判定がＹＥＳとなり、Ｓ１０２において、補
助補正カウンタの値が０とされ、その後、Ｓ８に戻る。
したがって、本ルーチンの次回の実行時には、補助補正
カウンタの現在値が０であるから、図９のＳ７９の判定
がＹＥＳとなり、Ｓ８１に移行することになる。

【０２３８】ワーク待ちフラグがＯＮされている状態で
図６のＳ２５が実行される場合には、それの判定がＹＥ
Ｓとなり、Ｓ１０３において、第一の間欠的補正用の演
算データメモリのみがクリアされ、その後、Ｓ８に戻る
ことになる。すなわち、定寸点の手動補正または自動補
正の直後からは、図５のＳ２３の存在にもかかわらず、
その演算データメモリへの測定値Ｘ等の蓄積は事実上行
われず、その最新の手動補正または自動補正の影響を受
けた定寸点の下で加工されたワークが最初に全数計測機
１６により測定されたときにワーク待ちフラグがＯＦＦ
され、図６のＳ２５の判定がＮＯとなり、その演算デー
タメモリへの測定値Ｘ等の蓄積が再開されることになる
のである。

【０２３９】以上、データシフト処理指令が出されてい
ない場合について説明したが、次に、出されている場合
について説明する。

【０２４０】この場合には、図６のＳ２４の判定がＹＥ
Ｓとなり、Ｓ１０４以下のステップ群に移行する。Ｓ１
０４の詳細が図３０に示されている。以下、このＳ１０
４の内容を図３０に基づき、図１を参照しつつ詳細に説
明する。

【０２４１】まず、Ｓ６０１において、最新の補正値
（自動補正値または手動補正値）の影響が実際の測定値
Ｘに現れたか否かが判定される。今回は未だ現れてはい
ないと仮定すれば、Ｓ６０２において、最新の補正値が
手動補正値Ｕ’であるか否かが判定される。前回の自動
補正値Ｕi-1 であって手動補正値Ｕ’ではないと仮定す
れば、判定がＮＯとなり、Ｓ６０３において、今回のシ
フト量が前回の自動補正値Ｕi-1 に決定される。以上で
Ｓ１０４の今回の実行が終了する。

【０２４２】これに対し、最新の補正値が手動補正値
Ｕ’であると仮定すれば、Ｓ６０２の判定がＹＥＳとな
り、Ｓ６０５において、前回の自動補正値Ｕi-1 の影響
が実際の測定値Ｘに現れたか否かが判定される。今回は
未だ現れてはないと仮定すれば、判定がＮＯとなり、Ｓ
６０６において、今回のシフト量が前回の自動補正値Ｕ
i-1 （手動補正値Ｕ’を前回の補正値とした場合におけ
る前々回の補正値）と手動補正値Ｕ’との和に決定され
る。

【０２４３】また、前回の自動補正値Ｕi-1 の影響が実
際の測定値Ｘに現れたと仮定すれば、Ｓ６０５の判定が
ＹＥＳとなり、Ｓ６０７において、今回のシフト量が手
動補正値Ｕ’に決定される。

【０２４４】また、最新の補正値の影響が実際の測定値
Ｘに現れたと仮定すれば、Ｓ６０１の判定がＹＥＳとな
り、Ｓ６０４において、今回のシフト量が０に決定され
る。

【０２４５】なお、手動補正値Ｕ’または前回の自動補
正値Ｕi-1 の影響が実際の測定値Ｘに現れたか否かの判
定は、具体的には、ＲＡＭに記憶されているデータシフ
ト処理の目標回数（これの記憶については後述する）、
すなわち、手動補正値Ｕ’または前回の自動補正値Ｕi-
1 が定寸装置１４に送信されたときに加工機１０と全数
測定機１６との間に存在していたワークの数を、全数測
定機１６により測定が終了するごとに１ずつ減算し、そ
の結果、０となったときに、先頭補正対象ワークの測定
が終了したと判定するものである。

【０２４６】Ｓ１０４の実行が終了すれば、図６のＳ１
０６において、今回の測定値Ｘにその今回のシフト量を
加算することによって今回の測定値Ｘが修正され、それ
が第二の間欠的補正用の演算データメモリに蓄積される
とともに、補助記憶装置２２に保存される。その後、Ｓ
１０７において、第二の間欠的補正用の演算データメモ
リから過去の測定値Ｘが入力され、Ｓ２７以下の、移動
平均値Ｐの算出に備える。

【０２４７】その後、図１０のＳ９３において、データ
シフト処理指令の有無が判定されれば、今回はあると仮
定されているから、判定がＹＥＳとなり、Ｓ１０８にお
いて、ワーク数カウンタ１８からむだ時間ＭＳが入力さ
れ、次回のデータシフト処理の目標回数としてＲＡＭに
記憶され、さらに、補助記憶装置２２に保存される。そ
の後、Ｓ８に戻る。

【０２４８】また、同図のＳ９９の判定も、上記の場合
と同様に、ＹＥＳとなり、Ｓ１０９において、ワーク数
カウンタ１８からむだ時間ＭＳが入力され、次回のデー
タシフト処理の目標回数としてＲＡＭに記憶され、さら
に、補助記憶装置２２に保存される。その後、Ｓ８に戻
る。

【０２４９】このように、データシフト処理の目標回数
は、間欠的補正の終了に伴って行われることになるが、
図示はしないが、手動補正の終了に伴っても行われ、ま
た、本ルーチンの初回の実行に備えてそれの標準値が予
めＲＯＭに記憶させられている。

【０２５０】ここで、データシフト処理指令が出された
後に手動補正が行われた場合について説明する。

【０２５１】この場合、図３１のＳ５０１において、第
二の間欠的補正用の演算データメモリに既にデータが蓄
積されているかが判定される。今回は蓄積されていると
仮定すれば、判定がＹＥＳとなり、Ｓ５０２において、
データシフト処理指令が出されているか否かが判定され
る。今回は出されていると仮定されているから、判定が
ＹＥＳとなり、Ｓ５０３に移行する。

【０２５２】このＳ５０３においては、シフト量の現在
値が修正される。先に蓄積された測定値Ｘを修正するた
めのシフト量が取得されるのである。具体的には、図１
の(a) に示すように、前回の自動補正値Ｕi-1 の影響が
実際の測定値Ｘに現れる前に手動補正があった場合に
は、シフト量の現在値が、前回の自動補正値Ｕi-1 （手
動補正値Ｕ’を前回の補正値とした場合における前々回
の補正値）と手動補正値Ｕ’との和に修正され、一方、
同図の(b) に示すように、前回の自動補正値Ｕi-1 の影
響が実際の測定値Ｘに現れた後に手動補正があった場合
には、シフト量の現在値がそのまま有効とされるのであ
る。

【０２５３】その後、Ｓ５０４において、第二の間欠的
補正用の演算データメモリから既に蓄積されている測定
値Ｘが入力され、それぞれの測定値Ｘに修正後のシフト
量を加算する修正が行われ、その修正が加えられた測定
値Ｘが第二の間欠的補正用の演算データメモリに蓄積さ
れて保存される。このＳ５０４の実行前に第二の間欠的
補正用の演算データメモリに蓄積されていた測定値Ｘの
各々が新たなシフト量の下に置換されるのである。

【０２５４】続いて、Ｓ５０５において、測定値Ｘの実
際の蓄積数との関係で、移動平均値Ｐの算出の可否が判
定され、算出ができない場合には、判定がＮＯとなり、
直ちに本ルーチンの実行が終了する。これに対し、移動
平均値Ｐの算出が可能であれば、判定がＹＥＳとなり、
Ｓ５０６において、第二の間欠的補正用の演算データメ
モリに蓄積されている複数の測定値Ｘに基づいて移動平
均値Ｐが算出され、それがその演算データメモリに保存
される。Ｓ５０６の実行前に演算データメモリに蓄積さ
れていた移動平均値Ｐの各々が新たな測定値Ｘの下に置
換されるのである。

【０２５５】その後、Ｓ５０７および５０８において、
上記Ｓ５０５および５０６に準じて、微分値Ｔの置換が
行われる。続いて、Ｓ５０９において、２回微分値Ｄの
使用指令が出されているか否かが判定される。出されて
いないと仮定すれば、判定がＮＯとなり、直ちに本ルー
チンの実行が終了する。これに対し、出されていると仮
定すれば、判定がＹＥＳとなり、Ｓ５１０および５１１
において、上記Ｓ５０５および５０６に準じて、２回微
分値Ｄの置換が行われる。以上で本ルーチンの実行が終
了する。

【０２５６】以上の説明から明らかなように、本実施例
においては、加工機１０が請求項１および２の発明にお
ける「加工機１」の一態様を構成し、定寸装置１４およ
びモータコントローラ１５が「加工機制御手段２」の一
態様を構成し、全数測定機１６が「測定機３」の一態様
を構成し、制御装置２０のうち定寸点補正ルーチンの図
９のＳ６４，６８および８４を除くステップを実行する
部分が「補正値決定手段４」の一態様を構成し、それら
Ｓ６４，６８および８４を実行する部分が「補正値送信
手段５」の一態様を構成しているのである。

【０２５７】なお、本実施例は、クランクシャフトをワ
ークとし、それの複数のジャーナル面（外周円筒面）を
それぞれ加工部位として円筒研削する加工システムと共
に使用される定寸点補正装置に本発明を適用した場合の
一例であったが、他の加工システムと共に使用される定
寸点補正装置に本発明を適用することができるのはもち
ろんである。他の加工システムには例えば、自動車のエ
ンジンのシリンダブロックを加工すべきワークとし、そ
れに予め形成された複数のシリンダボア（内周円筒面）
をそれぞれ加工部位としてホーニングする加工システム
を選ぶことができる。

【０２５８】以上、請求項１および２の発明を図示の実
施例に基づいて具体的に説明したが、この他にも特許請
求の範囲を逸脱することなく、当業者の知識に基づいて
種々の変形，改良を施した態様で各発明を実施すること
ができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】請求項１の発明の一実施態様である請求項２の
発明を概念的に示す図である。

【図２】請求項１および２の発明に共通の一実施例であ
るフィードバック式の定寸点補正装置が使用される加工
システムにおいてクランクシャフトが砥石により研削さ
れる状態を示す斜視図である。

【図３】上記加工システム全体を示すシステム図であ
る。

【図４】上記加工システムにおける加工機の構成を示す
図である。

【図５】図４における制御装置２０のコンピュータによ
り実行される定寸点補正ルーチンの一部を示すフローチ
ャートである。

【図６】その定寸点補正ルーチンの別の一部を示すフロ
ーチャートである。

【図７】その定寸点補正ルーチンのさらに別の一部を示
すフローチャートである。

【図８】その定寸点補正ルーチンのさらにまた別の一部
を示すフローチャートである。

【図９】その定寸点補正ルーチンのさらにまた別の一部
を示すフローチャートである。

【図１０】その定寸点補正ルーチンのさらにまた別の一
部を示すフローチャートである。

【図１１】その定寸点補正ルーチンの処理全体の流れを
概念的に示す図である。

【図１２】図１１における隣接間ばらつき除去に用いる
各重み係数ｂの値を示すグラフである。

【図１３】上記実施例において、その各重み係数ｂの値
が自動的に変更される様子を概念的に示すグラフであ
る。

【図１４】上記実施例において、１個の移動平均値Ｐを
原則的手法により算出するのに必要な測定値Ｘの数を説
明するための図である。

【図１５】上記実施例において、１個の移動平均値Ｐを
第１の例外的手法により算出するのに必要な測定値Ｘの
数を説明するための図である。

【図１６】上記実施例において、１個の移動平均値Ｐを
第２の例外的手法により算出するのに必要な測定値Ｘの
数を説明するための図である。

【図１７】図１１における両端直径補正の内容を概念的
に示すグラフである。

【図１８】図１１における寸法情報取得において、誤差
値Ｒから微分値Ｔが算出される手法を概念的に示すグラ
フである。

【図１９】図１１におけるファジィ演算において誤差値
Ｒについて用いられるメンバーシップ関数を示すグラフ
である。

【図２０】そのファジィ演算において微分値Ｔについて
用いられるメンバーシップ関数を示すグラフである。

【図２１】そのファジィ演算において補正値Ｕについて
用いられるメンバーシップ関数を示すグラフである。

【図２２】図１１における連続性考慮の内容を概念的に
示すグラフである。

【図２３】図５〜１０の定寸点補正ルーチンにおいて測
定値Ｘから最終補正値Ｕ^* が誘導される過程の一例を説
明するための図である。

【図２４】図１１における不感帯考慮の内容を概念的に
示すグラフである。

【図２５】定寸点補正の一方式である間欠的補正を概念
的に示すグラフである。

【図２６】その間欠的補正の第１の方式を概念的に示す
グラフである。

【図２７】その第１の方式の一実施態様を概念的に示す
グラフである。

【図２８】図２５の間欠的補正の第２の方式を概念的に
示すグラフである。

【図２９】その第２の方式の一実施態様を概念的に示す
グラフである。

【図３０】図６におけるＳ１０４の詳細を示すフローチ
ャートである。

【図３１】図５におけるＳ１４０および図９におけるＳ
１５０の詳細を示すフローチャートである。

【図３２】図６におけるＳ３５の詳細を示すフローチャ
ートである。

【図３３】図７におけるＳ５５の詳細を示すフローチャ
ートである。

【図３４】図９におけるＳ６５および７０の詳細を示す
フローチャートである。

【図３５】上記定寸点補正装置を概念的に示す構成ブロ
ック図である。

【図３６】請求項１および２の発明の構成を概念的に示
すブロック図である。

【図３７】請求項１の発明の別の実施態様を概念的に示
す図である。

【図３８】本出願人が先に開発したフィードバック加工
条件補正装置の原理を概念的に説明するための図であ
る。

【図３９】加工機と測定機とチェックステーションとの
関係の一例を説明するための図である。

【図４０】本出願人が先に開発した別のフィードバック
式加工条件補正装置の原理を概念的に説明するための図
である。

【図４１】図４０のフィードバック式加工条件補正装置
の問題点を説明するための図である。

【符号の説明】

１０ 加工機 １２ インプロセス測定機 １４ 定寸装置 １５ モータコントローラ １６ 全数測定機 ２０ 制御装置 ４４ ポストプロセス測定機 ５０ キーボード

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】(a) 複数のワークの各々を順に加工する加
   工機と、(b) 外部から供給される補正値に基づいて前記
   加工機の加工条件を決定し、その決定した加工条件に従
   って加工機を制御する加工機制御手段と、(c) 前記加工
   機により加工された複数のワークの各々の寸法を順に測
   定する測定機とを備え、それら加工機と測定機との間に
   その測定機による測定を待つワークが存在する加工シス
   テムにおいて使用されるフィードバック式加工条件補正
   装置であって、 前記測定機による測定値を蓄積し、蓄積した複数の測定
   値に基づき、前記加工機により次に加工されるべきワー
   クの前記加工条件の補正値を決定し、その測定値の蓄積
   開始から補正値決定までの期間を一回の自動補正期間と
   する自動補正と、作業者から手動補正指令が出されれば
   直ちにその手動補正指令に基づいて今回の補正値を決定
   する手動補正とを実行可能な補正値決定手段であって、
   その自動補正が、各回の自動補正期間内に前記測定機に
   より測定された各測定値に前回の補正値を加算すること
   により、測定機により測定された複数のワークがその前
   回の補正値の影響を受けた最新の加工条件の下で加工さ
   れたと仮定した場合に測定機により測定されることとな
   る複数の測定値を予測して蓄積し、蓄積した複数の測定
   値に基づいて今回の補正値を決定する状態と、実際の各
   測定値に前回の補正値と前々回の補正値との和を加算す
   ることにより、最新の加工条件の下での複数の測定値を
   予測して蓄積し、蓄積した複数の測定値に基づいて今回
   の補正値を決定する状態とに変更可能なものと、 その補正値決定手段により決定された各補正値を前記加
   工機制御手段に供給する補正値供給手段とを含むことを
   特徴とするフィードバック式加工条件補正装置。
2. 【請求項２】請求項１に記載の発明であって、前記補正
   値決定手段が、 作業者から手動補正指令が出されてもそのときに実行さ
   れていた自動補正を強制的に終了させずに続行し、その
   手動補正後に蓄積される測定値のみならず手動補正前に
   蓄積される測定値にも基づいて新たな自動補正値を決定
   するもの。