JP3269151B2 - フィードバック式加工条件補正装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、加工されたワークの寸
法誤差に関する情報をフィードバックすることにより次
に加工されるべきワークの加工条件を補正するフィード
バック式加工条件補正装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】上記フィードバック式加工条件補正装置
の一形式として次のようなものが既に存在する。それ
は、(a) 複数のワークの各々を順に加工する加工機と、
(b) 外部から供給される補正値に基づいて加工機の加工
条件を決定し、その決定した加工条件に従ってその加工
機を制御する加工機制御手段と、(c) 加工機により加工
された複数のワークの各々の寸法を順に測定する測定機
とを備え、かつ、それら加工機と測定機との間に測定機
による測定を待つワークが存在することを許容する加工
システムの、それら加工機制御手段と測定機とに接続さ
れて使用されるべきフィードバック式加工条件補正装置
であって、測定機による測定値に基づき、加工機により
次に加工されるべきワークの加工条件の補正値を自動補
正値として逐次決定して加工機制御手段に供給する自動
補正を行う自動補正手段を含むものである。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】本出願人の研究によ
り、加工条件の補正を自動補正にのみ依存する場合に
は、ワークの寸法に関する品質を向上させるのに限度が
あり、部分的に手動補正に依存することが加工品質向上
にとって大切であることが判明した。

【０００４】手動補正が必要となる場合には例えば、加
工機における加工具が交換されたために加工誤差が急変
する場合が挙げられる。自動補正は基本的には、加工誤
差はほぼ連続的に変化することを前提として実行される
ため、加工誤差が急変する場合にはそれほど高い精度で
加工条件を補正することができないからである。

【０００５】加工機と測定機との間にその測定機による
測定を待つワークが存在することを許容する加工システ
ムにおいて測定を待つワークが存在する場合には、加工
機に何らかの異常が発生しても、その異常の影響を受け
たワークが測定機に到達するまではその異常を発見する
ことができず、その異常を解消するための自動補正を行
うこともできない。そこで、加工機によるワークの加工
直後にワークの加工誤差を定期的にチェックし、異常を
迅速に発見することが提案されており、この場合にも、
そのチェック結果に応じて、加工条件を迅速に補正する
ために、手動補正が必要となる。

【０００６】このような知見に基づき、請求項１の発明
は、フィードバック式加工条件補正装置において、自動
補正のみならず手動補正も可能とすることを課題として
なされたものである。

【０００７】ところで、本出願人は先に、前記形式のフ
ィードバック式加工条件の一態様として次のようなもの
を案出し、特願平４−６１３０５号，特願平４−２３５
４０２号等の明細書に開示した。それは、前記自動補正
手段が、測定機による測定値を逐次蓄積し、最新の測定
値のみならずその蓄積された過去の測定値にも基づいて
自動補正値を逐次決定して加工機制御手段に供給する自
動補正を行うものであるフィードバック式加工条件補正
装置である。

【０００８】なお、ここに「最新の測定値のみならずそ
の蓄積された過去の測定値にも基づいて自動補正値を逐
次決定する」とは例えば、 今回の測定値とワークの
目標寸法との差である今回の誤差値とそれの変化傾向と
に基づいて自動補正値を逐次決定する態様や、 今回
の誤差値とそれの変化傾向とその変化傾向の変化傾向と
に基づいて自動補正値を逐次決定する態様や、 今回
の測定値の真の値を過去の測定値に基づいて推定し、そ
の推定した真の値を今回の測定値とみなして自動補正値
を逐次決定する態様などを意味する。なお、ここに「今
回の誤差値の変化傾向」とは、今回および前回以前に取
得された複数の誤差値に対する１次回帰線の勾配であ
り、以下便宜的に今回の微分値と称する。今回の誤差値
と前回の誤差値との差も今回の微分値の一種である。同
様に今回および前回以前に取得された複数の微分値（逐
次取得される誤差値の１次回帰線の複数の勾配）に対す
る１ 次回帰線の勾配が今回の変化傾向の変化傾向であ
り、以下便宜的に２回微分値と称する。今回の微分値と
前回の微分値との差も今回の２回微分値の一種である。

【０００９】以上の事情を背景とし、請求項１の発明
は、加工誤差はほぼ連続的に変化することを前提として
自動補正が実行されるフィードバック式加工条件補正装
置であって、加工機と測定機との間において測定を待つ
ワークが存在し、しかもその数が変動することを許容す
るものにおいて、自動補正のみならず手動補正も可能と
することを課題としてなされたものである。

【００１０】

【課題を解決するための手段】請求項１の発明は、図１
に示すように、前記加工機１，加工機制御手段２および
測定機３を備え、加工機と測定機との間に測定機による
測定を待つワークが存在することを許容する加工システ
ムと共に使用されるべき形式のフィードバック式加工条
件補正装置を、(a)前記加工機と測定機との間において
測定機による測定を待つワークである待機ワークの数を
計数する待機ワーク数カウンタ６と、(b)作業者の指令
に基づき、前記加工機により次に加工されるべきワーク
の前記加工条件の補正値を手動補正値として前記加工機
制御手段に供給する手動補正を行う手動補正手段４と、
(c)前記測定機による測定値を逐次蓄積し、その逐次蓄
積した最新の測定値を含む複数の測定値の移動平均値を
取得し、その移動平均値の前記最新の測定値と同時点に
おける値と、前記ワークの目標寸法との差である寸法誤
差を、前記最新の測定値の各々に対応させて逐次取得
し、少なくともそれら寸法誤差と前記待機ワーク数カウ
ンタにより計数された待機ワーク数とに基づいて、前記
加工機により次に加工されるべきワークの前記加工条件
の補正値を自動補正値として逐次決定して前記加工機制
御手段に供給する自動補正を行い、前記手動補正手段に
より手動補正が行われたならばその自動補正を中断し、
その手動補正手段から前記加工機制御手段に供給された
手動補正値の影響を受けた前記加工条件に従って加工さ
れたワークが前記測定機により測定される時期以後に、
前記測定値の蓄積を無蓄積状態から再開して自動補正を
再開する自動補正手段５とを含むものとしたことを特徴
とする。

【００１１】なお、ここにおける「手動補正手段４」は
例えば、手動補正値を直接に加工機制御手段２に供給す
る態様としたり、自動補正手段５を介して間接に加工機
制御手段２に供給する態様とすることができる。

【００１２】また、ここにおいて「自動補正を中断す
る」とは、自動補正値の決定およびその自動補正値の加
工機制御手段２への供給のうちの少なくとも供給を中断
することを意味する。

【００１３】また、ここにおいて「自動補正を再開す
る」とは、「自動補正を中断する」態様が自動補正値の
決定も供給も中断するものである場合には、決定と供給
とを再開することを意味し、一方、「自動補正を中断す
る」態様が自動補正値の供給のみを中断するものである
場合には、その供給のみを再開することを意味する。

【００１４】また、ここにおいて「その手動補正値の影
響を受けた加工条件に従って加工されたワークが測定機
３により測定される時期」とは、前記加工システムが加
工機と測定機との間にその測定機による測定を待つワー
クが存在することを許容するものであって、このような
加工システムにおいてその測定を待つワークが実際に存
在する場合には、普通、「その手動補正値の影響を受け
た加工条件に従って加工された複数のワークのうち先頭
のものが測定機３により測定される時期」を意味する。

【００１５】また、ここにおいて「その手動補正値の影
響を受けた加工条件に従って加工されたワークが測定機
３により測定された時期以後に」とは、「測定された時
期と同じ時期に」か、または「測定された時期より後の
時期に」を意味する。

【００１６】請求項２の発明は、請求項１の発明におけ
る自動補正手段５を、前記逐次取得される寸法誤差と、
それら逐次取得される複数の寸法誤差に対する１次回帰
線の勾配である寸法誤差の変化傾向とを含む寸法情報に
基づいて前記自動補正値を逐次決定する手段を含むもの
としたことを特徴とする。請求項３の発明は、請求項２
の発明における自動補正手段５を、(1)前記寸法情報を
取得する寸法情報取得手段と、(2)その寸法情報取得手
段により取得された寸法情報に基づいてファジィ演算に
よって前記自動補正値を決定する自動補正値決定手段と
を含むことを特徴とする。請求項４の発明は、請求項１
ないし３の発明における自動補正手段５を、前記移動平
均値として、前記蓄積した最新の測定値を含む複数の測
定値の、後に蓄積されたものほど大きい重みを与えた重
み付き移動平均値を取得するものとしたことを特徴とす
る。請求項５の発明は、請求項１ないし４のいずれかの
発明における自動補正手段５を、前記決定された自動補
正値が予め設定された不感帯内にない場合にはその自動
補正値に従って前記加工条件を補正するが、不感帯内に
ある場合には加工条件を補正しない手段を含むものとし
たことを特徴とする。請求項６の発明は、請求項１ない
し５のいずれかの発明における自動補正手段５を、前記
自動補正値に従って前記加工条件を補正した場合に、自
動補正を中断し、その補正した加工条件に従って加工さ
れたワークが前記測定機により測定される時期以後に、
前記測定値の蓄積を無蓄積状態から再開して自動補正を
再開する手段を含むものとしたことを特徴とする。

【００１７】

【作用】請求項１ないし６の発明に係るフィードバック
式加工条件補正装置においてはいずれも、自動補正手段
５により、待機ワーク数カウンタ６によって、加工機と
測定機との間において測定機による測定を待つワークで
ある待機ワークの数が計数される。そして、自動補正手
段５により、測定機による測定値が逐次蓄積され、その
逐次蓄積された最新の測定値を含む複数の測定値の移動
平均値が取得され、その移動平均値の最新の測定値と同
時点における値と、ワークの目標寸法との差である寸法
誤差が逐次取得され、少なくともそれら寸法誤差と待機
ワーク数カウンタ６により計数された待機ワーク数とに
基づいて前記自動補正値が決定され、また、手動補正手
段４により、作業者の指令に基づき、加工機１により次
に加工されるべきワークの加工条件の補正値が手動補正
値として決定され、両補正値が加工機制御手段２に供給
されます。このように、自動補正手段５により、自動補
正値が滑らかに変化するようにされるため、通常は連続
的に変化するものである加工誤差を良好に除去して寸法
精度の高いワークが得られる利点がある反面、加工機１
において加工具が交換される等、ワークの加工寸法が急
変する場合には、その急変に自動補正では十分に追従で
きない事態が発生する。このような場合に、本発明に従
って手動補正が行われ、かつその手動補正から自動補正
への移行が適切に行われるようにしておけば、上記利点
は十分に生かしつつ、加工寸法の急変にも迅速に対処す
ることが可能となる。

【００１８】さらに、手動補正手段４により手動補正が
行われた場合には、自動補正手段５により、それの自動
補正が中断され、手動補正手段４から加工機制御手段２
に供給された手動補正値の影響を受けた加工条件に従っ
て加工されたワークが測定機３により測定された時期以
後に、測定値の蓄積が無蓄積状態から再開されて自動補
正が再開される。

【００１９】すなわち、手動補正が自動補正より優先し
て実行されるとともに、自動補正においては、その自動
補正に先行する手動補正の影響を受けたワークより前方
のワーク、すなわち手動補正の影響を受けていないワー
クについての測定値は蓄積されず、手動補正の影響を受
けたワークについての測定値が蓄積され、その蓄積され
た測定値に基づいて自動補正値が決定されるのである。
したがって、加工機１と測定機３との間にその測定機３
による測定を待つワークが実際に存在するか否かを問わ
ず、手動補正の直後であっても自動補正の精度が確保さ
れるのである。

【００２０】請求項２の発明においては、寸法誤差のみ
ならずその寸法誤差の変化傾向をも含む寸法情報に基づ
いて前記自動補正値が決定される。そのため、滑らかに
変化する通常の加工誤差に一層良好に対処することが可
能となって、高い寸法精度を確保することが容易にな
る。 請求項３の発明においては、寸法情報に基づいてフ
ァジィ演算によって自動補正値が決定されるため、種々
の複雑なあるいは曖昧な条件が適度に考慮されることと
なり、加工誤差の変化に一層適切に対処することが可能
となって、高い寸法精度を確保することが一層容易にな
る。請求項４の発明においては、自動補正手段５が、重
み付き移動平均値を真の寸法測定値と見なし、その真の
寸法測定値と寸法の目標値との差である寸法誤差に基づ
いて自動補正値を逐次決定する。それにより、最新測定
値付近、すなわち現在の影響が強く現れた移動平均値が
得られ、補正が早期に行われることとなる。

【００２１】また、請求項５の発明においては、決定さ
れた自動補正値が予め設定された不感帯内にない場合に
はその自動補正値に従って加工条件が補正されるが、不
感帯内にある場合には補正されない。測定誤差を含まな
い真の加工誤差がごく緩やかに変化する場合に請求項５
に記載の構成を採用すれば、特に高い寸法精度の確保が
容易になるのであるが、それと同時に、請求項１に記載
の構成によってワークの加工寸法の急変にも迅速に対処
することが可能となる。請求項６の発明においては、自
動補正手段５が、自動補正値に従って加工条件を補正し
た場合に自動補正を中断し、その補正した加工条件に従
って加工されたワークが前記測定機により測定される時
期以後に、測定値の蓄積を無蓄積状態から再開して自動
補正を再開する手段を含むため、自動補正の影響を受け
ていないワークについての測定値は蓄積されず、自動補
正の影響を受けたワークについての測定値が蓄積され、
その蓄積された測定値に基づいて自動補正値が決定され
る。

【００２２】

【発明の効果】以上の説明から明らかなように、請求項
１の発明によれば、加工誤差は通常は滑らかに変化する
ことを前提として、蓄積した過去の測定値にも基づいて
滑らかな自動補正が行われる。そして、加工機において
加工具が交換される等、ワークの加工寸法が急変する事
態が発生した場合には、手動補正によりその急変に対し
て迅速な対応が行われる。しかも、手動補正の直後であ
っても自動補正の精度が確保されるため、フィードバッ
ク式加工条件補正装置の信頼性が向上するという効果が
得られる。さらに、加工機と測定機との間に測定機によ
る測定を待つワークである待機ワークの数が待機ワーク
数カウンタによって計数され、その待機ワーク数と寸法
誤差とに基づいて自動補正値が決定されるので、加工機
と測定機との間の待機ワーク数が多くても、またその数
が変化しても支障なく適切な自動補正が行われる効果が
得られる。

【００２３】請求項２ないし６の発明によれば、通常の
滑らかに変化する通常の加工誤差には一層良好に対処す
ることが可能となって、高い寸法精度を確保することが
容易になると同時に、ワークの加工寸法の急変には手動
補正により対応することができる。

【００２４】

【実施例】以下、請求項１ないし６の発明に共通の一実
施例であるフィードバック式の定寸点補正装置を図面に
基づいて詳細に説明する。

【００２５】この定寸点補正装置は、自動車のエンジン
のクランクシャフトを加工すべきワークとし、それに予
め形成されている複数のジャーナル面の各々を加工部位
として円筒研削する加工システムと共に使用される。こ
こにクランクシャフトとは、図２に示すように、互いに
同軸的に並んだ７個の外周円筒面（以下、単に「円筒
面」という）であるジャーナル面を有するワークであ
る。

【００２６】加工システムは、具体的には、図３に示す
ように、加工ライン，加工機１０，２個のインプロセス
測定機１２（図には１個として示す），定寸装置１４，
モータコントローラ１５，全数測定機１６，ワーク数カ
ウンタ１８，制御装置２０，補助記憶装置２２等から構
成されており、以下、それら要素について個々に説明す
る。

【００２７】加工ラインは、図において矢印付きの太い
実線で表されており、複数のワークが一列に並んで上流
側から下流側に向かって（図において左側から右側に向
かって）搬送されるものである。

【００２８】加工機１０は、クランクシャフトの７個の
ジャーナル面の各々に対し、加工具としての円形状の砥
石により、円筒研削を行うものである。具体的には、図
４に示すように、複数の砥石が同軸的に並んだ砥石群３
０とクランクシャフトとを接触回転させることにより、
７個のジャーナル面すべてに対して同時に円筒研削を行
うマルチ研削盤である。以下、その構成を簡単に説明す
る。

【００２９】加工機１０は、ワークのためのワークテー
ブル３２を備えている。このワークテーブル３２は加工
機１０の図示しない主フレームに取り付けられている。
ワークテーブル３２には、ワークをそれの軸線回りに回
転可能に保持する保持装置（図示しない）とその保持さ
れたワークを回転させるワークモータ３４とが設けられ
ている。

【００３０】加工機１０はさらに、砥石群３０のための
前進・後退テーブル３６とスイングテーブル３８とを備
えている。前進・後退テーブル３６は前記主フレーム
に、前記ワークテーブル３２に保持されているワークに
対する直角な方向における往復運動が可能な状態で取り
付けられている。一方、スイングテーブル３８は、その
前進・後退テーブル３６に、砥石軸線（図において一点
鎖線で示す）上にそれに直交する状態で設定されたスイ
ング軸線（図において紙面に直角な方向に延びる直線）
を中心としたスイングが可能（右回転も左回転も可能）
な状態で取り付けられている。前進・後退テーブル３６
の前進・後退は主フレームに固定の前進・後退モータ４
０により、スイングテーブル３８のスイングは前進・後
退テーブル３６に固定のスイングモータ４２によりそれ
ぞれ実現される。

【００３１】すなわち、この加工機１０においては、砥
石軸線とワークの回転軸線との成す角度（以下、「切込
み角」という）がスイングモータ４２により調整可能な
のである。

【００３２】前記２個のインプロセス測定機１２はこの
加工機１０に取り付けられている。それらインプロセス
測定機１２はそれぞれ、図２に示すように、１個の円筒
面を外周両側から挟む一対の測定子を有し、電気マイク
ロメータ方式によりその円筒面の直径を測定するもので
ある。それらインプロセス測定機１２は、７個のジャー
ナル面について個々に用意されているわけではなく、同
図に示すように、両端のジャーナル面、すなわち第１ジ
ャーナル面と第７ジャーナル面（以下、「２個の端円筒
面」ともいう）についてのみ用意されている。

【００３３】前記定寸装置１４は、図４に示すように、
それらインプロセス測定機１２にそれぞれ接続されてい
る。定寸装置１４は、ＣＰＵ，ＲＯＭ，ＲＡＭおよびバ
スを含むコンピュータを主体として構成されていて、加
工機１０による研削中、２個の端円筒面のそれぞれの直
径を各インプロセス測定機１２を介して監視し、それら
各端円筒面における残存切込み量（最終寸法に到達する
までに切り込むことが必要な量）が各設定量（各端円筒
面ごとに存在する）に到達したときにはその旨の信号
（以下、「設定量到達信号」という）を、各最終寸法す
なわち各定寸点（各端円筒面ごとに存在する）に到達し
たときにはその旨の信号（以下、「定寸点到達信号」と
いう）を前記モータコントローラ１５に各端円筒面に関
連付けてそれぞれ出力する。

【００３４】定寸装置１４はまた、各定寸点の補正が可
能に設計されている。具体的には、前記制御装置２０か
ら各補正値Ｕ（各端円筒面ごとに存在する）が供給され
れば、現在の各定寸点にその各補正値Ｕを加算すること
によって現在の各定寸点を更新し、供給されなければ現
在の各定寸点をそのままに維持するように設計されてい
る。すなわち、定寸装置１４は、制御装置２０により定
寸点が自動補正されるようになっているのである。

【００３５】定寸装置１４には図３に示すように、キー
ボード５０が接続されており、そのキーボード５０が作
業者により操作されると、定寸装置１４は、その操作に
応じた手動補正値だけ現在の定寸点を変更する手動補正
を行うようにも設計されている。定寸装置１４はまた、
最新の手動補正値と定寸点とをそれぞれ自身のＲＡＭに
記憶するとともに、自発的に制御装置２０に送信する。
ただし、制御装置２０は定寸装置１４からそれら最新の
手動補正値と現在の定寸点とを常に受信するわけではな
いため、定寸装置１４は制御装置２０が受信を許すとき
に限って送信を行うことになる。

【００３６】前記モータコントローラ１５は図４に示す
ように、それら定寸装置１４，前進・後退モータ４０等
に接続されている。モータコントローラ１５は、作業者
からの指令や定寸装置１４からの信号等に基づき、前進
・後退モータ４０等を制御する。

【００３７】ところで、加工機１０は、粗研，精研，ス
パークアウト等のいくつかの段階を順に経て一回の円筒
研削を終了する。粗研は、前記残存切込み量が前記設定
量に達するまで実行され、精研は、直径が前記定寸点に
達するまで実行される。定寸装置１４から各端円筒面ご
とに供給されるべき２個の設定量到達信号はその供給時
期が一致しないのが普通であり、モータコントローラ１
５は、粗研段階では、信号供給時期の不一致量に応じて
前進・後退モータ４０およびスイングモータ４２を制御
し、これにより、前記切込み角を適正に制御する。ま
た、精研においては、それに先立つ粗研において切込み
角が適正となっているはずであるから、モータコントロ
ーラ１５は、前進・後退モータ４０のみを作動させるこ
とにより、砥石群３０のワークへの切込みを続行し、２
個の端円筒面のいずれかについてでも定寸点到達信号が
供給されれば、前進・後退モータ４０を停止させ、スパ
ークアウトを行った後に、前進・後退モータ４０を逆回
転させることにより砥石群３０をワークから後退させ
る。なお、精研段階でも切込み角を制御するようにする
こともできる。

【００３８】前記全数測定機１６は、図３に示すよう
に、加工ラインの、加工機１０の下流側に配置されてい
る。全数測定機１６は、１個のワークにおける円筒面の
数と同数のポストプロセス測定機４４を有し、前記イン
プロセス測定機１２と同じ方式により、加工機１０から
搬出されたワークすべてについて順に、円筒面すべてに
ついて個々に直径を測定する。この全数測定機１６が前
記制御装置２０の入力側に接続されている。

【００３９】前記ワーク数カウンタ１８は、同図に示す
ように、加工ライン上において加工機１０と全数測定機
１６との間にその全数測定機１６による測定を待つ待機
ワークの数を測定するものである。ワーク数カウンタ１
８は、加工機１０からのワークの搬出を検出する第１セ
ンサ（例えば、リミットスイッチ等）４６と、全数測定
機１６へのワークの搬入を検出する第２センサ（例え
ば、リミットスイッチ等）４８とに接続されていて、第
１センサ４６によりワーク搬出が検出されるごとに待機
ワーク数のカウント値を１ずつ加算し、一方、第２セン
サ４８によりワーク搬入が検出されるごとにそのカウン
ト値を１ずつ減算し、これにより、待機ワーク数の現在
値を測定する。

【００４０】前記制御装置２０は、ＣＰＵ，ＲＯＭ，Ｒ
ＡＭおよびバスを含むコンピュータを主体として構成さ
れており、そのＲＯＭにおいて定寸点補正ルーチンを予
め記憶させられている。また、この制御装置２０は、前
記補助記憶装置２２にも接続されていて、全数測定機１
６から入力された測定値Ｘ，それに基づいて決定した補
正値Ｕ等をすべて保存するように設計されている。一連
の加工の終了後に作業者がその加工状況を診断する際な
どに使用するためである。

【００４１】上記定寸点補正ルーチンの主要部が図５〜
１０にフローチャートで表されており、それら図に基づ
いて制御装置２０の構成を説明するが、まず、概略的に
説明する。

【００４２】この制御装置２０は、全数測定機１６によ
り測定された寸法に基づく寸法情報を全数測定機１６か
ら受け取り、加工機１０により次に加工されるべきワー
クについての定寸点の補正値Ｕを決定して、定寸装置１
４に供給するものである。この加工システムは、加工機
１０と全数測定機１６との間に寸法測定を待つワークが
存在することを許容するように設計されている。そのた
め、この制御装置２０は、入力信号が補正値Ｕ、出力信
号が寸法情報であるとともにそれら入力信号と出力信号
との間にむだ時間ＭＳが存在する制御システムを想定
し、フィードバック式で定寸点を補正する。すなわち、
本実施例においては、定寸点が各請求項の発明における
「加工条件」の一態様なのである。

【００４３】この制御装置２０における処理の流れを、
簡単に説明すれば、図１１に示すようになる。

【００４４】まず、第１ステップとして、全数測定機１
６から測定値Ｘが入力され、続いて、第２ステップとし
て、その測定値Ｘから短周期変動を除去するために、今
回までに取得された測定値Ｘに対して移動平均値Ｐが算
出される。コンピュータのＲＡＭには、測定値Ｘ等が蓄
積される演算データメモリ（図示しない）が設けられて
おり、それに蓄積されている測定値Ｘに基づいて移動平
均値Ｐが算出される。

【００４５】次に、第３ステップとして、その移動平均
値Ｐに対して両端直径補正（後に詳述する）が行われ、
さらに、第４ステップとして、その両端直径補正が行わ
れた複数の移動平均値Ｐ（これも演算データメモリに蓄
積される）に基づき、今回の誤差値Ｒ，微分値Ｔおよび
２回微分値Ｄがそれぞれ寸法情報として算出される。今
回誤差値Ｒは今回の移動平均値Ｐと目標寸法との差とし
て取得され、今回の微分値Ｔは、後に詳述するように、
今回の誤差値Ｒを含む複数の誤差値Ｒから誤差値Ｒの変
化勾配として取得され、今回の２回微分値Ｄは今回の微
分値Ｔを含む複数の微分値Ｔから微分値Ｔの変化勾配と
して取得される。その後、第５ステップとして、その寸
法情報と、ワーク数カウンタ１８により測定された待機
ワーク数（前記むだ時間ＭＳに相当する）とに基づき、
ファジィ演算によって補正値Ｕが算出される。続いて、
第６ステップとして、その補正値Ｕが、それの連続性が
考慮されることによって補正され、さらに、第７ステッ
プとして、その補正値Ｕが、定寸装置１４との関係にお
いて設定された不感帯内にあるか否かが判定され、不感
帯内になければ、第８ステップとして、その補正値Ｕが
定寸装置１４に送信される。

【００４６】また、この制御装置２０においては、全数
測定機１６によりワークが測定されるごとに今回の補正
値Ｕを決定する連続的補正ではなく、間欠的に決定する
間欠的補正が採用されている。また、補正値Ｕが間欠的
に補正されるに伴って、演算データメモリも間欠的にク
リアされる。

【００４７】なお、この制御装置２０には、ワークの７
個のジャーナル面すべてについて個々に測定値Ｘが入力
されるが、基本的には、第１ジャーナル面および第７ジ
ャーナル面のそれぞれの測定値Ｘ、すなわち、各端円筒
面の測定値Ｘに基づいて、前記定寸装置１４における各
端円筒面に対応する補正値Ｕがそれぞれ決定される。

【００４８】以上、この制御装置２０の全体の流れを簡
単に説明したが、以下、この流れにおける各概念につい
て個々に詳しく説明する。

【００４９】まず、移動平均値Ｐの算出について説明す
る。

【００５０】測定値Ｘは全数測定機１６により時系列デ
ータとして取得され、多くの短周期変動を含んでいる。
そこで、本実施例においては、短周期変動を除去してワ
ークの真の寸法を推定するために、今回の測定値Ｘおよ
び前回までに取得された最新の少なくとも１個の測定値
Ｘにつき、図１２にグラフで概念的に示すように、重み
付きの移動平均値Ｐが算出され、それが測定値Ｘの真の
値として使用される。なお、このグラフにおいて「ｉ」
は、全数測定機１６により測定されたワークの数（以
下、「測定ワーク数」という）を表している。他のグラ
フにおいても同様である。

【００５１】この移動平均値Ｐは原則として、次のよう
にして算出される。すなわち、今回までに取得された最
新のＫ（２以上の固定値）個の測定値Ｘに基づき、次式
（Ｋ＝５の場合）で表される如き計算式を用いて今回の
移動平均値Ｐ_i が算出されるのである。

【００５２】

【数１】

【００５３】しかし、この原則を貫くときは、演算デー
タメモリに蓄積されている測定値Ｘの数がＫ個に達しな
い間は、移動平均値Ｐを算出することができず、図１３
に示すように、これを用いて算出されるべき誤差値Ｒも
微分値Ｔも算出することができないこととなり、ひいて
は、新たな補正値Ｕを決定することができない時間が長
くなってしまう。なお、この図は、左側から右側に向か
うにつれて測定ワーク数ｉが増加することとして表され
ている。後述の図１４および図１５についても同様であ
る。

【００５４】そこで、本実施例においては、演算データ
メモリに蓄積されている測定値Ｘの数がＫ個に達しない
場合には、達する場合とは異なる特別の規則に従って、
移動平均値Ｐが算出される。

【００５５】その特別の規則には代替型移動平均値算出
規則と可変型移動平均値算出規則とがある。以下、詳し
く説明する。

【００５６】まず、代替型移動平均値算出規則は、図１
４に示すように、必要なＫ個の移動平均値Ｐのうち実際
には未だ取得されていないものの各々を、各移動平均値
Ｐが取得されるべき回と同じ回に取得された測定値Ｘそ
のものに代替させるという規則である。これは、同じ回
に取得される測定値Ｘと移動平均値Ｐとは本来互いに近
似するという性質に基づくものであって、この規則に従
って移動平均値Ｐを算出することを代替型移動平均値算
出という。図１４は、右端に示されている測定値Ｘが取
得された時点から微分値Ｔが取得されるようにする場合
を例として示すものであり、図１３の例におけると同様
に、微分値ＴはＬ個（図示の例では５個）の誤差値Ｒに
基づいて取得されるものである一方、移動平均値ＰはＫ
個（図示の例では５個）の測定値Ｘに基づいて取得され
るものであるため、右端の時点には未だＬ個より少ない
個数（図示の例では２個）の移動平均値Ｐが取得されて
いるのみである。そこで、Ｌ個に満たないＺ個分（図示
の例では３個分）は測定値Ｘそのものが移動平均値Ｐの
代わりに使用されることとなる。その結果、図示の例で
は、３個の測定値Ｘと２個の移動平均値Ｐとに基づいて
微分値Ｔが取得されることとなるのである。

【００５７】この代替型移動平均値算出においては、測
定値Ｘによる移動平均値Ｐの代替が開始される時期が、
その後においてはじめて原則通りに移動平均値Ｐが算出
される時期より少し前であるか、かなり前であるかを問
わず、測定値Ｘに移動平均値Ｐを代替させることによっ
て仮想的に移動平均値Ｐを取得することは可能である。
しかし、この場合には、次のような問題がある。すなわ
ち、１個の微分値Ｔを算出するのに使用されるＬ個の移
動平均値Ｐにおいて仮想的に取得された移動平均値Ｐが
占める割合が多いほど、その微分値Ｔの精度が低下し、
ひいては補正値Ｕの精度も低下するおそれがあるという
問題があるのである。

【００５８】この問題を解決するためには、１個の微分
値Ｔを算出するのに使用される仮想的な移動平均値Ｐの
数を制限すればよい。同図の例は、そのような制限が付
された例であって、この場合には、最新の正規の移動平
均値Ｐより過去に３回の間に限り（すなわち、代替制限
数Ｚが３個）、仮想的な移動平均値Ｐの算出が許容され
ている。このように制限を付された場合には、たとえ代
替型移動平均値算出をしても、演算データメモリに蓄積
されている測定値Ｘの数が少ない間は、移動平均値Ｐを
算出することができない。

【００５９】一方、可変型移動平均値算出規則は、測定
値Ｘの数（Ｋより小さい数）の各々について個別に重み
付き移動平均値計算式を用意し、演算データメモリに蓄
積されている測定値Ｘの数に合致する計算式を選択し、
それを用いて移動平均値Ｐを取得するという規則である
（図１５参照）。この規則に従って移動平均値Ｐを算出
することを可変型移動平均値算出という。ここに個別に
用意される重み付き移動平均値計算式には例えば次のよ
うなものを選ぶことができる。

【００６０】

【数２】

【００６１】この例においては、演算データメモリに蓄
積されている測定値Ｘの数が１個であっても、移動平均
値Ｐの算出が可能である。したがって、この例において
は、演算データメモリに蓄積されている測定値Ｘの数が
少ないから移動平均値Ｐを算出することはできないとい
う事態は起こらない。

【００６２】なお、本実施例においては、以上のような
移動平均値Ｐの特別な手法による算出（以下、特別移動
平均値算出という）の実行の許否が作業者によって指令
され、さらに、その特別移動平均値算出が指令される場
合には、その種類の選択も作業者からの指令に応じて行
われるようになっている。すなわち、特別移動平均値算
出指令が出されている場合には必ず、代替型移動平均値
算出指令と可変型移動平均値算出指令とのいずれかが出
されるようになっているのである。

【００６３】ここで、上記重み付き移動平均値算出式に
おける重み係数ｂの決定手法について説明する。

【００６４】各重み係数ｂの値は、原変動である測定値
Ｘの中から除去すべき成分波の周波数との関係において
決定されるが、例えば、各重み係数ｂの値を、それが乗
じられるべき測定値Ｘが最新の測定値Ｘに対して新しい
ものであるほど、ほぼ比例的に増加するように決定する
ことができる（図１２参照）。例えば、前述の、
ｂ_i-4 ，ｂ_i-3 ，ｂ_i-2 ，ｂ_i-1 およびｂ_i をそれぞ
れ、１，２，３，４および５とすることができるのであ
る。このようにすれば、最新測定値付近、すなわち現在
の影響が強く現れた移動平均値が得られ、補正が早期に
行われることとなる。

【００６５】また、加工機１０と全数測定機１６との間
に存在する待機ワークの数が０であるか、または０でな
くてもそれがほとんど変化しない場合のように、移動平
均によって測定値Ｘの中から除去すべき成分波の周波数
がほとんど変化しない場合には、各重み係数ｂの値を例
えば次のようにして決定することができる。ここで利用
する手法は、移動平均値算出式を使用するものであり、
その移動平均値算出式の重み係数が上記重み係数ｂなの
であるが、この重み係数ｂの決定方法は、例えば、矢野
宏著、コロナ社発行、「統計手法と計測（下）」の第１
５３頁ないし第１７３頁、「１７．規則性の存在するデ
ータの解析」の章に記載されているように、よく知られ
た方法であるため、簡単に説明する。

【００６６】まず、原変動である測定値Ｘの中から除去
すべきｓ個の成分波の各々の角振動数をω₁ ，ω₂ ，・
・・，ω_j ，・・・，ω_s とし、次式を作る。

【００６７】

【数３】

【００６８】そして、この式の係数１，ａ_s-1 ，・・
・，ａ₀ ，・・・，ａ_s-1 ，１のうちの１〜ａ₀ をそれ
ぞれ、重み係数ｂ_i-s ，ｂ_i-(s-1),・・・，ｂ_i に決定
するのである。

【００６９】この制御装置２０が接続される加工システ
ムにおいては、前述のように、ワークの全円筒面のうち
の２個の端円筒面の直径にのみ基づいて砥石群３０が作
動させられる。そのため、２個の端円筒面の測定値Ｘの
みを考慮し、それ以外の円筒面の測定値Ｘを考慮しない
で定寸点を補正する場合には、各円筒面の加工精度がそ
れの全体において十分に均一にならない場合がある。

【００７０】そこで、本実施例においては、この問題を
解決するために次のような技術が採用されている。すな
わち、図１６にグラフで概念的に示すように、ワークに
おける各円筒面の軸方向位置（図に「１Ｊ」〜「７Ｊ」
で表す）と各円筒面の直径（すなわち、移動平均値Ｐ）
とが比例関係にあると仮定し、２個の端円筒面の測定値
Ｘをそれぞれ補正するという両端直径補正という技術が
採用されているのである。

【００７１】この両端直径補正の一具体例は、次のよう
である。すなわち、両端直径補正計算式として、

【００７２】

【数４】

【００７３】なる式が採用され、これを用いることによ
り、各端円筒面の移動平均値Ｐの修正値が算出されるの
である。ただし、 ｘ：ジャーナル面の番号（第１ジャーナル面から第７ジ
ャーナル面に向かって１から７まで付されている） ｘ′：７個のｘの値の平均値 ｙ：ｘの各値における移動平均値Ｐの修正値 Ｐ：ｘの各値における移動平均値Ｐの計算値 Ｐ′：７個の移動平均値Ｐの計算値の平均値

【００７４】具体的には、第１ジャーナル面について
は、上記式の「ｘ」に１を代入することによって、移動
平均値Ｐの修正値ｙ₁ が取得され、また、第７ジャーナ
ル面については、「ｘ」に７を代入することによって、
移動平均値Ｐの修正値ｙ₇ が取得される。

【００７５】なお、本実施例においては、この両端直径
補正の実行の許否も作業者によって指令されるようにな
っている。

【００７６】また、本実施例においては、移動平均値Ｐ
に対して両端直径補正が行われるようになっているが、
移動平均値Ｐの基礎となる測定値Ｘそのものに対して両
端直径補正を行うこともできる。

【００７７】ワークについて取得する寸法情報には、前
述のように、誤差値Ｒのみならず、それの微分値Ｔとそ
の微分値Ｔの微分値である２回微分値Ｄとがある。誤差
値Ｒは「寸法誤差」の一態様であり、微分値Ｔは「寸法
誤差の変化傾向」の略称であり、２回微分値Ｄは「変化
傾向の変化傾向」の略称である。

【００７８】このように、誤差値Ｒ以外のパラメータに
も基づいて補正値Ｕを決定することとしたのは、誤差値
Ｒのみに基づいて補正値Ｕを決定する場合より、それの
微分値Ｔまたは２回微分値Ｄにも基づいて補正値Ｕを決
定する場合の方が、加工機１０の実際の状態をより正確
に推定することができ、定寸点の補正精度が向上するか
らである。なお、誤差値Ｒのみならず微分値Ｔにも基づ
いて補正値Ｕを決定する技術は、本出願人の特願平４−
６１３０５号として出願されており、また、さらに２回
微分値Ｄにも基づいて補正値Ｕを決定する技術は、本出
願人の特願平４−２３５４０２号として出願されてい
る。

【００７９】微分値Ｔは、図１７にグラフで概念的に示
すように、原則として、今回取得された誤差値Ｒおよび
前回までに取得された最新の少なくとも１個の誤差値Ｒ
を含むＬ（２以上の固定値）個の誤差値Ｒが測定ワーク
数ｉの増加に対してほぼ比例すると仮定し、それらＬ個
の誤差値Ｒが適合する１次回帰線を特定し、それの勾配
を微分値Ｔ（１次回帰線の傾きをθラジアンとした場合
のtan θに一致する）として取得される。

【００８０】具体的には、１次回帰線の式として、例え
ば、

【００８１】

【数５】

【００８２】なる式が採用される。ただし、 ｘ：測定ワーク数ｉの値 ｘ′：Ｌ個のｘの値の平均値 ｙ：ｘの各値における誤差値Ｒの真の値 Ｒ：ｘの各値における誤差値Ｒの計算値 Ｒ′：Ｌ個の誤差値Ｒの計算値の平均値 そして、

【００８３】

【数６】

【００８４】の値が、微分値Ｔとなる。しかし、この原
則を貫くと、移動平均値Ｐの算出の場合と同様に、演算
データメモリに蓄積されている誤差値Ｒの数がＬ個に達
しない場合には、微分値Ｔを算出することができない。

【００８５】そこで、本実施例においては、移動平均値
Ｐの算出の場合に準じて、移動平均値Ｐの数（Ｌより小
さい数）の各々について個別に１次回帰線の式を用意
し、演算データメモリに蓄積されている誤差値Ｒの数に
合致する式を選択し、それを用いて微分値Ｔを取得する
という技術が採用されている。

【００８６】なお、本実施例においては、可変型微分値
算出の実行の許否も作業者によって指令されるようにな
っている。本実施例においては、段落００５９および０
０６０において、移動平均値Ｐの算出に関して説明した
のと同様の演算が微分値Ｔについても実行可能とされて
いるのである。

【００８７】２回微分値Ｄは微分値Ｔと同様にして算出
される。すなわち、今回までに取得された最新のＱ（２
以上の固定値）個の微分値Ｔが測定ワーク数ｉの増加に
対してほぼ比例すると仮定し、それらＱ個の微分値Ｔが
適合する１次回帰線を特定し、それの勾配を２回微分値
Ｄ（１次回帰線の傾きをθラジアンとした場合のtanθ
に一致する）として取得する。

【００８８】なお、本実施例においては、２回微分値Ｄ
の使用の許否も作業者によって指令されるようになって
いる。

【００８９】また、本実施例においては、この２回微分
値Ｄについては、微分値Ｔに係る可変型微分値算出に相
当する技術は採用されていないが、採用することはもち
ろん可能である。段落００５９および００６０におい
て、移動平均値Ｐの算出に関して説明したのと同様の演
算を２回微分値Ｔについても実行できるようにしてもよ
いのである。

【００９０】この制御装置２０においては、補正値Ｕの
決定のために、間欠的補正，むだ時間考慮型補正，ファ
ジィ演算，連続性考慮および不感帯考慮なる技術が採用
されている。以下、それらについて個々に詳しく説明す
る。

【００９１】(1) 間欠的補正 定寸点補正に際し、全数測定機１６によりワークの寸法
が測定されるごとに、加工機１０により次に加工される
べきワークの定寸点の補正値Ｕを決定する連続的補正な
る補正手法を採用することができる。しかし、この連続
的補正を採用する場合には次のような問題がある。すな
わち、全数測定機１６により測定されるワークすべてに
ついて個々に補正値Ｕを決定しなければならないため、
制御装置２０に大きな負担がかかってしまうという問題
があるのである。

【００９２】この問題を解決するため、本実施例におい
ては、間欠的補正なる補正手法が採用されている。

【００９３】この間欠的補正を図１８にグラフで概念的
に示す。このグラフは、加工機１０と全数測定機１６と
の間に複数の待機ワークが存在する場合に取得されるも
のであり、このグラフにおいて「測定おくれ」とは、加
工機１０と全数測定機１６との間の待機ワークの数に相
当する。また、「Ｕ_i 」は今回の補正値を、「Ｕ_i+1」
は次回の補正値をそれぞれ表している。したがって、今
回の補正値Ｕ_i の影響は測定おくれの後にはじめて寸法
誤差に現れ、また、同様に、次回の補正値Ｕ_i+1 の影響
も測定おくれの後にはじめて寸法誤差に現れることとな
る。また、このグラフは、複数のワークを順に、互いに
同じ定寸点の下で加工した場合にはそれら各ワークの寸
法誤差が測定ワーク数ｉの増加に対してほぼ比例的に増
加すると仮定した場合に取得されるものでもある。な
お、それらの事情は以下のグラフにおいても同様であ
る。

【００９４】この間欠的補正を実施する方式として本出
願人は２つの態様を案出した。以下、それら各方式につ
いて詳しく説明する。

【００９５】 間欠的補正の第１の方式 この定寸点補正装置は、前述のように、加工機１０と全
数測定機１６との間にワークが存在することを許容する
加工システムと共に使用されるべきものであるから、前
回の補正値Ｕの影響を受けた定寸点の下で加工されたワ
ークがその直後に全数測定機１６により測定されるとは
限らず、いくつか別のワークの測定を経た後にはじめて
測定される場合もある。したがって、前回の補正値Ｕの
影響を直接に今回の補正値Ｕに反映させることが必要で
ある場合には、前回の補正値Ｕの影響を受けた定寸点の
下で加工された少なくとも１個のワークが全数測定機１
６により測定されるごとに、今回の補正値Ｕを決定する
ことが望ましい。

【００９６】このような事情を背景として、第１の方式
は、図１９にグラフで概念的に示すように、全数測定機
１６による測定値Ｘを逐次蓄積し、蓄積された測定値Ｘ
の数が設定複数個以上となったときに、それら蓄積され
た最新の設定複数個の測定値Ｘに基づいて今回の補正値
Ｕ_i を決定し、その今回の補正値Ｕ_i の影響を受けた定
寸点の下で加工された少なくとも１個のワークうち最初
に全数測定機１６により測定されることとなる先頭補正
対象ワークがその測定を終了する時期以後に（例えば、
その測定の終了直後に）、それの測定値Ｘの蓄積を無蓄
積状態から再開するものとされている。

【００９７】この方式は例えば、今回の補正値Ｕ_i を決
定して定寸装置１４に送信してから、次回の補正値Ｕ
_i+1 を決定して定寸装置１４に送信するまでの補正間隔
期間は、補正値Ｕを決定せず、定寸装置１４における定
寸点が同じ値に維持されるような態様として実施するこ
とができる。そして、この場合には普通、測定ワーク数
ｉと寸法誤差との間に比例関係が成立するとの前提の下
に、今回の補正値Ｕの大きさが、その今回の補正値Ｕ_i
の影響を受けた複数のワークの寸法誤差の平均値が０と
なるであろうように決定される。

【００９８】しかし、この実施態様では次のような問題
が生ずる。すなわち、各回の補正の実行時期が、測定値
Ｘの実際の変動とは無関係に、測定値Ｘの蓄積数によっ
て一義的に決まってしまい、各回の補正が本当に必要な
時期に実行されないという問題が生ずるのである。

【００９９】この問題を解決するためには、補正値Ｕの
送信につき、定寸装置１４との関係において不感帯を設
定し、決定された補正値Ｕが実質的に０である場合に
は、その補正値Ｕの定寸装置１４への送信を行わず、演
算データメモリをクリアすることなく、新たな測定値Ｘ
の取得を待って、補正値Ｕの決定をやり直せばよい。こ
のようにすれば、各回の補正が本当に必要な時期にタイ
ムリーに実行されることになる。なお、補正値Ｕに不感
帯を設定するという技術は、本出願人の特願平４−２７
８１４６号として出願されている。

【０１００】しかし、このようにしても、その各回の補
正の終了後に測定値Ｘに予定外の変化が生じた場合に
は、その変化に迅速に対応して定寸点を補正することは
できない。各回の補正の終了後に測定値Ｘに予定外の変
化が発生した場合には、その予定外の変化は演算データ
メモリに蓄積されて次回の補正値Ｕ_i+1 に反映されるの
であって、このように次回の補正まで待たなければその
予定外の変化に対応して定寸点を補正することができな
いのである。そのため、各回の補正の終了後に測定値Ｘ
に予定外の変化が生じた場合には、ワークの寸法誤差が
十分には０に近づかないという問題がある。

【０１０１】この問題を解決するためには前記第１の方
式を次のような態様で実施すればよい。すなわち、図２
０にグラフで概念的に示すように、一回の間欠的補正
を、前記態様における間欠的補正（例えば、図１９にお
いて「Ｕ_i 」を決定すること）である主補正に後続して
補助補正を行うものとすることにより、主補正の終了後
に測定値Ｘに発生する予定外の変化に、補助補正により
迅速に対応して定寸点を補正する態様で実施すればよい
のである。

【０１０２】ここに「主補正」とは、全数測定機１６に
よる測定値Ｘを逐次蓄積し、蓄積された測定値Ｘの数が
設定複数個以上となったときに、それら蓄積された最新
の設定複数個の測定値Ｘに基づいて今回の補正値Ｕを決
定し、それを最終補正値Ｕ_Fとするものである。

【０１０３】また、「補助補正」とは、その主補正の終
了後にも測定値Ｘの蓄積を続行し、その主補正の終了後
から（例えば、その主補正の終了直後から）、その主補
正の最終補正値Ｕ_F の影響を受けた定寸点の下で加工さ
れた少なくとも１個のワークのうち最初に全数測定機１
６により測定されることとなる先頭補正対象ワークより
１回だけ先に加工されたワークについてその測定が終了
する時期以前まで（例えば、その測定の終了時期ま
で）、その全数測定機１６によりワークが測定されるご
とに、蓄積された最新の設定複数個の測定値Ｘに基づ
き、主補正の最終補正値Ｕ_F と同じ規則に従って各回の
暫定補正値Ｕ _P （図示の例ではＵ _P1 ，Ｕ _P2 ） を決定し、
その決定した各回の暫定補正値Ｕ _P から前回の補正値Ｕ
（すなわち、前回が主補正である場合には、主補正の最
終補正値Ｕ_F であり、前回が補助補正におけるある回で
ある場合には、補助補正のその回の暫定補正値Ｕ_P ）を
引いたもの、すなわち図示の例では（Ｕ _F −Ｕ _P1 ）や
（Ｕ _P2 −Ｕ _P1 ）を各回の最終補正値Ｕ_F に決定するもの
である。

【０１０４】この補助補正においては、本来であれば、
それに先立って行われる主補正の最終補正値Ｕ_F の影響
を受けたワークの測定値Ｘに基づいて最終補正値Ｕ_F が
決定されるべきである。しかし、主補正の最終補正値Ｕ
_F の影響を受けたワークが、加工直後には全数測定機１
６により測定されず、いくつか別のワークの測定を経た
後にはじめて測定される場合もある。そこで、本実施例
においては、主補正の最終補正値Ｕ_F の影響が重複し
て、次に加工されるべきワークに対応する定寸点に反映
されないように、主補正の最終補正値Ｕ_F に係る先頭補
正対象ワークより１回だけ先に加工されたワークについ
て測定が終了する時期以前まで、各回の測定値Ｘに基づ
いて主補正におけると同じ規則に従って決定した補正値
が暫定補正値Ｕ _P1 とされ、それから主補正の最終補正値
Ｕ_F の影響が除去されたものが補助補正の最終補正値Ｕ
_F とされる。以上、主補正と補助補正の初回との関係に
ついて説明したが、補助補正におけるある回とその次の
回との関係についても同様である。

【０１０５】しかし、これら主補正と補助補正とを行う
態様においては、補助補正をそれの属するある回の間欠
的補正の終了時期まで必ず実行することとした場合に
は、制御装置２０自身にやや大きな負担がかかるという
問題が生ずる。

【０１０６】この問題を解決するためには、補助補正の
実行回数を制限すればよい。すなわち、一連の補助補正
における最終補正値Ｕ_F の決定回数を計数し、その計数
した決定回数が設定値に達したときにその一連の補助補
正を終了すればよいのである。しかし、この対策では、
補助補正の終了時期が主補正の終了時期との関係におい
て固定されてしまい、補助補正の実行時期が、主補正の
終了後における測定値Ｘの予定外の変化に対応するのに
最適になるとは限らないという問題がある。

【０１０７】この問題を解決するためには、補助補正を
次のような態様で実施すればよい。すなわち、補助補正
における最終補正値Ｕ_F にも、主補正における最終補正
値Ｕ_F と同様に、定寸装置１４との関係における不感帯
を設け、一連の補助補正の当初において決定した最終補
正値Ｕ_F がその不感帯内にある場合には、その最終補正
値Ｕ_F を定寸装置１４に送信しないことにより、事実上
その一連の補助補正の実行を開始せず、その後決定され
た最終補正値Ｕ_F が不感帯から外れた場合に初めて、そ
の最終補正値Ｕ_F を送信し、その一連の補助補正の実行
を開始する態様で実施すればよいのである。

【０１０８】しかし、以上のようにしただけでは、主補
正および補助補正の実行時期が測定値Ｘの変動時期に十
分には合致せず、主補正および補助補正が本当に必要な
時期に実行されないことがある。このような事態を回避
するためには、補助補正を次のような態様で実施すれば
よい。すなわち、一連の補助補正における最終補正値Ｕ
_F の決定回数が設定値に達したときに、主補正およびそ
の一連の補助補正のうち少なくともその一連の補助補正
において決定された複数の最終補正値Ｕ_F の和が実質的
に０でない場合には、その一連の補助補正を終了する
が、実質的に０である場合には、少なくとも補助補正の
実行時期が適当ではなかったと推定されるから、補助補
正を続行し、新たに最終補正値Ｕ_F の決定回数の測定を
０から開始する態様で実施すればよいのである。

【０１０９】そして、本実施例においては、補正値決定
の方式として、主補正のみで補助補正を行わない方式
と、主補正のみならず補助補正をも行う方式とのいずれ
かが作業者の指令に応じて選択されるようになってい
る。すなわち、補助補正指令が出されれば後者の方式が
選択され、出されなければ前者の方式が選択されるよう
になっているのである。

【０１１０】また、本実施例においては、その補助補正
の方式として、補助補正の続行を行う方式と、行わない
方式とのいずれかが作業者の指令に応じて選択されるよ
うにもなっている。

【０１１１】さらにまた、本実施例においては、その補
助補正の続行方式として、続行されるべき補助補正の初
回の最終補正値Ｕ_F について不感帯を考慮して補助補正
を続行する方式（以下、「補助補正再開方式」という）
と、不感帯を考慮しないで続行する方式（以下、「補助
補正延長方式」という）とのいずれかが作業者の指令に
応じて選択されるようにもなっている。前者の方式を選
択するための指令を補助補正再開指令といい、後者の方
式を選択するための指令を補助補正延長指令といい、そ
れら指令のいずれも出されていない場合には、補助補正
の続行許可指令が出されていないと判断されるようにな
っている。

【０１１２】 間欠的補正の第２の方式 間欠的補正を上述の第１の方式で実施する場合には、加
工機１０と全数測定機１６との間に待機ワークが存在す
るときには、今回の補正値Ｕの決定直後から測定値Ｘの
蓄積を開始することができない。そのため、今回の補正
値Ｕの決定時期から次回の補正値Ｕの決定時期までにか
かる時間（以下、「補正間隔時間」という）は、図１９
に示すように、その今回の補正値Ｕに係る先頭補正対象
ワークが全数測定機１６に到達する時間（加工機１０と
全数測定機１６との間に存在する待機ワークの数の関連
する）と、その後測定値Ｘの蓄積が開始されて設定複数
個の測定値Ｘが蓄積されるまでの時間との和となる。そ
のため、加工機１０と全数測定機１６との間に多くの待
機ワークが存在することを避け得ないような場合には、
補正間隔時間が長くなることを避け得ない。

【０１１３】この第２の方式はこの問題を解決するため
に案出されたものであって、図２１にグラフで概念的に
示すように、全数測定機１６による測定値Ｘを逐次蓄積
し、蓄積された測定値Ｘの数が設定複数個以上となった
ときに、それら蓄積された最新の設定複数個の測定値Ｘ
に基づいて今回の補正値Ｕを決定し、その今回の補正値
Ｕの決定時期以後に（例えば、今回の補正値Ｕの決定時
期直後に）、測定値Ｘの蓄積を無蓄積状態から再開し、
その再開時期から、その今回の補正値Ｕに係る先頭補正
対象ワークより１回だけ先に加工されたワークについて
その測定が終了する時期近傍（その時期ちょうど、少し
前、または少し後）までの中間期間は、その全数測定機
１６によりワークが測定されるごとに、各回の実際の測
定値Ｘと今回の補正値Ｕとに基づき、それら各ワークが
その今回の補正値Ｕの影響を受けた定寸点の下で加工さ
れたと仮定した場合にそれら各ワークについて測定され
る値を予測し、その予測した測定値Ｘを実際の測定値Ｘ
とみなして蓄積するものである。本実施例においては、
その予測の一例として、上記中間期間における実際の測
定値Ｘにその今回の補正値Ｕを加算することにより、実
際の測定値Ｘを今回の補正値Ｕだけシフトするデータシ
フト処理が採用されている。

【０１１４】この第２の方式もまた、前記第１の方式の
場合と同様に、一回の間欠的補正が主補正と回数制限付
きかつ続行可能な補助補正とを含み（これを図２２にグ
ラフで概念的に示す）、かつ、主補正および補助補正に
ついて不感帯なる概念が採用され、かつ、補助補正の続
行方式の選択が可能な態様として実施されている。そし
て、本実施例においては、作業者の指令に応じて第１の
方式と第２の方式との択一も可能とされている。具体的
には、作業者がデータシフト処理を許可するか否かを指
令し、許可した場合にはデータシフト処理が、許可しな
い場合に第１の方式が選択されるようになっている。

【０１１５】なお付言すれば、この第２の方式は、測定
値予測技術、すなわち、前回の補正値Ｕの影響を受けた
定寸点の下で加工された少なくとも１個のワークのうち
今回の補正値Ｕが決定された後に全数測定機１６により
測定されるものの各々につき、それの各回の実際の測定
値Ｘと今回の補正値Ｕとに基づき、それら各ワークが今
回の補正値Ｕの影響を受けた定寸点の下で加工されたと
仮定した場合にそれら各ワークについて取得されるべき
測定値を予測するという技術を、間欠的補正に応用する
ことによって取得されたものであるが、この測定値予測
技術は、前記連続的補正に応用することもできる。

【０１１６】加工機１０と全数測定機１６との間に待機
ワークが存在する場合には、連続的補正を実行する際に
おいても、前回の補正値Ｕの影響を受けたワークを直ち
に全数測定機１６により測定することができないという
事情は同じである。そのため、この場合には、実験結
果，シミュレーション結果等に基づく統計的手法によ
り、今回の補正値Ｕを決定することになる。そして、そ
の統計的手法に代えてこの測定値予測技術を利用するこ
とができるのである。

【０１１７】(2) むだ時間考慮型補正 全数測定機１６による測定を待つ待機ワークの数が変動
する場合には、複数のワークを同じ定寸点の下で加工し
た場合であっても、ワークの寸法誤差が変動する。そこ
で、本実施例においては、その待機ワークの数をむだ時
間ＭＳとして測定し、それに応じて補正値Ｕの決定規則
を変更することにより、各回の補正値Ｕを決定するむだ
時間考慮型補正も採用されている。なお、この技術は、
本出願人の特願平４−１５８７８７号として出願されて
いる。

【０１１８】なお、本実施例においては、このむだ時間
考慮型補正の実行の許否も作業者によって指令されるよ
うになっている。

【０１１９】 (3) ファジィ演算を用いた補正値Ｕの決定 補正値Ｕは、寸法情報を入力変数としてファジィ演算を
行うことによって決定される。

【０１２０】本実施例においては、補正値Ｕの決定方式
として３種類存在する。すなわち、 誤差値Ｒおよび
微分値Ｔのみをそれぞれ入力変数としたファジィ演算に
よる第１の決定方式と、 誤差値Ｒ，微分値Ｔおよび
２回微分値Ｄをそれぞれ入力変数としたファジィ演算に
よる第２の決定方式と、 誤差値Ｒ，微分値Ｔおよび
むだ時間ＭＳをそれぞれ入力変数としたファジィ演算に
よる第３の決定方式とが存在するのである。そして、本
実施例においては、前記２回微分値使用指令が出された
場合には第２の決定方式、前記むだ時間考慮型補正指令
が出された場合には第３の決定方式、それら指令がいず
れも出されなかった場合には第１の決定方式がそれぞれ
選択される。

【０１２１】なお、第１の決定方式の一具体例は本出願
人の特願平４−６１３０５号明細書に既に開示され、第
２の決定方式の一具体例は本出願人の特願平４−２３５
４０２号明細書に既に開示され、第３の決定方式の一具
体例は本出願人の特願平４−１５８７８７号明細書に既
に開示されている。

【０１２２】(4) 連続性考慮 前述のように、測定ワーク数ｉの増加につれてワークの
寸法誤差がほぼ比例的に増加するのが一般的であるた
め、定寸点の補正値Ｕに連続性を持たせること、すなわ
ち、加工の進行につれて滑らかに変化させることがワー
クの寸法ばらつきを抑制するのに望ましい。そこで、本
実施例においては、その事実に着目し、図２３にグラフ
で概念的に示すように、まず、連続性を無視して補正値
Ｕが決定され、それが暫定値（以下、「暫定補正値Ｕ」
という。なお、前述の暫定補正値Ｕ_P とは異なる）とさ
れ、今回までに取得された最新のＭ（２以上の固定値）
個の暫定補正値Ｕが測定ワーク数ｉの増加に対してほぼ
比例すると仮定され、それらＭ個の暫定補正値Ｕについ
て前記の場合と同様な１次回帰線の式が特定される。そ
して、その式を用いて現在の補正値Ｕの真の値が推定さ
れ、それが補正値Ｕの最終値（以下、「最終補正値
Ｕ^* 」という。なお、前述の最終補正値Ｕ_F とは異な
る）とされる。なお、この技術は、本出願人の特願平４
−６１３０６号として出願されている。

【０１２３】具体的には、１次回帰線の式として、例え
ば、

【０１２４】

【数７】

【０１２５】なる式が採用される。ただし、 ｘ：測定ワーク数ｉの値 ｘ′：Ｍ個のｘの値の平均値 ｙ：ｘの各値における暫定補正値Ｕの真の値 Ｕ：ｘの各値における暫定補正値Ｕの計算値 Ｕ′：Ｍ個の暫定補正値Ｕの計算値の平均値

【０１２６】そして、上記式の「ｘ」に今回の測定ワー
ク数ｉの値を代入すれば、今回の最終補正値Ｕ^* が取得
されることになる。

【０１２７】なお、本実施例においては、この連続性考
慮型補正の実行の許否も作業者によって指令されるよう
になっている。

【０１２８】また、作業者からその連続性考慮型補正指
令が出された場合（ただし、前記２回微分値使用指令は
出されていない場合）に測定値Ｘから最終補正値Ｕ^* が
取得されるまでの過程を代表的に、図２４に概念的に図
示する。この図は、それの左側から右側に向かうにつれ
て、測定ワーク数ｉの値が増加することとして表されて
いる。図から明らかなように、演算データメモリへの測
定値Ｘの蓄積を無蓄積状態から開始する場合には、（Ｋ
＋Ｌ＋Ｍ−２）個の測定値Ｘが蓄積されたときに初めて
１個の最終補正値Ｕ^* が取得されることになるであり、
これが前述の、測定値Ｘの蓄積に係る「設定複数個」の
一態様なのである。

【０１２９】(5) 不感帯考慮 前述のように、主補正および補助補正に係る最終補正値
Ｕ^* の送信については、定寸装置１４との関係における
不感帯が設定され、各回に決定した最終補正値Ｕ^* がそ
の不感帯内にある場合には、その最終補正値Ｕ^* の定寸
装置１４への送信が省略される。この様子を図２５にグ
ラフで概念的に示す。

【０１３０】(6) その他 制御装置２０は、定寸装置１４による手動補正が行われ
た場合には、手動補正を自動補正より優先させるととも
に、手動補正の直後であっても自動補正の精度が確保さ
れるように設計されている。具体的には、制御装置２０
は、定寸装置１４において手動補正が行われたか否かを
逐次監視し、行われない場合には自動補正を行うが、行
われた場合には自動補正を中断し、その手動補正の影響
を受けた定寸点の下で加工された先頭補正対象ワークが
全数測定機１６により測定される時期以後に、測定値Ｘ
の演算データメモリへの蓄積を無蓄積状態から再開して
自動補正を再開するようにも設計されている。制御装置
２０は、自動補正値を決定するために過去の測定値Ｘを
も使用するように設計されており、しかも、この制御装
置２０が使用される加工システムにおいては加工機１０
と全数測定機１６との間に待機ワークが存在することが
許容されることから、手動補正の影響を受けていないワ
ークの測定値Ｘをその影響を受けたワークの測定値Ｘと
区別することなく蓄積し、その蓄積された測定値Ｘに基
づいて自動補正値を決定することとした場合には、手動
補正の影響を受けていないワークの測定値Ｘにより自動
補正値の精度が低下するおそれがあるからである。

【０１３１】また、本実施例においては、定寸装置１４
における手動補正の有無の監視が、制御装置２０の起動
当初と、制御装置２０が各回の自動補正値を送信しよう
とするごとにそれに先立って行われるようになってい
る。制御装置２０の起動当初にも定寸装置１４における
手動補正の有無を監視するのは、制御装置２０の停止中
に定寸装置１４において手動補正が行われることがある
からである。

【０１３２】以上、制御装置２０による定寸点補正の内
容を概略的に説明したが、以下、定寸点補正ルーチンを
表す図５〜１０のフローチャートに基づき、具体的に説
明する。

【０１３３】図５のフローは、図１１の第１ステップ
「入力」の処理を行うものであり、まず、ステップＳ１
（以下、単に「Ｓ１」で表す。他のステップについても
同じとする）において、補助記憶装置２２から数値や指
令がパラメータとして入力される。ここに「数値」と
は、前述の、移動平均値Ｐに係る重み係数ｂの値，代替
制限数Ｚ，補助補正制限数Ｓ等を意味し、また、「指
令」とは、前述の、特別移動平均値算出指令等を意味す
る。

【０１３４】続いて、Ｓ２において、定寸装置１４が最
新の手動補正値および定寸点を制御装置２０に送信する
機能（以下、「手動補正値送信機能」という）を有して
いるか否かが判定される。ここに、手動補正値送信機能
を有する場合とは、定寸装置１４が、作業者によりキー
ボード５０を介して定寸装置１４に入力された手動補正
値およびそれを反映した定寸点を自身のＲＡＭに記憶す
るのみならず、制御装置２０に自発的に送信するように
設計されている場合をいい、一方、手動補正値送信機能
を有しない場合とは、定寸装置１４は、入力された手動
補正値およびそれを反映した定寸点を自身のＲＡＭに記
憶するのみで、制御装置２０に自発的に送信するように
は設計されていない場合をいう。

【０１３５】定寸装置１４は前述のように、この手動補
正値送信機能を有しているため、このＳ２の判定はＹＥ
Ｓ（図において「Ｙ」で表す。他のステップについても
同じとする。）となる。したがって、Ｓ３に移行し、こ
こにおいて、制御装置２０が、定寸装置１４からの最新
の定寸点を表す信号の受信を許可する受信許可状態とな
り、最新の定寸点が受信される。受信された最新の定寸
点は制御装置２０のＲＡＭに記憶されるとともに、補助
記憶装置２２に保存される。

【０１３６】その後、Ｓ４において、定寸装置１４のＲ
ＡＭのフラグの状態から手動補正があったか否かが判定
される。手動補正がなかったと仮定すれば、判定がＮＯ
となり、直ちにＳ８に移行するが、あったと仮定すれ
ば、判定がＹＥＳとなり、Ｓ５において、制御装置２０
が、定寸装置１４からの最新の手動補正値を表す信号の
受信を許可する受信許可状態となり、その最新の手動補
正値が受信される。受信された最新の手動補正値は、制
御装置２０のＲＡＭに記憶され、さらに補助記憶装置２
２に保存される。その後、Ｓ６において、演算データメ
モリがクリアされる。手動補正と共に演算データメモリ
に蓄積されているデータがすべて消去されるのである。
その後、Ｓ８に移行する。

【０１３７】以上、Ｓ２の判定がＹＥＳとなる場合につ
いて説明したが、仮に定寸装置１４が手動補正値送信機
能を有していないと仮定すれば、判定がＮＯ（図におい
て「Ｎ」で表す。他のステップについても同じとする）
となり、Ｓ７において、制御装置２０が、定寸装置１４
のＲＡＭから最新の定寸点を読み込んで制御装置２０の
ＲＡＭに記憶する状態となり、さらに、その最新の定寸
点が補助記憶装置２２に保存される。

【０１３８】ここで、制御装置２０が定寸装置１４にお
ける最新の手動補正値と定寸点とをそれぞれ監視する目
的について説明する。

【０１３９】まず、制御装置２０が最新の定寸点を監視
する目的について説明する。制御装置２０が、定寸装置
１４の定寸点の補正値（現在の定寸点を変動させる量）
を自動的に決定し、その決定した補正値に従って定寸装
置１４が自身の定寸点を補正する。しかし、定寸点が取
り得る範囲には制限があり、それを超える定寸点が決定
された場合には、定寸装置１４の作動が停止させられ
る。始業時等に、精度よく目標寸法に加工されたマスタ
ワークが加工機１０にセットされ、インプロセス測定機
１２が、それのセンサの直線性が保証される範囲のほぼ
中央の値がマスタワークの寸法を表すように調整され、
その状態のインプロセス測定機１２の出力値が定寸装置
１４の定寸点として設定される。したがって、実際のワ
ークのインプロセス測定機１２による測定値が定寸点に
達した時点で加工を停止すれば、ワークの寸法はほぼマ
スタワークの寸法、すなわち目標寸法に等しい寸法にな
るはずである。しかし、実際には、マスタワークの測定
は回転停止状態で行われるのに対し、実際のワークの測
定は回転中に行われ、また、ワークの加工による温度上
昇やインプロセス測定機１２の使用に伴う零点変動等も
発生するため、定寸装置１４に設定された定寸点におい
て加工を終了したワークの寸法が全数測定機１６によっ
て測定された場合に、目標寸法にほぼ等しい寸法になっ
ているとは限らない。そこで、定寸点の自動補正が行わ
れるのであるが、マスタワークの測定に基づいて設定さ
れた定寸点からの累積補正量が大きくなると、インプロ
セス測定機１２のセンサの直線性が保証される範囲から
外れる等の問題が発生する。また、上記累積補正量が通
常予測される範囲を超える場合には、何らかの異 常が発
生した可能性もある。そのために、定寸点の取り得る範
囲、すなわち上記累積補正量には制限が設けられている
のであり、累積補正量がこの制限を越えた場合には、再
びマスタワークの測定等必要な措置がとられる必要があ
る。そこで、本実施例においては、定寸装置１４の最新
の定寸点を逐次監視し、自動的に決定した補正値でその
定寸点が補正されるとそれの許容範囲を超えてしまう場
合には、その自動補正値の定寸装置１４への送信が禁止
されるようになっているのである。このように、定寸装
置１４の事情を考慮しない一方的な自動補正によって定
寸装置１４の定寸点が許容範囲を超えることを防止する
ために、制御装置２０は定寸装置１４における最新の定
寸点を監視するのである。なお、定寸装置１４において
定寸点が許容範囲を超えることとなる場合に自動補正値
の送信を禁止する処理は、図示しない別のルーチンの実
行によって実現される。

【０１４０】次に、制御装置２０が最新の手動補正値を
監視する目的について説明する。制御装置２０は、前述
のように、作業者により前記データシフト処理の使用を
許可するデータシフト処理指令が出された場合には、全
数測定機１６による最新の測定値Ｘに基づき、加工機１
０により加工されたが未だ全数測定機１６により測定さ
れてはいない各ワークが最新の補正値Ｕの影響を受けた
定寸点の下で加工されたと仮定した場合にそれら各ワー
クについて測定される値を予測する。この際、定寸装置
１４の定寸点が制御装置２０により自動補正されている
場合には、全数測定機１６による最新の測定値Ｘに最新
の自動補正値を加算することによって上記予測が行われ
る。それに対して、定寸装置１４において定寸点が手動
補正された場合には、制御装置２０において、最新の測
定値Ｘに最新の手動補正値を加算することによって上記
予測が行われる。したがって、定寸装置１４において定
寸点が手動補正されたにもかかわらず、制御装置２０に
おいてその手動補正値を取得することができなければ、
手動補正値の影響を考慮して測定値Ｘの予測を行うこと
ができない。そのため、定寸装置１４における最新の手
動補正値を制御装置２０において監視する必要があるの
である。

【０１４１】定寸装置１４が手動補正値送信機能を有し
ている場合も有していない場合もその後、Ｓ８におい
て、全数測定機１６により測定された測定値Ｘであって
未だ全数測定機１６から制御装置２０に送信されていな
いものの有無が判定される。今回はそのような測定値Ｘ
がないと仮定すれば、判定がＮＯとなり、Ｓ９に移行す
る。

【０１４２】このＳ９においては、前記Ｓ２と同様にし
て、定寸装置１４が手動補正値送信機能を有しているか
否かが判定される。定寸装置１４は手動補正値送信機能
を有しているから、判定がＹＥＳとなり、Ｓ１０におい
て、前記Ｓ４と同様にして、定寸装置１４において手動
補正があったか否かが判定される。

【０１４３】今回、手動補正がなかった場合には、判定
がＮＯとなり、Ｓ１１ないしＳ１４において、Ｓ１で入
力されたパラメータの、作業者によるキー入力に応じた
変更処理が行われる。すなわち、Ｓ８において全数測定
機１６の測定値Ｘがなく、Ｓ１０において定寸装置１４
における手動補正もないことが判明し、かつ、Ｓ１１に
おいてキー入力が行なわれたことが判明した場合に、移
動平均値Ｐに係る重み係数ｂの値，代替制限数Ｚ，補助
補正制限数Ｓ等の数値や、特別移動平均値算出指令等の
指令の変更が行われるのである。まず、Ｓ１１におい
て、制御装置２０に接続されているキーボード（図示し
ない）が作業者により操作されたか否か、すなわち、作
業者によるキー入力の有無が判定される。無ければ判定
がＮＯとなって直ちにＳ８に戻るが、作業者によるキー
入力が有ればＳ１１の判定がＹＥＳとなり、Ｓ１２にお
いて、そのキーボードからデータが入力され、Ｓ１３に
おいて、そのデータに応じて前記パラメータが変更さ
れ、さらに、その変更されたパラメータが補助記憶装置
２２に保存され、その後、Ｓ１４において、演算データ
メモリがクリアされ、その後、Ｓ８に戻る。

【０１４４】これに対して、今回、手動補正があった場
合には、Ｓ１０の判定がＹＥＳとなり、Ｓ１５におい
て、前記Ｓ５と同様にして定寸装置１４から最新の手動
補正値が受信されて記憶され、続いて、Ｓ１６におい
て、後述のワーク待ちフラグがＯＮされ、Ｓ１７におい
て、演算データメモリがクリアされる。その後、Ｓ８に
戻る。

【０１４５】これに対して、定寸装置１４が手動補正値
送信機能を有していない場合には、Ｓ９の判定がＮＯと
なり、Ｓ１８において、定寸装置１４から最新の定寸点
が読み込まれ、それがＲＡＭに記憶されるとともに、補
助記憶装置２２に保存され、その後、Ｓ１９において、
補助記憶装置２２から前回の定寸点が入力される。その
後、Ｓ２０において、今回の定寸点が前回の定寸点から
変更されているか否かが判定される。すなわち、手動補
正値送信機能のない定寸装置において手動補正が行われ
たか否かが、定寸点の変化状況から判定されるのであ
る。今回、定寸点の変更はない場合には、判定がＮＯと
なり、直ちにＳ１１に移行するが、定寸点の変更があっ
た場合には、Ｓ２０の判定がＹＥＳとなり、Ｓ２１にお
いて、ワーク待ちフラグがＯＮされ、Ｓ２２において、
演算データメモリがクリアされ、その後、Ｓ１１に移行
する。

【０１４６】以上、全数測定機１６において送信すべき
測定値Ｘがない場合について説明したが、あった場合に
は、Ｓ８の判定がＹＥＳとなり、Ｓ２３において、その
測定値Ｘが全数測定機１６から入力される。測定値Ｘ
は、７個のジャーナル面すべてについて個々に入力され
る。その測定値Ｘは演算データメモリに蓄積されるとと
もに補助記憶装置２２に保存され、その後、図６のＳ２
４に移行する。

【０１４７】図６のフローのうちＳ２４からＳ３６まで
は、図１１における第２ステップ「短周期変動除去」と
して、移動平均値Ｐを取得する処理を行うものである。
まず、Ｓ２４において、前記パラメータの値に基づき、
作業者によりデータシフト処理指令が出されているか否
かが判定される。以下、まず、データシフト処理指令が
出されていない場合について説明する。

【０１４８】この場合、Ｓ２４の判定がＮＯとなり、Ｓ
２５において、ワーク待ちフラグがＯＮであるか否かが
判定される。

【０１４９】このワーク待ちフラグは、定寸装置１４に
おける定寸点であって最新の手動補正値または自動補正
値の影響を受けたものの下で加工された少なくとも１個
のワークのうち先頭のものである先頭補正対象ワークが
全数測定機１６により測定されたか、それともその測定
を待っているのかを監視するためのものである。このワ
ーク待ちフラグは、ＯＦＦでその先頭補正対象ワークが
測定を終了したこと、すなわちワーク待ち状態にないこ
とを示し、一方、ＯＮで先頭補正対象ワークが測定を終
了しないこと、すなわちワーク待ち状態にあることを示
す。このワーク待ちフラグはＲＡＭに設けられており、
コンピュータの電源の投入に伴ってＯＮされ、図示しな
い別のプログラムの実行により、その先頭補正対象ワー
クが全数測定機１６による測定を終了するごとに、ＯＦ
Ｆされる。また、本ルーチンの実行により、手動補正が
行われるごとに、および各回の間欠的補正が終了するご
とに、ＯＮされる。今回、ワーク待ちフラグがＯＮでは
ない場合には、Ｓ２５の判定がＮＯとなり、Ｓ２６に移
行する。

【０１５０】このＳ２６においては、演算データメモリ
から過去の測定値Ｘが入力される。その後、Ｓ２７にお
いて、今回の移動平均値Ｐの算出の可否が判定される。
演算データメモリに蓄積されている測定値Ｘの数がＫ個
以上であるか否かが判定されるのである。今回、蓄積さ
れている測定値Ｘの数がＫ個以上ではない場合には、判
定がＮＯとなり、Ｓ２８において、特別移動平均値算出
指令の有無が判定される。無ければ判定がＮＯとなり、
直ちにＳ８に戻る。したがって、本ルーチンの今回の実
行においては、結局、自動補正値すなわち最終補正値Ｕ
^* が０とされることになる。

【０１５１】これに対して、特別移動平均値算出指令が
有れば、Ｓ２８の判定がＹＥＳとなり、Ｓ２９におい
て、可変型移動平均値算出指令の有無が判定される。無
ければ判定がＮＯとなり、Ｓ３０に移行する。なお、可
変型移動平均値算出指令と代替型移動平均値算出指令と
は択一される指令であるから、可変型移動平均値算出指
令が無ければ必ず代替型移動平均値算出指令が有ること
になる。

【０１５２】このＳ３０においては、代替型移動平均値
算出の可否が判定される。具体的には、演算データメモ
リに蓄積されている測定値Ｘの数がＫ（原則通り移動平
均値Ｐを算出するのに必要な測定値Ｘの数）−Ｚ（代替
制限数）より小さいか否かが判定され、そうであれば、
代替型移動平均値算出が不可能である（正確には、禁止
されている）と判定され、そうでなければ可能である
（正確には、許可されている）と判定される。不可能で
あればＳ８に戻るが、本ルーチンの実行（Ｓ８以下のス
テップの実行）が何回も繰り返されるうちに可能となれ
ば、判定がＹＥＳとなり、Ｓ３１において、今回の測定
値Ｘがそのまま今回の移動平均値Ｐとされ、Ｓ３２にお
いて、それが演算データメモリに蓄積されるとともに、
補助記憶装置２２に保存される。その後、Ｓ３７に移行
する。

【０１５３】これに対して、可変型移動平均値算出指令
が有れば、Ｓ２９の判定がＹＥＳとなり、Ｓ３３におい
て、前記可変型移動平均値算出手法により移動平均値Ｐ
が算出され、Ｓ３４において、それが演算データメモリ
に蓄積されるとともに、補助記憶装置２２に保存され
る。その後、Ｓ３７に移行する。

【０１５４】その後、本ルーチンの実行が何回も繰り返
されるうちに、演算データメモリに蓄積されている測定
値Ｘの数がＫ個以上となった場合には、Ｓ２７の判定が
ＹＥＳとなり、Ｓ３５において、移動平均値Ｐが原則通
り算出され、Ｓ３６において、それが演算データメモリ
に蓄積されるとともに、補助記憶装置２２に保存され
る。その後、Ｓ３７に移行する。

【０１５５】図６の最下部に示されているＳ３７および
Ｓ３８は、図１１における第３ステップ「両端直径補
正」を行う部分であり、Ｓ３７においては、両端直径補
正指令の有無が判定され、無ければ判定がＮＯとなり、
直ちに図７のＳ３９に移行するが、有れば判定がＹＥＳ
となり、Ｓ３８において、前記２個の端円筒面の移動平
均値Ｐについて前記両端直径補正が行われ、その結果に
応じて、演算データメモリの内容が変更される。その
後、図７のＳ３９に移行する。

【０１５６】図７のＳ３９からＳ５４までのフローは、
図１１における第４ステップ「寸法情報取得」に当たる
処理を行うものであり、Ｓ３９においては、今回の移動
平均値Ｐから、ワークの寸法の目標値Ａ₀ を引いた値が
今回の誤差値Ｒとされ、続いて、Ｓ４０において、それ
が演算データメモリに蓄積されるとともに、補助記憶装
置２２に保存される。

【０１５７】その後、Ｓ４１において、微分値Ｔの算出
の可否が判定される。演算データメモリに蓄積されてい
る移動平均値Ｐの数がＬ個以上であるか否かが判定され
るのである。今回、移動平均値Ｐの数が不足している場
合には、判定がＮＯとなり、Ｓ４２に移行する。このＳ
４２においては、可変型微分値算出指令の有無が判定さ
れ、無ければ判定がＮＯとなり、直ちにＳ８に戻って、
本ルーチンの今回の実行が終了するが、有れば判定がＹ
ＥＳとなり、Ｓ４３において、演算データメモリに蓄積
されている移動平均値Ｐが２個以上であるか否か、すな
わち、前記可変型微分値算出が可能であるか否かが判定
され、可能でなければ判定がＮＯとなり、直ちにＳ８に
戻るが、可能であれば判定がＹＥＳとなり、Ｓ４４にお
いて、可変型微分値算出手法により今回の微分値Ｔが算
出され、Ｓ４５において、それが演算データメモリに蓄
積されるとともに、補助記憶装置２２に保存される。そ
の後、Ｓ４８に移行する。

【０１５８】その後、本ルーチンの実行が何回も繰り返
されるうちに、演算データメモリに蓄積されている移動
平均値Ｐの数がＬ個以上となった場合には、Ｓ４１の判
定がＹＥＳとなり、Ｓ４６において、微分値Ｔが原則通
り算出され、Ｓ４７において、それが演算データメモリ
に蓄積されるとともに、補助記憶装置２２に保存され
る。その後、Ｓ４８に移行する。

【０１５９】このＳ４８においては、２回微分値使用指
令の有無が判定され、有れば判定がＹＥＳとなり、Ｓ４
９において、２回微分値Ｄの算出の可否が判定される。
演算データメモリに蓄積されている微分値Ｔの数がＱ個
以上であるか否かが判定されるのである。今回、蓄積さ
れている微分値Ｔの数がＱ個以上ではない場合には、判
定がＮＯとなり、直ちにＳ８に戻って、本ルーチンの今
回の実行が終了する。本ルーチンの実行が何回も繰り返
されるうちに、演算データメモリに蓄積されている微分
値Ｔの数がＱ個以上となった場合には、Ｓ４９の判定が
ＹＥＳとなり、Ｓ５０において、前述のようにして２回
微分値Ｄが算出され、Ｓ５１において、それが演算デー
タメモリに蓄積されるとともに、補助記憶装置２２に保
存される。その後、Ｓ５５に移行する。

【０１６０】これに対して、２回微分値使用指令が無け
れば、Ｓ４８の判定がＮＯとなり、Ｓ５２において、む
だ時間考慮型補正指令の有無が判定される。無ければ判
定がＮＯとなり、直ちにＳ５５に移行するが、有れば判
定がＹＥＳとなり、Ｓ５３において、ワーク数カウンタ
１８からむだ時間ＭＳが入力され、Ｓ５４において、そ
れが演算データメモリに蓄積されるとともに、補助記憶
装置２２に保存される。その後、Ｓ５５に移行する。

【０１６１】図７の最下部に示されているＳ５５および
Ｓ５６は、図１１における第５ステップ「ファジィ演
算」に相当する処理を行う部分であり、Ｓ５５において
は、ファジィ演算により暫定補正値Ｕが算出される。こ
のファジィ演算のためのファジィルールは３種類ある。
すなわち、 ２回微分値Ｄを使用することもむだ時間
ＭＳを考慮することもなく、誤差値Ｒと微分値Ｔとに基
づいて暫定補正値Ｕを算出するためのファジィルール
と、 ２回微分値Ｄを使用することなく、誤差値Ｒと
微分値Ｔとむだ時間ＭＳとに基づいて暫定補正値Ｕを算
出するためのファジィルールと、 むだ時間ＭＳを考
慮することなく、誤差値Ｒと微分値Ｔと２回微分値Ｄと
に基づいて暫定補正値Ｕを算出するためのファジィルー
ルとがあるのである。そして、このステップにおいて
は、作業者からの指令に応じてファジィルールが選択さ
れ、それを用いてファジィ演算が行われ、誤差値Ｒ，微
分値Ｔ，２回微分値Ｄおよびむだ時間ＭＳのうち必要な
ものに基づいて暫定補正値Ｕが算出されることになる。
その後、Ｓ５６において、それが演算データメモリに蓄
積されるとともに、補助記憶装置２２に保存される。そ
の後、図８のＳ５７に移行する。

【０１６２】図８のフローは、図１１における第６ステ
ップ「連続性考慮」に相当する処理を行うものであり、
Ｓ５７においては、連続性考慮型補正指令の有無が判定
され、無ければ判定がＮＯとなり、Ｓ５８において、暫
定暫定値Ｕがそのまま最終補正値Ｕ^* とされ、Ｓ５９に
おいて、それが補助記憶装置２２に保存される。これに
対して、連続性考慮型補正指令が有れば、Ｓ５７の判定
がＹＥＳとなり、Ｓ６０において、連続性考慮型補正の
可否が判定される。演算データメモリに蓄積されている
暫定補正値Ｕの数がＭ個以上であるか否かが判定される
のである。今回、蓄積されている暫定補正値Ｕの数がＭ
個以上ではない場合には、判定がＮＯとなり、直ちにＳ
８に戻り、本ルーチンの今回の実行が終了する。その
後、本ルーチンの実行が何回も繰り返されるうちに、演
算データメモリに蓄積されている暫定補正値Ｕの数がＭ
個以上となった場合には、Ｓ６０の判定がＹＥＳとな
り、Ｓ６１において、演算データメモリに蓄積されてい
る最新のＭ個の暫定補正値Ｕに基づき、前述のようにし
て最終補正値Ｕ^* が算出される。その後、Ｓ６２におい
て、それが演算データメモリに蓄積されるとともに、補
助記憶装置２２に保存される。

【０１６３】Ｓ５９または６２の実行が終了すれば、図
９のフローへ移行する。図９のフローは図１１における
第７ステップ「不感帯考慮」および第８ステップ「送
信」に相当する処理、ならびに補助補正の処理を行うも
のであり、Ｓ６３において、補助補正指令の有無が判定
される。今回、無ければ判定がＮＯとなり、Ｓ６４にお
いて、今回の最終補正値Ｕ^* を定寸装置１４に送信すべ
きか否か、すなわち、その最終補正値Ｕ^* が不感帯から
外れているか否かが判定される。Ｓ６４が特に不感帯考
慮ステップとなっているのである。今回、不感帯内にあ
れば、判定がＮＯとなり、Ｓ６５において、前記ファジ
ィ演算において適合したファジィルールが補助記憶装置
２２に保存される。その後、直ちにＳ８に戻って、本ル
ーチンの今回の実行が終了する。

【０１６４】これに対して、最終補正値Ｕ^* が不感帯か
ら外れている場合には、Ｓ６４の判定がＹＥＳとなり、
Ｓ６６において、定寸装置１４が手動補正値送信機能を
有しているか否かが判定される。有しているから判定が
ＹＥＳとなり、Ｓ６７においてその定寸装置１４におけ
る手動補正の有無が判定され、なければ判定がＮＯとな
り、Ｓ６８において、最終補正値Ｕ^* が定寸装置１４に
送信され、それが補助記憶装置２２に保存される。段落
０１３１において説明したように、本実施例において
は、定寸装置１４における手動補正の有無の監視が、制
御装置２０が各回の自動補正値を送信しようとするごと
にそれに先立って行われるのである。最終補正値Ｕ^* が
定寸装置１４に送信された後、Ｓ６９において、補助補
正指令が有るか否かが判定される。今回は無い場合であ
るから、判定がＮＯとなり、Ｓ７０において、前記Ｓ６
５と同様に、適合したファジィルールが補助記憶装置２
２に保存される。

【０１６５】これに対して、定寸装置１４において手動
補正があった場合には、Ｓ６７の判定がＹＥＳとなり、
Ｓ７１において、定寸装置１４からの最新の手動補正値
および定寸点が受信されて記憶され、Ｓ７２において、
ワーク待ちフラグがＯＮされ、Ｓ７３において、演算デ
ータメモリがクリアされ、その後、Ｓ８に戻る。

【０１６６】また、定寸装置１４が手動補正値送信機能
を有してはいない場合には、Ｓ６６の判定がＮＯとな
り、Ｓ７４において、定寸装置１４から最新の定寸点が
読み込まれ、それがＲＡＭに記憶されるとともに、補助
記憶装置２２に保存され、Ｓ７５において、ＲＡＭから
前回の定寸点が読み込まれる。その後、Ｓ７６におい
て、その前回の定寸点と最新の定寸点とから、定寸点の
変更があったか否かが判定され、すなわち、手動補正値
送信機能を有していない定寸装置において手動補正があ
ったか否かが判定され、変更がなければ判定がＮＯとな
り、前記Ｓ６８に移行するが、あれば判定がＹＥＳとな
り、Ｓ７７において、ワーク待ちフラグがＯＮされ、Ｓ
７８において、演算データメモリがクリアされ、その
後、Ｓ８に戻る。

【０１６７】これに対して、補助補正指令がある場合に
は、Ｓ６３の判定がＹＥＳとなり、Ｓ７９において、補
助補正の実行中であるか否かが判定される。補助補正の
実行回数を表す補助補正カウンタの値が１以上であるか
否かが判定されるのである。今回、０であれば、判定が
ＮＯとなり、前記Ｓ６４以下のステップ群に移行して前
記主補正が行われる。このステップ群のうちＳ６９にお
いては、補助補正指令があるか否かが判定され、今回は
ある場合であるから、判定がＹＥＳとなり、Ｓ８０にお
いて、補助補正カウンタの値が１だけインクリメントさ
れることになる。

【０１６８】これに対して、現在補助補正の実行中であ
って、補助補正カウンタの値が０ではない場合には、Ｓ
７９の判定がＹＥＳとなり、Ｓ８１以下のステップ群に
移行して補助補正が行われる。Ｓ８１においては、今回
の最終補正値Ｕ^* （前記今回の暫定補正値Ｕ_P に相当す
る）から前回の最終補正値Ｕ^* を引いた値が今回の送信
値（前記今回の最終補正値Ｕ_F に相当する）とされ、Ｓ
８２においては、定寸装置１４が手動補正値送信機能を
有しているか否かが判定される。有しているから判定が
ＹＥＳとなり、Ｓ８３において、その定寸装置１４にお
ける手動補正の有無が判定され、なかった場合には、判
定がＮＯとなり、Ｓ８４において、その送信値が定寸装
置１４に送信される。補助補正が行われるのである。そ
の後、Ｓ８５において、その送信値が補助記憶装置２２
に保存され、Ｓ８６において、補助補正カウンタがイン
クリメントされ、その後、前記Ｓ８０に移行する。一
方、手動補正があった場合には、Ｓ８３の判定がＹＥＳ
となり、Ｓ８７において定寸装置１４からの手動補正値
が受信され、Ｓ８８において、ワーク待ちフラグがＯＮ
され、Ｓ８９において、演算データメモリがクリアさ
れ、その後、Ｓ８に戻る。

【０１６９】これに対して、定寸装置１４が手動補正値
送信機能を有してはいない場合には、Ｓ８２の判定がＮ
Ｏとなり、前記Ｓ７４以下のステップ群に移行して、自
動補正の許否が判定され、許可されればその自動補正値
が定寸装置１４に送信されることになる。また、この場
合、Ｓ６９の判定がＹＥＳとなり、Ｓ８０において、補
助補正カウンタがインクリメントされる。

【０１７０】Ｓ７０の実行が終了すると、図１０のＳ９
０において、補助補正指令の有無が判定される。今回、
無い場合には、判定がＮＯとなり、Ｓ９１において、ワ
ーク待ちフラグがＯＮされ、Ｓ９２において、演算デー
タメモリがクリアされ、その後、Ｓ９３において、デー
タシフト処理指令の有無が判定される。今回はない場合
であるから、判定がＮＯとなり、直ちにＳ８に戻る。

【０１７１】これに対して、今回、補助補正指令がある
場合には、Ｓ９０の判定がＹＥＳとなり、Ｓ９４におい
て、今回の補助補正を終了させるべきであるか否かが判
定される。具体的には、補助補正カウンタの現在値が設
定値（図５のＳ１において補助記憶装置２２から入力さ
れたもの）以上となったか否かが判定される。今回、そ
うではない場合には、判定がＮＯとなり、直ちにＳ８に
戻る。

【０１７２】その後、本ルーチンの実行が何回も繰り返
されるうちに、補助補正カウンタの現在値が設定値以上
となった場合には、Ｓ９４の判定がＹＥＳとなり、Ｓ９
５において、今回の補助補正およびそれに先行する主補
正のうち少なくとも今回の補助補正において定寸装置１
４に送信された補正値すべての和（以下、「合計補正
値」という）が算出される。その後、Ｓ９６において、
その合計補正値が０であるか否か、すなわち、少なくと
も今回の補助補正が本当に必要な時期に行われなかった
と推定されるから今回の補助補正を続行する必要がある
か否かが判定される。今回、その必要がない場合には、
判定がＮＯとなり、Ｓ９７において、ワーク待ちフラグ
がＯＮされ、Ｓ９８において、演算データメモリがクリ
アされ、Ｓ９９において、データシフト処理指令の有無
が判定される。今回はない場合であるから、判定がＮＯ
となり、直ちにＳ８に戻る。

【０１７３】これに対して、今回の補助補正を続行する
必要がある場合には、Ｓ９６の判定がＹＥＳとなり、Ｓ
１００において、補助補正再開指令の有無が判定され
る。今回は補助補正再開指令ではなく、補助補正延長指
令がある場合には、判定がＮＯとなり、Ｓ１０１におい
て、補助補正カウンタの値が１とされ、その後、Ｓ８に
戻る。したがって、本ルーチンの次回の実行時には、補
助補正カウンタの現在値が０ではないため、図９のＳ７
９の判定がＮＯとなり、Ｓ６４に移行することになる。

【０１７４】これに対し、今回は補助補正延長指令では
なく、補助補正再開指令が有る場合には、図１０のＳ１
００の判定がＹＥＳとなり、Ｓ１０２において、補助補
正カウンタの値が０とされ、その後、Ｓ８に戻る。した
がって、本ルーチンの次回の実行時には、補助補正カウ
ンタの現在値が０であるから、図９のＳ７９の判定がＹ
ＥＳとなり、Ｓ８１に移行することになる。

【０１７５】ワーク待ちフラグがＯＮされている状態で
図６のＳ２５が実行される場合には、それの判定がＹＥ
Ｓとなり、Ｓ１０３において、演算データメモリがクリ
アされ、その後、Ｓ８に戻ることになる。すなわち、定
寸点の手動補正または自動補正の直後からは、図５のＳ
２３の存在にもかかわらず、演算データメモリへの測定
値Ｘ等の蓄積は事実上行われず、その最新の手動補正ま
たは自動補正の影響を受けた定寸点の下で加工されたワ
ークが最初に全数計測機１６により測定されたときにワ
ーク待ちフラグがＯＦＦされ、図６のＳ２５の判定がＮ
Ｏとなり、演算データメモリへの測定値Ｘ等の蓄積が再
開されることになるのである。

【０１７６】以上、データシフト処理指令が出されてい
ない場合について説明したが、次に、出されている場合
について説明する。

【０１７７】この場合には、図６のＳ２４の判定がＹＥ
Ｓとなり、Ｓ１０４以下のステップ群に移行する。Ｓ１
０４においては、データシフト処理を禁止するべきであ
るか否かが判定される。最新の手動補正値または自動補
正値に係る先頭補正対象ワークについて全数測定機１６
による測定が終了した場合には、もはやデータシフト処
理を行う必要がなく、行うとかえって測定値Ｘの誤差が
増加してしまうから、このような場合にはデータシフト
処理を禁止するのである。

【０１７８】先頭補正対象ワークの測定が終了したか否
かの判定は、具体的には、ＲＡＭに記憶されているデー
タシフト処理の目標回数（これの記憶については後述す
る）、すなわち、最新の手動補正値または自動補正値が
定寸装置１４に送信されたときに加工機１０と全数測定
機１６との間に存在していたワークの数を、全数測定機
１６により測定が終了するごとに１ずつ減算し、その結
果、０となったときに、先頭補正対象ワークの測定が終
了したと判定されるものである。

【０１７９】今回は未だ先頭補正対象ワークの測定が終
了していない場合には、判定がＮＯとなり、Ｓ１０５に
おいて、最新の手動補正値または自動補正値が今回のシ
フト量に決定され、その後、Ｓ１０６において、今回の
測定値Ｘにその今回のシフト量を加算することによって
今回の測定値Ｘが変更され、それが演算データメモリに
蓄積されるとともに、補助記憶装置２２に保存される。
その後、Ｓ１０７において、演算データメモリから過去
の測定値Ｘが入力され、Ｓ２７以下の、移動平均値Ｐの
算出に備える。

【０１８０】その後、図１０のＳ９３において、データ
シフト処理指令の有無が判定されれば、今回はある場合
であるから、判定がＹＥＳとなり、Ｓ１０８において、
ワーク数カウンタ１８からむだ時間ＭＳが入力され、次
回のデータシフト処理の目標回数としてＲＡＭに記憶さ
れ、さらに、補助記憶装置２２に保存される。その後、
Ｓ８に戻る。

【０１８１】また、同図のＳ９９の判定も、上記の場合
と同様に、ＹＥＳとなり、Ｓ１０９において、ワーク数
カウンタ１８からむだ時間ＭＳが入力され、次回のデー
タシフト処理の目標回数としてＲＡＭに記憶され、さら
に、補助記憶装置２２に保存される。その後、Ｓ８に戻
る。

【０１８２】このように、データシフト処理の目標回数
は、間欠的補正の終了に伴って行われることになるが、
図示はしないが、手動補正の終了に伴っても行われ、ま
た、本ルーチンの初回の実行に備えてそれの標準値が予
めＲＯＭに記憶させられている。

【０１８３】その後、本ルーチンの実行が何回も繰り返
されるうちに、最新の手動補正値または自動補正値に係
る先頭補正対象ワークについて全数測定機１６による測
定が終了した場合には、図６のＳ１０４の判定がＹＥＳ
となり、Ｓ１１０において、今回のシフト量が０とさ
れ、その後、Ｓ１０６に移行する。すなわち、今回は、
実際の測定値Ｘがそのまま演算データメモリに蓄積され
ることになるのである。

【０１８４】このように、データシフト処理が許可され
る場合には、ワーク待ちフラグのＯＮ・ＯＦＦとは無関
係に測定値Ｘの演算データメモリへの蓄積が行われ、そ
の結果、自動補正の間隔時間が短くなる。

【０１８５】以上の説明から明らかなように、本実施例
においては、加工機１０が請求項１ないし６の各発明に
おける「加工機１」の一態様を構成し、定寸装置１４お
よびモータコントローラ１５が「加工機制御手段２」の
一態様を構成し、全数測定機１６が「測定機３」の一態
様を構成し、ワーク数カウンタ１８が「待機ワーク数カ
ウンタ６」を構成している。また、キーボード５０と定
寸装置１４のうちそのキーボード５０の操作に応じて定
寸点を変更する部分とが互いに共同して「手動補正手段
４」の一態様を構成し、制御装置２０のうち図５〜１０
の定寸点補正ルーチンを実行する部分が「自動補正手段
５」の一態様を構成しているのである。

【０１８６】以上、本発明の一実施例を図面に基づいて
詳細に説明したが、この他の態様で本発明を実施するこ
とができる。

【０１８７】例えば、上記実施例においては、演算デー
タメモリに蓄積されている測定値Ｘの数が前記設定複数
個に達しない段階でも、移動平均値Ｐ，誤差値Ｒ，微分
値Ｔ等が逐次算出されて演算データメモリに蓄積され、
蓄積されている測定値Ｘの数が設定複数個に達したとき
に１個の最終補正値Ｕ^* が決定されるようになってい
た。しかし、蓄積されている測定値Ｘの数が設定複数個
に達しない段階では、それら移動平均値Ｐ等を全く算出
せず、蓄積されている測定値Ｘの数が設定複数個に達し
たときに初めて、それら移動平均値Ｐ等をまとめて算出
して１個の最終補正値Ｕ^* を決定するようにして本発明
を実施することができる。

【０１８８】また、前記実施例は、クランクシャフトを
ワークとし、それの複数のジャーナル面（外周円筒面）
をそれぞれ加工部位として円筒研削する加工システムと
共に使用される定寸点補正装置に本発明を適用した場合
の一例であったが、他の加工システムと共に使用される
定寸点補正装置に本発明を適用することができるのはも
ちろんである。他の加工システムには例えば、自動車の
エンジンのシリンダブロックを加工すべきワークとし、
それに予め形成された複数のシリンダボア（内周円筒
面）をそれぞれ加工部位としてホーニングする加工シス
テムを選ぶことができる。

【０１８９】また、前記実施例は、複数の加工部位が設
定されているワークを加工する加工システムに本発明を
適用した場合の一例でもあったが、１個の加工部位しか
設定されていない加工システムにも適用することができ
るのはもちろんである。

【０１９０】また、前記実施例は、複数の加工部位が設
定されているワークを加工する加工システムであり、か
つ、それら加工部位すべてについてはインプロセス測定
機を備えていないものに本発明を適用した場合の一例で
もあったが、それら加工部位すべてについてインプロセ
ス測定機を備えている加工システムにも本発明を適用す
ることができるのはもちろんである。

【０１９１】これらの他にも特許請求の範囲を逸脱する
ことなく、当業者の知識に基づいて種々の変形，改良を
施した態様で本発明を実施することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】請求項１ないし６の各発明の構成を概念的に示
す図である。

【図２】請求項１ないし６の発明に共通の一実施例であ
るフィードバック式の定寸点補正装置と共に使用される
加工システムにおいてクランクシャフトが砥石により研
削される状態を示す斜視図である。

【図３】上記加工システム全体を示すシステム図であ
る。

【図４】上記加工システムにおける加工機の構成を示す
図である。

【図５】図４における制御装置２０のコンピュータによ
り実行される定寸点補正ルーチンの一部を示すフローチ
ャートである。

【図６】その定寸点補正ルーチンの別の一部を示すフロ
ーチャートである。

【図７】その定寸点補正ルーチンのさらに別の一部を示
すフローチャートである。

【図８】その定寸点補正ルーチンのさらにまた別の一部
を示すフローチャートである。

【図９】その定寸点補正ルーチンのさらにまた別の一部
を示すフローチャートである。

【図１０】その定寸点補正ルーチンのさらにまた別の一
部を示すフローチャートである。

【図１１】その定寸点補正ルーチンの処理全体の流れを
概念的に示す図である。

【図１２】図１１における短周期変動除去の内容を概念
的に示すグラフである。

【図１３】その短周期変動除去の一例を説明するための
図である。

【図１４】図１３における短周期変動除去の一例を改良
した一例を説明するための図である。

【図１５】図１４における短周期変動除去の一改良例を
さらに改良した一例を説明するための図である。

【図１６】図１１における両端直径補正の内容を概念的
に示すグラフである。

【図１７】図１１における寸法情報取得において、誤差
値Ｒから微分値Ｔが算出される手法を概念的に示すグラ
フである。

【図１８】定寸点補正の一方式である間欠的補正を概念
的に示すグラフである。

【図１９】その間欠的補正の第１の方式を概念的に示す
グラフである。

【図２０】その第１の方式の一実施態様を概念的に示す
グラフである。

【図２１】図１８の間欠的補正の第２の方式を概念的に
示すグラフである。

【図２２】その第２の方式の一実施態様を概念的に示す
グラフである。

【図２３】図１１における連続性考慮の内容を概念的に
示すグラフである。

【図２４】図５〜１０の定寸点補正ルーチンにおいて測
定値Ｘから最終補正値Ｕ^* が誘導される過程の一例を説
明するための図である。

【図２５】図１１における不感帯考慮の内容を概念的に
示すグラフである。

【符号の説明】

１０ 加工機 １２ インプロセス測定機 １４ 定寸装置 １５ モータコントローラ １６ 全数測定機 ２０ 制御装置 ４４ ポストプロセス測定機 ５０ キーボード

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) B23Q 15/04 G05B 19/404

Claims (6)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 (a) 複数のワークの各々を順に加工する
   加工機と、(b) 外部から供給される補正値に基づいて前
   記加工機の加工条件を決定し、その決定した加工条件に
   従ってその加工機を制御する加工機制御手段と、(c) 前
   記加工機により加工された複数のワークの各々の寸法を
   順に測定する測定機とを備え、かつ、それら加工機と測
   定機との間に測定機による測定を待つワークが存在する
   ことを許容する加工システムの、それら加工機制御手段
   と測定機とに接続されて使用されるべきフィードバック
   式加工条件補正装置であって、前記加工機と測定機との間において測定機による測定を
   待つワークである待機ワークの数を計数する待機ワーク
   数カウンタと、 作業者の指令に基づき、前記加工機により次に加工され
   るべきワークの前記加工条件の補正値を手動補正値とし
   て前記加工機制御手段に供給する手動補正を行う手動補
   正手段と、 前記測定機による測定値を逐次蓄積し、その逐次蓄積し
   た最新の測定値を含む複数の測定値の移動平均値を取得
   し、その移動平均値の前記最新の測定値と同時点におけ
   る値と、前記ワークの目標寸法との差である寸法誤差
   を、前記最新の測定値の各々に対応させて逐次取得し、
   少なくともそれら寸法誤差を含む寸法情報と前記待機ワ
   ーク数カウンタにより計数された待機ワーク数とに基づ
   いて、前記加工機により次に加工されるべきワークの前
   記加工条件の補正値を自動補正値として逐次決定して前
   記加工機制御手段に供給する自動補正を行い、前記手動
   補正手段により手動補正が行われたならばその自動補正
   を中断し、その手動補正手段から前記加工機制御手段に
   供給された手動補正値の影響を受けた前記加工条件に従
   って加工されたワークが前記測定機により測定される時
   期以後に、前記測定値の蓄積を無蓄積状態から再開して
   自動補正を再開する自動補正手段とを含むことを特徴と
   するフィードバック式加工条件補正装置。
2. 【請求項２】 前記自動補正手段が、前記逐次取得され
   る寸法誤差と、それら逐次取得される複数の寸法誤差に
   対する１次回帰線の勾配である寸法誤差の変化傾向とを
   含む寸法情報に基づいて前記自動補正値を逐次決定する
   手段を含むことを特徴とする請求項１に記載のフィード
   バック式加工条件補正装置。
3. 【請求項３】 前記自動補正手段が、前記寸法情報を取得する 寸法情報取得手段と、 その寸法情報取得手段により取得された寸法情報に基づ
   いてファジィ演算によって前記自動補正値を決定する自
   動補正値決定手段とを含むことを特徴とする請求項２に
   記載のフィードバック式加工条件補正装置。
4. 【請求項４】 前記自動補正手段が、前記移動平均値と
   して、前記蓄積した最新の測定値を含む複数の測定値
   の、後に蓄積されたものほど大きい重みを与えた重み付
   き移動平均値を取得するものである請求項１ないし３の
   いずれかに記載のフィードバック式加工条件補正装置。
5. 【請求項５】 前記自動補正手段が、前記決定された自
   動補正値が予め設定された不感帯内にない場合にはその
   自動補正値に従って前記加工条件を補正するが、不感帯
   内にある場合には加工条件を補正しない手段を含む請求
   項１ないし４のいずれかに記載のフィードバック式加工
   条件補正装置。
6. 【請求項６】 前記自動補正手段が、前記自動補正値に
   従って前記加工条件を補正した場合に、自動補正を中断
   し、その補正した加工条件に従って加工されたワークが
   前記測定機により測定される時期以後に、前記測定値の
   蓄積を無蓄積状態から再開して自動補正を再開する手段
   を含む請求項１ないし５のいずれかに記載のフィードバ
   ック式加工条件補正装置。