JPH07104036A - Lsi診断制御回路 - Google Patents

Lsi診断制御回路

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JPH07104036A
JPH07104036A JP5248937A JP24893793A JPH07104036A JP H07104036 A JPH07104036 A JP H07104036A JP 5248937 A JP5248937 A JP 5248937A JP 24893793 A JP24893793 A JP 24893793A JP H07104036 A JPH07104036 A JP H07104036A
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Tetsuyoshi Senda
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Abstract

(57)【要約】 【構成】 外部からの要求または内部に発生した事象に
よって起動してそれらの内容を保持するレジスタ群と、
このレジスタ群の内容を選択する選択回路と、選択回路
の出力信号をシリアルデータに変換するシフトレジスタ
とを設ける。 【効果】 レジスタに対するクロック信号を停止させず
にレジスタの内容を読出すことが可能になり、従ってク
ロックを制御するための回路を設ける必要がなくなり、
またクロックの分配の遅延もなくなる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、情報処理装置に使用さ
れるLSIを診断するためのLSI診断制御回路に関す
る。
【0002】
【従来の技術】情報処理装置に障害が発生したとき、情
報処理装置の内部の状態を読出して障害の原因を調査す
ることが行われている。このような診断の目的で、情報
処理装置に使用されるLSI内のレジスタの状態を読出
すための手段として、一般的にスキャン方式が用いられ
ている。
【0003】スキャン方式では、まずレジスタに供給す
るクロックを停止し、次に、読出し対象のレジスタを直
列に接続した後クロックの供給を開始してレジスタの内
容をを直列に読出す。このスキャン動作に先立ち、内部
の状態を保持するため、次の2方式のうちのいずれかの
方式によってクロックを停止する。その第一の方式は、
LSIの外部から供給されるクロックを停止する方式で
あり、その第二の方式は、LSIの内部においてクロッ
クの分配を停止する方式である。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上述したような従来の
LSIの診断手段は、第一の方式によるクロックの停止
手段の場合は、LSIの外部にクロックを制御するため
の回路を設ける必要があるため、部品点数が増加すると
いう欠点を有している。また、第二の方式によるクロッ
クの停止手段の場合は、LSIの内部にクロックを制御
するための回路が存在するため、クロックの分配が遅延
し、他のLSIとの間のクロック分配時間の差(スキュ
ー)が大きくなるという問題がある。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明の第一のLSI診
断制御回路は、外部からの要求または内部に発生した事
象によって起動してそれらの内容を保持するレジスタ群
と、前記レジスタ群の内容を選択する選択回路と、前記
選択回路の出力信号をシリアルデータに変換するシフト
レジスタと、前記選択回路の動作を制御するカウンタ
と、前記外部からの要求をデーコードして前記レジスタ
群のホールドを解除しかつ前記カウンタの動作を制御す
る制御部とを備えている。
【0006】本発明の第二のLSI診断制御回路は、外
部からの要求または内部に発生した事象によって起動し
てそれらの内容を保持する第一のレジスタ群と、前記第
一のレジスタ群の内容を選択する第一の選択回路と、前
記第一の選択回路の出力信号をシリアルデータに変換す
るシフトレジスタと、前記第一の選択回路の動作を制御
するカウンタと、スキャンパスを通す第二のレジスタ群
と、前記シフトレジスタの出力信号または前記第二のレ
ジスタ群の出力信号のいずれか一方を選択する第二の選
択回路と、前記外部からの要求をデーコードして前記レ
ジスタ群のホールドを解除しかつ前記カウンタおよび前
記第二の選択回路の動作を制御する制御部とを備えてい
る。
【0007】本発明の第三のLSI診断制御回路は、外
部からの要求または内部に発生した事象によって起動し
てそれらの内容を保持する複数のレジスタ群と、前記複
数のレジスタ群のそれぞれの内容を選択する複数の第一
の選択回路と、前記複数の第一の選択回路の動作を制御
するカウンタと、前記複数の第一の選択回路の出力信号
のうちの一つを選択する第二の選択回路と、前記第二の
選択回路の出力信号をシリアルデータに変換するシフト
レジスタと、前記外部からの要求をデーコードして前記
レジスタ群のホールドを解除しかつ前記カウンタおよび
前記第二の選択回路の動作を制御する制御部とを備えて
いる。
【0008】
【実施例】次に、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。
【0009】図1は本発明の第一の実施例を示すブロッ
ク図である。
【0010】図1のLSI診断制御回路は、外部からの
要求または内部に発生した事象によって起動してそれら
の内容を保持するレジスタ11〜14と、レジスタ11
〜14の内容を選択する選択回路2と、選択回路2の出
力信号をシリアルデータに変換するシフトレジスタ4
と、選択回路2の動作を制御するカウンタ3と、外部か
らの要求をデーコードしてレジスタ11〜14のホール
ドを解除し、かつカウンタ3の動作を制御する制御部5
とを備えている。
【0011】制御部5は、診断コマンド101をデコー
ドし、レジスタホールド指示102およびカウンタ制御
信号103を出力する。レジスタ11〜14は、制御部
5からのレジスタホールド指示102によって、それぞ
れの内容を保持したり、保持を解除したりする。レジス
タホールド指示102は、診断コマンド101をデコー
ドすることによって出力される他、LSIの内部に発生
する事象、例えば障害の発生、によっても出力される。
制御部5はまた、カウンタ制御信号103によってカウ
ンタ3を初期化してカウント動作を開始させる。選択回
路2は、カウンタ3が出力する選択信号104によって
レジスタ11〜14の出力信号のうちのいずれか一つを
選択する。選択回路2によって選択されたレジスタ11
〜14の出力信号は、シフトレジスタ4によってシリア
ルデータに変換され、読出しデータ105として出力さ
れる。
【0012】これにより、レジスタ11〜14に対する
クロック信号を停止させずに、レジスタ11〜14の内
容をシリアルに読出すことが可能となる。
【0013】図2は本発明の第二の実施例を示すブロッ
ク図である。
【0014】図2のLSI診断制御回路は、外部からの
要求または内部に発生した事象によって起動してそれら
の内容を保持するレジスタ11〜14と、レジスタ11
〜14の内容を選択する選択回路2と、選択回路2の出
力信号をシリアルデータに変換するシフトレジスタ4
と、選択回路2の動作を制御するカウンタ3と、スキャ
ンパスを通すレジスタ61〜63と、シフトレジスタ4
の出力信号またはレジスタ61〜63の出力信号のいず
れか一方を選択する選択回路7と、外部からの要求をデ
ーコードしてレジスタ11〜14のホールドを解除し、
かつカウンタ3および選択回路7の動作を制御する制御
部51とを備えている。
【0015】制御部51は、診断コマンド101をデコ
ードし、レジスタホールド指示102およびカウンタ制
御信号103および選択信号109を出力する。レジス
タ11〜14は、制御部51からのレジスタホールド指
示102によって、それぞれの内容を保持したり、保持
を解除したりする。レジスタホールド指示102は、診
断コマンド101をデコードすることによって出力され
る他、LSIの内部に発生する事象、例えば障害の発
生、によっても出力される。制御部51はまた、カウン
タ制御信号103によってカウンタ3を初期化してカウ
ント動作を開始させる。選択回路2は、カウンタ3が出
力する選択信号104によってレジスタ11〜14の出
力信号のうちのいずれか一つを選択する。選択回路2に
よって選択されたレジスタ11〜14の出力信号は、シ
フトレジスタ4によってシリアルデータに変換され、シ
フトレジスタ出力108として選択回路7に出力され
る。選択回路7は、制御部51からの選択信号109に
よってシフトレジスタ出力108を選択して出力するよ
うに制御されるため、レジスタ11〜14の内容が読出
しデータ105としてシリアルに出力される。
【0016】診断コマンド101によってレジスタ61
〜63の読出しが指示されたときは、選択回路7は、制
御部51からの選択信号109によって、スキャン入力
106を入力するレジスタ61〜63からのスキャン出
力107を選択し、読出しデータ105として出力す
る。
【0017】これにより、レジスタ11〜14に対する
クロック信号を停止させずに、スキャンパスのないレジ
スタ11〜14の内容と、スキャンパスを通すレジスタ
61〜63の内容とを、共通の読出しデータ105から
読出すことが可能となる。
【0018】図3は本発明の第三の実施例を示すブロッ
ク図である。
【0019】図3のLSI診断制御回路は、外部からの
要求または内部に発生した事象によって起動してそれら
の内容を保持するレジスタ11〜14およびレジスタ1
5〜18と、レジスタ11〜14の内容を選択する選択
回路21と、レジスタ15〜18の内容を選択する選択
回路22と、選択回路21または22の出力信号のうち
のいずれか一方を選択する選択回路8と、選択回路8の
出力信号をシリアルデータに変換するシフトレジスタ4
と、選択回路21および22の動作を制御するカウンタ
3と、外部からの要求をデーコードしてレジスタ11〜
14およびレジスタ15〜18のホールドを解除し、か
つカウンタ3および選択回路8の動作を制御する制御部
52とを備えている。
【0020】診断コマンド101によってレジスタ11
〜14の読出しが指示されると、制御部52は、カウン
タ制御信号103によってカウンタ3を初期化してカウ
ント動作を開始させる。選択回路21は、カウンタ3が
出力する選択信号104により、レジスタ11〜14の
出力信号のうちのいずれか一つを選択して選択回路出力
110として選択回路8に出力する。選択回路8は、制
御部52からの選択信号112によって選択回路出力1
10を選択し、シフトレジスタ4に送る。シフトレジス
タ4は、それをシリアルデータに変換して読出しデータ
105として出力する。
【0021】診断コマンド101によってレジスタ15
〜18の読出しが指示されたときも同様な動作を行う。
すなわち、制御部52は、カウンタ制御信号103によ
ってカウンタ3を初期化してカウント動作を開始させ
る。選択回路22は、カウンタ3が出力する選択信号1
04により、レジスタ15〜18の出力信号のうちのい
ずれか一つを選択して選択回路出力111として選択回
路8に出力する。選択回路8は、制御部52からの選択
信号112によって選択回路出力111を選択し、シフ
トレジスタ4に送る。シフトレジスタ4は、それをシリ
アルデータに変換して読出しデータ105として出力す
る。
【0022】これにより、レジスタ11〜18に対する
クロック信号を停止させずに、レジスタ11〜14また
はレジスタ15〜18の内容を、選択的に読出しデータ
105から読出すことが可能となる。
【0023】
【発明の効果】以上説明したように、本発明のLSI診
断制御回路は、外部からの要求または内部に発生した事
象によって起動してそれらの内容を保持するレジスタ群
と、このレジスタ群の内容を選択する選択回路と、選択
回路の出力信号をシリアルデータに変換するシフトレジ
スタとを設けることにより、レジスタに対するクロック
信号を停止させずにレジスタの内容を読出すことが可能
になるという効果があり、従ってクロックを制御するた
めの回路を設ける必要がなくなり、またクロックの分配
の遅延もなくなるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第一の実施例を示すブロック図であ
る。
【図2】本発明の第二の実施例を示すブロック図であ
る。
【図3】本発明の第三の実施例を示すブロック図であ
る。
【符号の説明】
2・7・8・21・22 選択回路 3 カウンタ 4 シフトレジスタ 5・51・52 制御部 11〜18・61〜63 レジスタ 101 診断コマンド 102 レジスタホールド指示 103 カウンタ制御信号 104・109・112 選択信号 105 読出しデータ 106 スキャン入力 107 スキャン出力 108 シフトレジスタ出力 110・111 選択回路出力

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 外部からの要求または内部に発生した事
    象によって起動してそれらの内容を保持するレジスタ群
    と、前記レジスタ群の内容を選択する選択回路と、前記
    選択回路の出力信号をシリアルデータに変換するシフト
    レジスタと、前記選択回路の動作を制御するカウンタ
    と、前記外部からの要求をデーコードして前記レジスタ
    群のホールドを解除しかつ前記カウンタの動作を制御す
    る制御部とを備えることを特徴とするLSI診断制御回
    路。
  2. 【請求項2】 外部からの要求または内部に発生した事
    象によって起動してそれらの内容を保持する第一のレジ
    スタ群と、前記第一のレジスタ群の内容を選択する第一
    の選択回路と、前記第一の選択回路の出力信号をシリア
    ルデータに変換するシフトレジスタと、前記第一の選択
    回路の動作を制御するカウンタと、スキャンパスを通す
    第二のレジスタ群と、前記シフトレジスタの出力信号ま
    たは前記第二のレジスタ群の出力信号のいずれか一方を
    選択する第二の選択回路と、前記外部からの要求をデー
    コードして前記レジスタ群のホールドを解除しかつ前記
    カウンタおよび前記第二の選択回路の動作を制御する制
    御部とを備えることを特徴とするLSI診断制御回路。
  3. 【請求項3】 外部からの要求または内部に発生した事
    象によって起動してそれらの内容を保持する複数のレジ
    スタ群と、前記複数のレジスタ群のそれぞれの内容を選
    択する複数の第一の選択回路と、前記複数の第一の選択
    回路の動作を制御するカウンタと、前記複数の第一の選
    択回路の出力信号のうちの一つを選択する第二の選択回
    路と、前記第二の選択回路の出力信号をシリアルデータ
    に変換するシフトレジスタと、前記外部からの要求をデ
    ーコードして前記レジスタ群のホールドを解除しかつ前
    記カウンタおよび前記第二の選択回路の動作を制御する
    制御部とを備えることを特徴とするLSI診断制御回
    路。
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