JPH0658871B2 - アルミニウム電解コンデンサ - Google Patents
アルミニウム電解コンデンサInfo
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- JPH0658871B2 JPH0658871B2 JP1280775A JP28077589A JPH0658871B2 JP H0658871 B2 JPH0658871 B2 JP H0658871B2 JP 1280775 A JP1280775 A JP 1280775A JP 28077589 A JP28077589 A JP 28077589A JP H0658871 B2 JPH0658871 B2 JP H0658871B2
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- groove
- opening
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- rubber sealing
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明はアルミニウム電解コンデンサに関し、さらに
詳しく言えば、04形アルミニウム電解コンデンサの封口
部に関するものである。
詳しく言えば、04形アルミニウム電解コンデンサの封口
部に関するものである。
第5図には04形アルミニウム電解コンデンサの典型的な
従来例が示されている。これによると、同電解コンデン
サはアルミニウムの陽極箔と陰極箔とをセパレータをは
さんで巻回し、それに所定の電解液を含浸させてなるコ
ンデンサ素子1を備えている。なお、箔を巻回するにあ
たってその陽極箔と陰極箔には予め陽極リード線2aと
陰極リード線2bとがそれぞれ取付けられる。この陽極
リード線2aと陰極リード線2bに一対のリード挿通孔
を有するゴム封口体4が取付けられ、しかるのちコンデ
ンサ素子1はアルミニウム製の有底円筒状をなす金属ケ
ース3内に収納され、それに伴って同金属ケース3の開
口部にゴム封口体4が嵌合される。同開口部を密閉する
ため、金属ケース3に絞り加工により横絞り溝5が形成
されるとともに、開口部の端縁3aがケース内方に向け
てカールするようにかしめられる。
従来例が示されている。これによると、同電解コンデン
サはアルミニウムの陽極箔と陰極箔とをセパレータをは
さんで巻回し、それに所定の電解液を含浸させてなるコ
ンデンサ素子1を備えている。なお、箔を巻回するにあ
たってその陽極箔と陰極箔には予め陽極リード線2aと
陰極リード線2bとがそれぞれ取付けられる。この陽極
リード線2aと陰極リード線2bに一対のリード挿通孔
を有するゴム封口体4が取付けられ、しかるのちコンデ
ンサ素子1はアルミニウム製の有底円筒状をなす金属ケ
ース3内に収納され、それに伴って同金属ケース3の開
口部にゴム封口体4が嵌合される。同開口部を密閉する
ため、金属ケース3に絞り加工により横絞り溝5が形成
されるとともに、開口部の端縁3aがケース内方に向け
てカールするようにかしめられる。
上記の封口方法は最も一般的であるが、耐熱性が余りな
く、特にハンダリフロー時の熱衝撃に対して弱いとされ
ている。もっとも耐熱性を高めるには、横絞り溝5を深
くすればよいのであるが、そうするとケース切れやゴム
切れを生ずるという別の問題が起こる。
く、特にハンダリフロー時の熱衝撃に対して弱いとされ
ている。もっとも耐熱性を高めるには、横絞り溝5を深
くすればよいのであるが、そうするとケース切れやゴム
切れを生ずるという別の問題が起こる。
この点を解決するため、例えば特開平1-168019号におい
ては、第6図に例示されているようにゴム封口体4の外
表面からほぼ1/2〜1/3の部位3bに非絞り部位(コンデ
ンサ素子収納部)の直径のほぼ3/4程度絞り加工をする
ようにしている。しかしながら、このように絞ると金属
ケース3の端縁3aがリード線2a、2bに接触し、短
絡事故を起こす危険性があった。
ては、第6図に例示されているようにゴム封口体4の外
表面からほぼ1/2〜1/3の部位3bに非絞り部位(コンデ
ンサ素子収納部)の直径のほぼ3/4程度絞り加工をする
ようにしている。しかしながら、このように絞ると金属
ケース3の端縁3aがリード線2a、2bに接触し、短
絡事故を起こす危険性があった。
この発明は上記課題を解決するためになされたもので、
その構成上の特徴とするところは、アルミニウム箔の巻
回体に一対のリード線を取付けてなるコンデンサ素子を
有底筒状の金属ケース内に収納するとともに、同金属ケ
ースの開口部に一対のリード挿通孔を有するゴム封口体
を嵌合し、かつ、そのゴム封口体の側面に対応する金属
ケースの所定部位に絞り加工による横絞り溝を形成する
とともに、開口部の端縁をケース内方に向けてカールす
るようにかしめてなるアルミニウム電解コンデンサにお
いて、金属ケースのコンデンサ素子収納部の外径寸法を
D0、ゴム封口体が嵌合されるケース開口部側の外径寸
法をD1、横絞り溝の溝底部位におけるケース内径寸法
をD2、ゴム封口体の原厚みをA1、開口部の端縁と横
絞り溝のケース底部側に位置する溝縁との間の距離をA
2、開口部の端縁と横絞り溝の開口部側に位置する溝縁
との間の距離をA3とした場合、 D1=0.90〜0.97D0、D2=0.85〜0.95D0、 A2=1/2〜3/4A1、A3=2/5〜2/3A1としたことに
ある。
その構成上の特徴とするところは、アルミニウム箔の巻
回体に一対のリード線を取付けてなるコンデンサ素子を
有底筒状の金属ケース内に収納するとともに、同金属ケ
ースの開口部に一対のリード挿通孔を有するゴム封口体
を嵌合し、かつ、そのゴム封口体の側面に対応する金属
ケースの所定部位に絞り加工による横絞り溝を形成する
とともに、開口部の端縁をケース内方に向けてカールす
るようにかしめてなるアルミニウム電解コンデンサにお
いて、金属ケースのコンデンサ素子収納部の外径寸法を
D0、ゴム封口体が嵌合されるケース開口部側の外径寸
法をD1、横絞り溝の溝底部位におけるケース内径寸法
をD2、ゴム封口体の原厚みをA1、開口部の端縁と横
絞り溝のケース底部側に位置する溝縁との間の距離をA
2、開口部の端縁と横絞り溝の開口部側に位置する溝縁
との間の距離をA3とした場合、 D1=0.90〜0.97D0、D2=0.85〜0.95D0、 A2=1/2〜3/4A1、A3=2/5〜2/3A1としたことに
ある。
D1が0.90×D0未満であると、ゴム封口体への応
力が過大となるため、同ゴム封口体がケース開口部の外
側に膨らみ、ハンダ付け時の加熱による内圧の上昇によ
りゴム封口体が外部に飛び出してしまうおそれがある。
他方、D1が0.97×D0を超える場合には、リード
線とゴム封口体とが密着不足となり、気密性が保たれず
液漏れの原因となり好ましくない。
力が過大となるため、同ゴム封口体がケース開口部の外
側に膨らみ、ハンダ付け時の加熱による内圧の上昇によ
りゴム封口体が外部に飛び出してしまうおそれがある。
他方、D1が0.97×D0を超える場合には、リード
線とゴム封口体とが密着不足となり、気密性が保たれず
液漏れの原因となり好ましくない。
D2が0.85×D0未満であると、ケース切れを生ず
るおそれがあり、これに対して、D2が0.95×D0
を超える場合には、リード線とゴム封口体とが密着不足
となり、気密性が保たれず液漏れの原因となる。
るおそれがあり、これに対して、D2が0.95×D0
を超える場合には、リード線とゴム封口体とが密着不足
となり、気密性が保たれず液漏れの原因となる。
A2がA1×1/2未満であると、ゴム封口体によるリ
ード線の締め付けが弱く、加工時の外力でリード線が動
き液漏れの原因となる。他方、A2がA1×3/4を超
えると、横絞り溝による応力の加わる部分が気密保持に
有効なリード線の丸棒部から外れ、これまた液漏れの原
因となる。
ード線の締め付けが弱く、加工時の外力でリード線が動
き液漏れの原因となる。他方、A2がA1×3/4を超
えると、横絞り溝による応力の加わる部分が気密保持に
有効なリード線の丸棒部から外れ、これまた液漏れの原
因となる。
A3がA1×2/5未満であると、上記A2がA1×1
/2未満の場合と同様、ゴム封口体によるリード線の締
め付けが弱く、加工時の外力でリード線が動き液漏れの
原因となる。また、A3がA1×2/3を超えると、上
記A2がA1×3/4を超えた場合と同じく、横絞り溝
による応力の加わる部分が気密保持に有効なリード線の
丸棒部から外れ、これまた液漏れの原因となり好ましく
ない。
/2未満の場合と同様、ゴム封口体によるリード線の締
め付けが弱く、加工時の外力でリード線が動き液漏れの
原因となる。また、A3がA1×2/3を超えると、上
記A2がA1×3/4を超えた場合と同じく、横絞り溝
による応力の加わる部分が気密保持に有効なリード線の
丸棒部から外れ、これまた液漏れの原因となり好ましく
ない。
従来ではゴム封口体の一部分けを絞っていたのに対し、
上記構成によれば比較的全体を絞るため、それだけ封口
強度が高められる。また、金属ケースの開口部をさほど
絞らなくともよいため、短絡事故が起きるようなことも
ない。
上記構成によれば比較的全体を絞るため、それだけ封口
強度が高められる。また、金属ケースの開口部をさほど
絞らなくともよいため、短絡事故が起きるようなことも
ない。
以下、この発明の実施例を添付図面を参照しながら詳細
に説明する。
に説明する。
第1図にはこの発明によるアルミニウム電解コンデンサ
の一例が示されているが、先に説明した第5図の部分と
同一の部分には同一の参照符号を付し、重複を避けるた
めその説明は省略する。
の一例が示されているが、先に説明した第5図の部分と
同一の部分には同一の参照符号を付し、重複を避けるた
めその説明は省略する。
金属ケース3のコンデンサ素子1が収納される素子収納
部3cの外径寸法をD0、ゴム封口体4が嵌合されるケ
ース開口部3d側の外径寸法をD1、横絞り溝5の溝底
部位5aにおけるケース内径寸法をD2、ゴム封口体4
の原厚みをA1、開口部の端縁3aと横絞り溝5のケー
ス底部側に位置する溝縁5bとの間の距離A2、開口部
の端縁3aと横絞り溝5の開口部側に位置する溝縁5c
との間の距離をA3とした場合、 D1=0.90〜0.97D0、D2=0.85〜0.95D0、 A2=1/2〜3/4A1、A3=2/5〜2/3A1なる寸法にし
ている。
部3cの外径寸法をD0、ゴム封口体4が嵌合されるケ
ース開口部3d側の外径寸法をD1、横絞り溝5の溝底
部位5aにおけるケース内径寸法をD2、ゴム封口体4
の原厚みをA1、開口部の端縁3aと横絞り溝5のケー
ス底部側に位置する溝縁5bとの間の距離A2、開口部
の端縁3aと横絞り溝5の開口部側に位置する溝縁5c
との間の距離をA3とした場合、 D1=0.90〜0.97D0、D2=0.85〜0.95D0、 A2=1/2〜3/4A1、A3=2/5〜2/3A1なる寸法にし
ている。
この電解コンデンサはこのままの状態ではディスクリー
ト型として用いられるが、第2図に示されているよう
に、金属ケース3の開口部3d側に電気絶縁性樹脂から
なる台座6を配置し、各リード線2a,2bをその底部
に形成されているリード収納溝7,7に沿って折り曲げ
ることにより、表面実装に好適なチップ型とすることも
できる。その場合、回路基板への実装時の安定性やハン
ダ付着性などの点から各リード線2a,2bを偏平にす
ることが好ましい。
ト型として用いられるが、第2図に示されているよう
に、金属ケース3の開口部3d側に電気絶縁性樹脂から
なる台座6を配置し、各リード線2a,2bをその底部
に形成されているリード収納溝7,7に沿って折り曲げ
ることにより、表面実装に好適なチップ型とすることも
できる。その場合、回路基板への実装時の安定性やハン
ダ付着性などの点から各リード線2a,2bを偏平にす
ることが好ましい。
次に、上記の寸法にて作られた発明品と従来品について
各種の試験を行った結果を説明する。
各種の試験を行った結果を説明する。
《ハンダ耐熱テスト》直径5mm,軸長5mmで定格電圧25
V,静電容量10μFのコンデンサを発明品と従来品とも
に50個用意し、VPS240℃の条件で20秒間テストを行った
ところ、ゴム封口体のはずれについて表1のような結果
が得られた。
V,静電容量10μFのコンデンサを発明品と従来品とも
に50個用意し、VPS240℃の条件で20秒間テストを行った
ところ、ゴム封口体のはずれについて表1のような結果
が得られた。
《防爆テスト》直径15mm,軸長11mmで定格電圧50V,静
電容量1μFのコンデンサを発明品と従来品ともに50個
用意し、逆電流1Aを印加して防爆弁の作動状態をテス
トした結果を表2に示す。
電容量1μFのコンデンサを発明品と従来品ともに50個
用意し、逆電流1Aを印加して防爆弁の作動状態をテス
トした結果を表2に示す。
《リード端子・ケース短絡率》この発明の封口技術によ
る発明品と第6図で説明した封口技術による従来品をそ
れぞれ100個製作した。表3にその短絡発生個数を示
す。
る発明品と第6図で説明した封口技術による従来品をそ
れぞれ100個製作した。表3にその短絡発生個数を示
す。
《寿命テスト》発明品と従来品ともに直径6.3mm,軸長
5mmで定格電圧16V,静電容量47μFのコンデンサ20個
について105℃の高温負荷試験を行い、静電容量変化率
を測定した。その静電容量変化率−時間のグラフを第3
図に示す。
5mmで定格電圧16V,静電容量47μFのコンデンサ20個
について105℃の高温負荷試験を行い、静電容量変化率
を測定した。その静電容量変化率−時間のグラフを第3
図に示す。
《耐洗浄性テスト》発明品と従来品ともに直径6.3mm,
軸長5mmで定格電圧35V,静電容量22μFのコンデン
サ100個について105℃の温度条件下で洗浄負荷試験を行
ったところの腐食発生率−時間のグラフを第4図に示
す。
軸長5mmで定格電圧35V,静電容量22μFのコンデン
サ100個について105℃の温度条件下で洗浄負荷試験を行
ったところの腐食発生率−時間のグラフを第4図に示
す。
上記のようにハンダ耐熱テスト、防爆テストおよびリー
ド端子・ケース短絡率において、本発明品はいずれも不
良率0であり、また、寿命テスト、耐洗浄性テストにお
いても従来品と比べて明らかに優れていることが分か
る。
ド端子・ケース短絡率において、本発明品はいずれも不
良率0であり、また、寿命テスト、耐洗浄性テストにお
いても従来品と比べて明らかに優れていることが分か
る。
以上説明したように、この発明によれば、封口強度が高
く、しかも金属ケースの開口部端縁がリード線に接触す
るおそれのないアルミニウム電解コンデンサが提供され
る。
く、しかも金属ケースの開口部端縁がリード線に接触す
るおそれのないアルミニウム電解コンデンサが提供され
る。
第1図はこの発明によるアルミニウム電解コンデンサの
一実施例を示した断面図、第2図は同コンデンサをチッ
プ型とした場合の斜視図、第3図は寿命テストについて
の静電容量変化率−時間の関係を示したグラフ、第4図
は耐洗浄性テストについての腐食発生率−時間の関係を
示したグラフ、第5図および第6図は従来例を示した断
面図である。 図中、1はコンデンサ素子、2a,2bはリード線、3
は金属ケース、4はゴム封口体、5は横絞り溝である。
一実施例を示した断面図、第2図は同コンデンサをチッ
プ型とした場合の斜視図、第3図は寿命テストについて
の静電容量変化率−時間の関係を示したグラフ、第4図
は耐洗浄性テストについての腐食発生率−時間の関係を
示したグラフ、第5図および第6図は従来例を示した断
面図である。 図中、1はコンデンサ素子、2a,2bはリード線、3
は金属ケース、4はゴム封口体、5は横絞り溝である。
Claims (1)
- 【請求項1】アルミニウム箔の巻回体に一対のリード線
を取付けてなるコンデンサ素子を有底筒状の金属ケース
内に収納するとともに、同金属ケースの開口部に一対の
リード挿通孔を有するゴム封口体を嵌合し、かつ、その
ゴム封口体の側面に対応する上記金属ケースの所定部位
に絞り加工による横絞り溝を形成するとともに、上記開
口部の端縁をケース内方に向けてカールするようにかし
めてなるアルミニウム電解コンデンサにおいて、 上記金属ケースのコンデンサ素子収納部の外径寸法をD
0、上記ゴム封口体が嵌合される上記ケース開口部側の
外径寸法をD1、上記横絞り溝の溝底部位におけるケー
ス内径寸法をD2、上記ゴム封口体の原厚みをA1、上
記開口部の端縁と上記横絞り溝のケース底部側に位置す
る溝縁との間の距離をA2、上記開口部の端縁と上記横
絞り溝の開口部側に位置する溝縁との間の距離をA3と
した場合、D1=0.90〜0.97D0、D2=0.85〜0.95D
0、A2=1/2〜3/4A1、A3=2/5〜2/3A1であるこ
とを特徴とするアルミニウム電解コンデンサ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1280775A JPH0658871B2 (ja) | 1989-10-27 | 1989-10-27 | アルミニウム電解コンデンサ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1280775A JPH0658871B2 (ja) | 1989-10-27 | 1989-10-27 | アルミニウム電解コンデンサ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03142816A JPH03142816A (ja) | 1991-06-18 |
JPH0658871B2 true JPH0658871B2 (ja) | 1994-08-03 |
Family
ID=17629789
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1280775A Expired - Fee Related JPH0658871B2 (ja) | 1989-10-27 | 1989-10-27 | アルミニウム電解コンデンサ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0658871B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006041069A (ja) * | 2004-07-26 | 2006-02-09 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | チップ形アルミ電解コンデンサ |
JP4557956B2 (ja) * | 2006-11-20 | 2010-10-06 | ルビコン株式会社 | 絶縁性支持体を備えた電子部品 |
JP2008147541A (ja) * | 2006-12-13 | 2008-06-26 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | コンデンサ |
CN111919270B (zh) * | 2018-03-28 | 2022-07-05 | 松下知识产权经营株式会社 | 带座板电容器 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS58207620A (ja) * | 1982-05-28 | 1983-12-03 | 松下電器産業株式会社 | 電解コンデンサ |
-
1989
- 1989-10-27 JP JP1280775A patent/JPH0658871B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS58207620A (ja) * | 1982-05-28 | 1983-12-03 | 松下電器産業株式会社 | 電解コンデンサ |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH03142816A (ja) | 1991-06-18 |
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Legal Events
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---|---|---|---|
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