JPH06204815A - タイミングパルス発生回路及びそれを備えた電子機器 - Google Patents

タイミングパルス発生回路及びそれを備えた電子機器

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JPH06204815A
JPH06204815A JP4347633A JP34763392A JPH06204815A JP H06204815 A JPH06204815 A JP H06204815A JP 4347633 A JP4347633 A JP 4347633A JP 34763392 A JP34763392 A JP 34763392A JP H06204815 A JPH06204815 A JP H06204815A
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timing pulse
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test
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Fumio Kuramoto
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Abstract

(57)【要約】 【目的】複数のテスト周期間に跨るタイミングパルスを
正しく発生できる、安価なタイミングパルス発生回路及
びそれを備えた電子機器を得る。 【構成】テスト周期毎に新たに開始時間が設定されてカ
ウント動作を開始し、そのカウント値が開始時間に達す
ると、タイミングパルスの出力開始を指示する開始信号
を出力する開始時間カウンタ2と、テスト周期毎に新た
に終了時間が設定されてカウント動作を開始し、そのカ
ウント値が終了時間に達すると、タイミングパルスの出
力終了を指示する終了信号を出力する終了時間カウンタ
5と、開始、終了時間カウンタ2、5からの開始、終了
信号に基いてタイミングパルスを発生するパルス発生器
7とを含む構成とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、集積回路(以下 「I
C」と言う)やプリント回路パッケージ等の論理機能テ
ストに使用されるパターンゼネレータやICテスタ等の
電子機器に用いられるタイミングパルス発生回路に関す
るものである。
【0002】
【従来の技術】従来、例えばICテスタはテスト周期毎
に「1」「0」の記号、及びそのタイミングを変化させ
たテストパターンを連続して発生させて論理機能テスト
を行うICに入力するようになっており、そのタイミン
グは、タイミングパルス発生回路からのタイミングパル
スにて規定していた。そして、このタイミングパルス発
生回路はタイミングパルスの出力をその開始時間とパル
ス幅、または開始時間と終了時間の組み合わせで規定し
ており、テストパターンのテスト周期毎に複数の組み合
わせから任意の組み合わせを選択することで、各種タイ
ミングのタイミングパルスを出力するようになってい
る。
【0003】例えば、開始時間とパルス幅の組み合わせ
で規定する場合は、その周期のスタートで周期スタート
信号Sc(図10(a)参照)が出力されると、先ず開
始時間用タイマが動作し、そのタイムアップで、タイミ
ングパルスの出力開始を指示する開始信号Ss(図10
(b)参照)が出力されると共にパルス幅用タイマが動
作する。そして、このパルス幅用タイマの動作期間がタ
イミングパルスP(図10(c)参照)の出力期間とな
り、開始信号が、出力されるまでの開始時間とパルス幅
(即ち、タイマの設定値)により、変化されることにな
る。
【0004】また、開始時間と終了時間の組み合わせで
規定する場合は、その周期のスタートで周期スタート信
号Sc(図11(a)参照)が、出力されると、開始時
間用、終了時間用の2つのタイマが同時に動作し、夫々
のタイムアップで開始、終了信号Ss、Se(図11
(b)(c)参照)がパルス発生器(例えばRSフリッ
プフロップのセット、リセット端子)に入力されること
で、その出力がタイミングパルスP(図11(d)参
照)の出力となる。そして、その出力期間は、開始、終
了信号が出力されるまでの開始時間と終了時間(即ち、
タイマの設定値)により変化されることになる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】ところが、このような
従来のタイミングパルス発生回路に依れば、それらタイ
マへの新たな値の設定は夫々タイマがタイムアップして
いないと実行できないようになっており、そのテスト周
期内ですべての動作が完了することを前提としている。
例えば、タイミングパルスの出力を開始時間と終了時間
の組み合わせで規定する場合、その周期、開始時間、終
了時間の間に0≦開始時間<終了時間<周期の制限があ
って、テスト周期を超えた即ち、複数のテスト周期にま
たがるタイミングパルスを得るために、この制限を無視
してテスト周期より大きな開始、終了時間になる値をタ
イマに設定した場合は、タイミングパルス発生回路が不
正な動作をすると云った問題が生じていた。
【0006】例えば、テスト周期を超えたタイミングパ
ルスが得られるように、図12の場合少なくともテスト
周期B、Cを超えたタイミングパルスの周期になるよう
に、その周期Bで周期<開始時間を設定すると、開始時
間用タイマのタイムアップによる開始信号が周期B以後
の周期で必ず出力されることになり、仮にタイミングパ
ルスの発生を所望していない次の周期Cでタイムアップ
すると、それにより不正な開始信号とタイミングパルス
(点線図示)が生じることになる。
【0007】同様に、図13の場合は、少なくともテス
ト周期B、C、・・・にまたがるパルス幅のタイミング
パルスになるように、その周期Bで周期<終了時間を設
定すると、終了時間用のタイムアップによる終了信号が
周期B以後の周期で必ず出力されることになり、仮に次
の周期Cでタイムアップすると、それにより不正な終了
信号と、タイミングパルスの立ち下がり(点線図示)が
生じることになる。同様に、図14は少なくとも周期
A、B、C・・・にまたがるパルス幅のタイミングパル
スになるように開始、終了時間を設定した場合で、その
タイムアップが仮に周期Cで生じると、それによる不正
な開始、終了信号とタイミングパルスの立ち下がり(点
線図示)が生じることになる。
【0008】これは、タイミングパルスの出力を開始時
間とパルス幅の組み合わせで規定する場合においても同
様で(この場合の終了時間は開始時間+パルス幅で)、
図15は少なくとも周期B,Cを超えたタイミングパル
スの周期になるように設定した場合、図16は少なくと
も周期B,C・・・にまたがるパルス幅のタイミングパ
ルスになるように設定した場合、図17は少なくとも周
期A、B、C・・・にまたがるパルス幅のタイミングパ
ルスになるように設定した場合で、夫々タイムアップに
より不正な開始信号とタイミングパルスの立ち下がり
(点線図示)を生じることになる。
【0009】一方、最近の試験対象物(例えばIC)の
高機能化に伴うテストパターンの複雑化により、テスト
周期間にまたがるタイミングパルスの必要性が増してい
た。尚、従来の高機能(高価格)機種においては、試験
対象物の高機能化に伴って、マルチクロック(1周期内
でのタイミングの複数回動作)や、1ピン対応タイミン
グの複数化(多相化)、またタイミングパルス発生回路
後段の波形フォーマット部によるテスト周期毎の波型フ
ォーマット制御等の対応がなされてきているが、これら
の対応はピン毎に独立して実施する必要があるため、試
験対象物のピン数増大に比例して、回路構成、スペー
ス、価格等の面で負担が増大していた。
【0010】本発明は、このような点に鑑み成されたも
のであって、複数のテスト周期間にまたがるタイミング
パルスを正しく発生できる、安価なタイミングパルス発
生回路及びそれを備えた電子機器を提供することを目的
とするものである。
【0011】
【課題を解決するための手段】上記した目的を達成する
ため本発明では被試験回路の論理機能テストのためのテ
ストパターンを、被試験回路に入力するタイミングを規
定するタイミングパルスを生じるタイミングパルス発生
回路であって、そのタイミングパルスの周期を、テスト
パターンによるテスト周期を超えて設定するための手段
を備えた構成にしたものである。
【0012】具体的に前記手段は、テスト周期毎に新た
に開始時間が設定されてカウント動作を開始しそのカウ
ント値が開始時間に達するとタイミングパルスの出力開
始を指示する開始信号を出力する開始時間カウンタと、
テスト周期毎に開始時間カウンタに設定する開始時間を
テスト周期内に収まるか否かに拘らず選択する開始時間
選択回路と、テスト周期毎に新たに終了時間が設定され
てカウント動作を開始しそのカウント値が終了時間に達
するとタイミングパルスの出力終了を指示する終了信号
を出力する終了時間カウンタと、テスト周期毎に終了時
間カウンタに設定する終了時間をテスト周期内に収まる
か否かに拘らず選択する終了時間選択回路と、開始、終
了時間カウンタからの開始、終了信号に基ついてタイミ
ングパルスを発生するパルス発生器とを含んでいるもの
である。そして、このようなタイミングパルス発生回路
を論理機能テスト用の電子機器に用いるものである。
【0013】
【作用】このような構成に依れば、開始時間、終了時間
がテスト周期と無関係に設定され、テスト周期を超えた
周期の、即ち複数のテスト周期にまたがった、タイミン
グパルスが正しく出力されることになり、論理機能テス
ト用の電子機器に用いた場合に複雑なテストパターンを
簡単且つ確実に出力させることができる。
【0014】
【実施例】以下、本発明のタイミングパルス発生回路の
一実施例について図面と共に説明する。図における、1
はテストプログラムのスタートによりその周期のスター
トで周期スタート信号が到来すると、後述するように開
始用のスプリットレベル信号により開始時間選択回路で
選択された開始時間を開始時間カウンタに設定してその
カウント動作を開始させる開始制御回路、2はテスト周
期毎に新たに開始時間が設定されてカウント動作を開始
しそのカウント値が開始時間に達するとタイミングパル
スの出力開始を指示する開始信号を出力する開始時間カ
ウンタである。
【0015】3はテスト周期毎に開始時間カウンタ2に
設定する開始時間をテスト周期内に収まるか否かに拘ら
ず選択する開始時間選択回路で、この場合2ビットのス
プリットレベル信号によりテスト周期内外の開始時間
A、B、C、Dから1つを選択して開始時間カウンタ2
に出力するようになっている。
【0016】4はテストプログラムのスタートによりそ
の周期のスタートで周期スタート信号が到来すると、後
述するように終了用のスプリットレベル信号により終了
時間選択回路で選択された終了時間を終了時間カウンタ
に設定してそのカウント動作を開始させる終了制御回
路、5はテスト周期毎に新たに終了時間が設定されてカ
ウント動作を開始しそのカウント値が終了時間に達する
とタイミングパルスの出力終了を指示する終了時間カウ
ンタである。
【0017】6はテスト周期毎に終了時間カウンタ5に
設定する終了時間をテスト周期内に収まるか否かに拘ら
ず選択する終了時間選択回路で、この場合2ビットのス
プリットレベル信号によりテスト周期内外の終了時間
E、F、G、Hから1つを選択して終了時間カウンタ5
に出力するようになっている。
【0018】7は開始終了時間カウンタ5からの開始、
終了信号に基ついてタイミングパルスを発生するパルス
発生器(この場合、RSフリップフロップ)で、開始時
間カウンタ2から開始信号が入力されるとその出力を
「1」に立ち上げ、終了時間カウタ5から終了信号が入
力されるとその出力を「0」に立ち下げるようになって
いる。ここで、周期スタート信号や開始、終了時間、開
始、終了用スプリットレベル信号等は、メモリからテス
トパターンの読み出し制御を行う制御部より、テストパ
ターンに対応して出力されるようになっている。
【0019】このように構成すると、新たなテスト周期
の始まりでは、必ず新たな開始、終了時間を開始、終了
時間カウンタ2、5に夫々設定して新たにカウント動作
させることになるので、仮にあるテスト周期で開始時
間、終了時間をその周期より大きく設定した場合でも、
その設定に基つく開始、終了信号がそれ以後の周期内で
出力されて不正な動作を引き起こすと云った不都合がな
くなり、周期内での開始時間、終了時間の一義性を保証
することができる。
【0020】そのため、開始時間、終了時間、周期の間
の制限、開始・終了時間<周期、開始時間<終了時間を
取り除き、開始時間と終了時間の組合せを、 0≦開始時間<終了時間<周期 以外に、 0≦終了時間<周期<開始時間 0≦開始時間<周期<終了時間 周期<開始・終了時間 等の条件下でも行なわせることができるようになり、テ
スト周期毎にその任意の組合せを選択することでテスト
周期を超えた、即ち複数のテスト周期に跨るタイミング
パルスを正確に発生することができることになる。
【0021】例えば、図2はテスト周期内でタイミング
パルスを出力させる通常の場合を示し、図3、図4、図
5は、 開始時間<終了時間 の制限下で開始時間、又は終了時間、或いは双方とも周
期より大きく設定された場合を示し、このようにすると
不正な動作をすることなく、テスト周期を超えた周期の
タイミングパルス、或いは複数のテスト周期間に跨るパ
ルス幅のタイミングパルスが得られることになる。
【0022】更に、図6、図7、図8、図9は、 開始時間<終了時間 の制限も取り除いた場合を示し、このようにしても不正
な動作をすることなく、同様に複数のテスト周期間に跨
るタイミングパルスが得られることになる。従って、タ
イミングパルス発生回路後段の波形フォーマット部で、
このようなタイミングパルスとメモリから読み出したテ
ストパターンのロジックをとって(例えばアンドをとっ
て)ICにテストパターンとして出力するICテスタの
場合、その波形フォーマット部での出力モードがRZモ
ードであったとしても、そのテストパターンの出力途中
でタイミングパルスによりNRZモード的なテストパタ
ーンを出力させるようにすることもでき、見掛上オンザ
フライで波形モジュレーションしたのと同じようにする
ことができる。
【0023】
【発明の効果】上述した如く本発明のタイミングパルス
発生回路によれば、テスト周期を超えた、即ち複数のテ
スト周期間に跨るタイミングパルスを正確に発生させる
ことができるので、このようなタイミングパルス発生回
路を備えた論理機能テスト用の電子機器では複雑なテス
トパターンを自由度良く簡単に実現できることになる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の回路構成例を示す図。
【図2】その通常の設定でのタイムチャート。
【図3】その周期<開始時間の設定でのタイムチャー
ト。
【図4】その周期<終了時間の設定でのタイムチャー
ト。
【図5】その周期<開始・終了時間の設定でのタイムチ
ャート。
【図6】その終了時間<開始時間の設定でのタイムチャ
ート。
【図7】その終了時間<開始時間、周期<開始時間の設
定でのタイムチャート。
【図8】その終了時間<開始時間、周期<終了時間の設
定でのタイムチャート。
【図9】その終了時間<開始時間、周期<開始・終了時
間の設定でのタイムチャート。
【図10】従来の開始時間とパルス幅の組合せでのタイ
ムチャート。
【図11】従来の開始時間と終了時間の組合せでのタイ
ムチャート。
【図12】その周期<開始時間の設定でのタイムチャー
ト。
【図13】その周期<終了時間の設定でのタイムチャー
ト。
【図14】その周期<開始・終了時間の設定でのタイム
チャート。
【図15】図10の周期<開始時間の設定でのタイムチ
ャート。
【図16】その周期<終了時間の設定でのタイムチャー
ト。
【図17】その周期<開始・終了時間の設定でのタイム
チャート。
【符号の説明】
1、4 開始、終了制御回路 2、5 開始、終了時間カウンタ 3、6 開始、終了時間選択回路 7 パルス発生器

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被試験回路の論理機能テストのためのテ
    ストパターンを、被試験回路に入力するタイミングを規
    定するタイミングパルスを生じるタイミングパルス発生
    回路であって、そのタイミングパルスの周期を、テスト
    パターンによるテスト周期を超えて設定するための手段
    を備えていることを特徴とするタイミングパルス発生回
    路。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載のタイミングパルス発生
    回路を備えた集積回路の論理機能テスト用の電子機器。
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