JPH0894722A - 半導体試験装置の波形整形器 - Google Patents

半導体試験装置の波形整形器

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JPH0894722A
JPH0894722A JP6254359A JP25435994A JPH0894722A JP H0894722 A JPH0894722 A JP H0894722A JP 6254359 A JP6254359 A JP 6254359A JP 25435994 A JP25435994 A JP 25435994A JP H0894722 A JPH0894722 A JP H0894722A
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JP
Japan
Prior art keywords
clock
input
circuit
circuits
output
Prior art date
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Pending
Application number
JP6254359A
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English (en)
Inventor
Riichi Suzuki
利一 鈴木
Takahiro Hosako
孝弘 宝迫
Kazumichi Yoshiba
一道 葭葉
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Advantest Corp
Original Assignee
Advantest Corp
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Publication date
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Publication of JPH0894722A publication Critical patent/JPH0894722A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 クロックの近接制限を無くし、波形整形回路
からの出力信号を高速にする。 【構成】 複数のクロック選択回路の各出力端子におい
て、周期T内にクロックが2回発生することがないよう
配線されたクロック近接回避回路を設けている。上記条
件を満たすクロック近接回避回路は複数あり、その1例
を実施例に示している。クロック選択回路は、入力クロ
ック信号CLKA、CLKB、CLKCを選択して、R
Sフリップフロップをセットする端子、リセットする端
子に出力する。クロック選択回路は複数あり、それぞれ
出力されるクロック信号を、各信号に対応した複数のパ
ルサー回路で細いパルスに変換する。複数のパルサー回
路を出力した信号は、S入力信号とR入力信号に論理和
され、RSフリップフロップのセット端子、リセット端
子に入力する。S入力、R入力により、RSフリップフ
ロップが動作し、目的とする波形整形した出力信号を得
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体試験装置の波形
整形器において、波形整形部に与えるクロック同志の近
接制限を受けることなく高速の波形を発生する波形整形
回路に関するものである。
【0002】
【従来の技術】図3は、半導体試験装置における波形整
形部の基本ブロックである。この波形整形部は、出力波
形1サイクル中にCLKA、CLKB、CLKCを選択
してパルサー回路22及び23に出力するクロック選択
回路20と、クロック選択回路20から出力したクロッ
クを短いパルスにするパルサー回路22及び23と、パ
ルサー回路22の出力をS端子に、パルサー回路23の
出力をR端子に入力し、波形整形し出力24するRSフ
リップフロップ21で構成される。
【0003】図4は、図3の回路によって波形整形した
出力24を示すタイミング図である。クロックの選択
は、クロック選択回路20で、RSフリップフロップ2
1をセットする端子bに対して、1サイクル目にCLK
AとCLKCが、2サイクル目にCLKBが選択され
る。同じように、RSフリップフロップ21をリセット
する端子cに対して、1サイクル目にCLKBが、2サ
イクル目にCLKAとCLKCが選択される。パルサー
回路22及び23は、端子b及びcに出力したクロック
を短いパルスCLKAa、CLKBa、CLKCaに変
換し、RSフリップフロップ21に入力するS入力26
及びR入力27を発生する。このS入力及びR入力によ
って、波形整形部の出力24が得られる。
【0004】ここで、出力波形を高速にしたい場合に
は、図3のクロック選択回路20、パルサー回路22及
び23、RSフリップフロップ21を高速動作可能な素
子に置き換え、CLKA、CLKB及びCLKC間の時
間差を小さくする。図5(a)は、出力24を高速にす
るためCLKAとCLKCを近接させたときのタイミン
グ図である。この場合には、CLKAとCLKCが独立
した波形になっているため正常な出力24が得られてい
る。図5(b)は、CLKAとCLKCを更に近接さ
せ、2つの信号が1つのパルスになった場合を示す。こ
の場合においては、CLKAの立ち下がりでパルサー回
路22が動作せず、得られた出力24は正常でない。こ
の状態になることを近接制限と呼んでいる。
【0005】図6は、入力クロックを多重化させて、出
力24を高速化させた波形整形回路を示す。この波形整
形回路は、クロック選択回路20を4回路用いている。
そして、クロック選択回路20の出力は、それぞれの出
力に独立したパルサ回路22及び23とOR回路を通し
て、S入力26及びR入力27となり、RSフリップフ
ロップ21を動作させ、出力24を発生している。
【0006】図7は、図6の回路を使用し、出力24を
高速化させた場合のタイミング図である。各周期Tの中
を注目すると、CLKAとCLKCは近接しており、ク
ロックの多重化による近接制限の改善は達成されていな
い。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】以上のように、従来の
波形整形回路には、クロックの近接制限があり、出力を
高速化できない。本発明は、クロックの近接制限を無く
し、波形整形回路からの出力信号を高速にすることを目
的としている。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の波形整形器においては、複数のクロック選
択回路の各出力端子において、周期T内にクロックが2
回発生することがないよう配線されたクロック近接回避
回路を設けている。上記条件を満たすクロック近接回避
回路は複数あり、その1例を実施例に示している。クロ
ック選択回路は、入力クロック信号CLKA、CLK
B、CLKCを選択して、RSフリップフロップをセッ
トする端子、リセットする端子に出力する。クロック選
択回路は複数あり、それぞれ出力されるクロック信号
を、各信号に対応した複数のパルサー回路で細いパルス
に変換する。複数のパルサー回路を出力した信号は、S
入力信号とR入力信号に論理和され、RSフリップフロ
ップのセット端子、リセット端子に入力する。S入力、
R入力により、RSフリップフロップが動作し、目的と
する波形整形した出力信号を得る。
【0009】
【作用】上記のように構成された波形整形回路において
は、クロック選択回路の各出力において、周期T内にク
ロックが2回発生することがなく、このためクロックの
近接制限がなく、波形整形回路からの出力を高速にする
ことができる。
【0010】
【実施例】図1に、クロック近接制限のない波形整形回
路の一実施例を、ブロック図で示す。この回路は、クロ
ック近接回避回路30を除いて、図6の入力クロックを
多重化した回路と同じである。ここで示す4個のクロッ
ク選択回路20は、波形整形するためのRSフリップフ
ロップ21へ与えるセット信号S入力26とリセット信
号R入力27を発生するため、入力クロック信号を選択
する回路である。各クロック選択回路20の出力は、そ
れぞれクロックのパルス幅を小さくするパルサー回路2
2及び23を通し、論理和してS入力26及びR入力2
7を得ている。RSフリップフロップ21は、S入力2
6によりセットし、R入力27によりリセットすること
で波形整形を行い出力24を発生する。
【0011】クロック近接回避回路30は、4個のクロ
ック選択回路20の出力〜において、各周期T毎
に、各出力に複数のクロックが発生しないようにクロッ
クを分配すれば良く、さまざまな分配方法が考えられ
る。図1においては、比較的回路規模が小さい一つのク
ロック分配方法を示している。
【0012】図2は、図1で示したクロック分配法のク
ロック近接回避回路30におけるタイミング図を示す。
このタイミング図で波形、、、は、各クロック
選択回路20のセット側出力波形を示し、波形、、
、は、同リセット側出力波形を示している。
【0013】ここで、CLKA1、CLKB1、CLK
C1に関する部分を例にとり、従来回路と本実施例回路
のクロック近接制限について説明する。従来回路におい
ては、CLKA1、CLKB1、CLKC1は、同一の
クロック選択回路20に入力されており、このため、C
LKA1とCLKC1間でクロックの近接制限が生じて
いた。CLKA1を固定し、CLKC1を時間軸方向の
負方向へ移動していくと、CLKA1とCLKC1が1
つのパルスとなり、近接制限がおこる。
【0014】一方、本発明の実施例においては、CLK
A1、CLKB1、CLKC1が入力しようとするクロ
ック選択回路20のCLKA1入力を、クロック近接回
避回路30で禁止している。そして、CLKA1は、C
LKA3、CLKB3、CLKC3が入力しようとする
クロック選択回路20に、CLKA3との論理和をとる
ことで入力し、このクロック選択回路20を通して出力
することで、近接制限を排除している。つまり、本実施
例において、CLKA1を固定し、CLKC1を時間軸
方向の負方向へ移動しても、CLKA1とCLKC1が
重なって1つのパルスとなる問題は生じない。
【0015】同様にして、近接制限を生じさせないため
に、クロック近接回避回路30で、CLKA2の入力を
禁止し、CLKA4と論理和をとって、CLKA4、C
LKB4、CLKC4が入力しようとするクロック選択
回路20に入力している。同じように、CLKC3の入
力を禁止し、CLKC1と論理和をとって、CLKA
1、CLKB1、CLKC1が入力しようとするクロッ
ク選択回路20に入力している。また、CLKC4の入
力を禁止し、CLKC2と論理和をとって、CLKA
2、CLKB2、CLKC2が入力しようとするクロッ
ク選択回路20に入力している。
【0016】図2に、以上のようにクロック選択回路2
0に入力するクロックを、クロック近接回避回路30で
制御した場合のタイミング図を示す。クロック選択回路
20の各出力端子において、周期T内にクロックが2回
発生することがなく、クロックの近接制限を受けること
なく高速の波形出力24が可能となっている。
【0017】
【発明の効果】本発明は、以上説明したように構成され
ているので、周期Tにおいてクロックの近接制限がな
く、波形整形回路からの出力を高速にできる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例を示す回路ブロック図であ
る。
【図2】本発明で図1の場合のタイミング図を示す。
【図3】従来の波形整形部の基本例を示す回路ブロック
図である。
【図4】従来の図3の場合のタイミング図を示す。
【図5】従来のクロック近接時のタイミング図を示す。
【図6】従来の入力クロックを多重化した場合の回路ブ
ロック図である。
【図7】従来の図6の場合のタイミング図を示す。
【符号の説明】
20 クロック選択回路 21 RSフリップフロップ 22、23 パルサー回路 24 出力 26 S入力 27 R入力 30 クロック近接回避回路

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数のクロック選択回路(20)の各出
    力端子において、周期T内にクロックが2回発生するこ
    とがないよう配線されたクロック近接回避回路(30)
    と、 入力クロック信号を選択して出力する複数のクロック選
    択回路(20)と、 複数のクロック選択回路(20)から出力されるクロッ
    ク信号を、それぞれ細いパルスに変換する複数のパルサ
    ー回路(22及び23)と、 複数のパルサー回路(22)の出力を論理和したS入力
    (26)と、パルサー回路(23)の出力を論理和した
    R入力(27)とで制御し、波形整形した出力(24)
    を発生するRSフリップフロップ(21)と、 を具備することを特徴とする半導体試験装置の波形整形
    器。
JP6254359A 1994-09-22 1994-09-22 半導体試験装置の波形整形器 Pending JPH0894722A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001091598A (ja) * 1999-09-28 2001-04-06 Advantest Corp 波形フォーマッタ・この波形フォーマッタを搭載した半導体デバイス試験装置
WO2006035647A1 (ja) * 2004-09-29 2006-04-06 Advantest Corporation 波形整形回路及びこの波形整形回路を備えた半導体試験装置

Cited By (5)

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Legal Events

Date Code Title Description
A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20040406