JPH053424A - 微小電圧検出回路およびこれを用いた電流制限回路 - Google Patents
微小電圧検出回路およびこれを用いた電流制限回路Info
- Publication number
- JPH053424A JPH053424A JP3272199A JP27219991A JPH053424A JP H053424 A JPH053424 A JP H053424A JP 3272199 A JP3272199 A JP 3272199A JP 27219991 A JP27219991 A JP 27219991A JP H053424 A JPH053424 A JP H053424A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- transistor
- emitter
- voltage
- current
- base
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims abstract description 31
- 239000008186 active pharmaceutical agent Substances 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 6
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 3
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 3
- NAWXUBYGYWOOIX-SFHVURJKSA-N (2s)-2-[[4-[2-(2,4-diaminoquinazolin-6-yl)ethyl]benzoyl]amino]-4-methylidenepentanedioic acid Chemical compound C1=CC2=NC(N)=NC(N)=C2C=C1CCC1=CC=C(C(=O)N[C@@H](CC(=C)C(O)=O)C(O)=O)C=C1 NAWXUBYGYWOOIX-SFHVURJKSA-N 0.000 description 2
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 2
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920005591 polysilicon Polymers 0.000 description 1
- 230000001131 transforming effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R19/00—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
- G01R19/165—Indicating that current or voltage is either above or below a predetermined value or within or outside a predetermined range of values
- G01R19/16566—Circuits and arrangements for comparing voltage or current with one or several thresholds and for indicating the result not covered by subgroups G01R19/16504, G01R19/16528, G01R19/16533
- G01R19/16576—Circuits and arrangements for comparing voltage or current with one or several thresholds and for indicating the result not covered by subgroups G01R19/16504, G01R19/16528, G01R19/16533 comparing DC or AC voltage with one threshold
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
- Electronic Switches (AREA)
- Manipulation Of Pulses (AREA)
- Amplifiers (AREA)
- Continuous-Control Power Sources That Use Transistors (AREA)
- Emergency Protection Circuit Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】電力損失を小さくするため、微小電圧を検出で
きる微小電圧検出回路を考案し、これを中電力以上のパ
ワ−デバイスの電流制限回路に適用する。 【構成】トランジスタQ1 のベ−スとコレクタは互いに
接続されている。トランジスタQ2 のコレクタはトラン
ジスタQ1 のエミッタに接続されている。トランジスタ
Q3 のベ−スはトランジスタQ1 のベ−スに接続され、
エミッタはトランジスタQ2 のベ−スに接続されてい
る。トランジスタQ4 のベ−スはトランジスタQ1 のエ
ミッタに接続され、コレクタはトランジスタQ3 のエミ
ッタに接続されている。トランジスタQ1 〜Q4 によっ
て、微小電圧が設定され、トランジスタQ2 のエミッタ
とトランジスタQ4 のエミッタの間の微小電圧VO を検
出できる。
きる微小電圧検出回路を考案し、これを中電力以上のパ
ワ−デバイスの電流制限回路に適用する。 【構成】トランジスタQ1 のベ−スとコレクタは互いに
接続されている。トランジスタQ2 のコレクタはトラン
ジスタQ1 のエミッタに接続されている。トランジスタ
Q3 のベ−スはトランジスタQ1 のベ−スに接続され、
エミッタはトランジスタQ2 のベ−スに接続されてい
る。トランジスタQ4 のベ−スはトランジスタQ1 のエ
ミッタに接続され、コレクタはトランジスタQ3 のエミ
ッタに接続されている。トランジスタQ1 〜Q4 によっ
て、微小電圧が設定され、トランジスタQ2 のエミッタ
とトランジスタQ4 のエミッタの間の微小電圧VO を検
出できる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、微小電圧を検出するた
めの微小電圧検出回路、および、前記微小電圧が一定値
を越えたときにパワ−デバイスの出力電流を制限するた
めの電流制限回路に関する。
めの微小電圧検出回路、および、前記微小電圧が一定値
を越えたときにパワ−デバイスの出力電流を制限するた
めの電流制限回路に関する。
【0002】
【従来の技術】図9は、主スイッチ用パワ−デバイス
と、これに流れる電流を制限するための従来の電流制限
回路を示している。図1において、T1 は、主スイッチ
用パワ−デバイス、11は、電流制限回路をそれぞれ示
している。電流制限回路11は、ラテラルNPNトラン
ジスタQ1 、および、抵抗(例えば拡散抵抗、ポリシリ
コン抵抗、アルミ配線による抵抗など)R1 ,R2 によ
り構成されている。なお、この電流制限回路は、ディス
クリ−ト・パワ−トランジスタの製造工程とほぼ同一の
製造工程で1チップ上に形成できるという利点がある。
と、これに流れる電流を制限するための従来の電流制限
回路を示している。図1において、T1 は、主スイッチ
用パワ−デバイス、11は、電流制限回路をそれぞれ示
している。電流制限回路11は、ラテラルNPNトラン
ジスタQ1 、および、抵抗(例えば拡散抵抗、ポリシリ
コン抵抗、アルミ配線による抵抗など)R1 ,R2 によ
り構成されている。なお、この電流制限回路は、ディス
クリ−ト・パワ−トランジスタの製造工程とほぼ同一の
製造工程で1チップ上に形成できるという利点がある。
【0003】ところで、上記電流制限回路によれば、主
スイッチ用パワ−デバイスT1 の出力電流IO を制限す
ることができる。すなわち、出力電流IO が式(1)に
示す値IOLを越えると、トランジスタQ1 がオン状態と
なり、出力電流IO が制限される。
スイッチ用パワ−デバイスT1 の出力電流IO を制限す
ることができる。すなわち、出力電流IO が式(1)に
示す値IOLを越えると、トランジスタQ1 がオン状態と
なり、出力電流IO が制限される。
【0004】
【数1】
【0005】しかし、上記電流制限回路では、主スイッ
チ用パワ−デバイスT1 の出力電流IO が制限されるた
めには、抵抗R2 による電圧降下が、トランジスタQ1
がオン状態となるために必要な電圧VBEQ1以上にならな
ければならない。従って、この電流制限回路は、式
(2)に示すように、大きな値の電力損失PD を有する
欠点がある。 PD =IOL×VBEQ1=IOL 2 ×R2 …(2)
チ用パワ−デバイスT1 の出力電流IO が制限されるた
めには、抵抗R2 による電圧降下が、トランジスタQ1
がオン状態となるために必要な電圧VBEQ1以上にならな
ければならない。従って、この電流制限回路は、式
(2)に示すように、大きな値の電力損失PD を有する
欠点がある。 PD =IOL×VBEQ1=IOL 2 ×R2 …(2)
【0006】実際は、この電力損失PD の他に、パワ−
デバイスT1 のドレイン・ソ−ス間の抵抗RDSによる電
力損失PD ' を考慮しなければならない。従って、パワ
−デバイスT1 と電流制限回路11を合わせた場合の電
力損失PDTは、式(3)に示すように、さらに大きな値
となる。 PDT=PD +PD ' =IOL(VBEQ1+VDS(ON)) =IOL 2 (R2 +RDS) …(3) (但し、VDS(ON)はパワ−デバイスT1 のドレイン・ソ
−ス間の電圧である。)
デバイスT1 のドレイン・ソ−ス間の抵抗RDSによる電
力損失PD ' を考慮しなければならない。従って、パワ
−デバイスT1 と電流制限回路11を合わせた場合の電
力損失PDTは、式(3)に示すように、さらに大きな値
となる。 PDT=PD +PD ' =IOL(VBEQ1+VDS(ON)) =IOL 2 (R2 +RDS) …(3) (但し、VDS(ON)はパワ−デバイスT1 のドレイン・ソ
−ス間の電圧である。)
【0007】図10は、上記欠点を解決すべく考案され
た、主スイッチ用パワ−デバイスと、このパワ−デバイ
スの出力電流を制限するための従来の電流制限回路を示
している。主スイッチ用パワ−デバイスT1 は、複数の
小セルから構成されており、その複数の小セルは、n:
1(nは1以上の数)に分割されている。これにより、
主スイッチ用パワ−デバイスT1 の出力電流IO をn:
1に分け、式(4)に示す電流IO ' を抵抗R2 に流す
ものである。
た、主スイッチ用パワ−デバイスと、このパワ−デバイ
スの出力電流を制限するための従来の電流制限回路を示
している。主スイッチ用パワ−デバイスT1 は、複数の
小セルから構成されており、その複数の小セルは、n:
1(nは1以上の数)に分割されている。これにより、
主スイッチ用パワ−デバイスT1 の出力電流IO をn:
1に分け、式(4)に示す電流IO ' を抵抗R2 に流す
ものである。
【0008】
【数2】
【0009】この電流制限回路によれば、主スイッチ用
パワ−デバイスT1の出力電流IOが式(5)に示す値I
OLを越えると、トランジスタQ1 がオン状態となり、出
力電流IO が制限される。
パワ−デバイスT1の出力電流IOが式(5)に示す値I
OLを越えると、トランジスタQ1 がオン状態となり、出
力電流IO が制限される。
【0010】
【数3】
【0011】上記電流制限回路によれば、n>>1とすれ
ば、抵抗R2による電力損失PD は無視でき、パワ−デ
バイスT1 のドレイン・ソ−ス間の抵抗RDSによる電力
損失PD ' のみとなる。従って、パワ−デバイスT1 と
電流制限回路11を合わせた場合の電力損失PDTは、式
(6)に示すように、図1の電流制限回路に比べて小さ
くなる。 PDT=PD ' =IOL×VDS(ON)=IOL 2 ×RDS …(6) しかし、パワ−デバイスT1 に電流が流れるためには、
式(7)に示す条件が必要となる。 VDS(ON)>VBEQ1 …(7) 従って、図10の電流制限回路を用いた場合の電力損失
PDTは、式(8)に示すように、IOL×VBEQ1よりも大
きくなる欠点がある。 PDT=IOL×VDS(ON)>IOL×VBEQ1 …(8)
ば、抵抗R2による電力損失PD は無視でき、パワ−デ
バイスT1 のドレイン・ソ−ス間の抵抗RDSによる電力
損失PD ' のみとなる。従って、パワ−デバイスT1 と
電流制限回路11を合わせた場合の電力損失PDTは、式
(6)に示すように、図1の電流制限回路に比べて小さ
くなる。 PDT=PD ' =IOL×VDS(ON)=IOL 2 ×RDS …(6) しかし、パワ−デバイスT1 に電流が流れるためには、
式(7)に示す条件が必要となる。 VDS(ON)>VBEQ1 …(7) 従って、図10の電流制限回路を用いた場合の電力損失
PDTは、式(8)に示すように、IOL×VBEQ1よりも大
きくなる欠点がある。 PDT=IOL×VDS(ON)>IOL×VBEQ1 …(8)
【0012】このように、従来の電流制限回路では、パ
ワ−デバイスT1 の出力電流IO を検出するために、ト
ランジスタQ1 のベ−ス・エミッタ間電圧VBEQ1(約
0.6V)を利用していた。このため、電力損失PDTが
大きくなるという欠点があった。
ワ−デバイスT1 の出力電流IO を検出するために、ト
ランジスタQ1 のベ−ス・エミッタ間電圧VBEQ1(約
0.6V)を利用していた。このため、電力損失PDTが
大きくなるという欠点があった。
【0013】
【発明が解決しようとする課題】このように、従来は、
パワ−デバイスの出力電流の検出に際し、ラテラルNP
Nトランジスタのベ−ス・エミッタ間電圧VBEQ1を利用
していたため、電力損失が大きくなるという欠点があっ
た。
パワ−デバイスの出力電流の検出に際し、ラテラルNP
Nトランジスタのベ−ス・エミッタ間電圧VBEQ1を利用
していたため、電力損失が大きくなるという欠点があっ
た。
【0014】本発明は、上記欠点を解決すべくなされた
もので、その目的は、電力損失を小さくするために、微
小電圧を検出することが可能な微小電圧検出回路を考案
し、これを中電力以上のパワ−デバイスの電流制限回路
に適用することである。
もので、その目的は、電力損失を小さくするために、微
小電圧を検出することが可能な微小電圧検出回路を考案
し、これを中電力以上のパワ−デバイスの電流制限回路
に適用することである。
【0015】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の微小電圧検出回路は、ベ−スとコレクタが
互いに接続された第1のトランジスタと、コレクタが前
記第1のトランジスタのエミッタに接続された第2のト
ランジスタと、ベ−スが前記第1のトランジスタのベ−
スに接続され、エミッタが前記第2のトランジスタのベ
−スに接続された第3のトランジスタと、ベ−スが前記
第1のトランジスタのエミッタに接続され、コレクタが
前記第3のトランジスタのエミッタに接続された第4の
トランジスタと、前記第2のトランジスタのエミッタと
前記第4のトランジスタのエミッタの間に接続された電
圧源とを備えている。これにより、前記電圧源の電圧が
一定電圧を越えたとき、前記第1および第2のトランジ
スタのコレクタから前記電圧源の電圧が一定電圧を越え
たことを示す検出信号が得られる。
に、本発明の微小電圧検出回路は、ベ−スとコレクタが
互いに接続された第1のトランジスタと、コレクタが前
記第1のトランジスタのエミッタに接続された第2のト
ランジスタと、ベ−スが前記第1のトランジスタのベ−
スに接続され、エミッタが前記第2のトランジスタのベ
−スに接続された第3のトランジスタと、ベ−スが前記
第1のトランジスタのエミッタに接続され、コレクタが
前記第3のトランジスタのエミッタに接続された第4の
トランジスタと、前記第2のトランジスタのエミッタと
前記第4のトランジスタのエミッタの間に接続された電
圧源とを備えている。これにより、前記電圧源の電圧が
一定電圧を越えたとき、前記第1および第2のトランジ
スタのコレクタから前記電圧源の電圧が一定電圧を越え
たことを示す検出信号が得られる。
【0016】また、上記微小電圧検出回路を利用し、パ
ワ−デバイスの出力電流を制限するための電流制限回路
を提供することができる。本発明の電流制限回路は、上
記微小電圧検出回路に加えて、パワ−デバイスと、一端
が前記パワ−デバイスの制御電極に接続され、他端が電
位供給源に接続された第1の抵抗と、前記パワ−デバイ
スの出力電流を検出するための第2の抵抗と、一端が前
記電位供給源に接続され、他端が前記第1のトランジス
タのコレクタに接続された第3の抵抗とを備えている。
なお、第3のトランジスタのコレクタはパワ−デバイス
の制御電極に接続され、第2のトランジスタのエミッタ
は第2の抵抗の一端に接続され、第4のトランジスタの
エミッタは第2の抵抗の他端に接続されている。
ワ−デバイスの出力電流を制限するための電流制限回路
を提供することができる。本発明の電流制限回路は、上
記微小電圧検出回路に加えて、パワ−デバイスと、一端
が前記パワ−デバイスの制御電極に接続され、他端が電
位供給源に接続された第1の抵抗と、前記パワ−デバイ
スの出力電流を検出するための第2の抵抗と、一端が前
記電位供給源に接続され、他端が前記第1のトランジス
タのコレクタに接続された第3の抵抗とを備えている。
なお、第3のトランジスタのコレクタはパワ−デバイス
の制御電極に接続され、第2のトランジスタのエミッタ
は第2の抵抗の一端に接続され、第4のトランジスタの
エミッタは第2の抵抗の他端に接続されている。
【0017】
【作用】上記構成によれば、第1乃至第4のトランジス
タのエミッタの面積比で定まる微小電圧を検出すること
が可能であり、パワ−デバイスの出力電流を前記微小電
圧に変換させ、その出力電流を検出することができる。
これにより、従来のようなトランジスタのベ−ス・エミ
ッタ間電圧を利用する検出に比べ、大幅に電力損失を低
減させることができる。
タのエミッタの面積比で定まる微小電圧を検出すること
が可能であり、パワ−デバイスの出力電流を前記微小電
圧に変換させ、その出力電流を検出することができる。
これにより、従来のようなトランジスタのベ−ス・エミ
ッタ間電圧を利用する検出に比べ、大幅に電力損失を低
減させることができる。
【0018】
【実施例】以下、図面を参照しながら本発明の一実施例
について詳細に説明する。
について詳細に説明する。
【0019】図1は、本発明の一実施例に係わる微小電
圧検出回路を示している。図1において、Q1 ,Q2 ,
Q3 ,Q4は、それぞれラテラルNPNトランジスタで
あり、微小電圧検出回路は、これらトランジスタによっ
て構成されている。トランジスタQ3 のエミッタ面積
は、トランジスタQ1 のエミッタ面積のN(Nは1以外
の数)倍の面積を有している。トランジスタQ2 のエミ
ッタ面積は、トランジスタQ4 のエミッタ面積のM(M
は1以外の数)倍の面積を有している。また、I1 は、
トランジスタQ1 ,Q2 を動作させるための電流、およ
び、トランジスタQ3 のベ−ス電流である。VO は、こ
の微小電圧検出回路が検出する微小電圧を示している。
I2 は、コントロ−ル電流であり、このコントロ−ル電
流I2 は、微小電圧VO が一定電圧VOL以上となったと
きに流れることができる。
圧検出回路を示している。図1において、Q1 ,Q2 ,
Q3 ,Q4は、それぞれラテラルNPNトランジスタで
あり、微小電圧検出回路は、これらトランジスタによっ
て構成されている。トランジスタQ3 のエミッタ面積
は、トランジスタQ1 のエミッタ面積のN(Nは1以外
の数)倍の面積を有している。トランジスタQ2 のエミ
ッタ面積は、トランジスタQ4 のエミッタ面積のM(M
は1以外の数)倍の面積を有している。また、I1 は、
トランジスタQ1 ,Q2 を動作させるための電流、およ
び、トランジスタQ3 のベ−ス電流である。VO は、こ
の微小電圧検出回路が検出する微小電圧を示している。
I2 は、コントロ−ル電流であり、このコントロ−ル電
流I2 は、微小電圧VO が一定電圧VOL以上となったと
きに流れることができる。
【0020】次に、上記一定電圧VOLを求めてみる。こ
の一定電圧VOLは、トランジスタQ1 〜Q4 のベ−ス・
エミッタ間電圧の関係を利用して、以下のように求める
ことができる。まず、電流I1 ,I2 は、式(9)およ
び式(10)に示すようになる。
の一定電圧VOLは、トランジスタQ1 〜Q4 のベ−ス・
エミッタ間電圧の関係を利用して、以下のように求める
ことができる。まず、電流I1 ,I2 は、式(9)およ
び式(10)に示すようになる。
【0021】
【数4】
また、トランジスタQ1 〜Q4 のベ−ス・エミッタ間電
圧の関係により、式(11)を導くことができる。 VBEQ1+VBEQ4=VBEQ3+VBEQ2+VOL V OL =VBEQ1−VBEQ2+VBEQ4−VBEQ3 …(11) また、式(9)を変形して式(9)´を得る。
圧の関係により、式(11)を導くことができる。 VBEQ1+VBEQ4=VBEQ3+VBEQ2+VOL V OL =VBEQ1−VBEQ2+VBEQ4−VBEQ3 …(11) また、式(9)を変形して式(9)´を得る。
【0022】
【数5】
また、式(10)を変形して式(10)´を得る。
【0023】
【数6】
従って、上記式(9)´、(10)´、(11)から、
上記一定電圧VOLは、式(12)に示すような値とな
る。
上記一定電圧VOLは、式(12)に示すような値とな
る。
【0024】
【数7】
【0025】上記式(12)から以下のことがわかる。
つまり、一定電圧VOLは、電流I1に依存せず、NPN
トランジスタQ1 〜Q4 のエミッタの面積比のみで決ま
る値となる。すなわち、N,Mの値を適当に選択するこ
とにより、上記式(12)によって定まる微小電圧VO
(=VOL)を検出することができる。しかも、上記式
(12)によって定まる一定電圧VOLは、例えば図1の
トランジスタQ1 のベ−ス・エミッタ間電圧に比べて十
分に小さく設定できる。このため、従来に比べて電力損
失を小さくすることが可能である。なお、コントロ−ル
電流I2 と検出電圧VO との関係は、以下に示す通りと
なる。 (1) VO <VOLのとき: I2 は、ほぼ0に等しい。 (2) VO =VOLのとき: I2 は、加速度的に増加す
る。 (3) VO >VOLのとき: I1 、および、NPNトラン
ジスタの電流能力(増幅率等)で決まる上限まで、I2
は流れつづける。
つまり、一定電圧VOLは、電流I1に依存せず、NPN
トランジスタQ1 〜Q4 のエミッタの面積比のみで決ま
る値となる。すなわち、N,Mの値を適当に選択するこ
とにより、上記式(12)によって定まる微小電圧VO
(=VOL)を検出することができる。しかも、上記式
(12)によって定まる一定電圧VOLは、例えば図1の
トランジスタQ1 のベ−ス・エミッタ間電圧に比べて十
分に小さく設定できる。このため、従来に比べて電力損
失を小さくすることが可能である。なお、コントロ−ル
電流I2 と検出電圧VO との関係は、以下に示す通りと
なる。 (1) VO <VOLのとき: I2 は、ほぼ0に等しい。 (2) VO =VOLのとき: I2 は、加速度的に増加す
る。 (3) VO >VOLのとき: I1 、および、NPNトラン
ジスタの電流能力(増幅率等)で決まる上限まで、I2
は流れつづける。
【0026】図2は、図1の微小電圧検出回路の変形例
を示している。この検出回路は、微小電圧VO を、抵抗
R2 と電流源IO によって置き換えたものである。つま
り、電流IO が、式(13)に示す一定電流IOLを越え
たとき、コントロ−ル電流I2 はトランジスタQ3 ,Q
4 を流れることができる。
を示している。この検出回路は、微小電圧VO を、抵抗
R2 と電流源IO によって置き換えたものである。つま
り、電流IO が、式(13)に示す一定電流IOLを越え
たとき、コントロ−ル電流I2 はトランジスタQ3 ,Q
4 を流れることができる。
【0027】
【数8】
【0028】図3は、図1の微小電圧検出回路を、パワ
−MOSFETの出力電流を制限するための電流制限回
路に適用したものである。すなわち、パワ−MOSFE
TT1 の出力電流IO を抵抗R2 に流すことにより、抵
抗R2 に印加される微小電圧を検出するものである。
−MOSFETの出力電流を制限するための電流制限回
路に適用したものである。すなわち、パワ−MOSFE
TT1 の出力電流IO を抵抗R2 に流すことにより、抵
抗R2 に印加される微小電圧を検出するものである。
【0029】ここで、パワ−MOSFET T1 の出力
電流IOの制限値をIOLとすると、VOL=IOL×R2 の
関係が成り立つ。従って、この関係を用いて上記式(1
2)を変形すると、式(14)が得られる。
電流IOの制限値をIOLとすると、VOL=IOL×R2 の
関係が成り立つ。従って、この関係を用いて上記式(1
2)を変形すると、式(14)が得られる。
【0030】
【数9】
【0031】従って、出力電流IO が制限値IOL未満の
場合(IO <IOL)においては、トランジスタQ3 ,Q
4 を流れる電流I2 は、ほぼ0となる。つまり、端子1
2に印加される電圧をV1 (>VGS(ON):VGS(ON)はパ
ワ−MOSFET T1 がオンするための電圧)とする
と、パワ−MOSFET T1 のゲ−ト・ソ−ス間電圧
VGSは、 V1 −R2 ×IO となる。また、R2 ×IO
が微小であることを考慮すれば、VGS=V1 となる。す
なわち、パワ−MOSFET T1 は、常にオン状態で
あり、その出力電流IO は制限されない。
場合(IO <IOL)においては、トランジスタQ3 ,Q
4 を流れる電流I2 は、ほぼ0となる。つまり、端子1
2に印加される電圧をV1 (>VGS(ON):VGS(ON)はパ
ワ−MOSFET T1 がオンするための電圧)とする
と、パワ−MOSFET T1 のゲ−ト・ソ−ス間電圧
VGSは、 V1 −R2 ×IO となる。また、R2 ×IO
が微小であることを考慮すれば、VGS=V1 となる。す
なわち、パワ−MOSFET T1 は、常にオン状態で
あり、その出力電流IO は制限されない。
【0032】一方、出力電流IO が制限値IOL以上の場
合(IO ≧IOL)においては、トランジスタQ3 ,Q4
を流れる電流I2 が急激に増加し、パワ−MOSFET
T1 のゲ−トの電圧VG は、VG =V1 −R1 ×I2
となる。従って、パワ−MOSFET T1 のゲ−ト・
ソ−ス間電圧VGSは、VGS=V1 −R1 ×I2 となる。
すなわち、VGSがVGS(ON)以下になると、パワ−MOS
FET T1 は、オフ状態となり、その出力電流IO が
制限される。
合(IO ≧IOL)においては、トランジスタQ3 ,Q4
を流れる電流I2 が急激に増加し、パワ−MOSFET
T1 のゲ−トの電圧VG は、VG =V1 −R1 ×I2
となる。従って、パワ−MOSFET T1 のゲ−ト・
ソ−ス間電圧VGSは、VGS=V1 −R1 ×I2 となる。
すなわち、VGSがVGS(ON)以下になると、パワ−MOS
FET T1 は、オフ状態となり、その出力電流IO が
制限される。
【0033】図4は、パワ−MOSFET T1 のゲ−
ト・ソ−ス間電圧VGSと出力電流IO との関係を示した
ものである。この関係によれば、出力電流IO が制限値
IOLを越えると、急激にパワ−MOSFET T1 のゲ
−ト・ソ−ス間電圧VGSが低下し、出力電流IO が制限
されることがわかる。
ト・ソ−ス間電圧VGSと出力電流IO との関係を示した
ものである。この関係によれば、出力電流IO が制限値
IOLを越えると、急激にパワ−MOSFET T1 のゲ
−ト・ソ−ス間電圧VGSが低下し、出力電流IO が制限
されることがわかる。
【0034】なお、図3に示すパワ−MOSFETと、
その出力電流を制限するための電流制限回路は、通常の
ディスクリ−ト・パワ−トランジスタの製造工程と同一
の工程で形成することができる。また、抵抗R2 は、ア
ルミニウム配線やボンディングワイヤにより構成するこ
とができる。さらに、パワ−デバイスとしては、パワ−
MOSFETに限られず、電力用バイポ−ラトランジス
タであってもよい。図5および図6は、それぞれ上記図
3の電流制限回路の変形例を示している。
その出力電流を制限するための電流制限回路は、通常の
ディスクリ−ト・パワ−トランジスタの製造工程と同一
の工程で形成することができる。また、抵抗R2 は、ア
ルミニウム配線やボンディングワイヤにより構成するこ
とができる。さらに、パワ−デバイスとしては、パワ−
MOSFETに限られず、電力用バイポ−ラトランジス
タであってもよい。図5および図6は、それぞれ上記図
3の電流制限回路の変形例を示している。
【0035】図5の電流制限回路は、パワ−トランジス
タT1 を構成する複数の小セルを、n:1(nは1以上
の数)に分割し、パワ−デバイスT1 の出力電流IO を
n:1に分けたものである。すなわち、出力電流IO の
1/(n+1)の電流を抵抗R2 に流し、微小電圧VO
を発生させている。この電流制限回路は、出力電流IO
の値が大きくても、微小電圧VO を得るために、抵抗R
2 の値を小さくする必要がない。従って、抵抗R2 の値
の製造上のバラツキを少なくすることができる。
タT1 を構成する複数の小セルを、n:1(nは1以上
の数)に分割し、パワ−デバイスT1 の出力電流IO を
n:1に分けたものである。すなわち、出力電流IO の
1/(n+1)の電流を抵抗R2 に流し、微小電圧VO
を発生させている。この電流制限回路は、出力電流IO
の値が大きくても、微小電圧VO を得るために、抵抗R
2 の値を小さくする必要がない。従って、抵抗R2 の値
の製造上のバラツキを少なくすることができる。
【0036】図6の電流制限回路は、トランジスタQ3
のコレクタからコントロ−ル出力が得られるものであ
る。この電流制限回路は、単にパワ−MOSFET T
1 の出力電流IO を制限するだけでなく、出力電流IO
の値を利用する場合に有効である。図7および図8は、
それぞれ本発明の他の実施例に係わる微小電圧検出回路
を示している。
のコレクタからコントロ−ル出力が得られるものであ
る。この電流制限回路は、単にパワ−MOSFET T
1 の出力電流IO を制限するだけでなく、出力電流IO
の値を利用する場合に有効である。図7および図8は、
それぞれ本発明の他の実施例に係わる微小電圧検出回路
を示している。
【0037】上記図1に示した微小電圧検出回路は、ト
ランジスタQ2 のエミッタに微小電圧VO が印加され、
トランジスタQ4 のエミッタに接地電圧が印加されてい
る。つまり、この微小電圧検出回路は、言い換えれ
ば、”微小正電圧検出回路”である。
ランジスタQ2 のエミッタに微小電圧VO が印加され、
トランジスタQ4 のエミッタに接地電圧が印加されてい
る。つまり、この微小電圧検出回路は、言い換えれ
ば、”微小正電圧検出回路”である。
【0038】これに対し、図7に示す微小電圧検出回路
は、トランジスタQ2 のエミッタに接地電圧が印加さ
れ、トランジスタQ4 のエミッタに微小電圧VO が印加
されている。つまり、この微小電圧検出回路は、言い換
えれば、”微小負電圧検出回路”である。この場合、検
出電圧VO が一定電圧VOLに対し、|VO |>VOLの関
係があれば、IDET =0となる。また、検出電圧VOが
一定電圧VOLに対し、|VO |≦VOLの関係があれば、
IDET >0となる。これにより、微小電圧VOを検出す
ることができる。
は、トランジスタQ2 のエミッタに接地電圧が印加さ
れ、トランジスタQ4 のエミッタに微小電圧VO が印加
されている。つまり、この微小電圧検出回路は、言い換
えれば、”微小負電圧検出回路”である。この場合、検
出電圧VO が一定電圧VOLに対し、|VO |>VOLの関
係があれば、IDET =0となる。また、検出電圧VOが
一定電圧VOLに対し、|VO |≦VOLの関係があれば、
IDET >0となる。これにより、微小電圧VOを検出す
ることができる。
【0039】図8は、図7の微小電圧検出回路の変形例
を示している。この検出回路は、微小電圧VO を、抵抗
R2 と電流源IO によって置き換えたものである。つま
り、式(15)に示すように、電流IO の絶対値が一定
電流IOL以下になったとき、コントロ−ル電流IDET は
トランジスタQ1 ,Q2 を流れることができる。また、
式(16)に示すように、電流IO の絶対値が一定電流
IOLを越えるとき、コントロ−ル電流IDET はトランジ
スタQ1 ,Q2 を流れない。
を示している。この検出回路は、微小電圧VO を、抵抗
R2 と電流源IO によって置き換えたものである。つま
り、式(15)に示すように、電流IO の絶対値が一定
電流IOL以下になったとき、コントロ−ル電流IDET は
トランジスタQ1 ,Q2 を流れることができる。また、
式(16)に示すように、電流IO の絶対値が一定電流
IOLを越えるとき、コントロ−ル電流IDET はトランジ
スタQ1 ,Q2 を流れない。
【0040】
【数10】
【0041】
【発明の効果】このように、本発明では、NPNトラン
ジスタQ1 〜Q4 のエミッタの面積比で定まる微小電圧
VOLを検出でき、これにより例えばパワ−デバイスの出
力電流を制限することができる。しかも、微小電圧VOL
を検出することでパワ−デバイスの出力電流を制限して
いるため、電力損失が従来に比べて大幅に減少する。例
えば、M=N=3とした場合には、ベ−ス・エミッタ間
電圧VBEの約1/10の微小電圧を検出することができ
る。また、図3および図5に示す実施例では、ディスク
リ−ト・パワ−トランジスタの製造方法と同一の製造方
法で形成できるため、簡単に電流制限機能付きのパワ−
デバイスを提供することができる。
ジスタQ1 〜Q4 のエミッタの面積比で定まる微小電圧
VOLを検出でき、これにより例えばパワ−デバイスの出
力電流を制限することができる。しかも、微小電圧VOL
を検出することでパワ−デバイスの出力電流を制限して
いるため、電力損失が従来に比べて大幅に減少する。例
えば、M=N=3とした場合には、ベ−ス・エミッタ間
電圧VBEの約1/10の微小電圧を検出することができ
る。また、図3および図5に示す実施例では、ディスク
リ−ト・パワ−トランジスタの製造方法と同一の製造方
法で形成できるため、簡単に電流制限機能付きのパワ−
デバイスを提供することができる。
【図1】本発明の一実施例に係わる微小電圧検出回路を
示す回路図。
示す回路図。
【図2】本発明の微小電圧検出回路をパワ−トランジス
タの電流制限回路に用いた場合の回路図。
タの電流制限回路に用いた場合の回路図。
【図3】主パワ−トランジスタT1 のゲ−ト・ソ−ス間
電圧VGSと出力電流IO との関係を示す図。
電圧VGSと出力電流IO との関係を示す図。
【図4】図2の電流制限回路の変形例を示す回路図。
【図5】図2の電流制限回路の変形例を示す回路図。
【図6】本発明の他の実施例に係わる微小電圧検出回路
を示す回路図。
を示す回路図。
【図7】本発明の他の実施例に係わる微小電圧検出回路
を示す回路図。
を示す回路図。
【図8】本発明の他の実施例に係わる微小電圧検出回路
を示す回路図。
を示す回路図。
【図9】従来の電流制限回路を示す回路図。
【図10】従来の電流制限回路を示す回路図。
Q1 ,Q2 ,Q3 ,Q4 …ラテラルNPNトランジス
タ、T1 …主パワ−トランジスタ、R1 ,R2 ,R3 …
抵抗。
タ、T1 …主パワ−トランジスタ、R1 ,R2 ,R3 …
抵抗。
Claims (7)
- 【請求項1】 ベ−スとコレクタが互いに接続された第
1のトランジスタと、コレクタが前記第1のトランジス
タのエミッタに接続された第2のトランジスタと、ベ−
スが前記第1のトランジスタのベ−スに接続され、エミ
ッタが前記第2のトランジスタのベ−スに接続された第
3のトランジスタと、ベ−スが前記第1のトランジスタ
のエミッタに接続され、コレクタが前記第3のトランジ
スタのエミッタに接続された第4のトランジスタと、前
記第2のトランジスタのエミッタと前記第4のトランジ
スタのエミッタの間に接続された電圧源とを具備し、前
記電圧源の電圧が一定電圧を越えたとき、前記第1およ
び第2のトランジスタのコレクタから前記電圧源の電圧
が一定電圧を越えたことを示す検出信号が得られること
を特徴とする微小電圧検出回路。 - 【請求項2】 前記第1のトランジスタのエミッタと前
記第3のトランジスタのエミッタの面積比が1:N(N
は1以外の数)であり、前記第2のトランジスタのエミ
ッタと前記第4のトランジスタのエミッタの面積比が
M:1(Mは1以外の数)であることを特徴とする請求
項1に記載の微小電圧検出回路。 - 【請求項3】 前記電圧源は、一端が前記第2のトラン
ジスタのエミッタに接続され、他端が前記第4のトラン
ジスタのエミッタに接続された抵抗と、前記抵抗の一端
に接続された電流源とによって構成されていることを特
徴とする請求項1に記載の微小電圧検出回路。 - 【請求項4】 パワ−デバイスと、一端が前記パワ−デ
バイスの制御電極に接続され、他端が電位供給源に接続
された第1の抵抗と、前記パワ−デバイスの出力電流を
検出するための第2の抵抗と、ベ−スとコレクタが互い
に接続された第1のトランジスタと、コレクタが前記第
1のトランジスタのエミッタに接続され、エミッタが前
記第2の抵抗の一端に接続された第2のトランジスタ
と、ベ−スが前記第1のトランジスタのベ−スに接続さ
れ、コレクタが前記パワ−デバイスの制御電極に接続さ
れ、エミッタが前記第2のトランジスタのベ−スに接続
された第3のトランジスタと、ベ−スが前記第1のトラ
ンジスタのエミッタに接続され、コレクタが前記第3の
トランジスタのエミッタに接続され、エミッタが前記第
2の抵抗の他端に接続された第4のトランジスタと、一
端が前記電位供給源に接続され、他端が前記第1のトラ
ンジスタのコレクタに接続された第3の抵抗とを具備
し、前記パワ−デバイスの出力電流が一定値を越えたと
き、前記パワ−デバイスの出力電流が制限されることを
特徴とする電流制限回路。 - 【請求項5】 前記第1のトランジスタのエミッタと前
記第3のトランジスタのエミッタの面積比が1:N(N
は1以外の数)であり、前記第2のトランジスタのエミ
ッタと前記第4のトランジスタのエミッタの面積比が
M:1(Mは1以外の数)であることを特徴とする請求
項4に記載の電流制限回路。 - 【請求項6】 前記パワ−デバイスは、パワ−MOSF
ETであることを特徴とする請求項4に記載の電流制限
回路。 - 【請求項7】 前記パワ−デバイスの出力電流IO は、
n:1(nは1以上の数)に分けられており、前記第2
の抵抗には、IO /(n+1)の電流が流れることを特
徴とする請求項4に記載の電流制限回路。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3272199A JP2755848B2 (ja) | 1990-11-16 | 1991-10-21 | 微小電圧検出回路およびこれを用いた電流制限回路 |
EP91119327A EP0485969B1 (en) | 1990-11-16 | 1991-11-13 | Current limiting circuits |
DE69126948T DE69126948T2 (de) | 1990-11-16 | 1991-11-13 | Schaltkreise zur Strombegrenzung |
US08/242,056 US5402020A (en) | 1990-11-16 | 1994-05-13 | Low voltage detecting circuit |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP31087590 | 1990-11-16 | ||
JP2-310875 | 1990-11-16 | ||
JP3272199A JP2755848B2 (ja) | 1990-11-16 | 1991-10-21 | 微小電圧検出回路およびこれを用いた電流制限回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH053424A true JPH053424A (ja) | 1993-01-08 |
JP2755848B2 JP2755848B2 (ja) | 1998-05-25 |
Family
ID=26550080
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3272199A Expired - Fee Related JP2755848B2 (ja) | 1990-11-16 | 1991-10-21 | 微小電圧検出回路およびこれを用いた電流制限回路 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5402020A (ja) |
EP (1) | EP0485969B1 (ja) |
JP (1) | JP2755848B2 (ja) |
DE (1) | DE69126948T2 (ja) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5828261A (en) * | 1996-11-13 | 1998-10-27 | Caterpillar Inc. | Gate drive circuit that controls a power transistor in three states |
JP2006086211A (ja) * | 2004-09-14 | 2006-03-30 | Denso Corp | 半導体装置 |
CN102428634B (zh) * | 2009-05-19 | 2014-09-17 | 三菱电机株式会社 | 栅极驱动电路 |
WO2022084587A1 (en) * | 2020-10-22 | 2022-04-28 | Lumineq Oy | Nfet half bridge circuit, and arrangement and use related to nfet half bridge circuit |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3845405A (en) * | 1973-05-24 | 1974-10-29 | Rca Corp | Composite transistor device with over current protection |
US3930172A (en) * | 1974-11-06 | 1975-12-30 | Nat Semiconductor Corp | Input supply independent circuit |
JPS584489B2 (ja) * | 1978-12-30 | 1983-01-26 | 富士通株式会社 | スイッチング回路 |
US4590392A (en) * | 1983-09-19 | 1986-05-20 | Honeywell Inc. | Current feedback Schottky logic |
US4533845A (en) * | 1984-02-22 | 1985-08-06 | Motorola, Inc. | Current limit technique for multiple-emitter vertical power transistor |
DE3433538A1 (de) * | 1984-09-13 | 1986-03-20 | Telefunken electronic GmbH, 7100 Heilbronn | Schutzschaltung fuer einen vom laststrom durchflossenen leistungstransistor |
FR2619972B1 (fr) * | 1987-08-31 | 1992-01-03 | Boudionny Anatoli | Etage amplificateur differentiel et configurations de circuits utilisant un tel etage |
US5111071A (en) * | 1989-10-19 | 1992-05-05 | Texas Instruments Incorporated | Threshold detection circuit |
-
1991
- 1991-10-21 JP JP3272199A patent/JP2755848B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1991-11-13 DE DE69126948T patent/DE69126948T2/de not_active Expired - Lifetime
- 1991-11-13 EP EP91119327A patent/EP0485969B1/en not_active Expired - Lifetime
-
1994
- 1994-05-13 US US08/242,056 patent/US5402020A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP0485969A2 (en) | 1992-05-20 |
JP2755848B2 (ja) | 1998-05-25 |
DE69126948T2 (de) | 1997-12-11 |
EP0485969A3 (en) | 1992-10-28 |
EP0485969B1 (en) | 1997-07-23 |
DE69126948D1 (de) | 1997-08-28 |
US5402020A (en) | 1995-03-28 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPH01227520A (ja) | 電力用半導体装置 | |
WO1993017492A1 (en) | Current detecting circuit | |
JP2001345686A (ja) | 電流検出回路 | |
JPH053424A (ja) | 微小電圧検出回路およびこれを用いた電流制限回路 | |
JPH09213893A (ja) | 半導体装置 | |
JPH06216738A (ja) | フォトカプラ装置 | |
JPH05196660A (ja) | 電流検出回路 | |
US6978008B2 (en) | Zero crossing detection circuit | |
JPH06105856B2 (ja) | 定電流源回路 | |
JPH02181663A (ja) | 電流センス回路 | |
JPH0856128A (ja) | 演算増幅器 | |
US4758773A (en) | Switching device | |
JPH08102649A (ja) | パワー半導体素子の電流検出回路 | |
JP2645596B2 (ja) | 電圧検出回路 | |
JP3039265B2 (ja) | 電圧電流発生装置 | |
JP3100804B2 (ja) | アナログスイッチ | |
JPH10335998A (ja) | 電流検出回路 | |
KR950010410B1 (ko) | 미소전압 검지회로 | |
JPH08331757A (ja) | 過電流制限回路 | |
JPH04317217A (ja) | 電流検出回路 | |
JPS6062149A (ja) | 半導体装置 | |
JP3094564B2 (ja) | 半導体装置 | |
JP2812074B2 (ja) | 半導体装置 | |
JP2671304B2 (ja) | 論理回路 | |
JP2596151B2 (ja) | 電圧比較器 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080306 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090306 Year of fee payment: 11 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |