JPH05151535A - 分布定数回路型磁界検出装置 - Google Patents

分布定数回路型磁界検出装置

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JPH05151535A
JPH05151535A JP3333687A JP33368791A JPH05151535A JP H05151535 A JPH05151535 A JP H05151535A JP 3333687 A JP3333687 A JP 3333687A JP 33368791 A JP33368791 A JP 33368791A JP H05151535 A JPH05151535 A JP H05151535A
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康成 杉山
Kiyoshi Kagawa
潔 香川
Hiroyuki Omori
広之 大森
Masatoshi Hayakawa
正俊 早川
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    • G11B5/127Structure or manufacture of heads, e.g. inductive
    • G11B5/33Structure or manufacture of flux-sensitive heads, i.e. for reproduction only; Combination of such heads with means for recording or erasing only

Abstract

(57)【要約】 【目的】 被検出磁界を高感度をもって検出することが
できるようにする。 【構成】 分布定数回路1の内部の磁界発生部位に、印
加磁界変化により透磁率が変化する磁性体2を配置し、
これに被検出磁界を与えて分布定数回路1内の電磁場分
布の変化を測定して被検出磁界の測定を行う。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、外部磁界の検出、例え
ば磁気記録媒体例えば磁気テープ、ディスク、フロッピ
ー等からの信号磁界の検出を行う磁気再生ヘッドに適用
して好適な新しい原理に基く分布定数回路型磁界検出装
置に係わる。
【0002】
【従来の技術】従来、磁気記録媒体上に記録された磁気
記録の再生には、電磁誘導を用いたリング型のインダク
ティブ型の磁気ヘッドが長年に渡って用いられてきた。
しかしながら、近年の高記録密度化、高周波化にともな
い、いろいろな問題が生じている。
【0003】まず記録密度の向上にともない、磁気再生
ヘッドと記録媒体との相対速度が低下し、インダクティ
ブ型再生ヘッドでは再生出力が著しく低下する。
【0004】これに対して、磁気記録媒体との相対速度
に依存しない磁束感応型の磁気抵抗効果型(MR)の再
生ヘッドの開発、実用化が進められているがその再生出
力は、MR素子に流す電流に比例するため、原理的には
電流を多く流せばそれだけ大きな電圧を得ることが出来
るはずであるが、通電による発熱があるため実際には上
限がある。一方、再生出力はMR素子のMR比にも比例
するため、出力向上のために、現在、盛んにより大きな
MR比を有する材料の探査が進められているものの、現
状では主にパーマロイが用いられ、そのMR比は2%程
度に留まっており、再生出力は十分とは言えない。一
方、このMRヘッドにおいては、バルクハウゼンノイズ
によるS/Nの低下が大きな問題となっている。
【0005】他の磁束感応型の磁気再生ヘッドとして、
外部磁界によるコイルの共振特性の変化を利用した磁気
再生ヘッドの提案もなされている(例えば1990年電
子情報通信学会春季全国大会講演予稿集5−35頁)。
ただし、このヘッドにおいては、分布定数回路的な取扱
はなされておらず、磁性体の透磁率も1GHz以下の領
域を用いている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】上述したように、近
年、磁気記録においては、記録する情報量の急速な増加
にともない、高記録密度化、高周波化の傾向が著しい。
特に、ビデオ、コンピューターの外部記憶装置としての
ハードディスクなどの分野においてその要求は強い。ビ
デオにおいては、今後のハイディフィニション化および
デジタル化に対応する必要があり、ハードディスクはコ
ンピューターの性能向上にともなうソフトウェアの規模
の拡大、データー処理量の増加等に対する対応に迫られ
ている。
【0007】この高密度化、高周波化に対応するために
は磁気再生ヘッドとしては、高感度でかつ高周波特性に
すぐれたものが必要となる。
【0008】本発明は、外部磁界の検出即ち、外部磁界
の有無、強度検出、特に磁気記録媒体上の磁気記録によ
る信号磁界を高感度をもって検出できるようにして、高
密度化、高周波化の要求に対応した磁気再生ヘッドを構
成できる分布定数回路型磁界検出装置を提供するもので
ある。
【課題を解決するための手段】本発明の基本構成は、図
1Aにその一例の構成図を示すように、電磁波が励振さ
れた分布定数回路1の回路内部の磁界発生部位に、印加
磁界変化により透磁率μ(本明細書でいう透磁率とは複
素透磁率を指称する。)が変化する磁性体2を配置す
る。
【0009】即ち、磁性体2を回路内部に有する分布定
数回路1を、発振器3によって励振させるとき、その磁
性体2が、磁界発生部位にあるようにその位置を設定す
る。
【0010】そして、被検出磁界を磁性体2に直接的或
いは間接的に与えてこれの透磁率変化による分布定数回
路1内の電磁場分布の変化を検出し、これによって被検
出磁界の検出を行う。
【0011】本発明の他の1の構成は、上述の基本的構
成において、特にその磁性体2を含む分布定数回路1の
終端をインピーダンス不整合として定在波を生じさせ
る。
【0012】そして、この分布定数回路1の、被検出磁
界を印加しない状態での定在波電圧のほぼ最小位置(節
の位置)で、磁性体2に与えた被検出磁界の変化による
定在波電圧を振幅検波して被検出磁界の検出を行う。
【0013】また、本発明の他の1の構成は、上述の基
本的構成において、その分布定数回路1の少くとも1部
を分布定数共振器によって構成する。
【0014】そして、この分布定数共振器内の磁界発生
部位に磁性体2を配置して、この磁性体2に印加する被
検出磁界による磁性体2の透磁率変化による共振器の共
振特性の変化を検出して、被検出磁界の検出ないしは測
定を行う。
【0015】更にまた、本発明の他の1の構成は、上述
の基本的構成において、磁性体2に、被検出磁界を導く
磁気ヨークを設けて磁性体2を含む磁気回路を構成す
る。また、本発明の他の1においては、分布定数回路1
の終端部近傍に、外部磁界の印加により透磁率が変化す
る磁性体を配置し、かつ終端分布を短絡する。
【0016】更に本発明の他の1は、コプレイナー線路
の終端部に、被検出磁界により透磁率の変化する磁性体
2を設け、その透磁率の変化にともなう上記終端部の反
射係数の変化を検出することにより被検出磁界の検出を
行う。
【0017】更に、本発明の他の1においては上述のコ
プレイナー導波路、またはコプレイナー線路の終端部
に、被検出磁界により透磁率の変化する磁性体2を設
け、これの周波数1GHz−10GHzにおける透磁率
変化を利用した構成とする。
【0018】また、本発明の他の1においては、上述の
コプレイナー導波路またはコプレイナー線路として線路
幅と線路間隔を一定に保ちながら線路幅が次第に増加す
る部分を有するコプレイナー線路を用いる。
【0019】また、本発明の更に他の1は、上述のコプ
レイナー導波路またはコプレイナー線路の上面を誘電体
でおおう。
【0020】更に、本発明の他の1は、上述のコプレイ
ナー導波路またはコプレイナー線路に直流電流を流すこ
とにより、磁性体2にバイアス磁界を印加する。
【0021】
【作用】本発明装置の基本的構成に基く作用を図1を参
照して説明する。図1Aで説明したように、分布定数回
路1、即ち、具体的にはマイクロストリップライン、導
波管、同軸ケーブル等の分布定数回路1を発振器3によ
って励振させるとき、その終端即ち負荷端がインピーダ
ンス整合状態にあれば、進行波が発生し、インピーダン
ス不整合状態にあれば、進行波のほかに反射波が存在
し、それらの重ね合せにより定在波が立つ。そして、こ
の定在波比は、分布定数回路1の終端が開放または短絡
状態で最大となる。
【0022】本発明では印加磁界変化により透磁率が変
化する磁性体2を含む分布定数回路1を設け、これの励
振状態での磁界発生部位に、磁性体2を配置するもので
あるが、今、この磁性体2に被検出磁界を与えない状態
で、ある瞬間に図1Bに示すような電場分布を持つ様な
電磁波が生じているとすると、分布定数回路1は、その
回路の透磁率が変化すれば、電磁場分布が変化する。し
たがって外部磁界Hex、即ち被検出磁界Hex=Hが磁性
体1に与えられて、これの透磁率μ(実部μr 及び虚部
μi )が変化すれば、図1Bの電圧分布も変化するの
で、分布定数回路1の特定位置xs での例えば、位相、
振幅、波長を検出すれば被検出磁界の検出を行うことが
できる。
【0023】図2中曲線4Zは、外部磁界Hexが例えば
与えられていないHex=0で、分布定数回路1の終端が
不整合状態にあって、特定位置xs で定在波振幅|V|
が最小値V0 を示す定在波が立っている状態の波形を示
している。図2において定在波振幅の最小値と最大値の
比を電圧定在波比と称し、λは定在波波長、λ/2は、
定在波の山または谷が繰り返される間隔を示す。そし
て、この定在波比は、終端を解放或いは短絡した状態で
最大となる。
【0024】この状態で前述したように、磁性体2に対
する印加磁界HexがHex=Hに変化すると、即ち被検出
磁界が与えられると、分布定数回路1の電磁場分布が変
化することによって例えば図2中破線曲線4exに示すよ
うに、電圧定在波比、定在波波長λ、及び位相或いはそ
のいずれかが変化し、位置xs での定在波振幅|V|が
exに変化する。したがって、被検出磁界が与えられな
い状態での電圧|V|が最小値V0 を示す例えばこの位
置xs で検出磁界が与えられたときのVexを検波すれ
ば、大きな電圧の変化が得られ、高感度の検出を行うこ
とができる。しかしながら、電圧曲線4Zが理想状態か
らずれて、その最小値V0 で、その波形が鈍化した形状
を示すときは、その例えば電圧検波位置xs は、V0
置からむしろわずかにずらした位置に選定する。
【0025】更に、分布定数回路1の一部を分布定数共
振器によって構成し、この共振器内に磁性体2を配置す
る本発明構成とするときは共振器内には、共振条件を満
たす電磁波しか励振されないため、磁性体2の透磁率変
化が共振特性に大きく影響し共振波長および共振幅(Q
値)が変化すると共振器内の電磁波の励振状態を大きく
変化させ、それにともない分布定数回路1内の電磁場分
布を大きく変化させることができ、被検出磁界の検出
を、より高感度に行うことができる。
【0026】また、磁性体2に磁気ヨークを磁気的に結
合させてこの磁気ヨークから被検出磁界を導入する構成
とするときは、磁性体2への被検出磁界の印加を効率良
く行うことができ、特に磁気記録媒体上の記録を読み出
す再生磁気ヘッドとして用いて高い再生感度を得ること
ができる。
【0027】
【実施例】本発明は、例えば図1A示すように、その基
本的構成を示す分布定数回路1、具体的には、例えばマ
イクロストリップライン、同軸ケーブル等を設け、これ
を同軸ケーブル等のマイクロ波伝送路10を介して発振
器3によって励振するようにした分布定数回路1を構成
する。
【0028】この分布定数回路1は、印加磁界の変化に
よって透磁率μの実部μr ないしは虚部μi が変化する
軟磁性体、例えばCoTaZrアモルファスより成る磁
性体2を含む構成とする。
【0029】この磁性体2の配置位置は、これを含む分
布定数回路1の電磁波が励振された状態での磁界が強く
発生する部位に選定する。
【0030】この分布定数回路1は、その終端、即ちい
わゆる負荷端が、整合状態或いは不整合状態の何れをも
採り得るものであり、整合状態にあっては、進行波が生
じ、不整合状態では前述したように反射波の発生によっ
て定在波を立たせることができ、特にその終端が短絡或
いは開放状態にあるときは、その定在波比を大とするこ
とができる。
【0031】図3は、磁気記録媒体5上の記録信号を読
み出す磁気再生ヘッドに本発明を適用した場合の一例の
略線的構成図で、この場合分布定数回路1の例えば終端
部に外部印加磁界によって透磁率が変化する上述の軟磁
性体による磁性体2を配置し、これを磁気記録媒体1に
近接対向させて、媒体1と相対的に移行するようにし、
媒体1上の記録磁化に基く漏洩信号磁界を磁性体2に与
えてこの信号磁界に基く透磁率変化による電磁場分布変
化を、分布定数回路1の特定位置における例えば電圧変
化として、或いは振幅、位相変化として、検出器6、例
えばネットワークアナライザ、或いは(及び)検波器及
び電圧計等によって測定する。
【0032】図4はネットワークアナライザ61によっ
て分布定数回路1の例えば反射係数S11を測定する場
合、図5は透過係数S21を測定する場合の態様を示す。
【0033】尚、図3で説明した構成において図6に示
すように、分布定数回路1の終端を短絡するときは、励
振したときに生じる定在波の電圧分布は図6中に曲線a
で示すように終端で電圧最小となり、節をつくる。した
がってこのとき電流は終端で最大となり発生する磁界は
終端部で最大となる。したがって、定在波分布は、この
終端部の透磁率に最も強く依存する。
【0034】つまり、この図6に示すように終端部を短
絡した構成を採り、この終端近傍に外部磁界で透磁率が
変化する磁性体2を配置すれば、定在波は、外部磁界の
変化に最も強く依存することになる。
【0035】したがって、この図6による検出装置を、
磁気再生ヘッドとして用いる場合において、この分布定
数回路1の終端を直接磁気記録媒体5に近接させて媒体
5からの信号磁界を検出する際には、この終端に磁性体
を置く構成が望ましいことになる。
【0036】更に、このように終端部を短絡した場合、
上述したようにこの終端部に発生する電界が小さくなる
ことによって終端部の誘電率の変化の定在波分布に及ぼ
す影響が小さくなるので、磁気記録媒体5に近接させる
際の電気的原因によるノイズの低減化もはかられる。
【0037】また、更に、磁気記録媒体5上の記録磁化
に基く媒体5からの信号磁界の検出、即ち信号再生に際
し、媒体5と分布定数回路1との接触によって電気的な
導通が生じた場合にも、終端を短絡した構成を採るとき
は、媒体5側においても接地して置くことによって、回
路1と媒体5との間で電流が流れることを回避できるの
で、これによるノイズの発生も回避できる。
【0038】本発明における分布定数回路1としては、
例えば図7に示すように、マイクロストリップライン型
構成とすることができる。
【0039】この場合、例えばAu,Cu等より成る接
地導体7上に、ガラス、あるいはAl2 3 ,サファイ
ア等の誘電率が大で高周波損失が小さい材料より成る誘
電体8を介してストライプ状のAu,Cu線路導体9
が、更にその終端側の一部においてはCo75Ta11Zr
14のアモルファス軟磁性薄膜より成る磁性体2を介して
形成され、その終端において、線路導体9と接地導体7
とが短絡された構成を採っている。
【0040】このマイクロストリップライン型導波路に
よる分布定数回路1においても、外部磁界が与えられな
いHex=0の状態で、定在波が得られているとすると、
外部磁界Hex=Hが与えられたとき、その励振状態が変
化することから、ストリップラインの特定位置、或いは
例えばストリップラインと発振器をつなぐ伝送路10上
の図2中破線Aで示す特定した位置で、曲線4Z及び4
exによる電圧を検波してその電圧変化を測定すること
で、外部磁界Hexの検出ないしは測定をすることができ
る。図8は、この検出電圧と外部磁界(被検出磁界)と
の関係を示したもので例えば1(Oe)程度の磁界変化
を、200mV程度という大きな電圧変化として高感度
に検出できる。この場合、図7の構成において線路導体
9の幅を30μm、厚さ1μm、磁性体2を長さ1m
m、幅30μm、厚さ0.5μmとした場合である。
【0041】また、この構成によるマイクロストリップ
ラインによる分布定数回路1において、そのインピーダ
ンスの外部磁場依存を、ネットワークアナライザ(ヒュ
ーレットパッカード社、HP8719A)によって周波
数fを130MHz〜8GHzの範囲で測定した。その
測定結果を図9に示す。図9中、曲線91は外部磁界H
ex=0のとき、曲線92は、Hex=80A/mの場合
で、それぞれΔ2,Δ4,Δ6,Δ8印で示す位置が、
それぞれf=2GHz,f=4GHz,f=6GHz,
f=8GHzのときの値を示す。図より明らかなよう
に、外部磁界Hexにより導波路の入力インピーダンス、
従って導波路内の電磁場分布が変化していることがわか
る。
【0042】したがって、このネットワークアナライザ
による測定結果によって、外部磁界、即ち被検出磁界H
exの検出を行うことができることになる。
【0043】更に図10を参照して、マイクロストリッ
プライン型構成とした場合の一例を詳細に説明する。図
10において図7に対応する部分には同一符号を付して
示す。
【0044】この場合においても、接地導体7と、線路
導体9とを有し、両者間に例えば誘電体8と磁性体2と
が介在された構成が採られている。
【0045】その作製に当たっては、図11に示すよう
に高誘電率、低い高周波損失のAl 2 3 、サファイア
基板等より成る誘電体8が用意され、これの上に例えば
厚さ0.7μmのCo75Ta11Zr14のアモルファス軟
磁性体薄膜2sをスパッタリングによって形成する。
【0046】そしてこの軟磁性体薄膜2sを、その透磁
率μが鋭敏な磁界依存性を示すように、例えば1kOe
の固定磁界中で300℃、1時間の熱処理を行って例え
ば異方性磁界Hkが0.2(Oe)程度の一軸異方性を
付与させる。
【0047】そして、この軟磁性薄膜2s上に、図示し
ないが例えば全面的に、良電気伝導性を有する例えばA
u,或いはCu等を厚さ1μmにスパッタリングして良
導電層を形成する。
【0048】次に、この良導電層とこれの下の軟磁性薄
膜2sを、例えば長さ2mm、幅30μmを有し、例え
ばこの幅方向に軟磁性薄膜2sの磁化容易軸e.aがほ
ぼ一致するように、ストライプ状にフォトリソグラフィ
によるパターンエッチングを行って、Cu良導電層より
成るストライプ状の線路導体9を形成すると共に、これ
の下に軟磁性薄膜2sの一部から成る透磁率が外部磁界
に依存性を有する磁性体2を形成する。
【0049】そして、この磁性体2と線路導体9を有す
る誘電体8を、接地導体7を構成する良導電性の例えば
Cuブロック等の上に接合する。
【0050】このようにして、例えば負荷端2aが開放
のマイクロストリップラインを構成する。
【0051】そして、このマイクロストリップライン型
分布定数回路1において線路9と、接地導体7との間に
発振器3即ち高周波電源を、例えば同軸ケーブルによる
伝送路10によって接続する。
【0052】この発振器3、即ち高周波電源の周波数を
例えば1GHz程度に調整して、マイクロ波導波路によ
る分布定数回路1を励振させ、図2の実線曲線4Zで示
すように、x=x0 に定在波の節が来るように励振周波
数を調整する。そして、このx=x0 での定在波電圧を
検波回路62によって検波してその電圧を電圧計63で
測定することによって図2で説明したように、V0 〜V
exの変化として磁場検出を行うことができる。
【0053】図12は、この分布定数回路1を構成する
マイクロストリップラインの横断面図で、同図中細線a
1 ,a2 ,a3 ‥‥は磁界の分布を示し、破線細線
1 ,b 2 ,b3 ‥‥は電界の分布を示す。この場合、
磁場は線路導体9の幅方向に発生する。したがって、そ
こに例えば幅方向に磁化容易軸e.aを持つ磁性体2を
用いると困難軸方向に外部磁界Hexを印加することによ
りマイクロ波の作る幅方向の磁界に対する透磁率μを変
化させることができる。それに伴い、電圧定在波比、定
在波波長λ、或いはそれらのいずれかが変化することに
なる。
【0054】このような構成による検出装置、即ち磁気
ヘッドは、図3で説明したように、その分布定数回路
1、即ちマイクロストリップラインの終端1aを磁気記
録媒体5に近接対向させ、マイクロストリップライン型
の分布定数回路1の負荷端(開放端)1aを磁気記録媒
体(図示せず)に近接対向させ、磁気記録媒体上の記録
に基く漏れ磁界即ち信号磁界を外部磁界Hexとして検出
する。即ち磁気信号を電気信号に変換して取り出すこと
ができる。
【0055】この場合、磁性体2の容易軸方向の透磁率
は、容易軸に垂直な方向に外部磁界Hexが印加されてい
ないときには小さいが、容易軸に垂直な方向に磁界を印
加してゆくに従ってしだいに増加し、Hex=Hkのあた
りで最大となり、さらに磁界を増加させると、透磁率は
減少してゆく。
【0056】高周波電源の周波数、いわばキャリア周波
数fは例えば1GHzとし、このとき、記録信号磁界H
exの周波数はそれより一桁低い100MHz程度という
充分高い周波数としても、検波回路62によって振幅検
波することによりキャリア成分を除き、Hexの変化のみ
を電圧変化として取り出すことができる。
【0057】図13はこの構成においてバイアス磁場を
印加しない状態で検出回路からの出力電圧VD を外部磁
場Hexを変化させて測定したものを示す。
【0058】この場合、実際に媒体からの磁界を検出す
る場合、VD の磁界依存性が最も急峻でかつ線形性の良
い、B1 またはB2 のような位置に動作中心が来るよう
に、図10に示すように電磁石もしくは永久磁石等のバ
イアス磁界印加手段11を配して、これによってバイア
ス磁場HB を与え、すぐれた感度と歪の小さい出力が得
られるようにすることができる。
【0059】更に、図10の例では、磁性体2を線路導
体9と同パターンとした場合であるが、必ずしもこのよ
うに同一のパターンとするに限られるものではない。
【0060】また、磁性体2は、マイクロストリップラ
インによる導波路に含まれる構成としたものであるが、
この磁性体2が絶縁性(誘電体)を有する場合には、誘
電体8の一部として或いは、これに代えて配置すると
か、良導電性を有する場合には、導体7または9の一部
或いはこれに代えて配置することができる。
【0061】また、図10で説明した例では磁性体2
が、ストライプ状とされ、その幅方向を磁化容易軸e.
aの方向とした場合であるが、その使用目的、使用態様
に応じ磁化容易軸方向および異方性磁界の大きさの選定
がなされる。
【0062】更に、上述した各例では、分布定数回路1
の磁性体2に、磁気記録媒体5からの信号磁界を直接的
に与えるようにした場合であるが、図14に示すように
例えば磁気ギャップgを有する高透磁率の軟磁性体より
成る磁気ヨーク12を設け、この磁気ヨーク12の磁路
中に磁性体2を配置した構成をとることもできる。
【0063】このように、磁気ヨーク12を設けて、例
えばこれに設けた磁気ギャップgから被検出磁界を導入
するときは、磁性体2の配置位置、形状等の選定の自由
度が大となり、この磁性体2を分布定数回路1における
電磁場分布に最も大きく影響を及ぼす配置位置、形状等
に設定できる。したがって、より感度の向上をはかるこ
とができる。また、外部磁界即ち被検出磁界の磁性体2
への印加効率を上げることができ、より感度の向上がは
かられる。特にこの構成を採って磁気記録媒体5に対す
る再生磁気ヘッドとして用いるときは、磁気ギャップg
を磁気記録媒体5に近接対向させることによって媒体5
上の記録磁化による漏洩磁界、即ち記録信号磁界を確実
に高分解能及び高感度をもって読み出すことができる。
【0064】図15に示す例では、磁気ギャップgを有
する磁気ヨーク12を、例えば図10で説明した構成に
よるマイクロストリップライン型導波路による分布定数
回路1に磁気的に結合した場合を示し、図15において
図10及び図14と対応する部分には同一符号を付して
重複説明を省略する。
【0065】また、本発明装置における分布定数回路1
は、その一部が分布定数共振器からなる構成とすること
ができる。この場合図16にその一例を示すように、分
布定数共振器21と外部回路22とによって分布定数回
路1を構成する。
【0066】外部回路22は、発振器3と分布定数共振
器21をつなぐ伝送路10及びこの伝送路10の特定位
置x1 に設けられた検出器6としての例えば電圧計63
より成る。
【0067】そして、その分布定数共振器21内に、外
部磁界Hex、即ち被検出磁界によって透磁率が変化する
磁性体2を設ける。
【0068】この磁性体2の配置位置は、例えばこの磁
性体2を含む共振器21が、共振周波数ω0 で励振され
た際発生する内部磁界ができるだけ強く、かつ外部磁界
exを検知するのに最も適した場所とする。
【0069】例えば、この構成によって再生磁気ヘッド
を構成する場合、共振器21を分布定数回路1の終端側
に配置し、更にこの共振器21において磁性体2をその
終端側に配置して、この終端を磁気記録媒体5に近接対
向させて媒体5からの被検出磁界の信号磁界即ち外部磁
界Hexが磁性体2に与えられるようにする。
【0070】この分布定数共振器21を構成するための
手段としては、分布定数回路1を、分布定数共振器とし
たい部分と外部回路22となる部分の境界で短絡する方
法がある。
【0071】磁性体2の高周波透磁率μは実部μr と虚
部μi とに分けることができる。つまり、μ=μr +i
μi で表わすことができる。
【0072】この場合、外部磁界Hexによりμr または
μi が変化することなる。
【0073】先ず実部の透磁率μr の変化を利用する場
合についてみると、今Hex=0での共振器21の共振周
波数がω0 で、発振器3から共振周波数ω0 をもって図
17Aにその電圧分布を曲線a0 で示すように、共振状
態にあるようにすると、Hex=Hで外部磁界が変化して
磁性体2の透磁率μの実部μr が変化すると、その共振
周波数がω0 からずれるので共振器21で共振が生じな
くなり、例えば図17Bに曲線aexをもって示すように
その電圧分布が変化する。したがって今、電圧検出位置
即ち検波位置x1 を、例えば図17AのHex=0の状態
での電圧分布の最大位置に選定しておけば、Hexの印加
によりこの位置x1 での電圧は減少するので、これによ
ってHexの検出、例えば磁気記録媒体5上の記録に基く
信号磁界の検出、即ち再生を行うことができる。
【0074】尚、この場合、共振器21のQは、分布定
数回路のロスが小さく、外部回路と分布定数共振器21
の電磁気的な結合が小さいほど高くなり、共振器21の
Qが高いほどHexの変化による電圧変化は大となる。
【0075】上述した例では、Hex=0のとき分布定数
共振器21が共振状態となり、Hex=Hのとき共振周波
数からずれるようにした場合であるが、これとは逆に、
ex=Hで共振状態にあり、Hex=0で共振周波数から
ずれるようにすることもできる。
【0076】次に、磁性体2の透磁率μの、外部磁界に
よる虚部μi の変化を利用する場合について説明する。
【0077】この場合は、μi の変化で共振器21のロ
ス分が変化し、共振器のQが変化することを利用する。
例えば図18中曲線181に示すようにHex=0で、そ
のQ値が高い状態にあるとすると、発振器3からの励振
周波数をその共振周波数ω0 からずれた周波数ω1 とす
ると、図19Aに示すように共振が得られない状態とな
るが、Hex=Hとなって、μi の変化で図18中曲線1
82にに示すように、例えばそのQ値が下がると上述の
励振周波数ω1 でも図19Bの共振が生じることにな
る。したがって例えば上述した特定位置x1 で例えば電
圧変化を検出すれば、外部磁界Hexの検出を行うことが
できる。
【0078】尚、上述したところでは、磁性体2の透磁
率μの実部μr と、虚部μi の変化を個々に取り挙げて
説明したが、両者が同時に生じることによって相乗的に
例えば所定位置x1 での電圧変化が生じるようにして、
より感度の向上をはかるようにすることもできる。
【0079】また、例えば図16の例等においても磁性
体2に例えば図14で説明した磁気ヨーク12を磁気的
に結合した構成とすることもできる。
【0080】本発明による分布定数回路型磁界検出装置
は、前述したように、磁気記録媒体5、例えば磁気テー
プ、磁気シート、磁気ディスク等に対するこれからの記
録信号の読み出し、即ち再生磁気ヘッドとして構成する
ことができるが、これに電磁誘導型の記録ヘッドの機能
を付加させて記録、再生磁気ヘッドを構成することがで
きる。
【0081】例えばマイクロストリップライン型の再生
ヘッドに電磁誘導型の記録ヘッドの機能を付加させる場
合の一例を図20Aの側面図、図20Bの平面図を参照
して説明する。この例では、Cuより成る接地導体7上
に印加磁界によって透磁率が変化する前述した軟磁性の
磁性体2を設ける。そして、この磁性体2に連結して、
或いはこの磁性体2を一部の構成部とする例えば磁性フ
ェライトより成る、或いは全体がこの磁性体2によって
構成される磁気ヨーク12を設ける。
【0082】この磁気ヨーク12には、その先端部に磁
気ギャップgが形成されたC字状ないしはコ字状薄膜の
磁気ヨーク12(磁気コア)を構成し、これの上にA
u,Cu層等より成る線路導体9を図20Bの平面図で
示すように直線状に、或いは図21に示すように磁気ヨ
ーク12のパターンに沿って形成して導体9及び7によ
ってマイクロストリップラインを形成する。その際、媒
体からの磁界が最も強いギャップ近傍で、マイクロスト
リップラインを短絡しておくことが望ましい。そして、
磁気ヨーク12にヘッド巻線24即ち電磁誘導巻線を巻
回する。
【0083】尚、この構成において磁気ヨーク12が導
電性を有する場合にはこのヨーク12と両導体7及び9
との間にはSiO2 等の絶縁層23を介在させる。
【0084】この構成において、磁気記録媒体5への磁
気記録に当たっては、発振器3から高周波を供給しない
状態で、記録信号源25からの記録信号に応じた電流を
ヘッド巻線24に供給し、磁気ヨークに磁束を発生さ
せ、磁気ギャップgからの記録磁界を発生させ、これの
前方に対接ないしは対向する磁気記録媒体5に磁気記録
をなす。
【0085】そして、この記録の読み出しに当たっては
発振器3によって上述の導波路を励振させる。この状態
で磁気記録媒体5からの記録磁化による漏洩磁束を磁気
ギャップgより磁気ヨーク12を構成する或いはその一
部を構成する磁性体2に与える。このようにすると磁性
体2の透磁率の変化によって上述の励振状態が変化する
ことから、前述したように導波路もしくは伝送線路の特
定位置から検出ないしは測定器6をもって例えば電圧検
波、位相検出等を行うことによって磁界検出、即ち磁気
記録媒体上の記録の読み出し、即ち再生を行う。この場
合も、マイクロストリップラインの一部を上述したよう
な分布定数共振等とすることにより感度の向上をはかる
ことができる。
【0086】更に、本発明を記録再生磁気ヘッドに適用
する場合の他の一例について説明する。この例において
は、図22A及びBにその平面図及び側面図を示すよう
に、リング共振器構成とした場合で、この場合、通常の
リング共振器における誘電体8の一部をリング状の磁気
ヨーク12によって構成する。
【0087】即ち、この場合、広面積の接地導体7が設
けられ、その一部上に誘電体8を介してストライプ状の
線路導体9が設けられてマイクロストリップライン30
が形成される。また、接地導体7の他部にその少なくと
も一部が印加磁界によって透磁率が変化する磁性体2よ
り成り、磁気ギャップgが設けられたリング状の薄膜磁
気ヨーク12(磁気コア)が設けられ、更にこれの上に
リング状の線路導体29を磁気ヨーク12のリング上に
沿って形成することによってリング共振器31を構成す
る。この場合、磁気ヨーク12が導電性を有する場合に
は、磁気ヨーク12と両導体7及び29との間にそれぞ
れ絶縁層23を介在させる。また両線路導体9及び29
は互いに分離されたパターンではあるものの互いにいわ
ば容量結合されている。
【0088】また、磁気ヨーク12にはヘッド巻線24
が巻装される。
【0089】この構成による磁気ヘッドにおいても、そ
の記録に当たってはマイクロストリップライン30及び
リング状共振器31を励振させない状態で、ヘッド巻線
24に記録信号源25から、記録信号電流を供給して磁
気ヨーク12に磁束を通じ、磁気ギャップgからの磁界
によってこれに近接対向させた磁気記録媒体5を磁化さ
せてその記録を行う。
【0090】そして、その再生に当たっては、発振器3
によってマイクロストリップライン30を介して、リン
グ状共振器31を励振させ、磁気ギャップgから導入さ
せた磁気記録媒体5上の記録に基く信号磁束による磁性
体2の透磁率変化による共振特性の変化、即ち図16〜
図19で説明した例えば共振周波数の変化、Qの変化に
基く、例えば電圧分布の変化を、特定位置、例えばマイ
クロストリップライン、或いは伝送線路8の特定位置で
検出する。
【0091】この場合、リング共振器31の大きさは、
磁気ヨーク12内に磁束が導かれたとき、磁性体2の透
磁率μがその実部μr の変化を利用するか、虚部μi
変化を利用するかで異なる。
【0092】即ち実部μr の変化を利用するときは、信
号磁束によって共振波長自体が変化するため、磁束が与
えられない状態で共振するように、その周長をL、この
ときの共振波長をλgとするとき、L=λg/2とす
る。
【0093】そして、虚部μi の変化を利用するとき
は、信号磁束により共振器のQが変化するので磁束印加
によってQが低下する場合には、図18で説明したと同
様に、信号磁束が与えられない状態のQが高い状態では
共振することがないが、磁束が与えられることによって
Q値が低下するときには共振できるように、その周長L
は共振波長λgから少しずれたL=(λg/2)+ΔL
とする。この際Lを変化させるかわりに、周波数を共振
周波数から少しずらす方法をとることもできる。
【0094】更に本発明装置において、同軸ケーブル型
構成を採ることもでき、この場合の同様に記録再生磁気
ヘッドに適用した場合の一例を図23に示す。図23は
その略線的斜視図である。
【0095】この場合、中心導体32と、その外周にこ
れと同軸心上に設けられた誘電体38及び接地導体33
とを有して成る同軸ケーブル型の分布定数回路1が構成
される。この分布定数回路1の終端は例えば短絡され
る。
【0096】この同軸ケーブル型分布定数回路1を、発
振器3によって励振させるとき、図24に破線矢印をも
って示すように半径方向の電場が生じるが、磁場に関し
ては実線矢印のように、円周方向に発生する。そこで、
この円周方向の透磁率を変化させれば、この同軸ケーブ
ル型分布定数回路の電磁場分布が変化することになる。
【0097】一方、上述の短絡型の同軸ケーブル型分布
定数回路1を発振器3によって励振させることによって
図25にその軸方向の電磁場分布を示すように、定在波
を立たせることができる。図25中実線図示は、電界分
布を、破線図示は磁界分布を示すものであるが、その電
界分布の最小位置(いわゆる節の位置)、即ち磁界分布
の最大位置(いわゆる腹の位置)に、同図及び図23、
更に図26に分布定数回路1の横断面図を示すように、
磁界によって透磁率が変化する磁性体2を配置する。
【0098】この磁性体2は、同軸ケーブル型分布定数
回路1の中心導体32と、その外周の接地導体33間
に、板面方向が中心導体32と直交するように配置され
たリング状円板をなし、1部に半径方向に切り込まれた
磁気ギャップgが形成されて成る。
【0099】この磁気ギャップgは、接地導体33の一
部に穿設された窓34を通じて外部に臨み、磁気記録媒
体5に近接対向するようになされる。
【0100】磁性体2は、前述したと同様のCoTaZ
rのリング状円板によって構成することもできるし、絶
縁基板上に薄膜CoTaZrを形成した構成とすること
もできる。
【0101】そして、磁性体2が導電性を有する場合、
図26に示すように、この磁性体2と、各導体32及び
33との間に絶縁層23を介在させる。
【0102】外周の接地導体33には、上述したよう
に、窓34を穿設するものであるが、この窓34の大き
さは、分布定数回路1の励振の電磁場の波長に比し充分
小さくできるので、この窓34の穿設に因る励振状態の
影響は無視できるものである。
【0103】この構成による磁気ヘッドによる磁気記録
媒体への記録・再生動作を説明すると、記録に際して
は、分布定数回路1を励振させない状態で、例えば中心
導体32と接地導体33間に記録信号源25からの例え
ば10MHzオーダの記録信号に応じた電流を通電し、
これによってリング状磁性体2に磁束を発生させ、その
磁気ギャップgから記録磁界を発生させ、これによっ
て、窓34を通して近接対向する磁気記録媒体5上に記
録を行う。
【0104】そして、再生に当たっては、記録信号源2
5を分布定数回路1から断ち、発振器3によって分布定
数回路1を図25で説明したように励振させ、磁気ギャ
ップgを磁気記録媒体5に近接対向させる。このように
すると、媒体5上の記録信号磁化に基く磁界が磁気ギャ
ップgから磁性体2に与えられることによって、これの
透磁率が変化することによって、分布定数回路1の円周
方向の電磁場が影響を受け、これによって、定在波比、
振幅等が変化することになる。したがって図23に示す
ように、伝送路10、分布定数回路1等の特定位置にお
いて検出器6によって例えば電圧を検波し、その電圧変
化を検出ないしは測定すれば、磁気記録媒体5上の記録
信号の読み出し、即ち再生を行うことができることにな
る。
【0105】図27は、更に本発明による分布定数回路
型磁界検出装置を磁気再生ヘッドに適用した場合の他の
一例の斜視図で、この場合、マイクロ波導波路としてコ
プレイナー導波路を用いた場合である。この場合、これ
の終端部に信号磁束の侵入により、透磁率の変化する薄
膜磁性体2を有し終端が短絡されたコプレイナー導波路
70と、マイクロ波源即ち発振器3と、検波用ダイオー
ド71と、電圧計63とからなる。
【0106】検波用ダイオード71は絶縁材によって包
み込まれて接地されたシールド用導体によって囲む。
【0107】コプレイナー導波路71は、マイクロ導波
路の一種で、誘電体8の上に、図27に示されるように
Au、Cu等の良導電体層をパターニングして線路導体
9とその両わきに接地導体7が設けられた形状となって
いる。
【0108】図28Aは、図27に示したコプレイナー
導波路70の上面図で、図28B及びC図は図27の破
線b及びCで示される部分の断面図である。
【0109】そして、この導波路70の磁性体2が設け
られた終端部の前方に記録信号の読み出しを行う磁気記
録媒体5が矢印dに示す方向に摺接ないしは対向移行す
るようになされる。
【0110】マイクロ波発振器3によりコプレイナー導
波路70内に発振器3によってマイクロ波を投入する
と、マイクロ波は短絡された終端部で反射され、その結
果、進行波と反射波の干渉により図29のように定在波
が生ずる。
【0111】その際、図28Aに示すように、線路導体
9の幅方向をW1方向、長手方向をL1方向とすると、
線路導体9の回りにはW1方向にマイクロ波の磁界が発
生するため、終端部における反射係数は薄膜磁性体2の
W1方向の透磁率に依存する。磁性体2に、W1方向が
磁化容易軸となるように磁気異方性が付与されている場
合、磁化は信号磁束の侵入にともないW1方向からL1
方向に向きを変え、それにともない、W1方向の透磁率
が変化するので、わずかな磁束により透磁率を大きく変
化させることができる。
【0112】図30は、図27に示したコプレイナー導
波路型磁気再生ヘッドをネットワークアナライザー(ヒ
ューレットパッカード製、HP8719A)に接続し、
入力インピーダンスを測定した結果を示したものであ
る。測定周波数は130MHz−5GHzである。破線
は外部から磁界印加の無い場合、実線は80A/mの外
部磁界を印加した場合である。外部磁界の印加により、
2.5GHz−4.5GHzで、入力インピーダンス
(反射係数)のかなり大きな変化が見られる。通常、磁
性体の透磁率は高周波領域で急速に減衰し、数GHz領
域においては非常に小さいと考えられているが、図30
の測定結果から、1GHz以上の高周波領域に於いて、
外部磁界の印加により、透磁率が大きく変化する周波数
範囲が存在することを示している。従って、その領域の
透磁率変化を利用することにより、使用周波数を1〜1
0GHzとすることが可能となる。
【0113】また、終端部において反射係数が変化した
結果、コプレイナー導波路70において、図31Aのよ
うに定在波の位相、あるいは図31Bのように定在波
比、あるいは、そのいずれもが変化する。この変化を、
コプレイナー導波路70内の定在波の電圧振幅の変化が
最も大きくなる定在波の節近傍の位置に図27のように
ダイオード71を設け、電圧を振幅検波することによ
り、信号磁束の変化を最大の電圧変化として検波するこ
とにより記録信号を再生することができる。
【0114】そしてこの構成に於いて、図41に示され
るように、コプレイナー導波路の終端部近傍にコイル9
2を巻き、これに通電する事により、例えば図28にお
ける磁性体2にL1方向のバイアス磁界を印加すること
ができ、前述した感度と直線性にすぐれた動作を行うこ
とができる。また、磁性体2に、L1方向が磁気容易軸
となるように磁気異方性が付与されている場合、線路導
体9および接地導体7間に所要の直流バイアス電流を印
加すれば、磁性体2に配置された線路導体9のL1方向
の通電によってこれと直交するバイアス磁界を磁性体2
の幅方向W1に印加することができ、やはり感度と直線
性にすぐれた動作を行うことができる。
【0115】しかしながら、このように、マイクロ波導
波路としてコプレイナー導波路70を用いた場合には、
薄膜磁性体2が媒体からの信号磁束を最も強く受ける導
波路70の終端において、線路導体9と接地導体7との
短絡部における線路では2方向に分岐していることか
ら、此処では、マイクロ波の磁界成分が線路導体9の幅
方向に一様に向かなくなる。その結果、信号磁束の侵入
により薄膜磁性体2の幅方向の透磁率が変化した際の導
波路70の特性インピーダンスの変化が小さくなってし
まう。従って、媒体5からの信号の記録波長が小さくな
るにつれて、薄膜磁性体2に信号磁束が到達する距離が
短くなり、到達距離が短絡線路幅程度以下になると急速
に感度が下がることになる。従って、短絡線路幅は記録
波長以下にする必要があるが、あまり小さくすると、電
気抵抗が大きくなり、損失が増加し、感度が下がること
になる。
【0116】このような問題は図32に示すようにコプ
レイナー導波路70の短絡線路部79に上述の磁性体2
を設けることにより解決できる。この場合、図32の短
絡線路部79の回りでは短絡線路79の幅方向、つまり
L1方向に磁界が発生するため、反射係数は磁性体2の
幅方向の透磁率に依存する。この状態で磁性薄膜の透磁
率が媒体からの信号磁束の侵入により変化すると、終端
部における反射係数が変化する。このとき、磁性体2
に、W1方向が磁化容易軸となるように磁気異方性が付
与されている場合、磁化は信号磁束の侵入にともないW
1方向からL1方向に向きを変え、L1方向の透磁率が
効果的に変化することになる。そして、この場合、線路
導体9を挟んで両側の接地導体7間したがって短絡線路
79に直流バイアス電流を通電することによって磁性体
2にその幅方向(W1 と直交する方向)に所要のバイア
ス磁界を印加するようにして前述したようにすぐれた感
度と直線性を得る状態に設定することができる。
【0117】上述したように、短絡線路部79に磁性体
2を配置する場合には、マイクロ波導波路として図33
のような、終端を短絡したコプレイナー線路90を用い
ることができる。図33Aはコプレイナー線路90の平
面図、図33B及びCは図33AのB−B線上、C−C
線上の断面図を示す。この場合、図33に示されるよう
に、良導電体からなる2本の線路導体を特定の間隔を隔
ててパターニングしたもので一方の線路が接地導体7と
なっている。この場合は短絡線路部79の幅方向(L2
方向)に磁界が発生するため、反射係数は磁性体2のL
2方向の透磁率に依存するため、W2方向が磁化容易軸
となるように磁気異方性を付与すれば、磁化は信号磁束
の侵入にともないW2方向からL2方向に向きを変えL
2方向の透磁率が変化することになる。そして、この場
合は、線路導体9及び接地導体7間したがって短絡線路
部79に所要の直流バイアス電流を通電することによっ
て磁性体2にその幅方向L2 にバイアス磁界を与えるよ
うにすることができる。
【0118】そして、例えば図27で示したコプレイナ
ーマイクロ波導波型磁気再生ヘッドを実際に作製するに
は、図34に示されるように、例えば導波路70を感磁
部701と検波部702に分けて作製する。
【0119】感磁部701の作製は、以下のようにして
行った。この場合、図27の誘電体8としては、ガラス
基板を用いた。その上にCo75Ta11Zr14アモルファ
ス磁性薄膜を、厚さD1=0.5μmにスパッタリング
して形成し、300℃、80×103 A/mの磁場中で
熱処理を行い、HK =160A/m程度の磁気異方性を
付与した。そして、これをフォトプロセス即ちフォトリ
ソグラフィを用いて容易軸が幅方向に来るように幅30
μm、長さ100μmにパターニングして形成した。次
に、この上に、コプレイナー導波路70を形成するため
に、全面にまずCrを50nm程度の厚さにスパッタリ
ングし、その上からAuを厚さ1μmにスパッタリング
する。Cr膜の形成は、誘電体3としてのガラス基板と
Auの接着を良くするためのものである。次にそれをフ
ォトプロセスにより図34に拡大平面図を示すように、
線路導体9の終端部下に磁性体2がくるようにし、線路
導体9の幅30μm、線路導体9と接地導体7との間隔
10μm、接地導体7の幅5mm、短絡線路9の幅30
μm、導波路長15mmに形成した。さらに、その上に
ガラス基板(誘電体3)を接着した。その際、導波路7
0の入力端付近はワイヤーボンディングに必要な部分を
ガラス基板で覆われないように残しておく。これを、ダ
イヤモンドカッターにより、導波路パターンにそって切
断する。次に、その終端部を図35に更に拡大して示す
ように、磁気記録媒体に接触対向させ磁気再生を行う際
に、磁性薄膜の先端部がなめらかに磁気記録媒体に接触
するように、終端部のガラスを研磨用フィルムにより研
磨し感磁部701を作製する。
【0120】つぎに検波部702として、ガラス基板3
上にCrを50nmの厚さにスパッタリングし、その上
からAuを1μmの厚さにスパッタリングし、フォトプ
ロセスにより図34に示すように、線路導体9の幅1m
m、線路導体9と接地導体7との間隔0.33mm、導
波路長20mmに成形した。この際、線路導体9の幅と
線路導体9及び接地導体7との間隔の比は感磁部701
におけると等しく、特性インピーダンスを等しくする。
そしてこの導波路を導波路パターンにそってガラス基体
3をダイヤモンドカッターで切断する。さらに、図36
に示すように接地導体7に、検波用のショットキーダイ
オード71の一方の端子を導電性のペーストもしくはハ
ンダ等によりとりつける。そのとき、ショットキーダイ
オード71に図36の様に絶縁性のフィルム等の絶縁層
80を巻き、その上から例えば導電性のフィルムを巻き
つけて成るシールド用導体72によって包み込みこれを
接地する。このようにしてダイオード71への電磁波の
飛び込みを遮断しノイズの発生を防ぐ。
【0121】ダイオード71を線路導体9に接続する位
置は、投入されるマイクロ波の周波数に依存し、定在波
の節の近傍となるようにする。
【0122】さらに、図34に示すように、同軸コネク
ター81,82を取付ける。同軸コネクター82の外部
接地導体はコプレイナー導波路70の接地導体7と接続
され、中心導体はダイオード71のもう一方の端子に接
続される。このようにして、検波部702が作製され
る。
【0123】このようにして作製された感磁部701と
検波部702とを、適当な治具に固定し、図34に示す
ように両者の中心部の線路導体9間をワイヤーボンディ
ング83で接続し、両者の両側の接地導体7間を導電性
ペーストもしくはハンダ等の導電材84で接続する。
【0124】尚、上述したように、ワイヤーボンディン
グ83により感磁部701と検波部702とを接続する
代わりに、感磁部701のコプレイナー導波路70とし
て、図37に示すように、線路導体9の幅と、線路導体
9と接地導体7の間隔の比を一定にし、特性インピーダ
ンスを一定に保ちながら、次第に線路導体9の幅と、線
路導体9と接地導体7の間隔を大きくして検波部のそれ
らと同じにする、いわゆるテーパー線路を用いることも
できる。これにより、ワイヤーボンディングによる損失
を避けることができる。。
【0125】上述のコプレイナー導波路に対する作製法
は、コプレイナー線路90に対しても同様である。テー
パー線路を用いる場合には、図38のように線路導体9
および接地導体7の幅とそれらの間隔の比を一定に保
つ。
【0126】上述の図30は、図34及び図35に示し
たコプレイナー導波路70の同軸コネクター82をネッ
トワークアナライザー(ヒューレットパッカード製、H
P8719A)に接続して入力インピーダンスを測定し
たものである。外部磁界Hexの印加による反射係数、即
ち薄膜磁性体2の透磁率が変化する周波数は、磁性体2
の磁気特性および磁性材料により異なるため、使用する
マイクロ波の周波数をそれらに応じて選ぶ必要がある。
【0127】図39は、図34及び図35の同軸コネク
ター81に同軸ケーブルを通してマイクロ波源の発振器
3を接続し、導波路に周波数3.6GHz程度のマイク
ロ波を投入した状態で、検波ダイオード71により検波
されたコネクター82における出力電圧の磁界依存性を
示す。100A/m程度の磁界印加により30mV程度
の出力電圧の変化があった。
【0128】そして、磁気テープ即ち磁気記録媒体5に
記録された信号の再生を、図40に示される方法で行っ
た。まず通常のリング型インダクティブ磁気ヘッドを用
いて0.1MHzの正弦波型信号をVTR用磁気記録媒
体5(磁気テープ)に記録した。図39の測定の際と同
じく、導波路に発振器3よりの周波数3.6GHzマイ
クロ波を投入する。この際、図39において、出力電圧
の磁界による変化率、dV/dH、が最大になる所に対
応する磁界(〜30A/m)を、バイアス磁界として終
端部の薄膜磁性体2に印加する。バイアス磁界の印加
は、図41にこの再生ヘッドの終端近傍を拡大して示す
ようにコイル92を巻きこれにバイアス電源93によっ
て電流を流すことにより、あるいは、永久磁石を近接配
置させることにより行う。この際、コプレイナー導波路
を用い、磁性体を図32で説明したような配置とした場
合、あるいは図34のようなコプレイナー線路を用いた
場合には、前述したように、それぞれコプレイナー導波
路、コプレイナー線路に直流電流を流すことにより、磁
性体にバイアス磁界を印加することができる。その状態
でヘッドの終端の磁性体2を、VTR用磁気テープに接
触対向させ、ダイオード71により検波された電圧をオ
シロスコープ94により検出した。その結果を図42に
示す。これをみて明らかなように、その出力電圧は20
mVp−pとなって通常のインダクティブ型ヘッド及び
MRヘッドに比較して二桁程度大きな再生出力が得られ
た。図40において、95は磁気記録媒体5即ちこの例
では磁気テープの案内ドラム、96はその回転駆動モー
タを示す。
【0129】尚、本発明による磁界検出装置は、上述の
図示の各例に限らず、その使用目的、使用態様に応じて
変形変更を行うことができる。例えば前述の共振器構成
において、これをフィルタ構成としてマイクロ波の透過
係数測定によって磁界検出を行うこともできる。
【0130】また、本発明は、再生磁気ヘッドに限ら
ず、他のいわゆる磁気センサとして各種用途に適用する
こともできる。
【0131】
【発明の効果】上述したように、本発明装置によれば、
各種分布定数回路1に磁性体2を設けてこれの被検出磁
界による透磁率μの変化による定在波、進行波等の変化
を利用して、伝送路、分布定数回路等の所定位置での電
圧、位相等を検出するようにしたので、その検出を高感
度に行うことができる。
【0132】そして、本発明装置を磁気記録媒体からの
記録情報に基く信号磁界を読み出す再生磁気ヘッドに適
用するときは、MR磁気ヘッドと同様に磁気記録媒体と
の相対速度に係わりなく、MR磁気ヘッドより高感度に
再生を行うことができる。
【0133】また、分布定数回路型、即ちマイクロ波導
波路型構成としたことによって、そのいわばキャリア周
波数は、数100MHz、或いはGHzオーダにも高め
ることができることから、磁気記録媒体上の記録信号周
波数も高周波数とすることができるので、磁気記録媒体
との相対速度に依存しないことと相俟って、より高密度
記録化をはかることができる。
【0134】つまり、本発明における磁気再生ヘッドは
磁束感応型であり、ヘッドと磁気記録媒体との相対速度
に依存しないため、インダクティブ型磁気ヘッドと比較
し、高記録密度化にともなう再生出力の低下が小さい。
さらに、同じ磁束感応型のMRヘッドと比較した場合、
磁性体2に直接電流を流す必要がないため、大きな電力
を投入することが可能であり、従ってMRヘッドと比較
して大きな再生出力を得ることが可能である。さらに、
本発明に於いては、磁性体2には高周波磁界が常時印加
されているため、信号磁束による磁性薄膜の磁区の移動
がスムーズになるため、バルクハウゼンノイズが発生し
にくくなり、S/Nの向上が期待できる。
【0135】また、外部磁界によるコイルの共振特性の
変化を利用した磁気再生ヘッドと比較した場合、本発明
の構成では、磁性体2の、より高周波領域(数GHz領
域)における透磁率の変化を利用し、分布定数回路的な
取扱いをしているため、以下のような利点がある。 (1) 分布定数回路に於いては、透磁率のわずかな変
化により、内部に励振された電磁波(マイクロ波)の空
間的な分布が大きく変化するため、大きな電圧変化が得
られる。 (2) 高周波において定量的に正確な設計が可能とな
り、輻射損等の損失を低減し、信号磁束による透磁率変
化を効率よく電圧変化に変換することが可能となる。 (3) 定在波の変化を検出する方法によりマイクロ波
の振幅の変化だけでなく位相の変化も同時に電圧変化と
して検出でき、感度を飛躍的に向上させることが可能と
なる。 (4) 周波数が高いと波長はそれに反比例して小さく
なり、マイクロ波のより大きな位相部分が透磁率変化の
影響を受けることとなり、感度が増す。 (5) キャリヤ周波数を高くすることが出来、媒体か
らの信号磁束はキャリヤに対する変調となるので、より
高い周波数の信号を再生することが可能となる。
【0136】従って、本発明は、より高感度で、よりす
ぐれた高周波特性を有した磁気再生即ち磁界検出を可能
とし、磁気再生ヘッドにおいては磁気記録の高密度化、
高周波化の実現に極めて有効なものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による分布定数回路型磁界検出装置の一
例の構成図及び電圧分布図である。
【図2】本発明装置の一例の動作の説明に供する定在波
の説明図である。
【図3】本発明装置の一例の構成図である。
【図4】ネットワークアナライザによる分布定数回路の
反射係数測定の構成図である。
【図5】ネットワークアナライザによる分布定数回路の
透過係数の測定の構成図である。
【図6】本発明装置の他の一例の構成図である。
【図7】本発明装置の他の一例の縦断面及び斜視図であ
る。
【図8】外部磁界(被検出磁界)と検出電圧の関係を示
す図である。
【図9】ネットワークアナライザによる測定結果を示す
図である。
【図10】本発明装置の他の例の構成図である。
【図11】マイクロ波ストリップラインの作製方法の説
明図である。
【図12】マイクロ波ストリップラインの磁界・電界分
布図である。
【図13】検出電圧−磁界特性曲線図である。
【図14】本発明装置の他の一例の構成図である。
【図15】本発明装置の他の一例の構成図である。
【図16】本発明装置の他の一例の構成図である。
【図17】分布定数共振器を含む分布定数回路の共振状
態の説明図である。
【図18】共振器のQと外部磁界の関係を示す図であ
る。
【図19】分布定数共振器を含む分布定数回路の共振状
態の説明図である。
【図20】本発明装置の一例の側面図及び平面図であ
る。
【図21】本発明装置の一例の平面図である。
【図22】本発明装置の一例の平面図及び側面図であ
る。
【図23】本発明装置の一例の斜視図である。
【図24】分布定数回路の電磁場分布を示す図である。
【図25】図23の構成の分布定数回路の軸方向電磁分
布図である。
【図26】図23の分布定数回路の横断面図である。
【図27】本発明装置の一例の斜視図である。
【図28】図27で示した本発明装置におけるコプレイ
ナー導波路の平面図及び断面図である。
【図29】電圧分布図である。
【図30】ネットワークアナライザによる入力インピー
ダンスの測定結果を示す図である。
【図31】電圧分布図である。
【図32】本発明装置の一例におけるコプレイナー導波
路の要部の平面図である。
【図33】本発明装置の一例におけるコプレイナー線路
の要部の平面図とそのB−B線上及びC−C線上の断面
図である。
【図34】本発明装置の一例の平面図である。
【図35】図34の要部を更に拡大した平面図である。
【図36】図34に示した本発明装置の要部の構成図で
ある。
【図37】本発明装置におけるコプレイナー導波路の平
面図である。
【図38】本発明装置におけるコプレイナー線路の平面
図である。
【図39】本発明装置の一例の出力特性の磁界依存性を
示す図である。
【図40】出力特性測定の態様図である。
【図41】本発明装置の再生磁気ヘッドの一例の終端部
の平面図である。
【図42】出力測定のオシログラフ図である。
【符号の説明】
1 分布定数回路 2 磁性体 3 発振器 5 磁気記録媒体 6 検出ないしは測定器 7 接地導体 8 誘電体 9 線路導体
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H01P 11/00 G (72)発明者 早川 正俊 東京都品川区北品川6丁目5番6号 ソニ ー・マグネ・プロダクツ株式会社内

Claims (11)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 電磁波が励振された分布定数回路の内部
    の磁界発生部位に、 印加磁界変化により透磁率が変化する磁性体を配置し、 被検出磁界を上記磁性体に与えてこれの透磁率変化によ
    る上記分布定数回路内の電磁場分布の変化を検出して上
    記被検出磁界の検出を行うことを特徴とする分布定数回
    路型磁界検出装置。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載の分布定数回路型磁界検
    出装置において、 前記磁性体を含む分布定数回路の終端をインピーダンス
    不整合状態として定在波を生じさせ、 被検出磁界を印加しない状態での上記定在波電圧のほぼ
    最小位置で上記被検出磁界の変化による前記定在波電圧
    を振幅検波して上記被検出磁界の検出測定を行うことを
    特徴とする分布定数回路型磁界検出装置。
  3. 【請求項3】 請求項1に記載の分布定数回路型磁界検
    出装置において、 分布定数回路の少くとも一部を分布定数共振器によって
    構成し、 該分布定数共振器内の磁界発生部位に、前記磁性体を配
    置して被検出磁界による前記磁性体の透磁率変化による
    前記共振器の共振特性の変化を検出して、上記被検出磁
    界の検出ないしは測定を行うことを特徴とする分布定数
    回路型磁界検出装置。
  4. 【請求項4】 請求項1に記載の分布定数回路型磁界検
    出装置において、 印加磁界変化により透磁率が変化する磁性体に、被検出
    磁界を導く磁気ヨークを設けて上記磁性体を含む磁気回
    路を構成することを特徴とする分布定数回路型磁界検出
    装置。
  5. 【請求項5】 請求項1に記載の分布定数回路型磁界検
    出装置において、 終端部近傍に外部磁界の印加により透磁率が変化する磁
    性体を配置し、かつ終端部を短絡することを特徴とする
    分布定数回路型磁界検出装置。
  6. 【請求項6】 コプレイナー導波路の終端部に被検出磁
    界により透磁率の変化する磁性体を設け、その透磁率の
    変化にともなう上記終端部の反射係数の変化を検出する
    ことを特徴とする分布定数回路型磁界検出装置。
  7. 【請求項7】 コプレイナー線路の終端部に、被検出磁
    界により透磁率の変化する磁性体を設け、その透磁率の
    変化にともなう上記終端部の反射係数の変化を検出する
    ことを特徴とする分布定数回路型磁界検出装置。
  8. 【請求項8】 周波数1GHz−10GHzにおける磁
    性体の透磁率変化を利用することを特徴とする請求項6
    または請求項7に記載の分布定数回路型磁界検出装置。
  9. 【請求項9】 線路幅と線路間隔を一定に保ちながら線
    路幅が次第に増加する部分を有するコプレイナー導波路
    またはコプレイナー線路を用いることを特徴とする請求
    項6または請求項7に記載の分布定数回路型磁界検出装
    置。
  10. 【請求項10】 コプレイナー導波路またはコプレイナ
    ー線路の上面を誘電体でおおうことを特徴とする請求項
    6または請求項7に記載の分布定数回路型磁界検出装
    置。
  11. 【請求項11】 請求項6または請求項7に記載の分布
    定数回路型磁界検出装置において、 コプレイナー導波路またはコプレイナー線路に直流電流
    を流すことにより、上記磁性体にバイアス磁界を印加す
    ることを特徴とする分布定数回路型磁界検出装置。
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DE (1) DE69226104T2 (ja)

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008215908A (ja) * 2007-03-01 2008-09-18 Tohoku Univ 平行平板型透磁率測定装置及び透磁率測定方法
KR101616114B1 (ko) * 2015-01-09 2016-04-27 서울대학교산학협력단 원 포트 탐침을 이용한 투자율 및 유전율 측정 장치 및 방법
US10355607B2 (en) 2014-08-25 2019-07-16 Kyosan Electric Mfg. Co., Ltd. Regeneration circulator, high-frequency power supply device, and high-frequency power regeneration method
WO2020071511A1 (ja) * 2018-10-05 2020-04-09 横河電機株式会社 磁気検出装置、伝送線路及び磁気検出方法
JP2020060565A (ja) * 2018-10-05 2020-04-16 横河電機株式会社 磁気検出装置、伝送線路及び磁気検出方法
JP2021009049A (ja) * 2019-06-28 2021-01-28 公益財団法人電磁材料研究所 磁気センサおよび磁気センサモジュール
JP2021035469A (ja) * 2019-08-30 2021-03-04 公益財団法人電磁材料研究所 生体情報計測システム
EP3889627A1 (en) 2020-03-31 2021-10-06 Yokogawa Electric Corporation Magnetism detection device and magnetism detection method

Families Citing this family (31)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0640840B1 (en) * 1993-08-25 2002-10-30 Nippon Telegraph And Telephone Corporation Magnetic field sensing method and apparatus
JP3267046B2 (ja) 1994-04-21 2002-03-18 株式会社日立製作所 磁気記憶装置
JP3360519B2 (ja) * 1995-03-17 2002-12-24 株式会社豊田中央研究所 積層型磁界検出装置
US5889403A (en) * 1995-03-31 1999-03-30 Canon Denshi Kabushiki Kaisha Magnetic detecting element utilizing magnetic impedance effect
DE19532780A1 (de) * 1995-09-06 1997-03-13 Pates Tech Patentverwertung Dielektrischer Wellenleiter
JPH09320224A (ja) * 1996-06-04 1997-12-12 Matsushita Electric Ind Co Ltd 磁気ヘッドユニット、その製造方法並びに磁気記録再生装置
US6069475A (en) * 1996-09-17 2000-05-30 Tokin Corporation Magnetic sensor utilizing impedance variation of a soft magnetic element in dependence upon a magnetic field strength and a method of manufacturing the same
KR100481497B1 (ko) * 1996-09-17 2005-05-16 엔이씨 도낀 가부시끼가이샤 자계세기에따른연성자기엘리먼트의임피던스변화를이용하는자기센서및그제조방법
JP3600415B2 (ja) * 1997-07-15 2004-12-15 株式会社東芝 分布定数素子
US5920538A (en) * 1998-06-11 1999-07-06 Tandberg Data Asa Magneto-optical readout method and magneto-optical readout head and method for making same
US6344743B1 (en) * 1999-03-05 2002-02-05 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Standing wave magnetometer
JP2002208213A (ja) * 2001-01-04 2002-07-26 Internatl Business Mach Corp <Ibm> 回転記録装置、回転記録装置の制御方法、制御装置および制御方法
JP2005526339A (ja) * 2001-08-21 2005-09-02 シーゲイト テクノロジー エルエルシー 空間ポンプド・スピン波モード・ライターを含む磁気記録ヘッド
US6853186B2 (en) * 2002-01-15 2005-02-08 National University Of Singapore Variable permeability magnetic field sensor and method
US7196514B2 (en) * 2002-01-15 2007-03-27 National University Of Singapore Multi-conductive ferromagnetic core, variable permeability field sensor and method
EP1652290A2 (en) 2003-07-23 2006-05-03 President And Fellows Of Harvard College Methods and apparatus based on coplanar striplines
JP4286711B2 (ja) * 2004-04-30 2009-07-01 富士通株式会社 記録ヘッドの磁界を計測する装置および方法
US8175702B2 (en) * 2004-11-04 2012-05-08 The Washington University Method for low-voltage termination of cardiac arrhythmias by effectively unpinning anatomical reentries
JP2007218656A (ja) * 2006-02-15 2007-08-30 Fujitsu Ltd 磁気ヘッドの試験装置および試験方法
CA2673971C (en) 2006-11-13 2016-07-19 Washington University Of St. Louis Cardiac pacing using the inferior nodal extension
US8509889B2 (en) * 2007-12-11 2013-08-13 Washington University Method and device for low-energy termination of atrial tachyarrhythmias
US8874208B2 (en) 2007-12-11 2014-10-28 The Washington University Methods and devices for three-stage ventricular therapy
US8560066B2 (en) 2007-12-11 2013-10-15 Washington University Method and device for three-stage atrial cardioversion therapy
DE102008063528A1 (de) * 2008-12-18 2010-06-24 Micro-Epsilon Messtechnik Gmbh & Co. Kg Sensoranordnung und Verfahren zur Bestimmung der Position und/oder Positionsänderung eines Messobjekts
US9069034B2 (en) * 2010-06-30 2015-06-30 University Of Manitoba Spintronic phase comparator permitting direct phase probing and mapping of electromagnetic signals
US8473051B1 (en) 2010-12-29 2013-06-25 Cardialen, Inc. Low-energy atrial cardioversion therapy with controllable pulse-shaped waveforms
US10905884B2 (en) 2012-07-20 2021-02-02 Cardialen, Inc. Multi-stage atrial cardioversion therapy leads
US8868178B2 (en) 2012-12-11 2014-10-21 Galvani, Ltd. Arrhythmia electrotherapy device and method with provisions for mitigating patient discomfort
WO2016025009A1 (en) * 2014-08-15 2016-02-18 Halliburton Energy Services, Inc. Metamaterial-based electromagnetic field measurement device
US10761154B2 (en) * 2018-01-19 2020-09-01 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Ferromagnetic resonance (FMR) electrical testing apparatus for spintronic devices
CN109781831A (zh) * 2019-03-08 2019-05-21 苏州科技大学 一种测量软磁薄膜高频磁导率的方法

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2597149A (en) * 1948-08-05 1952-05-20 Onera (Off Nat Aerospatiale) Ultrahigh-frequency magnetometer
US2844789A (en) * 1953-08-19 1958-07-22 Philip J Allen Microwave magnetic detectors
BE534739A (ja) * 1954-01-14
US2952503A (en) * 1955-06-13 1960-09-13 Trionics Corp Method and apparatus for magnetic recording and reproducing
US2972105A (en) * 1959-05-11 1961-02-14 Space Technology Lab Inc Magnetic field responsive apparatus
US3387100A (en) * 1964-07-30 1968-06-04 Navy Usa Means of recording and reading microwave energy
NL6612895A (ja) * 1965-09-27 1967-03-28
US3693072A (en) * 1967-08-25 1972-09-19 Us Navy Ferromagnetic resonance magnetometer
US3629520A (en) * 1969-12-11 1971-12-21 Us Navy Readout and recording method and apparatus
SU684467A1 (ru) * 1977-10-11 1979-09-05 Предприятие П/Я Г-4126 Устройство дл измерени комплексных параметров материалов
JPS5736407A (en) * 1980-08-13 1982-02-27 Toshiba Corp Magnetic reproducer
US4530016A (en) * 1982-07-16 1985-07-16 Tokyo Shibaura Denki Kabushiki Kaisha Magnetic recording and reproducing apparatus
JPS5960705A (ja) * 1982-09-30 1984-04-06 Toshiba Corp 磁気記録再生方式
JPS59160848A (ja) * 1983-03-02 1984-09-11 Tdk Corp 磁界センサ
US4635152A (en) * 1983-07-29 1987-01-06 Kabushiki Kaisha Toshiba Magnetic resonance-type playback apparatus including a magnetic material having magnetic anisotropy
JPS62132159A (ja) * 1985-12-04 1987-06-15 Nec Corp トリプレ−ト型共振器
US4906607A (en) * 1988-04-06 1990-03-06 Drexel University Sensor and method for indicating the presence of a low magnetic field using high critical temperature superconductor ceramic material to absorb electromagnetic energy
DE3931441A1 (de) * 1989-09-21 1991-04-04 Forschungszentrum Juelich Gmbh Sensor zum messen von magnetischem fluss

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008215908A (ja) * 2007-03-01 2008-09-18 Tohoku Univ 平行平板型透磁率測定装置及び透磁率測定方法
US10355607B2 (en) 2014-08-25 2019-07-16 Kyosan Electric Mfg. Co., Ltd. Regeneration circulator, high-frequency power supply device, and high-frequency power regeneration method
KR101616114B1 (ko) * 2015-01-09 2016-04-27 서울대학교산학협력단 원 포트 탐침을 이용한 투자율 및 유전율 측정 장치 및 방법
WO2020071511A1 (ja) * 2018-10-05 2020-04-09 横河電機株式会社 磁気検出装置、伝送線路及び磁気検出方法
JP2020060565A (ja) * 2018-10-05 2020-04-16 横河電機株式会社 磁気検出装置、伝送線路及び磁気検出方法
KR20210055067A (ko) 2018-10-05 2021-05-14 요코가와 덴키 가부시키가이샤 자기 검출 장치, 전송 선로 및 자기 검출 방법
CN112805579A (zh) * 2018-10-05 2021-05-14 横河电机株式会社 磁检测装置、传输线路以及磁检测方法
US11959981B2 (en) 2018-10-05 2024-04-16 Yokogawa Electric Corporation Magnetic detector, transmission line and magnetic detection method
JP2021009049A (ja) * 2019-06-28 2021-01-28 公益財団法人電磁材料研究所 磁気センサおよび磁気センサモジュール
JP2021035469A (ja) * 2019-08-30 2021-03-04 公益財団法人電磁材料研究所 生体情報計測システム
EP3889627A1 (en) 2020-03-31 2021-10-06 Yokogawa Electric Corporation Magnetism detection device and magnetism detection method
US11486943B2 (en) 2020-03-31 2022-11-01 Yokogawa Electric Corporation Magnetism detection device and magnetism detection method

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