JP4286711B2 - 記録ヘッドの磁界を計測する装置および方法 - Google Patents

Description

本発明は、磁気ディスク装置のように磁気記録方式を採用する記憶装置の開発・製造に係り、記録ヘッドの磁界を計測する装置および方法に関する。

磁気ディスク装置における記録の高密度化にともない、磁気記録媒体の所定のトラック幅内に切れの良い磁化反転状態を形成できる狭コア幅の記録ヘッドを開発することが課題となっている。

記録ヘッドは、コイルを流れる電流によって発生した磁力線を上部磁極と下部磁極の間のライトギャップ部から自由空間に導出し、ライトギャップ部に対向する磁気記録媒体上の磁性膜との間の磁気的相互作用により、媒体上に磁化反転状態を形成することを目的とする。したがって、ライトギャップ部のみから磁力線が出ることが理想的である。

しかし、現実の磁極材料においては透磁率が無限大ではないので、ライトギャップ部以外に磁極部からの磁力線の漏洩は避けられない。特に、ライトギャップ部より後の時間に媒体上を通過するトレーリングエッジ部（上部磁極）はライトギャップ部の７〜１０倍の寸法を有するため、トラックの中心線に対してスキュー角を付けて記録ヘッドを使用した場合、漏洩磁界（いわゆる裾引き磁界）により隣接トラックのデータをイレーズしてしまうという問題がある。

そこで、高密度記録に供する記録ヘッドを開発するため、ヘッド近傍の磁界分布を簡便に、かつ、非破壊で計測する方法の開発が求められている。これに対して、従来は、電磁界解析ソフトウェアを用いたシミュレーションによりヘッド磁界を推定していたが、近年になって、以下のような計測方法が確立されつつある。
（１）透過型電子顕微鏡と画像処理によるヘッド磁界の可視化技術（例えば、非特許文献１参照）
（２）ホログラフィー電子顕微鏡を用いたヘッド磁界の空間分布可視化技術（例えば、特許文献１参照）
また、記録ヘッドの高精度な位置決めを行うためのサーボ機能付きスピンスタンドも知られている（例えば、特許文献２参照）。
"磁気ヘッドの記録磁界をナノメートルスケールで可視化"、［online］、株式会社日立製作所ニュースリリース、［平成１６年４月１２日検索］、インターネット＜ＵＲＬ：http://www.hitachi.co.jp/New/cnews/2002/0624a/0624a.pdf ＞ 特開２００３−２４８９１０号公報 米国特許第６０２３１４５号明細書

しかしながら、従来の電子顕微鏡を用いた計測方法は、いずれも高価な計測設備を必要とし、かつ、破壊検査であるという問題点を持っている。破壊検査の場合、計測に用いた磁気ヘッドを実際の磁気ディスク装置に装着して電磁変換特性を評価することはできず、計測された漏洩磁界分布と電磁変換特性の対応付け等が困難であった。

本発明の課題は、高価な計測設備を用いることなく、簡便に、かつ、非破壊で記録ヘッドの漏洩磁界を計測する装置および方法を提供することである。

図１は、本発明の計測装置の原理図である。本発明の第１の局面において、計測装置は、記録ヘッド駆動手段１０１、再生ヘッド駆動手段１０２、第１の格納手段１０３、第２の格納手段１０４、および磁界計算手段１０５を備え、記録ヘッド１１２の漏洩磁界を計測する。

記録ヘッド駆動手段１０１は、記録電流により記録ヘッド１１２を駆動して、記録媒体１１１の少なくとも１つの特定トラック上に参照パターンの磁化状態を記録した後、減磁電流により記録ヘッド１１２を駆動して減磁用パターンの漏洩磁界を生成し、漏洩磁界により参照パターンの磁化状態を減磁する。再生ヘッド駆動手段１０２は、再生ヘッド１１３を駆動して、少なくとも１つの特定トラックから減磁前の参照パターンの再生出力と減磁後の参照パターンの再生出力を生成する。

第１の格納手段１０３は、減磁前の参照パターンの再生出力をトラック位置情報とともに格納し、第２の格納手段１０４は、減磁後の参照パターンの再生出力をトラック位置情報とともに格納する。磁界計算手段１０５は、減磁前の参照パターンの再生出力と減磁後の参照パターンの再生出力の差分を計算し、得られた差分から記録ヘッド１１２の漏洩磁界を求める。

記録ヘッド駆動手段１０１により、特定トラック上で記録媒体１１１の走行方向に１次元の参照パターンを記録しておけば、再生ヘッド駆動手段１０２は、その参照パターンを順番に読み出して時系列の再生出力を生成する。磁界計算手段１０５は、各時刻における減磁前の参照パターンの再生出力と減磁後の参照パターンの再生出力の差分を計算して、減磁用パターンの漏洩磁界による再生出力の減衰量を求める。時系列の減衰量を順番に並べれば、記録媒体１１１の走行方向における漏洩磁界の１次元分布を生成することができる。

本発明の第２の局面において、第１の局面の計測装置は、磁界分布生成手段１０６をさらに備える。記録ヘッド駆動手段１０１は、ディスク形状の記録媒体１１１の少なくとも１つの特定トラック上に参照パターンの磁化状態を記録する。

再生ヘッド駆動手段１０２は、再生ヘッド１１３を特定トラック上に合わせた基準位置と、再生ヘッド１１３を記録媒体１１１の半径方向にオフトラックさせた複数のオフセット位置のそれぞれにおいて、記録媒体１１１の回転方向における減磁前の参照パターンの再生出力を生成し、得られた各再生出力を各トラック位置情報とともに第１の格納手段１０３に格納する。また、再生ヘッド駆動手段１０２は、基準位置と複数のオフセット位置のそれぞれにおいて、回転方向における減磁後の参照パターンの再生出力を生成し、得られた各再生出力を各トラック位置情報とともに第２の格納手段１０４に格納する。

磁界計算手段１０５は、基準位置と複数のオフセット位置のそれぞれにおいて、減磁前の参照パターンの再生出力と減磁後の参照パターンの再生出力の差分を計算し、得られた差分から漏洩磁界の磁界強度を計算する。磁界分布生成手段１０６は、基準位置と複数のオフセット位置のそれぞれにおける回転方向の磁界強度の変化から、記録媒体１１１上における漏洩磁界の２次元分布を生成する。

ディスク形状の記録媒体１１１において、特定トラック上のみならず、再生ヘッド１１３を半径方向にオフトラックさせた位置においても、参照パターンの読み出しを行うことで、記録媒体１１１の回転方向および半径方向における漏洩磁界の２次元分布を生成することができる。

本発明の第３の局面において、第２の局面の計測装置は、基準位置と複数のオフセット位置のそれぞれにおいて再生ヘッド１１３の位置の微調整を行うサーボ制御手段１０７をさらに備える。

サーボ制御手段１０７を設けることで、再生ヘッド１１３の高精度な位置決めが可能になる。
記録ヘッド駆動手段１０１は、例えば、後述する図３の記録系プリアンプ３０３、スイッチ３０５、および記録ヘッド駆動部３０６に対応し、再生ヘッド駆動手段１０２は、例えば、図３の再生系プリアンプ３０４および再生ヘッド駆動部３０９に対応する。第１の格納手段１０３および第２の格納手段１０４は、例えば、図３のメモリ３１４および３１５にそれぞれ対応し、磁界計算手段１０５は、例えば、図３の復調部３１６、出力減衰量算出部３１７、および変換部３１８に対応する。磁界分布生成手段１０６は、例えば、図３のＣＰＵ（中央処理装置）３２０およびメモリ３２３に対応し、サーボ制御手段１０７は、例えば、図３の磁気ヘッド微動部３０７およびサーボ制御部３０８に対応する。

本発明によれば、ヘッド・媒体開発に通常用いている設備に簡単な改造を施すだけで、記録ヘッドの漏洩磁界の１次元分布、２次元分布、もしくは３次元分布を簡便に、かつ、非破壊で計測することができる。

一般には、漏洩磁界の強度はライトギャップ部の中心磁界よりも小さく、概ね中心磁界の強度の１／３〜１／４程度である。したがって、減磁用パターンに適用するライト電流を、磁気ディスク装置における通常のライト電流と同じ程度に設定しても、漏洩磁界によって参照パターンを完全に消磁することはない。すなわち、本発明の計測方法によれば、磁気ディスク装置における通常の使用状態における記録ヘッドの漏洩磁界を評価することが可能になる。

本発明により漏洩磁界を計測した記録ヘッドは、そのまま電磁変換特性の評価に転用できる。このため、漏洩磁界分布改善効果と電磁変換特性の直接的な相関解析のように、従来の計測方法では実現できなかった評価を行うことが可能になる。

以下、図面を参照しながら、本発明を実施するための最良の形態を詳細に説明する。
本発明の実施形態では、スピンスタンドおよび電磁変換特性試験機等のように、ヘッド・媒体開発に通常用いている設備に簡単な補助手段を付加することにより、記録ヘッドの漏洩磁界を簡単に、かつ、非破壊で計測する方法について説明する。

本実施形態には、任意のトラック上で記録ヘッドの漏洩磁界を計測し、その１次元分布を求めるための基本原理と、その基本原理を用いて漏洩磁界の２次元分布（面内分布）および３次元分布（空間分布）を求める方法と、高精度な位置決め手段を用いた方法と、参照パターンと減磁用パターンの具体的な記録方法および再生方法が含まれる。

基本原理の計測方法によれば、磁気記録媒体上に予め記録した磁化状態（参照パターン）を記録ヘッドからの漏洩磁束（減磁用パターン）で減磁し、予め計測済みの減磁前の磁化状態での再生出力と減磁後に計測した再生出力（減磁された参照パターン）との差分から漏洩磁界を計測する。記録媒体上の磁化状態（磁化変位）は、Ｎ極からＳ極に向かう磁力線により表すことができる。

減磁の際にはゼロ復帰（Return to Zero，ＲＺ）記録方式を用い、磁化状態を単一の向きに減磁する。減磁された参照パターンの波形は、参照パターンと減磁用パターンの繰り返し周期をわずかにずらすことによって減磁された参照パターン出力に生じるビートを復調することにより検出される。

この計測方法において、オントラック時のみならずオフトラック時の差分も計算することにより、漏洩磁界の面内分布の非破壊計測が可能となる。さらに、保護膜厚の異なる複数の媒体に対する計測値を合成することにより、漏洩磁界の空間分布の計測も可能となる。

図２は、一般的な磁気ディスク装置の構成図である。図２の磁気ディスク装置は、ディスク形状の記録媒体２０１、磁気ヘッド２０２、プリアンプ２０３、制御部２０４、およびスピンドル２０５を備える。制御部２０４は、プリアンプ２０３を介して磁気ヘッド２０２を制御することで、媒体２０１に対するデータのリード／ライトを行い、スピンドル２０５を制御することで媒体２０１を回転させる。

図３は、実施形態の漏洩磁界計測装置の構成図である。図３の漏洩磁界計測装置は、ディスク形状の記録媒体３０１、記録系プリアンプ３０３、再生系プリアンプ３０４、スイッチ３０５、記録ヘッド駆動部３０６、磁気ヘッド微動部３０７、サーボ制御部３０８、再生ヘッド駆動部３０９、磁気ヘッド保持部３１０、ステージ３１１、ステージ位置検出部３１２、ステージ制御部３１３、メモリ３１４、３１５、３２３、復調部３１６、出力減衰量算出部３１７、変換部３１８、スピンドル３１９、ＣＰＵ３２０、入力装置３２１、出力装置３２２、外部記憶装置３２４、媒体駆動部３２５、およびネットワーク接続装置３２６を備え、磁気ヘッド３０２の漏洩磁界を計測する。

磁気ヘッド３０２は、図２の磁気ヘッド２０２に対応し、記録ヘッド３３１および再生ヘッド３３２を備える。スピンドル３１９は、ＣＰＵ３２０からの制御信号に従って、媒体３０１を回転させる。

記録ヘッド駆動部３０６は、ＲＺモード駆動部３４１およびＮＲＺモード駆動部３４２を備える。ＲＺモード駆動部３４１およびＮＲＺモード駆動部３４２は、それぞれＲＺ信号および非ゼロ復帰（Non Return to Zero，ＮＲＺ）信号のライト電流を生成する。スイッチ３０５は、ＣＰＵ３２０からのＲＺ／ＮＲＺ切替信号に従って、ＲＺモード駆動部３４１またはＮＲＺモード駆動部３４２の出力を選択して記録系プリアンプ３０３に出力し、記録系プリアンプ３０３は、スイッチ３０５の出力を記録ヘッド３３１に供給する。

スイッチ３０５によりＲＺモード駆動部３４１またはＮＲＺモード駆動部３４２の出力を選択することで、記録ヘッド３３１の記録モードをＲＺモードとＮＲＺモードの間で切り替えることができる。

再生系プリアンプ３０４は、再生ヘッド３３２の出力電圧を再生ヘッド駆動部３０９に出力し、再生ヘッド駆動部３０９は、ＣＰＵ３２０からの制御信号に従って、サーボ制御部３０８を制御するとともに、再生ヘッド３３２の出力電圧をメモリ３１４および３１５に格納する。

磁気ヘッド３０２は、磁気ヘッド微動部３０７を介してステージ３１１上の磁気ヘッド保持部３１０に固定され、ステージ制御部３１３は、ＣＰＵ３２０からの制御信号に従って、ステージ３１１を移動させることで、磁気ヘッド３０２を媒体３０１上の任意のトラックに移動させる。ステージ位置検出部３１２は、磁気ヘッド微動部３０７およびステージ３１１の位置情報を検出してステージ制御部３１３に出力する。ステージ制御部３１３は、ステージ位置検出部３１２からの位置情報をサーボ制御部３０８に出力するとともに、その情報をトラック位置情報に変換して、メモリ３１４および３１５に格納する。

メモリ３１４および３１５は、例えば、ＲＡＭ（random access memory）である。メモリ３１４には、参照パターンに対応する再生ヘッド３３２の出力波形がトラック位置情報とともに記録され、メモリ３１５には、減磁された参照パターンに対応する再生ヘッド３３２の出力波形がトラック位置情報とともに記録される。トラック位置情報は、媒体３０１の半径方向の位置を表している。

サーボ制御部３０８は、再生ヘッド駆動部３０９からの制御信号に従って、磁気ヘッド微動部３０７を制御することで、磁気ヘッド３０２の位置の微調整を行う。このような微調整機構を設けることにより、ＣＰＵ３２０は、予め媒体３０１上に記録されたサーボマークを読み出して、その位置情報を磁気ヘッド微動部３０７にフィードバックすることができ、高精度な位置決めが可能になる。

復調部３１６は、メモリ３１５の内容から減磁された参照パターンに対応する再生ヘッドの出力波形を復元し、出力減衰量算出部３１７は、復調部３１６により復元された出力波形とメモリ３１４の出力波形の差分から、出力減衰量を算出する。変換部３１８は、予め求めた出力減衰量と磁界の相関関係に基づいて、出力減衰量を磁界に変換し、ＣＰＵ３２０に出力する。

メモリ３２３は、例えば、ＲＯＭ（read only memory）およびＲＡＭを含み、計測処理に用いられるプログラムおよびデータを格納する。ＣＰＵ３２０は、メモリ３２３を利用してプログラムを実行することにより、漏洩磁界計測装置の動作を制御し、計測処理を行う。

入力装置３２１は、例えば、キーボード、ポインティングデバイス、タッチパネル等であり、オペレータからの指示や情報の入力に用いられる。出力装置３２２は、例えば、ディスプレイ、プリンタ、スピーカ等であり、オペレータへの問い合わせや処理結果等の出力に用いられる。

外部記憶装置３２４は、例えば、磁気ディスク装置、光ディスク装置、光磁気ディスク装置、テープ装置等である。漏洩磁界計測装置は、この外部記憶装置３２４にプログラムおよびデータを格納しておき、必要に応じてそれらをメモリ３２３にロードして使用する。

媒体駆動装置３２５は、可搬記録媒体を駆動し、その記録内容にアクセスする。可搬記録媒体は、メモリカード、フレキシブルディスク、光ディスク、光磁気ディスク等の任意のコンピュータ読み取り可能な記録媒体である。オペレータは、この可搬記録媒体にプログラムおよびデータを格納しておき、必要に応じてそれらをメモリ３２３にロードして使用する。

ネットワーク接続装置３２６は、ＬＡＮ（local area network）やインターネット等の任意の通信ネットワークに接続され、通信に伴うデータ変換を行う。漏洩磁界計測装置は、必要に応じてプログラムおよびデータを外部の装置からネットワーク接続装置３２６を介して受け取り、それらをメモリ３２３にロードして使用する。

なお、出力減衰量算出部３１７および変換部３１８を設ける代わりに、ＣＰＵ３２０により同等の処理を実行してもよい。この場合、ＣＰＵ３２０のプログラムに、出力減衰量算出処理および変換処理が組み込まれる。

図４は、図３の漏洩磁界計測装置による計測処理のフローチャートである。ＣＰＵ３２０は、まず、記録ヘッド駆動部３０６を介して、媒体３０１の少なくとも１つの特定トラック上に参照パターンを記録し（ステップ４０１）、再生ヘッド駆動部３０９を介して、特定トラックから参照パターンを読み出し、トラック位置情報とともにメモリ３１４に記録する（ステップ４０２）。このとき、記録媒体の保磁力の分布等による出力変動分を補償するため、次のステップ４０３で減磁する前に、参照パターンの読み出し結果をメモリ３１４に記録しておく。

次に、記録ヘッド駆動部３０６を介して、ステップ４０１で記録された特定トラック上の参照パターンの上に、参照パターンとは異なる位相で参照パターンを減磁する向きに磁界を発生させる減磁用パターンを記録する（ステップ４０３）。

ここで、参照パターンとは異なる位相で参照パターンに対して減磁用パターンを上書きするのは、参照パターンの個々のピークを減磁用パターンの異なるタイミングの漏洩磁界で減磁することにより、漏洩磁界の磁界分布を媒体上の参照パターンの減磁という形で記録するためである。参照パターンと減磁用パターンの位相関係が異なるため、媒体上の参照パターンに残される減磁状態は漏洩磁界と直接的に対応するものではなく、位相関係の違いを反映したものとなる。

次に、再生ヘッド駆動部３０９を介して、ステップ４０２で読み出されたトラックと同じトラックから減磁された参照パターンを読み出し、トラック位置情報とともにメモリ３１５に記録する（ステップ４０４）。

媒体３０１上の参照パターンに残される減磁状態は、参照パターンと減磁用パターンの位相関係の違いを反映したものとなっているので、その違いを利用して元の漏洩磁界の形状を復元するために、復調部３１６は、メモリ３１５の内容を取り出して復調し、出力減衰量算出部３１７は、復調結果とメモリの内容との差分を算出する（ステップ４０５）。

そして、変換部３１８は、記録ヘッド漏洩磁界の磁界分布を算出する（ステップ４０６）。
次に、参照パターンおよび減磁用パターンについて具体的に説明する。参照パターンとしては、周期ｔ１で繰り返し、時間幅ｔ２の磁化反転部分を有するパターンが用いられ、減磁用パターンとしては、周期ｔ３で繰り返し、時間幅ｔ４の磁化反転部分を有するパターンが用いられる。

周期ｔ１およびｔ３は、下部磁極、ライトギャップ部、および上部磁極からなる磁極部がトラック上の１点を通過する時間より長く、時間幅ｔ２およびｔ４は、ライトギャップ部がトラック上の１点を通過する時間と同程度かそれより短い。周期ｔ３は周期ｔ１とわずかに異なるように、ｔ３＝ｔ１＋Δｔに設定される。

図５は、水平記録ヘッドの場合の磁極部の各部の形状と通過時間の関係を示している。上部磁極５０１と下部磁極５０２の間の部分がライトギャップ部に相当し、矢印は媒体３０１の回転方向を表す。ＴａおよびＴｂは、それぞれ磁極部全体およびライトギャップ部がトラック上の１点を通過する時間を表す。この場合、ｔ１およびｔ３はＴａより長くなり、ｔ２およびｔ４はＴｂと同程度かそれより短くなる。

参照パターンおよび減磁用パターンには、ＮＲＺおよびＲＺのいずれの記録方式のパターンも用いることができ、またそれらの組み合わせも用いることができる。参照パターンと減磁用パターンの関係で重要なことは、参照パターン上の注目部分（時間幅ｔ２に対応する磁化反転部分）を減磁用パターンのｔ４以外の部分で減磁できるように、減磁用パターンの発生磁界を制御することである。具体的には、減磁用パターンのｔ４の部分では、参照パターンの注目部分を減磁する向きの磁界を発生する電流を流す必要がある。

記録ヘッド駆動部３０６のＲＺモード駆動部３４１およびＮＲＺモード駆動部３４２としては、相異なる２つ以上の磁化状態を実現できる任意の駆動部を用いることができる。なお、ＲＺモード駆動部３４１およびＮＲＺモード駆動部３４２のいずれか一方のみを記録ヘッド駆動部３０６として用いてもよい。また、復調部３１６は、参照パターンと減磁用パターンの位相の違いに対応して、公知の復調方法の組み合わせにより適切に構成することができる。

ところで、図６に示すように、記録ヘッド３３１の漏洩磁界はライト電流に比例し、減磁用パターンによる減磁量もライト電流に比例するので、漏洩磁界と減磁量は比例関係にある。したがって、記録ヘッド３３１の磁界と減磁量の相関関係が分かれば、その関係を利用して参照パターンの減磁量から記録ヘッド３３１の漏洩磁界を算出することができる。

ライトギャップ部のギャップ磁界は既知の方法で計測することができるので、予め、参照パターンを減磁する向きに記録ヘッド３３１を励磁してギャップ磁界を計測することで、参照パターンの減磁量とギャップ磁界の相関関係を求めておき、その相関関係を変換部３１８に設定しておく。図４のステップ４０６において、変換部３１８は、設定された相関関係に従って、参照パターンの減磁量から記録ヘッド３３１の漏洩磁界を算出する。

次に、図７から図１０までを参照しながら、図４に示した計測処理をより詳しく説明する。
図７は、図４の計測処理の詳細を示すフローチャートである。ＣＰＵ３２０は、まず、ＲＺ／ＮＲＺ切替信号によりスイッチ３０５を切り替えて、ＮＲＺモード駆動部３４２の出力を選択することで、記録ヘッド駆動部３０６をＮＲＺモードに設定する（ステップ７０１）。そして、参照パターンの書き込みに先立って、ＮＲＺモード駆動部３４２を介して、媒体３０１の特定トラックとその周辺トラックを充分にイレーズしておく（ステップ７０２）。

ここでは、図８に示すように、周期ｔ１および時間幅ｔ２のダイビット（di-bit）パターンのＮＲＺ信号Ｐ１が、参照パターンのライト電流（記録電流）として用いられる。例えば、ＮＲＺ信号Ｐ１の立ち上がりエッジ８０１および立ち下がりエッジ８０２が論理“１”を表し、時間幅ｔ２で連続する“１”のペアがダイビットに対応する。立ち下がりエッジ８０２から次の立ち上がりエッジ８０３までの間は電流値が変化しないので、論理“０”を表している。

ＣＰＵ３２０は、周期ｔ１および時間幅ｔ２をＮＲＺモード駆動部３４２に設定し（ステップ７０３）、ＮＲＺモード駆動部３４２を介して、媒体３０１の特定トラック上に参照パターンを記録する（ステップ７０４）。これにより、図９に示すように、ダイビットパターン９０１のような磁化状態が、参照パターンとして媒体３０１上に記録される。

次に、ＣＰＵ３２０は、再生ヘッド駆動部３０９を介して、特定トラックから参照パターンを読み出し（ステップ７０５）、再生ヘッド駆動部３０９は、ステージ制御部３１３から出力されるトラック位置情報とともに、読み出した参照パターンの波形（再生系プリアンプ３０４の出力電圧）をメモリ３１４に記録する（ステップ７０６）。

図９では、この参照パターンの波形がダイビット出力９０２として示されている。このダイビット出力９０２の正のピーク値９１１および負のピーク値９１２は、図８の記録電流の立ち上がりエッジおよび立ち下がりエッジにそれぞれ対応しており、周期ｔ１毎に繰り返される。

複数のトラックについて参照パターンの波形を記録する場合、トラック間における磁気ヘッド３０２の移動ピッチは、ステップ７１０における移動ピッチと合わせておく。
次に、ＣＰＵ３２０は、ＲＺ／ＮＲＺ切替信号によりスイッチ３０５を切り替えて、ＲＺモード駆動部３４１の出力を選択することで、記録ヘッド駆動部３０６をＲＺモードに設定し、ＲＺモード駆動部３４１の電流値をステップ７０４で用いた電流値以下に設定する（ステップ７０７）。そして、周期ｔ３および時間幅ｔ４をＲＺモード駆動部３４１に設定し（ステップ７０８）、ＲＺモード駆動部３４１を介して、特定トラック上に記録された参照パターンの上に減磁用パターンを記録する（ステップ７０９）。

減磁用パターンのライト電流（減磁電流）としては、図８に示すように、周期ｔ１＋Δｔおよび時間幅ｔ４のダイビットパターンのＲＺ信号を用いる。この場合、ＮＲＺ信号Ｐ１のタイミング８０４で記録されたダイビットを減磁するためには、負の向きに電流を流すようなダイビットパターンのＲＺ信号Ｐ２を用いなければならない。逆向き（正の向き）に電流を流すダイビットパターンのＲＺ信号Ｐ２を用いた場合は、参照パターンのダイビットを減磁できないばかりか、タイミング８０５で記録された磁化状態を減磁してしまうという不都合が生じるからである。

図９に示すように、ＲＺ信号Ｐ２を減磁電流９０３として用いた場合、減磁磁界９０４が記録ヘッド３３１により生成される。この減磁磁界９０４が減磁用パターンに相当する。

次に、ＣＰＵ３２０は、メモリ３１４に記録されているトラック位置情報を参照し、再生ヘッド駆動部３０９およびステージ制御部３１３を介して、ステップ７０５で参照パターンを読み出した特定トラックのトラック位置に磁気ヘッド３０２を移動させる（ステップ７１０）。そして、再生ヘッド駆動部３０９は、そのトラック位置から減磁された参照パターンを読み出し（ステップ７１１）、ステージ制御部３１３から出力されるトラック位置情報とともに、読み出した参照パターンの波形をメモリ３１５に記録する（ステップ７１２）。

図９では、この参照パターンの波形が減磁後のダイビット出力９０５として示されている。減磁後のダイビット出力９０５は、ダイビット出力９０２に相当する参照パターンと減磁磁界９０４に相当する減磁用パターンの位相関係の違いを反映したものとなっている。

次に、復調部３１６は、この位相関係の違いを利用して元の漏洩磁界の形状を復元するために、メモリ３１５に記録されている参照パターンの波形を復調し、トラック位置情報とともに出力減衰量算出部３１７に転送する（ステップ７１３）。

出力減衰量算出部３１７は、メモリ３１４に記録されている参照パターンの波形とトラック位置情報を取り出し、取り出した波形と復調部３１６から転送された波形の差分を計算する（ステップ７１４）。

具体的には、図１０に示すように、周期ｔ１毎に現れる減磁後のダイビット出力９０５の負のピーク値９１４と、減磁前のダイビット出力９０２の負のピーク値９１２との差分を順番に計算し、得られた差分を出力減衰量１００１として変換部３１８に転送する。このとき、時間軸を反転させるために複数の出力減衰量の順番を逆にし、Δｔ毎に現れるデータとして転送する。周期ｔ１毎の負のピーク値９１２はほぼ一定とみなすことができるので、通常は代表値に置き換えて差分を計算する。

変換部３１８は、予め設定された相関関係に従って、出力減衰量算出部３１７から転送される複数の出力減衰量を、漏洩磁界の１軸方向（媒体３０１の回転方向）の磁界強度に変換し、記録ヘッド３３１の磁界分布の形状を求める（ステップ７１５）。相関関係として磁界変換係数が設定されている場合は、出力減衰量に磁界変換係数を乗算することで、磁界強度が算出される。

こうして求められたヘッド磁界形状１００２は、減磁磁界９０４の１次元分布を表しており、出力装置３２２によりオペレータに提示される。
なお、ステップ７１４において、減磁後のダイビット出力９０５の負のピーク値９１４とダイビット出力９０２の負のピーク値９１２との差分を計算する代わりに、減磁後のダイビット出力９０５の正のピーク値９１３とダイビット出力９０２の正のピーク値９１１との差分を計算してもよい。

次に、漏洩磁界の面内分布を求める計測処理について説明する。この処理では、図７のステップ７０５および７０６において、ＣＰＵ３２０は、磁気ヘッド３０２を特定トラック上に合わせた基準位置のみならず、媒体３０１の半径方向に所定距離だけオフトラックさせた複数のオフセット位置においても参照パターンを読み出し、トラック位置情報とともにメモリ３１４に記録する。さらに、ステップ７１０〜７１２においても、基準位置およびオフセット位置のそれぞれにおいて減磁された参照パターンを読み出し、トラック位置情報とともにメモリ３１５に記録する。

そして、ステップ７１３〜７１５において、復調部３１６、出力減衰量算出部３１７、および変換部３１８は、基準位置における媒体３０１の回転方向の磁界形状のみならず、オフセット位置における回転方向の磁界形状も計算する。特定トラック上の基準位置の両側において半径方向に所定間隔で並んだ複数のオフセット位置について磁界形状を求め、得られた磁界形状をメモリ３２３内で合成することで、漏洩磁界の面内分布を求めることができる。

図１１は、ステップ７０５および７０６において行われるオフトラック読み出し処理のフローチャートである。この処理では、予め媒体３０１上の半径方向に所定の読み出し範囲が設定される。

ＣＰＵ３２０は、まず、再生ヘッド駆動部３０９およびステージ制御部３１３を介して、磁気ヘッド３０２を開始位置に移動させる（ステップ１１０１）。このとき、再生ヘッド駆動部３０９は、サーボ制御部３０８を介して磁気ヘッド微動部３０７を制御し、磁気ヘッド３０２の位置決めを行う。開始位置としては、例えば、読み出し範囲の端点が用いられる。再生ヘッド駆動部３０９は、その位置から参照パターンを読み出し（ステップ１１０２）、ステージ制御部３１３から出力されるトラック位置情報とともに、読み出した参照パターンをメモリ３１４に記録する（ステップ１１０３）。

次に、ＣＰＵ３２０は、現在のヘッド位置に所定値を加算して次のヘッド位置を計算し（ステップ１１０４）、得られたヘッド位置が読み出し範囲内か否かをチェックする（ステップ１１０５）。ヘッド位置が読み出し範囲内であれば、得られたヘッド位置を移動先としてステップ１１０１以降の処理を繰り返し、ヘッド位置が読み出し範囲外になれば、処理を終了する。ステップ７１０〜７１２においても、同様にしてオフトラック読み出し処理が行われる。

また、漏洩磁界の高さ方向の分布を求める場合は、保護膜厚の異なる複数の記録媒体のそれぞれについて磁界分布を求め、それらの磁界分布をメモリ３２３内で合成する。図１２に示すように、媒体３０１は、基板１２０６の上に、下地層１２０５、磁気記録層１２０４、および保護膜層１２０３が順番に形成された構造を有し、磁気記録層１２０４にデータが記録される。磁気ヘッド３０２のスライダ１２０１の先端部には記録再生素子１２０２が設けられており、素子１２０２と磁気記録層１２０４の間のスペースは、マグスペースと呼ばれる。

保護膜層１２０３の厚みが異なる媒体を用いることにより、素子１２０２と磁気記録層１２０４の間の距離を変化させることができ、磁気ヘッド３０２からの距離に対応させて各媒体の磁界分布を記録することで、漏洩磁界の高さ方向の分布を求めることができる。さらに、保護膜厚の異なる複数の記録媒体のそれぞれについて漏洩磁界の面内分布を求め、それらの面内分布をメモリ３２３内で合成すれば、漏洩磁界の空間分布を求めることができる。

ところで、図８に示した例では、ダイビットパターンのＮＲＺ信号により参照パターンを書き込み、ダイビットパターンのＲＺ信号により減磁用パターンを書き込んでいるが、その他にも以下のようなライト電流を用いた実施形態が考えられる。
（１）孤立波パターンのＮＲＺ信号による参照パターンと孤立波パターンのＲＺ信号による減磁用パターン
ステップ４０１において、ＣＰＵ３２０は、記録ヘッド駆動部３０６をＮＲＺモードに設定し、図１３に示すような、周期ｔ１および半値幅ｔ２の孤立波パターンの記録電流１３０１（ＮＲＺ信号）を用いて参照パターンを書き込む。

周期ｔ１および半値幅ｔ２の孤立波パターンとは、その記録電流により書き込まれた磁化状態を読み出したとき、出力電圧が周期ｔ１および半値幅ｔ２の孤立波１３０２となるようなパターンを意味する。

そして、ステップ４０３において、ＣＰＵ３２０は、記録ヘッド駆動部３０６をＲＺモードに設定し、周期ｔ３および半値幅ｔ４の孤立波パターンの減磁電流（ＲＺ信号）を用いて減磁用パターンを書き込む。
（２）ダイビットパターンのＲＺ信号による参照パターンとダイビットパターンのＲＺ信号による減磁用パターン
ステップ４０１において、ＣＰＵ３２０は、記録ヘッド駆動部３０６をＲＺモードに設定し、周期ｔ１および時間幅ｔ２のダイビットパターンの記録電流（ＲＺ信号）を用いて参照パターンを書き込む。そして、ステップ４０３において、ＣＰＵ３２０は、記録ヘッド駆動部３０６をＲＺモードに設定し、周期ｔ３および時間幅ｔ４のダイビットパターンの減磁電流（ＲＺ信号）を用いて減磁用パターンを書き込む。
（３）孤立波パターンのＲＺ信号による参照パターンと孤立波パターンのＲＺ信号による減磁用パターン
ステップ４０１において、ＣＰＵ３２０は、記録ヘッド駆動部３０６をＲＺモードに設定し、周期ｔ１および半値幅ｔ２の孤立波パターンの記録電流（ＲＺ信号）を用いて参照パターンを書き込む。そして、ステップ４０３において、ＣＰＵ３２０は、記録ヘッド駆動部３０６をＲＺモードに設定し、周期ｔ３および半値幅ｔ４の孤立波パターンの減磁電流（ＲＺ信号）を用いて減磁用パターンを書き込む。

以上説明した実施形態では、参照パターンと減磁用パターンのそれぞれがわずかに異なる一定の周期を持つ場合について説明したが、本発明はこれに限定されるものではない。例えば、一定周期の参照パターンとランダムな時間間隔で発生する減磁用パターンを組み合わせてもよく、逆に、ランダムな時間間隔で発生する参照パターンと一定周期の減磁用パターンを組み合わせてもよい。これらの場合の復調部３１６の復調方法としては、サンプリングオシロスコープ等に用いられている逐次サンプリング法、ランダムサンプリング法等の公知のものを利用することができる。

また、上述した実施形態では、面内記録の場合を例にとって説明したが、記録ヘッドおよび再生回路を垂直記録用のものに置き換えた場合にも本発明が適用可能であることは、言うまでもない。

また、本発明は磁気ディスク装置の記録ヘッドに限定されるものではなく、光磁気ディスク装置、テープ装置、ビデオ装置等を含む記憶装置の磁気記録ヘッド全般に広く適用可能である。

記録ヘッドの開発段階において、本発明の計測方法により記録ヘッドの漏洩磁界を計測・評価することにより、ライトギャップ部以外の部位からの漏洩磁界の抑圧効果を確認することが可能になる。

さらに、本発明の計測方法により計測した漏洩磁界に関する情報を用いて、データ記録信号の極性反転部分で、漏洩磁界を打ち消すようなライト電流を通常のライト電流に重畳させることにより、漏洩磁界の発生を抑止することもできる。このように、本発明は漏洩磁界補償方法にも応用可能である。

図１４は、図３の漏洩磁界計測装置に対するプログラムおよびデータの提供方法を示している。サーバ１４０１や可搬記録媒体１４０３に格納されたプログラムおよびデータは、漏洩磁界計測装置１４０２のメモリ３２３にロードされる。サーバ１４０１は、プログラムおよびデータを搬送する搬送信号を生成し、通信ネットワーク上の任意の伝送媒体を介して漏洩磁界計測装置１４０２に送信する。漏洩磁界計測装置１４０２のＣＰＵ３２０は、そのデータを用いてそのプログラムを実行し、必要な処理を行う。

（付記１） 記録ヘッドの漏洩磁界を計測する計測装置であって、
記録電流により前記記録ヘッドを駆動して、記録媒体の少なくとも１つの特定トラック上に参照パターンの磁化状態を記録した後、減磁電流により該記録ヘッドを駆動して減磁用パターンの漏洩磁界を生成し、該漏洩磁界により該参照パターンの磁化状態を減磁する記録ヘッド駆動手段と、
再生ヘッドを駆動して、前記少なくとも１つの特定トラックから減磁前の参照パターンの再生出力と減磁後の参照パターンの再生出力を生成する再生ヘッド駆動手段と、
前記減磁前の参照パターンの再生出力をトラック位置情報とともに格納する第１の格納手段と、
前記減磁後の参照パターンの再生出力をトラック位置情報とともに格納する第２の格納手段と、
前記減磁前の参照パターンの再生出力と前記減磁後の参照パターンの再生出力の差分を計算し、得られた差分から前記記録ヘッドの漏洩磁界を求める磁界計算手段と
を備えることを特徴とする計測装置。

（付記２） 前記磁界計算手段は、前記第２の格納手段に格納された前記減磁後の参照パターンの再生出力を復調する復調部と、前記第１の格納手段に格納された前記減磁前の参照パターンの再生出力と復調された減磁後の参照パターンの再生出力の差分を計算する計算部と、得られた差分を磁界強度に変換する変換部を含むことを特徴とする付記１記載の計測装置。

（付記３） 磁界分布生成手段をさらに備え、前記記録ヘッド駆動手段は、ディスク形状の記録媒体の少なくとも１つの特定トラック上に前記参照パターンの磁化状態を記録し、前記再生ヘッド駆動手段は、前記再生ヘッドを該少なくとも１つの特定トラック上に合わせた基準位置と、前記再生ヘッドを該記録媒体の半径方向にオフトラックさせた複数のオフセット位置のそれぞれにおいて、該記録媒体の回転方向における前記減磁前の参照パターンの再生出力を生成し、得られた各再生出力を各トラック位置情報とともに前記第１の格納手段に格納し、該基準位置と該複数のオフセット位置のそれぞれにおいて、該回転方向における前記減磁後の参照パターンの再生出力を生成し、得られた各再生出力を各トラック位置情報とともに前記第２の格納手段に格納し、前記磁界計算手段は、該基準位置と該複数のオフセット位置のそれぞれにおいて、前記減磁前の参照パターンの再生出力と前記減磁後の参照パターンの再生出力の差分を計算し、得られた差分から前記漏洩磁界の磁界強度を計算し、前記磁界分布生成手段は、該基準位置と該複数のオフセット位置のそれぞれにおける該回転方向の磁界強度の変化から、該記録媒体上における該漏洩磁界の２次元分布を生成することを特徴とする付記１記載の計測装置。

（付記４） 前記基準位置と前記複数のオフセット位置のそれぞれにおいて前記再生ヘッドの位置の微調整を行うサーボ制御手段をさらに備えることを特徴とする付記３記載の計測装置。

（付記５） 前記記録ヘッド駆動手段は、前記記録ヘッドの磁極部が前記記録媒体上の１点を通過する時間より長い周期ｔ１で繰り返し、かつ、該磁極部のライトギャップ部が該記録媒体上の１点を通過する時間と同程度以下の時間幅ｔ２を有するダイビットパターンの非ゼロ復帰信号を前記記録電流として出力して、該ダイビットパターンの磁化状態を前記参照パターンとして記録し、周期ｔ１とΔｔだけ異なる周期ｔ３で繰り返し、かつ、該ライトギャップ部が該記録媒体上の１点を通過する時間と同程度以下の時間幅ｔ４を有するダイビットパターンのゼロ復帰信号を前記減磁電流として出力して、該ダイビットパターンの磁化状態を減磁することを特徴とする付記１乃至４記載の計測装置。

（付記６） 前記記録ヘッド駆動手段は、前記記録ヘッドの磁極部が前記記録媒体上の１点を通過する時間より長い周期ｔ１で繰り返し、かつ、該磁極部のライトギャップ部が該記録媒体上の１点を通過する時間と同程度以下の半値幅ｔ２を有する孤立波パターンの非ゼロ復帰信号を前記記録電流として出力して、該孤立波パターンの磁化状態を前記参照パターンとして記録し、周期ｔ１とΔｔだけ異なる周期ｔ３で繰り返し、かつ、該ライトギャップ部が該記録媒体上の１点を通過する時間と同程度以下の半値幅ｔ４を有する孤立波パターンのゼロ復帰信号を前記減磁電流として出力して、該孤立波パターンの磁化状態を減磁することを特徴とする付記１乃至４記載の計測装置。

（付記７） 前記記録ヘッド駆動手段は、前記記録ヘッドの磁極部が前記記録媒体上の１点を通過する時間より長い周期ｔ１で繰り返し、かつ、該磁極部のライトギャップ部が該記録媒体上の１点を通過する時間と同程度以下の時間幅ｔ２を有するダイビットパターンのゼロ復帰信号を前記記録電流として出力して、該ダイビットパターンの磁化状態を前記参照パターンとして記録し、周期ｔ１とΔｔだけ異なる周期ｔ３で繰り返し、かつ、該ライトギャップ部が該記録媒体上の１点を通過する時間と同程度以下の時間幅ｔ４を有するダイビットパターンのゼロ復帰信号を前記減磁電流として出力して、該ダイビットパターンの磁化状態を減磁することを特徴とする付記１乃至４記載の計測装置。

（付記８） 前記記録ヘッド駆動手段は、前記記録ヘッドの磁極部が前記記録媒体上の１点を通過する時間より長い周期ｔ１で繰り返し、かつ、該磁極部のライトギャップ部が該記録媒体上の１点を通過する時間と同程度以下の半値幅ｔ２を有する孤立波パターンのゼロ復帰信号を前記記録電流として出力して、該孤立波パターンの磁化状態を前記参照パターンとして記録し、周期ｔ１とΔｔだけ異なる周期ｔ３で繰り返し、かつ、該ライトギャップ部が該記録媒体上の１点を通過する時間と同程度以下の半値幅ｔ４を有する孤立波パターンのゼロ復帰信号を前記減磁電流として出力して、該孤立波パターンの磁化状態を減磁することを特徴とする付記１乃至４記載の計測装置。

（付記９） 記録ヘッドの漏洩磁界を計測する計測方法であって、
記録電流により前記記録ヘッドを駆動して、記録媒体の少なくとも１つの特定トラック上に参照パターンの磁化状態を記録し、
再生ヘッドを駆動して、前記少なくとも１つの特定トラックから参照パターンの再生出力を生成し、
生成された参照パターンの再生出力をトラック位置情報とともに第１の格納手段に格納し、
減磁電流により前記記録ヘッドを駆動して減磁用パターンの漏洩磁界を生成し、該漏洩磁界により前記参照パターンの磁化状態を減磁し、
前記再生ヘッドを駆動して、前記少なくとも１つの特定トラックから減磁後の参照パターンの再生出力を生成し、
生成された参照パターンの再生出力をトラック位置情報とともに第２の格納手段に格納し、
前記第１の格納手段に格納された減磁前の参照パターンの再生出力と、前記第２の格納手段に格納された減磁後の参照パターンの再生出力の差分を計算し、
得られた差分から前記記録ヘッドの漏洩磁界を求める
ことを特徴とする計測方法。

（付記１０） 前記記録ヘッドの漏洩磁界を評価することにより、該記録ヘッドのライトギャップ部以外の部位からの漏洩磁界の抑圧効果を確認することを特徴とする付記９記載の計測方法。

（付記１１） 付記９記載の計測方法を用いて漏洩磁界の評価が行われたことを特徴とする記録ヘッド。
（付記１２） 付記９記載の計測方法を用いて漏洩磁界の評価が行われた記録ヘッドを備えることを特徴とする記憶装置。

（付記１３） 記録ヘッドの漏洩磁界を計測する計測装置を制御する処理装置のためのプログラムであって、
記録電流により前記記録ヘッドを駆動して、記録媒体の少なくとも１つの特定トラック上に参照パターンの磁化状態を記録し、
再生ヘッドを駆動して、前記少なくとも１つの特定トラックから参照パターンの再生出力を生成し、
生成された参照パターンの再生出力をトラック位置情報とともに第１の格納手段に格納し、
減磁電流により前記記録ヘッドを駆動して減磁用パターンの漏洩磁界を生成し、該漏洩磁界により前記参照パターンの磁化状態を減磁し、
前記再生ヘッドを駆動して、前記少なくとも１つの特定トラックから減磁後の参照パターンの再生出力を生成し、
生成された参照パターンの再生出力をトラック位置情報とともに第２の格納手段に格納し、
前記第１の格納手段に格納された減磁前の参照パターンの再生出力と、前記第２の格納手段に格納された減磁後の参照パターンの再生出力の差分を計算し、
得られた差分から前記記録ヘッドの漏洩磁界を求めるように、
前記計測装置を制御する処理を前記処理装置に実行させることを特徴とするプログラム。

（付記１４） 記録ヘッドの漏洩磁界を計測する計測装置を制御する処理装置のためのプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な媒体であって、
前記プログラムは、
記録電流により前記記録ヘッドを駆動して、記録媒体の少なくとも１つの特定トラック上に参照パターンの磁化状態を記録し、
再生ヘッドを駆動して、前記少なくとも１つの特定トラックから参照パターンの再生出力を生成し、
生成された参照パターンの再生出力をトラック位置情報とともに第１の格納手段に格納し、
減磁電流により前記記録ヘッドを駆動して減磁用パターンの漏洩磁界を生成し、該漏洩磁界により前記参照パターンの磁化状態を減磁し、
前記再生ヘッドを駆動して、前記少なくとも１つの特定トラックから減磁後の参照パターンの再生出力を生成し、
生成された参照パターンの再生出力をトラック位置情報とともに第２の格納手段に格納し、
前記第１の格納手段に格納された減磁前の参照パターンの再生出力と、前記第２の格納手段に格納された減磁後の参照パターンの再生出力の差分を計算し、
得られた差分から前記記録ヘッドの漏洩磁界を求めるように、
前記計測装置を制御する処理を前記処理装置に実行させることを特徴とするコンピュータ読み取り可能な媒体。

（付記１５） 記録ヘッドの漏洩磁界を計測する計測装置を制御する処理装置のためのプログラムを搬送する搬送信号であって、
前記プログラムは、
記録電流により前記記録ヘッドを駆動して、記録媒体の少なくとも１つの特定トラック上に参照パターンの磁化状態を記録し、
再生ヘッドを駆動して、前記少なくとも１つの特定トラックから参照パターンの再生出力を生成し、
生成された参照パターンの再生出力をトラック位置情報とともに第１の格納手段に格納し、
減磁電流により前記記録ヘッドを駆動して減磁用パターンの漏洩磁界を生成し、該漏洩磁界により前記参照パターンの磁化状態を減磁し、
前記再生ヘッドを駆動して、前記少なくとも１つの特定トラックから減磁後の参照パターンの再生出力を生成し、
生成された参照パターンの再生出力をトラック位置情報とともに第２の格納手段に格納し、
前記第１の格納手段に格納された減磁前の参照パターンの再生出力と、前記第２の格納手段に格納された減磁後の参照パターンの再生出力の差分を計算し、
得られた差分から前記記録ヘッドの漏洩磁界を求めるように、
前記計測装置を制御する処理を前記処理装置に実行させることを特徴とする搬送信号。

本発明の計測装置の原理図である。 磁気ディスク装置の構成図である。 漏洩磁界計測装置の原理図である。 計測処理のフローチャートである。 記録ヘッドの磁極部を示す図である。 記録媒体の構造を示す図である。 計測処理の詳細フローチャートである。 参照パターンと減磁用パターンを示す図である。 ダイビット出力の変化を示す図である。 ヘッド磁界形状の算出を示す図である。 オフトラック読み出し処理のフローチャートである。 記録媒体の構造を示す図である。 孤立波を示す図である。 プログラムおよびデータの提供方法を示す図である。

符号の説明

１０１ 記録ヘッド駆動手段
１０２ 再生ヘッド駆動手段
１０３ 第１の格納手段
１０４ 第２の格納手段
１０５ 磁界計算手段
１０６ 磁界分布生成手段
１０７ サーボ制御手段
１１１、２０１、３０１ 記録媒体
１１２、３３１ 記録ヘッド
１１３、３３２ 再生ヘッド
２０２、３０２ 磁気ヘッド
２０３ プリアンプ
２０４ 制御部
２０５ スピンドル
３０３ 記録系プリアンプ
３０４ 再生系プリアンプ
３０５ スイッチ
３０６ 記録ヘッド駆動部
３０７ 磁気ヘッド微動部
３０８ サーボ制御部
３０９ 再生ヘッド駆動部
３１０ 磁気ヘッド保持部
３１１ ステージ
３１２ ステージ位置検出部
３１３ ステージ制御部
３１４、３１５、３２３ メモリ
３１６ 復調部
３１７ 出力減衰量算出部
３１８ 変換部
３１９ スピンドル
３２０ ＣＰＵ
３２１ 入力装置
３２２ 出力装置
３２４ 外部記憶装置
３２５ 媒体駆動部
３２６ ネットワーク接続装置
３４１ ＲＺモード駆動部
３４２ ＮＲＺモード駆動部
５０１ 上部磁極
５０２ 下部磁極
８０１、８０３ 立ち上がりエッジ
８０２ 立ち下がりエッジ
８０４、８０５ タイミング
９０１ ダイビットパターン
９０２ ダイビット出力
９０３ 減磁電流
９０４ 減磁磁界
９０５ 減磁後のダイビット出力
９１１、９１３ 正のピーク値
９１２、９１４ 負のピーク値
１００１ 出力減衰量
１００２ ヘッド磁界形状
１２０１ スライダ
１２０２ 記録再生素子
１２０３ 保護膜層
１２０４ 磁気記録層
１２０５ 下地層
１２０６ 基板
１３０１ 記録電流
１３０２ 孤立波
１４０１ サーバ
１４０２ 漏洩磁界計測装置
１４０３ 可搬記録媒体

Claims (5)

1. 記録ヘッドの漏洩磁界を計測する計測装置であって、
   記録電流により前記記録ヘッドを駆動して、記録媒体の少なくとも１つの特定トラック上に参照パターンの磁化状態を記録した後、減磁電流により該記録ヘッドを駆動して減磁用パターンの漏洩磁界を生成し、該漏洩磁界により該参照パターンの磁化状態を減磁する記録ヘッド駆動手段と、
   再生ヘッドを駆動して、前記少なくとも１つの特定トラックから減磁前の参照パターンの再生出力と減磁後の参照パターンの再生出力を生成する再生ヘッド駆動手段と、
   前記減磁前の参照パターンの再生出力をトラック位置情報とともに格納する第１の格納手段と、
   前記減磁後の参照パターンの再生出力をトラック位置情報とともに格納する第２の格納手段と、
   前記減磁前の参照パターンの再生出力と前記減磁後の参照パターンの再生出力の差分を計算し、得られた差分から前記記録ヘッドの漏洩磁界を求める磁界計算手段と
   を備えることを特徴とする計測装置。
2. 磁界分布生成手段をさらに備え、前記記録ヘッド駆動手段は、ディスク形状の記録媒体の少なくとも１つの特定トラック上に前記参照パターンの磁化状態を記録し、前記再生ヘッド駆動手段は、前記再生ヘッドを該少なくとも１つの特定トラック上に合わせた基準位置と、前記再生ヘッドを該記録媒体の半径方向にオフトラックさせた複数のオフセット位置のそれぞれにおいて、該記録媒体の回転方向における前記減磁前の参照パターンの再生出力を生成し、得られた各再生出力を各トラック位置情報とともに前記第１の格納手段に格納し、該基準位置と該複数のオフセット位置のそれぞれにおいて、該回転方向における前記減磁後の参照パターンの再生出力を生成し、得られた各再生出力を各トラック位置情報とともに前記第２の格納手段に格納し、前記磁界計算手段は、該基準位置と該複数のオフセット位置のそれぞれにおいて、前記減磁前の参照パターンの再生出力と前記減磁後の参照パターンの再生出力の差分を計算し、得られた差分から前記漏洩磁界の磁界強度を計算し、前記磁界分布生成手段は、該基準位置と該複数のオフセット位置のそれぞれにおける該回転方向の磁界強度の変化から、該記録媒体上における該漏洩磁界の２次元分布を生成することを特徴とする請求項１記載の計測装置。
3. 前記記録ヘッド駆動手段は、前記記録ヘッドの磁極部が前記記録媒体上の１点を通過する時間より長い周期ｔ１で繰り返し、かつ、該磁極部のライトギャップ部が該記録媒体上の１点を通過する時間と同程度以下の時間幅ｔ２を有するダイビットパターンの非ゼロ復帰信号を前記記録電流として出力して、該ダイビットパターンの磁化状態を前記参照パターンとして記録し、周期ｔ１とΔｔだけ異なる周期ｔ３で繰り返し、かつ、該ライトギャップ部が該記録媒体上の１点を通過する時間と同程度以下の時間幅ｔ４を有するダイビットパターンのゼロ復帰信号を前記減磁電流として出力して、該ダイビットパターンの磁化状態を減磁することを特徴とする請求項１乃至２記載の計測装置。
4. 記録ヘッドの漏洩磁界を計測する計測方法であって、
   記録電流により前記記録ヘッドを駆動して、記録媒体の少なくとも１つの特定トラック上に参照パターンの磁化状態を記録し、
   再生ヘッドを駆動して、前記少なくとも１つの特定トラックから参照パターンの再生出力を生成し、
   生成された参照パターンの再生出力をトラック位置情報とともに第１の格納手段に格納し、
   減磁電流により前記記録ヘッドを駆動して減磁用パターンの漏洩磁界を生成し、該漏洩磁界により前記参照パターンの磁化状態を減磁し、
   前記再生ヘッドを駆動して、前記少なくとも１つの特定トラックから減磁後の参照パターンの再生出力を生成し、
   生成された参照パターンの再生出力をトラック位置情報とともに第２の格納手段に格納し、
   前記第１の格納手段に格納された減磁前の参照パターンの再生出力と、前記第２の格納手段に格納された減磁後の参照パターンの再生出力の差分を計算し、
   得られた差分から前記記録ヘッドの漏洩磁界を求める
   ことを特徴とする計測方法。
5. 記録ヘッドの漏洩磁界を計測する計測装置を制御する処理装置のためのプログラムであって、
   記録電流により前記記録ヘッドを駆動して、記録媒体の少なくとも１つの特定トラック上に参照パターンの磁化状態を記録し、
   再生ヘッドを駆動して、前記少なくとも１つの特定トラックから参照パターンの再生出力を生成し、
   生成された参照パターンの再生出力をトラック位置情報とともに第１の格納手段に格納し、
   減磁電流により前記記録ヘッドを駆動して減磁用パターンの漏洩磁界を生成し、該漏洩磁界により前記参照パターンの磁化状態を減磁し、
   前記再生ヘッドを駆動して、前記少なくとも１つの特定トラックから減磁後の参照パターンの再生出力を生成し、
   生成された参照パターンの再生出力をトラック位置情報とともに第２の格納手段に格納し、
   前記第１の格納手段に格納された減磁前の参照パターンの再生出力と、前記第２の格納手段に格納された減磁後の参照パターンの再生出力の差分を計算し、
   得られた差分から前記記録ヘッドの漏洩磁界を求めるように、
   前記計測装置を制御する処理を前記処理装置に実行させることを特徴とするプログラム。

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