JPH0512999Y2 - - Google Patents
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- JPH0512999Y2 JPH0512999Y2 JP10850589U JP10850589U JPH0512999Y2 JP H0512999 Y2 JPH0512999 Y2 JP H0512999Y2 JP 10850589 U JP10850589 U JP 10850589U JP 10850589 U JP10850589 U JP 10850589U JP H0512999 Y2 JPH0512999 Y2 JP H0512999Y2
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Landscapes
- Ceramic Capacitors (AREA)
- Structures For Mounting Electric Components On Printed Circuit Boards (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
この考案は筒形チツプ状電子部品に関し、特に
回路基板に直接、装着できる金属キヤツプを有す
る筒形チツプ状電子部品に関する。
回路基板に直接、装着できる金属キヤツプを有す
る筒形チツプ状電子部品に関する。
[従来の技術]
筒形チツプ状電子部品の一例として、第3図の
筒形チツプコンデンサの構造が示してある。この
電子部品は、円筒状の誘電性セラミツク素体の内
周面及び外周面に内面電極5及び外面電極6がそ
れぞれ形成されて電子部品素体1が構成され、さ
らに同素体1の両端に、前記内面電極5及び外面
電極6の接続端子となる金属キヤツプ2及び3が
それぞれ嵌着されている。この金属キヤツプ2,
3には、その全面に半田メツキ7が施されてお
り、金属キヤツプ2,3と内外面電極5,6と
は、部品素体1の両端に金属キヤツプ2,3を嵌
合した後、加熱炉に通しすることにより、上記金
属キヤツプ2,3の内面側に施された半田メツキ
7で半田結合される。さらに、金属キヤツプ5と
6の間には、防湿及び電気的絶縁等のための、エ
ポキシ樹脂等から成る保護膜4が施される。
筒形チツプコンデンサの構造が示してある。この
電子部品は、円筒状の誘電性セラミツク素体の内
周面及び外周面に内面電極5及び外面電極6がそ
れぞれ形成されて電子部品素体1が構成され、さ
らに同素体1の両端に、前記内面電極5及び外面
電極6の接続端子となる金属キヤツプ2及び3が
それぞれ嵌着されている。この金属キヤツプ2,
3には、その全面に半田メツキ7が施されてお
り、金属キヤツプ2,3と内外面電極5,6と
は、部品素体1の両端に金属キヤツプ2,3を嵌
合した後、加熱炉に通しすることにより、上記金
属キヤツプ2,3の内面側に施された半田メツキ
7で半田結合される。さらに、金属キヤツプ5と
6の間には、防湿及び電気的絶縁等のための、エ
ポキシ樹脂等から成る保護膜4が施される。
フアインパターン、フアインピツチの高密度実
装回路基板に於いては、前記筒形チツプ状電子部
品を回路基板に半田付けするに際し、リフロー方
式の半田付けが行なわれる。例えば、クリーム半
田20が予め印刷された対向する半田付ラウンド
21,21に亙つてプリント基板22上に前記筒
形チツプ状電子部品を搭載し、これを仮接着した
後、プリント基板22を半田フローすることによ
つて、前記金属キヤツプ2,3がプリント基板2
2上に形成された半田付ラウンド21,21に半
田結合される。第3図は半田結合される前の状態
を示す。
装回路基板に於いては、前記筒形チツプ状電子部
品を回路基板に半田付けするに際し、リフロー方
式の半田付けが行なわれる。例えば、クリーム半
田20が予め印刷された対向する半田付ラウンド
21,21に亙つてプリント基板22上に前記筒
形チツプ状電子部品を搭載し、これを仮接着した
後、プリント基板22を半田フローすることによ
つて、前記金属キヤツプ2,3がプリント基板2
2上に形成された半田付ラウンド21,21に半
田結合される。第3図は半田結合される前の状態
を示す。
[考案が解決しようとする課題]
しかしながら、前記従来の筒形チツプ状電子部
品をリフロー半田により半田付をすると、一方の
金属キヤツプ2または3のみが半田付ラウンド2
1に半田付されて、他方の金属キヤツプ3または
2が半田付ラウンド21からずれるようにして逃
げてしまつたり、或は第4図に示すように、一方
の金属キヤツプ2または3のみが半田付ラウンド
21に半田付されて、他方の金属キヤツプ3また
は2側が半田付ラウンド21から浮き上がつて筒
形チツプ状電子部品が立ち上がつてしまう、いわ
ゆるマンハツタン現象が時折起こるという問題点
を有していた。
品をリフロー半田により半田付をすると、一方の
金属キヤツプ2または3のみが半田付ラウンド2
1に半田付されて、他方の金属キヤツプ3または
2が半田付ラウンド21からずれるようにして逃
げてしまつたり、或は第4図に示すように、一方
の金属キヤツプ2または3のみが半田付ラウンド
21に半田付されて、他方の金属キヤツプ3また
は2側が半田付ラウンド21から浮き上がつて筒
形チツプ状電子部品が立ち上がつてしまう、いわ
ゆるマンハツタン現象が時折起こるという問題点
を有していた。
本件考案者がこの原因について検討したとこ
ろ、次の事実に着目するに至つた。前記従来の筒
形チツプ状電子部品において、例えば第3図に示
したように、金属キヤツプ2,3の縁部に絶縁樹
脂4が付着した場合において、同図にように、筒
形チツプ状電子部品が、一方の半田付ラウンド2
1側に若干偏つて搭載された場合、一方の金属キ
ヤツプ3のみが半田付ラウンド21のクリーム半
田20に接して、他方の金属キヤツプ2が半田付
ラウンド21のクリーム半田22から僅かに浮き
上がつてしまう。そして半田付工程において、こ
のままの状態でクリーム半田20が溶融し、続い
て硬化すると、半田20′に接触した一方の金属
キヤツプ3側のみが溶融した半田の表面張力と硬
化する際の収縮力を受ける。これらの力は、時と
して半田20′に付着した一方の金属キヤツプ3
側を支点として筒形チツプ状電子部品を回転させ
るように働くため、他方の金属キヤツプ2側が半
田付ラウンド21から逃げたり浮き上がつたりす
る前記のような現象が生じる。
ろ、次の事実に着目するに至つた。前記従来の筒
形チツプ状電子部品において、例えば第3図に示
したように、金属キヤツプ2,3の縁部に絶縁樹
脂4が付着した場合において、同図にように、筒
形チツプ状電子部品が、一方の半田付ラウンド2
1側に若干偏つて搭載された場合、一方の金属キ
ヤツプ3のみが半田付ラウンド21のクリーム半
田20に接して、他方の金属キヤツプ2が半田付
ラウンド21のクリーム半田22から僅かに浮き
上がつてしまう。そして半田付工程において、こ
のままの状態でクリーム半田20が溶融し、続い
て硬化すると、半田20′に接触した一方の金属
キヤツプ3側のみが溶融した半田の表面張力と硬
化する際の収縮力を受ける。これらの力は、時と
して半田20′に付着した一方の金属キヤツプ3
側を支点として筒形チツプ状電子部品を回転させ
るように働くため、他方の金属キヤツプ2側が半
田付ラウンド21から逃げたり浮き上がつたりす
る前記のような現象が生じる。
この考案は、前記着目した事実を基礎としてな
されたもので、その主たる目的は、フアインパタ
ーン、フアインピツチでも、良好なる半田付けが
出来る筒形チツプ状電子部品を提供することであ
る。
されたもので、その主たる目的は、フアインパタ
ーン、フアインピツチでも、良好なる半田付けが
出来る筒形チツプ状電子部品を提供することであ
る。
[課題を解決するための手段]
すなわち、前記目的を達成するため、本考案に
おいて採用された手段の要旨は、電子部品素体1
2の両端面に接続端子となる金属キヤツプ17,
17を嵌着し、前記電子部品素体12の露出部分
に絶縁被膜層19を設けた筒形電子部品に於て、
金属キヤツプ17,17の外周面に突出部24,
24を設けた筒形チツプ状電子部品である。
おいて採用された手段の要旨は、電子部品素体1
2の両端面に接続端子となる金属キヤツプ17,
17を嵌着し、前記電子部品素体12の露出部分
に絶縁被膜層19を設けた筒形電子部品に於て、
金属キヤツプ17,17の外周面に突出部24,
24を設けた筒形チツプ状電子部品である。
[作用]
前記本考案による筒形チツプ状電子部品では、
接続端子となる金属キヤツプ17,17の外周面
上に複数の突出部24,24があるため、金属キ
ヤツプ17,17の縁部が樹脂で覆われる、いわ
ゆる樹脂汚れ等があつても、両端側の金属キヤツ
プ17,17とクリーム半田20とが確実に接触
する。これにより、一方の金属キヤツプ17の電
極ラウンドからの逃げや浮き上がりが防止され。
接続端子となる金属キヤツプ17,17の外周面
上に複数の突出部24,24があるため、金属キ
ヤツプ17,17の縁部が樹脂で覆われる、いわ
ゆる樹脂汚れ等があつても、両端側の金属キヤツ
プ17,17とクリーム半田20とが確実に接触
する。これにより、一方の金属キヤツプ17の電
極ラウンドからの逃げや浮き上がりが防止され。
[実施例]
次に、この考案を筒形チツプコンデンサに適用
した一実施例を示す第1図により、この考案の実
施例について説明する。
した一実施例を示す第1図により、この考案の実
施例について説明する。
筒形チツプコンデンサ10は、例えば誘電体セ
ラミツクで形成された円筒状の誘電体12を有
し、塗布法或はメツキ法によつて、この誘電体1
2の内周面13及び外周面14の一部に内面電極
15を設け、前記内周面13の内部電極15と対
向させて、前記誘電体12の外周面14に外面電
極16が設けられ、電子部品素体11が構成され
ている。図示の場合、円筒状の誘電体12の両端
部12a,12bが丸みをもつように加工されて
いる。これにより、内面電極15の導出部15a
における電極層の厚みが均一になると共に、金属
キヤツプ17の嵌着が容易である。
ラミツクで形成された円筒状の誘電体12を有
し、塗布法或はメツキ法によつて、この誘電体1
2の内周面13及び外周面14の一部に内面電極
15を設け、前記内周面13の内部電極15と対
向させて、前記誘電体12の外周面14に外面電
極16が設けられ、電子部品素体11が構成され
ている。図示の場合、円筒状の誘電体12の両端
部12a,12bが丸みをもつように加工されて
いる。これにより、内面電極15の導出部15a
における電極層の厚みが均一になると共に、金属
キヤツプ17の嵌着が容易である。
金属キヤツプ17には、その周囲に凹凸が形成
され、外周側に凸となつた、突出部24,24が
形成されている。この図示の突出部24,24
は、円周方向に連続して形成された突条のもので
あるが、突出部24,24は、必ずしもこのよう
なものである必要はなく、例えば金属キヤツプ1
7,17の中心軸と平行にその円周面に形成され
た複数本の突条や、金属キヤツプ17,17の円
周面に形成された複数の突起等であつてもより。
何れのものも、金属キヤツプ17,17の円周面
に万遍なく突出部24,24が存在するようにす
る。
され、外周側に凸となつた、突出部24,24が
形成されている。この図示の突出部24,24
は、円周方向に連続して形成された突条のもので
あるが、突出部24,24は、必ずしもこのよう
なものである必要はなく、例えば金属キヤツプ1
7,17の中心軸と平行にその円周面に形成され
た複数本の突条や、金属キヤツプ17,17の円
周面に形成された複数の突起等であつてもより。
何れのものも、金属キヤツプ17,17の円周面
に万遍なく突出部24,24が存在するようにす
る。
また、前記金属キヤツプ17の表面には、半田
18がメツキ処理されている。この金属キヤツプ
17,17を誘電体12に嵌着した後、これを約
240〜270℃の温度で加熱処理することにより、前
記半田18のメツキを一旦溶融させて、金属キヤ
ツプ17,17をそれぞれ内面電極15と外面電
極16とに半田結合する。
18がメツキ処理されている。この金属キヤツプ
17,17を誘電体12に嵌着した後、これを約
240〜270℃の温度で加熱処理することにより、前
記半田18のメツキを一旦溶融させて、金属キヤ
ツプ17,17をそれぞれ内面電極15と外面電
極16とに半田結合する。
次に、このコンデンサを半田融点以下の約150
℃で加熱しながら、エポキシ等の熱硬化性樹脂の
粉末に接触させて、樹脂粉末を金属キヤツプ17
を除いた電子部品素体11の外周面に付着させ、
しかる後、約150℃、約20分の加熱処理で、樹脂
被覆膜19を形成する。
℃で加熱しながら、エポキシ等の熱硬化性樹脂の
粉末に接触させて、樹脂粉末を金属キヤツプ17
を除いた電子部品素体11の外周面に付着させ、
しかる後、約150℃、約20分の加熱処理で、樹脂
被覆膜19を形成する。
次に、回路基板22の上のフアインパターン
に、筒形チツプコンデンサを搭載し、リフロー法
にて半田付を行なう。この場合に、第1図に示す
ように、金属キヤツプ17,17に突出部24,
24があるため、金属キヤツプ17,17の縁部
分に樹脂の付着があつても、前記突出部24,2
4で金属キヤツプ17,17がクリーム半田20
と確実に接着され、一端側が半田付ラウンド21
から逃げたり立ち上がつたりする現象(いわゆる
マンハツタン現象)等が生じることなく、第2図
で示すように、確実な半田結合がなされる。
に、筒形チツプコンデンサを搭載し、リフロー法
にて半田付を行なう。この場合に、第1図に示す
ように、金属キヤツプ17,17に突出部24,
24があるため、金属キヤツプ17,17の縁部
分に樹脂の付着があつても、前記突出部24,2
4で金属キヤツプ17,17がクリーム半田20
と確実に接着され、一端側が半田付ラウンド21
から逃げたり立ち上がつたりする現象(いわゆる
マンハツタン現象)等が生じることなく、第2図
で示すように、確実な半田結合がなされる。
また、筒形チツプコンデンサに樹脂被覆膜19
を形成するときに、金属キヤツプ17の縁部に樹
脂が全く付着しないようにするのは困難である
が、金属キヤツプ17,17の突出部24,24
があると、それより端面側へは樹脂が付着しなく
なる。これによつても、回路基板への部品マウン
ト不具合の発生が抑えられる。
を形成するときに、金属キヤツプ17の縁部に樹
脂が全く付着しないようにするのは困難である
が、金属キヤツプ17,17の突出部24,24
があると、それより端面側へは樹脂が付着しなく
なる。これによつても、回路基板への部品マウン
ト不具合の発生が抑えられる。
次に、従来の筒形チツプコンデンサとこの実施
例による筒形チツプコンデンサとを実際の回路基
板22に搭載して、リフロー法により半田付けし
た結果を説明する。すなわち、筒形チツプコンデ
ンサ10は、第5図で示すような回路基板22に
搭載され、半田付けされたが、半田付ラウンド2
1のパターン寸法がa=1.5mm,b=1.5mm,c=
4.5mmである場合のマウントの不具合の発生率は、
従来の筒状チツプコンデンサでは、1500ppmであ
つたが、この実施例による筒状チツプコンデンサ
では、0ppmであつた。また、パターン寸法がa
=2.0mm,b=1.5mm,c=4.5mmの場合、従来の筒
状チツプコンデンサでは、800ppmであつたが、
この実施例による筒状チツプコンデンサでは、や
はり0ppmであつた。
例による筒形チツプコンデンサとを実際の回路基
板22に搭載して、リフロー法により半田付けし
た結果を説明する。すなわち、筒形チツプコンデ
ンサ10は、第5図で示すような回路基板22に
搭載され、半田付けされたが、半田付ラウンド2
1のパターン寸法がa=1.5mm,b=1.5mm,c=
4.5mmである場合のマウントの不具合の発生率は、
従来の筒状チツプコンデンサでは、1500ppmであ
つたが、この実施例による筒状チツプコンデンサ
では、0ppmであつた。また、パターン寸法がa
=2.0mm,b=1.5mm,c=4.5mmの場合、従来の筒
状チツプコンデンサでは、800ppmであつたが、
この実施例による筒状チツプコンデンサでは、や
はり0ppmであつた。
[考案の効果]
以上説明した通り、この考案によれば、金属キ
ヤツプ17,17の縁部の絶縁樹脂汚れがあつて
も、突出部24,24がクリーム半田20と確実
に接触し、リフロー半田付時において部品の位置
ずれや立ち上がる現象が無くなる。
ヤツプ17,17の縁部の絶縁樹脂汚れがあつて
も、突出部24,24がクリーム半田20と確実
に接触し、リフロー半田付時において部品の位置
ずれや立ち上がる現象が無くなる。
第1図はこの考案の実施例による筒形チツプ状
電子部品の半田付前の断面図である。第2図はそ
の半田付後の一部断面図である。第3図は従来の
筒形チツプ状電子部品の半田付前の断面図であ
る。第4図は半田付後の一部断面図であり、電極
ラウンド上で筒形チツプ状電子部品が立ち上がる
現象、いわゆるマンハツタン現象が起こつた状態
を示す。第5図は基板上のパタンーに筒形チツプ
状電子部品を搭載した状態の斜視図である。 なお図面に用いられている符号について、17
は金属キヤツプ、20はクリーム半田、21は電
極パターンラウンド、19は樹脂被覆膜である。
電子部品の半田付前の断面図である。第2図はそ
の半田付後の一部断面図である。第3図は従来の
筒形チツプ状電子部品の半田付前の断面図であ
る。第4図は半田付後の一部断面図であり、電極
ラウンド上で筒形チツプ状電子部品が立ち上がる
現象、いわゆるマンハツタン現象が起こつた状態
を示す。第5図は基板上のパタンーに筒形チツプ
状電子部品を搭載した状態の斜視図である。 なお図面に用いられている符号について、17
は金属キヤツプ、20はクリーム半田、21は電
極パターンラウンド、19は樹脂被覆膜である。
Claims (1)
- 電子部品素体の両端面に接続端子となる金属キ
ヤツプを嵌着し、前記電子部品素体の露出部分に
絶縁被膜層を設けた筒形電子部品に於て、金属キ
ヤツプの外周面に突出部を設けたことを特徴とす
る筒形チツプ状電子部品。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10850589U JPH0512999Y2 (ja) | 1989-09-16 | 1989-09-16 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10850589U JPH0512999Y2 (ja) | 1989-09-16 | 1989-09-16 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0348218U JPH0348218U (ja) | 1991-05-08 |
JPH0512999Y2 true JPH0512999Y2 (ja) | 1993-04-06 |
Family
ID=31657144
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10850589U Expired - Lifetime JPH0512999Y2 (ja) | 1989-09-16 | 1989-09-16 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0512999Y2 (ja) |
-
1989
- 1989-09-16 JP JP10850589U patent/JPH0512999Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0348218U (ja) | 1991-05-08 |
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