JPH045465Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 「産業上の利用分野」 この考案はIC素子を試験し、その結果に応じ
て、つまり良品のIC素子か不良品のIC素子かに
応じて分類して収納するIC試験装置の分類機構
に関する。

この種のIC試験装置は第４図及び第５図に示
すように自動供給部（ローダ）１１内に、棒状の
IC収納容器いわゆるマガジン１２が多数収容さ
れ、マガジン１２内にIC素子が一列に配列され
て収容されており、この供給部１１内に収容した
マガジン１２は図に示してないが引上げ機構１３
によつて１本ずつ取出されて引上げられ、上下方
向に傾斜したIC供給位置に供給マガジン１２ａ
として配置される。この供給マガジン１２ａ内の
IC素子を供給し終ると供給部１１から別のマガ
ジンが引上げられて供給マガジン位置に配置され
ることが順次自動的に行なわれている。

供給マガジン１２ａ内のIC素子は間欠送り機
構１４のレール１５上に送り出され、レール１５
上において配列されているIC素子１６をIC押え
１７によつて押え、そのIC押え１７より下側の
IC素子一般に１個だけが自重によつて下側の分
配部１８に自動的に送られる。分配部１８におい
て搬送体１９上に複数の移動レール２１が配列さ
れており、搬送体１９はIC素子の進行方向に対
して直角方向に移動し、間欠送り機構１４より供
給されたIC素子１６が移動レール２１上に分配
供給されるように搬送体１９が移動される。複数
の移動レール２１はほぼ等間隔で設けられてい
る。

分配部１８の下側に連続してプリヒート部２２
が設けられ、プリヒート部２２内に複数、この例
では８本のヒートレール２３が並列されている。
この例ではこれらヒートレール２３の間隔は移動
レール２１の間隔と等しくされてあり、分配部１
８の移動レール２１から対応するヒートレール２
３へのIC素子１６を同時に供給できるように構
成されている。プリヒート部２２においてはヒー
トレール２３のヒータ２４によつてヒートレール
２３上にIC素子１６が加熱されると共にヒート
レール２３上のIC素子を押え案内する案内体
（ルーフ）２５によつてIC素子が踊り出ないよう
にされ、かつその案内体２５内のヒータ２６によ
つてもIC素子１６が加熱される。このプリヒー
ト部２２の下端部には間欠送り機構２７が設けら
れ間欠送り機構２７において、プリヒート部２２
で加熱されてきたIC素子を下から２番目のもの
を押えることによつて一番下のIC素子のみを落
下させ、方向転換機構２８に供給する。方向転換
機構２８はIC素子１６の走行している姿勢方向
を逆転させるもので、IC素子が乗せられている
レールを回動することによつて達成される。

その方向転換機構２８の回動されて上下方向に
延長されたレールの下端は測定部２９の上端に連
続している。測定部２９は方向転換機構２８から
同時に供給される８個のIC素子をそれぞれ受け
る８本のヒートレール３１が備えられている。こ
れらヒートレール３１はそれぞれ上下方向に延長
しており、各ヒートレール３１内にヒータ３２が
設けられている。ヒートレール３１を滑走降下す
るIC素子を案内体３３で押え案内すると共に、
案内体３３はヒータ３４設けられ、これによつて
もIC素子を加熱している。測定部２９には図に
示していないが送られて来たIC素子を１個ずつ
その端子ピンにコンタクトをそれぞれ接触させて
所用の試験を行う機構が設けられている。この測
定部２９はメインヒート部をも構成している。

測定されたIC素子は吐出レール３５にそれぞ
れ供給される。吐出レール３５は分類機構３６に
連続している。分類機構３６においては分類レー
ル３７が吐出レール３５の配列方向に移動でき、
吐出レール３５からの試験されたIC素子が分類
レール３７に供給され、そのIC素子を良品、不
良品などに応じて分類レール３７を移動させて良
品用または不良品用収納レール３８に選択的に供
給する。収納レール３８は自動収容部３９（アン
ローダ）内のマガジン４１の対応するものに連続
し、収納レール３８により送られたIC素子を対
応するマガジン４１へ供給する。このようにして
この例においてはIC素子は例えば８つの試験通
路に分配されて並列に試験された後共通の収容部
３９内に、良品、不良品などに応じて分類して異
なるマガジン４１に収容されることが自動的に行
われる。

「従来の技術」 分類機構３６として従来においては分類レール
３７を１本として複数の吐出レール３５からそれ
ぞれ測定されたIC素子をその測定結果に応じて
収納レール３８中の予め決めたものを選択して収
納するものがあり、この分類機構は分類レールの
移動操作の構造が簡単であり、その駆動系も簡単
となるが、分類作業の時間が長くなる欠点があ
る。

一方第５図に示すように複数の分類レール、例
えば２本の分類レールを設けて行うものが従来よ
りあつた。その分類レール３７の間隔P₂を吐出
レール３５の間隔P₁と等しくしてあり、従つて
図に示すように二つの吐出レール３５と連続する
ように二つの分類レール３７を位置させた状態で
二つの吐出レール上のIC素子を停止しているス
トツパ４４を解除し、これら二つの吐出レールか
らIC素子を同時に２本の分類レール３７に供給
し、その後分類レール３７を移動させてそのIC
素子をその測定結果に応じて収納レール３８に対
し供給する。このため吐出レールから分類レール
へのIC素子の供給を短時間で行うことができる。

しかし両分類レール３７に送られたIC素子の
測定結果は必ずしも一致しないことなどから収納
レール３８へ同時にその両IC素子を供給するこ
とは一般にはできない。よつて従来においては収
納レール３８のそれぞれの入口にストツパを設
け、そのストツパ中の一つだけを選択的に解除し
て分類レールからのIC素子を一つの収納レール
に受入れるようにしていた。各収納レール３８に
対するストツパとその解除機構とをそれぞれ別個
に設ける必要があり、それだけ構造が複雑となつ
ていた。なお分類レール３７にそれぞれストツパ
を設けることも考えられるが、この場合そのスト
ツパを解除するための指令を電気信号或は空気信
号として送るための配線や配管が必要であり、そ
のような配線や配管を付けた状態で分類レールを
移動させることは好ましくない。

更に従来においては収納レール３８の間隔P₃
も吐出レール３５の間隔と等しくされていた。吐
出レール３５の本数をN₁、分類レール３７の本
数をN₂、収納レール３８の本数をN₃とし、N₁≧
（N₂−１）×２＋N₃の場合は、第６図に示すよう
に分類レール３７の何れのものも収納レール３８
の何れに対してもIC素子を供給することができ
る必要があり、従つて分類レール３７は実線と点
線とに示すような関係で収納レールに対して移動
させることができる必要があり、また吐出レール
３５のすべてに対して分類レール３７の何れかを
対向することができるようにする必要がある。こ
の点から従来装置において必要とするレール配列
方向におけるスペースは（N₁−１）×P₁＋αとな
る。

N₁＜（N₂−１）×２＋N₃の場合は第７図に示す
ように分類レール３７の何れのレールをも収納レ
ール３８の何れとも対向させることができる必要
があり、この場合にレール配列方向において必要
とするスペースは｛（N₂−１）×２＋N₃−１｝×
P₁＋αとなる。これらαは適当な値である。な
お分類レール３７をエンドレスに移動させるよう
に構成することもでき、その場合においてはN₁
＞N₃の場合に必要とするスペースは（N₁−１）
×P₁＋βとなり、N₁＜N₃の場合は、（N₃−１）×
P₁＋βのスペースを必要とする。βは任意の定
数である。

この考案の目的は比較的簡単な構造で、しかも
レール配列方向における占有空間を小さくするこ
とが可能なIC試験装置の分類機構を提供するこ
とにある。

「問題点を解決するための手段」 この考案においては吐出レールの間隔と分類レ
ールの間隔を一致させるが、この間隔に対して収
納レールの間隔を異ならせる。またその収納レー
ルの間隔と同一間隔でその各収納レールに対応し
てストツパ解除片が設けられ、そのストツパ解除
片に対する駆動は共通の駆動源によつて行われ、
その解除片によつて分類レール上のストツパを解
除することができるようにされる。

「実施例」 第１図乃至第３図はこの考案による分類機構の
実施例を示す。この実施例においては吐出レール
３５の間隔P₁と分類レール３７の間隔P₂とは等
しくするが収納レール３８の間隔P₃とは異なつ
たものとされる。この分類レール３７上のIC素
子を停止させるストツパが設けられる。例えば分
類レール３７は可動板４５上に取付けられ、可動
板４５は吐出レール３５の配列方向に延長したベ
ルトやチエーンなどの搬送体４６に連結され、モ
ータ４７により搬送体４６が駆動されて可動板４
５が移動される。第３図に示すように可動板４５
上の支持体４８を介して分類レール３７と対向し
た案内片４９が設けられて分類レール３７上を移
動するIC素子が飛び出さないようにされている。
分類レール３７の収納レール３８側の端部は可動
板４５より突出し、その突出した部分の分類レー
ル３７を貫通してストツパピン５１が分類レール
３７上に出入自在に設けられる。ストツパピン５
１の下端に係合片５２が固定され、係合片５２と
分類レール３７との間にコイルばね５３がストツ
パピン５１を中心に設けられ、コイルばね５３に
よつてストツパピン５１は案内片４９側に常に偏
倚されてこれにぶつかつている。従つて吐出レー
ル３５から送られたIC素子は分類レール３７上
でストツパピン５１と衝合してその移動が停止さ
れている。

ストツパピン５１の係合片５２の分類レール移
動に伴う移動位置に沿つて棒状駆動体５４が配さ
れ、棒状駆動体５４には解除片５５がその延長方
向に沿つて、収納レール３８の間隔P₃で複数個
形成されている。この例においては各収納レール
３８の丁度下に解除片５５が位置されている。駆
動体５４を駆動してない状態においては解除片５
５の位置より下において係合片５２が移動するよ
うにされている。この例においては四角筒状に駆
動体５４が形成され、その一側面にその長手方向
の溝が形成され、その溝を通じて係合片５２が四
角筒の駆動体５４内に位置されており、その駆動
体５４の溝の両側より解除片５５が一体に互に近
づくように形成されており、この解除片５５の間
隔は係合片５２よりも狭くされている。棒状駆動
体５４は共通の駆動手段、例えば両側において空
気シリンダ５６によつて図において上下に駆動す
ることができるようにされている。

従つて一つの分類レール３７を、その分類レー
ル上のIC素子１６を収納すべき収納レール３８
の一つと対向するように分類レール３７を移動さ
せ、その状態で空気シリンダ５６を制御して図に
おいて駆動体５４を下側に引張れば分類レールが
対向した収納レールの位置の解除片５５のみがそ
の分類レールの係合片５２と係合してストツパピ
ン５１はコイルばね５３の偏倚力に抗して引下げ
られてストツパが解除されてIC素子１６が収納
レール３８に送られる。分類レール３７の間隔
P₂が収納レール３８の間隔P₃と異なるため他の
分類レール３７の係合片５２と何れの解除片５５
も係合することなく、他の分類レール３７上の
IC素子はそのまま保持される。駆動体５４、解
除片５５、空気シリンダ５６は解除機構５７を構
成している。

「考案の効果」 以上述べたようにこの考案の分類機構によれば
分類レール３７は複数個設けられており、分類レ
ール３７の間隔P₂は吐出レール３５の間隔P₁と
等しくされているため、吐出レール３５の複数本
から供給されるIC素子を分類レール３７上に同
時に供給することができ、従つて分類レール３７
を移動している間にこれら分類レール３７上の
IC素子を目的とする収納レール３８に対して
次々に供給することができる。分類レール３７上
の一つについてストツパピン５１を解除すること
ができ、複数の分類レール３７上のIC素子を選
択的に収納レール３８に供給することができる。
しかもこの考案では収納レール３８と対向一致し
た分類レール３７のストツパピン５１のみが解除
されるようにされているから、ストツパピン５１
の解除は共通の駆動体５４によつて行うことがで
き、各別に駆動する場合と比べて駆動手段である
例えば空気シリンダの数を少なくすることがで
き、また全体の構造も簡単となる。つまり吐出レ
ール３５の数N₁、分類レール３７の数N₂、収納
レール３８の数N₃，P₂とP₃との最小公倍数をＰ
とすれば分類レール３７の数N₂をN₂≦Ｐ／P₂、
又は収納レール３８の数N₃をN₃≦Ｐ／P₃とする
ことによつて分類レール３７のうち収納レール３
８と対向した１本のみにあるIC素子を収納レー
ル３８に供給することができる。ストツパ解除機
構の駆動器は一つのみでよい。

更に、P₁＞P₃とした場合は第６図の条件下で
は収納レール３８の配列幅を従来より小さくで
き、第７図の条件とした場合には分類レール３７
の移動幅及び収納レール３８の配列幅を従来より
小さくできる。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの考案の分類機構の一例を示す平面
図、第２図はその斜視図、第３図は第１図のスト
ツパ解除機構部分の断面図、第４図はIC試験装
置を示す簡略図、第５図は第４図の斜視図、第６
図及び第７図は従来の分類機構における吐出レー
ル、分類レール、収納レールの関係を示す図であ
る。 １６……IC素子、３５……吐出レール、３７
……分類レール、３８……収納レール、４５……
可動板、４６……搬送体、５１……ストツパ、５
２……係合片、５３……コイルばね、５４……棒
状駆動体、５５……解除片、５６……空気シリン
ダ、５７……解除機構。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 互にほぼ平行に配列された複数の吐出レール
   と、互にほぼ平行に配列された複数の収納レール
   との間に、これらのレールの配列方向に移動自在
   に配列された複数の分類レールが設けられ、これ
   ら吐出レール、収納レール、分類レールの各長手
   方向はそれぞれほぼ平行し、吐出レールからの測
   定されたIC素子が上記分類レールに供給されて
   そのストツパに保持され、分類レールを移動させ
   て測定結果に応じて決められた収納レールと対向
   する位置でストツパ解除機構によつて上記ストツ
   パを解除し、上記分類レールよりのIC素子を収
   納レールに供給するIC試験装置の分類機構にお
   いて、上記吐出レールの間隔と上記分類レールの
   間隔とは同一間隔とされ、これら間隔と上記収納
   レールとの間隔は異ならされ、上記ストツパ解除
   機構は上記各収納レールと同一間隔でそれらと対
   応してストツパ解除片が設けられ、そのストツパ
   解除片は共通の駆動手段で駆動するように互に連
   結されていることを特徴とするIC試験装置の分
   類機構。