JPS61217424A - 分類装置 - Google Patents
分類装置Info
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- JPS61217424A JPS61217424A JP5837085A JP5837085A JPS61217424A JP S61217424 A JPS61217424 A JP S61217424A JP 5837085 A JP5837085 A JP 5837085A JP 5837085 A JP5837085 A JP 5837085A JP S61217424 A JPS61217424 A JP S61217424A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔技術分野〕
本発明は分類装置、たとえば、電子部品の特性測定を行
なうオートハンドラに適用して有効な分類装置に関する
。
なうオートハンドラに適用して有効な分類装置に関する
。
半導体装置等の電子部品の特性検査は、一般にハンドラ
（オートハンドラとも称す。）と呼ばれる装置が使用さ
れている。たとえば、ＩＣハンドラは、工業調査会発行
「電子材料Ｊ １９８３年別冊号、昭和５７年１１月１
５日発行、Ｐ１９９〜Ｐ２Ｏ３に記載されているように
多くの種類がある。これらのＩＣハンドラにあっては、
ＩＣ等の半導体装置は順次測定部に送り込まれて特性検
査が行われ、その後分類装置によって分類されるように
なっている。
（オートハンドラとも称す。）と呼ばれる装置が使用さ
れている。たとえば、ＩＣハンドラは、工業調査会発行
「電子材料Ｊ １９８３年別冊号、昭和５７年１１月１
５日発行、Ｐ１９９〜Ｐ２Ｏ３に記載されているように
多くの種類がある。これらのＩＣハンドラにあっては、
ＩＣ等の半導体装置は順次測定部に送り込まれて特性検
査が行われ、その後分類装置によって分類されるように
なっている。
ところで、このようなテスティングにおいてメモリー等
の電子部品は測定時間（テストタイム）が長いが、ＴＴ
Ｌ （）ランジスタ・トランジスタ・ロジック）のよう
なディシイタルＩＣ等の電子部品はテストタイムが、た
とえば、０．４ｓｅｃと極めて短くなってきている。こ
のため、テストタイムの短い電子部品のテスティングに
あっては、高価なテスターを待機させることなく稼働さ
せることによって、スループットの向上を図ることが検
討されている。
の電子部品は測定時間（テストタイム）が長いが、ＴＴ
Ｌ （）ランジスタ・トランジスタ・ロジック）のよう
なディシイタルＩＣ等の電子部品はテストタイムが、た
とえば、０．４ｓｅｃと極めて短くなってきている。こ
のため、テストタイムの短い電子部品のテスティングに
あっては、高価なテスターを待機させることなく稼働さ
せることによって、スループットの向上を図ることが検
討されている。
従来、前記文献にも記載されているように、スループッ
ト向上のために、２個（ディシイタルＩＣ用ハンドラ）
あるいは８個（ＥＰ−ＲＯＭ用ハンドラ）の電子部品を
同時に測定する多数個同時処理化が試みられている。
ト向上のために、２個（ディシイタルＩＣ用ハンドラ）
あるいは８個（ＥＰ−ＲＯＭ用ハンドラ）の電子部品を
同時に測定する多数個同時処理化が試みられている。
しかし、これらのハンドラにあっては、測定後の電子部
品の分類は１個ずつ処理する個別処理であるため、装置
能力の大幅な向上が望み難い。
品の分類は１個ずつ処理する個別処理であるため、装置
能力の大幅な向上が望み難い。
本発明の目的は多数個同時分類処理が可能な分類装置を
提供することにある。
提供することにある。
本発明の他の目的は高速分類処理が可能な分類゛装置を
提供することにある。
提供することにある。
本発明の他の目的は高速分類処理が可能なオートハンド
ラを提供することにある。
ラを提供することにある。
本発明の前記ならびにそのほかの目的と新規な特徴は、
本明細書の記述および添付図面からあきらかになるであ
ろう。
本明細書の記述および添付図面からあきらかになるであ
ろう。
本願において開示される発明のうち代表的なものの概要
を簡単に説明すれば、下記のとおりである。
を簡単に説明すれば、下記のとおりである。
すなわち、本発明の分類装置は、６列の供給レーンの各
出口にそれぞれ分配機構を配し、この分配機構によって
それぞれ３列に並ぶ分類レーンに分類に対応して分配す
るようになっているため、時を同じくして６個の半導体
装置の分類を同時に行なうことができるため、分類時間
及短縮され、テスターの待機時間が短くなり、測定時間
が短縮され、スループット向上が達成できる。
出口にそれぞれ分配機構を配し、この分配機構によって
それぞれ３列に並ぶ分類レーンに分類に対応して分配す
るようになっているため、時を同じくして６個の半導体
装置の分類を同時に行なうことができるため、分類時間
及短縮され、テスターの待機時間が短くなり、測定時間
が短縮され、スループット向上が達成できる。
第１図は本発明の一実施例によるオートハンドラにおけ
る分類装置の概要を示す一部の断面図、第２図は同じく
平面図、第３図は被分類物であるデュアルインライン形
の半導体装置の斜視図、第４図は前記半導体装置を収容
するマガジンの一部を示す斜視図である。 一 本発明の分類装置は、たとえば、ＩＣハンドラの分類部
分に適用される。この実施例ではデュアルインライン形
の半導体装置の測定分類について説明する。
る分類装置の概要を示す一部の断面図、第２図は同じく
平面図、第３図は被分類物であるデュアルインライン形
の半導体装置の斜視図、第４図は前記半導体装置を収容
するマガジンの一部を示す斜視図である。 一 本発明の分類装置は、たとえば、ＩＣハンドラの分類部
分に適用される。この実施例ではデュアルインライン形
の半導体装置の測定分類について説明する。
このデュアルインライン形の電子部品（半導体装置）１
は、第３図に示されるように、パンケージ２の両側部か
らそれぞれ下方に折れ曲がったり−ド３を突出させた構
造となっていて、第４図に示すようなマガジン（スティ
ックマガジン）４に一列に並べて収容されて管理される
。電子部品（半導体装置）ｌはパッケージ２の下面がマ
ガジン４の内部中央の台座部５に載り、両側のリード３
は台座部５の両側に拡がるリード収容空間６に納まるよ
うになっている。
は、第３図に示されるように、パンケージ２の両側部か
らそれぞれ下方に折れ曲がったり−ド３を突出させた構
造となっていて、第４図に示すようなマガジン（スティ
ックマガジン）４に一列に並べて収容されて管理される
。電子部品（半導体装置）ｌはパッケージ２の下面がマ
ガジン４の内部中央の台座部５に載り、両側のリード３
は台座部５の両側に拡がるリード収容空間６に納まるよ
うになっている。
このような半導体装置１が収容されたマガジン４はオー
トハンドラの供給部に多数並べて配設される。マガジン
４内の半導体装置１は、第１図に示されるように、供給
部７に供給される。この供給部７には、特に限定はされ
ないが、並行に６本の供給レーン（レール）８が設けら
れていて、前記半導体装置１はこの供給レーン８内にそ
れぞれ供給される。前記供給レーン８は前記マガジン４
と同様に半導体装置１のパッケージ２部分を支えるよう
になっている。また、前記、供給部７はハンドラの測定
部９に半導体装置１を案内するようになっている。また
、特に図示しないが、供給レーン８は常用の部品個別送
り機構が設けられていて、−個ずつ半導体装置１を測定
部９に送るようになっている。測定部９では半導体装置
１のリード３の先端が図示しない測定端子に接触し、半
導体装置１の特性測定が行われる。測定部９の下方には
測定部９から並列に自重によって滑動した半導体装置１
をそれぞれ独立して案内するガイドレール１０を有する
ガイド１１が設けられている。
トハンドラの供給部に多数並べて配設される。マガジン
４内の半導体装置１は、第１図に示されるように、供給
部７に供給される。この供給部７には、特に限定はされ
ないが、並行に６本の供給レーン（レール）８が設けら
れていて、前記半導体装置１はこの供給レーン８内にそ
れぞれ供給される。前記供給レーン８は前記マガジン４
と同様に半導体装置１のパッケージ２部分を支えるよう
になっている。また、前記、供給部７はハンドラの測定
部９に半導体装置１を案内するようになっている。また
、特に図示しないが、供給レーン８は常用の部品個別送
り機構が設けられていて、−個ずつ半導体装置１を測定
部９に送るようになっている。測定部９では半導体装置
１のリード３の先端が図示しない測定端子に接触し、半
導体装置１の特性測定が行われる。測定部９の下方には
測定部９から並列に自重によって滑動した半導体装置１
をそれぞれ独立して案内するガイドレール１０を有する
ガイド１１が設けられている。
また、このガイド１１の延長線上には分配機構１２の分
配器１３が連続して設けられている。この分配器１３に
は前記ガイドレール１０に対応して６個の分配レール１
４が設けられている。この分配レール１４は半導体装置
１が通過できるようになっている。また、この分配器１
３にはそれぞれの分配レール１４内に入った半導体装置
１を一時的に停止させるストッパー１５がそれぞれ配設
される。このス）−／パー１５は分配器１３の上部外面
に配設されたエアーシリンダ１６のロッドからなり、エ
アーシリンダ１６の”ＯＦＦ”動作時、分配器１３の外
壁を貫通して半導体装置１の通過域に突出し、分配レー
ル１４内に入ってきた半導体装置１を停止させるように
なっている。したがって、エアーシリンダ１６の“ＯＮ
”動作時は、ストッパー１５は引っ込み、ストッパー１
５によって停止されていた半導体装置１が分配レール１
４内を通過するようになっている。
配器１３が連続して設けられている。この分配器１３に
は前記ガイドレール１０に対応して６個の分配レール１
４が設けられている。この分配レール１４は半導体装置
１が通過できるようになっている。また、この分配器１
３にはそれぞれの分配レール１４内に入った半導体装置
１を一時的に停止させるストッパー１５がそれぞれ配設
される。このス）−／パー１５は分配器１３の上部外面
に配設されたエアーシリンダ１６のロッドからなり、エ
アーシリンダ１６の”ＯＦＦ”動作時、分配器１３の外
壁を貫通して半導体装置１の通過域に突出し、分配レー
ル１４内に入ってきた半導体装置１を停止させるように
なっている。したがって、エアーシリンダ１６の“ＯＮ
”動作時は、ストッパー１５は引っ込み、ストッパー１
５によって停止されていた半導体装置１が分配レール１
４内を通過するようになっている。
一方、前記分配器１３は上下方向、より厳密に言うなら
ば、前記供給レーン８のレーン延在方向に直交する上下
方向に二段に亘って昇降できるように、両端にガイド軸
１７が慴動自在に取り付けられている。また、前記分配
器１３は図示しない昇降機構によって上下動するように
なっている。
ば、前記供給レーン８のレーン延在方向に直交する上下
方向に二段に亘って昇降できるように、両端にガイド軸
１７が慴動自在に取り付けられている。また、前記分配
器１３は図示しない昇降機構によって上下動するように
なっている。
また、前記分配器１３の下方、すなわち、分配器１３の
延長方向には前記供給部７の供給レーン８にそれぞれ対
応した分類レーン１８を有する分類部１９が三段に亘っ
て配設されている。分類部１９は説明の便宜上最上段を
Ａ分類、中断を８分類。
延長方向には前記供給部７の供給レーン８にそれぞれ対
応した分類レーン１８を有する分類部１９が三段に亘っ
て配設されている。分類部１９は説明の便宜上最上段を
Ａ分類、中断を８分類。
最下段をＣ分類と称し、第１図においては、それぞれＡ
、 Ｂ、 Ｃで示されている。Ａ分類の分類レーン
１８は前記供給レーン８の延長上に位置している。そし
て、前記分配器１３が一段下がると、この分配器１３の
分配レール１４は、８分類の分類レーン１８に対面し、
さらに一段分配器１３が下がるとＣ分類の分類レーン１
８に対面する。したがって分配器１３が停止した時点で
所望のストッパー１５を“ＯＮ”動作させると、“ＯＮ
”動作された箇所の分配レール１４内に入っている半導
体装置１は、分配レール１４に対面する分類レーン１８
内に入り、分類が成される。各分類レーン１８内に入っ
た半導体装置１は分類レーン１８に案内され、自重落下
して所定の収容部に収容される。
、 Ｂ、 Ｃで示されている。Ａ分類の分類レーン
１８は前記供給レーン８の延長上に位置している。そし
て、前記分配器１３が一段下がると、この分配器１３の
分配レール１４は、８分類の分類レーン１８に対面し、
さらに一段分配器１３が下がるとＣ分類の分類レーン１
８に対面する。したがって分配器１３が停止した時点で
所望のストッパー１５を“ＯＮ”動作させると、“ＯＮ
”動作された箇所の分配レール１４内に入っている半導
体装置１は、分配レール１４に対面する分類レーン１８
内に入り、分類が成される。各分類レーン１８内に入っ
た半導体装置１は分類レーン１８に案内され、自重落下
して所定の収容部に収容される。
このような分類装置にあっては、測定部９で測定された
半導体装置１が、分配器１３が分配レール１４内に停止
した時点で、Ａ分類に収容される必要のある半導体装置
１が入っている分配レール１４のエアーシリンダ１６カ
びＯＮ″動作し、分配レール１４内の半導体装置１がＡ
分類の分類レーン１８内に分類収容される。その後、分
配器１３は一段降下し、この位置で８分類に収容される
必要のある半導体装置１が入っている分配レール１４の
エアーシリンダ１６が１ＯＮ′″動作し、分配レール１
４内の半導体装置１が８分類の分類レーン１８内に分類
収容される。８分類の分類収容が終ると、再びＣ分類に
収容される必要のある半導体装置１が入っている分配レ
ール１４のエアーシリンダ１６が“ＯＮ”作動し、分配
レール１４内の半導体装置１がＣ分類の分類レーン１８
内に分類収容される。その後、分配器１３は最上段に移
行し、次の半導体装置１を受は取る態勢に入る。
半導体装置１が、分配器１３が分配レール１４内に停止
した時点で、Ａ分類に収容される必要のある半導体装置
１が入っている分配レール１４のエアーシリンダ１６カ
びＯＮ″動作し、分配レール１４内の半導体装置１がＡ
分類の分類レーン１８内に分類収容される。その後、分
配器１３は一段降下し、この位置で８分類に収容される
必要のある半導体装置１が入っている分配レール１４の
エアーシリンダ１６が１ＯＮ′″動作し、分配レール１
４内の半導体装置１が８分類の分類レーン１８内に分類
収容される。８分類の分類収容が終ると、再びＣ分類に
収容される必要のある半導体装置１が入っている分配レ
ール１４のエアーシリンダ１６が“ＯＮ”作動し、分配
レール１４内の半導体装置１がＣ分類の分類レーン１８
内に分類収容される。その後、分配器１３は最上段に移
行し、次の半導体装置１を受は取る態勢に入る。
この一連の動きは、実際には数秒と極めて短時間である
。
。
（１１本発明によれば、分類装置は多数の半導体装置を
同時に分類できるため、１回の分類動作に掛かる時間は
、半導体装置１個当たりに換算すれば、大幅に短くなり
、分類の高速化が達成できるという効果が得られる。
同時に分類できるため、１回の分類動作に掛かる時間は
、半導体装置１個当たりに換算すれば、大幅に短くなり
、分類の高速化が達成できるという効果が得られる。
（２）上記（１１より、本発明によれば、分類の高速化
から、多数の半導体装置を同時に測定してもテスターの
待ち時間が少なくでき、稼働率の向上から特性選別のス
ループットが向上するという効果が得られる。
から、多数の半導体装置を同時に測定してもテスターの
待ち時間が少なくでき、稼働率の向上から特性選別のス
ループットが向上するという効果が得られる。
（３）上記（１）および（２）により、本発明によれば
、多数の半導体装置を同時に測定できることと、測定後
の分類も多数の半導体装置を同時に分類できるため、特
性分類の高速化が達成できるとともに、特性分類のコス
トも低減できるという相乗効果が得られる。
、多数の半導体装置を同時に測定できることと、測定後
の分類も多数の半導体装置を同時に分類できるため、特
性分類の高速化が達成できるとともに、特性分類のコス
トも低減できるという相乗効果が得られる。
以上本発明者によってなされた発明を実施例に基づき具
体的に説明したが、本発明は上記実施例に限定されるも
のではなぐ、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能
であることはいうまでもない。すなわち、実施例では半
導体装置ｌを６個ずつ分類処理する例について説明した
が、さらに８個あるいはそれ以上−い半導体装置の分類
も可能である。
体的に説明したが、本発明は上記実施例に限定されるも
のではなぐ、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能
であることはいうまでもない。すなわち、実施例では半
導体装置ｌを６個ずつ分類処理する例について説明した
が、さらに８個あるいはそれ以上−い半導体装置の分類
も可能である。
また、分配機構は、第５図に示されるように、エアーシ
リンダ１６を有する分配器１３が、支軸２０を中心にし
て先端が上下に首振り運動する構造のものであっても前
記実施例同様な効果が得られる。この場合、分類部１９
は放射状に配列され、分配器１３から送り込まれる半導
体装置１を円滑に受は取るようになっている。また、ス
トッパーはエアーシリンダに限定されるものではなく、
一般に使用されているストッパー構造でも前記実施例同
様な効果が得られる。
リンダ１６を有する分配器１３が、支軸２０を中心にし
て先端が上下に首振り運動する構造のものであっても前
記実施例同様な効果が得られる。この場合、分類部１９
は放射状に配列され、分配器１３から送り込まれる半導
体装置１を円滑に受は取るようになっている。また、ス
トッパーはエアーシリンダに限定されるものではなく、
一般に使用されているストッパー構造でも前記実施例同
様な効果が得られる。
以上の説明では主として本発明者によってなされた発明
をその背景となった利用分野であるデュアルインライン
形のＩＣハンドラにおける半導体装置の分類技術に適用
した場合について説明したが、それに限定されるもので
はなく、たとえば、フラット形の半導体装置等信の構造
の電子部品の特性分類技術にも適用できる。
をその背景となった利用分野であるデュアルインライン
形のＩＣハンドラにおける半導体装置の分類技術に適用
した場合について説明したが、それに限定されるもので
はなく、たとえば、フラット形の半導体装置等信の構造
の電子部品の特性分類技術にも適用できる。
本発明は少なくとも物品の分類技術に適用できる。
第１図は本発明の一実施例によるオートハンドラにおけ
る分類装置の概要を示す一部の断面図、第２図は同じく
平面図、 第３図は被分類物であるデュアルインライン形の半導体
装置の斜視図、 第４図は前記半導体装置を収容するマガジンの一部を示
す斜視図、 第５図は本発明の他の実施例による分類装置の一部を示
す側面図である。
る分類装置の概要を示す一部の断面図、第２図は同じく
平面図、 第３図は被分類物であるデュアルインライン形の半導体
装置の斜視図、 第４図は前記半導体装置を収容するマガジンの一部を示
す斜視図、 第５図は本発明の他の実施例による分類装置の一部を示
す側面図である。
Claims (1)
- １、複数の物品供給レーンと、前記各供給レーンの出口
に配設される分配機構と、前記分配機構に対応して配設
される複数の分類レーンと、を有し、かつ前記分配機構
は供給レーンから送り出された物品を複数の分類レーン
に振り分けることを特徴とする分類装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5837085A JPS61217424A (ja) | 1985-03-25 | 1985-03-25 | 分類装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5837085A JPS61217424A (ja) | 1985-03-25 | 1985-03-25 | 分類装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61217424A true JPS61217424A (ja) | 1986-09-27 |
Family
ID=13082437
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5837085A Pending JPS61217424A (ja) | 1985-03-25 | 1985-03-25 | 分類装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61217424A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0648561A (ja) * | 1992-07-24 | 1994-02-22 | Matsushita Electric Works Ltd | 部品の切り出し方法及びその装置 |
| JP2009184761A (ja) * | 2008-02-04 | 2009-08-20 | Denso Corp | 多品種対応型部品供給装置 |
| WO2017115600A1 (ja) * | 2015-12-28 | 2017-07-06 | 倉敷紡績株式会社 | 物品供給方法および装置 |
-
1985
- 1985-03-25 JP JP5837085A patent/JPS61217424A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0648561A (ja) * | 1992-07-24 | 1994-02-22 | Matsushita Electric Works Ltd | 部品の切り出し方法及びその装置 |
| JP2009184761A (ja) * | 2008-02-04 | 2009-08-20 | Denso Corp | 多品種対応型部品供給装置 |
| WO2017115600A1 (ja) * | 2015-12-28 | 2017-07-06 | 倉敷紡績株式会社 | 物品供給方法および装置 |
| US10427885B2 (en) | 2015-12-28 | 2019-10-01 | Kurashiki Boseki Kabushiki Kaisha | Article supply method and device |
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