JPH0717026Y2 - Ｉｃ試験装置 - Google Patents
Ｉｃ試験装置Info
- Publication number
- JPH0717026Y2 JPH0717026Y2 JP14671289U JP14671289U JPH0717026Y2 JP H0717026 Y2 JPH0717026 Y2 JP H0717026Y2 JP 14671289 U JP14671289 U JP 14671289U JP 14671289 U JP14671289 U JP 14671289U JP H0717026 Y2 JPH0717026 Y2 JP H0717026Y2
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- supplied
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- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】 「産業上の利用分野」 この考案は複数のIC供給列からそれぞれIC素子を複数の
コンタクトレールへ供給し、その各コンタクトレールに
直列に設けられている複数の測定部に各１個のIC素子を
供給して、これらIC素子を同時に試験するIC試験装置に
関する。
コンタクトレールへ供給し、その各コンタクトレールに
直列に設けられている複数の測定部に各１個のIC素子を
供給して、これらIC素子を同時に試験するIC試験装置に
関する。
「従来の技術」 第３図、第４図に従来のIC試験装置を示す。供給マガジ
ン11からのIC素子が入口レール12を通じて分離供給用レ
ール（エスケープレール）13へ供給され、分離供給用レ
ール13で連続的に送られて来るIC素子が１個ずつ分離さ
れてリジェクタレール14を通じて分配レール15へ供給さ
れる。リジェクタレール14はピンが曲ったIC素子のよう
にその搬送にひっかかりが生じるおそれのあるIC素子を
除去する。分配レール15の下側に複数、例えば８本のIC
供給列として蓄積トラック16が配列されており、これら
蓄積トラック16に分配レール15からIC素子が分配供給さ
れる。各蓄積トラック16の下端にそれぞれ方向転換レー
ル（トランスファレール）17が設けられ、これら方向転
換レール17にそれぞれIC素子が１個供給されると、これ
ら８本の方向転換レール17は同時に垂直に回動された
後、そのストッパ18が同時に解除されて、８本の垂直の
コンタクトレール19へIC素子がそれぞれ供給される。各
コンタクトレール19には複数、この例では２個の測定部
21が直列に設けられ、従ってこの例では８本のコンタク
トレール19があるから、測定部21は21a〜21pの16個があ
る。これら各測定部21a〜21pの各下端にそれぞれストッ
パ22が設けられており、各ストッパ22に受け止められ
て、IC素子が各測定部21a〜21pに１個ずつ配されると、
ソケット保持部23に設けられた各別のICソケット24に各
IC素子が接続され、各IC素子に対する試験が同時に行わ
れる。なおこの例はコンタクトレール19は２本ずつユニ
ットとされている。試験が終了すると、各コンタクトレ
ール19からIC素子が出口レール25を通じて方向転換レー
ル（オリエンタレール）26へ供給され、方向転換レール
26により搬送方向が変えられて、それぞれ蓄積レール27
へ供給される。各蓄積レール27のIC素子は順次ソータ28
へ供給され、そのIC素子の試験結果に対応して連結レー
ル29を通じて収納マガジン31に分配収納される。
ン11からのIC素子が入口レール12を通じて分離供給用レ
ール（エスケープレール）13へ供給され、分離供給用レ
ール13で連続的に送られて来るIC素子が１個ずつ分離さ
れてリジェクタレール14を通じて分配レール15へ供給さ
れる。リジェクタレール14はピンが曲ったIC素子のよう
にその搬送にひっかかりが生じるおそれのあるIC素子を
除去する。分配レール15の下側に複数、例えば８本のIC
供給列として蓄積トラック16が配列されており、これら
蓄積トラック16に分配レール15からIC素子が分配供給さ
れる。各蓄積トラック16の下端にそれぞれ方向転換レー
ル（トランスファレール）17が設けられ、これら方向転
換レール17にそれぞれIC素子が１個供給されると、これ
ら８本の方向転換レール17は同時に垂直に回動された
後、そのストッパ18が同時に解除されて、８本の垂直の
コンタクトレール19へIC素子がそれぞれ供給される。各
コンタクトレール19には複数、この例では２個の測定部
21が直列に設けられ、従ってこの例では８本のコンタク
トレール19があるから、測定部21は21a〜21pの16個があ
る。これら各測定部21a〜21pの各下端にそれぞれストッ
パ22が設けられており、各ストッパ22に受け止められ
て、IC素子が各測定部21a〜21pに１個ずつ配されると、
ソケット保持部23に設けられた各別のICソケット24に各
IC素子が接続され、各IC素子に対する試験が同時に行わ
れる。なおこの例はコンタクトレール19は２本ずつユニ
ットとされている。試験が終了すると、各コンタクトレ
ール19からIC素子が出口レール25を通じて方向転換レー
ル（オリエンタレール）26へ供給され、方向転換レール
26により搬送方向が変えられて、それぞれ蓄積レール27
へ供給される。各蓄積レール27のIC素子は順次ソータ28
へ供給され、そのIC素子の試験結果に対応して連結レー
ル29を通じて収納マガジン31に分配収納される。
「考案が解決しようとする課題」 以上述べたように、従来の装置では８本のIC供給列、つ
まり、８本の蓄積トラック16より各１個のIC素子を同時
に８本のコンタクトレール19へ供給しており、８本のコ
ンタクトレール19には計16個の測定部21a〜21pが設けら
れており、これら測定部21a〜21pの各IC素子を試験する
ため、16個の測定系が用いられるが、その測定系の１つ
例えば測定部21aに対するものが故障すると、その故障
した測定系と対応する測定部21aのコンタクトレール19
へIC素子を供給しないように、このコンタクトレール19
と対応する蓄積トラック16aへのIC素子の分配供給を停
止していた。従って、この例では測定部21iに対する測
定系は正常であっても、この測定部21iによる試験も停
止させられ、それだけIC試験装置が有効に利用されなか
った。１本のコンタクトレール19に測定部が直列に４段
設けられる場合は、１つの測定部に対応する測定系の故
障があると、その測定部が設けられているコンタクトレ
ールの他の３つの測定部についても試験が停止されてし
まい、正常な測定系で有効に利用されないものが多くな
る。
まり、８本の蓄積トラック16より各１個のIC素子を同時
に８本のコンタクトレール19へ供給しており、８本のコ
ンタクトレール19には計16個の測定部21a〜21pが設けら
れており、これら測定部21a〜21pの各IC素子を試験する
ため、16個の測定系が用いられるが、その測定系の１つ
例えば測定部21aに対するものが故障すると、その故障
した測定系と対応する測定部21aのコンタクトレール19
へIC素子を供給しないように、このコンタクトレール19
と対応する蓄積トラック16aへのIC素子の分配供給を停
止していた。従って、この例では測定部21iに対する測
定系は正常であっても、この測定部21iによる試験も停
止させられ、それだけIC試験装置が有効に利用されなか
った。１本のコンタクトレール19に測定部が直列に４段
設けられる場合は、１つの測定部に対応する測定系の故
障があると、その測定部が設けられているコンタクトレ
ールの他の３つの測定部についても試験が停止されてし
まい、正常な測定系で有効に利用されないものが多くな
る。
「課題を解決するための手段」 この考案によればコンタクトレールの上流側において、
各IC供給列ごとに各別に制御可能なストッパが設けら
れ、コンタクトレール上の測定部が故障した際にはその
故障した測定部にIC素子が供給されないように上記上流
側のストッパを制御する。
各IC供給列ごとに各別に制御可能なストッパが設けら
れ、コンタクトレール上の測定部が故障した際にはその
故障した測定部にIC素子が供給されないように上記上流
側のストッパを制御する。
「実施例」 第１図にこの考案の実施例の要部を示し、第３図と対応
する部分に同一符号を付けてある。この実施例では各1C
供給列としての各蓄積トラック16の下端にそれぞれ独立
に制御できるストッパ32が設けられ、各コンタクトレー
ル19へのIC素子の供給を各別に停止制御することができ
るようにされる。例えば第２図に示すように、基板33上
に蓄積トラック16が形成され、蓄積トラック16上にIC素
子34が滑走供給され、そのIC素子34を蓄積トラック16と
共に挟むようにループ35が固定されている。この蓄積ト
ラック16の下端部の底面に基板33を貫通する孔36が形成
され、孔36内にストッパ32が配され、ストッパ32の基板
33より突出した端部は空気シリンダ37のピストンに連結
固定される。空気シリンダ37は基板33に支持具38で固定
されている。空気シリンダ37を空気圧で制御することに
よりストッパ32を蓄積トラック16の底面より突出させた
り引込めたりすることができる。IC素子34がある状態で
ストッパ32を突出させると、IC素子34はストッパ32によ
りループ35に押し付けられ、そのIC素子34は滑走できな
くなる。
する部分に同一符号を付けてある。この実施例では各1C
供給列としての各蓄積トラック16の下端にそれぞれ独立
に制御できるストッパ32が設けられ、各コンタクトレー
ル19へのIC素子の供給を各別に停止制御することができ
るようにされる。例えば第２図に示すように、基板33上
に蓄積トラック16が形成され、蓄積トラック16上にIC素
子34が滑走供給され、そのIC素子34を蓄積トラック16と
共に挟むようにループ35が固定されている。この蓄積ト
ラック16の下端部の底面に基板33を貫通する孔36が形成
され、孔36内にストッパ32が配され、ストッパ32の基板
33より突出した端部は空気シリンダ37のピストンに連結
固定される。空気シリンダ37は基板33に支持具38で固定
されている。空気シリンダ37を空気圧で制御することに
よりストッパ32を蓄積トラック16の底面より突出させた
り引込めたりすることができる。IC素子34がある状態で
ストッパ32を突出させると、IC素子34はストッパ32によ
りループ35に押し付けられ、そのIC素子34は滑走できな
くなる。
なお、方向転換レール17に蓄積トラック16から１個のIC
素子34が供給されると、方向転換レール17は垂直に回動
し、この時方向転換レール17の上端の底面より突出して
いる受け片39が蓄積トラック16の下端と近接対向して蓄
積トラック16から供給されるIC素子34が受け片39にぶつ
かり、IC素子34が落下しないようにされている。ストッ
パ18を解除すると、方向転換レール17上のIC素子がコン
タクトレール19へ供給され、ストッパ22で受け止めら
れ、測定部に位置される。ストッパ22は駆動片41がコン
タクトレール19側に押されると、コンタクトレール19か
ら引込む。コンタクトレール19に対してもIC素子を挟む
ようにルーフ42が設けられている。コンタクトレール19
がソケット保持部23側に押されて、各測定部のIC素子は
ICソケット24に接続される。コンタクトレール19をソケ
ット保持部23より離れるように元に戻すと、ルーフ42に
よりIC素子34はICソケット24から抜ける。
素子34が供給されると、方向転換レール17は垂直に回動
し、この時方向転換レール17の上端の底面より突出して
いる受け片39が蓄積トラック16の下端と近接対向して蓄
積トラック16から供給されるIC素子34が受け片39にぶつ
かり、IC素子34が落下しないようにされている。ストッ
パ18を解除すると、方向転換レール17上のIC素子がコン
タクトレール19へ供給され、ストッパ22で受け止めら
れ、測定部に位置される。ストッパ22は駆動片41がコン
タクトレール19側に押されると、コンタクトレール19か
ら引込む。コンタクトレール19に対してもIC素子を挟む
ようにルーフ42が設けられている。コンタクトレール19
がソケット保持部23側に押されて、各測定部のIC素子は
ICソケット24に接続される。コンタクトレール19をソケ
ット保持部23より離れるように元に戻すと、ルーフ42に
よりIC素子34はICソケット24から抜ける。
以上のように構成されているから、常時はすべてのスト
ッパ32を引込めてIC素子が方向転換レール17へ滑走する
ようにされ、従来と同様に処理される。しかし、例えば
測定部21aに対する測定系に故障が生じたが、この測定
部21aと同一コンタクトレール19上の測定部21iの測定系
は正常な場合は、方向転換レール17を垂直にしてIC素子
を下側の測定部21i〜21pへ送った後、測定部21aのコン
タクトレール19へIC素子を供給する蓄積トラック16aの
みそのストッパ32を突出させ、IC素子の移動を停止し、
その後、方向転換レール17を戻して蓄積トラック16と一
致させる。この時、蓄積トラック16aのみそこからIC素
子が方向転換レール17へ供給されないが、他の蓄積トラ
ック16からはそれぞれIC素子が方向転換レール17へ供給
される。よって上側の測定部21a〜21h中の測定部21aを
除いて他の測定部にそれぞれIC素子を供給することがで
きる。
ッパ32を引込めてIC素子が方向転換レール17へ滑走する
ようにされ、従来と同様に処理される。しかし、例えば
測定部21aに対する測定系に故障が生じたが、この測定
部21aと同一コンタクトレール19上の測定部21iの測定系
は正常な場合は、方向転換レール17を垂直にしてIC素子
を下側の測定部21i〜21pへ送った後、測定部21aのコン
タクトレール19へIC素子を供給する蓄積トラック16aの
みそのストッパ32を突出させ、IC素子の移動を停止し、
その後、方向転換レール17を戻して蓄積トラック16と一
致させる。この時、蓄積トラック16aのみそこからIC素
子が方向転換レール17へ供給されないが、他の蓄積トラ
ック16からはそれぞれIC素子が方向転換レール17へ供給
される。よって上側の測定部21a〜21h中の測定部21aを
除いて他の測定部にそれぞれIC素子を供給することがで
きる。
このようにストッパ32を選択し、かつ突出タイミングを
選択することにより、測定部21a〜21pのうちの任意のも
のに対してIC素子を供給しないようにすることができ
る。なお、ストッパ32を省略して、方向転換レール17の
ストッパ18を各別に制御できるようにしても、同様に測
定部21a〜21pへのIC素子の供給を各別に制御することが
できる。つまり各コンタクトレール19の上流側におい
て、各IC供給列ごとに各別に制御可能なストッパを設け
ればよい。
選択することにより、測定部21a〜21pのうちの任意のも
のに対してIC素子を供給しないようにすることができ
る。なお、ストッパ32を省略して、方向転換レール17の
ストッパ18を各別に制御できるようにしても、同様に測
定部21a〜21pへのIC素子の供給を各別に制御することが
できる。つまり各コンタクトレール19の上流側におい
て、各IC供給列ごとに各別に制御可能なストッパを設け
ればよい。
「考案の効果」 以上述べたようにこの考案によれば各コンタクトレール
19へのIC素子供給を停止できるストッパをコンタクトレ
ールの上流側において各コンタクトレール19ごとに独立
に制御できるように設けているため、そのストッパの選
択と、動作タイミングを選ぶことにより任意の測定部に
対してIC素子の供給を行わないようにすることができ、
故障した測定系の測定部へIC素子を供給することなく、
この測定部と同一のコンタクトレール上の他の正常な測
定系の測定部にIC素子を供給することができ、正常な測
定系を有効に利用することができる。また各別の同一番
目の測定部のストッパは同時制御を行えばよく、つまり
これらの全てを各別に制御可能としておく必要はなく、
各別に制御可能とするものは、各列ごとにコンタクトレ
ールの上流側に各１つのストッパを設けるだけであるか
ら、簡単な構成となる。１本のコンタクトレールに設け
る測定部の数が多い程、この考案の効果は大きくなる。
19へのIC素子供給を停止できるストッパをコンタクトレ
ールの上流側において各コンタクトレール19ごとに独立
に制御できるように設けているため、そのストッパの選
択と、動作タイミングを選ぶことにより任意の測定部に
対してIC素子の供給を行わないようにすることができ、
故障した測定系の測定部へIC素子を供給することなく、
この測定部と同一のコンタクトレール上の他の正常な測
定系の測定部にIC素子を供給することができ、正常な測
定系を有効に利用することができる。また各別の同一番
目の測定部のストッパは同時制御を行えばよく、つまり
これらの全てを各別に制御可能としておく必要はなく、
各別に制御可能とするものは、各列ごとにコンタクトレ
ールの上流側に各１つのストッパを設けるだけであるか
ら、簡単な構成となる。１本のコンタクトレールに設け
る測定部の数が多い程、この考案の効果は大きくなる。
第１図はこの考案の実施例の一部を示す平面図、第２図
はその一部の拡大側面図、第３図は従来の装置を示す平
面図、第４図は第３図の側面図である。
はその一部の拡大側面図、第３図は従来の装置を示す平
面図、第４図は第３図の側面図である。
Claims (1)
- 【請求項１】並列に設けられた複数のIC供給列から、そ
れぞれIC素子が複数のコンタクトレールへ同時制御によ
り同時に供給され、これら各コンタクトレールには、直
列に複数の測定部が設けられ、各列の同一番目の測定部
ごとに同時制御され、その測定部にIC素子を受け止める
ストッパが設けられ、各列の上記同一番目の測定部にそ
れぞれ１個のIC素子が同時制御により同時に供給され、
全測定部にIC素子が供給された状態でこれらIC素子に対
して同時に試験を行うIC試験装置において、 上記コンタクトレールの上流側において上記各IC供給列
ごとに設けられ、各別に制御可能であり、対応するコン
タクトレールへのIC素子の供給を停止することができる
複数のストッパを具備し、 上記コンタクトレール上の測定部が故障した際にはその
故障した測定部にはIC素子が供給されないように、上記
上流側のストッパを制御する手段を有することを特徴と
するIC試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14671289U JPH0717026Y2 (ja) | 1989-12-20 | 1989-12-20 | Ｉｃ試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14671289U JPH0717026Y2 (ja) | 1989-12-20 | 1989-12-20 | Ｉｃ試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0385584U JPH0385584U (ja) | 1991-08-29 |
| JPH0717026Y2 true JPH0717026Y2 (ja) | 1995-04-19 |
Family
ID=31693259
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14671289U Expired - Fee Related JPH0717026Y2 (ja) | 1989-12-20 | 1989-12-20 | Ｉｃ試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0717026Y2 (ja) |
-
1989
- 1989-12-20 JP JP14671289U patent/JPH0717026Y2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0385584U (ja) | 1991-08-29 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |