JPH04102009A - 平坦度測定装置 - Google Patents
平坦度測定装置Info
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- JPH04102009A JPH04102009A JP2220659A JP22065990A JPH04102009A JP H04102009 A JPH04102009 A JP H04102009A JP 2220659 A JP2220659 A JP 2220659A JP 22065990 A JP22065990 A JP 22065990A JP H04102009 A JPH04102009 A JP H04102009A
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- Japan
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- flatness
- distance
- shaped body
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- Pending
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 13
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 230000001186 cumulative effect Effects 0.000 description 2
- 238000005098 hot rolling Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000005096 rolling process Methods 0.000 description 1
- 238000004441 surface measurement Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B21—MECHANICAL METAL-WORKING WITHOUT ESSENTIALLY REMOVING MATERIAL; PUNCHING METAL
- B21B—ROLLING OF METAL
- B21B38/00—Methods or devices for measuring, detecting or monitoring specially adapted for metal-rolling mills, e.g. position detection, inspection of the product
- B21B38/02—Methods or devices for measuring, detecting or monitoring specially adapted for metal-rolling mills, e.g. position detection, inspection of the product for measuring flatness or profile of strips
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、長手方向に移動する帯状体上の幅方向の複
数箇所で帯状体表面の平坦度を測定する平坦度測定装置
に関する。
数箇所で帯状体表面の平坦度を測定する平坦度測定装置
に関する。
第３図は例えば特開昭６１−１７８６０８号公報に示さ
れた従来の平坦度測定装置を示すブロック図であり、図
において、１は長手方向に一定速度Ｖで移動する帯状体
で、この帯状体１の上方位置にこれの幅方向に複数の距
離測定器２が配置されている。各距離測定器２は、一定
時間Δを毎にこれから帯状体１の表面までの距離Ｙを測
定するものである。３は距離信号を平滑化するローパス
フィルタ、４は帯状体１の弧長を求める弧長演算器、５
は帯状体１の幅方向の各位置（各箇所）で測定された移
動距離Ｌ１＋Ｌ２１ ・・ＩＬＭのうち最小の移動距
離り、、、を検出する最小値検出器、６は弧長演算器４
の演算結果および最ｉＪｓ値検出器５の出力にもとづい
て各輻方向位置の各伸び率β□〜β７、つまり帯状体１
の平坦度を算出する平坦度演算器である。
れた従来の平坦度測定装置を示すブロック図であり、図
において、１は長手方向に一定速度Ｖで移動する帯状体
で、この帯状体１の上方位置にこれの幅方向に複数の距
離測定器２が配置されている。各距離測定器２は、一定
時間Δを毎にこれから帯状体１の表面までの距離Ｙを測
定するものである。３は距離信号を平滑化するローパス
フィルタ、４は帯状体１の弧長を求める弧長演算器、５
は帯状体１の幅方向の各位置（各箇所）で測定された移
動距離Ｌ１＋Ｌ２１ ・・ＩＬＭのうち最小の移動距
離り、、、を検出する最小値検出器、６は弧長演算器４
の演算結果および最ｉＪｓ値検出器５の出力にもとづい
て各輻方向位置の各伸び率β□〜β７、つまり帯状体１
の平坦度を算出する平坦度演算器である。
次に動作について説明する。
まず、距離測定器２は移動する帯状体の各位置における
。距離測定器２から帯状体１までの距離を測定する。こ
の測定信号は各ローパスフィルタ３に入力されて高周波
の雑音成分が除去された後、弧長演算器４に入力される
。この弧長演算器４では、第４図に示すように時刻１＋
と一定時間Δを経過後の時刻ｔ、＋１における距離Ｙ
Ｌ Ｉ Ｙ （＋１、および該当時間Δを内の移動距
離ΔＸＬ（＝Ｖ・Δｔ）から（１）式に基づいて該当距
離ΔＸｔにおける帯状体１の表面の長さ、すなわち弧長
ΔＳ１が算出される。
。距離測定器２から帯状体１までの距離を測定する。こ
の測定信号は各ローパスフィルタ３に入力されて高周波
の雑音成分が除去された後、弧長演算器４に入力される
。この弧長演算器４では、第４図に示すように時刻１＋
と一定時間Δを経過後の時刻ｔ、＋１における距離Ｙ
Ｌ Ｉ Ｙ （＋１、および該当時間Δを内の移動距
離ΔＸＬ（＝Ｖ・Δｔ）から（１）式に基づいて該当距
離ΔＸｔにおける帯状体１の表面の長さ、すなわち弧長
ΔＳ１が算出される。
Δｓ ｉ＝ｆ頁■四］７「Ｆ・・・（１）但し、ΔＹ
ｔ ” Ｙ ｉＹ ｔ。□である。
ｔ ” Ｙ ｉＹ ｔ。□である。
したがって、帯状体１が長手方向にａ点からｂ点までの
距離したけ移動した場合におけるその距離りに対応する
全体の弧長Ｓは、Ｌ＝（ｎ−１）ΔＸｔ とすると、（
２）式で示される。
距離したけ移動した場合におけるその距離りに対応する
全体の弧長Ｓは、Ｌ＝（ｎ−１）ΔＸｔ とすると、（
２）式で示される。
Ｓ＝ Σ （ΔＳｔ） ・・・
（２）よって、距離したけ移動した場合の伸び率βは
、（３）式に従って各伸び率演算器６において算出され
る。
（２）よって、距離したけ移動した場合の伸び率βは
、（３）式に従って各伸び率演算器６において算出され
る。
β＝ （Ｓ−Ｌ）／Ｌ ・・・ （
３）以上の手法を用いて幅方向の各位置における各伸び
率β１〜β４が求まる。
３）以上の手法を用いて幅方向の各位置における各伸び
率β１〜β４が求まる。
なお、測定された伸び率から帯状体１のおおきなうねり
による要因を排除するために、幅方向の各位置で測定さ
れた移動距離ＬＬＩＬ！＋・・・ＩＬＩＩＩのうちの最
小移動距離り、４．を用い、（４）式に従って各幅方向
位置の各伸び率β工〜β１、つまり平坦度を算出する。
による要因を排除するために、幅方向の各位置で測定さ
れた移動距離ＬＬＩＬ！＋・・・ＩＬＩＩＩのうちの最
小移動距離り、４．を用い、（４）式に従って各幅方向
位置の各伸び率β工〜β１、つまり平坦度を算出する。
β＝ （Ｓ−Ｌ、４．）／Ｌ、ｔ、 ・・・（４
）なお、上記ローパスフィルタ３は測定された距離信号
に含まれる高周波の雑音成分を、上記のように除去する
機能を有している。
）なお、上記ローパスフィルタ３は測定された距離信号
に含まれる高周波の雑音成分を、上記のように除去する
機能を有している。
従来の平坦度測定装置は以上のように構成されているの
で、例えば、製鉄所における熱間圧延ラインにおいて、
ローラコンベア上を連続移動している圧延帯の平坦度を
測定する場合においては、測定対象となる帯状体は絶え
ず上下左右に振動しながら移動するので、測定された平
坦度にこの振動に起因する誤差が混入するほか、この搬
送に伴って発生する振動を完全に防止することは困難で
あるところから、平坦度の測定度を例えば上下振動の振
幅以下に向上させることは不可能であるなどの課題があ
った。
で、例えば、製鉄所における熱間圧延ラインにおいて、
ローラコンベア上を連続移動している圧延帯の平坦度を
測定する場合においては、測定対象となる帯状体は絶え
ず上下左右に振動しながら移動するので、測定された平
坦度にこの振動に起因する誤差が混入するほか、この搬
送に伴って発生する振動を完全に防止することは困難で
あるところから、平坦度の測定度を例えば上下振動の振
幅以下に向上させることは不可能であるなどの課題があ
った。
また、距離測定器２から出力される距離信号に含まれる
上記振動に起因する振動成分を、例えばローパスフィル
タ等で除去することが考えられるが、上下振動の周期と
測定時間間隔Δｔとが近似すると測定できないので、帯
状体１の移動速度を低下しなければならないなどの課題
があった。
上記振動に起因する振動成分を、例えばローパスフィル
タ等で除去することが考えられるが、上下振動の周期と
測定時間間隔Δｔとが近似すると測定できないので、帯
状体１の移動速度を低下しなければならないなどの課題
があった。
この発明は上記のような課題を解消するためになされた
ものであり、傾き測定器を用いて各測定位置における傾
きを測定することによって、被測定体としての帯状体の
上下振動の要因を確実に排除でき、平坦度の測定精度を
大幅に向上できる平坦度測定装置を得ることを目的とす
る。
ものであり、傾き測定器を用いて各測定位置における傾
きを測定することによって、被測定体としての帯状体の
上下振動の要因を確実に排除でき、平坦度の測定精度を
大幅に向上できる平坦度測定装置を得ることを目的とす
る。
この発明に係る平坦度測定装置は、長手方向に移動する
帯状体表面の傾きを複数箇所で測定する傾き測定器と、
該傾き測定器から得られた上記各箇所における傾き信号
にもとづいて上記帯状体の平坦度演算を行う平坦度演算
器とから構成したものである。
帯状体表面の傾きを複数箇所で測定する傾き測定器と、
該傾き測定器から得られた上記各箇所における傾き信号
にもとづいて上記帯状体の平坦度演算を行う平坦度演算
器とから構成したものである。
この発明における平坦度演算器は、傾き検出器で得た帯
状体各箇所での傾き信号にもとづき、演算によってその
帯状体の平坦度を求めるように機能する。
状体各箇所での傾き信号にもとづき、演算によってその
帯状体の平坦度を求めるように機能する。
以下、この発明の一実施例を図について説明する。
第１図において、１は圧延帯などの帯状体、１２は帯状
体１の幅方向であって、この帯状体１の上方に設けられ
た複数の傾き測定器で、例えば帯状体１に照射された光
の反射光を受光し、その受光量によって傾き値を測定す
る。１３は帯状体移動距離測定器、１４は上記傾き値と
帯状体移動距離測定器１３の測定値とにもとづいて平坦
度を測定する平坦度演算器で、傾き値の２乗累積和と帯
状体１の移動量とから平坦度である帯状体１の伸び率を
演算によって求める。
体１の幅方向であって、この帯状体１の上方に設けられ
た複数の傾き測定器で、例えば帯状体１に照射された光
の反射光を受光し、その受光量によって傾き値を測定す
る。１３は帯状体移動距離測定器、１４は上記傾き値と
帯状体移動距離測定器１３の測定値とにもとづいて平坦
度を測定する平坦度演算器で、傾き値の２乗累積和と帯
状体１の移動量とから平坦度である帯状体１の伸び率を
演算によって求める。
次に動作について説明する。
まず、帯状体１の幅方向に配列された複数の距離測定器
にて、帯状体１の表面までの距離を測定すると、その距
離Ｙは第２図に示すように、基本的に帯状体１の移動位
置Ｘの関数Ｆ （Ｘ）であるが、上下方向の時間ｔによ
る振動成分Ｂ （ｔ）の関数でもある。従って、距離Ｙ
は（５）式に示すように両者の和の関数として表現でき
る。
にて、帯状体１の表面までの距離を測定すると、その距
離Ｙは第２図に示すように、基本的に帯状体１の移動位
置Ｘの関数Ｆ （Ｘ）であるが、上下方向の時間ｔによ
る振動成分Ｂ （ｔ）の関数でもある。従って、距離Ｙ
は（５）式に示すように両者の和の関数として表現でき
る。
Ｙ （Ｘ、ｔ）＝Ｆ （Ｘ）＋Ｂ （ｔ） ・・・
（５）ここで、（５）式の両辺を位［Ｘで微分すれば、
ｄｙ （Ｘ、ｔ）／ｄｘ＝ｄｐ （Ｘ）／ｄｘ・・・（
６）となる。すなわち、（６）式の右辺（ｄＦ（Ｘ）／
ｄＸ）は帯状体表面測定位置Ｘにおける傾きを示す。
（５）ここで、（５）式の両辺を位［Ｘで微分すれば、
ｄｙ （Ｘ、ｔ）／ｄｘ＝ｄｐ （Ｘ）／ｄｘ・・・（
６）となる。すなわち、（６）式の右辺（ｄＦ（Ｘ）／
ｄＸ）は帯状体表面測定位置Ｘにおける傾きを示す。
一方、平坦度の量を表わす伸び率βは、上記のような（
３）式で定義され、また、弧長Ｓは位置ａから位＠ｂま
での弧長であり、（７）式で表わされる。
３）式で定義され、また、弧長Ｓは位置ａから位＠ｂま
での弧長であり、（７）式で表わされる。
そこで、この（７）式を（３）式に代入すると、伸び率
βは となる。従って、各傾き測定器１２を用いて該当測定位
置における傾きを測定し、各測定位置における傾き値ｔ
ａｎθの２乗を積分することによって平坦度（伸び率）
を得ることができる。すなわち、このような平坦度は、
上記傾き値の２乗累積和と、帯状体移動距離測定器１３
で測定した距離との比を、平坦度演算器１４において演
算することにより求められる。この場合において、振動
成分Ｂ（＋）は（５）式を微分することにより除去され
ているため、平坦度の測定精度が大幅に改善される。
βは となる。従って、各傾き測定器１２を用いて該当測定位
置における傾きを測定し、各測定位置における傾き値ｔ
ａｎθの２乗を積分することによって平坦度（伸び率）
を得ることができる。すなわち、このような平坦度は、
上記傾き値の２乗累積和と、帯状体移動距離測定器１３
で測定した距離との比を、平坦度演算器１４において演
算することにより求められる。この場合において、振動
成分Ｂ（＋）は（５）式を微分することにより除去され
ているため、平坦度の測定精度が大幅に改善される。
以上のように、この発明によれば長手方向に移動する帯
状体表面の傾きを複数箇所で測定する傾き測定器と、該
傾き測定器から得られた上記各箇所における傾き信号に
もとづいて上記帯状体の平坦度演算を行う平坦度演算器
とから帯状体の平坦度を測定するように構成したので、
傾き検出器で得た帯状体各箇所での傾き信号にもとづき
、簡単にその帯状体の平坦度を求めることができるもの
が得られる効果がある。
状体表面の傾きを複数箇所で測定する傾き測定器と、該
傾き測定器から得られた上記各箇所における傾き信号に
もとづいて上記帯状体の平坦度演算を行う平坦度演算器
とから帯状体の平坦度を測定するように構成したので、
傾き検出器で得た帯状体各箇所での傾き信号にもとづき
、簡単にその帯状体の平坦度を求めることができるもの
が得られる効果がある。
第１図はこの発明の一実施例による平坦度測定装置を示
すブロック図、第２図はこの発明による平坦度の測定原
理を示す説明図、第３図は従来の平坦度測定装置を示す
ブロック図、第４図は第３図による平坦度の測定原理を
示す説明図である。 １は帯状体、１２は傾き測定器、１４は平坦度演算器。 なお、図中、同一符号は同一、または相当部分を示す。
すブロック図、第２図はこの発明による平坦度の測定原
理を示す説明図、第３図は従来の平坦度測定装置を示す
ブロック図、第４図は第３図による平坦度の測定原理を
示す説明図である。 １は帯状体、１２は傾き測定器、１４は平坦度演算器。 なお、図中、同一符号は同一、または相当部分を示す。
Claims (1)
- 長手方向に移動する帯状体表面の傾きを複数箇所で測定
する傾き測定器と、該傾き測定器から得られた上記各箇
所における傾き信号にもとづいて上記帯状体の平坦度演
算を行う平坦度演算器とを備えた平坦度測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2220659A JPH04102009A (ja) | 1990-08-20 | 1990-08-20 | 平坦度測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2220659A JPH04102009A (ja) | 1990-08-20 | 1990-08-20 | 平坦度測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04102009A true JPH04102009A (ja) | 1992-04-03 |
Family
ID=16754438
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2220659A Pending JPH04102009A (ja) | 1990-08-20 | 1990-08-20 | 平坦度測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04102009A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008229684A (ja) * | 2007-03-22 | 2008-10-02 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 熱延鋼板の製造方法及び製造装置 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4865961A (ja) * | 1971-12-11 | 1973-09-10 | ||
| JPS62257006A (ja) * | 1986-04-30 | 1987-11-09 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 板形状検出装置 |
-
1990
- 1990-08-20 JP JP2220659A patent/JPH04102009A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4865961A (ja) * | 1971-12-11 | 1973-09-10 | ||
| JPS62257006A (ja) * | 1986-04-30 | 1987-11-09 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 板形状検出装置 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008229684A (ja) * | 2007-03-22 | 2008-10-02 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 熱延鋼板の製造方法及び製造装置 |
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