JPH0282108A - 平坦度検出装置 - Google Patents

平坦度検出装置

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Publication number
JPH0282108A
JPH0282108A JP23432288A JP23432288A JPH0282108A JP H0282108 A JPH0282108 A JP H0282108A JP 23432288 A JP23432288 A JP 23432288A JP 23432288 A JP23432288 A JP 23432288A JP H0282108 A JPH0282108 A JP H0282108A
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JP
Japan
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strip
arc length
flatness
distance
elongation rate
Prior art date
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Pending
Application number
JP23432288A
Other languages
English (en)
Inventor
Masayuki Sugiyama
昌之 杉山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
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Publication of JPH0282108A publication Critical patent/JPH0282108A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は移動する帯状体上の板幅方向の複数箇所にて帯
状体の変位を測定することにより、帯状体の平坦度を検
出する平坦度検出装置に関するものである。
〔従来の技術〕
熱間圧延ラインにおいて、被圧延体即ち帯状体の中のび
、耳波等の形状不良は顕在化しており、直接帯状体の幅
方向の複数箇所にて帯状体の変位または傾き等を測定す
ることにより、帯状体の平坦度を検出することが可能で
あることは公知である。
第2図は上述したような原理に基づいて帯状体の平坦度
を検出するようになした従来の平坦度検出装置のブロッ
ク図であり、図中1はその長手方向に等速にて移動され
、平坦度を検出すべき帯状体を示す。帯状体1の上方の
幅方向には、帯状体1までの距離を測定する複数の距離
測定器2が所定間隔に並設されており、各距離測定器2
は距離信号を出力する。各距離測定器2には、この出力
した距離信号の弧長を演算する弧長演算器3が接続され
ており、各弧長演算器3には、弧長演算器3にて演算さ
れた弧長と幅方向の直線距離とに基づいて帯状体1の伸
び率を演算する伸び率演算器4が接続されている。
次に動作について説明する。
第3図は動作を説明するための模式図であって、横軸X
は帯状体1の長手方向距離を、縦軸yは帯状体1までの
距離を夫々示し、図中折線Aは距離測定器2から出力す
る距離信号を示す。
時刻tにおける距離測定器2から帯状体1までの距離y
、と、時刻t+Δtにおける距離測定器2から帯状体1
までの距離y、、1とによって、帯状体1の変位Δy、
は下記(1)式にて求められる。
Δ)’i =Vi   >’i++        ・
・・(1)また、時刻tから時刻t+Δtの間に帯状体
1が速度Vにて移動するので、帯状体1の移動距離ΔX
、は下記(2)式にて求められる。
ΔXi =V・Δt        ・・・(2)従っ
て、時刻tから時刻t+Δtの間に移動した帯状体1の
長さΔSiは、上記(11,(21式により下記(3)
式にて算出される。
Δ5i=(Δxi)+(Δyl  ・・・(3)更に、
測定点0から測定点nまで移動した帯状体1の長さSは
、下記(4)式にて求められる。
一方、平坦な帯状体1が測定点0から測定点nまで移動
したと仮定すると、移動した帯状体1の長さは帯状体1
の移動距離に等しく、この移動した帯状体1の長さlは
下記(5)式にて表される。
11=(n−1)−Δx i−・(51従って移動した
平坦な帯状体1の長さlを基準とした帯状体1の伸び率
βは下記(6)式にて算出され、この伸び率βの大きさ
にて帯状体1の平坦度の程度を検出することができる。
β= (S−1) /Il        ・・・(6
)〔発明が解決しようとする課題〕 従来の平坦度検出装置は上述したように構成されている
ので、帯状体の振動及びうねりに伴う変動は見かけ上弧
長に変換されるので、実際の帯状体の形状より平坦度が
低く検出されるという問題点があった。
また、帯状体に張力が印加されている場合には、帯状体
の中のび、耳波等の形状不良の一部が潜在して、正確に
伸び率を検出できないという難点があった。
本発明はかかる事情に鑑みてなされたものであり、帯状
体の振動及びうねりに伴う変動を除去し、また一部潜在
化している形状不良による影響を補正することにより、
高精度に帯状体の平坦度を検出することができる平坦度
検出装置を提供することを目的とする。
〔課題を解決するための手段〕
本発明に係る平坦度検出装置は、帯状体の振動及びうね
りに伴う変動を除去すべく、距離測定器からの高周波成
分を遮断するローパスフィルタと、弧長の最小値、最大
値または平均値を検出する検出手段とを具備し、一部潜
在化している形状不良に伴う影響を排除すべく、印加さ
れる張力の大きさに基づいて距離信号、弧長または伸び
率を補正する補正手段を具備することを特徴とする。
〔作用〕
本発明の平坦度検出装置にあっては、帯状体の振動及び
うねりに伴う変動を、ローパスフィルタ及び検出手段を
用いて除去し、また張力印加に伴う影響を、補正手段に
て補正する。そうすると帯状体の平坦度が、精度良く検
出される。
〔実施例〕
以下、本発明をその実施例を示す図面に基づいて説明す
る。
第1図は本発明に係る平坦度検出装置を示すブロック図
であり、図中1はその長手方向に等速にて移動され、平
坦度を検出すべき帯状体である。
帯状体1の上方の幅方向には、帯状体1までの距離を測
定する複数の距離測定器2が所定間隔にて並設されてお
り、各距離測定器2は距離信号を対応する各ローパスフ
ィルタ5へ出力する。各ローパスフィルタ5は入力した
距離信号中の高周波成分を後述する方法にて遮断し、高
周波成分をカットした距離信号を、対応する各弧長演算
器3へ出力する。各弧長演算器3は入力した距離信号の
弧長を演算し、その弧長信号を最小値検出器6及び対応
する各相対伸び率演算器7へ出力する。最小値検出器6
は入力した複数の弧長信号の最小値を検出し、この最小
値をなす弧長信号を各相対伸び率演算器7へ出力する。
各相対伸び率演算器7は、対応する各弧長演算器3から
入力した弧長信号と最小値検出器6から入力した最小値
をなす弧長信号とにより、後述する式に基づいて相対伸
び率を演算し、その演算結果を対応する各伸び率補正回
路9へ出力する。
また図中8は、図示しない張力計からの信号を帯状体1
に印加される張力値に換算する張力換算器であり、該張
力換算器8は、その換算結果を各伸び率補正回路9へ出
力する。各伸び率補正回路9は、対応する各相対伸び率
演算器7から入力した演算結果を、張力換算器8から入
力した張力値に基づいて後述するような方法にて補正す
る。
次に動作について説明する。
前述したように、帯状体1の変位Δyiは前記(11式
の如く時刻t22時刻+Δを間における帯状体1までの
距離y4及びyi。1の差にて求められるが、帯状体1
は移動するにつれて振動し、第4図に示すように帯状体
1と帯状体1の距離信号Aとの間には大きな測定誤差が
生じる。そこで、本発明ではこの帯状体1の振動の影響
を除去すべく、各距離測定器2からの各距離信号を対応
する各ローパスフィルタ5に通し、その高周波成分を遮
断することとしている。
ローパスフィルタ5の具体的な作用は以下の如(である
。即ち、時刻t1時刻t+Δtにおける距離信号)’t
lyt。、のローパスフィルタ5通過後の値をT四y−
了とすると、各値を夫々下記(71,(8)式に示す数
式にて求める。
y□ −(Y i−s +)’ i−+−や、+・・・
十yよ +y工、、+・・・+yい、)/ (2m+ 
1)  ・・・(7))’i++ = (y=−a◆+
+yi−―◆t ””” )’i++ ” )’i◆2
+・・・+y、や、+ )/ (2m+ 1)・・・(
8)従って帯状体1の変位Δyiは、下記(9)式にて
求められる。
Δ)’i  =yi  −yi。1       ・・
・(9)また従来の装置と同様にして、時刻tから時刻
L+Δtの間に移動した帯状体1の長さΔSi、測定点
Oから測定点nまで移動した帯状体lの長さ丁は夫々下
記αO) 、  (11)式の如く算出される。
Δτs=  (xi)  +   yi)  ・・・0
■以上のようにして、帯状体10幅方向の複数箇所にて
、移動した帯状体1の長さSが求められる。
複数箇所にて求められた帯状体1の長さ丁の最小値Sm
1nは、測定箇所において最も平坦に近い箇所である。
そこでこの最小値S winを基準として下記(12)
式に基づいて、相対伸び率β1を求める。
β+  −(S−3min ) /Sn+in   −
(12)このように相対伸び率β1を求める場合にあっ
ては、帯状体重のうねりは帯状体1上の複数箇所におい
て共通な変動であるので、最小値S winを基準とす
ることにより、この共通な変動を除去することができる
次に印加される張力についての補正について説明する。
張力が印加されていない場合には、帯状体1の形状不良
はすべて顕在化しているので、伸び率は上記(12)弐
にて算出される。ところが、帯状体1に張力が印加され
ている場合には、帯状体1の中のび、耳波等の形状不良
の一部は潜在化され、印加される張力が大きい場合には
、すべての形状不良が潜在化される。
そこで本発明では、伸び率補正回路9にて、帯状体lに
印加される張力の大きさの程度に合わせて伸び率を補正
することとしている。この際の補正関数は印加される張
力値Uの関数であり、補正関数F (u)は具体的には
下記(13)式の如く設定する。
F (u)=1      (u=oのとき)F (u
)=f  (u)   (uo >u>Qのとき)・・
・(13) 但し、uoは形状不良がすべて潜在化する際の張力値を
示し、f  (u)は張力によって潜在化した伸び率の
潜在化率を張力値Uの関数にて表したものである。
本発明では、上記(13)式に示すような補正関数に基
づき、印加される張力の大きさに応じて伸び率を補正す
るので、張力に影響されない伸び率を検出することがで
きる。
なお本実施例では、帯状体1の長さ丁の最小値S wi
nを基準として相対伸び率β1を求める構成としたが、
これに限らず、帯状体1の長さ丁の最大値S raax
を基準として、または帯状体1の長さ丁の平均値Ssを
基準として相対伸び率を求めるような構成にしてもよい
ことは勿論である。最大値Smaxを基準とする際の相
対伸び率β2、及び平均値子「を基準とする際の相対伸
び率β3は夫々下記(14) 、  (15)式にて求
められる。
βt = (Smax −3) /Smax  −(1
4)β、=(丁−丁「)7丁「   ・・・(15)な
お、何れの場合においても、最小値Sm1nを基準とし
て相対伸び率を検出する前述の実施例と同様に、帯状体
1上の複数箇所における共通な変動である帯状体1のう
ねりの影響を除去できることは言うまでもない。
また本実施例では、張力の大きさに基づいて相対伸び率
を補正する構成としたが、これに限らず張力の大きさに
基づいて距離測定器からの距離信号、または弧長演算器
からの弧長信号を補正する構成としてもよい。
〔発明の効果〕
以上詳述した如く、本発明の平坦度検出装置にあっては
、帯状体の振動及びうねりを除去するように、ローパス
フィルタと、例えば最小値を検出する検出手段とを具備
しているので、帯状体の振動及びうねりに影響されるこ
とな(正確に帯状体の平坦度を検出することができる。
また帯状体に印加される張力の大きさに基づく補正を行
うようにしたので、張力に影響を受けることなく正確に
帯状体の平坦度を検出することができる。
従って本発明の平坦度検出装置にあっては、以上のよう
な理由により、帯状体の平坦度が高精度に検出されると
いう効果がある。
【図面の簡単な説明】
、第1図は本発明に係る平坦度検出装置のブロック図、
第2図は従来の平坦度検出装置のブロック図、第3図は
帯状体と距離測定器との位置関係及び帯状体の距離信号
を示す模式図、第4図は帯状体の距離信号を示す模式図
である。 l・・・帯状体 2・・・距離測定器 3・・・弧長演
算器5・・・ローパスフィルタ 6・・・最小値検出器
 7・・・相対伸び率演算器 8・・・張力換算器 9
・・・伸び率補正回路 A・・・距離信号 なお、図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、長手方向に移動する帯状体までの距離を、該帯状体
    の幅方向に並設された複数の距離測定器にて測定し、こ
    れらの距離測定器の測定結果に基づいて前記帯状体の平
    坦度を検出する平坦度検出装置において、 前記複数の距離測定器にて得られる各距離信号の高周波
    成分を遮断するローパスフィルタと、 該ローパスフィルタにて高周波成分が遮断された各距離
    信号により、前記帯状体が移動した距離である弧長を各
    演算する弧長演算器と、 該弧長演算器にて演算された弧長の最小値、最大値また
    は平均値を検出する検出手段と、該検出手段にて検出さ
    れた弧長の最小値、 最大値または平均値に対する、前記弧長演算器にて演算
    された各弧長の相対伸び率を演算する相対伸び率演算器
    と、 前記帯状体に印加されている張力の大きさに基づき、前
    記距離信号、前記弧長、前記相対伸び率のうちの少なく
    とも1つを補正する補正手段と を具備することを特徴とする平坦度検出装置。
JP23432288A 1988-09-19 1988-09-19 平坦度検出装置 Pending JPH0282108A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07234121A (ja) * 1990-04-20 1995-09-05 Nkk Corp 鋼板の平坦度測定装置
US5617643A (en) * 1993-12-24 1997-04-08 Sumitomo Metal Mining Company, Limited Electrolysis electrode plate flatness measuring apparatus

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