JPH051912A - 平坦度測定装置 - Google Patents

平坦度測定装置

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Publication number
JPH051912A
JPH051912A JP3177783A JP17778391A JPH051912A JP H051912 A JPH051912 A JP H051912A JP 3177783 A JP3177783 A JP 3177783A JP 17778391 A JP17778391 A JP 17778391A JP H051912 A JPH051912 A JP H051912A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
flatness
strip
measuring device
beltlike body
steepness
Prior art date
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Pending
Application number
JP3177783A
Other languages
English (en)
Inventor
Masayuki Sugiyama
昌之 杉山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
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Publication of JPH051912A publication Critical patent/JPH051912A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 帯状体表面の平坦度を測定するのに際して帯
状体の振動による誤差を除去することのできる平坦度測
定装置を得る。 【構成】 帯状体1の幅方向に沿って配された複数個の
傾き測定器12により、帯状体1の長手方向の傾きを、
帯状体移動距離測定器13で測定される測定区間毎に測
定し、各傾き測定器12の各測定値に基づいてそれぞれ
平均値演算器17で平坦値を求め、この平均値から急峻
度を演算する。さらに各急峻度から平坦度演算器14で
平坦度を演算する。 【効果】帯状体の振動による影響を除去した平坦度を得
ることができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、圧延ラインにおける
鋼板のように長手方向に移動する帯状体上の幅方向の複
数個所で帯状体表面の平坦度を測定する平坦度測定装置
に関する。
【0002】
【従来の技術】従来装置の説明に先立ち平坦度測定の原
理について説明する。図7は帯状体の平坦度不良をもっ
た例を示す斜視図であり、1は帯状体である。一般的に
図7(A)に示すように帯状体1の幅方向の両エッジ部
に波1aが大きく発生し、これは耳波と言われる。図7
(B)の例は帯状体1の幅方向の中央部に波1bが大き
く発生した場合で、これは中のびと言われる。この波1
a,1bの大きさ、すなわち平坦度量を表わす方法とし
て、伸び率又は急峻度の定義が良く知られている。
【0003】図8は急峻度の定義を示す。急峻度αは、
帯状体1の長手方向の波ピッチPと波高値Hとの比によ
って数1で定義される。
【0004】
【数1】
【0005】図9は、伸び率の定義を示す。伸び率βは
帯状体1の長手方向の弧長Sと、測定区間Lとの比によ
って数2で定義される。
【0006】
【数2】
【0007】このような伸び率β又は急峻度αを測定す
る平坦度測定装置が従来から種々に提案されている。図
5は例えば特開昭61−178608号公報に示された
従来の平坦度測定装置を示すブロック図であり、図にお
いて、1は長手方向に一定速度Vで移動する帯状体で、
この帯状体1の上方位置には幅方向に複数の距離測定器
2が配置されている。各距離測定器2は、一定時間Δt
毎に各距離定器2から帯状体1の表面までの距離Yを測
定するものである。3は距離信号を平滑化するローパス
フィルタ、4は帯状体1の弧長を求める弧長演算器、5
は帯状体1の幅方向の各位置(各個所)で測定された移
動距離L1 ,L2 ,…,Lm のうち最小の移動距離Lmi
n を検出する最小値検出器、6は弧長演算器4の演算結
果および最小値検出器5の出力にもとづいて各幅方向位
置の各伸び率β1 〜βm 、つまり帯状体1の平坦度を算
出する平坦度演算器、13は帯状体1の移動距離を測定
する帯状体移動距離測定器である。
【0008】次に動作について説明する。まず、距離測
定器2は移動する帯状体1の各位置における、距離測定
器2から帯状体1までの距離を測定する。この測定信号
は各ローパスフィルタ3に入力されて高周波の雑音成分
が除去された後、弧長演算器4に入力される。この弧長
演算器4では、図6に示すように時刻ti と一定時間Δ
t経過後の時刻ti+1 における距離Yi ,Yi+1 、およ
び該当時間Δt内の移動距離ΔXi(=V・Δt)から
数3に基づいて該当距離ΔXi における帯状体1の表面
の長さ、すなわち弧長ΔSi が算出される。
【0009】
【数3】
【0010】但し、ΔYi =Yi −Yi+1 である。した
がって、帯状体1が長手方向にa点からb点までの距離
Lだけ移動した場合におけるその距離Lに対応する全体
の孤長Sは、L=(n−1)ΔXi とすると、数4で示
される。
【0011】
【数4】
【0012】よって、距離Lだけ移動した場合の伸び率
βは、数2の定義に従って各伸び率演算器6において算
出される。以上の手法を用いて幅方向の各位置における
各伸びβ1 〜βm が求まる。なお、測定された伸び率か
ら帯状体1の大きなうねりによる要因を排除するため
に、幅方向の各位置で測定された移動距離L1 ,L2
…,Lm のうちの最小移動距離Lmin を用い、数5によ
って各幅方向位置の各伸び率β1 〜βm 、つまり平坦度
を算出する。
【0013】
【数5】
【0014】
【発明が解決しようとする課題】従来の平坦度測定装置
は以上のように構成されているので、例えば、製鉄所に
おける熱間圧延ラインにおいて、ローラコンベア上を連
続移動している圧延帯の平坦度を測定する場合において
は、測定対象となる帯状体1は絶えず上下左右に振動し
ながら移動するので、測定された平坦度にこの振動に起
因する誤差が混入するほか、この搬送に伴って発生する
振動を完全に防止することは困難であるところから、平
坦度の測定精度を例えば上下振動の振幅以下に向上させ
ることは不可能であるなどの課題があった。また、距離
測定器2から出力される距離信号に含まれる上記振動に
起因する振動成分を、例えばローパスフィルタ等で除去
することが考えられるが、上下振動の周期と測定時間間
隔Δtとが近似すると測定できないので、帯状体1の移
動速度を低下しなければならないなどの課題があった。
【0015】この発明は上記のような課題を解消するた
めになされたものであり、傾き測定器を用いて各測定位
置における傾きを測定することによって、被測定体とし
ての帯状体の上下振動の要因を確実に排除でき、平坦度
の測定精度を大幅に向上できる平坦度測定装置を得るこ
とを目的とする。
【0016】
【課題を解決するための手段】この発明に係る平坦度測
定装置は、傾き測定器から得られる帯状体の長手方向の
各個所における傾きの平均値を演算することによって、
帯状体の急峻度を演算するようにしたものである。
【0017】
【作用】この発明における平坦度測定装置は、傾き測定
器により得られる帯状体の長手方向の各個所における傾
きを平均することによって、急峻度が演算され、振動に
影響されずに急峻度が測定される。
【0018】
【実施例】
実施例1.以下、この発明の一実施例を図について説明
する。図1において、1は圧延帯などの帯状体、12は
帯状体1の幅方向に沿ってこの帯状体1の上方に設けら
れた複数の傾き測定器で、例えば帯状体1に照射された
光の反射光を受光し、その受光量によって傾き値を測定
する。13は帯状体移動距離測定器、17は平均値演算
器で傾きの平均値を演算する。14は平坦度演算器で、
傾き値の平均値を2分の1にすることにより、帯状体1
の急峻度を演算によって求める。
【0019】次に動作について説明する。前述した図5
において、長手方向に移動する帯状体1の幅方向に配列
された複数の距離測定器2により帯状体1の表面までの
距離を測定すると、その距離Yは図2に示すように、基
本的に帯状体1の長手方向移動位置Xの関数F(X)で
あるが、時間tによる上下方向の振動成分B(t)の関
数でもある。従って、距離Yは数6に示すように両者の
和の関数として表現できる。
【0020】
【数6】
【0021】ここで、数6の両辺を位置Xで微分すれ
ば、
【数7】
【0022】となる。すなわち、数7の右辺(dF
(X)/dX)は帯状体表面測定位置Xにおける傾きθ
を示す。一方、平坦度の量を表わす急峻度αは数1で定
義される。図2において帯状体1は長手方向移動位置X
の関数F(X)で表わされる。従って急峻度αは、数8
で表わされる。
【0023】
【数8】
【0024】ここで数8は長手方向移動位置Xの関数F
(X)の微分値すなわち傾きの絶対値の平均値を2分の
1にすることを示す。従って、傾き測定器12を用いて
長手方向に移動する帯状体1の該当測定位置における傾
きを測定し、平均値演算器17において、各測定位置に
おける傾き値の2分の1を平均することによって、板波
の大きさ(急峻度)を得ることができる。
【0025】さらに平均度は、帯状体1の幅方向に設け
られた複数個の傾き測定器12に対して、上記急峻度演
算を行ない、その結果を比較することによって得られ
る。この場合において、振動成分B(t)は数6を微分
することにより除去されているため、急峻度の測定精度
が大幅に改善される。なお、帯状体移動距離測定器13
は帯状体1の測定区間を設定するために用いられる。
【0026】実施例2.上述した実施例1では、傾きを
測定する傾き測定器12を設けたものを示したが、この
傾き測定器12の代りに、図3、図4に示すようにツイ
ン型距離測定器15とツインの各距離値の差(距離差)
とツインの測定位置間隔との比から傾きを演算する傾斜
値演算器16とにより傾き測定器としたものを設けても
よい。図3においては、ツイン型距離測定器15と傾斜
値演算器16とは図1における傾き測定器12と同様の
機能を有するものとなる。
【0027】また図4において、dXはツイン型の距離
測定器15の測定位置間隔を示す。dYはツイン型の距
離測定器15による上記距離差を示す。従って、前述の
数8において、dF(X)はdYに相当し、dXとdY
との比によって傾きを検出することができる。
【0028】なお、実施例1,2では、測定区間毎に急
峻度演算結果を出力するように構成されているが、一定
時間毎に急峻度演算結果を出力する場合は帯状体移動距
離測定器13は不要である。さらに、実施例1,2では
平坦度演算器14において、傾き値を2分の1にするよ
うな平坦度演算について示したが、板波の形状により所
定のゲインを設けてもよい。
【0029】
【発明の効果】以上のように、この発明によれば、傾き
測定器から得られた帯状体の長手方向の各個所における
傾きの平均値から帯状体の急峻度を演算するように構成
したので、帯状体の上下振動の要因を除去した急峻度を
演算によって求めることができ、その急峻度の測定精度
を大幅に向上できる効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の一実施例による平坦度測定装置の構
成図である。
【図2】同装置の測定原理を示す説明図である。
【図3】この発明の他の実施例による平坦度測定装置の
構成図である。
【図4】同装置の測定原理を示す説明図である。
【図5】従来の平坦度測定装置の構成図である。
【図6】同装置の測定原理を示す説明図である。
【図7】帯状体に発生する波の例を示す斜視図である。
【図8】急峻度の定義を示す説明図である。
【図9】伸び率の定義を示す説明図である。
【符号の説明】
1 帯状体 12 傾き測定器 15 ツイン型距離測定器 16 傾斜値演算器 17 平均値演算器

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 【請求項1】 長手方向に移動する帯状体表面の幅方向
    に沿う複数個所における長手方向の傾きを測定する傾き
    測定器と、上記傾き測定器から得られる測定値より各個
    所についての平均値を求め各平均値に基づいて各個所に
    おける急峻度を演算する平均値演算器とを備えた平坦度
    測定装置。
JP3177783A 1991-06-24 1991-06-24 平坦度測定装置 Pending JPH051912A (ja)

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JP3177783A JPH051912A (ja) 1991-06-24 1991-06-24 平坦度測定装置

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101030857B1 (ko) * 2008-09-29 2011-04-22 현대제철 주식회사 스트립의 평탄도 측정방법
CN114111649A (zh) * 2021-11-24 2022-03-01 中电科信息产业有限公司 平直度测量方法、装置、电子设备及存储介质
WO2023145352A1 (ja) * 2022-01-31 2023-08-03 三菱重工機械システム株式会社 検出装置、シート位置調整装置及びコルゲートマシン

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CN114111649A (zh) * 2021-11-24 2022-03-01 中电科信息产业有限公司 平直度测量方法、装置、电子设备及存储介质
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