JPH07117364B2 - 冷延鋼板の形状測定方法 - Google Patents
冷延鋼板の形状測定方法Info
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- JPH07117364B2 JPH07117364B2 JP15125286A JP15125286A JPH07117364B2 JP H07117364 B2 JPH07117364 B2 JP H07117364B2 JP 15125286 A JP15125286 A JP 15125286A JP 15125286 A JP15125286 A JP 15125286A JP H07117364 B2 JPH07117364 B2 JP H07117364B2
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Description
本発明は鋼板の形状測定方法に係り、特に、冷間圧延・
調質圧延等の高張力操業ラインにおける張力のかかつた
状態で板幅方向に反りを有する冷延鋼板の形状を精度良
く測定するに好適な冷延鋼板の形状測定方法の改良に関
する。
調質圧延等の高張力操業ラインにおける張力のかかつた
状態で板幅方向に反りを有する冷延鋼板の形状を精度良
く測定するに好適な冷延鋼板の形状測定方法の改良に関
する。
冷間圧延・調質圧延等の高張力操業ラインにおいては、
冷延鋼板（以下、ストリツプと称する）の張力のため操
業時にストリツプの形状不良が潜在化している。この潜
在化したストリツプの形状不良はストリツプの板幅方向
の張力不均一分布と対応している。従つて、この形状不
良は板幅方向の張力不均一分布に変換することができ
る。これにより、前記張力分布を測定することによつて
ストリツプの形状不良の検出が可能である。 このような形状検出装置では、電磁力により非接触にて
鋼板に外力を印加し、張力不均一分布に反比例した鋼板
変位量を静電容量方式にて測定するようにしている。こ
のような電磁相関式の形状測定装置は、例えば、日本鉄
鋼協会の第62回計測部会資料である計測62−３−１「冷
延形状測定装置」や、英国特許78−70857号公報等に開
示されている。 第６図及び第７図に、上記電磁相関式の形状測定装置の
測定構成を示す。この形状測定装置は、ストリツプ１の
パスラインを固定する２本の支持ロール1A、1Bと、この
支持ロール1A、1Bにより支持されるストリツプ１から所
定の距離を隔てて板幅方向に設置されストリツプ１に周
期的な変位力FNを与える電磁石２、及びこの電磁石２の
板幅方向の各位置に設置されストリツプ１の変位量を測
定し、変位信号を出力する静電容量型変位計３それぞれ
を有する検出ヘツド４と、駆動矩形波信号を出力する駆
動信号発生回路５と、駆動矩形波信号を受けて電磁石２
に矩形波励磁電流を与える駆動アンプ６と、変位信号と
駆動矩形波信号との相関を同期積分方式により計算しス
トリツプ１の板波形状と相関のある形状信号を出力する
信号処理回路７と、形状信号に基づいて板幅方向の張力
分布を計算する計算機８と、を備えている。なお、図中
の符号3Aは前記変位計３の変位測定電極を示す。 前記駆動信号発生回路５は周期１〜２秒の矩形波を発生
している。発生した矩形波は駆動アンプ６と信号処理回
路７とに加えられる。 前記駆動アンプ６は低電流直流電源を使用しており、こ
の電流設定信号として前記矩形波が入力されている。従
つて、前記検出ヘツド４の電磁石２には、第８図（Ａ）
に示されるような前記矩形波に同期した一定の断続励磁
電流が流れ、ストリツプ１に撓み力を与えることにな
る。この撓み力によつてストリツプ１は変位する。この
ストリツプ１の変位はストリツプ１と前記静電容量変位
計３との間隙（ギヤツプ）変化として把握することがで
きる。 例えは、前記電磁石２の非励磁時の変位計３及びストリ
ツプ１のギヤツプgap0と、電磁石２の励磁中の静電容量
変位計３及びストリツプ１のギヤツプgapとを前記変位
計３によつて測定する。 この変位計３の前記ギヤツプgapに対応する出力信号で
ある変位信号Vg、及び前記ギヤツプgap0に対応する出力
信号である変位信号Vg0は信号処理回路７に入力され
る。第８図（Ｂ）に、同図（Ａ）で示される電磁石２の
断続励磁電流の変化に対応させて、変位計３の変位信号
Vg、Vg0の変化を示す。 信号処理回路７は、変位信号Vg、Vg0と、駆動矩形波信
号との相関を同期積分方式により計算して、不規則振動
の影響を除去する。又、信号処理回路７は、不規則振動
の影響が除去された変位信号の変化量Vg−Vg0から比例
定数Kgによつて形状信号Ciを出力する。このときの形状
信号Ciは次式により求められる。 Ci＝Kg（Vgi−Vg0） …（１） ここで、各信号Vg、Ｃの添字ｉは、各信号Vg、Ｃのスト
リツプ板幅方向における出所位置を示すものである。即
ち、添字ｉは各信号Vg、Ｃをストリツプ１の板幅方向各
位置に設置された前記変位計３それぞれに対応させるも
のである。 前記静電容量式の変位計３は、第９図中の曲線Ｃで示さ
れるようにそのゲイン特性が非線形となつている。しか
しながら、通常使用する範囲（gap0〜gap）では、近似
直線Ｄによつて近似し直線として取扱つている。このと
きゲインをa3とすると、変位計３の変位信号の変位量Vg
−Vg0とギヤツプ変化量gapi−gap0との関係は次式のよ
うに表わされる。 Vgi−Vg0＝a3（gapi−gap0） ……（２） 従って、上記（１）、（２）式より、ギヤツプ変化量ga
pi−gap0は次式で表わされる。 gapi−gap0＝Ci/（a3・Kg） …（３） ところで、前出したように形状不良は板幅方向の張力分
布で表現することができる。このように形状不良を板幅
方向の張力分布Uiで表現する場合には次式のように表わ
される。 Ui＝Ａ・FN/（gap0−gapi） ＝Ａ・FN/（Ci/Kg・a3） ＝（Ａ・FN・Kg・a3）/Ci ……（４） ここで、Ａは定数、FNは前記電磁石２による変位力（吸
引力）それぞれを示す。 上記（４）式で表わされる板幅方向の張力分布Uiは計算
機８によつて計算され、この結果得られる形状測定結果
は自動形状制御等に利用されている。
冷延鋼板（以下、ストリツプと称する）の張力のため操
業時にストリツプの形状不良が潜在化している。この潜
在化したストリツプの形状不良はストリツプの板幅方向
の張力不均一分布と対応している。従つて、この形状不
良は板幅方向の張力不均一分布に変換することができ
る。これにより、前記張力分布を測定することによつて
ストリツプの形状不良の検出が可能である。 このような形状検出装置では、電磁力により非接触にて
鋼板に外力を印加し、張力不均一分布に反比例した鋼板
変位量を静電容量方式にて測定するようにしている。こ
のような電磁相関式の形状測定装置は、例えば、日本鉄
鋼協会の第62回計測部会資料である計測62−３−１「冷
延形状測定装置」や、英国特許78−70857号公報等に開
示されている。 第６図及び第７図に、上記電磁相関式の形状測定装置の
測定構成を示す。この形状測定装置は、ストリツプ１の
パスラインを固定する２本の支持ロール1A、1Bと、この
支持ロール1A、1Bにより支持されるストリツプ１から所
定の距離を隔てて板幅方向に設置されストリツプ１に周
期的な変位力FNを与える電磁石２、及びこの電磁石２の
板幅方向の各位置に設置されストリツプ１の変位量を測
定し、変位信号を出力する静電容量型変位計３それぞれ
を有する検出ヘツド４と、駆動矩形波信号を出力する駆
動信号発生回路５と、駆動矩形波信号を受けて電磁石２
に矩形波励磁電流を与える駆動アンプ６と、変位信号と
駆動矩形波信号との相関を同期積分方式により計算しス
トリツプ１の板波形状と相関のある形状信号を出力する
信号処理回路７と、形状信号に基づいて板幅方向の張力
分布を計算する計算機８と、を備えている。なお、図中
の符号3Aは前記変位計３の変位測定電極を示す。 前記駆動信号発生回路５は周期１〜２秒の矩形波を発生
している。発生した矩形波は駆動アンプ６と信号処理回
路７とに加えられる。 前記駆動アンプ６は低電流直流電源を使用しており、こ
の電流設定信号として前記矩形波が入力されている。従
つて、前記検出ヘツド４の電磁石２には、第８図（Ａ）
に示されるような前記矩形波に同期した一定の断続励磁
電流が流れ、ストリツプ１に撓み力を与えることにな
る。この撓み力によつてストリツプ１は変位する。この
ストリツプ１の変位はストリツプ１と前記静電容量変位
計３との間隙（ギヤツプ）変化として把握することがで
きる。 例えは、前記電磁石２の非励磁時の変位計３及びストリ
ツプ１のギヤツプgap0と、電磁石２の励磁中の静電容量
変位計３及びストリツプ１のギヤツプgapとを前記変位
計３によつて測定する。 この変位計３の前記ギヤツプgapに対応する出力信号で
ある変位信号Vg、及び前記ギヤツプgap0に対応する出力
信号である変位信号Vg0は信号処理回路７に入力され
る。第８図（Ｂ）に、同図（Ａ）で示される電磁石２の
断続励磁電流の変化に対応させて、変位計３の変位信号
Vg、Vg0の変化を示す。 信号処理回路７は、変位信号Vg、Vg0と、駆動矩形波信
号との相関を同期積分方式により計算して、不規則振動
の影響を除去する。又、信号処理回路７は、不規則振動
の影響が除去された変位信号の変化量Vg−Vg0から比例
定数Kgによつて形状信号Ciを出力する。このときの形状
信号Ciは次式により求められる。 Ci＝Kg（Vgi−Vg0） …（１） ここで、各信号Vg、Ｃの添字ｉは、各信号Vg、Ｃのスト
リツプ板幅方向における出所位置を示すものである。即
ち、添字ｉは各信号Vg、Ｃをストリツプ１の板幅方向各
位置に設置された前記変位計３それぞれに対応させるも
のである。 前記静電容量式の変位計３は、第９図中の曲線Ｃで示さ
れるようにそのゲイン特性が非線形となつている。しか
しながら、通常使用する範囲（gap0〜gap）では、近似
直線Ｄによつて近似し直線として取扱つている。このと
きゲインをa3とすると、変位計３の変位信号の変位量Vg
−Vg0とギヤツプ変化量gapi−gap0との関係は次式のよ
うに表わされる。 Vgi−Vg0＝a3（gapi−gap0） ……（２） 従って、上記（１）、（２）式より、ギヤツプ変化量ga
pi−gap0は次式で表わされる。 gapi−gap0＝Ci/（a3・Kg） …（３） ところで、前出したように形状不良は板幅方向の張力分
布で表現することができる。このように形状不良を板幅
方向の張力分布Uiで表現する場合には次式のように表わ
される。 Ui＝Ａ・FN/（gap0−gapi） ＝Ａ・FN/（Ci/Kg・a3） ＝（Ａ・FN・Kg・a3）/Ci ……（４） ここで、Ａは定数、FNは前記電磁石２による変位力（吸
引力）それぞれを示す。 上記（４）式で表わされる板幅方向の張力分布Uiは計算
機８によつて計算され、この結果得られる形状測定結果
は自動形状制御等に利用されている。
しかしながら、上記電磁相関式の形状測定装置にあつて
は、前出（２）式が成立するためには、非励磁時のスト
リツプ１と変位計３とのギヤツプgap0が変化しないこと
が必要となる。換言すれば、ストリツプ１に板幅方向の
Ｃ反りが発生している場合には、前出（２）式で表わさ
れる電磁相関式を使用することができないという問題点
がある。 例えば、第10図に示されるように、上方に凸となるＣ反
りがストリツプ１に発生する場合には、その両耳部1Aが
中央部1Bに比較して検出ヘツド４に接近する。なお、図
中実線で表わされるストリツプ１は電磁石２が非励磁中
のものを、図中破線で表わされるストリツプ１は電磁石
２が励磁中のものをそれぞれ示している。従つて、スト
リツプ１の両耳部1A付近のギヤツプ測定に際しては、前
出第９図で示される変位計のゲイン曲線Ｃの内ゲインの
高い部分を使用することになる。これにより、形状信号
Ｃが大きくなつてしまい、実際よりも耳波を大きく誤検
出してしまうという問題点がある。 なお、前記Ｃ反りは圧延条件に応じてしばしば発生す
る。従つて、このＣ反りが発生する場合には、例えば、
調質圧延機出側のストリツプの形状測定を精度良く行う
ことができなくなる。これにより、形状測定結果を利用
して行う自動形状制御の制御精度が低下するという問題
点がある。この自動形状制御は製品の品質に関わる重要
な機能であり、この機能が損われる場合には製品の品質
を向上することができないという問題点がある。
は、前出（２）式が成立するためには、非励磁時のスト
リツプ１と変位計３とのギヤツプgap0が変化しないこと
が必要となる。換言すれば、ストリツプ１に板幅方向の
Ｃ反りが発生している場合には、前出（２）式で表わさ
れる電磁相関式を使用することができないという問題点
がある。 例えば、第10図に示されるように、上方に凸となるＣ反
りがストリツプ１に発生する場合には、その両耳部1Aが
中央部1Bに比較して検出ヘツド４に接近する。なお、図
中実線で表わされるストリツプ１は電磁石２が非励磁中
のものを、図中破線で表わされるストリツプ１は電磁石
２が励磁中のものをそれぞれ示している。従つて、スト
リツプ１の両耳部1A付近のギヤツプ測定に際しては、前
出第９図で示される変位計のゲイン曲線Ｃの内ゲインの
高い部分を使用することになる。これにより、形状信号
Ｃが大きくなつてしまい、実際よりも耳波を大きく誤検
出してしまうという問題点がある。 なお、前記Ｃ反りは圧延条件に応じてしばしば発生す
る。従つて、このＣ反りが発生する場合には、例えば、
調質圧延機出側のストリツプの形状測定を精度良く行う
ことができなくなる。これにより、形状測定結果を利用
して行う自動形状制御の制御精度が低下するという問題
点がある。この自動形状制御は製品の品質に関わる重要
な機能であり、この機能が損われる場合には製品の品質
を向上することができないという問題点がある。
本発明は上記従来の問題点に鑑みてなされたものであつ
て、張力のかかつた状態で板幅方向に反りを有するスト
リツプの形状を精度良く測定することができ、これによ
り、自動形状制御の制御精度を向上することのできる冷
延鋼板の形状測定方法を提供することを目的とする。
て、張力のかかつた状態で板幅方向に反りを有するスト
リツプの形状を精度良く測定することができ、これによ
り、自動形状制御の制御精度を向上することのできる冷
延鋼板の形状測定方法を提供することを目的とする。
本発明は、張力のかかつた状態で走行するストリツプか
ら所定の距離を隔てて板幅方向に設置されストリツプの
周期的な変位力を与える電磁石と、この電磁石の板幅方
向の各位置に設置されストリツプの変位量を測定し、変
位信号を出力する変位計と、周期的な駆動信号を出力す
る駆動信号発生回路と、駆動信号を受けて電磁石に周期
的な励磁電流を与える駆動アンプと、変位信号と駆動信
号との相関を計算しストリツプの板波形状と相関のある
形状信号を出力する信号処理回路と、形状信号に基づい
て板幅方向の張力分布を計算する計算機と、を備える形
状測定装置を用いて、張力のかかつた状態で板幅方向に
反りを有するストリツプの形状を測定する際に、第１図
にその要旨を示す如く、前記電磁石の非励磁中における
ストリツプ及び各変位計３間の、圧延条件により推定さ
れるギヤツプ、若しくはオンラインで実測されるギヤツ
プgapciに基づき、信号処理回路７から出力される形状
信号Ciを計算機８により補正して、板幅方向の張力分布
Uciを求めることにより、上記目的を達成するものであ
る。 又、本発明の実施態様は、板幅方向の張力分布Uciを求
めるに際し、電磁石の非励磁中におけるストリツプ及び
各変位計の、前記推定ギヤツプ若しくは実測ギヤツプを
gapci、電磁石の変位力をFN、信号処理回路から出力さ
れる形状信号をCi、定数をＡ、Kg、a2とするとき、次式 Uci＝Ａ・FN/［gapci−１ ／｛Ci/（Kg・a2）＋1/gapci｝］ …（５） を用いることにより、上記目的を達成するものである。
ら所定の距離を隔てて板幅方向に設置されストリツプの
周期的な変位力を与える電磁石と、この電磁石の板幅方
向の各位置に設置されストリツプの変位量を測定し、変
位信号を出力する変位計と、周期的な駆動信号を出力す
る駆動信号発生回路と、駆動信号を受けて電磁石に周期
的な励磁電流を与える駆動アンプと、変位信号と駆動信
号との相関を計算しストリツプの板波形状と相関のある
形状信号を出力する信号処理回路と、形状信号に基づい
て板幅方向の張力分布を計算する計算機と、を備える形
状測定装置を用いて、張力のかかつた状態で板幅方向に
反りを有するストリツプの形状を測定する際に、第１図
にその要旨を示す如く、前記電磁石の非励磁中における
ストリツプ及び各変位計３間の、圧延条件により推定さ
れるギヤツプ、若しくはオンラインで実測されるギヤツ
プgapciに基づき、信号処理回路７から出力される形状
信号Ciを計算機８により補正して、板幅方向の張力分布
Uciを求めることにより、上記目的を達成するものであ
る。 又、本発明の実施態様は、板幅方向の張力分布Uciを求
めるに際し、電磁石の非励磁中におけるストリツプ及び
各変位計の、前記推定ギヤツプ若しくは実測ギヤツプを
gapci、電磁石の変位力をFN、信号処理回路から出力さ
れる形状信号をCi、定数をＡ、Kg、a2とするとき、次式 Uci＝Ａ・FN/［gapci−１ ／｛Ci/（Kg・a2）＋1/gapci｝］ …（５） を用いることにより、上記目的を達成するものである。
本発明は、張力のかかつた状態で板幅方向に反りを有す
るストリツプの形状を測定する場合に、電磁石の非励磁
中におけるストリツプ及び各変位計間の、圧延条件によ
り推定されるギヤツプ、若しくはオンラインで実測され
るギヤツプgapciに基づき、信号処理回路７から出力さ
れる形状信号Ciを補正して、板幅方向の張力分布Uciを
求めるようにしている。従つて、板幅方向に反りを有す
るストリツプであつても、該ストリツプの張力により潜
在化した形状不良を精度良く測定することができる。こ
れにより、この形状測定結果を利用して自動形状制御す
る場合には、その制御精度を向上してストリツプの形状
品質を向上することができる。 又、信号諸回路から出力される形状信号Ciを推定ギヤツ
プ若しくは実測ギヤツプgapciに基づき補正する際に、
前出（５）式を用いることにより、その補正を精度良く
行うことができる。従つて、形状測定精度を向上するこ
とができる。
るストリツプの形状を測定する場合に、電磁石の非励磁
中におけるストリツプ及び各変位計間の、圧延条件によ
り推定されるギヤツプ、若しくはオンラインで実測され
るギヤツプgapciに基づき、信号処理回路７から出力さ
れる形状信号Ciを補正して、板幅方向の張力分布Uciを
求めるようにしている。従つて、板幅方向に反りを有す
るストリツプであつても、該ストリツプの張力により潜
在化した形状不良を精度良く測定することができる。こ
れにより、この形状測定結果を利用して自動形状制御す
る場合には、その制御精度を向上してストリツプの形状
品質を向上することができる。 又、信号諸回路から出力される形状信号Ciを推定ギヤツ
プ若しくは実測ギヤツプgapciに基づき補正する際に、
前出（５）式を用いることにより、その補正を精度良く
行うことができる。従つて、形状測定精度を向上するこ
とができる。
以下、本発明の実施例を図面を参照して説明する。本実
施例に係る形状測定装置は、前記従来の形状測定装置と
その計算機８における補正工程を除き同一構成であり、
前記各装置と同一の装置には同一符号を付してその説明
を省略する。 本実施例において、静電容量型変位計３から出力される
形状信号Ciに基づいて板幅方向の張力分布Uciを計算す
る計算機８は、ストリツプ１に対し周期的な変位力FNを
与える電磁石２の非励磁中におけるストリツプ１及び各
変位計３間の、圧延条件により推定されるギヤツプgapc
iに基づき、信号処理回路７から出力される形状信号Ci
を補正して、板幅方向の張力分布Uciを求めるように構
成されている。この補正は、前出（５）式を用いて行う
ようにされている。 前記推定ギヤツプgapciは、予め設定されているＣ反り
テーブルから選択されるＣ反りパターンから求められ
る。前記Ｃ反りテーブルは以下のようにして作成されて
いる。ストリツプ１は板幅方向各位置におけるＣ反り量
は圧延時の各ロール径、板厚、張力、材料物性等の圧延
条件により影響を受ける。従つて、これら各圧延条件の
組合せ時のＣ反り量を予め測定して、この測定結果を計
算機８内にＣ反りテーブルとして記憶するものである。
このＣ反りテーブルのＣ反りパターンの一例を第２図に
示す。第２図中破線Ｅはパスラインを、一点鎖線ＦはＣ
反りパターンをそれぞれ示す。 従つて、圧延時の圧延条件により前記Ｃ反りテーブルか
ら該当するＣ反りパターンを選択し、このＣ反りパター
ンから得られるＣ反り量を前記推定ギヤツプgapciとし
て使用する。 次に、前記計算機８内において、前記推定ギヤツプgapc
iに基づき信号処理回路７から出力される形状信号Ciを
補正して板幅方向の張力分布Uciを求める前出（５）式
の導出について説明する。 前出第10図において、上方に凸のＣ反りがあるストリツ
プ１の板幅方向中心から幅端部方向に向かって距離ｘだ
け離間した位置での、非励磁中（このときのストリツプ
１は図中実線で示されている）のギヤツプをgapcとし、
励磁中（このときのストリツプ１は図中破線で示されて
いる）のギヤツプをgapとする。 又、第３図に示されるように前記変位計３のゲイン曲線
Ｇは、一般に、次式の如く表わされる。 Vg＝a1＋a2/gap ……（６） ここで、gapは検出ヘツド４の変位計３とストリツプ１
とのギヤツプ（mm）、Vgは変位計３の出力信号をそれぞ
れ示す。 従つて、前出（１）式は、上記（６）式を用いて以下の
ように表わすことができる。 C1＝Kg（Vgi−Vgci） ＝Kg（a2/gapi−a2/gapci） ＝Kg・a2（1/gapi−1/gapci） ……（７） 上記（７）式を、励磁中のギヤツプgapiについて整理す
ると、以下のようになる。 gapi＝1/ ｛（Ci/Kg・a2）＋（1/gapci）｝ ……（８） 又、前出（４）式を、Ｃ反りがあるストリツプに適用す
る場合には、前出（４）式は以下のように表わされる。 Uci＝Ａ・FN/（gapci−gapi） ……（９） 上記（９）式に、前出（８）式を代入すると、前出
（５）式が得られる。この（５）式により、ストリツプ
１の板幅方向の反りを考慮したギヤツプ、つまり前記推
定ギヤツプgapciに基づき、信号処理回路７から出力さ
れる形状信号Ciを補正して、板幅方向の張力分布Uciを
求めることができる。 次に、本実施例の実施結果を説明する。 第４図は、横軸にストリツプ１の板幅方向各位置を取
り、縦軸に急峻度λｉ（％）をとつて、従来の形状測定
装置によりオンラインで形状測定した結果（図中曲線Ｈ
で示される）と、オフラインで形状測定した結果（図中
曲線Ｊで示される）とを比較して示す線図である。な
お、この第４図における急峻度λｉは、次式の関係から
求めたものである。 ここで、Ｅはヤング率、Uimaxは前出（５）式で求めた
張力Uiの内の最大値を示す。 この第４図から、従来の形状測定装置により測定した場
合には、図中曲線Ｈで示されるように、両耳部が伸びて
おり、耳伸び及び腹伸びの複合形状となつていることが
わかる。これに対して、上記測定箇所と同一箇所をオフ
ラインにてストリツプの張力をかけずにその形状を顕在
化させて測定する場合には、図中曲線Ｊで示されるよう
に、ストリツプ１は単純な腹伸びであることがわかる。
従つて、従来の形状測定装置にあつては、耳波を誤検出
していることが分る。 これに対し、上記測定対象であるストリツプの圧延条件
により推定されるＣ反りパターンを、前出第２図曲線Ｆ
で示されるものとし、前出（５）式を用いて形状信号Ci
を補正する計算を行うと、第５図中の曲線Ｋで示される
ような測定結果が得られた。この第５図は、前出第３図
と同じように横軸にストリツプの板幅方向各位置を、縦
軸に急峻度λｉをとつたものである。 この第５図からも明らかなように、前出第４図中の曲線
Ｈで示される従来のオンライン形状測定結果と比較して
耳波の誤検出が小さくなつていることがわかる。又、第
５図中曲線Ｋで示されるＣ反り補正後のオンライン測定
形状と、図中曲線Ｊで示されるオフライン測定形状とを
比較する場合に、その形状の傾向が一致していることが
わかる。これにより、形状測定において補正効果が充分
得られていることがわかる。 なお、前記実施例において、電磁石２の非励磁中におけ
るストリツプ１及び各変位計３間の、ストリツプ１の板
幅方向の反りを考慮したギヤツプgapciは、圧延条件に
より推定されるギヤツプが用いられ、このギヤツプgapc
iに基づき形状信号Ciを補正するようにされたが、前記
ストリツプ１の板幅方向の反りを考慮したストリツプ１
及び各変位計３のギヤツプgapciは、例えば、スリトツ
プの板幅方向で走査される光学式Ｃ反り測定装置によつ
てオンラインで実測されるギヤツプとしたものであつて
もよい。
施例に係る形状測定装置は、前記従来の形状測定装置と
その計算機８における補正工程を除き同一構成であり、
前記各装置と同一の装置には同一符号を付してその説明
を省略する。 本実施例において、静電容量型変位計３から出力される
形状信号Ciに基づいて板幅方向の張力分布Uciを計算す
る計算機８は、ストリツプ１に対し周期的な変位力FNを
与える電磁石２の非励磁中におけるストリツプ１及び各
変位計３間の、圧延条件により推定されるギヤツプgapc
iに基づき、信号処理回路７から出力される形状信号Ci
を補正して、板幅方向の張力分布Uciを求めるように構
成されている。この補正は、前出（５）式を用いて行う
ようにされている。 前記推定ギヤツプgapciは、予め設定されているＣ反り
テーブルから選択されるＣ反りパターンから求められ
る。前記Ｃ反りテーブルは以下のようにして作成されて
いる。ストリツプ１は板幅方向各位置におけるＣ反り量
は圧延時の各ロール径、板厚、張力、材料物性等の圧延
条件により影響を受ける。従つて、これら各圧延条件の
組合せ時のＣ反り量を予め測定して、この測定結果を計
算機８内にＣ反りテーブルとして記憶するものである。
このＣ反りテーブルのＣ反りパターンの一例を第２図に
示す。第２図中破線Ｅはパスラインを、一点鎖線ＦはＣ
反りパターンをそれぞれ示す。 従つて、圧延時の圧延条件により前記Ｃ反りテーブルか
ら該当するＣ反りパターンを選択し、このＣ反りパター
ンから得られるＣ反り量を前記推定ギヤツプgapciとし
て使用する。 次に、前記計算機８内において、前記推定ギヤツプgapc
iに基づき信号処理回路７から出力される形状信号Ciを
補正して板幅方向の張力分布Uciを求める前出（５）式
の導出について説明する。 前出第10図において、上方に凸のＣ反りがあるストリツ
プ１の板幅方向中心から幅端部方向に向かって距離ｘだ
け離間した位置での、非励磁中（このときのストリツプ
１は図中実線で示されている）のギヤツプをgapcとし、
励磁中（このときのストリツプ１は図中破線で示されて
いる）のギヤツプをgapとする。 又、第３図に示されるように前記変位計３のゲイン曲線
Ｇは、一般に、次式の如く表わされる。 Vg＝a1＋a2/gap ……（６） ここで、gapは検出ヘツド４の変位計３とストリツプ１
とのギヤツプ（mm）、Vgは変位計３の出力信号をそれぞ
れ示す。 従つて、前出（１）式は、上記（６）式を用いて以下の
ように表わすことができる。 C1＝Kg（Vgi−Vgci） ＝Kg（a2/gapi−a2/gapci） ＝Kg・a2（1/gapi−1/gapci） ……（７） 上記（７）式を、励磁中のギヤツプgapiについて整理す
ると、以下のようになる。 gapi＝1/ ｛（Ci/Kg・a2）＋（1/gapci）｝ ……（８） 又、前出（４）式を、Ｃ反りがあるストリツプに適用す
る場合には、前出（４）式は以下のように表わされる。 Uci＝Ａ・FN/（gapci−gapi） ……（９） 上記（９）式に、前出（８）式を代入すると、前出
（５）式が得られる。この（５）式により、ストリツプ
１の板幅方向の反りを考慮したギヤツプ、つまり前記推
定ギヤツプgapciに基づき、信号処理回路７から出力さ
れる形状信号Ciを補正して、板幅方向の張力分布Uciを
求めることができる。 次に、本実施例の実施結果を説明する。 第４図は、横軸にストリツプ１の板幅方向各位置を取
り、縦軸に急峻度λｉ（％）をとつて、従来の形状測定
装置によりオンラインで形状測定した結果（図中曲線Ｈ
で示される）と、オフラインで形状測定した結果（図中
曲線Ｊで示される）とを比較して示す線図である。な
お、この第４図における急峻度λｉは、次式の関係から
求めたものである。 ここで、Ｅはヤング率、Uimaxは前出（５）式で求めた
張力Uiの内の最大値を示す。 この第４図から、従来の形状測定装置により測定した場
合には、図中曲線Ｈで示されるように、両耳部が伸びて
おり、耳伸び及び腹伸びの複合形状となつていることが
わかる。これに対して、上記測定箇所と同一箇所をオフ
ラインにてストリツプの張力をかけずにその形状を顕在
化させて測定する場合には、図中曲線Ｊで示されるよう
に、ストリツプ１は単純な腹伸びであることがわかる。
従つて、従来の形状測定装置にあつては、耳波を誤検出
していることが分る。 これに対し、上記測定対象であるストリツプの圧延条件
により推定されるＣ反りパターンを、前出第２図曲線Ｆ
で示されるものとし、前出（５）式を用いて形状信号Ci
を補正する計算を行うと、第５図中の曲線Ｋで示される
ような測定結果が得られた。この第５図は、前出第３図
と同じように横軸にストリツプの板幅方向各位置を、縦
軸に急峻度λｉをとつたものである。 この第５図からも明らかなように、前出第４図中の曲線
Ｈで示される従来のオンライン形状測定結果と比較して
耳波の誤検出が小さくなつていることがわかる。又、第
５図中曲線Ｋで示されるＣ反り補正後のオンライン測定
形状と、図中曲線Ｊで示されるオフライン測定形状とを
比較する場合に、その形状の傾向が一致していることが
わかる。これにより、形状測定において補正効果が充分
得られていることがわかる。 なお、前記実施例において、電磁石２の非励磁中におけ
るストリツプ１及び各変位計３間の、ストリツプ１の板
幅方向の反りを考慮したギヤツプgapciは、圧延条件に
より推定されるギヤツプが用いられ、このギヤツプgapc
iに基づき形状信号Ciを補正するようにされたが、前記
ストリツプ１の板幅方向の反りを考慮したストリツプ１
及び各変位計３のギヤツプgapciは、例えば、スリトツ
プの板幅方向で走査される光学式Ｃ反り測定装置によつ
てオンラインで実測されるギヤツプとしたものであつて
もよい。
以上説明した通り、本発明によれば、張力のかかつた状
態で板幅方向に反りを有するストリツプの潜在化した形
状を精度良く測定することができる。これにより、調質
圧延機の操業上の品質向上、省力化等を達成することが
できるという優れた効果を有する。
態で板幅方向に反りを有するストリツプの潜在化した形
状を精度良く測定することができる。これにより、調質
圧延機の操業上の品質向上、省力化等を達成することが
できるという優れた効果を有する。
第１図は、本発明に係る冷延鋼板の形状測定方法を実施
する形状測定装置における、形状信号補正手順を示すブ
ロツク線図、第２図は、同実施例における形状信号の補
正式で用いられる推定ギヤツプを求めるためのＣ反りパ
ターンの一例を示す線図、第３図は、形状信号補正式の
導出説明のために用いられる、変位計のゲイン曲線を示
す線図、第４図は、従来の形状測定装置の測定誤差を示
すための線図、第５図は、本実施例における測定結果と
オフライン測定結果とを比較して示す線図、第６図は、
従来の形状測定装置の装置構成を示す一部ブロツク線図
を含む斜視図、第７図は、従来の形状測定装置における
静電容量型変位計及び電磁石を示す断面図、第８図は、
従来の形状測定装置における、電磁石への励磁電流と変
位計の出力との関係を示す線図、第９図は、従来の形状
測定装置における変位計のゲイン曲線を示す線図、第10
図は、ストリツプに板幅方向のＣ反りがある場合の各ギ
ヤツプを示す正面図である。 １……ストリツプ、 ２……電磁石、 ３……変位計、 ４……検出ヘツド、 ５……駆動信号発生回路、 ６……駆動アンプ、 ７……信号処理回路、 ８……計算機。
する形状測定装置における、形状信号補正手順を示すブ
ロツク線図、第２図は、同実施例における形状信号の補
正式で用いられる推定ギヤツプを求めるためのＣ反りパ
ターンの一例を示す線図、第３図は、形状信号補正式の
導出説明のために用いられる、変位計のゲイン曲線を示
す線図、第４図は、従来の形状測定装置の測定誤差を示
すための線図、第５図は、本実施例における測定結果と
オフライン測定結果とを比較して示す線図、第６図は、
従来の形状測定装置の装置構成を示す一部ブロツク線図
を含む斜視図、第７図は、従来の形状測定装置における
静電容量型変位計及び電磁石を示す断面図、第８図は、
従来の形状測定装置における、電磁石への励磁電流と変
位計の出力との関係を示す線図、第９図は、従来の形状
測定装置における変位計のゲイン曲線を示す線図、第10
図は、ストリツプに板幅方向のＣ反りがある場合の各ギ
ヤツプを示す正面図である。 １……ストリツプ、 ２……電磁石、 ３……変位計、 ４……検出ヘツド、 ５……駆動信号発生回路、 ６……駆動アンプ、 ７……信号処理回路、 ８……計算機。
Claims (2)
- 【請求項１】張力のかかつた状態で走行する冷延鋼板か
ら所定の距離を隔てて板幅方向に設置され冷延鋼板に周
期的な変位力を与える電磁石と、 この電磁石の板幅方向の各位置に設置され冷延鋼板の変
位量を測定し、変位信号を出力する変位計と、 周期的な駆動信号を出力する駆動信号発生回路と、 駆動信号を受けて電磁石に周期的な励磁電流を与える駆
動アンプと、 変位信号と駆動信号との相関を計算し冷延鋼板の板波形
状と相関のある形状信号を出力する信号処理回路と、 形状信号に基づいて板幅方向の張力分布を計算する計算
機と、 を備える形状測定装置を用いて、 張力のかかつた状態で板幅方向に反りを有する冷延鋼板
の形状を測定する際に、 前記電磁石の非励磁中における冷延鋼板及び各変位計間
の、圧延条件により推定されるギヤツプ、若しくはオン
ラインで実測されるギヤツプに基づき、信号処理回路か
ら出力される形状信号を補正して、板幅方向の張力分布
を求めることを特徴とする冷延鋼板の形状測定方法。 - 【請求項２】板幅方向の張力分布Uciを求めるに際し、
電磁石の非励磁中における冷延鋼板及び各変位計間の、
前記推定ギヤツプ若しくは実測ギヤツプをgapci、電磁
石の変位力をFN、信号処理回路から出力される形状信号
をCi、定数をＡ、Kg、a2とするとき、次式 Uci＝Ａ・FN/［gapci−1/ ｛Ci/（Kg・a2）＋1/gapci｝］ を用いる特許請求の範囲第１項記載の冷延鋼板の形状測
定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15125286A JPH07117364B2 (ja) | 1986-06-27 | 1986-06-27 | 冷延鋼板の形状測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15125286A JPH07117364B2 (ja) | 1986-06-27 | 1986-06-27 | 冷延鋼板の形状測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS638503A JPS638503A (ja) | 1988-01-14 |
| JPH07117364B2 true JPH07117364B2 (ja) | 1995-12-18 |
Family
ID=15514596
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15125286A Expired - Lifetime JPH07117364B2 (ja) | 1986-06-27 | 1986-06-27 | 冷延鋼板の形状測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07117364B2 (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH07122601B2 (ja) * | 1988-07-18 | 1995-12-25 | 三菱重工業株式会社 | 圧延機の板形状検出値補正方法 |
| JP2513037B2 (ja) * | 1989-08-30 | 1996-07-03 | 日本電気株式会社 | マイクロコンピュ―タ |
| JPH04190426A (ja) * | 1990-11-26 | 1992-07-08 | Fujitsu Ltd | メモリアクセス装置 |
| JP5439704B2 (ja) * | 2006-12-18 | 2014-03-12 | Ｊｆｅスチール株式会社 | 鋼帯形状検出装置 |
| CN103648621B (zh) | 2011-07-07 | 2017-09-15 | 东丽株式会社 | 分离膜、分离膜元件以及分离膜的制造方法 |
-
1986
- 1986-06-27 JP JP15125286A patent/JPH07117364B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS638503A (ja) | 1988-01-14 |
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