JPH0340252A - 光磁気記録媒体の位相差測定装置 - Google Patents
光磁気記録媒体の位相差測定装置Info
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- JPH0340252A JPH0340252A JP1300661A JP30066189A JPH0340252A JP H0340252 A JPH0340252 A JP H0340252A JP 1300661 A JP1300661 A JP 1300661A JP 30066189 A JP30066189 A JP 30066189A JP H0340252 A JPH0340252 A JP H0340252A
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- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
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- G01N21/21—Polarisation-affecting properties
- G01N21/23—Bi-refringence
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- G—PHYSICS
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- G11B11/00—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor
- G11B11/10—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、光磁気記録媒体の位相差測定装置に関する
。
。
〔従来の技術］
光磁気記録媒体を用いたいわゆる光磁気記録においては
、カー効果による反射光の直線偏光の偏光面の回転を利
用して再生信号を得るようにしている。ここで、再生信
号の振幅は、カー回転角をθよとするとｓ ｉｎ２θア
に比例するが、ピックアップ光学系に位相差があると、
第１０図に示すように反射光が楕円偏光化して実効的な
カー回転角が減少し、再生信号振幅が劣化することが知
られている。
、カー効果による反射光の直線偏光の偏光面の回転を利
用して再生信号を得るようにしている。ここで、再生信
号の振幅は、カー回転角をθよとするとｓ ｉｎ２θア
に比例するが、ピックアップ光学系に位相差があると、
第１０図に示すように反射光が楕円偏光化して実効的な
カー回転角が減少し、再生信号振幅が劣化することが知
られている。
一方、光磁気記録媒体は、一般に、誘電体より戒る基板
上に磁性膜を有する記録層を設けて構成されているため
、該光磁気記録媒体に直線偏光を投射しても、その反射
光自身が楕円偏光化している場合がある。この場合は、
第１１図に示すように、ピックアップ光学系がある位相
差を持っている時に最大再生振幅が得られることになる
が、ピンクアップ光学系の位相差はその生産時にばらつ
きを生じるため、例えば第１１図において位相差Ｏｏに
対して±１５°の位相差のばらつきが生じると、再生信
号振幅が大きく変化することになる。
上に磁性膜を有する記録層を設けて構成されているため
、該光磁気記録媒体に直線偏光を投射しても、その反射
光自身が楕円偏光化している場合がある。この場合は、
第１１図に示すように、ピックアップ光学系がある位相
差を持っている時に最大再生振幅が得られることになる
が、ピンクアップ光学系の位相差はその生産時にばらつ
きを生じるため、例えば第１１図において位相差Ｏｏに
対して±１５°の位相差のばらつきが生じると、再生信
号振幅が大きく変化することになる。
したがって、良好な再生信号を得るためには、光磁気記
録媒体の位相差を測定して、その反射光の楕円偏光化を
管理する必要がある。
録媒体の位相差を測定して、その反射光の楕円偏光化を
管理する必要がある。
以上のことから、光磁気記録媒体の位相差を測定する装
置として、従来、第１２図に示すように、光磁気ディス
ク１を静止させた状態で偏光子２を経て直線偏光の平行
光を投射し、その光磁気ディスク１での反射光を回転検
光子３を回転させながら受光素子４で受光して１０反射
光の楕円偏光化の程度すなわち光磁気ディスク１でのＰ
偏光とＳ偏光との位相差を測定するようにしたもめが知
られている。
置として、従来、第１２図に示すように、光磁気ディス
ク１を静止させた状態で偏光子２を経て直線偏光の平行
光を投射し、その光磁気ディスク１での反射光を回転検
光子３を回転させながら受光素子４で受光して１０反射
光の楕円偏光化の程度すなわち光磁気ディスク１でのＰ
偏光とＳ偏光との位相差を測定するようにしたもめが知
られている。
しかしながら、上述した従来の位相差測定装置にあって
は、光磁気ディスクｌを静止させた状態でその位相差を
測定するようにしているため、再生信号レベルやＣ／Ｎ
を測定できないと共に、測定部位が部分的となって、媒
体の適正な評価ができないという問題がある。
は、光磁気ディスクｌを静止させた状態でその位相差を
測定するようにしているため、再生信号レベルやＣ／Ｎ
を測定できないと共に、測定部位が部分的となって、媒
体の適正な評価ができないという問題がある。
この発明は、このような従来の問題点に着目してなされ
たもので、その第１の目的は光磁気記録媒体の位相差を
実装状態で測定でき、したがって媒体を適正に評価でき
るよう適切に構成した光磁気記録媒体の位相差測定装置
を提供するにある。
たもので、その第１の目的は光磁気記録媒体の位相差を
実装状態で測定でき、したがって媒体を適正に評価でき
るよう適切に構成した光磁気記録媒体の位相差測定装置
を提供するにある。
また、この発明の第２の目的は、実装状態で媒体の位相
差を基板と記録層とに分けて測定でき、したがって媒体
をより適正に評価できるよう適切に構成した光磁気記録
媒体の位相差測定装置を提供するにある。
差を基板と記録層とに分けて測定でき、したがって媒体
をより適正に評価できるよう適切に構成した光磁気記録
媒体の位相差測定装置を提供するにある。
上記第１の目的を達成するため、この発明では、光磁気
記録媒体を駆動する手段と、前記光磁気記録媒体に直線
偏光を収束して投射する手段と、前記光磁気記録媒体に
投射された直線偏光の反射光の位相差を調節する位相補
償手段と、この位相補償手段を経た前記反射光を受光す
る受光手段とを具え、前記光磁気記録媒体を駆動しなが
ら、前記受光手段の出力に基づいて前記位相補償手段に
より前記反射光の位相差を調整することによ・す、前記
光磁気記録媒体に記録された情報の信号レベルおよび／
またはＣ／Ｎが最大となる該光磁気記録媒体の位相差を
測定し得るよう構成する。
記録媒体を駆動する手段と、前記光磁気記録媒体に直線
偏光を収束して投射する手段と、前記光磁気記録媒体に
投射された直線偏光の反射光の位相差を調節する位相補
償手段と、この位相補償手段を経た前記反射光を受光す
る受光手段とを具え、前記光磁気記録媒体を駆動しなが
ら、前記受光手段の出力に基づいて前記位相補償手段に
より前記反射光の位相差を調整することによ・す、前記
光磁気記録媒体に記録された情報の信号レベルおよび／
またはＣ／Ｎが最大となる該光磁気記録媒体の位相差を
測定し得るよう構成する。
また、上記第２の目的を達成するため、この発明では、
光磁気記録媒体を駆動する手段と、前記光磁気記録媒体
に直線偏光を収束して投射する手段と、前記光磁気記録
媒体に投射される直線偏光の方向を選択的に９０°回転
させる手段と、前記光磁気記録媒体に投射された直線偏
光の反射光の位相差を調節する位相補償手段と、この位
相補償手段を経た前記反射光を受光する受光手段とを具
え、前記光磁気記録媒体に投射される９０°異なる各々
の直線偏光に対して、前記光磁気記録媒体を駆動しなが
ら、前記受光手段の出力に基づいて前記位相補償手段に
より前記反射光の位相差を調整することにより、前記光
磁気記録媒体に記録された情報の信号レベルおよび／ま
たはＣ／Ｎが最大となる該光磁気記録媒体の位相差を測
定し得るよう構成する。
光磁気記録媒体を駆動する手段と、前記光磁気記録媒体
に直線偏光を収束して投射する手段と、前記光磁気記録
媒体に投射される直線偏光の方向を選択的に９０°回転
させる手段と、前記光磁気記録媒体に投射された直線偏
光の反射光の位相差を調節する位相補償手段と、この位
相補償手段を経た前記反射光を受光する受光手段とを具
え、前記光磁気記録媒体に投射される９０°異なる各々
の直線偏光に対して、前記光磁気記録媒体を駆動しなが
ら、前記受光手段の出力に基づいて前記位相補償手段に
より前記反射光の位相差を調整することにより、前記光
磁気記録媒体に記録された情報の信号レベルおよび／ま
たはＣ／Ｎが最大となる該光磁気記録媒体の位相差を測
定し得るよう構成する。
光磁気記録媒体に直線偏光を入射させたときの反射光の
楕円偏光化は、θｋ ′なるカー回転が生じた後、入射
直線偏光方向とそれと垂直な方向との間にδなる位相差
が起こったと考えることができる。ここで、光磁気記録
媒体を構成する基板の複屈折の主軸が入射直線偏光の方
向にあると考え、その位相差をΔとし、ピックアップ光
学系の位相差をψとすると、信号検出系直前における偏
光状態はジョーンズベクトルを用いて次のように表され
る。
楕円偏光化は、θｋ ′なるカー回転が生じた後、入射
直線偏光方向とそれと垂直な方向との間にδなる位相差
が起こったと考えることができる。ここで、光磁気記録
媒体を構成する基板の複屈折の主軸が入射直線偏光の方
向にあると考え、その位相差をΔとし、ピックアップ光
学系の位相差をψとすると、信号検出系直前における偏
光状態はジョーンズベクトルを用いて次のように表され
る。
このような偏光状態の光を４５°の検光子角度でいわゆ
る差動検出したときの再生信号振幅Ａは、とすると、 ＝ｓｉｎ２θに’ｃｏｓ（ψ＋Δ十δ）と表される。
る差動検出したときの再生信号振幅Ａは、とすると、 ＝ｓｉｎ２θに’ｃｏｓ（ψ＋Δ十δ）と表される。
以上の結果より、再生信号振幅はピックアップ光学系の
位相差ψを変化させると、ｃｏｓカーブに比例して変化
することがわかる。また、最大振幅を与えるのは、光磁
気記録媒体に起因する楕円化とピックアンプ光学系の位
相差とが丁度キャンセルしあってψ＝−（Δ＋δ）を満
たしたときであることもわかる。
位相差ψを変化させると、ｃｏｓカーブに比例して変化
することがわかる。また、最大振幅を与えるのは、光磁
気記録媒体に起因する楕円化とピックアンプ光学系の位
相差とが丁度キャンセルしあってψ＝−（Δ＋δ）を満
たしたときであることもわかる。
したがって、光磁気記録媒体を駆動して受光手段の出力
を監視しながら、位相補償手段により反射光の位相差を
調整して、光磁気記録媒体に記録された情報の信号レベ
ルおよび／またはＣ／Ｎが最大となる光磁気記録媒体の
位相差を測定すれば、光磁気記録媒体を適正に評価する
ことが可能となる。
を監視しながら、位相補償手段により反射光の位相差を
調整して、光磁気記録媒体に記録された情報の信号レベ
ルおよび／またはＣ／Ｎが最大となる光磁気記録媒体の
位相差を測定すれば、光磁気記録媒体を適正に評価する
ことが可能となる。
一方、上記の計算においては、基板の複屈折に起因する
位相差Δを、入射直線偏光とそれに垂直な位相差と考え
たが、このことは入射直線偏光の偏光面を９０°回転さ
せると、基板の進相軸および遅相軸に対する偏光面の位
置関係が逆転するため、Δの符号が逆になることを意味
する。
位相差Δを、入射直線偏光とそれに垂直な位相差と考え
たが、このことは入射直線偏光の偏光面を９０°回転さ
せると、基板の進相軸および遅相軸に対する偏光面の位
置関係が逆転するため、Δの符号が逆になることを意味
する。
ここで、入射直線偏光を光磁気記録媒体のグループに対
して平行にした場合と、垂直にした場合とのそれぞれに
ついて、最大振幅を与えるピックアップ光学系の位相差
をψＩ、ψ±とすると、ψ／＝−（Δ十δ） ψ上＝−（−Δ＋δ） となり、これらψ／およびψ±から、カー楕円に起因す
る楕円化と等価な位相差δと、基板複屈折に起因する位
相差Δとを、 のように分けることができる。
して平行にした場合と、垂直にした場合とのそれぞれに
ついて、最大振幅を与えるピックアップ光学系の位相差
をψＩ、ψ±とすると、ψ／＝−（Δ十δ） ψ上＝−（−Δ＋δ） となり、これらψ／およびψ±から、カー楕円に起因す
る楕円化と等価な位相差δと、基板複屈折に起因する位
相差Δとを、 のように分けることができる。
したがって、光磁気記録媒体に投射される直線偏光の方
向を選択的に９０°異ならせ、その各々の直線偏光に対
して光磁気記録媒体を駆動して受光手段の出力を監視し
ながら、位相補償手段により反射光の位相差を調整して
、光磁気記録媒体に記録された情報の信号レベルおよび
／またはＣ／Ｎが最大となる光磁気記録媒体の位相差を
測定すれば、その各々の位相差から記録層における位相
差と、基板における位相差とを求めることができ、光磁
気記録媒体をより適正に評価することが可能となる。
向を選択的に９０°異ならせ、その各々の直線偏光に対
して光磁気記録媒体を駆動して受光手段の出力を監視し
ながら、位相補償手段により反射光の位相差を調整して
、光磁気記録媒体に記録された情報の信号レベルおよび
／またはＣ／Ｎが最大となる光磁気記録媒体の位相差を
測定すれば、その各々の位相差から記録層における位相
差と、基板における位相差とを求めることができ、光磁
気記録媒体をより適正に評価することが可能となる。
第１図ＡおよびＢはこの発明の第１実施例を示すもので
ある。第１図Ａに示すように、半導体レーザ１１から射
出されるレーザ光は、コリメータレンズ１２、ビーム整
形用プリズム１３およびハーフ柔う−１４を経て偏光ビ
ームスプリッタ１５に入射させ、該偏光ビームスプリッ
タ１５を透過する直線偏光を、第１図Ｂに示すように全
反射ξクー１６および対物レンズ１７を経て、スピンド
ルモータ１８によって回転駆動される測定対象物である
光磁気ディスク１９に、偏光方向がトランクの接線方向
またはトラックと直交する方向となるように投射させる
。
ある。第１図Ａに示すように、半導体レーザ１１から射
出されるレーザ光は、コリメータレンズ１２、ビーム整
形用プリズム１３およびハーフ柔う−１４を経て偏光ビ
ームスプリッタ１５に入射させ、該偏光ビームスプリッ
タ１５を透過する直線偏光を、第１図Ｂに示すように全
反射ξクー１６および対物レンズ１７を経て、スピンド
ルモータ１８によって回転駆動される測定対象物である
光磁気ディスク１９に、偏光方向がトランクの接線方向
またはトラックと直交する方向となるように投射させる
。
光磁気ディスク１９での反射光は、対物レンズ１７およ
び全反射ミラー１６を経て偏光ビームスプリッタ１５に
入射させ、その透過光をハーフミラ−１４で反射させて
図示しないサーボ信号検出系に導いてフォーカスおよび
トラッキングサーボ信号を得、これらサーボ信号により
光磁気ディスク１９上での読み取り光かを焦状態でトラ
ックを追従するように対物レンズ１７を駆動制御する。
び全反射ミラー１６を経て偏光ビームスプリッタ１５に
入射させ、その透過光をハーフミラ−１４で反射させて
図示しないサーボ信号検出系に導いてフォーカスおよび
トラッキングサーボ信号を得、これらサーボ信号により
光磁気ディスク１９上での読み取り光かを焦状態でトラ
ックを追従するように対物レンズ１７を駆動制御する。
また、偏光ビームスプリッタ１５で反射される光磁気デ
ィスク１９での反射光は、パビネーソレイユのコンペン
セータより成る位相補償板２０を経て偏光ビームスプリ
ッタ２１に入射させ、その透過光をコリメータレンズ２
２を経て光検出器２３で受光し、反射光をコリメータレ
ンズ２４を経て光検出器２５で受光する。これら光検出
器２３．２５の出力は差動増幅器２６に供給し、その差
動出力をスペクトラムアナライザ２７に供給する。
ィスク１９での反射光は、パビネーソレイユのコンペン
セータより成る位相補償板２０を経て偏光ビームスプリ
ッタ２１に入射させ、その透過光をコリメータレンズ２
２を経て光検出器２３で受光し、反射光をコリメータレ
ンズ２４を経て光検出器２５で受光する。これら光検出
器２３．２５の出力は差動増幅器２６に供給し、その差
動出力をスペクトラムアナライザ２７に供給する。
上記構成において、位相補償板２０により光学系の位相
差を零に調整して、光磁気ディスク１９を通常の記録再
生時の回転速度で回転させながら、対物レンズ１７を経
て第２図Ａに示すような直線偏光を投射すると、光磁気
ディスク１９に？、ｉ屈折が無い場合には、その反射光
は磁気カー効果によって、その偏光面が光磁気ディスク
１９の磁性膜における磁化の方向すなわち記録されてい
る情報に応して、第２図Ｂに示すように±α回転する。
差を零に調整して、光磁気ディスク１９を通常の記録再
生時の回転速度で回転させながら、対物レンズ１７を経
て第２図Ａに示すような直線偏光を投射すると、光磁気
ディスク１９に？、ｉ屈折が無い場合には、その反射光
は磁気カー効果によって、その偏光面が光磁気ディスク
１９の磁性膜における磁化の方向すなわち記録されてい
る情報に応して、第２図Ｂに示すように±α回転する。
したがって、偏光ビームスプリッタ２１における方位角
を、第３図Ａに符号イで示すように入射直線偏光の方向
に対して４５°に設定すれば、差動増幅器２６からはＣ
／Ｈの高い再生信号を得ることができる。
を、第３図Ａに符号イで示すように入射直線偏光の方向
に対して４５°に設定すれば、差動増幅器２６からはＣ
／Ｈの高い再生信号を得ることができる。
しかし、実際には、光磁気ディスク１９にはこれを構成
する′透明基板や磁性膜を有する記録層に複屈折がある
ため、その反射光はカー回転の他にカー楕円を受けて第
２図Ｃに示すような楕円偏光となり、このときのカー回
転角は楕円の長袖方向と入射直線偏光の方向との威す角
±α°となって、αよりもΔα小さくなる。したがって
、差動増幅器２６から得られる再生信号は、第３図Ｂに
示すようにＣ／Ｎの低いものとなる。
する′透明基板や磁性膜を有する記録層に複屈折がある
ため、その反射光はカー回転の他にカー楕円を受けて第
２図Ｃに示すような楕円偏光となり、このときのカー回
転角は楕円の長袖方向と入射直線偏光の方向との威す角
±α°となって、αよりもΔα小さくなる。したがって
、差動増幅器２６から得られる再生信号は、第３図Ｂに
示すようにＣ／Ｎの低いものとなる。
そこで、この実施例では、位相補償板２０を含む光学系
全体の位相差をゼロ度に調整した状態から、光磁気ディ
スク１９を通常の記録再生時の回転速度で回転させ、ス
ペクトラムアナライザ２７により例えば３．７ＭＨｚの
再生信号レベルとＣ／Ｎとを観測しながら、それらが最
大となるように位相補償板２０を調整して反射光に位相
差を与え、再生信号レベルおよびＣ／Ｎが最大となる位
相補償板２０の調整量から光磁気ディスク１９の位相差
を測定する。
全体の位相差をゼロ度に調整した状態から、光磁気ディ
スク１９を通常の記録再生時の回転速度で回転させ、ス
ペクトラムアナライザ２７により例えば３．７ＭＨｚの
再生信号レベルとＣ／Ｎとを観測しながら、それらが最
大となるように位相補償板２０を調整して反射光に位相
差を与え、再生信号レベルおよびＣ／Ｎが最大となる位
相補償板２０の調整量から光磁気ディスク１９の位相差
を測定する。
第４図および第５図はこの実施例で測定した２種の光磁
気ディスクの再生信号レベルとＣ／Ｎとの位相特性を示
すもので、縦軸は出力レベル（ｄＢ）を、横軸は位相補
償板２０で与えた位相差（度）を示し、位相差ゼロ度は
位相補償板２０を含めた光学系全体の位相差がゼロ度の
位置を表す。また、○印はＣ／Ｎの値を示し、×印は再
生信号レベルの値を示す。第４図の光磁気ディスクにお
いては、光学系全体の位相差がゼロ度のとき再生信号レ
ベルおよびＣ／Ｎが共に４５ｄＢ以上あり、位相補償板
２０により約１３度の位相差を与えたときそれらのレベ
ルが最大となる。したがって、この光磁気ディスクには
位相差が約１３°あることが認識できると共に、通常光
磁気ディスクにおいては、光学系全体の位相差がゼロ度
の状態で再生信号レベルまたはＣ／Ｎが４５ｄＢ以上あ
れば使用可能であるので、充分使用できるものと評価す
ることができる。
気ディスクの再生信号レベルとＣ／Ｎとの位相特性を示
すもので、縦軸は出力レベル（ｄＢ）を、横軸は位相補
償板２０で与えた位相差（度）を示し、位相差ゼロ度は
位相補償板２０を含めた光学系全体の位相差がゼロ度の
位置を表す。また、○印はＣ／Ｎの値を示し、×印は再
生信号レベルの値を示す。第４図の光磁気ディスクにお
いては、光学系全体の位相差がゼロ度のとき再生信号レ
ベルおよびＣ／Ｎが共に４５ｄＢ以上あり、位相補償板
２０により約１３度の位相差を与えたときそれらのレベ
ルが最大となる。したがって、この光磁気ディスクには
位相差が約１３°あることが認識できると共に、通常光
磁気ディスクにおいては、光学系全体の位相差がゼロ度
の状態で再生信号レベルまたはＣ／Ｎが４５ｄＢ以上あ
れば使用可能であるので、充分使用できるものと評価す
ることができる。
これに対し、第５図の光磁気ディスクにおいては、光学
系全体の位相差がゼロ度のとき再生信号レベルおよびＣ
／Ｎが共に４５ｄＢ以下で、位相補償板２０により約３
５°の位相差を与えたときそれらのレベルが最大となる
。したがって、この光磁気ディスクには位相差が約３５
°あることが認識できると共に、光学系全体の位相差が
ゼロ度のとき再生信号レベルおよびＣ／Ｎが共に４５ｄ
Ｂ以下であるので、実際の使用には不適であり、改良の
必要があると評価することができる。
系全体の位相差がゼロ度のとき再生信号レベルおよびＣ
／Ｎが共に４５ｄＢ以下で、位相補償板２０により約３
５°の位相差を与えたときそれらのレベルが最大となる
。したがって、この光磁気ディスクには位相差が約３５
°あることが認識できると共に、光学系全体の位相差が
ゼロ度のとき再生信号レベルおよびＣ／Ｎが共に４５ｄ
Ｂ以下であるので、実際の使用には不適であり、改良の
必要があると評価することができる。
第６図はこの発明の第２実施例の要部を示すものである
。こ′の実施例は、第１実施例において、全反射ミラー
１６と対物レンズ１７との間に回動可能に１７２波長板
３１を配置し、これを選択的に４５°回転させることに
より光磁気ディスク１９に対する入射直線偏光の偏光面
を９０°異ならせて、入射直線偏光の偏光面が光磁気デ
ィスク１９のグループに対して平行な場合と、垂直な場
合との双方について、光磁気ディスク１９を回転させな
がらその位相差ψ／およびψ上を測定するようにしたも
ので、その他の構成は第１実施例と同様である。
。こ′の実施例は、第１実施例において、全反射ミラー
１６と対物レンズ１７との間に回動可能に１７２波長板
３１を配置し、これを選択的に４５°回転させることに
より光磁気ディスク１９に対する入射直線偏光の偏光面
を９０°異ならせて、入射直線偏光の偏光面が光磁気デ
ィスク１９のグループに対して平行な場合と、垂直な場
合との双方について、光磁気ディスク１９を回転させな
がらその位相差ψ／およびψ上を測定するようにしたも
ので、その他の構成は第１実施例と同様である。
以下、この第２実施例による実験例を第７図〜第９図に
示す。なお、第７図〜第９図において、縦軸は光磁気デ
ィスク１９の１回転に亘っての信号振幅の平均値を、横
軸はピンクアンプ光学系の位相差を示し、旧印および◇
印はそれぞれ入射直線偏光の偏光面がグループに対し平
行な場合および垂直な場合の測定値を示す。また、曲線
は測定値をＣＯＳでフィンティングしたものである。
示す。なお、第７図〜第９図において、縦軸は光磁気デ
ィスク１９の１回転に亘っての信号振幅の平均値を、横
軸はピンクアンプ光学系の位相差を示し、旧印および◇
印はそれぞれ入射直線偏光の偏光面がグループに対し平
行な場合および垂直な場合の測定値を示す。また、曲線
は測定値をＣＯＳでフィンティングしたものである。
第７図は、ポリカーボネート基板を用いた光磁気ディス
クの測定結果を示す。この光磁気ディスクでは、信号振
幅の平均値が最大となる位相差ψ／およびψ±が、ψ／
−１８，９°、ψ土−−１０．３゜となっているので、
上記（１）式から記録層における位相差δおよび基板に
おける位相差Δは、δ＝−４，３＠ Δ−４４，６’ となり、基板複屈折により１５°近い位相差を生してい
ることがわかる。
クの測定結果を示す。この光磁気ディスクでは、信号振
幅の平均値が最大となる位相差ψ／およびψ±が、ψ／
−１８，９°、ψ土−−１０．３゜となっているので、
上記（１）式から記録層における位相差δおよび基板に
おける位相差Δは、δ＝−４，３＠ Δ−４４，６’ となり、基板複屈折により１５°近い位相差を生してい
ることがわかる。
第８図は、ガラス基板を用いた光磁気ディスクの測定結
果を示す。この光磁気ディスクでは、信号振幅の平均値
が最大となる位相差ψ／およびψ±が、ψ／＝１１．６
°、ψ±＝１２．０’となっているので、上記（１）式
から δ＝−１１，８’ Δ＝０．２ ’ が得られ、記録層において１２°近い位相差が生じてい
ることがわかる。
果を示す。この光磁気ディスクでは、信号振幅の平均値
が最大となる位相差ψ／およびψ±が、ψ／＝１１．６
°、ψ±＝１２．０’となっているので、上記（１）式
から δ＝−１１，８’ Δ＝０．２ ’ が得られ、記録層において１２°近い位相差が生じてい
ることがわかる。
第９図は、非晶質な不飽和脂肪族系のプラスチック基板
を用いた光磁気ディスクの測定結果を示す。この光磁気
ディスクでは、信号振幅の平均値が最大となる位相差ψ
／およびψ±が、ψ／−３．０ψ上−−４．６°となっ
ているので、上記（１）式からδ＝０．８ ’ Δ＝−３，８゜ が得られ、基板において４°近い位相差が生しているこ
とがわかる。
を用いた光磁気ディスクの測定結果を示す。この光磁気
ディスクでは、信号振幅の平均値が最大となる位相差ψ
／およびψ±が、ψ／−３．０ψ上−−４．６°となっ
ているので、上記（１）式からδ＝０．８ ’ Δ＝−３，８゜ が得られ、基板において４°近い位相差が生しているこ
とがわかる。
以上の実験結果は、基板複屈折に関する一般的な傾向と
一敗している。
一敗している。
この第２実施例によれば、光磁気ディスクを構成する基
板および磁性膜を有する記録層の各々についての位相差
を得ることができるので、反射光の楕円化の要因を分け
て評価することができ、したがって光磁気ディスクをよ
り適正に評価することができる。
板および磁性膜を有する記録層の各々についての位相差
を得ることができるので、反射光の楕円化の要因を分け
て評価することができ、したがって光磁気ディスクをよ
り適正に評価することができる。
なお、この発明は上述した実施例にのみ限定されるもの
ではなく、幾多の変形または変更が可能である。例えば
、上述した実施例では、位相補償板２０をバビネーソレ
イユのコンペンセータをもって構成したが、ニーリング
ハウスのコンペンセータやその他のコンペンセータをも
って構成することもできる。
ではなく、幾多の変形または変更が可能である。例えば
、上述した実施例では、位相補償板２０をバビネーソレ
イユのコンペンセータをもって構成したが、ニーリング
ハウスのコンペンセータやその他のコンペンセータをも
って構成することもできる。
また、第１実施例では、再生信号レヘルおよびＣ／Ｎの
双方を観測して光磁気ディスクの位相差を測定するよう
にしたが、それらの一方を観測して位相差を測定するこ
ともできる。同様に、第２実施例でも、再生信号レヘル
に限らず、Ｃ／Ｎあるいは再生信号レベルおよびＣ／Ｎ
の双方を観測して光磁気ディスクの位相差を測定するこ
ともできる。
双方を観測して光磁気ディスクの位相差を測定するよう
にしたが、それらの一方を観測して位相差を測定するこ
ともできる。同様に、第２実施例でも、再生信号レヘル
に限らず、Ｃ／Ｎあるいは再生信号レベルおよびＣ／Ｎ
の双方を観測して光磁気ディスクの位相差を測定するこ
ともできる。
さらに、第２実施例では、１／２波長板３１を回動可能
に設けて入射直線偏光の偏光面を選択的に９０゜回転さ
せるようにしたが、１／２波長板３１に代えて９０°旋
光子を光路中に出し入れして、入射直線偏光の偏光面を
選択的に９０°回転させるよう構成することもできる。
に設けて入射直線偏光の偏光面を選択的に９０゜回転さ
せるようにしたが、１／２波長板３１に代えて９０°旋
光子を光路中に出し入れして、入射直線偏光の偏光面を
選択的に９０°回転させるよう構成することもできる。
また、この発明は光磁気ディスクに限らず、カード状の
光磁気記録媒体の位相差測定にも有効に適用することが
できる。
光磁気記録媒体の位相差測定にも有効に適用することが
できる。
以上述べたように、この発明によれば光磁気記録媒体を
駆動しながら、すなわち実装状態でその再生信号レヘル
および／またはＣ／Ｎに基づいて媒体の位相差を測定す
るようにしたので、媒体を適正に評価することができ、
したがって媒体の研究、開発に有効に用いることができ
る。
駆動しながら、すなわち実装状態でその再生信号レヘル
および／またはＣ／Ｎに基づいて媒体の位相差を測定す
るようにしたので、媒体を適正に評価することができ、
したがって媒体の研究、開発に有効に用いることができ
る。
また、媒体への入射直線偏光の偏光面を９０°異ならせ
、その各々についての実装状態での再生信号レベルおよ
び／またはＣ／Ｎに基づいて媒体の位相差を測定するよ
うにしたので、媒体を構成する基板および磁性膜を有す
る泥録層の各戸／につい°この位相差を得ることができ
、これにより反射光の楕円化の要因を分けて評価するこ
とができるので、媒体をより適正に評価することができ
、媒体の研究、開発により有効に用いることができる。
、その各々についての実装状態での再生信号レベルおよ
び／またはＣ／Ｎに基づいて媒体の位相差を測定するよ
うにしたので、媒体を構成する基板および磁性膜を有す
る泥録層の各戸／につい°この位相差を得ることができ
、これにより反射光の楕円化の要因を分けて評価するこ
とができるので、媒体をより適正に評価することができ
、媒体の研究、開発により有効に用いることができる。
第１図ＡおよびＢはこの発明の第１実施例を示す図、
第２図Ａ−Ｃおよび第３図Ａ、Ｂはその動作を説明する
ための図、 第４図および第５図は第１実施例による測定結果の２つ
の例を示す図、 第６図はこの発明の第２実施例の要部を示す図、第７図
、第８図および第９図は第２実施例による測定結果の３
つの例を示す図、 第１０図、第１１図および第１２図は従来の技術を説明
するための図である。 １１−半導体レーザ １２− コリメータレンズ１
３− ビーム整形用プリズム １４−・ハーフミラー １５、２１・・・偏光ビームスプリッタ１６−全反射ミ
ラー １７・一対物レンズ１８−・−スピンドルモ
ータ １９−光磁気ディスク ２ｏ−位相補償板２２、２ｔ
−−−コリメータレンズ ２３、２５−光検出器 ２６−差動増幅器２７−
スペクトラムアナライザ ３１−１／２波長板 第１図 第２図 第３図 Ａ 第６図 ｑ ！６ 第７図 ａ苅是ｒｉノ 式幾 ａ部 Ｓ °本 −） ↓〜 巴−鮪 ９ 勺 （ら さ ７４ ０ ハ４ ａ菰 第１２図 手 続 補 正 里 ！：１（自発） 平成 年 月１０日
ための図、 第４図および第５図は第１実施例による測定結果の２つ
の例を示す図、 第６図はこの発明の第２実施例の要部を示す図、第７図
、第８図および第９図は第２実施例による測定結果の３
つの例を示す図、 第１０図、第１１図および第１２図は従来の技術を説明
するための図である。 １１−半導体レーザ １２− コリメータレンズ１
３− ビーム整形用プリズム １４−・ハーフミラー １５、２１・・・偏光ビームスプリッタ１６−全反射ミ
ラー １７・一対物レンズ１８−・−スピンドルモ
ータ １９−光磁気ディスク ２ｏ−位相補償板２２、２ｔ
−−−コリメータレンズ ２３、２５−光検出器 ２６−差動増幅器２７−
スペクトラムアナライザ ３１−１／２波長板 第１図 第２図 第３図 Ａ 第６図 ｑ ！６ 第７図 ａ苅是ｒｉノ 式幾 ａ部 Ｓ °本 −） ↓〜 巴−鮪 ９ 勺 （ら さ ７４ ０ ハ４ ａ菰 第１２図 手 続 補 正 里 ！：１（自発） 平成 年 月１０日
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、光磁気記録媒体を駆動する手段と、前記光磁気記録
媒体に直線偏光を収束して投射する手段と、前記光磁気
記録媒体に投射された直線偏光の反射光の位相差を調節
する位相補償手段と、この位相補償手段を経た前記反射
光を受光する受光手段とを具え、前記光磁気記録媒体を
駆動しながら、前記受光手段の出力に基づいて前記位相
補償手段により前記反射光の位相差を調整することによ
り、前記光磁気記録媒体に記録された情報の信号レベル
および／またはＣ／Ｎが最大となる該光磁気記録媒体の
位相差を測定し得るよう構成したことを特徴とする光磁
気記録媒体の位相差測定装置。 ２、光磁気記録媒体を駆動する手段と、前記光磁気記録
媒体に直線偏光を収束して投射する手段と、前記光磁気
記録媒体に投射される直線偏光の方向を選択的に９０゜
回転させる手段と、前記光磁気記録媒体に投射された直
線偏光の反射光の位相差を調節する位相補償手段と、こ
の位相補償手段を経た前記反射光を受光する受光手段と
を具え、前記光磁気記録媒体に投射される９０゜異なる
各々の直線偏光に対して、前記光磁気記録媒体を駆動し
ながら、前記受光手段の出力に基づいて前記位相補償手
段により前記反射光の位相差を調整することにより、前
記光磁気記録媒体に記録された情報の信号レベルおよび
／またはＣ／Ｎが最大となる該光磁気記録媒体の位相差
を測定し得るよう構成したことを特徴とする光磁気記録
媒体の位相差測定装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1300661A JPH0340252A (ja) | 1989-04-19 | 1989-11-21 | 光磁気記録媒体の位相差測定装置 |
| US08/055,906 US5432760A (en) | 1989-04-19 | 1993-05-03 | Method of measuring phase difference of opto-magnetic record medium and apparatus for carrying out said method |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1-99200 | 1989-04-19 | ||
| JP9920089 | 1989-04-19 | ||
| JP1300661A JPH0340252A (ja) | 1989-04-19 | 1989-11-21 | 光磁気記録媒体の位相差測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0340252A true JPH0340252A (ja) | 1991-02-21 |
Family
ID=26440353
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1300661A Pending JPH0340252A (ja) | 1989-04-19 | 1989-11-21 | 光磁気記録媒体の位相差測定装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5432760A (ja) |
| JP (1) | JPH0340252A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08297883A (ja) * | 1995-04-26 | 1996-11-12 | Nec Gumma Ltd | 光磁気ディスク装置 |
| CN102434012A (zh) * | 2010-12-08 | 2012-05-02 | 苏州嘉言能源设备有限公司 | 空气能烧烤屋 |
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| JPH09198733A (ja) * | 1996-01-19 | 1997-07-31 | Nec Corp | 光ディスク用光ヘッド及びそれを用いた再生方法 |
| US6163509A (en) * | 1996-07-11 | 2000-12-19 | Toyota Jidosha Kabushiki Kaisha | Magneto-optical recording medium and magneto-optical recorder using the medium |
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| US7150737B2 (en) * | 2001-07-13 | 2006-12-19 | Sci/Med Life Systems, Inc. | Methods and apparatuses for navigating the subarachnoid space |
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| US4774615A (en) * | 1987-02-17 | 1988-09-27 | Eastman Kodak Company | Magneto-optic read-out method and apparatus with polarization correction means |
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-
1989
- 1989-11-21 JP JP1300661A patent/JPH0340252A/ja active Pending
-
1993
- 1993-05-03 US US08/055,906 patent/US5432760A/en not_active Expired - Fee Related
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|---|---|---|---|---|
| JPH08297883A (ja) * | 1995-04-26 | 1996-11-12 | Nec Gumma Ltd | 光磁気ディスク装置 |
| CN102434012A (zh) * | 2010-12-08 | 2012-05-02 | 苏州嘉言能源设备有限公司 | 空气能烧烤屋 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5432760A (en) | 1995-07-11 |
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