JPH03283189A - 半導体メモリ装置 - Google Patents

半導体メモリ装置

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JPH03283189A
JPH03283189A JP2084049A JP8404990A JPH03283189A JP H03283189 A JPH03283189 A JP H03283189A JP 2084049 A JP2084049 A JP 2084049A JP 8404990 A JP8404990 A JP 8404990A JP H03283189 A JPH03283189 A JP H03283189A
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internal
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Katsutaro Kobayashi
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は半導体メモリ装置に関する。
〔従来の技術〕
従来、ワークステーションやパソコンなどの画像加工で
多く行なわれる、連続的な色または明るさの変化を持っ
た画像生成(以下シェーディング)は、もとになる画素
データに対し、シェーディングに応じた色または明るさ
の変化分のデータ(以下Δデータ)を加算または減算し
、この結果のデータをメモリに書込み、次に結果のデー
タをもとにしてΔデータを加算、減算するという一連の
動作を繰り返すことで実現している。
第6図はこのような画像加工を行なうシステムの概略構
成図である。
CPU30、メモリ31、CRT32はデータバス33
を介して互いに接続され、データのやり取りを行なう。
また、メモリ31は、アドレスおよび制御信号34によ
りCPU30にデータの書込み、読出しが制御されてい
る。モしてCPU30が、データ演算のもとどなるデー
タの保持、Δデータの保持を行ない、さらに1画素ずつ
データ演算を行ないメモリ31に書込むという動作を全
て行なっており、メモリ31は単に画像データの保持を
行なうだけである。
〔発明が解決しようとする課題〕
上述した従来のシステムは、データ演算など全ての処理
をCPUで行なっており、1回の処理は非常に簡単、か
つ単純であるが、近年のグラフィックス画素数の増大や
画像加工の高度化、高速化要求に対し、データ処理数の
増大、処理時間の増大、cpu占有時間の増大、CPU
稼動率の低下を生ずるといった欠点がある。
本発明の目的は、データ処理速度が高速化されCPU占
有時間が減少し、CPU稼動率が向上する半導体メモリ
装置を提供することである。
〔課題を解決するための手段〕
本発明の半導体メモリ装置は、 それぞれ第1.第2のデータラッチ信号により、データ
入力端子から人力されたデータをラッチする第1.第2
のデータレジスタと、第1.第2のデータレジスタにラ
ッチされているデータに対して所定の演算を行なう演算
回路とからなり、第2のデータレジスタはさらに、演算
回路の演算結果を第2のデータラッチ信号によりラッチ
する内部データ発生回路と、 データセレクト信号が第1の論理レベルのときデータ入
力端子から人力されたデータを、第2の論理レベルのと
き内部データ発生回路の演算結果をそれぞれ選択してメ
モリセルアレイへのI/Oバスへ出力するデータセレク
タと、 第1のモードのとき、データセレクト信号を第1の論理
レベルにして、第1.第2のデータラッチ信号を出力し
、第2のモートのとき、データセレクト信号を第2の論
理レベルにし、第2のデータラッチ信号を出力するコン
トローラを有している。
〔作   用〕
内部データ発生回路でシェーディングを持つ画像データ
の生成を行なえるので、CPUが画素ごとのデータ演算
を行なう必要がなくなり、データ処理速度が高速化され
cpu占有時間が減少、CPU稼動率が向上する。
〔実 施 例〕
次に、本発明の実施例について図面を参照して説明する
第1図は本発明の一実施例の半導体メモリ装置のブロッ
ク図である。
メモリセルアレイ1は256行×256列×4ビット構
成で、256キロビツトの容量を持っている。アドレス
入力端子AO〜A7から人力したアドレス信号はアドレ
スバッファ2を通してXデコーダ3とYデコーダ4に供
給され、Xデコーダ3とYデコーダ4はメモリセルアレ
イ1上の1アドレスを選択する。出力コントローラ5は
メモリセルアレイ1からI/Oバス6を通じて読出され
たデータをデータ出力端子り。ut O〜Dout3に
出力するように構成され、アウトプットイネーブル信号
U下によって制御される。データ入力端子D1NO〜D
 、N3からのデータはデータセレクト信号11によっ
て制御されるトランスファゲート/Oを通してデータセ
レクタ7と内部データ発生回路8に入力する。データセ
レクタ7はデータ入力端子DINO〜D 、N3からの
入力信号と内部データ発生回路8の出力信号のどちらか
をデータセレクト信号11により選択しI/Oバス6に
出力する。コントローラ9はロウアドレスストローブ信
号RAS、カラムアドレスストローブ信号CAS、ライ
トイネーブル信号WEおよびシェーディング制御信号S
Hを入力し、これらの制御信号から各部の制御信号11
,12.13を発生する。
第2図は内部データ発生回路8のブロック図である。
Δデータレジスタ21、データレジスタ22はデータ入
力端子D 、NO〜D 、N3に人力し、トランスファ
ゲート/Oを通過したデータをそれぞれΔデータラッチ
信号13、データラッチ信号12によりラッチする。演
算回路23はΔデータレジスタ21、データレジスタ2
2がラッチしているデータを入力して演算(加算、減算
)を行ない、演算結果をデータセレクタ7とデータレジ
スタ22に出力する。
次に、本実施例の動作について説明する。
第3図は書込みおよび内部データ発生回路8内のΔデー
タレジスタ21、データレジスタ22の通常データセッ
トサイクルのタイミング図である。ロウアドレスロープ
信号RAS、カラムアドレスストローブ信号CAS、ラ
イトイネーブル信号WEのタイミングは汎用ダイナミッ
クメモリと同様で、シェーディング制御信号SHはハイ
レベルである。ロウアドレスストローブ信号RASの立
ち下かりエッヂでXアドレスを、カラムアドレスストロ
ーブ信号CASの立ち下がりエッヂでYアドレスを取り
込む。データの取り込みは、まずロウアドレスストロー
ブ信号RASの立ち下がりエッヂ(Δデータラッチ信号
13)でΔデータをΔデータレジスタ21にセットし、
カラムアトスストロープ化4CASの立ち下がりエッヂ
(データラッチ信号12)で、画素データを取り込みメ
モリセルへの書込みを行なうとともに、データレジスタ
22にセットする。
また、このサイクル中データセレクト信号11はハイレ
ベルであり、トランスファゲート/Oをオンし、データ
セレクタ7はゲータ入力端子D 、NO〜D183から
のデータを選択する。
第4図は内部データ発生回路8のデータを使フてメモリ
セルに書込みを行ない、シェーディングを持った画像を
生成するサイクルのタイミング図である。前述のサイク
ルとの制御上の違いはシェーディング制御信号SHをロ
ウレベルにすることである。これによりデータセレクト
信号11はロウレベルとなり、トランスファゲート/O
がオフし、データセレクタ7は内部データ発生回路8か
らのデータを選択し、メモリセルに書込む。
サイクルの終りに演算回路23の演算結果をデータレジ
スタ22でラッチし、その結果データレジスタ22の保
持するデータはΔデータ分だけ加算または減算されたこ
とになる。
本実施例の半導体メモリ装置を用いてシェーディングの
ある画像を生成する場合は、第3図のサイクルで内部デ
ータ発生回路8にもとどなる画素データとシェーデイン
グ量に応じたΔデータをセットし、第4図のサイクルで
順次アドレスを変化させて書込みを行なうだけで良いた
め、CPUが1画素ずつ全画素のデータを演算する必要
がない。
第5図は本発明の第2の実施例の半導体メモリ装置のブ
ロック図である。
メモリセルアレイ1、アドレスバッファ2、Xデコーダ
3、Yデコーダ4、出力コントローラ5、I/Oバス6
、データセレクタ7、内部データ発生回路8は第1の実
施例と全く同じ構成であるので説明を省略する。ライン
バッファ24はメモリセルアレイ1上の1行分のデータ
である256x4ビツトの容量を持ち、トランスファゲ
ート25を介してメモリセルアレイ1のビット線と接続
されている。アドレスカウンタ26はラインバッファ2
4の出力番地を示し、シリアルクロックSCによってカ
ウントアツプされる。また、アドレスバッファ2からア
ドレス信号が入力される。シリアル出カバ゛ツファ28
はシリアルアウトイネーブル信号SOEによって制御さ
れ、ラインバッファ24の出力するデータをシリアルア
ウトSOO〜SO3に出力する。
データトランスDTがロウレベルにおいてRAS、CA
Sサイクルを行なうと、アドレスで示される行のデータ
がトランスファケート25を通してラインバッファ24
に転送され、行アドレスがシリアル出力の開始番地とし
てアドレスカウンタ26にリセットされる。その後シリ
アルクロックSCを人力すると、シリアルクロックsc
に従ってアドレスカウンタ26はカウントアツプされ、
アドレスカウンタ26が示すアドレスに該当するライン
バッファ24のデ′−夕かシリアル出力バッファ28を
介してシリアルアウトSoO〜SO3から出力される。
本実施例は画像用メモリに応用した例であるため、第1
の実施例よりCPUのメモリアクセス占有時間をさらに
短縮できるという利点がある。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明は、第1.第2のデータレジ
スタと、これらデータレジスタのデータによってメモリ
セルへの書込みデータを演算し出力する演算回路とを有
する内部データ発生回路を有し、メモリセルアレイへの
書込みデータとして外部人力データと内部データ発生回
路のデータとを選択でき、内部データ発生回路でシェー
ディングを持つ画像データの生成を行なえるので、CP
Uが画素ごとにデータ演算を行なう必要がなくなり、デ
ータ処理速度の高速化、cpu占有時間の減少、CPU
稼動率の向上の効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の第1の実施例の半導体メモリ装置のブ
ロック図、第2図は内部データ発生回路8のブロック図
、第3図および第4図は第1図の半導体メモリ装置の動
作を表わすタイミング図、第5図は本発明の第2の実施
例の半導体メモリ装置のブロック図、第6図は画像加工
を行なうシステムの概略構成図である。 1・・・メモリセルアレイ、 2・・・アドレスバッファ、 3・・・Xデコーダ、 4・・・Yデコーダ、 5・・・出力コントローラ、 6・・・I/Oバス、 7・・・データセレクタ、 8・・・内部データ発生回路、 9・・・コントローラ、 /O・・・トランスファゲート、 11・・・データセレクト信号、 12・・・データラッチ信号、 13・・・Δデータラッチ信号、 21・・・Δデータレジスタ、 22・・・データレジスタ、 23・・・演算回路、 24・・・ラインバッファ、 25・・・トランスファゲート、 26・・・アドレスカウンタ、 28・・・シリアル出力バッファ。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、データの書込み、読出しが行なわれる半導体メモリ
    装置において、 それぞれ第1、第2のデータラッチ信号により、データ
    入力端子から入力されたデータをラッチする第1、第2
    のデータレジスタと、第1、第2のデータレジスタにラ
    ッチされているデータに対して所定の演算を行なう演算
    回路とからなり、第2のデータレジスタはさらに、演算
    回路の演算結果を第2のデータラッチ信号によりラッチ
    する内部データ発生回路と、 データセレクト信号が第1の論理レベルのときデータ入
    力端子から入力されたデータを、第2の論理レベルのと
    き内部データ発生回路の演算結果をそれぞれ選択してメ
    モリセルアレイへのI/Oバスへ出力するデータセレク
    タと、 第1のモードのとき、データセレクト信号を第1の論理
    レベルにして、第1、第2のデータラッチ信号を出力し
    、第2のモードのとき、データセレクト信号を第2の論
    理レベルにし、第2のデータラッチ信号を出力するコン
    トローラを有することを特徴とする半導体メモリ装置。
JP2084049A 1990-03-30 1990-03-30 半導体メモリ装置 Expired - Lifetime JP2940060B2 (ja)

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JP2940060B2 JP2940060B2 (ja) 1999-08-25

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8348258B2 (en) 2009-08-31 2013-01-08 Ricoh Company, Ltd. Driving force transmitting device and driving force transmitting mechanism

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