JPH03269735A - マイクロプロセッサボードのテスト処理方式 - Google Patents
マイクロプロセッサボードのテスト処理方式Info
- Publication number
- JPH03269735A JPH03269735A JP2070373A JP7037390A JPH03269735A JP H03269735 A JPH03269735 A JP H03269735A JP 2070373 A JP2070373 A JP 2070373A JP 7037390 A JP7037390 A JP 7037390A JP H03269735 A JPH03269735 A JP H03269735A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test
- program
- board
- microprocessor
- rom
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 61
- 238000003672 processing method Methods 0.000 claims description 4
- 238000001514 detection method Methods 0.000 abstract description 11
- 229940036310 program Drugs 0.000 abstract 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 15
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 238000004092 self-diagnosis Methods 0.000 description 1
- 238000010998 test method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要〕
マイクロプロセッサを搭載するとともにRAM及びRO
Mを具備するボードについて当該ボードをテストするマ
イクロプロセッサボードのテスト処理方式に関し。
Mを具備するボードについて当該ボードをテストするマ
イクロプロセッサボードのテスト処理方式に関し。
テストコストの増加を抑えた上で検出率を高くすること
を目的とし。
を目的とし。
被試験ボードである上記マイクロプロセッサボード上の
ROMに、試験制御プログラムを搭載しておき、試験に
当って当該試験制御プログラムによって外部の試験機か
ら試験プログラムをロードせしめるようにし、当該試験
プログラムを上記マイクロプロセッサボードが自ら実行
するよう構成する。
ROMに、試験制御プログラムを搭載しておき、試験に
当って当該試験制御プログラムによって外部の試験機か
ら試験プログラムをロードせしめるようにし、当該試験
プログラムを上記マイクロプロセッサボードが自ら実行
するよう構成する。
本発明は、マイクロプロセッサを搭載するとともにRA
M及びROMを具備するボードについて当該ボードをテ
ストするマイクロプロセッサボードのテスト処理方式に
関する。
M及びROMを具備するボードについて当該ボードをテ
ストするマイクロプロセッサボードのテスト処理方式に
関する。
最近の電子計算機のボードはワンボード化が進みそのテ
ストコストも益々増大してきている。
ストコストも益々増大してきている。
第4図は従来例を示している。第4図(a)(b)(c
)に示すように3つの方式があり5それぞれについて説
明する。
)に示すように3つの方式があり5それぞれについて説
明する。
第4図(a)は実機方式を示している。この方式におい
ては、マイクロプロセッサボード(被試験ボード50)
を搭載している実機が外部記憶装W70又は入出力装置
80等と接続されている。
ては、マイクロプロセッサボード(被試験ボード50)
を搭載している実機が外部記憶装W70又は入出力装置
80等と接続されている。
そして、当該実機が外部記憶装置70又は入出力装置8
0から入力されるテストプログラムによってテストを行
う方式である。これによれば、実際の入出力装置を使う
ため検出率が高いが、コストカ高く、特に複数枚の被試
験ボードについてのテストに於いてコスト高が顕著にな
る。
0から入力されるテストプログラムによってテストを行
う方式である。これによれば、実際の入出力装置を使う
ため検出率が高いが、コストカ高く、特に複数枚の被試
験ボードについてのテストに於いてコスト高が顕著にな
る。
第4図(b)はROM内自己診断プログラムによる方式
を示している。この方式は被試験ボード内のROMに自
己診断用テストプログラム32を用意しこのプログラム
によってボード50単体でテストする方式である。この
方式では、コストは低いが。
を示している。この方式は被試験ボード内のROMに自
己診断用テストプログラム32を用意しこのプログラム
によってボード50単体でテストする方式である。この
方式では、コストは低いが。
テストプログラム容量に制限がある事および入出力装置
を付けずに行う事により検出率が低い。
を付けずに行う事により検出率が低い。
第4図(C)は汎用ボードテスタによる方式を示してい
る。この方式は被試験ボード50を汎用ボードテスタ9
0によりテストする方式である。これによれば検出率は
比較的高いがコストが非常に高くなる。
る。この方式は被試験ボード50を汎用ボードテスタ9
0によりテストする方式である。これによれば検出率は
比較的高いがコストが非常に高くなる。
従来、上記の如く、検出率を高くするとコストが高くな
り、コストを低くすると検出率も低くなる。即ち、検出
率とコストとの双方の要求を両立させることができなか
った。
り、コストを低くすると検出率も低くなる。即ち、検出
率とコストとの双方の要求を両立させることができなか
った。
本発明は、テストコストの増加を抑えた上で検出率を高
くすることを百的とする。
くすることを百的とする。
第1図は1本発明の原理構成図である。
図中、10はマイクロプロセッサ 20はRAM、30
はROM、31は試験制御プログラム。
はROM、31は試験制御プログラム。
40はインターフェイス、51はマイクロプロセッサボ
ード、60は試験機、61は試験プログラムを示してい
る。
ード、60は試験機、61は試験プログラムを示してい
る。
試験機60は、インターフェイス40を介してマイクロ
プロセッサ10と接続されており、試験プログラム61
を内蔵している。
プロセッサ10と接続されており、試験プログラム61
を内蔵している。
試験制御プログラム31は、試験機60がインターフェ
イス40に接続されたときに、試験プログラム61の少
なくとも一部をRAM20に転送し、当該RAM20に
記憶された試験プログラム61を実行するように制御す
る。
イス40に接続されたときに、試験プログラム61の少
なくとも一部をRAM20に転送し、当該RAM20に
記憶された試験プログラム61を実行するように制御す
る。
試験制御プログラム31は、試験機60内の試験プログ
ラム61の少なくとも一部を一度にRAM20上に転送
せしめる。そしてマイクロプロセッサlOが、当該転送
された試験プログラムにもとづいて試験を行う。試験が
終了すると1次の試験プログラム61をRAM20上に
転送する。
ラム61の少なくとも一部を一度にRAM20上に転送
せしめる。そしてマイクロプロセッサlOが、当該転送
された試験プログラムにもとづいて試験を行う。試験が
終了すると1次の試験プログラム61をRAM20上に
転送する。
第2図は、試験制御プログラムのフローチャートを示す
。以下、第2図に従って説明する。
。以下、第2図に従って説明する。
処理の・・・マイクロプロセッサボード5oをリセット
するか、又は、電源をONにする。
するか、又は、電源をONにする。
処理■・・・試験1!160からテスト開始信号が送ら
れて来たか否かを調べ、送られて来た時には処理■へ、
送られて来なかった時には通常シーケンスへ移行する。
れて来たか否かを調べ、送られて来た時には処理■へ、
送られて来なかった時には通常シーケンスへ移行する。
即ち試験を行うことなく通常の処理が行われる。
処理■・・・試験機60に対して試験プログラム61を
転送するように指示する。
転送するように指示する。
処理■・・・送られてきた上記試験プログラム61をR
AMに書込む。
AMに書込む。
処理■・・・上記試験プログラム61を実行するように
マイクロプロセッサ10へ指示する。
マイクロプロセッサ10へ指示する。
処理■・・・試験I!60に上記実行の結果を転送する
。
。
なお必要に応じて処理■ないし■が繰返される。
第3図は実施例を示す。当該実施例では、複数個の被試
験ボードをテストする。図中、40−iはインターフェ
イス、50−tはマイクロプロセッサボード、60は試
験機を表す。図示の如く夫々のボード50−1は試験機
60と接続されている。試験機60は、夫々のボード5
0−1にテスト開始信号を送り、夫々のボード50−1
から試験プログラム転送命令が送られてくると、上記の
如く試験プログラムを夫々のボード50−1に転送する
。そして、夫々のボード50−1から送られてくる実行
結果を調べ、テスト結果を表示する。
験ボードをテストする。図中、40−iはインターフェ
イス、50−tはマイクロプロセッサボード、60は試
験機を表す。図示の如く夫々のボード50−1は試験機
60と接続されている。試験機60は、夫々のボード5
0−1にテスト開始信号を送り、夫々のボード50−1
から試験プログラム転送命令が送られてくると、上記の
如く試験プログラムを夫々のボード50−1に転送する
。そして、夫々のボード50−1から送られてくる実行
結果を調べ、テスト結果を表示する。
以上説明した如く1本発明によれば2試験プログラムを
ボード外から人力するので、プログラム容量の制限が緩
く検出率を高めることができる。
ボード外から人力するので、プログラム容量の制限が緩
く検出率を高めることができる。
また、ROMの試験制御プログラムが処理制御を行うの
で、自動的に試験が行われ、コストが低くて済む。加え
て、同一ボードの場合には、複数個のボードを試験して
も、ユニット内の単純なインターフェイスを利用するこ
とにより1個のボードを試験するときとコストがさほど
変わらず、1個当りのコストを下げることができる。
で、自動的に試験が行われ、コストが低くて済む。加え
て、同一ボードの場合には、複数個のボードを試験して
も、ユニット内の単純なインターフェイスを利用するこ
とにより1個のボードを試験するときとコストがさほど
変わらず、1個当りのコストを下げることができる。
第1図は本発明の原理構成図、第2図は試験制御プログ
ラムのフローチャート、第3図は実施例2第4図は従来
例を示す。 図中、10はマイクロプロセッサ、20はRAM、30
はROM、31は試験制御プログラム。 40はインターフェイス、51はマイクロプロセッサボ
ード、60は試験機、61は試験プログラムを表す
ラムのフローチャート、第3図は実施例2第4図は従来
例を示す。 図中、10はマイクロプロセッサ、20はRAM、30
はROM、31は試験制御プログラム。 40はインターフェイス、51はマイクロプロセッサボ
ード、60は試験機、61は試験プログラムを表す
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 マイクロプロセッサ(10)を搭載するとともにRAM
(20)及びROM(30)を具備するボード(50)
をテストするマイクロプロセッサボードのテスト処理方
式において、 ROM(30)に試験制御プログラム(31)を設ける
と共に、 上記ボード(50)の外に、試験プログラム(61)を
備える試験機(60)を設け、 上記試験制御プログラム(31)は、上記試験プログラ
ム(61)をRAM(20)に転送するよう構成され、
上記マイクロプロセッサ(10)がRAM(20)に記
憶された試験プログラム(61)を実行するようにした ことを特徴とするマイクロプロセッサボードのテスト処
理方式。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2070373A JPH03269735A (ja) | 1990-03-20 | 1990-03-20 | マイクロプロセッサボードのテスト処理方式 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2070373A JPH03269735A (ja) | 1990-03-20 | 1990-03-20 | マイクロプロセッサボードのテスト処理方式 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03269735A true JPH03269735A (ja) | 1991-12-02 |
Family
ID=13429577
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2070373A Pending JPH03269735A (ja) | 1990-03-20 | 1990-03-20 | マイクロプロセッサボードのテスト処理方式 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03269735A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100293437B1 (ko) * | 1997-04-18 | 2001-09-17 | 박종섭 | 마이크로 프로세서 테스트용 실행화일 변환방법 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6373339A (ja) * | 1986-09-17 | 1988-04-02 | Toshiba Corp | 携帯可能電子装置のテスト方法 |
JPS6385940A (ja) * | 1986-09-30 | 1988-04-16 | Nec Corp | 情報処理装置の試験方式 |
-
1990
- 1990-03-20 JP JP2070373A patent/JPH03269735A/ja active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6373339A (ja) * | 1986-09-17 | 1988-04-02 | Toshiba Corp | 携帯可能電子装置のテスト方法 |
JPS6385940A (ja) * | 1986-09-30 | 1988-04-16 | Nec Corp | 情報処理装置の試験方式 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100293437B1 (ko) * | 1997-04-18 | 2001-09-17 | 박종섭 | 마이크로 프로세서 테스트용 실행화일 변환방법 |
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