JP2726998B2 - 電子計算機のテスト方法 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 〔概要〕 電子計算機のテスト方法に係り、特に被テスト電子計
算機上でテストプログラムを作動させ、異常が発生した
ら、被テスト電子計算機とは別のハードウエア診断装置
で上記異常を解析する電子計算機のテスト方法に関し、 ハードウエア診断装置の能力を増大することなく、電
子計算機のテスト時間を短縮することができ、また豊富
なマン−マシンインターフェース機能を保有することが
できるようにすることを目的とし、 被テスト電子計算機上でテストプログラムを作動さ
せ、異常が発生したら、被テスト電子計算機とは別のハ
ードウエア診断装置で上記異常を解析する電子計算機の
テスト方法において、テストプログラムの制御を行うテ
スト制御プログラムを被テスト電子計算機上に配置し
て、テストプログラムの制御を被テスト電子計算機で実
行するとともに、ハードウエア診断装置は、被テスト電
子計算機がテストプログラムを実行して障害が発生した
とき、そのデータを受けて被テスト電子計算機のハード
ウエアの障害を解析し、その結果を被テスト電子計算機
に送出して、テストの制御を被テスト電子計算機に再移
転するように構成する。

〔産業上の利用分野〕

本発明は、電子計算機のテスト方法に係り、特に被テ
スト電子計算機上でテストプログラムを作動させ、異常
が発生したら、被テスト電子計算機とは別のハードウエ
ア診断装置で上記異常を解析する電子計算機のテスト方
法に関する。

近年、電子計算の高密度化に伴ない、出荷前、起動前
等における電子計算機の動作確認に必要となるテスト項
目は膨大なものとなっている。このため、電子計算機の
テストは被テスト電子計算機上でテストプログラムを作
動させて、これで異常が発生した場合に被テスト電子計
算機の作動を止め、この異常の状態を保存したまま、そ
の状態の解析に被テスト電子計算機とは独立したハード
ウエア診断装置を用いるようにしている。

また、近年電子計算機の開発期間保守期間の短縮を図
るため、この電子計算機のテスト時間の短縮が望まれて
いる。

〔従来の技術〕

従来、上述した電子計算機のテストは次のように行わ
れている。これは、上述したように被テスト電子計算機
とは独立にハードウエア診断装置を用意し、このハード
ウエア診断装置には被テスト電子計算機の障害解析処理
機能のほか、被テスト電子計算機にテストプログラムを
送り込み機能、テストプログラムのメッセージの出力処
理等のマン−マシンインタフェース機能を持たせるよう
にして、被テスト電子計算機のテストを行うようにして
いる。

〔発明が解決しようとする課題〕

ところで、上述した従来の電子計算機のテスト方法に
あっては、テストに時間がかかってしまうという問題が
あった。

これは、ハードウエア診断装置が、安定性や運用コス
ト低減の見地から、処理能力が高い装置を用いていない
ため、第３図に示すような手順で行われるテスト制御プ
ログラムの起動（）、マン−マシンインタフェースの
提供（）や被テスト電子計算機へのテストプログラム
の送りこみ（）に要する処理時間が長くなってしまう
からである。また、このように、ハードウエア診断装置
の処理能力が低いことから、提供されるマン−マシンイ
ンターフェースの機能も十分とはいえない。尚同図中符
号は被テスト電子計算機で実行されるテストプログラ
ムの実行処理を、はハードウエア診断装置で実行され
る障害解析処理を示している。また、この例では５の障
害解析が終了すると被テスト電子計算機の他のハードウ
エア部分の障害検出を行う次のテストプログラム実行し
てそれについての障害解析を行うようにしている。

そこで本発明は、ハードウエア診断装置の能力を増大
することなく、電子計算機のテスト時間を短縮すること
ができ、また豊富なマン−マシンインターフェース機能
を保有することができる電子計算機のテスト方法を提供
することを目的とする。

〔課題を解決するための手段〕

本発明にあって、上記の課題を解決するための手段
は、第１図に示すように、被テスト電子計算機１上でテ
ストプログラム２を作動させ、異常が発生したら、被テ
スト電子計算機１とは別のハードウエア診断装置３で上
記異常を解析する電子計算機のテスト方法において、上
記テストプログラム２の制御を行うテスト制御プログラ
ム４を被テスト電子計算機１上に配置して、テストプロ
グラム２の制御を被テスト電子計算機１で実行するとと
もに、上記ハードウエア診断装置３は、被テスト電子計
算機１がテストプログラム２を実行して障害が発生した
とき、そのデータを受けて被テスト電子計算機１のハー
ドウエアの障害を解析し、その結果を被テスト電子計算
機１に送出して、テストの制御を被テスト電子計算機１
に再移転することである。

〔作用〕

本発明によれば、被テスト電子計算機１がテストプロ
グラム２を実行して障害が発生したとき、ハードウエア
診断装置３は、そのデータを受けて被テスト電子計算機
１のハードウエアの障害を解析する。そして、ハードウ
エア診断装置３はその結果を被テスト電子計算機１に送
出して、テストの制御を被テスト電子計算機１に再移転
し、この結果に基づき被テスト電子計算機１は例えば障
害箇所及び障害状況に関する結果を表示格納する。これ
により、ハードウエア診断装置の処理能力を高めること
なく、テストプログラムの制御、マン−マシンインタフ
ェースの提供に要する処理のような制御を被テスト電子
計算機１で高速に且つ豊富に行うことができる。

〔実施例〕

以下本発明に係る電子計算機のテスト方法の実施例を
図面に基づいて説明する。

第１図及び第２図は本発明に係る電子計算機のテスト
方法の実施例を示すものである。本実施例において、電
子計算機のテストは、第１図に示すように被テスト電子
計算機１にハードウエア診断装置３を接続して行う。こ
の実施例においてハードウエア診断装置３は電子計算機
がテストプログラムを実行して障害が発生したときにテ
ストの制御を移転５され、そのデータ７を受け、被テス
ト電子計算機のハードウエアの障害を診断し、その解析
が終了したときにその結果６を被テスト電子計算機に送
出し、テストの制御を被テスト電子計算機に再移転８す
る機能のみを有するものとしている。そして本実施例に
おいて被テスト電子計算機１にはテスト制御プログラム
４を有するものとして、テストプログラム２は被テスト
電子計算機１自身がこのテスト制御プログラム４の制御
により読み込むものとしている。このテスト制御プログ
ラム４はテストプログラム２の読み込み制御の他、メニ
ューの表示結果の表示、指令の入力制御等のマン−マシ
ンインターフェース機能を提供するものとしている。

従って本実施例に係る電子計算機のテスト方法によれ
ば、先ず、第２図に示すように被テスト電子計算機はテ
スト制御プログラムを起動する（Ｉ）。そして上述した
マン−マシンインターフェース機能の提供を行い（I
I）、オペレータの指示に従い、外部記憶装置からテス
トプログラムを被テスト電子計算機の記憶装置にロード
する（III）。次に被テスト電子計算機はこのテストプ
ログラムを実行していく（IV）。このテストプログラム
実行中に被テスト電子計算機に障害が発生すると被テス
ト電子計算機の作動は停止され、この状態でハードウエ
ア診断装置が起動されてハードウエア診断装置は被テス
ト電子計算機の障害の解析を行う（Ｖ）。ここで障害が
発生しないか、または障害の解析が終了すると、被テス
ト電子計算機は続いて次のプログラムを実行して被テス
ト電子計算機の他のハードウエアのテストを続行して行
き、テストが終了すると障害個所及び障害状況に関する
結果を表示、格納する。

従って本実施例によれば、障害解析以外の処理、即ち
テストプログラムの読み取り、マン−マシンインターフ
ェースの提供のための処理等はハードウエア診断装置よ
り高い処理能力、記憶容量レジスタ容量、命令の数を有
する被テスト電子計算機で実行することになるため、こ
れらの処理を高速に実行することができ、また高度な内
容のマン−マシンインターフェースを提供することがで
きる。更に、ハードウエア診断装置は障害の解析のみに
使用することとなるため、装置を専門化することができ
同一のコストで高性能の装置とすることができ、更に処
理時間の短縮を図ることができる。

〔発明の効果〕

以上説明したように、本発明によれば電子計算機のテ
スト方法を、テストプログラムの制御を行うテスト制御
プログラムを被テストプログラム上に配置して、テスト
プログラムの制御を被テスト電子計算機で実行するよう
にしたから、障害解析以外の処理、即ちテストプログラ
ムの読み取り、マン−マシンインターフェースの提供の
ための処理等はハードウエア診断装置より高い処理能
力、記憶容量レジスタ容量、命令の数を有する被テスト
電子計算機で実行することになるため、これらの処理を
高速に実行することができ、また高度な内容のマン−マ
シンインターフェースを提供することができ、更に、ハ
ードウエア診断装置は障害の解析のみに使用することと
なるため、装置を専門化することができ同一のコストで
高性能の装置とすることができるという効果を奏する。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の原理図、第２図は本発明に係る電子計
算機のテスト方法の作動を示すタイムチャート、第３図
は従来の電子計算機のテスト方法の作動を示すタイムチ
ャートである。 １……被テスト電子計算機 ２……テストプログラム ３……ハードウエア診断装置 ４……テスト制御プログラム

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】被テスト電子計算機上でテストプログラム
   を作動させ、異常が発生したら、被テスト電子計算機と
   は別のハードウエア診断装置で上記異常を解析する電子
   計算機のテスト方法において、 上記テストプログラムの制御を行うテスト制御プログラ
   ムを被テスト電子計算機上に配置して、テストプログラ
   ムの制御を被テスト電子計算機で実行するとともに、 上記ハードウエア診断装置は、被テスト電子計算機がテ
   ストプログラムを実行して障害が発生したとき、そのデ
   ータを受けて被テスト電子計算機のハードウエアの障害
   を解析し、その結果を被テスト電子計算機に送出して、
   テストの制御を被テスト電子計算機に再移転することを
   特徴とする電子計算機のテスト方法。