JPS6373339A - 携帯可能電子装置のテスト方法 - Google Patents
携帯可能電子装置のテスト方法Info
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- JPS6373339A JPS6373339A JP61217218A JP21721886A JPS6373339A JP S6373339 A JPS6373339 A JP S6373339A JP 61217218 A JP61217218 A JP 61217218A JP 21721886 A JP21721886 A JP 21721886A JP S6373339 A JPS6373339 A JP S6373339A
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- 230000015654 memory Effects 0.000 claims abstract description 35
- 238000012795 verification Methods 0.000 claims description 6
- 230000002950 deficient Effects 0.000 claims description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 abstract description 9
- 230000004044 response Effects 0.000 description 7
- 238000000034 method Methods 0.000 description 6
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000006870 function Effects 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000013500 data storage Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 230000003936 working memory Effects 0.000 description 1
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- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［発明の目的］
（産業上の利用分野）
本発明は、不揮発性のデータメモリおよびＣＰＵなどの
制御素子を有するＩＣチップを内蔵した、いわゆるＩＣ
カードと称される携帯可能電子装置に関する。
制御素子を有するＩＣチップを内蔵した、いわゆるＩＣ
カードと称される携帯可能電子装置に関する。
（従来の技術）
最近、新たな携帯可能なデータ記憶媒体として、不揮発
性のデータメモリおよび０１口などの制御ｌ素子を有Ｊ
るＩＣチップを内蔵したＩＣカードが開発されている。
性のデータメモリおよび０１口などの制御ｌ素子を有Ｊ
るＩＣチップを内蔵したＩＣカードが開発されている。
この種のＩＣカードは、内部の制御素子により内蔵する
データメモリに対してデータの読出しおよび書込みある
いは消去を行なう。
データメモリに対してデータの読出しおよび書込みある
いは消去を行なう。
ところで通常、上記制御素子は、内蔵する制御プログラ
ムにより種々の制御を行なうようになっている。ところ
が従来、この制御プログラムは、ＩＣカードの製造時に
マスクＲＯＭで構成されるプログラムメモリに書込まれ
ており、−麿書込まれたプログラムメモリに新たなプロ
グラム、たとえばＩＣカードのテストプログラムを追加
することは不可能であった。このため、新たなプログラ
ムを書込むためにはプログラムメモリ（マスクＲＯＭ）
を作り直さなければならず、費用と時間に大きなロスが
生じていた。
ムにより種々の制御を行なうようになっている。ところ
が従来、この制御プログラムは、ＩＣカードの製造時に
マスクＲＯＭで構成されるプログラムメモリに書込まれ
ており、−麿書込まれたプログラムメモリに新たなプロ
グラム、たとえばＩＣカードのテストプログラムを追加
することは不可能であった。このため、新たなプログラ
ムを書込むためにはプログラムメモリ（マスクＲＯＭ）
を作り直さなければならず、費用と時間に大きなロスが
生じていた。
（発明が解決しようと覆る問題点）
上記したように、従来は製造後に新たなプログラム（テ
ストプログラム）を書込み、これを実行させることがで
きないという欠点があった。
ストプログラム）を書込み、これを実行させることがで
きないという欠点があった。
そこで、本発明は以上の欠点を除去するもので、製造後
に新たなプログラム（テストプログラム）を任意に書込
み、これを実行させることのできる携帯可能電子装置を
提供することを目的とする。
に新たなプログラム（テストプログラム）を任意に書込
み、これを実行させることのできる携帯可能電子装置を
提供することを目的とする。
［発明の構成］
（問題点を解決するための手段）
本発明の携帯可能電子装置は、プログラムメモリ部に例
えばマスクＲＯＭの外にＥＥＰＲＯＭやＥＰＲＯＭある
いはＲＡＭなどの書込み可能なメモリ部を割り付け、所
定の条件が成立したとき、この書込み可能なメモリ部に
該携帯可能電子装置の良、不良などを判定するためのテ
ストプログラムを書込む手段、およびこの書込んだテス
トプログラムを実行する手段を備えたことを特徴として
いる。
えばマスクＲＯＭの外にＥＥＰＲＯＭやＥＰＲＯＭある
いはＲＡＭなどの書込み可能なメモリ部を割り付け、所
定の条件が成立したとき、この書込み可能なメモリ部に
該携帯可能電子装置の良、不良などを判定するためのテ
ストプログラムを書込む手段、およびこの書込んだテス
トプログラムを実行する手段を備えたことを特徴として
いる。
（作用）
これにより、製造後に新たなプログラム（テストプログ
ラム）を任意に書込み、これを実行させることができる
。したがって、一度しか使用しないテストプログラムを
プログラムメモリ部に書込む必要がなく、プログラムメ
モリ部を作り直す必要もなくなる。
ラム）を任意に書込み、これを実行させることができる
。したがって、一度しか使用しないテストプログラムを
プログラムメモリ部に書込む必要がなく、プログラムメ
モリ部を作り直す必要もなくなる。
（実施例）
以下、本発明の一実施例について図面を参照して説明す
る。
る。
第４図は本発明に係る携帯可能電子装置としてのＩＣカ
ードのテストシステムの構成例を示している。このテス
トシステムは、製造されたＩＣカードの良、不良を判定
するためのテストプログラムをＩＣカードにロードして
実行させるためのもので、ＩＣカード１に対してデータ
の読出しおよび書込みを行なうためのカードリーダ・ラ
イタ２、このカードリーダ・ライタ２が接続されるホス
トコンピュータ３、このホストコンピュータ３に接続さ
れるキーボード４、ＣＲＴディスプレイ装置５、および
フロッピィディスク装置６から構成されている。ＩＣカ
ード１のテストプログラムは、ホストコンピュータ３か
らカードリーダ・ライタ２を介してＩＣカード１ヘロー
ドされるようになっている。
ードのテストシステムの構成例を示している。このテス
トシステムは、製造されたＩＣカードの良、不良を判定
するためのテストプログラムをＩＣカードにロードして
実行させるためのもので、ＩＣカード１に対してデータ
の読出しおよび書込みを行なうためのカードリーダ・ラ
イタ２、このカードリーダ・ライタ２が接続されるホス
トコンピュータ３、このホストコンピュータ３に接続さ
れるキーボード４、ＣＲＴディスプレイ装置５、および
フロッピィディスク装置６から構成されている。ＩＣカ
ード１のテストプログラムは、ホストコンピュータ３か
らカードリーダ・ライタ２を介してＩＣカード１ヘロー
ドされるようになっている。
第３図はＩＣカード１の構成例を概略的に示すもので、
制御手段としての制御素子（たとえばＣＰＵ）１１、メ
モリ部１２、およびカードリーダ・ライタ２との電気的
接触を得るためのコンタクト部１３によって構成されて
いて、これらのうち破線内の部分（制御素子１１、メモ
リ部１２）は１つのＩＣチップで構成されており、この
ＩＣチップはＩＣカード１内に埋設されている。
制御手段としての制御素子（たとえばＣＰＵ）１１、メ
モリ部１２、およびカードリーダ・ライタ２との電気的
接触を得るためのコンタクト部１３によって構成されて
いて、これらのうち破線内の部分（制御素子１１、メモ
リ部１２）は１つのＩＣチップで構成されており、この
ＩＣチップはＩＣカード１内に埋設されている。
第１図はメモリ部１２の構成（メモリマツプ）を示して
いる。すなわち、０番地からＡ−１番地までが制御素子
１１の制御プログラムが書込まれ６一 ているマスクＲＯＭ部（プログラムメモリ部）２１、Ａ
番地から８−１番地までがＩＣカード１の運用時にデー
タを記憶するＥＥＰＲＯＭ部（データメモリ部）２２、
Ｂ番地からＣ番地までがＩＣカード１の動作時に一時的
なデータを記憶するＲＡＭ部（作業用メモリ部）２３と
なっている。
いる。すなわち、０番地からＡ−１番地までが制御素子
１１の制御プログラムが書込まれ６一 ているマスクＲＯＭ部（プログラムメモリ部）２１、Ａ
番地から８−１番地までがＩＣカード１の運用時にデー
タを記憶するＥＥＰＲＯＭ部（データメモリ部）２２、
Ｂ番地からＣ番地までがＩＣカード１の動作時に一時的
なデータを記憶するＲＡＭ部（作業用メモリ部）２３と
なっている。
そして、ＩＣカード１の製造段階でその良、不良を判定
するテストプログラムをＥＥＰＲＯＭ部２２の所定のエ
リア２４に外部からロードし、そのテストプログラムを
実行するようになっている。
するテストプログラムをＥＥＰＲＯＭ部２２の所定のエ
リア２４に外部からロードし、そのテストプログラムを
実行するようになっている。
すなわち、ＥＥＰＲＯＭ部２２のエリア２４はプログラ
ムメモリ部の一部として割り付けられている。これによ
り、テスト後は上記エリア２４をデータ用として使用で
き、また一度しか使用しないテストプログラムをマスク
ＲＯＭ部２１に書込まずにすむ。なお、ＥＦＰＲＯＭ部
２２の特定エリア内には照合情報として暗証番号があら
かじめ書込まれているものとする。また、上記エリア２
４の部分はＥＰＲＯＭあるいはＲＡＭであってもよい。
ムメモリ部の一部として割り付けられている。これによ
り、テスト後は上記エリア２４をデータ用として使用で
き、また一度しか使用しないテストプログラムをマスク
ＲＯＭ部２１に書込まずにすむ。なお、ＥＦＰＲＯＭ部
２２の特定エリア内には照合情報として暗証番号があら
かじめ書込まれているものとする。また、上記エリア２
４の部分はＥＰＲＯＭあるいはＲＡＭであってもよい。
また、ＥＥＰＲＯＭ部２２内ニハフラク部２５が設けら
れており、このフラグ部２５は一部テストプログラムを
ロードして実行したか否かを判別するだめのものである
。フラグ部２５の内容は、テストプログラムの実行前は
製造後の ＥＥＰＲＯＭ部２２の初期状態のｒＦＦＪ （１６進
）であり、テストプログラムの実行後はｒＯＪに書換え
る。フラグ部２５の内容が「０」のときは、テストプロ
グラムをロードして実行する機能を使用できないように
する。これにより、一度テストの終了したＩＣカード１
に対してはテストプログラムをロードして実行すること
ができなくなり、運用時のＩＣカード１の内部データを
保護することが可能となる。
れており、このフラグ部２５は一部テストプログラムを
ロードして実行したか否かを判別するだめのものである
。フラグ部２５の内容は、テストプログラムの実行前は
製造後の ＥＥＰＲＯＭ部２２の初期状態のｒＦＦＪ （１６進
）であり、テストプログラムの実行後はｒＯＪに書換え
る。フラグ部２５の内容が「０」のときは、テストプロ
グラムをロードして実行する機能を使用できないように
する。これにより、一度テストの終了したＩＣカード１
に対してはテストプログラムをロードして実行すること
ができなくなり、運用時のＩＣカード１の内部データを
保護することが可能となる。
次に、上記のような構成において第２図に示すフローチ
ャー１〜を参照して動作を説明する。まず、テストすべ
きＩＣカード１をカードリーダ・ライタ２にセットし、
その後キーボード４で暗証番号を入力する。この入力さ
れた暗証番号は、ホストコンピュータ３からカードリー
ダ・ライタ２を介してＩＣカード１の制御素子１１へ送
られる。すると、制御素子１１は、メモリ部１２のＥＥ
ＰＲＯＭ部２２に記憶されている暗証番号と上記入力さ
れた暗証番号とを照合する。照合結果が正しくなければ
（暗証番号が不一致のとき）、制御素子１１は照合エラ
ーを意味する応答データを出力して処理を終了し、照合
結果が正しければ（暗証番号が一致のとき）、制御素子
１１は命令データの入力を待機ツる。ここで、ホストコ
ンビコータ３から命令データが入力されると、制御素子
１１はテストプログラムのロード命令か否かを判別し、
テストプログラムのロード命令以外のものであれば、制
御素子１１は他の命令処理を行なうか、無効な命令であ
ればエラーを意味する応答データを出力して処理を終了
する。テストプログラムのロード命令であれば、制御素
子１１はＥＥＰＲＯＭ部２２のフラグ部２５を読出して
ｒＯＪでないことを確認する。フラグ部２５が「０」で
あった場合、制御素子１１は命令実行不能を意味する応
答データを出力して処理を終了し、フラグ部２５がｒＯ
Ｊでなければ、制御素子１１はテストプログラムのロー
ドが可能であることを意味する応答データを出力する。
ャー１〜を参照して動作を説明する。まず、テストすべ
きＩＣカード１をカードリーダ・ライタ２にセットし、
その後キーボード４で暗証番号を入力する。この入力さ
れた暗証番号は、ホストコンピュータ３からカードリー
ダ・ライタ２を介してＩＣカード１の制御素子１１へ送
られる。すると、制御素子１１は、メモリ部１２のＥＥ
ＰＲＯＭ部２２に記憶されている暗証番号と上記入力さ
れた暗証番号とを照合する。照合結果が正しくなければ
（暗証番号が不一致のとき）、制御素子１１は照合エラ
ーを意味する応答データを出力して処理を終了し、照合
結果が正しければ（暗証番号が一致のとき）、制御素子
１１は命令データの入力を待機ツる。ここで、ホストコ
ンビコータ３から命令データが入力されると、制御素子
１１はテストプログラムのロード命令か否かを判別し、
テストプログラムのロード命令以外のものであれば、制
御素子１１は他の命令処理を行なうか、無効な命令であ
ればエラーを意味する応答データを出力して処理を終了
する。テストプログラムのロード命令であれば、制御素
子１１はＥＥＰＲＯＭ部２２のフラグ部２５を読出して
ｒＯＪでないことを確認する。フラグ部２５が「０」で
あった場合、制御素子１１は命令実行不能を意味する応
答データを出力して処理を終了し、フラグ部２５がｒＯ
Ｊでなければ、制御素子１１はテストプログラムのロー
ドが可能であることを意味する応答データを出力する。
この応答データを受取ると、ホストコンビコータ３はテ
ストプログラムを制御素子１１へ転送する。すると、制
御素子１１は、転送されてぎたテストプログラムをＥＥ
ＰＲＯＭ部２２のエリア２４へ書込み、その後テストプ
ログラムを正しくロードできたか否かをチェックする。
ストプログラムを制御素子１１へ転送する。すると、制
御素子１１は、転送されてぎたテストプログラムをＥＥ
ＰＲＯＭ部２２のエリア２４へ書込み、その後テストプ
ログラムを正しくロードできたか否かをチェックする。
正しくロードできなかった場合、制御素子１１はプログ
ラムロードエラーを意味する応答データを出力して処理
を終了する。正しくロードできた場合、制御素子１１は
そのテストプログラムを実行する。テストプログラムの
実行が終了すると、制御素子１１はＥＥＰＲＯＭ部２２
のフラグ部２５をｒＯＪに書換えてテスト結果を出力し
、全ての処理を終了する。
ラムロードエラーを意味する応答データを出力して処理
を終了する。正しくロードできた場合、制御素子１１は
そのテストプログラムを実行する。テストプログラムの
実行が終了すると、制御素子１１はＥＥＰＲＯＭ部２２
のフラグ部２５をｒＯＪに書換えてテスト結果を出力し
、全ての処理を終了する。
以上説明したＩＣカードによれば、製造後にテストプロ
グラムを書込み、これを実行させることができる。した
がって、一度しか使用しないテストプログラムをマスク
ＲＯＭ部に書込む必要がな一１〇− く、またテストプログラムを書込むためにマスクＲＯＭ
部を作り直す必要もなくなる。
グラムを書込み、これを実行させることができる。した
がって、一度しか使用しないテストプログラムをマスク
ＲＯＭ部に書込む必要がな一１〇− く、またテストプログラムを書込むためにマスクＲＯＭ
部を作り直す必要もなくなる。
なお、前記実施例では、携帯可能電子装置としてＩＣカ
ードを例示したが、本発明はカード状のものに限定され
るものでなく、たとえばブロック状あるいはペンシル状
のものでもよい。また、携帯可能電子装置のハード構成
もその要旨を逸脱しない範囲で種々変形可能である。
ードを例示したが、本発明はカード状のものに限定され
るものでなく、たとえばブロック状あるいはペンシル状
のものでもよい。また、携帯可能電子装置のハード構成
もその要旨を逸脱しない範囲で種々変形可能である。
［発明の効果］
以上詳述したように本発明によれば、製造後に新たなプ
ログラム（テストプログラム）を任意に書込み、これを
実行させることのできる携帯可能電子装置を提供できる
。
ログラム（テストプログラム）を任意に書込み、これを
実行させることのできる携帯可能電子装置を提供できる
。
図は本発明の一実施例を説明するためのもので、第１図
はＩＣカードのメモリ部の構成を示す図、第２図はＩＣ
カードのテスト動作を説明するフローチャート、第３図
はＩＣカードの構成例を概略的に示すブロック図、第４
図はＩＣカードのテストシステムの構成例を示すブロッ
ク図である。 １・・・・・・ＩＣカード（携帯可能電子装置）、１１
・・・・・・制御素子（制御部）、１２・・・・・・メ
モリ部、２１・・・・・・マスクＲＯＭ部（プログラム
メモリ部）、２２・・・・・・ＥＥＰＲＯＭ部（データ
メモリ部）、２４・・・・・・テストプログラムを書込
むエリア、２５・・・・・・フラグ部。 出願人代理人 弁理士 鈴 江 武 彦第１図 第３図 第２図 （ＣＩ） 第２図 （ｂ） 第４図
はＩＣカードのメモリ部の構成を示す図、第２図はＩＣ
カードのテスト動作を説明するフローチャート、第３図
はＩＣカードの構成例を概略的に示すブロック図、第４
図はＩＣカードのテストシステムの構成例を示すブロッ
ク図である。 １・・・・・・ＩＣカード（携帯可能電子装置）、１１
・・・・・・制御素子（制御部）、１２・・・・・・メ
モリ部、２１・・・・・・マスクＲＯＭ部（プログラム
メモリ部）、２２・・・・・・ＥＥＰＲＯＭ部（データ
メモリ部）、２４・・・・・・テストプログラムを書込
むエリア、２５・・・・・・フラグ部。 出願人代理人 弁理士 鈴 江 武 彦第１図 第３図 第２図 （ＣＩ） 第２図 （ｂ） 第４図
Claims (8)
- （１）データメモリ部と、このデータメモリ部に対して
データの読出しおよび書込みを行なうための制御部と、
この制御部が制御を行なうための制御プログラムを記憶
するプログラムメモリ部を有し、選択的に外部からの入
出力を行なう携帯可能電子装置において、前記プログラ
ムメモリ部の一部に書込み可能なメモリ部を有し、所定
の条件が成立したとき、この書込み可能なメモリ部に該
携帯可能電子装置の良、不良などを判定するためのテス
トプログラムを書込む手段と、この書込み可能なメモリ
部に書込まれたテストプログラムを実行する手段とを具
備したことを特徴とする携帯可能電子装置。 - （２）前記所定の条件が成立したときとは暗証情報の照
合が得られたときであることを特徴とする特許請求の範
囲第１項記載の携帯可能電子装置。 - （３）前記テストプログラムの実行後その旨の痕跡を記
憶する手段をさらに具備することを特徴とする特許請求
の範囲第１項記載の携帯可能電子装置。 - （４）前記書込み可能なメモリ部として ＥＥＰＲＯＭを使用していることを特徴とする特許請求
の範囲第１項記載の携帯可能電子装置。 - （５）前記書込み可能なメモリ部として ＥＰＲＯＭを使用していることを特徴とする特許請求の
範囲第１項記載の携帯可能電子装置。 - （６）前記書込み可能なメモリ部としてＲＡＭを使用し
ていることを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の携
帯可能電子装置。 - （７）前記プログラムメモリ部としてマスクＲＯＭを使
用していることを特徴とする特許請求の範囲第１項記載
の携帯可能電子装置。 - （８）前記制御部としてＣＰＵを使用していることを特
徴とする特許請求の範囲第１項記載の携帯可能電子装置
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61217218A JPH077339B2 (ja) | 1986-09-17 | 1986-09-17 | 携帯可能電子装置のテスト方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61217218A JPH077339B2 (ja) | 1986-09-17 | 1986-09-17 | 携帯可能電子装置のテスト方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6373339A true JPS6373339A (ja) | 1988-04-02 |
| JPH077339B2 JPH077339B2 (ja) | 1995-01-30 |
Family
ID=16700708
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61217218A Expired - Lifetime JPH077339B2 (ja) | 1986-09-17 | 1986-09-17 | 携帯可能電子装置のテスト方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH077339B2 (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02157988A (ja) * | 1988-12-12 | 1990-06-18 | Hitachi Ltd | Ｉｃカードにおけるコマンド処理方法 |
| JPH03269735A (ja) * | 1990-03-20 | 1991-12-02 | Pfu Ltd | マイクロプロセッサボードのテスト処理方式 |
| JPH09160794A (ja) * | 1995-12-08 | 1997-06-20 | Nec Corp | フラッシュメモリと試験プログラム格納ｒｏｍカードによるモジュール試験方式 |
| EP1050816A3 (en) * | 1999-04-23 | 2001-02-07 | Sharp Kabushiki Kaisha | Microcomputer having built-in nonvolatile memory and check system thereof |
| JP2003022196A (ja) * | 2001-07-06 | 2003-01-24 | Nec Corp | 携帯端末におけるテストプログラムの自動実行方法 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59220846A (ja) * | 1983-05-31 | 1984-12-12 | Oki Electric Ind Co Ltd | 情報処理システムの試験方法 |
| JPS61182188A (ja) * | 1985-02-06 | 1986-08-14 | Toshiba Corp | 携帯可能媒体 |
-
1986
- 1986-09-17 JP JP61217218A patent/JPH077339B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59220846A (ja) * | 1983-05-31 | 1984-12-12 | Oki Electric Ind Co Ltd | 情報処理システムの試験方法 |
| JPS61182188A (ja) * | 1985-02-06 | 1986-08-14 | Toshiba Corp | 携帯可能媒体 |
Cited By (6)
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| JPH09160794A (ja) * | 1995-12-08 | 1997-06-20 | Nec Corp | フラッシュメモリと試験プログラム格納ｒｏｍカードによるモジュール試験方式 |
| EP1050816A3 (en) * | 1999-04-23 | 2001-02-07 | Sharp Kabushiki Kaisha | Microcomputer having built-in nonvolatile memory and check system thereof |
| US6981179B1 (en) | 1999-04-23 | 2005-12-27 | Sharp Kabushiki Kaisha | Microcomputer having built-in nonvolatile memory and check system thereof and IC card packing microcomputer having built-in nonvolatile memory and check system thereof |
| JP2003022196A (ja) * | 2001-07-06 | 2003-01-24 | Nec Corp | 携帯端末におけるテストプログラムの自動実行方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH077339B2 (ja) | 1995-01-30 |
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