JPH053634B2

JPH053634B2 -

Info

Publication number: JPH053634B2
Application number: JP58108540A
Authority: JP
Inventors: Seiichi Nishikawa; Koichi Okada; Teruaki Jo
Original assignee: Dai Nippon Printing Co Ltd
Current assignee: Dai Nippon Printing Co Ltd
Priority date: 1983-06-18
Filing date: 1983-06-18
Publication date: 1993-01-18
Also published as: JPS603082A

Description

【発明の詳細な説明】本発明は、識別用など各種のデータ保持のた
め、メモリとそれを制御するためのマイクロコン
ピユータとを埋設したカード、特にメモリとして
EEPROM（エレクトリカリ・イレイザブル・ア
ンド・プログラマブル・リード・オンリー・メモ
リの略）を用いたカードに関する。

身分証明用カードやクレジツトカード、或いは
銀行カードなどの識別用カード（IDカードとい
う）としては、従来から磁気記録方式によりデー
タを保持したデータ・カードが主として採用され
ている。

この磁気記録方式のカードは、そのデータの書
替えが比較的容易なため、特定の用途、例えば銀
行カードなどで預金残高を併記するような場合な
どに有利性が見出せるものの、データの改ざん防
止が充分でないことや携帯時などに受け易い磁気
的な汚染に対するデータの保護が困難で、信頼性
が充分得られない場合があるという問題点があ
る。

そこで、このような点を考慮し、集積回路
（IC）素子からなるメモリと、このメモリ制御用
のマイクロコンピユータ（以下、マイコンとい
う）をカードに埋設し、このメモリにデータを記
憶させ、必要に応じてそのデータを読出し、識別
などに用いるようにしたデータ・カードが提案さ
れ、実用化されるようになつてきた。

このようにICを内蔵したデータ・カードはIC
カードと呼ばれ、例えば第１図の正面図及び第２
図の断面図に示すように、適当なプラスチツクな
どで作られたカード基体２の一部に凹部３を形成
し、その中にICモジユール４を収容したもので、
このICモジユール４には接点端子（電極）５が
設けられ、外部の回路とICモジユール４に含ま
れている電子回路との間の電気的な接続が行なえ
るようになつている。

また、カード基体２の表面にはインクなどで描
かれた所定の文字や図形などからなる絵柄６が施
こされる場合が多く、これらの保護を兼ね、適当
な透明プラスチツクなどからなる保護層７が設け
られ、これら全体でICカード１を形成している。

なお、８は磁性体のストライプ層で、磁気記録
方式のデータ・カードとしても使用できるように
設けられたもので、ICカードとしては特に必要
なものではない。

ICモジユール４は、LSI（大規模集積回路）に
よる各種のメモリや、それを制御するためのマイ
コンを備え、ICカード１を所定のチエツク用機
器にセツトするとICモジユール４に搭載されて
いるマイコンと外部のデータ処理回路との間の電
気的接続が接点端子５を介して形成され、ICカ
ード１内のメモリに対する外部回路からのアクセ
スが行なわれてデータの書込みと読出しが可能に
なり、識別などの機能がはたされるようになつて
いる。

そして、このようなICカードにおけるICモジ
ユール４の構成としては、従来から、例えば第３
図に示すように、情報データ記憶用のメモリとし
てEEPROMを用いたものが知られている。この
第３図において、４０はマイコン、４１は
EEPROMであり、さらにマイコン４０はCPU
（セントラル・プロセツシング・ユニツト）４０
１、プログラム格納用のROM（リード・オンリ
ー・メモリ）４０２、そしてデータ演算用のメモ
リであるRAM（ランダム・アクセス・メモリ）
４０３で構成されており、これらは接点端子５の
各端子片５₁〜５₆を介して外部装置に接続され、
EEPROM４０に対するデータの書込みや、それ
からのデータの読出しが行なえるようになつてい
る。

したがつて、このICカードによれば、データ
の改ざんが困難で高い信頼性が得られ、磁気的な
環境変化に強い上、記憶可能なデータ量の増加が
容易なため、ID用に限らず一般的なデータ保持
用としても広い用途が期待できるようになつてき
た。

そして、上記のようなEEPROMを用いたICカ
ードによれば、そのEEPROMに記憶した情報の
消去が容易に行なえるため、必要に応じてメモリ
に書込んであるデータを消去し、ICデータの再
使用ができるという利点があり、従来のPROM
（プログラマブル・リード・オンリー・メモリ）
やEPROM（イレイザブル・アンド・プログラマ
ブル・リード・オンリー・メモリ、ただし、紫外
線照射による消去を要するため、ICカード用と
した場合には消去がかなり困難になる）を用いた
ICカードに比して多く使用されるようになつて
きた。

ところで、このようなICカードにおいても、
正しい機能をもつた製品として提供するために
は、その製造工程の終りの段階での各種の検査が
不可欠である。

しかして、メモリとしてPROMやEPROMな
どデータの消去が不可能又は困難なものを用いた
ICカードにおいては、メモリに実際にデータを
書込んでそのメモリ機能をテストすることができ
ないから、この点での機能については未確認の状
態のまま製品とせざるをえない。

一方、EEPROMを用いたICカードでは、メモ
リに実際にデータを書込んでのテストが可能で、
機能的に信頼性の高い製品とすることができる。

しかしながら、この場合、EEPROMをICカー
ドに実装する前にテストしたのでは、充分な信頼
性を与えることができない。即ち、EEPROMを
ICカードに実装する場合、その実装条件によつ
てはメモリ機能に影響を与えてしまう可能性がか
なりあり、そのため、たとえ実装前にメモリ機能
に異常がなかつたとしても、それで実装後の正常
な機能の発揮が期待できるという保障は必ずしも
ない。

従つて、EEPROMを用いたICカードの品質保
障のためには、ICカードとしてメモリを実装し
た後でのメモリ機能の検査、確認が大きなフアク
タとなり、ほとんど不可欠の要件となつていると
いつてよい。

ところで、このようなEEPROMをメモリとし
て使用したICカードのメモリ機能を検査、確認
する方法としては、まず、このICカード自身が
持つICカードとしての機能をそのまま利用する
方法が考えられる。即ち、ICカードの検査装置
からICカードに所定のデータを転送し、それを
メモリに書込んで確認するという処理をメモリの
全領域について行なえばよい。

このようなICカードの機能をそのまま利用し
た方法の場合の処理をフローチヤートで示すと第
４図のようになる。即ち、ICカードの検査装置
がこの処理に入ると、まずステツプ１で所定のメ
モリ領域ごとの書込みコマンド信号を出力し、つ
いでステツプ３でそれに対応したデータを出力す
る。

一方、ICカードは、検査装置からの書込コマ
ンドとデータをステツプ10，30で順次入力し、そ
れにしたがつてステツプ50でEEPROMの指定さ
れたメモリ領域にデータを書込む。ついでステツ
プ70でいま書込んだデータを読出してそれが正し
く書込まれているか否かを照合確認し、その結果
をステータス信号として出力する。

こうしてICカードからステータスが出力され
ると、それを検査装置がステツプ５で入力し、次
のステツプ７に進み、EEPROMの全てのメモリ
領域に対する処理が終了するまでステツプ１から
５までの処理を繰り返えす。

従つて、この方法では、第４図に示した処理を
EEPROMに格納可能なデータ量に応じて多数回
繰り返えす必要があり、１回の処理で格納される
データ量があまり多くない場合には、膨大な処理
回数を要することになり、その際、コマンドやデ
ータの入出力に必要な伝送時間が累積されるた
め、多くの検査時間が必要になるという問題点が
あつた。

そこで、この方法を実際のICカードの検査に
適用した際には、上記した検査時間を勘案してメ
モリの一部の領域に対してだけデータの書込みと
読出し、それに消去などを行ない、これによつて
特に動作に異常がなければ、ICカードの機能は
EEPROMのメモリ機能も含めて正常であるとす
る検査方法が採用されており、従つて、この場合
には充分に信頼性の高い製品を与えることができ
なかつた。

また、ICカードのメモリ機能を正しくテスト
するためには、そのメモリ領域の全ビツトを対象
としたテストを行なわなければならない。一方、
このようなICカードにおいては、それが対象と
するデータに対して何らかのコードを付加し、そ
れによりICカードのメモリに格納されたデータ
の管理を行なうようにする場合がある。例えば、
エラーチエツク用のビツトを付加した場合がそれ
である。しかして、このような場合には、メモリ
に書込みが行なわれないビツトが残つてしまうこ
とになり、全ビツトを対象としたテストは不可能
になる。

従つて、従来のICカードでは、EEPROMを用
いた場合でも、そのメモリ機能を完全に検査しよ
うとすれば、膨大な検査時間を要してコストアツ
プとなつたり、或は完全な検査が不可能であつた
りするため、充分に高い信頼性を得るのが困難で
あるという欠点があつた。

本発明の目的は、上記した従来技術の欠点を除
き、メモリ機能に対する検査が充分に行なえ、高
い信頼性を有するICカードをローコストで提供
するにある。

この目的を達成するため、本発明は、搭載され
たEEPROMのメモリ機能に対する検査処理が全
てICカード内で行なわれるように構成した点を
特徴とする。

以下、本発明によるICカードの実施例につい
て、図面を参照して説明する。

本発明の一実施例によるICカードは第１図及
び第２図に示したICカードと同じ構造を有し、
内蔵されているICモジユール４も第３図に示し
たICカードと同じであるが、そのROM４０２に
格納してあるプログラムが異なり、通常のICカ
ードとしての処理に加え、外部の検査装置から入
力されるテストコマンドに応じて第５図のフロー
チヤートにしたがつて処理がICカードの中で実
行されるように構成されており、この点で上記し
た従来のICカードと異なつている。

次に、この実施例の動作について説明する。

まず、本発明の一実施例によるICカードが製
造工程を終り、一応製品として完成したとする。

そうすると、ここでICカードに内蔵した
EEPROMのメモリ機能を含めたICカードの検査
工程に入り、所定の検査装置にこのICカードを
セツトし、端子５を介して両者間に電気的な結合
が行なわれるようにする。

こうして検査装置にICカードがセツトされ、
両者間でのデータ伝送が可能になつたことが検査
装置に確認されたら、第５図にしたがつた処理が
開始し、まず検査装置からステツプ２に示すよう
にテストコマンド信号が出力される。

一方、このテストコマンド信号がICカードに
入力されるとステツプ20でそれが判別され、それ
により通常のデータ書込みとは異なつた処理ルー
チンを行ない、ステツプ40で所定のテストデータ
の生成を行ない、ステツプ60でこのテストデータ
をEEPROM４１の先頭番地から書込み始める。
そして、これをステツプ70で判断し、EEPROM
４１の全ての番地のビツトにデータが書込まれて
ゆくようにする。なお、この間、検査装置は、ス
テツプ２でテストコマンドを出力した後ICカー
ドからステータスが入力されて来るのをただ待つ
ていればよい。

さて、ICカードでは、ステツプ70での結果が
YESになつたら、次にステツプ80に進み、
EEPROM４１の全てのビツトに書込んだテスト
データを読出して照合、確認を行ない、その結果
をステツプ100で出力する。

こうしてICカードからステータスが出力され
たら、それを検査装置がステツプ４の処理として
入力し、そのICカードの良否判定を行なう。

従つて、この実施例によれば、ICカードに対
してただ１回のテストコマンドの入力を行なうだ
けで、その後はテストデータの生成と、それのメ
モリへの書込及び読出しによる確認処理とが全て
ICカード内に進められてゆくため、ICカードと
外部との間でのデータ転送に費やされる時間が不
要になり、検査時間を大幅に減少させることがで
きる。

また、この実施例によるは、EEPROM４１の
メモリ領域に書込むべきテストデータを全てIC
カードの中で生成するようになつているから、こ
のICカードを用いるシステムにおけるデータの
管理方式と無関係にEEPROM４１に書込むべき
テストデータを定めることができ、全てのビツト
への書込が容易に行なえ、メモリ機能の確認が不
可能なビツトを生じることがなく、全てのビツト
の検査を容易に行なうことができる。

さらに、この実施例によれば、ICカードにお
ける第５図のステツプ100の処理の後に、
EEPROM４１の全てのビツトのデータを消去す
る処理を付加しておけば、ICカードの検査に必
要な処理を一連の処理として全て終了させること
ができ、さらに効率的な検査を行なうことができ
る。

ところで、このICカードに使用される
EEPROMにおいては、データ書込時に書込パル
スの供給を要する。そして、このときに供給すべ
き書込パルスのパルス幅は製品の仕様として規定
値が定められており、この規定値よりパルス幅を
狭くすると書込条件が厳しくなり、データの信頼
性（保存性）が低下してゆくという特性がある。

そこで、この発明の一実施例として第５図のス
テツプ60においてEEPROM４１に供給する書込
パルスのパルス幅を上記した規定値より所定値だ
け狭くするようにしてもよい。

この実施例によれば、EEPROMのメモリ機能
に対する検査基準が厳しくなり、製品の信頼性を
高くすることができる上、検査処理が高速になり
検査時間が短かくて済み、効率的な検査を行なう
ことができる。例えば、或るEEPROMにおける
１バイト当りの書込パルスのパルス幅の規定値が
10mSecで、そのメモリ容量が2Kバイトであつた
とすれば、このEEPROMの全バイトにデータを
書き込むためには20秒以上の時間が必要になる
が、上記したように書込パルスの幅を短くし、
1mSecとすれば２秒程度の書込時間で済むことに
なり、その分、ICカードの検査に必要な時間を
短縮でき、検査時間を大幅に少くすることができ
る。

以上説明したように、本発明によれば、
EEPROMを用いたICカードにおいて、そのメモ
リの全てのビツトに対するメモリ機能の検査を容
易に、しかも比較的短時間で行なうことができる
から、従来技術の欠点を除き、メモリの全てのビ
フトを含めた機能についての検査が充分に行なわ
れ、高い信頼性を与えることができるICカード
をローコストで提供することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図はICカードの一例を示す正面図、第２
図はそのＡ−Ａ線による断面図、第３図は同じく
EEPROMを用いたICモジユールのブロツク図、
第４図はICカードの検査処理の従来例を示すフ
ローチヤート、第５図は本発明によるICカード
の一実施例における検査処理を示すフローチヤー
トである。１…ICカード、２…カード基体、３…凹部、
４…ICモジユール、５…接点端子、４０…マイ
クロコンピユータ、４１…EEPROM、４０１…
CPU、４０２…ROM、４０３…RAM。

Claims

【特許請求の範囲】１データ格納用のEEPROMと、この
EEPROMに対するデータの書込み、読出し及び
消去を制御するためのマイクロコンピユータとを
備えたICカードにおいて、上記EEPROMのメモ
リ領域全体を対象としたテストデータの作成と書
込処理を実行する手段と、この書込処理による書
込結果の検査処理を実行する手段と、外部に対す
る検査結果の出力処理を実行する手段とを上記マ
イクロコンピユータに設け、これらの手段による
処理が外部からの命令入力に応答して逐次実行さ
れ、上記EEPROMのメモリ機能に対するテスト
処理が全てICカード内で実行されるように構成
したことを特徴とするICカード。２特許請求の範囲第１項において、上
EEPROMのメモリ領域全体を対象としたテスト
データの書込処理における書込パルスのパルス幅
が、このEEPROMの通常のデータ書込時に必要
な書込パルスのパルス幅より所定値だけ狭くなる
ように構成したことを特徴とするICカード。