JPS603082A - Ｉｃカ−ド - Google Patents
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- JPS603082A JPS603082A JP58108540A JP10854083A JPS603082A JP S603082 A JPS603082 A JP S603082A JP 58108540 A JP58108540 A JP 58108540A JP 10854083 A JP10854083 A JP 10854083A JP S603082 A JPS603082 A JP S603082A
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- G06K—GRAPHICAL DATA READING; PRESENTATION OF DATA; RECORD CARRIERS; HANDLING RECORD CARRIERS
- G06K19/00—Record carriers for use with machines and with at least a part designed to carry digital markings
- G06K19/06—Record carriers for use with machines and with at least a part designed to carry digital markings characterised by the kind of the digital marking, e.g. shape, nature, code
- G06K19/067—Record carriers with conductive marks, printed circuits or semiconductor circuit elements, e.g. credit or identity cards also with resonating or responding marks without active components
- G06K19/07—Record carriers with conductive marks, printed circuits or semiconductor circuit elements, e.g. credit or identity cards also with resonating or responding marks without active components with integrated circuit chips
- G06K19/073—Special arrangements for circuits, e.g. for protecting identification code in memory
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、識別用など各種のデータ保持のため、メモリ
とそれを制御するためのマイクロコンピュータとを埋設
したカード、特にメモリとしてＥＥＦＲＯＭ（エレクト
リカリ・イレイザブル・アンド・プログラマブル・リー
ド・オンリー・メモリの略）を用いたカードに関する。
とそれを制御するためのマイクロコンピュータとを埋設
したカード、特にメモリとしてＥＥＦＲＯＭ（エレクト
リカリ・イレイザブル・アンド・プログラマブル・リー
ド・オンリー・メモリの略）を用いたカードに関する。
身分証明用カードやフレノットカード、或いは銀行カー
ドなどの識別用カード（ＩＤカードという）としては、
従来から磁気記録方式によシデータ？保持したデータ・
カードが主として採用されている。
ドなどの識別用カード（ＩＤカードという）としては、
従来から磁気記録方式によシデータ？保持したデータ・
カードが主として採用されている。
この磁気記録方式のカードは、そのブ′−夕の亨１替え
が比較的容易なため、特定の用途、例えは銀行カードな
どで預金残高？併記するような場合などに有利性が見出
せるものの、データの改ざん防止が充分でないことや携
帯時などに受け易い磁気的な汚染に対するデータの保膜
が困難で、信頼性が充分得られない場合があるという問
題点がある。
が比較的容易なため、特定の用途、例えは銀行カードな
どで預金残高？併記するような場合などに有利性が見出
せるものの、データの改ざん防止が充分でないことや携
帯時などに受け易い磁気的な汚染に対するデータの保膜
が困難で、信頼性が充分得られない場合があるという問
題点がある。
そこで、このような点を考慮し、集積回路（ＩＣ）素子
からなるメモリと、このメモリ制御用のマイクロコンピ
ュータ（以下、マイコンといつ）をカードに埋設し、こ
のメモリにデータを記憶させ、必要に応じてそのデータ
を読出し、識別などに用いるようにしたデータ・カード
が提案され、実用化されるようになってきた。
からなるメモリと、このメモリ制御用のマイクロコンピ
ュータ（以下、マイコンといつ）をカードに埋設し、こ
のメモリにデータを記憶させ、必要に応じてそのデータ
を読出し、識別などに用いるようにしたデータ・カード
が提案され、実用化されるようになってきた。
このようにＩＣを内蔵したブ゛−タ・カードはＩＣカー
ドと呼ばれ、例えは第１図の正面図及び第２図の断面図
に示すように、適当なプラスチックなどで作られたカー
ド基体２の一部に凹部３を形成し、その中にＩＣモジュ
ール４を収ｇ したもので、このＩＣモジュール４には
接点端子（′６極）５が設けられ、外部の回路とＩＣモ
ジュール４に含まれている電子回路との間の電気的な接
続が行なえるようになっている。
ドと呼ばれ、例えは第１図の正面図及び第２図の断面図
に示すように、適当なプラスチックなどで作られたカー
ド基体２の一部に凹部３を形成し、その中にＩＣモジュ
ール４を収ｇ したもので、このＩＣモジュール４には
接点端子（′６極）５が設けられ、外部の回路とＩＣモ
ジュール４に含まれている電子回路との間の電気的な接
続が行なえるようになっている。
また、カード基体２の表面にはインクなどで描かれた所
定の文字や図形などからなる絵柄６が施こされる場合が
多く、これらの保膜を１［〔ね、適当な透明プラスチッ
クなどからなる保護層７が設げられ、こす１、ら全体で
ＩＣカードｌを形成している。
定の文字や図形などからなる絵柄６が施こされる場合が
多く、これらの保膜を１［〔ね、適当な透明プラスチッ
クなどからなる保護層７が設げられ、こす１、ら全体で
ＩＣカードｌを形成している。
なお、８は磁性体のストライ２°層で、磁気記録方式の
データ・カードとしても使用できるように設けられたも
ので、ＩＣカードとしては特に必要なものではない。
データ・カードとしても使用できるように設けられたも
ので、ＩＣカードとしては特に必要なものではない。
ＩＣモ、：、’ニール４ば、ＬＳＩ（大規模年払回路）
による各棟のメモリや、それ音制御するためのマイコン
を備え、ＩＣカードｌを所定のチェック用機器に七ット
するとＩＣモジュール４に搭載されているマイコンと外
部のデータ処理回路との間の電気的接続が接点端子５を
介してル成され、ＩＣカードｌ内のメモリに対する外部
回路からのアクセスが行なわれてデータの■込みと胱出
しがｎ」能になシ、識別なとの機能かにた芒れるよ５に
なっている。
による各棟のメモリや、それ音制御するためのマイコン
を備え、ＩＣカードｌを所定のチェック用機器に七ット
するとＩＣモジュール４に搭載されているマイコンと外
部のデータ処理回路との間の電気的接続が接点端子５を
介してル成され、ＩＣカードｌ内のメモリに対する外部
回路からのアクセスが行なわれてデータの■込みと胱出
しがｎ」能になシ、識別なとの機能かにた芒れるよ５に
なっている。
そして、このようなＩＣカードにおけるＩＣモジュール
４の構成としては、従来がら、例えは第３図に示すよう
に、情報データ記憶用のメモリとしてＥ ＥＰ ＲＯＭ
を用いたものが知られている。
４の構成としては、従来がら、例えは第３図に示すよう
に、情報データ記憶用のメモリとしてＥ ＥＰ ＲＯＭ
を用いたものが知られている。
この第３図において、４０ｉ：？イ””＋４．］ｔｌ：
ＥＥＰＲＯＭであり、芒らにマイコン４ｏはＣＰＵ（セ
ントラル・グロセッシング・ユニッ））４０１゜プログ
ラム格納用のＲＯＭ （リード・オンリー・メモリ）−
４０２，そしてデータ演算用のメモリであるＲＡＭ（ラ
ンダム・アクセス・メモリ）４０３で構成されておシ、
これらは接点九″、ｉ子５の各端子片５】〜５６を介し
て外部装置に接続され、ＥＥＰＲＯＭ４０に対するデー
タの訃込みゃ、それからのデータの読出しが行なえるよ
うになっている。
ＥＥＰＲＯＭであり、芒らにマイコン４ｏはＣＰＵ（セ
ントラル・グロセッシング・ユニッ））４０１゜プログ
ラム格納用のＲＯＭ （リード・オンリー・メモリ）−
４０２，そしてデータ演算用のメモリであるＲＡＭ（ラ
ンダム・アクセス・メモリ）４０３で構成されておシ、
これらは接点九″、ｉ子５の各端子片５】〜５６を介し
て外部装置に接続され、ＥＥＰＲＯＭ４０に対するデー
タの訃込みゃ、それからのデータの読出しが行なえるよ
うになっている。
したがって、このＩＣカードによれ＆、ｊ、、′５−′
−タの改ざんが困佃で高い信ゎ４・注がイｉｉｒ：）肛
、イ侵気的なちオ境変化に強い上、記憶可能なテ゛−夕
１ｉの増加が答易な／こめ、ＩＤ用に限らず一般的なブ
゛−タ保掲用としても広い用途が期ｆ、１できるように
なってさた。
−タの改ざんが困佃で高い信ゎ４・注がイｉｉｒ：）肛
、イ侵気的なちオ境変化に強い上、記憶可能なテ゛−夕
１ｉの増加が答易な／こめ、ＩＤ用に限らず一般的なブ
゛−タ保掲用としても広い用途が期ｆ、１できるように
なってさた。
そして、上記のよりなＥＥＰＲＯＭを用い７’ｃ ＩＣ
カードによれは、そのＥ ＥＰ ＲＯｙｒに記憶した情
報の消去が容易に行なえるため、必要に応じてメモリに
書込んであるガータを消去し、ＩＣデータの再使用がで
きるという利点があシ、従来のＰＲＯＭ （プログシマ
プル・リード・オンリー・メモリ）やＥ Ｐ ＲＯＭ
（イレイザフ゛ル・アンド・）゛ログシマゾル・リード
・オンリー・メモリー、ただし、紫外線脂身」による消
去ケ要するグこめ、ＩＣカード用とした％１合には消去
ががなシ困難になる）を用いたＩＣカードに比して多く
使用感れるようだなってきた。
カードによれは、そのＥ ＥＰ ＲＯｙｒに記憶した情
報の消去が容易に行なえるため、必要に応じてメモリに
書込んであるガータを消去し、ＩＣデータの再使用がで
きるという利点があシ、従来のＰＲＯＭ （プログシマ
プル・リード・オンリー・メモリ）やＥ Ｐ ＲＯＭ
（イレイザフ゛ル・アンド・）゛ログシマゾル・リード
・オンリー・メモリー、ただし、紫外線脂身」による消
去ケ要するグこめ、ＩＣカード用とした％１合には消去
ががなシ困難になる）を用いたＩＣカードに比して多く
使用感れるようだなってきた。
ところで、このようなＩＣカードにおいても、正しい椴
能陀もった製品とし７で提供するためには、その製造工
程の終シの段階での各棟の横歪が不可欠である。
能陀もった製品とし７で提供するためには、その製造工
程の終シの段階での各棟の横歪が不可欠である。
１−かして、メモリとし？ｒ Ｐ ＲＯＭやＥＰＲＯＭ
などデータの消去が不可能又は困９ｊ１［なもの音用い
たＩＣカードにおいては、メモリに冥際にテ′−タｋ
古込んでそのメモリ機能をテスＩ・することができない
から、この点での機能については未確認の状態のまま製
品とせざるをえない。
などデータの消去が不可能又は困９ｊ１［なもの音用い
たＩＣカードにおいては、メモリに冥際にテ′−タｋ
古込んでそのメモリ機能をテスＩ・することができない
から、この点での機能については未確認の状態のまま製
品とせざるをえない。
一方、ＪうＫＦＲＯＭを用いたＩＣカードでは、メモリ
に実際にデータを書込んでのテストが可能で、機能的に
信頼性の高い製品と）ることかできる。
に実際にデータを書込んでのテストが可能で、機能的に
信頼性の高い製品と）ることかできる。
しかしながら、この場合、ＥＥＰＲＯＭｋＩＣカードに
実装する前にテストしたのでは、光分な信頼性を与える
ことができない。即ち、Ｅ Ｅ Ｐ ｌ’（ＯＭをＩＣ
カードに実装する場合、その実装条件によってはメモリ
機能に影響を与えてしまう可能性がかなシあシ、そのた
め、たとえ芙装前にメモリ機能に異常がなかったとして
も、それでち゛こ装機の正常なち９能の発揮が期待でき
るとい）作置・は必ずしもない。
実装する前にテストしたのでは、光分な信頼性を与える
ことができない。即ち、Ｅ Ｅ Ｐ ｌ’（ＯＭをＩＣ
カードに実装する場合、その実装条件によってはメモリ
機能に影響を与えてしまう可能性がかなシあシ、そのた
め、たとえ芙装前にメモリ機能に異常がなかったとして
も、それでち゛こ装機の正常なち９能の発揮が期待でき
るとい）作置・は必ずしもない。
従つ−Ｃ，ＥＥＰＲＯＭを用いたＩＣカードの品質保障
のためには、ＩＣカードとしてメモリを実装した後での
メモリ機能の検査、７ｉｆ１゛ｔｔ、４が大きなファク
タとなシ、はとんど不可欠の妥件となっているといって
よい。
のためには、ＩＣカードとしてメモリを実装した後での
メモリ機能の検査、７ｉｆ１゛ｔｔ、４が大きなファク
タとなシ、はとんど不可欠の妥件となっているといって
よい。
ところで、このようなＥ′Ｆ２ＰＲＯＭｔメモリとしで
使用したＩＣカードのメモリ様能を・訊査、イ＋７Ｍ認
する方法としてね１、まず、このＩＣカード自身が持つ
ＩＣカードとしての機能をそのまま利用する方法が考え
られる。即ち、ＩＣカードの検査装置からＩＣカードに
所定のデータを転送し、それをメモリに眉、込んで確認
するという処理をメモリの全領域について行なえばよい
。
使用したＩＣカードのメモリ様能を・訊査、イ＋７Ｍ認
する方法としてね１、まず、このＩＣカード自身が持つ
ＩＣカードとしての機能をそのまま利用する方法が考え
られる。即ち、ＩＣカードの検査装置からＩＣカードに
所定のデータを転送し、それをメモリに眉、込んで確認
するという処理をメモリの全領域について行なえばよい
。
このようなＩＣカードの機能をそのまま利用して
た方法の場合の処理をフローチャート示すと第４図のよ
うになる。即ち、ＩＣカードの検査装置かこの処理に入
ると、まずステップ１で所定のメモリ領域ごとの切込み
コマンドイ７．−号を出力し、ついでステップ３でそれ
に対応したデータを出力する。
うになる。即ち、ＩＣカードの検査装置かこの処理に入
ると、まずステップ１で所定のメモリ領域ごとの切込み
コマンドイ７．−号を出力し、ついでステップ３でそれ
に対応したデータを出力する。
一方、ＩＣカードは、検査装ＷＪからの■込コマンドと
ｒ−夕をステップ１０．３０で順次入力し、それにした
がってステップ５０でＥＥＰＲＯＭの］：４定されたメ
モリ領域にブータラ書込む。つイテステップ７０でいま
間込んだデータを読出してそれが正しく書込まれている
か否かを照合確認し、その結果をステータス信号として
出力する。
ｒ−夕をステップ１０．３０で順次入力し、それにした
がってステップ５０でＥＥＰＲＯＭの］：４定されたメ
モリ領域にブータラ書込む。つイテステップ７０でいま
間込んだデータを読出してそれが正しく書込まれている
か否かを照合確認し、その結果をステータス信号として
出力する。
こうしてＩＣカードからステータスが出力されると、そ
れを検査装置がステップ５で入力し、次のステップ７に
進み、ＥＥＦＲＯＭの全てのメモ９領域に対する処理が
終了するまでステップｌから５までの処ｆｉ！１．”！
ｉ＝繰シ返えす。
れを検査装置がステップ５で入力し、次のステップ７に
進み、ＥＥＦＲＯＭの全てのメモ９領域に対する処理が
終了するまでステップｌから５までの処ｆｉ！１．”！
ｉ＝繰シ返えす。
従って、この方法では、第４図に示した処理ｆ ＥＥＰ
ＲＯＭに格納可能なデータ量に応じて多数回繰９返えす
必要があシ、１回の処ｐｉｊでイ゛ｄ納されるデータ量
があまシ多くない場合にＵｌｌ、膨大々処理回数を要す
ることになり、その際、コマンドやプ′−夕の入出力に
必要な伝送時間が累積されるため、多くの検査時間が必
要になるという間；顆点があった。
ＲＯＭに格納可能なデータ量に応じて多数回繰９返えす
必要があシ、１回の処ｐｉｊでイ゛ｄ納されるデータ量
があまシ多くない場合にＵｌｌ、膨大々処理回数を要す
ることになり、その際、コマンドやプ′−夕の入出力に
必要な伝送時間が累積されるため、多くの検査時間が必
要になるという間；顆点があった。
そこで、この方法を実装のＩＣカードの検査に適用した
際には、上記した検査時間を勘案してメモリの一部の領
域に対してだけブ゛−夕の？１２込みと読出し、それに
消去などを行ない、こｈによってｌ（ケに動作に異常が
なげれば、そのＩＣカードの機能はＥＥＰＲＯＭのメモ
リ機能も含めて正常であるとする検査方法が採用されて
おシ、従って、この場合には充分に信頼性の高い製品を
−ｔ−４えることができなかった。
際には、上記した検査時間を勘案してメモリの一部の領
域に対してだけブ゛−夕の？１２込みと読出し、それに
消去などを行ない、こｈによってｌ（ケに動作に異常が
なげれば、そのＩＣカードの機能はＥＥＰＲＯＭのメモ
リ機能も含めて正常であるとする検査方法が採用されて
おシ、従って、この場合には充分に信頼性の高い製品を
−ｔ−４えることができなかった。
また、ＩＣカードのメモリ機能を正しくテストするため
には、そのメモリ領域の全ビラトラ対象としたテストを
行なわなけれはならない。一方、このよう々ＩＣカード
においては、それが対象とするデータに対して何らかの
コードを伺加し、そｔ’ＬによシＩＣカードのメモリに
格納でれたデータの管理を行なうようにする場合がある
。例えは、エラーチェック用のビラトラ付加した場合が
それである。しかして、このような場合には、メモリに
書込みが行なわれないビットが残ってしまうことになυ
、全ビットを対象としたテストは不可能になる。
には、そのメモリ領域の全ビラトラ対象としたテストを
行なわなけれはならない。一方、このよう々ＩＣカード
においては、それが対象とするデータに対して何らかの
コードを伺加し、そｔ’ＬによシＩＣカードのメモリに
格納でれたデータの管理を行なうようにする場合がある
。例えは、エラーチェック用のビラトラ付加した場合が
それである。しかして、このような場合には、メモリに
書込みが行なわれないビットが残ってしまうことになυ
、全ビットを対象としたテストは不可能になる。
従って、従来のＩＣカーＦＴは、ＥＥＰＲｏＭ′（Ｉ−
用いた場合でも、そのメモリ機能奮完全に検査しように
すれ′ば、膨大な検査時間を要してコストアップとなっ
たシ、或は完全な検査が不可能であったシするため、充
分に高い信頼性をイ４るのが回前であるという欠点があ
った。
用いた場合でも、そのメモリ機能奮完全に検査しように
すれ′ば、膨大な検査時間を要してコストアップとなっ
たシ、或は完全な検査が不可能であったシするため、充
分に高い信頼性をイ４るのが回前であるという欠点があ
った。
本発明の目的は、上記した従来技術の欠点を除き、メモ
リ機能に対する検査が充分に行なえ、高い信頼性を有す
るＩＣカードをローコストで提供するにある。
リ機能に対する検査が充分に行なえ、高い信頼性を有す
るＩＣカードをローコストで提供するにある。
この目的を達成するため、本号６げ１シシ、４苔ｌ現さ
れたＥ Ｅ Ｐ ＲＯＭのメモ！Ｊ ｌ；／”、＆能に
対する検査処ｖｌ！カニ全てＩＣカード内で行なわれる
ように’！７′ｉ Ｊ戊したＩＡを牛Ｙ徴とする。
れたＥ Ｅ Ｐ ＲＯＭのメモ！Ｊ ｌ；／”、＆能に
対する検査処ｖｌ！カニ全てＩＣカード内で行なわれる
ように’！７′ｉ Ｊ戊したＩＡを牛Ｙ徴とする。
以下、本発明によるＩＣカードの尖施５１Ｊにつ℃・て
、図面を参照して説明する。
、図面を参照して説明する。
本発明の一実施例によるＩＣカー１’は第１図及び第２
図に示したＩＣカードと同じ）（゛り造を有し、内蔵さ
れているＩＣモジュール４も第３図に示したＩＣカード
と同じであるが、そのＲＯＭ ４０２に格納しであるプ
ログラムが異なり、；ＩＩ！１． ’ｊＷのＩＣカード
としての処理に加え、外部の検イｄ促［′ｌＩ′力＼ら
入力されるテストコマンドに応じて２ｉ４５１ン１のフ
ローチャートにしたがった処理がＩＣカーＩＷ （７）
中Ｔ実行されるように構成烙れておｐ、こσ’ ＋’
＋１．＋で上り己した従来のＩｃカードと異々つて（・
る。
図に示したＩＣカードと同じ）（゛り造を有し、内蔵さ
れているＩＣモジュール４も第３図に示したＩＣカード
と同じであるが、そのＲＯＭ ４０２に格納しであるプ
ログラムが異なり、；ＩＩ！１． ’ｊＷのＩＣカード
としての処理に加え、外部の検イｄ促［′ｌＩ′力＼ら
入力されるテストコマンドに応じて２ｉ４５１ン１のフ
ローチャートにしたがった処理がＩＣカーＩＷ （７）
中Ｔ実行されるように構成烙れておｐ、こσ’ ＋’
＋１．＋で上り己した従来のＩｃカードと異々つて（・
る。
次に、この実力凪例の動作について粘ｉ、明する。
まず、本発明の一実施例によるＩＣカード〃５製造工程
を終シ、−旧製品として完成したとする。
を終シ、−旧製品として完成したとする。
そうすると、ここでＩＣカードに内蔵したＥＥｒ’ＲＯ
Ｍのメモリ機能を含めたＩＣカードの検査工程に入力、
所定の検査装置にこのＩＣカードをセットし、端子５を
介して両者間に電気的な結合が行なわれるようにする。
Ｍのメモリ機能を含めたＩＣカードの検査工程に入力、
所定の検査装置にこのＩＣカードをセットし、端子５を
介して両者間に電気的な結合が行なわれるようにする。
こうして検査装置にＩＣカードがセットされ、両者間で
のデータ伝送が可能にたつたことが検査装置に確認され
たら、第５図にしたかった処理力（開始し、まず検査装
置１１からステップ２に示すようにテストコマンド信号
が出力される。
のデータ伝送が可能にたつたことが検査装置に確認され
たら、第５図にしたかった処理力（開始し、まず検査装
置１１からステップ２に示すようにテストコマンド信号
が出力される。
一方、このテストコマンド信号がＩＣカードにへ力埒れ
るとステップ２０でそれが判別さ〕′シ、そ扛により油
密のう″−タ４り込みとは異なった処理ルーチンな行な
い、ステップ４０で所定のテストプ′−夕の生成全行な
い、ステップ６０でこのテストラ′−夕をＥＥＰＲＯＭ
４１の先頭番地から畳込み始める。そして、これをステ
ップ７０で判断し、Ｅ Ｅ Ｐ ＲＯＭ ４１の全ての
番地のビットにデータが書込まれてゆくようにする。な
お、この間、検査装置は、ステップ２でテストコマンド
を出力した後ＩＣカードからステータスが入力されて来
るのをただ待っていればよい。
るとステップ２０でそれが判別さ〕′シ、そ扛により油
密のう″−タ４り込みとは異なった処理ルーチンな行な
い、ステップ４０で所定のテストプ′−夕の生成全行な
い、ステップ６０でこのテストラ′−夕をＥＥＰＲＯＭ
４１の先頭番地から畳込み始める。そして、これをステ
ップ７０で判断し、Ｅ Ｅ Ｐ ＲＯＭ ４１の全ての
番地のビットにデータが書込まれてゆくようにする。な
お、この間、検査装置は、ステップ２でテストコマンド
を出力した後ＩＣカードからステータスが入力されて来
るのをただ待っていればよい。
もて、ＩＣカードで（ｄ、ステップ７０での結果がＹＥ
ＳＫなったら、次にステップ８０に進み、Ｅ Ｅ Ｐ
ＲＯＭ ４１の全てのビットにで１込んだテストデータ
を訃１．出して照合、るイを認を行ない、その結果をス
テップ１００で出力する。
ＳＫなったら、次にステップ８０に進み、Ｅ Ｅ Ｐ
ＲＯＭ ４１の全てのビットにで１込んだテストデータ
を訃１．出して照合、るイを認を行ない、その結果をス
テップ１００で出力する。
こうしてＩＣカードからステータスが出力されたら、そ
れを検査装置がステップ４の処理として入力し、そのＩ
Ｃカードの良否判定を行なう。
れを検査装置がステップ４の処理として入力し、そのＩ
Ｃカードの良否判定を行なう。
従って、この実施例によれは、ＩＣカードに対してただ
１回のテストコマンドの入力介行なうだけで、その彼は
テストデータの４１．成と、そｆ’Ｌのメモリへのｆ′
ｒ込及び読出しによる？Ｘ（１〜、（処理とが全てＩＣ
カード内で進めらオｔてゆ＜１、蛍も、ＩＣカードと外
部との間でのデータ転送にデ、゛・やされる弓１ｉｉ１
が不要になシ、検査時間を太１’：１：に減ｙＪ、させ
ることができる。
１回のテストコマンドの入力介行なうだけで、その彼は
テストデータの４１．成と、そｆ’Ｌのメモリへのｆ′
ｒ込及び読出しによる？Ｘ（１〜、（処理とが全てＩＣ
カード内で進めらオｔてゆ＜１、蛍も、ＩＣカードと外
部との間でのデータ転送にデ、゛・やされる弓１ｉｉ１
が不要になシ、検査時間を太１’：１：に減ｙＪ、させ
ることができる。
また、この実施例によるｉｒｊ：、ＥＥＰＲＯＭ４１の
メモリ領域にも込むべきテストデーク全全てＩＣカード
の中で住゛成するようになっているから、このＩＣカー
ド欠用いるシステムにおけるプ″−夕の官理方式とシ（
１（関係にＥ Ｅ Ｐ ＲＯＭ ４１に書込ｔｒべきナ
ス１データを定めることができ、全てのビットへの４１
＞込が容易に行なえ、メモリ機能の確認が不用能なビッ
トを生じることがなく、全てのビットの検査を容易に行
なうことができる。
メモリ領域にも込むべきテストデーク全全てＩＣカード
の中で住゛成するようになっているから、このＩＣカー
ド欠用いるシステムにおけるプ″−夕の官理方式とシ（
１（関係にＥ Ｅ Ｐ ＲＯＭ ４１に書込ｔｒべきナ
ス１データを定めることができ、全てのビットへの４１
＞込が容易に行なえ、メモリ機能の確認が不用能なビッ
トを生じることがなく、全てのビットの検査を容易に行
なうことができる。
さらに、この実７１＋！ｉ ｆｉｔによれは、ＩＣカー
ドにおける第５ン１のステップ１００の処理の後に、Ｅ
ＥＰ ＲＯＭ ４１の全てのビットのプ′−りを消去す
る処理を付加しておけにＪｌ、ＩＣカードの検査に必要
な処理を一連の処理として全て終了させることができ、
さらに効率的な検査を行シーうことができる。
ドにおける第５ン１のステップ１００の処理の後に、Ｅ
ＥＰ ＲＯＭ ４１の全てのビットのプ′−りを消去す
る処理を付加しておけにＪｌ、ＩＣカードの検査に必要
な処理を一連の処理として全て終了させることができ、
さらに効率的な検査を行シーうことができる。
ところで、このＩＣカードに使用されるＥＥ、ＦＲＯＭ
においては、ブ゛−タ居込時に周込ｉ４ルスの供給を要
づる。そして、このときに供給すべき：ｊ１：込パルス
のパルス幅し、製品の什椋として規ンを値がシｉセめら
れており、この規別値よシパルス幅を狭くすると射込条
件が厳しくなシ、データの（Ｌｒ頼性（保存性）が低下
してゆくという特性がある。
においては、ブ゛−タ居込時に周込ｉ４ルスの供給を要
づる。そして、このときに供給すべき：ｊ１：込パルス
のパルス幅し、製品の什椋として規ンを値がシｉセめら
れており、この規別値よシパルス幅を狭くすると射込条
件が厳しくなシ、データの（Ｌｒ頼性（保存性）が低下
してゆくという特性がある。
そこで、この発明の一笑施秒１」としてｆｆ、ｉ！、
５ 図のステップ６０においてＥ Ｅ Ｐ ＲＯＭ ｌ
ｌ １に供給する書込パルスのパルス幅を上記した規定
値よシ所定値だけ狭くするようにしてもよい。
５ 図のステップ６０においてＥ Ｅ Ｐ ＲＯＭ ｌ
ｌ １に供給する書込パルスのパルス幅を上記した規定
値よシ所定値だけ狭くするようにしてもよい。
この９こ施例によれは、ＥＥＰ ＲＯＭのメツ上り機能
に対する検査基準が厳しくな９、製品の信頼性を商くす
ることができる上、検査処理が高速になシ検秀時間が炉
かくて済み、効率的な検査を行なうことができる。例え
ＶＪ１成るＥＥＰＲＯＭにおける１バイト当シの書込パ
ルスのパルス幅の規定値が１０ｍ５ｅｃで、そのメモリ
容筒が２ Ｋバイトであったとずれは、このＥＥＦＲＯ
Ｍの全バイトにデータを会き込むためには２０秒以上の
時間が必要になるが、上記したように１１１込パルスの
幅を短くし、ｌ ｍ Ｓｅｅとずオしは２秒程ＩＷの７
１込時間で済むことになｐ、その分、ＩＣカードの検査
に心太な時間を短編でも、検査時間を大幅に少くするこ
とができる。
に対する検査基準が厳しくな９、製品の信頼性を商くす
ることができる上、検査処理が高速になシ検秀時間が炉
かくて済み、効率的な検査を行なうことができる。例え
ＶＪ１成るＥＥＰＲＯＭにおける１バイト当シの書込パ
ルスのパルス幅の規定値が１０ｍ５ｅｃで、そのメモリ
容筒が２ Ｋバイトであったとずれは、このＥＥＦＲＯ
Ｍの全バイトにデータを会き込むためには２０秒以上の
時間が必要になるが、上記したように１１１込パルスの
幅を短くし、ｌ ｍ Ｓｅｅとずオしは２秒程ＩＷの７
１込時間で済むことになｐ、その分、ＩＣカードの検査
に心太な時間を短編でも、検査時間を大幅に少くするこ
とができる。
以上説明しブζように、本発明によれは、ＥＥＰＲＯＭ
を用いたＩＣカードにおいて、そのメモリの全てのピン
トに対するメモリ機能の検査ケ容易に、しかも比較的短
時間で行なうことができるから、従来技術の欠点を除き
、メモリの全てのピントを含めた機能についての検査が
充分に行なわれ、Ｃ１−：１い信頼性を−りえることが
できるＩＣＣカードコロ−コスト提供することができる
。
を用いたＩＣカードにおいて、そのメモリの全てのピン
トに対するメモリ機能の検査ケ容易に、しかも比較的短
時間で行なうことができるから、従来技術の欠点を除き
、メモリの全てのピントを含めた機能についての検査が
充分に行なわれ、Ｃ１−：１い信頼性を−りえることが
できるＩＣＣカードコロ−コスト提供することができる
。
３１図はＩＣカードの一例を示す正面図、第２図はその
Ａ−Ａ線による断面図、第３図は同じくＥＥＰＲＯＭを
用いたＩＣモノニールのブロック図、第４図はＩＣカー
ドの検査処理の従来例を示−Ｊフローチャート、第５図
は本発明によるＩＣカードの一実施例における検査処理
を示すフローチャートである。 １・・・ＩＣカード、２・・・カード基体、３・・・凹
部、４・・・ＩＣモジュール、５・・・接点端子、４０
・・・マイクロコンピュータ、４１−ＥＥＰＲＯＭ、４
０１−ＣＰＵ、４０２−ＲＯＭ、４０３・ ＲＡＭ。 第１図 第２図 り 第３図 ５６ ５５ ５４ ５３ ５２ ５１
Ａ−Ａ線による断面図、第３図は同じくＥＥＰＲＯＭを
用いたＩＣモノニールのブロック図、第４図はＩＣカー
ドの検査処理の従来例を示−Ｊフローチャート、第５図
は本発明によるＩＣカードの一実施例における検査処理
を示すフローチャートである。 １・・・ＩＣカード、２・・・カード基体、３・・・凹
部、４・・・ＩＣモジュール、５・・・接点端子、４０
・・・マイクロコンピュータ、４１−ＥＥＰＲＯＭ、４
０１−ＣＰＵ、４０２−ＲＯＭ、４０３・ ＲＡＭ。 第１図 第２図 り 第３図 ５６ ５５ ５４ ５３ ５２ ５１
Claims (1)
- （１）データ格納用のＥＥＦＲＯＭと、このＥＥＰＲＯ
Ｍに対するデータの七込み、読出し及び消去を制御する
ためのマイクロコンピュータとを備えたＩＣカードにお
いて、外部からの命令入力に応答し、上記Ｅ Ｅ Ｐ
’ＲＯＭのメモリ領域全体を対象としたテストデータの
書込処理と、この層、込処理による書込結果の検査処理
と、外部に対する検査結果の出力処理とを逐次実行する
機能を上記マイクロコンピュータに設げ、上記ＥＥＰＲ
ＯＭのメモリ機能に対するテスト処理が全てＩＣカード
内で実行されるように構成したことを特徴とするＩＣカ
ード。 伐）特許請求の範囲第（１）項において、上記ＥＥＰＲ
ＯＭのメモリ領域全体を対象としたテストテ′−夕の書
込処理における裾込パルスのパルス幅が、このＥＥＰＲ
ＯＭの通常のデータ書込時に必要な書込ノｆルスのパル
ス幅よシ所定値だけ狭くなるように構成したことを特徴
とするＩＣカード。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58108540A JPS603082A (ja) | 1983-06-18 | 1983-06-18 | Ｉｃカ−ド |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58108540A JPS603082A (ja) | 1983-06-18 | 1983-06-18 | Ｉｃカ−ド |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS603082A true JPS603082A (ja) | 1985-01-09 |
| JPH053634B2 JPH053634B2 (ja) | 1993-01-18 |
Family
ID=14487404
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58108540A Granted JPS603082A (ja) | 1983-06-18 | 1983-06-18 | Ｉｃカ−ド |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS603082A (ja) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6243791A (ja) * | 1985-08-20 | 1987-02-25 | Mitsubishi Electric Corp | Ｉｃカ−ド |
| JPS62289023A (ja) * | 1986-04-22 | 1987-12-15 | エヌ・ブイ・ネ−デルランドシエ アパラ−テンフアブリ−ク エヌ イ− デ− エ− ピ− | 電磁式識別用応答機 |
| JPS62296287A (ja) * | 1986-06-17 | 1987-12-23 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Ｉｃカ−ド |
| JPS63100587A (ja) * | 1986-10-16 | 1988-05-02 | Diesel Kiki Co Ltd | Ｉｃカ−ドの挿入検出方法 |
| JPH06282702A (ja) * | 1993-03-24 | 1994-10-07 | Dainippon Printing Co Ltd | Ｃｐｕを内蔵した情報記録媒体 |
| US5365045A (en) * | 1990-06-07 | 1994-11-15 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Portable electric device |
| WO2000011489A1 (fr) * | 1998-08-19 | 2000-03-02 | Hitachi, Ltd. | Procede de fabrication de cartes de circuits integres (ci) |
| US6981179B1 (en) | 1999-04-23 | 2005-12-27 | Sharp Kabushiki Kaisha | Microcomputer having built-in nonvolatile memory and check system thereof and IC card packing microcomputer having built-in nonvolatile memory and check system thereof |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP7113572B1 (ja) * | 2022-02-02 | 2022-08-05 | 株式会社 Toshin | 水道メータの流量読取装置の保持具 |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5564699A (en) * | 1978-11-09 | 1980-05-15 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Semiconductor integrated-circuit memory |
| JPS5638651A (en) * | 1979-07-02 | 1981-04-13 | Cii | Portable data carrier |
| JPS5638650A (en) * | 1979-04-25 | 1981-04-13 | Cii | Data delete device |
| JPS57161951A (en) * | 1981-03-30 | 1982-10-05 | Mitsubishi Electric Corp | Control device with memory diagnostic function |
-
1983
- 1983-06-18 JP JP58108540A patent/JPS603082A/ja active Granted
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5564699A (en) * | 1978-11-09 | 1980-05-15 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Semiconductor integrated-circuit memory |
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| JPS57161951A (en) * | 1981-03-30 | 1982-10-05 | Mitsubishi Electric Corp | Control device with memory diagnostic function |
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6243791A (ja) * | 1985-08-20 | 1987-02-25 | Mitsubishi Electric Corp | Ｉｃカ−ド |
| JPS62289023A (ja) * | 1986-04-22 | 1987-12-15 | エヌ・ブイ・ネ−デルランドシエ アパラ−テンフアブリ−ク エヌ イ− デ− エ− ピ− | 電磁式識別用応答機 |
| JPS62296287A (ja) * | 1986-06-17 | 1987-12-23 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Ｉｃカ−ド |
| JPS63100587A (ja) * | 1986-10-16 | 1988-05-02 | Diesel Kiki Co Ltd | Ｉｃカ−ドの挿入検出方法 |
| JPH0532795B2 (ja) * | 1986-10-16 | 1993-05-17 | Zexel Corp | |
| US5365045A (en) * | 1990-06-07 | 1994-11-15 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Portable electric device |
| JPH06282702A (ja) * | 1993-03-24 | 1994-10-07 | Dainippon Printing Co Ltd | Ｃｐｕを内蔵した情報記録媒体 |
| WO2000011489A1 (fr) * | 1998-08-19 | 2000-03-02 | Hitachi, Ltd. | Procede de fabrication de cartes de circuits integres (ci) |
| US6615390B1 (en) * | 1998-08-19 | 2003-09-02 | Hitachi, Ltd. | Method of manufacturing IC cards |
| US6981179B1 (en) | 1999-04-23 | 2005-12-27 | Sharp Kabushiki Kaisha | Microcomputer having built-in nonvolatile memory and check system thereof and IC card packing microcomputer having built-in nonvolatile memory and check system thereof |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH053634B2 (ja) | 1993-01-18 |
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