JPH01118933A - シングルチップマイクロコンピュータ - Google Patents
シングルチップマイクロコンピュータInfo
- Publication number
- JPH01118933A JPH01118933A JP62276097A JP27609787A JPH01118933A JP H01118933 A JPH01118933 A JP H01118933A JP 62276097 A JP62276097 A JP 62276097A JP 27609787 A JP27609787 A JP 27609787A JP H01118933 A JPH01118933 A JP H01118933A
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- Japan
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- chip microcomputer
- eeprom
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- 230000015654 memory Effects 0.000 claims description 23
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 10
- 230000006870 function Effects 0.000 description 4
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 241000270295 Serpentes Species 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- PWPJGUXAGUPAHP-UHFFFAOYSA-N lufenuron Chemical compound C1=C(Cl)C(OC(F)(F)C(C(F)(F)F)F)=CC(Cl)=C1NC(=O)NC(=O)C1=C(F)C=CC=C1F PWPJGUXAGUPAHP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000014759 maintenance of location Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
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Landscapes
- Storage Device Security (AREA)
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
- Microcomputers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、シングルチップマイクロコンピュータ（以下
、シングルチップマイコンと記す）に関する。より詳細
には、読み出し専用不揮発性メモリーと、読み出し並び
に電気的な書込み消去が可能な不揮発性メモリーとを内
蔵したシングルチップマイコンにおいて、特に内蔵され
た読み出し専用不揮発性メモリーの記憶内容の検査方法
に関する。
、シングルチップマイコンと記す）に関する。より詳細
には、読み出し専用不揮発性メモリーと、読み出し並び
に電気的な書込み消去が可能な不揮発性メモリーとを内
蔵したシングルチップマイコンにおいて、特に内蔵され
た読み出し専用不揮発性メモリーの記憶内容の検査方法
に関する。
従来の技術
従来、この種のシングルチップマイコンでは、内蔵する
読み出し専用の不揮発性メモリー（以下、ＲＯＭ（ＲＥ
ＡＤ ０ＮＲＹ ＭεＭＯＲＹ）と記す）の記憶内容を
製造後に検査する（ＲＯＭコード掃き出しと呼ばれる）
為に、外部端子にＲＯＭの記憶内容を出力する手段を備
えている。
読み出し専用の不揮発性メモリー（以下、ＲＯＭ（ＲＥ
ＡＤ ０ＮＲＹ ＭεＭＯＲＹ）と記す）の記憶内容を
製造後に検査する（ＲＯＭコード掃き出しと呼ばれる）
為に、外部端子にＲＯＭの記憶内容を出力する手段を備
えている。
即ち、シングルチップマイコンに内蔵されているＲＯＭ
の記憶容量は一般に数にバイト程度であるが、ＲＯＭに
格納されている全アドレスの記憶内容が、所望の記憶内
容と相異なく製造されているか否かを、ウェハー状態、
パッケージ状態といった製造過程の各段階で検査してい
る。そこで、この検査を容易におこなうために、外部に
特定の端子を設け、この特定端子を操作することで内蔵
のＲＯＭの記憶内容を外部端子に出力する機能を有して
いることが通例である。この特定端子は他の目的の端子
と複合されて設けられることもあるが、通常はユーザに
対して機能を公開することは少なく、単に製造時の検査
機能についてのみ使用されることが多い。
の記憶容量は一般に数にバイト程度であるが、ＲＯＭに
格納されている全アドレスの記憶内容が、所望の記憶内
容と相異なく製造されているか否かを、ウェハー状態、
パッケージ状態といった製造過程の各段階で検査してい
る。そこで、この検査を容易におこなうために、外部に
特定の端子を設け、この特定端子を操作することで内蔵
のＲＯＭの記憶内容を外部端子に出力する機能を有して
いることが通例である。この特定端子は他の目的の端子
と複合されて設けられることもあるが、通常はユーザに
対して機能を公開することは少なく、単に製造時の検査
機能についてのみ使用されることが多い。
発明が解決しようとする問題点
ところが、上述のような従来のシングルチップマイコン
は、内蔵するＲＯＭの記憶内容を検査する手段として外
部へＲＯＭの記憶内容を出力する手段を備えているため
に、一方でＲＯＭの記憶内容の機密保持性が非常に悪い
という欠点がある。
は、内蔵するＲＯＭの記憶内容を検査する手段として外
部へＲＯＭの記憶内容を出力する手段を備えているため
に、一方でＲＯＭの記憶内容の機密保持性が非常に悪い
という欠点がある。
また、上述した従来のシングルチップマイコンを端子数
の少ないパッケージに封入したためにＲＯＭの出力コー
ドを同時に出力する端子数が足りない場合、あるいはＲ
ＯＭコード出力用に使用できない場合、１アドレスの出
力を数回に分けて外部へ出力して照合することになるの
で、非常に作業効率が悪く、またそのための回路を付加
しなければならないという欠点がある。
の少ないパッケージに封入したためにＲＯＭの出力コー
ドを同時に出力する端子数が足りない場合、あるいはＲ
ＯＭコード出力用に使用できない場合、１アドレスの出
力を数回に分けて外部へ出力して照合することになるの
で、非常に作業効率が悪く、またそのための回路を付加
しなければならないという欠点がある。
そこで、本発明の目的は、上述のような従来技術の問題
点を解決し、ＲＯＭの内容の検査が可能でありながら、
その機密を維持すると共に、より検査作業の効率が高く
なるような、新規な構成のシングルチップマイコンを提
供することにある。
点を解決し、ＲＯＭの内容の検査が可能でありながら、
その機密を維持すると共に、より検査作業の効率が高く
なるような、新規な構成のシングルチップマイコンを提
供することにある。
問題点を解決するための手段
即ち、本発明に従い、読み出し専用の第１不揮発性メモ
リーと、読み出し並びに電気的な書込み消去が可能な第
２不揮発性メモリーと、該第１並びに第２の不揮発性メ
モリーの内容を対照して、その一致または不一致を検出
する比較器とを内蔵したシングルチップマイクロコンビ
二一夕であって、該第２不揮発性メモリーは、該シング
ルチップマイクロコンピュータ自身の動作あるいは該シ
ングルチップマイクロコンピュータの外部からの所定の
操作により特定の内容を書き込まれ、前記比較器によっ
て、該第１の不揮発性メモリーの記憶内容と上記第２不
揮発性メモリーの記憶内容とを該シングルチップマイク
ロコンピュータの内部で比較し、該比較結果のみを外部
へ出力することによって、記憶内容を外部に出力するこ
となく該第１不揮発性メモリの記憶内容を検査すること
ができることを特徴とするシングルチップマイクロコン
ピュータが提供される。
リーと、読み出し並びに電気的な書込み消去が可能な第
２不揮発性メモリーと、該第１並びに第２の不揮発性メ
モリーの内容を対照して、その一致または不一致を検出
する比較器とを内蔵したシングルチップマイクロコンビ
二一夕であって、該第２不揮発性メモリーは、該シング
ルチップマイクロコンピュータ自身の動作あるいは該シ
ングルチップマイクロコンピュータの外部からの所定の
操作により特定の内容を書き込まれ、前記比較器によっ
て、該第１の不揮発性メモリーの記憶内容と上記第２不
揮発性メモリーの記憶内容とを該シングルチップマイク
ロコンピュータの内部で比較し、該比較結果のみを外部
へ出力することによって、記憶内容を外部に出力するこ
となく該第１不揮発性メモリの記憶内容を検査すること
ができることを特徴とするシングルチップマイクロコン
ピュータが提供される。
作用
本発明によるシングルチップマイコンはＲＯＭと内蔵の
読み出し及び電気的な書込み消去の可能な不揮発性メモ
リー（以下、Ｅ Ｅ Ｐ ＲＯＭ（ＥＬＥＣＴＲＩＣＡ
ＬＬＹ 巳ＲＡＳＡＢＬε ＡＮロ ＰＲＯＧＲＡＭ
ＭＡＢＬＢ ＲＯＭ） と記す）とを内蔵し、このＥ
ＥＰＲＯＭがシングルチップマイコン自身の動作により
書込み消去され、またシングルチップマイコン外部から
の操作、命令の実行によっても書込み消去が可能であり
、内蔵しているＲＯＭの出力内容と内蔵しているＥＥＰ
ＲＯＭの出力内容とをシングルチップマイコン内部で比
較、照合し、この比較、照合結果を外部へ出力する手段
を備えている。
読み出し及び電気的な書込み消去の可能な不揮発性メモ
リー（以下、Ｅ Ｅ Ｐ ＲＯＭ（ＥＬＥＣＴＲＩＣＡ
ＬＬＹ 巳ＲＡＳＡＢＬε ＡＮロ ＰＲＯＧＲＡＭ
ＭＡＢＬＢ ＲＯＭ） と記す）とを内蔵し、このＥ
ＥＰＲＯＭがシングルチップマイコン自身の動作により
書込み消去され、またシングルチップマイコン外部から
の操作、命令の実行によっても書込み消去が可能であり
、内蔵しているＲＯＭの出力内容と内蔵しているＥＥＰ
ＲＯＭの出力内容とをシングルチップマイコン内部で比
較、照合し、この比較、照合結果を外部へ出力する手段
を備えている。
従って、前述した従来のシングルチップマイコンに対し
、本発明に従うシングルチップマイコンは、ＥＥＰＲＯ
Ｍに正しいＲＯＭの記憶内容を外部から書込み、シング
ルチップマイコン内部で、ＲＯＭの記憶内容と照合する
ことによって検査を実行するという独創的機能を有して
いる。
、本発明に従うシングルチップマイコンは、ＥＥＰＲＯ
Ｍに正しいＲＯＭの記憶内容を外部から書込み、シング
ルチップマイコン内部で、ＲＯＭの記憶内容と照合する
ことによって検査を実行するという独創的機能を有して
いる。
実施例
以下に図面を参照して本発明をより具体滴に説明するが
、以下に開示するものは本発明の−実施例に過ぎず、本
発明の技術的内容を何ら制限するものではない。
、以下に開示するものは本発明の−実施例に過ぎず、本
発明の技術的内容を何ら制限するものではない。
第１図は、本発明に従って構成されたシングルチップマ
イコンの構成を示すブロック図である。
イコンの構成を示すブロック図である。
このシングルチップマイコンは、ＲＯＭ１０１並びにＥ
ＥＰＲＯＭ１０２を内蔵しており、ＣＰ Ｕ１１２及び
プログラムカウンタ１１３に、比較回路１０３が付加さ
れて構成されている。尚、ＲＯＭＩＯＩのワード長並び
に記憶容量は、ＥＥＰＲＯＭ１０２のワード長並びに記
憶容量と等しく構成されている。
ＥＰＲＯＭ１０２を内蔵しており、ＣＰ Ｕ１１２及び
プログラムカウンタ１１３に、比較回路１０３が付加さ
れて構成されている。尚、ＲＯＭＩＯＩのワード長並び
に記憶容量は、ＥＥＰＲＯＭ１０２のワード長並びに記
憶容量と等しく構成されている。
通常の動作では、プログラムカウンタ１１３がＲＯＭｌ
０Ｉ にアドレス信号１１４を出力し、ＲＯＭｌ０Ｉは
これを受けて該当アドレスの記憶内容１１５をＣＰＵ１
１２へ出力し、ＣＰ Ｕ１１２はこれを命令またはデー
タとして受は取る。尚、ここでは、ＥＥＰＲＯＭ２Ｏ３
はＣＰ Ｕ１１２によって制御され、不揮発性のＲＡ
Ｍ（ＲＡＮＤＯＭ ＡＣＣＥＳＳ ＭεＭＯＲＹ）とし
て使用され、ＣＰＵとの間でデータの入出力が可能であ
る。また、ＥＥＦＲＯＭ１０２は外部からも直接制御で
き、アドレス入力端子１０４からアドレス信号を、デー
タ入力端子１０５からデータ信号を、制御端子１０６か
ら書込みあるいは消去信号を入力することによって、任
意のアドレスにデータを書込むことや消去することが可
能である。尚、一般にＥＥＰＲＯＭ内蔵のシングルチッ
プマイコンでは、ＥＥＰＲＯＭの検査を容易に実施でき
るように、外部から直接書込みおよび消去を操作できる
ように構成されている。
０Ｉ にアドレス信号１１４を出力し、ＲＯＭｌ０Ｉは
これを受けて該当アドレスの記憶内容１１５をＣＰＵ１
１２へ出力し、ＣＰ Ｕ１１２はこれを命令またはデー
タとして受は取る。尚、ここでは、ＥＥＰＲＯＭ２Ｏ３
はＣＰ Ｕ１１２によって制御され、不揮発性のＲＡ
Ｍ（ＲＡＮＤＯＭ ＡＣＣＥＳＳ ＭεＭＯＲＹ）とし
て使用され、ＣＰＵとの間でデータの入出力が可能であ
る。また、ＥＥＦＲＯＭ１０２は外部からも直接制御で
き、アドレス入力端子１０４からアドレス信号を、デー
タ入力端子１０５からデータ信号を、制御端子１０６か
ら書込みあるいは消去信号を入力することによって、任
意のアドレスにデータを書込むことや消去することが可
能である。尚、一般にＥＥＰＲＯＭ内蔵のシングルチッ
プマイコンでは、ＥＥＰＲＯＭの検査を容易に実施でき
るように、外部から直接書込みおよび消去を操作できる
ように構成されている。
上述のように構成された、本発明に係るシングルチップ
マイコンにおいて、ＲＯＭ１０１の記憶内−容を検査す
る場合は、まず正しいＲＯＭの記憶内容を外部端子から
ＥＥＰＲＯＭ１０２へ順次書込み、入出力端子１０７か
ら比較要求信号を人力してテストモード状態とする。比
較回路１０３ は、アドレス信号１０８を生成し、ＲＯ
ＭＩＯＩとＥＥＰＲＯＭ１０２の双方に出力要求信号１
０９を出して、双方の出力コード１１０と１１１ とを
順次比較、照合する。こうして、ＲＯＭの内容がＥＥＰ
ＲＯＭの内容と一致しているかどうかを検査することが
できる。尚、比較結果は、入出力端子１０７から出力し
て、外部にて検査結果を知ることができるように構成す
ることが好ましい。
マイコンにおいて、ＲＯＭ１０１の記憶内−容を検査す
る場合は、まず正しいＲＯＭの記憶内容を外部端子から
ＥＥＰＲＯＭ１０２へ順次書込み、入出力端子１０７か
ら比較要求信号を人力してテストモード状態とする。比
較回路１０３ は、アドレス信号１０８を生成し、ＲＯ
ＭＩＯＩとＥＥＰＲＯＭ１０２の双方に出力要求信号１
０９を出して、双方の出力コード１１０と１１１ とを
順次比較、照合する。こうして、ＲＯＭの内容がＥＥＰ
ＲＯＭの内容と一致しているかどうかを検査することが
できる。尚、比較結果は、入出力端子１０７から出力し
て、外部にて検査結果を知ることができるように構成す
ることが好ましい。
尚、上述のような操作は、初めてＲＯＭの記憶内容の検
査を実施する場合についてのものであり、特にＥＥＰＲ
ＯＭ１０２の内容を変えない限り、磁界から比較要求信
号を人力するだけでＲＯＭの記憶内容の再検査すること
ができる。
査を実施する場合についてのものであり、特にＥＥＰＲ
ＯＭ１０２の内容を変えない限り、磁界から比較要求信
号を人力するだけでＲＯＭの記憶内容の再検査すること
ができる。
また、このような本発明に従って構成されたシングルチ
ップマイコンでは、端子数の少ないパッケージに封入す
る場合でも、上述のようなテストをウェハ状態での最後
の検査として実施し１．Ｇツケージに封入した状態では
端子１０４．１０５．１０６を外部端子に接続すること
なく使用することができる。即ち、このシングルチップ
マイコンは、入力端子１０７から比較要求信号を人力す
るだけで検査を実施することができる。
ップマイコンでは、端子数の少ないパッケージに封入す
る場合でも、上述のようなテストをウェハ状態での最後
の検査として実施し１．Ｇツケージに封入した状態では
端子１０４．１０５．１０６を外部端子に接続すること
なく使用することができる。即ち、このシングルチップ
マイコンは、入力端子１０７から比較要求信号を人力す
るだけで検査を実施することができる。
発明の詳細
な説明したように、本発明によ、って提供されるシング
ルチップマイクロコンピュータは、ＥＥＦＲＯＭに書き
込んだ正しいデータをシングルチップマイコン内部で内
蔵ＲＯＭの記憶内容と照合検査することにより、検査信
号を人力するだけで容易に内蔵ＲＯＭの記憶内容の検査
を実施できる。
ルチップマイクロコンピュータは、ＥＥＦＲＯＭに書き
込んだ正しいデータをシングルチップマイコン内部で内
蔵ＲＯＭの記憶内容と照合検査することにより、検査信
号を人力するだけで容易に内蔵ＲＯＭの記憶内容の検査
を実施できる。
また、上述のような検査に際してＲＯＭの記憶内容が外
部へ出力されないので、内蔵ＲＯＭの記憶内容を有効に
機密保持することができる。
部へ出力されないので、内蔵ＲＯＭの記憶内容を有効に
機密保持することができる。
更に、１度ＥＥＰＲＯＭへ正しいＲＯＭの記憶内容を書
込んでおけば、ＥＥＰＲＯＭの内容を特に書き換えない
限り、次回からの検査及び再検査゛は、ＥＥＰＲＯＭに
既に書込まれている内容を参照して実行することができ
る。即ち、１度つエノ１状態で検査を実施すれば、端子
数の少ないパッケージに封入した後でも容易に検査がで
きる。
込んでおけば、ＥＥＰＲＯＭの内容を特に書き換えない
限り、次回からの検査及び再検査゛は、ＥＥＰＲＯＭに
既に書込まれている内容を参照して実行することができ
る。即ち、１度つエノ１状態で検査を実施すれば、端子
数の少ないパッケージに封入した後でも容易に検査がで
きる。
また更に、ＥＥＰＲＯＭへ正しいＲＯＭの記憶内容を書
込んだ後に高温保管を行えば、データ保持検査の加速試
験を行うこともできる。
込んだ後に高温保管を行えば、データ保持検査の加速試
験を行うこともできる。
第１図は、本発明に従って構成されたシングルチツブマ
イクロコンピュータの構成を模式的に示すブロック図で
ある。 〔主な参照番号〕 １００ ・・・シングルチップマイコン、１０１
・・・ＲＯＭ、１０２ ・・・ＥＥＰＲＯＭ１０３
・・・比較回路、 １０４ ・・・ＥＥＰＲＯＭアドレス入力端子、１０
５ ・・・ＥＥＰＲＯＭデータ入力端子、１０６
・・・ＥＥＰＲＯＭ制御端子、１０７ ・・・入出力
端子、１０８ ・・・アドレス信号、１０９ ・・
・出力要求信号、 １１０．１１５ ・ ・・ＲＯＭ出力コード、１１１
・・・ＥＥＰＲＯＭ出力コード、１１２ ・・・
ＣＰＵ。 １１３ ・・・プログラムカウンタ、１１４ ・・
・アドレス信号、 １１６ ・・・ＥＥＰＲＯＭへの書込みデータ及び読
み出しデータ
イクロコンピュータの構成を模式的に示すブロック図で
ある。 〔主な参照番号〕 １００ ・・・シングルチップマイコン、１０１
・・・ＲＯＭ、１０２ ・・・ＥＥＰＲＯＭ１０３
・・・比較回路、 １０４ ・・・ＥＥＰＲＯＭアドレス入力端子、１０
５ ・・・ＥＥＰＲＯＭデータ入力端子、１０６
・・・ＥＥＰＲＯＭ制御端子、１０７ ・・・入出力
端子、１０８ ・・・アドレス信号、１０９ ・・
・出力要求信号、 １１０．１１５ ・ ・・ＲＯＭ出力コード、１１１
・・・ＥＥＰＲＯＭ出力コード、１１２ ・・・
ＣＰＵ。 １１３ ・・・プログラムカウンタ、１１４ ・・
・アドレス信号、 １１６ ・・・ＥＥＰＲＯＭへの書込みデータ及び読
み出しデータ
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 続み出し専用の第１不揮発性メモリーと、読み出し並
びに電気的な書込み消去が可能な第２不揮発性メモリー
と、該第１並びに第２の不揮発性メモリーの内容を対照
して、その一致または不一致を検出する比較器とを内蔵
したシングルチップマイクロコンピュータであって、 該第２不揮発性メモリーは、該シングルチップマイクロ
コンピュータ自身の動作あるいは該シングルチップマイ
クロコンピュータの外部からの所定の操作により特定の
内容を書き込まれ、前記比較器によって、該第１の不揮
発性メモリーの記憶内容と上記第２不揮発性メモリーの
記憶内容とを該シングルチップマイクロコンピュータの
内部で比較し、該比較結果のみを外部へ出力することに
よって、記憶内容を外部に出力することなく該第１不揮
発性メモリの記憶内容を検査することができることを特
徴とするシングルチップマイクロコンピュータ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62276097A JPH01118933A (ja) | 1987-10-31 | 1987-10-31 | シングルチップマイクロコンピュータ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62276097A JPH01118933A (ja) | 1987-10-31 | 1987-10-31 | シングルチップマイクロコンピュータ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01118933A true JPH01118933A (ja) | 1989-05-11 |
Family
ID=17564757
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62276097A Pending JPH01118933A (ja) | 1987-10-31 | 1987-10-31 | シングルチップマイクロコンピュータ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01118933A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04134800A (ja) * | 1990-09-26 | 1992-05-08 | Yamaha Corp | メモリテスト回路 |
| JP2006505798A (ja) * | 2002-04-30 | 2006-02-16 | フリースケール セミコンダクター インコーポレイテッド | 機密保護走査試験のための方法および装置 |
| US7961530B2 (en) | 2008-06-19 | 2011-06-14 | Fujitsu Semiconductor Limited | Semiconductor device including nonvolatile memory |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5717063A (en) * | 1980-07-04 | 1982-01-28 | Mitsubishi Electric Corp | Test circuit of microcomputer |
| JPS6097449A (ja) * | 1983-10-31 | 1985-05-31 | Nec Corp | 読み出し専用メモリを有する情報処理装置 |
-
1987
- 1987-10-31 JP JP62276097A patent/JPH01118933A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5717063A (en) * | 1980-07-04 | 1982-01-28 | Mitsubishi Electric Corp | Test circuit of microcomputer |
| JPS6097449A (ja) * | 1983-10-31 | 1985-05-31 | Nec Corp | 読み出し専用メモリを有する情報処理装置 |
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| JPH04134800A (ja) * | 1990-09-26 | 1992-05-08 | Yamaha Corp | メモリテスト回路 |
| JP2006505798A (ja) * | 2002-04-30 | 2006-02-16 | フリースケール セミコンダクター インコーポレイテッド | 機密保護走査試験のための方法および装置 |
| US7725788B2 (en) | 2002-04-30 | 2010-05-25 | Freescale Semiconductor, Inc. | Method and apparatus for secure scan testing |
| US7961530B2 (en) | 2008-06-19 | 2011-06-14 | Fujitsu Semiconductor Limited | Semiconductor device including nonvolatile memory |
| US7983096B2 (en) | 2008-06-19 | 2011-07-19 | Fujitsu Semiconductor Limited | Semiconductor device including nonvolatile memory |
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