JPS6129948A - 複合処理装置のインタ−フエ−ス・テスト方式 - Google Patents

複合処理装置のインタ−フエ−ス・テスト方式

Info

Publication number
JPS6129948A
JPS6129948A JP14942084A JP14942084A JPS6129948A JP S6129948 A JPS6129948 A JP S6129948A JP 14942084 A JP14942084 A JP 14942084A JP 14942084 A JP14942084 A JP 14942084A JP S6129948 A JPS6129948 A JP S6129948A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
command
control
processing unit
program
processing device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP14942084A
Other languages
English (en)
Inventor
Masahiro Kitano
北野 昌宏
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP14942084A priority Critical patent/JPS6129948A/ja
Publication of JPS6129948A publication Critical patent/JPS6129948A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/2205Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested
    • G06F11/2221Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested to test input/output devices or peripheral units

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は複合処理装置における処理装置間のインターフ
ェース動作の自己テスト方式に関する。
〔発明の背景〕
CPUが複数の独立な処理装置の複合体として構成され
ている所謂複合処理装置では、処理装置間のインターフ
ェース動作を検証する場合、論理シミュレーションで全
ての機能をテストすることは困難である。、二の主な原
因は、シミュレーション範囲が莫大な規模となるためで
ある。従って、処理装置間のインターフェース動作のう
ち、CPUの命令処理とは直接関係ないオペレータ操作
保守員操作の機能については、実際の装置で検証するこ
とが多い。
一方、大型CPUの場合、上記操作機能は種類、内容共
にかなり複雑なものとなるため、一般には専用の制御処
理装置(一般にサービスプロセッサと呼ばれる)に内蔵
されたプログラムで実現される。従って、これらの操作
機能の検証を行う場合は、専用の制御処理装置の動作を
簡単に効率よく検証することが必要となる。
従来、かかる検証は、演算処理装置上で実行可能なテス
トプログラムによって行うか(例えば特   ゛開昭5
8−4 /1.55号公報)、或いは適当なツールを専
用制御装置に接続して実施していた。製品検査まで含め
て考慮し、た場合テストプログラムの方か操作性の点で
有利であり汎用性がある。しかし、従来のテストプログ
ラムによるテスト方法では、制御処理装置に対し、演算
処理装置から特殊な診断命令を用いてキーボードコード
などのテスト入力データをケ、え、演算処理装置を含め
てこのテスト入力データに従って動作をさせ、結果の一
部を演算処理装置から命令で読み出して期待値と比較し
ていたため、制御処理装置の動作、即ち。
演算処理装置との間のインタフェース動作を端的に検証
できない欠点があった。
〔発明の目的〕
本発明の目的は、演算処理装置と制御処理装置の間のイ
ンターフェース動作を、特別の外付はツールを用いず演
算処理装置上のプログラムで検証することを可能とする
自己テスト方式を提供することにある。
〔発明の概要〕 本発明は、演算処理装置とこれの運転制御等を支援する
制御処理装置とを含む複合処理装置において、演算処理
装置内にテストモードラッチを設け、該テストモートラ
ッチのセット条件下で、制御処理装置からのコマンドを
演算処理装置に対する通常モードでのコマンドとじては
扱わず、これにより制御処理装置からの動作内容を演算
処理装置上のプログラムで逐一検証することを可能とす
るものである。
〔発明の実施例〕
以下1本発明の一実施例を図面により詳細に説明する。
 。
第1図は、制御処理装置1.演算処理装置8゜主記憶装
置10から成る複合処理装置の例である。
制御処理装置1は、演算処理装置8に対しインターフェ
ース線2を通じて久タート、ストップ、リセット等のオ
ペレータ操作や、診断・保守・障害処理、構成変更の為
のサービス操作の指示及び演算処理装置8の状態監視を
行う。演算処理装置8は、またインターフェース線2を
通じて、構成制御命令・診断命令の実行や障害処理の要
求を制御処理装置1に送出する。通常、演算処理装置8
は主記憶装置IO内に格納されているプログラムを命令
処理部7がインターフェース線9を通して読み出し実行
する。命令処理部7は構成制御命令・診断命令など制御
処理装置lの支援を必要とする命令の実行の際、インタ
ーフェース線6を通して制御処理装置インターフェース
部5に要求を発行する。制御処理装置インターフェース
部5はこの要求を受は取ると、制御処理装置1との間で
定められた様式に前記要求の内容を変換し、インターフ
ェース線2を通して制御処理装置1に要求を転送する。
インターフェース線3および4は本発明により具備され
たものである。インターフェース線3は制御処理装置1
に対してプログラムから動作指示・外乱を与える為の手
段である。本実施例ではインターフェース線3は、制御
処理装置インターフェース部5に接続されているが、こ
れは本発明の本質ではない。演算処理装置8で実行され
るプログラムから制御処理装置1に対して上記の動作指
示・外乱を与えることができれば、他の実現方法でもよ
い。インターフェース線4は、制御処理装置1からイン
ターフェース線2を通して発行さ九たコマンドを制御処
理装置インターフェース部にて受は取った時、それを実
行せずに命令処理部7に対して外部割込を発行し、主記
憶装置10内のプログラムに直接コマンド内容を渡す為
のパスである。この動作は1通常運転時には制御処理装
置インターフェース部5内に設けられた後述のモードラ
ッチにてガードされており、テストプログラム実行時に
、命令または人手操作等の方法によって上記モードラッ
チがセットされた場合のみ有効となる。
第2図は演算処理装置内の制御処理装置インターフェー
ス部5を詳細に示したものである。第2図中、インター
フェース線21〜24は第1図の2に対応する。制御処
理装置lから発行されたコマンドコードはインターフェ
ース線21を通し、てコマンドレジスタ26に伝達され
、インターフェース線22によって制御処理装置1から
与えられるストローブ信号のトリガーパルスのタイミン
グでラッチされる。フリップフロップ30はテストモー
トラッチであり、命令処理部7からインターフェース線
6を通し・てテストモードセット/リセットの診断命令
が発行されると、制御部25によってセット/リセット
される。このモードラッチ30がセント状態の場合、ア
ンド回路28がオンし、アンド回路29はインバータ2
7を通じてオフとなる。これにより、インターフェース
線22のトリガーパルスは制御部25にグ、えられない
ため、制御処理装置lからのコマンドは制御部25に伝
わらず、アンド回路28.インターフェース線4を通し
、て直接命令処理部7に外部割込みが発せられる。命令
処理部はこの外部割込によって割込処理を始める。コマ
ンドレジスタ26の内容は。
制御部25の制御下でインターフェース線6を通し、診
断命令によって読み出される。また、センスデータを設
定する診断命令が命令処理部7から発行されると、イン
ターフェース線6を通して。
制御部25によってデータがセンスデータレジスタ31
に設定され、同時にフリップフロップ32がオンとなり
、インターフェース線24によって制御処理装置1にデ
ータが準備された事を報告する。制御処理装置1はこの
報告を受は取ると、センスデータレジスタ31の内容を
読み出す。フリップフロップ32は2セツトと同様に診
断命令によってリセットされる。
次に、第1図及び第2図の構成による自己テストの例と
して、制御処理装置1の持つ操作機能の1つであるrR
ESETJ動作をテストプログラムで自己テストする方
法を説明する。
制御処理装置1におけるrREsET」機能は。
キーボード上のキーをrRJ  rEJ  rSJ  
rEJrTJと連続して押す事により起動されるものと
する。このrRESETJ動作のフローチャートを第3
図に示す。まず、演算処理装置1をストップさせる為、
ストップコマンドを発行する(ステップ101)。次に
ストップ状態になったかどうかを確認する為センスコマ
ンドを発行しくステップ102)、センスデータが制御
処理装置インタフェース部5のセンスデータレジスタ3
1に準備されるのを待つ(ステップ103)。センスデ
ータカ宣曽備された事をインタフェース線24を通して
認識すると、センスデータをインタフェース線23を通
して読出し、続出終了コマンドを発行する(ステップ1
04)。センスデータの内容を調へ、演算処理装置がス
トップ状態になったかどうかを調べる(ステップ105
)。もしストップしていなければストップするまで待つ
為、センスコマンドを再度発行する(ステップ102)
、もしストップしていれば、リセットコマンドを発行す
る(ステップ106)。演算処理装置内のリセット処理
の終了はセンスデータによって認識さ九る。
従ってストップ状態の検出と同様にセンスコマンドによ
ってリセット終了を待ってrRE S E TJ処理終
了となる(ステップ107〜110)。
第4図及び第5図は制御処理装置lのrRE 5ETJ
機能を演算処理装置からテストする為のテストプログラ
ムのフローチャートを示す。テストプログラムは2つの
部分から成る。テストの開始と結果のチェックを行うメ
インプログラムと、制御処理装置から発行されるコマン
ドの蓄積と応答処理を行う割込処理プログラムである。
第4図はメインプログラム、第5図は割込処理プログラ
ムのフローチャートである。これらのプログラムは外部
記憶装置(図示せず)から主記憶装置10にロードされ
、演算処理装置8で実行される。
メインプログラムは、テストの開始にあたり診断命令を
発行し、インタフェース線6を通し、て制御処理装置イ
ンタフェース部5内のモードラッチ30をオンにしてテ
ストモードとする(ステップ201)。デス1〜モード
状態では制御処理装置Iからコマンドが発行されると、
そのトリガーは制御処理装置インタフェース部5を素通
りし、インタフェース線4により命令処理部7への割込
要因として直接伝えられる。次にメインプログラムは。
第5図の割込プログラムとのインタフェースの為の[テ
スト開始フラグ」をセットする(ステップ202)。こ
のフラグはテストが終了した時に割込プログラムがリセ
ットする。メインプログラムはこわらの前処理を行った
後、制4御処理装置lに対しrRESETJ機能の実行
を指示する為1診新命令によって文字列″R″″′E″
’ ”S” ”E″″” T ”を送出する(ステップ
203)。これらの文字列はインタフェース線3を通っ
て制御処理装[1に伝えられる。制御処理装置1は、こ
の文字列を受は取ると、通常のキー人力処理と同し様に
rRESETJ処理を開始する。メインプログラムはこ
の後、割込処理プログラムからテスト終了が報告される
までループする(ステップ204)。
一方、制御処理装置lは第3図に示すフローチャートに
従って処理を開始する。まず演算処理装置8に対するス
トップコマンドを発行する。前述の様に、テストモード
では制御処理装置1の発行したコマンドは制御処理装置
インタフェース部5では何も処理されず、単に割込とし
て命令処理部7に伝えられる。命令処理部7は、このス
トップコマンドによる割込を受取るとメインプログラム
−のループから抜け、第5図に示す割込処理プログラム
の実行を始める。
割込処理プログラムでは、まず1診断命令を発行し、制
御処理装置インタフェース部5内にあるコマンドレジス
タ26の内容を読み出す(ステップ301)。次に、読
み出し、たコマントコ−1−を主記憶装置10の特定エ
リアに時系列順にコマンドリストとして蓄積する(ステ
ップ302)。ストップコマンドの場合、割込処理プロ
グラムは読み出したコマンドコードを主記憶装置10に
蓄積するだけで処理終了となる。通常、演算処理装置8
は制御処理装置1に比べ十分速い為、制御処理装置1が
次のコマンドを発行する前に割込処理プログラムの処理
は終了し、再びメインプログラムのループに戻る。もし
次のコマンドの発行を割込処理プログラムの処理終了ま
で遅らせる必要があるならば、何らかのプロトコルを設
ければよい。
制御処理装置1はストップコマンドに続いて、センスコ
マンドを発行する。これはストップコマンドにより演算
処理装置がストップした事を確認する為である。このセ
ンスコマンドもストップコマンドと同様に命令処理部7
に対する割込要因となり、メインプログラム内のループ
から再び第5図の割込プログラムの実行に入る。割込処
理プログラムは、センスコマンドの場合は畦にコマンド
コードを蓄積するだけでなく、ス1−ツブ状態を示すセ
ンスデータを制御処理装置lに返す為に、センスデータ
をテーブルから取り出しくステップ30/I)1診断命
令を発行して制御処理装置インタフェース部5内のセン
スデータレジスタ31に値を設定し、フリップフロップ
32をオンとし7て処理終了となる(ステップ305)
。制御処理装置jはこのセンスデータによりストップし
たと判定しりセットコマンドを発行する。
以下同様にして、1つのコマンドm位に制御処理装置1
と割込処理プログラムの間のやり取りが続けられ、所定
の個数のコマンドを全て受は取ると、割込処理プログラ
ムは「テスト開始フラグ」をリセットする(ステップ3
06〜309)。このフラグのリセットにより、メイン
プログラムはループから抜は出し1割込処理プログラム
が蓄積したコマンドコードを調べ所定のコマンドを全て
受は取ったかどうかをチェックしくステップ205)、
最後に診断命令によってテストモードを解除する(ステ
ップ206)。
本実施例ではテストの終了条件を、受は取ったコマンド
の個数とし、これを割込プログラム内で判定したが、別
の方法1例えば最後のコマンドを受は取ったかどうか、
或いはキー人力でケ・えるなどの方法も考えられる。
また、rRESETJ以外の制御処理装置1の機能につ
いても、演算処理装置8に関するものはコマンドの列で
定義されている。従って第4図、第5図のアルゴリスム
を用いてテストが可能である。
〔発明の効果〕
本発明によれば、独立なプロセッサとして作られた演算
処理装置とその制御処理装置の間に定義された広範なイ
ンタフェース動作を、演算処理装置上で実行可能なプロ
グラムによって自動的に自己テストが可能となる。通常
、制御処理装置が演算処理装置に対し行う処理にはシス
テムリセット、イニシャルプログラムロート、イニシャ
ルマイクロプログラムロードなどの初期化機能や、障害
処理などかなり複雑な手順を必要とするものが多い。
本発明によればプログラムによって演算処理装置の内部
状態の変化を仮想的に実現する事が可能となり、制御処
理装置の持つインタフェース動作機能を個々の手順のレ
ベルで自動的にかつ経済的に検証が可能となる効果があ
る。また、制御処理装置力轡寅算処理装置以外の例えば
入出力処理装置などを同じインタフェースを用いて制御
する場合も。
同様のプログラムによる仮想化が可能であり、デバッグ
効率の向上、或いは制御処理装置側の動作検証を入出力
処理装置を実際には接続していない状態でも実施可能と
なる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図。 第2図は第1図の制御処理装置インタフェース部を詳細
に示した図、第3図は制御処理装置におけるrRESE
TJ機能の流れ図、第4図及び第5図は制御処理装置の
「RESET」機能を検証する為のテストプログラムの
メインプログラムと割込処理プログラムの流れ図である
。 1・・制御処理装置、  2,3,4,6.9・・・イ
ンタフェース線、  5・・・制御処理装置インタフェ
ース部、 7・・・命令処理部、 8・・・演算処理装
置、  10・・・主記憶装置、 21.22+23.
24・・・インタフニー\線、   26.27・・フ
リップフロップ、 25・・・制御部、  30・・テ
ストモードラッチ。 第2図 第3図 第4図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)演算処理装置とこれの運転制御等を支援する制御
    処理装置を具備する複合処理装置において、演算処理装
    置内にテストモードラッチを設け、該モードラッチがセ
    ットされた場合、制御処理装置から演算処理装置に発行
    されるコマンドを演算処理装置上の処理プログラムで処
    理可能とし、制御処理装置の動作内容を演算処理装置上
    のプログラムで検証することを特徴とする複合処理装置
    のインターフェース・テスト方式。
JP14942084A 1984-07-20 1984-07-20 複合処理装置のインタ−フエ−ス・テスト方式 Pending JPS6129948A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP14942084A JPS6129948A (ja) 1984-07-20 1984-07-20 複合処理装置のインタ−フエ−ス・テスト方式

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP14942084A JPS6129948A (ja) 1984-07-20 1984-07-20 複合処理装置のインタ−フエ−ス・テスト方式

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS6129948A true JPS6129948A (ja) 1986-02-12

Family

ID=15474720

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP14942084A Pending JPS6129948A (ja) 1984-07-20 1984-07-20 複合処理装置のインタ−フエ−ス・テスト方式

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS6129948A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0327450A (ja) * 1989-06-23 1991-02-05 Mitsubishi Electric Corp マイクロプロセッサ

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0327450A (ja) * 1989-06-23 1991-02-05 Mitsubishi Electric Corp マイクロプロセッサ

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0111952B1 (en) Verification of a processor architecture having a partial instruction set
JPS6129948A (ja) 複合処理装置のインタ−フエ−ス・テスト方式
JP2796041B2 (ja) 入出力装置の診断方法
JPS6248872B2 (ja)
JPS6072039A (ja) マルチタスクプログラムの正常動作監視方法
JPS62139050A (ja) 保守診断処理装置管理による命令試験方式
JP2684966B2 (ja) 入出力処理装置のデバッグ装置
JPS6250858B2 (ja)
JPS60254251A (ja) デバツク方式
JPS6370346A (ja) テストプログラム制御方式
JPS6265143A (ja) 障害信号発生方式
JPS5856021A (ja) タ−ミナル診断方式
JPH1083316A (ja) マルチcpuシステム
JPH11102309A (ja) デバッグ装置とプロセッサと記録媒体
JPH0553934A (ja) バスライン監視方式
JPS62175838A (ja) シフトアウト・デ−タの収集方式
JPH07271608A (ja) 割込み発生回路
JPH02122335A (ja) Ras回路の試験方法
JPS593559A (ja) マイクロプログラム制御装置の診断方式
JPS6167146A (ja) 擬似障害発生方式
JPH01189739A (ja) 情報収集装置
JPH05173829A (ja) エラー発生方法
JPS62126443A (ja) シミユレ−タによる試験実行方式
JPH09293000A (ja) インサーキットエミュレータ装置
JPH0355640A (ja) 周辺制御装置の障害解析情報採取方式