JPS6370346A - テストプログラム制御方式 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔（既要〕 本発明は、計算殿システムをテストするテストプログラ
ムにおけるデータの入出力をチャネル経由、サービスプ
ロセッサ（ＳＶＰ）ＫＥＹ山の２方向から可能とするテ
ストプログラム制御方式であっ°ご、 サービスプロセンサ経由でデータの入出力を行うサービ
スプロセッサ（ＳＶＰ）入出力制御部と、チャネル経由
でデータの入出力を行うチャネル入出力制御部と、上記
ｓｖｐ入出力制御部とチャネル入出力制御部とをサービ
スプロセッサからの指令により切換える切換手段とを設
けたものである。

〔産業上の利用分野〕

本発明は、テストプログラム制御方式の改良に関する。

計ｚ’ｒ　ｔｘシステムのテストは、システム構築中に
も順次遂行され、チャネル装置が設置されるまではテス
トプログラムの本体装置への入力および実行結果の出力
はｓｖｐ経由で行われる。

し・かじ、ＳＶＰ経由のデータ入出力はチャネル経由と
比較して処理速変が遅く、チャネル装置が設置された段
階ではチャネル経由で前記入出力が行われる。

テストプログラムには制御部（モニタ）が設けられてお
り、このモニタが中央処理装置（本体装置）にロードさ
れてテストモジュールの入力、実行結果の出力等を制御
するように構成されているため、データの入出力がＳＶ
Ｐ経由かチャネル経由かにより同じ目的のテストプログ
ラムが２種類必要となる。

このため、プログラム作成、デバッグ等に費やす時間が
長くなるという問題点があり、これを解決したテストプ
ログラム制御方式が求められている。

〔従来の技術〕

以下第３図を参照しつつ、従来のテストプログラム制御
方式を説明する。

第３図（ａｌは従来のテストシステム説明図、第３図（
′ｂ）はテストプログラム構成図である。

第３図（ａ）において、 １は、プロセッサ２．メモリ３等を備えるテスト対象の
中央処理装置（本体装置）、 ４はサービスプロセッサＳＶＰであって、計算機システ
ムの制御、監視、保守等の機能を備えるとともに、入力
装置５および出力装置６が接続されるもの、 ７はチャネル装置であり、入力装置８および出力装置９
が接続されるもの、 である。

上記構成の計算機システムにおいて、本体装置１のテス
トを行うために、前述したように、Ｓ■Ｐ経由で入出力
制御するテストプログラム５０ａと、チャネル装置７経
由（以下チャネル経由）で入出力制御するテストプログ
ラム５０ｂが作成される。

テストプログラム５０ａ、５０ｂは、第３図（ｂｌに示
すように、それぞれ制御部（モニタ）５１と・各種テス
トモジュール（Ａ　−’　Ｎ　”）と、入出力制御部５
２とで構成されており、５ＶＰ４からの操作でモニタ５
１をメモリ３にロードした後、テストモジュール（Ａ−
Ｎ）名を選択入力すると、モニタ５１により、選択され
たテストモジュールＭが入力装置１０よりロードされ、
実行結果１ｏｏが出力装置１１に出力される。

上記入力装置１０．出力装置１１がチャネル経由かｓｖ
ｐ経由かにより入出力制御が異なり、入出力制御部５２
として、テストプログラム５０ａは診断指令語（ダイア
グコマンド語）によりｓｖＰ経出で入出力するＳＶＰ入
出力制御部を、テストプログラム５０ｂはチャネルコマ
ンド語によりチャネル経由で入出力制御するチャネル入
出力制御部をそれぞれ設けている。

〔発明が解決しようとする問題点〕

前述のごとく、同一目的のテストに対し、Ｓ■Ｐ経由の
入出力制御部と、チャネル経由の入出力制御部とをそれ
ぞれ備えた２種類のプログラムが作成される。

このため、テストプログラムの作成、デバッグ等に時間
を費やす等の問題点があった。

本発明は、上記問題点にＳヒみ、１種類のテストプログ
ラムにより、チャネル径内、ｓｖｐ経由の２方向の入出
力が可能なテストプログラム制御方式を提供することを
目的とするものである。

〔問題点を解決するための手段〕

上記目的を達成するため、本発明のテストプログラム制
御方式は、第１図本発明の原理説明図に示すように、 サービスプロセッサ経由でデータの入出力制御を行うサ
ービスプロセッサ入出力制御部（６２ａ）と、 チャネル経由でデータの入出力制御を行うチマネル入出
力制御部（６２ｂ）と、 該サービスプロセッサから出力された指令に基づき、前
記サービスプロセッサ入出力制御部（６２ａ）とチャネ
ル入出力制御部（６２ｂ＞　とを切り替える切換手段（
６３）と、 を設けたものである。

〔作用〕

ｓｖｐ入出力制御部はｓｖｐ経由でテストプログラムお
よび実行結果の入出力を行うものであり、ダイアグコマ
ンド語で制御される。

一方、チャネル入出力制御部は、チャネル経由で入出力
制御するもので、チャネルコマンド語が使用される。

この２組の人出力制御部をテストプログラムに組み込み
、ＳＶＰからの指令により選択切換える。

この指令は、例えばＳＶＰの有するメモリ変更機能を使
用し、テストプログラムがロードされるメモリの所定ア
ドレスに指令データを格納する。

テストプログラムでは、入出力動作に先立ち、この所定
アドレスを参照し、指示された入出カニＬ’Ｊ御部に入
出力制御を切換える。

以上により、テストプログラムが一体化でき、デバッグ
が容易となるとともに、操作性が向上する。

〔実施例〕

本発明の実施例を第１図および第２図を参照しつつ説明
する。

第２図（ａｌは実施例のテストシステムブロック図、第
２図（′ｂ）は操作方法を表す図、第２図ｔｃ＋は動作
フローチャート図である。

実施例のテストプログラムは、ＳｖＰ入出力制御部６２
ａおよびチャネル入出力制御部６２ｂをそれぞれサブプ
ログラムとして構成するとともに、初期設定としてチャ
ネル入出力制御部６２ｂを選択するようにしたものであ
る。

第２図（ａｌにおいて、 １２は、操作データを入力する操作部であって、前記入
出力制御部を指定入力するもの、１３は、ＳＶＰ　４の
備えるメモリ変更部であり、メモリ３のアドレスを指定
してデータを格納する機能を備えたもの、 １４は、メモリ３の所定アドレスに設けた指令メモリ部
、 であり、その他企図を通じて同一符号は同一対象物を表
している。

実施例のテストプログラム６０は、第１図に示すように
、モニタ６１、テストモジュールＡ−Ｎ。

ｓｖｐ入出力制御部６２ａ、チャネル入出力制御部６２
ｂおよび切換手段６３より構成されているが、第２図（
ａｌにはモニタ６１およびＳＶＰ入出力制御部６２ａ、
チャネル入出力＄制御部６２ｂ、切換手段６３．テスト
モジュールＭがメモリ３にロードされ、且つテストモジ
ュールＡ−Ｎがチャネル経由の入力装置８にセントされ
た状態を示している。

以下第２図（ｂ）、第２図（Ｃ１を参照しつつ、操作お
よび動作を説明する。

〔操作〕 （１）　　テストプログラム６０を所定の入力装置（例
えば入力装置８）にセットし、５ＶＰ４より操作して、
モニタ６１．切換手段６３．ＳＶＰ入出力制御部６２ａ
、チャネル入出力制御部６２ｂをメモリ３にロードする
。（第２図（ｂｌ−イ）（２１ＳＶＰ４よりテストモジ
ュールＡ−Ｎの中、実行するテストモジュールＭを選択
するとともに、テスト条件、出力装置等を入力する。（
ロ）（３）入出力方向の初期設定はチャネル経由である
が、ｓｖｐ経由を指定する場合は、メモリ変更部１３を
使用して指令メモリ部１４の内容をｓｖｐ経由の指令デ
ータに変更する。（ハ） （４）　　ロードしたテストモジュールＭを起動する。

（ニ） 〔モニタの動作〕 （１）上記ロードされたモニタ６１は初期設定で指令メ
モリ部１４にチャネル経由であることを示す指令データ
を初期設定する。（ホ） （２）テストモジュール名が入力されると、指令メモリ
部１４を参照し、チャネル経由を示すものであるから、
チャネル入出カル制御部６２ｂにそのテストモジュール
のロードをｌする。（ト）チャネル入出力制御部６２ｂ
は、入力装置名、テストモジュール名、メモリ３の格納
先頭アドレス等をチャネルコマンド語（人力指令）でメ
モリ３の所定アドレスに格納し、チャネル装置７を起動
する。

これにより、チャネル装置７はその入力指令を読取って
入力装置８より所定のテストモジュールをロードする。

　（す） （３）　　テストモジュールのロードが終了すると、テ
スト動作が開始され、実行結果１００がメモリ３の所定
アドレスより格納される。（ヌ）（４）実行終了後、実
行結果１００の出力に先立ち、指令メモリ部１４を参照
し、チャネル経由であるから、チャネル入出力制御部６
２ｂを起動する。

これにより、実行結果（１００）がチャネル経由で出力
装置９に出力される。（ル７才２７７）ＳｖＰ経由の場
合は、本テストプログラム６０を入力装置６にセットし
、メモリ３における先頭番地等を指定してモニタ６１．
各人出力１４．ｉＪ御部等をロードするとともに、ｓｖ
ｐ経由を指定する指令データを指令メモリ部１４に格納
する。

これにより、ｓｖｐ入出力制御部６２ａが入出力時に起
動されて、ＳＶＰ経出でテストモジュール（Ａ〜Ｎ）お
よび実行結果１００が入出力される。（−ｆ−、ワ） 〔発明の効果〕 本発明は、以上説明したように、入出力制御手段を切換
える手段を備えたテストプログラム制御方式を提供する
ものであるから、テストプログラムの作成、デパック等
の時間、操作性等を改善する効果は極めて多大である。

【図面の簡単な説明】 第１図は本発明の原理説明図、 第２図（ａｌは実施例のテストシステム説明図ク図、第
２図（ｂ）は操作方法を表す図、 第２図（Ｃ）は動作フローチャート図、第３図ｆａ）は
従来のテストシステム説明図、第３図（ｂｌはテストプ
ログラム構成図、である。図中、 １は中央処理装置（本体装置）、 ２はプロセッサ、　　　　３はメモリ、４はサービスプ
ロセッサＳＶＰ、 ５．８．１０は入力装置、 ６．９．１１は出力装置、 ７はチャネル装置、　　　１２は掻作部、１３はメモリ
変更部、　　１４は指令メモリ部、６０はテストプログ
ラム、 ６１はモニタ、 ６２ａはｓｖｐ入出力制御部、 ６２ｂはチャネル入出力制御部、 ６３は切換手段、 である。 第１図 第２図（ｂｌ　　　　　　　　実行結果の出力従来のテ
スト／ステノ・コＡ明図 第３図（ａｌ ＶＰ ナス１プログラム構成図 負３３図（ｂｌ

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 テストプログラム（６０）をロードして各部をテストす
   る中央処理装置（１）と、該中央処理装置に対してデー
   タを入出力する入出力装置をそれぞれ制御するサービス
   プロセッサ（４）およびチャネル装置（７）を有する計
   算機システムにおけるテストプログラム制御方式であっ
   て、 該サービスプロセッサ経由でデータの入出力制御を行う
   サービスプロセッサ入出力制御部（６２ａ）と、 チャネル経由でデータの入出力制御を行うチャネル入出
   力制御部（６２ｂ）と、 該サービスプロセッサから出力された指令に基づき、前
   記サービスプロセッサ入出力制御部（６２ａ）とチャネ
   ル入出力制御部（６２ｂ）とを切り替える切換手段（６
   ３）と、 を設けたことを特徴とするテストプログラム制御方式。