JPH05173829A

JPH05173829A - エラー発生方法

Info

Publication number: JPH05173829A
Application number: JP3338808A
Authority: JP
Inventors: Yumiko Oizumi; 由美子大泉
Original assignee: Fujitsu Ltd
Current assignee: Fujitsu Ltd
Priority date: 1991-12-20
Filing date: 1991-12-20
Publication date: 1993-07-13

Abstract

(57)【要約】【目的】本発明は、エラー発生方法に関し、従来のク
リップテスタは不可能であったＬＳＩ内部のクリップ
や、狙ったタイミングでのクリップを可能とし、十分な
エラー処理機能のテストができるようにすることを目的
とする。【構成】ある装置の基本機能部１に、ＭＰＵ５の実行
するマイクロプログラムでエラー発生できるハードウェ
ア（エラー生成回路１０）があったとする。この場合、
メンテナンス部２のＭＰＵ１２が、予めヒューマンイン
ターフェイス部３を介して設定されたエラー発生条件に
従って、ＭＰＵ５を監視し、エラー発生条件を満たした
場合、ＭＰＵ１２の指示で、診断レジスタ８にエラー発
生のためのデータを設定する。その後、ＭＰＵ５が動作
すると、エラー生成回路１０でエラーが発生し、これを
チェッカー１１が検出してエラーレジスタに反映させ
る。エラーレジスタ９のデータはＭＰＵ５が読み取りエ
ラー処理を行う。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、マイクロプロセッサを
使用した各種の装置において、擬似的にエラーを発生し
て、エラー処理が正常にできるか否か等のテストを行う
際に使用されるエラー発生方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、例えば、コンピュータ本体、ある
いはその周辺装置等の製品については、各種のテストが
実施されていた。これらのテストの内、例えば工場出荷
前に行うエラー処理機能のテストがある。

【０００３】このテストは、擬似的にエラーを発生させ
て、エラー処理機能が正常か否かをテストするものであ
る。従来、前記のように、製品内部で起こったエラーを
如何に処理するかをテストするには、クリップテスタと
呼ばれる装置を使用していた。

【０００４】前記のクリップテスタは、テスタのクリッ
プ（電極）を、被テスト装置を構成しているプリント板
の裏面から突き出しているピンや、ＩＣ、ＬＳＩの脚
（端子ピン）などに接続し、その部分を通っていく信号
が常に「０」であるように設定できる機能を持ってい
る。

【０００５】また、前記クリップテスタは、信号をクリ
ップする時のトリガとなる別の信号を配線すれば、そこ
からクリップのトリガをかけることができ、クリップし
ておく時間なども設定できることができるものである。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】上記のような従来のも
のにおいては、次のような課題があった。 (1) 被テスト装置に対して、クリップテスタを用いてエ
ラー処理機能のテストを行う場合、うまくトリガーをか
けるには、エラーさせたいタイミングにだけ上がってく
る信号を用意しなければならない。

【０００７】丁度良い信号が無い場合には、エラーを起
こすタイミングを特定することができない。 (2) エラーを起こすタイミングを特定できない場合に
は、装置の内部がどんな処理をしているのか判らないよ
うなタイミングでクリップするか、もしくは、テスト時
間中、永久にクリップし続けざるを得ない。

【０００８】この場合、無作為にクリップをして、予想
外のエラーを検出しても、なぜそのような結果が出たの
かを調べるのは、内部的にどのような条件が揃った時に
エラーしたのか分からないので難しい。

【０００９】また、同じタイミングでエラーするよう
に、再現テストをすることもできない。 (3) クリップテスタでは、信号の通っているところを物
理的にクリップの先でつままなければならず、そのため
には、目的のプリント板（被テスト用のプリント板）を
エクステンション等により張り出させる等の手間をかけ
なければならない。

【００１０】(4) 回路の集積化が進んでいる現在、トリ
ガしたい信号や、クリップしたい部分が、ＬＳＩ等の中
に入っていることが多く、直接クリップを装着すること
は不可能になってきている。

【００１１】このため、クリップテスタのみで、十分な
エラー処理機能のテストを行うことは難しくなってきて
いる。本発明は、このような従来の課題を解決し、従来
のクリップテスタでは不可能であった、ＬＳＩ内部のク
リップ（ビットを０に反転）や、狙ったタイミングでの
クリップを可能とし、十分なエラー処理機能のテストが
できるようにすることを目的とする。

【００１２】

【課題を解決するための手段】図１は本発明の原理図で
あり、図中、１は基本機能部、２はメンテナンス部、３
はヒューマンインターフェイス部、４はコントロールス
トレッジ（ＣＳ）、５はマイクロプロセッサ（ＭＰ
Ｕ）、６はマイクロプロセッサ監視回路、７はマイクロ
プログラムカウンタ（ＭＰＣ）、８は診断レジスタ、９
はエラーレジスタ、１０はエラー生成回路、１１はチェ
ッカー、１２はマイクロプロセッサ（ＭＰＵ）、１３は
コントロールストレッジ（ＣＳ）、１４はメモリを示
す。

【００１３】本発明は上記の課題を解決するため、次の
ように構成した。 (1) プロセッサ５、１０を有し、かつ該プロセッサから
アクセスできるハードウェア（ＬＳＩ等）を具備した装
置で、エラー機能をテストする際のエラー発生方法にお
いて、ハードウェアが、プロセッサの実行するマイクロ
プログラムにより、エラーを発生する機能を有する場
合、このエラー発生機能を有効利用し、外部からエラー
発生条件等を設定して、プロセッサに指示することによ
り、該プロセッサがマイクロプログラムを実行して、自
動的にハードウェア１０等にエラーを発生させるように
した。

【００１４】(2) 前記構成（１）の装置が、装置本来の
機能を行う基本機能部１と、それ以外の機能を行うメン
テナンス部２と、データの入出力機能を有するヒューマ
ンインターフェイス部３とで構成され、前記基本機能部
１に、プロセッサ５の実行するマイクロプログラムによ
り、エラーを発生させるハードウェア１０があった場
合、メンテナンス部２のプロセッサ１２が、予めヒュー
マンインターフェイス部３を介して設定されたエラー発
生条件に従って、基本機能部１のプロセッサ５を監視
し、エラー発生条件を満たした場合、前記プロセッサ１
２の指示に基づき、基本機能部１のプロセッサ５が実行
するマイクロプログラムによって、エラーを発生させる
ようにした。

【００１５】

【作用】上記構成に基づく本発明の作用を、図１を参照
しながら説明する。メンテナンス部２のコントロールス
トレッジ（ＣＳ）１３には、予めエラー発生時に使用す
る画面データや、エラーとその発生条件の対応表などの
データが格納されているものとする。

【００１６】エラー発生時には、次の順序でエラーを発
生させる。 (1) ヒューマンインターフェイス部３からメニュー表示
の指示があると、マイクロプロセッサ１２は、コントロ
ールストレッジ１３を参照して、所定の画面データを取
り出し、ヒューマンインターフェイス部３で表示する。

【００１７】(2) 表示画面で選択が行われると、マイク
ロプロセッサ１２は、選択された診断レジスタと設定デ
ータをメモリ１４に格納しておく。 (3) 次に、エラー発生のタイミングを選択する画面を表
示して、選択が行われると、マイクロプロセッサ１２
は、そのエラー発生の条件を、マイクロプロセッサ監視
回路６に送ってマイクロプロセッサ５を監視させる。

【００１８】(4) マイクロプロセッサ監視回路６は、マ
イクロプログラムカウンタ（ＭＰＣ）７を監視し、エラ
ー発生条件を検出すると、マイクロプロセッサ１２に通
知する。

【００１９】(5) マイクロプロセッサ１２では、メモリ
１４内のデータ（診断レジスタ＋設定データ）を取り出
して、マイクロプロセッサ５を介して、診断レジスタ８
にそのデータを設定する。

【００２０】(6) その後、診断レジスタ８にデータが設
定されたことにより、エラー発生回路１０でエラーが発
生する。このエラーは、チェッカー１１が検出し、エラ
ーレジスタ９に反映させる。そして、エラーレジスタ９
の内容をマイクロプロセッサ５が読みとって、エラーを
認識し、エラー処理を実行する。

【００２１】このようにすれば、装置内で持っているエ
ラー発生機能を有効に利用して、エラーを発生させるこ
とができる。しかも、エラー発生は、ＬＳＩ等の内部で
発生させることができると共に、狙ったタイミングで任
意にエラーを発生することができる。

【００２２】従って、十分なエラー処理機能のテストを
行うことが可能になる。

【００２３】

【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明
する。図２〜図４は、本発明の実施例を示した図であ
り、図２は、テスト対象装置の説明図、図３は磁気ディ
スク制御装置の構成図、図４は診断レジスタの設定デー
タ例、図５は表示画面例である。

【００２４】図中、図１と同符号は同一のものを示す。
また、１５は表示部、１６はキーボード、３０は基本機
能部、３１はメンテナンス部、４０はマイクロプロセッ
サ、４１、５１はコントロールストレッジ、４２、５
３、５６、５７はインターフェイス制御回路、４３はチ
ャネルインターフェイス回路、４４はチャネルインター
フェイス制御回路、４５は排他制御回路、４６は排他制
御用メモリ、４７はデータ転送制御回路、４８はデータ
バッファ、４９はデバイスインターフェイス制御回路、
５０はマイクロプロセッサ、５２はＲＯＭ、５４はロー
ダー制御回路、５５はメモリ、６０はローダー（フロッ
ピィディスクドライブ）、６１は電源ユニット、６２は
スイッチを示す。

【００２５】先ず、図２に基づいて、テスト対象装置の
基本的な構成と、テスト方法について説明する。本発明
のエラー発生方法によりテストを行うには、テスト対象
装置に、エラーを発生させるための回路と、その回路
を、マイクロプログラムから動作させるためのインター
フェイス（ＭＰＵからセットすることのできるレジス
タ）と、エラーを発生させるタイミングを特定する手段
とが必要である。

【００２６】このため、テスト対象装置は、基本的に図
２のように構成されることが必要である。図示のよう
に、テスト対象装置は、基本機能部１と、メンテナンス
部２と、ヒューマンインターフェイス部３とで構成す
る。

【００２７】メンテナンス部２は、装置の電源オンによ
る内部の立ち上げ（マイクロプログラムのローディン
グ）、電源オフ時の手続き、あるいは、基本機能部１に
重大なエラーが起きて止まってしまった時に、これをリ
セットし、再度走らせるなどの機能を負っている。

【００２８】また、メンテナンス部２は、ヒューマンイ
ンターフェイス部３の表示制御等もサポートしている。
基本機能部１は、装置の本来の機能を行うための部分で
ある。

【００２９】前記基本機能部１には、コントロールスト
レッジ（以下「ＣＳ」という）４、マイクロプロセッサ
（以下「ＭＰＵ」という）５、マイクロプログラムカウ
ンタ（以下「ＭＰＣ」という）７、ＭＰＵ監視回路６、
診断レジスタ８、エラーレジスタ９、エラー生成回路１
０、チェッカー１１等を設ける。

【００３０】また、メンテナンス部２は、ＭＰＵ１２、
ＣＳ１３、メモリ１４を設け、ヒューマンインターフェ
イス部３には、表示部１５とキーボード１６を設ける。
ＣＳ４はＲＡＭで構成され、その内部には、マイクロプ
ログラムが格納されている。ＭＰＵ５は、ＣＳ４内のマ
イクロプログラムを１つづつ実行するものである。ＭＰ
Ｃ７は、ＭＰＵ５が実行するプログラムのアドレスを、
順次格納するものである。

【００３１】ＭＰＵ監視回路６は、ＭＰＵ１２からの依
頼を受け、ＭＰＵ５の処理等を監視するものであり、Ｍ
ＰＣ７のアドレス情報を取り込んで監視を行うものであ
る。診断レジスタ８は、ＭＰＵ５により、エラーを発生
させる際に、所定のデータを設定するレジスタである。
エラー生成回路１０は、診断レジスタ８の設定データに
従って、エラーを生成する回路（ＬＳＩ）である。

【００３２】チェッカー１１は、エラー生成回路１０で
生成したエラー情報、あるいはその他の回路からのチェ
ック対象信号をチェックする回路である。このチェッカ
ー１１は、例えば、エラー生成回路１０において、特定
の信号が反転するなどのエラーを生成した際、該エラー
を検出してエラーレジスタ９に反映させる（エラーレジ
スタ９のデータを変える）。

【００３３】エラーレジスタ９は、エラー情報を格納し
ておくレジスタであり、ＭＰＵ５により、内部の情報が
読み取られるようになっている。なお、診断レジスタ８
と、エラーレジスタ９は、ＭＰＵ５によって直接アクセ
スされるレジスタである。

【００３４】ＣＳ１３は、メンテナンス機能用のマイク
ロプログラムを格納しておくものであり、ＭＰＵ１２
は、ＣＳ１３のマイクロプログラムを１つづつ実行する
ものである。

【００３５】また、ＭＰＵ１２は、ＭＰＵ監視回路６の
制御をしたり、ＭＰＵ監視回路６を介してＭＰＵ５へア
クセスすることができる。例えばＭＰＵ１２により、Ｍ
ＰＵ５の動作を止めたり、あるいは止めてあった動作の
リセットを行ったりすることができる。

【００３６】また、ＭＰＵ１２は、ＭＰＵ５がアクセス
することのできる全てのレジスタにアクセスすることが
できると共に、表示部１５を制御したり、キーボード１
６から入力したデータの処理等も行うものである。

【００３７】なお、ＣＳ１３には、前記のマイクロプロ
グラムの外に、画面データ（エラーを発生させたい部分
を選択する画面のデータ）、及びエラーとその発生条件
の対応表（テーブルデータ）等を、予め格納しておき、
エラー発生時には、これらのデータを用いて、エラーを
発生させる。

【００３８】エラーを発生させる際は、エラー発生のト
リガーを行うが、このトリガーは、例えば、基本機能
プログラムの任意のアドレスを実行した時、あるアド
レスを、指定回数通った時、あるレジスタの内容が期
待通りになった時、前記〜の組み合わせでできる
条件の揃った時等があるが、これらは任意に指定すれば
よい。

【００３９】以下、任意の指定したアドレスを通った
時、エラー発生のトリガーを行うものとして、エラー発
生方法の例を説明する。エラー発生時には、例えばオペ
レータがヒューマンインターフェイス部３の表示部１５
を見ながら、キーボード１６の操作を行って、エラーを
発生させる。エラー発生は次の順序で行う。

【００４０】(1) 先ず、オペレータがキーボード１６を
操作して、エラーを発生させたい部分を選択しようとす
る要求を出す（エラー発生時のメニューを要求）。 (2) ＭＰＵ１２では、前記の要求を受け付けると、ＣＳ
１３は格納してある画面データを取り出し、エラー発生
時のメニューを表示する。

【００４１】(3) オペレータは、表示されたメニューを
見て、エラーを発生させたい部分（ＬＳＩや回路の番
号）を選択する（図２ではエラー生成回路１０を選
択）。 (4) ＭＰＵ１２は、入力されたデータから、セットすべ
き、診断レジスタ（この例では診断レジスタ８）と、そ
こにセットすべきデータを判断し、その情報を、一旦メ
モリ１４に格納しておく。

【００４２】(5) ＭＰＵ１２はＣＳ１３の情報に基づ
き、エラーを起こすモードの選択肢のデータを、表示部
１５に送り表示する。 (6) オペレータは表示画面を見て、モードの選択を行
う。この例では、あるアドレスを通った時にエラーを発
生させるモードを選択する。

【００４３】(7) ＭＰＵ１２は、画面に、アドレス入力
を求める表示を行う。これを見てオペレータはエラーを
発生させるアドレスを入力する。 (8) ＭＰＵ１２では、アドレスが入力されると、そのア
ドレスを、ＭＰＵ監視回路６へ送って、該ＭＰＵ監視回
路６にアドレスの監視を依頼する。

【００４４】(9) ＭＰＵ５は、ＣＳ４内のマイクロプロ
グラムを１つづづ実行するが、この時のマイクロプログ
ラムの格納アドレスが、順次ＭＰＣ７にセットされる。
従って、ＭＰＵ監視回路６では、ＭＰＵ１２から送られ
てきたアドレス（エラーを発生させるトリガーとなるア
ドレス）を、ＭＰＣ７にセットされたアドレスと比較す
ることで監視を行う。

【００４５】(10)ＭＰＵ５が前記アドレスのマイクロプ
ログラムを実行すると、ＭＰＵ監視回路６では、期待の
アドレスを検出（比較している両アドレスが一致）す
る。この時、ＭＰＵ監視回路６では、前記アドレスを検
出したことをＭＰＵ１２に通知し、ＭＰＵ１２からの指
示でＭＰＵ５の動作を停止させる。

【００４６】(11)ＭＰＵ１２は、メモリ１４に格納して
おいたデータ（診断レジスタ名＋セットするデータ）を
取り出して、診断レジスタ８にセットする。その後、Ｍ
ＰＵ１２は、ＭＰＵ５を再び動作させる。

【００４７】(12)診断レジスタ８にデータがセットされ
ると、エラー生成回路１０が動作する。このエラー生成
回路１０は、チェッカー１１に直接つながっていてもよ
いし、診断レジスタ８にデータをセットした後、当該エ
ラー箇所の回路が動作して初めてエラーが発生するよう
に構成されていてもよい。

【００４８】(13) チェッカー１１のエラーチェックに
引っ掛かると、エラーレジスタ９に、エラー情報が出力
される。 (14)ＭＰＵ５がエラーレジスタ９を参照してエラーを検
出すると、エラー情報を収集してエラーをリセットす
る。また、ＭＰＵ５は、診断レジスタ８もリセットす
る。

【００４９】(15)装置が上位装置にエラー報告したり、
ＬＥＤの表示等で、エラーしたことを外部に知らせるよ
うに構成されていれば、オペレータは予想通りの結果が
得られたか否かをチェックすることができる。このよう
にして、１つのチェックが終了する。

【００５０】以下、磁気ディスク制御装置に適用した場
合の具体例を、図３に基づいて説明する。図３に示した
磁気ディスク制御装置は二重化されており、その内の片
方（ディレクタＤＩＲ）を図示したものである。

【００５１】図中、３０はこの装置の基本機能部であ
り、チャネルインターフェイス（ｃｈＩ／Ｆ）４３と、
磁気ディスクインターフェイス（ＤＶＩ／Ｆ）４９を
持っている。３１はメンテナンス機能部であり、基本機
能部３０とは別のマイクロプロセッサで動作している。

【００５２】ＣＳ４１には、基本機能のためのマイクロ
プログラムが格納されており、ＭＰＵ４０は、このＣＳ
４１内のマイクロプログラムを実行することにより、基
本機能（データのリード／ライトの制御等）を行う。

【００５３】チャネルインターフェイス制御回路４４
は、チャネルインターフェイス４３を制御する回路であ
り、ＭＰＵ４０と、チャネルインターフェイス回路４３
との間の仲介作業をしながら、例えば、ＭＰＵ４０が、
あるチャネル処理を行っている時に、他のチャネルから
アクセスがあると、チャネルにビジーを知らせ、ＭＰＵ
４０にその旨を知らせるなどの仕事を行う。

【００５４】排他制御回路４５は、ディスクを共有して
いる他系のディレクタＤＩＲとの間で、ディスクの排他
制御を行う。また、排他制御メモリ４６は、二重化して
いるもう片方の排他制御メモリと同一の内容を保持す
る。

【００５５】データ転送回路４７には、データバッファ
４８を有し、リード／ライトデータの転送制御を行う。
メンテナンス部３１には、ＭＰＵ５０を有し、ＣＳ５１
内のマイクロプログラムを実行することにより、各種の
メンテナンス制御等を行う。

【００５６】インターフェイス制御回路５３は、プロセ
ッサ４０や、そこからアクセスできるレジスタ、あるい
はメモリをアクセスするためのインターフェイスであ
る。ＲＯＭ５２は、自己診断用のプログラムを格納して
おくメモリであり、インターフェイス制御回路５６は、
電源ユニット６１との間のインターフェイス制御を行う
ものである。

【００５７】前記の磁気ディスク制御装置において、基
本機能部３０内で、ＭＰＵ４０が直接アクセスできるＬ
ＳＩは、チャネルインターフェイス制御回路４４、排他
制御回路４５、データ転送制御回路４７である。

【００５８】これらのＬＳＩは、各ＬＳＩ内部で、エラ
ーを発生させるための診断レジスタを、各々１つないし
２つ持っている。従って、これらのＬＳＩを対象とし
て、エラーを発生させ、エラー処理機能のテストをする
ことができる。

【００５９】また、チャネルインターフェイス回路４３
も、内部に診断レジスタを持つＬＳＩである。このＬＳ
Ｉは、ＭＰＵ４０が直接アクセスすることはできない
が、チャネルインターフェイス制御回路４４内のレジス
タを経由して、アクセスすることができる。

【００６０】従って、前記のチャネルインターフェイス
回路４３を対象としてエラーを発生させ、エラー処理機
能のテストを行うこともできる。前記のような各ＬＳＩ
では、診断レジスタを用いて、ＬＳＩの診断が行えるよ
うになっている。すなわち、ＬＳＩの診断機能は、本来
は当該ＬＳＩのデバッグやエラー検出回路の診断のため
に作成されたものである。

【００６１】本発明では、このようなＬＳＩの診断機能
を利用して、例えば磁気ディス制御装置のエラー処理機
能のテストを行うものである。ＬＳＩ内部でエラーを発
生させる際、各ＬＳＩ内の診断レジスタにデータを設定
するが、その例を図４に示す。図４のＡはチャネルイン
ターフェイス制御回路４４の診断レジスタに設定するデ
ータ例であり、図４のＢはデータ転送制御回路４７の診
断レジスタに設定するデータ例である。

【００６２】例えば、チャネルインターフェイス制御回
路４４でエラーを発生させたい時は、その内部の診断レ
ジスタに、図のデータを設定すればよい。すなわち、内
部メモリのリードパリティエラーを発生させたければ、
診断レジスタにデータ「８０００」（１６進数）を設定
し、内部メモリのアクセスバスパリティエラーを発生さ
せたければ診断レジスタにデータ「４０００」（１６進
数）を設定すればよい。

【００６３】また、データ転送制御回路４７において、
データ転送制御レジスタのパリティエラーを発生させた
ければ、診断レジスタにデータ「０００２」（１６進
数）を設定すればよく、バッファアドレスポインタ０の
パリティエラーを発生させたければ、診断レジスタにデ
ータ「０００４」（１６進数）を設定すればよい。

【００６４】以下同様に、エラー発生対象の各ＬＳＩに
ついて、それぞれ、エラーの内容と、診断レジスタに設
定する設定データを作成しておく。そして、メンテナン
ス部３１内のＣＳ５１には、メンテナンス用のマイクロ
プログラムの外、データとして画面に出力する情報（画
面データ）、エラーとその発生条件の対応表（図３のデ
ータ）等を予め設定しておく。

【００６５】なお、テスト時には、メンテナンス部３１
内のインターフェイス回路５７を介して、端末に接続し
てあり、この端末には表示部とキーボードがあるものと
する。

【００６６】以下、磁気ディスク制御装置におけるエラ
ー処理機能のテスト方法を説明する。装置に電源が投入
されると、ＭＰＵ５０は、ＲＯＭ５２に格納されている
プログラムにより自己診断を行い、ローダー制御回路５
４を通じて、ローダー６０にアクセスし、ＭＰＵ４０、
５０で使用するプログラムを読み込み、ＣＳ４１、ＣＳ
５１にそれぞれ格納する。

【００６７】その後、オペレータは、端末のキーボード
を操作することにより、発生させることのできるエラー
の一覧表を表示させる。この場合、端末からの指示を受
けたＭＰＵ５０は、ＣＳ５１からデータを取り出して、
端末へ送り、図５に示したようなデータを表示する。

【００６８】図５は表示画面例であり、図の「ＯＰ
Ｌ」、「ＰＤＣ−０」はＬＳＩの名称を示し、０印の部
分（「ＭＥＭＩＯＲＤＰＡＲＩＴＹ」、「ＡＣＩＦ
Ａ−ＢＵＳＰＡＲＩＴＹ」・・・）はエラーの種類
を表している。

【００６９】この表示を見て、オペレータは発生させた
いエラーを選択する。ＭＰＵ５０は、選択されたエラー
に対応する診断レジスタ（どのＬＳＩ内の診断レジスタ
かを示すデータ）と、その診断レジスタの設定データ
を、ＣＳ５１を参照して認識し、メモリ５５に格納する
（診断レジスタ＋設定データの格納）。

【００７０】オペレータは、エラーを全部選択し終えた
ら画面上の「ＧＯ」を選択する。その後、ＭＰＵ５０
は、エラーを発生させるタイミングを選択させるため
に、アドレスをセットできるフレームを画面に表示させ
る。

【００７１】この画面では、次の要素を選択できるよう
になっている。ＬＳＩ内の診断レジスタに設定データをセットするタ
イミングを特定する。基本機能プログラムのアドレス
（ＭＰＵ４０がＣＳ４１内のプログラムを実行する際の
実行プログラムの格納アドレス）。

【００７２】エラーを発生させる頻度のモード例えば、ある特定のアドレスを通ったら１回だけエラー
を発生させるとか、あるいは特定のアドレスを通る度に
エラーを発生させるなど。

【００７３】前記のエラーを発生させるタイミングが選
択されると、ＭＰＵ５０は、ＭＰＵ４０の動作を監視す
る。ＭＰＵ４０はＣＳ４１内のマイクロプログラムを１
つづつ実行して基本機能の処理を行う。

【００７４】この時、ＭＰＵ５０では、インターフェイ
ス回路４２、５３を介して、ＭＰＵ４０が実行している
マイクロプログラムのアドレスを監視する。そして、エ
ラーを発生させるタイミングになったら、ＭＰＵ４０に
割り込みを行う。

【００７５】すなわち、ＭＰＵ５０は、条件が合ったと
ころでＭＰＵ４０との通信用レジスタに、エラー生成を
表す割り込み命令コードと、診断レジスタにセットすべ
き値を記述（メモリ５５のデータを取り出して記述）
し、ＭＰＵ４０に割り込む。

【００７６】割り込みを受けたＭＰＵ４０は、現在実行
しようとしていた命令のアドレスを記憶し、ＣＳ４１の
固定番地の命令を実行する。そこには、メンテナンス機
能部３１との通信用レジスタに書かれている割り込み命
令を実行するプログラムが展開されている。

【００７７】命令に従って、通信用レジスタに書かれて
いるデータを、該当する診断レジスタにセットする処理
を終了すると、ＭＰＵ４０は、メモしておいたＣＳ４１
の元のアドレスの命令を取り出して実行する。

【００７８】これにより該当するＬＳＩでエラーが発生
する。この時のエラー処理機能を確認し、前記のテスト
を終了する。なお、基本的なエラー発生方法では、メン
テナンス用のＭＰＵが、基本機能のＭＰＵを動作停止状
態にして診断レジスタへのデータの設定を行っていた
が、この例では、ＭＰＵ４０への割り込みにより、ＭＰ
Ｕ５０が自動でエラーを植えつけるようにしている。

【００７９】これは、ＭＰＵ５０の動作が遅く、システ
ム試験中にＭＰＵ４０を止めてしまうと、装置の性能が
落ち、期待しているエラー以外の事象が起こる可能性が
あるためである。

【００８０】前記のようにしてエラー機能のテストを行
った後、ＭＰＵ４０は、エラーをリセットするが、この
エラーリセットのタイミングで全ての診断レジスタをリ
セットする。また、オペレータがエラー選択画面におい
て、リセット「ＲＥＳＥＴ」を選択した時、ＭＰＵ５０
は、ＭＰＵ４０に割り込み命令を発し、全ての診断レジ
スタをクリアする。

【００８１】なお、エラーを発生させることのできるハ
ードウェアは、ＬＳＩに限らず、通常の回路でも、その
機能さえあれば適用可能である。また、基本機能部１、
メンテナンス部２、ヒューマンインターフェイス部３
は、各々別々の装置で構成し、通信機能を用いて接続さ
れていてもよい。

【００８２】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば次
のような効果がある。 (1) 従来のクリップテスタで、できなかったＬＳＩ内部
のエラー発生等が簡単にできる。

【００８３】(2) 狙ったタイミングでのエラー発生が容
易にできる。また、同じタイミングでエラーするような
再現テストも簡単にできる。 (3) エラーが発生した時に、その状態が上位装置に報告
されたかというテストや、連続してエラーが発生した
時、上位装置側でバスを切り替え、システム全体として
は正常に使うことができるかなどをチェックするテスト
が十分に行える。

【００８４】(4) 従来のクリップテスタにくらべて、エ
ラーを準備する時間を節約できる。 (5) 装置内で、あるエラーが発生した時に、システムの
具合が悪くなる障害のテストにも有用である。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の原理図である。

【図２】本発明の実施例におけるテスト対象装置の説明
図である。

【図３】磁気ディスク制御装置の構成図である。

【図４】診断レジスタの設定データ例である。

【図５】表示画面例である。

【符号の説明】

１基本機能部２メンテナンス部３ヒューマンインターフェイス部４、１３コントロールストレッジ（ＣＳ）５、１２マイクロプロセッサ（ＭＰＵ）６マイクロプロセッサ監視回路７マイクロプログラムカウンタ（ＭＰＣ）８診断レジスタ９エラーレジスタ１０エラー生成回路１１チェッカー１４メモリ

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】プロセッサ（５、１２）を有し、かつ該
プロセッサからアクセスできるハードウェア（ＬＳＩ
等）を具備した装置で、エラー機能をテストする際のエ
ラー発生方法において、ハードウェア（ＬＳＩ等）が、プロセッサの実行するマ
イクロプログラムにより、エラーを発生する機能を有す
る場合、このエラー発生機能を有効利用し、外部からエラー発生
条件等を設定して、プロセッサに指示することにより、該プロセッサがマイクロプログラムを実行して、自動的
にハードウェア（１０）にエラーを発生させるようにし
たことを特徴とするエラー発生方法。
【請求項２】前記装置が、装置本来の機能を行う基本機能部（１）と、それ以外の
機能を行うメンテナンス部（２）と、データの入出力機能を有するヒューマンインターフェイ
ス部（３）とで構成され、前記基本機能部（１）に、プロセッサ（５）の実行する
マイクロプログラムにより、エラーを発生するハードウ
ェア（１０）があった場合、メンテナンス部（２）のプロセッサ（１２）が、予めヒ
ューマンインターフェイス部（３）を介して設定された
エラー発生条件に従って、基本機能部（１）のプロセッ
サ（５）を監視し、エラー発生条件を満たした場合、前記プロセッサ（１
２）の指示に基づき、基本機能部（１）のプロセッサ
（５）が実行するマイクロプログラムによって、エラー
を発生させるようにしたことを特徴とする請求項１記載
のエラー発生方法。