JPS6111855A - デ−タ処理装置の機能診断方式 - Google Patents
デ−タ処理装置の機能診断方式Info
- Publication number
- JPS6111855A JPS6111855A JP59132026A JP13202684A JPS6111855A JP S6111855 A JPS6111855 A JP S6111855A JP 59132026 A JP59132026 A JP 59132026A JP 13202684 A JP13202684 A JP 13202684A JP S6111855 A JPS6111855 A JP S6111855A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- diagnosis
- interrupt
- self
- data processing
- test
- Prior art date
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- Pending
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- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
この発明は、電子計算機等の、データ処理装置の機能診
断方式に関するものである。
断方式に関するものである。
従来、データ処理装置の機能診断というのは、メインテ
ナンス時に操作員の介入によってのみおこなわれるだけ
で、システムの動作中にはおこなわれてい７よかった。
ナンス時に操作員の介入によってのみおこなわれるだけ
で、システムの動作中にはおこなわれてい７よかった。
これを流れ図にすると第１図のよう忙なる。すなわち機
能診断はメインテナンス時の操作員の介入によっておこ
なわれる（１）の機能診断のみで、システム動作時には
、通常おこなわれている（コ）のデータ処理およびデー
タ処理装置自体、入出力装置、およびその他の装置から
の割り込み発止を持つ空き時間である（３）の割り込み
待ちが繰り返寄れ、装置の機能診断はおこなわれていな
かった。
能診断はメインテナンス時の操作員の介入によっておこ
なわれる（１）の機能診断のみで、システム動作時には
、通常おこなわれている（コ）のデータ処理およびデー
タ処理装置自体、入出力装置、およびその他の装置から
の割り込み発止を持つ空き時間である（３）の割り込み
待ちが繰り返寄れ、装置の機能診断はおこなわれていな
かった。
従って、従来の方式では、データ処理装置の機能診断を
おこなうのは定期的なメインテナンス時に限られていた
ためＫ、操作員の介入を必要とし、またシステム動作時
に発生したデータ処理装置の故障を、異常が発生される
前に検知できないなどの欠点があった。
おこなうのは定期的なメインテナンス時に限られていた
ためＫ、操作員の介入を必要とし、またシステム動作時
に発生したデータ処理装置の故障を、異常が発生される
前に検知できないなどの欠点があった。
この発明は、上記のような従来の方式の欠点を除去する
ためになされたもので、システム動作中の割り込み待ち
による空き時間を利用してデータ処理装置に基本的機能
の自己診断をおこなわせ、動作時に生じた故障を異常が
発見される前に検知して報告できる機能診断方式を提供
するものである。
ためになされたもので、システム動作中の割り込み待ち
による空き時間を利用してデータ処理装置に基本的機能
の自己診断をおこなわせ、動作時に生じた故障を異常が
発見される前に検知して報告できる機能診断方式を提供
するものである。
以下、この発明の一実施例を図について説明する。第２
図にはこの発明の一実施例によるデータ処理装置の機能
診断方式の流れ図を示した。まず、メインテナンス時に
操作員の介入によって（１）の機能診断がおこなわれる
。これは従来の方式と同じである。そして、システム動
作時には、通常おこなわれる（コ）のデータ処理と、従
来空き時間であった割り込み待ち時間を利用した、（４
’）の割り込み待ち中の自己機能診断処理とが繰り返さ
れる。この（り）の割り込み待ち中の自己機能診断処理
の方式は第３図に示されている。
図にはこの発明の一実施例によるデータ処理装置の機能
診断方式の流れ図を示した。まず、メインテナンス時に
操作員の介入によって（１）の機能診断がおこなわれる
。これは従来の方式と同じである。そして、システム動
作時には、通常おこなわれる（コ）のデータ処理と、従
来空き時間であった割り込み待ち時間を利用した、（４
’）の割り込み待ち中の自己機能診断処理とが繰り返さ
れる。この（り）の割り込み待ち中の自己機能診断処理
の方式は第３図に示されている。
そこで、第３図に示された割り込み待ち中の自己機能診
断処理の動作について説明する。
断処理の動作について説明する。
データ処理装置はプログラムの指示により割み込み待ち
状態になると、まずステップ（ｐｌ）において割り込み
発生の有無を判定し、この結果割り込みが発生していな
かった場合のみ、データ処理装置が自己診断テストをお
こなう。ステップ（４ｔ／）において割り込みが発生し
でいなかった場合、まずステップ（１２）において、ロ
ーカルメモリに格納された現在実行しようとする自己診
断テストのテスト番号の読み出しをおこなう。次にステ
ップ（亭３）において、ステップ（４ｔコ）で読み出さ
れたテスト番号に対応する自己診断テストが実行される
。ステップ（ｐＱにおいてはその自己診断テストの結果
、エラーが有るか無いかの判定をおこなう。ステップ（
ｐｌＩ）でエラーが無かった場合には、ステップ（１１
，ｔ）でローカルメモリ内のテス、ト番号なｌ増加させ
、再び割り込みの有無を判定するステップ（４ｔｌ）に
戻る。また、ステップ（ｐｌＩ）においてエラーがあっ
た場合には、ステップ（ｑ６）でエラーの内容をローカ
ルメモリの定まった位置に格納して、エラーの内容を報
告するためにエラー処理が続いて行われる。以上のよう
にして、診断テス）／項目を実行する毎に４、割り込み
の有無の判定を行い、割り、込みを発生しない間はテス
ト番号をｌずつ増加しなからテ、Ｘ）の実行を続行する
。
状態になると、まずステップ（ｐｌ）において割り込み
発生の有無を判定し、この結果割り込みが発生していな
かった場合のみ、データ処理装置が自己診断テストをお
こなう。ステップ（４ｔ／）において割り込みが発生し
でいなかった場合、まずステップ（１２）において、ロ
ーカルメモリに格納された現在実行しようとする自己診
断テストのテスト番号の読み出しをおこなう。次にステ
ップ（亭３）において、ステップ（４ｔコ）で読み出さ
れたテスト番号に対応する自己診断テストが実行される
。ステップ（ｐＱにおいてはその自己診断テストの結果
、エラーが有るか無いかの判定をおこなう。ステップ（
ｐｌＩ）でエラーが無かった場合には、ステップ（１１
，ｔ）でローカルメモリ内のテス、ト番号なｌ増加させ
、再び割り込みの有無を判定するステップ（４ｔｌ）に
戻る。また、ステップ（ｐｌＩ）においてエラーがあっ
た場合には、ステップ（ｑ６）でエラーの内容をローカ
ルメモリの定まった位置に格納して、エラーの内容を報
告するためにエラー処理が続いて行われる。以上のよう
にして、診断テス）／項目を実行する毎に４、割り込み
の有無の判定を行い、割り、込みを発生しない間はテス
ト番号をｌずつ増加しなからテ、Ｘ）の実行を続行する
。
一方、ステップ（ｌＩｌ）における割り込みの有無の判
定の結果、割り込みの発生が検知された場合には、ステ
ップ（り７）において割り込みの優先順位の判定等の割
り込み処理をおこない、次にステップ（＋ｒ）ｉｃおい
て現在のブｐグ、ラム状態語の更′ 新がおこな
われ、割り込み待ち状態が解除されて通常のデータ処理
が再開される。
定の結果、割り込みの発生が検知された場合には、ステ
ップ（り７）において割り込みの優先順位の判定等の割
り込み処理をおこない、次にステップ（＋ｒ）ｉｃおい
て現在のブｐグ、ラム状態語の更′ 新がおこな
われ、割り込み待ち状態が解除されて通常のデータ処理
が再開される。
なお、上記実施例では診断テスト番号の保持にローカル
メモリを使用したものを示したが、診断テスト番号をカ
クンタ等に保持し、専用のハードウェアによってテスト
を選択するようにしてもよい。また、上記実施例では割
り込み処理後、プログラム状態語を更新する方式を示し
たが、この処理は本発明の方式に影響するものではなく
、他の方法を用いても同様の効果が得られる。
メモリを使用したものを示したが、診断テスト番号をカ
クンタ等に保持し、専用のハードウェアによってテスト
を選択するようにしてもよい。また、上記実施例では割
り込み処理後、プログラム状態語を更新する方式を示し
たが、この処理は本発明の方式に影響するものではなく
、他の方法を用いても同様の効果が得られる。
以上のように、この発明によれば、データ処理装置が割
り込み待ちの状態にある間、装置の自己機能診断を行い
、またこの時に診断テス）／項目を実行する毎に割り込
みの発生の有無を判断するようにしたので、各テスト項
目の実行時間を十分短くすることによりデータ処理装置
の性能をほとんど損じることなく、また操作員の介入も
必要とせずに、システム動作中の機能診断が可能となり
、装置の信頼性が向上し、また機能診断に必要な時間を
削減できるという効果が得られる。
り込み待ちの状態にある間、装置の自己機能診断を行い
、またこの時に診断テス）／項目を実行する毎に割り込
みの発生の有無を判断するようにしたので、各テスト項
目の実行時間を十分短くすることによりデータ処理装置
の性能をほとんど損じることなく、また操作員の介入も
必要とせずに、システム動作中の機能診断が可能となり
、装置の信頼性が向上し、また機能診断に必要な時間を
削減できるという効果が得られる。
第１図は従来のデータ処理装置の機能診断方式の流れ図
、第一図はこの発明の一実施例によるデータ処理装置の
機能診断方式の流れ図、そして、第３図は第２図の割り
込み待ちの機能診断処理の流れ図である。 ／・・機能診断、コ・・データ処理、３・・割り込み待
ち（空き時間ン、り・・割り込み待ち中の自己機能診断
処理。 なお、各図中、同一符号は同−又は相当部分を示す。 光１図 ）ｆ）２図 幣３図 ［
、第一図はこの発明の一実施例によるデータ処理装置の
機能診断方式の流れ図、そして、第３図は第２図の割り
込み待ちの機能診断処理の流れ図である。 ／・・機能診断、コ・・データ処理、３・・割り込み待
ち（空き時間ン、り・・割り込み待ち中の自己機能診断
処理。 なお、各図中、同一符号は同−又は相当部分を示す。 光１図 ）ｆ）２図 幣３図 ［
Claims (2)
- （１）プログラムを逐次実行するデータ処理装置におい
て、データ処理装置内もしくは他の装置からの割り込み
の発生を待つ、システム動作中の割り込み待ち時間にデ
ータ処理装置が自己機能診断をおこなうようにしたこと
を特徴とするデータ処理装置の機能診断方式。 - （２）割り込み待ち中の自己機能診断が、 （イ）割り込みの有無を判定するステップと、（ロ）割
り込みが無かつた場合に自己診断テストのテスト番号を
読み出すステップと、 （ハ）読み出されたテスト番号に対応する自己診断テス
トを実行するステップと、 （ニ）実行された前記自己診断テストの結果に対するエ
ラーの有無を判定するステップと、 （ホ）エラーが有つた場合にはエラー処理をおこない、
エラーが無かつた場合には前記自己診断テストのテスト
番号を１増加させて、再び前記割り込みの有無を判定す
るステップに戻すステップと、 を含む特許請求の範囲第１項記載のデータ処理装置の機
能診断方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59132026A JPS6111855A (ja) | 1984-06-28 | 1984-06-28 | デ−タ処理装置の機能診断方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59132026A JPS6111855A (ja) | 1984-06-28 | 1984-06-28 | デ−タ処理装置の機能診断方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6111855A true JPS6111855A (ja) | 1986-01-20 |
Family
ID=15071764
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59132026A Pending JPS6111855A (ja) | 1984-06-28 | 1984-06-28 | デ−タ処理装置の機能診断方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6111855A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04112236A (ja) * | 1990-09-03 | 1992-04-14 | Toshiba Corp | プロセッサの故障診断装置 |
| JP2010122790A (ja) * | 2008-11-18 | 2010-06-03 | Mitsubishi Electric Corp | 診断装置及びコンピュータプログラム及び診断方法 |
-
1984
- 1984-06-28 JP JP59132026A patent/JPS6111855A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04112236A (ja) * | 1990-09-03 | 1992-04-14 | Toshiba Corp | プロセッサの故障診断装置 |
| JP2010122790A (ja) * | 2008-11-18 | 2010-06-03 | Mitsubishi Electric Corp | 診断装置及びコンピュータプログラム及び診断方法 |
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