JPH0496143A - 診断システム - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （概要〕 診断システムにおけるランダムテスト再現処理方式に関
し エラーが発生した場合と同一乱数による再現テストを可
能とすることを目的とし。

乱数を用いてテスト対象物についてのランダムテストを
行うテストプログラムと、前記テストプログラムからの
依頼により前記乱数を生成する制御プログラムとを備え
た診断システムにおいて。

前記テストプログラムが、前記制御プログラムに前記乱
数の生成を依頼し、前記制御プログラムが前記乱数を生
成してこれを乱数格納バッファに格納すると共に、当該
乱数の生成に用いた種データをパラメータブロックの所
定位置に格納して２前記テストプログラムに渡すように
構成する。

〔産業上の利用分野〕

本発明はランダムテスト再現処理方式に関し更に詳しく
は１診断システムおけるランダムテスト再現処理方式に
関する。

磁気ディスク装置等の故障の有無等は９診断システム（
故障シミュレータ）によって診断される。

診断システムにおいては２通常、テストパターン（診断
データ）として乱数を用いるランダムテストが行なわれ
る。

〔従来の技術］ 従来のランダムテストにおいては、まず、実際のテスト
を行うテストプログラムが２診断システムの制御プログ
ラム（モニタ）に対して、乱数の発生を依頼する。この
時、テストプログラムは。

発生した乱数を格納するための乱数格納ノ＼・ノファア
ドレス、及び２発生する乱数の大きさを表す乱数ハイド
数を指定する。

依頼を受けた制御プログラムは、指定された大きさの乱
数を所定の方法によって発生し、これをバッファ内の指
定されたアドレスに格納する。この乱数は、クロンクの
値に所定の値を加えたものを種データとし、この種デー
タに所定の演算を施すことによって得られる。

テストプログラムは、乱数格納バッファに格納された乱
数を用いて、所定の診断を行う。例えば。

磁気ディスク装置等についての故障シミュレーションを
行う。そして、エラーが発生した場合には例えば、エラ
ー発生を表示装置に表示する等により２利用者に通知す
る。

〔発明が解決しようとする課題〕

前述の従来技術によれば、エラーが発生した場合に、再
度、同一動作でのテストを実行する手段がなく５同一エ
ラーの再現ができず、障害調査等に大きな労力を有する
という問題があった。

これは、ランダムテストに用いた乱数と同一の値を、再
度、テストパターンとして得ることが困難であることに
起因する。即ち、制御プログラムが　エラーを発生した
時の乱数と同一の値を再現しようとしても、クロックの
値が変化してしまっているので、再現できない。このた
め、同一のテストパターンが得られる確率は略「０」に
近く従って、同一エラーを効率良く再現することができ
にくい。この結果、エラーが発生すること、及び、その
エラーの内容は把握できても、どのような一連の動作を
行った時にエラーが発生するのかは特定できないので、
その調査に時間を要することになってしまう。

本発明は、エラーが発生した場合と同一乱数による再現
テストを可能としたランダムテスト再現処理方式を提供
することを目的とする。

〔課題を解決するための手段〕

第１図は本発明の原理構成図であり１本発明による診断
システムを示している。

第１図において、１は処理装置、２はテストプログラム
、３は制御プログラム、４及び５はパラメータブロンク
、６は乱数格納ハ、ファである。

テストプログラム２は、磁気ディスク装置等のテスト対
象物（図示せず）について、乱数を用いたランダムテス
トを行う。このために、テストプログラム２は、制御プ
ログラム３に対して、乱数の生成を依頼する。

制御プログラム３は２　この依頼をうけて、乱数を生成
して、テストプログラム２に渡す。

パラメータブロック４及び５は、テストプログラム２と
制御プログラム３との間のインタフェースであり、乱数
格納バッファアドレス、バイト数及び種データを、各々
、所定の位置４１と５１゜４２と５２及び４３と５３に
格納するように構成してなる。

乱数格納ハソファ６は、制御プログラム３が生成した乱
数を格納するためのものである。

なお、パラメータブロック４及び５は、後述する如く、
実際は同一の手段により実現されるものである。

〔作用］ 制御プログラム３は、テストプログラム２から乱数生成
の依頼があると、まず、所定の方法で乱数の種データを
生成する。そして２この種データを用いて乱数を生成し
、これを乱数格納バッファ６に格納する。また２種デー
タをパラメータブロック５の所定位置５３に格納する。

これによりテストプログラム２は、乱数格納バッファ６
を参照して乱数を得、当該所定位置５３を参照して当該
乱数の生成に用いられた種データを知る。

テストプログラム２は、この乱数を用いてテスト対象物
についてのランダムテストを行う。そして、エラーが発
生した場合、当該乱数の種データをパラメータブロック
４の所定位置４３に格納して、制御プログラム３に再び
乱数の発生を依頼する。

この依頼をうけて、制御プログラム３は、新たな種デー
タを生成することなく、当該所定位置４３の種データを
用いて乱数を生成する。従って。

生成される乱数は、エラーを発生したランダムテストに
用いた乱数と同一のもの（テストパターン）となる。

この乱数を用いてテストプログラム２が再びランダムテ
ストを行った場合、用いる乱数が同一であるので、先に
エラーが発生した場合と同一の動作によるテストを再現
することができる。これにより、ランダムテストで発生
したエラーを容易に再現することができ、障害調査等を
円滑に行うことができる。

〔実施例〕

第２図は実施例構成図であり１診断システムを示してい
る。

第２図において、７はパラメータブロック、８はクロッ
ク、９はレジスタ、１０は表示装置。

３１は種データ生成部、３２は乱数生成部。

１０１はエラー発生表示、１０２は種データ表示である
。

処理装置１は、中央処理装置（ＣＰＵ）及びメモリから
なる。中央処理装置は２例えば、クロック８及びレジス
タ９を有する。また、メモリの空き領域の一部が、乱数
格納ハンファ６として用いられ、メモリの所定のアドレ
スの領域が、パラメータブロック７として用いられる。

パラメータブロック７は、そのアドレスが、予め、テス
トプログラム２及び制御プログラム３の間で規定され、
これらの間での所定のデータの送受に使用される。即ち
、パラメータブロック７はこれらの間のインタフェース
である。パラメータブロック７において、その所定の位
置７１．７２及び７３に、各々、乱数格納バッファアド
レスバイト数及び種データが、必要に応して格納される
。この格納は１テストプログラム２又は制御プログラム
３の一方によって行なわれ、他方に当該格納したデータ
が渡される。

テストプログラム２は、メモリの空き領域を乱数格納バ
ッファ６として用いるために獲得し、その（先頭）アド
レス及びハイド数をパラメータブロック７の所定位置７
１及び７２に格納し、制御プログラム３に乱数の発生を
依頼する。この依軌において１通常モードの場合には、
テストプログラム２は、パラメータブロック７の所定位
置７３への種データの格納は行なわない。一方、再現モ
ードの場合には、テストプログラム２は、パラメータブ
ロック７の所定位置７３に種データを格納する。

なお、第１図においては、このテストプログラム２から
制御プログラム３への依頼の際のインタフェースとして
のパラメータブロック７を、パラメータブロック４とし
て示している。

制御プログラム３は９通常モードの場合、即ちパラメー
タブロック７を参照してその所定位置７３に種データが
格納されていない場合、まず。

種データを生成する。即ち１種データ生成部３１が、ク
ロック８からその時点での値を取込み、また　レジスタ
９からその内容値を取込む。レジスタ９には、予め３乱
数発生のために、所定の値が格納される。種データ生成
部３１は、これら２つの値から種データを生成する。次
に、乱数生成部３２が、この種データを用いて、所定の
演算を行って２乱数を生成する。

また、制御プログラム３は、再現モードの場合。

即ち、パラメータブロック７を参照してその所定位置７
３に種データが格納されている場合、新たな種データを
生成することなく、乱数生成部３２が　パラメータプロ
、り７に格納された種データを用いて、所定の演算を行
って、乱数を生成する。

制御プログラム３は、パラメータブロック７の所定位置
７２で指示された分の乱数を生成すると。

これを５パラメータブロンク７の所定位置７１で指示さ
れたアドレスの乱数格納バッファ６に格納する。また、
当該乱数の発生に用いた種データをパラメータブロック
７の所定位置７３に格納する。

そして　テストプログラム２に制御を渡す。

なお、第１図においては、この制御プログラム３からテ
ストプログラム２へ制御を渡す際のインタフェースとし
てのパラメータブロック７を、パラメータブロック５と
して示している。

表示装２１０は、テストプログラム２がランダムテスト
の結果を利用者に表示するためのものである。例えば、
その表示画面上には、エラー発生表示１０１及び種デー
タ表示１０２等が行なわれる。

以上の如く、制御プログラム３は２通常モードと再現モ
ードの２つのモードで動作する機能を持つ。このモード
の切替えは２　テストプログラム２が　パラメータブロ
ック７への種データの格納の有無によって行う。制御プ
ログラム３は、前記２つのいずれのモードにおいても（
又は通常モードにおいて）、テストプログラム２に対し
１種データを通知する機能を持つ。また、テストプログ
ラム２は種データを指定して乱数生成を再現モードで行
なわせる機能を持つ。これにより、乱数生成を種データ
を指定した再現モードで行うことによって、同一の乱数
を得ることができる。従って。

テストプログラム２が、エラーの発生したランダムテス
トについて、同一乱数を用いて同一動作によって再現テ
ストを行うことが可能となる。またパラメータブロック
７からなるインタフェースを用いることにより、容易に
９種データの送受やモードの切替えを行うことができる
。

第３図は、ランダムテスト再現処理フローである。

■　利用者の入力によりテストプログラム２が起動され
ると、テストプログラム２は、メモリの空き領域を乱数
格納バッファ６として獲得し、パラメータブロック７に
乱数格納バッファアドレスバイト数をセットする。この
時は１種データはセットされない。

■　テストプログラム２が、制御プログラム３に、乱数
の生成を依頼する。

■　パラメータブロック７に種データがセントされてい
ないので、制御プログラム３において種データ生成部３
１が種データを生成し、これを用いて乱数生成部３２が
乱数を生成する。

■　制御プログラム３が、乱数を乱数格納バッファ６に
１種データをパラメータブロック７に。

各々、　＋８納し、制御をテストプログラム２へ渡す。

■　テストプログラム２が、乱数格納バッファ６から乱
数を取出し、これを用いてテスト対象物についてのラン
ダムテストを行う。パラメータブロック７内の種データ
は、テストの間は、別に保存される。

■　ランダムテストにおいてエラーが発生すると　テス
トプログラム２は１表示装置１０の表示画面上に、エラ
ー発生表示１０１を行うと共に。

当該エラー発生のあったテストに用いた乱数の生成に用
いられた種データ表示１０２をも行う。

■　これらの表示を見た利用者は５表示された種データ
を、テストプログラム２へのパラメータとして入力して
テストプログラム２を再起動する。

この再起動により、再び処理■乃至■がくり返される。

但し、このくり返しの処理は、前述の再現モードとされ
る。以下、前述の処理■乃至■と異なる点のみについて
説明する。

処理■において２パラメータブロツク７に前述の２つの
データの他種データがセットされ、再現モードとされる
。

処理■において、新たな種データを生成することなく、
乱数生成部３２は、パラメータブロック７内の種データ
を用いて乱数を生成する。従ってこの乱数は、処理■に
おいて前記エラーを発生した場合の乱数と同一のもので
ある。

これにより、処理■においてテストプログラム２が行う
ランダムテストは、先に行ったテストと同一動作を行う
ものとなる。

この結果、処理■において、先に発生したエラーと同一
のエラーが再現される。

〔発明の効果〕

以上説明したように１本発明によれば２診断システムに
おけるランダムテスト再現処理において。

乱数生成時にその種データを通知することにより。

当該種データを用いて同一の乱数を生成することができ
るので、エラーの発生したランダムテストについて、同
一動作でくり返すことが可能となり。

障害調査等を円滑に行うことができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の原理構成図。 第２図は実施例構成図 第３図はランダムテスト再現処理フロー１は処理装置、
２はテストプログラム、３は制御プログラム、３１は種
データ生成部、３２は乱数生成部、４．５及び７はパラ
メータブロック６は乱数格納ハンファ、８はクロック、
９はレジスタ、１０は表示装置である。 特許出願人　　株式会社ビーエフニー 代理人　弁理士　森　１）　寛（外２名）本発明の原理
構成図 第１図 ランダムテスト再現ｆｆ１Ｊ！フロー 第 図

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. （１）乱数を用いてテスト対象物についてのランダムテ
   ストを行うテストプログラム（２）と、前記テストプロ
   グラム（２）からの依頼により前記乱数を生成する制御
   プログラム（３）とを備えた診断システムにおいて、 前記テストプログラム（２）が、前記制御プログラム（
   ３）に前記乱数の生成を依頼し、 前記制御プログラム（３）が、前記乱数を生成してこれ
   を乱数格納バッファ（６）に格納すると共に、当該乱数
   の生成に用いた種データをパラメータブロック（５）の
   所定位置（５３）に格納して、前記テストプログラム（
   ２）に渡す ことを特徴とするランダムテスト再現処理方式。
2. （２）乱数を用いてテスト対象物についてのランダムテ
   ストを行うテストプログラム（２）と、前記テストプロ
   グラム（２）からの依頼により前記乱数を生成する制御
   プログラム（３）とを備えた診断システムにおいて、 前記テストプログラム（２）が、乱数格納バッファアド
   レス、バイト数及び種データをパラメータブロック（４
   ）の各々の所定位置（４１、４２、４３）に格納して、
   前記制御プログラム（３）に前記乱数の生成を依頼し、 前記制御プログラム（３）が、前記乱数を生成してこれ
   を乱数格納バッファ（６）に格納して前記テストプログ
   ラム（２）に渡す ことを特徴とするランダムテスト再現処理方式。
3. （３）乱数を用いてテスト対象物についてのランダムテ
   ストを行うテストプログラム（２）と、前記テストプロ
   グラム（２）からの依頼により前記乱数を生成する制御
   プログラム（３）とを備えた診断システムにおいて、 前記テストプログラム（２）と前記制御プログラム（３
   ）との間のインタフェースとして、乱数格納バッファア
   ドレス、バイト数及び種データを各々の所定位置（４１
   、４２、４３、５１、５２、５３）に格納するように構
   成したパラメータプロタグ（４、５）を有することを特
   徴とする診断システム。