JP2602983B2 - 診断システム - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 〔概要〕 診断システムに関し， エラーが発生した場合と同一乱数による再現テストを
可能とすることを目的とし， 乱数を用いてテスト対象物についてのランダムテスト
を行うテストプログラムと、前記テストプログラムから
の依頼により前記乱数を生成する制御プログラムとを備
えた診断システムにおいて、依頼にもとづいて制御プロ
グラムが生成した乱数と、その際の種データとを、制御
プログラムがテストプログラムに引き渡しておき、ラン
ダムテスト中にエラーが生じた際にテストプログラムは
前記制御プログラムに対して先に引き渡された種データ
を通知して乱数を生成してもらうように構成する。

〔産業上の利用分野〕

本発明は診断システムに関し，更に詳しくは，ランダ
ムテスト再現処理を行う診断システムに関する。

磁気ディスク装置等の故障の有無等は，診断システム
（故障シミュレータ）によって診断される。診断システ
ムにおいては，通常，テストパターン（診断データ）と
して乱数を用いるランダムテストが行なわれる。

〔従来の技術〕

従来のランダムテストにおいては，まず，実際のテス
トを行うテストプログラムが，診断システムの制御プロ
グラム（モニタ）に対して，乱数の発生を依頼する。こ
の時，テストプログラムは，発生した乱数を格納するた
めの乱数格納バッファアドレス，及び，発生する乱数の
大きさを表す乱数バイト数を指定する。

依頼を受けた制御プログラムは，指定された大きさの
乱数を所定の方法によって発生し，これをバッファ内の
指定されたアドレスに格納する。この乱数は，クロック
の値に所定の値を加えたものを種データとし，この種デ
ータに所定の演算を施すことによって得られる。

テストプログラムは，乱数格納バッファに格納された
乱数を用いて，所定の診断を行う。例えば，磁気ディス
ク装置等についての故障シミュレーションを行う。そし
て，エラーが発生した場合には，例えば，エラー発生を
表示装置に表示する等により，利用者に通知する。

〔発明が解決しようとする課題〕

前述の従来技術によれば，エラーが発生した場合に，
再度，同一動作でのテストを実行する手段がなく，同一
エラーの再現ができず，障害調査等に大きな労力を有す
るという問題があった。

これは，ランダムテストに用いた乱数と同一の値を，
再度，テストパターンとして得ることが困難であること
に起因する。即ち，制御プログラムが，エラーを発生し
た時の乱数と同一の値を再現しようとしても，クロック
の値が変化してしまっているので，再現できない。この
ため，同一のテストパターンが得られる確率は略「０」
に近く，従って，同一エラーを効率良く再現することが
できにくい。この結果，エラーが発生すること，及び，
そのエラーの内容は把握できても，どのような一連の動
作を行った時にエラーが発生するのかは特定できないの
で，その調査に時間を要することになってしまう。

本発明は，エラーが発生した場合と同一乱数による再
現テストを可能とした診断システムを提供することを目
的とする。

〔課題を解決するための手段〕

第１図は本発明の原理構成図であり，本発明による診
断システムを示している。

第１図において,1は処理装置,2はテストプログラム,3
は制御プログラム,4及び５はパラメータブロック,6は乱
数格納バッファである。

テストプログラム２は，磁気ディスク装置等のテスト
対象物（図示せず）について，乱数を用いたランダムテ
ストを行う。このために，テストプログラム２は，制御
プログラム３に対して，乱数の生成を依頼する。

制御プログラム３は，この依頼をうけて，乱数を生成
して，テストプログラム２に渡す。

パラメータブロック４及び５は，テストプログラム２
と制御プログラム３との間のインタフェースであり，乱
数格納バッファアドレス，バイト数及び種データを，各
々，所定の位置41と51,42と52及び43と53に格納するよ
うに構成してなる。

乱数格納バッファ６は，制御プログラム３が生成した
乱数を格納するためのものである。

なお，パラメータブロック４及び５は，後述する如
く，実際は同一の手段により実現されるものである。

〔作用〕

制御プログラム３は，テストプログラム２から乱数生
成の依頼があると，まず，所定の方法で乱数の種データ
を生成する。そして，この種データを用いて乱数を生成
し，これを乱数格納バッファ６に格納する。また，種デ
ータをパラメータブロック５の所定位置53に格納する。
これにより，テストプログラム２は，乱数格納バッファ
６を参照して乱数を得，当該所定位置53を参照して当該
乱数の生成に用いられた種データを知る。

テストプログラム２は，この乱数を用いてテスト対象
物についてのランダムテストを行う。そして，エラーが
発生した場合，当該乱数の種データをパラメータブロッ
ク４の所定位置43に格納して，制御プログラム３に再び
乱数の発生を依頼する。

この依頼をうけて，制御プログラム３は，新たな種デ
ータを生成することなく，当該所定位置43の種データを
用いて乱数を生成する。従って，生成される乱数は，エ
ラーを発生したランダムテストに用いた乱数と同一のも
の（テストパターン）となる。

この乱数を用いてテストプログラム２が再びランダム
テストを行った場合，用いる乱数が同一であるので，先
にエラーが発生した場合と同一の動作によるテストを再
現することができる。これにより，ランダムテストで発
生したエラーを容易に再現することができ，障害調査等
を円滑に行うことができる。

〔実施例〕 第２図は実施例構成図であり，診断システムを示して
いる。

第２図において,7はパラメータブロック,8はクロッ
ク,9はレジスタ,10は表示装置,31は種データ生成部,32
は乱数生成部,101はエラー発生表示,102は種データ表示
である。

処理装置１は，中央処理装置（CPU）及びメモリから
なる。中央処理装置は，例えば，クロック８及びレジス
タ９を有する。また，メモリの空き領域の一部が，乱数
格納バッファ６として用いられ，メモリの所定のアドレ
スの領域が，パラメータブロック７として用いられる。

パラメータブロック７は，そのアドレスが，予め，テ
ストプログラム２及び制御プログラム３の間で規定さ
れ，これらの間での所定のデータの送受に使用される。
即ち，パラメータブロック７は，これらの間のインタフ
ェースである。パラメータブロック７において，その所
定の位置71,72及び73に，各々，乱数格納バッファアド
レス，バイト数及び種データが，必要に応じて格納され
る。この格納は，テストプログラム２又は制御プログラ
ム３の一方によって行なわれ，他方に当該格納したデー
タが渡される。

テストプログラム２は，メモリの空き領域を乱数格納
バッファ６として用いるために獲得し，その（先頭）ア
ドレス及びバイト数をパラメータブロック７の所定位置
71及び72に格納し，制御プログラム３に乱数の発生を依
頼する。この依頼において，通常モードの場合には，テ
ストプログラム２は，パラメータブロック７の所定位置
73への種データの格納は行なわない。一方，再現モード
の場合には，テストプログラム２は，パラメータブロッ
ク７の所定位置73に種データを格納する。

なお，第１図においては，このテストプログラム２か
ら制御プログラム３への依頼の際のインタフェースとし
てのパラメータブロック７を，パラメータブロック４と
して示している。

制御プログラム３は，通常モードの場合，即ち，パラ
メータブロック７を参照してその所定位置73に種データ
が格納されていない場合，まず，種データを生成する。
即ち，種データ生成部31が，クロック８からその時点で
の値を取込み，また，レジスタ９からその内容値を取込
む。レジスタ９には，予め，乱数発生のために，所定の
値が格納される。種データ生成部31は，これら２つの値
から種データを生成する。次に，乱数生成部32が，この
種データを用いて，所定の演算を行って，乱数を生成す
る。

また，制御プログラム３は，再現モードの場合，即
ち，パラメータブロック７を参照してその所定位置73に
種データが格納されている場合，新たな種データを生成
することなく，乱数生成部32が，パラメータブロック７
に格納された種データを用いて，所定の演算を行って，
乱数を生成する。

制御プログラム３は，パラメータブロック７の所定位
置72で指示された分の乱数を生成すると，これを，パラ
メータブロック７の所定位置71で指示されたアドレスの
乱数格納バッファ６に格納する。また，当該乱数の発生
に用いた種データをパラメータブロック７の所定位置73
に格納する。そして，テストプログラム２に制御を渡
す。

なお，第１図においては，この制御プログラム３から
テストプログラム２へ制御を渡す際のインタフェースと
してのパラメータブロック７を，パラメータブロック５
として示している。

表示装置10は，テストプログラム２がランダムテスト
の結果を利用者に表示するためのものである。例えば，
その表示画面上には，エラー発生表示101及び種データ
表示102等が行なわれる。

以上の如く，制御プログラム３は，通常モードと再現
モードの２つのモードで動作する機能を持つ。このモー
ドの切替えは，テストプログラム２が，パラメータブロ
ック７への種データの格納の有無によって行う。制御プ
ログラム３は，前記２つのいずれのモードにおいても
（又は通常モードにおいて），テストプログラム２に対
し，種データを通知する機能を持つ。また，テストプロ
グラム２は種データを指定して乱数生成を再現モードで
行なわせる機能を持つ。これにより，乱数生成を種デー
タを指定した再現モードで行うことによって，同一の乱
数を得ることができる。従って，テストプログラム２
が，エラーの発生したランダムテストについて，同一乱
数を用いて同一動作によって再現テストを行うことが可
能となる。また，パラメータブロック７からなるインタ
フェースを用いることにより，容易に，種データの送受
やモードの切替えを行うことができる。

第３図は，ランダムテスト再現処理フローである。

利用者の入力によりテストプログラム２が起動され
ると，テストプログラム２は，メモリの空き領域を乱数
格納バッファ６として獲得し，パラメータブロック７に
乱数格納バッファアドレス，バイト数をセットする。こ
の時は，種データはセットされない。

テストプログラム２が，制御プログラム３に，乱数
の生成を依頼する。

パラメータブロック７に種データがセットされてい
ないので，制御プログラム３において，種データ生成部
31が種データを生成し，これを用いて乱数生成部32が乱
数を生成する。

制御プログラム３が，乱数を乱数格納バッファ６
に，種データをパラメータブロック７に，各々，格納
し，制御をテストプログラム２へ渡す。

テストプログラム２が，乱数格納バッファ６から乱
数を取出し，これを用いてテスト対象物についてのラン
ダムテストを行う。パラメータブロック７内の種データ
は，テストの間は，別に保存される。

ランダムテストにおいてエラーが発生すると，テス
トプログラム２は，表示装置10の表示画面上に，エラー
発生表示101を行うと共に，当該エラー発生のあったテ
ストに用いた乱数の生成に用いられた種データ表示102
をも行う。

これらの表示を見た利用者は，表示された種データ
を，テストプログラム２へのパラメータとして入力して
テストプログラム２を再起動する。

この再起動により，再び処理乃至がくり返され
る。但し，このくり返しの処理は，前述の再現モードと
される。以下，前述の処理乃至と異なる点のみにつ
いて説明する。

処理において，パラメータブロック７に前述の２つ
のデータの他種データがセットされ，再現モードとされ
る。

処理において，新たな種データを生成することな
く，乱数生成部32は，パラメータブロック７内の種デー
タを用いて乱数を生成する。従って，この乱数は，処理
において前記エラーを発生した場合の乱数と同一のも
のである。

これにより，処理においてテストプログラム２が行
うランダムテストは，先に行ったテストと同一動作を行
うものとなる。

この結果，処理において，先に発生したエラーと同
一のエラーが再現される。

〔発明の効果〕

以上説明したように，本発明によれば，診断システム
におけるランダムテスト再現処理において，乱数生成時
にその種データを通知することにより，当該種データを
用いて同一の乱数を生成することができるので，エラー
の発生したランダムテストについて，同一動作でくり返
すことが可能となり，障害調査等を円滑に行うことがで
きる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の原理構成図， 第２図は実施例構成図， 第３図はランダムテスト再現処理フロー。 １は処理装置,2はテストプログラム,3は制御プログラ
ム,31は種データ生成部,32は乱数生成部,4,5及び７はパ
ラメータブロック,6は乱数格納バッファ,8はクロック,9
はレジスタ,10は表示装置である。

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】乱数を用いてテスト対象物についてのラン
   ダムテストを行うテストプログラムと、 前記テストプログラムからの依頼により前記乱数を生成
   する制御プログラムとを備えた診断システムにおいて、 前記テストプログラムが、乱数格納バッファアドレスと
   バイト数と種データとの各々が所定位置に格納されるこ
   とを表したパラメータブロックを提示して、前記制御プ
   ログラムに前記乱数の生成を依頼し、 前記制御プログラムが、内容が空である種データを受け
   取った際に当該種データを生成した上で、前記乱数を生
   成してこれを乱数格納バッファに格納して前記テストプ
   ログラムに渡すと共に、当該種データを前記パラメータ
   ブロックに書き込んで当該パラメータブロックを前記テ
   ストプログラムに引き渡しておくよう構成し、 前記テストプログラムが、前記乱数格納バッファの内容
   を利用して前記ランダムテストを実行し、ランダムテス
   トにおいてエラーが発生した際に前記パラメータブロッ
   クの各々の所定位置に、乱数格納バッファアドレスとバ
   イト数と先に引き渡された種データとを書き込んで前記
   制御プログラムに乱数の生成を再依頼し、 当該再依頼を受けた前記制御プログラムが、当該再依頼
   時に引き渡された種データにもとづいて前記乱数を生成
   して前記乱数格納バッファに格納して前記テストプログ
   ラムに渡すようにした ことを特徴とする診断システム。